DE10344060A1 - Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop - Google Patents
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Abstract
Es wird beschrieben ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Anregungsstrahlengang, der Anregungsstrahlung in mehreren in einer Objektebene (11) gelegenen Spots (30) bündelt, und einem Detektionsstrahlengang, der die Spots (30) konfokal mittels Pinholeblenden (14.2) auf einen Mehrkanal-Detektor (15.2) abbildet, sowie mit einer Scaneinrichtung (4, 5, 37), die eine zweidimensionale Relativbewegung zwischen einem in der Objektebenen (11) gelegenen Objekt und den Spots (30) bewirkt, wobei die Scaneinrichtung (4, 5, 37) bei der Relativbewegung die Spots (30) entlang einer ersten Richtung (32) verschiebt und dadurch mit den Spots (30) einen Streifen des Objekts (34) abtastet und dann die Spots (30) entlang einer zweiten Richtung (33) verschiebt, um danach durch erneute Verschiebung entlang der ersten Richtung (32) einen benachbarten Streifen abzutasten.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10344060A DE10344060A1 (de) | 2003-09-23 | 2003-09-23 | Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop |
JP2006527313A JP2007506146A (ja) | 2003-09-23 | 2004-09-15 | 共焦点レーザ走査顕微鏡 |
EP04765251A EP1664887A1 (de) | 2003-09-23 | 2004-09-15 | Konfokales laser-scanning-mikroskop |
PCT/EP2004/010344 WO2005033767A1 (de) | 2003-09-23 | 2004-09-15 | Konfokales laser-scanning-mikroskop |
US10/572,979 US20070041090A1 (en) | 2003-09-23 | 2004-09-15 | Confocal laser scanning microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10344060A DE10344060A1 (de) | 2003-09-23 | 2003-09-23 | Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10344060A1 true DE10344060A1 (de) | 2005-05-04 |
Family
ID=34398873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10344060A Withdrawn DE10344060A1 (de) | 2003-09-23 | 2003-09-23 | Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070041090A1 (de) |
EP (1) | EP1664887A1 (de) |
JP (1) | JP2007506146A (de) |
DE (1) | DE10344060A1 (de) |
WO (1) | WO2005033767A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011104379A1 (de) | 2011-06-18 | 2012-12-20 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Konfokales Rastermikroskop und Betriebsverfahren für ein solches sowie Verfahren zum Manipulieren einer Probe |
DE102013021482A1 (de) * | 2013-12-17 | 2015-06-18 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Scanning-Mikroskopie und Scanning-Mikroskop |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102492989B (zh) | 2005-11-04 | 2015-10-28 | 赛若朴有限公司 | 压电单晶和其制备方法、以及利用该压电单晶的压电部件和介电部件 |
WO2009022289A2 (en) * | 2007-08-16 | 2009-02-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A method of imaging a sample |
JP2009181088A (ja) * | 2008-02-01 | 2009-08-13 | Nikon Corp | 共焦点ユニット、共焦点顕微鏡、および共焦点絞り |
US20110019064A1 (en) * | 2008-03-20 | 2011-01-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Two-dimensional array of radiation spots for an optical scanning device |
BRPI0913786A2 (pt) * | 2008-09-25 | 2015-10-20 | Koninkl Philips Electronics Nv | sistema de detecção e método de detecção |
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DE102014107606A1 (de) * | 2014-05-28 | 2015-12-03 | Carl Zeiss Ag | Funktionsintegriertes Laser-Scanning-Mikroskop |
CN105954194B (zh) * | 2016-04-28 | 2019-08-13 | 大连理工大学 | 一种基于光锥的便携式光流控显微成像装置及系统 |
CN106802233B (zh) * | 2017-04-07 | 2023-04-25 | 上海汇珏网络通信设备股份有限公司 | 一种微透镜阵列测试装置及方法 |
DE102017125688A1 (de) * | 2017-11-03 | 2019-05-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe |
US10989903B2 (en) * | 2018-02-26 | 2021-04-27 | Washington State University | Modular scanning confocal optical profile microscopy with digital imaging processing |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9218482D0 (en) * | 1992-09-01 | 1992-10-14 | Dixon Arthur E | Apparatus and method for scanning laser imaging of macroscopic samples |
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-
2003
- 2003-09-23 DE DE10344060A patent/DE10344060A1/de not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-09-15 JP JP2006527313A patent/JP2007506146A/ja not_active Withdrawn
- 2004-09-15 US US10/572,979 patent/US20070041090A1/en not_active Abandoned
- 2004-09-15 EP EP04765251A patent/EP1664887A1/de not_active Withdrawn
- 2004-09-15 WO PCT/EP2004/010344 patent/WO2005033767A1/de not_active Application Discontinuation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1664887A1 (de) | 2006-06-07 |
JP2007506146A (ja) | 2007-03-15 |
US20070041090A1 (en) | 2007-02-22 |
WO2005033767A1 (de) | 2005-04-14 |
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