DE102008043210A1

DE102008043210A1 - Prüfsystem, Prüfverfahren, CT-Gerät und Nachweisvorrichtung

Info

Publication number: DE102008043210A1
Application number: DE102008043210A
Authority: DE
Inventors: Li Zhang; Zhiqiang Chen; Haifeng Hu; Yuanjing Li; Yinong Liu; Shangmin Sun; Wenyu Zhang; Yuxiang Xing
Original assignee: Tsinghua University; Nuctech Co Ltd
Current assignee: Tsinghua University; Nuctech Co Ltd
Priority date: 2007-10-30
Filing date: 2008-10-27
Publication date: 2009-05-07
Anticipated expiration: 2028-10-28
Also published as: US20090110143A1; GB2454564B; AU2008230059B2; DE102008043210B4; CN101424648A; CN101424648B; JP2009109499A; GB2454564A; AU2008230059A1; GB0819371D0

Abstract

Ein Prüfsystem wird offenbart. Das System umfasst ein CT-Gerät. Das CT-Gerät umfasst eine Gantry, eine mit der Gantry verbundene Strahlungsquelle, eine mit der Gantry verbundene Nachweisvorrichtung im Wesentlichen gegenüber der Strahlungsquelle und eine Transportvorrichtung für den Transport eines geprüften Objekts. Die Nachweisvorrichtung umfasst N in vorbestimmten Intervallen angeordnete Detektorenreihen, wobei N eine ganze Zahl größer als 1 ist. Mit dem Prüfsystem gemäß der vorliegenden Erfindung kann das CT-Gerät eine Scan-Abbildung bei hoher Geschwindigkeit ausführen, um es dem CT-Gerät und einer Scan-Abbildungsvorrichtung zur Gewinnung eines zweidimensionalen Bildes eines geprüften Objekts zu ermöglichen, gleichzeitig zu arbeiten und dadurch die gegenseitigen Unzulänglichkeiten zu kompensieren.

Description

Hintergrund der Erfindung
1. Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Prüfsystem, ein Prüfverfahren, ein Computertomographie-(CT-)Gerät und eine Nachweisvorrichtung.
2. Beschreibung der verwandten Technik
Herkömmlicherweise werden mehrere Detektorenreihen verwendet, um Daten mehrerer Reihen von Querschnitten eines geprüften Objekts gleichzeitig aufzunehmen und dadurch die Geschwindigkeit eines CT-Geräts wie dem in der Patentanmeldung WO 2005/119297 zu verbessern. Es ist jedoch nicht sehr praktisch, die Zahl der Detektorenreihen beträchtlich zu erhöhen, da die Detektoren teuer sind.
Zusammenfassung der Erfindung
Es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Prüfsystem, ein Prüfverfahren, ein CT-Gerät und eine Nachweisvorrichtung zur Verfügung zu stellen. Die Nachweisvorrichtung ist in der Lage, die Zahl der Detektorenreihen wirksam zu verringern, während gleichzeitig die wirksame Nachweisfläche der Nachweisvorrichtung erhöht wird. Daher verbilligt sich die Nachweisvorrichtung.
Einem Aspekt der vorliegenden Erfindung zufolge wird ein Prüfsystem mit einem CT-Gerät zur Verfügung gestellt. Das CT-Gerät umfasst eine Gantry, eine mit der Gantry verbundene Strahlungsquelle, eine mit der Gantry verbundene Nachweisvorrichtung, die im Wesentlichen der Strahlungsquelle gegenüber liegt, und eine Transportvorrichtung für den Transport eines der Prüfung unterliegenden Objekts. Die Nachweisvorrichtung umfasst N in vorbestimmten Intervallen angeordnete Detektorenreihen, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
Das vorbestimmte Intervall kann mindestens etwa 5 mm und höchstens etwa 80 mm oder aber mindestens etwa 30 mm und höchstens etwa 50 mm betragen.
Einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung zufolge wird in der Prüffläche, die bei jeder Umdrehung der Gantry um 360 Grad erzeugt wird, jede Detektorenreihe so ausgerichtet, dass sie einen Teilbereich der Prüffläche von 360/N Grad prüft, und bei jeder Umdrehung der Gantry um 360/N Grad wird das geprüfte Objekt durch die Transportvorrichtung um eine Länge bewegt, die dem Mittenabstand zwischen benachbarten Detektorenreihen entspricht, so dass die Teilbereiche von jeweils 360/N Grad von den N Detektorenreihen in einer Reihenfolge von der ersten Detektorenreihe der N Detektorenreihen auf der in der Bewegungsrichtung der Transportvorrichtung aufwärts gelegenen Seite bis zur letzten Detektorenreihe der N Detektorenreihen geprüft werden.
Einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung zufolge umfasst das Prüfsystem des Weiteren eine Scan-Abbildungsvorrichtung für die Gewinnung eines zweidimensionalen Bildes eines geprüften Objekts. Das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung können gleichzeitig arbeiten, so dass ein dreidimensionales Bild und ein zweidimensionales Bild eines geprüften Objekts mit dem CT-Gerät bzw. der Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig gewonnen werden können.
In einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung können das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig arbeiten, wenn ein geprüftes Objekt sich mit einer Geschwindigkeit von 0,18 bis 0,25 m/s bewegt.
Gemäss einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Prüfverfahren zur Verfügung gestellt, das die Schritte umfasst: ein geprüftes Objekt zu transportieren und das Objekt mittels eines CT-Geräts zu prüfen. Das CT-Gerät umfasst eine Gantry, eine mit der Gantry verbundene Strahlungsquelle sowie eine mit der Gantry verbundene Nachweisvorrichtung gegenüber von der Strahlungsquelle. Die Nachweisvorrichtung umfasst N in vorbestimmten Intervallen angeordnete Detektorenreihen, wo N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
Einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung zufolge wird bei jeder Umdrehung der Gantry um 360/N Grad ein geprüftes Objekt mittels der Transportvorrichtung um eine Länge bewegt, die gleich dem Mittenabstand zwischen benachbarten Detektorenreihen ist, so dass die Teilbereiche von jeweils 360/N Grad von den N Detektorenreihen in einer Reihenfolge von der ersten Detektorenreihe der N Detektorenreihen auf der in der Bewegungsrichtung der Transportvorrichtung aufwärts gelegenen Seite bis zur letzten Detektorenreihe der N Detektorenreihen geprüft werden.
Einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung zufolge umfasst das Prüfverfahren weiter, ein geprüftes Objekt mittels einer Scan-Abbildungsvorrichtung zu prüfen, um eine zweidimensionale Abbildung des geprüften Objekts zu gewinnen. Das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung können gleichzeitig arbeiten, so dass ein dreidimensionales Bild und ein zweidimensionales Bild eines geprüften Objekts mit dem CT-Gerät bzw. der Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig gewonnen werden können.
In einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung können das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig arbeiten, wenn ein geprüftes Objekt sich mit einer Geschwindigkeit von 0,18 bis 0,25 m/s bewegt.
Gemäss einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein CT-Gerät zur Verfügung gestellt, das eine Gantry, eine mit der Gantry verbundene Strahlungsquelle und eine mit der Gantry verbundene Nachweisvorrichtung gegenüber von der Strahlungsquelle umfasst. Die Nachweisvorrichtung umfasst N in vorbestimmten Intervallen angeordnete Detektorenreihen, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
Gemäss einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Nachweisvorrichtung für ein CT-Gerät zur Verfügung gestellt, die umfasst: N Detektorenreihen mit einem vorbestimmten Intervall zwischen jeweils zwei benachbarten Detektorenreihen, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
In einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung kann das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 5 mm und höchstens etwa 80 mm betragen, in einer anderen Ausführungsform kann das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 30 mm und höchstens etwa 50 mm betragen.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Diese und/oder weitere Aspekte und Vorteile der Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung der Ausführungsformen hervorgehen und leichter zu würdigen sein, wenn in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen gelesen, in denen:
1 eine schematische Ansicht eines Prüfsystems gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist.
2 ist eine schematische Ansicht eines CT-Geräts gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
3 ist eine schematische Ansicht einer Nachweisvorrichtung gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
4 ist eine Draufsicht, die eine Detektorenanordnung einer Nachweisvorrichtung gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
5 ist eine schematische Ansicht, die den Aufbau eines Szintillationsdetektors gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
6 ist eine schematische Draufsicht des in 5 gezeigten Szintillationsdetektors.
7 ist eine perspektivische Ansicht des in 5 gezeigten Szintillationsdetektors.
8 ist eine schematische Draufsicht einer Nachweisvorrichtung mit einer einzelnen Reihe von Detektoren.
9 ist eine schematische Draufsicht einer Nachweisvorrichtung mit einer Mehrzahl von Detektorenreihen mit jeweils einem breiten Intervall zwischen benachbarten Detektorenreihen.
Eingehende Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
Eingehend wird nunmehr auf die beispielhaften Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung Bezug genommen werden, von denen ein Beispiel in den beigefügten Zeichnungen veranschaulicht wird, wo sich gleiche Bezugszahlen überall auf gleiche Elemente beziehen. Die beispielhaften Ausführungsformen werden hierunter beschrieben, um die vorliegende Erfindung durch Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen zu erklären.
Auf 1 bis 8 Bezug nehmend, umfasst ein Prüfsystem 100 gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ein CT-Gerät 80. Das CT-Gerät 80 umfasst eine Gantry 11 (kurzer Ringtunnel bzw. Portal), eine mit der Gantry 11 verbundene Strahlungsquelle 9, eine mit der Gantry 11 verbundene, im Wesentlichen der Strahlungsquelle 9 gegenüber liegende Nachweisvorrichtung 10 sowie eine Transportvorrichtung 6 für den Transport eines der Prüfung unterliegenden Objekts. Die Nachweisvorrichtung 10 umfasst N in vorbestimmten Intervallen angeordnete Reihen von Detektoren 18, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist. In 4 sind vier Reihen von Detektoren 18 zu sehen.
In einer Ausführungsform gemäss vorliegender Erfindung umfasst das Prüfsystem weiter eine Scan-Abbildungsvorrichtung 60 zur Gewinnung eines zweidimensionalen Bildes eines geprüften Objekts. Das CT-Gerät 80 und die Scan-Abbildungsvorrichtung 60 können gleichzeitig arbeiten, so dass ein dreidimensionales Bild und ein zweidimensionales Bild eines geprüften Objekts mit dem CT-Gerät 80 bzw. der Scan-Abbildungsvorrichtung 60 gleichzeitig gewonnen werden können.
In einer in 1 gezeigten Ausführungsform umfasst das Prüfsystem 100 gemäss vorliegender Erfindung weiter eine Scan-Abbildungsvorrichtung 60 zur Gewinnung eines zweidimensionalen Transmissionsbildes eines geprüften Objekts sowie ein CT-Gerät 80. Die Scan-Abbildungsvorrichtung 60 kann jedes geeignete, im Fach bekannte Abbildungsgerät wie zum Beispiel eine Einzelenergie- oder Doppelenergie-Scan-Abbildungsvorrichtung sein. Das Prüfsystem 100 kann geschmuggelte Gegenstände wie Sprengstoffe und Drogen prüfen. Das CT-Gerät 80 kann Daten wie die dreidimensionale Gestalt und Grösse, die effektive Atomzahl (Z) und Dichte (D) eines geprüften Objekts genau ermitteln. Geschmuggelte Gegenstände wie Sprengstoffe und Drogen können auf der Grundlage einer Auftragung der effektiven Atomzahl (Z) der Gegenstände gegen ihre Dichte (D) beurteilt werden. Ausserdem verwendet das CT-Gerät mehrere Detektorenreihen, um die Scangeschwindigkeit und Durchsatzrate von geprüften Gegenständen in hohem Masse zu verbessern.
Das Prüfsystem 100 gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung kann weiter ein Förderband 70 umfassen, das aus einem Träger 1, einem Band 6 und einem Bandpositions-Kodiergerät 5 besteht.
In einer Ausführungsform gemäss der vorliegenden Erfindung umfasst die Scan-Abbildungsvorrichtung 60 einen Träger 2, eine mit dem Träger verbundene Strahlungsquelle 7 sowie eine mit dem Träger 2 verbundene Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8 gegenüber von der Strahlungsquelle 7.
In einer Ausführungsform gemäss der vorliegenden Anmeldung umfasst das CT-Gerät 80 einen Träger 3, eine drehbar an den Träger angekoppelte Gantry 11, eine mit der Gantry 11 verbundene Strahlungsquelle 9 und eine mit der Gantry 11 verbundene Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10 (d. h., ein Beispiel der Nachweisvorrichtung 10) gegenüber von der Strahlungsquelle 9.
Zusätzlich kann das Prüfsystem 100 gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung weiter eine Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände umfassen, um die Position eines Gegenstandes festzulegen, ein Steuermodul 12 zur Steuerung des Prüfsystems 100, einen Computer-Datenprozessor 13 zur Verarbeitung der durch die Scanvorrichtung 60 gewonnenen Daten sowie einen Computer-Datenprozessor 14 zur Verarbeitung der durch das CT-Gerät 80 gewonnenen Daten.
Die Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände kann einen photoelektrischen Sensor oder andere Vorrichtungen umfassen, um Anfangs- und Endpunkt eines geprüften Gegenstandes zu beurteilen. Die Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände kann mit dem Bandpositions-Kodiergerät 5 zusammenwirken, um die Position eines Gegenstandes in einem (nicht gezeigten) Tunnel zu bestimmen.
Die Nachweis- und Datenerfassungseinheiten 8 und 10 sind integrierte Moduln. Der Datenerfassungsabschnitt jeder der beiden Nachweis- und Datenerfassungseinheiten 8 und 10 umfasst einen Signalverstärkerkreis, einen A/D-(Analog-Digital-)Wandlerkreis und einen Datenübermittlungskreis.
In einer Ausführungsform gemäss der vorliegenden Erfindung ist die Strahlungsquelle 7 auf der einen Seite des Tunnels angeordnet, während die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8 auf der anderen Seite des Tunnels angeordnet ist, und zwar gerade gegenüber einem von der Strahlungsquelle 7 emittierten Strahl. Sowohl die Strahlungsquelle 9 als auch die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10 sind derart an der Gantry 11 befestigt, dass die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10 gerade entgegengesetzt zu einem Strahl ausgerichtet ist, der von der Strahlungsquelle 9 emittiert wird.
Das Steuermodul 12 steht mit der Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände, dem Bandpositions-Kodiergerät 5, dem Förderband 70, der Strahlungsquelle 7, der Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8, der Strahlungsquelle 9, der Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10, der Gantry 11, dem Computer-Datenprozessor 13 und dem Computer-Datenprozessor 14 in Verbindung und steuert ihre Arbeitszustände synchron.
Ein Datenausgangskabel der Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8 ist an den Computer-Datenprozessor 13 angeschlossen, während ein Datenausgangskabel der Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10 an den Computer-Datenprozessor 14 angeschlossen ist.
Das Prüfsystem 100 gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung kann auch nur ein CT-Gerät 80 umfassen, wie in 2 gezeigt.
Auf 3 und 4 Bezug nehmend, umfasst die Nachweisvorrichtung 10 gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mehrere in vorbestimmten Intervallen angeordnete Reihen von Detektoren 18. Die mehreren Reihen von Detektoren 18 können in einem allgemein bogenförmigen Querschnitt angeordnet sein. Die mehreren Detektorenreihen können in jeder fachbekannten Art und Weise angeordnet werden, solange die mehreren Reihen von Detektoren 18 in vorbestimmten Intervallen angeordnet sind.
Auf 4 Bezug nehmend, stellt t den Mittenabstand zwischen zwei benachbarten Reihen von Detektoren 18 dar, zum Beispiel in der Bewegungsrichtung des in 1 gezeigten Bandes 6, während d die Breite jedes der Detektoren 18 darstellt, zum Beispiel in der Bewegungsrichtung des in 1 gezeigten Bandes 6. Das Intervall S ist die Differenz zwischen dem Mittenabstand t und der Breite d. Also S = t – d.
In einigen Ausführungsformen ist t auf einen viel grösseren Wert als d festgelegt, d. h. t >> d, wo t der Abstand zwischen den zwei benachbarten Detektoren 18 aus der Mehrzahl von zwei Detektoren 18 der Nachweisvorrichtung 10 und d die Breite der Detektoren 18 ist. Daher verringert sich die Fläche eines Szintillationskristalls der Szintillationsdetektoren der Nachweisvorrichtung 10, wodurch sich die Nachweisvorrichtung verbilligt. Die Nachweisvorrichtung 10 erreicht im Vergleich mit einer Nachweisvorrichtung aus einer einzelnen Reihe von Detektoren ein Vielfaches der Nachweisrate. Es ist offensichtlich, dass sich die räumliche Auflösung bei t >> d verringert. Eine Verringerung der räumlichen Auflösung kann aber unter den massgebenden Gesetzen erlaubt werden, weil eine niedrige räumliche Auflösung verlangt wird, wenn einige Gegenstände wie Sprengstoffe nachgewiesen werden. Zum Beispiel stellen Sprengstoffe, die kleiner als eine gewisse Abmessung sind, keine Gefahr für die Sicherheit dar.
In einem Beispiel der vorliegenden Erfindung kann das vorbestimmte Intervall S 5 bis 80 mm betragen. In einem anderen Beispiel der vorliegenden Erfindung kann das vorbestimmte Intervall S 10 bis 70 mm betragen. In einem weiteren Beispiel der vorliegenden Erfindung kann das vorbestimmte Intervall S 20 bis 60 mm betragen. In noch einem weiteren Beispiel der vorliegenden Erfindung kann das vorbestimmte Intervall S 30 bis 50 mm betragen. In einem anderen Beispiel der vorliegenden Erfindung kann das vorbestimmte Intervall S 35 bis 45 mm betragen. In einem weiteren Beispiel der vorliegenden Erfindung kann das vorbestimmte Intervall S 36 bis 40 mm oder etwa 38 mm betragen.
Das vorbestimmte Intervall ändert sich je nach den Prüfanforderungen. Wenn zum Beispiel Sprengstoffe nachgewiesen werden sollen, dann stellen diese keine Gefahr dar und können nach den massgebenden Gesetzen erlaubt werden, wenn die Breite d der Detektoren 2 mm und das Intervall S etwa 38 mm oder etwa 40 mm betragen. Das Intervall S kann für die Prüfung von Messern und Schusswaffen in Übereinstimmung mit praktischen Situationen und Gesetzen festgelegt werden.
Allgemein beträgt die Breite der Detektoren 1 bis 10 mm. Die Anordnung der Mehrzahl von Detektorenreihen kann statt durch das Intervall auch durch den Mittenabstand definiert werden. In einem Beispiel kann der Mittenabstand 15 bis 65 mm betragen. In einem weiteren Beispiel kann der Mittenabstand 25 bis 55 mm betragen.
Die obige Anordnung eines Detektors gemäss vorliegender Erfindung ist auf Detektoren wie einen Szintillationsdetektor anwendbar.
Der Aufbau eines Detektors gemäss vorliegender Erfindung wird veranschaulicht, indem ein Szintillationsdetektor als Beispiel genommen wird.
Wie in 5 bis 8 gezeigt, umfasst der Szintillationsdetektor einen Szintillationskristall 181, eine Photodiode 182 und einen auf einer Leiterplatte 184 angeordneten Vorverstärker 183. Der Szintillationskristall 181 wandelt Röntgenstrahlung in Licht um. Das Licht wird durch die Photodiode 182 in ein elektrisches Signal umgewandelt. Das elektrische Signal wird durch den Vorverstärker 183 verstärkt und dann zur Verarbeitung in den nachfolgenden Schaltkreis geschickt.
Allgemein hat der Szintillationskristall eine geringe Grösse, während ein grosser Detektor in Anbetracht des Prozesses und der Kosten durch Aneinanderfügen von kleinen Moduln erreicht wird, wodurch Kosten gespart werden und die Wartung bequem wird.
5 bis 7 zeigen ein Detektormodul 18. Wie in 8 gezeigt, wird eine Mehrzahl von Detektormoduln 18 aneinander gefügt, um eine Signalreihe des Detektors 18 zu bilden. Die Signalreihe von Detektors 18 kann in einer geraden Linie oder in einem Bogen angeordnet werden.
Die effektive Breite der Nachweisvorrichtung erhöht sich, wenn das Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen vergrössert wird. Das Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen kann in Anbetracht der Anforderungen an die räumliche Auflösung bei der Prüfung auf geschmuggelte Gegenstände auf 80 mm festgelegt werden. Wenn ein grosses Objekt geprüft wird, kann darüber hinaus das Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen zum Beispiel auf mehr als 80 mm festgelegt werden. Das Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen kann auf der Basis aktueller Situationen gewählt werden. Die Anzahl von Detektorenreihen, die in einer Nachweisvorrichtung verwendet werden, kann auf der Grundlage der aktuellen Erfordernisse bei der Geschwindigkeit und den Kosten gewählt werden.
Die Nachweisvorrichtung kann verwendet werden, um für das Scannen einen Kreisscan, einen herkömmlichen Helixscan oder einen Helixscan auszuführen, der besondere Bedingungen erfüllt.
Ein Scanverfahren gemäss vorliegender Erfindung wird unter Bezugnahme auf 9 veranschaulicht.
Ein Scanverfahren kann dafür ausgelegt werden, die folgende Gleichung zu erfüllen:
wo t das Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen, N die Zahl von Detektorenreihen, r₀ die Rotationsgeschwindigkeit der Gantry 11 darstellt und s die Geschwindigkeit des Bandes 6 ist.
In der Prüffläche, die bei jeder Drehung der Gantry um 360 Grad erzeugt wird, prüft jede Detektorenreihe einen Teilabschnitt der Prüffläche von 360/N Grad, und bei jeder Drehung der Gantry um 360/N Grad bewegt sich das geprüfte Objekt mittels der Transportvorrichtung um eine Länge, die gleich dem Mittenabstand zwischen den benachbarten Detektorenreihen ist, so dass die jeweiligen Teilabschnitte von 360/N Grad hintereinander durch N Detektorenreihen geprüft werden, und zwar in einer Reihenfolge von der ersten Detektorenreihe der N Detektorenreihen auf der in der Bewegungsrichtung der Transportvorrichtung aufwärts gelegenen Seite bis zur letzten Detektorenreihe der N Detektorenreihen.
Wenn die Anfangsposition der ersten Detektorenreihe auf T₀ festgelegt ist, dann ist die Anfangsposition der zweiten Detektorenreihe T₀ – t, die Anfangsposition der dritten Detektorenreihe T₀ – 2t, ..., und die Anfangsposition der N-ten Detektorenreihe T₀ – (N – 1)t.
Aus der obigen Gleichung (1) kann man finden, dass sich die Nachweisvorrichtung relativ um eine Entfernung t in der axialen Richtung bewegt, wenn die Gantry 11 (also die Nachweisvorrichtung) sich um 360/N Grad dreht, d. h. um 1/N einer vollen Umdrehung. Daher wird die Position der ersten Detektorenreihe T₀ + t, die Position der zweiten Detektorenreihe T₀, die Position der dritten Detektorenreihe T₀ – t, ..., und die Position der N-ten Detektorenreihe T₀ – N t. In anderen Worten befindet sich die (n + 1)te Detektorenreihe an der Stelle, an der sich die n-te Detektorenreihe befand, ehe sich die Gantry 11 (d. h. die Nachweisvorrichtung) um 360/N Grad und die (n + 1)te Detektorenreihe um 360/N Grad gedreht hatte. Daher überstreichen die N Detektorenreihen gerade 360 Grad von T₀ bis T₀ + 1, wenn sich die Gantry um 360 Grad dreht.
Die folgenden konkreten Scanschritte werden veranschaulicht.

1. Die Drehgeschwindigkeit der Gantry wird auf r₀ (U/s), die Geschwindigkeit des Bandes 6 auf s (m/s) festgelegt, so dass die Drehgeschwindigkeit der Gantry und die Bandgeschwindigkeit die folgende Gleichung erfüllen:
wo t den Abstand zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen und N die Zahl von Detektorenreihen darstellt.
2. Steuermotoren werden betätigt, um die Gantry und das Band mit gleichförmigen Geschwindigkeiten zu drehen, wie oben festgelegt.
3. Wenn die Gantry sich zu einer Winkellage dreht, die auf 0 Grad festgelegt ist, dann wird eine Strahlungsquelle so gesteuert, dass sie Röntgenstrahlen emittiert, und die Nachweisvorrichtung wird aktiviert, um Daten zu sammeln. Für die Zwecke einer deutlichen Veranschaulichung sei angenommen, dass die ersten Detektorenreihen als ein Bezug gewählt werden, wobei aber die vorliegende Erfindung nicht darauf beschränkt ist. Die Position der ersten Detektorenreihe bezüglich des Bandes ist T₀, die Position der zweiten Detektorenreihe bezüglich des Bandes ist T₀ – t, ..., und die Position der N-ten Detektorenreihe bezüglich des Bandes ist T₀ – (N – 1)t.
4. Die Gantry dreht sich von 0 Grad zu 360/N Grad, so dass die Nachweisvorrichtung kontinuierlich Daten über den Bereich von 0 bis 360/N Grad sammelt. Da die Drehgeschwindigkeit der Gantry und die Geschwindigkeit des Bandes Gleichung (2) erfüllen, bewegt sich das Band über eine Entfernung von t. Die erste Detektorenreihe sammelt Daten über einen Winkelbereich von 0 bis 360/N Grad in einer Fläche von T₀ bis T₀ + t in der Richtung, in der sich das Band bewegt. Wenn sich die Gantry um 360/N Grad dreht, dann ist die Position der ersten Detektorenreihe bezüglich des Bandes T₀ + t, die Position der zweiten Detektorenreihe bezüglich des Bandes T₀, ..., und die Position der N-ten Detektorenreihe bezüglich des Bandes T₀ – (N – 2)t.
5. Die Gantry dreht sich von 360/N bis 2 × 360/N Grad, und während dieser Zeit sammelt die Nachweiseinheit kontinuierlich Daten über den Bereich von 360/N bis 2 × 360/N Grad. Es geht aus dem obigen Schritt 4 hervor, dass die zweite Detektorenreihe Daten über einen Winkelbereich von 360/N bis 2 × 360/N Grad in der Fläche von T₀ bis T₀ + t in der Richtung sammelt, in der sich das Band bewegt. Wenn sich die Gantry zu 2 × 360/N Grad dreht, dann ist die Position der ersten Detektorenreihe bezüglich des Bandes T₀ + 2t, die Position der zweiten Detektorenreihe bezüglich des Bandes T₀ + t, ..., und die Position der N-ten Detektorenreihe bezüglich des Bandes T₀ – (N – 3)t.
6. Die Gantry dreht sich weiter ähnlich wie in den obigen Schritten 4 und 5. Nachdem die (N + 1)te Detektorenreihe Daten über einen Winkelbereich von 360 / N × (N – 2) bis 360 / N × (N – 1) Grad in der Fläche von T₀ bis T₀ + t gesammelt hat, ist die Position der N-ten Detektorenreihe bezüglich des Bandes T₀.
7. Nachdem die N-te Detektorenreihe Daten über einen Winkelbereich von 360 / N × (N – 1) bis 360 / N × N Grad in der Fläche von T₀ bis T₀ + t gesammelt hat, beendet die Nachweisvorrichtung einen Zyklus der Datensammlung.
8. Es geht aus den obigen Schritten 4 bis 7 hervor, dass die N Detektorenreihen verwendet werden, um Daten über einen Winkelbereich von 0 bis 360 Grad in der Fläche von T₀ bis T₀ + t zu sammeln. 9 zeigt ein Beispiel, bei dem N = 4. Ein computertomographisches Bild der Fläche von T₀ bis T₀ + t kann aus den Daten durch computertomographische Rekonstruktion gewonnen werden.
9. Da die Gantry und das Band kontinuierlich arbeiten, werden die obigen Schritte 4 bis 7 kontinuierlich ausgeführt, um computertomographische Bilder bei verschiedenen Positionen des geprüften Objekts zu gewinnen.

Ein Scanverfahren gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird veranschaulicht, indem unter Bezugnahme auf 9 eine Nachweisvorrichtung mit vier Detektorenreihen angenommen wird.
Die vier Detektorenreihen scannen die 360 Grad über je einen Winkelbereich von 360/4 = 90 Grad. Das Intervall t zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen beträgt 40 mm.
Die Drehgeschwindigkeit der Gantry, r₀, beträgt 1,5 U/s. Die Scangeschwindigkeit ist durch s = N r0 tgegeben: s = 4 × 1,5 × 0,04 = 0,24 m/s.
Daten, die unter den obigen Bedingungen erhalten wurden, können dazu verwendet werden, um das Bild eines geprüften Objekts durch einen Kegelstrahl-Rekonstruktionsalgorithmus zu rekonstruieren, wobei die Divergenz des Kegelstrahls berücksichtigt wird.
Bei einem Abstand zwischen der Nachweisvorrichtung und der Strahlungsquelle von 1000 mm beträgt die maximale Divergenz
was weniger als die empirische Grenzdivergenz von 5° für eine Kreisscan-Kegelstrahlrekonstruktion ist. Daher wird kein ernsthaftes Rekonstruktions-Pseudobild erzeugt.
Dem normalen Helixscan-Rekonstruktionsverfahren zufolge ist die Geschwindigkeit (s) des Bandes gegeben durch
wo

λ: das Vergrösserungsverhältnis (λ > 1) darstellt und auf einen Wert von zwei festgelegt ist;
q: eine effektive Breite der Nachweisvorrichtung darstellt und auf 120 mm festgelegt ist, wobei der äquivalente Wert der effektiven Breite in der Mitte der Gantry 60 mm beträgt;
r₀: die Drehgeschwindigkeit der Gantry darstellt und auf 1,5 U/s festgelegt ist;
p: die Steigung darstellt und auf einen Wert von zwei festgelegt ist, was für bekannte Bildrekonstruktionsalgorithmen die maximale Steigung ist.

Aus den oben angeführten Angaben lässt sich erkennen, dass das Scanverfahren gemäss der vorliegenden Erfindung die Scangeschwindigkeit wirksam verbessern kann.
Das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung zur Gewinnung eines zweidimensionalen Bildes des geprüften Objekts können gleichzeitig arbeiten, wenn das geprüfte Objekt sich mit einer Geschwindigkeit von 0,18 bis 0,25 m/s bewegt.
Im CT-Gerät, wie es in 1 und 2 gezeigt ist, beträgt das Vergrösserungsverhältnis λ = 1000/500 = 2, wenn die Drehgeschwindigkeit der Gantry 1,5 U/s, der Abstand zwischen dem Brennpunkt des Strahles der Strahlungsquelle 9 und der Mitte der Gantry 500 mm und der Abstand zwischen dem Brennpunkt des Strahles der Strahlungsquelle 9 und der Nachweisvorrichtung 1000 mm beträgt.
Wenn eine Nachweisvorrichtung mit vier Detektorenreihen verwendet wird, die Breite d des Kristalls der Detektoren 2 mm beträgt und der Mittenabstand zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen 40 mm beträgt, dann ist die Gesamtbreite q der Nachweisvorrichtung 120 mm. Wenn die Rekonstruktion mit einer Steigung von p = 2 ausgeführt wird, dann ist die Geschwindigkeit des Bandes gegeben durch: s = p × r0 × (q/λ) = 2 × 1,5 × (0,120/2) = 0,18 m/s.
Die Steigung p ist ein wichtiger Parameter für eine schraubenförmige Umlaufbahn, die entsteht, wenn ein Helixscan ausgeführt wird. Die Steigung ist im Stande der Technik auf viele Arten definiert worden. In der vorliegenden Erfindung ist die Steigung p als das Verhältnis des Abstandes zwischen zwei benachbarten Windungen der schraubenförmigen Umlaufbahn zur effektiven Breite der Nachweisvorrichtung definiert.
In den meisten kommerziellen Prüfsystemen können ein CT-Gerät und eine Scan-Abbildungsvorrichtung zur Gewinnung eines zweidimensionalen Bildes eines geprüften Objekts wegen des grossen Unterschieds in der Scan-Abbildungsrate nicht gleichzeitig arbeiten. Allgemein wird dann, wenn die Scan-Abbildungsvorrichtung ein verdächtiges Objekt erkannt hat, das CT-Gerät verwendet, um das Objekt weiter zu scannen, wodurch sich die Rate der Fehlerkennung des Systems erhöht. Wenn aber das CT-Gerät gemäss vorliegender Erfindung verwendet wird, dann kann das CT-Gerät die Scan-Abbildung bei einer hohen Geschwindigkeit ausführen, um das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung in die Lage zu versetzen, zur Erlangung eines zweidimensionalen Bildes eines geprüften Objekts gleichzeitig zu arbeiten, wodurch sich ihre Unzulänglichkeiten gegenseitig kompensieren.
Wenn das Prüfsystem gemäss vorliegender Erfindung eine Auflösung von 20 mm in der Z-Richtung (der horizontalen Richtung) und eine Auflösung von über 10 mm in der XY-Richtung (der senkrechten Ebene) besitzt, dann beträgt das minimale Volumen eines Objekts, das das System erkennen kann, etwa 10 cm³. Übliche Sprengstoffe besitzen eine Dichte von 1,5 bis 1,9 g/cm³, so dass das System eine minimale Menge an Sprengstoff von 20 g erkennen kann. Unter Berücksichtigung von Einflussfaktoren wie Systemrauschen kann das System eine minimale Menge an Sprengstoff von 50 g erkennen.
Ein Prüfverfahren gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird unter Bezugnahme auf 1, 2, 4 und 9 veranschaulicht.
Ein Prüfverfahren gemäss einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfasst die Schritte, ein geprüftes Objekt zu transportieren und das Objekt mittels eines CT-Geräts zu prüfen. Das CT-Gerät umfasst eine Gantry, eine mit der Gantry verbundene Strahlungsquelle und eine mit der Gantry verbundene Nachweisvorrichtung gegenüber von der Strahlungsquelle. Die Nachweisvorrichtung umfasst N Detektorenreihen, die in vorbestimmten Intervallen angeordnet sind, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
In einer Ausführungsform wird bei jeder Drehung der Gantry um 360/N Grad das geprüfte Objekt mittels der Transportvorrichtung um eine Länge bewegt, die dem Mittenabstand zwischen benachbarten Detektorenreihen gleicht, so dass jeweils Teilbereiche von 360/N Grad durch die N Detektorenreihen in einer Reihenfolge von der ersten Detektorenreihe der N Detektorenreihen auf der in Bewegungsrichtung der Transportvorrichtung aufwärts gelegenen Seite bis zur letzten Detektorenreihe der N Detektorenreihen geprüft werden.
Das Prüfverfahren kann weiter umfassen, ein geprüftes Objekt mittels einer Scan-Abbildungsvorrichtung zu prüfen, um ein zweidimensionales Bild des geprüften Objekts zu gewinnen. Das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung können gleichzeitig arbeiten, so dass ein dreidimensionales Bild und ein zweidimensionales Bild des geprüften Objekts gleichzeitig mit dem CT-Gerät bzw. der Scan-Abbildungsvorrichtung gewonnen werden. In einer Ausführungsform können das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig arbeiten, wenn ein geprüftes Objekt sich mit einer Geschwindigkeit von 0,18 bis 0,25 m/s bewegt.
Die Arbeit eines Prüfsystems gemäss einer Ausführungsform wird unter Bezugnahme auf 1 und 2 veranschaulicht.

1. Die Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände, das Bandpositions-Kodiergerät 5, das Förderband 70, die Strahlungsquelle 7, die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8, die Strahlungsquelle 9, die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10 (ein Beispiel der Nachweisvorrichtung 10), die Gantry 11, der Computer-Datenprozessor 13 und der Computer-Datenprozessor 14, die alle durch das Steuermodul 12 gesteuert werden, werden aktiviert. Das Band bewegt sich mit einer hohen Geschwindigkeit, die Gantry 11 beginnt, gesteuert vom Steuermodul 12, sich mit einer vorbestimmten Drehgeschwindigkeit zu drehen, und dann wird ein Gepäckstück auf das Band gelegt.
2. Wenn das Gepäckstück zur Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände bewegt wird, bestimmt die Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände einen Anfangspunkt des Gepäckstücks. Das Steuermodul 12 verfolgt die Position des Gepäckstücks in Echtzeit auf der Grundlage des Anfangspunkts und der Zählung durch das Bandpositions-Kodiergerät 5. Wenn das Gepäckstück die Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände verlässt, bestimmt die Positioniervorrichtung 4 für Gegenstände einen Endpunkt des Gepäckstücks. Das Steuermodul 12 berechnet die Länge des Gepäckstücks nach dem Anfangspunkt und Endpunkt des Gepäckstücks.
3. Wenn das Gepäckstück sich der Ebene nähert, in der die Strahlungsquelle 7 und die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8 liegen, beginnt die Strahlungsquelle 7 einen Strahl zu emittieren. Der von der Strahlungsvorrichtung 7 emittierte Strahl dringt durch das geprüfte Gepäckstück und wird von der Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8 gerade gegenüber vom Strahl empfangen, um Projektionsdaten zu bilden. Das Steuermodul 12 steuert die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8 so, dass Messungen mit einer Abtastrate durchgeführt werden. Die gemessenen Projektionsdaten werden an den Computer-Datenprozessor übermittelt. Wenn der Endpunkt des Gepäckstücks die Ebene verlässt, in der die Strahlungsquelle 7 und die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 8 liegen, hört die Strahlungsquelle auf, Strahlen zu emittieren.
4. Der Computer-Datenprozessor 13 korrigiert die Projektionsdaten und rekonstruiert mittels der korrigierten Projektionsdaten zweidimensionale Bilder des geprüften Gepäckstücks.
5. Wenn sich das Gepäckstück der Ebene nähert, in der die Gantry 11 liegt, beginnt die Strahlungsquelle 9 zu emittieren. Der von der Strahlungsquelle 9 emittierte Strahl durchdringt das geprüfte Gepäckstück und wird von der Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10 (einem Beispiel der Nachweisvorrichtung 10) gerade gegenüber vom Strahl empfangen, um Projektionsdaten zu bilden. Das Steuermodul 12 steuert die Gantry 11 so, dass sie sich mit einer vorbestimmten Geschwindigkeit dreht, und gleichzeitig steuert sie die Nachweis- und Datenerfassungseinheit 10, Messungen bei einer Abtastrate durchzuführen. Die gemessenen Projektionsdaten werden an den Computer-Datenprozessor 14 übermittelt. Wenn der Endpunkt des Gepäckstücks die Ebene verlässt, in der sich die Gantry 11 befindet, hört die Strahlungsquelle 9 auf zu emittieren. In einem Beispiel wird, wenn sich das Gepäckstück der Ebene nähert, in der sich die Gantry 11 befindet, das Band verlangsamt, um sich mit einer niedrigeren Geschwindigkeit zu bewegen, und nachdem die Strahlungsquelle 9 aufgehört hat zu emittieren, wird das Band beschleunigt, um sich mit einer höheren Geschwindigkeit zu bewegen.
6. Wenn auf der Grundlage des zweidimensionalen Bildes nicht beurteilt werden kann, ob das Gepäckstück einen Sprengstoff oder Drogen enthält oder nicht, dann korrigiert der Computer-Datenprozessor 14 die Projektionsdaten und gewinnt durch Rekonstruktion Daten bezüglich der effektiven Atomzahl und Dichte des im Gepäckstück vorhandenen Gegenstandes. Ob das Gepäckstück einen Sprengstoff oder eine Droge enthält oder nicht, wird schliesslich durch einen Vergleich der gewonnenen Information mit Daten von geschmuggelten Gegenständen beurteilt, die in einer Datenbank gespeichert sind, sowie durch Bezugnahme auf die Gestalt und Grösse eines verdächtigen Objekts. Die Prüfdaten für den Inhalt des geprüften Gepäckstücks werden in Gestalt der zweidimensionalen Projektionsbilder visuell angezeigt, und ein verdächtiges Objekt wird auf den zweidimensionalen Projektionsbildern hervorgehoben, wenn ein verdächtiges Objekt vorliegt.

Mit der Nachweisvorrichtung gemäss vorliegender Erfindung werden einem Inspektor nicht nur die gewohnten zweidimensionalen Bilder zur Verfügung gestellt, sondern auch genaue dreidimensionale Bilder, die mit einem CT-Gerät rekonstruiert werden, wodurch dem Inspektor umfassende, genaue Beweise zur Verfügung gestellt werden, um zu beurteilen, ob Sprengstoffe und Drogen in einem Gepäckstück versteckt sind oder nicht.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur

- WO 2005/119297 [0002]

Claims

Prüfsystem mit: einem CT-Gerät, wobei das CT-Gerät eine Gantry, eine mit der Gantry verbundene Strahlungsquelle und eine mit der Gantry verbundene Nachweisvorrichtung im Wesentlichen gegenüber der Strahlungsquelle umfasst, und einer Transportvorrichtung für den Transport eines geprüften Gegenstandes, dadurch gekennzeichnet, dass die Nachweisvorrichtung N Detektorenreihen mit einem vorbestimmten Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen umfasst, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
Prüfsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 5 mm und höchstens etwa 80 mm beträgt.
Prüfsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 30 mm und höchstens etwa 50 mm beträgt.
Prüfsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass in der Prüffläche, die bei jeder Drehung der Gantry um 360 Grad erzeugt wird, jede Detektorenreihe einen Teilbereich der Prüffläche von 360/N Grad prüft, und bei jeder Drehung der Gantry um 360/N Grad ein geprüftes Objekt mittels der Transportvorrichtung um eine Länge bewegt wird, die dem Mittenabstand der benachbarten Detektorenreihen gleicht.
Prüfsystem nach Anspruch 1, weiter eine Scan-Abbildungsvorrichtung zur Gewinnung eines zweidimensionalen Bildes eines geprüften Objekts umfassend, dadurch gekennzeichnet, dass das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig arbeiten können, so dass ein dreidimensionales Bild und ein zweidimensionales Bild eines geprüften Objekts gleichzeitig durch das CT-Gerät bzw. die Scan-Abbildungsvorrichtung erhalten werden können.
Prüfsystem nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig arbeiten können, wenn ein geprüftes Objekt sich mit einer Geschwindigkeit von 0,18 bis 0,25 m/s bewegt.
Prüfverfahren, die Schritte umfassend, ein geprüftes Objekt zu transportieren und das Objekt mittels eines CT-Geräts zu prüfen, wobei das CT-Gerät eine Gantry, eine mit der Gantry verbundene Strahlungsquelle und eine mit der Gantry verbundene Nachweisvorrichtung gegenüber der Strahlungsquelle umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass die Nachweisvorrichtung N Detektorenreihen mit einem vorbestimmten Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen umfasst, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
Prüfverfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass bei jeder Drehung der Gantry um 360/N Grad ein geprüftes Objekt mittels der Transportvorrichtung um eine Länge bewegt wird, die gleich dem Mittenabstand zwischen benachbarten Detektorenreihen ist.
Prüfverfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 5 mm und höchstens etwa 80 mm beträgt.
Prüfverfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 30 mm und höchstens etwa 50 mm beträgt.
Prüfverfahren nach Anspruch 7, womit weiter umfassend, ein geprüftes Objekt mittels einer Scan-Abbildungsvorrichtung geprüft wird um ein zweidimensionales Bild des geprüften Objekts zu erhalten, dadurch gekennzeichnet, dass das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig arbeiten können, so dass ein dreidimensionales Bild und ein zweidimensionales Bild eines geprüften Objekts gleichzeitig durch das CT-Gerät bzw. die Scan-Abbildungsvorrichtung erhalten werden können.
Prüfverfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das CT-Gerät und die Scan-Abbildungsvorrichtung gleichzeitig arbeiten können, wenn ein geprüftes Objekt sich mit einer Geschwindigkeit von 0,18 bis 0,25 m/s bewegt.
CT-Gerät mit einer Gantry, einer mit der Gantry verbundenen Strahlungsquelle und einer mit der Gantry verbundenen Nachweisvorrichtung gegenüber der Strahlungsquelle, dadurch gekennzeichnet, dass die Nachweisvorrichtung N Detektorenreihen mit einem vorbestimmten Intervall zwischen zwei benachbarten Detektorenreihen umfasst, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
CT-Gerät nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 5 mm und höchstens etwa 80 mm beträgt.
CT-Gerät nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 30 mm und höchstens etwa 50 mm beträgt.
Nachweisvorrichtung für ein CT-Gerät mit N Detektorenreihen mit einem vorbestimmten Intervall zwischen jeweils zwei benachbarten Detektorenreihen, wobei N eine ganze Zahl grösser als 1 ist.
Nachweisvorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 5 mm und höchstens etwa 80 mm beträgt.
Nachweisvorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass das vorbestimmte Intervall mindestens etwa 30 mm und höchstens etwa 50 mm beträgt.