DE10112560A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Schaltungsmodulen - Google Patents

Abstract

Die Erfindung schafft ein Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen, die als Kanalmodule (101) bzw. als Steuermodule (102) bezeichnet sind und die Scanketten enthalten, mittels Abtastvektoren, wobei ein Prüfregister (103) eingesetzt wird, welches mindestens ein Steuerabtastmodussignal (131) für Steuermodule (102) bereitstellt und darüber hinaus mindestens ein Kanalabtastmodussignal (111) für Kanalmodule (101a-101d) bereitstellt. Kanalmodule (101) und Steuermodule (102) können als Schaltungsmodule mehrfahch mit identischen Scanketten auftreten, wodurch eine effiziente, speicherplatzsparende Prüfung ermöglicht wird. Weiterhin ist eine Logik zum Auslesen von Abtastausgangssignalen nach einer Prüfung sämtlicher Scanketten über eine Ausleseanschlußeinheit (303) einer Prüfeinrichtung ausgelegt, wodurch ein Vergleich mit Soll-Abtastausgangssignalen jeweils für Kanalmodule (101) bzw. für Steuermodule (102) in einer Komparatoreinheit (113) bereitgestellt wird.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein ein Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen, und betrifft insbesondere ein Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen, das in einer Prüfeinrichtung für eine Abtastprüfung eingesetzt wird.

Eine Prüfung von Integrierten Schaltungen (ICs) und anderen Baugruppen gewinnt vor dem Hintergrund einer zunehmenden Mi­ niaturisierung eine immer größere Bedeutung. Beispielsweise sind Mikroprozessoren hochkomplexe ICs, die insbesondere für einen Einsatz in zentralen Verarbeitungseinheiten (CPUs = Central Processing Units) exakt auf Fehlfunktionen hin ge­ prüft werden müssen. Es existieren jedoch zahlreiche weitere Anwendungen für eine Abtastprüfung von elektronischen Schal­ tungsmodulen.

Schaltungsmodule sind beispielsweise aus Scanketten aufge­ baut, welche durch eine Reihe von logischen Funktionseinhei­ ten, wie z. B. Gattereinheiten und/oder Flipflopeinheiten, bereitgestellt sind. Diese Scanketten werden herkömmlicher­ weise geprüft, indem Abtastvektoren, die aus einer Bitmuster­ folge von logischen "Einsen" und logischen "Nullen" aufgebaut sind, an einen Eingang eines zu prüfenden Schaltungsmoduls angelegt werden, und indem anschließend an einem Ausgang die resultierenden Abtastvektoren mit einem erwarteten Ergebnis, beispielsweise mit einem Soll-Abtastvektor verglichen werden.

Hierbei werden Abtastvektoren, die einem Eingang eines zu prüfenden Schaltungsmoduls zugeführt werden, als Abtastein­ gangssignale bereitgestellt, während resultierende Abtastvek­ toren, die von einem Ausgang des zu prüfenden Schaltungsmo­ duls ausgegeben werden, als Abtastausgangssignale mit erwarteten Ergebnis-Abtastvektoren, die als Soll- Abtastausgangssignale bezeichnet werden, in einer Komparator­ einheit verglichen werden.

Bei der Prüfung von Schaltungsmodulen ist eine Prüfeinrich­ tung herkömmlicherweise für eine Abtastprüfung eingerichtet, wobei eine Prüfqualität auch bei einer Erweiterung des Prüf­ bedarfs aufrechterhalten werden muß.

Mit Hilfe einer sogenannten ATPG-Software (Automated Test Pattern Generation-Software) werden spezifische digitale Prüfsignale für eine Prüfung von Schaltungsmodulen, die bei­ spielsweise als "Kanalmodule" oder als "Steuermodule" ausge­ bildet sein können, durch einen Testmustergenerator erzeugt. Diese Prüfsignale, die als eine beliebige Bitmusterfolge (z. B. 0-1-0-0-1-1-0-1-. . .) in Form von Abtastvektoren vorge­ geben werden, werden den zu prüfenden Schaltungsmodulen zuge­ führt.

Die Terme "Kanalmodul" bzw. "Steuermodul" bezeichnen nachfol­ gend lediglich unterschiedliche Schaltungsmodule, wobei als ein Kanalmodul ein Schaltungsmodul bezeichnet wird, welches in einer Schaltung in der Regel mehrfach, mindestens jedoch einmal auftritt und wobei einzelne Kanalmodule jeweils iden­ tisch sind, und wobei wiederum als ein Steuermodul ein Schal­ tungsmodul bezeichnet wird, welches in einer Schaltung mehr­ fach, mindestens jedoch einmal auftritt und wobei wiederum einzelne Steuermodule jeweils identisch sind.

Fig. 4 zeigt eine Prüfeinrichtung für parallel angeordnete Kanalmodule 101a, . . . 101i, . . . 101d nach dem Stand der Tech­ nik. Eine erste Anschlußeinheit 401 ist mit einem Steuermodul 102 verbunden, wobei Signale zwischen der ersten Anschlußein­ heit 401 und dem Steuermodul 102 in beiden Richtungen als Ab­ tasteingangssignale und Abtastausgangssignale ausgetauscht werden können. Beispielhaft sind in Fig. 4 vier Kanalmodule 101a, 101b, 101c und 101d dargestellt, die in einer paralle­ len Weise geprüft werden. Die Kanalmodule 101a-101d sind jeweils mit dem Steuermodul 102 und einer zweiten Anschlu­ ßeinheit 402 verbunden, wobei Kanalabtasteingangssignale und Kanalabtastausgangsignale jeweils zwischen den Kanalmodulen 101a-101d und dem Steuermodul 102 bzw. der zweiten Anschlu­ ßeinheit 402 ausgetauscht werden können.

Die in einer Schaltung vorhandenen Schaltungsmodule, hier als "Kanalmodule" bzw. als "Steuermodule" bezeichnet, beinhalten Scanketten, z. B. für ein Kanalmodul 101a die Scanketten A_s1-­ A_sN, die beispielsweise durch eine Serie von Flipflopeinhei­ ten ausgebildet sind, wobei N die Gesamtzahl der Scanketten in dem Kanalmodul 101a darstellt.

Hierbei werden mit den Abtastsignalen (Abtasteingangssignal und Abtastausgangssignal), die in einem Testgenerator 112 er­ zeugt werden, eine Anzahl von N Scanketten (A_s1-A_sN) geprüft, aus welchen sich die jeweiligen Schaltungsmodule zusammenset­ zen. Prüfverfahren nach dem Stand der Technik beruhen auf ei­ ner Verwendung von Abtasteingangssignalen, die für jedes Schaltungsmodul (hier Kanalmodule und Steuermodule) getrennt vorhanden und auch abgespeichert sein müssen. Die jeweiligen Abtastausgangssignale werden einer Komparatoreinheit 113 zu­ geführt, in welcher die jeweiligen Abtastausgangssignale mit Soll-Abtastausgangssignalen verglichen werden, und somit wird ein Prüfergebnis erhalten.

Um Abtasteingangssignale bei einer Erweiterung von Schaltun­ gen um einzelne Schaltungsmodule bereitzustellen, ist bei Prüfeinrichtungen für eine Abtastprüfung nach dem Stand der Technik nachteiligerweise eine Speichererweiterung der Prüf­ einrichtung erforderlich. Kann jedoch eine derartige Spei­ chererweiterung nicht bereitgestellt werden, müssen zwangsläufig Abtastsignale reduziert werden, was zu einem Nachteil einer verminderten Prüfqualität führt.

Es ist somit eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Prüfanordnung bereitzustellen, die ohne eine Erweiterung der Prüfeinrichtung hinsichtlich eines Speichers oder anderer Komponenten und ohne ein Begrenzen der Abtastsignale für eine Abtastprüfung eingesetzt werden kann.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zum Prüfen von Schal­ tungsmodulen nach Anspruch 1 und eine Vorrichtung nach An­ spruch 8 gelöst.

Kern der Erfindung ist ein Verfahren, welches es ermöglicht, Abtastsignale in einer Prüfeinrichtung zu speichern und mit diesen gespeicherten Abtasteingangssignalen Scanketten, die mindestens einmal in mindestens einem Schaltungsmodul auftre­ ten, zu prüfen, wobei das Verfahren weiterhin ein Auslesen von Kanalabtastausgangssignalen über eine einzige Ausle­ seanschlußeinheit bereitstellt.

Ein Vorteil des Verfahrens zum Prüfen von Schaltungsmodulen gemäß der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass mindes­ tens ein Kanalmodul (bzw. mindestens ein Steuermodul) in ei­ ner Abtastprüfung jeweils parallel mit identischen Kanalab­ tasteingangssignalen (bzw. mit identischen Steuerabtastein­ gangssignalen geprüft werden kann, was zu einer Reduzierung einer Prüfzeit in einer Prüfeinrichtung führt.

Vorteilhafterweise werden Abtastsignale für ein Kanalmodul einmal in einer Prüfeinrichtung gespeichert und mehrfach für eine Prüfung von Schaltungsmodulen bereitgestellt werden.

In vorteilhafter Weise ermöglicht es das Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen gemäß der vorliegenden Erfindung, den Speicherbedarf für die Speicherung von Abtastsignalen zu re­ duzieren, was zu einer Kostenreduktion führt.

Zweckmäßigerweise ergibt sich gemäß der Vorrichtung zur Prü­ fung von Schaltungsmodulen gemäß der vorliegenden Erfindung eine reduzierte Schaltungsgröße der Prüfeinrichtung, wodurch eine Verarbeitung durch eine sogenannte ATPG-Software (Auto­ mated Test Pattern Generation-Software) erleichtert wird.

Noch ein weiterer Vorteil des Verfahrens zum Prüfen von Schaltungsmodulen gemäß der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass Abtastsignale nach einer Prüfung sämtlicher Scan­ ketten über eine einzige Ausleseanschlußeinheit ausgelesen werden können.

In den Unteransprüchen finden sich vorteilhafte Weiterbildun­ gen und Verbesserungen des jeweiligen Gegenstands der Erfin­ dung.

Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung ist ein Prüfregister bereitgestellt, welches einzelne Kanalmodule und einzelne Steuermodule ansteuert.

Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegen­ den Erfindung werden das mindestens eine Kanalmodul und das mindestens eine Steuermodul seriell geprüft.

Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegen­ den Erfindung werden das mindestens eine Kanalmodul und das mindestens eine Steuermodul parallel geprüft.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Abtastsignale mit Hilfe eines Pro­ gramms zum automatischen Erzeugen von Prüfmustern, d. h. einer sogenannten ATPG-Software (Automated Test Pattern Generation -Software) erzeugt.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Kanalabtastausgangssignale einzel­ ner Kanalmodule in Gattereinheiten mit Kanalabtastmodussigna­ len korreliert, um einer Kombinationseinheit zugeführt zu werden.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung sind die Gattereinheiten zur Kombination der Kanalabtastmodussignale mit den Kanalabtastausgangssigna­ len als UND-Gatter ausgebildet.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten, Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung ist die Kombinationseinheit derart ausge­ bildet, dass nur eines der Gatterausgangssignale durchge­ schaltet wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird ein Freigabesignal einer ersten und einer zweiten Gattereinheit zugeführt, wodurch ein Prüfen ei­ nes gewünschten Kanalmoduls mit Hilfe des entsprechenden Ka­ nalabtastmodussignals und ein Prüfen eines gewünschten Steu­ ermoduls mit Hilfe des entsprechenden Steuerabtastmodussig­ nals ermöglicht wird.

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher er­ läutert.

In den Zeichnungen zeigen:

Fig. 1 eine schematische Skizze einer Anordnung zum Prüfen von Schaltungsmodulen gemäß eines Ausführungsbei­ spiels der vorliegenden Erfindung;

Fig. 2 eine Veranschaulichung einer Prüfanordnung unter Verwendung einer Logik zur Bereitstellung von Ab­ tastfreigabesignalen mit Hilfe der in Fig. 1 ge­ zeigten, separaten Abtastmodussignale gemäß eines Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung;

Fig. 3 eine Prinzipdarstellung einer Logik zum Auslesen von Abtastsignalen nach einer Prüfung sämtlicher Scanketten, wobei die Abtastsignale über eine Aus­ leseanschlußeinheit einer Prüfeinrichtung gemäß des erfindungsgemäßen Verfahrens bereitgestellt werden; und

Fig. 4 eine Prüfeinrichtung zur Prüfung von Schaltungsmo­ dulen nach dem Stand der Technik.

Fig. 1 zeigt eine schematische Skizze des Verfahrens und der Vorrichtung zum Prüfen von Schaltungsmodulen gemäß eines Aus­ führungsbeispiels der vorliegenden Erfindung.

Bei der in Fig. 1 gezeigten Prüfanordnung ist die Prüfung mehrerer Kanalmodule 101a, . . . 101i, . . . 101d (i = Laufindex) und eines Steuermoduls 102 gezeigt. Hierbei wird ein Prüfre­ gister 103 eingesetzt, welches für eine Ansteuerung des Steu­ ermoduls 102 ein Steuerabtastmodussignal 131 für das Steuer­ modul 102 bereitstellt, und darüber hinaus für eine Ansteue­ rung der Kanalmodule 101a-101d ein Kanalabtastmodussignal 111 für die Kanalmodule 101a-101d bereitstellt. In der Be­ zugszeichenliste stellt hierbei "i" einen Laufindex dar, wel­ cher auf die Kanalmodule 101a-101d oder auf mehr als vier Kanalmodule 101, falls vorhanden, angewandt wird.

Es sei darauf hingewiesen, dass in dem in Fig. 1 veranschau­ lichten Ausführungsbeispiel vier Kanalmodule 101a-101d ge­ prüft werden, dass aber die Erfindung nicht auf eine Anzahl von vier zu prüfenden Kanalmodulen beschränkt ist.

Abtastsignale werden in der vorliegenden Offenbarung, unter spezifischer Bezugnahme auf Fig. 1 bis Fig. 3, als Kanalab­ tasteingangssignale 108 bzw. Steuerabtasteingangssignale 128 bezeichnet, wenn sie zum Prüfen einem Kanalmodul 101 bzw. ei­ nem Steuermodul 102 zugeführt werden, während Abtastsignale als Kanalabtastausgangssignale 109 bzw. Steuerabtastausgangs­ signale 129 bezeichnet werden, wenn sie nach einem Prüfen ei­ nes Kanalmoduls 101 bzw. eines Steuermoduls 102 von diesen jeweils ausgelesen werden.

Von einem Testmustergenerator 112 werden als Prüfsignale, die als eine beliebige Bitmusterfolge (z. B. 0-1-0-0-1-1-0-1-. . .) vorgegeben werden, d. h. als sog. Abtastvektoren Abtastein­ gangssignale den zu prüfenden Schaltungsmodulen, d. h. einem Steuermodul 102 über eine Steuermodul-Anschlußeinheit 114 und einem Kanalmodul 101 über eine Kanalmodul-Anschlußeinheit 115 zugeführt. Die resultierenden Abtastausgangssignale werden einer Komparatoreinheit 113 zugeführt, in welcher diese mit entsprechenden Soll-Abtastausgangssignalen verglichen werden.

Von dem Prüfregister 103 wird ein Kanalabtastmodussignal 111 dem Kanalmodul 101 zu einem Kanalabtastmoduseingang 107 zuge­ führt. Ein Kanalabtastfreigabesignal 110 wird einem Kanalab­ tastfreigabeeingang 106 zugeführt. Ein Kanalabtasteingangs­ signal 108 wird dem Kanalabtasteingang 104 des Kanalmoduls 101 zugeführt. Ein Kanalabtastausgangssignal 109 wird von dem Kanalabtastausgang 105 abgeleitet.

In ähnlicher Weise wird von dem Prüfregister 103 ein Steuer­ abtastmodussignal 131 zu einem Steuerabtastmoduseingang 127 zu dem Steuermodul 102 zugeführt. Ein Steuerabtastfreigabe­ signal 130 wird dem Steuerabtastfreigabeeingang 126 des Steu­ ermoduls 102 zugeführt. Ein Steuerabtasteingangssignal 128 wird einem Steuerabtasteingang 124 des Steuermoduls 102 zuge­ führt. Das Steuerabtastausgangssignal 129 wird von einem Steuerabtastausgang 125 des Steuermoduls 102 abgeleitet.

Beispielhaft sind in dem in Fig. 1 gezeigten Prüfregister 103 fünf Untereinheiten A, B, C, D und E veranschaulicht, die je­ weiligen Kanalabtastmodussignale 111a, 111b, 111c bzw. 111d sowie das Steuerabtastmodussignal 131 bereitstellen. Es sei jedoch darauf hingewiesen, dass grundsätzlich mehr als vier Kanalmodule 101, die in einer Schaltungsanordnung mehrfach verwendet werden, sowie grundsätzlich mehr als ein Steuermo­ dul 102 enthalten sein können.

In dem veranschaulichten Ausführungsbeispiel der Erfindung ist es möglich, Abtastsignale für ein Kanalmodul 101 einfach in der Prüfeinrichtung zu speichern und - anschließend wieder­ zuverwenden, wodurch eine Prüfeinrichtung mit einem geringen Speicherausbau bereitgestellt werden kann.

Weiterhin besteht durch das erfindungsgemäße Verfahren die Möglichkeit, sämtliche vorhandenen Kanalmodule 101, hier die vier veranschaulichten Kanalmodule 101a, 101b, 101c und 101d parallel zu prüfen.

Fig. 2 verdeutlicht eine Prüfanordnung unter Verwendung einer Logik zur Bereitstellung von Abtastfreigabesignalen, d. h. ei­ nem Steuerabtastfreigabesignal 130 für ein Steuermodul 102 und einem Kanalabtastfreigabesignal 110 für ein Kanalmodul 101, mit Hilfe der in Fig. 1 gezeigten, separaten Abtastmo­ dussignale, d. h. mit einem Steuerabtastmodussignal 131 für ein Steuermodul 102 und einem Kanalabtastmodussignal 111 für ein Kanalmodul 101, gemäß eines Ausführungsbeispiels der vor­ liegenden Erfindung.

Bei der in Fig. 2 gezeigten Prüfanordnung wird ein Freigabe­ signal 205 einer Freigabesignal-Anschlußeinheit 201 zuge­ führt. Das Freigabesignal 205 wird weiter jeweils einem ers­ ten Anschluß einer ersten Gattereinheit 203 und einem ersten Anschluß einer zweiten Gattereinheit 204 zugeführt, die je­ weils als UND-Gatter ausgebildet sind. Einem zweiten Anschluß der ersten Gattereinheit 203 wird das Steuerabtastmodussignal 131 zugeführt, während einem zweiten Anschluß der zweiten Gattereinheit 204 das Kanalabtastmodussignal 111 zugeführt wird.

Als Ausgangssignal der ersten Gattereinheit 203 wird das Steuerabtastfreigabesignal 130 dem Steuerabtastfreigabeein­ gang 126 des Steuermoduls 102 zugeführt, während das Kanalab­ tastfreigabesignal 110 als Ausgangssignal der zweiten Gatter­ einheit 204 dem Kanalabtastfreigabeeingang 106 des Kanalmo­ duls 101 zugeführt wird.

Fig. 3 veranschaulicht beispielhaft eine Prinzipdarstellung einer Logikanordnung zum Auslesen von Kanakabtastausgangs­ signalen 109a-109d nach einer Prüfung sämtlicher Scanketten von vier Kanalmodulen 101a-101d über eine einzige Ausle­ seanschlußeinheit 303 einer Prüfeinrichtung gemäß des erfin­ dungsgemäßen Verfahrens.

Bei der in Fig. 3 gezeigten Logikanordnung sind beispielhaft vier Kanalmodule 101a, 101b, 101c und 101d mit Kanalabtast­ eingangssignalen 108 beaufschlagt worden, wodurch Kanalab­ tastausgangssignale 109a, 109b, 109c und 109d an den jeweili­ gen Kanalabtastausgängen 105 bereitgestellt werden, welche wiederum jeweils ersten Anschlüssen der in Fig. 3 gezeigten Gattereinheiten 301a, 301b, 301c und 301d zugeführt werden. Die Gattereinheiten 301a-301d sind beispielsweise als UND- Gatter ausgebildet. Jeweils zweite Anschlüsse der Gatterein­ heiten 301a-301d werden mit Kanalabtastmodussignalen 111a, 111b, 111c und 111d beaufschlagt. Die Gatterausgangssignale 305a-305d der Gattereinheiten 301a-301d werden jeweils einer Kombinationseinheit 304 zugeführt, deren Ausgang mit einem zweiten Eingang der Multiplexereinheit 302 verbunden ist.

Die Multiplexereinheit 302 schaltet in Abhängigkeit von einem Multiplexer-Abtastfreigabesignal 306 entweder das zugeführten Normalfunktionssignal 202, was einem Normalbetrieb der Schal­ tungsanordnung entspricht, oder das Ausgangssignal der Kombi­ nationseinheit 304 zu einer Ausleseanschlußeinheit 303 durch, was wiederum einem Prüfbetrieb für die Schaltungsanordnung entspricht. Es besteht somit der Vorteil, dass sämtliche Ab­ tastsignale nach einer Prüfung sämtlicher Scanketten über ei­ ne einzige Ausleseanschlußeinheit 303 der Prüfeinrichtung ausgelesen werden können.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodu­ len erlaubt es somit, den Nachteil herkömmlicher Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen zu beseitigen, bei welchen eine Prüfeinrichtung bei einer Erhöhung der Abtastsignale vergrößert werden muß. Weiterhin müssen in dem erfindungsge­ mäßen Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen keine Ein­ schränkungen hinsichtlich der Abtastsignale für eine Abtast­ prüfung oder eine Reduzierung der Prüfqualität in Kauf genom­ men werden. Ein Beispiel, wie das erfindungsgemäße Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen eine Reduzierung einer Ab­ tastsignal-Menge bereitstellt, wird untenstehend beschrieben werden.

In einem veranschaulichenden Beispiel enthält jedes der Ka­ nalmodule 101a, 101b, 101c und 101d sowie das Steuermodul 102 2500 Flipflopeinheiten, wodurch insgesamt 12500 Flipflopein­ heiten vorhanden sind, die durch Scanketten verbunden werden müssen. Weiterhin sei angenommen, dass auf der Grundlage ver­ fügbarer Anschlußeinheiten der Kanalmodule 101 und des Steu­ ermoduls 102 lediglich 10 Scanketten bereitgestellt werden können.

Überdies werden durch das Programm zum automatischen Erzeugen von Prüfmustern, d. h. durch die sogenannten ATPG-Software (Automated Test Pattern Generation-Software) für eine Prüf­ qualität mit eine 95% - "stuck at fault" - Abdeckung 1000 Ab­ tastvektoren ermittelt, die in die Scanketten seriell geladen werden. Mittels eines Verfahrens zum Prüfen von Schaltungsmo­ dulen nach dem Stand der Technik würden sich 10 Scanketten mit jeweils
5 Module × 2500 Flipflopeinheiten/10 Scanketten = 1250 Flipflopeinheiten
ergeben. Diese 1250 Flipflopeinheiten pro Scankette weisen einen gesamten Speicherbedarf von
1000 Abtastvektoren x Länge einer Scankette von 1250 Flipflopeinheiten = 1,25 MV (Mega- Abtastvektoren)
auf.

Demgegenüber stellt das erfindungsgemäße Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen in dem veranschaulichten Ausführungs­ beispiel die Möglichkeit bereit, die identisch vorhandenen Kanalmodule 101a-101d mit identischen Abtastsignalen zu la­ den, wodurch nurmehr 5000 Flipflopeinheiten - 2500 Flipflop­ einheiten identisch für die Kanalmodule 101a-101d und 2500 Flipflopeinheiten für das Steuermodul 102 - verarbeitet werden müssen. Bei 10 Scanketten ergeben sich, um mit dem zuvor erwähnten Beispiel nach dem Stand der Technik vergleichbar zu sein,
5000 Flipflopeinheiten/10 Scanketten = 500 Flipflopeinheiten.

Somit beträgt bei den gemäß der obigen Ausführungen benötig­ ten 1000 Abtastvektoren der Speicherbedarf 0,5 MV (MegaAb­ tastvektoren, was einer Reduktion des Speicherbedarfs um 0,75 MV bzw. um 60% entspricht.

Die dargestellte Anordnung mit vier Kanalmodulen 101a-101d, die durch das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungs­ gemäße Vorrichtung verarbeitet werden, ist nur beispielhaft. Es ist für Durchschnittsfachleute klar erkennbar, dass zwei oder mehrere Kanalmodule und/oder zwei oder mehrere Steuermo­ dule mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens geprüft wer­ den können.

Obwohl die vorliegende Erfindung vorstehend anhand bevorzug­ ter Ausführungsbeispiele beschrieben wurde, ist sie darauf nicht beschränkt, sondern auf vielfältige Weise modifizier­ bar.

Bezugszeichenliste

In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche Komponenten.

101

,

101

a, . . .

101

i, . . .

101

d Kanalmodul (i = Laufindex)

102

Steuermodul

103

Prüfregister

104

Kanalabtasteingang

105

Kanalabtastausgang

106

Kanalabtastfreigabeeingang

107

Kanalabtastmoduseingang

108

Kanalabtasteingangssignal

109

,

109

a-

109

d Kanalabtastausgangssignal

110

Kanalabtastfreigabesignal

111

,

111

a-

111

d Kanalabtastmodussignal

112

Testmustergenerator

113

Komparatoreinheit

114

Steuermodul-Anschlußeinheit

115

Kanalmodul-Anschlußeinheit

124

Steuerabtasteingang

125

Steuerabtastausgang

126

Steuerabtastfreigabeeingang

127

Steuerabtastmoduseingang

128

Steuerabtasteingangssignal

129

Steuerabtastausgangssignal

130

Steuerabtastfreigabesignal

131

Steuerabtastmodussignal

201

Freigabesignal-Anschlußeinheit

202

Normalfunktionssignal

203

Erste Gattereinheit

204

Zweite Gattereinheit

205

Freigabesignal

301

a-

301

d Gattereinheiten

302

Multiplexereinheit

303

Ausleseanschlußeinheit

304

Kombinationseinheit

305

a-

305

d Gatterausgangssignale

306

Multiplexer-Abtastfreigabesignal

401

Erste Anschlußeinheit

402

Zweite Anschlußeinheit

Claims (10)

1. Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen mit den folgen­ den Schritten:

• a) Einbringen von mindestens einem Kanalmodul (101), das mindestens eine Scankette enthält, in eine Prüf­ einrichtung;
• b) Einbringen von mindestens einem Steuermodul (102), in die Prüfeinrichtung;
• c) Ansteuern des mindestens einen Kanalmoduls (101) durch ein Prüfregister (103);
• d) Ansteuern des mindestens einen Steuermoduls (102) durch das Prüfregister (103);
• e) Prüfen des mindestens einen Kanalmoduls (101) durch Prüfen der mindestens einen Scankette, wobei mehr­ fach vorhandene Kanalmodule (101), die eine identi­ sche Scankettenstruktur aufweisen, mit identischen Abtastsignalen geprüft werden;
• f) Prüfen des mindestens einen Steuermoduls (102) wobei mehrfach vorhandene Steuermodule (102), die eine i­ dentische Scankettenstruktur aufweisen, mit identi­ schen Abtastsignalen geprüft werden;
• g) Logisches Verknüpfen von Kanalabtastausgangssignalen (109) mit Kanalabtastmodussignalen (111) in Gatter­ einheiten (301);
• h) Kombinieren von Gatterausgangssignalen (305) der Gattereinheiten (301) in einer Kombinationseinheit (304);
• i) Durchschalten des Ausgangssignals der Kombinations­ einheit (304) in einer Multiplexereinheit (302) in Abhängigkeit von einem Multiplexer- Abtastfreigabesignal (306);
• j) Auslesen eines Prüfergebnisses über eine Ausle­ seanschlußeinheit (303); und
• k) Vergleichen des Prüfergebnisses mit mindestens einem Soll-Abtastausgangssignal für mindestens ein Kanal­ modul (101) und mit mindestens einem Soll- Abtastausgangssignal für mindestens ein Steuermodul (102) in einer Komparatoreinheit (113).

2. Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine Kanalmodul (101) und das mindestens eine Steuermodul (102) seriell geprüft werden.

3. Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen nach einem oder beiden der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine Kanalmodul (101) und das mindestens eine Steuermodul (102) parallel geprüft werden.

4. Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass Abtastsignale mit Hilfe eines Programms zum automati­ schen Erzeugen von Prüfmustern, d. h. einer sogenannten ATPG- Software (Automated Test Pattern Generation-Software) er­ zeugt werden.

5. Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass Kanalabtastausgangssignale (109) einzelner Kanalmodule in Gattereinheiten (301) mit Kanalabtastmodussignalen (111) zusammengeführt werden, um einer Kombinationseinheit (304) zugeführt zu werden.

6. Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Kombinationseinheit (304) derart ausgebildet ist, dass nur eines der Gatterausgangssignale (305) durchgeschal­ tet wird.

7. Verfahren zum Prüfen von Schaltungsmodulen nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass ein Freigabesignal (205) einer ersten und einer zweiten Gat­ tereinheit zugeführt wird, wodurch ein Prüfen eines gewünsch­ ten Kanalmoduls (101) mit Hilfe des entsprechenden Kanalab­ tastmodussignals (111) und ein Prüfen eines gewünschten Steu­ ermoduls (102) mit Hilfe des entsprechenden Steuerabtastmo­ dussignals (131) ermöglicht wird.

8. Vorrichtung zur Prüfung von Schaltungsmodulen mit:

• a) einem Prüfregister (103) zur Ansteuerung von mindes­ tens einem Kanalmodul (101) und von mindestens einem Steuermodul (102);
• b) Gattereinheiten (301) zur logischen Verknüpfung von Kanalabtastausgangssignalen (109) mit Kanalabtastmo­ dussignalen (111);
• c) einer Kombinationseinheit (304) zur Kombination von Gatterausgangssignalen (305) der Gattereinheiten (301);
• d) einer Multiplexereinheit (302) zur Durchschaltung des Ausgangssignals der Kombinationseinheit (304) in Abhängigkeit von einem Multiplexer- Abtastfreigabesignal (306);
• e) einer Ausleseanschlußeinheit (303) zur Auslesung ei­ nes Prüfergebnisses über eine Ausleseanschlußeinheit (303); und
• f) einer Komparatoreinheit (113) zum Vergleich des Prüfergebnisses mit mindestens einem Soll- Abtastausgangssignal für mindestens ein Kanalmodul (101) und mindestens einem Soll-Abtastausgangssignal für mindestens ein Steuermodul (102).

9. Vorrichtung zur Prüfung von Schaltungsmodulen nach An­ spruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass eine Logik bereitgestellt ist, um Abtastfreigabesignale (110, 130) mit Hilfe von Abtastmodussignalen (111, 131) zu erzeugen.

10. Vorrichtung zur Prüfung von Schaltungsmodulen nach einem oder beiden der Ansprüche 8 und 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Gattereinheiten (301) zur Zusammenführung der Kanal­ abtastmodussignale (111) mit den Kanalabtastausgangssignalen (109) als UND-Gatter ausgebildet sind.