DE10002351A1 - Mehrfachanschlußstecker und eine hiermit verbindbare Platine für eine Voralterungsprüfung - Google Patents

Abstract

Die Erfindung betrifft einen Mehrfachanschlußstecker (20), mittels dessen die Anzahl von Polen von Kontaktelektroden (23a, 23b, 24a, 24b) erhöht werden kann, ohne daß Bearbeitungstechniken für die Kontaktelektroden (23a, 23b, 24a, 24b) notwendig sind, um diese zu miniaturisieren, und eine Platine für einen Voralterungstest (10), die mit dem Mehrfachanschlußstecker (20) verbindbar ist. Es sind mehrere anschlußähnliche Kontaktelektroden (23a, 23b, 24a, 24b) in einem Gehäuseabschnitt (21) des Mehrfachanschlußsteckers (20) vorgesehen. Die mehreren anschlußähnlichen Kontaktelektroden (23a, 23b, 24a, 24b) stehen von dem Boden des Gehäuseabschnitts (21) ab, so daß sie sich entlang einer Verbindungsrichtung (22) des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) einer Leiterplatte erstrecken. Die anschlußähnlichen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) sind in einer Richtung senkrecht zu einer eine Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) gegenseitig aneinandergrenzend angeordnet. Endabschnitte der Kontaktelektroden (23a, 23b, 24a, 24b) sind so bearbeitet, daß sie mit den mehreren Elektroden in Kontakt stehen, die auf den Leiterplattensteckleistenabschnitten (11a, 11b) ausgebildet sind.

Description

Die Erfindung betrifft einen Mehrfachanschlußstecker bzw. -verbinder, der für eine elektri­ sche Verbindung zwischen mehreren Signalleitungen und einer hiermit verbindbaren Platine für eine Voralterungsprüfung bzw. einen Voralterungstest genutzt wird.

In einem abschließenden Schritt eines Herstellungsprozesses eines Halbleiters wird üblicher­ weise ein Voralterungstest bzw. eine Voralterungsprüfung mit Hilfe eines Voralterungstestsy­ stems ausgeführt, wodurch defekte Produkte ausgesondert werden. Bei dem Voralterungstest werden mehrere Halbleitergeräte bzw. -einrichtungen, die jeweils als ein Testuntergerät die­ nen, auf einer Platine für den Voralterungstest montiert. Danach werden eine vorgegebene elektrische Überspannung und eine vorgegebene Temperaturüberlastung auf diese Halbleiter­ geräte für eine vorgegebene Zeitdauer angewendet, um Bedingungen zu beschleunigen, die defekte Produkte erzeugen, wodurch potentiell defekte Produkte ausgesondert werden.

In Anbetracht der Tatsache, daß mehrere Signale auf mehrere Halbleitergeräte angewendet werden müssen, die jeweils als ein Testuntergerät auf der Platine für den Voralterungstest montiert sind, wird die Platine für den Voralterungstest mit einem Mehranschlußstecker (Leiterplattensteckleisten-Stecker bzw. -Verbinder) verbunden, wobei die Platine für den Voralterungstest mit Hilfe des Mehrfachanschlußverbinders bzw. -steckers mit einem Voral­ terungstestsystemkörper elektrisch verbunden ist. Die Platine für den Voralterungstest weist einen Platinen- bzw. Leiterplattensteckleistenabschnitt auf, mit welchem der Mehrfachan­ schlußverbinder verbunden ist. Mehrere Sitzzahnprofilelektroden aus Metall sind auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt in einer Spalte in Breiten- bzw. Querrichtung des Leiter­ plattensteckleistenabschnitts ausgebildet.

Der Mehrfachanschlußverbinder bzw. -stecker weist einen Gehäuseabschnitt auf, der mit dem Leiterplattensteckleistenabschnitt der Platine für den Voralterungstest im Eingriff bzw. in Verbindung steht. Mehrere Kontaktelektroden sind in dem Gehäuseabschnitt entlang der Querrichtung des Leiterplattensteckleistenverbinders in einem vorgegebenen regelmäßigen Abstand vorgesehen, so daß sie mit mehreren Sitzzahnprofilelektroden aus Metall in Verbin­ dung gebracht werden, welche auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt ausgebildet sind.

Bei herkömmlichen Mehrfachanschlußverbindern bzw. -steckern und einer hiermit verbindba­ ren Platine für einen Voralterungstest besteht jedoch der folgende Nachteil. Jede der auf der Mehrfachanschlußverbinderseite vorgesehenen Kontaktelektroden weist bei einer normalen Rasterabstandsspezifikation der Anzahl von Polen (der Anzahl von Elektroden) etwa 10 Po­ le/Inch (eine Seite; 1 Inch = 2,54 cm) auf. Auch bei einem Typ mit hoher Dichte und halber Rasterabstandsspezifikation der Anzahl der Pole weist jede der auf der Mehrfachanschlußver­ binderseite vorgesehenen Kontaktelektroden lediglich 20 Pole/Inch (eine Seite; 1 Inch = 2,54 cm) auf. Wenn die Anzahl der Pole erhöht wird, ist es notwendig, eine Technik zur Bearbei­ tung der Kontaktelektroden bzw. der Sitzzahnprofilelektroden aus Metall zu entwickeln, um diese zu miniaturisieren. Deshalb ist die Anzahl der Pole auf einer Seite gegenwärtig auch für eine halbe Rasterabstandsspezifikation auf 20 begrenzt. Darüber hinaus ist es schwierig, nicht weniger als 20 Kontaktelektroden zu montieren.

Aufgabe der Erfindung ist es, einen Mehrfachanschlußstecker bzw. -verbinder, bei dem die Anzahl der Pole vergrößert werden kann, ohne daß Techniken zur Bearbeitung der Kontakte­ lektroden bzw. der Sitzzahnprofilelektroden aus Metall notwendig sind, um diese zu miniatu­ risieren, und eine mit dem Mehrfachanschlußstecker verbindbare Platine für den Voralte­ rungstest zu schaffen.

Zur Lösung der Aufgabe weisen der Mehrfachanschlußstecker und eine hiermit verbindbare Platine für den Voralterungstest erfindungsgemäß die folgende Konstruktion auf.

Der Mehrfachanschlußstecker weist ein Gehäuse (beispielsweise ein Gehäuseabschnitt) auf und ist mit einer Leiterplatte bzw. Platine (beispielsweise eine Platine bzw. eine Leiterplatte für den Voralterungstest), die einen Leiterplattensteckleistenabschnitt aufweist, mit Hilfe des Eingriffs des Leiterplattensteckleistenabschnitts in dem Gehäuseabschnitt bzw. einer Vebin­ dung zwischen dem Leiterplattensteckleistenabschnitt und dem Gehäuseabschnitt verbindbar. Der Mehrfachanschlußstecker umfaßt weiterhin mehrere anschlußähnliche Elektroden, die von dem Gehäuseabschnitt aufgenommen sind. Der Mehrfachanschlußstecker ist dadurch gekennzeichnet, daß die mehreren anschlußähnlichen Elektroden von einem Boden des Ge­ häuseabschnitts so hervorstehen bzw. hervortreten, daß sie sich entlang einer Eingriffs- bzw. Verbindungsrichtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts erstrecken, und angeordnet sind, um in einer Richtung senkrecht zu einer eine Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplat­ tensteckleistenabschnitts zueinander benachbart zu sein bzw. gegenseitig aneinander zu gren­ zen, wobei Endabschnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden mit mehreren Elektro­ den in Kontakt gebracht werden, die auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt ausgebildet sind. Des weiteren sind die mehreren anschlußähnlichen Elektroden, beispielsweise Endab­ schnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden in Kontakt mit den Elektroden, die auf beiden Seiten des Leiterplattensteckleistenabschnitts ausgebildet sind, um den Leiterplatten­ steckleistenabschnitt dazwischen sicher bzw. eng zu halten. Darüber hinaus sind die mehreren anschlußähnlichen Elektroden so bearbeitet, daß sie L-förmige Endabschnitte aufweisen.

Erfindungsgemäß sind zwischen den Elektroden auf der Steckerseite und solchen auf der Leiterplattensteckleistenabschnittsseite Kontaktpunkte entlang der Eingriffsrichtung des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts ausgebildet. Dementsprechend kann die Anzahl der Pole er­ höht werden, ohne daß die Anzahl der Elektroden in Breiten- bzw. Querrichtung des Mehr­ fachanschlußsteckers erhöht wird.

Weiterhin weist eine Platine für einen Voralterungstest erfindungsgemäß einen Platinen- bzw. Leiterplattensteckleistenabschnitt auf, der in einem Gehäuse (beispielsweise ein Gehäuseab­ schnitt) eines Mehrfachanschlußsteckers im Eingriff steht, wobei auf dem Leiterplattensteck­ leistenabschnitt entlang einer Eingriffsrichtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts mehre­ re Elektroden ausgebildet sind.

Dementsprechend kann die Anzahl der Pole erhöht werden, ohne daß die Anzahl der Elektro­ den in Querrichtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts erhöht wird.

Die Erfindung wird im Folgenden anhand eines Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf eine Zeichnung näher erläutert. Hierbei zeigen:

Fig. 1 eine Platine für den Voralterungstest nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung in Draufsicht;

Fig. 2 eine Querschnittsdarstellung eines Mehrfachanschlußsteckers nach der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung; und

Fig. 3 eine Darstellung zur Erläuterung der Verbindung zwischen dem Mehrfachanschluß­ stecker und der Platine für den Voralterungstest.

Unter Bezugnahme auf die Fig. 1 bis 3 wird im Folgenden ein Mehrfachanschlußstecker und eine hiermit verbindbare Platine für den Voralterungstest nach einer bevorzugten Ausfüh­ rungsform der Erfindung beschrieben.

Fig. 1 zeigt eine Platine für den Voralterungstest 10 nach einer bevorzugten Ausführungs­ form der Erfindung. Die Platine 10 weist einen Leiterplattensteckleistenabschnitt 11 auf, der, wie später beschrieben wird, mit einem Mehrfachanschlußstecker 20 verbunden wird. Mehre­ re Metallzahnprofilelektroden 12 sind auf der oberen Oberfläche des Leiterplattenstecklei­ stenabschnitts 11 ausgebildet und entlang der Breiten- bzw. Querrichtung des Leiterplatten­ steckleistenabschnitts 11 in zwei Spalten angeordnet. Die Metallzahnprofilelektroden sind auch auf der unteren Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11 ausgebildet. Der Mehrfachanschlußstecker 20 ist an einem Rahmen 30 auf der Seite eines Voralterungstestsy­ stems befestigt. In dem Fall, daß ein Zahnprofilabstandsraster der Zähne 1/10 Inch (1 Inch = 2,54 cm) beträgt, beträgt eine Breite W zwischen einer Metallzahnprofilelektrode 12a in der ersten Spalte und einer Metallzahnprofilelektrode 12b in der zweiten Spalte 1,5 mm. Dement­ sprechend beträgt ein Abstand zwischen der Metallzahnprofilelektrode 12a in der ersten Spalte und der Metallzahnprofilelektrode 12b in der zweiten Spalte 1,04 mm. Andererseits ist ein Verdrahtungs- bzw. Drahtmuster 12c, welches mit der Metallzahnprofilelektrode 12a ver­ bunden ist, in den Metallzahnprofilelektroden 12b, 12b der zweiten Spalte ausgebildet, weil eine Musterbreite des Drahtmusters 12c, welches mit den Metallzahnprofilelektroden 12a und 12b verbunden ist, wenigstens 0,18 mm beträgt.

Fig. 2 ist eine Querschnittsdarstellung der Konstruktion des Mehrfachanschlußsteckers 20 gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung.

Gemäß derselben Figur, nämlich Fig. 2 ist an dem Mehrfachanschlußstecker 20 ein Gehäu­ seabschnitt 21 vorgesehen, welcher in einer Eingriffs- bzw. Verbindungsrichtung 22 des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts 11 offen ist. Anschlußähnliche Kontaktelektroden 23a, 23b sind an der inneren Oberseite des Gehäuseabschnitts 21 in zwei Schichten so vorgesehen, daß sie in einer Richtung senkrecht zu einer eine Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplat­ tensteckleistenabschnitts 11 aneinander grenzen, während die anschlußähnlichen Kontakte­ lektroden 24a, 24b auf der inneren Unterseite des Gehäuseabschnitts 21 in zwei Schichten vorgesehen sind.

Die mehreren Kontaktelektroden 23a, 23b, 24a, 24b sind ausgebildet, um von dem Boden des Gehäuseabschnitts 21 so abzustehen bzw. hervorzustehen, daß sie sich in der Eingriffsrich­ tung 22 des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11 erstrecken, wobei deren Enden so bearbeitet sind, daß sie L-förmig ausgebildet sind, so daß ein Kontakt mit den Metallzahnprofilelektro­ den 12 hergestellt wird, die auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt 11 ausgebildet sind.

Die mehreren Kontaktelektroden 23a, 23b, 24a, 24b sind so ausgebildet, daß der Leiterplat­ tensteckleistenabschnitt 11, der in dem Gehäuseabschnitt 21 in Eingriff steht, dazwischen sicher bzw. eng gehalten wird. Im Detail bedeutet dies, daß die Kontaktelektroden 23a, 24a in Kontakt mit der Metallzahnprofilelektrode 12a stehen, die auf dem Leiterplattensteckleisten­ abschnitt 11 auf der Vorder- und Rückfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11 in der ersten Spalte ausgebildet ist, um sie sicher bzw. eng zu halten, während die Kontaktelektroden 23b, 24b mit der Metallzahnprofilelektrode 12b in Kontakt stehen, die auf dem Leiterplatten­ steckleistenabschnitt 11 auf der Vorder- und Rückfläche in der zweiten Spalte ausgebildet ist, um diese sicher bzw. eng zu halten.

Obwohl in Fig. 2 nur vier Kontaktelektroden 23a, 23b, 24a, 24b gezeigt sind, sind mehrere Kontaktelektroden entlang der Querrichtung (Richtung senkrecht zur Oberfläche des Papiers in Fig. 2) in dem Gehäuseabschnitt 21 des Mehrfachanschlußsteckers 20 in vorgegebenen regelmäßigen Abständen den Metallzahnprofilelektroden 12 entsprechend auf der Platine für den Voralterungstest 10 vorgesehen.

Fig. 3 zeigt eine Art der Verbindung zwischen den Mehrfachanschlußsteckern 20a, 20b und einer Platine für den Voralterungstest 10a. Die in Fig. 3 gezeigte Platine 10a weist dieselbe Konstruktion wie die Leiterplattensteckleistenkonstruktion gemäß Fig. 1 auf, während die Mehrfachanschlußstecker 20a, 20b dieselbe Konstruktion wie die interne Konstruktion des Steckers nach Fig. 2 aufweisen.

Gemäß Fig. 3 stehen die Leiterplattensteckleistenabschnitte 11a, 11b der Platine für den Voralterungstest 10a in Gehäusen der Mehrfachanschlußstecker 20a, 20b nacheinander im Eingriff. Wenn die Mehrfachanschlußstecker 20a, 20b und die Platine 10a verbunden sind, steht beispielsweise die Kontaktelektrode 23a auf einer Seite des Mehrfachanschlußsteckers 20a in Kontakt mit der Metallzahnprofilelektrode 12a in der ersten Spalte, die auf der unteren Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts 11a in der ersten Spalte ausgebildet ist, wohingegen die Kontaktelektrode 24b mit der Metallzahnprofilelektrode 12b in der zweiten Spalte in Verbindung steht.

Mit einer solchen, der beschriebenen Art und Weise entsprechenden Konstruktion werden die Sitzzahnprofilelektroden aus Metall nacheinander in zwei Spalten auf beiden Seiten des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts der Platine für den Voralterungstest gebildet, und die Kon­ taktelektroden werden auf der inneren Oberseite und der inneren Unterseite in dem Gehäuse­ abschnitt des Mehrfachanschlußsteckers in zwei Schichte gebildet. Die Anzahl der Pole ist verdoppelt, beispielsweise ist es möglich, eine Polanzahl von etwa 40/Inch (1 Inch = 2,54 cm) zu realisieren. Entsprechend ist es möglich, Signale, welche im Vergleich zu herkömmlichen Platinen für den Voralterungstest verdoppelt sind, der Platine für den Voralterungstest zuzu­ führen, ohne daß der Anordnungsrasterabstand der Elektroden verändert wird.

Obwohl der Mehrfachanschlußstecker und eine hiermit verbindbare Platine für den Voralte­ rungstest gemäß der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung beschrieben wurde, ist die Erfindung nicht auf diese Ausführungsform beschränkt und umfaßt Modifikationen oder Ver­ änderungen des Designs, welche nicht vom Kern der Erfindung abweichen. Beispielsweise können bei der beschriebenen bevorzugten Ausführungsform die Kontaktelektroden auf der Steckerseite, welche in zwei Schichten ausgebildet sind, und die Sitzzahnprofilelektroden aus Metall auf der Seite des Leiterplattensteckleistenabschnitts, die in zwei Spalten ausgebildet sind, in nicht weniger als drei Schichten und drei Spalten ausgebildet sein. Darüber hinaus können die Kontaktelektroden, obwohl sie den Leiterplattensteckleistenabschnitt auf beiden Seite eng bzw. sicher halten, mit dem Leiterplattensteckleistenabschnitt auf einer Seite in Kontakt stehen.

Weil die mehreren anschlußähnlichen Kontaktelektroden in dem Gehäuseabschnitt so vorge­ sehen sind, daß sie in einer Richtung im wesentlichen senkrecht zur die Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts gegenseitig aneinander grenzen, ist es bei dem erfindungsgemäßen Mehrfachanschlußstecker möglich, die Montagedichte der Kontakt­ elektroden in Breiten- bzw. Querrichtung und die Anzahl der Pole zu erhöhen. Dementspre­ chend ist es möglich, die Anzahl von Signalen zu erhöhen, ohne daß die Größe der Platine für den Voralterungstest verändert wird, wenn die Platine für den Voralterungstest mit dem Voralterungstestsystem mit Hilfe des Mehrfachanschlußsteckers verbunden ist, so daß ein Voralterungstestsystem, welches viele Kontaktelektroden aufweist, in einem kleinen Raum gefertigt werden kann.

Weil mehrere Elektroden auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt entlang der Eingriffs­ richtung des Leiterplattensteckleistenabschnitts in dem Gehäuseabschnitt des Mehrfachan­ schlußsteckers ausgebildet sind, ist es bei der erfindungsgemäßen Platine für den Voralte­ rungstest weiterhin möglich, die Montagedichte der Elektroden in Querrichtung des Leiter­ plattensteckleistenabschnitts zu erhöhen, ohne daß die Notwendigkeit für die Technik zur Bearbeitung der Elektroden besteht, um diese zu miniaturisieren, so daß die Anzahl der Pole erhöht werden kann.

Gemäß der Erfindung ist es deshalb möglich, die Anzahl der Pole pro Raum zu erhöhen, so daß die Erfindung einem kleinen Raum, welcher von dem Design eines Voralterungssystems benötigt wird, oder dem Anstieg der Anzahl von Signalen gewachsen ist.

Claims (4)

1. Mehrfachanschlußstecker (20) mit einem Gehäuseabschnitt (21), wobei der Mehr­ fachanschlußstecker (20) mit einer einen Leiterplattensteckleistenabschnitt (11) aufwei­ senden Platine mit Hilfe des Eingriffs des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) in den Gehäuseabschnitt (21) verbindbar ist, wobei:

• - der Mehrfachanschlußstecker (20) mehrere anschlußähnliche Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) aufweist, die von dem Gehäuseabschnitt (21) aufgenommen sind;
• - die mehreren anschlußähnlichen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) von einem Boden des Gehäuseabschnitts (21) hervorstehen, so daß sich die mehreren anschlußähnli­ chen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) entlang einer Eingriffsrichtung (22) des Lei­ terplattensteckleistenabschnitts (11) erstrecken und in eine Richtung senkrecht zu einer eine Elektrode bildenden Oberfläche des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) benachbart zueinander angeordnet sind; und
• - Endabschnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) in Kontakt mit mehreren Elektroden (12a, 12b) gebracht werden können, die auf dem Leiterplattensteckleistenabschnitt (11) ausgebildet sind.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei Endabschnitte der mehreren anschlußähnlichen Elektroden (23a, 23b, 24a, 24b) in Kontakt mit den Elektroden (12a, 12b) gebracht wer­ den können, die auf beiden Seiten des Leiterplattensteckleistenabschnitts (11) ausgebil­ det sind, um den Leiterabschnittssteckleistenabschnitt (11) dazwischen sicher zu halten.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die mehreren anschlußähnlichen Elektro­ den (23a, 23b) L-förmige Endabschnitte aufweisen.

4. Platine für einen Voralterungstest mit einem Leiterplattensteckleistenabschnitt (11), welcher in einem Gehäuseabschnitt (21) eines Mehrfachanschlußsteckers (20) in Ver­ bindung steht, wobei mehrere Elektroden (12a, 12b) auf dem Leiterplattensteckleitungs­ abschnitt (11) entlang einer Verbindungsrichtung (22) des Leiterplattensteckleistenab­ schnitts (11) ausgebildet sind.