CN206944866U - 一种大型薄壁环形零件的检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种大型薄壁环形零件的检测装置,包括检测平台以及圆盘形检测体,检测平台上端面表面粗糙度小于1.6微米,检测体底面表面粗糙度小于1.6微米,检测体底面与检测平台连接,检测体顶端设有凸台;使用本实用新型提供的技术方案,检测体顶端设置的凸台将检测体外侧分为内径检测区,内侧分为外径检测区,检测体设置在检测平台上,检测平台具有很高的表面粗糙度和平面度,保证了测量精度,检测时,将待测零件抬起放置于检测体上,使待测零件与检测体配合,通过使用手电筒等工具观察其配合情况即可以判定待测零件是否合格,操作简便,减少了检测人员的体力消耗,提高了测量精度、可靠度和工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测技术领域,尤其涉及一种大型薄壁环形零件的检测装置。
背景技术
目前,在航空、航天工业领域中,很多零部件具有很大的结构尺寸和外形,制造和检测这类零件往往都十分困难,尤其是一些大型薄避环形零件,由于这类零件的外形尺寸很大,而壁厚却很薄,零件弹性很大,刚性较差,容易产生变形,若使用常规的检测工具,例如使用量程为1500毫米以上的游标卡尺,由于这种大型游标卡尺自身重量很大,测量时需要多人协同,并耗费大量的体力,当使用大型游标卡尺卡住零件时,由于零件受卡具的作用力而产生形变,影响了测量精度,测量出的数值可靠度不高,若使用大行程三坐标测量仪,由于零件加工后产生扭曲变形,上下端面不平,翘起大,弹性大,三坐标测量所取得的测量值也存在误差,测量效率不高。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种大型薄壁环形零件的检测装置。
本实用新型提供了一种大型薄壁环形零件的检测装置,包括检测平台以及圆盘形检测体,所述检测平台上端面表面粗糙度小于1.6微米,所述检测体底面表面粗糙度小于1.6微米,所述检测体底面与所述检测平台连接,所述检测体顶端设有凸台。
所述检测平台上端面平面度小于0.05毫米。
所述所述检测体底面平面度小于0.05毫米。
所述凸台两侧均设有若干个台阶,任意相邻台阶底面与台阶侧面连接。
所述台阶侧面是通规或止规。
所述台阶侧面是圆柱面。
所述台阶底面表面粗糙度小于1.6微米。
本实用新型的有益效果在于:
采用本实用新型所提供的一种大型薄壁环形零件的检测装置,包括检测平台以及圆盘形检测体,所述检测平台上端面表面粗糙度小于1.6微米,所述检测体底面表面粗糙度小于1.6微米,所述检测体底面与所述检测平台连接,所述检测体顶端设有凸台;使用本实用新型提供的技术方案,由于检测体顶端设置了凸台,凸台将检测体外侧分为内径检测区,凸台将检测体内侧分为外径检测区,检测体设置在检测平台上,检测平台具有很高的表面粗糙度和平面度,保证了测量精度,检测时,将待测零件抬起放置于检测体上,使待测零件与检测体配合,然后使用手电筒等工具观察,若待测零件与检测体能够完全配合,则说明待测零件合格,若待测零件与检测体不能够完全配合,则说明待测零件不合格,操作简便,减少了检测人员的体力消耗,避免了大型薄壁环形零件产生变形而使测量值不可靠的情况,提高了测量精度和工作效率。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的局部放大示意图;
图3是使用本实用新型测量外径的示意图;
图4是使用本实用新型测量内径的示意图。
图中:1-检测平台,2-检测体,3-待测零件,21-凸台,22-台阶底面,23-台阶侧面。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的技术方案作进一步说明,但所要求的保护范围并不局限于所述;
本实用新型提供了一种大型薄壁环形零件的检测装置,如图1所示,检测平台1以及圆盘形检测体2,检测平台1上端面表面粗糙度小于1.6微米,检测体2底面表面粗糙度小于1.6微米,检测体2底面与检测平台1连接,检测体2顶端设有凸台21。使用本实用新型提供的技术方案,由于检测体顶端设置了凸台,凸台将检测体外侧分为内径检测区,凸台将检测体内侧分为外径检测区,检测体设置在检测平台上,检测平台具有很高的表面粗糙度和平面度,保证了测量精度,检测时,将待测零件抬起放置于检测体上,使待测零件与检测体配合,然后使用手电筒等工具观察,若待测零件与检测体能够完全配合,则说明待测零件合格,若待测零件与检测体不能够完全配合,则说明待测零件不合格,操作简便,减少了检测人员的体力消耗,避免了大型薄壁环形零件产生变形而使测量值不可靠的情况,提高了测量精度和工作效率。
检测平台1上端面平面度小于0.05毫米。使用本实用新型提供的技术方案,进一步地,优选检测平台1上端面平面度小于0.05毫米,当检测直径超过1500毫米的大型薄壁环形零件时,由于检测平台上端面平面度很高,保证了测量基准面的精度,有利于提高整个检测过程的测量精度,此外,检测平台1上端面平面度越高,则将大大型薄壁环形零件放置于检测平台时,大型薄壁环形零件的结构稳定性越好,有效防止了大型薄壁环形零件的变形,提高了测量精度,操作人员在进行检测时,无须再使用大型的量具,节省了操作人员的体力消耗,提高了工作效率。
检测体2底面平面度小于0.05毫米。使用本实用新型提供的技术方案,优选检测体2底面平面度小于0.05毫米,当检测直径超过1500毫米的大型薄壁环形零件时,由于检测平台上端面平面度很高,保证了测量基准面的精度,有利于提高整个检测过程的测量精度,此外,检测平台1上端面平面度越高,则将大型薄壁环形零件放置于检测平台时,大型薄壁环形零件的结构稳定性越好,有效防止了大型薄壁环形零件的变形,提高了测量精度,操作人员在进行检测时,无须再使用大型的量具,节省了操作人员的体力消耗,提高了工作效率。
凸台21两侧均设有若干个台阶,任意相邻台阶底面22与台阶侧面23连接。使用本实用新型提供的技术方案,如图2所示,凸台两侧面均可设置多个台阶,每个台阶侧面均构成了一个检测体,通过该检测体与待测零件完成模拟装配配合,若待测零件与检测体能够完全配合,则说明待测零件合格,若待测零件与检测体不能够完全配合,则说明待测零件不合格,操作简便,判定方便,提高了检测效率。
台阶侧面23是通规或止规。使用本实用新型提供的技术方案,如图2所示,凸台两侧面均可设置多个台阶,每个台阶侧面均构成了一个检测体,进一步地检测体可设置为通规或止规,通规或止规的制造尺寸由待测零件的被测面尺寸确定,通规或止规的制造精度由相关标准手册确定,通过该通规或止规与待测零件完成模拟装配配合,若待测零件与检测体能够完全配合,则说明待测零件合格,若待测零件与检测体不能够完全配合,则说明待测零件不合格,操作简便,判定方便,提高了检测效率。
台阶侧面23是圆柱面。使用本实用新型的的技术方案,优选台阶侧面23是圆柱面,从而有利于台阶的加工与制造,使台阶面的制造精度能够较容易达到设计要求,从而保证了后续测量工序的测量精度。
台阶底面22表面粗糙度小于1.6微米。使用本实用新型提供的技术方案,优选台阶底面22表面粗糙度小于1.6微米,是在测量过程中,若将大型薄壁环形零件放置于检测平台时,大型薄壁环形零件的结构稳定性越好,有效防止了大型薄壁环形零件的变形,提高了测量精度,操作人员在进行检测时,无须再使用大型的量具,节省了操作人员的体力消耗,提高了工作效率。
进一步地,本实用新型所提供的检测装置,在实际使用过程中,应首先交送权威检测部门进行质量检测,检测合格后方可使用,为避免检测装置的随意摆放造成混乱,应在检测装置上粘贴专用有效标签。
如图3、图4所示,进一步地,使用本实用新型提供的检测装置时,应按照以下操作步骤进行:
步骤一:将检测体放置于检测平台上,使检测体底面与检测平台上端面紧密贴合;
步骤二:将待测零件抬起,垂直地放置于检测体上,使待测零件与检测体上相应的台阶面配合装配,若台阶面与被测面不能配合或不能完全紧密配合,说明被测面不合格;若完全紧密配合或有间隙,则说明被侧面合格;使用本实用新型提供的检测装置,既可对待测零件的外径进行测量,也可对待测零件的内径进行测量,需要注意的是,在观察检测体与待测零件被测面配合装配时,需要保证被测量点处于同一水平高度,观察时可以借助手电筒仔细观察配合是否有间隙。
Claims (7)
1.一种大型薄壁环形零件的检测装置,其特征在于:包括检测平台(1)以及圆盘形检测体(2),所述检测平台(1)上端面表面粗糙度小于1.6微米,所述检测体(2)底面表面粗糙度小于1.6微米,所述检测体(2)底面与所述检测平台(1)连接,所述检测体(2)顶端设有凸台(21)。
2.如权利要求1所述的一种大型薄壁环形零件的检测装置,其特征在于:所述检测平台(1)上端面平面度小于0.05毫米。
3.如权利要求1所述的一种大型薄壁环形零件的检测装置,其特征在于:所述检测体(2)底面平面度小于0.05毫米。
4.如权利要求1所述的一种大型薄壁环形零件的检测装置,其特征在于:所述凸台(21)两侧均设有若干个台阶,任意相邻台阶底面(22)与台阶侧面(23)连接。
5.如权利要求4所述的一种大型薄壁环形零件的检测装置,其特征在于:所述台阶侧面(23)是通规或止规。
6.如权利要求4所述的一种大型薄壁环形零件的检测装置,其特征在于:所述台阶侧面(23)是圆柱面。
7.如权利要求4所述的一种大型薄壁环形零件的检测装置,其特征在于:所述台阶底面(22)表面粗糙度小于1.6微米。
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