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CN202247021U - 硅片湿法旋转腐蚀装置 - Google Patents

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CN202247021U
CN202247021U CN2011203843491U CN201120384349U CN202247021U CN 202247021 U CN202247021 U CN 202247021U CN 2011203843491 U CN2011203843491 U CN 2011203843491U CN 201120384349 U CN201120384349 U CN 201120384349U CN 202247021 U CN202247021 U CN 202247021U
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CN
China
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silicon chip
acid solution
bearing
rotor
silicon wafer
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Expired - Lifetime
Application number
CN2011203843491U
Other languages
English (en)
Inventor
丁乙人
刘明
刘勇
陆绍良
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lite semiconductor (Wuxi) Co. Ltd.
Original Assignee
CONCORD ELECTRONIC (WUXI) Co Ltd
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Publication date
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    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

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Abstract

本实用新型涉及一种硅片湿法旋转腐蚀装置,包括腐蚀槽和装载转子,腐蚀槽内盛有酸液,硅片平装于装载转子上,在装载转子的带动下旋转,另设一气缸,气缸的两端分别与压力轴承和位置轴承相连,所述位置轴承通过连杆与所述装载转子相连。工作时,压力轴承推动气缸活塞进而推动位置轴承,在连杆的作用下调节装载转子的位置高低,使得所述硅片的旋转对称轴基本与酸液的上表面持平。这样,硅片始终保持一半浸泡在酸液里面,一半暴露在酸液的外面,即使在高速旋转时硅片表面也不会形成漩涡,成功解决了硅片腐蚀均匀性差的问题;另一方面,采取该方案,酸液的有效利用率也得到提高,在提升产品加工质量的同时降低了生产成本。

Description

硅片湿法旋转腐蚀装置
技术领域
本实用新型涉及半导体湿法腐蚀技术领域,尤其是一种硅片湿法旋转腐蚀装置。
背景技术
“湿法腐蚀”是对半导体硅片加工处理的一种常用工艺,将多个硅片整齐排放在装载转子上,然后整体浸泡在腐蚀槽内的酸液当中,当机器运转时,硅片沿着以硅片圆心为中心轴做自转运动,边旋转边腐蚀。在化学反应比较缓和、腐蚀速率慢的情况下,加工后的硅片的腐蚀均匀性较好,但是,当化学反应较为剧烈、腐蚀速率较快时(超过10000Å/min),转子的转速比较高,在运动着的硅片表面的酸液会形成漩涡,在靠近硅片中心的区域,酸液和硅片的接触程度低,腐蚀深度浅,而硅片边缘区域与酸液接触程度高,腐蚀深度深,加工后的硅片从中间到边缘腐蚀速率递增,导致腐蚀均匀性差的问题,严重时,腐蚀均匀性差异超过20%。在腐蚀精度和均一性要求越来越高的器件中,其不稳定的腐蚀速率和均匀性将会直接导致产品电参数失效而报废。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种硅片湿法旋转腐蚀装置,以解决加工时硅片中间腐蚀慢、边缘腐蚀快的问题。
本实用新型的技术解决方案是,一种硅片湿法旋转腐蚀装置,包括腐蚀槽和装载转子,腐蚀槽内盛有酸液,硅片平装于装载转子上,在装载转子的带动下旋转,旋转时硅片与所述酸液接触进行腐蚀加工,其特征在于:另设一气缸,所述气缸的两端分别与压力轴承和位置轴承相连,所述位置轴承通过连杆与所述装载转子相连,工作时,压力轴承推动气缸活塞进而推动位置轴承,在连杆的作用下调节装载转子的位置高低,使得所述硅片的旋转对称轴基本与酸液的上表面持平。
进一步地,上述硅片湿法旋转腐蚀装置中,所述压力轴承是一根长轴承,便于调节气缸压力;所述硅片在装载转子上的每次装载数量为1-24片。
本实用新型相比于现有技术,其有益效果主要是:通过动态调节压力轴承,保持加工过程中硅片的旋转对称轴与酸液的上表面持平,这样,硅片始终保持一半浸泡在酸液里面,一半暴露在酸液的外面,即使在高速旋转时硅片表面也不会形成漩涡,成功解决了硅片腐蚀均匀性差的问题;另一方面,采取该方案,酸液的有效利用率也得到提高,其更换周期从12批料增加到22批料,在提升产品加工质量的同时降低了生产成本。
附图说明
图1是本实用新型硅片湿法旋转腐蚀装置的示意图。
其中:1~腐蚀槽,2~酸液,3~装载转子,4~硅片,5~压力轴承,6~气缸,7~位置轴承,8~连杆。
具体实施方式
以下结合实施例附图,对本实用新型的技术内容作进一步详述,以使本实用新型的技术方案更易于理解和掌握。
图1是本实用新型提供的硅片湿法旋转腐蚀装置的示意图,如图所示,该装置包括腐蚀槽1和装载转子3,腐蚀槽1内部盛有酸液2,硅片4整齐平行地装载于装载转子3上,每次装载数量为1-24片,加工时,硅片4在装载转子3的带动下旋转,旋转对称轴即为硅片4的中心轴。在腐蚀槽1的外侧另设一气缸6,气缸6的两端分别与压力轴承5和位置轴承7相连,位置轴承7通过连杆8与装载转子3相连。工作时,调节压力轴承5来调节气缸6的内部压力,气缸6通过活塞推动位置轴承7,在连杆8的作用下调节装载转子3在腐蚀槽1内的位置高低,使得硅片4的旋转对称轴基本与酸液2的上表面持平。为便于调节,压力轴承5选用长轴承。
该方案尤其适用于Sysmax机台改造,将“整体浸泡”的加工方式改变为“一半暴露一半浸泡”的加工方式,通过动态调节压力轴承5,保持加工过程中硅片4的旋转对称轴与酸液2的上表面持平。这样,硅片4始终保持一半浸泡在酸液里面,一半暴露在酸液的外面,即使在高速旋转时硅片4的表面也不会形成漩涡,成功解决了腐蚀均匀性差的问题。试用表明,对于腐蚀速率超过10000Å/min的硅片加工,其均匀性差异可从改造前的20%左右降低到5%左右。另一方面,采取本实用新型提供的方案,酸液2的有效利用率也得到提高,其更换周期从12批料增加到22批料,在提升产品加工质量的同时降低了生产成本。
以上已将本实用新型的技术方案进行了详细说明,所涉及的具体实例仅仅是较佳实施例而已,对本案的保护范围不构成任何限制。凡在本案的基础上作出的均等变化与修饰等,均落在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (3)

1.硅片湿法旋转腐蚀装置,包括腐蚀槽和装载转子,腐蚀槽内盛有酸液,硅片平装于装载转子上,在装载转子的带动下旋转,旋转时硅片与所述酸液接触进行腐蚀加工,其特征在于:另设一气缸,所述气缸的两端分别与压力轴承和位置轴承相连,所述位置轴承通过连杆与所述装载转子相连,工作时,压力轴承推动气缸活塞进而推动位置轴承,在连杆的作用下调节装载转子的位置高低,使得所述硅片的旋转对称轴基本与酸液的上表面持平。
2.根据权利要求1所述的硅片湿法旋转腐蚀装置,其特征在于:所述压力轴承是一根长轴承,便于调节气缸压力。
3.根据权利要求1所述的硅片湿法旋转腐蚀装置,其特征在于:所述硅片在装载转子上的每次装载数量为1-24片。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105060241A (zh) * 2015-07-17 2015-11-18 上海交通大学 湿法腐蚀导流槽装置及其使用方法
CN106637419A (zh) * 2016-12-27 2017-05-10 重庆晶宇光电科技有限公司 用于晶片的腐蚀装置
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CN116631860A (zh) * 2023-07-18 2023-08-22 新美光(苏州)半导体科技有限公司 一种湿法刻蚀方法

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Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee

Owner name: LITTELFUSE SEMICONDUCTOR (WUXI) CO., LTD.

Free format text: FORMER NAME: CONCORD ELECTRONIC (WUXI) CO., LTD.

CP03 Change of name, title or address

Address after: New area, industrial park road six Zhenfa 214142 Jiangsu province Wuxi City No. three

Patentee after: Lite semiconductor (Wuxi) Co. Ltd.

Address before: 214142 Jiangsu Province, Wuxi City Industrial Park, No. 1 East Road six Zhenfa

Patentee before: Concord Electronic (Wuxi) Co., Ltd.

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Granted publication date: 20120530

CX01 Expiry of patent term