CN116679096A - 双弯折型半导体测试探针 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种双弯折型半导体测试探针，包括弯折式针管，所述弯折式针管的一端设置有第一针管，第一针管的内设置有第一针头和第一弹簧，第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间，弯折式针管的另一端设置有第二针管，第二针管内设置有第二针头和第二弹簧，所述第二弹簧位于第二针头的尾部和第二针管的底部之间。该双弯折型半导体测试探针，解决了若测试机的接触点和待测产品之间无法满足同轴布置的时候，现有半导体测试探针使用时难以实现电连接测试的问题。

Description

双弯折型半导体测试探针

技术领域

本发明属于半导体检测技术领域，具体涉及一种双弯折型半导体测试探针。

背景技术

半导体测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域，是一种高端的电子元件。

双头半导体测试探针一般由针管以及位于针管两端的两个针头组成。双头半导体测试探针使用时其一端的针头与测试机连接，另一端的针头与待测产品连接，由于两个针头一般是同轴装配在一起的，因此如果测试机的接触点和待测产品无法处于同轴布置的时候，将难以通过两个针头进行电连接测试。

发明内容

本发明的目的是提供一种双弯折型半导体测试探针，解决若测试机的接触点和待测产品之间无法满足同轴布置的时候，现有半导体测试探针使用时难以实现电连接测试的问题。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种双弯折型半导体测试探针，包括弯折式针管，所述弯折式针管的一端设置有第一针管，第一针管的内设置有第一针头和第一弹簧，第一弹簧位于第一针头的尾部和第一针管的底部之间，弯折式针管的另一端设置有第二针管，第二针管内设置有第二针头和第二弹簧，所述第二弹簧位于第二针头的尾部和第二针管的底部之间。

本发明的技术方案，还具有以下特点：

作为本发明的一种优选方案，所述弯折式针管的两端设置有插孔，所述第一针管和第二针管分别布置在两个所述插孔中。

作为本发明的一种优选方案，所述插孔的端口形成有缩口，所述第一针管和第二针管均限制在所述缩口内。

作为本发明的一种优选方案，所述第一针管的端口和第二针管的端口均形成有缩口，所述第一针头的尾部和所述第二针头的尾部限制在所述缩口内。

作为本发明的一种优选方案，所述弯折式针管包含横向部，所述横向比的两端分别设置有向下弯折和向上弯折的竖向部，所述第一针管和第二针管分别设置在两个竖向部中。

与现有技术相比：本发明的一种双弯折型半导体测试探针，在使用过程中，可以根据测试机的触发点与待测产品的间距的不同调整双折弯式针管的折弯形状以达到适用所需的测试环境，从而保证测试精度，确保半导体测试探针的测试性能，因此该双折弯型半导体测试探针具有非常广阔的适用前景。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明的一种双弯折型半导体测试探针的结构示意图。

图中：1.弯折式针管，2.第一针管，3.第一针头，4.第一弹簧，5.第二针管，6.第二针头，7.第二弹簧。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

实施例1

如图1所示，本发明的一种双弯折型半导体测试探针，包括弯折式针管1，弯折式针管1的一端设置有第一针管2，第一针管2的内设置有第一针头3和第一弹簧4，第一弹簧4位于第一针头3的尾部和第一针管2的底部之间，弯折式针管1的另一端设置有第二针管5，第二针管5内设置有第二针头6和第二弹簧7，第二弹簧7位于第二针头6的尾部和第二针管5的底部之间。

弯折式针管1用于承载第一针管2和第二针管5。

第一针管2用于第一弹簧4和第一针头3。第一弹簧4安装在第一针管2内部，其一端与第一针管2底部接触，另一端与第一针头3接触。第一针头3安装在第一针管2内部，其一端与第一弹簧4接触，通过针管包口的方式限制在第一针管2内。

第二针管5用于承载第二弹簧7和第二针头6。第二弹簧7安装在第二针管5内部，其一端与第二针管5底部接触，另一端与第二针头6接触。第二针头6安装在第二针管5内部，其一端与第二弹簧7接触，通过针管包口的方式限制在第二针管5内。

以此来实现将第一针头3第二针头6、第一针管2和第二针管5限制在指定区域，以快速完成稳定地装配关系。

由于第二弹簧7与第二针头6安装在第二针管5内，并且使用第二针管5包口方式紧固；第一弹簧4与第一针头3安装在第一针管2内，并且使用第一针管2包口方式紧固；第一针头3与第二针头6安装在弯折式针管1的两端。使用时，整个双折弯型半导体测试探针安装在测试治具内，第二针头6与测试机的末端可靠接触，测试治具靠近待测产品时第一针头3与待测产品接触，以此可满足非轴线位置连接的测试需求。

实施例2

如图1所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种双弯折型半导体测试探针中，弯折式针管1的两端设置有插孔，第一针管2和第二针管5分别布置在两个插孔中，之后在每个插孔的端口加工缩口，将第一针管2和第二针管5均限制在缩口内，以此完成快速装配。

实施例3

如图1所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种双弯折型半导体测试探针中，第一针管2的端口和第二针管5的端口均形成有缩口，第一针头3的尾部和第二针头6的尾部限制在缩口内，便于快速将第一针头3和第二针头6分别稳定地装配在第一针管2的端口和第二针管5内。

实施例4

如图1所示，与实施例1不同的是，在本发明的一种双弯折型半导体测试探针中，具体限定了弯折式针管1的结构包含横向部，横向比的两端分别设置有向下弯折和向上弯折的竖向部，第一针管2和第二针管5分别设置在两个竖向部中。

两个竖向部和横向部的位置和弯曲程度可以进行调节，当然竖向部也可设计成弧形的，其主要目的是可以根据不同的产品设计需求就行相关形状的适应性变形。

因此，与现有技术相比，本发明的一种双弯折型半导体测试探针，具有的优点是：在使用过程中，可以根据测试机的触发点与待测产品的间距的不同调整双折弯式针管的折弯形状以达到适用所需的测试环境，从而保证测试精度，确保半导体测试探针的测试性能，因此该双折弯型半导体测试探针具有非常广阔的适用前景。

上述说明示出并描述了发明的若干优选实施例，但如前所述，应当理解发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离发明的精神和范围，则都应在发明所附权利要求的保护范围内。

Claims (5)

1.一种双弯折型半导体测试探针，其特征在于，包括弯折式针管(1)，所述弯折式针管(1)的一端设置有第一针管(2)，第一针管(2)的内设置有第一针头(3)和第一弹簧(4)，第一弹簧(4)位于第一针头(3)的尾部和第一针管(2)的底部之间，弯折式针管(1)的另一端设置有第二针管(5)，第二针管(5)内设置有第二针头(6)和第二弹簧(7)，所述第二弹簧(7)位于第二针头(6)的尾部和第二针管(5)的底部之间。

2.根据权利要求1所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述弯折式针管(1)的两端设置有插孔，所述第一针管(2)和第二针管(5)分别布置在两个所述插孔中。

3.根据权利要求2所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述插孔的端口形成有缩口，所述第一针管(2)和第二针管(5)均限制在所述缩口内。

4.根据权利要求3所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述第一针管(2)的端口和第二针管(5)的端口均形成有缩口，所述第一针头(3)的尾部和所述第二针头(6)的尾部限制在所述缩口内。

5.根据权利要求4所述的双弯折型半导体测试探针，其特征在于，所述弯折式针管(1)包含横向部，所述横向比的两端分别设置有向下弯折和向上弯折的竖向部，所述第一针管(2)和第二针管(5)分别设置在两个竖向部中。