CN115728563A - 压接机构、测试装置及其应用的作业机 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种压接机构、测试装置及其应用的作业机，该压接机构包含机架、至少一第一驱动结构、至少一第二驱动结构及至少一压接器，第一驱动结构设有二位于机架两侧且可作第一方向位移的第一传动具，第二驱动结构设有二位于机架两侧且可作第二方向位移的第二传动具，压接器设有一呈第三方向配置且具压接件的载具，载具两侧装配呈第一方向配置的连接具，二连接具连接第一驱动结构的二第一传动具及第二驱动结构的二第二传动具而作第一、二方向位移，不仅可防止载具翘曲，并缩短压接位移行程而防止偏摆晃动，使压接件平均施力且精准对位执行电子元件压接作业。

Description

压接机构、测试装置及其应用的作业机

技术领域

本发明涉及一种使压接器平均施力且精准对位执行电子元件压接作业的压接机构。

背景技术

测试装置以具有探针的测试座供电子元件执行电性测试作业，为确保一批次复数个电子元件的接点与复数个测试座的探针作有效接触，测试装置配置具有压接器的压接机构以供压接电子元件，压接机构的压接器以预设下压力压接复数个测试座上的复数个电子元件而执行电性测试作业，然电子元件日趋精密微小；因此，如何使压接器平均施力且精准对位压接电子元件着实相当重要。

请参阅图1，测试装置于机台11设置复数个具有探针的测试座12，以供承置及测试一批次复数个电子元件13，压接机构配置于测试座12的上方，并于机台11架置机架141，机架141装配马达142，马达142经皮带轮组143而驱动一呈Z方向配置且穿设于机架141顶板的螺杆144，螺杆144经螺座145而连接一呈X方向配置的压接板146之中央部位，压接板146的底部装配复数个压接件147，螺杆144经螺座145而带动压接板146及复数个压接件147作Z方向向下位移，使复数个压接件147下压复数个电子元件13于复数个测试座12执行电性测试作业；然而，螺杆144螺合于压接板146之中央部位，压接板146的两端形成自由端，导致压接板146作Z方向位移时，其两自由端会产生偏摆，以致复数个压接件147无法以相同的预设下压力压接复数个电子元件13，致使复数个电子元件13受力不均而影响测试品质。再者，压接板146直接螺设于长杆型的螺杆144，导致压接件147与测试座12间具有较长的压接位移行程，易发生压接板146沿螺杆144朝底部自由端作Z方向位移时产生偏摆晃动，以致压接件147无法准确对位压接电子元件13，进而影响压接效能。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种压接机构、测试装置及其应用的作业机，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种压接机构，其特征在于，包含：

机架；

至少一第一驱动结构：装配于该机架，并设有二位于该机架两侧且能够作第一方向位移的第一传动具；

至少一第二驱动结构：装配于该机架，并设有二位于该机架两侧且能够作第二方向位移的第二传动具；

至少一压接器：包含载具及二连接具，该载具呈第三方向配置，并装配至少一压接件，该压接件以供压接电子元件，二该连接具呈第一方向配置而装配于该载具的两侧，并连接该第一驱动结构的二该第一传动具及该第二驱动结构的二该第二传动具，该压接器以供作第一方向、第二方向位移。

所述的压接机构，其中，该第一驱动结构设有第一驱动源，该第一驱动源以供驱动二该第一传动具作第一方向位移。

所述的压接机构，其中，该第一驱动源为第一线性马达。

所述的压接机构，其中，该第一驱动源包含第一马达及至少一第一传动组。

所述的压接机构，其中，该第一驱动源包含第一马达、二第一传动组及二第二传动组，该第一马达装配于该机架，并同时驱动二该第一传动组，二该第一传动组分别驱动位于该机架两侧且呈第一方向配置的该第二传动组，二该第二传动组分别驱动二呈第二方向配置的该第一传动具作第一方向位移。

所述的压接机构，其中，该第二驱动结构设有第二驱动源，该第二驱动源以供驱动二该第二传动具作第二方向位移，二该第二传动具及该第二驱动源配置该压接器的二该连接具的侧方。

所述的压接机构，其中，该第二驱动源包含至少一第二线性马达。

所述的压接机构，其中，该第二驱动源包含二该第二线性马达，二该第二线性马达装配于该机架的两侧，并位于该压接器的二该连接具侧方，以驱动该压接器的二该连接具位移。

所述的压接机构，其中，该第二驱动源包含第二马达及至少一第二传动组。

所述的压接机构，其中，该第一传动具与该压接器的该连接具间设有第一滑接单元，该第一滑接单元以供该压接器沿该第一传动具作第二方向位移。

所述的压接机构，其中，该第一滑接单元于该第一传动具与该连接具设有相互配合且呈第二方向配置的第一滑轨及第一滑座。

所述的压接机构，其中，该第二驱动结构的该第二传动具与该压接器的该连接具设有第二滑接单元，该第二滑接单元以供该压接器沿该第二传动具作第一方向位移。

所述的压接机构，其中，该第二滑接单元在该第二传动具与该连接具间设有相互配合且呈第一方向配置的第二滑轨及第二滑座。

所述的压接机构，其中，该至少一第一驱动结构包含复数个该第一驱动结构，该第二驱动结构包含复数个该第二驱动结构，至少一压接器包含复数个该压接器，复数个该第一驱动结构及复数个该第二驱动结构以供驱动复数个该压接器作第一方向、第二方向位移。

所述的压接机构，其中，该机架的内部构成测试空间。

所述的压接机构，其中，该机架的该测试空间连通至少一输送管，以供输送干燥空气。

所述的压接机构，其中，该压接件具有吸嘴，以供压接及移载电子元件。

所述的压接机构，其中，包含温控单元，该温控单元于该压接器设置至少一温控件，以供温控电子元件。

一种测试装置，其特征在于，包含：

机台；

至少一测试器：装配于该机台，并包含电性连接的传输件及电路板，以供测试电子元件；

至少一所述的压接机构：装配于该机台，并位于该测试器的上方，以供压接该测试器上的电子元件。

一种作业机，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台，并设有至少一供料容置器，以供容置至少一待作业电子元件；

收料装置：配置于该机台，并设有至少一收料容置器，以供容置至少一已作业电子元件；

测试装置：配置于该机台，并设有至少一测试器、输送机构及至少一所述的压接机构，该测试器以供测试电子元件，该输送机构设有至少一输送器以供输送电子元件，该至少一所述的压接机构以供压接电子元件；

中央控制装置：以控制及整合各装置作动而执行自动化作业。

本发明的优点一，提供一种压接机构，包含机架、至少一第一驱动结构、至少一第二驱动结构及至少一压接器，第一驱动结构设有二位于机架两侧且可作第一方向位移的第一传动具，第二驱动结构设有二位于机架两侧且可作第二方向位移的第二传动具，压接器设有一呈第三方向配置且具压接件的载具，载具两侧装配呈第一方向配置的连接具，压接器以两侧的连接具连接第一驱动结构的二第一传动具及第二驱动结构的二第二传动具，第一驱动结构两侧的第一传动具可带动压接器两侧的连接具同步作第一方向位移，以防止压接器的载具翘曲，使得复数个压接件平均施力压接电子元件，进而提高测试品质。

本发明的优点二，提供一种压接机构，其压接器的载具以两侧呈第一方向配置的连接具连接第一驱动结构两侧的第一传动具，而可降低载具的初始作业高度，以有效缩短载具与测试器间的压接位移行程，而防止载具带动压接件作第一方向位移时产生偏摆晃动，使得压接件精准对位压接电子元件，进而提高压接使用效能。

本发明的优点三，提供一种压接机构，其第二驱动结构两侧的第二传动具位于机架的两侧，且连接压接器两侧的连接具，不仅缩短第二传动具与连接具的连动距离，于第二驱动结构两侧的第二传动具带动压接器两侧的连接具同步作第二方向位移时，可防止第二传动具及压接器偏摆晃动，使第二传动具迅速且平稳地带动压接器位移，进而提高使用效能。

本发明的优点四，提供一种压接机构，其第一驱动结构的第一驱动源以第一马达同步驱动二第一皮带轮组，并以二第一皮带轮组驱动二位于机架两侧的第一螺杆螺座组，二第一螺杆螺座组经二第一传动具同步带动压接器保持平衡作第一方向位移，使压接器的复数个压接件平均施力压接电子元件，进而提高压接使用效能。

本发明的优点五，提供一种测试装置，包含至少一测试器及本发明压接机构，测试器设有电性连接的传输件及电路板，以供测试电子元件，本发明压接机构配置于测试器的上方，包含机架、至少一第一驱动结构、至少一第二驱动结构及至少一压接器，以供压接测试器上的电子元件。

本发明的优点六，提供一种作业机，包含机台、供料装置、收料装置、具本发明压接机构的测试装置及中央控制装置，供料装置配置于机台，并设有至少一供料容置器，以供容置至少一待测电子元件；收料装置配置于机台，并设有至少一收料容置器，以供容置至少一已测电子元件；测试装置配置于机台，并设有至少一测试器、输送机构及本发明压接机构，以供测试、输送及压接电子元件；中央控制装置以控制及整合各装置作动而执行自动化作业。

附图说明

图1是现有测试装置的示意图。

图2是本发明压接机构的俯视图。

图3是本发明压接机构的前视图。

图4是本发明压接机构的侧视图。

图5是本发明压接机构应用于测试装置的示意图。

图6是本发明压接机构的使用示意图(一)。

图7是本发明压接机构的使用示意图(二)。

图8是本发明压接机构的使用示意图(三)。

图9是本发明压接机构应用于作业机的示意图。

附图标记说明：机台11；测试座12；电子元件13；机架141；马达142；皮带轮组143；螺杆144；螺座145；压接板146；压接件147；机架20；顶板21；第一侧板22；第一通道221；第二侧板23；第二通道231；前板24；后板25；测试空间26；第一驱动结构30A、30B；第一马达311A；第一皮带轮组312A、313A；第一螺杆螺座组314A、315A；第一传动具321A、322A；第一滑轨3211A、3221A；第二驱动结构40A、40B；第二定子411A、413A；第二转子412A、414A；第二传动具421A、422A；第二滑轨4211A、4221A；压接器50A、50B；载具51A；连接具52A、53A；第一滑座521A、531A；第二滑座522A、532A；压接件54A；机台60；电路板71；测试座72；输送装置80；第一载台81；第一输送器82；第二载台83；第四输送器84；供料装置90；供料承置器91；收料装置100；收料承置器101。

具体实施方式

为使对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图2～图4，本发明压接机构包含机架20、至少一第一驱动结构、至少一第二驱动结构及至少一压接器；于本实施例，至少一第一驱动结构包含二第一驱动结构30A、30B，至少一第二驱动结构包含二第二驱动结构40A、40B，至少一压接器包含二压接器50A、50B。

机架20包含顶板21、第一侧板22及第二侧板23，顶板21装配于第一侧板22及第二侧板23的顶面，更进一步，第一侧板22及第二侧板23分别开设有相对应的第一通道221及第二通道231，机架20可视作业需求，而于内部构成一测试空间，于本实施例，机架20于第一侧板22及第二侧板23的前、后面装配前板24及后板25，使机架20的内部构成一测试空间26，测试空间26可连通至少一输送管(图未示出)，以供输送干燥空气至测试空间26，使电子元件(图未示出)位于模拟日后使用环境温度的测试空间26执行冷测作业。

然而依作业需求，在热测作业时，测试空间26内可配置鼓风机(图未示出)，以供吹送热风，使测试空间26的内部升温，也无不可。

至少一第一驱动结构装配于机架20，并设有二位于机架20两侧且可作第一方向位移的第一传动具；于本实施例，至少一第一驱动结构包含二第一驱动结构30A、30B，二第一驱动结构30A、30B的设计相同，兹以第一驱动结构30A为例作一说明，第一驱动结构30A设有第一驱动源，第一驱动源以供驱动二位于机架20两侧的第一传动具作第一方向位移(如Z方向)，更进一步，第一驱动源可为第一线性马达，或包含第一马达及至少一第一传动组，于本实施例，第一驱动源包含第一马达311A、二为第一皮带轮组312A、313A的第一传动组及二为第一螺杆螺座组314A、315A的第二传动组，第一马达311A装配于机架20的顶板21且靠近前方之中央位置，由中央位置连接且同步驱动位于两侧的第一皮带轮组312A、313A，二第一皮带轮组312A、313A分别连接驱动位于机架20的第一侧板22及第二侧板23且呈Z方向配置的二第一螺杆螺座组314A、315A，二第一螺杆螺座组314A、315A的第一螺座分别连结二呈第二方向(如Y方向)配置的第一传动具321A、322A，使二第一传动具321A、322A位于机架20的两侧，并可同步带动压接器保持平衡作Z方向位移，使压接器的复数个压接件平均施力压接电子元件，进而提高压接使用效能。

又，第一传动具与压接器间设有第一滑接单元，第一滑接单元以供压接器沿第一传动具作第二方向位移，于本实施例，二第一滑接单元分别于二第一传动具321A、322A设有呈第二方向配置的第一滑轨3211A、3221A，以及于压接器的二连接具设有可滑置于第一滑轨3211A、3221A的第一滑座(容后再述)，使得二连接具以二第一滑座沿二第一传动具321A、322A的第一滑轨3211A、3221A作Y方向位移，并可由二第一传动具321A、322A带动压接器作Z方向位移。

然第一驱动源也可于机架20的两侧配置第一马达，各第一马达驱动一为皮带轮组且呈Z方向配置的第一传动组，以皮带轮组带动第一传动具作Z方向位移，也无不可。

至少一第二驱动结构装配于机架20，并设有二位于机架20两侧且可作第二方向位移的第二传动具，于本实施例，至少一第二驱动结构包含二第二驱动结构40A、40B，二第二驱动结构40A、40B的设计相同，兹以第二驱动结构40A为例作一说明，第二驱动结构40A设有第二驱动源，第二驱动源以供驱动位于机架20两侧的第二传动具作第二方向位移(如Y方向)，更进一步，第二驱动源包含至少一第二线性马达，或包含第二马达及至少一第二传动组，于本实施例，第二驱动源包含二第二线性马达，二第二线性马达装配于机架20的第一侧板22及第二侧板23，一位于第一侧板22的第二线性马达设有复数个第二定子411A及一第二转子412A，复数个第二定子411A呈Y方向排列，以供驱动第二转子412A作Y方向线性位移，另一位于第二侧板23的第二线性马达设有复数个第二定子413A及一第二转子414A，复数个第二定子413A呈Y方向排列，以供驱动第二转子414A作Y方向线性位移；又第二驱动结构40A位于机架20两侧的二第二转子412A、414A分别连接二呈Z方向配置的第二传动具421A、422A，使二第二传动具421A、422A位于机架20两侧；二第二传动具421A、422A配置连接于压接器的二连接具侧方，由于第二驱动源配置于二第二传动具421A、422A的侧方，使得第二驱动源配置于二连接具的侧方，以有效缩短第二驱动源与二连接具的连动距离，不仅可防止二第二传动具421A、422A带动压接器作第二方向位移时产生偏摆晃动，并使二第二传动具421A、422A迅速带动压接器位移，进而提高使用效能。

另，第二传动具与压接器的连接具间设有第二滑接单元，第二滑接单元以供压接器沿第二传动具作第一方向位移，于本实施例，二第二滑接单元分别于二第二传动具421A、422A设有呈Z方向配置的第二滑轨4211A、4221A，以及于压接器的二连接具设有可滑置于第二滑轨4211A、4221A的第二滑座(容后再述)，使得压接器的二连接具以二第二滑座沿二第二传动具421A、422A的第二滑轨4211A、4221A作Z方向位移，并可由二第二传动具421A、422A带动压接器作Y方向位移。

又，二第二驱动结构40A、40B可于第一侧板22配置一第二线性马达，利用一排的复数个第二定子供二个第二转子作Y方向位移，二第二驱动结构40A、40B可于第二侧板23配置另一第二线性马达，也利用另一排的复数个第二定子供另二个第二转子作Y方向位移，也无不可。

至少一压接器包含载具及二连接具，载具呈第三方向配置，并装配至少一压接件，压接件以供压接电子元件，二连接具装配于载具的两侧，并连接第一驱动结构的二第一传动具及第二驱动结构的二第二传动具，使压接器作第一、二方向位移；于本实施例，至少一压接器包含二压接器50A、50B，二压接器50A、50B的设计相同，兹以压接器50A为例作一说明，压接器50A包含载具51A及二连接具52A、53A，载具51A呈第三方向(如X方向)配置，并于底面装配具吸嘴的复数个压接件54A，复数个压接件54A以供压接及移载复数个电子元件(图未示出)，一连接具52A呈Z方向配置，并装配于载具51A的一侧，另一连接具53A呈Z方向配置，并装配于载具51A的另一侧；二第一滑接单元于二连接具52A、53A近顶部分别设有可滑置于第一滑轨3211A、3221A的第一滑座521A、531A，使得压接器50A的二连接具52A、53A以二第一滑座521A、531A沿二第一传动具321A、322A的第一滑轨3211A、3221A作Y方向位移，并可由二第一传动具321A、322A带动压接器50A作Z方向位移；二第二滑接单元于二连接具52A、53A设有可滑置于第二滑轨4211A、4221A的第二滑座522A、532A，令压接器50A的二连接具52A、53A分别位于第二驱动结构40A的二第二线性马达侧方，使得压接器50A的二连接具52A、53A以二第二滑座522A、532A沿二第二传动具421A、422A的第二滑轨4211A、4221A作Z方向位移，并可由二第二传动具421A、422A带动压接器作Y方向位移。

压接器的二连接具52A、53A间可设有至少一呈第三方向配置的转接架，以增加二连接具52A、53A位移平稳性及强度。压接机构的压接件依作业需求，可不具有吸嘴，以单纯执行压接电子元件的作业，也无不可。再者，压接机构更包含温控单元(图未示出)，温控单元于压接器设置至少一温控件，以供温控电子元件；更进一步，温控件可为加热件、致冷晶片或具流体的座体，温控件可配置于载具或压接件。

请参阅图2、图5，本发明压接机构应用于测试装置，测试装置包含至少一测试器及本发明压接机构，测试器设有电性连接的传输件及电路板，以供测试电子元件，本发明压接机构配置于测试器的上方，包含机架20、至少一第一驱动结构、至少一第二驱动结构及至少一压接器，以供压接测试器上的电子元件；于本实施例，测试器装配于机台60，包含电性连接电路板71及具传输件的测试座72，测试座72以供承置及测试电子元件，压接机构的机架20装配于机台60，且罩置于测试座72的上方，使测试座72位于机架20的测试空间26而供电子元件执行测试作业，压接机构以二第一驱动结构30A、30B及二第二驱动结构40A、40B带动二压接器50A、50B依作动时序作Z-Y方向位移，而于测试座72执行移载及压接电子元件的作业。

请参阅图3、图6，以压接机构的第一驱动结构30A及第二驱动结构40A带动压接器50A执行移载及压接电子元件作业为例，第一驱动结构30A的第一驱动源以第一马达311A同时驱动二第一皮带轮组312A、313A，利用二第一皮带轮组312A、313A驱动位于机架20两侧的第一螺杆螺座组314A、315A作动，二第一螺杆螺座组314A、315A可同步带动二第一传动具321A、322A作Z方向向下位移，由于二第一传动具321A、322A连接于压接器50A两侧的连接具52A、53A，使得压接器50A两侧的连接具52A、53A承受相同的驱动力道，二连接具52A、53A利用第二滑座522A、532A分别沿第二传动具421A、422A的第二滑轨4211A、4221A作Z方向位移，以带动载具51A保持平衡作Z方向向下位移，由于载具51A与二第一传动具321A、322A间具有适当长度的连接具52A、53A作中介件，以降低载具51A的初始作业高度，而缩短载具51A与第一载台81的取料位移行程，以防止压接器50A偏摆晃动，使压接器50A的复数个压接件54A迅速且精准对位地于第一载台81取出复数个待测的电子元件。

请参阅图3、图7，于压接器50A的复数个压接件54A取出复数个待测的电子元件后，第二驱动结构40A的第二驱动源以装配于机架20的第一侧板22及第二侧板23的第二定子411A、413A分别驱动第二转子412A、414A作Y方向位移，二第二转子412A、414A带动二第二传动具421A、422A同步位移，二第二传动具421A、422A利用第二滑轨4211A、4221A及第二滑座522A、532A而带动压接器50A的二连接具52A、53A同步作Y方向位移，由于第二驱动结构40A的第二驱动源的二线性马达位于压接器的二连接具52A、53A侧方，以缩短二线性马达驱动二连接具52A、53A的连动距离，不仅可防止第二传动具421A、422A带动压接器50A作Y方向位移时产生偏摆晃动，并使第二传动具421A、422A迅速带动压接器50A位移，压接器50A的二连接具52A、53A利用二第一滑座521A、531A沿第一传动具321A、322A的第一滑轨3211A、3221A位移，使二连接具52A、53A带动复数个压接件54A及复数个待测的电子元件平稳且精准地位移至测试座72的上方。

请参阅图7、图8，第一驱动结构30A的第一驱动源以马达311A经第一皮带轮组312A、313A而驱动位于机架20两侧的第一螺杆螺座组314A、315A作动，二第一螺杆螺座组314A、315A同步带动二第一传动具321A、322A作Z方向向下位移，使得压接器50A两侧的连接具52A、53A承受相同的驱动力道，二连接具52A、53A带动载具51A保持平衡作Z方向向下位移，由于载具51A与二第一传动具321A、322A间具有适当长度的连接具52A、53A作中介件，以降低载具51A的初始作业高度，而缩短载具51A与测试座72间的压接位移行程，以防止压接器50A偏摆晃动，使载具51A迅速且精准地将复数个待测的电子元件移入测试座72，并使复数个压接件54A平均施力以预设下压力压接复数个待测电子元件于测试座72执行测试作业，进而提高测试品质。

请参阅图2～图9，本发明压接机构应用于电子元件作业机，作业机包含机台60、输送装置80、供料装置90、收料装置100、具本发明压接机构的测试装置及中央控制装置(图未示出)；供料装置90装配于机台60，并设有至少一供料承置器91，以容纳至少一待作业的电子元件；收料装置100装配于机台60，并设有至少一收料承置器101，以容纳至少一已作业的电子元件；测试装置包含至少一测试器及本发明压接机构，测试器设有电性连接的传输件及电路板71，以供测试电子元件，于本实施例，测试器设有具传输件的测试座72以供承置及测试电子元件，本发明压接机构配置于测试器的上方，包含机架20、至少一第一驱动结构、至少一第二驱动结构及至少一压接器，以供压接测试器上的电子元件，于本实施例，机架20的内部构成一测试空间26，并使测试座72位于测试空间26，至少一第一驱动结构包含二第一驱动结构30A、30B，至少一第二驱动结构包含二第二驱动结构40A、40B，至少一压接器包含二压接器50A、50B；输送装置80装配于机台60，并设有至少一输送器，以输送电子元件，于本实施例，输送装置80设有第一输送器82，以于供料装置90的供料承置器91取出待测的电子元件，并移载至一为第一载台81的第二输送器，第一载台81将待测的电子元件载送至测试装置的侧方；测试装置以第一驱动结构30A及第二驱动结构40A带动压接器50A作Y-Z方向位移，使压接器50A于第一载台81取出待测的电子元件，且移入测试座72而执行测试作业，以及将已测电子元件移载至一为第二载台83的第三输送器，第二载台83载出已测的电子元件，输送装置80以第四输送器84于第二载台83取出已测的电子元件，并依据测试结果，将已测的电子元件输送至收料装置100的收料承置器101处而分类收置；中央控制装置用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

Claims (20)

1.一种压接机构，其特征在于，包含：

机架；

至少一第一驱动结构：装配于该机架，并设有二位于该机架两侧且能够作第一方向位移的第一传动具；

至少一第二驱动结构：装配于该机架，并设有二位于该机架两侧且能够作第二方向位移的第二传动具；

至少一压接器：包含载具及二连接具，该载具呈第三方向配置，并装配至少一压接件，该压接件以供压接电子元件，二该连接具呈第一方向配置而装配于该载具的两侧，并连接该第一驱动结构的二该第一传动具及该第二驱动结构的二该第二传动具，该压接器以供作第一方向、第二方向位移。

2.如权利要求1所述的压接机构，其特征在于，该第一驱动结构设有第一驱动源，该第一驱动源以供驱动二该第一传动具作第一方向位移。

3.如权利要求2所述的压接机构，其特征在于，该第一驱动源为第一线性马达。

4.如权利要求2所述的压接机构，其特征在于，该第一驱动源包含第一马达及至少一第一传动组。

5.如权利要求4所述的压接机构，其特征在于，该第一驱动源包含第一马达、二第一传动组及二第二传动组，该第一马达装配于该机架，并同时驱动二该第一传动组，二该第一传动组分别驱动位于该机架两侧且呈第一方向配置的该第二传动组，二该第二传动组分别驱动二呈第二方向配置的该第一传动具作第一方向位移。

6.如权利要求1所述的压接机构，其特征在于，该第二驱动结构设有第二驱动源，该第二驱动源以供驱动二该第二传动具作第二方向位移，二该第二传动具及该第二驱动源配置该压接器的二该连接具的侧方。

7.如权利要求6所述的压接机构，其特征在于，该第二驱动源包含至少一第二线性马达。

8.如权利要求7所述的压接机构，其特征在于，该第二驱动源包含二该第二线性马达，二该第二线性马达装配于该机架的两侧，并位于该压接器的二该连接具侧方，以驱动该压接器的二该连接具位移。

9.如权利要求6所述的压接机构，其特征在于，该第二驱动源包含第二马达及至少一第二传动组。

10.如权利要求1所述的压接机构，其特征在于，该第一传动具与该压接器的该连接具间设有第一滑接单元，该第一滑接单元以供该压接器沿该第一传动具作第二方向位移。

11.如权利要求10所述的压接机构，其特征在于，该第一滑接单元于该第一传动具与该连接具设有相互配合且呈第二方向配置的第一滑轨及第一滑座。

12.如权利要求1所述的压接机构，其特征在于，该第二驱动结构的该第二传动具与该压接器的该连接具设有第二滑接单元，该第二滑接单元以供该压接器沿该第二传动具作第一方向位移。

13.如权利要求12所述的压接机构，其特征在于，该第二滑接单元在该第二传动具与该连接具间设有相互配合且呈第一方向配置的第二滑轨及第二滑座。

14.如权利要求1所述的压接机构，其特征在于，该至少一第一驱动结构包含复数个该第一驱动结构，该第二驱动结构包含复数个该第二驱动结构，至少一压接器包含复数个该压接器，复数个该第一驱动结构及复数个该第二驱动结构以供驱动复数个该压接器作第一方向、第二方向位移。

15.如权利要求1至14中任一项所述的压接机构，其特征在于，该机架的内部构成测试空间。

16.如权利要求15所述的压接机构，其特征在于，该机架的该测试空间连通至少一输送管，以供输送干燥空气。

17.如权利要求1至14中任一项所述的压接机构，其特征在于，该压接件具有吸嘴，以供压接及移载电子元件。

18.如权利要求1至14中任一项所述的压接机构，其特征在于，还包含温控单元，该温控单元于该压接器设置至少一温控件，以供温控电子元件。

19.一种测试装置，其特征在于，包含：

机台；

至少一测试器：装配于该机台，并包含电性连接的传输件及电路板，以供测试电子元件；

至少一如权利要求1所述的压接机构：装配于该机台，并位于该测试器的上方，以供压接该测试器上的电子元件。

20.一种作业机，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台，并设有至少一供料容置器，以供容置至少一待作业电子元件；

收料装置：配置于该机台，并设有至少一收料容置器，以供容置至少一已作业电子元件；

测试装置：配置于该机台，并设有至少一测试器、输送机构及至少一如权利要求1所述的压接机构，该测试器以供测试电子元件，该输送机构设有至少一输送器以供输送电子元件，该至少一如权利要求1所述的压接机构以供压接电子元件；

中央控制装置：以控制及整合各装置作动而执行自动化作业。

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