CN115598504B - 一种自动化存储芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种自动化存储芯片测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有活动座，所述活动座内转动安装有安装轴，所述安装轴的外部固定套设有顶板，所述安装轴的两侧均套设有复位扭簧。本发明可实现对芯片测试座的自动切换使用，使得能立即进行下次测试，无需等待测试座冷却，节约时间，提升工作效率，且同时可进行对芯片测试座的清理，使得能保证测试座处于干净状态，避免灰尘影响测试座对芯片进行测试，且可在筒体复位清理测试座的同时能实现对附着在气孔内壁上的灰尘震落，使得能将气孔在进行抽取灰尘时附着在其内壁上的灰尘震落，避免灰尘堆积，造成气孔的孔径减小，影响灰尘的抽取的情况出现。

Description

一种自动化存储芯片测试装置

技术领域

本发明属于芯片测试装置技术领域，特别涉及一种自动化存储芯片测试装置。

背景技术

芯片又称微电路、微芯片、集成电路。是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。

自动化存储芯片在生产完成后需要进行其性能的测试，具体是通过芯片测试治具进行芯片的测试，将芯片放在测试治具内的测试座上，随后将盖板压紧，随后进行芯片的测试，但现有的测试治具使用时，当对一个芯片进行测试后，为了避免测试时产生的温度影响后续对芯片的测试，需要等待测试座冷却，随后再进行下一个芯片的测试，使得造成了时间的浪费，影响工作效率，且测试座上不能存在灰尘，灰尘会影响芯片与测试座的结合，造成接触不良的情况，影响测试，因此使用时需要人工进行测试座上灰尘的清理，通过气枪或防静电毛刷进行清理，十分麻烦，造成工作任务繁重。

因此，发明一种自动化存储芯片测试装置来解决上述问题很有必要。

发明内容

针对上述问题，本发明提供了一种自动化存储芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种自动化存储芯片测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有活动座，所述活动座内转动安装有安装轴，所述安装轴的外部固定套设有顶板，所述安装轴的两侧均套设有复位扭簧，所述复位扭簧的两端分别与活动座及安装轴固定连接，所述顶板内侧设有磁块，所述底座的顶部设有与磁块配合的凹槽，所述底座的顶部开设有转动槽，所述转动槽内通过转轴转动安装有筒体，所述底座的顶部一侧开设有安装槽，一侧所述转轴的一端延伸至安装槽内设有用于驱动其转动及复位的旋转组件，所述筒体的外侧等距开设有放置槽，所述放置槽内设有测试座，所述顶板的内侧设有与测试座配合的夹板，所述筒体的内部两侧均开设有腔体，所述腔体内设有活塞，所述活塞的外侧设有用于驱动其往复运动的驱动组件，所述筒体的内部对称开设有与测试座位置对应的进气腔，所述放置槽的内壁对称开设有与进气腔连通的气孔，所述进气腔与腔体连通，所述筒体的外侧对称固定连接有与腔体连通的导孔，所述导孔及气孔内均设有单向阀，一侧的多个所述导孔内均设有滤网架，另一侧的多个所述导孔内均设有过滤袋，所述底座的底部及后侧均开设有开口，所述开口内设有封闭板。

进一步的，所述旋转组件包括固定套设在延伸至安装槽内转轴外的齿轮，所述安装槽的内壁开设有滑槽，所述滑槽内滑动安装有滑块，所述滑块的外侧固定连接有滑板，所述滑板的两侧对称固定安装有侧板，两个所述侧板之间通过活动轴转动安装有与齿轮啮合的齿牙，所述齿牙靠近滑板的一侧下部设有凸起，所述滑块的底部固定连接有第一弹簧，所述滑板的顶部固定安装有抵杆，所述转轴的外部设有限制其转动的限制组件，所述转轴的一侧套设有第一扭簧，所述第一扭簧的两端分别与转轴及安装槽槽壁固定连接。

进一步的，所述凸起固定连接在齿牙靠近滑板的一侧的下部，所述凸起靠近滑板的一侧设有朝上的弧面，所述凸起与滑板抵触。

进一步的，所述限制组件包括固定套设在转轴外的棘轮，所述安装槽内壁上固定安装有固定轴，所述固定轴外转动套设有与棘轮配合的棘爪，所述固定轴外套设有第二扭簧，所述第二扭簧的两端分别与棘爪及固定轴固定连接，所述安装槽内壁且位于棘爪的下方固定安装有电磁铁，所述棘爪材质为铁，所述安装槽底壁固定安装有与滑板位置对应的开关，所述安装槽底壁固定安装有PLC控制器，所述PLC控制器与开关及电磁铁电性连接。

进一步的，所述驱动组件包括固定连接在活塞靠近转轴一侧的推杆，所述推杆延伸至腔体外，所述转动槽的内壁等距环绕固定安装有与推杆配合的驱动块，所述驱动块为内侧面对称设有弧面的块状构件，所述弧面与推杆相配合，一侧的所述驱动块的波谷与另一侧所述驱动块的波峰相对设置，所述活塞远离推杆的一侧固定安装有第二弹簧。

进一步的，靠近所述第一扭簧的进气腔的内部设有框体，所述框体的两侧均开设有活动孔，所述活动孔内滑动设置有限位杆，所述限位杆的一端与进气腔的内壁固定连接，所述限位杆的外部套设有第三弹簧，所述第三弹簧位于框体远离气孔的一侧，靠近所述框体的气孔的两侧孔径大小不同，所述气孔靠近框体的一侧孔径大于其远离框体的一侧的孔径，所述框体靠近第一扭簧的一侧设有用于拉动其向外运动的拉动组件。

进一步的，所述拉动组件包括转动连接在框体靠近第一扭簧一侧的L形杆，所述L形杆靠近框体的一侧套设有第二扭簧，所述第二扭簧两端分别与L形杆及框体固定连接，所述L形杆远离框体的一端延伸至进气腔的外部，所述L形杆的外部固定安装有挡块，所述筒体的外侧固定安装有挡板，所述挡板与挡块抵触，所述转动槽靠近L形杆的一侧内壁的上部固定安装有弧形块，所述弧形块的顶部开设有与L形杆配合的斜槽。

进一步的，所述底座的顶部对称开设有操作口，所述操作口的位置与滤网架及过滤袋对应，所述操作口与转动槽连通，所述操作口的内部卡接有盖板，所述盖板外侧设有橡胶片，所述橡胶片与操作口内壁抵触。

本发明的技术效果和优点：

1、本发明可实现对芯片测试座的自动切换使用，使得能立即进行下次测试，无需等待测试座冷却，节约时间，提升工作效率，且同时可进行对芯片测试座的清理，使得能保证测试座处于干净状态，避免灰尘影响测试座对芯片进行测试；

2、本发明可在筒体复位清理测试座的同时能实现对附着在气孔内壁上的灰尘震落，使得能将气孔在进行抽取灰尘时附着在其内壁上的灰尘震落，避免灰尘堆积，造成气孔的孔径减小，影响灰尘的抽取的情况出现；

本发明可实现对芯片测试座的自动切换使用，使得能立即进行下次测试，无需等待测试座冷却，节约时间，提升工作效率，且同时可进行对芯片测试座的清理，使得能保证测试座处于干净状态，避免灰尘影响测试座对芯片进行测试，且可在筒体复位清理测试座的同时能实现对附着在气孔内壁上的灰尘震落，使得能将气孔在进行抽取灰尘时附着在其内壁上的灰尘震落，避免灰尘堆积，造成气孔的孔径减小，影响灰尘的抽取的情况出现。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书和附图中所指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本发明实施例的一种自动化存储芯片测试装置的结构示意图一；

图2示出了本发明实施例的自动化存储芯片测试装置的剖视结构示意图一；

图3示出了本发明实施例的自动化存储芯片测试装置的剖视结构示意图二；

图4示出了本发明实施例的图3中A处放大结构示意图；

图5示出了本发明实施例的自动化存储芯片测试装置的剖视结构示意图三；

图6示出了本发明实施例的筒体剖视结构示意图；

图7示出了本发明实施例的图6中B处放大结构示意图；

图8示出了本发明实施例的自动化存储芯片测试装置的结构示意图二；

图9示出了本发明实施例的图8中C处放大结构示意图；

图中：1、底座；2、磁块；3、筒体；4、测试座；5、夹板；6、活塞；7、进气腔；8、气孔；9、滑板；10、齿牙；11、凸起；12、第一扭簧；13、抵杆；14、棘爪；15、电磁铁；16、棘轮；17、PLC控制器；18、开关；19、推杆；20、驱动块；21、滤网架；22、过滤袋；23、框体；24、限位杆；25、L形杆；26、挡块；27、挡板；28、弧形块；29、盖板；30、齿轮。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地说明，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供了一种自动化存储芯片测试装置，如图1-9所示，包括底座1，底座1的顶部固定安装有活动座，活动座内转动安装有安装轴，安装轴的外部固定套设有顶板，安装轴的两侧均套设有复位扭簧，复位扭簧的两端分别与活动座及安装轴固定连接，顶板内侧设有磁块2，底座1的顶部设有与磁块2配合的凹槽，凹槽的底壁材质为铁，底座1的顶部开设有转动槽，转动槽内通过转轴转动安装有筒体3，转轴与筒体3固定连接，底座1的顶部一侧开设有安装槽，一侧转轴的一端延伸至安装槽内设有用于驱动其转动及复位的旋转组件，筒体3的外侧等距开设有放置槽，放置槽内设有测试座4，顶板的内侧设有与测试座4配合的夹板5，筒体3的内部两侧均开设有腔体，腔体内设有活塞6，活塞6的外侧设有用于驱动其往复运动的驱动组件，筒体3的内部对称开设有与测试座4位置对应的进气腔7，放置槽的内壁对称开设有与进气腔7连通的气孔8，进气腔7与腔体连通，筒体3的外侧对称固定连接有与腔体连通的导孔，导孔及气孔8内均设有单向阀，一侧的多个导孔内均设有滤网架21，滤网架21内设有滤网，另一侧的多个导孔内均设有过滤袋22，底座1的底部及后侧均开设有开口，开口内设有封闭板，封闭板外侧设有橡胶圈，橡胶圈与开口内壁抵触，可通过开启底部的封闭板，使得可对测试座4进行更换，使用时，将芯片放在测试座4上，转动顶板使其带动安装轴随之转动，使得拉扯复位扭簧使其形变产生作用力，最终顶板带动夹板5进入放置槽内，使得夹板5将芯片进行夹持，此时磁块2进入到凹槽内与凹槽底壁相吸固定，通过测试座4可进行芯片性能的测试，具体的通过测试座4进行芯片的测试原理同现有技术中芯片测试治具对芯片的测试原理，在此不做赘述，测试完成后，将顶板2与底座1分离，此时旋转组件带动转轴正转，从而带动筒体3正转，使得带动测试完成的芯片及测试座4随之转动，使得测试完成的芯片及测试座4转动至与后侧开口位置对应，同时未装有芯片的测试座4转动至与夹板5位置对应，实现对测试座4的自动切换，使得能立即进行下次测试，无需等待测试座4冷却，可开启后侧的封闭板使得可将测试完成的芯片取出，在筒体3正转进行测试座4切换的同时配合驱动组件驱动活塞6进行往复运动，远离安装槽的一侧的活塞6向靠近安装槽方向运动时，此时将腔体内的空气向外挤，相邻的气孔8内的单向阀开启，相邻导孔内的单向阀闭合，空气通过进气腔7、气孔8喷出，使得吹向测试座4表面，与此同时，靠近安装槽的一侧的活塞6向靠近安装槽的方向运动，使得向腔体内抽气，位于相邻气孔8内的单向阀开启，位于相邻导孔内的单向阀闭合，使得清理产生的灰尘能被靠近安装槽的气孔8吸入到进气腔7内再进入到腔体内，实现对测试座4灰尘的清理，随着筒体3的继续转动，此时远离安装槽的活塞6向远离安装槽的方向运动，使得向所在腔体内抽气，此时相邻的气孔8内的单向阀闭合，相邻导孔内的单向阀开启，外界的空气通过滤网架21内的滤网过滤后，被通过导孔吸入到腔体内，实现对空气的补充，同时另一侧的活塞6向远离安装槽的方向运动，此时位于相邻气孔8内的单向阀闭合，位于相邻导孔内的单向阀开启，抽入到腔体内的灰尘及空气被通过导孔压入到过滤袋22内，空气透过过滤袋22排出，灰尘留在过滤袋22内，实现对灰尘的收集，后续的切换过程中，同理可实现对测试座4表面灰尘的清理及收集，当最后一个测试座4使用完后，此时随着筒体3的继续转动，可带动最后一个测试座4进行转动，使得转动至与后侧开口对齐，随后旋转组件驱动转轴及筒体3转动复位，在复位的过程中，同理可继续对测试座4进行清理，最终筒体3转动复位，完成了整个测试过程，且对测试座4进行了清理，实现了对测试座4的切换使用，使得无需等待其冷却，同时完成了对测试座4的清理，保证其表面干净，避免影响芯片测试。

如图3-4所示，旋转组件包括固定套设在延伸至安装槽内转轴外的齿轮30，安装槽的内壁开设有滑槽，滑槽内滑动安装有滑块，滑块的外侧固定连接有滑板9，滑板9的两侧对称固定安装有侧板，两个侧板之间通过活动轴转动安装有与齿轮30啮合的齿牙10，齿牙10靠近滑板9的一侧下部设有凸起11，滑块的底部固定连接有第一弹簧，滑板9的顶部固定安装有抵杆13，转轴的外部设有限制其转动的限制组件，转轴的一侧套设有第一扭簧12，第一扭簧12的两端分别与转轴及安装槽槽壁固定连接，顶板向下转动时会挤压抵杆13使其下降带动滑板9下降，从而带动侧板、活动轴及齿牙10下降，同时带动滑块压缩第一弹簧使其形变产生作用力，随着齿牙10的下降使得齿牙10与齿轮30抵触向上翻转，使得与齿轮30错开，不会带动齿轮30转动，当齿牙10与齿轮30分离，此时由于重力齿牙10转动复位呈水平状态，当顶板转动复位，此时压缩状态的第一弹簧释放作用力带动滑块、滑板9上升，反之可实现齿牙10的上升，齿牙10上升与齿轮30抵触，由于凸起11的存在使得齿牙10无法向下转动，因此保持水平状态，随着齿牙10的上升使得带动齿轮30、转轴及筒体3正向转动，实现对转轴的单向传动，转轴转动的过程中会拉扯第一扭簧12使其形变产生作用力，通过限制组件可对转轴进行限制，使其无法反转，当所有的测试座4均切换使用完后，此时限制组件取消对转轴的限制，形变的第一扭簧12释放作用力带动转轴及筒体3反转复位。

如图4所示，凸起11固定连接在齿牙10靠近滑板9的一侧的下部，凸起11靠近滑板9的一侧设有朝上的弧面，凸起11与滑板9抵触，凸起11的存在使得可限制齿牙10的转动，使其在水平状态时无法向下转动。

如图4所示，限制组件包括固定套设在转轴外的棘轮16，安装槽内壁上固定安装有固定轴，固定轴外转动套设有与棘轮16配合的棘爪14，固定轴外套设有第二扭簧，第二扭簧的两端分别与棘爪14及固定轴固定连接，安装槽内壁且位于棘爪14的下方固定安装有电磁铁15，棘爪14材质为铁，安装槽底壁固定安装有与滑板9位置对应的开关18，安装槽底壁固定安装有PLC控制器17，PLC控制器17与开关18及电磁铁15电性连接，滑板9下降时会挤压开关18，使得对PLC控制器17进行传递信号，当所有的测试座4均切换使用完成后，此时PLC控制器17控制电磁铁15通电，使其具有磁性，从而吸附棘爪14使其一端向下转动，同时拉扯第二扭簧使其形变产生作用力，棘爪14与棘轮16分离，此时取消对转轴的限位，随后当滑板9复位，PLC控制器17控制电磁铁15断电，使其失去磁性，取消对棘爪14的吸附，第二扭簧释放作用力带动棘爪14复位。

如图2所示，驱动组件包括固定连接在活塞6靠近转轴一侧的推杆19，推杆19延伸至腔体外，转动槽的内壁等距环绕固定安装有与推杆19配合的驱动块20，驱动块20为内侧面对称设有弧面的块状构件，弧面与推杆19相配合，一侧的驱动块20的波谷与另一侧驱动块20的波峰相对设置，活塞6远离推杆19的一侧固定安装有第二弹簧，筒体3转动带动活塞6及推杆19随之转动，远离安装槽一侧的推杆19初始状态位于两个驱动块20之间，位于驱动块20的波谷处，靠近安装槽一侧的推杆19初始状态下位于驱动块20的波峰处，与驱动块20抵触，测试座4每完成一次切换，此时推杆19可沿一个驱动块20的表面进行一次运动，远离安装槽的推杆19随筒体3正转时，推杆19会从驱动块20的波谷向波峰运动，此时会挤压活塞6使其向靠近安装槽的方向运动同时压缩第二弹簧使其形变产生作用力，另一侧的活塞6此时会由驱动块20的波峰向波谷处运动，压缩状态的第二弹簧释放作用力带动活塞6及推杆19向靠近安装槽的方向运动，使得两侧活塞6同向的运动，因此在整个转动切换的过程中，两侧的活塞6做同向往复运动。

如图6-9所示，靠近第一扭簧12的进气腔7的内部设有框体23，框体23的两侧均开设有活动孔，活动孔内滑动设置有限位杆24，限位杆24的一端与进气腔7的内壁固定连接，限位杆24的外部套设有第三弹簧，第三弹簧位于框体23远离气孔8的一侧，靠近框体23的气孔8的两侧孔径大小不同，气孔8靠近框体23的一侧孔径大于其远离框体23的一侧的孔径，框体23靠近第一扭簧12的一侧设有用于拉动其向外运动的拉动组件，筒体3转动复位时，配合拉动组件拉动框体23使其向靠近安装槽的方向运动，同时压缩第三弹簧使其形变产生作用力，随后拉动组件取消对框体23的拉动，此时第三弹簧释放作用力带动框体23复位使得撞击进气腔7内壁使其震动使得将附着在气孔8内壁上的灰尘震落，使得能将气孔8在进行抽取灰尘时附着在其内壁上的灰尘震落，避免灰尘堆积，造成气孔8的孔径减小，影响灰尘的抽取的情况出现。

如图9所示，拉动组件包括转动连接在框体23靠近第一扭簧12一侧的L形杆25，L形杆25靠近框体23的一侧套设有第二扭簧，第二扭簧两端分别与L形杆25及框体23固定连接，L形杆25远离框体23的一端延伸至进气腔7的外部，L形杆25的外部固定安装有挡块26，筒体3的外侧固定安装有挡板27，挡板27与挡块26抵触，转动槽靠近L形杆25的一侧内壁的上部固定安装有弧形块28，弧形块28的顶部开设有与L形杆25配合的斜槽，当筒体3正转时，带动框体23、L形杆25随之运动，L形杆25运动至与弧形块28抵触后会出现转动同时拉扯第二扭簧使其形变产生作用力，当L形杆25离开弧形块28后，此时第二扭簧释放作用力带动L形杆25复位，当筒体3反转复位时，此时L形杆25远离筒体3的一端进入到斜槽内，由于挡块26及挡板27的存在，使得L形杆25不会出现转动，保持现状，随着L形杆25沿斜槽的运动，使得L形杆25拉动框体23使其向靠近安装槽的方向运动，同时压缩第三弹簧使其形变产生作用力，当L形杆25与斜槽分离，此时第三弹簧释放作用力带动框体23复位使得撞击进气腔7内壁使其震动。

如图1所示，底座1的顶部对称开设有操作口，操作口的位置与滤网架21及过滤袋22对应，操作口与转动槽连通，操作口的内部卡接有盖板29，盖板29外侧设有橡胶片，橡胶片与操作口内壁抵触，可将盖板29取下，使得能便于进行过滤袋22及滤网架21的更换及清理。

工作原理：使用时，将芯片放在测试座4上，转动顶板使其带动安装轴随之转动，使得拉扯复位扭簧使其形变产生作用力，最终顶板带动夹板5进入放置槽内，使得夹板5将芯片进行夹持，此时磁块2进入到凹槽内与凹槽底壁相吸固定，通过测试座4可进行芯片性能的测试，具体的通过测试座4进行芯片的测试原理同现有技术中芯片测试治具对芯片的测试原理，在此不做赘述，顶板向下转动时会挤压抵杆13使其下降带动滑板9下降，从而带动侧板、活动轴及齿牙10下降，同时带动滑块压缩第一弹簧使其形变产生作用力，随着齿牙10的下降使得齿牙10与齿轮30抵触向上翻转，使得与齿轮30错开，不会带动齿轮30转动，当齿牙10与齿轮30分离，此时由于重力齿牙10转动复位呈水平状态，滑板9下降时会挤压开关18，使得对PLC控制器17进行传递信号，PLC控制器17对传递的信号进行次数累计，可通过PLC控制器17设定信号累计次数，当达到设定次数，PLC控制器17控制电磁铁15通电一段时间后再将其断电，测试完成后，将顶板2与底座1分离，当顶板转动复位，此时压缩状态的第一弹簧释放作用力带动滑块、滑板9上升，反之可实现齿牙10的上升，齿牙10上升与齿轮30抵触，由于凸起11的存在使得齿牙10无法向下转动，因此保持水平状态，随着齿牙10的上升使得带动齿轮30、转轴及筒体3正向转动，使得带动测试完成的芯片及测试座4随之转动，使得测试完成的芯片及测试座4转动至与后侧开口位置对应，同时未装有芯片的测试座4转动至与夹板5位置对应，实现对测试座4的自动切换，使得能立即进行下次测试，无需等待测试座4冷却，可开启后侧的封闭板使得可将测试完成的芯片取出，在筒体3正转进行测试座4切换的同时筒体3转动带动活塞6及推杆19随之转动，远离安装槽一侧的推杆19初始状态位于两个驱动块20之间，位于驱动块20的波谷处，靠近安装槽一侧的推杆19初始状态下位于驱动块20的波峰处，与驱动块20抵触，测试座4每完成一次切换，此时推杆19可沿一个驱动块20的表面进行一次运动，远离安装槽的推杆19随筒体3正转时，推杆19会从驱动块20的波谷向波峰运动，此时会挤压活塞6使其向靠近安装槽的方向运动同时压缩第二弹簧使其形变产生作用力，另一侧的活塞6此时会由驱动块20的波峰向波谷处运动，压缩状态的第二弹簧释放作用力带动活塞6及推杆19向靠近安装槽的方向运动，使得两侧活塞6同向的运动，因此在整个转动切换的过程中，两侧的活塞6做同向往复运动，远离安装槽的一侧的活塞6向靠近安装槽方向运动时，此时将腔体内的空气向外挤，相邻的气孔8内的单向阀开启，相邻导孔内的单向阀闭合，空气通过进气腔7、气孔8喷出，使得吹向测试座4表面，与此同时，靠近安装槽的一侧的活塞6向靠近安装槽的方向运动，使得向腔体内抽气，位于相邻气孔8内的单向阀开启，位于相邻导孔内的单向阀闭合，使得清理产生的灰尘能被靠近安装槽的气孔8吸入到进气腔7内再进入到腔体内，实现对测试座4灰尘的清理，随着筒体3的继续转动，此时远离安装槽的活塞6向远离安装槽的方向运动，使得向所在腔体内抽气，此时相邻的气孔8内的单向阀闭合，相邻导孔内的单向阀开启，外界的空气通过滤网架21内的滤网过滤后，被通过导孔吸入到腔体内，实现对空气的补充，同时另一侧的活塞6向远离安装槽的方向运动，此时位于相邻气孔8内的单向阀闭合，位于相邻导孔内的单向阀开启，抽入到腔体内的灰尘及空气被通过导孔压入到过滤袋22内，空气透过过滤袋22排出，灰尘留在过滤袋22内，实现对灰尘的收集，后续的切换过程中，同理可实现对测试座4表面灰尘的清理及收集，当最后一个测试座4使用完后，此时随着筒体3的继续转动，可带动最后一个测试座4进行转动，使得转动至与后侧开口对齐，可将芯片取下，当所有的测试座4均切换使用完成后，此时PLC控制器17控制电磁铁15通电，使其具有磁性，从而吸附棘爪14使其一端向下转动，同时拉扯第二扭簧使其形变产生作用力，棘爪14与棘轮16分离，此时取消对转轴的限位，形变的第一扭簧12释放作用力带动转轴及筒体3反转复位，同时滑板9复位，当滑板9复位，PLC控制器17控制电磁铁15断电，使其失去磁性，取消对棘爪14的吸附，第二扭簧释放作用力带动棘爪14复位，筒体3反转复位的过程中同理可继续对测试座4进行清理，最终筒体3转动复位，完成了整个测试过程，且对测试座4进行了清理，实现了对测试座4的切换使用，使得无需等待其冷却，同时完成了对测试座4的清理，保证其表面干净，避免影响芯片测试，当筒体3正转时，带动框体23、L形杆25随之运动，L形杆25运动至与弧形块28抵触后会出现转动同时拉扯第二扭簧使其形变产生作用力，当L形杆25离开弧形块28后，此时第二扭簧释放作用力带动L形杆25复位，当筒体3反转复位时，此时L形杆25远离筒体3的一端进入到斜槽内，由于挡块26及挡板27的存在，使得L形杆25不会出现转动，保持现状，随着L形杆25沿斜槽的运动，使得L形杆25拉动框体23使其向靠近安装槽的方向运动，同时压缩第三弹簧使其形变产生作用力，当L形杆25与斜槽分离，此时第三弹簧释放作用力带动框体23复位使得撞击进气腔7内壁使其震动，使得将附着在气孔8内壁上的灰尘震落，使得能将气孔8在进行抽取灰尘时附着在其内壁上的灰尘震落，避免灰尘堆积，造成气孔8的孔径减小，影响灰尘的抽取的情况出现。

尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (4)

1.一种自动化存储芯片测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定安装有活动座，所述活动座内转动安装有安装轴，所述安装轴的外部固定套设有顶板，所述安装轴的两侧均套设有复位扭簧，所述复位扭簧的两端分别与活动座及安装轴固定连接，所述顶板内侧设有磁块(2)，所述底座(1)的顶部设有与磁块(2)配合的凹槽，所述底座(1)的顶部开设有转动槽，所述转动槽内通过转轴转动安装有筒体(3)，所述底座(1)的顶部一侧开设有安装槽，一侧所述转轴的一端延伸至安装槽内设有用于驱动其转动及复位的旋转组件，所述旋转组件包括固定套设在延伸至安装槽内转轴外的齿轮(30)，所述安装槽的内壁开设有滑槽，所述滑槽内滑动安装有滑块，所述滑块的外侧固定连接有滑板(9)，所述滑板(9)的两侧对称固定安装有侧板，两个所述侧板之间通过活动轴转动安装有与齿轮(30)啮合的齿牙(10)，所述齿牙(10)靠近滑板(9)的一侧下部设有凸起(11)，所述滑块的底部固定连接有第一弹簧，所述滑板(9)的顶部固定安装有抵杆(13)，所述转轴的外部设有限制其转动的限制组件，所述限制组件包括固定套设在转轴外的棘轮(16)，所述安装槽内壁上固定安装有固定轴，所述固定轴外转动套设有与棘轮(16)配合的棘爪(14)，所述固定轴外套设有第二扭簧，所述第二扭簧的两端分别与棘爪(14)及固定轴固定连接，所述安装槽内壁且位于棘爪(14)的下方固定安装有电磁铁(15)，所述棘爪(14)材质为铁，所述安装槽底壁固定安装有与滑板(9)位置对应的开关(18)，所述安装槽底壁固定安装有PLC控制器(17)，所述PLC控制器(17)与开关(18)及电磁铁(15)电性连接，所述转轴的一侧套设有第一扭簧(12)，所述第一扭簧(12)的两端分别与转轴及安装槽槽壁固定连接，所述凸起(11)固定连接在齿牙(10)靠近滑板(9)的一侧的下部，所述凸起(11)靠近滑板(9)的一侧设有朝上的弧面，所述凸起(11)与滑板(9)抵触，所述筒体(3)的外侧等距开设有放置槽，所述放置槽内设有测试座(4)，所述顶板的内侧设有与测试座(4)配合的夹板(5)，所述筒体(3)的内部两侧均开设有腔体，所述腔体内设有活塞(6)，所述活塞(6)的外侧设有用于驱动其往复运动的驱动组件，所述驱动组件包括固定连接在活塞(6)靠近转轴一侧的推杆(19)，所述推杆(19)延伸至腔体外，所述转动槽的内壁等距环绕固定安装有与推杆(19)配合的驱动块(20)，所述驱动块(20)为内侧面对称设有弧面的块状构件，所述弧面与推杆(19)相配合，一侧的所述驱动块(20)的波谷与另一侧所述驱动块(20)的波峰相对设置，所述活塞(6)远离推杆(19)的一侧固定安装有第二弹簧，所述筒体(3)的内部对称开设有与测试座(4)位置对应的进气腔(7)，所述放置槽的内壁对称开设有与进气腔(7)连通的气孔(8)，所述进气腔(7)与腔体连通，所述筒体(3)的外侧对称固定连接有与腔体连通的导孔，所述导孔及气孔(8)内均设有单向阀，一侧的多个所述导孔内均设有滤网架(21)，另一侧的多个所述导孔内均设有过滤袋(22)，所述底座(1)的底部及后侧均开设有开口，所述开口内设有封闭板。

2.根据权利要求1所述的自动化存储芯片测试装置，其特征在于：靠近所述第一扭簧(12)的进气腔(7)的内部设有框体(23)，所述框体(23)的两侧均开设有活动孔，所述活动孔内滑动设置有限位杆(24)，所述限位杆(24)的一端与进气腔(7)的内壁固定连接，所述限位杆(24)的外部套设有第三弹簧，所述第三弹簧位于框体(23)远离气孔(8)的一侧，靠近所述框体(23)的气孔(8)的两侧孔径大小不同，所述气孔(8)靠近框体(23)的一侧孔径大于其远离框体(23)的一侧的孔径，所述框体(23)靠近第一扭簧(12)的一侧设有用于拉动其向外运动的拉动组件。

3.根据权利要求2所述的自动化存储芯片测试装置，其特征在于：所述拉动组件包括转动连接在框体(23)靠近第一扭簧(12)一侧的L形杆(25)，所述L形杆(25)靠近框体(23)的一侧套设有第二扭簧，所述第二扭簧两端分别与L形杆(25)及框体(23)固定连接，所述L形杆(25)远离框体(23)的一端延伸至进气腔(7)的外部，所述L形杆(25)的外部固定安装有挡块(26)，所述筒体(3)的外侧固定安装有挡板(27)，所述挡板(27)与挡块(26)抵触，所述转动槽靠近L形杆(25)的一侧内壁的上部固定安装有弧形块(28)，所述弧形块(28)的顶部开设有与L形杆(25)配合的斜槽。

4.根据权利要求1所述的自动化存储芯片测试装置，其特征在于：所述底座(1)的顶部对称开设有操作口，所述操作口的位置与滤网架(21)及过滤袋(22)对应，所述操作口与转动槽连通，所述操作口的内部卡接有盖板(29)，所述盖板(29)外侧设有橡胶片，所述橡胶片与操作口内壁抵触。

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