CN111524450B - 显示装置、及其绑定阻抗检测方法和屏体裂纹检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示装置、及其绑定阻抗检测方法和屏体裂纹检测方法，该显示装置的显示面板包括显示区和位于显示区外周的非显示区，柔性电路板和覆晶薄膜均位于非显示区内。覆晶薄膜连接显示面板的显示区和柔性电路板，显示装置中设置有绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，柔性电路板中包括多个测试引脚，多个测试引脚连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。多个测试引脚中的至少一个同时连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。本发明能够有效减少测试引脚数量，有利于制造窄边框的显示面板，并且降低了显示面板在绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中发生ESD的可能性，提高了显示面板的显示效果。

Description

显示装置、及其绑定阻抗检测方法和屏体裂纹检测方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示装置、及其绑定阻抗检测方法和屏体裂纹检测方法。

背景技术

随着电子设备的普及，各种配备有显示屏的电子设备日趋常见，例如手机屏幕，显示器以及电子广告牌等。为了获得更好的视觉体验，人们对显示屏的性能、质量和显示效果的要求也越来越高。

目前常用的显示面板包括液晶面板(Liquid Crystal Display，LCD)、等离子面板(Plasma Display Panel，PDP)以及有机发光二极管面板(Organic Light-EmittingDiode，OLED)等，为了保证显示面板中的驱动信号和驱动电源的输入，一般会在显示面板上绑定驱动电路(Integrated Circuit，IC)和柔性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)。显示面板和IC以及FPC之间的连接通过覆晶薄膜(Chip On Film，COF)绑定(Bonding)实现。COF的两端分别Bonding在FPC和Panel上，IC固定在COF上，中间通过异方向导电膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)实现导通。

然而目前的COF中设置的引脚(PIN)数量过多，导致显示面板的边框宽度过大，不利于窄边框设计。此外，在进行绑定阻抗和屏体裂纹检测(Panel Crack Detect，PCD)时，常常发生的静电释放(Electro-Static discharge，ESD)，降低了显示面板的显示效果。

发明内容

为了解决背景技术中提到的至少一个问题，本发明提供一种显示装置、及其绑定阻抗检测方法和屏体裂纹检测方法，能够有效减少测试引脚数量，有利于制造窄边框的显示面板，并且降低了显示面板在绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中发生ESD的可能性，提高了显示面板的显示效果。

为了实现上述目的，第一方面，本发明提供一种显示装置，包括显示面板、柔性电路板和覆晶薄膜，显示面板包括显示区和位于显示区外周的非显示区，柔性电路板和覆晶薄膜均位于非显示区内。

覆晶薄膜连接显示面板的显示区和柔性电路板，显示装置中设置有绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，柔性电路板中包括多个测试引脚，多个测试引脚连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。

多个测试引脚中的至少一个同时连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。

第二方面，本发明还提供一种显示装置的绑定阻抗检测方法，用于测试上述的显示装置的绑定阻抗，显示装置的绑定阻抗检测方法包括：

获取柔性电路板中的第一测试引脚的第一测试信号、第二测试引脚的第二测试信号、第三测试引脚的第三测试信号和第四测试引脚的第四测试信号；

根据第一测试信号、第二测试信号、第三测试信号、第四测试信号确定显示装置的绑定阻抗。

第三方面，本发明还提供一种显示装置的屏体裂纹检测方法，用于检测上述的显示装置的显示面板的屏体裂纹，显示装置的屏体裂纹检测方法包括：

获取柔性电路板中的第一测试引脚的第一测试信号和第五测试引脚的第五测试信号；

根据第一测试信号和第五测试信号确定显示面板的屏体裂纹。

本发明提供的显示装置、及其绑定阻抗检测方法和屏体裂纹检测方法，通过在柔性电路板中设置多个测试引脚，利用多个测试引脚之间的测试信号不仅可以确定显示面板、柔性电路板以及覆晶薄膜之间设置有绑定阻抗，而且可以确定显示面板的屏体是否存在裂纹，减小了绑定阻抗和屏体裂纹检测的难度。通过将多个测试引脚中的至少一个同时连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，从而使得两个电路共同至少一个测试引脚，减少了显示装置中测试引脚的数量，进而减小了测试引脚所占用的显示面板的非显示区域的面积，有利于制造窄边框的显示面板。并且测试引脚的数量减少有利于减小绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中所暴露在外部的测试区域的面积，减少了发生ESD的可能性，优化了该显示面板和显示装置的显示效果。

本发明的构造以及它的其他发明目的及有益效果将会通过结合附图而对优选实施例的描述而更加明显易懂。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作以简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中显示装置的结构示意图；

图2为本发明实施例一提供的显示装置的结构示意图；

图3为本发明实施例二提供的显示装置的结构示意图；

图4为本发明实施例三提供的显示装置的绑定阻抗检测方法的流程示意图；

图5为本发明实施例四提供的显示装置的屏体裂纹检测方法的流程示意图。

附图标记说明：

100-显示装置； 10-显示面板；

11-显示区； 12-非显示区；

13-屏体导线； 20-柔性电路板；

P1-第一测试引脚； P2-第二测试引脚；

P3-第三测试引脚； P4-第四测试引脚；

P5-第五测试引脚； P6-第六测试引脚；

P7-第七测试引脚； P8-第八测试引脚；

L1-第一导线； L2-第二导线；

L3-第三导线； L4-第四导线；

L5-第五导线； L6-第六导线；

L7-第七导线； L8-第八导线；

30-覆晶薄膜； G1-第一信号引脚；

G2-第二信号引脚； G3-第三信号引脚；

G4-第四信号引脚； G5-第五信号引脚；

G6-第六信号引脚； G7-第七信号引脚；

G8-第八信号引脚； G9-第九信号引脚；

G10-第十信号引脚； 40-驱动电路板；

41-第一驱动导线； 42-第二驱动导线；

1-显示面板； 2-柔性电路板；

3-覆晶薄膜； 4-驱动电路板；

5-屏体导线； g1-第一测试引脚；

g2-第二测试引脚； g3-第三测试引脚；

g4-第四测试引脚； g5-第五测试引脚；

g6-第六测试引脚； g7-第七测试引脚；

g8-第八测试引脚； g9-第九测试引脚；

g10-第十测试引脚。

具体实施方式

图1为现有技术中显示装置的结构示意图，参照图1所示，本发明的发明人在实际研究过程中发现，目前的显示装置中，一般会在显示面板1的非显示区内设置驱动电路板4、柔性电路板2和覆晶薄膜3，驱动电路板4设置在覆晶薄膜3上，显示面板1的部分显示区和柔性电路板2通过覆晶薄膜3连接，从而便于柔性电路板2中的驱动信号和驱动电源传输至显示面板1上，保证显示面板1的正常发光。柔性电路板2中会设置有多个测试引脚，多个测试引脚分别包括配合设置第一测试引脚g1和第六测试引脚g6，两者分别通过覆晶薄膜3中的引脚和导线连接在显示面板1的屏体导线5的两端，从而在屏体裂纹检测过程中，通过比对第一测试引脚g1和第六测试引脚g6之间的电阻值既可确定屏体中是否存在裂纹。多个测试引脚还包括第二测试引脚g2、第三测试引脚g3、第四测试引脚g4、第五测试引脚g5、第七测试引脚g7、第八测试引脚g8、第九测试引脚g9以及第十测试引脚g10，上述测试引脚连接在覆晶薄膜3的引脚和导线上，在绑定阻抗的测试过程中通过比对不同测试引脚之间的电阻值，从而分别确定覆晶薄膜3与柔性电路板2、以及覆晶薄膜3与显示面板1的绑定阻抗。

其中，在绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中，分别使用了多个测试引脚中的不同测试引脚，导致测试引脚仅完成绑定阻抗的测试或者屏体裂纹的测试，测试引脚实现的功能较为单一，并且测试引脚的数量较多，从而增加了测试引脚所占用的非显示区域的面积，使得显示面板的边框宽度较大，不利于制造窄边框的显示面板。进一步地，在绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中，需要将测试引脚暴露在外，测试引脚数量过多导致了暴露在外部的测试区域的面积较大，容易引发显示装置中的ESD的问题，从而降低了显示面板及显示装置的显示效果。

有鉴于此，本发明实施例通过在显示装置的柔性电路板中设置多个测试引脚，利用多个测试引脚之间的测试信号不仅可以确定显示面板、柔性电路板以及覆晶薄膜之间设置有绑定阻抗，而且可以确定显示面板的屏体是否存在裂纹，减小了绑定阻抗和屏体裂纹检测的难度。通过将多个测试引脚中的至少一个同时连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，从而使得两个电路共同至少一个测试引脚，减少了显示装置中测试引脚的数量，进而减小了测试引脚所占用的显示面板的非显示区域的面积，有利于制造窄边框的显示面板。并且测试引脚的数量减少有利于减小绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中所暴露在外部的测试区域的面积，减少了发生ESD的可能性，优化了该显示面板和显示装置的显示效果。

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明的优选实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行更加详细的描述。在附图中，自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。下面结合附图对本发明的实施例进行详细说明。

实施例一

图2为本发明实施例一提供的显示装置的结构示意图。参照图2所示，本发明实施例一提供一种显示装置100，该显示装置100包括显示面板10、柔性电路板20和覆晶薄膜30，显示面板10包括显示区11和位于显示区11外周的非显示区12，柔性电路板20和覆晶薄膜30均位于非显示区12内。

覆晶薄膜30连接显示面板10的显示区11和柔性电路板20，显示装置100中设置有绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，柔性电路板20中包括多个测试引脚，多个测试引脚连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。

多个测试引脚中的至少一个同时连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。

需要说明的是，本实施例提供的显示面板10可以是液晶显示面板10，也可以是有机发光显示面板10，本实施例对该显示面板10的类型并不加以限制。以该显示面板10为有机发光显示面板10为例进行说明，显示面板10的显示区11内设置有多个阵列排布的有机发光二极管以及控制该有机发光二极管发光过程的控制电路，显示面板10的非显示区12内设置有驱动电路板40和柔性电路板20，其中驱动电路板40设置覆晶薄膜30上，至少部分柔性电路板20与覆晶薄膜30的部分连接，覆晶薄膜30的部分与显示面板10的显示区11连接，因此柔性电路板20和驱动电路板40可以通过覆晶薄膜30与显示区11导通，从而向显示区11内的控制电路发送驱动信号和电源信号，以达到控制该显示面板10发光的目的。

基于覆晶薄膜30与柔性电路板20和显示面板10均通过绑定连接，如果绑定不良，则会导致覆晶薄膜30与柔性电路板20以及覆晶薄膜30与显示面板10的绑定阻抗过大，影响显示区11内的控制电路的信号传输，从而导致显示区11内的发光过程以及显示画面异常。进一步地，显示面板10在使用过程中常常会因为撞击等原因出现屏体裂纹。绑定阻抗过大以及屏体裂纹均会影响显示面板10和显示装置100的显示效果。

针对于此，本实施例在显示装置100中设置绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，分别用于测试上述的绑定阻抗以及显示区11的屏体裂纹。测试的过程需要通过比对柔性电路板20上多个测试引脚之间的测试信号从而确定绑定阻抗和屏体裂纹情况。

本实施例中至少一个测试引脚同时连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中，即绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路可以共用至少一个测试引脚。从而使得同时连接在两者的测试引脚既可以完成绑定阻抗的测试过程，又可以实现屏体裂纹检测的目的，从而丰富了该共用的测试引脚的功能，并且相比于现有技术中的测试引脚的数量，本实施例可以通过丰富测试引脚的功能的手段，以达到减少测试引脚数量的目的。这样可以减小了测试引脚所占用的显示面板10的非显示区12域的面积，有利于制造窄边框的显示面板10。进一步地，在绑定阻抗和屏体裂纹的检测过程中，暴露在外的测试引脚数量减少，测试区域的面积随之减少，因此可以减小发生ESD的可能性，优化了该显示面板10和显示装置100的显示效果。

具体的，覆晶薄膜30中设置有多个信号引脚，多个信号引脚包括设置在覆晶薄膜30与柔性电路板20的连接处的第一信号引脚G1、第二信号引脚G2、第三信号引脚G3和第四信号引脚G4，以及设置在覆晶薄膜30与显示面板10的连接处的第五信号引脚G5、第六信号引脚G6和第七信号引脚G7。

其中，在覆晶薄膜30内部，第一信号引脚G1和第五信号引脚G5通过第一导线L1连接，第二信号引脚G2和第六信号引脚G6通过第二导线L2连接，第四信号引脚G4和第七信号引脚G7通过第四导线L4连接，第三信号引脚G3通过第三导线L3连接至第五信号引脚G5，第五信号引脚G5和第六信号引脚G6通过第五导线L5连接。

具体的，显示面板10中设置有屏体导线13，屏体导线13的两端分别连接在覆晶薄膜30与显示面板10的连接处的第五信号引脚G5和第七信号引脚G7上。

其中，屏体导线13在显示面板10的非显示区12内。需要说明的是，屏体导线13可以参照图2所示的设置在非显示区12中的靠近边框一侧，基于屏体在撞击过程中，边框附近的破损的可能性较大，因此屏体导线13位于靠近边框一侧便于有效确定破损区域的情况，当屏体出现裂纹时，屏体导线13上的电阻值随之增加，因此如果检测得到屏体导线13的电阻值增大，并且超过预设的范围时，可以确定该屏体出现裂纹。

其中，柔性电路板20中的多个测试引脚包括与第一信号引脚G1连接的第一测试引脚P1，与第二信号引脚G2连接的第二测试引脚P2，与第三信号引脚G3连接的第三测试引脚P3和第四测试引脚P4，以及与第四信号引脚G4连接的第五测试引脚P5。

屏体裂纹检测电路包括依次连接的第一测试引脚P1、第一信号引脚G1、第一导线L1、第五信号引脚G5、屏体导线13、第七信号引脚G7、第四导线L4、第四信号引脚G4以及第五测试引脚P5。

绑定阻抗检测电路包括用于测试柔性电路板20和覆晶薄膜30的第一绑定阻抗检测电路，和用于测试显示面板10与覆晶薄膜30的连接阻抗的第二绑定阻抗检测电路。

当第三信号引脚G3通过第三导线L3连接至第五信号引脚G5时，第一绑定阻抗检测电路包括依次连接的第一测试引脚P1、第一信号引脚G1、第一导线L1、第三导线L3、第三信号引脚G3和第三测试引脚P3；第二绑定阻抗检测电路包括依次连接的第二测试引脚P2、第二信号引脚G2、第二导线L2、第六信号引脚G6、第五导线L5、第五信号引脚G5、第三导线L3、第三信号引脚G3和第四测试引脚P4。

需要特别指出的是，第一测试引脚P1同时连接在第一绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。本实施例中，第一测试引脚P1同时完成了柔性电路板20和覆晶薄膜30之间的第一绑定阻抗和屏体裂纹的检测。

进一步地，柔性电路板20的多个测试引脚还包括第六测试引脚P6、第七测试引脚P7和第八测试引脚P8。

多个信号引脚包括设置在覆晶薄膜30与柔性电路板20的连接处的第八信号引脚G8和第九信号引脚G9，以及设置在覆晶薄膜30与显示面板10的连接处的第十信号引脚G10。

第六测试引脚P6与第八信号引脚G8连接，第七测试引脚P7和第八测试引脚P8均与第九信号引脚G9连接，第八信号引脚G8通过覆晶薄膜30内部的第六导线L6连接至第十信号引脚G10，第九信号引脚G9通过覆晶薄膜30内部的第七导线L7连接至第七信号引脚G7，第十信号引脚G10通过覆晶薄膜30内部的第八导线L8连接至第七信号引脚G7。

需要说明的是，本实施例中可以通过柔性电路板20中的第一测试引脚P1和第五测试引脚P5完成屏体裂纹的检测，第一测试引脚P1、第二测试引脚P2、第三测试引脚P3以及第四测试引脚P4实现绑定阻抗的测试。然而目前的覆晶薄膜30与显示面板10和柔性电路板20连接处是通过ACF导通，不同的连接处连接稳定性不同，仅通过单个位置绑定阻抗检测，绑定阻抗结果的准确性较低。因此为了提高连接处绑定阻抗的测试准确性，本实施例还设置有第六测试引脚P6、第七测试引脚P7和第八测试引脚P8。通过第五测试引脚P5、第六测试引脚P6、第七测试引脚P7和第八测试引脚P8同样可以完成绑定阻抗的测试。在实际使用中，用户可以比对第一测试引脚P1、第二测试引脚P2、第三测试引脚P3以及第四测试引脚P4所测试的绑定阻抗结果，以及五测试引脚、第六测试引脚P6、第七测试引脚P7和第八测试引脚P8所测试的绑定阻抗结果，从而根据两个绑定阻抗结果确定平均的绑定阻抗数值，从而避免绑定阻抗由于测试位置较为单一所造成的准确性较低的问题。

进一步地，该显示装置100还包括驱动电路板40，驱动电路板40设置在覆晶薄膜30上，且驱动电路板40通过驱动电路与显示面板10连接；驱动电路板40上设置有与驱动电路板40连接的第一驱动导线41和第二驱动导线42。

当第三信号引脚G3通过第三导线L3连接至第五信号引脚G5，第九信号引脚G9通过第七导线L7连接至第七信号引脚G7时，第一驱动导线41的一端与驱动电路板40连接，第一驱动导线41的另一端与第二导线L2连接，第二驱动导线42的一端与驱动电路板40连接，第二驱动导线42的另一端与第六导线L6连接。

驱动电路包括依次连接的驱动电路板40、第一驱动导线41、第二导线L2、第六信号引脚G6、第五导线L5、第五信号引脚G5、屏体导线13、第七信号引脚G7、第八导线L8、第十信号引脚G10、第六导线L6和第二驱动导线42。

需要说明的是，驱动电路板40主要是向显示面板10的显示区11内的控制电路输入驱动信号。在本实施例中，基于屏体导线13位于驱动电路中，因此还可以通过获取驱动电路中的电阻值，判断屏体导线13上的电阻值是否符合预设的范围，从而确定屏体是否出现裂纹。

实施例二

图3为本发明实施例二提供的显示装置的结构示意图，参照图3所示，在上述实施例一的基础上，本发明实施例二提供另一种结构的显示装置100，实施例二与实施例一相比，两者的区别之处在于：显示装置100中覆晶薄膜30内部的引脚连接方式不同。

具体的，在覆晶薄膜30内部，第三信号引脚G3通过第三导线L3连接至第六信号引脚G6。第九信号引脚G9通过覆晶薄膜30内部的第七导线L7连接至第十信号引脚G10。

当第三信号引脚G3通过第三导线L3连接至第六信号引脚G6时，第一绑定阻抗检测电路包括依次连接的第二测试引脚P2、第二信号引脚G2、第二导线L2、第六信号引脚G6、第三导线L3、第三信号引脚G3以及第三测试引脚P3；第二绑定阻抗检测电路包括依次连接的第一测试引脚P1、第一信号引脚G1、第一导线L1、第五信号引脚G5、第五导线L5、第六信号引脚G6、第三导线L3、第三信号引脚G3以及第四测试引脚P4。

当第三信号引脚G3通过第三导线L3连接至第六信号引脚G6，第九信号引脚G9通过第七导线L7连接至第十信号引脚G10时，第一驱动导线41的一端与驱动电路板40连接，第一驱动导线41的另一端与第三导线L3连接，第二驱动导线42的一端与驱动电路板40连接，第二驱动导线42的另一端与第七导线L7连接。

驱动电路包括依次连接的驱动电路板40、第一驱动导线41、第三导线L3、第六信号引脚G6、第五导线L5、第五信号引脚G5、屏体导线13、第七信号引脚G7、第八导线L8、第十信号引脚G10、第七导线L7和第二驱动导线42。

需要说明的是，本实施例中，第一测试引脚P1同时连接在第二绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路中。第一测试引脚P1同时完成了显示面板10与覆晶薄膜30的之间的第二绑定阻抗和屏体裂纹的检测。

其他技术特征与实施例一相同，并能达到相同的技术效果，在此不再一一赘述。

实施例三

图4为本发明实施例三提供的显示装置的绑定阻抗检测方法的流程示意图。参照图4所示，在上述实施例一或实施例二的基础上，本发明实施例三提供一种显示装置的绑定阻抗检测方法，该绑定阻抗检测方法可以用于测试实施例一或实施例二的显示装置中的绑定阻抗。

具体的，该显示装置的绑定阻抗检测方法具体包括：

S10：获取柔性电路板中的第一测试引脚的第一测试信号、第二测试引脚的第二测试信号、第三测试引脚的第三测试信号和第四测试引脚的第四测试信号。

需要说明的是，本实施例的第一测试信号、第二测试信号、第三测试信号和第四测试信号可以是测试引脚处的电阻值，也可以是电压值或电流值，本实施例对该测试信号的具体类型并不加以限制。本实施例以电阻值为例进行说明。

S11：根据第一测试信号、第二测试信号、第三测试信号、第四测试信号确定显示装置的绑定阻抗。

具体的，当第三信号引脚通过第三导线连接至第五信号引脚，第九信号引脚通过第七导线连接至第七信号引脚时，根据第一测试信号和第三测试信号确定柔性电路板和覆晶薄膜之间的第一绑定阻抗，根据第一测试信号、第二测试信号、第三测试信号和第四测试信号确定覆晶薄膜和显示面板的第二绑定阻抗。

需要说明的是，结合实施例一中的附图2所示，当第三信号引脚通过第三导线连接至第五信号引脚，第九信号引脚通过第七导线连接至第七信号引脚时，即为本发明实施例一中的显示面板的连接方式。根据第一测试信号和第三测试信号确定柔性电路板和覆晶薄膜之间的第一绑定阻抗，该第一绑定阻抗可以通过以下公式(1)确定：

其中，R_COF·FPC为覆晶薄膜COF和柔性电路板FPC之间的第一绑定阻抗，R_P1为第一测试引脚的电阻值，R_P2为第二测试引脚的电阻值。

进一步地，根据第一测试信号、第二测试信号、第三测试信号和第四测试信号确定覆晶薄膜和显示面板的第二绑定阻抗，该第二绑定阻抗可以通过以下公式(2)确定：

其中，R_COF·Panel为覆晶薄膜COF和显示面板Panel之间的第二绑定阻抗，R_P1为第一测试引脚的电阻值，R_P2为第二测试引脚的电阻值，R_P3为第三测试引脚的电阻值，R_P4为第四测试引脚的电阻值。

具体的，当第三信号引脚通过第三导线连接至第六信号引脚，第九信号引脚通过第七导线连接至第十信号引脚时，根据第二测试信号和第三测试信号确定柔性电路板和覆晶薄膜之间的第一绑定阻抗，根据第一测试信号、第二测试信号、第三测试信号和第四测试信号确定覆晶薄膜和显示面板的第二绑定阻抗。

需要说明的是，结合实施例二中的附图3所示，当第三信号引脚通过第三导线连接至第六信号引脚，第九信号引脚通过第七导线连接至第十信号引脚时，即为本发明实施例二中的显示面板的连接方式。根据第二测试信号和第三测试信号确定柔性电路板和覆晶薄膜之间的第一绑定阻抗，该第一绑定阻抗可以通过以下公式(3)确定：

其中，R_COF·FPC为覆晶薄膜COF和柔性电路板FPC之间的第一绑定阻抗，R_P2为第二测试引脚的电阻值，R_P3为第三测试引脚的电阻值。

进一步地，根据第一测试信号、第二测试信号、第三测试信号和第四测试信号确定覆晶薄膜和显示面板的第二绑定阻抗，该第二绑定阻抗可以通过以下公式(4)确定：

其中，R_COF·Panel为覆晶薄膜COF和显示面板Panel之间的第二绑定阻抗，R_P1为第一测试引脚的电阻值，R_P2为第二测试引脚的电阻值，R_P3为第三测试引脚的电阻值，R_P4为第四测试引脚的电阻值。

其他技术特征与实施例一或实施例二相同，并能达到相同的技术效果，在此不再一一赘述。

本发明实施例三提供的显示装置的绑定阻抗检测方法，通过将多个测试引脚中的第一测试引脚连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，从而使得两个电路共同至少一个测试引脚，减少了显示装置中测试引脚的数量，进而减小了测试引脚所占用的显示面板的非显示区域的面积，有利于制造窄边框的显示面板。并且测试引脚的数量减少有利于减小绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中所暴露在外部的测试区域的面积，减少了发生ESD的可能性，优化了该显示面板和显示装置的显示效果。

实施例四

图5为本发明实施例四提供的显示装置的屏体裂纹检测方法的流程示意图，在上述实施例一至实施例三的基础上，本发明实施例四提供一种显示装置的屏体裂纹检测方法，该屏体裂纹检测方法可以用于测试实施例一或实施例二的显示装置中的显示面板的屏体裂纹。

具体的，该显示装置的屏体裂纹检测方法包括：

S20：获取柔性电路板中的第一测试引脚的第一测试信号和第五测试引脚的第五测试信号；

S21：根据第一测试信号和第五测试信号确定显示面板的屏体裂纹。需要说明的是，该第一测试信号和第五测试信号可以是第一测试引脚和第五测试引脚处的电阻值，也可以是电压值或电流值，本实施例对该测试信号的具体类型并不加以限制。本实施例以电阻值为例进行说明。

其中，根据第一测试信号和第五测试信号确定显示面板的屏体裂纹，具体可以是，当屏体中出现裂纹中，屏体走线上的电阻值随之增加，因此当R_P1-R_P5的绝对值小于或等于预设电阻值时，则说明屏体中并不存在裂纹，而当R_P1-R_P5的绝对值大于预设电阻值时，则说明屏体中存在裂纹。其中，R_P1为第一测试引脚的电阻值，R_P5为第五测试引脚的电阻值。该预设电阻值可以根据用户需要设定，本实施例对此并不加以限制。

其他技术特征与实施例一至实施例三相同，并能达到相同的技术效果，在此不再一一赘述。

本发明实施例四提供的显示装置的屏体裂纹检测方法，通过比对与屏体走线连接的第一测试引脚上的第一测试信号和第五测试引脚上的第二测试信号，从而确定屏体中是否存在裂纹。同时该第一测试引脚连接在绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，从而使得两个电路共同至少一个测试引脚，减少了显示装置中测试引脚的数量，进而减小了测试引脚所占用的显示面板的非显示区域的面积，有利于制造窄边框的显示面板。并且测试引脚的数量减少有利于减小绑定阻抗和屏体裂纹检测过程中所暴露在外部的测试区域的面积，减少了发生ESD的可能性，优化了该显示面板和显示装置的显示效果。

在本发明实施例的描述中，需要理解的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应作广义理解，例如，可以使固定连接，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。术语“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或者暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非是另有精确具体地规定。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (12)

1.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板、柔性电路板和覆晶薄膜，所述显示面板包括显示区和位于所述显示区外周的非显示区，所述柔性电路板和所述覆晶薄膜均位于所述非显示区内；

所述覆晶薄膜连接所述显示面板的显示区和所述柔性电路板，所述显示装置中设置有绑定阻抗检测电路和屏体裂纹检测电路，所述柔性电路板中包括多个测试引脚，多个所述测试引脚连接在所述绑定阻抗检测电路和所述屏体裂纹检测电路中；

多个所述测试引脚中的至少一个同时连接在所述绑定阻抗检测电路和所述屏体裂纹检测电路中；

所述覆晶薄膜中设置有信号引脚，所述信号引脚设置在所述覆晶薄膜与所述柔性电路板的连接处和所述覆晶薄膜与所述显示面板的连接处。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述信号引脚包括设置在所述覆晶薄膜与所述柔性电路板的连接处的第一信号引脚、第二信号引脚、第三信号引脚和第四信号引脚，以及设置在所述覆晶薄膜与所述显示面板的连接处的第五信号引脚、第六信号引脚和第七信号引脚；

其中，在所述覆晶薄膜内部，所述第一信号引脚和所述第五信号引脚通过第一导线连接，所述第二信号引脚和所述第六信号引脚通过第二导线连接，所述第四信号引脚和所述第七信号引脚通过第四导线连接，所述第三信号引脚通过第三导线连接至所述第五信号引脚或者所述第六信号引脚，第五信号引脚和所述第六信号引脚通过第五导线连接。

3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，所述显示面板中设置有屏体导线，所述覆晶薄膜与所述显示面板的连接处设置有第五信号引脚和第七信号引脚，所述屏体导线的两端分别连接在所述第五信号引脚和所述第七信号引脚上；

所述屏体导线在所述显示面板的所述非显示区内。

4.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述柔性电路板中的多个测试引脚包括与所述第一信号引脚连接的第一测试引脚，与所述第二信号引脚连接的第二测试引脚，与所述第三信号引脚连接的第三测试引脚和第四测试引脚，以及与第四信号引脚连接的第五测试引脚。

5.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于，所述屏体裂纹检测电路包括依次连接的所述第一测试引脚、所述第一信号引脚、所述第一导线、所述第五信号引脚、所述屏体导线、所述第七信号引脚、所述第四导线、所述第四信号引脚以及所述第五测试引脚。

6.根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于，所述绑定阻抗检测电路包括用于测试所述柔性电路板和所述覆晶薄膜的第一绑定阻抗检测电路，和用于测试所述显示面板与所述覆晶薄膜的连接阻抗的第二绑定阻抗检测电路；

当所述第三信号引脚通过所述第三导线连接至所述第五信号引脚时，所述第一绑定阻抗检测电路包括依次连接的所述第一测试引脚、所述第一信号引脚、所述第一导线、所述第三导线、所述第三信号引脚和所述第三测试引脚；所述第二绑定阻抗检测电路包括依次连接的所述第二测试引脚、所述第二信号引脚、所述第二导线、所述第六信号引脚、所述第五导线、所述第五信号引脚、所述第三导线、所述第三信号引脚和所述第四测试引脚；

所述第一测试引脚同时连接在所述第一绑定阻抗检测电路和所述屏体裂纹检测电路中；

当所述第三信号引脚通过所述第三导线连接至所述第六信号引脚时，所述第一绑定阻抗检测电路包括依次连接的所述第二测试引脚、所述第二信号引脚、所述第二导线、所述第六信号引脚、所述第三导线、所述第三信号引脚以及所述第三测试引脚；所述第二绑定阻抗检测电路包括依次连接的所述第一测试引脚、所述第一信号引脚、所述第一导线、所述第五信号引脚、所述第五导线、所述第六信号引脚、所述第三导线、所述第三信号引脚以及所述第四测试引脚；

所述第一测试引脚同时连接在所述第二绑定阻抗检测电路和所述屏体裂纹检测电路中。

7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述柔性电路板的多个测试引脚还包括第六测试引脚、第七测试引脚和第八测试引脚；

多个所述信号引脚包括设置在所述覆晶薄膜与所述柔性电路板的连接处的第八信号引脚和第九信号引脚，以及设置在所述覆晶薄膜与所述显示面板的连接处的第十信号引脚；

所述第六测试引脚与所述第八信号引脚连接，所述第七测试引脚和所述第八测试引脚均与所述第九信号引脚连接，所述第八信号引脚通过所述覆晶薄膜内部的第六导线连接至所述第十信号引脚，所述第九信号引脚通过所述覆晶薄膜内部的第七导线连接至所述第七信号引脚或所述第十信号引脚，所述第十信号引脚通过所述覆晶薄膜内部的第八导线连接至所述第七信号引脚。

8.根据权利要求7所述的显示装置，其特征在于，还包括驱动电路板，所述驱动电路板设置在所述覆晶薄膜上，且所述驱动电路板通过驱动电路与所述显示面板连接；所述驱动电路板上设置有与所述驱动电路板连接的第一驱动导线和第二驱动导线；

当所述第三信号引脚通过所述第三导线连接至所述第五信号引脚，所述第九信号引脚通过所述第七导线连接至所述第七信号引脚时，所述第一驱动导线的一端与所述驱动电路板连接，所述第一驱动导线的另一端与所述第二导线连接，所述第二驱动导线的一端与所述驱动电路板连接，所述第二驱动导线的另一端与第六导线连接；

所述驱动电路包括依次连接的所述驱动电路板、所述第一驱动导线、所述第二导线、所述第六信号引脚、所述第五导线、所述第五信号引脚、所述屏体导线、所述第七信号引脚、所述第八导线、所述第十信号引脚、所述第六导线和所述第二驱动导线；

当所述第三信号引脚通过所述第三导线连接至所述第六信号引脚，所述第九信号引脚通过所述第七导线连接至所述第十信号引脚，所述第一驱动导线的一端与所述驱动电路板连接，所述第一驱动导线的另一端与所述第三导线连接，所述第二驱动导线的一端与所述驱动电路板连接，所述第二驱动导线的另一端与所述第七导线连接；

所述驱动电路包括依次连接的所述驱动电路板、所述第一驱动导线、所述第三导线、所述第六信号引脚、所述第五导线、所述第五信号引脚、所述屏体导线、所述第七信号引脚、所述第八导线、所述第十信号引脚、所述第七导线和所述第二驱动导线。

9.一种显示装置的绑定阻抗检测方法，其特征在于，用于测试权利要求1-8中任一项所述的显示装置的绑定阻抗，所述显示装置的绑定阻抗检测方法包括：

获取柔性电路板中的第一测试引脚的第一测试信号、第二测试引脚的第二测试信号、第三测试引脚的第三测试信号和第四测试引脚的第四测试信号；

根据所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号、所述第四测试信号确定所述显示装置的绑定阻抗。

10.根据权利要求9所述的显示装置的绑定阻抗检测方法，其特征在于，所述根据所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号、所述第四测试信号确定所述显示装置的绑定阻抗，具体包括：

根据所述第一测试信号和所述第三测试信号确定所述柔性电路板和覆晶薄膜之间的第一绑定阻抗；

根据所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号和所述第四测试信号确定所述覆晶薄膜和显示面板的第二绑定阻抗，

其中，所述显示装置中的第三信号引脚通过第三导线连接至第五信号引脚，第九信号引脚通过第七导线连接至第七信号引脚。

11.根据权利要求9所述的显示装置的绑定阻抗检测方法，其特征在于，所述根据所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号、所述第四测试信号确定所述显示装置的绑定阻抗，具体包括：

根据所述第二测试信号和所述第三测试信号确定所述柔性电路板和覆晶薄膜之间的第一绑定阻抗；

根据所述第一测试信号、所述第二测试信号、所述第三测试信号和所述第四测试信号确定所述覆晶薄膜和显示面板的第二绑定阻抗；

其中，所述显示装置中的第三信号引脚通过第三导线连接至第六信号引脚，第九信号引脚通过第七导线连接至第十信号引脚时。

12.一种显示装置的屏体裂纹检测方法，其特征在于，用于检测权利要求1-8中任一项所述的显示装置的显示面板的屏体裂纹，所述显示装置的屏体裂纹检测方法包括：

获取柔性电路板中的第一测试引脚的第一测试信号和第五测试引脚的第五测试信号；

根据所述第一测试信号和所述第五测试信号确定所述显示面板的屏体裂纹。

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