CN110618345A - 检测线路受损的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种检测线路受损的方法和装置，检测线路受损的方法包括设置待测线路的充电时间为第一预设时间；对待测线路进行充电，并检测待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；将第一充电电压与参考电压进行比较，若第一充电电压与参考电压的差值大于预设差值，则判断待测线路受损。上述的检测线路受损的方法和装置，待测线路的充电时间可以根据实际需要进行设计，并且可以根据触控面板的品质要求，设置预设差值，从而能够根据品质要求检测出不符合要求的受损线路。

Description

检测线路受损的方法和装置

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别涉及一种检测线路受损的方法和装置。

背景技术

随着电子产品设计的发展日渐趋向使用者导向，基于用户便利性操作的考虑，应用触控面板的产品已逐渐成为市场上的主流，例如智能手机或平板电脑，因此触控面板已成为这些产品中重要且不可或缺的部分。

目前，对触控面板线路的测试，通常是检测线路充电至临界电压时的充电时间，通过充电时间判断线路是否受损，但若线路的受损较小，此方法容易出现误判。

发明内容

基于此，有必要针对当触控面板线路的受损较小，现有的检测方法容易出现误判的问题，提供一种检测线路受损的方法和装置。

一种检测线路受损的方法，包括：

设置待测线路的充电时间为第一预设时间；

对所述待测线路进行充电，并检测所述待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；

将所述第一充电电压与参考电压进行比较，若所述第一充电电压与所述参考电压的差值大于预设差值，则判断所述待测线路受损。

在其中一个实施例中，所述设置待测线路的充电时间为第一预设时间具体包括：

对参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路进行充电；

检测所述参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路分别在多个不同第二预设时间的第二充电电压；

根据所述多个第二充电电压设置其中一个第二预设时间为第一预设时间。

在其中一个实施例中，获取所述参考电压的步骤包括：

对参考线路进行充电；

所述参考线路的充电时间为第一预设时间时的充电电压作为参考电压。

在其中一个实施例中，所述参考线路与所述待测线路的尺寸和材质相同。

在其中一个实施例中，所述参考线路为未受损线路。

一种检测线路受损的装置，包括：

设置模块，用于设置待测线路的充电时间为第一预设时间；

充电模块，与所述设置模块连接，用于对所述待测线路进行充电，并检测所述待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；及

判断模块，与所述充电模块连接，用于将所述第一充电电压与参考电压进行比较，若所述第一充电电压与所述参考电压的差值大于预设差值，则判断所述待测线路受损。

在其中一个实施例中，所述设置模块包括：

充电单元，用于对参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路进行充电；

检测单元，用于检测所述参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路分别在多个不同第二预设时间的第二充电电压；及

设置单元，用于根据所述多个第二充电电压设置其中一个第二预设时间为第一预设时间。

在其中一个实施例中，所述充电单元还用于对参考线路进行充电；

所述设置单元还用于将所述参考线路的充电时间为第一预设时间时的充电电压设置为参考电压。

在其中一个实施例中，所述参考线路与所述待测线路的尺寸和材质相同。

在其中一个实施例中，所述参考线路为未受损线路。

本申请的检测线路受损的方法和装置，通过设置待测线路的充电时间为第一预设时间，对待测线路进行充电，并检测待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压，将第一充电电压与参考电压进行比较，若第一充电电压与参考电压的差值大于预设差值，则判断待测线路受损。本申请的检测方法，待测线路的充电时间可以根据实际需要进行设计，并且可以根据触控面板的品质要求，设置预设差值，从而能够根据品质要求检测出不符合要求的受损线路。

附图说明

图1为一实施例中的触控面板的结构示意图；

图2为一实施例中的检测线路受损的方法的流程图；

图3为一实施例中的检测线路受损的方法的子流程图；

图4为另一实施例中的检测线路受损的方法的子流程图；

图5为一实施例中的检测线路受损的装置的功能模块图；

图6为一实施例中的设置模块的功能模块图。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本申请。

请参阅图1，一种检测线路受损的方法，用于检测触控面板100的线路120是否受损。触控面板100包括基板110及线路120。基板110上设置有多个第一传感器111及多个第二传感器112，多个第一传感器111呈阵列排布且每个第一传感器111与相邻的第一传感器111均连接，多个第二传感器112呈阵列排布且每个第二传感器112与相邻的第二传感器112均连接。线路120设置于基板110的周围，线路120包括多条第一线路121及多条第二线路122，每条第一线路121与一列第一传感器111连接，每条第二线路122与一行第二传感器112连接。第一线路121用于传输信号至第一传感器111，第二线路122用于传输信号至第二传感器112。多条第一线路121的长度可以相同也可以不相同，即多条第一线路121的阻抗可以相同也可以不相同。多条第二线路122的长度可以相同也可以不相同，即多条第二线路122的阻抗可以相同也可以不相同。当线路120受到损伤，线路120的阻抗会发生变化。线路120的微损伤不一定会造成触控面板100触控功能的丧失，但可能会影响触控面板100的灵敏度及寿命。

对第一线路121及第二线路122的受损检测，通常采用对第一线路121及第二线路122进行充电至临界电压，检测设备的充电时间设置为较大的固定值，以确保相互连接的传感器能够正常工作，且通过充电至临界电压时的充电时间判断线路120是否受损，线路120容易出现误判。

请参阅图2，本申请实施例提供一种检测线路受损的方法，包括以下步骤。

步骤S01，设置待测线路的充电时间为第一预设时间。待测线路的充电时间可以根据用户对触控面板的品质要求及待测线路的阻抗大小设置。同一触控面板的待测线路的充电时间可以相同也可以不相同。若对触控面板的品质要求不高，则对该触控面板的线路进行检测的充电时间可以相同。若对触控面板的品质要求较高，则可以根据需要设置其中的线路的充电时间。

步骤S02，对待测线路进行充电，并检测待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压。第一充电电压小于或等于临界电压。

步骤S03，将第一充电电压与参考电压进行比较，若第一充电电压与参考电压的差值大于预设差值，则判断待测线路受损。

参考电压为与待测线路具有相同尺寸和材质的参考线路充电至第一预设时间时的电压。参考线路为未受损线路。

预设差值可以根据用户对触控面板的线路的品质要求进行设置。若用户对触控面板的品质要求高，则将预设差值设置为较小的数值，若用户对触控面板的品质要求不高，则将预设差值设置为较大的数值。

请参阅图3，步骤S01具体包括以下步骤：

步骤S11，对参考线路及与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路进行充电。

与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路为模拟待测线路出现受损的线路。

步骤S12，检测参考线路及与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路分别在多个不同第二预设时间的第二充电电压。

步骤S13，根据多个第二充电电压设置其中一个第二预设时间为第一预设时间。

具体的，比较在同一第二预设时间，检测到的参考线路的第二充电电压与与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路的多个第二充电电压之间的差值，将参考线路的第二充电电压与与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路的多个第二充电电压的差值较大的一个第二预设时间设置为第一预设时间，从而使得在该时间点检测到的充电电压差异较明显，更能检测出微受损的线路。

在一实施例中，参考线路的阻抗值为30KΩ，两条受损的线路的阻抗值分别为40KΩ和45KΩ，分别对30KΩ的参考线路、40KΩ的受损线路及45KΩ的受损线路进行充电，在第二预设时间分别为3RC、5RC和7RC时，检测三条线路的第二充电电压，结果如表1：

V(t)	3RC	5RC	7RC
				30K	11.4V	11.9V	12V
40K	8.3V	10.2V	11.9V
				45K	7.4V	8.9V	11.4V

表1

表2为40KΩ的受损线路及45KΩ的受损线路的第二充电电压与30KΩ的参考线路的第二充电电压的比较结果。

表2

在该实施例中，预设差值为3V，当第二预设时间为3RC时，40KΩ的受损线路与30KΩ的参考线路的充电电压差值为3.1V，45KΩ的受损线路与30KΩ的参考线路的充电电压差值为4V；当第二预设时间为5RC时，40KΩ的受损线路与30KΩ的参考线路的充电电压差值为1.7V，45KΩ的受损线路与30KΩ的参考线路的充电电压差值为3V；当第二预设时间为7RC时，40KΩ的受损线路与30KΩ的参考线路的充电电压差值为0.1V，45KΩ的受损线路与30KΩ的参考线路的充电电压差值为0.6V。

若将第二预设时间5RC或者7RC设置为第一预设时间，则40KΩ的受损线路和45KΩ的受损线路均会被判定为正常线路。将第二预设时间3RC设置为第一预设时间，则能够将40KΩ的受损线路和45KΩ的受损线路检测出来。

请参阅图4，获取参考电压的步骤包括：

步骤S101，对参考线路进行充电。

步骤S102，参考线路的充电时间为第一预设时间时的充电电压作为参考电压。

通过设置参考电压使得检测到的第一充电电压具有参照的标准，从而能够根据参照标准判断线路是否受损。

本申请的检测线路受损的方法，通过设置待测线路的充电时间为第一预设时间，对待测线路进行充电，并检测待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压，将第一充电电压与参考电压进行比较，若第一充电电压与参考电压的差值大于预设差值，则判断待测线路受损。本申请的检测方法，待测线路的充电时间可以根据实际需要进行设计，并且可以根据触控面板的品质要求，设置预设差值，从而能够根据品质要求检测出不符合要求的受损线路。

请参阅图5，本申请实施例还提供一种检测线路受损的装置，包括设置模块10、充电模块20及判断模块30。设置模块10用于设置待测线路的充电时间为第一预设时间。充电模块20与设置模块10连接，用于对待测线路进行充电，并检测待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压。判断模块30与充电模块20连接，用于将第一充电电压与参考电压进行比较，若第一充电电压与参考电压的差值大于预设差值，则判断待测线路受损。

待测线路的充电时间可以根据用户对触控面板的品质要求及待测线路的阻抗大小设置。同一触控面板的待测线路的充电时间可以相同也可以不相同。若对触控面板的品质要求不高，则对该触控面板的线路进行检测的充电时间可以相同。若对触控面板的品质要求较高，则可以根据需要设置其中的线路的充电时间。第一充电电压小于或等于临界电压。

参考电压为与待测线路具有相同尺寸和材质的参考线路充电至第一预设时间时的电压。参考线路为未受损线路。

预设差值可以根据用户对触控面板的线路的品质要求进行设置。若用户对触控面板的品质要求高，则将预设差值设置为较小的数值，若用户对触控面板的品质要求不高，则将预设差值设置为较大的数值。

请参阅图6，在一实施例中，设置模块10包括充电单元11、检测单元12及设置单元13，检测单元12分别与充电单元11及设置单元13连接。充电单元11用于对参考线路及与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路进行充电。与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路为模拟待测线路出现受损的线路。检测单元12用于检测参考线路及与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路分别在多个不同第二预设时间的第二充电电压。设置单元13用于根据多个第二充电电压设置其中一个第二预设时间为第一预设时间。

具体的，比较在同一第二预设时间，检测到的参考线路的第二充电电压与与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路的多个第二充电电压之间的差值，将参考线路的第二充电电压与与参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路的多个第二充电电压的差值较大的一个第二预设时间设置为第一预设时间，从而使得在该时间点检测到的充电电压差异较明显，更能检测出微受损的线路。

在一实施例中，充电单元11还用于对参考线路进行充电。设置单元13还用于将参考线路的充电时间为第一预设时间时的充电电压设置为参考电压。通过设置参考电压使得检测到的第一充电电压具有参照的标准，从而能够根据参照标准判断线路是否受损。

本申请的检测线路受损的装置，通过设置待测线路的充电时间为第一预设时间，对待测线路进行充电，并检测待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压，将第一充电电压与参考电压进行比较，若第一充电电压与参考电压的差值大于预设差值，则判断待测线路受损。本申请的检测方法，待测线路的充电时间可以根据实际需要进行设计，并且可以根据触控面板的品质要求，设置预设差值，从而能够根据品质要求检测出不符合要求的受损线路。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种检测线路受损的方法，其特征在于，包括：

设置待测线路的充电时间为第一预设时间；

对所述待测线路进行充电，并检测所述待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；

将所述第一充电电压与参考电压进行比较，若所述第一充电电压与所述参考电压的差值大于预设差值，则判断所述待测线路受损。

2.根据权利要求1所述的检测线路受损的方法，其特征在于，所述设置待测线路的充电时间为第一预设时间具体包括：

对参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路进行充电；

检测所述参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路分别在多个不同第二预设时间的第二充电电压；

根据所述多个第二充电电压设置其中一个第二预设时间为第一预设时间。

3.根据权利要求1所述的检测线路受损的方法，其特征在于，获取所述参考电压的步骤包括：

对参考线路进行充电；

所述参考线路的充电时间为第一预设时间时的充电电压作为参考电压。

4.根据权利要求2或3所述的检测线路受损的方法，其特征在于，所述参考线路与所述待测线路的尺寸和材质相同。

5.根据权利要求2或3所述的检测线路受损的方法，其特征在于，所述参考线路为未受损线路。

6.一种检测线路受损的装置，其特征在于，包括：

设置模块，用于设置待测线路的充电时间为第一预设时间；

充电模块，与所述设置模块连接，用于对所述待测线路进行充电，并检测所述待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；及

判断模块，与所述充电模块连接，用于将所述第一充电电压与参考电压进行比较，若所述第一充电电压与所述参考电压的差值大于预设差值，则判断所述待测线路受损。

7.根据权利要求6所述的检测线路受损的装置，其特征在于，所述设置模块包括：

充电单元，用于对参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路进行充电；

检测单元，用于检测所述参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路分别在多个不同第二预设时间的第二充电电压；及

设置单元，用于根据所述多个第二充电电压设置其中一个第二预设时间为第一预设时间。

8.根据权利要求7所述的检测线路受损的装置，其特征在于，

所述充电单元还用于对参考线路进行充电；

所述设置单元还用于将所述参考线路的充电时间为第一预设时间时的充电电压设置为参考电压。

9.根据权利要求7所述的检测线路受损的装置，其特征在于，所述参考线路与所述待测线路的尺寸和材质相同。

10.根据权利要求7所述的检测线路受损的装置，其特征在于，所述参考线路为未受损线路。