CN110599936A - 一种显示面板、其显示检测方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板、其显示检测方法及显示装置，包括：驱动电路，包括多种信号线；与信号线连接的信号连接线；测试信号输入端子；连接在驱动电路与测试信号输入端子之间开关单元。通过在信号连接线与测试信号输入端子之间设置开关单元，在测试阶段采用信号发生装置向各测试信号输入端子输入对应的信号，控制开关单元开启，使各测试信号输入端子输入的测试信号传输向对应的各信号连接线，点亮显示面板；在显示阶段切断信号发生装置向各测试信号输入端子输入对应的信号，控制开关单元关闭，以切断各信号连接线的信号向对应的各测试信号输入端子传输。由此避免在显示阶段时测试信号输入端子带电被腐蚀，进而避免对其连接的信号线造成损害。

Description

一种显示面板、其显示检测方法及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤指一种显示面板、其显示检测方法及显示装置。

背景技术

现阶段随着显示技术的不断发展，显示面板在工作生活中扮演着越来越重要的角色，目前的显示面板多采用液晶显示面板(Liquid Crystal Display，简称LCD)或有机发光二极管显示面板(Organic Light-Emitting Diode，简称OLED)。目前所使用的显示面板通常使用显示芯片驱动进行图像显示，在制作过程中，会先对显示面板进行点亮测试，在确定显示面板可以被正常点亮之后，再进行显示芯片的绑定，由此来避免显示芯片的物料浪费。

显示面板在制作过程中会形成用于输入测试信号的测试引脚和用于绑定显示芯片的绑定引脚，这两种引脚输入的信号是相互对应的，且两种引脚之间相互连通。在进行点亮测试时，将检测设备连接到测试引脚上输入对应的测试信号；在测试结束后绑定上显示芯片，显示芯片向各引脚输入的信号也会相应地传输到上述测试引脚上。如果显示面板处于湿热环境下，带电的测试引脚将会发生电化学反应，造成引脚的腐蚀，当腐蚀现象严重时，还会损害连接的信号线。

发明内容

本发明提供一种显示面板、其显示检测方法及显示装置，用以解决在显示阶段测试信号输入端子带电被腐蚀的问题。

第一方面，本发明提供一种显示面板，包括：

驱动电路，用于驱动所述显示面板发光；所述驱动电路包括多种信号线；

测试信号输入端子，用于输入测试信号；

开关单元，连接在所述驱动电路与所述测试信号输入端子之间；

所述显示面板还包括：与所述信号线连接的信号连接线；所述开关单元通过所述信号连接线与所述信号线电连接；

其中，所述开关单元包括：控制端，输入端，以及输出端；通过所述控制端控制所述输入端的信号传输到所述输出端；所述输入端连接所述测试信号输入端子，所述输出端连接所述信号连接线，所述控制端连接所述测试信号输入端子；

所述开关单元，用于在测试阶段响应所述测试信号输入端子向所述控制端输入的信号，将所述测试信号输入端子输入的测试信号传输向所述信号连接线；在显示阶段切断所述信号连接线的信号向所述测试信号输入端子传输。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述信号连接线与所述测试信号输入端子一一对应；所述测试信号输入端子包括：电源信号输入端子，用于输入电源信号；

所述开关单元包括：至少一个开关晶体管；所述开关晶体管的第一极连接所述测试信号输入端，第二极连接对应的所述信号连接线，控制极连接所述电源信号输入端子；

所述开关晶体管的第一极连接的所述测试信号输入端子输入的测试信号的电位与所述开关晶体管的控制极连接的所述电源信号输入端子输入的电源信号的电位不同。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述电源信号输入端子包括：第一电源信号输入端子和第二电源信号输入端子；

所述第一电源信号输入端子传输的信号的电位高于所述第二电源信号输入端子传输的信号的电位；

所述开关单元包括：第一开关晶体管和第二开关晶体管；

所述第一电源信号输入端子连接一个所述第一开关晶体管的第一极，所述第一电源信号输入端子对应的信号连接线连接该第一开关晶体管的第二极，所述第二电源信号输入端子连接该第一开关晶体管的控制极；

所述第二电源信号输入端子连接一个所述第二开关晶体管的第一极，所述第二电源信号输入端子对应的信号连接线连接该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述测试信号输入端子还包括：参考信号输入端子，用于输入参考信号；所述参考信号输入端子输入的参考信号的电位低于所述第一电源信号输入端子输入的电源信号的电位；

所述参考信号输入端子连接一个所述第二开关晶体管的第一极，所述参考信号输入端子对应的信号连接线连接该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述测试信号输入端子还包括：时钟信号输入端子，用于输入时钟信号；所述时钟信号输入端子分时输入第一时钟信号和第二时钟信号，所述第一时钟信号的电位高于所述第二时钟信号的电信；

所述时钟信号输入端子分别连接一个所述第一开关晶体管的第一极和一个所述第二开关晶体管的第一极，所述时钟信号输入端子对应的信号连接线分别连接该第一开关晶体管的第二极和该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极，所述第二电源信号输入端子连接该第一开关晶体管的控制极。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述测试信号输入端子还包括：数据信号输入端子，用于输入数据信号；

所述数据信号输入端子分别连接一个所述第一开关晶体管的第一极和一个所述第二开关晶体管的第一极，所述数据信号输入端子对应的信号连接线分别连接该第一开关晶体管的第二极和该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极，所述第二电源信号输入端子连接该第一开关晶体管的控制极。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述第一电源信号输入端子输入的电源信号为正电位信号，所述第二电源信号输入端子输入的电源信号为负电位信号。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述第一开关晶体管为P型薄膜晶体管，所述第二开关晶体管为N型薄膜晶体管。

在一种可能的实现方式中，在本发明提供的上述显示面板中，所述P型薄膜晶体管为低温多晶硅薄膜晶体管，所述N型薄膜晶体管为金属氧化物薄膜晶体管。

第二方面，本发明提供一种显示装置，包括上述任一显示面板。

第三方面，本发明提供一种上述显示面板的显示检测方法，包括：

在测试阶段，采用信号发生装置向各所述测试信号输入端子输入相对应的信号，控制所述开关单元开启，以使各所述测试信号输入端子输入的测试信号传输向对应的各所述信号连接线，点亮所述显示面板；

在显示阶段，切断所述信号发生装置向各所述测试信号输入端子输入相对应的信号，控制所述开关单元关闭，以切断各所述信号连接线的信号向对应的各所述测试信号输入端子传输。

本发明有益效果如下：

本发明提供的显示面板、其显示检测方法及显示装置，包括：驱动电路，用于驱动显示面板发光；驱动电路包括多种信号线；测试信号输入端子，用于输入测试信号；开关单元，连接在驱动电路与测试信号输入端子之间；显示面板还包括：与信号线连接的信号连接线；开关单元通过信号连接线与信号线电连接；其中，开关单元包括：控制端，输入端，以及输出端；通过控制端控制输入端的信号传输到输出端；输入端连接测试信号输入端子，输出端连接信号连接线，控制端连接测试信号输入端子。通过在信号连接线与测试信号输入端子之间设置开关单元，在测试阶段，采用信号发生装置向各测试信号输入端子输入相对应的信号，控制开关单元开启，以使各测试信号输入端子输入的测试信号传输向对应的各信号连接线，点亮显示面板；在显示阶段，切断信号发生装置向各测试信号输入端子输入相对应的信号，控制开关单元关闭，以切断各信号连接线的信号向对应的各测试信号输入端子传输。由此避免在显示阶段时测试信号输入端子带电被腐蚀，进而避免对其连接的信号线造成损害。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所介绍的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的显示面板的俯视结构示意图；

图2为本发明实施例提供的开关单元的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图；

图4为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图；

图5为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图；

图6为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图；

图7为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图；

图8为本发明实施例提供的薄膜晶体管的膜层结构示意图；

图9为本发明实施例提供的显示装置的俯视结构示意图；

图10为本发明实施例提供的显示面板的显示测试方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面将结合附图和实施例对本发明做进一步说明。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本发明更全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。本发明中所描述的表达位置与方向的词，均是以附图为例进行的说明，但根据需要也可以做出改变，所做改变均包含在本发明保护范围内。本发明的附图仅用于示意相对位置关系不代表真实比例。

需要说明的是，在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广。因此本发明不受下面公开的具体实施方式的限制。说明书后续描述为实施本申请的较佳实施方式，然所述描述乃以说明本申请的一般原则为目的，并非用以限定本申请的范围。本申请的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。

下面结合附图，对本发明实施例提供的。其中，附图中各部件的厚度和形状不反映显示装置的真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

本发明实施例的第一方面，提供一种显示面板，图1为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图，如图1所示，该显示面板包括：

驱动电路DC，用于驱动显示面板发光；驱动电路包括多种信号线11；

测试信号输入端子12，用于输入测试信号；

开关单元13，连接在驱动电路DC与测试信号输入端子12之间；

信号连接线14，与信号线11连接；开关单元13通过信号连接线14与信号线11电连接。

其中，开关单元14包括：控制端c，输入端i，以及输出端o；通过控制端c控制输入端i的信号传输到输出端o；输入端i连接测试信号输入端子12，输出端o连接信号连接线14，控制端i连接测试信号输入端子12。

本发明实施例中的开关单元13，用于在测试阶段响应测试信号输入端子12向控制端c输入的信号，将测试信号输入端子12输入的测试信号传输向信号连接线14；在显示阶段切断信号连接线14的信号向测试信号输入端子12传输。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示面板可以具有显示区域AA和非显示区域VA，在显示区域AA一侧的非显示区域VA内设置有栅极驱动电路dc1；在显示区域AA内设置有阵列排列的像素单元p，每个像素单元都与对应的子驱动电路dc2电连接，栅极驱动电路dc1以及各子驱动电路dc2组成上述驱动电路DC，栅极驱动电路dc1会在行方向是通过多种信号线11连接各像素单元的子驱动电路dc2，每个子驱动电路dc2也会在列方向连接多种信号线11，通过对驱动电路中的各信号线11输入相应的信号可以驱动像素单元进行发光。在非显示区域VA内可以设置多条信号连接线14，通过对信号连接线14进行合理的布局，最终将信号连接线14引出到非显示区域VA的一侧，在非显示区域VA的同一侧还设置有若干测试信号输入端子12和绑定端子12’。输入同种信号的测试信号输入端子12和绑定端子12’可以对应相同的信号线。其中，测试信号输入端子12用于连接外部检测设备，用于在测试阶段向显示面板输入相应的测试信号，以点亮显示面板。在点亮测试结束，且测试结果符合绑定标准时，将显示芯片绑定到上述绑定端子12’上，由此，由显示芯片向显示面板输入显示信号进行图像显示。

本发明实施例提供的上述显示面板，在信号连接线14与测试信号输入端子12之间设置有开关单元13，该开关单元13可根据控制端c输入的信号决定开关单元的开启或关闭。开关单元13的控制端c输入的信号受测试信号输入端子12所输入的信号的控制，而测试信号输入端子12只有在连接外部检测设备对显示面板进行点亮测试时才会有信号输入，因此只有在测试阶段开关单元13才可以处于开启的状态，此时测试信号可以由测试信号输入端子12通过开关单元13向对应的信号连接线14传输。当测试阶段结束，没有信号向测试信号输入端子12输入，此时开关单元13的控制端处于悬空状态，因此开关单元13处于关闭状态，那么即使信号连接线14上有传输的信号，也无法通过开关单元13向测试信号输入端子12上传输，这样就可以保证测试信号输入端子12上不带电，那么也就不会发生电化学反应，避免了测试信号输入端子12带电被腐蚀的情况发生。

为了具体说明开关单元13的结构，将开关单元13部分放大，并将显示面板的显示区域AA内的部件简化，将连接信号线14以及测试信号输入端子12的数量简化进行说明。

图2为本发明实施例提供的开关单元13的结构示意图，如图2所示，本发明实施例提供的上述显示面板中，信号连接线14与测试信号输入端子12一一对应；测试信号输入端子12包括：电源信号输入端子121，用于输入电源信号。

开关单元13包括：至少一个开关晶体管131；开关晶体管131的第一极连接测试信号输入端12，第二极连接对应的信号连接线14，控制极连接电源信号输入端子12；其中，开关晶体管131的第一极连接的测试信号输入端子12输入的测试信号的电位与开关晶体管131的控制极连接的电源信号输入端子121输入的电源信号的电位不同。

开关晶体管也可以应用于显示面板的驱动电路中，因此本发明实施例中开关单元13中的开关晶体管131可以与驱动电路中的开关晶体管一起制作。开关晶体管131具有高速响应，耐压范围大等特点。在本发明实施例中，开关晶体管131可以连接在测试信号输入端子12与对应的信号连接线14之间。开关晶体管的第一极和第二极分别连接测试信号输入端子12和信号连接线14，开关晶体管的控制极连接电源信号输入端子121。在测试阶段外部检测设备会向电源信号输入端子121输入相应的电源信号，此时，开关晶体管的控制极也会被输入该电源信号，由此可以控制开关晶体管打开，使得第一极连接的测试信号输入端子12输入的信号可以向对应的信号连接线14传输。而开关晶体管131的控制极输入的信号需要与第一极输入的信号之间产生的压差大于阈值电压时才可以被打开，因此开关晶体管的第一极连接的测试信号输入端子12输入的测试信号的电位不等于开关晶体管的控制极连接的电源信号输入端子121输入的电源信号的电位。在测试结束后测试信号输入端子12不再有测试信号的输入，此时开关晶体管131的控制极处于悬空状态，开关晶体管关闭，信号连接线14上的信号不能够通过开关晶体管131传输到对应的测试信号输入端子12上，由此也就避免了测试信号输入端子带电，也就避免测试信号输入端子带电被腐蚀的现象发生。

在具体应用中，可以根据测试信号输入端子12所输入的测试信号选择合适的开关晶体管131对应连接。

图3为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图，如图3所示，在一种可实施的方式中，电源信号输入端子121可以包括：第一电源信号输入端子121H和第二电源信号输入端子121L；第一电源信号输入端子121H传输的信号的电位高于第二电源信号输入端子121L传输的信号的电位。第一电源信号输入端子121H和第二电源信号输入端子121L输入的电源信号可为显示面板中的固定电位信号。例如，在显示面板为OLED显示面板时，上述第一电源信号输入端子121H输入的电源信号可为VGH信号，第二电源信号输入端子121L输入的电源可为VGL信号。除此之外，上述电源信号输入端子也可以用于传输其它电源信号，当显示面板为液晶显示面板或其它类型的显示面板时，电源信号输入端子也可以用于传输相应面板中所需要的电源信号，在此不做限定。

开关单元13包括：第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n；第一电源信号输入端子121H连接一个第一开关晶体管131p的第一极，第一电源信号输入端子121H对应的信号连接线连接该第一开关晶体管131p的第二极，第二电源信号输入端子121L连接该第一开关晶体管131p的控制极；第二电源信号输入端子121L连接一个第二开关晶体管131n的第一极，第二电源信号输入端子121L对应的信号连接线连接该第二开关晶体管131n的第二极，第一电源信号输入端子121H连接该第二开关晶体管131n的控制极。

在本发明实施例中，上述第一开关晶体管131p可以为低电位开启、高电位关闭的开关晶体管，上述第二开关晶体管131n可以为高电位开启、低电位关闭的开关晶体管。第一开关晶体管131p处于开启状态时控制极输入低电位信号，如果需要控制极和第一极之间的压差大于阈值电压，则第一极输入的信号为高电位信号时更容易达到开启要求；同样地，第二开关晶体管131n处于开启状态时控制极输入高电位信号，如果需要控制极和第一极之间的压差大于阈值电压，则第一极输入的信号为低电位信号时更容易达到开启要求；因此在本发明实施例中，将传输高电位信号的第一电源信号输入端子121H连接第一开关晶体管131p的第一极，将传输低电位信号的第二电源信号输入端子121L连接第一开关晶体管131p的控制极，这样在测试阶段第一电源信号输入端子121H和第二电源信号输入端子121L同时输入相应的电源信号时，可以控制第一开关晶体管131p开启，以使第一电源信号输入端子121H输入的电源信号向对应的信号连接线传输。将传输低电位信号的第二电源信号输入端子121L连接第二开关晶体管131n的第一极，将传输高电位信号的第一电源信号输入端子121H连接第二开关晶体管131n的控制极，这样在测试阶段第一电源信号输入端子121H和第二电源信号输入端子121L同时输入相应的电源信号时，可以控制第二开关晶体管131n开启，以使第二电源信号输入端子121L输入的电源信号向对应的信号连接线传输。而当测试结束后，第一电源信号输入端子121H和第二电源信号输入端子121L不再有电源信号输入，第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n的控制极均处于悬空状态，第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n均关闭，此时信号连接线传输的信号无法通过第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n向第一电源信号输入端子121H和第二电源信号输入端子121L传输，由此避免第一电源信号输入端子121H和第二电源信号输入端子121L带电被腐蚀。

图4为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图，如图4所示，在一种可实施的方式中，测试信号输入端子12还包括：参考信号输入端子122，用于输入参考信号；参考信号输入端子输入122的参考信号的电位低于第一电源信号输入端子121H输入的电源信号的电位。

参考信号输入端子122连接一个第二开关晶体管131n的第一极，参考信号输入端子122对应的信号连接线连接该第二开关晶体管131n的第二极，第一电源信号输入端子121H连接该第二开关晶体管131n的控制极。

参考信号输入端子122传输的参考信号的电位低于第一电源信号输入端子121H输入的电源信号，而第二开关晶体管131n处于开启状态时控制极输入高电位信号，如果需要控制极和第一极之间的压差大于阈值电压，则第一极输入的信号为低电位信号时更容易达到开启要求，因此，对于输入低电位的参考信号输入端子122可以采用第二开关晶体管131n作为开关控制元件。将传输低电位信号的参考信号输入端子122连接第二开关晶体管131n的第一极，将传输高电位信号的第一电源信号输入端子121H连接第二开关晶体管131n的控制极，这样在测试阶段第一电源信号输入端子121H输入电源信号和参考信号输入端子122输入参考信号时，可以控制第二开关晶体管131n开启，以使参考信号输入端子122输入的参考信号向对应的信号连接线传输。而当测试结束后，第一电源信号输入端子121H和参考信号输入端子122不再有信号输入，第二开关晶体管131n的控制极处于悬空状态，第二开关晶体管131n关闭，此时信号连接线传输的信号无法通过第二开关晶体管131n向参考信号输入端子122传输，由此避免参考信号输入端子122带电被腐蚀。

图5为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图，如图5所示，在一种可实施的方式中，测试信号输入端子12还包括：时钟信号输入端子123，用于输入时钟信号；时钟信号输入端子123分时输入第一时钟信号和第二时钟信号，第一时钟信号的电位高于第二时钟信号的电信。

时钟信号输入端子123分别连接一个第一开关晶体管131p的第一极和一个第二开关晶体管131n的第一极，时钟信号输入端子123对应的信号连接线分别连接该第一开关晶体管131p的第二极和该第二开关晶体管131n的第二极，第一电源信号输入端子121H连接该第二开关晶体管131n的控制极，第二电源信号输入端子131n连接该第一开关晶体管131p的控制极。

时钟信号输入端子123分时输入的第一时钟信号和第二时钟信号，第一时钟信号可为高电位信号，第二时钟信号可为低电位信号。第一开关晶体管131p处于开启状态时控制极输入低电位信号，如果需要控制极和第一极之间的压差大于阈值电压，则第一极输入的信号为高电位信号时更容易达到开启要求；同样地，第二开关晶体管131n处于开启状态时控制极输入高电位信号，如果需要控制极和第一极之间的压差大于阈值电压，则第一极输入的信号为低电位信号时更容易达到开启要求。对于输入信号在高低电位信号之间切换的时钟信号输入端子123，可以将一个第一开关晶体管131p和一个第二开关晶体管131n并联后的元件作为时钟信号输入端子123的开关控制元件。

对于输入高电位的第一时钟信号时的时钟信号输入端子123，可以将传输高电位信号的时钟信号输入端子123连接第一开关晶体管131p的第一极，将传输低电位信号的第二电源信号输入端子121L连接第一开关晶体管131p的控制极，这样在测试阶段第二电源信号输入端子121L输入电源信号和时钟信号输入端子123输入第一时钟信号时，可以控制第一开关晶体管131p开启，以使时钟信号输入端子123输入的第一时钟信号向对应的信号连接线传输。

对于输入低电位的第二时钟信号时的时钟信号输入端子123，可以将传输低电位信号的时钟信号输入端子123连接第二开关晶体管131n的第一极，将传输高电位信号的第一电源信号输入端子121H连接第二开关晶体管131n的控制极，这样在测试阶段第一电源信号输入端子121H输入电源信号和时钟信号输入端子123输入第二时钟信号时，可以控制第二开关晶体管131n开启，以使时钟信号输入端子123输入的第二时钟信号向对应的信号连接线传输。

而当测试结束后，第一电源信号输入端子121H、第二电源信号输入端子121L和时钟信号输入端子123不再有信号输入，相并联的第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n的控制极均处于悬空状态，第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n均关闭，此时信号连接线传输的信号无法通过第一开关晶体管131p以及第二开关晶体管131n向时钟信号输入端子123传输，由此避免时钟信号输入端子123带电被腐蚀。

图6为本发明实施例提供的开关单元的另一结构示意图，如图5所示，在一种可实施的方式中，测试信号输入端子12还包括：数据信号输入端子124，用于输入数据信号，该数据信号可为控制像素单元显示不同灰阶的信号；

数据信号输入端子124分别连接一个第一开关晶体管131p的第一极和一个第二开关晶体管131n的第一极，数据信号输入端子124对应的信号连接线分别连接该第一开关晶体管131p的第二极和该第二开关晶体管131n的第二极，第一电源信号输入端子121H连接该第二开关晶体管131n的控制极，第二电源信号输入端子121L连接该第一开关晶体管131p的控制极。

由于显示面板可能采用极性翻转的方式驱动像素单元发光，因此上述数据信号可能为高电位信号，也可能为低电位信号。第一开关晶体管131p处于开启状态时控制极输入低电位信号，如果需要控制极和第一极之间的压差大于阈值电压，则第一极输入的信号为高电位信号时更容易达到开启要求；同样地，第二开关晶体管131n处于开启状态时控制极输入高电位信号，如果需要控制极和第一极之间的压差大于阈值电压，则第一极输入的信号为低电位信号时更容易达到开启要求。对于输入信号在高低电位信号之间切换的数据信号输入端子124，可以将一个第一开关晶体管131p和一个第二开关晶体管131n并联后的元件作为时钟信号输入端子123的开关控制元件。

对于输入高电位的数据信号时的数据信号输入端子124，可以将传输高电位信号的数据信号输入端子124连接第一开关晶体管131p的第一极，将传输低电位信号的第二电源信号输入端子121L连接第一开关晶体管131p的控制极，这样在测试阶段第二电源信号输入端子121L输入电源信号和数据信号输入端子124输入高电位数据信号时，可以控制第一开关晶体管131p开启，以使数据信号输入端子124输入的高电位数据信号向对应的信号连接线传输。

对于输入低电位的数据信号时的数据信号输入端子124，可以将传输低电位信号的数据信号输入端子124连接第二开关晶体管131n的第一极，将传输高电位信号的第一电源信号输入端子121H连接第二开关晶体管131n的控制极，这样在测试阶段第一电源信号输入端子121H输入电源信号和数据信号输入端子124输入低电位数据信号时，可以控制第二开关晶体管131n开启，以使数据信号输入端子124输入的低电位数据信号向对应的信号连接线传输。

而当测试结束后，第一电源信号输入端子121H、第二电源信号输入端子121L和数据信号输入端子124不再有信号输入，相并联的第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n的控制极均处于悬空状态，第一开关晶体管131p和第二开关晶体管131n均关闭，此时信号连接线传输的信号无法通过第一开关晶体管131p以及第二开关晶体管131n向数据信号输入端子124传输，由此避免数据信号输入端子124带电被腐蚀。

对于显示面板的显示测试阶段，其输入的数据信号要比显示阶段输入的数据信号简单得多，显示测试的目的是点亮显示面板，是否存在坏点，因此可以对显示面板的所有像素单元施加相同的数据信号，或者对同种颜色的子像素施加相同的数据信号即可。那么，本发明实施例提供的上述显示面板，数据信号输入端子124所连接的开关晶体管也以采用单一的开关晶体管。如图7所示，当数据信号输入端子124输入的数据信号为低电位数据信号时，可以采用第二开关晶体管131n；或者，当数据信号输入端子124输入的数据信号为高电位数据信号时，可以采用第一开关晶体管131p。

本发明实施提供的上述显示面板还可以包括输入其它信号的测试信号输入端子，根据上述各测试信号输入端子所连接的开关晶体管的规则，可以针对输入低电位信号的测试信号输入端子对应连接一个第二开关晶体管的第一极，并将该第二开关晶体管的控制极连接输入高电位的测试信号输入端子；针对输入高电位的测试信号输入端子对应连接一个第一开关晶体管的第一极，并将该第一开关晶体管的控制极连接输入低电位的测试信号输入端子。

在实际应用中，上述的第一电源信号输入端子121H输入的电源信号为正电位信号，第二电源信号输入端子121L输入的电源信号为负电位信号。例如，当显示面板为OLED显示面板时，第一电源信号输入端子121H输入的电源信号可为VGH信号，VGH信号的电压为8V～10V，第二电源信号输入端子121L输入的电源信号可为VGL信号，VGL信号的电压为-7V～-8V。相应地，参考信号输入端子122输入的参考信号的电压可为-3V，时钟信号输入端子123输入的第一时钟信号的电压可为8V，时钟信号输入端子123输入的第二时钟信号的电压可为-8V。OLED显示面板的其它信号的电压在此不再一一列举。当显示面板为液晶显示面板时，电源信号输入端子121、参考信号输入端子122、时钟信号输入端子123以及数据信号输入端子124输入的信号电位可根据液晶显示面板的驱动规则相应变化，在此不做限定。

本发明实施提供中，上述的第一开关晶体管131p可为P型薄膜晶体管，第二开关晶体管131n可为N型薄膜晶体管。P型薄膜晶体管可以在栅极(即控制极)输入低电位信号时开启，在栅极输入高电位信号时关闭；N型薄膜晶体管可以在栅极(即控制极)输入高电位信号时开启，在栅极输入低电位信号时关闭。在显示面板中采用薄膜晶体管制作驱动电压的工艺十分成熟，开关单元13中包含的各薄膜晶体管可以与显示面板在相同的制程中同时形成，由此避免增加工艺步骤。

上述的P型薄膜晶体管可采用低温多晶硅薄膜晶体管，而N型薄膜晶体管可以采用金属氧化物薄膜晶体管。薄膜晶体管的类型取决于有源层所采用的材料。本发明实施例提供的上述显示面板中，开关单元中的薄膜晶体管的类型和显示面板的驱动电路中的薄膜晶体管的类型相一致。显示面板的驱动电路可以采用混合类型的薄膜晶体管，且P型薄膜晶体管采用低温多晶硅薄膜晶体管，N型薄膜晶体管采用金属氧化物薄膜晶体管，则开关单元中的P型薄膜晶体管则采用低温多晶硅薄膜晶体管，N型薄膜晶体管则采用金属氧化物薄膜晶体管。显示面板的驱动电路也可以采用单一类型的薄膜晶体管，例如显示面板中的驱动电路中的P型薄膜晶体管及N型薄膜晶体管均采用低温多晶硅薄膜晶体管，则开关单元中的P型薄膜晶体管和N型薄膜晶体管均采用低温多晶硅薄膜晶体管。

以下仅以开关单元中采用混合类型的薄膜晶体管为例，对薄膜晶体管的膜层结构进行举例说明。图8为本发明实施例提供的薄膜晶体管的膜层结构示意图，如图8所示，显示面板可以包括：基板201，位于基板上的缓冲层202，位于缓冲层背离基板一侧的第一有源层203，第一有源层具有设定的图形；覆盖第一有源层的第一栅绝缘层204，位于第一栅绝缘层背离第一有源层一侧的第一栅极205g，第一栅极205g在第一有源层203在垂直方向上具有重叠区域；覆盖第一栅极205g的第一层间绝缘层206，位于第一层间绝缘层206背离第一栅极205g一侧的层间金属层207，层间金属层与第一栅极205g在垂直方向上具有重叠区域，该重叠区域构成电容结构；与层间金属层同时设置的第二栅极207g；覆盖层间金属层207和第二栅极207g的第二栅绝缘层208，位于第二栅绝缘层背离第二栅极207g一侧的第二有源层209；位于第二有源层209背离第二栅绝缘层208一侧的第三栅绝缘层210，位于第三栅绝缘层210背离第二有源层209一侧的第三栅极207g’，第二栅极207g和第三栅极207g’，与第二有源层209在垂直方向上均具有重叠区域，第二栅极207g和第三栅极207g’构成双栅结构；覆盖第三栅极207g’的第二层间绝缘层211；位于第二层间绝缘层211背离第三栅极207g’一侧的第三层间绝缘层212，以及位于第三层间绝缘层212背离第二层间绝缘层212一侧的平坦层214。

对于第一有源层203对应区域还包括贯穿第一栅绝缘层204、第一层间绝缘层206、第二栅绝缘层208及第二层间绝缘层211的过孔，过孔处形成有第一源极205s和第一漏极206d；第一有源层203、第一栅极205g、第一源极205s和第一漏极205d构成第一薄膜晶体管。对于第二有源层209对应区域还包括贯穿第二层间绝缘层211和第三层间绝缘层212的过孔，过孔处形成有第二源极207s和第二漏极207d；第二有源层209、第二栅极207、第三栅极207g’、第二源极207s和第二漏极207d构成第二薄膜晶体管。上述的第一薄膜晶体管可以采用低温多晶硅薄膜晶体管，第二薄膜晶体管可采用金属氧化物薄膜晶体管，例如，N型金属氧化物薄膜晶体管的有源层可以采用IGZO材料进行制作。

如图8所示，本发是实施例提供的上述显示面板可为OLED显示面板，在第三层间绝缘层212之上可以形成过孔，并且在过孔位置形成连接电极214，该连接电极214用于连接第一漏极205d和阳极215；上述阳极215形成在平坦层214之上，为OLED发光器件的阳极；在形成阳极215的图像之后，再形成用于间隔各阳极215的像素界定层216，并在像素界定层216以及阳极215上继续形成发光层、阴极等结构，其具体制作方法可参见现有技术中OLED显示面板的制作方法，在此不做赘述。

需要说明的是，本发明实施例中的测试信号输入端子可与显示面板中的金属层同时形成，且为了便于测试连接，测试信号输入端子可位于更靠近显示面板上表面的金属层中，如图8所示，本发明实施例中的测试信号输入端子可以与第二源极207s和第二漏极207d同层设置，与第二源极207s和第二漏极207d采用一次构图工艺形成。

本发明实施例的第二方面，提供一种显示装置，如图9所示，该显示装置包括上述任一显示面板100。该显示装置可以为LCD显示屏、LCD显示器、LCD电视、OLED显示屏、OLED显示器、OLED电视或电子纸等显示设备。显示也可为手机、平板电脑、智能相册等移动终端设备。由于该显示装置解决问题的原理与上述显示面板相似，因此该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施，重复之处不再赘述。

本发明实施例的第三方面，提供一种基于上述任一显示面板的显示检测方法，如图10所示，该显示检测方法包括：

S10、在测试阶段，采用信号发生装置向各测试信号输入端子输入相对应的信号，控制开关单元开启，以使各测试信号输入端子输入的测试信号传输向对应的各信号连接线，点亮显示面板；

S20、在显示阶段，切断信号发生装置向各测试信号输入端子输入相对应的信号，控制开关单元关闭，以切断各信号连接线的信号向对应的各测试信号输入端子传输。

显示面板在绑定显示芯片之前需要进行显示测试，在测试阶段需要在测试信号输入端子上连接外部的信号发生装置，该信号发生装置可以向测试信号输入端子输入显示面板正常显示时相同的信号，以驱动显示面板进行发光。由于测试信号输入端子与信号连接线之间连接有开关单元，因此当信号发生装置向各测试信号输入端子输入相对应的信号时，开关单元在控制端输入信号的控制下处于开启状态，此时信号发生装置输入的信号可以由各测试信号输入端子向对应的信号连接线传输，从而驱动显示面板进行发光，对显示面板的各像素单元的发光情况进行测试。

当显示测试结束后，且显示面板测试合格之后，可以进行显示芯片的绑定可以撤掉信号发生装置，并绑定显示芯片。此时测试信号输入端子处于悬空状态，开关单元的控制端同样处于悬空状态，开关单元关闭，那么即使在显示阶段，显示芯片输出的信号会传输到信号连接线上，由于开关单元关闭，信号连接线上的信号不能传输到测试信号输入端子上，也就避免了测试信号输入端子带电被腐蚀。

在具体实施时，开关单元可以由多个开关晶体管组成，各开关晶体管连接在测试信号输入端子及其对应的信号连接线之间。具体的连接方式可以参见本发明上述实施例的施加方式，在此不做赘述。

本发明提供的显示面板、其显示检测方法及显示装置，包括：驱动电路，用于驱动显示面板发光；驱动电路包括多种信号线；测试信号输入端子，用于输入测试信号；开关单元，连接在驱动电路与测试信号输入端子之间；显示面板还包括：与信号线连接的信号连接线；开关单元通过信号连接线与信号线电连接；其中，开关单元包括：控制端，输入端，以及输出端；通过控制端控制输入端的信号传输到输出端；输入端连接测试信号输入端子，输出端连接信号连接线，控制端连接测试信号输入端子。通过在信号连接线与测试信号输入端子之间设置开关单元，在测试阶段，采用信号发生装置向各测试信号输入端子输入相对应的信号，控制开关单元开启，以使各测试信号输入端子输入的测试信号传输向对应的各信号连接线，点亮显示面板；在显示阶段，切断信号发生装置向各测试信号输入端子输入相对应的信号，控制开关单元关闭，以切断各信号连接线的信号向对应的各测试信号输入端子传输。由此避免在显示阶段时测试信号输入端子带电被腐蚀，进而避免对其连接的信号线造成损害。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

驱动电路，用于驱动所述显示面板发光；所述驱动电路包括多种信号线；

测试信号输入端子，用于输入测试信号；

开关单元，连接在所述驱动电路与所述测试信号输入端子之间；

所述显示面板还包括：与所述信号线连接的信号连接线；所述开关单元通过所述信号连接线与所述信号线电连接；

其中，所述开关单元包括：控制端，输入端，以及输出端；通过所述控制端控制所述输入端的信号传输到所述输出端；所述输入端连接所述测试信号输入端子，所述输出端连接所述信号连接线，所述控制端连接所述测试信号输入端子；

所述开关单元，用于在测试阶段响应所述测试信号输入端子向所述控制端输入的信号，将所述测试信号输入端子输入的测试信号传输向所述信号连接线；在显示阶段切断所述信号连接线的信号向所述测试信号输入端子传输。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述信号连接线与所述测试信号输入端子一一对应；所述测试信号输入端子包括：电源信号输入端子，用于输入电源信号；

所述开关单元包括：至少一个开关晶体管；所述开关晶体管的第一极连接所述测试信号输入端，第二极连接对应的所述信号连接线，控制极连接所述电源信号输入端子；

所述开关晶体管的第一极连接的所述测试信号输入端子输入的测试信号的电位与所述开关晶体管的控制极连接的所述电源信号输入端子输入的电源信号的电位不同。

3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述电源信号输入端子包括：第一电源信号输入端子和第二电源信号输入端子；

所述第一电源信号输入端子传输的信号的电位高于所述第二电源信号输入端子传输的信号的电位；

所述开关单元包括：第一开关晶体管和第二开关晶体管；

所述第一电源信号输入端子连接一个所述第一开关晶体管的第一极，所述第一电源信号输入端子对应的信号连接线连接该第一开关晶体管的第二极，所述第二电源信号输入端子连接该第一开关晶体管的控制极；

所述第二电源信号输入端子连接一个所述第二开关晶体管的第一极，所述第二电源信号输入端子对应的信号连接线连接该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极。

4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述测试信号输入端子还包括：参考信号输入端子，用于输入参考信号；所述参考信号输入端子输入的参考信号的电位低于所述第一电源信号输入端子输入的电源信号的电位；

所述参考信号输入端子连接一个所述第二开关晶体管的第一极，所述参考信号输入端子对应的信号连接线连接该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极。

5.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述测试信号输入端子还包括：时钟信号输入端子，用于输入时钟信号；所述时钟信号输入端子分时输入第一时钟信号和第二时钟信号，所述第一时钟信号的电位高于所述第二时钟信号的电信；

所述时钟信号输入端子分别连接一个所述第一开关晶体管的第一极和一个所述第二开关晶体管的第一极，所述时钟信号输入端子对应的信号连接线分别连接该第一开关晶体管的第二极和该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极，所述第二电源信号输入端子连接该第一开关晶体管的控制极。

6.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述测试信号输入端子还包括：数据信号输入端子，用于输入数据信号；

所述数据信号输入端子分别连接一个所述第一开关晶体管的第一极和一个所述第二开关晶体管的第一极，所述数据信号输入端子对应的信号连接线分别连接该第一开关晶体管的第二极和该第二开关晶体管的第二极，所述第一电源信号输入端子连接该第二开关晶体管的控制极，所述第二电源信号输入端子连接该第一开关晶体管的控制极。

7.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述第一电源信号输入端子输入的电源信号为正电位信号，所述第二电源信号输入端子输入的电源信号为负电位信号。

8.如权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关晶体管为P型薄膜晶体管，所述第二开关晶体管为N型薄膜晶体管。

9.如权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述P型薄膜晶体管为低温多晶硅薄膜晶体管，所述N型薄膜晶体管为金属氧化物薄膜晶体管。

10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的显示面板。

11.一种如权利要求1-9任一项所述的显示面板的显示检测方法，其特征在于，包括：

在测试阶段，采用信号发生装置向各所述测试信号输入端子输入相对应的信号，控制所述开关单元开启，以使各所述测试信号输入端子输入的测试信号传输向对应的各所述信号连接线，点亮所述显示面板；

在显示阶段，切断所述信号发生装置向各所述测试信号输入端子输入相对应的信号，控制所述开关单元关闭，以切断各所述信号连接线的信号向对应的各所述测试信号输入端子传输。