CN110579660B - 一种10kV高压成套设备检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种10kV高压成套设备检测装置及检测方法，包括：工控机、主控单元、高压功率输出单元、被测10kV高压成套设备、第一反馈采样单元、第二反馈采样单元、DSP处理器和模拟信号采样单元；本发明通过第一反馈采样单元、第二反馈采样单元和模拟信号采样单元采集被测10kV高压成套设备的输入量和输出量，检测10kv成套设备的误差值和角差、比差值，在保证测试项目完整性的同时，通过引入的反馈机制，提高了测量精度。

Description

一种10kV高压成套设备检测装置及检测方法

技术领域

本发明涉及电力设备检测技术领域，具体涉及一种10kV高压成套设备检测装置及检测方法。

背景技术

随着配网自动化建设，可同时实现配电自动化以及同期线损采集功能的10kV柱上及成套设备被大量应用。该设备由10kV开关、电子式电压传感器、电子式电流传感器以及配电自动化终端组成，成套化生产、调试与安装。除实现传统的配电自动化功能外，该成套化设备还必须采集不小于0.5S级的线损电量。因此，该设备所测量的电压、电流、功率精度以及电子传感器的角差与比差等参数，都必须进行严格的检定。

现有技术中，一种方法是采用三相标准功率源，通过高压标准电能表来比对被测设备测量结果与标准表测量结果之间的误差；另一种是通过三相互感器校验装置输出二次侧电压与电流，通过标准的升压、升流器转换为一次电压与电流，将三相组合互感器二次侧角差与比差与三相标准互感器进行比对，得到试验结果；但第一种方法无法实现角差比差的检测；由于电子式传感器二次侧输出量为小模拟量信号，与组合互感器有较大差异，第二种方法中的三相标准互感器输出的结果无法用于比对电子传感器，同时其所输出的一次侧电压和电流没有反馈调节机制，无法确保一次侧电压和电流整体溯源性，测试精度较低。

因此，需要一种既可以同时测试10kv成套设备的误差值和角差、比差值，又可保证测量精度的装置及方法。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的是一种10kV高压成套设备检测装置及检测方法，本发明通过第一反馈采样单元、第二反馈采样单元和模拟信号采样单元采集被测10kV高压成套设备的输入量和输出量，检测10kv成套设备的误差值和角差、比差值，在保证测试项目完整性的同时，通过引入反馈机制，提高了测量精度。

本发明的目的是采用下述技术方案实现的：

本发明提供一种10kV高压成套设备检测装置，其改进之处在于，所述装置包括：工控机、主控单元、高压功率输出单元、被测10kV高压成套设备、第一反馈采样单元、第二反馈采样单元、DSP处理器和模拟信号采样单元；

所述工控机，用于向所述主控单元下发电压设定值和电流设定值对应的波形数据，获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值，输出该误差值以及所述主控单元反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值；

所述主控单元，用于将电压设定值和电流设定值对应的波形数据发送至高压功率输出单元，利用PID控制算法调节高压功率输出单元输出的一次侧电压和电流，并将所述DSP处理器反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值转发至所述工控机；

所述第一反馈采样单元，用于将采集的高压功率输出单元的一次侧电压和电流发送至所述主控单元；

所述第二反馈采样单元，用于将采集的高压功率输出单元的二次侧电压和电流发送至所述DSP处理器；

所述高压功率输出单元，用于根据所述电压和电流设定值控制自身输出一次侧电压和电流和一次侧电压和电流对应的二次侧电压和电流；

所述模拟信号采样单元，用于将采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流发送至所述DSP处理器；

所述DSP处理器，用于根据所述采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流和采集的高压功率输出单元的二次侧电压和电流确定被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值。

优选地，所述工控机，具体用于：

按下式获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值：

式中，E为被测10kV高压成套设备的一次侧对应的误差值电压或一次侧电流对应的误差值，X₁为被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流的幅值，X_b为电压设定值或电流设定值，x₁(t)为第t时刻采集的被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流值，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数。

优选地，所述主控单元，具体用于：

按下式调节高压功率输出单元稳定输出一次侧电压和电流：

式中，x(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流的调节值，x₁(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流，x₁(t-L)为高压功率输出单元第t-L时刻的一次侧电压或电流，K为控制增益，L为滞后时间，p为微分算子，τ为时间常数。

优选地，所述第一反馈采样单元，包括：

与所述主控单元连接的第一AD采样芯片、以及与所述第一AD采样芯片和高压功率输出单元一次侧连接的第一精密电阻阵列。

优选地，所述第二反馈采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第二AD采样芯片、以及与所述第二AD采样芯片和高压功率输出单元二次侧连接的第二精密电阻阵列。

优选地，所述高压功率输出单元，包括：

依次连接的信号发生器、数字功率放大器和升压器和升流器；

其中，所述信号发生器与所述主控单元连接；所述升压器和升流器的一次侧与所述被测10kV高压成套设备和第一反馈采样单元连接，二次侧与所述第二反馈采样单元连接。

优选地，所述模拟信号采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第三AD采样芯片、以及与所述第三AD采样芯片和10kV高压成套设备二次侧连接的模拟信号滤波电路。

优选地，所述DSP处理器，具体用于：

按下式确定所述被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值：

式中，C为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的比差值，P为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的角差值，X₂为高压功率输出单元的二次侧电压或电流的幅值，X'₂为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流的幅值，x'₂(t)为被测10kV高压成套设备第t时刻的二次侧电压和电流，x₂(t)为高压功率输出单元第t时刻的二次侧电压或电流，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数，，acos(·)为反三角函数。

基于同一发明构思，本发明还提供及一种10kV高压成套设备检测方法，其改进之处在于，所述方法包括：

S1.工控机向主控单元下发电压设定值和电流设定值对应的波形数据；

S2.主控单元将电压设定值和电流设定值对应的波形数据发送至高压功率输出单元；；

S3.第一反馈采样单元采集高压功率输出单元的一次侧电压和电流发送至主控单元；

S4.主控单元利用PID控制算法调节高压功率输出单元输出的一次侧电压和电流；

S5.第二反馈采样单元采集高压功率输出单元的二次侧电压和电流并发送至DSP处理器，模拟信号采样单元采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流并发送至所述DSP处理器；

S6.DSP处理器根据被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流和高压功率输出单元的二次侧电压和电流确定被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值，并发送至主控单元；

S7.主控单元将DSP处理器反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值转发至工控机；

S8.工控机获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值，输出该误差值以及主控单元反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值。

与最接近的现有技术相比，本发明具有的有益效果：

本发明提供的一种10kV高压成套设备检测装置及检测方法，包括：工控机、主控单元、高压功率输出单元、被测10kV高压成套设备、第一反馈采样单元、第二反馈采样单元、DSP处理器和模拟信号采样单元；本发明通过第一反馈采样单元、第二反馈采样单元和模拟信号采样单元采集被测10kV高压成套设备的输入量和输出量，检测10kv成套设备的误差值和角差、比差值，通过模拟信号采样单元采集10kV高压成套设备的电子传感器的二次侧电压和电流，并利用DSP处理器完成角差和比差的计算，实现了10kV高压成套设备角差和比差的高精度检测，在保证测试项目完整性的同时，基于第一反馈采样单元的反馈量，利用PID控制算法，确保了一次侧电压和电流的稳定，提高了测量精度。

附图说明

图1是本发明10kV高压成套设备检测装置示意图；

图2是本发明10kV高压成套设备检测方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供一种10kV高压成套设备检测装置，如图1所示，所述装置包括：工控机、主控单元、高压功率输出单元、被测10kV高压成套设备、第一反馈采样单元、第二反馈采样单元、DSP处理器和模拟信号采样单元；

所述工控机，用于向所述主控单元下发电压设定值和电流设定值对应的波形数据，获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值，输出该误差值以及所述主控单元反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值；

所述主控单元，用于将电压设定值和电流设定值对应的波形数据发送至高压功率输出单元，利用PID控制算法调节高压功率输出单元输出的一次侧电压和电流，并将所述DSP处理器反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值转发至所述工控机；

所述第一反馈采样单元，用于将采集的高压功率输出单元的一次侧电压和电流发送至所述主控单元；

所述第二反馈采样单元，用于将采集的高压功率输出单元的二次侧电压和电流发送至所述DSP处理器；

所述高压功率输出单元，用于根据所述电压和电流设定值控制自身输出一次侧电压和电流和一次侧电压和电流对应的二次侧电压和电流；

所述模拟信号采样单元，用于将采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流发送至所述DSP处理器；

所述DSP处理器，用于根据所述采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流和采集的高压功率输出单元的二次侧电压和电流确定被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值。

在本发明具体的实施例中，上述工控机，具体用于：

按下式获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值：

式中，E为被测10kV高压成套设备的一次侧对应的误差值电压或一次侧电流对应的误差值，X₁为被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流的幅值，X_b为电压和电流设定值，x₁(t)为第t时刻采集的被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流值，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数。

在本发明具体的实施例中，上述主控单元，具体用于：

按下式调节高压功率输出单元稳定输出一次侧电压和电流：

式中，x(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流的调节值，x₁(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流，x₁(t-L)为高压功率输出单元第t-L时刻的一次侧电压或电流，K为控制增益，L为滞后时间，p为微分算子，τ为时间常数。其中，主控单元将电压设定值和电流设定值对应的波形数据和高压功率输出单元的一次侧电压和电流的调节值发送给高压功率输出单元的信号发生器。

在本发明具体的实施例中，上述第一反馈采样单元，包括：

与所述主控单元连接的第一AD采样芯片、以及与所述第一AD采样芯片和高压功率输出单元一次侧连接的第一精密电阻阵列。

在本发明具体的实施例中，上述第二反馈采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第二AD采样芯片、以及与所述第二AD采样芯片和高压功率输出单元二次侧连接的第二精密电阻阵列。

在本发明具体的实施例中，上述高压功率输出单元，包括：

依次连接的信号发生器、数字功率放大器和升压器和升流器；

其中，所述信号发生器与所述主控单元连接；所述升压器和升流器的一次侧与所述被测10kV高压成套设备和第一反馈采样单元连接，二次侧与所述第二反馈采样单元连接；

具体地，信号发生器基于主控单元发来的电压设定值和电流设定值对应的波形数据生成标准电压和电流信号，经过数字功率放大器进行信号放大、升压器和升流器进行电压和电流转换后输出一次侧电压和电流；其中，信号发生器还根据高压功率输出单元的一次侧电压和电流的调节值调节生成的标准电压和电流信号，使一次侧电压和电流稳定输出。升压器和升流器带有二次抽头，按照10kv：1v和600A：1A变比输出二次侧电压和电流。

在本发明具体的实施例中，上述模拟信号采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第三AD采样芯片、以及与所述第三AD采样芯片和10kV高压成套设备二次侧连接的模拟信号滤波电路。

在本发明具体的实施例中，上述DSP处理器为400MHZ32位定点的DSP处理器，具体用于：

按下式确定所述被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值：

式中，C为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的比差值，P为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的角差值，X₂为高压功率输出单元的二次侧电压或电流的幅值，X'₂为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流的幅值，x'₂(t)为被测10kV高压成套设备第t时刻的二次侧电压或电流，x₂(t)为高压功率输出单元第t时刻的二次侧电压或电流，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数，acos(·)为反三角函数。

具体地，在本发明的实施例中，被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流为被测10kV高压成套设备中电子电压传感器和电子电流传感器的输出值。

基于同一发明构思，本发明还提供及一种10kV高压成套设备检测方法，如图2所示，所述方法包括：

S1.工控机向主控单元下发电压设定值和电流设定值对应的波形数据；

S2.主控单元将电压设定值和电流设定值对应的波形数据发送至高压功率输出单元；；

S3.第一反馈采样单元采集高压功率输出单元的一次侧电压和电流发送至主控单元；

S4.主控单元利用PID控制算法调节高压功率输出单元输出的一次侧电压和电流；

S5.第二反馈采样单元采集高压功率输出单元的二次侧电压和电流并发送至DSP处理器，模拟信号采样单元采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流并发送至所述DSP处理器；

S6.DSP处理器根据被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流和高压功率输出单元的二次侧电压和电流确定被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值，并发送至主控单元；

S7.主控单元将DSP处理器反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值转发至工控机；

S8.工控机获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值，输出该误差值以及主控单元反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值。

在本发明具体的实施例中，上述工控机按下式获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值：

式中，E为被测10kV高压成套设备的一次侧对应的误差值电压或一次侧电流对应的误差值，X₁为被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流的幅值，X_b为电压或电流设定值，x₁(t)为第t时刻采集的被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流值，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数。

在本发明具体的实施例中，上述主控单元按下式调节高压功率输出单元稳定输出一次侧电压和电流：

式中，x(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流的调节值，x₁(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流，x₁(t-L)为高压功率输出单元第t-L时刻的一次侧电压或电流，K为控制增益，L为滞后时间，p为微分算子，τ为时间常数。

在本发明具体的实施例中，上述第一反馈采样单元，包括：

与所述主控单元连接的第一AD采样芯片、以及与所述第一AD采样芯片和高压功率输出单元一次侧连接的第一精密电阻阵列。

在本发明具体的实施例中，上述第二反馈采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第二AD采样芯片、以及与所述第二AD采样芯片和高压功率输出单元二次侧连接的第二精密电阻阵列。

在本发明具体的实施例中，上述高压功率输出单元，包括：

依次连接的信号发生器、数字功率放大器和升压器和升流器；

其中，所述信号发生器与所述主控单元连接；所述升压器和升流器的一次侧与所述被测10kV高压成套设备和第一反馈采样单元连接，二次侧与所述第二反馈采样单元连接。

在本发明具体的实施例中，上述模拟信号采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第三AD采样芯片、以及与所述第三AD采样芯片和10kV高压成套设备二次侧连接的模拟信号滤波电路。

在本发明具体的实施例中，上述DSP处理器按下式确定所述被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值：

式中，C为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的比差值，P为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的角差值，X₂为高压功率输出单元的二次侧电压或电流的幅值，X'₂为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流的幅值，x'₂(t)为被测10kV高压成套设备第t时刻的二次侧电压或电流，x₂(t)为高压功率输出单元第t时刻的二次侧电压或电流，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数，acos(·)为反三角函数。

综上所述，本发明提供的一种10kV高压成套设备检测装置及检测方法，包括：工控机、主控单元、高压功率输出单元、被测10kV高压成套设备、第一反馈采样单元、第二反馈采样单元、DSP处理器和模拟信号采样单元；本发明通过第一反馈采样单元、第二反馈采样单元和模拟信号采样单元采集被测10kV高压成套设备的输入量和输出量，检测10kv成套设备的误差值和角差、比差值，通过模拟信号采样单元采集10kV高压成套设备的电子传感器的二次侧电压和电流，并利用DSP处理器完成角差和比差的计算，实现了10kV高压成套设备角差和比差的高精度检测，在保证测试项目完整性的同时，基于第一反馈采样单元的反馈量，利用PID控制算法，确保了一次侧电压和电流的稳定，提高了测量精度。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，而未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换，其均应涵盖在本发明的权利要求保护范围之内。

Claims (9)

1.一种10kV高压成套设备检测装置，其特征在于，所述装置包括：工控机、主控单元、高压功率输出单元、被测10kV高压成套设备、第一反馈采样单元、第二反馈采样单元、DSP处理器和模拟信号采样单元；

所述工控机，用于向所述主控单元下发电压设定值和电流设定值对应的波形数据，获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值，输出该误差值以及所述主控单元反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值；

所述主控单元，用于将电压设定值和电流设定值对应的波形数据发送至高压功率输出单元，利用PID控制算法调节高压功率输出单元输出的一次侧电压和电流，并将所述DSP处理器反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值转发至所述工控机；

所述第一反馈采样单元，用于将采集的高压功率输出单元的一次侧电压和电流发送至所述主控单元；

所述第二反馈采样单元，用于将采集的高压功率输出单元的二次侧电压和电流发送至所述DSP处理器；

所述高压功率输出单元，用于根据所述电压和电流设定值控制自身输出一次侧电压和电流和一次侧电压和电流对应的二次侧电压和电流；

所述模拟信号采样单元，用于将采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流发送至所述DSP处理器；

所述DSP处理器，用于根据所述采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流和采集的高压功率输出单元的二次侧电压和电流确定被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述工控机，具体用于：

按下式获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流对应的误差值：

式中，E为被测10kV高压成套设备的一次侧对应的误差值电压或一次侧电流对应的误差值，X₁为被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流的幅值，X_b为设定值或电流设定值，x₁(t)为第t时刻采集的被测10kV高压成套设备的一次侧电压或电流值，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述主控单元，具体用于：

按下式调节高压功率输出单元稳定输出一次侧电压和电流：

式中，x(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流的调节值，x₁(t)为高压功率输出单元第t时刻的一次侧电压或电流，x₁(t-L)为高压功率输出单元第t-L时刻的一次侧电压或电流，K为控制增益，L为滞后时间，p为微分算子，τ为时间常数。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一反馈采样单元，包括：

与所述主控单元连接的第一AD采样芯片、以及与所述第一AD采样芯片和高压功率输出单元一次侧连接的第一精密电阻阵列。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二反馈采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第二AD采样芯片、以及与所述第二AD采样芯片和高压功率输出单元二次侧连接的第二精密电阻阵列。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述高压功率输出单元，包括：

依次连接的信号发生器、数字功率放大器和升压器和升流器；

其中，所述信号发生器与所述主控单元连接；所述升压器和升流器的一次侧与所述被测10kV高压成套设备和第一反馈采样单元连接，二次侧与所述第二反馈采样单元连接。

7.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述模拟信号采样单元，包括：

与所述DSP处理器连接的第三AD采样芯片、以及与所述第三AD采样芯片和10kV高压成套设备二次侧连接的模拟信号滤波电路。

8.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述DSP处理器，具体用于：

按下式确定所述被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值：

式中，C为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的比差值，P为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流对应的角差值，X₂为高压功率输出单元的二次侧电压或电流的幅值，X'₂为被测10kV高压成套设备的二次侧电压或电流的幅值，x'₂(t)为被测10kV高压成套设备第t时刻的二次侧电压或电流，x₂(t)为高压功率输出单元第t时刻的二次侧电压或电流，t∈[1,N]，T为采样周期，N为采样周期中时刻总数，acos(·)为反三角函数。

9.一种如权利要求1～8任一所述检测装置的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

S1.工控机向主控单元下发电压设定值和电流设定值对应的波形数据；

S2.主控单元将电压设定值和电流设定值对应的波形数据发送至高压功率输出单元；

S3.第一反馈采样单元采集高压功率输出单元的一次侧电压和电流发送至主控单元；

S4.主控单元利用PID控制算法调节高压功率输出单元输出的一次侧电压和电流；

S5.第二反馈采样单元采集高压功率输出单元的二次侧电压和电流并发送至DSP处理器，模拟信号采样单元采集的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流并发送至所述DSP处理器；

S6.DSP处理器根据被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流和高压功率输出单元的二次侧电压和电流确定被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值，并发送至主控单元；

S7.主控单元将DSP处理器反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值转发至工控机；

S8.工控机获取被测10kV高压成套设备的一次侧电压和电流对应的误差值，输出该误差值以及主控单元反馈的被测10kV高压成套设备的二次侧电压和电流对应的比差值和角差值。