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CN109792299B - 光调制装置以及光调制装置的定时调整方法 - Google Patents

光调制装置以及光调制装置的定时调整方法 Download PDF

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CN109792299B CN201780058621.7A CN201780058621A CN109792299B CN 109792299 B CN109792299 B CN 109792299B CN 201780058621 A CN201780058621 A CN 201780058621A CN 109792299 B CN109792299 B CN 109792299B
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Abstract

以提供能够恰当地调整调制定时的技术为目的。在调整调制定时的情况下，数据生成部分别生成在数据序列中包含交替地反复有连续的多个标记与连续的多个空白的测试图案的第1测试数据信号以及第2测试数据信号来作为第1数据信号以及第2数据信号，且在相位调整部将相位差调整为0或者π之后，定时调整部根据由光强度检测器检测到的强度来调整调制定时。

Description

光调制装置以及光调制装置的定时调整方法
技术领域
本发明涉及根据多个数据序列来对光进行复用调制的光调制装置以及该光调制装置的定时调整方法。
背景技术
作为光调制装置所具备的光调制器，已知MZ(Mach－Zehnder，马赫曾德尔)型光调制器，作为由MZ型光调制器进行的调制，已知QPSK(Quadrature Phase Shift Keying，正交相移键控)及16QAM(Quadrature Amplitude modulation，正交幅度调制)等。在这些调制方式中，根据多个数据序列来对光进行复用调制。例如，将对来自激光光源的光进行2分支后的光设为Ich、Qch，在根据两个数据序列对Ich、Qch分别进行调制之后，合成使相位变动π/2后的Qch和Ich。
但是，在从生成多个数据序列的数据生成部至光调制器为止的距离、或光调制器内部的距离在多个数据序列之间不同的情况下，在调制后产生数据序列之间的定时偏离。其结果，有时由于定时偏离的原因而使信号特性劣化。
因而，提出了如下结构：在合成Ich和Qch的后级，设置作为检测合成光的强度的光强度检测部的光强度检测器，根据由光强度检测器检测到的强度来控制各数据序列的定时(例如专利文献1)。根据这样的结构，能够降低Ich的数据序列与Qch的数据序列之间的定时偏离、即I－Q间的数据序列之间的定时偏离。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2011-044906号公报
发明内容
在专利文献1的技术中认为如果在数据序列之间是比特的一个周期以内的偏离则能够无问题地进行补偿。然而，有时当在数据序列之间产生比特的一个周期以上的偏离即多比特偏离时无法补偿定时偏离，其结果，有时无法以准确的定时调制信号而信号特性会劣化。
因而，本发明是鉴于如上所述的问题点而完成的，其目的在于提供能够恰当地调整调制定时的技术。
本发明提供一种光调制装置，具备：激光光源，输出光；分支部，将从所述激光光源输出的光分割为第1光和第2光；数据生成部，生成第1数据信号以及第2数据信号；第1光调制器，根据所述第1数据信号来调制所述第1光；第2光调制器，根据所述第2数据信号来调制所述第2光；定时调整部，调整所述第1光调制器调制所述第1光的调制定时和所述第2光调制器调制所述第2光的调制定时中的至少任意一方；相位调整部，调整作为由所述第1光调制器调制后的所述第1光的第1调制光与作为由所述第2光调制器调制后的所述第2光的第2调制光之间的相位差；合成部，通过合成由所述相位调整部调整所述相位差后的所述第1调制光以及所述第2调制光，从而生成合成光；以及光强度检测器，检测所述合成光的强度，在调整所述调制定时的情况下，所述数据生成部分别生成在数据序列中包含交替地反复有连续的多个标记与连续的多个空白的测试图案的第1测试数据信号以及第2测试数据信号作为所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且在所述相位调整部将所述相位差调整为0或者π之后，所述定时调整部根据由所述光强度检测器检测到的强度来调整所述调制定时。
根据本发明，在调整调制定时的情况下，数据生成部分别生成在数据序列中包含交替地反复有连续的多个标记与连续的多个空白的测试图案的第1测试数据信号以及第2测试数据信号作为第1数据信号以及第2数据信号，且在相位调整部将相位差调整为0或者π之后，定时调整部根据由光强度检测器检测到的强度来调整调制定时。根据这样的结构，能够恰当地调整调制定时。
本发明的目的、特征、方案以及优点通过以下的详细说明和附图变得更清楚。
附图说明
图1是示出实施方式1的光调制装置的结构的框图。
图2是示出实施方式1的光调制装置的动作的流程图。
图3是示出第1关联光调制装置的动作的图。
图4是示出第1关联光调制装置的动作的图。
图5是示出实施方式1的光调制装置的动作的图。
图6是示出实施方式1的光调制装置的动作的图。
图7是示出第2关联光调制装置的动作的图。
图8是示出第2关联光调制装置的动作的图。
图9是示出实施方式2的光调制装置的动作的流程图。
图10是示出实施方式3的光调制装置的结构的框图。
图11是示出实施方式3的光调制装置的动作的流程图。
图12是示出实施方式3的光调制装置的动作的流程图。
图13是示出实施方式4的光调制装置的动作的流程图。
图14是示出实施方式4的光调制装置的动作的流程图。
图15是用于说明实施方式4的光调制装置的动作的图。
(附图标记说明)
1：激光光源；2、2a、2b：分支部；3、3a、3b：第1光调制器；4、4a、4b：第2光调制器；6、6a、6b：相位调整部；8、8a、8b：合成部；9：光强度检测器；10：数据生成部；11：定时调整部；13a：第1光调制部；13b：第2光调制部；21：主分支部；22：偏振波旋转部；23：偏振波合成部。
具体实施方式
<实施方式1>
本发明的实施方式1的光调制装置生成通过合成由多个光调制器调制后的光而得到的合成光，根据由光强度检测器检测到的合成光的强度来调整调制定时。由此，能够抑制多个数据序列之间的调制定时的偏离。
图1是示出本实施方式1的光调制装置的结构的框图。作为图1的光发送器的光调制装置具备激光光源1、偏置控制部5、相位控制部7、数据生成部10、定时调整部11、电信号放大器12以及光调制部13。光调制部13包括分支部2、第1光调制器3、第2光调制器4、相位调整部6、合成部8以及光强度检测器9。
激光光源1与分支部2之间、分支部2与第1以及第2光调制器3、4之间、第2光调制器4与相位调整部之间、第1光调制器以及相位调整部6与合成部8之间、合成部8与光强度检测器9之间分别由波导、空间或者光纤等光学地连接。另外，偏置控制部5与第1以及第2光调制器3、4之间、相位控制部7与相位调整部6之间、光强度检测器9与定时调整部11之间、数据生成部10与定时调整部11之间、定时调整部11与电信号放大器12之间、电信号放大器12与第1以及第2光调制器3、4之间分别电连接。
此外，图1的光强度检测器9配备于光调制部13的内部，但并不限于此，光强度检测器9也可以配备于光调制部13的外部。另外，光调制部13只要为具有多个调制器的结构即可，不限定于图1所示的结构。另外，数据生成部10，定时调整部11以及电信号放大器12只要为将电信号输入到多个光调制器的结构即可，不限定于图1所示的结构。
接下来，详细地说明本实施方式1的光调制装置的各结构要素。
激光光源1输出光。作为信号分支部的分支部2将从激光光源1输出的光分割为第1光和第2光。
数据生成部10生成第1数据信号以及第2数据信号。在为多值调制的情况下，数据生成部10生成分别包含数据序列的多个数据信号。
定时调整部11调整由数据生成部10生成的第1数据信号经由电信号放大器12被输入到第1光调制器3的定时。同样地，定时调整部11调整由数据生成部10生成的第2数据信号经由电信号放大器12被输入到第2光调制器4的定时。
电信号放大器12将作为电信号的第1数据信号放大，将放大后的第1数据信号输出到第1光调制器3。同样地，电信号放大器12将作为电信号的第2数据信号放大，将放大后的第2数据信号输出到第2光调制器4。
此外，数据生成部10、定时调整部11以及电信号放大器12中的至少1个的功能例如既可以利用LSI(Large Scale Integration，大规模集成)实现，也可以利用IC(IntegratedCircuit，集成电路)实现。
第1光调制器3根据第1数据信号来调制第1光，第2光调制器4根据第2数据信号来调制第2光。作为第1以及第2光调制器3、4的每一个光调制器，使用以例如磷化铟作为构成材料的MZ型光调制器。
该MZ型光调制器利用由于电场施加导致的折射率变化即电光效应来进行光调制。具体而言，在MZ型光调制器中设置有在一方的Y字型分支光波导的两个光波导与另一方的Y字型分支光波导的两个光波导之间并联地连接有配设有电极的两条光波导的干涉仪即马赫-曾德尔干涉仪。MZ型光调制器根据输入到调制电极的调制信号和施加到偏置电极的偏置电压，使两条光波导的折射率变化。然后，MZ型光调制器通过将与折射率的变化所引起的两条光波导之间的相位差相应的光强度变化施加到通过马赫-曾德尔干涉仪的光，从而调制该光。根据这样构成的MZ型光调制器，能够兼顾如低啁啾(chirp)那样的高的信号质量和高速性。
在此，在本实施方式1中，定时调整部11通过调整第1数据信号被输入到第1光调制器3的定时，能够调整作为第1光调制器3根据第1数据信号来调制第1光的定时的调制定时。同样地，定时调整部11通过调整第2数据信号被输入到第2光调制器4的定时，能够调整作为第2光调制器4根据第2数据信号来调制第2光的定时的调制定时。此外，定时调整部11也可以构成为不调整第1光调制器3的调制定时、以及第2光调制器4的调制定时这两方，而仅调整单方。
以下，将由第1光调制器3调制后的第1光称为Ich(In－phase channel，同相信道)光信号或者第1调制光Ich，将由第2光调制器4调制后的第2光称为Qch(Quadrature－phasechannel，正交相位信道)光信号或者第2调制光Qch。
相位调整部6调整作为第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位偏离量的相位差。如后所述，相位调整部6通过相位控制部7的控制，在通常时将该相位差调整为π/2，在由定时调整部11进行的调制定时的调整时将该相位差调整为0。此外，在图1的例子中，相位调整部6设置于第2光调制器4的后级，但并不限于此。例如，相位调整部6既可以设置于第1光调制器3的后级，也可以设置于第1以及第2光调制器3、4这两方的后级。
作为信号合成部的合成部8通过合成由相位调整部6调整相位差后的第1调制光Ich以及第2调制光Qch，从而生成合成光。
如以上那样的包括分支部2、第1以及第2光调制器3、4、相位调整部6以及合成部8的光调制部13为将MZ型光调制器作为Mz干涉仪而并联地连接的双并联MZ型光调制器(DP－MZM：Dual－Parallel Mach－Zehnder Modulator，还被称为I/Q调制器)。该光调制部13通过将作为实数部的Ich光信号和作为虚数部的Qch光信号以施加π/2的载波相位差的方式合波，从而生成复数光电场。
光强度检测器9检测由合成部8、进而光调制部13生成的合成光的强度。作为光强度检测器9，例如使用PD(Photodiode，光电二极管)等。在此，由光强度检测器9检测到的光的强度设为是预定时间内累积的光的强度而进行说明。
偏置控制部5控制第1以及第2光调制器3、4的偏置电压。相位控制部7控制基于相位调整部6的第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差的调整。
<动作>
接下来，说明本实施方式1的光调制装置的动作的概要。
从激光光源1输出的光由分支部2分支成第1光和第2光，第1光和第2光被输入到第1以及第2光调制器3、4。由数据生成部10生成并由电信号放大器12放大后的第1以及第2数据信号被输入到第1以及第2光调制器3、4，并且当由偏置控制部5将偏置电压施加到第1以及第2光调制器3、4时，上述第1光以及第2光由第1以及第2光调制器3、4调制。
从第2光调制器4输出的第2调制光Qch被输入到相位调整部6，从而相位相对于从第1光调制器3输出的第1调制光Ich而偏移。相位偏移量根据设定于相位控制部7的值来决定。在通常时，相位偏移量即上述相位差被调整为π/2，所以当由合成部8合成从第1光调制器3输出的第1调制光Ich、和从相位调整部6输出的第2调制光Qch时，生成QPSK调制信号的合成光。由光强度检测器9检测由合成部8生成的合成光的一部分的强度。
在此，在调整调制定时的情况下，数据生成部10分别生成在数据序列中包含交替地反复有连续的多个标记与连续的多个空白的测试图案的第1测试数据信号以及第2测试数据信号作为第1数据信号以及第2数据信号。标记对应于1比特的“1”，空白对应于1比特的“0”。此外，设为标记连续的个数与空白连续的个数相同。以下，将连续的N个标记与连续的N个空白交替地反复的测试图案的数据序列记载为“N连续反复测试数据序列”。此外，在本实施方式1中，N为2以上的整数。例如，3连续反复测试数据序列为“111000111000…”。
在调整调制定时的情况下，相位调整部6将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为0。
在进行了如以上那样的由数据生成部10进行的第1以及第2测试数据信号的生成、及由相位调整部6进行的相位差的调整之后，定时调整部11根据由光强度检测器9检测到的强度来调整调制定时。以下，以如下情况为例进行说明：第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相同的相位”且定时调整部11调整调制定时以使由光强度检测器9检测到的强度为最大。
图2是示出本实施方式1的光调制装置的动作的流程图。
首先，在步骤S1中，进行通常的通信时的调制。在本实施方式1中，在通常时，从光调制装置输出QPSK调制信号。
具体而言，数据生成部10生成在数据序列中包含应通信的数据的信号作为第1以及第2数据信号。
定时调整部11通过调整在由电信号放大器12放大第1以及第2数据信号之后输入到第1以及第2光调制器3、4的定时，从而将第1以及第2光调制器3、4的调制定时调整为任意的初始值的调制定时(I0，Q0)。此外，在以下的说明中设为调制定时(Ik，Qk)意味着从第1以及第2光调制器3、4的初始值的调制定时起使第1光调制器3的调制定时相对于第2光调制器4的调制定时提前k比特的量。另外，调制定时(I－k，Q－k)意味着从第1以及第2光调制器3、4的初始值的调制定时起使第1光调制器3的调制定时相对于第2光调制器4的调制定时延迟k比特的量。
偏置控制部5在来自电信号放大器12的电信号为无输入时，以使来自第1以及第2光调制器3、4的光输出成为最小(Null点)的方式，始终控制被施加到第1以及第2光调制器3、4的偏置电压。相位调整部6通过相位控制部7的控制将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为π/2。基于以上，从光调制装置输出QPSK调制信号。
在之后的步骤S2～步骤S10中，进行调制定时的调整。此外，恰当地进行这些步骤。
在步骤S2中，定时调整部11设为i＝0、j＝0而对变量i、j进行初始化。
在步骤S3中，数据生成部10分别生成具有N连续反复数据序列的第1测试数据信号以及第2测试数据信号作为第1数据信号以及第2数据信号。在此，设为第1测试数据信号的测试图案与第2测试数据信号的测试图案为相同的相位。在该情况下，如果N连续反复数据序列的N为3，则第1以及第2测试数据信号都为“111000111000···”。第1以及第2光调制器3、4为了进行相位调制，在数据生成部10的输出为0时，从第1以及第2光调制器3、4输出相位为0的数据，在数据生成部10的输出为1时，从第1以及第2光调制器3、4输出相位为π的数据。
在该步骤S3中，相位调整部6通过相位控制部7的控制将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为0。
在步骤S4中，定时调整部11获取调制定时(Ii，Qi)时的由光强度检测器9检测到的强度作为检测值Pi。
在步骤S5中，定时调整部11判定Pi是否为Pi－1以下。在判定为Pi为Pi－1以下的情况下，处理进入到步骤S7，在判定为Pi比Pi－1大的情况下，处理进入到步骤S6。此外，在为i＝0的情况下，处理进入到步骤S6。
在步骤S6中，定时调整部11使i递增。由此，调制定时向+方向偏移1比特。之后，处理返回到步骤S4。
在步骤S7中，定时调整部11获取调制定时(Ij，Qj)时的由光强度检测器9检测到的强度作为检测值Pj。
在步骤S8中，定时调整部11判定Pj是否为Pj－1以上。在判定为Pj为Pj－1以上的情况下，处理进入到步骤S10，在判定为Pj比Pj－1小的情况下，处理进入到步骤S9。此外，在为j＝0的情况下，处理进入到步骤S9。
在步骤S9中，定时调整部11使j递减。由此，调制定时向－方向偏移1比特。之后，处理返回到步骤S7。
在步骤S10中，定时调整部11在Pi－1为Pj以上的情况下，以成为调制定时(Ii－1，Qi－1)的方式调整第1以及第2光调制器3、4的调制定时。也就是说，定时调整部11从第1以及第2光调制器3、4的初始值的调制定时起使第1光调制器3的调制定时相对于第2光调制器4的调制定时提前(i－1)比特的量。
另一方面，在Pi－1比Pj小的情况下，定时调整部11以成为调制定时(Ij，Qj)的方式调整第1以及第2光调制器3、4的调制定时。也就是说，定时调整部11从第1以及第2光调制器3、4的初始值的调制定时起，使第1光调制器3的调制定时相对于第2光调制器4的调制定时延迟j的绝对值的比特的量即|j|比特的量。
之后，在步骤S11中，再次开始通常的通信时的调制。具体而言，数据生成部10生成在数据序列中包含应通信的数据的信号作为第1以及第2数据信号。定时调整部11维持步骤S10的调制定时的调整。相位调整部6通过相位控制部7的控制将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为π/2。基于以上，从光调制装置输出恰当地调整调制定时后的QPSK调制信号。
<实施方式1的总结>
说明不使用具有N连续反复数据序列的测试数据信号，而使用在数据序列中包含交替地反复有1个标记与1个空白的测试图案的测试数据信号的第1关联光调制装置。在图3以及图4中，作为光强度而示出了在第1关联光调制装置中由光强度检测器检测到的合成光的强度。此外，在图3中，示出了第1调制光Ich的调制定时与第2调制光Qch的调制定时未偏离的理想的状态，图4示出了第1调制光Ich的调制定时与第2调制光Qch的调制定时偏离2比特的状态。图3所示的合成光的光强度与图4所示的合成光的光强度相同，所以在第1关联光调制装置中无法检测比1比特大的调制定时的偏离。其结果，有时无法降低调制定时的偏离。
接下来，说明使用具有N连续反复数据序列的第1测试数据信号以及第2测试数据信号的本实施方式1的光调制装置。在图5以及图6中，作为光强度而示出了在本实施方式1的光调制装置中由光强度检测器9检测到的合成光的强度。此外，在图5中，示出了第1调制光Ich的调制定时与第2调制光Qch的调制定时未偏离的理想的状态，图6示出了第1调制光Ich的调制定时与第2调制光Qch的调制定时偏离2比特的状态。图5所示的合成光的光强度与图6所示的合成光的光强度不同，所以在本实施方式1的光调制装置中能够检测1比特以上的调制定时的偏离。
另外，在图5所示的理想的状态下，鉴于光强度最大，在本实施方式1的光调制装置中，以使由光强度检测器9检测到的强度成为最大的方式调整调制定时。由此，能够降低第1调制光Ich的调制定时与第2调制光Qch的调制定时的偏离。此外，在使用了具有N连续反复数据序列的测试数据信号的情况下，能够降低小于N比特的定时偏离。因此，优选在考虑了与调制定时的最大偏离对应的比特数之后，决定N的值。
在此，说明将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差不调整为0，而仍调整为π/2，使用具有N连续反复数据序列的测试数据信号的第2关联光调制装置。在图7以及图8中，作为光强度而示出了在第2关联光调制装置中由光强度检测器检测到的合成光的强度。此外，在图7中，示出了第1调制光Ich的调制定时与第2调制光Qch的调制定时未偏离的理想的状态，图8示出了第1调制光Ich的调制定时与第2调制光Qch的调制定时偏离2比特的状态。图7所示的合成光的光强度与图8所示的合成光的光强度不同，但其差比较小，所以认为有时在第2关联光调制装置中无法检测1比特以上的调制定时的偏离。
相对于此，在本实施方式1的光调制装置中，相位调整部6将上述相位差调整为0，使用具有N连续反复数据序列的测试数据信号。根据这样的结构，图5所示的合成光的光强度与图6所示的合成光的光强度之差比较大。因此，能够提高检测1比特以上的调制定时的偏离的精度。
此外，在以上的说明中，在通常时以使光调制装置生成QPSK调制信号的方式相位调整部6将上述相位差调整为π/2。但是，通常时的上述相位差并不限于π/2，也可以根据在通常时应生成的信号恰当地变更。
另外，在以上的说明中，最终的调制定时为由光强度检测器9检测到的强度极大的调制定时中的、与初始值的调制定时最接近的调制定时。但是，最终的调制定时并不限于此，也可以为能够调整的所有的调制定时中的、由光强度检测器9检测到的强度最大的调制定时。
<实施方式1的变形例1>
在实施方式1中，由数据生成部10生成的第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相同的相位”，且由相位调整部6调整后的第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差为“0”。在这样的结构中，鉴于在合成光的光强度最大的情况下调制定时的偏离小(图5以及图6)，定时调整部11以使由光强度检测器9检测到的强度成为最大的方式调整调制定时。
作为与其同样的结构，有如下结构：由数据生成部10生成的第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相反的相位”，且由相位调整部6调整后的第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差为“0”。在这样的结构中，在合成光的光强度最小的情况下，调制定时的偏离小。因而，在这样的结构中，定时调整部11也可以以使由光强度检测器9检测到的强度成为最小的方式调整调制定时。
<实施方式1的变形例2>
与变形例1同样地，在由数据生成部10生成的第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相同的相位”、且由相位调整部6调整后的第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差为“π”的情况下，定时调整部11也可以以使由光强度检测器9检测到的强度成为最小的方式调整调制定时。
<实施方式1的变形例3>
与变形例1、2同样地，在由数据生成部10生成的第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相反的相位”、且由相位调整部6调整后的第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差为“π”的情况下，定时调整部11也可以以使由光强度检测器9检测到的强度成为最大的方式调整调制定时。此外，以上的变形例在后述实施方式2以后中也能够应用。
<实施方式2>
示出本发明的实施方式2的光调制装置的结构的框图与实施方式1的框图(图1)相同。以下，关于在本实施方式2中说明的结构要素中的与实施方式1相同或者类似的结构要素，附加相同的参照附图标记，主要说明不同的结构要素。
本实施方式2的光调制装置与实施方式1同样地，生成通过合成由多个光调制器调制后的光而得到的合成光，根据由光强度检测器检测到的合成光的强度来调整调制定时。由此，能够抑制多个数据序列之间的调制定时的偏离。
在本实施方式2中，除了进行在实施方式1中说明的调整之外，还进行其它调整，从而能够进行精度更高的调制定时的调整。以下，将在实施方式1中说明的调整记载为“第1调整”，将在本实施方式2中说明的其它调整记载为“第2调整”。此外，在以下的说明中，第2调整编入于第1调整而进行，但并不限于此，也可以如在第1调整之后进行等那样与第1调整分开地进行。
在进行第2调整的情况下，数据生成部10分别生成在数据序列中包含交替地反复有1个标记与1个空白的测试图案的第3测试数据信号以及第4测试数据信号作为第1数据信号以及第2数据信号。以下，将交替地反复有1个标记与1个空白的测试图案的数据序列记载为“单一反复测试数据序列”。该单一反复测试数据序列与在实施方式1中说明的N连续反复测试数据序列中N为1的情况下的数据序列相同。
在进行第2调整的情况下，相位调整部6与实施方式1以及变形例1～3同样地，将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为0或者π。以下，以相位调整部6将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为0的情况为例而进行说明。
在进行了如以上那样的由数据生成部10进行的第1以及第2测试数据信号的生成、及由相位调整部6进行的相位差的调整之后，定时调整部11与实施方式1以及变形例1～3同样地根据由光强度检测器9检测到的强度来调整调制定时。以下，以如下情况为例而进行说明：第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相同的相位”，且以使由光强度检测器9检测到的强度成为最大的方式定时调整部11调整调制定时。
图9是示出本实施方式2的光调制装置的动作的流程图。如图9所示，本实施方式2的光调制装置的动作与对实施方式1的光调制装置的动作(图2)追加步骤S21、S22并将步骤S3变更为步骤S23后的动作相同。因而以下，主要说明步骤S21、S22，S23。
在依次进行了步骤S1以及步骤S2之后，进行步骤S23。在最初进行步骤S23的情况下，作为N连续反复测试数据序列的N，与实施方式1同样地使用2以上的整数。因此，在步骤S23之后，进行步骤S4～S10，从而与实施方式1同样地调整1比特以上的调制定时的偏离。
之后，在步骤S21中，关于N连续反复测试数据序列的N，定时调整部11判定是否N>1。在判定为N>1的情况下，处理进入到步骤S22，在判定为并非N>1的情况下，处理进入到步骤S11。
在步骤S22中，关于N连续反复测试数据序列的N，定时调整部11向数据生成部10请求以使得N＝1。之后，处理返回到步骤S2，处理进入到步骤S23。然后，在步骤S23中，数据生成部10依照步骤S22中的定时调整部11的请求，分别生成具有单一反复测试数据序列的第3以及第4测试数据信号作为第1以及第2数据信号。
由此，在步骤S4～S10中，使用第3以及第4测试数据信号来代替第1以及第2测试数据信号，所以1比特以内的调制定时的偏离被微调整。之后，按照步骤S21、S11的顺序进行处理。
根据如以上那样的本实施方式2的光调制装置，除了进行调整1比特以上的调制定时的偏离的第1调整，还进行对1比特以内的调制定时的偏离进行微调整的第2调整。由此，能够提高调整调制定时的精度。
<实施方式3>
上述实施方式1的光调制装置进行了QPSK调制。本发明的实施方式3的光调制装置进行作为偏振波复用的DP－QPSK调制。而且，本实施方式3的光调制装置能够使用1个光强度检测器9来调整X偏振波以及Y偏振波各自中的第1调制光Ich以及第2调制光Qch的调制定时的偏离。
图10是示出本发明的实施方式3的光调制装置的结构的框图。以下，关于在本实施方式3中说明的结构要素中的与实施方式1相同或者类似的结构要素，附加相同的参照附图标记，主要说明不同的结构要素。
图10的光调制部13具备第1光调制部13a和第2光调制部13b。第1光调制部13a包括在实施方式1中说明的图1的光调制部13中的除了光强度检测器9以外的结构要素。也就是说，图10的第1光调制部13a包括与图1的分支部2、第1以及第2光调制器3、4、相位调整部6以及合成部8分别相同的分支部2a、第1以及第2光调制器3a、4a、相位调整部6a以及合成部8a。
另外，第2光调制部13b包括与第1光调制部13a同样的结构要素。也就是说，第2光调制部13b包括与分支部2a、第1以及第2光调制器3a、4a、相位调整部6a以及合成部8a分别相同的分支部2b、第1以及第2光调制器3b、4b、相位调整部6b以及合成部8b。
图10的光调制部13除了具备第1以及第2光调制部13a、13b之外，还具备主分支部21、偏振波旋转部22以及偏振波合成部23。
主分支部21与分支部2a，2b之间、合成部8b与偏振波旋转部22之间、合成部8a以及偏振波旋转部22与偏振波合成部23之间、偏振波合成部23与光强度检测器9之间分别由波导、空间或者光纤等光学地连接。
接下来，主要说明本实施方式3的光调制装置的各结构要素中的与实施方式1不同的结构要素。
主分支部21将从激光光源1输出的光进行分割，输出到第1光调制部13a的分支部2a和第2光调制部13b的分支部2b。
数据生成部10针对第1光调制部13a以及第2光调制部13b分别生成第1数据信号以及第2数据信号。也就是说，数据生成部10生成分别输入到第1光调制部13a的第1以及第2光调制器3a、4a的第1数据信号以及第2数据信号，并且生成分别输入到第2光调制部13b的第1以及第2光调制器3b、4b的第1数据信号以及第2数据信号。
定时调整部11针对第1光调制部13a以及第2光调制部13b分别调整调制定时。也就是说，定时调整部11调整第1光调制部13a的第1以及第2光调制器3a、4a的调制定时，并且调整第2光调制部13b的第1以及第2光调制器3b、4b的调制定时。
电信号放大器12针对第1光调制部13a以及第2光调制部13b分别将第1以及第2数据信号放大。也就是说，电信号放大器12将输入到第1光调制部13a的第1以及第2光调制器3a、4a的第1以及第2数据信号放大，并且将输入到第2光调制部13b的第1以及第2光调制器3b、4b的第1以及第2数据信号放大。
第1光调制部13a与在实施方式1中说明的光调制部13同样地，合成作为第1光调制器3a的第1调制光Ich的第1调制光X－Ich和作为第2光调制器4a的第2调制光Qch的第2调制光X－Qch。
第2光调制部13b与在实施方式1中说明的光调制部13同样地，合成作为第1光调制器3b的第1调制光Ich的第1调制光Y－Ich和作为第2光调制器4b的第2调制光Qch的第2调制光Y－Qch。
偏振波旋转部22使由第2光调制部13b的合成部8b生成的合成光的偏振波旋转90°。偏振波合成部23通过合成由第1光调制部13a生成的X偏振波的合成光和由偏振波旋转部22使偏振波旋转后的Y偏振波的合成光，从而生成偏振波复用光。光强度检测器9检测偏振波复用光的强度。
偏置控制部5控制第1光调制部13a的第1以及第2光调制器3a、4a的偏置电压，并且控制第2光调制部13b的第1以及第2光调制器3b、4b的偏置电压。相位控制部7控制第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差的调整，并且控制第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差的调整。
<动作>
接下来，说明本实施方式3的光调制装置的动作的概要。
从激光光源1输出的光由主分支部21分支成两个光。从主分支部21输出到第1光调制部13a的一方的光被第1光调制部13a的分支部2a分支成第1光和第2光，分支而成的第1光和第2光被输入到第1以及第2光调制器3a、4a。由数据生成部10生成并由电信号放大器12放大后的第1以及第2数据信号被输入到第1以及第2光调制器3a、4a，并且当由偏置控制部5将偏置电压施加到第1以及第2光调制器3a、4a时，上述第1光以及第2光被第1以及第2光调制器3a、4a调制。从主分支部21输出到第2光调制部13b的另一方的光也同样地被第2光调制部13b的分支部2b分支成第1光和第2光，分支而成的第1光以及第2光被第1以及第2光调制器3b、4b调制。
从第2光调制器4a输出的第2调制光X－Qch被输入到相位调整部6a，从而相位相对于从第1光调制器3a输出的第1调制光X－Ich而偏移。同样地，从第2光调制器4b输出的第2调制光Y－Qch被输入到相位调整部6b，从而相位相对于从第1光调制器3b输出的第1调制光Y－Ich而偏移。相位偏移量根据相位控制部7所设定的值来决定。
由合成部8a对从第1光调制器3a输出的第1调制光X－Ich和从相位调整部6a输出的第2调制光X－Qch进行合成，由合成部8b对从第1光调制器3b输出的第1调制光Y－Ich和从相位调整部6b输出的第2调制光Y－Qch进行合成。由偏振波旋转部22对由合成部8b生成的合成光进行90°偏振波旋转。由偏振波合成部23对合成部8a的合成光和由偏振波旋转部22进行偏振波旋转后的合成部8b的合成光进行偏振波合成，生成作为DP－QPSK调制信号的偏振波复用光。然后，由光强度检测器9检测由偏振波合成部23生成的偏振波复用光的一部分的强度。
在此在本实施方式3中，第1光调制部13a以及第2光调制部13b的调制定时的调整分开进行。
首先，说明针对第1光调制部13a调整调制定时的情况。在该情况下，数据生成部10分别生成具有N连续反复测试数据序列的第1测试数据信号以及第2测试数据信号作为第1光调制部13a的第1数据信号以及第2数据信号。
第1光调制部13a的相位调整部6a与实施方式1以及变形例1～3同样地，将第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差调整为0或者π。以下，以相位调整部6a将第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差调整为0的情况为例而进行说明。
第2光调制部13b的相位调整部6b调整第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差，使由第2光调制部13b生成的合成光的强度成为最小、也就是说接近无输出的状态。具体而言，如果第1以及第2测试数据信号的测试图案为相同的相位，则相位调整部6b将第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差调整为π。如果第1以及第2测试数据信号的测试图案为相反的相位，则相位调整部6b将第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差调整为0。
在进行了如以上那样的数据生成部10的第1以及第2测试数据信号的生成及相位调整部6a、6b的调整之后，定时调整部11与实施方式1以及变形例1～3同样地，根据由光强度检测器9检测到的强度来调整第1光调制部13a的调制定时。以下，以如下情况为例进行说明：第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相同的相位”，且以使由光强度检测器9检测到的强度成为最大的方式定时调整部11调整第1光调制部13a的调制定时。此外，由第2光调制部13b生成的合成光的强度最小，所以在调整第1光调制部13a的调制定时时由光强度检测器9检测的强度实质上与由第1光调制部13a生成的合成光的强度相同。
以上，说明了针对第1光调制部13a调整调制定时的情况。在针对第2光调制部13b调整调制定时的情况下，在上述调整中，进行将第1光调制部13a的动作和第2光调制部13b的动作对调的调整。
也就是说，在针对第2光调制部13b调整调制定时的情况下，数据生成部10分别生成具有N连续反复测试数据序列的第1测试数据信号以及第2测试数据信号作为第2光调制部13b的第1数据信号以及第2数据信号。
第2光调制部13b的相位调整部6b与实施方式1以及变形例1～3同样地，将第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差调整为0或者π。以下，以相位调整部6b将第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差调整为0的情况为例进行说明。
第1光调制部13a的相位调整部6a调整第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差，使由第1光调制部13a生成的合成光的强度成为最小、也就是说接近无输出的状态。具体而言，如果第1以及第2测试数据信号的测试图案为相同的相位，则相位调整部6a将第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差调整为π。如果第1以及第2测试数据信号的测试图案为相反的相位，则相位调整部6a将第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差调整为0。
在进行了如以上那样的数据生成部10的第1以及第2测试数据信号的生成及相位调整部6a、6b的调整之后，定时调整部11与实施方式1以及变形例1～3同样地，根据由光强度检测器9检测到的强度来调整第2光调制部13b的调制定时。以下，以如下情况为例进行说明：第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相同的相位”，且以使由光强度检测器9检测到的强度成为最大的方式定时调整部11调整第2光调制部13b的调制定时。此外，由第1光调制部13a生成的合成光的强度最小，所以在调整第2光调制部13b的调制定时时由光强度检测器9检测的强度实质上与由第2光调制部13b生成的合成光的强度相同。
图11以及图12是示出本实施方式3的光调制装置的动作的流程图。此外，关于图11以及图12的流程图的步骤中的与图2的流程图的步骤对应的步骤，附加有与对图2的步骤附加的附图标记对应的附图标记。
首先，在图11的步骤S1a中，进行通常的通信时的调制。
具体而言，数据生成部10生成在数据序列中包含应通信的数据的信号作为第1以及第2光调制部13a、13b的第1以及第2数据信号。
定时调整部11将第1光调制部13a的第1以及第2光调制器3a、4a的调制定时调整为任意的初始值的调制定时(XI0，XQ0)，将第2光调制部13b的第1以及第2光调制器3b、4b的调制定时调整为任意的初始值的调制定时(YI0，YQ0)。
偏置控制部5在来自电信号放大器12的电信号为无输入时，以使来自第1光调制部13a的第1以及第2光调制器3a、4a的光输出、及来自第2光调制部13b的第1以及第2光调制器3b、4b的光输出成为最小(Null点)的方式，始终控制被施加到这些光调制器的偏置电压。相位调整部6a将第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差调整为π/2，相位调整部6b将第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差调整为π/2。基于以上，从光调制装置输出DP－QPSK调制信号。
在之后的步骤S31、步骤S2a～步骤S10a中，针对第1光调制部13a调整调制定时，在步骤S32、步骤S2b～步骤S10b中，针对第2光调制部13b调整调制定时。此外，恰当地进行这些步骤。
在步骤S31中，相位调整部6b通过相位控制部7的控制将第2光调制部13b的第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差调整为π。由此，由第2光调制部13b生成的合成光的强度为最小。
在步骤S2a～S10a中，关于第1光调制部13a进行与在实施方式1中说明的步骤S2～S10同样的动作，从而针对第1光调制部13a的第1调制光X－Ich以及第2调制光X－Qch调整调制定时。
之后，在图12的步骤S32中，相位调整部6a通过相位控制部7的控制将第1光调制部13a的第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差调整为π。由此，由第1光调制部13a生成的合成光的强度为最小。
在步骤S2b～S10b中，关于第2光调制部13b进行与在实施方式1中说明的步骤S2～S10同样的动作，从而针对第2光调制部13b的第1调制光Y－Ich以及第2调制光Y－Qch调整调制定时。
之后，在步骤S11a中，再次开始通常的通信时的调制。具体而言，数据生成部10生成在数据序列中包含应通信的数据的信号作为第1以及第2光调制部13a、13b的第1以及第2数据信号。定时调整部11维持步骤S10a、S10b的调制定时的调整。相位调整部6a将第1调制光X－Ich与第2调制光X－Qch之间的相位差调整为π/2，相位调整部6b将第1调制光Y－Ich与第2调制光Y－Qch之间的相位差调整为π/2。基于以上，从光调制装置输出恰当地调整调制定时后的DP－QPSK调制信号。
<实施方式3的总结>
根据如以上那样的本实施方式3的光调制装置，在针对第1光调制部13a调整调制定时的情况下，使由第2光调制部13b生成的合成光的强度最小，在针对第2光调制部13b调整调制定时的情况下，使由第1光调制部13a生成的合成光的强度最小。由此，关于DP－QPSK调制等偏振波复用，也能够得到与实施方式1同样的效果。
<实施方式3的变形例>
也可以关于实施方式3的第1以及第2光调制部13a、13b分别进行在实施方式2中说明的第2调整。
也就是说，在针对第1光调制部13a调整调制定时的情况下，数据生成部10分别生成具有单一反复测试数据序列的第3测试数据信号以及第4测试数据信号作为第1光调制部13a的第1数据信号以及第2数据信号。然后，第1光调制部13a的相位调整部6a将第1光调制部13a的相位差调整为0或者π，另一方面，第2光调制部13b的相位调整部6b以使由第2光调制部13b生成的合成光的强度成为最小的方式调整第2光调制部13b的相位差。
在进行了如以上那样的数据生成部10的第3以及第4测试数据信号的生成、及相位调整部6a、6b的调整之后，定时调整部11与实施方式2同样地，根据由光强度检测器9检测到的强度来调整第1光调制部13a的调制定时。
在针对第2光调制部13b调整调制定时的情况下，数据生成部10分别生成具有单一反复测试数据序列的第3测试数据信号以及第4测试数据信号作为第2光调制部13b的第1数据信号以及第2数据信号。然后，第2光调制部13b的相位调整部6b将第2光调制部13b的相位差调整为0或者π，另一方面，第1光调制部13a的相位调整部6a以使由第1光调制部13a生成的合成光的强度成为最小的方式调整第1光调制部13a的相位差。
在进行了如以上那样的数据生成部10的第3以及第4测试数据信号的生成、及相位调整部6a、6b的调整之后，定时调整部11与实施方式2同样地，根据由光强度检测器9检测到的强度来调整第2光调制部13b的调制定时。
根据如以上那样的结构，能够得到实施方式2的效果以及实施方式3的效果。
<实施方式4>
示出本发明的实施方式4的光调制装置的结构的框图与实施方式1的框图(图1)相同。以下，关于在本实施方式4中说明的结构要素中的与实施方式1相同或者类似的结构要素，附加相同的参照附图标记，主要说明不同的结构要素。
本实施方式4的光调制装置与实施方式1同样地，生成通过合成由多个光调制器调制后的光而得到的合成光，根据由光强度检测器检测到的合成光的强度来调整调制定时。由此，能够抑制多个数据序列之间的调制定时的偏离。
在本实施方式4中，除了进行在实施方式1中说明的调整，还进行其它调整，从而能够进行精度更高的调制定时的调整。以下，将在实施方式1中说明的调整记载为“第1调整”，将在本实施方式4中说明的其它调整记载为“第2调整”。
在进行第2调整的情况下，相位调整部6与实施方式1以及变形例1～3同样地，将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为0或者π。以下，以相位调整部6将第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差调整为0的情况为例进行说明。
在进行了如以上那样的由数据生成部10进行的第1以及第2测试数据信号的生成、及由相位调整部6进行的相位差的调整之后，定时调整部11与实施方式1以及变形例1～3同样地，根据由光强度检测器9检测到的强度来调整调制定时。以下，以如下情况为例进行说明：第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此为“相同的相位”，且以使由光强度检测器9检测到的强度成为最大的方式定时调整部11调整调制定时。
本实施方式4的定时调整部11求出由光强度检测器9检测到的强度为由光强度检测器9检测到的强度中的预先决定的强度的一半时的两组第1光调制器3的调制定时以及第2光调制器4的调制定时。以下，设为预先决定的强度为将由光强度检测器9检测到的最大的检测值Pmax而进行说明。但是，根据第1调制光Ich与第2调制光Qch之间的相位差、以及第1以及第2测试数据信号的测试图案彼此的相位差，预先决定的强度也可以为由光强度检测器9检测到的最小的检测值。此外，在由光强度检测器9检测到的强度为最大的检测值Pmax的一半的情况中，包括由光强度检测器9检测到的强度与最大的检测值Pmax的一半之差为预先决定的值以下的情况。
本实施方式4的定时调整部11将第1光调制器3的调制定时以及第2光调制器4的调制定时调整为两组中一方的第1光调制器3的调制定时以及第2光调制器4的调制定时与两组中另一方的第1光调制器3的调制定时以及第2光调制器4的调制定时的中间值。
图13以及图14是示出本实施方式4的光调制装置的动作的流程图。如图13以及图14所示，本实施方式4的光调制装置的动作与对实施方式1的光调制装置的动作(图2)追加步骤S41～S48后的动作相同。因而以下，主要说明步骤S41～S48。
在依次进行了作为第1调整的步骤S1～S10的处理之后，进行作为第2调整的步骤S41～S48的处理。
在步骤S41中，定时调整部11将由第1调整调整后的调制定时设为(I0，Q0)，将此时的由光强度检测器9检测到的最大的检测值设为Pmax，且对变量i、j进行初始化。
在步骤S42中，定时调整部11获取调制定时(Ii，Qi)时的由光强度检测器9检测到的强度作为检测值Pi。
在步骤S43中，定时调整部11判定|Pmax/2－Pi|≤α是否成立。此外，α为表示误差的预先决定的值，例如为相对于目标值(Pmax/2)而±1％的值。在判定为成立的情况下，处理进入到步骤S45，在判定为不成立的情况下，处理进入到步骤S44。
在步骤S44中，定时调整部11使i递增。由此，调制定时向+方向偏移1比特。之后，处理返回到步骤S42。
在步骤S45中，定时调整部11获取调制定时(Ij，Qj)时的由光强度检测器9检测到的强度作为检测值Pj。
在步骤S46中，定时调整部11判定|Pmax/2－Pj|≤α是否成立。在判定为成立的情况下，处理进入到步骤S48，在判定为不成立的情况下，处理进入到步骤S47。
在步骤S47中，定时调整部11使j递减。由此，调制定时向－方向偏移1比特。之后，处理返回到步骤S45。
在步骤S48中，定时调整部11将第1以及第2光调制器3、4的调制定时设定为在步骤S42中求出的调制定时(Ii，Qi)与在步骤S45中求出的调制定时(Ij，Qj)的中间值(Ii+Ij/2，Qi+Qj/2)。
<实施方式4的总结>
根据如以上那样的本实施方式4的光调制装置，与实施方式1同样地，进行调整1比特以上的调制定时的偏离的第1调整。然后，通过进行如以上那样的第2调整，从而能够如图15所示，对最大的检测值Pmax附近的1比特以内的调制定时的偏离进行微调整。由此，能够提高调整调制定时的精度。
此外，本发明能够在其发明的范围内，对各实施方式自由地进行组合，或者对各实施方式恰当地进行变形、省略。
详细地说明了本发明，但上述说明在所有的方案中是例示，本发明并不限定于此。理解为不脱离本发明的范围而能够设想未被例示的无数的变形例。

Claims (10)

1.一种光调制装置，具备：
激光光源，输出光；
分支部，将从所述激光光源输出的光分割为第1光和第2光；
数据生成部，生成第1数据信号以及第2数据信号；
第1光调制器，根据所述第1数据信号来调制所述第1光；
第2光调制器，根据所述第2数据信号来调制所述第2光；
定时调整部，调整所述第1光调制器调制所述第1光的调制定时和所述第2光调制器调制所述第2光的调制定时中的至少任意一方；
相位调整部，调整作为由所述第1光调制器调制后的所述第1光的第1调制光与作为由所述第2光调制器调制后的所述第2光的第2调制光之间的相位差；
合成部，通过合成由所述相位调整部调整所述相位差后的所述第1调制光以及所述第2调制光，从而生成合成光；以及
光强度检测器，检测所述合成光的强度，
在调整所述调制定时的情况下，
所述数据生成部分别生成在数据序列中包含交替地反复有连续的多个标记与连续的多个空白的测试图案的第1测试数据信号以及第2测试数据信号作为所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且
在所述相位调整部将所述相位差调整为0或者π之后，所述定时调整部根据由所述光强度检测器检测到的强度来调整所述调制定时。
2.根据权利要求1所述的光调制装置，其中，
在由所述数据生成部生成的所述第1测试数据信号以及所述第2测试数据信号的测试图案彼此为相同的相位、且由所述相位调整部调整后的所述相位差为0的情况下，所述定时调整部以使由所述光强度检测器检测到的强度成为最大的方式调整所述调制定时。
3.根据权利要求1所述的光调制装置，其中，
在由所述数据生成部生成的所述第1测试数据信号以及所述第2测试数据信号的测试图案彼此为相反的相位、且由所述相位调整部调整后的所述相位差为0的情况下，所述定时调整部以使由所述光强度检测器检测到的强度成为最小的方式调整所述调制定时。
4.根据权利要求1所述的光调制装置，其中，
在由所述数据生成部生成的所述第1测试数据信号以及所述第2测试数据信号的测试图案彼此为相同的相位、且由所述相位调整部调整后的所述相位差为π的情况下，所述定时调整部以使由所述光强度检测器检测到的强度成为最小的方式调整所述调制定时。
5.根据权利要求1所述的光调制装置，其中，
在由所述数据生成部生成的所述第1测试数据信号以及所述第2测试数据信号的测试图案彼此为相反的相位、且由所述相位调整部调整后的所述相位差为π的情况下，所述定时调整部以使由所述光强度检测器检测到的强度成为最大的方式调整所述调制定时。
6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的光调制装置，其中，
在调整所述调制定时的情况下，
所述数据生成部分别生成在数据序列中包含交替地反复有1个标记与1个空白的测试图案的第3测试数据信号以及第4测试数据信号作为所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且
在所述相位调整部将所述相位差调整为0或者π之后，所述定时调整部根据由所述光强度检测器检测到的强度来调整所述调制定时。
7.根据权利要求1所述的光调制装置，其中，还具备：
包括所述分支部、所述第1光调制器、所述第2光调制器、所述相位调整部以及所述合成部的第1光调制部和与第1光调制部同样的第2光调制部；
主分支部，将从所述激光光源输出的光进行分割，输出到所述第1光调制部的所述分支部和所述第2光调制部的所述分支部；
偏振波旋转部，使由所述第2光调制部生成的所述合成光的偏振波旋转90°；以及
偏振波合成部，通过合成由所述第1光调制部生成的所述合成光、和由所述偏振波旋转部使偏振波旋转后的所述合成光，从而生成偏振波复用光，
所述数据生成部针对所述第1光调制部以及所述第2光调制部分别生成所述第1数据信号以及所述第2数据信号，
所述定时调整部针对所述第1光调制部以及所述第2光调制部分别调整所述调制定时，
所述光强度检测器检测所述偏振波复用光的强度作为所述合成光的强度，
在针对所述第1光调制部调整所述调制定时的情况下，
使由所述第2光调制部生成的所述合成光的强度为最小，
所述数据生成部分别生成所述第1测试数据信号以及所述第2测试数据信号作为所述第1光调制部的所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且
在所述第1光调制部的所述相位调整部将所述第1光调制部的所述相位差调整为0或者π之后，所述定时调整部根据由所述光强度检测器检测到的强度来调整所述第1光调制部的所述调制定时，
在针对所述第2光调制部调整所述调制定时的情况下，
使由所述第1光调制部生成的所述合成光的强度为最小，
所述数据生成部分别生成所述第1测试数据信号以及所述第2测试数据信号作为所述第2光调制部的所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且
在所述第2光调制部的所述相位调整部将所述第2光调制部的所述相位差调整为0或者π之后，所述定时调整部根据由所述光强度检测器检测到的强度来调整所述第2光调制部的所述调制定时。
8.根据权利要求7所述的光调制装置，其中，
在针对所述第1光调制部调整所述调制定时的情况下，
使由所述第2光调制部生成的所述合成光的强度为最小，
所述数据生成部分别生成在数据序列中包含交替地反复有1个标记与1个空白的测试图案的第3测试数据信号以及第4测试数据信号作为所述第1光调制部的所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且
在所述第1光调制部的所述相位调整部将所述第1光调制部的所述相位差调整为0或者π之后，所述定时调整部根据由所述光强度检测器检测到的强度来调整所述第1光调制部的所述调制定时，
在针对所述第2光调制部调整所述调制定时的情况下，
使由所述第1光调制部生成的所述合成光的强度为最小，
所述数据生成部分别生成所述第3测试数据信号以及所述第4测试数据信号作为所述第2光调制部的所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且
在所述第2光调制部的所述相位调整部将所述第2光调制部的所述相位差调整为0或者π之后，所述定时调整部根据由所述光强度检测器检测到的强度来调整所述第2光调制部的所述调制定时。
9.根据权利要求1至5中的任意一项所述的光调制装置，其中，
所述定时调整部求出由所述光强度检测器检测到的强度为由所述光强度检测器检测到的强度中的预先决定的强度的一半时的两组所述第1光调制器的调制定时以及所述第2光调制器的调制定时，将所述第1光调制器的调制定时以及所述第2光调制器的调制定时调整为所述两组中一方的所述第1光调制器的调制定时以及所述第2光调制器的调制定时与所述两组中另一方的所述第1光调制器的调制定时以及所述第2光调制器的调制定时的中间值。
10.一种光调制装置的定时调整方法，其中，
将光分割为第1光和第2光，
生成第1数据信号以及第2数据信号，
根据生成的所述第1数据信号来调制所述第1光，
根据生成的所述第2数据信号来调制所述第2光，
调整调制所述第1光的调制定时和调制所述第2光的调制定时中的至少任意一方，
调整作为调制后的所述第1光的第1调制光与作为调制后的所述第2光的第2调制光之间的相位差，
通过合成所述相位差被调整后的所述第1调制光以及所述第2调制光，从而生成合成光，
检测所述合成光的强度，
在调整所述调制定时的情况下，
分别生成在数据序列中包含交替地反复有连续的多个标记与连续的多个空白的测试图案的第1测试数据信号以及第2测试数据信号，作为所述第1数据信号以及所述第2数据信号，且
在将所述相位差调整为0或者π之后，根据检测到的强度来调整所述调制定时。
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