CN108830914A - 基于直线测定的多平台显微测量系统 - Google Patents

Abstract

本发明基于直线测定的多平台显微测量系统，包括：图像采集模块：可从TWAIN标准显微镜设备采集图像、从DSHOW标准显微镜设备采集图像、或从SDK协议显微镜设备采集图像；与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块：以及与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块；显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量模块；测量模块指的是测量算法模块，测量算法为直线测定算法。

Description

基于直线测定的多平台显微测量系统

技术领域

本发明涉及自动化测量系统，特别涉及一种基于直线测定的多平台显微测量系统。

背景技术

通常的显微镜测量工具软件，一般是由显微镜生产厂家提供，该类工具只能连接单一类型的设备，具有严格的局限性，不具备软件的可拓展性；当需要连接使用多种设备时，必须安装另外的软件才能使用，严重浪费人力资源和降低工作效率。

因此，有必要提供一种基于直线测定的多平台显微测量系统来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于直线测定的多平台显微测量系统。

技术方案如下：

一种基于直线测定的多平台显微测量系统，包括：

图像采集模块：可从TWAIN标准显微镜设备采集图像、从DSHOW标准显微镜设备采集图像、或从SDK协议显微镜设备采集图像；

与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块：

以及与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块；

显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量模块；测量模块指的是测量算法模块，测量算法为直线测定算法。

进一步的，数据储存模块用于读取设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于读取测量记录等；用于保存设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于保存测量记录等。

进一步的，用户界面用于：可视化设备属性读取、设置界面，包括分辨率等属性；可视化画笔预设界面，包括画笔粗细、样式、颜色等；可视化快捷工具界面，包括导出图像、导出表格等；可视化测量界面，包括手动测量，划线等；显示测量结果，测定资讯界面，包括所有测量说明文字等。

进一步的，用户界面上搭载有设备设置模块。

进一步的，用户界面上搭载有画笔预设模块，画笔预设主要是对画笔类型如实线、虚线，画笔粗细如5pt、10pt，画笔字体如宋体、黑体，画笔大小等属性进行配置，用于测量时候画笔的属性预先设置。

进一步的，用户界面上搭载有快捷工具模块，快捷工具包括以下功能，启动校正、十字线设置、放大镜、DEMO测量、导出word、导出excel、导出测量结果等。

进一步的，用户界面上搭载有测定资讯模块，测定资讯表示的是N次测量信息，包括每次测量所使用颜色、测定的类型如点线测量或平行中线测定，选中每个测定结果，可以查看详细的测量数据，比如中心点坐标X和Y，以及测量曲线的长度等。

进一步的，设备设置模块用于自动连接设备，并可由用户打开属性对话框，查看设备分辨率、设备id、设备曝光率、白平衡等参数，偶尔会有部分参数读取不到的情况，则只显示正常读取到的参数；或下发参数设置，更改当前显微镜工作参数。

与现有技术相比，本发明将多个通用平台的显微镜接口集成到同一个软件，在采集到的图像基础上运用直线测量算法进行测量运算，达到支持多种平台设备显微测量运算的目的。

附图说明

图1是本发明的结构示意图之一。

图2是本发明的结构示意图之二。

具体实施方式

实施例：

请参阅图1至图2，本实施例展示一种基于直线测定的多平台显微测量系统，包括：

图像采集模块：可从TWAIN标准显微镜设备采集图像、从DSHOW标准显微镜设备采集图像、或从SDK协议显微镜设备采集图像；

与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块：

以及与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块；

显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量模块；测量模块指的是测量算法模块，测量算法为直线测定算法。

数据储存模块用于读取设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于读取测量记录等；用于保存设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于保存测量记录等。

用户界面用于：可视化设备属性读取、设置界面，包括分辨率等属性；可视化画笔预设界面，包括画笔粗细、样式、颜色等；可视化快捷工具界面，包括导出图像、导出表格等；可视化测量界面，包括手动测量，划线等；显示测量结果，测定资讯界面，包括所有测量说明文字等。

用户界面上搭载有设备设置模块。

用户界面上搭载有画笔预设模块，画笔预设主要是对画笔类型如实线、虚线，画笔粗细如5pt、10pt，画笔字体如宋体、黑体，画笔大小等属性进行配置，用于测量时候画笔的属性预先设置。

用户界面上搭载有快捷工具模块，快捷工具包括以下功能，启动校正、十字线设置、放大镜、DEMO测量、导出word、导出excel、导出测量结果等。

用户界面上搭载有测定资讯模块，测定资讯表示的是N次测量信息，包括每次测量所使用颜色、测定的类型如点线测量或平行中线测定，选中每个测定结果，可以查看详细的测量数据，比如中心点坐标X和Y，以及测量曲线的长度等。

设备设置模块用于自动连接设备，并可由用户打开属性对话框，查看设备分辨率、设备id、设备曝光率、白平衡等参数，偶尔会有部分参数读取不到的情况，则只显示正常读取到的参数；或下发参数设置，更改当前显微镜工作参数。

测量流程如下：

S1) 图像采集模块实时采集图像数据；

S2)通过用户界面模块操作选择显微镜设备进行连接，同时可通过设备设置模块查看设备属性或设置设备属性，也可通过画笔预设模块设置画笔，等进行都是测量前的准备；

S3）利用直线测定算法进行测量；

S4）通过快捷工具模块导出测量结构，或通过数据储存模块存储当前测量结构或其他参数；

S5）通过测定资讯模块查看测量结果详情。

值得注意的是，直线测定算法为本实施例的实施方式之一，其还可为：点测定、圆测定、三角测定、两线测角、两点测量、圆弧测量、点到直线测量等测量算法。

本实施例采用标准接口和私有协议SDK结合的方式，较传统的测量工具软件具有更强的兼容性，传统的测量工具只能支持单一厂家显微镜设备接入，而本发明可支持2大标准以及私有协议SDK显微镜接入。传统的测量工具软件只具备简单测量功能，而本发明不仅完成测量，且能保存测量数据，查看测量数据详情，功能更加完善。总体来说本发明兼容扩展性强、使用效率高、功能完善、能很大地提高显微镜测量工作效率。

以上所述的仅是本发明的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：包括：

图像采集模块：可从TWAIN标准显微镜设备采集图像、从DSHOW标准显微镜设备采集图像、或从SDK协议显微镜设备采集图像；

与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块：

以及与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块；

显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量模块；测量模块指的是测量算法模块，测量算法为直线测定算法。

2.根据权利要求1所述的一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：数据储存模块用于读取设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于读取测量记录等；用于保存设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于保存测量记录等。

3.根据权利要求2所述的一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：用户界面用于：可视化设备属性读取、设置界面，包括分辨率等属性；可视化画笔预设界面，包括画笔粗细、样式、颜色等；可视化快捷工具界面，包括导出图像、导出表格等；可视化测量界面，包括手动测量，划线等；显示测量结果，测定资讯界面，包括所有测量说明文字等。

4.根据权利要求3所述的一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载有设备设置模块。

5.根据权利要求4所述的一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载有画笔预设模块，画笔预设主要是对画笔类型如实线、虚线，画笔粗细如5pt、10pt，画笔字体如宋体、黑体，画笔大小等属性进行配置，用于测量时候画笔的属性预先设置。

6.根据权利要求5所述的一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载有快捷工具模块，快捷工具包括以下功能，启动校正、十字线设置、放大镜、DEMO测量、导出word、导出excel、导出测量结果等。

7.根据权利要求6所述的一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：用户界面上搭载有测定资讯模块，测定资讯表示的是N次测量信息，包括每次测量所使用颜色、测定的类型如点线测量或平行中线测定，选中每个测定结果，可以查看详细的测量数据，比如中心点坐标X和Y，以及测量曲线的长度等。

8.根据权利要求7所述的一种基于直线测定的多平台显微测量系统，其特征在于：设备设置模块用于自动连接设备，并可由用户打开属性对话框，查看设备分辨率、设备id、设备曝光率、白平衡等参数，偶尔会有部分参数读取不到的情况，则只显示正常读取到的参数；或下发参数设置，更改当前显微镜工作参数。