CN107068026A - 具检测功能的电子装置及显示装置 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种具检测功能的电子装置及显示装置。电子装置包含正常功能电路、虚设功能电路以及处理模块。正常功能电路根据运行信号进行运行。虚设功能电路根据测试信号进行运行以产生结果信号。虚设功能电路为正常功能电路的小尺寸电路。测试信号和运行信号为相同功能信号，且测试信号具有较运行信号大的电性特征。处理模块同时产生运行信号与测试信号，且累计虚设功能电路的运行时间。处理模块检测结果信号以判定虚设功能电路是否故障。于虚设功能电路故障时，处理模块根据测试信号、运行信号与运行时间计算正常功能电路的剩余使用寿命。本公开提供的具检测功能的电子装置可以自动计算电子装置的剩余使用寿命。

Description

具检测功能的电子装置及显示装置

技术领域

本发明涉及检测技术领域，具体而言，涉及一种具检测功能的电子装置及显示装置。

背景技术

随着科技日新月异，各式各样的电子装置不断推陈出新并且广泛地应用于人类的日常生活当中。举例而言，显示装置因可用以显示信息给使用者，而广泛地应用于如汽车的仪表、广告看板、移动电话、电脑等处。

现有技术中，各电子装置的正常作动，除仰赖于电力的致动外，更需要仰赖其内部的各个内部电路的控制来提供正确服务给使用者。由于各内部电路皆具有其使用寿命，当有任一内部电路的使用寿命用尽而毁损或故障时，恐将造成电子装置无法提供正确服务给使用者，甚至是服务停摆的状况，进而衍伸诸多不便。

为了避免电子装置因内部电路毁损或故障而突然造成服务异常甚至是服务停摆的状况，如何预测电子装置内部电路的剩余使用寿命以及早更换来防患于未然实为本技术领域的重要课题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种具检测功能的电子装置及显示装置，借此自动计算电子装置的剩余使用寿命，进而可先行进行预防措施。

在一实施例中，一种具检测功能的电子装置包含正常功能电路、虚设功能电路以及处理模块。正常功能电路根据运行信号进行运行。虚设功能电路根据测试信号进行运行以产生结果信号。虚设功能电路为正常功能电路的小尺寸电路。测试信号与运行信号为相同功能信号。测试信号具有较运行信号大的电性特征。处理模块同时产生运行信号与测试信号，并累计虚设功能电路的运行时间。处理模块检测结果信号以判定虚设功能电路是否故障。于虚设功能电路故障时，处理模块根据测试信号、运行信号与运行时间计算正常功能电路的剩余使用时间。

在一实施例中，一种具检测功能的显示装置包含显示面板、正常驱动电路、虚设驱动电路与处理模块。正常驱动电路根据运行信号驱动显示面板。正常驱动电路具有第一数量的驱动单元。虚设驱动电路根据测试信号运行以产生结果信号。虚设驱动电路具有第二数量的驱动单元，且第一数量大于第二数量。测试信号与运行信号为相同功能信号，且测试信号具有较运行信号大的电性特征。处理模块同时产生运行信号与测试信号，并累计虚设驱动电路的运行时间。处理模块检测结果信号以判定虚设驱动电路是否故障。于虚设驱动电路故障时，处理模块根据测试信号、运行信号与运行时间计算正常驱动电路的剩余使用寿命。

综上所述，本发明实施例的具检测功能的电子装置及显示装置，在利用运行信号驱动待预测剩余使用寿命的电路进行运行的同时，利用具有较运行信号的电性特征大的测试信号驱动额外设置的待预测剩余使用寿命的电路的小尺寸电路进行运行以产生结果信号，并且累计小尺寸电路的运行时间，借此可在根据小尺寸电路所产生的结果信号判定小尺寸电路故障时，根据测试信号、运行信号以及运行时间计算出待预测剩余使用寿命的电路的剩余使用寿命，进而可防患于未然。

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求及附图，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。

附图说明

图1为具检测功能的电子装置的一实施例的方框概要示意图。

图2为具检测功能的显示装置的一实施例的方框概要示意图。

图3为具检测功能的显示装置的一实施例的概要示意图。

图4为正常驱动电路的一实施例的概要示意图。

图5为图4中第一使能信号、第一禁能信号、扫描信号与时钟信号的一实施例的概要示意图。

图6为虚设驱动单元的一实施例的概要示意图。

图7为图6中第二使能信号、第二禁能信号、子结果信号与时钟信号的一实施例的概要示意图。

图8为储存元件的一实施例的概要示意图。

图9为储存元件的另一实施例的概要示意图。

图10为储存模块的一实施例的概要示意图。

图11为储存模块进行写入动作的一实施例的时序示意图。

图12为储存模块进行读取动作的一实施例的时序示意图。

附图标记说明：

100 电子装置 110 正常功能电路

120 虚设功能电路 130 处理模块

140 储存模块 150 基板

160 警示单元 200 显示装置

210 正常驱动电路 211-21n 驱动单元

220 虚设驱动电路 221-224 驱动单元

230 处理模块 240 储存单元

241-244 储存元件 260 警示单元

270 显示面板 271 基板

C1-C2 控制线 G1-Gn 扫描信号

L1-L5 传输线 L11-L15 传输线

L21-L25 传输线 P1 第一期间

P11 第一时隙 P12 第二时隙

P2 第二期间 P21 第三时隙

P22 第四时隙 R1、R2 电阻

S1 运行信号 S11 第一使能信号

S12 第一禁能信号 S2 测试信号

S21 第二使能信号 S22 第二禁能信号

S3 结果信号 S31-S34 子结果信号

S4 警示信号 SW1-SW4 开关模块

T1-T4 晶体管 Tt 运行时间

Vend 禁能端 Vout 输出端

Vst 使能端 CLK 时钟信号

具体实施方式

图1为具检测功能的电子装置的一实施例的方框概要示意图。请参阅图1，具检测功能的电子装置100包含正常功能电路110、虚设功能电路120以及处理模块130。处理模块130耦接正常功能电路110和虚设功能电路120。一般而言，正常功能电路110、虚设功能电路120以及处理模块130设置于电子装置100的壳体内部。

于此，虚设功能电路120是正常功能电路110的小尺寸电路，当正常功能电路110包含具有相同功能的第一数量的功能单元时，虚设功能电路120则可由和正常功能电路110具有相同功能的第二数量的功能单元所组成，且第二数量小于第一数量。即虚设功能电路120的功能单元的电路结构、运行功能和作动方式等大致上和正常功能电路110相同。因此，虚设功能电路120和正常功能电路110大致上是相同的电路。此实施例所例示的小尺寸电路，举例而言，可以是功能单元的数量较少，或是组成功能单元的电路元件尺寸(size)较小。

正常功能电路110根据运行信号S1进行运行，并且通过其运行使得电子装置100可提供相应的服务功能给使用者。虚设功能电路120根据测试信号S2运行，以产生结果信号S3给处理模块130，处理模块130，举例而言，可根据结果信号S3判断电子装置100故障或毁损与否。

于此，运行信号S1和测试信号S2为相同功能信号。其中，相同功能信号是指此二信号可用以致动同一个电路或具有相同功能的两个电路进行相似的运行。而，根据运行信号S1进行运行和根据测试信号S2进行运行所产生的功能的频率、强度等可能会受到运行信号S1和测试信号S2的电性特征的大小而有所不同。

此外，测试信号S2具有较运行信号S1大的电性特征。举例而言，测试信号S2的电性特征可为运行信号S1的倍数。在一些实施例中，运行信号S1和测试信号S2的电性特征可为其信号的频率、电位或振幅。

处理模块130可用以同时产生运行信号S1和测试信号S2，且将运行信号S1和测试信号S2分别输出至正常功能电路110和虚设功能电路120，以于驱使正常功能电路110根据运行信号S1进行运行时，驱使虚设功能电路120根据测试信号S2进行运行以产生结果信号S3。

此外，处理模块130可用以累计虚设功能电路120的运行时间Tt。其中，处理模块130所累计的运行时间Tt可以是指虚设功能电路120的总使用时间，亦即从电子装置100出厂后，每一次被使用的运行期间的总和。于此，由于正常功能电路110和虚设功能电路120是同时被驱动进行运行，故处理模块130累计虚设功能电路120所得的运行时间Tt大致上会和累计正常功能电路110所得的运行时间(即，正常功能电路110的总运行时间)相等。

在一实施例中，电子装置100还包含储存模块140，用以储存处理模块130所累计的运行时间Tt。在一些实施例中，储存模块140可为可由一个或多个储存元件实现。各储存元件可为各种形式的存储元件。举例而言，可为非挥发性存储器，例如只读存储器(ROM)或快闪存储器(Flash memory)等或挥发性存储器，例如随机存取存储器(RAM)。

处理模块130还可检测虚设功能电路120所产生的结果信号S3以判定虚设功能电路120是否出现故障或毁损。在一实施例中，处理模块130可检测结果信号S3的信号电平、信号转态时间点、信号宽度等以和预存的对应数值进行比对，进而可据此判定虚设功能电路120是否出现故障或毁损。但本发明并非以此为限，在另一实施例中，处理模块130可接收虚设功能电路120所产生的结果信号S3，并且将结果信号S3和预设信号进行比对，以确认虚设功能电路120是否可产生和预设信号大致上相同的结果信号S3。当所接收到的结果信号S3的信号电平、信号转态时间点、信号宽度等和预存的对应数值或预设信号比对的结果差异较大时，可判定虚设功能电路120出现故障或毁损。

在一实施例中，虚设功能电路120所产生的结果信号S3可包含多个子结果信号。此外，子结果信号的数量可和虚设功能电路120所包含的功能单元的数量大致上相同。

当结果信号S3并非为预期的信号实施方式时，处理模块130可判定虚设功能电路120出现故障或毁损，并且根据测试信号S2、运行信号S1和运行时间Tt计算出正常功能电路110的剩余使用寿命。

在一实施例中，处理模块130可根据测试信号S2的电性特征和运行信号S1的电性特征之间的关系以及运行时间Tt来计算正常功能电路110的剩余使用寿命。举例而言，处理模块130可先计算出测试信号S2的频率和运行信号S1的频率的比值，再将所得的比值与运行时间Tt相乘后减去运行时间Tt以得到正常功能电路110的剩余使用寿命。因此，剩余使用寿命可以下式1表示：

其中，Tr为剩余使用寿命，Tt为运行时间，f1为运行信号S1的频率，且f2为测试信号S2的频率。

举例而言，假设测试信号S2的频率和运行信号S1的频率的比值为2，表示此时虚设功能电路120此时的操作频率是正常功能电路110的两倍。当处理模块130判定虚设功能电路120正常工作时，虚设功能电路120所产生的结果信号S3的频率可为正常功能电路110根据运行信号S1所产生的输出信号的频率的两倍。反之，当处理模块130判定虚设功能电路120出现故障或毁损时，处理模块130便可通过式1得知此时正常功能电路110的剩余使用寿命大致上剩下1/2。

在一实施例中，处理模块130还可在判定虚设功能电路120出现故障或毁损后产生警示信号S4，以警示使用者对电子装置100进行相应的处理，如进行更换。

在一实施例中，电子装置100还包含警示单元160，且警示单元160耦接于处理模块130。警示单元160可根据警示信号S4发出警示信息。举例而言，警示单元160可为显示元件，如发光二极管或显示幕，于收到警示信号S4后可发出光线、闪光或显示警示信息以提示使用者。又例如，警示单元160可为音响单元，如蜂鸣器，在收到警示信号S4后可发出声响以提示使用者。再例如，警示单元160可为无线发送单元，在收到警示信号S4后可发送信息给使用者，如发送简讯至使用者的移动装置或发送邮件至使用者的电子信箱以提示使用者。

在一实施例中，电子装置100还包含一基板150，且正常功能电路110、虚设功能电路120和处理模块130可设置于基板150上。此外，储存模块140亦可设置于基板150上。

在一实施例中，正常功能电路110和虚设功能电路120是在同一制程程序中形成，以降低制程变异对正常功能电路110和虚设功能电路120的影响。举例而言，基板150可为用以形成集成电路的载板，且正常功能电路110和虚设功能电路120可通过集成电路的制程一同形成于基板150上。

在一些实施例中，电子装置100可为显示装置200、物联网装置、或其他任何具有内部电路设置于其壳体内的电子产品。

图2为能预测剩余使用寿命的显示装置的一实施例的方框概要示意图。请参阅图2，以下以显示装置200作为电子装置100的一示范例来进行说明，但本发明并非以此为限。

显示装置200包含正常驱动电路210、虚设驱动电路220、处理模块230以及显示面板270。处理模块230耦接正常驱动电路210和虚设驱动电路220，且正常驱动电路210耦接显示面板270。其中，正常驱动电路210为正常功能电路110的一示范例，虚设驱动电路220为虚设功能电路120的一示范例，且处理模块230为处理模块130的一示范例。

图3为具检测功能的显示装置的一实施例的概要示意图。请参阅图2与图3，正常驱动电路210具有第一数量的驱动单元211-21n，且虚设驱动电路220具有第二数量的驱动单元221-224。其中，n为正整数。于此，驱动单元211-21n和驱动单元221-224的电路结构、运行功能和作动方式大致上相同，且第一数量大于第二数量。换言之，虚设驱动电路220乃为正常驱动电路210的小尺寸电路。小尺寸电路，举例而言，可以是功能单元的数量较少，或是组成功能单元的电路元件尺寸(size)较小。

正常驱动电路210根据运行信号S1驱动显示面板270进行显示。虚设驱动电路220根据测试信号S2进行运行以产生结果信号S3给处理模块230进行故障或毁损与否的判定。

于此，运行信号S1和测试信号S2为相同功能信号而可分别用以致使具有相同功能的正常驱动电路210和虚设驱动电路220进行相似的运行。此外，测试信号S2具有较运行信号S1大的电性特征，以使得虚设驱动电路220的操作条件较正常驱动电路210严苛。在一些实施例中，电性特征可为频率、电位或振幅。举例而言，测试信号S2的频率可大于运行信号S1的频率，以使得虚设驱动电路220的操作频率(即，操作条件)大于正常驱动电路210的操作频率。又例如，测试信号S2的电位可大于运行信号S1的电位，以使得虚设驱动电路220的操作电位(即，操作条件)大于正常驱动电路210的操作电位。

处理模块230产生运行信号S1给正常驱动电路210，且同时产生测试信号S2给虚设驱动电路220，以于致动正常驱动电路210驱动显示面板270时可同时致动虚设驱动电路220进行运行以产生结果信号S3。

此外，处理模块230累计虚设驱动电路220的运行时间Tt。其中，虚设驱动电路220所累计的运行时间Tt是指虚设驱动电路220的总使用时间。于此，由于正常驱动电路210和虚设驱动电路220是被同时驱动，故处理模块230累计虚设驱动电路220所得的运行时间Tt大致上会和累计正常驱动电路210所得的运行时间(即，正常驱动电路210的总运行时间)相等。

处理模块230还可检测虚设驱动电路220所产生的结果信号S3以判定虚设驱动电路220是否出现故障或毁损。在一实施例中，处理模块230可检测结果信号S3的信号电平、信号转态时间点、信号宽度等以和预存的对应数值进行比对，进而可据此判定虚设驱动电路220是否出现故障或毁损。但本发明并非以此为限，在另一实施例中，处理模块230可接收虚设驱动电路220所产生的结果信号S3，并且将结果信号S3和预设信号进行比对，以确认虚设驱动电路220是否可产生和预设信号大致上相同的结果信号S3。

在一实施例中，虚设驱动电路220所产生的结果信号S3可包含多个子结果信号S31-S34。此外，子结果信号S31-S34的数量可和虚设驱动电路220所包含的驱动单元221-224的数量大致上相同。

在一实施例中，正常驱动电路210可用以产生多个扫描信号G1-Gn至显示面板270。图4为正常驱动电路的一实施例的概要示意图，图5为图4中第一使能信号、第一禁能信号、扫描信号与时钟信号的一实施例的概要示意图。请参阅图2至图5，在一实施例中，运行信号S1可包含第一使能信号S11以及第一禁能信号S12。各驱动单元211-21n按序串接，且各驱动单元211-21n可根据时钟信号CLK、第一使能信号S11和第一禁能信号S12按序产生扫描信号G1-Gn，以驱动显示面板270进行显示。

举例而言，每一驱动单元211-21n可接收时钟信号CLK。此外，驱动单元211的使能端Vst耦接第一使能信号S11，以根据时钟信号CLK和第一使能信号S11产生扫描信号G1，且驱动单元211的禁能端Vend耦接驱动单元212的输出端Vout，以根据时钟信号CLK和驱动单元212所输出的扫描信号G2而禁能。驱动单元212的使能端Vst耦接扫描信号G1，以根据时钟信号CLK和扫描信号G1产生扫描信号G2，且驱动单元212的禁能端Vend耦接驱动单元213的输出端Vout，以根据时钟信号CLK和驱动单元213所输出的扫描信号G3而禁能。以此类推至驱动单元21n。换言之，时钟信号CLK可用以同步各驱动单元211-21n，各驱动单元211-21n所产生的扫描信号G1-Gn可用以致动位于其下一级的驱动单元，且各驱动单元211-21n所产生的扫描信号G1-Gn还可用以禁能位于其前一级的驱动单元。于此，由于驱动单元211为第一级，故驱动单元211是由第一使能信号S11所致动。此外，由于驱动单元21n为最后一级，故驱动单元21n是由第一禁能信号S12禁能。

图6为虚设驱动单元的一实施例的概要示意图，且图7为图6中第二使能信号、第二禁能信号、子结果信号与时钟信号的一实施例的概要示意图。请参阅图2至图7，在一实施例中，测试信号S2可包含第二使能信号S21以及第二禁能信号S22。

驱动单元221-224按序串接，且驱动单元221-224可根据时钟信号CLK、第二使能信号S21和第二禁能信号S22按序产生子结果信号S31-S34给处理模块230进行判断。

举例而言，每一驱动单元221-214可接收时钟信号CLK。此外，驱动单元221的使能端Vst接收第二使能信号S21，以根据时钟信号CLK和第二使能信号S21产生子结果信号S31，且驱动单元221的禁能端Vend耦接驱动单元222的输出端Vout，以根据时钟信号CLK和驱动单元222所输出的子结果信号S32而禁能。驱动单元222的使能端Vst接收子结果信号S31，以根据时钟信号CLK和子结果信号S31产生子结果信号S32，且驱动单元222的禁能端Vend耦接驱动单元223的输出端Vout，以根据时钟信号CLK和驱动单元223所输出的子结果信号S33而禁能。驱动单元223的使能端Vst接收子结果信号S32，以根据时钟信号CLK和子结果信号S32产生子结果信号S33，且驱动单元223的禁能端Vend耦接驱动单元224的输出端Vout，以根据时钟信号CLK和驱动单元224所输出的子结果信号S34而禁能。驱动单元224的使能端Vst耦接子结果信号S33，以根据子结果信号S33产生子结果信号S34，且驱动单元224的禁能端Vend接收第二禁能信号S22，以根据时钟信号CLK和第二禁能信号S22而禁能。

于此，如图5与图7所示，虚设驱动电路220所采用的时钟信号CLK与正常驱动电路210所采用的时钟信号CLK大致上相同，但虚设驱动电路220所采用的第二使能信号S21的频率大于正常驱动电路210所采用的第一使能信号S11的频率，且虚设驱动电路220所采用的第二禁能信号S22的频率大于正常驱动电路210所采用的第一禁能信号S12的频率，以致使虚设驱动电路220的操作频率可大于正常驱动电路210的操作频率。在一些实施例中，除了虚设驱动电路220所采用的第二使能信号S21的频率大于正常驱动电路210所采用的第一使能信号S11的频率外，虚设驱动电路220所采用的时钟信号CLK也大于正常驱动电路210所采用的时钟信号CLK。

当子结果信号S31-S34并非为预期的信号实施方式时，例如，有任一子结果信号S31-S34的信号电平、信号转态时间点、信号宽度等和预期不同时，处理模块230便可判定虚设驱动电路220出现故障或毁损，并且根据测试信号S2、运行信号S1和运行时间Tt计算出正常驱动电路210的剩余使用寿命。

在一实施例中，处理模块230可根据测试信号S2的电性特征和运行信号S1的电性特征之间的关系以及运行时间Tt来计算正常驱动电路210的剩余使用寿命。举例而言，处理模块230可先计算出测试信号S2的频率和运行信号S1的频率的比值，再将所得的比值与运行时间Tt相乘后减去运行时间Tt以得到正常驱动电路210的剩余使用寿命。在一些实施例中，运行信号S1的频率可以是第一使能信号S11的操作频率，测试信号S2的频率可以是第二使能信号S21的操作频率。在一些实施例中，运行信号S1的频率可以是第一禁能信号S12的操作频率，测试信号S2的频率可以是第二禁能信号S22的操作频率。

举例而言，假设测试信号S2的频率和运行信号S1的频率的比值为2，表示此时虚设驱动电路220此时的操作频率是正常驱动电路210的两倍。当处理模块230判定虚设驱动电路220正常工作时，虚设驱动电路220所产生的各个子结果信号S31-S34的频率可为正常驱动电路210根据运行信号S1所产生的扫描信号G1-Gn的频率的两倍。反之，当处理模块230判定虚设驱动电路220出现故障或毁损时，处理模块230便可通过式1得知此时正常驱动电路210的剩余使用寿命大致上剩下1/2。

在一实施例中，处理模块230还可在判定虚设驱动电路220出现故障或毁损后产生警示信号S4，以警示使用者对显示装置200进行相应的处理，如进行更换以避免显示装置200的运行停摆。

在一实施例中，如图2所示，显示装置200还包含警示单元260，且警示单元260耦接于处理模块230。警示单元260可根据警示信号S4发出警示信息。举例而言，警示单元260可为显示元件，如发光二极管或显示幕，于收到警示信号S4后可发出光线或显示警示信息以提示使用者。在一些实施例中，警示单元260可以警示信号S4来实现，换言之，处理模块230可产生警示信号S4致使警示信号S4发出特定的光线、闪光或直接显示显示警示信息以提示使用者。又例如，警示单元260可为音响单元，如蜂鸣器，在收到警示信号S4后可发出声响以提示使用者。再例如，警示单元260可为无线发送单元，在收到警示信号S4后可发送信息给使用者，如发送简讯至使用者的移动装置或发送邮件至使用者的电子信箱以提示使用者。

在一实施例中，如图2所示，显示装置200还包含储存模块240，用以储存处理模块230所累计的运行时间Tt。

在一实施例中，如图3所示，显示面板270可包含基板271，且正常驱动电路210、虚设驱动电路220和处理模块230可设置于基板271上。此外，储存模块240亦可设置于基板271上。

在一些实施例中，储存模块240可为可由一个或多个储存元件241-244实现。于此，以四个储存元件241-244为例，但其数量并非以此为限。各储存元件241-244可为非挥发性存储器，例如只读存储器(ROM)或快闪存储器(Flash memory)等或挥发性存储器，例如随机存取存储器(RAM)。

在一些实施例中，各储存元件241-244可以晶体管，例如薄膜晶体管(TFT)来实现非挥发性存储器结构，以整合到显示面板270的制程中。

图8为储存元件的一实施例的概要示意图。请参阅图8，于此，以储存元件241为例来进行说明。

在一实施例中，储存元件241可包含二晶体管T1、T2，且此二晶体管T1、T2彼此串联。例如，晶体管T2的第一端耦接至晶体管T1的第二端。晶体管T1的控制端耦接其第二端，且晶体管T2的控制端耦接其第二端。此外，储存元件241还可包含二晶体管T3、T4。晶体管T3耦接于晶体管T1的控制端和其第二端之间，且晶体管T4耦接于晶体管T2的控制端和其第二端之间。例如，晶体管T3的第一端耦接于晶体管T1的控制端，且晶体管T3的控制端耦接于其第二端、晶体管T1的第二端以及晶体管T2的第一端。晶体管T4的第一端耦接于晶体管T2的控制端，且晶体管T4的控制端耦接于其第二端以及晶体管T2的第二端。

于此，晶体管T3可等校为串联于晶体管T1的控制端和其第二端之间的电阻，且晶体管T4可等校为串联于晶体管T2的控制端和其第二端之间的电阻，因此，在一些实施例中，亦可直接以电阻R1串联于晶体管T1的控制端和其第二端之间，且以电阻R2串联于晶体管T2的控制端和其第二端之间来实现，如图9所示。

一般而言，储存元件241的写入动作可通过改变晶体管T1、T2的临界电压(threshold voltage)，进而写入逻辑“0”或逻辑“1”。其中，当晶体管T1的临界电压大于晶体管T2的临界电压时，可于储存元件241中写入逻辑“0”，而当晶体管T1的临界电压小于晶体管T2的临界电压时，则可于储存元件241中写入逻辑“1”。此外，储存元件241的写入动作可分成两个步骤，并且依据写入的数值为逻辑“0”或逻辑“1”而不同。

在一实施例中，储存元件241还包含五条传输线L1-L5。请参阅图8，传输线L1耦接于晶体管T1的第一端。传输线L2耦接于晶体管T1的控制端与晶体管T3的第一端。传输线L3耦接于晶体管T1的第二端、晶体管T2的第一端以及晶体管T3的第二端与控制端。传输线L4耦接于晶体管T2的控制端与晶体管T4的第一端。传输线L5耦接于晶体管T2的第二端、晶体管T4的第二端与控制端。

当处理模块230所欲写入的数值为逻辑“0”时，首先，处理模块230可通过施加低电位于晶体管T1的第一端、晶体管T1的第二端、薄膜晶体管T2的控制端以及晶体管T2的第二端，并且施加高电位于晶体管T1的控制端，以使得晶体管T1的临界电压变大。之后，通过施加高电位于晶体管T1的第一端、晶体管T1的控制端、晶体管T1的第二端以及晶体管T2的第二端，并且施加低电位于晶体管T2的控制端，以使得晶体管T2的临界电压变小，进而完成逻辑“0”的写入。换言之，处理模块230是先经由传输线L2输出高电位，且经由其余传输线L1、L3-L5输出低电位。之后，处理模块230再经由传输线L4输出低电位，且经由其余传输线L1-L3、L5输出高电位，以完成逻辑“0”的写入。

当处理模块230所欲写入的数值为逻辑“1”时，首先，处理模块230可通过施加高电位于晶体管T1的第一端、晶体管T1的第二端、晶体管T2的控制端以及晶体管T2的第二端，并且施加低电位于晶体管T1的控制端，以使得晶体管T1的临界电压变小。之后，通过施加低电位于晶体管T1的第一端、晶体管T1的控制端、晶体管T1的第二端以及晶体管T2的第二端，并且施加高电位于晶体管T2的控制端，以使得晶体管T2的临界电压变大，进而完成逻辑“1”的写入。换言之，处理模块230是先经由传输线L2输出低电位，且经由其余传输线L1、L3-L5输出高电位。之后，处理模块230再经由传输线L4输出高电位，且经由其余传输线L1-L3、L5输出低电位，以完成逻辑“1”的写入。

此外，储存元件241的读取动作可通过施加高电位于晶体管T1的第一端、施加低电位于晶体管T2的第二端，且使得晶体管T1的栅极电压Vgs1(即，栅极和源极之间的电压差)和晶体管T2的栅极电压Vgs2为0伏特(V)，并且通过读取晶体管T1的第二端的电位或晶体管T2的第一端的电位(即，读取晶体管T1和晶体管T2相接处的电位)来取得储存元件241所储的数值。因此，在一实施例中，处理模块230可经由传输线L1输出高电位，并经由传输线L5输出低电位，且经由传输线L3读取出储存元件241所储的数值。其中，处理模块230并不经由传输线L2、L4输出任何信号。换言之，在储存元件241的进行数值读取时，传输线L3是作为读取线使用。

在一些实施例中，高电位可为15伏特，且低电位为-15伏特，但本发明并非仅限于此。

图10为储存模块的一实施例的概要示意图。请参阅图10，各储存元件241-244可排列成矩阵。举例而言，储存元件241、242位于同一横列，且储存元件243、244位于同一横列，如图10所示。于此，排列于同一直行的储存元件可共用同一组传输线。例如，储存元件241、243可共用传输线L11-L15，且储存元件242、242可共用传输线L22-L25，如图10所示。

储存模块240还包含多个开关单元SW1-SW4与多个控制线C1、C2。其中，开关单元SW1-SW4的数量可对应于储存元件241-244的数量。在一实施例中，控制线C1、C2的数量可对应于储存元件241-244所排列出的矩阵的横列数量，且位于同一横列的储存元件241-244可经由对应的开关单元SW1-SW4耦接至控制线C1、C2。

举例而言，储存元件241可耦接于开关模块SW1，且开关模块SW1耦接至控制线C1；储存元件242可耦接于开关模块SW2，且开关模块SW2耦接至控制线C1。储存元件243可耦接于开关模块SW3，且开关模块SW3耦接至控制线C2；储存元件244可耦接于开关模块SW4，且开关模块SW4耦接至控制线C2。因此，控制线C1、C2可用以供处理模块230选择所欲驱动的横列为何者。在一些实施例中，控制线C1、C2是用以接收来自虚设驱动电路220所产生的子结果信号。

图11为储存模块进行写入动作的一实施例的时序示意图。请参阅图10与图11，在第一期间P1中，处理模块230可经由控制线C1输出高电位，以致动位于第一横列的储存元件241、242进行写入动作。并且，在第二期间P2中，处理模块230改经由控制线C2输出高电位，以致动位于第二横列的储存元件243、244进行写入动作。其中，第一期间P1包含第一时隙P11与第二时隙P12，且第二期间P2包含第三时隙P21与第四时隙P22。

在第一期间P1的第一时隙P11中，处理模块230可经由传输线L11、L13-L15、L22输出高电位，且经由传输线L12、L21、L23-L25输出低电位。继续，在第一期间P1的第二时隙P12中，处理模块230可经由传输线L14、L21-L23、L25输出高电位，且经由传输线L11-L13、L15、L24输出低电位，以完成在储存元件241、242中分别写入逻辑“1”、逻辑“0”的写入动作。

在第二期间P2的第三时隙P21中，处理模块230可经由传输线L11、L13-L15、L22输出低电位，且经由传输线L12、L21、L23-L25输出高电位。继续，在第二期间P2的第四时隙P22中，处理模块230可经由传输线L14、L21-L23、L25输出低电位，且经由传输线L11-L13、L15、L24输出高电位，以完成在储存元件243、244中分别写入逻辑“0”、逻辑“1”的写入动作。

图12为储存模块进行读取动作的一实施例的时序示意图。请参阅图10与图12，在第一期间P1中，处理模块230可经由控制线C1输出高电位，以致动位于第一横列的储存元件241、242进行读取动作。并且，在第二期间P2中，处理模块230可经由控制线C2输出高电位，以致动位于第二横列的储存元件243、244进行读取动作。

在第一期间P1中，处理模块230可经由传输线L11、L21输出高电位，并经由传输线L15、L25输出低电位，且经由传输线L13、L23分别读取出储存于储存元件241、242的数值。于此，处理模块230在第一期间P1中可经由传输线L13读取到逻辑“1”，且经由传输线L23读取到逻辑“0”，如图12所示。其中，传输线L12、L14、L22、L24因可不输出信号，故不示出。

在第二期间P2中，处理模块230同样可经由传输线L11、L21输出高电位，并经由传输线L15、L25输出低电位，且经由传输线L13、L23分别读取出储存于储存元件243、244的数值。于此，处理模块230可经由传输线L13读取到逻辑“0”，且经由传输线L23读取到逻辑“1”，如图12所示。其中，传输线L12、L14、L22、L24因可不输出信号，故不示出。

综上所述，本发明实施例的能预测剩余使用寿命的电子装置及显示装置，在利用运行信号驱动待预测剩余使用寿命的电路进行运行的同时，利用具有较运行信号的电性特征大的测试信号驱动额外设置的待预测剩余使用寿命的电路的小尺寸电路进行运行以产生结果信号，并且累计小尺寸电路的运行时间，借此可在根据小尺寸电路所产生的结果信号判定小尺寸电路故障时，根据测试信号、运行信号以及运行时间计算出待预测剩余使用寿命的电路的剩余使用寿命，进而可防患于未然。

虽然本发明的技术内容已经以优选实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的构思所作些许的变动与润饰，皆应涵盖于本发明的范围内，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims (10)

1.一种具检测功能的电子装置，包含：

一正常功能电路，根据一运行信号进行运行；

一虚设功能电路，根据一测试信号进行运行以产生一结果信号，其中该虚设功能电路为该正常功能电路的小尺寸电路，该测试信号与该运行信号为相同功能信号，且该测试信号具有较该运行信号大的电性特征；及

一处理模块，同时产生该运行信号与该测试信号，累计该虚设功能电路的运行时间，检测该结果信号以判定该虚设功能电路是否故障，并且于该虚设功能电路故障时，根据该测试信号、该运行信号与该运行时间计算该正常功能电路的剩余使用寿命。

2.如权利要求1所述的具检测功能的电子装置，其中该电性特征为频率、电位或振幅。

3.如权利要求2所述的具检测功能的电子装置，其中该电性特征为频率时，该处理模块是将该测试信号的频率和该运行信号的频率的比值与该运行时间相乘后再减去该运行时间来得到该剩余使用寿命。

4.如权利要求1所述的具检测功能的电子装置，还包含一储存模块，用以储存该运行时间。

5.如权利要求1所述的具检测功能的电子装置，还包含一基板，该正常功能电路、该虚设功能电路与该处理模块设置于该基板上。

6.如权利要求1所述的具检测功能的电子装置，其中该正常功能电路与该虚设功能电路是于同一制程程序形成。

7.如权利要求1所述的具检测功能的电子装置，其中该处理模块更于该虚设功能电路故障时产生一警示信号。

8.一种具检测功能的显示装置，包含：

一显示面板；

一正常驱动电路，根据一运行信号驱动该显示面板，该正常驱动电路具有第一数量的驱动单元；

一虚设驱动电路，根据一测试信号进行运行以产生一结果信号，该虚设驱动电路具有第二数量的该驱动单元；其中该第一数量大于该第二数量，该测试信号与该运行信号为相同功能信号，且该测试信号具有较该运行信号大的电性特征；及

一处理模块，同时产生该运行信号与该测试信号，累计该虚设驱动电路的运行时间，检测该结果信号以判定该虚设驱动电路是否故障，并且于该虚设驱动电路故障时，根据该测试信号、该运行信号与该运行时间计算该正常驱动电路的剩余使用寿命。

9.如权利要求8所述的具检测功能的显示装置，其中该电性特征为频率、电位、振幅或其组合。

10.如权利要求9所述的具检测功能的显示装置，其中该电性特征为频率时，该处理模块是将该测试信号的频率和该运行信号的频率的比值与该运行时间相乘后再减去该运行时间来得到该剩余使用寿命。