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CN104991388A - 显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法 - Google Patents

显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法 Download PDF

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CN104991388A CN201510423534.XA CN201510423534A CN104991388A CN 104991388 A CN104991388 A CN 104991388A CN 201510423534 A CN201510423534 A CN 201510423534A CN 104991388 A CN104991388 A CN 104991388A
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Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
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Abstract

本发明涉及一种显示面板、液晶显示装置及其测试方法。本发明的显示面板包括：显示区和GOA电路区，其特征在于，所述GOA电路区包括：设置于TFT基板的多个GOA单元；以及设置于所述CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域，所述显示面板进一步包括：与所述电容结构电连接的信号线；以及通过所述信号线引出的测试点。根据本发明能够通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。

Description

显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法
技术领域
本发明涉及液晶显示技术，特别是涉及采用GOA（Gate Driver On Array，显示面板行扫描驱动）电路的显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法。
背景技术
在主动式矩阵液晶显示器中，每个像素具有一个薄膜晶体管（TFT），其栅极电性连接至水平方向的扫描线，漏极电性连接至垂直方向的数据线，而源极电性连接至像素电极。若在水平方向的某一条扫描线施加足够的正电压，会使该条扫描线上的所有TFT打开，此时该条扫描线对应的像素电极与垂直方向的数据线连接，而将数据线的信号电压写入像素中。一般，该驱动电路主要是由液晶面板外黏接IC（集成电路）来完成的。
近年来又提出了GOA技术，该GOA（Gate Driver On Array，显示面板行扫描驱动）是直接将栅极驱动电路（Gate Driver IC）制作在阵列（Array）基板上，由此来代替由外接硅片制作的驱动芯片。现今，在液晶显示技术领域，GOA技术已经得到了广泛的发展和应用，因为GOA技术能够减少生产工艺程序、能够降低产品工艺成本。另外，GOA面板从GOA分布上可以分为单边GOA面板和双边GOA面板。
虽然GOA技术已经广泛应用在液晶制造领域，然而由于其电路连接及工艺的复杂性，GOA电路的良品率并不是很高，其中，影响其良品率的一个主要因素为静电积累和ESD（Electro-Static discharge，静电释放）。在现有的GOA电路的制造过程中，由于面板上走线之间的相邻较近，容易发生ESD等的不良情况。
图1是表示现有技术中采用GOA技术的显示面板的示意图。
如图1所示，在采用GOA技术的显示面板中，该显示面板包括：显示区和GOA区，所述显示区包括纵横交叉的多条栅线和多条数据线， GOA区中设置有GOA单元。如果发生ESD及short（即图1中的短路点）的情况下，对于采用GOA技术的显示面板，目前只能沿着面板走线（栅线和数据线）及GOA单元逐项排除，并且不一定能够找到。这是因为，GOA单元内部及信号走线之间ESD点隐蔽，不容易被准确找到和定位，影响了分析和改善的进行，因此，这样的情况下，ESD类相关不良的分析效率会降低并且其改善精度也会降低。
发明内容
鉴于上述问题，本发明旨在提供一种能够快速、准确定位ESD和短路/断路发生位置的显示面板、液晶显示装置及其电路测试方法。
本发明的显示面板包括显示区和GOA电路区，其特征在于，所述GOA电路区包括：
设置于TFT基板的多个GOA单元；以及
设置于CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域，
所述显示面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地，所述金属区域是ITO层。
优选地，所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
优选地，所述测试点设置在所述GOA电路区的外部。
优选地，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。
优选地，通过测试所述测试点的电压变化监控所述GOA电路区的工作状态。
优选地，所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。
优选地，当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，所述金属区域也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。
本发明的显示面板的电路测试方法，所述显示面板包括显示区和GOA电路区，所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元，其特征在于，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在CF基板上的与所述GOA单元对应的位置设置金属区域以使得所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地，在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域。
优选地，在所述电容构成步骤中，将所述金属区域形成为矩形。
优选地，在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地，在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
优选地，在所述信号测试步骤中，通过测试所述测试点的电压变化监控所述GOA电路区的工作状态。
优选地，在所述信号测试步骤中，当测试所述测试点的电压变化发生非周期性变化时，判断所述GOA电路区的工作状态为非正常状态。
优选地，在所述电容构成步骤中，当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，与所述GOA电路区对应地，所述金属区域也在所述显示区两边对称分布。
本发明的显示面板，包括：显示区和GOA电路区，其特征在于，
所述GOA电路区包括：
设置于TFT基板多个GOA单元；
设置于所述TFT基板之上的绝缘层；以及
设置在所述绝缘层之上的金属区域层，
其中，所述金属区域层与所述GOA单元构成电容结构，
所述显示面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地，所述金属区域层是ITO层。
优选地，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。
优选地，当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，所述金属区域层也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。
优选地，所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。
本发明的显示面板的电路测试方法，所述显示面板包括显示区和GOA电路区，所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元，其特征在于，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述TFT基板之上依次设置绝缘层、金属区域层，其中，所述金属区域层与设有GOA单元的TFT基板构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地，在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域层。
优选地，在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地，在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
本发明的液晶显示装置，其特征在于，上述构造的显示面板。
本发明的液晶显示装置的显示面板的电路测试方法，其特征在于，采用上述显示面板的电路测试方法。
本发明的触控面板，从上至下具有：玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层，其中，所述显示面板中包含有TFT基板，其特征在于，
在所述TFT基板设置有多个GOA单元，
在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构，
所述触控面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地，所述金属区域是ITO层。
优选地，所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
优选地，所述触控面板为incell触控面板，所述触控层与所述显示面板整合在一起，并且所述触控层嵌入在所述显示面板中。
优选地，所述触控面板为oncell触控面板，所述触控层与所述显示面板整合在一起，并且所述触控层位于所述显示面板之上。
优选地，所述触控面板为OGS触控面板，所述触控层与所述玻璃盖板整合在一起。
本发明的触控面板的电路测试方法，从上至下具有：玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层，其中，所述显示面板中包含有设置有多个GOA单元的TFT基板，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地，在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域层。
优选地，在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地，在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
优选地，所述触控面板为incell触控面板，将所述触控层与所述显示面板整合在一起，并且所述触控层嵌入在所述显示面板中。
优选地，所述触控面板为oncell触控面板，将所述触控层与所述显示面板整合在一起，并且所述触控层位于所述显示面板之上。
优选地，所述触控面板为OGS触控面板，将所述触控层与所述玻璃盖板整合在一起。
本发明的悬挂式触控面板，从上至下依次具有：玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板，其中，所述显示面板中包含有TFT基板，其特征在于，
在所述TFT基板设置有多个GOA单元，
在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构，
所述触控面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
优选地，所述金属区域是ITO层。
优选地，所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
本发明的悬挂式触控面板的电路测试方法，从上至下具有：玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板，其中，所述显示面板中包含有TFT基板，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
优选地，在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域层。
优选地，在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
优选地，在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
如上所述，根据本发明的显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法，通过在CF基板上与GOA单元对应的位置设置金属区域并且使得该金属区域与GOA单元构成电容构造，由此，从该电容构造向GOA区外向FPC引出测试点，并且通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常，如果在上述测试点的电压变化发生非周期性变化时，则判断GOA电路区的工作状态为非正常状态。因此，在本发明中，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
附图说明
图1是表示现有技术中采用GOA技术的显示面板的示意图。
图2是表示本发明的实施方式1的显示面板的示意图。
图3是表示一般的液晶显示面板的基板构造的示意图。
图4是表示本发明的显示面板的电路测试方法的流程图。
图5是表示本发明的实施方式2的显示面板中GOA电路区的剖面示意图。
图6表示了in-cell触控面板的基本构造。
图7表示了on-cell触控面板的基本构造。
图8表示了OGS触控面板的基本构造。
图9中表示了悬挂式触控面板的基本构造。
具体实施方式
下面介绍的是本发明的多个实施例中的一些，旨在提供对本发明的基本了解。并不旨在确认本发明的关键或决定性的要素或限定所要保护的范围。
实施方式1
图2是表示本发明的实施方式1的显示面板的示意图。
下面参照图2对于本发明的显示面板的结构进行说明。
如图2所示，本发明的显示面板包括：显示区100以及设置在显示区100两侧的GOA电路区200。
所述GOA电路区200包括：设置于TFT基板201多个GOA单元（在图2中体现不出GOA单元的位置）；以及
设置于CF基板202的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的N个金属区域2031～203N。这里的金属区域2031～203N在后文中也统称为金属区域203。
由于图2是俯视图，不能清楚体现出TFT基板201和CF基板202之间的叠层关系。这里，我们参考本领域的常规技术对于液晶显示面板中有关TFT基板和CF（彩膜）基板的叠层关系进行说明。
图3是表示一般的液晶显示面板的基板构造的示意图。如图3所示，按照从下到上的顺序依次形成下偏振片10、下玻璃基板20、TFT基板30、CF基板（即彩膜）40、上玻璃基板50、上偏振片60。
一般在GOA技术中，GOA单元形成在TFT基板30上。在本发明中，为了与现有的GOA单元构成电容结构，在CF基板上的、与GOA单元对应的区域做一层规则分布的金属区域。这样，设置有金属区域的CF基板与设置有GOA单元TFT基板就相当于构成电容器的两块对置的导电极板，在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本发明中，金属区域203可以由ITO（氧化铟锡）导电层构成。ITO导电层是指采用磁控溅射等方法（ITO薄膜的制备方法有蒸发、溅射、反应离子镀、化学气相沉积、热解喷涂等，但使用最多的是反应磁控溅射法）溅射透明氧化铟锡（ITO）导电薄膜镀层而形成的。ITO导电层具有导电性和透光性。
关于金属区域203的形状，可以形成为与GOA单元对应的矩形，也可以形成为各种其他形状，例如，圆形图案、椭圆形图案等的形状。其中，金属区域203形成为矩形是最佳选择。
关于金属区域203的分布，当GOA电路区在显示区两边对称分布的情况下，那么金属区域203也与GOA电路区对应地在显示区两边对称分布。而且，金属区域203的个数优选地为与GOA单元的个数相同，例如，对应于N个GOA单元，形成N个金属区域2031～203N。
如上所述，通过使得金属区域203与GOA单元构成若干个电容结构，然后，在从这样构成的电容结构引出一根信号线，信号线通过IC（集成电路）引导FPC（柔性线路板）上，并且将FPC上的信号线的引出端点作为测试点。这里，信号线从上述构成的电容结构引出，优选地是从GOA电路区引出，也就是说从设置GOA电路区的TFT基板侧引出。
如上所述那样构成上述电容构造并且通过信号线引出测试点，通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。具体地，在TFT基板上的交流信号周期变化引起CF基板的电压也会呈周期性变化，如果TFT基板的GOA电路区的信号线出现短路或者断路，那么CF基板的电压就会升高，也就是上述电容构造的电压就会升高，因此，监控上述测试点，在上述测试点的电压变化发生非周期性变化时，判断GOA电路区的工作状态为非正常状态。
这样，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
以上对于本发明的显示面板的构造进行了说明。本发明还包括一种液晶显示装置，该液晶显示装置包括具有上述特征而构成的显示面板。
接着，对于本发明的显示面板的电路测试方法进行说明。
图4是表示本发明的显示面板的电路测试方法的流程图。
如图4所示，本发明的显示面板的电路测试方法包括下述步骤：
电容构成步骤S101：在CF基板上的与GOA单元对应的位置设置金属区域以使得该金属区域与GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤S102，从电容结构引出信号线；
测试点形成步骤S103：将信号线引出到GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤S104：通过测试该测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。其中，在上述电容构成步骤S101中，采用ITO（氧化铟锡）层构成上述金属区域，该金属区域的形状，可以形成为与GOA单元对应的矩形，也可以形成为各种其他形状，例如，圆形图案、椭圆形图案等的形状。而且，金属区域的分布可以是设置为对应于GOA电路区的分布，当GOA电路区在显示区两边对称分布的情况下，那么金属区域也与GOA电路区对应地在显示区两边对称分布。而且，金属区域的个数优选地为与GOA单元的个数相同。
在上述信号引出步骤S102中，信号线与电容结构中的GOA电路区连接而引出信号。具体地信号线可以是从设置有GOA电路区的TFT基板引出信号。
在上述测试点形成步骤S103中，将通过信号线将信号引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
在上述信号测试步骤S104中，通过测试测试点的电压变化监控上述GOA电路区的工作状态，即，监控上述测试点，在上述测试点的电压变化发生非周期性变化时，判断GOA电路区的工作状态为非正常状态。
如上所述，根据本发明的显示面板的电路测试方法，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
本发明还包括一种液晶显示装置的显示面板的电路测试方法，该液晶显示装置的显示面板的电路测试方法采用上述步骤S101～步骤S104。
实施方式2
下面对于本发明的实施方式2进行说明。
该实施方式2中，显示面板如实施方式1一样，包括：显示区和GOA电路区。与实施方式1有所不同的在于GOA电路区的结构。
图5是表示本发明的实施方式2的显示面板中GOA电路区的剖面示意图。
如图5所示，在GOA电路区，从下至上包括：TFT基板211、设置在TFT基板212之上的绝缘层212、设置在绝缘层212之上的金属区域层213、设置在所述金属区域层213之上的CF基板214。其中，在TFT基板212上设置有多个GOA单元（图5中未图示）。
在实施方式2中，金属区域层212与设置有GOA单元的TFT基板212构成电容结构，也可以说是，金属区域层212与GOA单元构成电容结构。这样，设置有金属区域层212与设置有GOA单元的TFT基板211就相当于构成电容器的两块对置的导电极板，在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本发明中，金属区域层212可以由ITO（氧化铟锡）导电层构成。而且，与实施方式1同样地，从由金属区域层212与TFT基板212构成的电容结构引出电连接的信号线，通过信号线引出的测试点，该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中，优选地，该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
另一方面，当GOA电路区在显示区两边对称分布的情况下，金属区域层212也与GOA电路区对应地在显示区两边对称分布。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点，通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式2的显示面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述TFT基板之上依次设置绝缘层、金属区域层，其中，所述金属区域层与设有GOA单元的TFT基板构成电容结构，其中，采用ITO层构成所述金属区域层；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线，其中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点，具体地，，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述，根据本发明的实施方式2的显示面板及其电路测试方法，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
实施方式3
下面对于本发明的实施方式3进行说明。
实施方式3是将本发明的技术思想适用于in-cell（内嵌式）触控面板的实施方式。in-cell（内嵌式）触控面板是指将触控层嵌入到液晶面板中。具体地，in-cell（内嵌式）触控面板是将触控层与显示面板整合在一起，并且触控层嵌入在所述显示面板中。如果将本发明的技术思想使用于in-cell（内嵌式）触控面板的情况下，就是在玻璃盖板的下表面的、与GOA单元对应的位置设置金属区域（ITO层），并且使得金属区域与GOA单元（或者说是TFT基板）构成电容结构。
图6中表示了incell触控面板的一个具体的构造例。
如图6所示，incell触控面板从下之上依次包括：第一偏光片301、第一玻璃基板302、TFT基板303、触控传感器304（相当于触控层）、液晶层305、CF基板306、第二玻璃基板307、第二偏光片308、粘合剂层309、玻璃盖板310。
其中，TFT基板303中设置有多个GOA单元，并玻璃盖板310的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且该金属区域与GOA单元构成电容结构，并且该in-cell触控面板进一步包括：与该电容结构电连接的信号线；以及通过所述信号线引出的测试点（未图示）。
在实施方式3中，玻璃盖板310的金属区域与设置有GOA单元的TFT基板303构成电容结构，如此，金属区域与设置有GOA单元的TFT基板303就相当于构成电容器的两块对置的导电极板，在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式中，金属区域可以由ITO（氧化铟锡）导电层构成。而且，与实施方式1同样地，从上述电容结构引出电连接的信号线，通过信号线引出的测试点，该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中，优选地，该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点，通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式3的in-cell触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述TFT基板设置有多个GOA单元，在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线，其中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点，具体地，，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述，根据本发明的实施方式3的触控面板及其电路测试方法，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
实施方式4
下面对于本发明的实施方式4进行说明。
实施方式4是将本发明的技术思想适用于on-cell（外置式）触控面板的实施方式。on-cell（外置式）触控面板是指将触控传感器嵌入到显示屏中的CF基板和偏光片之间。具体地，on-cell（内嵌式）触控面板是触控层与显示面板整合在一起，并且触控层位于显示面板之上。如果将本发明的技术思想使用于on-cell触控面板的情况下，就是在玻璃盖板的下表面的、与GOA单元对应的位置设置金属区域（ITO层），并且使得金属区域与GOA单元（或者说是TFT基板）构成电容结构。
图7表示了on-cell触控面板的基本构造。
如图7所示，on-cell触控面板从下之上依次包括：第一偏光片401、第一玻璃基板402、TFT基板403、液晶层404、CF基板405、触控传感器406（相当于触控层）、第二偏光片407、粘合剂层408、玻璃盖板409。
其中，TFT基板403中设置有多个GOA单元，并且在玻璃盖板409的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且该金属区域与GOA单元构成电容结构，并且该on-cell触控面板进一步包括：与该电容结构电连接的信号线；以及通过所述信号线引出的测试点（未图示）。
在实施方式4中，玻璃盖板409上设置的金属区域与设置有GOA单元的TFT基板403构成电容结构，这样，设置有金属区域玻璃盖板409与设置有GOA单元的TFT基板405就相当于构成电容器的两块对置的导电极板，在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式4中，金属区域可以由ITO（氧化铟锡）导电层构成。而且，与实施方式1同样地，从上述电容结构引出电连接的信号线，通过信号线引出的测试点，该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中，优选地，该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点，通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式4的on-cell触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述TFT基板403设置有多个GOA单元，在所述玻璃盖板409的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线，其中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点，具体地，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述，根据本发明的实施方式4的触控面板及其电路测试方法，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
实施方式5
下面对于本发明的实施方式5进行说明。
实施方式5是将本发明的技术思想适用于OGS（on glass solution,玻璃板上解决方式）触控面板的实施方式。OGS是将触控屏与玻璃盖板集成在一起。。如果将本发明的技术思想使用于OGS触控面板的情况下，就是在玻璃盖板的下表面的、与GOA单元对应的位置设置金属区域（ITO层），并且使得金属区域与GOA单元（或者说是TFT基板）构成电容结构。
图8表示了OGS触控面板的基本构造。
如图8所示，OGS触控面板从下之上依次包括：第一偏光片501、第一玻璃基板502、TFT基板503、液晶层504、CF基板505、第二玻璃基板506、第二偏光片507、粘合剂层508、触控传感器509（相当于触控层）、玻璃盖板510。
其中，TFT基板503中设置有多个GOA单元，并且在玻璃盖板510的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且该金属区域与GOA单元构成电容结构，并且该OGS触控面板进一步包括：与该电容结构电连接的信号线；以及通过所述信号线引出的测试点（未图示）。
在实施方式5中，设有金属区域的玻璃盖板510与设置有GOA单元的TFT基板503构成电容结构，这样，设置有金属区域的CF基板505与设置有GOA单元的TFT基板503就相当于构成电容器的两块对置的导电极板，在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式5中，金属区域可以由ITO（氧化铟锡）导电层构成。而且，与实施方式1同样地，从上述电容结构引出电连接的信号线，通过信号线引出的测试点，该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中，优选地，该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点，通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式5的OGS触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述TFT基板503设置有多个GOA单元，在所述玻璃盖板510的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线，其中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点，具体地，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述，根据本发明的实施方式5的触控面板及其电路测试方法，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
实施方式6
下面对于本发明的实施方式6进行说明。
实施方式6是将本发明的技术思想适用于悬挂式触控面板的实施方式。所谓悬挂式触控面板是指将触控层悬挂在CF基板之上的玻璃基板上。
图9中表示了悬挂式触控面板的基本构造。
如图9所示，悬挂式触控面板从下之上依次包括：TFT基板601、液晶层602、CF基板603、触控层604。其中，触控层604由触控传感器和玻璃基板构成。
其中，TFT基板601中设置有多个GOA单元，并且在触控层604的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且该金属区域与GOA单元构成电容结构，并且该悬挂式触控面板进一步包括：与该电容结构电连接的信号线；以及通过所述信号线引出的测试点（未图示）。在实施方式6中，设有金属区域的触控层604与设置有GOA单元的TFT基板601构成电容结构，这样设有金属区域的触控层604与设置有GOA单元的TFT基板601就相当于构成电容器的两块对置的导电极板，在这样的两块对置的导电极板之间会产生电容量。
在本实施方式中，金属区域可以由ITO（氧化铟锡）导电层构成。而且，与实施方式1同样地，从由触控面板604与TFT基板601构成的电容结构引出电连接的信号线，通过信号线引出的测试点，该测试点是信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。其中，优选地，该信号线与电容结构中的GOA电路区连接。
如上所述那样构成电容构造并且通过信号线引出测试点，通过测试FPC上的测试点的电压变化就能够监控GOA单元的工作状态是否为正常。
下面对于本发明实施方式6的悬挂式触控面板的电路测试方法进行说明。
在该方法中包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述TFT基板设置有多个GOA单元，在所述触控层604的与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线，其中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点，具体地，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
如上所述，根据本发明的实施方式6的触控面板及其电路测试方法，通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。
以上例子主要说明了本发明的显示面板、液晶显示装置、触控面板及其电路测试方法。尽管只对其中一些本发明的具体实施方式进行了描述，但是本领域普通技术人员应当了解，本发明可以在不偏离其主旨与范围内以许多其他的形式实施。因此，所展示的例子与实施方式被视为示意性的而非限制性的，在不脱离如所附各权利要求所定义的本发明精神及范围的情况下，本发明可能涵盖各种的修改与替换。

Claims (45)

1.一种显示面板，包括：显示区和GOA电路区，其特征在于，
所述GOA电路区包括：
设置于TFT基板多个GOA单元；以及
设置于CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域，
所述显示面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述金属区域是ITO层。
3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，
所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，
所述测试点设置在所述GOA电路区的外部。
5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，
所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。
6.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，
所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。
7.如权利要求1～6任意一项所述的显示面板，其特征在于，
当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，所述金属区域也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。
8.一种显示面板的电路测试方法，所述显示面板包括显示区和GOA电路区，所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元，其特征在于，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在CF基板上的与所述GOA单元对应的位置设置金属区域以使得所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
9.如权利要求8所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域。
10.如权利要求9所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述电容构成步骤中，将所述金属区域形成为矩形。
11.如权利要求10所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
12.如权利要求11所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
13.如权利要求9～12任意一项所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述信号测试步骤中，通过测试所述测试点的电压变化监控所述GOA电路区的工作状态。
14.如权利要求13所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述电容构成步骤中，当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，与所述GOA电路区对应地，所述金属区域也在所述显示区两边对称分布。
15.一种显示面板，包括：显示区和GOA电路区，其特征在于，
所述GOA电路区包括：
设置于TFT基板多个GOA单元；
设置于所述TFT基板之上的绝缘层；以及
设置在所述绝缘层之上的金属区域层，
其中，所述金属区域层与所述GOA单元构成电容结构，
所述显示面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
16.如权利要求15所述的显示面板，其特征在于，
所述金属区域层是ITO层。
17.如权利要求16所述的显示面板，其特征在于，
所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。
18.如权利要求15～17任意一项所述的显示面板，其特征在于，
当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，所述金属区域层也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。
19.如权利要求18所述的显示面板，其特征在于，
所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。
20.一种显示面板的电路测试方法，所述显示面板包括显示区和GOA电路区，所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元，其特征在于，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述TFT基板之上依次设置绝缘层、金属区域层，其中，所述金属区域层与设有GOA单元的TFT基板构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
21.如权利要求20所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域层。
22.如权利要求21所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
23.如权利要求22所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
24.一种液晶显示装置，其特征在于，
具备权利要求1～7、15~19任意一项所述的显示面板。
25.一种液晶显示装置的显示面板的电路测试方法，其特征在于，
采用权利要求8～15、20~23任意一项所述的显示面板的电路测试方法。
26.一种触控面板，从上至下具有：玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层，其中，所述显示面板中包含有TFT基板，其特征在于，
在所述TFT基板设置有多个GOA单元，
在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构，
所述触控面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
27.如权利要求26所述的触控面板，其特征在于，
所述金属区域是ITO层。
28.如权利要求27所述的触控面板，其特征在于，
所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
29.如权利要求26～28任意一项所述的触控面板，其特征在于，
所述触控面板为incell触控面板。
30.如权利要求26～28任意一项所述的触控面板，其特征在于，
所述触控面板为oncell触控面板。
31.如权利要求26～28任意一项所述的触控面板，其特征在于，
所述触控面板为OGS触控面板。
32.一种触控面板的电路测试方法，从上至下具有：玻璃盖板、以及设置在所述玻璃盖板下方的显示面板和触控层，其中，所述显示面板中包含有设置有多个GOA单元的TFT基板，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述玻璃盖板的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
33.如权利要求32所述的触控面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域层。
34.如权利要求33所述的触控面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
35.如权利要求34所述的触控面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
36.如权利要求32～35任意一项所述的触控面板的电路测试方法，其特征在于，
所述触控面板为incell触控面板。
37.如权利要求32～35任意一项所述的触控面板的电路测试方法，其特征在于，
所述触控面板为oncell触控面板。
38.如权利要求32～35任意一项所述的触控面板的电路测试方法，其特征在于，
所述触控面板为OGS触控面板。
39.一种悬挂式触控面板，从上至下依次具有：玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板，其中，所述显示面板中包含有TFT基板，其特征在于，
在所述TFT基板设置有多个GOA单元，
在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构，
所述触控面板进一步包括：
与所述电容结构电连接的信号线；以及
通过所述信号线引出的测试点。
40.如权利要求39所述的悬挂式触控面板，其特征在于，
所述金属区域是ITO层。
41.如权利要求39所述的悬挂式触控面板，其特征在于，
所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。
42.一种悬挂式触控面板的电路测试方法，从上至下具有：玻璃盖板、设置在所述玻璃盖板下方的触控层、以及设置在所述触控层下方的显示面板，其中，所述显示面板中包含有TFT基板，该方法包括下述步骤：
电容构成步骤，在所述触控层的下表面的、与所述GOA单元对应的位置设置金属区域，并且所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；
信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；
测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；
信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。
43.如权利要求42所述的悬挂式触控面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域层。
44.如权利要求43所述的悬挂式触控面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。
45.如权利要求44所述的悬挂式触控面板的电路测试方法，其特征在于，
在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。
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