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CN104753589A - 改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性 - Google Patents

改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性 Download PDF

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CN104753589A
CN104753589A CN201410840225.8A CN201410840225A CN104753589A CN 104753589 A CN104753589 A CN 104753589A CN 201410840225 A CN201410840225 A CN 201410840225A CN 104753589 A CN104753589 A CN 104753589A
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Abstract

本发明涉及改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性。一种用于改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性的自包含的校准方法包括执行光源的温度扫描测试。周期性地测量光源的光输出功率。基于测量的光输出功率来生成温度校正值。通过应用温度校正值来调整光源的光输出功率,以获得光源的基本上恒定的光输出功率。

Description

改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性
技术领域
本发明的实施例涉及光纤收发器,并且特别地涉及改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性。
背景技术
数字技术的发展已经提供了对海量信息的电子访问。对信息的增加的访问推动了对快速获得并且处理信息的增加的期望。该期望继而施加了针对较快和较高能力的电子信息处理装置(计算机)以及链接处理装置的传输网络和系统(即,电话线、有线电视(CATV)系统、局域网、广域网和城域网(LAN、WAN、和MAN))的不断增加的要求。响应于这些要求,现在使用的许多传输系统已经从电子网络转换到光网络或者将要从电子网络转换为光网络。光传输系统提供了比电子系统大得多的信息传输带宽。光传输系统采用以光纤线缆形式的光纤。由于光纤经受意外,并且可以在它们的性能上变得恶化,所以能够测试通信介质和系统二者以确保故障被迅速检测、被有效定位、并且被快速修理已经变得越来越重要。
可能必须安装和/或服务光纤网络以能够测量在光网络之内的插入损耗。在光网络之内的插入损耗应当被确定为在可接受的界限之内,以便检验在邻接的光纤之间的适当的物理接触并且维持系统的损耗预算。当前,确定插入损耗的一种指定的方式是使用手持式光网络测试仪器,其测量通过光纤段的插入损耗,所述光纤段可以包括在邻接的光纤之间的一个或多个接合点。这样的光网络测试仪器通常包括一个或多个光源。针对在网络测试仪器中的光源的一个考虑是性能。性能问题可以包括在各种条件下的激光稳定性。
为了改善损耗测试的准确性,期望改善在光网络测试装置中的光源的稳定性。
发明内容
图示的实施例的目的和优点将被记载在以下描述中,并且将根据以下描述变得显然。将通过在书面说明书及其权利要求书中特别指出的以及来自附图的设备、系统和方法来实现和获得图示的实施例的附加优点。
根据图示的实施例的目的,在一个方面,提供了一种用于改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性的方法。执行所述光源的温度扫描测试。周期性地测量所述光源的光输出功率。基于测量的光输出功率生成温度校正值。通过应用温度校正值调整光源的输出功率,以获得光源的基本上恒定的光输出功率。
在另一方面中,提供了一种用于改善在光网络测试仪器中光源的稳定性的计算机程序产品。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机可读存储设备以及存储于该一个或多个计算机可读存储设备中的至少一个上的多个程序指令。所述多个程序指令包括执行光源的温度扫描测试的程序指令。所述多个程序指令还包括周期性地测量光源的光输出功率的程序指令。所述多个程序指令还包括基于测量的光源的光输出功率来生成温度校正值的程序指令。所述多个程序指令还包括通过应用温度校正值来调整光源的输出功率,以获得光源的基本上恒定的光输出功率的程序指令。
附图说明
所附附录和/或附图图示了根据本公开的各种非限制性的、示例的、发明性的方面:
图1是图示了根据现有技术的测试装置的图示;
图2是根据本发明的说明性实施例的网络测试仪器的框图;
图3是示出了在跟踪误差值与温度之间的关系的曲线图;
图4是根据本发明的说明性实施例的、图2的跟踪误差调整程序的操作步骤的流程图。
具体实施方式
现在参考附图更全面地描述本发明,其中示出本发明的图示的实施例,其中相同的参考标号标识相同的元件。如由本领域技术人员理解的那样,本发明不以任何方式受限于图示的实施例,因为下文描述的图示的实施例仅是本发明的示例,可以各种形式实现本发明。因此,应理解本文公开的任何结构性和功能性细节均不应被解释为限制,而仅应被解释为权利要求书的基础并且被解释为针对教导本领域技术人员来多样地采用本发明的代表。更进一步地,本文使用的术语和短语不意图限制,而是提供本发明的可理解的描述。
除非另有限定,否则本文使用的所有技术和科学术语具有与本发明所属的领域中的技术人员共识的相同含义。虽然与本文描述的类似或等同的任何方法和材料也可以被用于实行或测试本发明,但是现在描述示例性方法和材料。本文提及的所有出版物被通过引用公开和描述与其有关引用所述出版物的方法和/或材料而并入本文。提供本文讨论的出版物单独是出于它们的公开在本申请的申请日之前。本文中的任何内容都不应被解释为承认本发明不具有依靠在先发明而比这些公开内容要早的日期。进一步地,提供的公开日期可能不同于实际的公开日期,其需要被独立地确认。
必须注意,如本文和在所附权利要求书中使用的那样,除非上下文清晰地另行指出,否则单数形式“一”、“一个”和“该”包括多个引用项。因此,例如,对“一个激励”的引用包括多个这样的激励,并且对“该信号”的引用包括对一个或多个信号以及本领域技术人员已知的其等同物的引用,等等。
应理解,如下文讨论的那样,本发明的实施例优选地是驻留在具有用于使能在具有计算机处理器的机器上的执行的控制逻辑的计算机可用介质上的软件算法、程序或代码。所述机器通常包括被配置成提供来自计算机算法或程序的执行的输出的存储器存储。
如本文使用的那样,术语“软件”意图与可以在主机计算机的处理器中的任何代码或程序同义,无论实施是在硬件、固件中还是作为在光盘、存储器存储设备或者用于从远程机器下载而可获得的软件计算机产品。本文描述的实施例包括这样的软件,以实施下文描述的等式、关系和算法。本领域技术人员将基于下文描述的实施例理解本发明的进一步的特征和优点。相应地,除如所附权利要求书指示的以外,本发明不限于特别地示出和描述的内容。
根据本发明的优选实施例的方法指向改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性的技术。根据本发明的实施例,网络测试仪器的各种智能部件知道光源在其指定的操作环境中如何表现,并且相应地适应控制来维持在指定的操作条件下的稳定和准确的操作特性(诸如光输出功率)。根据优选实施例,光源的已知的表现和特性被存储在光网络测试仪器的内部存储器中。有利地,光源的改善的稳定性的可以通过减少光源的非确定性因素来改善由网络测试仪器执行的插入损耗测试的准确性。
如先前讨论的那样,在安装、修理、移动/添加/更新等等之后测试光纤的损耗和/或长度是一般惯例。到目前为止,最常用的拓扑由被附接到单股光纤的单个光纤连接器组成。通常在双工拓扑中使用这些光纤,使得一个光纤在一个方向上传输网络业务量并且其他的光纤在相对的方向上传输。单独的光纤经常被捆扎到在线缆之内的大的群组中,但是然后在光纤的每个端处被单独地端接至连接器。图1图示了应用于双工光纤系统的该一般惯例,其中主测试单元102在打开(break-out)处被连接到光纤并且远程测试单元104在线缆的远端被连接到相应的光纤,并且通过利用两个单元102和104来执行测试。
如在图1中示出的那样,示例性测试装置采用两个双工测试参考软线(TRC)106和108。第一双工软线106由例如光纤106a和106b的两股光纤组成。第二双工软线108也由例如光纤108a和108b的两股光纤组成。TRC 106和108中的每一股与诸如SC、ST、LC等等适合的光纤连接器接口端接。在图示的装置中,被测试的光纤链路包括一对光纤(光纤110和112)。在一端110a处,第一光纤110经由LC连接器114连接到主单元102,而第一光纤110的相对端110b经由LC连接器116连接到远端单元104。类似地,在一端112a处第二光纤112经由LC连接器118连接到主单元102,而第二光纤112的相对端112b经由LC连接器120连接到远端单元104。
当主单元102和远端单元104二者被连接到被测试的光纤链路(即,光纤110和112)时,网络测试仪器可以测量被测试的光纤链路的总插入损耗。在每个单元处的光源(在图2中示出)通过各个输出端口放射选择的波长的连续的波。在远端上,功率计测量它们通过输入端口接收的光功率的级别并且将其与参考功率级别比较,以便计算光损耗的总量。
图2是根据本发明的说明性实施例的网络测试仪器的主单元102的框图。为了简单,此后该主单元102将被称为“网络测试仪器”。在优选实施例中,网络测试仪器102可以包括至少一个光源204。可以在本发明的各种实施例中被用作光源204的激光器包括但不限于:发光二极管(LED)、光纤激光器、倍频光纤激光器、二极管激光器、倍频二极管激光器或者它们的组合。在优选实施例中,光源204是能够进行连续波(CW)或调制的传输的二极管激光器,其可以终止于网络测试仪器102的输出端口206处。网络测试仪器102的输入端口208被用于测试仪器的功率计部分并且可以包括或者被连接到光功率计210。功率计210将传输的光转换成电能,其被供应到运算放大器(未在图2中示出)并然后被运算放大器放大,所述运算放大器的增益可以变化,以检测广泛范围的光功率级别。为了测量光源204的光功率,网络测试仪器102的输出端口206可以通过诸如例如但不限于:TRC 106和108中的一股(在图1中示出)的测试参考软线中的一个连接到网络测试仪器102的输入端口208。应注意,在测试期间,由光源212传输的光从输出端口206传播到输入端口208。
随着光源204的温度波动,光输出功率也随之波动。然而,期望输出功率是一致的,并且因此在操作期间是可预测的。因此,期望不论周围温度而将光源204的温度维持在恒定级别处。在本发明的优选实施例中,加热器202可以操作地连接到光源204,用于加热光源204并将光源204维持在基本上恒定的温度处。另外,一个或多个温度传感器226可以与光源204接触或者紧密地接近光源204。温度传感器226可以向温度补偿电路224提供表示光源224的温度的输出信号。
在本发明的实施例中,可以在网络测试仪器102中提供温度补偿电路224,以将加热器202的输出控制为光源204的输出功率的函数。功率计210周期性地监视光源204的功率,并且将测量供应到跟踪误差调整程序230(下文描述)。响应于接收到这些测量,跟踪误差调整程序230基于测量的光输出功率优选地生成温度校正值。另外,跟踪误差调整程序230经由温度补偿电路224优选地调整光源204的温度,以获得在其中光源204产生基本上恒定的输出功率的光源204的操作温度。在替换实施例中,散热器(未在图2中示出)可以替代加热器202耦合到光源204来被动地将其冷却,因此将光源204有效地维持在基本上恒定的温度处。如本文使用的那样,术语“散热器”是指让热量离开光源204的任何部件或组件。
一个或多个微处理器(CPU)220可以包括适配于执行软件程序并且操纵数据结构的硬件元件或硬件逻辑。一个或多个微处理器220可以执行例如跟踪误差调整程序230。跟踪误差调整程序230可以包括存储在一个或多个计算机可读存储设备上的程序指令,该一个或多个计算机可读存储设备可以包括网络测试仪器102的内部存储器228和/或内部存储222。跟踪误差调整程序230可以是例如用于基于确定的热校正因子来控制光源204的温度调整的计算机程序或程序部件。收集的、生成的和被维持以用于由跟踪误差调整程序230使用的数据可以被保存在主网络测试仪器102的内部存储222中。功率框216可以提供功率源以操作网络测试仪器102,适合的电池能量用于便携的手持式使用。I/O 212可以向网络测试仪器102的用户提供一个或多个接口,并且可以包括显示器214和输入设备218,诸如允许用户操作以及结果的显示/输出的光标控制键和其他键。
图3是示出了在跟踪误差值和温度之间的关系的曲线图。如本文使用的那样,术语“跟踪误差”是指限定了光源的输出功率如何随温度变化的参数。跟踪误差是该关系与线性之间的最大偏差的测量。这些偏差主要归因于在组成网络测试仪器102的光部件的材料的热扩散系数中的失配。跟踪误差随各个设备变化,并且光网络测试仪器的制造商通常限定可接受的界限或范围(例如,每10 ℃大约±0.2 dB)。因此,该变化是温度的函数,但是变化在设备之间不是一致的。
返回参考图3,曲线302和304图示了两个不同的网络测试仪器相对于温度的跟踪误差值。如图3中可见的那样,跟踪误差不是恒定的,并且在某些仪器中甚至可以是相反的方向。由于在确定跟踪误差的原因中存在若干复杂的因素,并且由于跟踪误差不是恒定的,因此不可以像其他取决于温度的参数那样被容易地补偿。相应地,本发明的优选实施例企图在网络测试仪器102的操作期间使用诸如跟踪误差调整程序230的软件程序以取消跟踪误差的效果。
图4是根据本发明的说明性实施例,图2的跟踪误差调整程序230的操作步骤的流程图。跟踪误差调整程序230可以是例如通过取消跟踪误差的效果来改善网络测试仪器102的光源202的稳定性的计算机程序或程序部件。以下描述的步骤包括网络测试仪器102的自包含的校准过程。为了说明的目的,假设输出206通过外部接插线连接到输入端口208,如上文连同图2描述的那样。在光源204被开启之后,在步骤402处,跟踪误差调整程序230优选地执行光源204的温度扫描测试。在优选实施例中,被操作地耦合到光源204的加热器202在跟踪误差调整程序230的控制下执行温度扫描测试。在扫描测试期间,在完整的期望的操作温度范围上的跟踪误差可以被特征化为特性曲线。这个特性曲线可以在预定的采样点处被采样。可以任意地选择采样点的数量,例如与需要的一样多。有利地,由于加热器元件202被紧密地集成到光源204其自身的事实,所有加热功率被直接聚焦到光源结构204。因此可以以对完整的期望的温度范围的快速温度扫描完成采样。获得的采样点可以被存储在网络测试仪器102的存储222中。
在执行温度扫描测试之后并且在获得了光源204的稳定的操作温度之后,在步骤404处,跟踪误差调整程序230在网络测试仪器102的校准期间,优选地连续地测量光源204的光功率输出。在本发明的实施例中,该步骤优选地涉及从一个或多个功率计210获得周期性的测量数据,该一个或多个功率计210分别经由输出端口206和输入端口208操作地耦合到光源204,如在图2中示出的那样。
接下来,在步骤406处,跟踪误差调整程序230优选地确定光源204的测量的光输出功率是否在可接受的界限之内。优选地,不论周围的温度,测量的光输出功率增益/损耗应当不超过0.05 dB。响应于确定光源204的测量的光输出功率在可接受的范围之内(步骤406的“是”分支),跟踪误差调整程序230可以在预定时间段之后进行下一测量(步骤404)。换言之,如果跟踪误差调整程序230确定光源产生了可接受的输出,则不必针对跟踪误差改变进行补偿。
然而,响应于确定光源204的测量的光输出功率在可接受的范围之外(步骤406的“否”分支),跟踪误差调整程序230在步骤408处优选地生成温度校正值。在本发明的实施例中,温度校正值包括跟踪误差值。如先前连同图3讨论的那样,可以建立将跟踪误差值描述为温度的函数的曲线。在本发明的一个实施例中,跟踪误差调整程序230将跟踪误差值优选地表示为(x, y)对,其中x表示温度并且y表示跟踪误差调整值。换言之,在操作温度范围上存在将跟踪误差描述为温度的函数的离散的数据点。
在替代实施例中,跟踪误差调整程序230优选地使用这些离散数据点来优选地定义非常密切地匹配实际数据的函数y=f(x)。这些函数然后可以被用于针对不是在步骤404处原始测量的数据的部分的温度值进行求解、内插等等。多项式因为它们的简单性和计算的速度而被一般地用作近似函数,并且可以在本发明的替代实施例中使用这样的多项式。跟踪误差调整程序230优选地使用多项式曲线拟合来确定近似函数y=f(x)。多项式曲线拟合产生N阶的单个多项式(single polynomial)等式,其是原始数据测量的最小二乘逼近。多项式曲线拟合实际上是最小二乘多元回归的情况。多项等式(1)可以是以下形式:
(1)
换言之,在本发明的替代实施例中,在步骤408处,跟踪误差调整程序230使用多项式曲线拟合来优选地估计温度校正值(跟踪误差值),如上文描述的那样。
接下来,在步骤410处,跟踪误差调整程序230可选地将计算的温度校正值和/或获得的光功率测量存储在例如网络测试仪器102的存储222中。在本发明的优选实施例中,跟踪误差调整程序230以具有与给定的温度相关联或者与多项式系数相关联的在步骤408处计算的值的表格的形式加载该数据。在这样的表格中的每个条目可以指示将被用于相应的温度的值。在所述表格中的每个行条目可以表示温度的递增改变。每个表格条目的温度步幅可以如期望的那样大或者那样小,并且仅由在网络测试仪器102的存储222中的可用存储器限制。
在步骤412处,跟踪误差调整程序230基于例如在步骤408处确定的温度校正值来优选地调整光源204的温度。根据本位置的实施例,跟踪误差调整程序230被优选地配置成与补偿电路224通信。补偿电路224被优选地提供,以控制加热器202的温度。在一个实施中,如果跟踪误差调整程序230确定光源204的光功率不在上文提到的可接受范围之内,则补偿电路210可以基于由跟踪误差调整程序230提供的温度校正值适合地调整光源204的输出(功率),以便维持光源204的基本上恒定的光输出功率。
总之,本发明的各种实施例提供了一种用于改善在光网络测试仪器的自包含环境中的光源的稳定性的有成本效率的方法。有利地,网络测试仪器的各种部件知道光源在其指定的操作环境中如何表现并且相应地适应控制以维持在指定的操作条件下的稳定和准确的操作特性。
如将由本领域的技术人员理解的那样,本发明的方面可以被实现为系统、方法、或计算机程序产品。相应地,本发明的方面可采取完全的硬件实施例、完全的软件实施例(包括固件、驻留软件、微代码等等)或者组合软件和硬件方面的实施例的形式,它们全部可以在本文中被统称为“电路”、“模块”或“系统”。更进一步地,本发明的方面可采取实现在具有在其上实现的计算机可读程序代码的一个或多个计算机可读介质中的计算机程序产品的形式。
可以利用一个或多个计算机可读介质的任何组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质可以例如是但不限于:电、磁、光、电磁、红外或者半导体的系统、装置或者设备,或者前述内容的任何适合的组合。计算机可读存储介质的更具体的示例(非排他性列表)可以包括以下内容:具有一条或多条导线的电连接、便携式计算机盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或者闪存)、光纤、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、光存储设备、磁存储设备或者前述内容的任何适合的组合。在本文档的上下文中,计算机可读存储介质可以是能够包含或者存储程序的任何有形介质,所述程序用于由指令执行系统、装置或者设备使用或者连同指令执行系统、装置或者设备被使用。
计算机可读信号介质可以包括其中实现了具有计算机可读程序代码的传播的数据信号,例如在基带中或作为载波的一部分。这样的传播的信号可以采用任何各种形式,包括但不限于:电磁、光或者它们的任何适合的组合。计算机可读信号介质可以是非计算机可读存储介质并且可以传送、传播或传输程序的任何计算机可读介质,所述程序用于由指令执行系统、装置或者设备使用或者连同指令执行系统、装置或者设备被使用。
可以使用任何适当的介质传输实现在计算机可读介质上的程序代码,包括但不限于:无线、有线、光缆、RF等,或上述的任意适合的组合。
可以以一种或多种编程语言的任意组合来写用于执行针对本发明的方面的操作的计算机程序代码,所述编程语言包括诸如Java、Smalltalk、C++等等面向对象的编程语言,以及诸如“C”编程语言或类似的编程语言的常规过程式编程语言。
上文参考根据本发明的实施例的方法、装置(系统)和计算机程序产品的流程图示和/或框图来描述本发明的方面。应理解,可以由计算机程序指令实施所述流程图示和/或框图的每个框以及在流程图示和/或框图中的框的组合。这些计算机程序指令可以提供到通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器,以生产机器,使得经由计算机或其他可编程数据处理装置执行的指令创建用于实施在所述流程图和/或框图的一个或多个框中指定的功能/动作的装置。
这些计算机程序指令还可被存储在计算机可读介质中,该计算机可读介质可以指导计算机、其他可编程数据处理装置或者其他设备来以特定方式运转,使得存储于计算机可读介质中的指令产生制品,其包括实施在所述流程图和/或框图的一个或多个框中指定的功能/动作的指令。
计算机程序指令还可被加载到计算机、其他可编程数据处理装置或者其他设备上以使得在计算机、其他可编程数据处理装置、或者其他设备上执行一系列操作步骤,以产生计算机实施的过程,使得执行在计算机或其他可编程装置上的指令提供用于实施在所述流程图和/或框图的一个或多个框中指定的功能/动作的过程。
在图中的流程图和框图图示了根据本发明的各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能的实施的架构、功能和操作。就此而言,在所述流程图或框图中的每个框可以表示代码的模块、段或一部分,其包括用于实施指定的(一个或多个)逻辑功能的一个或多个可执行指令。还应注意,在某些替换性实施中,在框中记录的功能也可以以不同于在图中记录的次序发生。例如,取决于涉及的功能,可以基本同时地执行连续示出的两个框实际上,或者有时可以按相反的次序执行框。还应注意,可以通过专用的基于硬件的系统实施框图和/或流程图示的每个框以及在框图和/或流程图示中的框的组合,所述专用的基于硬件的系统执行指定的功能或动作或者专用硬件和计算机指令的组合。
已经出于说明的目的而呈现了本发明的各种实施例的描述,但不意图是排他性的,或者受限于公开的实施例。在不背离描述实施例的范围和精神的情况下,许多修改和变型对于本领域的普通技术人员将是显而易见的。本文使用的术语被选为最佳地解释实施例的原则、相比于在市场上发现的技术的实际应用或技术改善,或者以使得本领域的其他普通技术人员能够理解本文公开的实施例。

Claims (20)

1.一种用于改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性的方法,所述方法包括以下步骤:
执行所述光源的温度扫描测试;
测量所述光源的光输出功率;
基于所述测量的光输出功率生成温度校正值;以及
通过应用所述温度校正值来调整所述光源的光输出功率,以获得所述光源的基本上恒定的光输出功率。
2.如权利要求1所述的方法,其中生成所述温度校正值包括计算跟踪误差值。
3.如权利要求1所述的方法,其中由操作地耦合到所述光源的加热器执行所述温度扫描测试。
4.如权利要求1所述的方法,其中一个或多个温度传感器被操作地耦合到所述光源。
5.如权利要求4所述的方法,其中所述一个或多个温度传感器生成指示所述光源的所述温度的输出信号。
6.如权利要求1所述的方法,其中测量光输出功率由所述光网络测试仪器的功率计部件执行。
7.如权利要求1所述的方法,其中所述温度校正值包括温度校正曲线多项式值。
8.如权利要求1所述的方法,进一步包括:在生成所述温度校正值之后,将所述温度校正值存储在所述光网络测试仪器中。
9.如权利要求1所述的方法,其中调整所述光源的光输出功率由所述光网络测试仪器的补偿电路部件控制。
10.如权利要求1所述的方法,其中所述光源包括以下内容中的至少一个:发光二极管(LED)、光纤激光器、倍频光纤激光器、二极管激光器、倍频二极管激光器或者它们的组合。
11.一种用于改善在光网络测试仪器中的光源的稳定性的计算机程序产品,所述计算机程序产品包括:
一个或多个计算机可读存储设备以及存储在所述一个或多个计算机可读存储设备中的至少一个上的多个程序指令,所述多个程序指令包括:
执行光源的温度扫描测试的程序指令;
测量光源的光输出功率的程序指令;
基于所述测量的光输出功率生成温度校正值的程序指令;以及
通过应用所述温度校正值来调整所述光源的光输出功率,以获得所述光源的基本上恒定的光输出功率的程序指令。
12.如权利要求11所述的计算机程序产品,其中生成温度校正值的程序指令包括计算跟踪误差值的程序指令。
13.如权利要求11所述的计算机程序产品,其中执行温度扫描测试的程序指令包括控制被操作地耦合到所述光源的加热器的程序指令。
14.如权利要求11所述的计算机程序产品,其中一个或多个温度传感器被操作地耦合到所述光源。
15.如权利要求14所述的计算机程序产品,进一步包括从所述一个或多个温度传感器接收指示所述光源的温度的输出信号的程序指令。
16.如权利要求11所述的计算机程序产品,其中测量所述光源的光输出功率的程序指令包括从所述光网络测试仪器的功率计部件接收指示所述光输出功率的值的程序指令。
17.如权利要求11所述的计算机程序产品,其中所述温度校正值包括温度校正曲线多项式值。
18.如权利要求11所述的计算机程序产品,进一步包括将所述温度校正值存储在所述光网络测试仪器中的程序指令。
19.如权利要求11所述的计算机程序产品,其中调整所述光源的光输出功率的程序指令包括控制所述光网络测试仪器的补偿电路部件的程序指令。
20.如权利要求11所述的计算机程序产品,其中所述光源包括以下内容中的至少一个:发光二极管(LED)、光纤激光器、倍频光纤激光器、二极管激光器、倍频二极管激光器或者它们的组合。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6565498B2 (ja) * 2015-08-31 2019-08-28 ウシオ電機株式会社 光源装置及び制御装置
US10128943B2 (en) * 2017-04-06 2018-11-13 At&T Intellectual Property I, L.P. Predictive maintenance of optical transport network system
CN116683987B (zh) * 2023-08-04 2023-10-13 镭神技术(深圳)有限公司 调制光芯片通道测试方法、装置和系统
CN119147228B (zh) * 2024-11-12 2025-02-11 青岛华航环境科技有限责任公司 一种智能磁光开关测试系统及方法
CN119269042A (zh) * 2024-12-09 2025-01-07 广东欧谱曼迪科技股份有限公司 一种光纤检测方法、装置、电子设备及存储介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050078721A1 (en) * 2003-10-09 2005-04-14 National Semiconductor Corporation Laser trim and compensation methodology for passively aligning optical transmitter
JP2010040639A (ja) * 2008-08-01 2010-02-18 Sumitomo Electric Device Innovations Inc 光半導体装置の試験方法および光半導体装置の試験装置
US20120020381A1 (en) * 2010-07-21 2012-01-26 Fujitsu Limited Optical transmission module and controlling method for optical transmission module
CN102970080A (zh) * 2012-10-31 2013-03-13 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 光模块及其激光器工作温度的调节方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7321606B2 (en) 2003-10-09 2008-01-22 National Semiconductor Corporation Laser trim and compensation methodology for passively aligning optical transmitter
JP2006080677A (ja) * 2004-09-07 2006-03-23 Sumitomo Electric Ind Ltd 光データリンク
US9479255B2 (en) * 2008-04-30 2016-10-25 Arris Enterprises, Inc. Method and apparatus for controlling the optical output power from a burst mode laser
JP2010004639A (ja) 2008-06-19 2010-01-07 Yazaki Corp ワイヤーハーネス外装用の硬質チューブ
JP5180250B2 (ja) * 2010-03-18 2013-04-10 株式会社Qdレーザ レーザシステム
US9485016B2 (en) * 2013-09-20 2016-11-01 Fluke Corporation Hands-free optical fiber testing using optical loss test instrument
US9572218B2 (en) * 2013-11-19 2017-02-14 Usl Technologies, Llc High-stability light source system and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050078721A1 (en) * 2003-10-09 2005-04-14 National Semiconductor Corporation Laser trim and compensation methodology for passively aligning optical transmitter
JP2010040639A (ja) * 2008-08-01 2010-02-18 Sumitomo Electric Device Innovations Inc 光半導体装置の試験方法および光半導体装置の試験装置
US20120020381A1 (en) * 2010-07-21 2012-01-26 Fujitsu Limited Optical transmission module and controlling method for optical transmission module
CN102970080A (zh) * 2012-10-31 2013-03-13 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 光模块及其激光器工作温度的调节方法

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