CN103839503B - 显示面板及用于测试显示面板的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种显示面板及用于测试显示面板的方法，所述显示面板包括：显示部，所述显示部包括用于显示多种颜色的多个子像素、以及与所述子像素连接的多条数据线；第一测试部，所述第一测试部用于按照所述子像素的每种颜色向所述多条数据线中的第（2K‑1）条数据线提供测试信号，其中K是大于0的整数；以及第二测试部，所述第二测试部用于在所述第一测试部提供所述测试信号时，按照所述子像素的每种颜色向所述多条数据线中的第2K条数据线提供测试信号，其中由所述第二测试部提供的测试信号的极性与由所述第一测试部提供的测试信号的极性相反。

Description

显示面板及用于测试显示面板的方法

本申请要求2012年11月23日提交的韩国专利申请No.10-2012-0133434的优先权，在此援引该专利申请作为参考，如同在这里完全阐述一样。

技术领域

本发明的实施方式涉及一种显示面板以及用于测试显示面板是否正常操作的方法。

背景技术

可通过包括显示面板的照明测试工艺在内的各种工艺来制造诸如液晶显示器（LCD）、有机照明二极管（OLED）、等离子体显示面板（PDP）和电泳显示器（EPD）这样的显示装置。更详细地说，在显示装置中包含的显示面板上显示图像。可通过向显示面板提供预定的测试信号并测试显示面板是否根据预定的测试信号正常操作，进行照明测试工艺。

例如，图1是图解现有技术的显示面板的示意图，图2是图解当进行照明测试工艺时显示面板的示意图。

参照图1，现有技术的显示面板10包括显示部11和测试部12。显示部11包括由多条栅极线GL1到GLn和多条数据线DL1到DLm限定的多个子像素SP，其中栅极线和数据线彼此交叉。多条数据线DL1到DLm还与测试部12连接。

此外，测试部12向数据线DL1到DLm相对于公共电压Vcom交替提供正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号。也就是说，测试部12向数据线DL1到DLm传送从测试装置提供的正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号，由此正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号被交替提供给数据线DL1到DLm。数据线DL1到DLm通过一条连接线还与测试部12连接。

在测试部12向数据线DL1到DLm交替提供正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号时，根据现有技术的显示面板10中包含的子像素SP以帧为单位被驱动并发光，由此进行照明测试。例如，根据现有技术的显示面板10的所有子像素SP在第一帧期间根据正极性（+）测试信号被驱动，然后在第二帧期间根据负极性（-）测试信号被驱动。

根据这些反复的驱动操作进行照明测试。也就是说，在根据现有技术的显示面板10的所有子像素SP中，通过以帧为单位反复反转电压极性，实施帧反转方式。

然而，因为以帧反转方式进行照明测试，所以由于测试信号的低频率会导致闪烁，这会在照明测试中产生问题。为了克服此闪烁问题，已提出了增加测试信号频率的方法。然而，如果测试信号频率增加，则向数据线DL1到DLm施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号的时间变短。因而，如图2中所示，显示面板10中包含的一些子像素SP以未完全充电的状态被驱动，由此，以未完全充电的状态被驱动的一些子像素SP中的照明等级相对较低。因此，根据测试结果，即使子像素SP具有优良的质量，此子像素SP中的照明等级也会被分类标注为具有较差的质量。

发明内容

因此，本发明的一个目的是提供一种基本上克服了由于现有技术的限制和缺点而导致的一个或多个问题的显示面板和用于测试显示面板的方法。

本发明的另一个目的是提供一种用于防止以未完全充电的状态被驱动的具有优良质量的子像素被分类为较差或较坏质量的显示面板和用于测试显示面板的方法。

本发明的再一个目的是提供一种显示面板和用于使用行反转测试方式及相应的测试装置测试显示面板的方法。

为了实现这些和其他优点并根据本发明的目的，如在此具体化和概括描述的，在一个方面中，本发明提供了一种用于测试显示面板的方法，所述显示面板包括用于显示第一颜色的多个第一子像素、用于显示第二颜色的多个第二子像素以及用于显示第三颜色的多个第三子像素，所述方法包括如下步骤：向与所述第一子像素连接的多条第一数据线中的第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号，其中K是大于0的整数；以及在向第（2K-1）条第一数据线提供所述第一测试信号时，向所述多条第一数据线中的第2K条第一数据线提供与所述第一测试信号具有相反极性的第二测试信号，以交替地照明与第（2K-1）条第一数据线连接的第一子像素和与第2K条第一数据线连接的第一子像素。

在另一个方面中，本发明提供了一种用于测试显示面板的方法，所述方法包括如下步骤：第一提供步骤，用于向在所述显示面板中包含的多条数据线中的第（2K-1）条数据线提供正极性测试信号，并同时向第2K条数据线提供负极性测试信号，其中K是大于0的整数；以及第二提供步骤，用于向第（2K-1）条数据线提供所述负极性测试信号，并同时向第2K条数据线提供所述正极性测试信号。

在再一个方面中，本发明提供了一种显示面板，包括：显示部，所述显示部包括用于显示多种颜色的多个子像素、以及与所述子像素连接的多条数据线；第一测试部，所述第一测试部用于按照所述子像素的每种颜色向所述多条数据线中的第（2K-1）条数据线提供测试信号，其中K是大于0的整数；以及第二测试部，所述第二测试部用于在所述第一测试部提供所述测试信号时，按照所述子像素的每种颜色向所述多条数据线中的第2K条数据线提供测试信号，其中由所述第二测试部提供的测试信号的极性与由所述第一测试部提供的测试信号的极性相反。

本发明进一步的应用范围将从下文给出的详细描述变得显而易见。然而，应当理解，因为在本发明的精神和范围内的各种变化和修改对于所属领域技术人员来说通过下文的详细描述将是显而易见的，所以仅通过举例说明的方式给出了表示本发明优选实施方式的详细描述和具体例子。

附图说明

给本发明提供进一步理解并且并入在本申请中组成本申请一部分的附图图解了本发明的实施方式，并与说明书一起用于说明本发明的原理。在附图中：

图1是图解现有技术的显示面板的示意图；

图2是图解当进行照明测试工艺时现有技术的显示面板的示意图；

图3和4是图解根据本发明实施方式的显示面板的示意图；

图5和6是图解根据本发明实施方式的用于测试显示面板的工艺的示意图；以及

图7是图解根据本发明实施方式的用于将测试装置与显示面板接触的工艺的侧视图。

具体实施方式

下文，将参照附图详细描述根据本发明实施方式的显示面板。

参照图3，根据本发明实施方式的显示面板1在诸如LCD、OLED、PDP和EPD这样的显示装置中显示图像。此外，根据本发明的实施方式对显示面板1进行照明测试，以通过使用诸如自动探测装置（Auto-Probe Apparatus）这样的测试装置检查显示面板1是否被正常驱动。

如图3中所示，显示面板1包括显示部2、用于照明测试的第一测试部3和第二测试部4。第一测试部3和第二测试部4位于与显示部2的周边区域对应的非显示部5中。

此外，在显示部2中形成有多条数据线D1到Dm、多条栅极线G1到Gn以及多个子像素SP，其中每个子像素SP由彼此交叉的栅极线和数据线限定。此外，数据线D1到Dm与子像素SP连接。在栅极线G1到Gn和数据线D1到Dm的每个交叉区域处还形成有用于切换子像素SP的薄膜晶体管TFT。

参照图4，多个子像素SP1，SP2和SP3形成单位像素P，显示部2包括多个单位像素P。每个单位像素P都包括用于显示第一颜色的第一子像素SP1、用于显示第二颜色的第二子像素SP2和用于显示第三颜色的第三子像素SP3。在此情形中，第一、第二和第三颜色彼此不同。

例如，每个单位像素P可包括用于显示红色的第一子像素SP1、用于显示绿色的第二子像素SP2和用于显示蓝色的第三子像素SP3。然而，第一颜色可以是青色，第二颜色可以是品红色，第三颜色可以是黄色。每个单位像素P也可以包括用于显示不同颜色的四个或更多个（如图3中所示的）子像素SP。

下文，将更详细地描述根据本发明实施方式的包括单位像素P的显示面板1，其中每个单位像素P都包括用于显示红色的第一子像素SP1、用于显示绿色的第二子像素SP2和用于显示蓝色的第三子像素SP3。

参照图4，显示部2包括与第一子像素SP1连接的第一数据线RD1到RDm、与第二子像素SP2连接的第二数据线GD1到GDm、以及与第三子像素SP3连接的第三数据线BD1到BDm。数据线还按照第一数据线RD1到RDm、第二数据线GD1到GDm和第三数据线BD1到BDm的依次顺序（sequential order）重复排列。

参照图3，第一测试部3与一些数据线D1到Dm连接，并向相应数据线提供测试信号。测试信号也是从测试装置提供。因为测试装置与第一测试部3接触，所以测试信号通过第一测试部3提供给一些数据线D1到Dm。

此外，测试装置可提供第一和第二测试信号，其中第一测试信号相对于公共电压Vcom依次交替地施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号；第二测试信号相对于公共电压Vcom依次交替地施加负极性（-）测试信号和正极性（+）测试信号。

此外，第二测试部4与一些数据线D1到Dm连接，并向相应数据线提供测试信号。因为测试装置与第二测试部4接触，所以测试信号通过第二测试部4提供给一些数据线D1到Dm。测试装置也可通过第二测试部4提供第一测试信号和第二测试信号。

参照图4，第二测试部4按照子像素SP1，SP2和SP3的每种颜色而向第2K条数据线（“K”是大于0的整数）提供测试信号。此外，第一测试部3按照子像素SP1，SP2和SP3的每种颜色而向第（2K-1）条数据线提供测试信号。在此情形中，当第一测试部3提供测试信号时，第二测试部4提供与第一测试部3提供的测试信号具有相反极性的测试信号，这将在下面详细描述。

此外，当第一数据线RD1到RDm与第一子像素SP1连接时，第一数据线RD1到RDm中的第（2K-1）条第一数据线与第一测试部3连接。此外，第一数据线RD1到RDm中的第2K条第一数据线与第二测试部4连接。在此情形中，第一测试部3和第二测试部4同时分别向第（2K-1）条第一数据线和第2K条第一数据线提供具有相反极性的测试信号。

例如，如果第一测试部3向第（2K-1）条第一数据线提供正极性（+）测试信号，则第二测试部4向第2K条第一数据线提供负极性（-）测试信号。如果第一测试部3向第（2K-1）条第一数据线提供负极性（-）测试信号，则第二测试部4向第2K条第一数据线提供正极性（+）测试信号。也就是说，如果第一测试部3向第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号，则第二测试部4向第2K条第一数据线提供第二测试信号。

更详细地说，第一测试部3在第一提供步骤中向奇数编号的红色子像素（1，3，5，7等）提供具有正极性的测试信号，第二测试部4以行反转方式向偶数编号的红色子像素（2，4，6，8等）提供具有负极性的测试信号。然后对其他颜色子像素继续进行此工艺。优选地，在第二提供步骤中向第（2K-1）条数据线提供负极性测试信号，并同时向第2K条数据线提供正极性测试信号。

因此，第一测试部3和第二测试部4在照明测试期间交替驱动并照明与第（2K-1）条第一数据线连接的第一子像素SP1以及与第2K条第一数据线连接的第一子像素SP1。因而，在与第一子像素SP1相关的照明测试期间，根据本发明实施方式的显示面板1防止了闪烁的发生，从而便于照明测试工艺的实施。

此外，根据本发明实施方式的显示面板1防止了闪烁的发生，由此使得测试信号的频率降低。因而，根据本发明实施方式的显示面板1增加了向第一子像素SP1施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号的时间，由此增加了向第一子像素SP1充入像素电压的时间。如前面所述，当具有优良质量的一些第一子像素SP1以未完全充电的状态被驱动时，它们会被分类为较差的质量。然而，在根据本发明实施方式的显示面板1中，可防止以未完全充电的状态被驱动的具有优良质量的一些第一子像素SP1被错误地分类为较差的质量，由此提高了照明测试的精度和可靠性。

之后，当第二数据线GD1到GDm与第二子像素SP2连接时，第二数据线GD1到GDm中的第（2K-1）条第二数据线与第一测试部3连接。此外，第二数据线GD1到GDm中的第2K条第二数据线与第二测试部4连接。在此情形中，第一测试部3和第二测试部4同时分别向第（2K-1）条第二数据线和第2K条第二数据线提供具有相反极性的测试信号。

例如，如果第一测试部3向第（2K-1）条第二数据线提供负极性（-）测试信号，则第二测试部4向第2K条第二数据线提供正极性（+）测试信号。如果第一测试部3向第（2K-1）条第二数据线提供正极性（+）测试信号，则第二测试部4向第2K条第二数据线提供负极性（-）测试信号。也就是说，如果第一测试部3向第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号，则第二测试部4向第2K条第二数据线提供第一测试信号。

更详细地说，第一测试部3在第一提供步骤中向奇数编号的绿色子像素（1，3，5，7等）提供具有正极性的测试信号，第二测试部4以行反转方式向偶数编号的绿色子像素（2，4，6，8等）提供具有负极性的测试信号。也可使用相反极性。例如，第一测试部3在第一提供步骤中向奇数编号的绿色子像素（1，3，5，7等）提供具有负极性的测试信号，第二测试部4以行反转方式向偶数编号的绿色子像素（2，4，6，8等）提供具有正极性的测试信号。在此第二个例子中，极性与用于红色子像素的极性相反。

因此，第一测试部3和第二测试部4在照明测试期间交替驱动并照明与第（2K-1）条第二数据线连接的第二子像素SP2以及与第2K条第二数据线连接的第二子像素SP2。因而，在与第二子像素SP2相关的照明测试期间，根据本发明实施方式的显示面板1防止了闪烁的发生，同时增加了向第二子像素SP2充入像素电压的时间，由此提高了照明测试的精度和可靠性。

之后，当第三数据线BD1到BDm与第三子像素SP3连接时，第三数据线BD1到BDm中的第（2K-1）条第三数据线与第一测试部3连接。此外，第三数据线BD1到BDm中的第2K条第三数据线与第二测试部4连接。在此情形中，第一测试部3和第二测试部4同时分别向第（2K-1）条第三数据线和第2K条第三数据线提供具有相反极性的测试信号。

例如，如果第一测试部3向第（2K-1）条第三数据线提供正极性（+）测试信号，则第二测试部4向第2K条第三数据线提供负极性（-）测试信号。如果第一测试部3向第（2K-1）条第三数据线提供负极性（-）测试信号，则第二测试部4向第2K条第三数据线提供正极性（+）测试信号。也就是说，如果第一测试部3向第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号，则第二测试部4向第2K条第三数据线提供第二测试信号。

因此，第一测试部3和第二测试部4在照明测试期间交替驱动并照明与第（2K-1）条第三数据线连接的第三子像素SP3以及与第2K条第三数据线连接的第三子像素SP3。因而，在与第三子像素SP3相关的照明测试期间，根据本发明实施方式的显示面板1防止了闪烁的发生，同时增加了向第三子像素SP3充入像素电压的时间，由此提高了照明测试的精度和可靠性。

如上所述，根据本发明实施方式的显示面板1防止了闪烁的发生并降低了测试信号的频率。因而，根据本发明实施方式的显示面板1可通过使用与在实际驱动显示装置时使用的驱动信号具有相同频率的测试信号进行照明测试。例如，假定通过60Hz频率的驱动信号驱动显示装置，则即使在显示面板1中使用60Hz频率的测试信号进行照明测试，也可防止闪烁的发生。因此，可在与显示装置的实际驱动环境相同的条件下进行显示面板1的照明测试，由此实现照明测试的更为卓越的精度和可靠性。

在上述照明测试的工艺期间，测试装置可改变通过第一测试部3和第二测试部4施加给第一数据线RD1到RDm、第二数据线GD1到GDm和第三数据线BD1到BDm的测试信号的电压电平。因为灰度级根据测试信号的电压电平而变化，所以可依据每个灰度级进行显示面板1的照明测试。

参照图4到6，无论颜色如何，第一测试部3和第二测试部4都可同时向第（2K-1）条数据线和第2K条数据线提供具有相反极性的测试信号。也就是说，可以以列反转方式进行显示面板1的照明测试，这将在下面详细描述。

首先，可在数据线RD1到RDm、GD1到GDm和BD1到BDm的排列方向上形成多个单位像素P，其中每个单位像素P都包括依次设置的第一子像素SP1、第二子像素SP2和第三子像素SP3。此外，第二子像素SP2紧邻第一子像素SP1设置，第三子像素SP3紧邻第二子像素SP2设置。也就是说，第二子像素SP2位于第一子像素SP1与第三子像素SP3之间。

之后，如图5中所示，第一测试部3向与第一子像素SP1连接的第一数据线RD1到RDm中的第（2K-1）条第一数据线提供正极性（+）测试信号。第一测试部3还向与第二子像素SP2连接的第二数据线GD1到GDm中的第（2K-1）条第二数据线提供负极性（-）测试信号。

之后，第一测试部3向与第三子像素SP3连接的第三数据线BD1到BDm中的第（2K-1）条第三数据线提供正极性（+）测试信号。因此，第（2K-1）个单位像素P的第一子像素SP1被提供正极性（+）测试信号，第（2K-1）个单位像素P的第二子像素SP2被提供负极性（-）测试信号，第（2K-1）个单位像素P的第三子像素SP3被提供正极性（+）测试信号。

同时，第二测试部4向第一数据线RD1到RDm中的第2K条第一数据线提供负极性（-）测试信号，向第二数据线GD1到GDm中的第2K条第二数据线提供正极性（+）测试信号，并向第三数据线BD1到BDm中的第2K条第三数据线提供负极性（-）测试信号。因而，第2K个单位像素P的第一子像素SP1被提供负极性（-）测试信号，第2K个单位像素P的第二子像素SP2被提供正极性（+）测试信号，第2K个单位像素P的第三子像素SP3被提供负极性（-）测试信号。

结果，随着沿数据线RD1到RDm、GD1到GDm和BD1到BDm的排列方向按照正极性、负极性、正极性、负极性、正极性和负极性的顺序依次提供测试信号，可以以列反转方式进行显示面板1的照明测试。因此，可在与显示装置的实际驱动环境相同的条件下进行显示面板1的照明测试，由此实现照明测试的更为卓越的精度和可靠性。

接下来，如图6中所示，第一测试部3向第（2K-1）条第一数据线提供负极性（-）测试信号，向第（2K-1）条第二数据线提供正极性（+）测试信号，并向第（2K-1）条第三数据线提供负极性（-）测试信号。因此，第（2K-1）个单位像素P的第一子像素SP1被提供负极性（-）测试信号，第（2K-1）个单位像素P的第二子像素SP2被提供正极性（+）测试信号，第（2K-1）个单位像素P的第三子像素SP3被提供负极性（-）测试信号。

同时，第二测试部4向第2K条第一数据线提供正极性（+）测试信号，向第2K条第二数据线提供负极性（-）测试信号，并向第2K条第三数据线提供正极性（+）测试信号。因而，第2K个单位像素P的第一子像素SP1被提供正极性（+）测试信号，第2K个单位像素P的第二子像素SP2被提供负极性（-）测试信号，第2K个单位像素P的第三子像素SP3被提供正极性（+）测试信号。

结果，随着如图5中所示沿数据线RD1到RDm、GD1到GDm和BD1到BDm的排列方向按照正极性、负极性、正极性、负极性、正极性和负极性的顺序依次提供测试信号，然后如图6中所示沿数据线RD1到RDm、GD1到GDm和BD1到BDm的排列方向按照负极性、正极性、负极性、正极性、负极性和正极性的顺序依次提供测试信号，可以以列反转方式进行显示面板1的照明测试。

之后，可重复进行如图5中所示按照正极性、负极性、正极性、负极性、正极性和负极性的顺序依次提供测试信号的工艺以及随后的如图6中所示按照负极性、正极性、负极性、正极性、负极性和正极性的顺序依次提供测试信号的工艺。也就是说，第一测试部3向第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号，向第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号，并向第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号。

然后，第二测试部4向第2K条第一数据线提供第二测试信号，向第2K条第二数据线提供第一测试信号，并向第2K条第三数据线提供第二测试信号。在显示面板1中的照明测试的工艺期间，随着通过第一测试部3和第二测试部4提供的测试信号的电压电平变化，灰度级也变化，由此可按照每个灰度级进行照明测试。此外，在照明测试的上述工艺期间向栅极线GL1到GLn提供扫描信号。

参照图4到7，非显示部（见图4的“5”）位于显示部2的周边。在非显示部5中还设置有驱动器IC。在非显示部5中还包括多个驱动焊盘100，当实际驱动显示装置时，驱动焊盘100向数据线RD1到RDm、GD1到GDm和BD1到BDm提供数据信号。驱动焊盘100与各数据线RD1到RDm、GD1到GDm和BD1到BDm连接。

此外，第一测试部3和第二测试部4形成在非显示部5中。如图4中所示，第一测试部3包括第一测试焊盘31、第二测试焊盘32、第三测试焊盘33、第一连接线35、第二连接线36和第三连接线37。在此情形中，第一测试焊盘31、第二测试焊盘32和第三测试焊盘33与测试装置（见图7的“200”）接触，并被提供来自测试装置200的测试信号。

此外，第一连接线35与第一测试焊盘31连接，第二连接线36与第二测试焊盘32连接，第三连接线37与第三测试焊盘33连接。测试装置200还包括主体（见图7的“210”）、以及用于提供测试信号的测试信号供给器（见图7的“220”）。主体210与第一接触部件（见图7的“211”）连接，第一接触部件将要与第一测试焊盘31、第二测试焊盘32和第三测试焊盘33接触。

当第一接触部件211与第一测试焊盘31、第二测试焊盘32和第三测试焊盘33接触时，测试信号供给器220通过第一接触部件211提供测试信号，由此对根据本发明实施方式的显示面板1进行照明测试。

此外，第一测试焊盘31位于非显示部5中，更特别地，第一测试焊盘31位于驱动焊盘100的一侧。随着测试装置200与第一测试焊盘31接触，测试装置200与第一连接线35以及和第一连接线35连接的数据线电连接。因而，第一测试焊盘31可被提供来自测试装置200的第一测试信号。

另外，第二测试焊盘32位于非显示部5中，更特别地，第二测试焊盘32位于驱动焊盘100的一侧。第二测试焊盘32还位于第一测试焊盘31与第三测试焊盘33之间。随着测试装置200与第二测试焊盘32接触，测试装置200与第二连接线36以及和第二连接线36连接的数据线电连接。因而，第二测试焊盘32可被提供来自测试装置200的第二测试信号。

此外，第三测试焊盘33位于非显示部5中，更特别地，第三测试焊盘33位于驱动焊盘100的一侧。随着测试装置200与第三测试焊盘33接触，测试装置200与第三连接线37以及和第三连接线37连接的数据线电连接。因而，第三测试焊盘33可被提供来自测试装置200的第一测试信号。

另外，第一连接线35连接第一测试焊盘31和与第一子像素SP1连接的第一数据线RD1到RDm中的第（2K-1）条第一数据线。随着测试装置200与第一测试焊盘31接触，第一测试信号通过第一连接线35提供给第（2K-1）条第一数据线。第一连接线35也可通过开关元件与第（2K-1）条第一数据线连接。例如，开关元件可以为薄膜晶体管TFT。

此外，第二连接线36连接第二测试焊盘32和与第二子像素SP2连接的第二数据线GD1到GDm中的第（2K-1）条第二数据线。随着测试装置200与第二测试焊盘32接触，第二测试信号通过第二连接线36提供给第（2K-1）条第二数据线。第二连接线36也可通过开关元件与第（2K-1）条第二数据线连接。例如，开关元件可以为薄膜晶体管TFT。

此外，第三连接线37连接第三测试焊盘33和与第三子像素SP3连接的第三数据线BD1到BDm中的第（2K-1）条第三数据线。随着测试装置200与第三测试焊盘33接触，第一测试信号通过第三连接线37提供给第（2K-1）条第三数据线。第三连接线37也可通过开关元件与第（2K-1）条第三数据线连接。例如，开关元件可以为薄膜晶体管TFT。

参照图4和7，第一测试部3可进一步包括第一使能焊盘34和第一使能连接线38。第一使能焊盘34位于非显示部5中，更特别地，第一使能焊盘34位于驱动焊盘100的一侧。第一使能焊盘34紧邻第一测试焊盘31设置。另外，第一测试焊盘31位于第一使能焊盘34与第二测试焊盘32之间。

此外，第一使能连接线38连接第一使能焊盘34与在第一连接线35、第二连接线36及第三连接线37中包含的各个开关元件。随着测试装置（见图7的“200”）与第一使能焊盘34接触，测试装置200与第一使能连接线38以及和第一使能连接线38连接的开关元件电连接。测试装置200可通过第一使能焊盘34提供使能测试信号。

在此情形中，主体（见图7的“210”）可与第一接触部件（见图7的“211”）连接，第一接触部件将要与第一测试焊盘31、第二测试焊盘32、第三测试焊盘33和第一使能焊盘34接触。当第一接触部件211与第一测试焊盘31、第二测试焊盘32、第三测试焊盘33和第一使能焊盘34接触时，测试信号供给器（见图7的“220”）通过第一接触部件211提供测试信号，由此对根据本发明实施方式的显示面板1进行照明测试。

参照图4和7，第二测试部4可包括第四测试焊盘41、第五测试焊盘42、第六测试焊盘43、第四连接线45、第五连接线46和第六连接线47。在此情形中，第四测试焊盘41、第五测试焊盘42和第六测试焊盘43将要与测试装置200接触，并被提供来自测试装置200的测试信号。此外，第四连接线45与第四测试焊盘41连接，第五连接线46与第五测试焊盘42连接，第六连接线47与第六测试焊盘43连接。

此外，主体（见图7的“210”）可包括第二接触部件（见图7的“212”），第二接触部件将要与第四测试焊盘41、第五测试焊盘42和第六测试焊盘43接触。当第二接触部件212与第四测试焊盘41、第五测试焊盘42和第六测试焊盘43接触时，测试信号供给器（见图7的“220”）通过第二接触部件212提供测试信号，由此对根据本发明实施方式的显示面板1进行照明测试。第二接触部件212以与第一接触部件211相距预定间隔的方式设置。

另外，第四测试焊盘41位于非显示部5中，更特别地，第四测试焊盘41位于驱动焊盘100的另一侧。随着测试装置200与第四测试焊盘41接触，测试装置200与第四连接线45以及和第四连接线45连接的数据线电连接。第四测试焊盘41可被提供来自测试装置200的第二测试信号。

此外，第五测试焊盘42位于非显示部5中，更特别地，第五测试焊盘42位于驱动焊盘100的另一侧。第五测试焊盘42位于第四测试焊盘41与第六测试焊盘43之间。随着测试装置200与第五测试焊盘42接触，测试装置200与第五连接线46以及和第五连接线46连接的数据线电连接。因而，第五测试焊盘42可被提供来自测试装置200的第一测试信号。

另外，第六测试焊盘43位于非显示部5中，更特别地，第六测试焊盘43位于驱动焊盘100的另一侧。随着测试装置200与第六测试焊盘43接触，测试装置200与第六连接线47以及和第六连接线47连接的数据线电连接。因而，第六测试焊盘43可被提供来自测试装置200的第二测试信号。

此外，第四连接线45连接第四测试焊盘41和与第一子像素SP1连接的第一数据线RD1到RDm中的第2K条第一数据线。随着测试装置200与第四测试焊盘41接触，第二测试信号通过第四连接线45提供给第2K条第一数据线。第四连接线45也可通过开关元件与第2K条第一数据线连接。例如，开关元件可以为薄膜晶体管TFT。

另外，第五连接线46连接第五测试焊盘42和与第二子像素SP2连接的第二数据线GD1到GDm中的第2K条第二数据线。随着测试装置200与第五测试焊盘42接触，第一测试信号通过第五连接线46提供给第2K条第二数据线。第五连接线46也可通过开关元件与第2K条第二数据线连接。例如，如上所述，开关元件可以为薄膜晶体管TFT。

此外，第六连接线47连接第六测试焊盘43和与第三子像素SP3连接的第三数据线BD1到BDm中的第2K条第三数据线。随着测试装置200与第六测试焊盘43接触，第二测试信号通过第六连接线47提供给第2K条第三数据线。第六连接线47也可通过诸如薄膜晶体管TFT这样的开关元件与第2K条第三数据线连接。

参照图4和7，第二测试部4可进一步包括第二使能焊盘44。第二使能焊盘44位于非显示部5中，更特别地，第二使能焊盘44位于驱动焊盘100的另一侧。第二使能焊盘44还紧邻第四测试焊盘41设置，第四测试焊盘41位于第二使能焊盘44与第五测试焊盘42之间。另外，第二使能焊盘44可通过第一使能连接线38与在第四连接线45、第五连接线46及第六连接线47中包含的开关元件连接。

因此，测试装置200可通过第二使能焊盘44提供使能测试信号。在此情形中，主体（见图7的“210”）可与第二接触部件（见图7的“212”）连接，第二接触部件将要与第四测试焊盘41、第五测试焊盘42、第六测试焊盘43和第二使能焊盘44接触。当第二接触部件212与第四测试焊盘41、第五测试焊盘42、第六测试焊盘43和第二使能焊盘44接触时，测试信号供给器（见图7的“220”）通过第二接触部件212提供测试信号，由此对根据本发明实施方式的显示面板1进行照明测试。

此外，第二测试部4可进一步包括第二使能连接线。更详细地说，第二使能连接线可连接第二使能焊盘44与在第四连接线45、第五连接线46及第六连接线47中包含的开关元件。随着测试装置200与第二使能焊盘44接触，测试装置200可与第二使能连接线以及和第二使能连接线连接的开关元件电连接。

下文，将参照附图详细描述根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法。

首先，向显示面板1中包含的多条数据线D1到Dm（如图3中所示）中的第（2K-1）条数据线提供第一测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第（2K-1）条数据线提供第一测试信号进行此工艺，其中第一测试信号相对于公共电压Vcom依次交替地施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号。向第（2K-1）条数据线提供第一测试信号的工艺包括使测试装置（见图7的“200”）与第一测试部3和第二测试部4接触、以及通过第一测试部3和第二测试部4从测试装置200向第（2K-1）条数据线提供第一测试信号。

然后，向显示面板1中包含的多条数据线D1到Dm中的第2K条数据线提供与第一测试信号具有相反极性的第二测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第2K条数据线提供第二测试信号进行此工艺，其中第二测试信号相对于公共电压Vcom依次交替地施加负极性（-）测试信号和正极性（+）测试信号。向第2K条数据线提供第二测试信号的工艺包括：在测试装置（见图7的“200”）与第一测试部3和第二测试部4接触的条件下，通过第一测试部3和第二测试部4从测试装置200向第2K条数据线提供第二测试信号。

可同时进行向第2K条数据线提供第二测试信号的工艺和向第（2K-1）条数据线提供第一测试信号的工艺。因此，用于测试显示面板1的方法可依次进行向第（2K-1）条数据线提供正极性（+）测试信号并同时向第2K条数据线提供负极性（-）测试信号的第一测试步骤、以及向第（2K-1）条数据线提供负极性（-）测试信号并同时向第2K条数据线提供正极性（+）测试信号的第二测试步骤。

因而，对于根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法，在第一测试步骤期间，沿数据线D1到Dm的排列方向如图5中所示按照正极性、负极性、正极性、负极性、正极性和负极性的顺序依次提供测试信号，然后在第二测试步骤期间，如图6中所示按照负极性、正极性、负极性、正极性、负极性和正极性的顺序依次提供测试信号，由此以列反转方式进行照明测试。因此，可在与显示装置的实际驱动环境相同的条件下进行用于测试显示面板1的方法，由此实现照明测试的更为卓越的精度和可靠性。

更详细地说，参照图4和5，本发明的测试方法包括从第一测试部3的第一测试焊盘31向奇数编号的红色子像素提供具有正极性的测试信号、以及从第二测试部4的第四测试焊盘41向偶数编号的红色子像素提供具有负极性的测试信号。该方法还包括从第一测试部3的第二测试焊盘32向奇数编号的蓝色子像素提供具有负极性的测试信号、以及从第二测试部4的第五测试焊盘42向偶数编号的蓝色子像素提供具有正极性的测试信号。该方法包括从第一测试部3的第三测试焊盘33向奇数编号的绿色子像素提供具有正极性的测试信号、以及从第二测试部4的第六测试焊盘43向偶数编号的绿色子像素提供具有负极性的测试信号。图5中图解了负极性和正极性。图6图解了正极性和负极性的另一种布置。

根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可进一步包括在改变测试信号的电压电平之后重复进行第一测试步骤和第二测试步骤的工艺。也就是说，在改变第一测试信号和第二测试信号的电压电平之后，测试装置200通过使用第一测试部3和第二测试部4，向第（2K-1）条数据线提供具有改变的电压电平的第一测试信号，并向第2K条数据线提供具有改变的电压电平的第二测试信号。因此，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法能够根据用于照明测试的相应灰度级来改变测试信号的电压电平，由此可按照显示面板1的每个灰度级进行照明测试。

在改变测试信号的电压电平之后重复进行第一测试步骤和第二测试步骤的上述工艺可按照如下方式进行：重复进行第一测试步骤和第二测试步骤，直到完成第一灰度级的照明测试为止，然后在完成第一灰度级的照明测试之后，当基于与第一灰度级不同的第二灰度级改变测试信号的电压电平时，重复进行第一测试步骤和第二测试步骤。在施加具有改变的电压电平的测试信号之后重复进行第一和第二测试步骤的工艺可反复进行，直到完成显示面板1的所有期望灰度级的照明测试为止。在此情形中，可由用户预设与显示面板1的照明测试相关的灰度级的数量和顺序。

参照图4到7，如果对包括与第一子像素SP1连接的第一数据线RD1到RDm、与第二子像素SP2连接的第二数据线GD1到GDm以及与第三子像素SP3连接的第三数据线BD1到BDm的显示面板1进行照明测试，则用于测试显示面板的方法可包括下述工艺。

首先，向第一数据线RD1到RDm中的第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号进行此工艺，其中第一测试信号相对于公共电压Vcom依次交替地施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号。可在测试装置（见图7的“200”）与第一测试焊盘31接触的条件下，通过经第一测试焊盘31和第一连接线35向第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号，来进行向第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号的工艺。

然后，向第一数据线RD1到RDm中的第2K条第一数据线提供第二测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第2K条第一数据线提供第二测试信号进行此工艺，其中第二测试信号相对于公共电压Vcom依次交替地施加负极性（-）测试信号和正极性（+）测试信号。可在测试装置200与第四测试焊盘41接触的条件下，通过经第四测试焊盘41和第四连接线45向第2K条第一数据线提供第二测试信号，来进行向第2K条第一数据线提供第二测试信号的工艺。

可同时进行向第2K条第一数据线提供第二测试信号的工艺和向第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号的工艺。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可同时向第（2K-1）条第一数据线和第2K条第一数据线提供具有相反极性的测试信号。

因此，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法在照明测试期间可交替地照明与第（2K-1）条第一数据线连接的第一子像素SP1以及与第2K条第一数据线连接的第一子像素SP1。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可在照明测试期间防止闪烁的发生，由此便于照明测试工艺的实施。

此外，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法能够降低测试信号的频率，因而能够增加向第一子像素SP1施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号的时间。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可在照明测试期间防止闪烁的发生，并同时增加了向第一子像素SP1充入像素电压的时间，由此实现照明测试的工艺简便性和精度。

之后，向第二数据线GD1到GDm中的第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号进行此工艺。可在测试装置200与第二测试焊盘32接触的条件下，通过经第二测试焊盘32和第二连接线36向第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号，来进行向第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号的工艺。

然后，向第二数据线GD1到GDm中的第2K条第二数据线提供第一测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第2K条第二数据线提供第一测试信号进行此工艺。可在测试装置200与第五测试焊盘42接触的条件下，通过经第五测试焊盘42和第五连接线46向第2K条第二数据线提供第一测试信号，来进行向第2K条第二数据线提供第一测试信号的工艺。

可同时进行向第2K条第二数据线提供第一测试信号的工艺和向第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号的工艺。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可同时向第（2K-1）条第二数据线和第2K条第二数据线提供具有相反极性的测试信号。

因此，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法在照明测试期间可交替地照明与第（2K-1）条第二数据线连接的第二子像素SP2以及与第2K条第二数据线连接的第二子像素SP2。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可在照明测试期间防止闪烁的发生，由此便于照明测试工艺的实施。

此外，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法能够降低测试信号的频率，因而能够增加向第二子像素SP2施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号的时间。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可在照明测试期间防止闪烁的发生，并同时增加了向第二子像素SP2充入像素电压的时间，由此实现照明测试的工艺简便性和精度。

之后，向第三数据线BD1到BDm中的第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号进行此工艺。可在测试装置200与第三测试焊盘33接触的条件下，通过经第三测试焊盘33和第三连接线37向第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号，来进行向第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号的工艺。

然后，向第三数据线BD1到BDm中的第2K条第三数据线提供第二测试信号。可通过经第一测试部3和第二测试部4向第2K条第三数据线提供第二测试信号进行此工艺。可在测试装置200与第六测试焊盘43接触的条件下，通过经第六测试焊盘43和第六连接线47向第2K条第三数据线提供第二测试信号，来进行向第2K条第三数据线提供第二测试信号的工艺。

可同时进行向第2K条第三数据线提供第二测试信号的工艺和向第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号的工艺。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可同时向第（2K-1）条第三数据线和第2K条第三数据线提供具有相反极性的测试信号。

因此，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法在照明测试期间可交替地照明与第（2K-1）条第三数据线连接的第三子像素SP3以及与第2K条第三数据线连接的第三子像素SP3。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可在照明测试期间防止闪烁的发生，由此便于照明测试工艺的实施。

此外，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法能够降低测试信号的频率，因而能够增加向第三子像素SP3施加正极性（+）测试信号和负极性（-）测试信号的时间。因而，根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法可在照明测试期间防止闪烁的发生，并同时增加了向第三子像素SP3充入像素电压的时间，由此实现照明测试的工艺简便性和精度。

可同时进行向第（2K-1）条第一数据线提供第一测试信号的工艺、向第（2K-1）条第二数据线提供第二测试信号的工艺、向第（2K-1）条第三数据线提供第一测试信号的工艺、向第2K条第一数据线提供第二测试信号的工艺、向第2K条第二数据线提供第一测试信号的工艺、以及向第2K条第三数据线提供第二测试信号的工艺。

因而，当实施根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法时，沿数据线RD1到RDm、GD1到GDm和BD1到BDm的排列方向如图5中所示按照正极性、负极性、正极性、负极性、正极性和负极性的顺序依次提供测试信号，然后如图6中所示按照负极性、正极性、负极性、正极性、负极性和正极性的顺序依次提供测试信号，由此可以以列反转方式进行照明测试。结果，可在与显示装置的实际驱动环境相同的条件下进行根据本发明实施方式的用于测试显示面板的方法，由此实现照明测试的更为卓越的精度和可靠性。

根据本发明的实施方式，在照明测试期间可防止闪烁的发生，并增加向像素充入像素电压的时间，由此实现照明测试的工艺简便性和精度。

本发明涵盖对这里所述的每个例子和实施方式的各种修改。根据本发明，在如上所述的一个实施方式或例子中描述的一个或多个特点可等同地应用于如上所述的另一个实施方式或例子。上述一个或多个实施方式或例子的特点可组合到上述每个实施方式或例子中。本发明的一个或多个实施方式或例子的任何全部或部分组合也是本发明的一部分。

在不脱离本发明的精神或实质特性的情况下，可以以多种形式实施本发明，还应当理解，除非另有说明，上述实施方式并不限于前面说明书的任何细节，而是应当在所附权利要求书限定的精神和范围内宽泛地解释，因此所附权利要求书意在涵盖落入权利要求书的边界和范围、或者这种边界和范围的等同物内的所有变化和修改。

Claims (12)

1.一种用于测试显示面板的方法，所述显示面板包括用于显示第一颜色的多个第一子像素、用于显示第二颜色的多个第二子像素以及用于显示第三颜色的多个第三子像素，其中所述显示面板还包括：第一测试焊盘，所述第一测试焊盘用于与测试装置接触以从所述测试装置接收第一测试信号；第二测试焊盘，所述第二测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收第二测试信号；第三测试焊盘，所述第三测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收所述第一测试信号；第一连接线，所述第一连接线连接所述第一测试焊盘和与显示第一颜色的第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K-1)条第一数据线；第二连接线，所述第二连接线连接所述第二测试焊盘和与显示第二颜色的第二子像素连接的多条第二数据线中的第(2K-1)条第二数据线；以及第三连接线，所述第三连接线连接所述第三测试焊盘和与显示第三颜色的第三子像素连接的多条第三数据线中的第(2K-1)条第三数据线，所述方法包括如下步骤：

向与所述第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号，其中K是大于0的整数；以及

在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时，向所述多条第一数据线中的第2K条第一数据线提供与所述第一测试信号具有相反极性的所述第二测试信号，以交替地照明与第(2K-1)条第一数据线连接的第一子像素和与第2K条第一数据线连接的第一子像素。

2.根据权利要求1所述的方法，其中通过向与显示红色的第一子像素连接的第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号，执行向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括如下步骤：

在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时，向与所述第二子像素连接的多条第二数据线中的第(2K-1)条第二数据线提供所述第二测试信号；

在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时，向第2K条第二数据线提供所述第一测试信号，以交替地照明与第(2K-1)条第二数据线连接的第二子像素和与第2K条第二数据线连接的第二子像素；

在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时，向与所述第三子像素连接的多条第三数据线中的第(2K-1)条第三数据线提供所述第一测试信号；以及

在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时，向第2K条第三数据线提供所述第二测试信号，以交替地照明与第(2K-1)条第三数据线连接的第三子像素和与第2K条第三数据线连接的第三子像素。

4.根据权利要求3所述的方法，其中向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号的步骤包括：向与显示红色的第一子像素连接的第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号，

其中向第(2K-1)条第二数据线提供所述第二测试信号的步骤包括：向与显示绿色的第二子像素连接的第(2K-1)条第二数据线提供所述第二测试信号，以及

其中向第(2K-1)条第三数据线提供所述第一测试信号的步骤包括：向与显示蓝色的第三子像素连接的第(2K-1)条第三数据线提供所述第一测试信号。

5.根据权利要求1所述的方法，还包括：

在改变所述测试信号的电压之后，重复执行提供所述第一测试信号的步骤和提供所述第二测试信号的步骤。

6.一种显示面板，包括：

显示部，所述显示部包括用于显示多种颜色的多个子像素、以及与所述子像素连接的多条数据线；

第一测试部，所述第一测试部用于按照所述子像素的每种颜色向所述多条数据线中的第(2K-1)条数据线提供测试信号，其中K是大于0的整数；以及

第二测试部，所述第二测试部用于在所述第一测试部提供所述测试信号时，按照所述子像素的每种颜色向所述多条数据线中的第2K条数据线提供测试信号，

其中由所述第二测试部提供的测试信号的极性与由所述第一测试部提供的测试信号的极性相反，其中所述第一测试部包括：

第一测试焊盘，所述第一测试焊盘用于与测试装置接触以从所述测试装置接收第一测试信号；

第二测试焊盘，所述第二测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收第二测试信号；

第三测试焊盘，所述第三测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收所述第一测试信号；

第一连接线，所述第一连接线连接所述第一测试焊盘和与显示第一颜色的第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K-1)条第一数据线；

第二连接线，所述第二连接线连接所述第二测试焊盘和与显示第二颜色的第二子像素连接的多条第二数据线中的第(2K-1)条第二数据线；以及

第三连接线，所述第三连接线连接所述第三测试焊盘和与显示第三颜色的第三子像素连接的多条第三数据线中的第(2K-1)条第三数据线。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其中所述第一测试部和所述第二测试部按照所述子像素的每种颜色交替地照明与第(2K-1)条数据线连接的子像素和与第2K条数据线连接的子像素。

8.根据权利要求6所述的显示面板，其中所述第一测试部用于向与第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K-1)条第一数据线提供正极性测试信号，向与紧邻所述第一子像素的第二子像素连接的多条第二数据线中的第(2K-1)条第二数据线提供负极性测试信号，并向与紧邻所述第二子像素的第三子像素连接的多条第三数据线中的第(2K-1)条第三数据线提供所述正极性测试信号，

其中所述第二测试部还用于向第2K条第一数据线提供所述负极性测试信号，向第2K条第二数据线提供所述正极性测试信号，并向第2K条第三数据线提供所述负极性测试信号。

9.根据权利要求6所述的显示面板，其中所述第一测试部还用于通过向与第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K-1)条第一数据线首先提供正极性测试信号并其次提供负极性测试信号，依次交替地提供所述正极性测试信号和所述负极性测试信号，

其中所述第二测试部还用于通过向第2K条第一数据线首先提供所述负极性测试信号并其次提供所述正极性测试信号，依次交替地提供所述负极性测试信号和所述正极性测试信号，以交替地照明与第(2K-1)条第一数据线连接的第一子像素和与第2K条第一数据线连接的第一子像素。

10.根据权利要求6所述的显示面板，其中所述第一测试部和所述第二测试部还用于按照所述子像素的每种颜色同时向第(2K-1)条数据线和第2K条数据线提供具有相反极性的测试信号，从而以列反转方式进行照明测试。

11.根据权利要求6所述的显示面板，

其中相对于公共电压依次提供正极性测试信号和负极性测试信号且所述正极性测试信号和所述负极性测试信号被交替应用为所述第一测试信号；

其中相对于公共电压依次提供负极性测试信号和正极性测试信号且所述负极性测试信号和所述正极性测试信号被交替应用为所述第二测试信号。

12.根据权利要求6所述的显示面板，其中所述第二测试部包括：

第四测试焊盘，所述第四测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收所述第二测试信号；

第五测试焊盘，所述第五测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收所述第一测试信号；

第六测试焊盘，所述第六测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收所述第二测试信号；

第四连接线，所述第四连接线连接所述第四测试焊盘和第2K条第一数据线；

第五连接线，所述第五连接线连接所述第五测试焊盘和第2K条第二数据线；以及

第六连接线，所述第六连接线连接所述第六测试焊盘和第2K条第三数据线。