CN103631430B

CN103631430B - 触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置

Info

Publication number: CN103631430B
Application number: CN201310170821.5A
Authority: CN
Inventors: 陈威豪; 林金义
Original assignee: E Ink Holdings Inc
Current assignee: E Ink Holdings Inc
Priority date: 2012-08-20
Filing date: 2013-05-10
Publication date: 2016-08-24
Anticipated expiration: 2033-05-10
Also published as: CN103631430A; TW201409295A; US20140049488A1; US9092084B2; TWI470496B

Abstract

本发明揭露一种触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置。触控面板的触点座标的取样方法包含：(a1)以低侦测频率侦测触控面板上的触点；(a2)计算低侦测频率下的两个触点座标间的距离；(a3)判断此两个触点座标间的距离是否大于第一临界距离；(a4)当判断结果为真，以高侦测频率侦测触控面板上的触点；(a5)计算高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离；(a6)判断步骤(a5)的两个触点座标间的距离是否小于第二临界距离，第二临界距离小于第一临界距离；以及(a7)当步骤(a6)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

Description

触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置

技术领域

本发明是有关于一种触控面板的触点座标的取样方法以及一种触控装置。

背景技术

近年来，许多电子产品应用触控面板作为输入接口。常见的触控面板包含电阻式触控面板、电容式触控面板、电磁感应式触控面板、光学感应式触控面板及音波式触控面板等等。在可携式电子产品的触控面板中，触控面板的消耗功率一直是重要的考量因素。有许多研究针对触控面板的结构进行改良，但是鲜少有研究者对于触控面板侦测触点的频率与使用者的习惯之间的关连性进行研究。

发明内容

本发明的一目的是揭露一种触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置，以能有效地降低触控面板的消耗功率。

根据本发明一实施方式，上述触控面板的触点座标的取样方法，包含以下步骤：(a1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以得到时序上相邻的两个触点座标；(a2)计算低侦测频率下的两个触点座标间的距离；(a3)判断低侦测频率下的两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；(a4)当步骤(a3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标；(a5)计算高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离；(a6)判断步骤(a5)的两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中第二临界距离小于第一临界距离；以及(a7)当步骤(a6)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

在一实施方式中，触控面板具有一最小解析单位长度，且第一临界距离为最小解析单位长度的5-10倍。

在一实施方式中，触控面板具有一最小解析单位长度，且第二临界距离为最小解析单位长度的2-6倍。

在一实施方式中，低侦测频率为约50次/秒至约150次/秒，且高侦测频率为约150次/秒至约300次/秒。

根据本发明另一实施方式，是提供一种触控面板的触点座标的取样方法，此包含以下步骤：(b1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上相邻的两个触点座标；(b2)计算低侦测频率下的两个触点座标间的距离及斜率；(b3)判断低侦测频率下的两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；(b4)当步骤(b3)的判断结果为真，判断低侦测频率下的斜率是否大于一第一临界斜率；(b5)当步骤(b4)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得得时序上的下一个触点座标；(b6)计算高侦测频率下的两个触点座标间的距离及斜率；以及(b7)判断高侦测频率下的两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中第二临界距离小于第一临界距离；(b8)当步骤(b7)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点；(b9)当步骤(b7)的判断结果为否，判断高侦测频率下的斜率是否小于一第二临界斜率，其中第二临界斜率小于第一临界斜率；以及(b10)当步骤(b9)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

在一实施方式中，第一临界斜率为约0.2至约0.4。

在一实施方式中，第二临界斜率为约0.1至约0.3。

根据本发明又一实施方式，是提供一种触控面板的触点座标的取样方法，此包含以下步骤：(c1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第一、第二及第三触点座标；(c2)计算低侦测频率下的第一触点座标至第二触点座标的向量、第二触点座标至第三触点座标的向量、以及两向量间的夹角；(c3)判断步骤(c2)的两向量间的夹角是否大于一第一临界角；(c4)当步骤(c3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第四、第五及第六触点座标；(c5)计算高侦测频率下的第四触点座标至第五触点座标的向量、第五触点座标至第六触点座标的向量、以及两向量间的夹角；(c6)判断步骤(c5)的两向量的夹角是否小于一第二临界角，其中第二临界角小于第一临界角；以及(c7)当步骤(c6)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

在一实施方式中，第一临界角为15度至30度，且第二临界角为5度至15度。

本发明的另一方面是揭露一种触控装置，此触控装包含一触控面板、一座标计算单元、一轨迹侦测单元以及一取样控制单元。触控面板用以在一侦测频率下侦测出现在触控面板上的一触点，而得到时序上一系列的触点信息。座标计算单元用以根据系列的触点信息计算一系列的触点座标。轨迹侦测单元用以计算一系列的触点座标中，时序上任意两相邻触点座标间的距离。取样控制单元用以根据轨迹侦测单元所计算的距离，控制触控面板的侦测触点频率。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1A绘示本发明一实施方式的触控面板的触点座标的取样方法的流程图；

图1B绘示本发明一实施方式的触控面板的上视示意图；

图1C绘示本发明一实施方式的触点座标的取样时间点的示意图；

图2A绘示本发明另一实施方式的触控面板的触点座标的取样方法的流程图；

图2B绘示本发明定义的斜率的示意图；

图3A绘示本发明再一实施方式的触控面板的触点座标的取样方法的流程图；

图3B绘示本发明一实施方式的第一触点至第二触点的向量、第二触点至第三触点的向量、以及两向量之间的夹角；

图4绘示本发明一实施方式的触控装置的方块图。

【主要元件符号说明】

100 方法

110、120、130、140 步骤

150、160、170 步骤

200 方法

210、220、230、240、250 步骤

260、270、280、290 步骤

300 方法

310、320、330、340 步骤

350、360、370 步骤

400 触控装置

410 触控面板

412 解析度单元

420 座标计算单元

430 轨迹侦测单元

440 取样控制单元

A、B、C、D、E、F 触点

d 最小解析单位长度

θ₁、θ₂ 夹角

01、02、03、04、05 时间点

06、07、08、09 时间点

具体实施方式

为了使本发明的叙述更加详尽与完备，下文针对了本发明的实施方式与具体实施例提出了说明性的描述；但这并非实施或运用本发明具体实施例的唯一形式。以下所揭露的各实施例，在有益的情形下可相互组合或取代，也可在一实施例中附加其他的实施例，而无须进一步的记载或说明。

在以下描述中，将详细叙述许多特定细节以使读者能够充分理解以下的实施例。然而，可在无此等特定细节的情况下实践本发明的实施例。在其他情况下，为简化附图，熟知的结构与装置仅示意性地绘示于图中。

本发明的一方面是提供一种触控面板的触点座标的取样方法，此方法可应用在各式的触控面板，例如电阻式触控面板、电容式触控面板、电磁感应触控面板或光学式触控面板等。

图1A绘示本发明一实施方式的触控面板的触点座标的取样方法100的流程图。取样方法100由步骤110开始，步骤110可例如为触控面板的开机步骤。图1B绘示本发明一实施方式的触控面板410的上视示意图。触控面板410通常包含多个解析度单元412，并具有一最小解析单位长度d。在此，“最小解析单位长度”是指触控面板能够辨识区分的最小距离。在其他实施例中，解析度单元412可为各种形状，例如三边形、长方形或六边形，且不限于以矩阵的方式排列。

在步骤120中，以低侦测频率来侦测触控面板上的触点，以获得时序上相邻的至少两个触点座标。本文中，“时序”的用语是指时间顺序。在一实施方式中，低侦测频率是以每秒50次至150次的频率来侦测触控面板上的触点位置，因此每秒可得到50至150组的触点座标。换言之，侦测频率是指触控面板侦测触点的频率，当一触点在触控面板上移动时，便可得到具有时间顺序的一系列触点座标。举例而言，如图1C所示，在低侦测频率下，在第一时间点01侦测触点的位置，而得到第一时点01的触点座标(x₁,y₁)。在第二时间点02侦测触点的位置，而得到第二时间点02的触点座标为(x₂,y₂)。当低侦测频率是每秒100次时，第一时间点01与第二时间点02的时间差为约0.01秒。侦测触控面板上触点位置的方式是根据触控面板的种类而定，不同种类的触控面板是依其各别的原理来侦测触点座标。

在步骤130中，计算在低侦测频率下所得的时序上相邻两个触点座标之间的距离。亦即，在得到第一时间点01的触点座标(x₁,y₁)和第二时间点02的触点座标(x₂,y₂)之后，计算时序上相邻的两个触点座标(x₁,y₁)和(x₂,y₂)之间的距离。例如，可利用以下数学式(I)计算两触点座标间的距离H：

H＝[(x₂-x₁)²+(y₂-y₁)²]^1/2 数学式(I)。

在步骤140中，判断低侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标之间的距离是否大于第一临界距离。详言之，在得到时序上相邻的两个触点座标间的距离H之后，判断距离H是否大于第一临界距离。第一临界距离可为一预设值，或者第一临界距离可由使用者设定。在一具体实例中，第一临界距离为最小解析单位长度的5-10倍。例如，第一临界距离可设定为最小解析单位长度的10倍，当时序上相邻的两个触点座标间的距离H大于最小解析单位长度的10倍时，步骤140的判断结果为真，则接续进行步骤150。反之，当步骤140的判断为否，仍然以低侦测频率来侦测触控面板的触点位置；例如，取样方法可回到步骤120。

取样方法进行到步骤150，以高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标。以图1C为例来具体说明上述步骤120至步骤150。当第一时点01的触点座标(x₁,y₁)和第二时间点02的触点座标(x₂,y₂)之间的距离未大于第一临界距离时，则仍然以步骤120的低侦测频率来侦测触点的位置，而得到第三时间点03的触点座标(x₃,y₃)。接着，进行步骤130，计算第二时间点02的触点座标(x₂,y₂)和第三时间点03的触点座标(x₃,y₃)之间的距离。然后，进行步骤140，判断触点座标(x₂,y₂)和触点座标(x₃,y₃)之间的距离是否大于第一临界距离，当此判断结果为真时，则进行步骤150，将原本的低侦测频率转换为高侦测频率，在第四时间点04侦测触点的位置，而得到触点座标(x₄,y₄)。在一实施方式中，高侦测频率为约150次/秒至约300次/秒。

取样方法100进行到步骤160，计算高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离。同样以图1C为例说明，当得到第四时间点04的触点座标(x₄,y₄)后，计算第三时间点03的触点座标(x₃,y₃)与第四时间点04的触点座标(x₄,y₄)之间的距离。

然后，在步骤170中，判断步骤160所述的两个触点座标间的距离是否小于第二临界距离。第二临界距离小于第一临界距离。在一实施方式中，第二临界距离为最小解析单位长度的2-6倍。

当步骤170的判断结果为否，则仍然以高侦测频率侦测触控面板上的触点；例如，取样方法100可以回到步骤150。反之，当步骤170的判断结果为真时，则将原本的高侦测频率转变为低侦测频率，并以低侦测频率侦测触控面板上的触点；例如，取样方法100可以回到步骤120。换言之，当步骤170的判断结果为否时，则重复进行步骤150至步骤170，以高侦测频率侦测触控面板上的触点位置。以图1C为例说明上述步骤150至步骤170，当触点座标(x₃,y₃)和(x₄,y₄)之间的距离不小于第二临界距离时，仍然以步骤150所述的高侦测频率来侦测触点的位置，而得到第五时间点05的触点座标(x₅,y₅)，之后再进行步骤160和步骤170。当第七时间点07的触点座标(x₇,y₇)和第八时间点08的触点座标(x₈,y₈)之间的距离小于第二临界距离时，此时将高侦测频率转换为低侦测频率，以低侦测频率来侦测第九时间点09的触点座标(x₉,y₉)。

根据本发明一实施例，当步骤150的触控面板侦测触点的结果为不存在任何触点时，则将取样方法100回到步骤120。根据本发明另一实施例，当触控面板关机时，结束取样方法100。

图2A绘示本发明另一实施方式的触控面板的触点座标的取样方法200的流程图。取样方法200由步骤210开始。步骤210的开始步骤可例如为触控面板的开机步骤。

接着，进行步骤220，以低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上相邻的两个触点座标。步骤220与方法100的步骤120相同。

取样方法200进行到步骤230，计算在低侦测频率下所得的时序上相邻两个触点座标之间的距离及斜率。请注意，在此所述的“斜率”有别于一般数学上的斜率定义。在此，A点座标(a1,a2)与B点座标(b1,b2)之间的斜率m以下数学式(II)定义：

当|Δx|≥|Δy|时，

当|Δx|<|Δy|时，数学式(II)

其中Δx＝b1-a1；Δy＝b2-a2；

请参照图2B，以更清楚说明上述的斜率定义。在图2B中，A点与B点间的|Δx|≥|Δy|，所以：

即

C点(c1,c2)与D点(d1,d2)间的|Δx|<|Δy|，所以：

即

E点(e1,e2)与F点(f1,f2)间的|Δx|<|Δy|，所以：

即

所以，在此所述的斜率的最大值为1，最小值为0。发明人以数学式(II)自行定义斜率的原因在于，根据一般数学上斜率的定义，其斜率有无限大而不存在的现象，若采用一般数学上斜率的定义，会对后续的计算方式造成极大的困扰。另一方面，根据数学上斜率的定义，当直角座标上A点与B点的连线接近于平行y轴时，A点或B点些微的移动会造成斜率数值大幅的变化，导致计算的斜率失去度量的意义。因此，为克服上述问题，本发明的发明人是以上述数学式(II)定义斜率。

在步骤240中，判断低侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标之间的距离是否大于第一临界距离。步骤240的具体实施方式可与前述步骤140相同。当此步骤的判断结果为真时，则进行后续步骤250。当此步骤的判断结果为否时，则不进行步骤250，而仍然以低侦测频率来侦测触控面板的触点位置。例如，取样方法200可回到步骤220。

取样方法200进行到步骤250，判断步骤230所计算的斜率是否大于一第一临界斜率。在一实施方式中，第一临界斜率为约0.2至约0.4。当步骤250的判断结果为否时，而仍然以低侦测频率来侦测触控面板的触点位置。例如，取样方法200可回到步骤220。当步骤250的判断结果为真时，进行步骤260。

取样方法200进行到进行步骤260，以高侦测频率侦测触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标。

在步骤270中，计算高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离及斜率。计算距离及斜率的具体实施方式，如前文关于步骤220所述。

取样方法200进行到步骤280，判断高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，第二临界距离小于步骤240所述的第一临界距离。步骤280的具体实施方式可与前述步骤170相同。当此步骤的判断结果为真时，则将高侦测频率转变为低侦测频率，并以低侦测频率来侦测触控面板的触点位置。例如，取样方法200可回到步骤220。当步骤280的判断结果为否时，则进行后续步骤290。

在步骤290中，判断高侦测频率下的斜率是否小于一第二临界斜率，第二临界斜率小于第一临界斜率。在一实施方式中，第二临界斜率为约0.1至约0.3。当此步骤的判断结果为真时，则将高侦测频率转变为低侦测频率，并以低侦测频率来侦测触控面板的触点位置。例如，取样方法200可回到步骤220。当步骤290的判断结果为否时，仍然以高侦测频率侦测触控面板上的触点。例如，取样方法200可回到步骤260。

根据本发明上述的实施方式，第二临界距离小于第一临界距离，此一条件是根据本发明的诸多实验测试所归纳的结果。如果第二临界距离大于或等于第一临界距离，根据测试诸多使用者的使用习惯，很容易造成触控面板在高侦测频率和低侦测频率之间的切换次数过于频繁，而无法有效地降低触控装置的消耗功率。

此外，根据本发明一实施方式，第一临界距离为最小解析单位长度的5-10倍以及第二临界距离为最小解析单位长度的2-6倍，上述范围具有关键性。经过诸多实验的归纳分析，当第一临界距离在上述范围内时，能够区分90％的使用者是处于手写输入情况或是进行简单的上下左右滑动。

再者，根据本发明的另一实施方式，第一临界斜率为约0.2至约0.4以及第二临界斜率为约0.1至约0.3具有关键性。经诸多实验的归纳分析，第一和第二临界斜率在此范围中，能够区分出超过95％的使用者是处于手写输入情况，或者仅是进行简单的上下左右滑动。

图3A绘示本发明再一实施方式的触控面板的触点座标的取样方法300的流程图。取样方法300由步骤310开始。步骤310的开始步骤可例如为触控面板的开机步骤。

接着，进行步骤320，以低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上依序且相邻的第一、第二及第三触点座标。举例而言，第一、第二及第三触点座标可分别为图1C绘示的第一时间点01的触点座标(x₁,y₁)、第二时间点02的触点座标(x₂,y₂)以及第三时间点03的触点座标(x₃,y₃)。

取样方法300进行到步骤330，计算低侦测频率下的第一触点座标至第二触点座标的向量、第二触点座标至第三触点座标的向量、以及上述两向量间的夹角。具体言之，如图3B所示，第一触点A至第二触点B的向量即为图中A点和B点之间箭号，第二触点B至第三触点C的向量即为图中B点和C点之间的箭号，两向量之间的夹角即为θ₁。

取样方法300进行到步骤340，判断步骤330所计算的两向量间的夹角是否大于一第一临界角。在一实施方式中，第一临界角为15度至30度。当步骤340的判断结果为否时，则仍然维持以低侦测频率来侦测触控面板的触点位置；例如，取样方法300可回到步骤320。反之，当步骤340的判断结果为真时，则进行后续步骤350。

在步骤350中，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第四、第五及第六触点座标。举例而言，第四、第五及第六触点座标可分别为图1C绘示的第四时间点04的触点座标(x₄,y₄)、第五时间点05的触点座标(x₅,y₅)及第六时间点06的触点座标(x₆,y₆)。

接着，进行步骤360，计算高侦测频率下的第四触点座标至第五触点座标的向量、第五触点座标至第六触点座标的向量、以及上述两向量间的夹角。以图3B为例说明，第四触点D至第五触点E的向量即为图中D点和E点之间箭号，第五触点E至第六触点F的向量即为图中E点和F点之间的箭号，两向量之间的夹角即为θ₂。

取样方法300进行到步骤370，判断步骤360所计算的两向量间的夹角是否小于一第二临界角。第二临界角是小于上述步骤340的第一临界角。在一实施例中，第二临界角为5度至15度。当步骤370的判断结果为否时，则仍然维持以高侦测频率来侦测触控面板的触点位置；例如，取样方法300可回到步骤350。反之，当步骤370的判断结果为真时，则将高侦测频率转变为低侦测频率，并以低侦测频率侦测触控面板上的触点位置；例如，取样方法300可回到步骤320。

根据本发明上述的实施方式，第一临界角为15度至30度以及第二临界角为5度至15度具有关键性。经诸多实验结果的归纳分析，当第一和第二临界角在此范围时，能够区分出超过97％的使用者是处于手写输入情况，或者仅是进行简单的上下左右滑动。

本发明的另一方面是揭露一种触控装置。图4绘示本发明一实施方式的触控装置400的方块图。触控装置400包含触控面板410、座标计算单元420、轨迹侦测单元430以及取样控制单元440。触控面板410能够以一侦测频率来侦测出现在触控面板上的一触点，而得到时序上一系列的触点信息。触点信息的具体方式是根据不同种类的触控面板而异。例如，电阻式触控面板的触点信息可能为电阻值或压降值。光学式应触控面板的触点信息可能为光电流。触控面板410可以是内嵌式或外挂式的触控面板。在一实施例中，触控面板为一液晶面板上外加上一电阻式触控屏。在另一实施例中，触控面板410为一液晶面板中有内嵌的位置侦测元件。

座标计算单元420用以根据上述一系列的触点信息来计算一系列的触点座标。

轨迹侦测单元430用以计算触点座标系列中，时序上任意两相邻触点座标之间的距离。在一实施方式中，轨迹侦测单元430更包含一斜率计算单元(未绘示)，用以计算时序上任意两相邻触点座标之间的斜率。在另一实施方式中，轨迹侦测单元430更包含一向量计算单元(未绘示)，用以计算前文取样方法300所述的向量和两向量间夹角。

取样控制单元440用以根据轨迹侦测单元430所计算的距离或其他信息，而控制触控面板410的侦测触点的频率。具体而言，取样控制单元440可控制触控面板410为低侦测频率或高侦测频率。

根据本发明以上揭露的实施方式，可以有效地降低触控装置的消耗功率。当使用者只是单纯地进行点击触控面板的动作，或是触点轨迹仅是简单的上下滑动或左右滑动，或是触点的移动速度缓慢的情况下，触控装置降低侦测触点的频率。侦测触点的频率降低，表示电子元件进行运算工作的次数得以减少，所以可减少触控装置的消耗功率。反之，当使用者输入的触点轨迹复杂，或是触点移动速度快速的情况下，触控装置侦测触点的频率提高，用以精准地撷取使用者输入的信息。

虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims

1.一种触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，包含：

(a1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以得到时序上相邻的两个触点座标；

(a2)计算该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离；

(a3)判断该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；

(a4)当步骤(a3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标，当步骤(a3)的判断结果为否，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点；

(a5)计算该高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离；

(a6)判断步骤(a5)的该两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中该第二临界距离小于该第一临界距离；以及

(a7)当步骤(a6)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点，当步骤(a6)的判断结果为否，以该高侦测频率侦测该触控面板上的触点。

2.根据权利要求1所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该触控面板具有一最小解析单位长度，且该第一临界距离为该最小解析单位长度的5-10倍。

3.根据权利要求1所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该触控面板具有一最小解析单位长度，且该第二临界距离为该最小解析单位长度的2-6倍。

4.根据权利要求1所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该低侦测频率为50次/秒至150次/秒，且该高侦测频率为150次/秒至300次/秒。

5.一种触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，包含：

(b1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上相邻的两个触点座标；

(b2)计算该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离及斜率；

(b3)判断该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；

(b4)当步骤(b3)的判断结果为真，判断该低侦测频率下的该斜率是否大于一第一临界斜率，当步骤(b3)的判断结果为否，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点；

(b5)当步骤(b4)所述的判断该低侦测频率下的该斜率是否大于该第一临界斜率的判断结果为真，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标，当步骤(b4)所述的判断该低侦测频率下的该斜率是否大于该第一临界斜率的判断结果为否，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点；

(b6)计算该高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离及斜率；以及

(b7)判断该高侦测频率下的该两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中该第二临界距离小于该第一临界距离；

(b8)当步骤(b7)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点；

(b9)当步骤(b7)的判断结果为否，判断该高侦测频率下的该斜率是否小于一第二临界斜率，其中该第二临界斜率小于该第一临界斜率；以及

(b10)当步骤(b9)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点，当步骤(b9)的判断结果为否，以该高侦测频率侦测该触控面板上的触点；

其中所述斜率以下述数学式(II)定义：

当|Δx|≥|Δy|时，

当|Δx|＜|Δy|时，

其中|Δx|表示两个触点座标的x座标差值的绝对值，|Δy|表示两个触点座标的y座标差值的绝对值，m表示该斜率。

6.根据权利要求5所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该第一临界斜率为0.2至0.4。

7.根据权利要求5所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该第二临界斜率为0.1至0.3。

8.一种触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，包含：

(c1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第一触点座标、第二触点座标及第三触点座标；

(c2)计算该低侦测频率下的该第一触点座标至该第二触点座标的向量、该第二触点座标至该第三触点座标的向量、以及该第一触点座标至该第二触点座标的该向量与该第二触点座标至该第三触点座标的该向量之间的夹角；

(c3)判断步骤(c2)的该夹角是否大于一第一临界角；

(c4)当步骤(c3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得时序上依序相邻的第四触点座标、第五触点座标及第六触点座标，当步骤(c3)的判断结果为否，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点；

(c5)计算该高侦测频率下的该第四触点座标至该第五触点座标的向量、该第五触点座标至第六触点座标的向量、以及该第四触点座标至该第五触点座标的该向量与该第五触点座标至第六触点座标的该向量之间的夹角；

(c6)判断步骤(c5)的该夹角是否小于一第二临界角，其中该第二临界角小于该第一临界角；以及

(c7)当步骤(c6)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点，当步骤(c6)的判断结果为否，以该高侦测频率侦测该触控面板上的触点。

9.根据权利要求8所述的触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，该第一临界角为15度至30度，且该第二临界角为5度至15度。

10.一种触控装置，其特征在于，包含：

一触控面板，用以在一侦测频率下侦测出现在该触控面板上的一触点，而得到时序上一系列的触点信息；

一座标计算单元，用以根据该系列的触点信息计算一系列的触点座标；

一轨迹侦测单元，用以计算该系列的触点座标中，时序上任意两相邻触点座标间的距离；以及

一取样控制单元，用以根据该轨迹侦测单元所计算的该距离，控制该触控面板的该侦测频率，其中当该距离大于一第一临界距离时，该取样控制单元提高该触控面板的该侦测频率，当该距离小于一第二临界距离时，该取样控制单元降低该触控面板的该侦测频率，其中该第二临界距离小于该第一临界距离。