CN103531152A - 一种显示控制方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种显示控制方法及装置。本发明实施例方法包括:侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;当侦测到某一主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与该主用子像素对应的备用子像素。本发明实施例还提供了一种显示控制装置。本发明实施例能够提高显示系统的可靠性,改善传统显示屏显示效果不佳的情况。
Description
技术领域
本发明实施例涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示控制方法及装置。
背景技术
现有的显示屏,例如发光二极管(Light Emitting Diode,LED)显示屏,全彩色LED显示屏的一个像素单元由一个红色(Red)子像素,一个绿色(Green)子像素及一个蓝色(Blue)子像素排列构成,每个像素单元内的3个子像素分别为3个不同颜色的LED;另外,还有有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode,OLED)显示屏,其每个像素单元内也是由一个红色子像素,一个绿色子像素及一个蓝色子像素构成,每个像素单元内的3个子像素分别为有机发光材料发出的3个不同颜色的发光点。
在目前工艺水平的限制下,显示屏出现坏点是无法避免的缺陷。例如LED显示屏,一般坏点出现的概率为20ppm,即每一百万颗LED中出现20个坏灯。对大点距或者低密度的LED显示屏来说,这个概率对整体的显示影响并不是很明显,例如点距为5mm,每平方米显示屏有1个坏点,坏点数量较少,可通过手工更换灯珠的方式进行修复。但当LED显示屏点距达到2mm或2mm以下时,LED显示屏的坏点数量随着像素密度的提高而大幅度增加。例如点距为2mm时,坏点为每平方米5个;当点距小于2mm时,每平方米坏点的个数将大于5个,此时,由于坏点数量大,修复起来较为困难。而显示屏出现坏点后将会导致高密显示屏可靠性低、显示效果不佳。
发明内容
本发明实施例提供了一种显示控制方法及装置,能够提高显示系统的可靠性,改善传统显示屏显示效果不佳的情况。
本发明实施例提供的显示控制方法,包括:侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;当侦测到所述主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与所述主用子像素对应的备用子像素。
本发明实施例提供的显示控制装置,包括:侦测单元,用于侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;处理单元,当侦测到所述主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与所述主用子像素对应的备用子像素。
从以上技术方案可以看出,本发明实施例具有以下优点:
本发明实施例中,通过侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况,当侦测到某一主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。本发明实施例中,像素单元内每个主用子像素都设置有对应的备用子像素,在某一主用子像素出现故障时,直接启动与之对应的备用子像素,保证了显示屏整体的显示效果,提高了显示系统的可靠性。
附图说明
图1为本发明实施例中显示控制方法一个实施例示意图;
图2为本发明实施例中显示控制方法另一实施例示意图;
图3为本发明实施例中显示控制装置一个实施例示意图;
图4为本发明实施例中显示系统的驱动方式一个实施例示意图;
图5为本发明实施例中显示系统的驱动方式另一实施例示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种显示控制方法及装置,能够提高显示系统的可靠性,改善传统显示屏显示效果不佳的问题。
请参阅图1,本发明实施例中显示控制方法一个实施例包括:
101、侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;
现有的全彩色LED显示屏或OLED显示屏,每个像素单元内只有一个红色(Red)子像素,一个绿色(Green)子像素及一个蓝色(Blue)子像素。当某一种子像素(例如R子像素)出现故障时,屏幕上对应位置就会出现一个坏点。因此,本实施例中,可预先为每一种子像素设置备用子像素,此处,将每个像素单元内原有的子像素称为主用子像素,另外设置的备用的子像素称为备用子像素,每一种主用子像素都设置有对应的备用子像素,此处的子像素可以是发光二极管LED或者有机材料发光点。
显示控制装置可实时侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况。
102、当侦测到主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。
当显示控制装置侦测到某一主用子像素,例如R主用子像素出现故障时,启动与R主用子像素对应的备用子像素,本实施例中,即启用备用的R子像素。
本实施例中,通过侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况,当侦测到某一主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。本实施例中,像素单元内每个主用子像素都设置有对应的备用子像素,在某一主用子像素出现故障时,直接启动与之对应的备用子像素,保证了显示屏整体的显示效果,提高了显示系统的可靠性。
为了便于理解,下面以一具体实施例对本发明显示控制方法进行描述,请参阅图2,本发明实施例中显示控制方法另一实施例包括:
201、侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;
本实施例中,可预先为像素单元内原有的每个子像素设置备用的子像素,将每个像素单元内原有的子像素,例如R子像素,G子像素及B子像素称为主用子像素,另外设置的备用的子像素称为备用子像素,每一个主用子像素都设置有对应的备用子像素。
显示控制装置可实时侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况。
202、当侦测到主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素,或者从多个预设的备用子像素中选择一个并启动。
本实施例中,可为像素单元内的每个主用子像素预设一个或多个备用子像素。预设的方法例如:直接在像素单元内另外排布几个R、G、B子像素,或者在像素单元内排布多个同一种类型的子像素,例如R子像素,然后将1/3的R子像素涂抹上红色荧光粉,1/3的R子像素涂抹上绿色荧光粉,通过颜色转换形成R、G、B三种类型的子像素。
如果每个主用子像素只预设了一个备用子像素,则在主用子像素出现故障时,直接启动对应的备用子像素即可。
如果每种主用子像素预设了多个备用子像素,则在某一主用子像素出现故障时,可按照预定的顺序从多个备用子像素中选取一个并启动,或者随机在多个备用子像素中选取一个并启动。
每个备用子像素设置有独立可切换的驱动电路,具体启动备用子像素的方式例如:利用像素单元外部的驱动芯片构成驱动电路启动备用子像素,或者利用薄膜场效应管(Thin Film Transistor,TFT)阵列构成驱动电路启动备用子像素,或者利用像素单元内置的集成电路(Integrated Circuit,IC)芯片构成驱动电路启动备用控制芯片。
需要说明的是,当侦测到主用子像素出现故障后,可直接将故障信号作为触发信号,触发驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素,也可将侦测到的故障信号报告给用户,由用户切换到对应的驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。
本实施例中,通过侦测像素单元内每个主用子像素的运行状况,当侦测到某一主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。本实施例中,像素单元内每个主用子像素都设置有对应的备用子像素,在某一主用子像素出现故障时,直接启动与之对应的备用子像素,保证了显示屏整体的显示效果,提高了显示系统的可靠性。
下面对本发明实施例中的显示控制装置进行描述,请参阅图3,本发明实施例中的显示控制装置一个实施例包括:
侦测单元301,用于侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;
处理单元302,用于当侦测到主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。
为便于理解,下面以一个应用场景对本实施例中的显示控制装置的各单元之间的交互方式进行描述:
现有的全彩色LED显示屏或OLED显示屏,每个像素单元内只有一个R子像素,一个G子像素及一个B子像素。当某一种子像素(例如R子像素)出现故障时,屏幕上对应位置就会出现一个坏点。因此,本实施例中,处理单元302可预先为每一种子像素设置备用子像素,此处,将每个像素单元内原有的子像素称为主用子像素,另外设置的备用的子像素称为备用子像素,每一个主用子像素都设置有对应的备用子像素。侦测单元301可实时侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况。
当侦测单元301侦测到主用子像素出现故障时,处理单元302利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素,或者从多个预设的备用子像素中选择一个并启动。
本实施例中,处理单元302可预先为像素单元内的每个主用子像素预设一个或多个备用子像素。如图4所示,一个像素单元内设置有6个R子像素,其中,一个R子像素是主用子像素,其他5个是备用子像素,另外还为G子像素及B子像素分别设置了5个对应的备用子像素。
预设的方法例如:直接在像素单元内另外排布几个R、G、B子像素,或者在像素单元内排布多个同一种类型的子像素,例如R子像素,然后将1/3的R子像素涂抹上红色荧光粉,1/3的R子像素涂抹上绿色荧光粉,通过颜色转换形成R、G、B三种类型的子像素。
如果每个主用子像素只预设一个备用子像素,则在侦测单元301侦测到主用子像素出现故障时,处理单元302直接启动对应的备用子像素即可。
如果每种主用子像素预设了多个备用子像素,则在侦测单元301侦测到某一主用子像素出现故障时,处理单元302可按照预定的顺序从多个备用子像素中选取一个并启动,或者随机在多个备用子像素中任意选取一个并启动。
每个备用子像素设置有独立可切换的驱动电路,处理单元302启动备用子像素的具体方式例如:利用像素单元外部的驱动芯片构成驱动电路启动备用子像素,具体的驱动电路可如图4所示;或者利用薄膜场效应管(Thin FilmTransistor,TFT)阵列构成驱动电路启动备用子像素,具体的驱动电路可如图5所示;或者利用像素单元内置的IC芯片构成驱动电路启动备用控制芯片。
需要说明的是,当侦测单元301侦测到主用子像素出现故障后,处理单元302可直接将故障信号作为触发信号,触发驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素,也可将侦测到的故障信号报告给用户,由用户切换到对应的驱动电路,处理单元302根据用户切换的驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。
本实施例中,侦测单元侦测像素单元内每个主用子像素的运行状况,当侦测单元侦测到某一主用子像素出现故障时,处理单元利用驱动电路启动预设的与主用子像素对应的备用子像素。本实施例中,像素单元内每个主用子像素都设置有对应的备用子像素,在某一主用子像素出现故障时,处理单元可以直接启动与之对应的备用子像素,保证了显示屏整体的显示效果,提高了显示系统的可靠性。
需说明的是,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。另外,本发明提供的装置实施例附图中,单元之间的连接关系表示它们之间具有通信连接,具体可以实现为一条或多条通信总线或信号线。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件的方式来实现,当然也可以通过专用硬件包括专用集成电路、专用CPU、专用存储器、专用元器件等来实现。一般情况下,凡由计算机程序完成的功能都可以很容易地用相应的硬件来实现,而且,用来实现同一功能的具体硬件结构也可以是多种多样的,例如模拟电路、数字电路或专用电路等。但是,对本发明而言更多情况下软件程序实现是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在可读取的存储介质中,如计算机的软盘,U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务端,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上对本发明实施例所提供的一种显示控制方法及装置进行了详细介绍,对于本领域的一般技术人员,依据本发明实施例的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,因此,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (8)
1.一种显示控制方法,其特征在于,包括:
侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;
当侦测到所述主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与所述主用子像素对应的备用子像素。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述驱动电路由所述像素单元外部的驱动芯片构成,或者由所述像素单元内部的薄膜场效应晶体管TFT阵列构成,或者由所述像素单元内部的集成电路IC芯片构成。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设的与所述主用子像素对应的备用子像素有一个或多个。
4.如权利要求3所述的方法,所述预设的与所述主用子像素对应的备用子像素有多个时,所述利用驱动电路启动预设的与所述主用子像素对应的备用子像素的方法具体为:
随机从预设的与所述主用子像素对应的多个备用子像素中选取一个,或者按照预定的顺序从预设的与所述主用子像素对应的多个备用子像素中选取一个。
5.一种显示控制装置,其特征在于,包括:
侦测单元,用于侦测像素单元内每个主用子像素的发光状况;
处理单元,当侦测到所述主用子像素出现故障时,利用驱动电路启动预设的与所述主用子像素对应的备用子像素。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述驱动电路由所述像素单元外部的驱动芯片构成,或者由薄膜场效应晶体管TFT阵列构成,或者由所述像素单元内部的集成电路IC芯片构成。
7.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述预设的与所述主用子像素对应的备用子像素有一个或多个。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述预设的与所述主用子像素对应的备用子像素有多个时,所述处理单元利用驱动电路启动预设的与所述主用子像素对应的备用子像素的方法具体为:
所述处理单元随机从预设的与所述主用子像素对应的多个备用子像素中选取一个,或者所述处理单元按照预定的顺序从预设的与所述主用子像素对应的多个备用子像素中选取一个。
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Legal Events
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---|---|---|---|
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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CP03 | Change of name, title or address |
Address after: Kezhu road high tech Industrial Development Zone, Guangzhou city of Guangdong Province, No. 233 510670 Patentee after: VTRON GROUP Co.,Ltd. Address before: 510663 Guangzhou province high tech Industrial Development Zone, Guangdong, Cai road, No. 6, No. Patentee before: VTRON TECHNOLOGIES Ltd. |
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CP03 | Change of name, title or address | ||
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Granted publication date: 20160518 |
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