CN102721865B - 一种用于测量晶振准确性的方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于测量晶振准确性的方法和系统，其方法包括：先使能第一定时器和第二定时器，分别开始给第一晶振和第二晶振的时钟频率计数；之后循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率；再读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度。本发明在排查问题晶振过程中，无需使用仪器测量，也无需拆机，只需通过软件测量筛选出问题晶振的手机，大大提高了工作效率，而且大大节省了排查时间和人力成本，适合在大批量生产时使用。

Description

一种用于测量晶振准确性的方法和系统

技术领域

本发明涉及晶振测量技术领域，特别涉及一种用于测量晶振准确性的方法和系统。

背景技术

目前手机中必然会使用外部晶振，一般至少有两颗晶振，一颗为高精度高频率的晶振A，用于提供CPU运行所需的时钟频率；另一颗为普通的晶振B，主要用于提供给系统实时时钟、蓝牙等低速设备使用。通常生产线上容易出现供货质量问题的晶振为普通的晶振B。

而生产线生产手机时，一旦发现某批次晶振的质量存在瑕疵，就需要将所有生产完的手机全部拆机，再用仪器测量逐个排查出问题晶振的手机，然后再将晶振没有问题的手机重新装机。然而，在拆机和重新装机的过程都需要人工操作，工作效率非常低，操作不方便，特别是：由于手机的大部分晶振都在屏蔽盖里，使得拆机测量耗时耗力。另外，对于那些原本正常的手机，经过这一返工工序，也可能会引入新的问题。因此，提供一种无需拆机且能快速判断出晶振准确性的方法，尤为重要。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种用于测量晶振准确性的方法和系统，以解决现有技术需要拆机排查问题晶振，工作效率低，操作不方便的问题。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种用于测量晶振准确性的方法，其包括：

使能第一定时器和第二定时器，分别开始给第一晶振和第二晶振的时钟频率计数；

循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率；

读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，在所述使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第二晶振的时钟频率开始计数的步骤之前，所述的方法还包括：将第一定时器和第二定时器的计数值清零。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，根据第二晶振的准确度，控制显示装置进行相应显示。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第一晶振为标准时钟频率晶振，第二晶振为待查晶振。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第二晶振的实际时钟频率为第二晶振的标准时钟频率与第二晶振的频率偏差值之差。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第二晶振的频率偏差值通过以下公式计算：

∆HZ=(CountA-ClockA-∆clock)×ClockB/(CountA-∆clock)

其中，ClockA为第一晶振的时钟频率，CountA为第一定时器的计数值，ClockB为第二晶振的时钟频率，∆clock为第一定时器比第二定时器多运行的时间。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，∆clock通过以下方式获得：

提供标准时钟频率的第一晶振和第三晶振；其中，第一晶振和第三晶振均为标准时钟频率的晶振，第三晶振和第二晶振为同一型号的时钟频率晶振；

使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第三晶振的时钟频率开始计数；

循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第三晶振的时钟频率；

读取第一定时器的计数值；

将第一定时器的计数值减去第一晶振的频率，得到∆clock。

所述的用于测量晶振准确性的方法中，所述第一晶振的时钟频率为19.2MHz，第三晶振的时钟频率为32.768KHz。

一种用于测量晶振准确性的系统，其包括：

第一定时器，用于对第一晶振的时钟频率进行计数；

第二定时器，用于对第二晶振的时钟频率进行计数；

处理器，用于循环读取第二定时器计数值，在第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率时，读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度；

所述第一定时器和第二定时器与处理器连接。

所述的用于测量晶振准确性的系统，还包括与处理器连接的显示装置，用于根据第二晶振的准确度，显示相应的信息。

相较于现有技术，本发明提供的用于测量晶振准确性的方法和系统，采用两个定时器分给两个晶振的时钟频率计数，通过循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率时，读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度，从而排查出问题晶振。在排查问题晶振过程中，无需使用仪器测量，也无需拆机，只需通过软件测量筛选出问题晶振的手机，大大提高了工作效率，而且大大节省了排查时间和人力成本。

附图说明

图1为本发明用于测量晶振准确性的方法流程图。

图2为本发明用于测量晶振准确性的系统结构框图。

具体实施方式

本发明提供一种用于测量晶振准确性的方法和系统，通过使用一颗正常的晶振和两个定时器来测量待查晶振是否正常，采用软件测量的方法来分别获取两颗晶振的时钟频率，通过两者的对比来判断出待查晶振的准确性，不仅大大提高了排查效率，也节省了巨大的人工成本。

为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，本发明提供的用于测量晶振准确性的方法包括：

S101、使能第一定时器和第二定时器，分别开始给第一晶振和第二晶振的时钟频率计数。

在本实施方式中，使用第一定时器给第一晶振的时钟频率进行计时，使用第二定时器给第二晶振的时钟频率进行计时，使第一晶振和第二晶振的时钟频率反映到各自计数的定时器中。

在具体实施时，在步骤S101之前，所述的方法还包括：S100、将第一定时器和第二定时器的计数值清零。如果没有将两定时器的计数值清零，在测量时，只需将定时器最后的计数值减去其初始计数值即可。

S102、循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率。

S103、读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度。

其中，在步骤S103之后，本发明提供的用于测量晶振准确性的方法还包括：S104、根据第二晶振的准确度，控制显示装置进行相应显示。如果当第二晶振的准确度在标准范围内时，显示装置显示“正常”，当第二晶振的准确度不在标准范围内时，显示装置则显示“不正常”。

在具体实施时，在测试时，所述第一晶振为标准时钟频率晶振，第二晶振为待查晶振，通过两个定时器运行时间相等，并且在第一晶振时钟频率正常的情况下，来判断第二晶振的准确度，通过显示装置直观的显示测量结果，降低了操作人员的劳动强度，大大节省了劳动人成本。

本实施例中，所述第二晶振的实际时钟频率为第二晶振的标准时钟频率与第二晶振的频率偏差值之差。其中，第二晶振的频率偏差值通过以下公式计算：

∆HZ=(CountA-ClockA-∆clock)×ClockB/(CountA-∆clock)

其中，ClockA为第一晶振的时钟频率，CountA为第一定时器的计数值，ClockB为第二晶振的时钟频率，∆clock为第一定时器比第二定时器多运行的时间。在∆HZ为正值时，表示第二晶振的时钟频率偏慢，在∆HZ为负值时，表示第二晶振的时钟频率偏快。

∆clock的产生是因为在第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率时，软件会先读取第二定时器的计数值，再读取第一定时器的计数值，在这个过程中，第一定时器会比第二定时器多运行一段时间。∆clock是一个统计值，因此∆clock需要在排查之前进行测试，以下以测量第一晶振和第三晶振为应用实施例，来对∆clock测试方法进行详细说明。其中，第一晶振和第三晶振均为标准时钟频率的晶振。第一晶振可采用高精度高频率的晶振，其时钟频率为19.2MHz，第二晶振和第三晶振采用普通晶振，第三晶振的时钟频率为32.768KHz，其与第二晶振为同一型号的晶振，其时钟频率可通过仪器测试确定，第二晶振的时钟频率需要通过本发明的方法进行测试。∆clock值具体通过以下方式获得：

第一步、提供标准时钟频率的第一晶振和第三晶振；

第二步、使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第三晶振的时钟频率开始计数；

第三步、循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第三晶振的时钟频率；

第四步、读取第一定时器的计数值；

第五步、将第一定时器的计数值减去第一晶振的频率，得到∆clock。

并且，在第二步之前，也可以先将第一定时器和第二定时器的计数值清零。

以下对∆HZ值确定方式进行详细说明：

在读取第二定时器的计数值时，第一定时器运行的时间为：(CountA-∆clock)×(1/ClockA)，第二定时器运行的时间为：CountB×[1/(ClockB-∆HZ)]（CountB为第二定时器的计数值，并且CountB=ClockB），根据在读取第二定时器的计数值时第一定时器和第二定时器运行时间相等的原则，即CountB/(ClockB-∆HZ)=(CountA-∆clock)/ClockA，可得出：∆HZ=(CountA-ClockA-∆clock)×ClockB/(CountA-∆clock)。

并且，在∆HZ<=-1时，表示第二晶振偏快|∆HZ|，即、第二晶振的实际时钟频率为：ClockB+|∆HZ|，显示装置显示第二晶振不正常，在-1<∆HZ<1时，表示第二晶振正常无偏差，即、第二晶振的时钟频率为：ClockB，显示装置显示第二晶振正常；在∆HZ>=1时，第二晶振偏慢，即、第二晶振的实际时钟频率为：ClockB-∆HZ，此时显示装置显示第二晶振不正常。

如果想要测试出比较准确的∆clock，一般采用10台没有偏差的手机做样本，每台做5次得到5个∆clock，最后算50个∆clock结果的平均值。如果测试样本越多，越准确。

本发明还相应提供一种用于测量晶振准确性的系统，其包括第一定时器110、第二定时器120和处理器130，所述第一定时器110和第二定时器120与处理器130连接。其中，第一定时器110用于对第一晶振的时钟频率进行计数；第二定时器120用于对第二晶振的时钟频率进行计数；处理器130用于循环读取第二定时器120计数值，在第二定时器120的计数值等于第二晶振的时钟频率时，读取第一定时器110的计数值，并根据第一定时器110的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度。

本发明实施例中，所述的用于测量晶振准确性的系统还包括显示装置140，其与处理器130连接，用于根据第二晶振的准确度，显示相应的信息。该显示装置140为LED显示屏，根据第二晶振的准确度，直观显示第二晶振的时钟频率是“正常”还是“不正常”。

综上所述，本发明在排查问题晶振过程中，无需使用仪器测量，也无需拆机，只需通过软件测量筛选出问题晶振的手机，大大提高了工作效率，而且大大节省了排查时间和人力成本，适合在大批量生产时使用。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，包括：

使能第一定时器和第二定时器，分别开始给第一晶振和第二晶振的时钟频率计数；

循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率；

读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度。

2.根据权利要求1所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，在所述使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第二晶振的时钟频率开始计数的步骤之前，所述的方法还包括：将第一定时器和第二定时器的计数值清零。

3.根据权利要求1所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，根据第二晶振的准确度，控制显示装置进行相应显示。

4.根据权利要求1所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第一晶振为标准时钟频率晶振，第二晶振为待查晶振。

5.根据权利要求4所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第二晶振的实际时钟频率为第二晶振的标准时钟频率与第二晶振的频率偏差值之差。

6.根据权利要求5所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第二晶振的频率偏差值通过以下公式计算：

ΔHZ＝(CountA-ClockA-Δclock)×ClockB/(CountA-Δclock)

其中，ClockA为第一晶振的时钟频率，CountA为第一定时器的计数值，ClockB为第二晶振的时钟频率，Δclock为第一定时器比第二定时器多运行的时间。

7.根据权利要求6所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，Δclock通过以下方式获得：

提供标准时钟频率的第一晶振和第三晶振；其中，第一晶振和第三晶振均为标准时钟频率的晶振，第三晶振和第二晶振为同一型号的时钟频率晶振；

使能第一定时器和第二定时器，分别给第一晶振和第三晶振的时钟频率开始计数；

循环读取第二定时器的计数值，直到第二定时器的计数值等于第三晶振的时钟频率；

读取第一定时器的计数值；

将第一定时器的计数值减去第一晶振的频率，得到Δclock。

8.根据权利要求7所述的用于测量晶振准确性的方法，其特征在于，所述第一晶振的时钟频率为19.2MHz，第三晶振的时钟频率为32.768KHz。

9.一种用于测量晶振准确性的系统，其特征在于，包括：

第一定时器，用于对第一晶振的时钟频率进行计数；

第二定时器，用于对第二晶振的时钟频率进行计数；

处理器，用于循环读取第二定时器计数值，在第二定时器的计数值等于第二晶振的时钟频率时，读取第一定时器的计数值，并根据第一定时器的计数值，获取第二晶振的实际时钟频率，来判断第二晶振的准确度；

所述第一定时器和第二定时器与处理器连接。

10.根据权利要求9所述的用于测量晶振准确性的系统，其特征在于，还包括与处理器连接的显示装置，用于根据第二晶振的准确度，显示相应的信息。