CN102656635A - 记录功率调整方法以及信息记录方法 - Google Patents

Abstract

在具有多个信息记录层的光盘的记录功率调整中，由于该层以外的层的影响而导致试写的数据变动，因此难以决定最佳的记录功率。使用多种记录功率Pw[m]，根据试写后的信号的再生信号振幅来求出调制度M[m]，通过将渐近调制度Masy、记录功率截距Pint以及渐近记录功率Pasy作为参数而具有的调制度特性公式M＝Masy×（1-（Pint-Pasy）/（Pw-Pasy）来拟合所述Pw[m]和所述M[m]的关系，由此至少决定最佳记录功率截距Pint_opt，至少使用所述M[m]、所述调制度特性公式以及所述Pint_opt来评价所述拟合的近似精度及/或所述试写信号的品质，通过至少使用了所述Pint_opt的预定的运算来计算最佳记录功率Pw_opt，其中，m为整数。

Description

记录功率调整方法以及信息记录方法

技术领域

本发明涉及调整记录功率的功率调整方法，以及实施该记录功率调整方法的信息记录方法。

背景技术

目前，作为光信息记录介质的光盘中，CD（Compact Disc）、DVD（DigitalVersatile Disc）、BD（Blu-ray Disc）等已被商品化并得到了普及。在这些光盘中有再生专用型即ROM（Read Only Memory）型，追记型即R（Recordable）型，可重写型即RE（Rewritable）型等各种类型。通过作为光信息记录装置的光盘驱动器对光盘照射激光来进行光盘中的信息的记录再生。通过使激光的照射功率变化，在光盘的数据层形成光学特性发生了变化的标记来进行信息的记录。通过对光盘的数据层照射低于为形成标记的功率的激光，检测每个照射位置的反射光量的不同来进行信息的再生。

在此，在信息的记录时使用的最佳纪录功率，根据光盘的类别或光盘制作厂商而不同，驱动器根据光盘的种类有时需要设定最佳记录功率。但是，即使是同种类的光盘，也会由于制作波动而导致每个光盘的最佳记录功率不同，有时无法以相同的记录功率实现最佳记录。此外，在使用相同光盘的情况下，也会由于驱动器间的功率的波动而导致无法以相同设定功率实现最佳记录。因此，各驱动器具备在光盘的记录之前，对预定区域进行试写，来调整与该光盘对应的最佳的记录功率的结构。

作为使用了试写的记录功率的调整方法，例如在BD-RE中提出了使用记录功率和调制度的关系的方法，该方法在作为BD-RE的规格书的非专利文献1中被公开。

在该方法中，使用记录功率Pw和调制度M的关系、作为预先决定的参数的指定记录功率Pind、系数目标值κ，系数ρ等，进行最佳记录功率Pw_opt的计算。这些参数被预先记录在光盘的管理区域中。首先，使用指定记录功率Pind附近的多种记录功率Pw[m]（m为整数），在光盘的预定区域记录预定的信号，再生所记录的信号，由此，将再生信号的振幅除以上部包络电平而得的值、即调制度M[m]与记录功率Pw[m]对应起来取得。然后，在以任意的Pw[m]为中心的预定的范围内以直线近似评价值M[m]×Pw[m]与Pw[m]的关系，将近似直线与Pw轴相交的点（M×Pw成为零的点）的记录功率值计算为记录功率阈值Pthr[m]。在计算出的Pthr[m]上乘以系数目标值κ而得到的目标记录功率Ptarget[m]＝κ×Pthr[m]与记录功率Pw[m]的关系中，将满足Ptarger＝Pw的记录功率Pw决定为最佳目标记录功率Ptarget_opt，将对最佳目标记录功率Ptarget_opt乘以系数ρ后的值决定为最佳记录功率Pw_opt。在上述中，角括号（[]）是对于同一指标（例如Pw或M等）有若干值时，用于区别这些值的下标，在对其进行汇总来表现的情况下，下标也用字符表示。（例如m等）。此外，去掉角括号的指标（例如对应于Pw[m]的Pw，或对应于M[m]的M）一般表示各指标。该表现方法以后也使用。

通过以上的方法，各驱动器能够对各光盘设定最佳记录功率，能够实现最佳记录。在此，非专利文献1记载的上述记录功率调整方法是使用系数目标值κ实施的方式，因此以后称该记录功率调整方法为κ方式。

此外，作为使用了记录功率Pw和调制度M的关系的记录功率调整方法，在专利文献1中公开了与上述不同的方法。

在该方法中，使用作为预先决定的参数的最佳记录功率Pw_opt和记录功率阈值Pth的比α＝Pw_opt/Pth，进行最佳记录功率Pw_opt的计算。首先，使用多种记录功率Pw[m]（m为整数），在光盘的预定区域记录预定的信号，再生所记录的信号，由此取得与各记录功率Pw[m]对应的调制度M[m]。然后，设定多种记录功率修正值Pc[n]（n为整数），将评价值M[m]×（Pw[m]-Pc[n]）与修正记录功率（Pw[m]-Pc[n]）的关系成为最接近于直线的Pc[n]决定为最佳记录功率修正值Pc_opt。将评价值M[m]×（Pw[m]-Pc_opt）与修正记录功率（Pw[m]-Pc_opt）的关系进行直线近似，将近似直线与（Pw-Pc_opt）轴相交的点（M×（Pw-Pc_opt）成为零的点）的修正记录功率值计算为修正记录功率阈值Pth’。使用计算出的Pth’计算记录功率阈值Pth＝Pth’+Pc_opt，对计算出的Pth乘以系数α，由此决定最佳记录功率Pw_opt＝α×Pth。

在使用该方法的情况下，对于M×Pw和Pw的关系为曲线的光盘，或由于光盘的状态或再生条件而调制度一样地变化（在全部测定点，一样地进行倍率变化）的介质，能够高精度地决定最佳再生功率，能够实现最佳记录。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-334922号公报

非专利文献

非专利文献1：System Description Blu-ray Disc Rewritable Format，Part 1，Basic Format Specifications，Version 1.02

发明内容

发明要解决的课题

但是，根据光盘，试写中的记录功率和调制度的关系杂乱地变动（在各个测定点无相关地变动），通过上述的记录功率调整方法有时无法决定最佳记录功率。

作为一个例子，说明具有两层以上的数据层的多层光盘的情况。在多层光盘中，在体积方向层积了多个数据层，通过将照射光的焦点对准各层来进行各层的记录再生。此时，入射光也照射该层以外的其它层，因此，其它层的状态例如未记录和记录这样的状态的区别对记录再生造成影响。在专利文献1的图5中表示数据层为两层的多层光盘中，其它层在未记录状态和记录状态下调制度一样地进行变化（以倍率进行变化）的例子。说明了对于该调制度的变动，通过使用专利文献1记载的记录功率调整方法，能够高精度地决定最佳记录功率。但是，多层光盘中的记录功率和调制度的变动并不限于专利文献1的图5记载的变动。

例如，考虑在其它层中混有未记录状态和记录状态的区域（未记录/记录混合）的情况。此时，透过其它层照射该层的光的有效功率受其它层的影响而变化。由此，记录时的有效功率根据记录位置而变化。此外，再生时检测出的反射光是通过其它层反射，透过的光的重合，因此受其它层的影响。由此，再生时的反射光也根据再生位置而变化。因此，在记录功率调整中的试写的区域，在其它层的状态非均一的情况下，通过试写而得到的记录功率和调制度的关系被观测到是调制度杂乱地变化（在各个测定点无相关地变化）的关系。

图1是在具有四层数据层的多层光盘中，其它层全部为未记录状态的情况和未记录/记录混合的情况下，测量到的记录功率和调制度的关系的结果的一例。以后，将记录功率和调制度的关系称为调制度特性。其它层为未记录/记录混合的情况下的调制度特性，与其它层为未记录的情况下的调制度特性相比，可知各记录功率下的调制度杂乱地变化，表现了试写位置的影响。

该变动对记录功率调整中的最佳记录功率的计算精度造成影响。图2表示根据图1的结果，在执行κ方式的记录功率调整时得到的记录功率Pw和目标记录功率Ptarget的关系。图2的描绘图和Ptarget＝Pw的交点是最佳记录功率的计算中使用的最佳目标记录功率Ptarget_opt，但是，对于其它层全部为未记录状态的情况，在未记录和记录状态混合的情况下计算出不同的Ptarget_opt，可知无法适当地决定最佳记录功率。使用与图1相同的光盘，在试写区域的其它层为未记录/记录混合的状态下，执行100次κ方式的记录功率调整方法，图3中表示求出各次计算出的最佳记录功率和适当的最佳记录功率的计算误差的结果。计算误差为0%的准确地实现记录功率调整的频度少，最坏分布到-10%，因此，可知对于图1的变动，κ方式的记录功率调整方法无法实现充分的记录功率调整。其原因是κ方式的记录功率调整方法使用通过试写而得到的调制度特性的微分值来计算最佳记录功率，因此，对于局部的变动容易产生误差。

与上述一样，图4中表示使用图1的光盘，在试写区域的其它层为未记录/记录混合的状态下，求出执行100次专利文献1记载的记录功率调整方法的结果而得的最佳记录功率和适当的最佳记录功率的计算误差的结果。与图3相比，图4的分布变窄，但是，计算误差最大分布到±4%，可知无法实现足够精度的记录功率调整。

在此，图1代表的变动与各测定点的光盘上的位置有关，在测定点间无相关，因此，作为去除图1的影响的简单的方法，考虑在进行记录功率调整的范围内充分地增加测定点的方法。但是，实际的光盘上的试写区域有限，若在一次的记录功率调整中在试写中使用大量的区域，则无法实施后面进行的记录功率调整。因此，期待能够以与现状同等程度的试写量高精度地实施记录功率调整的方法。

本发明为了解决上述课题，提供在记录功率调整中使用的数据的品质的评价方法、能够高精度地决定最佳记录功率的记录功率调整方法、存储在该记录功率调整方法中使用的信息的信息记录介质、以及实施该记录功率调整方法的信息记录再生装置。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，在本发明的记录功率调整中，使用多种记录功率Pw[m]（m为整数）记录预定的信号，再生所记录的信号，由此取得与各记录功率Pw[m]对应的调制度M[m]，通过下述公式（1）拟合所测量的记录功率Pw[m]和调制度M[m]的关系，计算式（1）中的参数即渐近调制度Masy（asymptoticmodulation）、记录功率截距Pint（write power intercept）以及渐近记录功率Pasy（asymptomatic write power）的最佳值，使用计算出的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt进行预定的运算，由此决定最佳记录功率Pw_opt。

[数学式1]

$M=\mathrm{Masy}(1-\frac{\mathrm{Pint}-\mathrm{Pasy}}{\mathrm{Pw}-\mathrm{Pasy}})---\left(1\right)$

进一步，使用将计算出的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt代入式（1）求出的调制度M（Pw[m]）和所测量的调制度M[m]的误差或/及相关，来评价测量数据的品质，由此实现更高精度的最佳记录功率调整。在此，在式（1）的拟合中使用的指标与测量数据的品质评价中使用的指标不同的情况下，最佳记录功率调整的精度提高。

图5表示测量的记录功率Pw和调制度M的关系（调制度特性）、拟合后的结果的式（1）的函数、最佳渐近调制度Masy_opt、最佳渐近记录功率Pasy_opt以及最佳记录功率截距Pint_opt的关系的示意图。在此，渐近调制度Masy是式（1）中的调制度的渐近值，是根据所测量的调制度特性预想的调制度的饱和值。此外，渐近记录功率Pasy是式（1）中的调制度±无限大时的记录功率的渐近值。并且，记录功率截距Pint是式（1）中调制度成为零时的记录功率，即是式（1）和记录功率轴的交点，是根据所测量的调制度特性预想的记录开始的功率。这样，式（1）是由Masy、Pint、Pasy特征化的函数，是近似地表示对于记录功率Pw的调制度M的关系的公式。

在本发明的记录功率调整方法中，通过准确地拟合使用该式（1）测量出的调制度特性，能够将图1所示的测定点的变动平均化，实现高精度的记录功率调整。此外，在本记录功率调整方法中，使用开始记录的功率（Pint）进行最佳记录功率Pw_opt的计算，因此能够适当地预测记录功率与标记的尺寸的关系，能够实现高精度的记录功率调整。

发明的效果

根据本发明的记录功率调整方法，能够对记录功率和调制度的关系杂乱地变动的光盘高精度地进行最佳记录功率的调整。

附图说明

图1是表示在多层光盘的试写中，其它层为未记录的情况和其它层为记录/未记录混合的情况下的调制度特性的区别的一例的图。

图2是表示在使用了κ方式的多层光盘的试写中，其它层为未记录的情况和其它层为记录/未记录混合的情况下的Pw和目标记录功率Ptarget的关系的区别的一例的图。

图3是表示在调制度特性变动的光盘中，实施了100次κ方式的记录功率调整时计算出的最佳记录功率的误差与频度的关系的一例的图。

图4是表示在调制度特性变动的光盘中，实施了100次专利文献1记载的记录功率调整时计算出的最佳记录功率的误差与频度的关系的一例的图。

图5是说明通过本发明的式（1）来拟合了调制度特性时的式（1）的参数Masy、Pint、Pasy的意义的一例的图。

图6是表示本发明实施例所涉及的光盘装置的主要结构的一例的框图。

图7是表示本发明实施例所涉及的光盘装置的控制部的一例的框图。

图8是表示在调制度特性变动的光盘中，实施了100次本发明的记录功率调整时计算出的最佳记录功率的误差与频度的关系的一例的图。

图9是表示使用了参考渐近记录功率Pasy_ref以及参考记录功率截距Pint_ref的记录功率调整方法的步骤的一例的流程图。

图10是表示使用了参考渐近记录功率Pasy_ref以及参考记录功率截距Pint_ref的记录功率调整方法中的Pasy_temp修正次数n和计算出的最佳记录功率的误差的平均值的关系的一例的图。

图11是表示在调制度特性变动的光盘中，实施了100次本发明的使用参考渐近记录功率Pasy_ref以及参考记录功率截距Pint_ref的记录功率调整时的计算出的最佳记录功率的误差与频度的关系的一例的图。

图12是表示本申请的信息记录介质的结构的一例的图。

图13是表示在多层光盘的其它层为未记录/记录混合的情况下，根据κ方式的记录功率调整求出的Pw和Ptarget的关系、与根据本发明的使用了参考渐近记录功率Pasy_ref以及参考记录功率截距Pint_ref的记录功率调整方法求出的Pw和Ptarget的关系的比较的一例的图。

图14是表示在各试写中计算出的最佳记录功率Pw_opt、试写数据和近似式（1）的调制度的相关系数r2的关系的分布的一例的图。

图15是表示在调制度特性变动的光盘中，实施了1000次本发明的实施例15的记录功率调整时计算出的最佳记录功率的误差与频度的关系的一例的图。

具体实施方式

以下，参照附图说明作为本发明的实施例的记录功率调整方法。

首先，在本实施例中，使用光盘作为信息记录介质，使用光盘装置作为信息记录再生装置，在说明了它们的结构的基础上，说明作为信息记录再生装置的光盘装置中的作为本实施例的记录功率调节方法。

在此，在实施例中使用的光盘是图1中使用的4层的光盘，是通过在该层以外的其它层进行记录，引起在课题中说明的图1所示的调制度特性的变动的光盘。在光盘的其它层为未记录/记录混合的状态下进行了各实施例中的记录功率调整。即，各记录功率调整中的调制度特性如图1所示那样，是对于在其它层为未记录的情况下，调制度发生了变动的特性。

实施例1

图6表示在本发明的实施例中使用的光盘装置的主要部分结构的框图。通过主轴电动机12对光盘10进行CLV（Constant Linear Velocity：恒定线速度）控制或者CAV（Constant Angular Velocity：恒定角速度）控制。光拾取部14与光盘10相对设置，通过从激光二极管（LD）发射记录功率的激光16，在光盘10上记录信号，通过从LD发射再生功率的激光读取记录的信号。并且，在光盘10是可重写光盘的情况下，从LD发射消除功率（再生功率<消除功率<记录功率）的激光来消除记录的信号。关于记录的信号，有时通过记录功率的激光使光盘10的记录膜的材料不可逆变化来形成凹坑，有时对处于结晶状态的记录膜进行加热急冷，通过使其可逆或不可逆变化为无定形状态来记录信号。在本实施例中，可以使用任意一种记录方法。在后者的情况下，照射消除功率使无定形状态返回到结晶状态来进行消除。

在记录信号的情况下，通过编码器18对记录信号进行编码，供给LD驱动部20。LD驱动部20根据被编码的记录信号生成驱动信号，供给光拾取部14内的LD来记录信号。LD驱动部20中的记录功率值通过来自控制部22的控制信号来决定。控制部22在记录信号之前，在光盘10的试写区域使用多种记录功率进行试写，根据所述的试写的信号来决定最佳记录功率。

另一方面，在数据再生时，从光拾取部14输出的RF信号被供给RF信号处理部24。RF信号处理部24具有RF放大器或均衡器、二值化部、PLL部等，通过它们处理RF信号，然后供给解码器26。在解码器26中，根据二值化的RF信号和通过PLL部再生的同步时钟，对信号进行解码，并作为再生数据输出。Henv、Lenv取得部28在对从光拾取部14输出的再生信号进行放大后，计算再生信号的上部包络线（Henv）和下部包络线（Lenv），为了评价信号品质而供给控制部22。此外，来自作为RF信号取得系统的RF信号处理部24的再生RF信号也在被放大后，供给控制部22用于信号品质评价。此外，数据记录再生时，除此之外还有生成循轨误差信号或聚焦误差信号来控制聚焦伺服或循轨伺服的电路，再生在光盘10中形成的摆动（wobble）信号用在地址解调或者转速控制中的电路，但是，关于这些与现有技术相同因此省略说明。

控制部22根据来自RF信号处理部、或者Henv、Lenv取得部的试写的再生信号品质来决定最佳记录功率。即，控制部22根据来自所述RF信号处理部、或者Henv、Lenv取得部的信号计算调制度M[m]（m为整数），根据用式（1）拟合多种记录功率Pw[m]与对应的调制度M[m]的关系时得到的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt来决定最佳记录功率Pw_opt，供给LD驱动部20。并且，控制部22有时也使用根据信号计算出的调制度M[m]、和将式（1）的参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt代入到式（1）而得的调制度M（Pw[m]）的误差或/和相关，来评价试写的数据的品质，判定所决定的最佳记录功率Pw_opt是否合适。

图7表示图6中的控制部22的结构框图。控制部22具体来说由微型计算机构成，作为其功能块，具有调制度计算部、记录功率调整部/决定部、存储部以及参数存储部而构成。调制度计算部、记录功率调整部以及决定部具体来说可以由单一的CPU构成，存储部、参数存储部可以由RAM构成。

来自RF信号处理部或/和Henv、Lenv取得部的信号被供给控制部22，然后输入到调制度计算部。调制度计算部根据所述供给的信号来计算调制度M[m]（m为整数）。在记录功率调整中，将计算出的调制度M[m]与各功率Pw[m]对应存储在存储部中。记录功率调整部、决定部根据用式（1）拟合作为存储的调制度特性的记录功率Pw[m]和调制度M[m]的关系时得到的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt决定最佳记录功率Pw_opt，将得到的参数存储到参数存储部。在此，记录功率调整部、决定部有时使用根据信号计算出的调制度M[m]、和将式（1）的参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt代入到式（1）而得的调制度M（Pw[m]）的误差或/和相关，来评价试写的数据的品质。

以下说明了使用上述的光盘装置进行记录功率调整的结果。

首先，控制部22按照预定的条件设定多种记录功率Pw[m]，例如，读出预先在光记录再生装置中存储的该盘中的平均最佳记录功率，或者再生并读出预先在该光盘的信息控制区域中记录的平均最佳记录功率，根据该平均最佳记录功率设定了多种记录功率Pw[m]。使用所设定的Pw[m]，在光盘的预定区域、例如光盘的试写区域记录了预定的模式的信号，例如在光盘中使用的最长信号的标记和空区的重复的模式。

通过再生用各Pw[m]记录的信号，来测定再生信号的上部包络线（Henv[m]）以及下部包络线（Lenv[m]），进行M[m]＝（Henv[m]-Lenv[m]）/Henv[m]的运算，由此计算出与各记录功率Pw[m]对应的调制度M[m]。将计算出的调制度M[m]与记录功率Pw[m]对应存储在图7的存储部中。

然后，用式（1）拟合通过图7的记录功率调整部测定的记录功率Pw[m]和调制度M[m]的关系，决定式（1）的参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt。拟合，例如使参数Masy、Pint、Pasy独立地变化，例如使用最小二乘法决定参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt以使式（1）和测定点（Pw[m]、M[m]）的误差成为最小。

然后，使用所决定的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt进行预定的运算，由此决定最佳记录功率Pw_opt。例如，光盘装置读出并取得预先在光盘装置的存储部中存储的该光盘的最佳记录功率截距Pint_opt和最佳记录功率Pw_opt的比τ＝Pw_opt/Pint_opt，或者读出并取得预先在光盘的管理区域中存储的该光盘的最佳记录功率截距Pint_opt和最佳记录功率Pw_opt的比τ＝Pw_opt/Pint_opt，将最佳记录功率Pw_opt计算为Pw_opt＝τ×Pint_opt。

图8表示使用上述记录功率调整方法进行100次记录功率调整时的最佳记录功率Pw_opt的计算误差。与图3、图4相比计算误差变小，由于计算误差0%时频度变得最高，因此通过使用本发明的记录功率调整，可以确认能够抑制图1的调制度特性的变动，能够准确地执行记录功率调整。在本发明的记录功率调整方法中，通过用式（1）拟合测定出的调制度特性，图1所示的各测定点的变动被在记录功率调整中使用的全部的测定点平均化。这表示不增加试写的测定点的量，仅在现状的测定点就能够充分地使杂乱的变动平均化。根据上述可知本发明的记录功率调整方法能够降低依存于测定点的位置的有效的记录功率的变动或再生时的调制度的变动的影响，能够实现高精度的记录功率调整。

在此利用的该光盘的最佳记录功率Pw_opt和最佳记录功率截距Pint_opt的比τ（＝Pw_opt/Pint_opt）是介质固有的值，例如是根据光盘的类别来决定的值。τ在盘的制造时，例如在制作基板时，预先被记录在盘上即可。例如，在BD的情况下，作为盘固有的值的κ值在盘制造时与地址信息等一起被存储在摆动中，因此该τ也可以同样地记录在盘中。如果在盘具有的信息中没有记录该τ的情况下，可以从关联的信息来计算τ，认为τ是根据光盘的类别决定的值，预测与能够想到（可能存在）的光盘的类别对应的τ的值，光盘装置只要具有该数据，光盘装置就可以根据光盘的类别来决定τ。在此，在有在记录功率调整中使用的τ以外的介质固有的参数的情况下，也可以与上述同样地在光盘装置能够取得的状态下存储。

至此，在控制部22中记录功率调整结束，通过使用所决定的最佳记录功率Pw_opt进行向该记录盘的记录，确认了能够适当地进行记录。

实施例2

在本实施例中说明变更了实施例1中的多种记录功率Pw[m]的设定方法的情况。关于未变更的部分与实施例1相同，因此在本实施例中省略。

例如，通过预先读出在光盘的管理区域中记录的和/或在光盘装置的存储部中存储的用于设定试写的记录功率的范围来进行多种记录功率Pw[m]的设定。此外，例如也可以通过读出在κ方式的记录功率调整方法中使用的指定记录功率Pind，与κ方式同样地设定试写的记录功率Pw[m]来进行。

在任何情况下都适当地设定了记录功率Pw[m]，因此能够与实施例1同样地实施记录功率调整。

本实施例的方法对于以后的实施例也能够适用，在各实施例中得到同样的效果。

实施例3

在本实施例中，说明变更了实施例1～2中的使用记录功率Pw[m]来记录的信号的情况。对于未变更的部分，与实施例1～2相同，因此，在本实施例中省略。

在使用记录功率Pw[m]记录的信号中，例如能够使用该光盘中的调制符号的随机模式、或孤立信号模式。此外，也可以使用包含比该光盘中的调制符号的最长信号还长的信号的模式。该模式是比在用户数据区域中使用的最长符号还长的模式，例如，在BD中使用1-7调制，因此，与打破1-7调制规则的9T连续模式等对应。在任何情况下，如果在全部的记录功率Pw[m]中是相同模式的信号，则能够取得该介质中的调制度特性，因此能够进行与实施例1～2同样的记录功率调整。

在此，在使用了包含比该光盘中的调制符号的最长信号还长的信号的模式的情况下，有时提高记录功率调整的精度。这是由于，在使用最长信号的标记或空区水平未达到饱和水平的信号的盘的情况下，使用比最长信号还长的信号进行试写，由此对于在记录功率调整中使用的调制度的数据的可靠性变高。

本实施例的方法也能应用于以后的实施例，在各实施例中取得同样的效果。

实施例4

在本实施例中，说明变更了实施例1～3中的所测定的调制度特性的拟合方法的情况。关于未变更的部分与实施例1～3相同，因此在本实施例中省略。

在本实施例中，预先从光盘的管理区域和/或光盘装置的存储部取得预先针对各介质决定的参考渐近记录功率Pasy_ref和参考记录功率截距Pint_ref，用式（1）拟合根据所取得的信息测定的调制度特性，决定参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt。

预先针对各介质决定的参考渐近记录功率Pasy_ref和参考记录功率截距Pint_ref是该光盘的固有的参数，通过以下方法预先决定这些参数。

在作为参考的该光盘的状态，例如在多层光盘中其它层全部未记录的状态下，在实施记录功率调整的记录功率的范围内进行试写，取得参考调制特性。用式（1）拟合所取得的参考调制特性，例如，单独地变更式（1）的参数Masy、Pint、Pasy，为使参考调制度特性和式（1）的误差成为最小，例如使用最小二乘法决定参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt，将所决定的最佳记录功率截距Pint_opt决定为参考记录功率截距Pint_ref、将最佳渐近记录功率Pasy_opt决定为参考渐近记录功率Pasy_ref。

接着，使用图9的流程说明用式（1）拟合使用参考渐近记录功率Pasy_ref和参考记录功率截距Pint_ref测定的调制度特性来决定参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt的方法。

首先，取得调制度特性（Pw[m]、M[m]），将拟合调制度特性时使用的Pasy_temp的修正次数n设为零。此外，将0次修正的Pasy_temp[0]设为Pasy_ref（S900）。在接下来的S901中计算评价值E[m,n]为E[m,0]＝M[m]×（Pw[m]-Pasy_temp[0]）。然后，在S902中将记录功率Pw[m]和评价值E[m,0]的关系用直线近似，将近似直线的斜率设为Masy[0]，将近似直线的Pw截距设为Pint[0]，Pasy[0]＝Pasy_temp[0]。在此，调制度特性的拟合结果为M＝Masy_opt×{1-（Pint_opt-Pasy_opt）/（Pw-Pasy_opt）}，因此，如果Pasy_opt＝Pasy_temp[0]（如果不需要Pasy_temp的修正），则在S900～S902的步骤中，相当于用直线近似M×（Pw-Pasy_temp[0]）＝Masy_opt×（Pw-Pint_opt）。由此，Masy_opt＝Masy[0]，Pint_opt＝Pint[0]，因此，能够在S904中将n＝0的结果决定为各自的最佳值。但是，不需要Pasy_temp的修正表示试写的调制度特性与参考调制特性相同，因此，在多数情况下，Pasy_opt≠Past_ref。在这种情况下，向S903转移预定次数，修正Pasy_temp。具体来说，在S902后接着在S903计算Pasy_temp[n]为Pasy_temp[n]＝Pasy_ref×Pint[n]/Pint_ref，使Pasy_temp修正次数n加1，再次实施S901～S902。通过重复该Pasy_temp的修正，Pasy_temp[n]与Pasy_opt渐近，结果各参数Masy[n]、Pint[n]、Pasy[n]渐近最佳值，记录功率调整的精度也提高。

图10表示Pasy_temp修正次数n与最佳记录功率的计算误差的关系。图中表示针对参考调制度特性的记录功率调整中的调制度特性的记录功率Pw方向的变动量从0.6倍至1.4倍的情况。可知相对于Pasy_temp修正次数0次下计算误差最大的0.6倍的功率变动，修正次数2次下的计算误差达到1%以下。根据上述，通过使用已使用了图9的流程的拟合方法，能够适当地计算式（1）的参数的最佳值，能够决定高精度的最佳记录功率。

在以上的步骤中，使用n次修正后的Pasy_temp[n]，根据直线近似记录功率和评价值的结果计算Pint[n]，将n+1次修正后的Pasy_temp[n+1]计算为Pasy_temp[n+1]＝Pasy_ref×Pint[n]/Pint_ref。如果对该式进行变形，则可知Pasy_ref/Pint_ref＝Pasy_temp[n+1]/Pint[n]，因此，反复修正Pasy_temp相当于为使Pasy[n+1]和Pint[n]的比接近参考调制度特性中的比（Pasy_ref和Pint_ref的比）而修正参数。因此，在该方法中，相当于利用通过试写取得的调制度特性与参考调制度特性为相同的曲线形状，在修正Pasy的同时进行拟合。这样，在进行拟合时，通过预先对函数形状施加制约，能够防止用错误的形状的函数进行拟合，计算出错误的最佳记录功率。此外，在该方法中，不包含分配式（1）的参数Masy、Pint、Pasy来寻找最佳值的动作，可以重复相同的动作，因此，成为能够以简单的结构执行高精度的记录功率调整的方法。并且，根据图10的结果可知，在功率变动量小的情况下，即使将Pasy_temp的修正次数设为0次来计算最佳记录功率，也能以足够的高精度计算最佳记录功率。因此，也可以是不进行Pasy_temp修正的记录功率调整方法，由此，能够通过更简单的结构实施记录功率调整动作，进而不需要参考记录功率截距Pint_ref。

图11表示在本实施例的记录功率调整方法中，将Pasy_temp修正次数设为2次，进行了100次记录功率调整时的最佳记录功率Pw_opt的计算精度。与图8相比，计算误差进一步减少，因此，在本实施例的记录功率调整方法中，预先固定该光盘的调制度特性的特征来进行拟合，由此能够确认可以比图8使用的步骤更高精度计算最佳记录功率。

本实施例的方法，对于以后的实施例也能够适用，在各实施例中得到同样的效果。

实施例5

在本实施例中，说明变更了实施例1～4中的测定的调制度特性的拟合方法的情况。关于未变更的部分与实施例1～4相同，因此在本实施例中省略。

在本实施例中，预先从光盘的管理区域和/或光盘装置的存储部取得预先针对各介质决定的最佳渐近记录功率Pasy_opt和最佳记录功率截距Pint_opt的比ν＝Pint_opt/Pasy_opt，用式（1）拟合根据所取得的信息测定的调制度特性，决定参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt。

预先针对各介质决定的比ν是该光盘的固有的参数，因此，例如与实施例4中的该光盘的固有参数的计算相同，决定使用该光盘的参考调制度特性计算出的最佳渐近记录功率Pasy_opt和最佳记录功率截距Pint_opt的比为ν＝Pint_opt/Pasy_opt。

接着，以下说明用式（1）拟合使用Pint和Pasy的比ν测定出的调制度特性，决定参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt的方法。

如果将测定的调制度特性的各测定点（Pw[m]、M[m]）代入式（1），此时使用ν消去Pint，则得到下面的式（2）。

[数学式2]

$M\left(\frac{\mathrm{Pw}-\mathrm{Pasy}}{\mathrm{Pw}-\mathrm{vPasy}}\right)=\mathrm{Masy}---\left(2\right)$

因为右边Masy为恒定，所以决定Pasy以使式（2）的左边最接近恒定，例如使右边的标准偏差σ成为最小，将所决定的Pasy决定为最佳渐近记录功率Pasy_opt，将此时的右边的平均值决定为最佳渐近调制度Masy_opt，将ν×Pasy_opt决定为最佳记录功率截距Pint_opt。在使用该方法决定了最佳记录功率Pw_opt时，针对记录功率调整100次的计算误差与实施例1～4同样小，能够确认能够执行高精度的记录功率调整。

这样，在本记录功率调整方法中，由于将Pint和Pasy的比ν设为恒定，因此与之前的记录功率调整方法同样，所测定的调制度特性和参考调制度特性的曲线形状相同来进行拟合。由此，与实施例4的记录功率调整方法相同，能防止用错误的函数进行拟合，对于图1所示的调制度变动，实现了高精度的记录功率调整。此外，通过赋予Pint和Pasy的比ν来进行拟合，将式（1）的三个参数减少到两个，进而能够在式（2）的形式中使左边恒定地检索Pasy，因此，该方法针对一个参数检索最佳值即可，成为能够以简单的结构执行高精度的记录功率调整的方法。

本实施例的方法对于以后的实施例也可以适用，在各实施例中得到相同的效果。

实施例6

在本实施例中，说明变更了在实施例1～5中用式（1）拟合记录功率和调制度的关系的情况下的拟合方法的情况。特别是，在此举例说明实施例4～5中的参考调制度特性的拟合以及介质固有的参数，例如Pint_ref、Pasy_ref、ν值的决定方法。关于未变更的部分，与实施例4～5相同，因此，在本实施例中省略。

对于参考调制度特性的测定点（Pw[m]、M[m]），考虑将渐近记录功率Pasy设为变量的评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy），计算Pw[m]vs评价值和其近似直线的误差为最小时的Pasy，例如，计算平方误差和为最小的Pasy，将计算出的Pasy决定为最佳渐近记录功率Pasy_opt。即，例如如果考虑平方误差和为评价值轴的误差，将近似直线设为M×（Pw-Pasy）＝Masy×（Pw-Pint），则能够用下式赋予平方误差和S。

[数学式3]

$S=\underset{m}{\mathrm{\&Sigma;}}{\left\{M\right[m]\&times;\left(\mathrm{Pw}\right[m]-\mathrm{Pasy})-\mathrm{Masy}\&times;\left(\mathrm{Pw}\right[m]-\mathrm{Pint})\}}^2---\left(3\right)$

在此，式（3）的S成为最小值时的Pasy是最佳渐近记录功率Pasy_opt。

然后，将用直线近似使用了Pasy_opt的评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy_opt）和记录功率Pw[m]的关系时的斜率设为最佳渐近调制度Masy_opt，将评价值成为零时的记录功率Pw的值决定为最佳记录功率截距Pint_opt。即，将使用了Pasy_opt的近似直线M×（Pw-Pasy_opt）＝Masy×（Pw-Pint）中的Masy决定为最佳渐近调制度Masy_opt，将Pint决定为最佳记录功率截距Pint_opt。

使用该方法决定的介质固有的参数的值与实施例4～5中的值相同，因此，与实施例4～5同样，能够适当地赋予记录功率调整中的拟合中使用的参数。

本实施例的方法也能够适用于以下的实施例，与各实施例得到同样的效果。并且，本实施例的方法不限于用式（1）拟合参考调制度特性的情况，也可以适用于用式（1）拟合记录功率Pw和调制度M的关系的全部情况，还可以适用于用式（1）拟合记录功率调整中的试写的调制度特性的情况。

实施例7

在本实施例中，说明变更在决定实施例4～6中的介质固有的参数时使用的成为参考的该光盘的状态的情况。关于未变更的部分与实施例4～6相同，因此在本实施例中省略。

在本实施例中，将其它层未记录/记录混合的状态作为成为参考的光盘的状态，决定了介质固有的参数的值。在本实施例中，在成为参考的光盘的状态下取得参考调制度特性，当通过与实施例4～6同样地拟合参考调制度特性来计算参数的值时，实施例4～6中的Pint_ref和Pasy_ref成为不同的值，但是，关于ν计算出了与实施例5相同的值。这表示ν是Pint_ref和Pasy_ref的比，用于决定介质固有的调制度特性的曲线形状的参数是ν所代表的在调制度特性上决定的两点的记录功率比，如果是同一介质，则即使参考调制度特性变化，该比也恒定。

使用计算出的Pint_ref和Pasy_ref以及ν，使用实施例4～6的拟合方法进行记录功率调整时，得到了与实施例4～6相同的结果。由此可知，在变更参考调制度特性来计算出介质固有的参数时，也能够正确地实施记录功率调整。

本实施例的方法也可以适用于以下的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例8

在本实施例中，说明变更了实施例1～7中的使用最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt来计算最佳记录功率Pw_opt的方法的情况。关于未变更的部分与实施例1～7相同，因此，在本实施例中省略。

例如，在预先取得了κ方式的记录功率调整方法中的系数ρ、以及最佳目标记录功率Ptarget_opt和最佳记录功率截距Pint_opt的比τ’的情况下，计算最佳记录功率Pw_opt为Pw_opt＝ρ×τ’×Pint_opt。

此外，例如在预先取得了参考记录功率截距Pint_ref和参考最佳记录功率Pw_ref的情况下，计算最佳记录功率Pw_opt为Pw_opt＝Pw_ref/Pint_ref×Pint_opt。

此外，例如在预先取得了κ方式的记录功率调整方法中的系数ρ、以及指定记录功率Pind和参考记录功率截距Pint_ref的情况下，计算最佳记录功率Pw_opt为Pw_opt＝ρ×Pind/Pint_ref×Pint_opt。

在上述的任何情况下，都能够从预先取得的参数换算最佳记录功率截距Pint_opt和最佳记录功率Pw_opt的比，都能够正确地计算最佳记录功率Pw_opt。因此，可知在从Pint_opt计算Pw_opt中使用的参数只要是能够换算Pint_opt和Pw_opt的比的参数的组合即可。

本实施例的方法也可以适用于以下的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例9

在本实施例中，说明变更了实施例1～8中的用式（1）拟合记录功率Pw和调制度M的关系时使用的、为得到参数的最佳值而使用的评价指标的情况。关于未变更的部分与实施例1～8相同，因此，在本实施例中省略。

作为评价指标，列举出距离的和、误差的和、标准误差σ、相关系数r、决定系数R2等。可以使用这些，例如以使式（1）和测定点的距离的和为最小的方式来决定参数最佳值。在此，可以用测定点的Pw[m]以及M[m]的最大值将记录功率轴和调制度轴标准化，以式（1）和测定点的距离的和为最小的方式来决定式（1）的参数Masy、Pint、Pasy的最佳值。此外，例如可以使用式（1）和测定点的标准误差σ和/或相关系数r和/或决定系数R2来决定式（1）的参数的最佳值。在此，由下式的式（4）来表示决定系数R2，在最接近1时判断为参数是最佳值。

[数学式4]

$R^2=1-\frac{\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{\left\{M\right[m]-M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\}}^2}{\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{\left(M\right[m]-\frac{1}{n}\underset{l=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M[l\left]\right)}^2}---\left(4\right)$

其中，n是要使用的测定点的数量，M（Pw）是根据式（1）求出的调制度。

此外，用下式的式（5）或式（6）来表示相关系数r，在其平方值最接近1时，判断为参数为最佳值。

[数学式5]

$r=\frac{n\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}\left\{M\right[m]\&times;M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\}-\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\right[m\left]\right)\&times;\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\right)}{\sqrt{(n\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{\left(M\right[m\left]\right)}^2-{\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\right[m\left]\right)}^2)(n\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{\left\{M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\right\}}^2-{\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\right)}^2)}}---\left(5\right)$

$r=\frac{\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}\left\{\left(M\right[m]-\frac{1}{n}\underset{l=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M[l\left]\right)(M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)-\frac{1}{n}\underset{l=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\left(\mathrm{Pw}\right[l\left]\right))\right\}}{\sqrt{\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{\left(M\right[m]-\frac{1}{n}\underset{l=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M[l\left]\right)}^2\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{(M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)-\frac{1}{n}\underset{l=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\left(\mathrm{Pw}\right[l\left]\right))}^2\right)}}---\left(6\right)$

其中，n是要使用的测定点的数量，M（Pw）是根据式（1）求出的调制度。

在使用了任意指标的情况下，只要在相同指标间比较拟合精度，都不会使记录功率的调整的精度恶化。从而，如果预先决定指标，则在误差的评价中使用那种指标都可以。在此，在本实施例中说明了针对测定出的调制度M[m]和式（1）的调制度M（Pw[m]）的指标，但是，在进行拟合时进行比较的值，例如在与根据测定点计算出的评价值为近似直线的情况下，对其应用上述指标即可。

本实施例的方法也可以适用于以下的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例10

在本实施例中，说明在实施例1～9中的用式（1）拟合记录功率Pw和调制度M的关系的情况下，追加了作为该光盘固有的参数的拟合残差D的情况。关于未变更的部分，与实施例1～9相同，因此，在本实施例中省略。

拟合残差D是用式（1）拟合该光盘的调制度特性的情况下的、表示拟合精度的指标，通过再生在光盘的管理区域中记录的信息和/或读出在光盘装置的存储部中存储的信息来预先取得。在此，所取得的拟合残差D例如是用式（1）拟合参考调制度特性的情况下的、参考调制度特性和式（1）的误差，例如在使用最小二乘法进行拟合的情况下，是平方误差和的最小值。其只要在决定在实施例1～9中的记录功率调整前预先被取得的该光盘固有的参数时同时求出即可。由此，拟合残差D根据拟合误差的指标，例如有时为平方误差和、距离的和、标准偏差、相关系数和决定系数。此外，在上述中根据拟合参考调制度特性的结果来决定了拟合残差D，但是，也可以是能够评价拟合适当的预先决定的值。在这种情况下，无需预先调查针对该盘的拟合残差D。

拟合残差D在记录功率调制的拟合中，例如，与用式（1）拟合测定出的调制度特性时的误差进行比较。由此，能够进行测定出的调制度特性的拟合的精度的比较以及调制度特性的品质评价，能够确认是否适当地执行了拟合。由此，在拟合精度低的情况下，或者调制度特性的品质差的情况下，例如可以从试写来重新进行记录功率调整。

在此，在根据参考调制度特性来决定拟合残差D的情况下，在取得了拟合残差D的时刻，能够判定用式（1）能够对该光盘的调制度特性进行怎样程度的拟合。由此，能够判定无法使用本发明的记录功率调整方法的光盘。

本实施例的方法能够适用于以下的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例11

在本实施例中，说明决定实施例1～10中的使用最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt计算最佳记录功率Pw_opt时使用的参数，例如Pint_opt和Pw_opt的比τ、或Pint_opt和Ptarget_opt的比τ’等的方法。

这些参数与在实施例4～10的记录功率调整中进行拟合所使用的介质固有的参数Pint_ref、Pasy_ref以及ν的决定方法相同，通过使用式（1）来拟合作为参考的该光盘的状态下的参考调制度特性而决定。

例如，以参考调制度特性和式（1）的误差，例如平方误差的和为最小的方式来计算式（1）的参数Masy、Pint、Pasy，将这些值决定为Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt。在此，也可以使用该参考调制度特性来决定作为在κ方式中使用的参数的系数ρ、指定记录功率Pind以及目标系数值κ等。可以使用这些计算值，决定在根据Pint_opt计算Pw_opt时使用的参数的值。例如，将τ决定为计算出的Pint_opt和Pw_opt的比，将τ’决定为计算出的Pint_opt和Pind的比。如实施例8所示，在根据Pint_opt计算Pw_opt时使用的参数根据计算方法不同而各种各样，因此，只要使用根据上述参考调制度特性计算出的值来决定在各个方法中成为必要的参数即可。

在此，参数的选择方法只要以作为记录功率调整全体最终能够决定最佳记录功率Pw_opt的方式选择即可。即，例如在实现使用了实施例4的拟合方法的记录功率调整方法的情况，已经作为在拟合中使用的参数而赋予了参考记录功率截距Pint_ref和参考渐近记录功率Pasy_ref，因此，作为用于根据Pint_opt来决定Pw_opt的参数，可以是κ方式中的指定记录功率Pind、或者Pint_opt和Pw_opt的比、或者Pasy_opt和Pw_opt的比、或者参考最佳记录功率Pw_ref中的任意一个。

拟合参考调制度特性的方法不只是上述方法，可以使用在实施例4～11中说明的方法。

本实施例的方法可以适用于以下的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例12

本实施例是将在上述实施例1～11中决定的固定值预先记录在介质的预定区域，例如管理区域的控制数据的DI中的实施例。关于实施例1～11的组合可以是任意的组合。

将在本发明的记录功率调整中使用的预先取得的多种记录功率Pw[m]的设定中使用的信息、和/或在拟合中使用的信息、和/或在根据最佳记录功率截距Pint_opt计算最佳记录功率Pw_opt中使用的信息、和/或在试写数据的品质评价中使用的信息记录在光盘的管理区域中和/或存储在光盘装置的存储部中。图12是表示光盘的管理区域101和作为在管理区域中包含的信息的DI（Disc Information：盘信息）102的图，上述本发明的记录功率调整方法中使用的预先取得的信息被记录在DI信息102中。此外，在将在记录功率调整方法中使用的预先取得的信息存储在光盘装置中的情况下，将这些信息存储在图7中的存储部中。

这些信息在上述使用方法中不直接使用，例如通过使用预先取得的计算方法，将这些信息作为能够在与上述相同的方法中使用的信息记录在光盘的管理区域中和/或存储在光盘装置的存储部中。在此，可以将预先取得的常数也记录在光盘的管理区域中和/或存储在光盘装置的存储部中。例如，在实施例5中的拟合测定的调制度特性时使用的参考记录功率截距Pint_ref和参考渐近记录功率Pasy_ref的比τ，不从光盘的管理区域和/或光盘装置的存储部中直接取得，例如通过取得参考记录功率截距Pint_ref以及参考渐近记录功率Pasy_ref，计算τ＝Pint_ref/Pasy_ref即可。

本实施例的方法可以适用于以后的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例13

在本实施例中，说明将在实施例1～12中使用的用式（1）拟合记录功率和调制度的关系的方法应用于κ方式，实现κ方式的高精度化的方法。

在该方法中，除了作为在κ方式中使用的参数的指定记录功率Pind、最佳目标记录功率Ptarget_opt和最佳记录功率Pw_opt的比ρ＝Pw_opt/Ptarget_opt，还使用参考渐近记录功率Pasy_ref、参考记录功率截距Pint_ref、Ptarget_opt和参考记录功率截距Pint_ref的比τ’＝Pint _ref/Ptarget_opt。在记录功率调整前预先取得这些参数。在此，Pind、ρ、Pasy_ref、Pint_ref和τ’是根据该光盘中的相同的参考调制度特性计算出的值。

对于以Pind为中心的±10%的记录功率范围设定多种记录功率Pw[m]，用各个记录功率记录预定长度的随机模式，通过再生记录的信号取得与记录功率Pw[m]对应的调制度M[m]。对于以记录功率Pw[m]为中心的±3%的范围，例如进行实施例4记载的拟合，对计算出的最佳记录功率截距Pint_opt[m]乘以τ’，计算目标记录功率Ptarget[m]。在此，图13表示进行拟合的范围的中心值Pw[m]和计算出的Ptarget[m]的关系。在图中还一起记载了与上述一样地针对每个记录功率范围使用通常的κ方式计算Ptarget[m]后的结果。最佳目标记录功率Ptarget_opt作为图13中的数据曲线和Ptarget＝Pw的交点被赋予。从此，相对于本发明中计算出的Ptarget_opt值，以κ方式计算出的Ptarget_opt值数据曲线变动，计算出错误的值。这是因为κ方式容易受到调制度特性的局部变动的影响。在此，因为本发明的Ptarget[m]是不依赖于记录功率Pw[m]的恒定值，所以，能够高精度地对调制度特性进行拟合，可知计算出的Ptarget_opt可以是Ptarget[m]的平均值。作为Ptarget[m]的平均值计算Ptarget_opt，对Ptarget_opt乘以系数ρ，由此计算出最佳记录功率Pw_opt。

根据上述，能够确认通过将本发明应用于κ方式，κ方式中的最佳目标记录功率Ptarget_opt的计算变得容易，能够更高精度地决定最佳记录功率Pw_opt。

在本实施例中，调制度特性的拟合使用了实施例4的方法，但是，拟合的方法也可以使用本说明书中记载的对记录功率Pw[m]和调制度M[m]的关系进行拟合的任意方法。此外，本实施例的方法可以适用于以下的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例14

在本实施例中，说明如下情况：变更实施例1～13中的用式（1）拟合记录功率Pw和调制度M的关系的情况中使用的、在为了得到参数的最佳值而使用的评价指标中的、特别是在根据记录功率Pw[m]和评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）的关系和其近似直线的关系来决定参数的最佳值时使用的评价指标。关于未变更的部分与实施例1～13相同，因此在本实施例中省略。

作为评价指标可以使用记录功率Pw[m]和评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）的关系和其近似直线的距离的和、误差的和、误差的标准误差σ以及试写和近似直线的评价值的相关系数r或者决定系数R2等。

在使用任何的指标的情况下，只要使用相同指标，都不会使记录功率调整的精度恶化。因此，只要预先决定指标，就可以在误差的评价中使用任何指标。

本实施例的方法可以适用于以下的实施例，在各实施例中得到同样的效果。

实施例15

在本实施例中，说明如下情况：在实施例1～14的记录功率调整中，追加针对试写数据的式（1）的近似精度评价，换言之，追加试写数据的品质评价，提高记录功率调整的精度。关于未变更的部分与各实施例相同，因此在本实施例中省略。但是，在本实施例中，使用由图1代表的调制度变动显著地表现的光盘，能够容易地确认本实施例的效果。

使用用式（1）拟合试写数据的结果来进行试写数据的品质评价。因此，首先，例如用实施例6的方法拟合试写中的记录功率Pw[m]和调制度M[m]的关系。

对于通过试写得到的测定点（Pw[m]、M[m]）计算将渐近记录功率Pasy设为变量的评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy），用对式（1）的两边乘以（Pw-Pasy）而得的式（7）来对记录功率Pw[m]和评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）的关系进行直线近似。

[数学式6]

M×(Pw-Pasy)＝Masy×(Pw-Pint)              （7）

由此，将Masy作为近似直线式（7）的斜率，将Pint作为近似直线式（7）Pw截距来求出。在此，这些Masy以及Pint也是以Pasy作为变量的值。（Pw[m]、M[m]×（Pw[m]-Pasy））和近似直线式（7）的误差，例如作为评价值方向的误差的和用式（3）来表示。在误差和式（3）的S为最小时，（Pw[m]、M[m]×（Pw[m]-Pasy））能够用式（7）最恰当地表现。因此，将式（3）的S为最小时的Pasy决定为最佳渐近记录功率Pasy_opt，将该Pint_opt中的Masy决定为最佳渐近调制度Masy_opt，将Pint决定为最佳记录功率截距Pint_opt。

以上求出了式（1）的参数的最佳值Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt，从此，按照各个实施例计算最佳记录功率Pw_opt。在此，计算出的Pw_opt的可靠性依存于试写数据的品质。因此，以下进行试写数据的品质评价。

在品质评价中，例如通过比较试写数据和近似式（1）来估计试写数据的变动量，判定是否适当地实施了试写。在本实施例中，例如估计调制度方向的变动并进行评价。在表示试写的调制度M[m]和式（1）的调制度M（Pw[m]）的相关的指标中有误差、标准偏差σ、相关系数r和决定系数R2等，但是，在本实施例中，例如使用相关系数r（式（5）或式（6），在本实施中使用式（5））的平方值r2（下式（8）。

[数学式7]

$r^2=\frac{{\left\{n\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}\right\{M\left[m\right]\&times;M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\}-\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\right[m\left]\right)\&times;\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\right)\}}^2}{(n\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{\left(M\right[m\left]\right)}^2-{\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\right[m\left]\right)}^2)(n\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}{\left\{M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\right\}}^2-{\left(\underset{m=1}{\overset{n}{\mathrm{\&Sigma;}}}M\left(\mathrm{Pw}\right[m\left]\right)\right)}^2)}---\left(8\right)$

在此，n是评价中使用的测定点的数量，M[m]是试写的调制度，M（Pw[m]）是根据将通过上述方法决定的Masy_opt、Pint_opt、Pasy_opt代入到式（1）而得的结果计算出的式（1）的调制度。

针对1000次的试写计算最佳记录功率Pw_opt和相关系数r2，图14表示描绘了各试写的（r2、Pw_opt）的关系的结果。在根据r2为0.5以上的试写以Pw_opt的计算误差为±3%以下的高精度计算出最佳记录功率，但是，在r2小的情况下，计算误差展宽到±40%，可知有不适当计算出最佳记录功率的可能性。

在此，关于相关系数r2的值和相关关系，一般具有以下的关系。

·0.00～0.04几乎没有相关关系

·0.04～0.16有些相关关系

·0.16～0.49相关关系相当大

·0.49～1.00相关关系强

因此，仅在试写的调制度M[m]和式（1）的调制度M（Pw[m]）有强的相关关系时，试写数据适合，能够保证由此计算出的最佳记录功率Pw_opt也适当。根据上述，在r2不足0.5的试写中，试写数据的变动较大，认为计算出的最佳记录功率Pw_opt的可靠性低，从试写重新进行该记录功率调整。

图15表示在通过以上方法实施了1000次记录功率调整时的最佳记录功率的计算误差和其频度的关系。通过在记录功率调整中追加试写数据的品质评价方法，能够确认能够实现非常高精度的记录功率调整。

在本实施例中，用相关系数的平方值r2来评价试写的调制度M[m]和式（1）的调制度M（Pw[m]）的相关，但是也可以使用误差和、误差的标准偏差σ、使用了式（6）的相关系数r和决定系数R2等指标来实施评价。在这些情况下，需要根据各个指标设置认为试写数据合适的指标的阈值，但是，所有的情况都与本实施例一样能够使记录功率调整高精度化。

此外，在本实施例中，在试写数据和近似式（1）的比较中，使用了试写的调制度M[m]和式（1）的调制度M（Pw[m]），但是，例如也可以使用根据试写数据计算出的评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy_opt）和式（7）的评价值Masy_opt×（Pw[m]-Pint_opt）。但是，这些评价值是在本实施例中的拟合中使用的评价指标，通过拟合，这些评价值的相关关系变得最高（误差小）。因此，计算出的最佳记录功率Pw_opt即使不合适，试写和式（7）的评价值的相关关系也变高，因此，有时试写数据的品质评价没有被适当地实施。另一方面，在本实施例中，在拟合中使用评价值，在试写数据的品质评价中使用调制度，变更了评价指标。这样，在本实施例中通过变更指标，针对式（1）的两个公式形式（式（1）和式（7））进行拟合的实施以及拟合精度的确认。由此，例如在试写数据与式（1）符合，即试写数据在记录功率调整合适的情况下，针对式（1）的两个公式形式的一方进行的拟合结果，在另一方的公式形式的指标中也赋予高的相关关系，能够确认试写数据为合适。此外，反过来，在试写数据与式（1）不符合时，即试写数据在记录功率调整中不合适时，针对式（1）的两个公式形式的一方进行的拟合结果，在另一方的公式形式的指标中赋予低的相关关系，因此能够确认试写数据不合适。因此，在试写数据的品质评价中，通过使用与在拟合中使用的指标不同的指标，来实现记录功率调整的更高精度化。

本实施例的方法适用于记录功率调整所涉及的、用式（1）拟合记录功率Pw和调制度M的关系的全部情况。

此外，上述实施方式是本发明的实施例的一部分，并不限于上述实施例。在采用本发明的主要部分进行实施的情况下，即使细节有区别，有时也得到同样的效果。

符号说明

10 光盘

12 主轴电动机

14 光拾取部

16 激光

18 编码器

20 LD驱动部

22 控制部

24 RF信号处理部

26 解码器

28 Henv、Lenv取得部

100 光盘

101 管理区域

102 ID（Disc Information）

103 缺陷管理信息

104 试写区域

Claims (16)

1.一种记录功率调整方法，其通过多种记录功率对信息记录介质试写信号，并根据所述信号来调整记录功率，其特征在于，

包括如下步骤：

根据使用多种记录功率Pw[m]试写的信号的再生信号振幅来求出调制度M[m]的步骤，其中，m为整数；

用作为参数而具有渐近调制度Masy、记录功率截距Pint以及渐近记录功率Pasy的调制度特性公式M＝Masy×（1-（Pint-Pasy）/（Pw-Pasy）来拟合所述Pw[m]和所述M[m]的关系，由此至少决定最佳记录功率截距Pint_opt的步骤；

至少使用所述M[m]、所述调制度特性公式以及所述Pint_opt来评价所述拟合的近似精度及/或所述试写信号的品质的步骤；以及

通过至少使用了所述Pint_opt的预定的运算，计算最佳记录功率Pw_opt的步骤。

2.根据权利要求1所述的记录功率调整方法，其特征在于，

所述拟合包括以下步骤：

使用所述Pw[m]和所述M[m]，计算将所述Pasy作为变量的评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）的步骤；

用直线式M×（Pw-Pasy）＝Masy×（Pw-Pint）近似所述评价值和所述Pw[m]的关系，决定所述Masy以及所述Pint的步骤；

将所述评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）与所述直线式的Masy×（Pw[m]-Pint）的差的平方和作为拟合误差，将所述拟合误差达到最小的所述Pasy决定为最佳渐近记录功率Pasy_opt的步骤；以及

在使用了所述Pasy_opt的情况下，将所述Masy决定为最佳渐近调制度Masy_opt，以及将所述Pint决定为最佳记录功率截距Pint_opt的步骤。

3.根据权利要求1所述的记录功率调整方法，其特征在于，

评价所述近似精度及/或所述试写信号的品质的步骤还包括以下步骤：

计算将所述Pw[m]代入使用了所述Masy_opt以及所述Pint_opt以及所述Pasy_opt的所述调制度特性公式而得到的M(Pw[m])与从所述试写得到的所述调制度M[m]的相关系数r的平方的步骤；以及

使用所述相关系数r的平方来进行所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价的步骤。

4.根据权利要求3所述的记录功率调整方法，其特征在于，

在使用所述相关系数r的平方来进行所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价的步骤中，在所述相关系数r的平方不足0.5的情况下，根据所述试写重新进行记录功率调整。

5.根据权利要求3所述的记录功率调整方法，其特征在于，

在使用所述相关系数r的平方来进行所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价的步骤中，在所述相关系数r的平方为0.5以上的情况下，实施计算所述最佳记录功率的步骤。

6.根据权利要求1所述的记录功率调整方法，其特征在于，

进一步用误差的平方和来评价所述拟合的拟合精度，

使用相关系数r的平方来评价所述近似精度及/或所述试写信号的品质。

7.根据权利要求1所述的记录功率调整方法，其特征在于，

进一步在所述拟合的拟合精度的评价中使用所述Pw[m]和所述评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）的关系，

在所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价中使用所述Pw[m]和所述M[m]的关系。

8.根据权利要求1所述的记录功率调整方法，其特征在于，

所述拟合包括如下步骤：

取得参考记录功率截距Pint_ref及/或参考渐近记录功率Pasy_ref的步骤；

使修正渐近记录功率Pasy_temp[n]的修正次数为n，使0次修正渐近记录功率Pasy_temp[0]为所述Pasy__ref的步骤；

使用所述Pasy_temp[n]计算评价值E[m,n]＝M[m]×（Pw[m]-Pasy_temp[n]）的步骤；

至少将用直线对所述Pw[m]和所述E[m,n]的关系进行了近似时的、所述直线的E[m,n]成为零的记录功率Pw决定为记录功率截距Pint[n]的步骤；

计算n+1次修正渐近记录功率Pasy_temp[n+1]＝Pasy_ref×Pint[n]/Pint_ref的步骤；以及

至少将预定的所述修正次数n的所述Pint[n]决定为最佳记录功率截距pint_opt的步骤。

9.根据权利要求1所述的记录功率调整方法，其特征在于，

所述拟合包括以下步骤：

取得所述Pint_opt和所述Pasy_opt的比ν的步骤；

使用所述Pw[m]和所述M[m]，求出将Pasy作为变量的评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）/（Pw[m]-ν×Pasy）的步骤；以及

至少将所述评价值最接近于恒定时的所述Pasy决定为最佳渐进记录功率Pasy_opt，以及将ν×Pasy_opt决定为最佳记录功率截距Pint_opt的步骤。

10.一种信息记录方法，其通过多种记录功率对信息记录介质试写信号，并根据所述信号来调整记录功率，以调整后的记录功率来记录信息，其特征在于，

包括如下步骤：

根据使用多种记录功率Pw[m]试写的信号的再生信号振幅来求出调制度M[m]的步骤，其中，m为整数；

用具有渐近调制度Masy、记录功率截距Pint以及渐近记录功率Pasy作为参数的调制度特性公式M＝Masy×（1-（Pint-Pasy）/（Pw-Pasy）来拟合所述Pw[m]和所述M[m]的关系，由此至少决定最佳记录功率截距Pint_opt的步骤；

至少使用所述M[m]、所述调制度特性公式以及所述Pint_opt来评价所述拟合的近似精度及/或所述试写信号的品质的步骤；

通过至少使用了所述Pint_opt的预定的运算，计算最佳记录功率Pw_opt的步骤；以及

通过所述最佳记录功率Pw_opt，对所述信息记录介质记录信息。

11.根据权利要求10所述的信息记录方法，其特征在于，

所述拟合包括以下步骤：

使用所述Pw[m]和所述M[m]计算将所述Pasy作为变量的评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）的步骤；

用直线式M×（Pw-Pasy）＝Masy×（Pw-Pint）近似所述评价值和所述Pw[m]的关系，决定所述Masy以及所述Pint的步骤；

将所述评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）与所述直线式的Masy×（Pw[m]-Pint）的差的平方和作为拟合误差，将所述拟合误差达到最小时的所述Pasy决定为最佳渐近记录功率Pasy_opt的步骤；以及

在使用了所述Pasy_opt的情况下，将所述Masy决定为最佳渐近调制度Masy_opt，以及将所述Pint决定为最佳记录功率截距Pint_opt的步骤。

12.根据权利要求10所述的信息记录方法，其特征在于，

评价所述近似精度及/或所述试写信号的品质的步骤还包括以下步骤：

计算将所述Pw[m]代入使用了所述Masy_opt以及所述Pint_opt以及所述Pasy_opt的所述调制度特性公式而得到的M(Pw[m])与从所述试写得到的所述调制度M[m]的相关系数r的平方的步骤；以及

使用所述相关系数r的平方来进行所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价的步骤。

13.根据权利要求12所述的信息记录方法，其特征在于，

在使用所述相关系数r的平方来进行所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价的步骤中，进一步在所述相关系数r的平方不足0.5的情况下，根据所述试写重新进行记录功率调整。

14.根据权利要求12所述的信息记录方法，其特征在于，

在使用所述相关系数r的平方来进行所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价的步骤中，进一步在所述相关系数r的平方为0.5以上的情况下，实施计算所述最佳记录功率的步骤。

15.根据权利要求10所述的信息记录方法，其特征在于，

进一步用误差的平方和来评价所述拟合的拟合精度，

使用相关系数r的平方来评价所述近似精度及/或所述试写信号的品质。

16.根据权利要求10所述的信息记录方法，其特征在于，

进一步在所述拟合的拟合精度的评价中使用所述Pw[m]和所述评价值M[m]×（Pw[m]-Pasy）的关系，

在所述近似精度及/或所述试写信号的品质的评价中使用所述Pw[m]和所述M[m]的关系。

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