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CN102208864A - 开关设备驱动装置和半导体装置 - Google Patents

开关设备驱动装置和半导体装置 Download PDF

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CN102208864A
CN102208864A CN2011100832432A CN201110083243A CN102208864A CN 102208864 A CN102208864 A CN 102208864A CN 2011100832432 A CN2011100832432 A CN 2011100832432A CN 201110083243 A CN201110083243 A CN 201110083243A CN 102208864 A CN102208864 A CN 102208864A
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CN
China
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gate
switching device
current
voltage
circuit
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CN2011100832432A
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玉冈修二
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

本发明提供一种开关设备驱动装置,即便在开关设备的阈值电压出现偏差时,也能够抑制开关速度的偏差,并防止因开关设备稳定导通状态下不需要的栅极电流引起的功率损失,从而容易设定希望的变化率。在本发明的开关设备驱动装置中,控制电流提供电路(21)根据第1输入驱动信号(UD),在向开关设备(11)的栅极或基极进行提供输出的驱动电流中,将开关设备中的开关动作为导通动作初期阶段的电流(I1+I2)、和该开关动作结束后的阶段的电流(I1)设定为不同的值。

Description

开关设备驱动装置和半导体装置
技术领域
本发明涉及用于对半导体集成电路装置等中搭载的开关设备进行驱动控制的开关设备驱动装置和半导体装置,特别涉及对栅极使用p型区域或肖特基电极的FET、或者双极晶体管那样向栅极或基极施加偏压时流过栅极电流或基极电流的开关设备进行驱动控制(开关驱动)的开关设备驱动装置和半导体装置。
背景技术
图6是表示JP特开2009-11049号公报(专利文献1)公开的现有的开关设备驱动装置的框图。
图6所示的现有的开关设备驱动装置,是适合于对IGBT或MOS晶体管等的控制端子即栅极端子为高阻抗的开关设备进行开关驱动的开关设备驱动装置。该开关设备驱动装置中,抑制因阈值电压(密勒电压)相对于开关设备的栅极电压的偏差而引起的开关速度(输出电压的变化率(slew rate))的偏差。以下,对该现有的开关设备驱动装置进行说明。
如图6所示,开关设备驱动装置51的输出端子与开关设备50的栅极端子连接。开关设备驱动装置51具备:判定/切换电路52,输入栅极控制信号和开关设备50的栅极电压;恒电流脉冲栅极驱动电路53,输入来自判定/切换电路52的导通恒电流/关断恒电流的控制信号;和恒电压脉冲栅极驱动电路54,输入来自判定/切换电路52的导通恒电压/关断恒电压的控制信号。恒电流脉冲栅极驱动电路53具有导通恒电流电路和关断恒电流电路,恒电压脉冲栅极驱动电路54具有导通恒电压电路和关断恒电压电路。开关设备驱动装置51中的导通恒电流电路、关断恒电流电路、导通恒电压电路、关断恒电压电路各自的输出,与开关设备驱动装置51的输出端子连接,来自上述4个恒电流/恒电压电路其中一个电路的输出信号适时输出至开关设备50的栅极。
图7是图6所示的开关设备驱动装置51的动作说明图。根据输入至开关设备驱动装置51的栅极控制信号和栅极设备50的栅极电压,开关设备驱动装置51的输出信号即栅极驱动信号切换为导通恒电流电路、导通恒电压电路、关断恒电流电路、关断恒电压电路的4个输出中的任意一个输出。开关设备50的导通/关断的切换动作时的输出电压(即图7所示的开关设备50的集电极电压)的下降或上升的变化率,由开关设备50的栅极电流和图6中未图示的栅极/集电极间的电容值决定。
在图6的开关设备驱动装置51中,在栅极控制信号的导通/关断切换时的开关设备50的导通/关断的切换动作时,开关设备50的栅极始终由恒电流脉冲栅极驱动电路53进行恒电流驱动。因此,开关设备50的导通/关断切换动作时的输出电压的变化率并不依赖于开关设备50的阈值电压(密勒电压)的偏差。因此,即便阈值电压(密勒电压)相对于开关设备50的栅极电压出现偏差,图6所示的开关设备驱动装置51也能够抑制变化率的值占据较大比重的开关速度的偏差。
另一方面,为了使开关设备50的输出电压的变化率成为希望的值,需要将由导通恒电流电路和关断恒电流电路构成的恒电流脉冲栅极驱动电路53的恒电流值设定得较大。为此,需要将导通恒电流电路的电源电压设定得较高,需要将关断恒电流电路的地电压相对于开关设备50的发射极电压设定为负电压。因此,若即便开关设备50从导通状态切换至关断状态、或者从关断状态切换至导通状态的迁移动作状态结束,依然持续恒电流驱动时,则会对开关设备50的栅极端子施加较大的正向电压、或反向电压,有可能破坏开关设备50的栅极氧化膜,装置可靠性有可能受损。
考虑到以上这点,现有的开关设备驱动装置中,在开关设备50从导通状态切换至关断状态、或者从关断状态切换至导通状态的迁移动作状态结束的时间点,通过从导通恒电流电路切换至导通恒电压电路、或者从关断恒电流电路切换至关断恒电压电路,由此将开关设备50的栅极端子的驱动方式从恒电流驱动切换至恒电压驱动。这样,在现有的开关设备驱动装置中,通过对栅极端子电压进行钳位来实现开关设备的栅极氧化膜的保护。
如上所述,在现有的开关设备驱动装置中,即便开关设备的阈值电压出现偏差,也能够抑制开关设备的开关速度的偏差,并且保护开关设备的栅极氧化膜。
[专利文献1]JP特开2009-11049号公报
但是,作为由图6所示的现有的开关设备驱动装置驱动的开关设备,在使用像栅极利用p型区域或肖特基电极的FET、或者双极晶体管那样对栅极或基极施加偏压时流过栅极电流或基极电流的开关设备的情况下,存在以下说明的很大的问题。
图8表示栅极使用p型区域或肖特基电极的FET的等效电路图。如图8所示,在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET中,构成为在栅极/源极间以及栅极/漏极间存在二极管。因此,在图6所示的现有的开关设备驱动装置中,将图8所示的FET作为开关设备使用的情况下,在由恒电压电路进行动作时流入不需要的栅极电流。同样的现象不仅在将上述这种FET用于开关设备的情况下发生,在使用双极晶体管时也发生。
在开关设备驱动装置中,在使上述这种的开关设备进行导通/关断动作,从而使该开关设备的输出电压的极性迁移时,为了以希望的开关速度(输出电压的变化率)使开关设备进行动作,需要栅极电流。
另一方面,在由图6所示的现有的开关设备驱动装置的恒电压电路驱动开关设备的栅极端子的状态下,也就是开关设备完全处于导通动作状态或关断动作状态下,对于IGBT或MOS晶体管来说本来是不需要栅极电流的。此外,在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET等的情况下,在稳定的导通动作状态时,仅需要确保驱动漏极电流的VGS电压的栅极电流或用于驱动集电极电流的基极电流,在上述开关设备驱动装置的恒电压电路动作时,流入开关设备栅极端子的栅极电流成为开关设备以及开关设备驱动装置中多余的功率损失。这一点在将双极晶体管用于开关设备的情况下也存在同样问题。
发明内容
本发明的目的是解决上述现有的开关设备驱动装置中的问题,提供一种开关设备驱动装置和半导体装置,对在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET等那样向栅极施加偏压时流过栅极电流的开关设备进行驱动,即便开关设备的阈值电压出现偏差时,也能够抑制该开关设备的输出电压的变化率偏差,从而抑制开关速度的偏差,并且防止在开关设备稳定的导通动作状态下因不必要的栅极电流引起的功率损失,容易设定希望的变化率。此外,本发明中,作为开关设备不仅包括栅极中使用p型区域或肖特基电极的FET,还包括双极晶体管。
本发明所涉及的第1发明的开关设备驱动装置,与为了驱动负载需要栅极电流或基极电流的开关设备的栅极或基极连接,该开关设备驱动装置根据所输入的栅极控制信号向所述栅极或所述基极输出驱动电流,该驱动电流使所述开关设备进行导通/关断动作,所述开关设备驱动装置构成为具备:控制电流提供电路,与电源侧连接,根据所述栅极控制信号的高电平或低电平,向所述栅极或所述基极提供输出驱动电流;控制电流吸收电路,与接地侧连接,根据所述栅极控制信号的低电平或高电平,向所述栅极或所述基极吸收输出驱动电流;和I/F电路,输入所述栅极控制信号,生成输出至所述控制电流提供电路的第1驱动信号和输出至所述控制电流吸收电路的第2驱动信号。所述控制电流提供电路根据所述第1驱动信号,在开关设备的开关动作的导通动作初期的阶段、和该开关动作结束后的阶段,将提供输出至所述开关设备的栅极或基极的驱动电流设定为不同的值。这样构成的第1方面的开关设备驱动装置,在通过栅极控制信号使开关设备从关断状态向导通状态进行迁移动作时,能够将开关设备的输出电压的变化率(开关速度)设定为希望的值。此外,第1发明中的第1驱动信号和第2驱动信号作为后述的“具体实施方式”中的例示,分别表示为输入驱动信号(UD)和输入驱动信号(LD)。
本发明所涉及的第2发明的开关设备驱动装置中,所述第1发明中的所述开关设备可以是在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET、或者双极晶体管。这样构成的第2发明的开关设备驱动装置,在开关设备结束开关动作处于稳定的导通状态时,能够将栅极使用p型区域或肖特基电极的FET或双极晶体管中的特有特性、即为了维持负载驱动所需的栅极电流或基极电流设定为合适的电流值。
在本发明所涉及的第3发明的开关设备驱动装置中,对于所述第1发明中的所述控制电流提供电路向所述开关设备的栅极或基极提供输出的驱动电流,可以在输出最初的第1阶段维持所设定的第1恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的开关动作结束后处于导通状态的规定的延迟时间经过之后的第2阶段,变更至所述开关设备为了维持负载驱动而需要的第2恒电流值,该第2恒电流值小于所述第1恒电流值。这样构成的第3发明的开关设备驱动装置,因为由恒电流对开关设备的栅极电流或基极电流进行驱动,因此变化率不依赖于开关设备的阈值电压的偏差。
在本发明所涉及的第4发明的开关设备驱动装置中,所述控制电流提供电路具有多个提供用途恒流源,从所述多个提供用途恒流源的一个提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,根据输入至所述控制电流提供电路的第1驱动信号被导通/关断控制,从其他提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,根据输入至所述控制电流提供电路的第3驱动信号被导通/关断控制,所述第3驱动信号是由所述第1驱动信号和使所述第1驱动信号进行规定时间延迟之后的延迟信号波形形成得到。这样构成的第4发明的开关设备驱动装置,在开关设备结束开关动作处于稳定的导通动作状态时,能够将为了维持负载驱动所需的栅极电流或基极电流设定为合适的电流值,另外因为由恒电流对开关设备的栅极电流或基极电流进行驱动,因此变化率不依赖于开关设备的阈值电压的偏差。此外,第4发明中的第1驱动信号、第3驱动信号以及延迟信号作为后述的“具体实施方式”中的例示,分别表示成输入驱动信号(UD)、驱动信号(UD2)、以及信号(UDL)。
本发明所涉及第5发明的开关设备驱动装置中,对于所述控制电流吸收电路向所述开关设备的栅极或基极吸收输出的驱动电流,在输出最初的第1阶段维持所设定的第3恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的开关动作结束后处于关断状态的规定的延迟时间经过之后的第2阶段,处于低阻抗状态,具有足以吸入流经所述栅极或所述基极的容性电流的电流能力。这样构成的第5发明的开关设备驱动装置,在通过栅极控制信号使开关设备从导通状态迁移至关断状态时,能够将开关设备的输出电压的变化率(开关速度)设定为希望的值。此外,因为由恒电流对开关设备的栅极电流或基极电流进行驱动,因此变化率不依赖于开关设备的阈值电压的偏差。
在本发明所涉及的第6发明的开关设备驱动装置中,所述第5发明中的所述控制电流吸收电路具有:吸收用途恒流源,用于使所述开关设备的栅极或基极的电荷放电;和吸收晶体管,在所述开关设备处于关断状态时,具备足以吸入流经所述开关设备的栅极或基极的容性电流的电流能力。从所述吸收用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的吸收输出,根据输入至所述控制电流吸收电路的第2驱动信号被导通/关断控制,所述吸收晶体管构成为由第4驱动信号进行导通/关断控制,该第4驱动信号是由输入至所述控制电流吸收电路的所述第2驱动信号和使所述第2驱动信号进行规定时间延迟之后的延迟信号波形形成得到。这样构成的第6发明的开关设备驱动装置,在通过控制电流吸收电路的吸收晶体管的作用开关设备处于稳定的关断动作状态时,即便在经由FET或双极晶体管的漏极/栅极间或集电极/基极间的电容向栅极或基极流入容性电流的状态下,也能够将该开关设备的栅极电压或基极电压维持在该开关设备的关断状态的电压。该效果的作用在于,在将由开关设备驱动装置和开关设备构成的一组半导体装置在低压侧和高压侧串联累积两级的结构的半桥、H桥、三相变换器电路等中,可避免低压侧和高压侧的2个开关设备同时进行导通动作的直通(贯通模式)的危险。此外,第6发明中的第2驱动信号、第4驱动信号以及延迟信号作为后述的“具体实施方式”中的例示,分别表示成输入驱动信号(LD)、驱动信号(LD2)、以及信号(LDL)。
本发明所涉及的第7发明的开关设备驱动装置在第1发明的基础上,所述开关设备驱动装置具备:迟滞比较器,具有高电平和低电平的2个阈值电压,对所述阈值电压和输入至反相输入端子的所述开关设备的栅极电压或基极电压进行比较,所述迟滞比较器的输出被输入至所述控制电流提供电路和所述控制电流吸收电路,根据所述开关设备的栅极电压或基极电压,控制从所述控制电流提供电路和所述控制电流吸收电路输出至所述开关设备的栅极或基极的驱动电流。这样构成的第7发明的开关设备驱动装置,在由栅极控制信号使开关设备从关断状态迁移至导通状态或者从导通状态切换至关断状态时,能够将开关设备的输出电压的变化率(开关速度)设定为希望的值。
在本发明所涉及的第8发明的开关设备驱动装置中,对于所述第7发明中的所述控制电流提供电路向所述开关设备的栅极或基极提供输出的驱动电流,在输出最初的第1阶段,维持所设定的第1恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的栅极电压或基极电压超过所述迟滞比较器的所述高电平阈值电压的第2阶段,变更至为了所述开关设备维持负载驱动所需要的第2恒电流值,该第2恒电流值小于所述第1恒电流值。这样构成的第8发明的开关设备驱动装置在开关设备结束开关动作处于稳定的导通动作状态时,能够将为了维持负载驱动所需的栅极电流或基极电流设定为合适的电流值,能够实现不需要功率损失的削减。
在本发明所涉及的第9发明的开关设备驱动装置中,所述第8发明中的所述控制电流提供电路具有多个提供用途恒流源,从所述多个提供用途恒流源的一个提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,根据输入至所述控制电流提供电路的所述第1驱动信号被导通/关断控制,从其他提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,由于所述开关设备的栅极电压或基极电压超过所述迟滞比较器的高电平阈值电压而被导通/关断控制。这样构成的第9发明的开关设备驱动装置中,因为由恒电流对开关设备的栅极电流或基极电流进行驱动,因此变化率不依赖于开关设备的阈值电压的偏差。此外,第9发明中的第1驱动信号作为后述的“具体实施方式”中的例示,表示成输入驱动信号(LD)。
在本发明所涉及的第10发明的开关设备驱动装置中,对于所述第7发明中的所述控制电流吸收电路向所述开关设备的栅极或基极吸收输出的驱动电流,在输出最初的第1阶段维持所设定的第3恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的栅极电压或基极电压低于所述迟滞比较器的低电平阈值电压的第2阶段,处于低阻抗状态,具有足以吸入在所述开关设备处于关断状态时流经所述栅极或所述基极的容性电流的电流能力。这样构成的第10发明的开关设备驱动装置,在通过栅极控制信号使开关设备从导通状态迁移至关断状态时,能够将开关设备的输出电压的变化率(开关速度)设定为希望的值。此外,因为由恒电流对开关设备的栅极电流或基极电流进行驱动,因此变化率不依赖于开关设备的阈值电压的偏差。
在本发明所涉及的第11发明的开关设备驱动装置中,所述第10发明中的所述控制电流吸收电路具有:吸收用途恒流源,用于使所述开关设备的栅极或基极的电荷放电;和吸收晶体管,在所述开关设备处于关断状态时,具备足以吸入流经所述开关设备的栅极或基极的容性电流的电流能力。从所述吸收用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的吸收输出,根据输入至所述控制电流吸收电路的第2驱动信号被导通/关断控制,所述吸收晶体管在所述开关设备的栅极电压或基极电压低于所述迟滞比较器的低电平阈值电压时被导通关断控制。另外,所谓所述的容性电流,是指通过开关设备的的漏极/栅极间或者集电极/基极间的电容流入栅极或基极的电流。这样构成的第11发明的开关设备驱动装置,在通过控制电流吸收电路的吸收晶体管的作用,开关设备处于稳定的关断动作状态时,即便在经由FET或双极晶体管的漏极/栅极间或集电极/基极间的电容向栅极或基极流入容性电流的状态下,也能够将该开关设备的栅极电压或基极电压维持在该开关设备的关断状态的电压。该效果的作用在于,在将由开关设备驱动装置和开关设备构成的一组半导体装置在低压侧和高压侧串联累积两级的结构的半桥、H桥、三相变换器电路等中,可避免低压侧和高压侧的2个开关设备同时进行导通动作的直通(贯通模式)的危险。此外,第11发明中的第2驱动信号作为后述的“具体实施方式”中的例示,表示成输入驱动信号(LD)。
本发明所涉及的第12发明的半导体装置可构成为具备:所述第1发明至第11发明中的开关设备驱动装置、以及由该开关设备驱动装置进行驱动控制的开关设备。这样构成的第12发明的半导体装置即便在开关设备的阈值电压出现偏差时,也能够抑制开关速度的偏差,防止因开关设备的稳定导通动作状态下不必要的栅极电流引起的功率损失,可构成容易设定希望的变化率、并且实现了节能化的可靠性高的装置。
本发明的新的特征是权利要求书中特别记载的部分,而对于结构和内容双方,通过结合其他目的和特征与附图一起阅读以下的详细说明,能够更好地理解评价本发明。
本发明的开关设备驱动装置达到的效果在于:通过对作为驱动控制对象的开关设备的栅极或基极进行恒电流驱动,由此即便在该开关设备的工作点的阈值电压出现偏差时,也能够抑制从关断状态切换至导通状态、或者从导通状态切换至关断状态时的开关设备的输出电压的变化率偏差,从而能够抑制开关速度的偏差,并且防止因开关设备的稳定导通动作状态下不必要的栅极电流或基极电流引起的功率损失,从而容易设定希望的变化率。此外,本发明的开关设备驱动装置,特别是在驱动栅极使用p型区域或肖特基电极的FET、或者双极晶体管这种为了驱动负载需要栅极电流或基极电流的开关设备时可达到很好的效果。
附图说明
图1是表示本发明所涉及的开关设备驱动装置的第1实施方式的具体结构框图。
图2是表示第1实施方式的开关设备驱动装置中的各信号等的关系的时序波形图。
图3是表示第1实施方式和第2实施方式的开关设备驱动装置中的控制电流提供电路的恒电流源的具体结构的电路图。
图4是表示本发明所涉及的开关设备驱动装置的第2实施方式的具体结构的框图。
图5是表示第2实施方式的开关设备驱动装置中的各信号等的关系的时序波形图。
图6是表示现有的开关设备驱动装置的结构框图。
图7是现有的开关设备驱动装置的动作说明图。
图8是栅极使用p型区域或肖特基电极的FET的等效电路图。
图中:
1、30开关设备驱动装置
2第1延迟电路
3第2延迟电路
4变换器
5二输入NOR电路
6二输AND电路
7、8、13开关电路
9吸收晶体管
10负载
11开关设备
11a FET
12功率电源
14、15、16、42、43、44恒电流源
20、31 I/F电路
21、40控制电流提供电路
22、41控制电流吸收电路
32迟滞比较器
具体实施方式
以下,参照附图,对本发明涉及的开关设备驱动装置、以及具备该开关设备驱动装置和开关设备的半导体装置的优选实施方式进行详细说明。此外,本发明并不限定于以下实施方式中记载的具体结构,而是包括根据与实施方式中说明的技术思想相同的技术思想和本技术领域中的技术常识而构成的部分。
第1实施方式
图1表示本发明涉及的开关设备驱动装置和半导体装置的第1实施方式的具体的结构框图。以下,利用图1对本发明涉及的开关设备驱动装置的第1实施方式进行说明。
对开关设备11进行导通/关断(ON/OFF)驱动(开关动作)的开关设备驱动装置1构成为具备:I/F(接口)电路20,输入栅极控制信号(GC);控制电流提供电路(control current source circuit)21,输入来自I/F电路20的信号(UD),与电源侧(VCC)连接;和控制电流吸收电路(controlcurrent sink circuit)22,输入来自I/F电路20的信号(LD),与接地侧连接。控制电流提供电路21和控制电流吸收电路22的输出,作为开关设备驱动装置1的输出,输入至开关设备11的栅极端子(G)。在第1实施方式中,作为开关设备11,以栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a进行了说明,但作为由本发明的开关设备驱动装置进行导通/关断驱动的开关设备11,双极晶体管也适用。
在第1实施方式的开关设备驱动装置1中,I/F电路20输入栅极控制信号(GC),生成控制电流提供电路21的输入驱动信号(UD)、和控制电流吸收电路22的输入驱动信号(LD)。控制电流提供电路21根据所输入的输入驱动信号(UD)的高电平(H)或低电平(L),将栅极电流(IG)输出(提供输出;source output)至开关设备11的FET11a的栅极端子(G)。控制电流吸收电路22根据所输入的输入驱动信号(LD)的低电平或高电平,将栅极电流(IG)输出(吸收输出;sink output)至开关设备11的FET11a的栅极端子(G)。这样,控制电流提供电路21和控制电流吸收电路22各自的输出,经由开关设备驱动装置1的输出端子与FET11a的栅极端子(G)连接。
控制电流提供电路21具备2个恒电流源14、15。其中一个恒流源14中,设有由输入驱动信号(UD)驱动控制的开关电路7,恒电流源14的恒电流(I1)根据输入驱动信号(UD)提供输出至FET11a的栅极端子(G)。在另一个恒电流源15中,设有由驱动信号(UD2)驱动控制的开关电路8,该驱动信号(UD2)由输入驱动信号(UD)、和使该输入驱动信号(UD)延迟规定延迟时间DT1之后的信号(UDL)进行波形成形得到。该开关电路8由驱动信号(UD2)进行驱动控制,由此恒流源15的恒电流(I2)与恒电流(I1)同时被提供输出至FET11a的栅极端子(G),并且经过规定的延迟时间DT1之后,对FET11a的栅极端子(G)的供给被截断。
此外,在图1中,对利用第1实施方式的开关设备驱动装置1中的控制电流提供电路21的2个恒电流源14、15和开关电路7、8向FET11a的栅极端子(G)进行提供输出的电路结构进行了说明,也可以具体例示出图3所示的电路结构。
在图3所示的电路结构中构成为:具有2个恒电流源(I1、I2)和多个双极型晶体管,输入驱动信号(UD、UD2),从一个电流输出端子输出栅极电流(IG)。在图3的例示中,利用多个双极型晶体管,由驱动信号(UD、UD2)控制栅极电流(IG),但也可以将这些双极型晶体管置换为MOS型晶体管而构成,可达到同样的效果。
图2是表示栅极控制信号(GC)、驱动信号(UD、LD、UDL、UD2)、栅极电流(IG)、恒电流(I1、I2)等的关系的时序波形图。利用图2所示的时序波形图,对向作为开关设备11的FET11a的栅极端子(G)提供输出栅极电流(IG)的机制进行详细说明。
此外,在本发明涉及的第1实施方式的开关设备驱动装置1中,对构成为图2的时序波形图中栅极控制信号(GC)为高电平时提供输出栅极电流(IG)的例子进行说明,但也可以构成为在栅极控制信号(GC)为低电平时提供输出栅极电流(IG)。
此外,在第1实施方式的开关设备驱动装置1中,图2所示的各信号的极性未必是按照图2所示的极性,也可以是这些信号的相反极性,或者各信号间的相对的极性关系还可以不是按照图2的极性关系。这是因为:这些信号涉及的具体的极性关系与控制电流提供电路21和控制电流吸收电路22的电路设计这种用于实现本发明的目的的机构相关,而与本发明的开关设备驱动装置的目的无关。
如图2的时序波形图所示,当栅极控制信号(GC)为高电平时,I/F电路20使控制电流吸收电路22的输入驱动信号(LD)为低电平,从该时刻起经过规定的延迟时间DS之后使控制电流提供电路21的输入驱动信号(UD)为高电平。在控制电流提供电路21和控制电流吸收电路22中,如果输入驱动信号(UD、LD)为高电平,则各自的动作被激活,处于能输出各恒电流I1、I2、I3的状态。
此外,I/F电路20并不同时切换各输入驱动信号(UD、LD)的极性,而是错开了延迟时间DS从而不重复地进行切换,这是为了避免从控制电流提供电路21和控制电流吸收电路22同时输出恒电流。不过,在控制电流提供电路21和控制电流吸收电路22中,若是同时输出恒电流没有问题,也可以在栅极控制信号(GC)变为高电平的同时,I/F电路20使控制电流吸收电路22的输入驱动信号(LD)变为低电平,同时使控制电流提供电路21的输入驱动信号(UD)变为高电平。
当输入驱动信号(UD)变为高电平时,恒电流I1经由开关电路7输入至FET11a的栅极端子(G)。输入驱动信号(UD)的翻转信号和由第1延迟电路2使上述输入驱动信号(UD)延迟了延迟时间DT1之后的信号(UDL)输入至二输入NOR电路5,形成驱动信号(UD2)。
驱动信号(UD2)为从输入驱动信号(UD)的上升沿起在延迟时间DT1为高电平的信号。仅在该信号(UD2)为高电平的期间,恒电流I2输出至FET11a的栅极端子(G)。
作为以上所说明的作用结果,在栅极控制信号(GC)变为高电平之后,在延迟时间DS后,下述式(1)的栅极电流(IG)流入FET11a的栅极端子(G)。
IG=I1+I2       ···(1)
如上述那样,栅极电流(IG)流入FET11a的栅极端子(G)之后,在延迟时间DT1后,下述式(2)的栅极电流(IG)流入栅极端子(G)。
IG=I1          ···(2)
如上所述,在栅极控制信号(GC)为高电平的期间,输入驱动信号(LD)为低电平,控制电流吸收电路32的恒电流I3并不输出至FET11a的栅极端子(G)。
接下来,当栅极控制信号(GC)变化至低电平时,在延迟时间DS之后,输入驱动信号(UD)变为低电平,进一步在延迟时间DS之后输入驱动信号(LD)变为高电平。与上述的说明同样,这是为了避免控制电流吸收电路22和控制电流提供电路21处于同时输出的状态。如果控制电流吸收电路22和控制电流提供电路21同时输出不存在问题,也可以在栅极控制信号(GC)变为低电平时,I/F电路20使控制电流提供电路21的输入驱动信号(UD)为低电平,同时使控制电流吸收电路22的输入驱动信号(LD)为高电平。
如根据图1所理解的那样,若输入驱动信号(UD)变为低电平,由此驱动信号(UD2)一定为低电平,控制电流提供电路21的恒电流I1、I2不会输出至FET11a的栅极端子(G)。另一方面,若输入驱动信号(LD)变为高电平,由此控制电流吸收电路22的恒电流I3输出至FET11a的栅极端子(G)。
输入驱动信号(LD)以及由第2延迟电路3使输入驱动信号(LD)延迟了延迟时间DT2之后的信号(LDL)输入至二输入AND电路6,从而通过“与”逻辑形成驱动信号(LD2)。所形成的驱动信号(LD2)是从输入驱动信号(LD)的上升沿起延迟了延迟时间DT2之后的信号。输入驱动信号(LD)和驱动信号(LD2)的下降沿是相同定时。在该驱动信号(LD2)为高电平的期间,吸收晶体管9的栅极电压为高电平,吸收晶体管9处于导通状态。
作为上述所说明的作用结果,在栅极控制信号(GC)变为低电平之后,在延迟时间DS的2倍时间以后,也就是从输入驱动信号(LD)上升至高电平时起,从FET11a的栅极端子(G)抽出下述式3的栅极电流(IG)。
IG=I3         ···(3)
如上所述,从FET11a的栅极端子(G)抽出栅极电流(IG),从输入驱动信号(LD)上升至高电平起在延迟时间DT2之后,吸收晶体管9变为导通状态,栅极端子(G)处于吸收电流能力较高的低阻抗状态,大致被固定在地电压。
在本发明所涉及的第1实施方式的开关设备驱动装置中,构成为上述的恒电流I1、I2、I3的值、第1延迟电路2的延迟时间DT1、以及第2延迟电路3的延迟时间DT2可任意设定。因而,本发明所涉及的第1实施方式的开关设备驱动装置即便在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a的阈值电压出现偏差时,也能够抑制从关断状态切换至导通状态、或者从导通状态切换至关断状态的迁移动作时的FET11a的输出电压的变化率的偏差,也就是能够抑制开关速度的偏差。
此外,在上述那样构成的第1实施方式的开关设备驱动装置中,能够容易地将FET11a从关断状态切换至导通状态的迁移动作时、或从导通切换至关断的迁移动作时的输出电压的变化率设定为希望的值。
再有,在第1实施方式的开关设备驱动装置中,作为开关设备的FET11a处于稳定的导通状态时,由此该FET11a的栅极端子(G)中不会流入不必要的栅极电流(IG),防止功率损失。
以下,对第1实施方式的开关设备驱动装置的结构中,与如上述那样能够实现开关速度的偏差抑制、输出电压的变化率的设定容易性、以及开关设备处于稳定导通状态时的防止功率损失相关的动作原理进行说明。
如图2所示,栅极控制信号(GC)从低电平变化至高电平之后,一个输入驱动信号(LD)变为低电平,另一个输入驱动信号(UD)在延迟时间DS之后变为高电平。这样,当输入驱动信号(UD)变为高电平时,FET11a的栅极端子(G)中开始流入栅极电流(IG)。此时的栅极电流(IG)为式(1)所示的电流值(I1+I2)。其结果,栅极端子电压因栅极电流(IG)的流入而上升,不久该FET11a处于导通状态达到开始导通动作的VGSon(参照图2)。从此时刻起,FET11a从关断状态,经过开始驱动与图1所示的FET 11a的漏极端子(D)连接的负载10的过渡状态,达到完全驱动负载10的导通动作的状态。
另一方面,作为FET11a的输出电压的漏极电压(VDS),变为在FET11a关断状态下与负载10的另一端连接的功率电源12的电压(VS)。在FET11a进行导通动作的状态下,FET11a的漏极电压(VDS)达到由FET11a的导通电阻、负载10、电压(VS)决定的导通电压。该导通电压是接近0V的电压。
在此叙述的FET11a的输出电压(漏极电压)的下降变化率是指FET11a的漏极电压(VDS)从电压(VS)直至达到导通电压的时间倾斜度。在FET11a的栅极电压达到VGSon电压之后,FET11a开始驱动负载10的过渡状态中,栅极电流(IG)并不对FET11a的栅极电容(未图示)进行电荷充电,为了使FET11a的漏极电压开始从电压(VS)向导通电压下降,栅极电流(IG)的大部分流入FET11a的栅极/漏极间电容(未图示)。由于该现象,栅极/漏极间电容的两端电压下降,作为FET11a的输出电压的漏极电压下降。
由以上说明可知,下降变化率可利用栅极电流(IG)和FET11a的栅极/漏极间电容由以下的近似式表现。
下降变化率=栅极电流(IG)/(FET11a的栅极/漏极间电容)···(4)
至此,关于FET11a从关断状态直至导通动作的状态的过渡状态,对能够利用式(4)近似下降变化率的关系式进行了说明。这点对于FET11a从导通动作状态直至关断状态的过渡状态下的上升变化率也同样成立。由于其动作原理基本上相同,因此省略其说明。
如根据上述式(4)所理解的那样,变化率不依赖于FET11a的阈值电压。因此,如果设计成本发明涉及的第1实施方式的开关设备驱动装置1中的恒电流I1、I2、I3的电流值不依赖于该开关设备驱动装置1的输出电压(也就是FET11a的栅极电压),则第1实施方式的开关设备驱动装置1,即便在FET11a的阈值电压出现偏差的情况下,FET11a的输出电压的变化率也不会出现偏差,可抑制开关速度的偏差。
此外,在第1实施方式的开关设备驱动装置中,如根据图2所理解的那样,决定FET11a从关断状态至导通状态的下降变化率的栅极电流(IG)是上述式(1)中的“IG”。此外,决定FET11a从导通动作切换至关断状态的上升变化率的栅极电流(IG)是上述式(3)中的“IG”。因此,在将下降变化率设定为希望的值的情况下,考虑作为开关设备驱动装置1的驱动对象的FET11a的栅极/漏极间电容,将电流值(I1+I2)设定为适当的值即可。此外,在将上升变化率设定为希望的值的情况下,同样地将电流值(I3)设定为适当的值即可。
如图2所示,通过对第1延迟电路2的延迟时间DT1进行适当设定,在FET11a为导通动作状态中,完全驱动负载10的状态下(负载驱动维持状态),能够将负载驱动维持所需的栅极电流IG设定为式(2)所示的值也就是IG=I1。这样,在负载驱动维持状态下,通过将栅极电流(IG)设定为电流值(I1),在栅极利用p型区域或肖特基电极的FET11a稳定的导通动作状态中,能够防止因FET11a的栅极端子(G)流过不必要的栅极电流(IG)引起的功率损失。
此外,在第1实施方式的开关设备驱动装置中,如图2所示那样从栅极控制信号(GC)由高电平变为低电平的时刻起经过(2*DS+DT2)时间之后信号(LD2)变为高电平。其结果,控制电流吸收电路22的吸收晶体管9处于导通状态,使FET11a的栅极端子(G)在接近0V的电压下处于电流能力较高的低阻抗状态。由于这样构成,因此第1实施方式的开关设备驱动装置在FET11a处于稳定的关断动作状态时,即便通过FET11a的漏极/栅极间电容向栅极端子(G)流入容性电流,也能够将FET11a的栅极电压维持在该FET11a的关断状态的电压。该效果的作用在于,在将第1实施方式的开关设备驱动装置1、以及栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a构成的一组半导体装置在低压侧和高压侧串联累积两级的结构的半桥、H桥、三相变换器电路等中,可避免低压侧和高压侧的2个FET11a同时进行导通动作的直通(贯通模式)的危险。
作为本发明的开关设备驱动装置的目的之一,提供一种在图2所示的栅极电流(IG)中,能够容易设定以电流值(I1、I2、I3)以及延迟时间(DT1、DT2)为特征的时间分布图的电路。在本发明涉及的第1实施方式的开关设备驱动装置中设想的栅极电流(IG)的时间分布图,以如下方式决定。
(1)栅极电流(IG)的电流值如上述那样由希望的上升变化率、下降变化率、FET11a的负载驱动时的栅极电流特性、FET11a的栅极/漏极间电容决定。具体而言,以如下方式决定栅极电流(IG)的电流值。
(A)电流值(I1)在考虑FET11a的负载驱动时的栅极电流特性的偏差的基础上,设定为图2所示的“负载驱动维持状态”中的负载驱动维持所需的FET11a的栅极电流(IG)。
(B)在将“Cgd”设为FET11a的栅极/漏极间电容的情况下,电流值(I1+I2)由下述式(5)决定。
(I1+I2)=(希望的下降变化率)*(Cgd)      ···(5)
(C)电流值(I3)由下述式(6)决定。
(I3)=(希望的上升变化率)*(Cgd)         ···(6)
此外,一般情况下,由于栅极/漏极间电容Cgd依赖于漏极/源极间电压来变化,因此有时式(5)和式(6)的“Cgd”不是相同的电容值。需要考虑这点来决定式(5)和式(6)中的电流值(I1、I2、I3)。
(2)延迟时间(DT1、DT2),由恒电流源I4、I5、I6的电流值(I1、I2、I3)、FET11a的栅极/漏极间电容(Cgd)、FET11a的栅极/源极电容(Cgs)、负载驱动时的栅极电压特性、这些要素的偏差公差决定。具体而言,以如下方式决定延迟时间(DT1、DT2)。
(A)延迟时间(DT1)由下述式(7)以及式(8)求得。
DT1={(VS-0V)/(希望的下降变化率)+Ton+ΔTon}     ···(7)
Ton={VGSon*(Cgs+Cgd)}/(I1+I2)                  ···(8)
在式(7)和式(8)中,如图2所示那样“Ton”是栅极电压VGS从0V达到FET11a开始导通动作的栅极电压VGSon的时间。此外,“ΔTon”是由“VGSon”、“Cgs”、“Cgd”、“I1”以及“I2”的偏差公差决定的Ton的公差。在此,“VS”是功率电源I2的电压,“Cgs”是FET11a的栅极/源极间电容。
(B)延迟时间(DT2)由下述式(9)和式(10)求得。
DT2={(VS-0V)/(希望的上升变化率)+Toff+ΔToff}    ···(9)
Toff={(VGS(I1)-VGSon)*(Cgs+Cgd)}/(I3)          ···(10)
在式(9)和式(10)中,如图2所示那样“Toff”是栅极电压VGS从后述的VGS(I1)达到上述的VGSon的时间。此外,“ΔToff”是由“VGS(I1)”、“VGSon”、“Cgs”、“Cgd”、“I3”的偏差公差决定的“Toff”的公差。在此,“VGS(I1)”是栅极电流(IG)为电流值(I1)时的FET11a的栅极/源极间电压。
如上所述,通过求得恒电流源14、15、16的电流值(I1、I2、I3)以及延迟时间(DT1、DT2)的设定值,能够容易将本发明涉及的第1实施方式的开关设备驱动装置中的FET11a的栅极电流(IG)的时间分布图设定为希望的状态。上述的结果在6于,通过第1实施方式的开关设备驱动装置对开关设备进行驱动控制,即便作为在栅极使用p型区域或肖特基电极的开关设备的FET11a的阈值电压出现偏差时,也能够抑制该FET11a的输出电压的变化率的偏差,也就是能够抑制开关速度的偏差,并且防止因FET11a稳定的导通动作状态下不必要的栅极电流引起的功率损失,而且容易设定希望的变化率。
此外,在具备第1实施方式所说明的开关设备驱动装置1和作为其驱动对象的开关设备11的半导体装置中,可保持上述的开关设备驱动装置1的优异效果,并且构成实现了节能化的可靠性高的装置。
第2实施方式
图4是表示本发明涉及的开关设备驱动装置以及半导体装置的第2实施方式的具体结构框图。以下,利用图4对本发明涉及的开关设备驱动装置和半导体装置的第2实施方式进行说明。此外,在第2实施方式的开关设备驱动装置和半导体装置的说明中,对于与上述第1实施方式的开关设备驱动装置和半导体装置相同的功能、结构的部分附于相同的符号,省略其说明。
对开关设备11进行导通/关断驱动(开关动作)的开关设备驱动装置30,构成为具备:I/F(接口)电路31,输入栅极控制信号(GC);控制电流提供电路40,输入来自I/F电路31的信号(UD),与电源侧(VCC)连接;控制电流吸收电路41,输入来自I/F电路31的信号(LD),与接地侧连接;和比较器39,具有迟滞比较器32,该迟滞比较器32具备2个阈值电压(VthH、VthL)。
控制电流提供电路40和控制电流吸收电路41的输出,作为开关设备驱动装置30的输出输入至开关设备11的栅极端子(G)。在第2实施方式中,作为开关设备11,以栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a进行了说明,但作为由本发明的开关设备驱动装置进行导通/关断驱动的开关设备11,双极晶体管也适用。
如上所述,第2实施方式的开关设备驱动装置30的输出端子,与栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a的栅极端子(G)连接,在开关设备驱动装置30的输入端子输入栅极控制信号(GC),该栅极控制信号(GC)进行用于在FET11a的栅极端子(G)对该FET11a进行导通/关断控驱动的栅极电流(IG)的提供/吸收输出控制。
在第2实施方式的开关设备驱动装置30中,I/F电路31根据栅极控制信号(GC)生成控制电流提供电路40的输入驱动信号(UD)和控制电流吸收电路41的输入驱动信号(LD)。控制电流提供电路40根据来自I/F电路31的输入驱动信号(UD)和来自比较器39的信号,向FET11a的栅极端子(G)提供输出栅极电流(IG)。控制电流吸收电路41根据来自I/F电路31的输入驱动信号(LD)和来自比较器39的信号,向FET11a的栅极端子(G)吸收输出栅极电流(IG)。比较器39构成为具有迟滞比较器32,该迟滞比较器32具备2个阈值电压(VthH、VthL)。
FET11a的栅极端子(G)的电压(栅极端子电压)输入至迟滞比较器21的反相输入端子(-)。迟滞比较器32的另一个输入端子(+)输入2个阈值电压,迟滞比较器32将栅极端子电压与2个阈值电压进行比较。迟滞比较器32将与比较结果相应的信号(CO)输出至控制电流提供电路40和控制电流吸收电路41。控制电流提供电路40和控制电流吸收电路41各自的输出端子,经由开关设备驱动装置30的输出端子与FET11a的栅极端子(G)连接。
控制电流提供电路40具备2个恒电流源42、43。其中一个恒流源42中,设有由输入驱动信号(UD)驱动控制的开关电路35,恒电流源42的恒电流(I1)根据输入驱动信号(UD)提供输出至FET11a的栅极端子(G)。在另一个恒电流源43中,设有由输入驱动信号(UD2)驱动控制的开关电路36,该输入驱动信号(UD2)由输入驱动信号(UD)、和来自迟滞比较器32的信号(CO)波形成形得到。该开关电路36由输入驱动信号(UD2)进行驱动控制,由此恒流源36的恒电流(I2)与恒电流(I1)同时提供输出至FET11a的栅极端子(G),并且根据来自迟滞比较器32的信号(CO)对FET11a的栅极端子(G)的供给被截断。
此外,在图4中,对利用第2实施方式的开关设备驱动装置30中的控制电流提供电路40的2个恒电流41、43和开关电路35、36向FET11a的栅极端子(G)进行提供输出的电路结构进行了说明,也可以具体例示出与上述第1实施方式中说明的图3所示的电路结构相同的结构。
如上所述,在图3的电路结构构成为:具有2个恒电流源(I1、I2)和多个双极型晶体管,输入驱动信号(UD、UD2),从一个电流输出端子输出栅极电流(IG)。在图3的例示中,利用多个双极型晶体管,由驱动信号(UD、UD2)控制栅极电流(IG),但也可以将这些双极型晶体管置换为MOS型晶体管而构成,可达到同样的效果。
图5是表示栅极控制信号(GC)、驱动信号(UD、UD2)、栅极电流(IG)、恒电流(I1、I2)等的关系的时序波形图。对利用图5所示的时序波形图、向作为开关设备11的FET11a的栅极端子(G)提供输出栅极电流(IG)的机制进行详细说明。
此外,在本发明涉及的第2实施方式的开关设备驱动装置30中,对构成为图5的时序波形图中栅极控制信号(GC)为高电平时提供输出栅极电流(IG)的例子进行了说明,但也可以构成为在栅极控制信号(GC)为低电平时提供输出栅极电流(IG)。
此外,在第2实施方式的开关设备驱动装置30中,图5所示的各信号的极性未必是按照图5所示的极性,也可以是与这些信号相反的极性,或者各信号间的相对的极性关系还可以不是按照图5所示的极性关系。这是因为:这些信号涉及的具体的极性关系与控制电流提供电路40、控制电流吸收电路41以及迟滞比较器32的电路设计这种用于实现本发明的目的的机构相关,而并不与本发明的开关设备驱动装置30的目的相关。
如图5的时序波形图所示,当栅极控制信号(GC)为高电平时,I/F电路31使控制电流吸收电路41的输入驱动信号(LD)为低电平,从该时刻起经过规定的延迟时间DS之后,使控制电流提供电路40的输入驱动信号(UD)为高电平。在控制电流提供电路40和控制电流吸收电路41中,如果输入驱动信号(UD、LD)为高电平,则各自的动作被激活,处于能输出各恒电流I1、I2、I3的状态。
此外,I/F电路31并不同时切换各输入驱动信号(LD、UD)的极性,而是错开了延迟时间DS从而不重复地进行切换,这是为了避免从控制电流提供电路40和控制电流吸收电路41同时输出恒电流。不过,若在控制电流提供电路40和控制电流吸收电路41中,同时输出恒电流没有问题,也可以在栅极控制信号(GC)变为高电平的同时,I/F电路31使控制电流吸收电路41的输入驱动信号(LD)变为低电平,同时使控制电流提供电路40的输入驱动信号(UD)变为高电平。
当输入驱动信号(UD)变为高电平时,恒电流I1经由开关电路35输入至FET11a的栅极端子(G)。输入驱动信号(UD)和迟滞比较器32的信号(CO)输入至二输入AND电路33。二输入AND电路33中通过“与”逻辑形成的驱动信号(UD2)与输入驱动信号(UD)的上升沿同时变为高电平,当FET11a的栅极端子电压超过迟滞比较器32的高电平的阈值电压(VthH)时驱动信号(UD2)变为低电平。在该信号(UD2)为高电平的期间,恒电流I2向FET11a的栅极端子(G)输出。
作为以上所说明的作用结果,在栅极控制信号(GC)变为高电平之后,在延迟时间DS以后下述式(11)的栅极电流(IG)流FET11a的栅极端子(G)。
IG=I1+I2    ···(11)
如上述那样栅极电流(IG)流入FET11a的栅极端子(G)之后,FET11a的栅极端子电压超过迟滞比较器32的高电平阈值电压(VthH)时,下述式(12)的栅极电流(IG)流入栅极端子(G)。
IG=I1         ···(12)
如上所述,在栅极控制信号(GC)为高电平的期间,输入驱动信号(LD)为低电平,控制电流吸收电路41的恒电流I3并不输出至FET11a的栅极端子(G)。
接下来,当栅极控制信号(GC)变化至低电平时,在延迟时间DS之后输入驱动信号(UD)变为低电平,进一步在延迟时间DS之后输入驱动信号(LD)变为高电平。与上述的说明同样,这是为了避免控制电流吸收电路41和控制电流提供电路40处于同时输出的状态。如果控制电流吸收电路41和控制电流提供电路40同时输出不存在问题,也可以在栅极控制信号(GC)变为低电平时,I/F电路31使控制电流提供电路40的输入驱动信号(UD)为低电平,同时使控制电流吸收电路41的输入驱动信号(LD)为高电平。
如根据图4所理解的那样,若输入驱动信号(UD)变为低电平,由此驱动信号(UD2)一定为低电平,控制电流提供电路40的恒电流I1、I2不输出至FET11a的栅极端子(G)。另一方面,若输入驱动信号(LD)变为高电平,由此控制电流吸收电路41的恒电流I3输出至FET11a的栅极端子(G)。
输入驱动信号(LD)以及迟滞比较器32的信号(CO)输入至二输入AND电路34,从而通过“与”逻辑形成驱动信号(LD2)。所形成的驱动信号(LD2)在输入驱动信号(LD)变为高电平的上升时依然为低电平,而当FET11a的栅极端子电压低于迟滞比较器32的低电平阈值电压(VthL)时变为高电平。之后当栅极控制信号(GC)迁移至高电平由此输入驱动信号(LD)变为低电平时,驱动信号(LD2)同时变为低电平。
在该驱动信号(LD2)为高电平的期间,吸收晶体管37的栅极电压为高电平,吸收晶体管37处于d导通状态。
作为上述所说明的作用结果,在栅极控制信号(GC)变为低电平之后,在延迟时间DS的2倍时间以后,从FET11a的栅极端子(G)抽出下述式(13)的栅极电流(IG)。
IG=I3     ···(13)
如上所述,从FET11a的栅极端子(G)抽出栅极电流(IG),之后当FET11a的栅极端子电压低于迟滞比较器32的低电平阈值电压(VthL)时,吸收晶体管37变为导通状态。其结果FET11a的栅极端子(G)处于吸收电流能力较高的低阻抗状态,大致被固定在地电压。
在本发明所涉及的第2实施方式的开关设备驱动装置30中,构成为可任意设定恒电流I1、I2、I3的值、以及迟滞比较器32的高电平和低电平阈值电压(VthH、VthL)的值。因而,本发明所涉及的第2实施方式的开关设备驱动装置30,即便在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a的阈值电压出现偏差时,也能够抑制从关断状态切换至导通状态、或者从导通状态切换至关断状态的迁移动作时的FET11a的输出电压的变化率的偏差,也就是能够抑制开关速度的偏差。
此外,在上述那样构成的第2实施方式的开关设备驱动装置30中,能够容易地将FET11a从关断状态切换至导通状态、或从导通切换至关断的迁移动作时的输出电压的变化率设定为希望的值。
再有,在第2实施方式的开关设备驱动装置30中,作为开关设备的FET11a处于稳定的导通状态时,由此该FET11a的栅极端子(G)中不会流入不必要的栅极电流(IG),防止功率损失。
以下,对在第2实施方式的开关设备驱动装置30的结构下,在开关设备的稳定导通动作状态下,能够防止功率损失进行说明。
另外,对于:即使作为开关设备的FET11a的阈值电压出现偏差时,也能抑制从关断状态切换至导通状态或者从导通状态切换至关断状态的迁移动作时的FET11a的输出电压的变化率偏差也就是抑制开关速度的偏差、能容易将使FET11a从关断状态切换至导通状态或者从导通状态切换至关断状态的迁移动作时的输出电压的变化率设定为希望的值,与其相关的动作原理,由于与上述第1实施方式中所说明的动作原理相同,所以在此省略说明。
因而,以下,仅对在作为开关设备的FET11a处于稳定导通动作状态下能够防止因该FET11a的栅极端子(G)流过不必要的栅极电流(IG)引起的功率损失的情况进行说明。
如图5所示,当结束FET11a从关断状态切换至导通状态的迁移动作从而达到图5所示的“负载驱动维持状态”时,作为FET11a的输出电压的漏极电压大致被固定在0V。因此,在FET11a从关断至导通的迁移期间FET11a的栅极电压为电压(VDSon),然后因漏极电压被固定在0V,从而栅极电流(IG)再次对栅极端子(G)的电容进行充电,栅极电压上升。当栅极电压超过迟滞比较器32的高电平阈值电压(VthH)时,驱动信号(UD2)变为低电平,栅极电流(IG)成为上述式(12)所示的电流值(I1)。
通过在满足对决定希望的下降变化率的栅极电流(IG)进行设定的式(11)的关系,也就是满足IG=I1+I2的关系的同时,利用式(12)所示的(IG=I1)设定迁移动作结束后的负载驱动维持状态中需要的栅极电流(IG),由此能够防止因FET11a处于稳定导通动作状态时的FET11a的栅极端子(G)中流过不必要的栅极电流而引起的功率损耗。
其中,迟滞比较器32的高电平阈值电压(VthH)需要设定为高于电压(VDSon)的电压。
此外,如图5所示,在栅极控制信号(GC)从高电平变化至低电平之后,从FET11a的栅极端子(G)抽出式(13)所示的电流值(IG=I3),由此FET11a的栅极电压开始下降。其后的动作是与上述说明相同的动作原理。不过动作极性是相反的。在从导通状态向关断状态的迁移期间,栅极电压为电压(VDSon),之后由于漏极电压被固定在电压(VS),从而栅极电流(IG)再次对栅极端子(G)的电容进行放电,由此栅极电压下降。
此外,迟滞比较器32的低电平阈值电压(VthL)预先设定为低于电压(VGSon)的电压。这样,通过预先设定低电平阈值电压(VthL),当栅极电压低于该迟滞比较器32的低电平阈值电压(VthL)时,信号(LD2)变为高电平,控制电流吸收电路41的吸收晶体管37进行导通动作,栅极电压大致为接近0V的电压,处于电流能力较高的低阻抗状态。其结果,在FET11a为稳定的关断动作状态时,即便为通过FET11a的漏极/栅极间电容向栅极端子(G)流入容性电流的状态,也能够将FET11a的栅极电压维持在该FET11a的关断状态的电压。该效果的作用在于,在将第2实施方式的开关设备驱动装置30、以及栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a构成的一组半导体装置在低压侧和高压侧串联累积两级的结构的半桥、H桥、三相变换器电路等中,可避免低压侧和高压侧的2个FET11a同时进行导通动作的直通(贯通模式)的危险。
作为本发明的开关设备驱动装置的目的之一,提供一种在图5所示的栅极电流(IG)中能够容易设定电流值(I1、I2、I3)以及迟滞比较器32的阈值电压(VthH、VthL)的电路。在本发明涉及的第2实施方式的开关设备驱动装置30中,假定的电流值(I1、I2、I3)以及阈值电压(VthH、VthL)以如下方式决定。
(1)栅极电流(IG)的电流值,如上述那样,由希望的上升变化率、下降变化率、FET11a的负载驱动时的栅极电流特性、FET11a的栅极/漏极间电容决定。具体而言,以如下方式决定栅极电流(IG)的电流值。
(A)电流值(I1)在考虑FET11a的负载驱动时的栅极电流特性的偏差的基础上,设定为图5所示的“负载驱动维持状态”中的负载驱动维持所需的FET11a的栅极电流(IG)。
(B)在将“Cgd”设为FET11a的栅极/漏极间电容的情况下,电流值(I1+I2)由下述式(14)决定。
(I1+I2)=(希望的下降变化率)*(Cgd)       ···(14)
(C)电流值(I3)由下述式(15)决定。
(I3)=(希望的上升变化率)*(Cgd)          ···(15)
此外,一般情况下由于栅极/漏极间电容Cgd依赖于漏极/源极间电压来变化,因此有时式(14)和式(15)的“Cgd”不是相同的电容值。需要考虑这点来决定式(14)和式(15)中的电流值(I1、I2、I3)。
(2)阈值电压(VthH、VthL)由FET11a的负载驱动时的栅极电压特性、该要素的偏差公差决定。具体而言,以如下方式决定阈值电压(VthH、VthL)。
(A)高电平阈值电压(VthH)由下述式(16)求得。
VthH=VGS(I1)+ΔVGS(I1)          ···(16)
在式(16)中,“VGS(I1)”是栅极电流(IG)为电流值(I1)时的FET11a的栅极/源极间电压,是图5所示的“负载驱动维持状态”中的负载驱动维持所需的FET11a的栅极/源极间电压。此外,“ΔVGS(I1)”是VGS(I1)的偏差公差。
(B)低电平阈值电压(VthL)与上述高电平阈值电压(VthH)同样,利用“VGS(I1)”和“ΔVGS(I1)”以如下方式求得。
VthL=VGSon-ΔVGSon              ··(17)
在式(17)中,如图5所示那样“VGSon”是FET11a开始导通动作的栅极电压。“ΔVGSon”是“VGSon”的偏差公差。
如上所述,通过求得恒电流源42、43、44的电流值(I1、I2、I3)和迟滞比较器32的阈值电压(VthH、VthL)的设定值,能够容易将本发明涉及的第2实施方式的开关设备驱动装置30中的FET11a的栅极电流(IG)的时间分布图设定为希望的状态。上述的结果在于,通过第2实施方式的开关设备驱动装置30对开关设备进行驱动控制,即便在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET11a的阈值电压出现偏差时,也能够抑制该FET11a的输出电压的变化率的偏差,也就是能够抑制开关速度的偏差。此外,在第2实施方式的开关设备驱动装置30的结构中,能够防止因FET11a稳定的导通动作状态下不必要的栅极电流引起的功率损失,而且容易设定希望的变化率。
此外,在具备第2实施方式所说明的开关设备驱动装置30和作为其驱动对象的开关设备11的半导体装置中,可保持上述的开关设备驱动装置30的优异效果,并且构成实现了节能化的可靠性高的装置。
此外,上述的第1实施方式和第2实施方式中,对控制电流提供电路(21和40)中具有两个恒电流源(14、15以及42、43)的结构进行了说明,但本发明中恒电流源并不限定于2个,可以构成为阶段地改变电流值,从而根据开关设备的特性以适当少的功率恰当地维持导通动作状态。
如上所述,本发明是在搭载于半导体集成电路装置中的开关设备驱动装置中,具有:即便开关设备的阈值电压出现偏差,也能抑制该开关设备的输出电压的开关速度的偏差的效果,特别作为开关设备使用在栅极利用p型区域或肖特基电极的FET、或双极晶体管时,本发明是特别有用的开关设备驱动装置。
此外,根据本发明的开关设备驱动装置,在开关设备稳定的导通动作状态下,能够防止因开关设备的栅极端子或基极端子中流过不必要的电流而引起的功率损失,在开关设备从关断状态切换至导通状态或者从导通状态切换至关断状态的迁移动作时,能够容易将输出电压的变化率设定为希望值。
此外,根据本发明的开关设备驱动装置,在开关设备处于稳定的导通动作状态时,即便通过该开关设备的漏极/栅极间的电容向栅极流入容性电流的状态下,也能够将该开关设备的栅极电压维持在关断状态的电压。该效果的作用在于,在将由开关设备驱动装置、和作为驱动控制对象的开关设备构成的一组半导体装置在低压侧和高压侧串联累积两级的结构的半桥、H桥、三相变换器电路等中,可避免低压侧和高压侧的2个开关设备同时进行导通动作的直通(贯通模式)的危险。
此外,在上述第1实施方式和第2实施方式中说明的效果,不仅在作为开关设备使用栅极利用p型区域或肖特基电极的FET中存在,在使用双极晶体管的情况下也能够获得同样的效果。
以上在某种程度上详细地对本发明优选的实施方式进行了说明,当然该优选的实施方式的公开内容在结构的细节部分是可以变化的,各要素的组合或顺序的变化在不脱离本发明的范围和思想的情况下也可实现。
产业上的利用可能性
本发明作为搭载于半导体集成电路等的开关设备驱动装置是有用的,特别作为开关设备使用栅极利用p型区域或肖特基电极的FET、或双极晶体管的情况下是很有用的开关设备驱动装置。

Claims (12)

1.一种开关设备驱动装置,与为了驱动负载而需要栅极电流或基极电流的开关设备的栅极或基极连接,该开关设备驱动装置根据所输入的栅极控制信号向所述栅极或所述基极输出驱动电流,该驱动电流使所述开关设备进行导通/关断动作,所述开关设备驱动装置特征在于,
构成为具备:控制电流提供电路,与电源侧连接,根据所述栅极控制信号的高电平或低电平,向所述栅极或所述基极提供输出驱动电流;
控制电流吸收电路,与接地侧连接,根据所述栅极控制信号的低电平或高电平,向所述栅极或所述基极吸收输出驱动电流;和
I/F电路,输入所述栅极控制信号,生成输出至所述控制电流提供电路的第1驱动信号和输出至所述控制电流吸收电路的第2驱动信号,
所述控制电流提供电路,根据所述第1驱动信号,在开关设备的开关动作的导通动作初期的阶段、和该开关动作结束后的阶段,将提供输出至所述开关设备的栅极或基极的驱动电流设定为不同的值。
2.根据权利要求1所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述开关设备是在栅极使用p型区域或肖特基电极的FET、或者双极晶体管。
3.根据权利要求1所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流提供电路中,向所述开关设备的栅极或基极提供输出的驱动电流,在输出最初的第1阶段维持所设定的第1恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的开关动作结束后处于导通状态的规定的延迟时间经过之后的第2阶段,变更至所述开关设备为了维持负载驱动而需要的第2恒电流值,该第2恒电流值小于所述第1恒电流值。
4.根据权利要求3所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流提供电路具有多个提供用途恒流源,
从所述多个提供用途恒流源的一个提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,根据输入至所述控制电流提供电路的第1驱动信号被导通/关断控制,从其他提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,根据输入至所述控制电流提供电路的第3驱动信号被导通/关断控制,所述第3驱动信号由所述第1驱动信号和使所述第1驱动信号进行规定时间延迟之后的延迟信号波形形成得到。
5.根据权利要求1所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流吸收电路中,向所述开关设备的栅极或基极吸收输出的驱动电流,在输出最初的第1阶段维持所设定的第3恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的开关动作结束后处于关断状态的规定的延迟时间经过之后的第2阶段,处于低阻抗状态,具有足以吸入流经所述栅极或所述基极的容性电流的电流能力。
6.根据权利要求5所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流吸收电路具有:吸收用途恒流源,用于使所述开关设备的栅极或基极的电荷放电;和吸收晶体管,在所述开关设备处于关断状态时,具备足以吸入流经所述开关设备的栅极或基极的容性电流的电流能力,
从所述吸收用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的吸收输出,根据输入至所述控制电流吸收电路的所述第2驱动信号被导通/关断控制,所述吸收晶体管构成为由第4驱动信号进行导通/关断控制,该第4驱动信号由输入至所述控制电流吸收电路的所述第2驱动信号和使所述第2驱动信号进行规定时间延迟之后的延迟信号波形形成得到。
7.根据权利要求1所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述开关设备驱动装置具备:迟滞比较器,具有高电平和低电平的2个阈值电压,对所述阈值电压和输入至反相输入端子的所述开关设备的栅极电压或基极电压进行比较,
所述迟滞比较器的输出被输入至所述控制电流提供电路和所述控制电流吸收电路,根据所述开关设备的栅极电压或基极电压,控制从所述控制电流提供电路和所述控制电流吸收电路输出至所述开关设备的栅极或基极的驱动电流。
8.根据权利要求7所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流提供电路中,向所述开关设备的栅极或基极提供输出的驱动电流,在输出最初的第1阶段,维持所设定的第1恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的栅极电压或基极电压超过所述迟滞比较器的所述高电平阈值电压的第2阶段,变更至为了所述开关设备维持负载驱动所需要的第2恒电流值,该第2恒电流值小于所述第1恒电流值。
9.根据权利要求8所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流提供电路具有多个提供用途恒流源,
从所述多个提供用途恒流源的一个提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,根据输入至所述控制电流提供电路的所述第1驱动信号被导通/关断控制,从其他提供用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的提供输出,由于所述开关设备的栅极电压或基极电压超过所述迟滞比较器的高电平阈值电压而被导通/关断控制。
10.根据权利要求7所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流吸收电路中,向所述开关设备的栅极或基极吸收输出的驱动电流,在输出最初的第1阶段维持所设定的第3恒电流值,使得所述开关设备的开关动作为规定速度;在所述开关设备的栅极电压或基极电压低于所述迟滞比较器的低电平阈值电压的第2阶段,处于低阻抗状态,具有足以吸入在所述开关设备处于关断状态时流经所述栅极或所述基极的容性电流的电流能力。
11.根据权利要求10所述的开关设备驱动装置,其特征在于,
所述控制电流吸收电路具有:吸收用途恒流源,用于使所述开关设备的栅极或基极的电荷放电;和吸收晶体管,在所述开关设备处于关断状态时,具备足以吸入流经所述开关设备的栅极或基极的容性电流的电流能力,
从所述吸收用途恒流源向所述开关设备的栅极或基极的吸收输出,根据输入至所述控制电流吸收电路的所述第2驱动信号被导通/关断控制,所述吸收晶体管在所述开关设备的栅极电压或基极电压低于所述迟滞比较器的低电平阈值电压时被导通关断控制。
12.一种半导体装置,具备:权利要求1至11的任意一项所述的开关设备驱动装置、以及由该开关设备驱动装置进行驱动控制的开关设备。
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