CN102074651A - 增强型线性梯度掺杂的GaAs平面耿氏二极管及其制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,包括:用于支撑整个GaAs平面耿氏二极管的半导体绝缘衬底;在半导体绝缘衬底上外延生长的高掺杂下底面N+层;在下底面N+层上继续外延生长的线性梯度掺杂N型层;在线性梯度掺杂N型层上外延生长的N-型层;在N-型层上外延生长的高掺杂上表面N+层;经过挖岛和隔离两个工艺步骤,在下底面N+层和上表面N+层上形成的台面结构;在上表面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的上电极;以及在下底面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的下电极。本发明同时公开了一种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管的制作方法。利用本发明,提高了毫米波、亚毫米波范围振荡电路的工作频率,增强了直流到射频信号的转换效率。
Description
技术领域
本发明涉及微波器件中二极管技术领域,尤其涉及一种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管及其制作方法。
背景技术
以耿氏二极管等非线性器件为核心的振荡器常用作高频本振源。耿氏二极管是毫米波段振荡器的有源非线性器件,由于高质量半导体材料的制造、加工工艺和装配等技术的不断发展,使得器件表现出卓越的性能。同时耿氏二极管制备过程简单,结构灵活,所以它们不仅作为各类接收机混频器的本振源,而且在雷达、通信、空间技术等方面可以作为中小功率的信号源,是目前应用最广泛的半导体振荡器。
传统的耿氏二极管,材料结构中不包含N-层,而且在N型层上采用均匀掺杂,主体结构为两端垂直结构。这种掺杂结构的双端Gunn二极管,在毫米波、亚毫米波频率范围内,N型有源区的有效长度减小,射频输出功率和转换效率减弱;这种掺杂结构的Gunn二极管不能利用直流电压直接对输出振荡频率调谐;双端Gunn二极管不利于实现单片集成,导致系统中需要大量的器件载体、外接偏置电路和金属波导等体积较大的组件。
发明内容
(一)要解决的技术问题
有鉴于此,本发明的一个目的在于提供一种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,在线性梯度掺杂的N型层上外延生长N-型层,有源区的掺杂由传统的均匀掺杂变为线性梯度掺杂,保证N型有源区的有效长度不变,增强直流电压直接对输出振荡频率调谐的能力,增强直流到射频信号的转换效率;器件结构由垂直双端结构变为平面结构,减少系统中大量的器件载体、外接偏置电路和金属波导等体积较大的组件,实现单片集成。
本发明的另一个目的在于提供一种GaAs平面耿氏二极管的制作方法,其制作方法与集成电路工艺相兼容,便于制作毫米波、亚毫米波范围内的集成振荡电路。
(二)技术方案
为达到上述一个目的,本发明提供了一种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,该二极管包括:
用于支撑整个GaAs平面耿氏二极管的半导体绝缘衬底;
在半导体绝缘衬底上外延生长的高掺杂下底面N+层;
在下底面N+层上继续外延生长的线性梯度掺杂N型层;
在线性梯度掺杂N型层上外延生长的N-型层;
在N-型层上外延生长的高掺杂上表面N+层;
经过挖岛和隔离两个工艺步骤,在下底面N+层和上表面N+层上形成的台面结构;
在上表面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的上电极;以及
在下底面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的下电极。
上述方案中,所述半导体绝缘衬底是半导体绝缘GaAs衬底。
上述方案中,所述N型层与所述N-型层之间的交界处为低掺杂,所述N型层与所述下表面N+层之间的交界处为高掺杂;从N型层与N-型层之间界面到下表面N+层与N层界面之间的掺杂浓度满足线性梯度掺杂分布。
为达到上述另一个目的,本发明提供了一种GaAs平面耿氏二极管的制作方法,该方法包括:
A、在半导体绝缘衬底上外延生长高掺杂的下底面N+层;
B、在下底面N+层上外延生长的线性梯度掺杂的N型层;
C、在线性梯度掺杂的N型层上生长的N-型层;
D、在N-型层上生长的高掺杂的上表面N+层;
E、采用湿法刻蚀减小上表面N+层和下底面N+层的面积,形成上表面N+层与下底面N+层的台面结构;
F、在上表面N+层和下底面N+层上分别蒸发金属形成欧姆接触;
G、采用湿法刻蚀,形成半导体绝缘衬底的台面结构;在该半导体绝缘衬底的台面结构上蒸发金属形成上、下电极引线,通过制作空气桥把上表面N+型层上的电极引出。
上述方案中,所述半导体绝缘衬底是半导体绝缘GaAs衬底。
上述方案中,所述在半导体绝缘衬底的台面结构上蒸发金属形成的上、下电极引线采用的金属为Ti/Pt/Au。
(三)有益效果
从上述技术方案可以看出,本发明具有以下有益效果:
1,本发明提供的这种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,在在线性梯度掺杂的N型层上外延生长了N-型层,保证N型有源区的有效长度不变,使得在毫米波、亚毫米波频率范围内,增加射频输出功率和转换效率。
2、本发明提供的这种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,N型层采用线性梯度掺杂。这种结构的耿氏二极管,有利于用直流电压直接对输出振荡频率调谐,有利于提高毫米波振荡电路直流到射频信号转换效率。
3、本发明提供的这种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,在半导体绝缘GaAs衬底、下底面N+层和上表面N+层形成台面结构,下底面N+层上蒸发金属形成下电极,上表面N+型层上蒸发金属形成上电极。通过制作空气桥,上电极由空气桥与半导体绝缘GaAs衬底上的下电极引线相连引出。这种空气桥结构的耿氏二极管有利于器件热输导,提高器件的热稳定性。
4、本发明提供的这种增强型线性梯度掺杂的GaAs平面耿氏二极管,制作简便,易于应用在平面集成振荡电路中,不需要额外的载体器件,易于实现单片集成。
附图说明
图1为本发明提供的增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管载流子浓度分布图;
图2为本发明提供的增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管I-V仿真曲线;
图3为本发明提供的增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管的截面图;
图4为本发明提供的增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管的俯视图;
图5为本发明提供的制作增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管的方法流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
如图1所示,图1为本发明提供的增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管材料结构的载流子浓度分布图。
如图2所示,图2为本发明提供的增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管材料结构的直流仿真结果。从图中可以看出当外加直流电压大于1.8伏时,耿氏二极管表现出负微分电阻特性。
如图3所示,图3为本发明提供的增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管的截面图。所述截面图是沿增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管下电极两端的垂直于衬底的截面图。该GaAs平面耿氏二极管包括:
用于支撑整个GaAs平面耿氏二极管的半导体绝缘衬底;
在半导体绝缘衬底上外延生长的高掺杂下底面N+层;
在下底面N+层上继续外延生长的线性梯度掺杂N型层;
在线性梯度掺杂N型层上外延生长的N-型层;
在N-型层上外延生长的高掺杂上表面N+层;
经过挖岛和隔离两个工艺步骤,在下底面N+层和上表面N+层上形成的台面结构;
在上表面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的上电极;以及
在下底面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的下电极。
如图4所示,图4为本发明提供的该GaAs平面耿氏二极管的俯视图。结合图3和图4可知,本发明提供的这种二极管是一种台面结构,上电极金属由空气桥引出。这种结构应用在电路中具有很大的灵活性,便于单片集成,节约成本。
基于图3和图4所示的GaAs平面耿氏二极管示意图,图5示出了本发明提供的制作GaAs平面耿氏二极管的方法流程图,该方法包括以下步骤:
步骤1:在半导体绝缘衬底上外延生长高掺杂的下底面N+层;
步骤2:在下底面N+层上外延生长的线性梯度掺杂的N型层;
步骤3:在线性梯度掺杂的N型层上生长的N-型层;
步骤4:在N-型层上生长的高掺杂的上表面N+层;
步骤5:采用湿法刻蚀减小上表面N+层和下底面N+层的面积,形成上表面N+层与下底面N+层的台面结构;
步骤6:在上表面N+层和下底面N+层上分别蒸发金属形成欧姆接触;
步骤7:对上、下电极金属进行退火处理;
步骤8:采用湿法刻蚀,形成半导体绝缘衬底的台面结构;
步骤9:在该半导体绝缘衬底的台面结构上蒸发金属形成上、下电极引线,通过制作空气桥把上表面N+型层上的电极引出。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种增强型线性梯度掺杂GaAs平面耿氏二极管,其特征在于,该二极管包括:
用于支撑整个GaAs平面耿氏二极管的半导体绝缘衬底;
在半导体绝缘衬底上外延生长的高掺杂下底面N+层;
在下底面N+层上继续外延生长的线性梯度掺杂N型层;
在线性梯度掺杂N型层上外延生长的N-型层;
在N-型层上外延生长的高掺杂上表面N+层;
经过挖岛和隔离两个工艺步骤,在下底面N+层和上表面N+层上形成的台面结构;
在上表面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的上电极;以及
在下底面N+型层上蒸发金属形成欧姆接触的下电极。
2. 根据权利要求1所述的GaAs平面耿氏二极管,其特征在于,所述半导体绝缘衬底是半导体绝缘GaAs衬底。
3.根据权利要求1所述的GaAs平面耿氏二极管,其特征在于,所述N型层与所述N-型层之间的交界处为低掺杂,所述N型层与所述下表面N+层之间的交界处为高掺杂;从N型层与N-型层之间界面到下表面N+层与N层界面之间的掺杂浓度满足线性梯度掺杂分布。
4.一种GaAs平面耿氏二极管的制作方法,其特征在于,该方法包括:
A、在半导体绝缘衬底上外延生长高掺杂的下底面N+层;
B、在下底面N+层上外延生长的线性梯度掺杂的N型层;
C、在线性梯度掺杂的N型层上生长的N-型层;
D、在N-型层上生长的高掺杂的上表面N+层;
E、采用湿法刻蚀减小上表面N+层和下底面N+层的面积,形成上表面N+层与下底面N+层的台面结构;
F、在上表面N+层和下底面N+层上分别蒸发金属形成欧姆接触;
G、采用湿法刻蚀,形成半导体绝缘衬底的台面结构;在该半导体绝缘衬底的台面结构上蒸发金属形成上、下电极引线,通过制作空气桥把上表面N+型层上的电极引出。
5.根据权利要求4所述的GaAs平面耿氏二极管的制作方法,其特征在于,所述半导体绝缘衬底是半导体绝缘GaAs衬底。
6.根据权利要求4所述的GaAs平面耿氏二极管的制作方法,其特征在于,所述在半导体绝缘衬底的台面结构上蒸发金属形成的上、下电极引线采用的金属为Ti/Pt/Au。
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