[go: up one dir, main page]

CN101123336B - 用于具有带完全球栅格兼容性的集成滑块的bga ic装置的老化插座 - Google Patents

用于具有带完全球栅格兼容性的集成滑块的bga ic装置的老化插座 Download PDF

Info

Publication number
CN101123336B
CN101123336B CN2007101384827A CN200710138482A CN101123336B CN 101123336 B CN101123336 B CN 101123336B CN 2007101384827 A CN2007101384827 A CN 2007101384827A CN 200710138482 A CN200710138482 A CN 200710138482A CN 101123336 B CN101123336 B CN 101123336B
Authority
CN
China
Prior art keywords
slide block
rib
wall extension
finger piece
top surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN2007101384827A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101123336A (zh
Inventor
P·安巴迪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lti Holdings
Original Assignee
Sensata Technologies Massachusetts Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sensata Technologies Massachusetts Inc filed Critical Sensata Technologies Massachusetts Inc
Publication of CN101123336A publication Critical patent/CN101123336A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101123336B publication Critical patent/CN101123336B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R33/00Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
    • H01R33/74Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
    • H01R33/76Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2863Contacting devices, e.g. sockets, burn-in boards or mounting fixtures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0483Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/193Means for increasing contact pressure at the end of engagement of coupling part, e.g. zero insertion force or no friction

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

一种将适配器对准和抗粘特征结合起来的滑块24被示出用于安装BGA式IC装置以作老化测试的插座中。滑块24具有顶壁表面14b,其在由相交的肋14e、14f限定的栅格阵列中形成有多个孔。多个壁延伸部14h从一部分x方向肋向上延伸,这一部分x方向肋用作与适于定位在成排的IC装置焊球端子2a之间的壁延伸部的平顶端表面上的IC装置2精细对准的功能部件。抗粘指状物24c沿着限定主栅格的孔的第一列14s外限的y方向肋在x方向上自壁延伸部24b延伸。凹表面24d形成在每个面向壁部24b的指状物中,且壁部24b的高度局限在低于安装在插座中的IC装置的焊球位置的位置,以给主栅格区之外紧挨着壁延伸部24b的第一列孔中的机械支持球提供间隙,从而提供完全的栅格阵列能力。

Description

用于具有带完全球栅格兼容性的集成滑块的BGA IC装置的老化插座
技术领域
本发明一般涉及可拆卸地装载IC装置的插座,IC装置具有大量排列在一个栅格阵列中的焊球端子(solder ball terminals)(BGA端子)以便于与每个端子电连接,具体而言,涉及一种具有形成有一体的对准和抗粘功能部件以容纳不同尺寸的IC装置组件的滑块的插座。
背景技术
在完成其制造且在运输之前时,塑料包封的集成电路形式的IC装置一般都要经受电性能测试,在测试中对各IC装置的输入输出特性、脉冲特性、噪声量等进行检查。通过电性能测试的那些装置随后经受所谓的老化测试。在该测试中,IC装置被置于炉中且在高温例如140摄氏度下操作一段时间,并处在大于额定值的电压源下;然后,那些令人满意地持续执行操作的IC装置获准装运。
用于老化测试的插座一般包括一基座,用于安装多个与要测试的IC装置的每个电功能焊球端子电结合的触点元件。例如,如美国专利No.6402537所述,要测试的IC装置安放在一滑块上,该滑块具有IC装置接收表面,该接收表面形成有一个以与IC装置的焊球端子栅格阵列相同的式样布置的孔的阵列。滑块安装在基座上以作往复水平运动。触点元件的每个具有两个大体平行的伸入相应孔中的触点柱(contact beam)。一凸轮元件安装在基座上,克服回位弹簧的偏压在z方向上朝着基座可竖直地向下移动,并且克服滑块回位弹簧的力在x方向上用凸轮带动滑块。滑块的肋安置在触点柱的每个触点对之间,当施压以将触点元件置于打开位置以接纳要装载在插座中的IC装置相应的焊球端子时,随着滑块因凸轮施加的向下力引起的移动,滑块的肋将其中一个触点柱推离另一个触点柱。
当从凸轮元件上去除向下垂直的力时,凸轮元件和滑块返回到其原始位置,触点元件的触点柱随之靠近以与相应的端子球电接合。
为了将相同的滑块用于具有不同组件大小的IC插座,已知采用一种针对选定尺寸定制而又容纳于滑块上的适配器。近年来,已开始采用具有集成适配器特征的滑块,其给IC装置接收座面提供了精细对准的特征和防止触点柱在测试程序结束准备从插座上去掉IC装置时会粘在端子球上的特征。图3中示出了此类集成滑块的一个实例。在此类具有通过x和y方向的肋相交形成的孔栅格阵列的滑块中,多个壁延伸部沿着x方向的肋自集成滑块的顶面向上延伸。这些壁延伸部具有与肋共同的宽度,并在壁延伸部的每个顶端面上提供台式IC座面以在其上接纳要落座的IC装置。第一组的壁延伸部包括几个,它们在y方向上间隔开大致等于孔的y方向宽度的距离,并适于接纳在位于其上的IC装置的x方向端子排之间以提供精细对准。
第二组两个相似的壁延伸部在y方向上延伸,并具有与限定该方向的孔的肋基本相同的宽度。第二组的两个壁延伸部在y方向上彼此对准,并在要测试的IC装置的焊球端子的主栅格布局的一端对应于要测试的IC装置中所用的主栅格邻近第一列(y方向)的孔。
自每个第二组壁延伸部延伸的是指状物形式的抗粘功能部件,其沿着相应的限定第一列孔的一侧且延伸过该孔的x方向肋在x方向上延伸。指状物每个形成有一凹面,其适于在集成滑块在打开方向上运动时与相应焊球的中心接合,以由此将焊球推离相应的触点柱,从而提供抗粘功能。
在该配置中,每个触点元件的第一和第二柱贯穿x方向排的两个相邻孔,其中肋分开两个孔,从而用作触点接合和致动元件。第一和第二柱在z方向上延伸于限定孔的集成滑块的顶表面上方,但却略低于象对准壁延伸部的座面那样的IC装置台面。
上面讨论的集成滑块容纳不同尺寸的组件,同时相对于触点提供IC装置球栅格阵列的精细对准,还提供抗粘功能。不过,当为IC装置扩散提供机械支持的虚设或外伸球的位置发生变化时,就发生一些不能适应于现有技术中的集成滑块的变化,尤其是由抗粘结构造成的,它干扰在由电功能焊球端子的孔的主栅格限定的区域之外紧邻第一y方向列孔中的抗粘功能部件的任何孔位置。
发明内容
本发明的一个目的在于,提供一种克服上述现有技术中的局限性的装置。本发明的另一个目的在于,提供一种具有集成的精细对准和抗粘部件的插座滑块,其提供了容许使用具有不同尺寸IC组件的滑块的BGA型IC插座的完全栅格能力。
简言之,根据本发明优选实施例制造的集成滑块能容纳BGA型IC装置,不论机械支持球方位如何,都没有干扰问题,同时还提供了现有技术中的集成滑块的对准和抗粘部件。在本发明的集成滑块中,壁延伸部从集成滑块的顶表面向上延伸并在y方向上沿着限定主栅格区域的第一列孔的外端的y方向肋延伸,并具有抗粘指状物,该抗粘指状物包括用于在长度上以基本上一个孔在x方向上突伸的指状物,而每个指状物以略小于相应孔的二分之一而延伸过距离d。
根据本发明的一个特征,在面向y方向壁延伸部且远离主栅格区的指状物的顶表面上设置有一凹面,在凹面中,在x-z平面中限定有凹入轮廓。此外,y方向壁延伸部的高度限制在低于固定在滑块中的IC装置焊球位置的位置。这就提供了一种结构,它能被模制,同时提供指状物足够的结构强度,以及能容纳机械支持球,即便这些球设置成与紧邻主栅格的孔列对准。
根据本发明的另一个特征,每个指状物在其远端形成有一凹面,其中在x-y平面中限定有凹入轮廓,使得指状物就会略微偏心地施加偏斜力而与球接合,同时给相应孔中单独的触点柱提供额外的间隙。因此,每个指状物安置在主栅格区域的第一y方向列中的第一孔上方的凹入球容纳表面就适于与相应的焊球端子接合,并在测试程序完成之后压所述盖以便易于从插座中除去IC装置时,在滑块水平移动而发生任何粘附的情况下,将焊球端子推离相应的触点柱。
根据本发明的第一方面,提供一种用于可拆卸地安装IC装置的插座,该IC装置具有多个来自IC装置的底表面的具有x方向和y方向的选择的矩阵中布置的球形端子,该插座包括:
具有基座顶表面的一基座;
安装在所述基座中的多个细长触点元件,每个所述触点元件具有第一和第二大体平行的柔性触点柱,该触点柱从所述基座向上延伸到自由端并在打开与闭合位置之间相对彼此可移动;
滑块,该滑块安置在所述基座的基座顶表面上以相对于所述基座作往复滑动运动,所述滑块具有滑块顶表面和独立的IC装置座表面,一凸轮从动件表面形成在所述滑块上,一滑块回位弹簧安装在所述基座中以在第一给定方向上推动所述滑块;
可移动地安装以朝向和离开所述基座竖直运动的一凸轮,所述凸轮与所述凸轮从动件表面可接合用于使所述滑块在与所述第一给定方向相反的第二方向上运动,以克服所述滑块回位弹簧的推动独立于所述凸轮的运动而打开所述触点元件;
所述滑块具有通过使x方向和y方向的延伸肋相交而形成的栅格阵列的多个孔,多个所述x方向的肋的壁延伸部向上超过所述滑块的所述滑块顶表面、延伸到与所述滑块的所述滑块顶表面相距共同距离的顶端壁表面,所述顶端壁表面形成所述IC装置座表面,所述x方向的肋的所述壁延伸部适于放置在安装在其上的所述IC装置的所述x方向的球形端子的排之间,且所述触点柱的所述自由端贯穿所述滑块的孔到达所述滑块的所述滑块顶表面之上方但低于所述IC装置座表面的一位置,触点元件的每个所述触点柱安置在y方向肋的相对侧;
向上延伸的y方向肋的壁延伸部,在容纳触点柱的所述x方向上形成主栅格阵列的外部y尺寸肋,所述向上延伸的y方向肋的壁延伸部延伸穿过多排孔;在所述每个孔的一侧的x方向肋的所述向上延伸的壁延伸部在x方向长度上向一端延伸并至少部分地延伸过相应的孔以形成抗粘指状物,第一凹表面在其容纳相应球形端子的端部处在形成于每个抗粘指状物中的x-y平面中形成凹入轮廓,第二凹表面形成在每个抗粘指状物的抗粘指状物顶表面中,所述第二凹表面在面向y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部的x-z平面中具有凹入轮廓,该y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部在所述滑块的所述滑块顶表面之上方延伸到低于安装在所述滑块上的IC装置的所述球形端子的位置的一位置,以为与所述IC装置的用于电功能球形端子的所述主栅格紧邻的机械支持球形端子提供间隙。
根据本发明的上述第一方面的一种优选实施方式,所述抗粘指状物在y方向上所述相应的孔之上从形成相应的所述抗粘指状物的部分的x方向肋延伸到一位置,该位置小于距限定相应孔一侧的另一x方向肋的距离的二分之一的位置。
根据本发明的第二方面,提供一种用于老化插座中具有适配器功能的集成滑块,包括:
具有滑块顶表面和独立IC装置座表面的一滑块,所述滑块具有通过使x方向和y方向的肋相交而形成的x方向孔排和y方向孔列的栅格阵列的多个孔,多个所述x方向的肋的壁延伸部超过所述滑块的所述滑块顶表面、向上延伸到与所述滑块的所述滑块顶表面相距共同距离的顶端壁表面,所述顶端壁表面形成所述IC装置座面,所述x方向的肋的所述壁延伸部适于布置在其上安装的IC装置的x方向的球形端子的排之间,
横过多个所述孔排且向上延伸的y方向肋的一壁延伸部,所述x方向肋的壁延伸部在每个所述孔的一侧上沿x方向向上延伸,该壁延伸部在x方向长度上向一端延伸且延伸过一部分相应的孔以形成抗粘指状物,第一凹表面在其用于接收相应球形端子的端部处在形成于每个抗粘指状物中的x-y平面中形成凹入轮廓,第二凹表面形成在每个抗粘指状物的抗粘指状物顶表面中,所述第二凹表面在面向y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部的x-z平面中具有凹入轮廓,所述y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部在所述滑块的滑块顶表面之上方延伸到低于安装在所述滑块上的所述IC装置的所述球形端子的位置的一位置,以为与所述IC装置的用于电功能球形端子的主栅格紧邻的机械支持球形端子提供间隙。
根据本发明的上述第一方面的一种优选实施方式,所述抗粘指状物在y方向上所述相应的孔上从形成相应的所述抗粘指状物的部分的x方向肋延伸到小于距限定应孔的一侧的另一x方向肋的距离的二分之一的位置。
附图说明
本发明插座和改进的新型适配器集成滑块的其它目的、优点以及细节描述在下面有关本发明优选实施例的参照附图的详细说明中,其中:
图1是示出了其内装载有IC装置2的传统BGA式IC装置安装插座的断开部分的局部横截面的立面图;
图2是图1插座的另一断开部分的横截面的立面图;
图3是可接纳BGA式IC装置的、具有比如用于图1、2所示的插座的适配器功能部件的集成滑块的透视图;
图4是一示意图,示出了触点元件相对于静止位置即未在插座内装载IC装置时的触点接合肋元件的两个断开的触点柱位置的正视图;图4(A)是与图4相似的视图,但示出了触点接合肋元件与触点柱接合用于使之移动到打开位置而容许IC装置的球形端子在触点柱之间移动的情况;图4(B)是与图4相似的视图,但示出了在插座装载有IC装置的当盖子已返回到其正常静止位置时的触点柱和触点接合肋元件;图4(C)是一示意图,示出了现有技术中的与球形端子接合的抗粘指状物以防止触点元件的其它触点柱的粘结的平面顶视图;
图5是通过平行于x方向且居于两个x方向肋之间的图3适配器集成滑块的一个抗粘指状物之一截取的放大简化横截面正视图,横截面中的一部分IC装置示出机械支持球干扰对准和抗粘功能部件的情况;
图6是示出一部分抗粘指状物连同IC装置焊球位置的放大的顶部平面视图,相对于触点接纳孔以虚线示出;图6(A)是图6的另一放大部分;
图7是根据本发明优选实施例制造的可接纳BGA式IC装置的、可用于图1、2中类型插座的适配器集成滑块;
图8是与图5相似的视图,但示出了BGA式IC装置机械支持球与抗粘指状物的兼容性;
图9是与图6相似的视图,示出了抗粘指状物和IC装置焊球相对于滑块孔的顶部平面视图;图9(A)是图9的另一放大部分。
具体实施方式
为老化测试程序提供装置端子的临时互连的IC装置插座是众所周知的。就具有BGA焊接球形端子的IC装置而论,此类插座一般包括电绝缘材料的基座,其内用于要测试的IC装置的每个功能端子安装一触点元件。每个触点元件具有两个细长触点柱,该触点柱向上朝着适于接纳IC装置的座表面(seating surface)延伸。滑块被安装成在基座上作水平往复滑动运动,并且,具有中央IC装置接纳开口的窗形盖竖直地朝向和远离所述基座移动。在一类插座配置中,凸轮表面设置在所述盖上且适于在盖朝向基座移动时与滑块上的凸轮从动件表面接合,以克服回位弹簧的偏压而在第一水平方向上用凸轮带动滑块。触点接合肋元件利用这样一个容纳在每个触点元件的第一和第二触点柱之间的元件而与滑块固定连接,使得盖的向下运动和滑块在第一水平方向上伴随的滑动运动导致触点接合肋元件与每个触点元件的第一触点柱接合并使第一触点柱远离相应触点元件的第二触点柱,由此容许通过插座盖的窗口装载的BGA式IC装置位于一座表面上,而端子球安放在触点元件的相应触点柱之间。当将盖压入向下位置的力被去除时,在基座与盖之间延伸的回位弹簧使盖返回到其升高位置,并且,安装在基座中且作用于滑块上的滑块回位弹簧使滑块返回到其原始静止位置。
图1和2中局部示出了此类插座的实例,其中基座10安装多个触点元件12,它们具有分别朝滑块14上的座表面向上延伸的第一和第二柔性细长触点柱12a、12b。如图1所示,IC装置2容纳在滑块14上,触点元件12的触点柱与相应的IC装置焊球2a接合。盖16被示出位于其升高的静止位置,而凸轮16a(示出一个)自盖向下伸出。当一个向下力施加给盖以克服将盖推到升高位置的回位弹簧元件(未示出)的力时,盖竖直地朝基座移动且凸轮16a与滑块上的凸轮从动件表面14a(图1中示出一个)接合,从而克服滑块回位弹簧18(图2中示出一个滑块回位弹簧18)的力使滑块水平移动。
一般地,在传统的滑块上安置用于选定的IC装置组件尺寸定制的专门适配器,以便于在IC装置装载到插座中时将要作测试的装置置于正确对准的位置。该适配器还用于传递力以分开任何在去除时会粘附在相应触点柱上的焊球。图3所示的滑块14提供了适应各种BGA式IC装置组件尺寸的能力,并具有集成的适配器部件,由此无需单独的适配器。
现有技术中的滑块14设有容纳在基座10内合适沟槽(未示出)中的支腿14r,从而容许往复的水平运动。滑块具有顶表面14b,其形成有中央安置的孔14d的栅格阵列14c。孔是由多个在x方向上延伸的肋14e与在y方向上延伸的多个肋14f相交而限定的,这些肋的深度大体相应于其宽度。y方向的肋14f形成有突舌14g(见图5),其自肋向下下垂,突舌部用作触点接合元件。当安装在插座中时,每个触点元件的触点柱12a、12b容纳在y方向肋的相对侧上的x方向排的两个相邻孔中。
滑块14具有多个对准壁延伸部14h,它们向上在顶面14b上方延伸到端部支持表面14k,从而形成用于BGA式IC装置2的台式座。壁延伸部14h形成的厚度与x方向肋14e的基本相同,适于容纳在IC装置组件的焊接球形端子的排之间,相似的壁延伸部限定y方向上主栅格区的孔的外端,由此让焊球相对于触点柱精细对准。
当盖下降时,触点接合肋元件,突舌14g自触点间位置并与触点元件脱离接合而移动(见图4),以与相应的触点柱12a接合,参见图4(A),并在盖子16下降时将一个直接力施加给触点柱,以打开触点元件,从而容许安置IC装置,随后,当容许盖返回到其升高位置时,触点元件闭合以与相应的焊接球形端子2a电接合,参见图4(B),为测试程序作准备。
作为测试程序的一部分,IC装置的温度上升到选定的升高程度,例如140摄氏度,且因此,当较高的温度软化焊球时,尖触点端12c、12d刺入焊球中,这就会在打开触点元件时导致触点粘到焊球上。在测试程序结束时,盖再次下降,触点接合肋元件12g移动到图4(A)位置,从而将触点柱12a推离相应的焊球,由此自焊接球形端子除去这些触点柱,以容许打开触点元件而去除IC装置。
此外,为了防止触点元件12的其它触点柱12b粘到焊接球形端子上,滑块14形成有指状物14m形式的抗粘功能部件14l,其自顶表面14b向上延伸并在x方向上沿着相应的x方向肋从限定孔的主栅格区的y方向肋延伸,即,那些适于容纳执行电功能的IC装置的焊球的第一列(y方向)的孔。指状物14m(同样参见图6和6(A))从限定14b的活性主栅格区域的侧边界的y方向壁延伸部14n的两个间隔开部分延伸,并且,从在栅格区14c的任一y方向端并与相应的壁延伸部14n连接的壁延伸部14h延伸。指状物14m超过相邻的孔14d从壁延伸部14h和x方向肋14e延伸到限定由相应孔的轴线4所示的y方向中心的一位置,参见图6(A),并且每个形成有一凹表面14o,该凹表面在与处于静止位置时的相应焊球的位置稍微隔开的x-y平面中具有凹入轮廓。其上安置有指状物14m的孔14d仅容纳一个触点柱12b,参见图4(C),因为相应触点元件的触点柱12a容纳在相邻的孔中。因此,当盖被压下时,每个指状物14m与滑块14一起移动并与第一列中的焊球接合,以在触点柱要粘到焊球上的趋势的情况下给焊球施加力而将其推离相应的触点柱12b。这就有效地将焊球推离触点柱12b。
具有一体的精细对准和抗粘适配器功能的滑块14已成功地用于具有附加的机械支持焊球的IC装置组件,这些附加的机械支持焊球位于主栅格外的各个位置比如在IC装置底部表面的拐角。但是,在一些IC装置设计中,一个或多个机械支持焊球紧邻列14s中y方向的壁延伸部14n设置,从而在图5所示该位置上的壁延伸部14n与机械支持焊球2a之间产生一干扰问题,于是适配器集成滑块14不能与具有一焊球的IC装置一起使用,该焊球紧邻壁延伸部14n对准y方向列14s中的孔。
根据本发明的优选实施例制造的滑块24不仅将对准和抗粘特征结合起来,还提供了完全的球栅格能力,从而容许容纳IC装置组件而没有一个或多个机械支持球紧邻栅格的x方向上的主(电功能性)栅格设置的任何干扰问题。
参照图7-9,适配器集成滑块24的抗粘部件24a包括沿着在栅格的右侧限定主栅格孔14d起点的y方向肋14f在两个截面中延伸的壁延伸部24b,如图7所示。指状物24c沿着相应的x方向肋14e从壁延伸部24b延伸一个孔的长度,与滑块14的指状物14m相似。壁延伸部24b的高度局限于安置在滑块24中IC装置焊球位置下方的位置,正如在图8中最好地看出那样。在x-z平面中具有其凹入轮廓的凹表面24d形成在其远离壁延伸部24b的栅格阵列侧延伸的那侧上的指状物24e的上部中。凹表面24d为任何可以紧邻y方向孔的主格栅而位于第一列中的焊球而形成间隙,正如可在图8中看到的一样。
正如在图9(A)中能最好地看到的一样,从x方向肋14e到在轴线4处相应孔的y方向中心偏离一距离d的位置,每个指状物24c伸出到主栅格区域的第一y方向列24s中相应的孔的上方。指状物各设有一凹表面240,该凹表面在自限定肋14e的相应的x方向孔延伸的x-y平面中具有凹入轮廓,肋14e上附设有端子球接合部24e,使得一旦在滑块24伴随插座盖16的下降而向图中所示的左边滑动时,接合部24e将接合任何端子球并向其施加偏心推力,该端子球趋于粘到相应的触点柱上。该偏移量d提供了额外的间隙并向触点柱施加一斜力,从而有助于确保将触点柱从相应的焊球移去。
参照图8,壁延伸部24b为指状物24c提供支承,凹表面24d为焊球2a提供间隙,且指状物24c通过与相应焊球接合的接合部24e起到抗粘的功能。
在其它方面,滑块24的说明与滑块14的相同,在此无需重复。
鉴于上述文字,可以看出,本发明的几个目的得以实现并获得了其它有利的效果。由于在不脱离本发明的范围的情况下,其它变化可在上述结构内做出,上述说明中包括的或上面附图中示出的所有内容都是说明性的而不是限制性的意义。

Claims (4)

1.一种用于可拆卸地安装IC装置的插座,该IC装置具有多个来自IC装置的底表面的具有x方向和y方向的选择的矩阵中布置的球形端子,该插座包括:
具有基座顶表面的一基座;
安装在所述基座中的多个细长触点元件,每个所述触点元件具有第一和第二大体平行的柔性触点柱,该触点柱从所述基座向上延伸到自由端并在打开与闭合位置之间相对彼此可移动;
滑块,该滑块安置在所述基座的基座顶表面上以相对于所述基座作往复滑动运动,所述滑块具有滑块顶表面和独立的IC装置座表面,一凸轮从动件表面形成在所述滑块上,一滑块回位弹簧安装在所述基座中以在第一给定方向上推动所述滑块;
可移动地安装以朝向和离开所述基座竖直运动的一凸轮,所述凸轮与所述凸轮从动件表面可接合用于使所述滑块在与所述第一给定方向相反的第二方向上运动,以克服所述滑块回位弹簧的推动独立于所述凸轮的运动而打开所述触点元件;
所述滑块具有通过使x方向和y方向的延伸肋相交而形成的栅格阵列的多个孔,多个所述x方向的肋的壁延伸部向上超过所述滑块的所述滑块顶表面、以与所述滑块的所述滑块顶表面相距共同距离的方式延伸到顶端壁表面,所述顶端壁表面形成所述IC装置座表面,所述x方向的肋的所述壁延伸部适于放置在安装在其上的所述IC装置的所述x方向的球形端子的排之间,且所述触点柱的所述自由端贯穿所述滑块的孔到达所述滑块的所述滑块顶表面之上方但低于所述IC装置座表面的一位置,触点元件的每个所述触点柱安置在y方向肋的相对侧;
向上延伸的y方向肋的壁延伸部,在容纳触点柱的所述x方向上形成主栅格阵列的外部y尺寸肋,所述向上延伸的y方向肋的壁延伸部延伸穿过多排孔;在所述每个孔的一侧的x方向肋的所述壁延伸部在x方向长度上向一端延伸并至少部分地延伸过相应的孔以形成抗粘指状物,第一凹表面在其容纳相应球形端子的端部处在形成于每个抗粘指状物中的x-y平面中形成凹入轮廓,第二凹表面形成在每个抗粘指状物的抗粘指状物顶表面中,所述第二凹表面在面向y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部的x-z平面中具有凹入轮廓,该y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部在所述滑块的所述滑块顶表面之上方延伸到低于安装在所述滑块上的IC装置的所述球形端子的位置的一位置,以为与所述IC装置的用于电功能球形端子的所述主栅格阵列紧邻的机械支持球形端子提供间隙。
2.如权利要求1所述的插座,其特征在于,所述抗粘指状物在y方向上所述相应的孔之上从形成相应的所述抗粘指状物的部分的x方向肋延伸到一位置,该位置小于距限定相应孔一侧的另一x方向肋的距离的二分之一的位置。
3.一种用于老化插座中具有适配器功能的集成滑块,包括:
具有滑块顶表面和独立IC装置座表面的一滑块,所述滑块具有通过使x方向和y方向的肋相交而形成的x方向孔排和y方向孔列的栅格阵列的多个孔,多个所述x方向的肋的壁延伸部超过所述滑块的所述滑块顶表面、以与所述滑块的所述滑块顶表面相距共同距离的方式向上延伸到顶端壁表面,所述顶端壁表面形成所述IC装置座表面,所述x方向的肋的所述壁延伸部适于布置在其上安装的IC装置的x方向的球形端子的排之间,
横过多个所述孔排且向上延伸的y方向肋的一壁延伸部,所述x方向肋的壁延伸部在每个所述孔的一侧上沿x方向向上延伸,该壁延伸部在x方向长度上向一端延伸且延伸过一部分相应的孔以形成抗粘指状物,第一凹表面在其用于接收相应球形端子的端部处在形成于每个抗粘指状物中的x-y平面中形成凹入轮廓,第二凹表面形成在每个抗粘指状物的抗粘指状物顶表面中,所述第二凹表面在面向y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部的x-z平面中具有凹入轮廓,所述y方向肋的所述向上延伸的壁延伸部在所述滑块的滑块顶表面之上方延伸到低于安装在所述滑块上的所述IC装置的所述球形端子的位置的一位置,以为与所述IC装置的用于电功能球形端子的主栅格紧邻的机械支持球形端子提供间隙。
4.如权利要求3所述的滑块,其中,所述抗粘指状物在y方向上在所述相应的孔上从形成相应的所述抗粘指状物的部分的x方向肋延伸到小于距限定相应孔的一侧的另一x方向肋的距离的二分之一的位置。
CN2007101384827A 2006-08-08 2007-08-08 用于具有带完全球栅格兼容性的集成滑块的bga ic装置的老化插座 Active CN101123336B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/463,114 2006-08-08
US11/463,114 US7318736B1 (en) 2006-08-08 2006-08-08 Burn-in sockets for BGA IC devices having an integrated slider with full ball grid compatibility

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101123336A CN101123336A (zh) 2008-02-13
CN101123336B true CN101123336B (zh) 2013-12-04

Family

ID=38920990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007101384827A Active CN101123336B (zh) 2006-08-08 2007-08-08 用于具有带完全球栅格兼容性的集成滑块的bga ic装置的老化插座

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7318736B1 (zh)
JP (1) JP5094267B2 (zh)
KR (1) KR101333874B1 (zh)
CN (1) CN101123336B (zh)
TW (1) TW200820517A (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201117941Y (zh) * 2007-08-21 2008-09-17 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
KR100977729B1 (ko) * 2008-04-11 2010-08-24 김인하 전자부품 테스트용 접촉기
CN201285908Y (zh) * 2008-08-05 2009-08-05 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
KR101246105B1 (ko) * 2011-07-07 2013-03-20 주식회사 오킨스전자 반도체 패키지 테스트용 소켓
KR101944693B1 (ko) * 2018-12-04 2019-02-01 황동원 반도체 소자 테스트용 bga 소켓장치
JP7316192B2 (ja) * 2019-10-29 2023-07-27 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 ソケット

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1459888A (zh) * 2002-04-09 2003-12-03 蒂科电子公司 用于插脚栅格阵列接插件的接触件及其形成方法
CN1787298A (zh) * 2004-12-06 2006-06-14 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 平面栅格阵列电连接器
US20060246758A1 (en) * 2004-08-27 2006-11-02 Aries Electronics, Inc. Top loaded burn-in socket

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3256796B2 (ja) * 1994-08-23 2002-02-12 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 ソケット及びソケットを用いた電気部品の試験方法
JP4251423B2 (ja) * 2000-01-28 2009-04-08 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン ソケット
JP2002025731A (ja) 2000-07-07 2002-01-25 Texas Instr Japan Ltd ソケット及び電子部品装着装置
JP4845304B2 (ja) 2000-10-25 2011-12-28 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン ソケット及びこれを備えた電子部品装着装置
JP2003217775A (ja) * 2002-01-16 2003-07-31 Yamaichi Electronics Co Ltd Icソケットの電気的接続方法およびicソケット
JP3803099B2 (ja) * 2002-12-17 2006-08-02 山一電機株式会社 半導体装置用ソケット
DE102005007593B4 (de) * 2005-02-18 2008-05-29 Qimonda Ag Sockel-Vorrichtung zum Testen von Halbleiter-Bauelementen und Verfahren zum Aufnehmen eines Halbleiter-Bauelements in einer Sockel-Vorrichtung
JP4729346B2 (ja) * 2005-06-30 2011-07-20 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1459888A (zh) * 2002-04-09 2003-12-03 蒂科电子公司 用于插脚栅格阵列接插件的接触件及其形成方法
US20060246758A1 (en) * 2004-08-27 2006-11-02 Aries Electronics, Inc. Top loaded burn-in socket
CN1787298A (zh) * 2004-12-06 2006-06-14 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 平面栅格阵列电连接器

Also Published As

Publication number Publication date
KR101333874B1 (ko) 2013-11-27
JP5094267B2 (ja) 2012-12-12
CN101123336A (zh) 2008-02-13
US7318736B1 (en) 2008-01-15
TW200820517A (en) 2008-05-01
KR20080013781A (ko) 2008-02-13
JP2008051809A (ja) 2008-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101123336B (zh) 用于具有带完全球栅格兼容性的集成滑块的bga ic装置的老化插座
CN101292401B (zh) 电子器件的插座
US7922548B2 (en) Electrical connector having floatably arranged contact
US7210951B2 (en) Top loaded burn-in socket
KR100893132B1 (ko) 전기 부품용 소켓
US6875025B2 (en) Matrix socket
US7753704B2 (en) Electrical contact with C-shaped spring portion interconnecting upper contacting arm portion and lower soldering leg
KR101007660B1 (ko) 비지에이 테스트소켓
US7775821B2 (en) Socket for burn-in tests
US7175462B2 (en) PGA type IC socket
KR20010013205A (ko) 테스트용 소켓의 격자 배열
KR101197168B1 (ko) 구조가 개선된 비지에이 소켓
JP2006310025A (ja) Icソケット用接触装置
KR970705202A (ko) 플라스틱 칩 캐리어용 제로 삽입력 구조(Zif for Plastic Chip Carrier)
KR101715827B1 (ko) 테스트핸들러용 인서트
US20130040472A1 (en) Socket connector having contact terminal incorporated with self-repelling contact tip
JP2583696B2 (ja) Icソケット
US8449307B2 (en) Socket connector having contact with multiple beams jointly grasping ball of IC package
US8801440B2 (en) Electrical connector with low profile
US8926353B2 (en) Burn-in socket with improved terminals
JP2590496Y2 (ja) Icソケット
KR20240178825A (ko) 테스트 소켓
JP2005174670A (ja) オープントップ型icソケット
JP2017157336A (ja) コンタクトピンおよび電気部品用ソケット
KR20130010762A (ko) 다접점 콘택트핀 및 이를 포함하는 반도체 패키지 테스트용 소켓

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20090320

Address after: Massachusetts USA

Applicant after: Sensata Technologies Massachusetts, Inc.

Address before: Massachusetts USA

Applicant before: Sensata Technologies, Inc.

ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: SENSATA SCIENCE MASSACHUSETTS CO.,LTD.

Free format text: FORMER OWNER: SENSATA TECHNOLOGIES CO.,LTD.

Effective date: 20090320

C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20220224

Address after: Massachusetts

Patentee after: Sensata Electronic Technology Co.,Ltd.

Address before: Massachusetts

Patentee before: Sensata Technologies Massachusetts, Inc.

TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20220726

Address after: California, USA

Patentee after: LTI Holdings

Address before: Massachusetts

Patentee before: Sensata Electronic Technology Co.,Ltd.