[go: up one dir, main page]

CN100517256C - Ieee1394接口功能测试装置及方法 - Google Patents

Ieee1394接口功能测试装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN100517256C
CN100517256C CNB2005101005978A CN200510100597A CN100517256C CN 100517256 C CN100517256 C CN 100517256C CN B2005101005978 A CNB2005101005978 A CN B2005101005978A CN 200510100597 A CN200510100597 A CN 200510100597A CN 100517256 C CN100517256 C CN 100517256C
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
ieee1394 interface
data
interface function
proving installation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB2005101005978A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1955942A (zh
Inventor
易佳庆
温才圣
范朝宗
王冠能
欧阳铭修
陈维沅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CNB2005101005978A priority Critical patent/CN100517256C/zh
Priority to US11/520,135 priority patent/US20070094558A1/en
Publication of CN1955942A publication Critical patent/CN1955942A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100517256C publication Critical patent/CN100517256C/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Information Transfer Systems (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提供了一种IEEE1394接口功能测试装置，用于测试一主板的IEEE1394接口功能。所述IEEE1394接口功能测试装置包括一IEEE1394接口连接器；一与所述IEEE1394接口连接器相连接的，且用于接收通过所述IEEE1394接口连接器传送的数据信号的线缆收发仲裁器；一与所述线缆收发仲裁器相连接的将所述数据信号转换为集成驱动电子信号的第一转换芯片；一与所述第一转换芯片相连接的将所述集成驱动电子信号转换为闪存信号的第二转换芯片；及一与所述第二转换芯片相连接的用于存储所述闪存信号的闪存芯片，所述IEEE1394接口连接器用于与所述主板的IEEE1394接口连接以对所述主板进行测试。本发明还提供了一种应用所述IEEE1394接口功能测试装置测试主板IEEE1394接口的方法。

Description

IEEE1394接口功能测试装置及方法
【技术领域】
本发明涉及一种主板的接口功能测试装置及方法，尤指一种不使用硬盘来对主板的IEEE1394接口功能进行测试的装置及方法。
【背景技术】
IEEE1394接口是一种电气与电子工程师协会(IEEE，Institute of electricaland Electronic Engineers)制定的数据传输总线接口标准，IEEE1394有两种标准接口：IEEE1394a接口和IEEE1394b接口。IEEE1394a接口可支持100Mbps、200Mbps、400Mbps的数据传输速度，具有热插拔功能。IEEE1394b是一种高速型传输总线接口标准，其扩展了IEEE1394a的传输速度，IEEE1394b接口可支持800Mbps的数据传输速率。目前IEEE1394a/b接口为桌上型电脑、笔记型电脑、伺服器、工作站与消费性电子产品的重要输出周边设备，可进行多媒体应用的资料即时传输。
现有主板的IEEE1394接口功能的验证方式一般是将装有ATA/ATAPI接口硬盘的硬盘外接盒连接至主板，通过存取计算机硬盘中的数据至所述硬盘外接盒中的硬盘中，当读回的数据和所写入的数据一致时，则表示主板的IEEE1394接口功能没有问题。在应用此方法时由于硬盘的价格一般很高，在需大量测试的生产线应用时需花费较多的额外成本，且硬盘也容易在受到震动时损坏，测试可靠性不佳。
【发明内容】
有鉴于此，有必要提供一种不使用硬盘来对主板的IEEE1394接口功能进行测试的装置及方法。
一种IEEE1394接口功能测试装置，用于测试一主板的IEEE1394接口功能，所述IEEE1394接口功能测试装置包括一IEEE1394接口连接器；一与所述IEEE
1394接口连接器相连接的，且用于接收通过所述IEEE1394接口连接器传送的数据信号的线缆收发仲裁器；一与所述线缆收发仲裁器相连接的将所述数据信号转换为集成驱动电子信号的第一转换芯片；一与所述第一转换芯片相连接的将所述集成驱动电子信号转换为闪存信号的第二转换芯片；及一与所述第二转换芯片相连接的用于存储所述闪存信号的闪存芯片，所述IEEE1394接口连接器用于与所述主板的IEEE1394接口连接以对所述主板进行测试。
一种IEEE1394接口功能测试方法，用于测试一主板的IEEE1394接口功能，所述IEEE1394接口功能测试方法包括以下步骤：
从一计算机硬盘写入一第一数据信号至所述IEEE1394接口功能测试装置，所述IEEE1394接口功能测试装置将所述第一数据信号转换为闪存信号，并将所述闪存信号存储在所述IEEE1394接口功能测试装置中；
所述IEEE1394接口功能测试装置将所述闪存信号转换为一第二数据信号，从所述IEEE1394接口功能测试装置读出所述第二数据信号至所述计算机硬盘；
比较所述写入的第一数据信号与所述读出的第二数据信号是否相同；
若所述写入的第一数据信号与所述读出的第二数据信号相同，则所述主板的IEEE1394接口功能正常；及
若所述写入的第一数据信号与所述读出的第二数据信号不相同，则所述主板的IEEE1394接口功能不正常。
相较现有技术，所述IEEE1394接口功能测试装置及方法不需使用硬盘，降低了测试成本，测试准确率较高。
【附图说明】
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细说明。
图1是本发明IEEE1394接口功能测试装置较佳实施方式的方框图。
图2是本发明IEEE1394接口功能测试方法较佳实施方式的流程图。
【具体实施方式】
请参考图1，其为本发明IEEE1394接口功能测试装置较佳实施方式的方框图。本实施例1394接口功能测试装置包括一IEEE1394接口连接器50、一线缆收发仲裁器10、一第一转换芯片20、一第二转换芯片30及一闪存芯片40。所述1394接口连接器50可为1394a接口连接器、1394b接口连接器或者其结合。所述线缆收发仲裁器10与所述1394接口连接器50相连接，用于接收通过所述1394接口连接器50传送的数据信号。所述第一转换芯片20与所述线缆收发仲裁器10相连接，用于将所述数据信号转换为集成驱动电子(IDE，Integrated DriveElectronics)信号。所述第二转换芯片30与所述第一转换芯片20相连接，用于将所述集成驱动电子信号转换为闪存信号。所述闪存芯片40与所述第二转换芯片30相连接，用于存储所述闪存信号。
本实施例所述线缆收发仲裁器10为一型号为TSB81BA3-EP的IEEE1394物理层芯片。所述第一转换芯片20为一OXFW912芯片。所述第二转换芯片30为一SST55LD019A芯片。所述闪存芯片40为一TC58DVM72A1FT00芯片。
本实施例IEEE1394接口功能测试装置在对主板的IEEE1394接口进行测试时，可通过一线缆将所述IEEE1394接口连接器50连接至主板的IEEE1394接口，在测试时可将计算机硬盘中的数据写入至所述IEEE1394接口功能测试装置，也可通过网络传输的方式从网站下载资料至所述IEEE1394接口功能测试装置，然后比较写入的数据或资料与读出的数据或资料是否相同。下面以存取计算机硬盘中的数据来测试主板的IEEE1394a接口为例来作说明。
请一并参考图2，其为本发明IEEE1394接口功能测试方法较佳实施方式的流程图。
步骤S1：从计算机硬盘写入一数据信号至所述IEEE1394接口功能测试装置，所述IEEE1394接口功能测试装置将所述数据信号转换为闪存信号，并将所述闪存信号存储在所述IEEE1394接口功能测试装置中，所述写入一数据信号的步骤具体如下：
所述线缆收发仲裁器10从所述IEEE1394接口连接器50接收到所述数据信号，并传至所述第一转换芯片20；所述第一转换芯片20将所述数据信号转换为集成驱动电子信号，并传至所述第二转换芯片30；及所述第二转换芯片30将所述集成驱动电子信号转换为闪存信号，并传至所述闪存芯片40，由所述闪存芯片40存储所述闪存信号。
步骤S2：所述IEEE1394接口功能测试装置将所述闪存信号转换为另一数据信号，从所述IEEE1394接口功能测试装置读出所述另一数据信号至所述计算机硬盘，所述读出另一数据信号的步骤具体如下：
所述闪存芯片40将所述闪存信号传至所述第二转换芯片30；所述第二转换芯片30将所述闪存信号转换为所述集成驱动电子信号，并传至所述第一转换芯片20；所述第一转换芯片20将所述集成驱动电子信号转换为所述数据信号；及所述数据信号从所述IEEE1394接口连接器传出至所述计算机硬盘。
步骤S3：比较所述写入的一数据信号与所述读出的另一数据信号是否相同。
步骤S4：若所述写入的一数据信号与所述读出的另一数据信号相同，则测试成功，所述主板的IEEE1394接口功能正常。
步骤S5：若所述写入的一数据信号与所述读出的另一数据信号不同，则测试失败，所述主板的IEEE1394接口功能不正常。
以上为应用所述IEEE1394接口功能测试装置测试主板的IEEE1394a接口功能的流程，其测试主板的IEEE1394b接口功能与此流程相同，不再重述。所述IEEE1394接口功能测试装置在测试主板的IEEE1394接口功能时，通过所述闪存芯片40来模拟硬盘自身的存储功能，省去了硬盘，降低了测试成本，同时不易因受到震动而损坏，测试准确率较高。

Claims (6)

1.一种IEEE1394接口功能测试装置，用于测试一主板的IEEE1394接口功能，其特征在于：所述IEEE1394接口功能测试装置包括一IEEE1394接口连接器；一与所述IEEE1394接口连接器相连接的，且用于接收通过所述IEEE1394接口连接器传送数据信号的线缆收发仲裁器；一与所述线缆收发仲裁器相连接的将所述数据信号转换为集成驱动电子信号的第一转换芯片；一与所述第一转换芯片相连接的将所述集成驱动电子信号转换为闪存信号的第二转换芯片；及一与所述第二转换芯片相连接的用于存储所述闪存信号的闪存芯片，所述IEEE1394接口连接器用于与所述主板的IEEE1394接口连接以对所述主板进行测试。
2.如权利要求1所述的IEEE1394接口功能测试装置，其特征在于：所述IEEE1394接口功能测试装置通过一线缆将所述IEEE1394接口连接器连接至所述主板的IEEE1394接口。
3.如权利要求1所述的IEEE1394接口功能测试装置，其特征在于：所述IEEE1394接口连接器为一IEEE1394a接口连接器、一IEEE1394b接口连接器或者其结合。
4.一种应用如权利要求1所述的IEEE1394接口功能测试装置进行IEEE1394接口功能测试的方法，特征在于：所述IEEE1394接口功能测试方法包括以下步骤：
从一计算机硬盘写入一第一数据信号至所述IEEE1394接口功能测试装置，所述IEEE1394接口功能测试装置将所述数据信号转换为闪存信号，并将所述闪存信号存储在所述IEEE1394接口功能测试装置中；
所述IEEE1394接口功能测试装置将所述闪存信号转换为一第二数据信号，从所述IEEE1394接口功能测试装置读出所述第二数据信号至所述计算机硬盘；
比较所述写入的第一数据信号与所述读出的第二数据信号是否相同；
若所述写入的第一数据信号与所述读出的第二数据信号相同，则所述主板的IEEE1394接口功能正常；及
若所述写入的第一数据信号与所述读出的第二数据信号不相同，则所述主板的IEEE1394接口功能不正常。
5.如权利要求4所述的IEEE1394接口功能测试方法，其特征在于：所述写入第一数据信号步骤中还包括：
所述IEEE1394接口功能测试装置的线缆收发仲裁器从所述IEEE1394接口连接器接收到所述第一数据信号，并传至所述第一转换芯片；
所述第一转换芯片将所述第一数据信号转换为集成驱动电子信号，并传至所述第二转换芯片；及
所述第二转换芯片将所述集成驱动电子信号转换为闪存信号，并传至所述闪存芯片，所述闪存芯片存储所述闪存信号。
6.如权利要求5所述的IEEE1394接口功能测试方法，其特征在于：所述读出第二数据信号步骤中还包括：
所述闪存芯片将所述闪存信号传至所述第二转换芯片；
所述第二转换芯片将所述闪存信号转换为所述集成驱动电子信号，并传至所述第一转换芯片；
所述第一转换芯片将所述集成驱动电子信号转换为所述第二数据信号；及
所述第二数据信号从所述IEEE1394接口连接器传出至所述计算机硬盘。
CNB2005101005978A 2005-10-24 2005-10-24 Ieee1394接口功能测试装置及方法 Expired - Fee Related CN100517256C (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB2005101005978A CN100517256C (zh) 2005-10-24 2005-10-24 Ieee1394接口功能测试装置及方法
US11/520,135 US20070094558A1 (en) 2005-10-24 2006-09-13 Apparatus and method for testing an IEEE1394 port

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB2005101005978A CN100517256C (zh) 2005-10-24 2005-10-24 Ieee1394接口功能测试装置及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1955942A CN1955942A (zh) 2007-05-02
CN100517256C true CN100517256C (zh) 2009-07-22

Family

ID=37986673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2005101005978A Expired - Fee Related CN100517256C (zh) 2005-10-24 2005-10-24 Ieee1394接口功能测试装置及方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20070094558A1 (zh)
CN (1) CN100517256C (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070162796A1 (en) * 2006-01-10 2007-07-12 Mediatek Inc. Method and portable device for testing electronic device
CN102270167A (zh) * 2010-06-03 2011-12-07 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板多硬盘端口测试系统与方法
TWI450089B (zh) * 2010-06-18 2014-08-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 主機板多硬碟埠測試系統及方法
CN102346702B (zh) * 2010-08-03 2013-10-09 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Ieee1394接口测试装置
CN104572389A (zh) * 2013-10-18 2015-04-29 神讯电脑(昆山)有限公司 1394接口自动测试方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000285036A (ja) * 1999-03-30 2000-10-13 Fujitsu Ltd インタフェース試験装置
JP2002111785A (ja) * 2000-09-29 2002-04-12 Yokogawa Electric Corp Ｉｅｅｅ１３９４バス監視装置
US20040015738A1 (en) * 2001-02-07 2004-01-22 Yu-Wei Chang Method for testing IEEE 1394 controllers
US6701401B1 (en) * 2000-07-14 2004-03-02 Inventec Corporation Method for testing a USB port and the device for the same
US6732301B1 (en) * 2000-03-06 2004-05-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Serial bus diagnostic port of a digital system
CN1525330A (zh) * 2003-02-27 2004-09-01 义隆电子股份有限公司 测试具有通用串行总线接口的存储装置的方法及存储装置
CN1609819A (zh) * 2003-10-24 2005-04-27 英业达股份有限公司 一种计算机外围设备接口的测试方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1367750A1 (en) * 2002-05-30 2003-12-03 Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - Testing network communications
US6807504B2 (en) * 2002-11-21 2004-10-19 Via Technologies, Inc. Apparatus for testing I/O ports of a computer motherboard
TWM242784U (en) * 2003-01-29 2004-09-01 Cheng-Chun Chang Computer expansion device having USB interface
JP4360944B2 (ja) * 2004-03-08 2009-11-11 株式会社アドバンテスト 試験装置及び制御方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000285036A (ja) * 1999-03-30 2000-10-13 Fujitsu Ltd インタフェース試験装置
US6732301B1 (en) * 2000-03-06 2004-05-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Serial bus diagnostic port of a digital system
US6701401B1 (en) * 2000-07-14 2004-03-02 Inventec Corporation Method for testing a USB port and the device for the same
JP2002111785A (ja) * 2000-09-29 2002-04-12 Yokogawa Electric Corp Ｉｅｅｅ１３９４バス監視装置
US20040015738A1 (en) * 2001-02-07 2004-01-22 Yu-Wei Chang Method for testing IEEE 1394 controllers
CN1525330A (zh) * 2003-02-27 2004-09-01 义隆电子股份有限公司 测试具有通用串行总线接口的存储装置的方法及存储装置
CN1609819A (zh) * 2003-10-24 2005-04-27 英业达股份有限公司 一种计算机外围设备接口的测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1955942A (zh) 2007-05-02
US20070094558A1 (en) 2007-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101359309B (zh) 串行附接小型计算机系统接口硬盘状态指示装置及方法
US8239581B2 (en) Data storage device compatible with multiple interconnect standards
CN103793307A (zh) 电子装置及其管理方法与机柜伺服系统
CN101311906A (zh) Sata接口测试装置及测试方法
CN101377754B (zh) 桥接sas信道测试系统及其测试方法
CN102467431A (zh) Sata接口测试装置及测试方法
CN116431413A (zh) 一种内存测试装置、方法、电子设备和存储介质
CN201251780Y (zh) 内存测试治具
CN100517256C (zh) Ieee1394接口功能测试装置及方法
US7711975B2 (en) Universal serial bus adaptive signal rate
US20220190844A1 (en) Method and apparatus to perform cyclic redundancy check training in a memory module
CN112069000B (zh) 主控芯片与存储芯片兼容性的测试电路
CN100517255C (zh) 主机板的串行高阶硬盘架构接口功能测试装置
US20110258492A1 (en) Device for testing serial interface
US7779314B2 (en) System and related method for chip I/O test
US20230342274A1 (en) Modular test system
CN101739323B (zh) 桥接sas信道测试系统及其测试方法
CN111143145B (zh) 一种sata错误处理调试中制造错误的方法及电子设备
US7853843B2 (en) Method and system for testing chips
CN208538126U (zh) 实现nvme硬盘信号转接的pcie卡
CN102568602A (zh) 闪速存储器发展系统
CN102331912B (zh) 一种用于在主机上连接多个硬盘的方法和设备
CN101354634A (zh) Ata端口接多路sata端口存储设备系统及控制方法
CN104699220B (zh) 睡眠模式量测方法
TWI352897B (en) Apparatus and method for testing ieee1394 function

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20090722

Termination date: 20141024

EXPY Termination of patent right or utility model