CN100515321C - 用于检测龋齿的系统 - Google Patents

Abstract

一种用于检测牙齿(T)结构上的龋齿的系统，包括：电磁导体，用于将至少一个初始辐射(Ir)指引到待评价的牙齿结构上；电磁收集器，用于收集至少一个结果电磁辐射(Rr)，其已是作为初始辐射(Ir)的结果由牙齿(T)反射和被透射通过牙齿(T)的至少一个。所述收集器适合于将结果电磁辐射(Rr)提供给检测设备(D)。检测设备(D)适合于比较所述至少一个结果辐射(Rr)的至少一个强度与对应于龋齿的存在和不存在之一的至少一个预定值。这使得能够诊断牙齿结构上龋齿的存在或不存在。

Description

用于检测龋齿的系统

技术领域

本发明涉及对龋齿的检测，更具体而言，涉及一种用于检测龋齿的系统和方法。

背景技术

有被用于检测龋齿的存在的各种已知方法，包括使用一般牙探测器的视觉和触觉探查。这些方法和设备具有其限制并且不能可靠地检测龋齿，特别是当龋齿在近侧并且当腐烂处于初始阶段时。对于在釉质的过大重叠出现在X射线胶片上的区域中形成龋齿的开始时检测它们，对牙齿结构的X射线探查亦是不可靠的。牙齿结构的这些妨碍性的重叠对于牙齿的咬合方面并且当牙齿对准和X射线照射轴之间的角度引起重叠时是较为典型的。X射线评价技术亦将病人暴露于潜在有害的辐射。

透照是被用于检测龋齿的另一种技术。通过将可见光从一个方位(例如舌方位)照射向牙齿并且通过经由另一个方位(例如口方位)观测透射光，操作者有时可通过观测由龋齿引起的光度对比而确定对龋齿的诊断。该技术不适合于所有龋齿，特别是对于处于其开始阶段的龋齿。最近，已开发了一种观察设备以便于借助使用照相机来观察牙齿结构的透照。

已设计了用于以尤其取决于牙齿表面清洁度的可变效率使用发光或荧光光谱学来检测龋齿的其它设备。当以特定波长用一个或多个初始辐射来照射时，一些牙齿结构产生具有与初始辐射不同的波长的第二辐射。这种第二辐射的强度和波长对于健全牙齿结构与对于烂牙结构是不同的。见U.S.专利No.RE31,815、No.4,479,499、No.6,186,780、No.6,102,704、No.6,053,731、No.6,135,774和No.5,306,144以及德国专利申请No.DE-3031249-C2、No.DE-4200741-A1、No.DE-U1-9317984、No.DE-3031249-C2和No.DE-19541686-A1。在大多数情况下，这些设备包括激光器以产生初始激励辐射，其对于病人可能是潜在有害的。

例如，德国专利申请No.DE-9317984-U公开了一种用于使用发射脉冲式光束的光发射单元和在相对于所发射的光脉冲而被延迟的时间间隔内敏感的检测单元来检测龋齿的设备。

德国专利申请No.DE-4200741-A1和欧洲专利申请No.EP-0555645-B1描述了一种用于通过辐射源来检测龋齿的设备，其相对于龋齿的存在或不存在在范围从360到500纳米的波长内工作并且检测620和720纳米之间的波长的经过滤的反射辐射。

德国专利申请No.DE-29704185-U被指向一种用于检测牙齿的龋齿、齿菌斑或细菌感染的设备，其包括具有多个单独发射纤维的发射/检测单元。

德国专利申请No.DE-19709500-C1讲述了一种用于通过以下来检测牙齿的龋齿、齿菌斑或细菌感染的方法：比较牙齿的不同部位的荧光水平以发现受龋齿影响最严重的牙齿的那些部分。

德国专利申请No.DE-29705934-U公开了一种用于使用第一光源作为检测光源并且使用第二光源作为治疗光源来诊断牙齿组成的设备。

亦已开发了用于检测龋齿的电探头(U.S.专利No.6,230,050)以及基于超声波的检测系统。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种用于检测龋齿的新系统。

本发明的目的还在于提供这样一种用于检测龋齿的新系统，其基于所反射的波长的强度和/或龋齿的谱反射比特征来自动检测龋齿。

本发明进一步的目的是提供这样一种系统，其中，在检测龋齿之后给出可视的、基于声音的或者其它信号，其中该检测来自对牙齿进行的并且在适合于区分谱反射比特征的一个或多个预定波长范围内获取的测量，以及/或者对所反射的波长的强度进行的测量，所述谱反射比特征构成龋齿存在的标记。

因此，依照本发明，提供了一种用于检测牙齿结构上的龋齿的系统，包括：导体，用于将至少一个初始辐射指引到待评价的牙齿结构上；收集器，用于收集至少一个结果辐射，其已作为所述初始辐射的结果由牙齿反射和/或被透射通过牙齿，所述收集器适合于将所述结果辐射提供给检测设备，所述检测设备适合于比较所述至少一个结果辐射的至少一个强度与对应于龋齿的存在或不存在的至少一个预定值，从而使得能够诊断牙齿结构上龋齿的存在或不存在。

依照本发明，还提供了一种用于检测牙齿表面上的龋齿的系统，包括：导体，用于将至少一个初始辐射指引到待评价的牙齿结构上；收集器，用于收集至少一个结果辐射，其已作为所述初始辐射的结果由牙齿反射和/或被透射通过牙齿，所述收集器适合于将所述结果辐射提供给检测设备，所述检测设备适合于比较所述至少一个结果辐射的至少一个波长与对应于龋齿的存在或不存在的至少一个预定值，从而使得能够诊断牙齿结构上龋齿的存在或不存在。

依照本发明，进一步提供了一种用于检测牙齿结构上的龋齿的方法，包括以下步骤：用初始辐射来照射牙齿结构；收集经反射和/或经透射的结果辐射；比较辐射的波长和/或强度与对应于龋齿的存在或不存在的预定值，使得能够然后诊断龋齿的存在或不存在。

依照本发明，又进一步提供了一种龋齿检测系统，包括：探头，其适合于沿牙齿被移位；照明装置，用于以入射光来照明牙齿上的区域；检测装置，用于收集由牙齿反射和/或被透射通过牙齿的结果光；以及分析系统，用于当对一个或多个预定波长范围内的结果光的测量属于作为牙齿特征的任意第一预定范围内的值时，或者当所述测量属于作为人造牙而非龋齿特征的任意第二预定范围内的值时，提供信号。

依照本发明，又进一步提供了一种龋齿检测系统，包括：探头，其适合于沿牙齿被移位；照明装置，用于以入射光来照明牙齿上的区域；检测装置，用于收集由牙齿反射和/或被透射通过牙齿的结果光；以及分析系统，用于当对结果光的强度测量指示龋齿的存在和不存在之一时提供信号。

依照本发明，又进一步提供一种用于检测牙齿中的龋齿的方法，包括以下步骤：(a)在牙齿的一区域上提供入射光；(b)收集和测量由牙齿的所述牙齿的所述区域反射和/或被透射通过该区域的结果光；(c)分析所述结果光以确定所述结果光是否表示龋齿的存在；以及(d)向操作者提供指示已在步骤(c)中检测到龋齿的存在和不存在之一的信号。

附图说明

在已如此概括地描述了本发明的特性之后，现在将参照附图，其通过说明而示出其优选实施例，并且其中：

图1和4是依照本发明第一实施例用于检测龋齿的系统的示意图；

图2和5是依照本发明第二实施例用于检测龋齿的系统的示意图；并且

图3和6是依照本发明第三实施例用于检测龋齿的系统的示意图。

具体实施方式

依照本发明，图1到6说明了用于自动检测病人牙齿中龋齿(牙齿腐烂)的存在的三个系统。

每个系统基本上都包括三个主要机构，即(1)光学手持工具(口腔探头)，用于将入射光指引到牙齿T上并且用于捕获由牙齿T反射和/或被透射通过牙齿T的光，(2)设备(例如包含光学部件的外壳、光源、以及采集和信号处理电子器件)，用于将光源提供给所述工具并且用于分析所反射/透射的光并向操作者提供表示龋齿存在的信号，以及(3)传输设备(例如包括光纤的线缆股)，其将手持工具连接于分析设备(外壳)。以上提及的手持工具亦可采取可被彼此独立操纵的两个不同工具的形式，即用于将入射光指引到牙齿T上的一个工具，和用于捕获由牙齿T反射和/或被透射通过牙齿T的光的另一个工具。这些部件的一些其它细节可被发现于PCT出版物No.WO01/23767(基于PCT申请No.PCT/CA01/00063)。

本发明的系统通过分析反射/透射光的强度并且/或者分析反射/透射光的波长以诸如区分牙齿上出现的龋齿与其健康区、牙龈、血液以及实际上当工具被导向牙齿时可遇到的除了龋齿以外的任何人造牙，来检测龋齿的存在。

在此所述的系统适合于检测任何牙齿上以及牙齿T上任何地方的龋齿。

所述设备用于识别被可见或不可见紫外线(UV)或不可见红外(IR)波长辐射来照射时，非烂牙T结构和烂牙T结构的反射比和/或透射比特性。

本发明是一种龋齿检测器，其主要是基于一种对牙结构的反射比和/或透射比特性的光谱学评价系统。当用初始辐射Ir来照射牙齿结构时，该辐射可部分被反射于结构表面上并且部分穿入并行进于该结构内部，其中此穿入的辐射的一些或全部可被偏离和/或反射。根据牙齿的组成和/或其形状并且/或者根据所存在的周围结构，特定的结构可反射和透射与另一个结构不同的特定辐射。根据照射的来源并根据结果辐射Rr(在以下亦被称为“所收集的辐射”)的观测点的地理位置，透射和反射对于相同的结构将是不同的。

在本发明中，通过使用与源S耦合的电磁导体经由所述工具将初始电磁辐射带到牙齿结构T。例如，600nm左右的电磁辐射可被单独使用或者与860nm左右的电磁辐射一起被使用。UV、可见或IR谱中的任何其它适合的辐射或者两个或多个辐射组可被使用。

源S是电磁辐射发生器(用于UV-可见-IR的全部或部分)。多重源S可被用于获得所需辐射。滤波器F或其它光学装置可被用于获得所需辐射。例如，600nm左右波长的可见辐射(即可见光)可被与860nm左右波长的红外辐射组合。

可被使用的源S的实例是：LED、激光二极管、激光器、卤素灯、氖灯、或任何其它适合类型的辐射发射源。

源S所产生的初始电磁辐射Ir的波长是基于健全牙齿表面上和烂牙表面上相同波长处所收集的辐射Rr的强度之间的差来选择的。待由源S产生的辐射的谱带和强度是基于以下特征来选择的：当所述辐射直接或间接遇到龋齿时，其表现不同于与当其遇到健全牙齿结构或牙齿周围或其中所发现的非龋齿结构时的表现。当借助本发明的确定配置(收集器、导体、检测装置等)可在龋齿和非龋齿牙齿结构之间进行较明确的区别时，所述波长和强度被选择。

所述谱带的三个区域已被标识以具有能够明确区别烂牙和自然牙齿结构的能力，即550nm和650nm之间的两个区域：600nm左右和640nm左右，以及550nm以下的区域：480nm左右。为区分龋齿和其它牙物质(例如齿菌斑和牙垢)，可使用如下相同的但使用其它波长(典型地处于红和/或IR波长中)的技术。

亦已确定，当用来自整个电磁波频谱的光来照射牙齿时，龋齿可反射比健康牙齿结构量大的电磁辐射。系统可通过使用任何电磁波长使用该有判别力的方面来制造。

可使用650nm以上的基准波长，例如860nm，此处，反射比在龋齿和在健康牙齿结构中类似。

初始辐射Ir的强度等于源S强度减去导体中的损失。导体将辐射从源S带到待评价的牙齿结构。

反馈系统可被实施成测量初始辐射。

导体可以是光纤或光纤束或者适合于辐射传输的任何其它材料。例如，导体CN可用透镜和/或反射镜来制造。

透镜L、反射镜或其它适合的光学装置可被插入于源S和导体之间以增强辐射到导体中的耦合。

初始辐射Ir可被调制并被与检测器同步以易于从源自另一个初始辐射Ir的其它辐射或从噪声中识别来自该初始辐射Ir的经反射/透射的结果辐射Rr。该方法有时被称为“锁定系统”。锁定系统的一个优点是其对即使很弱的辐射水平的灵敏度。

结果辐射Rr通过收集器来收集，其将结果辐射Rr带到检测设备D。收集器可以是光纤或光纤束或者适合于将结果辐射Rr从牙齿T带到检测设备D的任何其它装置。例如，收集器可用反射镜和/或透镜来制造。

检测设备D被用于比较结果辐射Rr与以下测量的至少一个或一个的部分：其它结果辐射Rr(即从在其它时间起作用的照射得到的)，包括在结果辐射Rr或初始辐射Ir中的噪声，直接或间接地，准时地或随时间变化地或者通过使用所述测量的函数，与对应于龋齿的值的一预定范围。例如，比较结果辐射Rr减去该结果辐射Rr中的噪声和与初始辐射Ir相关的一预定范围内的值是确定测量是否对应于龋齿存在的典型方式：当使用特定Ir强度时，如果Rr减去Rr中的噪声高于为Ir的函数的某个值，则对龋齿的检测是肯定的。

另一个实例是当具有600nm左右波长的初始辐射Ir被使用时。如果牙齿T是健全的，则结果辐射Rr具有较低的强度。当结果辐射Rr比与初始辐射Ir强度有关的某个值高时，则对龋齿的诊断是肯定的。

可用将结果辐射Rr转换成一个信号或多个信号的半导体检测器(例如光电二极管或LCD)来制造检测设备D。该检测器将所述信号发送给电子或机电系统EAM，其分析信号以确定是否存在龋齿。然后通过该电子系统EAM产生刺激Stim(例如声音、光、振动等)以向操作者通知龋齿的存在。LED可代替以上的光电二极管而被使用。在图3到6的第二和第三实施例中，模拟转换器C/A被提供于刺激Stim的上游。

检测设备D亦可包括被连接于一系统的半导体辐射检测器(例如光电二极管)，该系统将以下测量的至少一个或一个的部分：即其它结果辐射Rr(即从在其它时间起作用的照射得到的)，包括在结果辐射Rr或初始辐射Ir中的噪声，直接或间接地，准时地或随时间变化的或者通过使用所述测量的函数，转换成对操作者O的相应刺激Stim(例如可变声音强度、可变光信号)。操作者O然后在与龋齿关联的刺激和与健全牙齿T结构关联的刺激之间进行区别。例如，检测设备可以是声音发生器，其发射等效于结果辐射强度的声音强度。另一个实例可以是不同辐射测量的图形屏幕显示以及操作者O使用其判断来识别龋齿何时存在与否的情况。

图1和4的检测设备OE可用这样的物理装置来制造，所述装置将对以下测量的至少一个或一个的部分：即所述结果辐射Rr，包括在结果辐射Rr或初始辐射Ir中的噪声，直接或间接地，准时地或随时间变化的或者通过使用所述测量的函数，转换成对操作者O的相应刺激，所述操作者然后再次在与龋齿关联的刺激和与健全牙齿T结构关联的刺激之间进行区别。例如，该检测设备OE可以是反射镜，其将结果辐射Rr反射给操作者O。

例如，如果860nm和625nm的初始辐射Ir结合锁定系统而被使用，则可用基于所接收的两个经解调的信号的独立函数的算法和电子处理器来制造电子分析系统EAM。

应指出，源S可在强度和/或波长上被调制。通过调制源的电流和/或电压，强度和波长的范围可变化并且可使用辐射的恒定变化而不是多重源。

为增强检测，可能理想的是在开始检测龋齿之前表征一些病人口中的不同结构上的典型响应辐射。

检测系统，更具体而言是手持工具，可被部分或全部包括在用于窝洞预备的设备中(例如旋转手柄(rotative handpiece)、被设计用于在填充之前准备牙齿的超声/声波设备、空气磨蚀系统(air abrasion system)等)。

还有，检测系统可被设计成结合一个设备而工作以在修复之前准备牙齿和牙齿区域。

可将被放置得与病人的口内组织接触的本系统的部件制成是可消毒的。

本发明的系统可包括多个导体，其可带来来自不同角度或区域的初始辐射以有可能使能将辐射聚焦于三维区域上或者使能获得相同区域上的多个读数。

干燥设备可被引入到本发明的系统中以便于减小设备的观察尖和牙齿T表面之间的污染物的数量。

中间物质可被插入于收集器或导体的观察端和牙齿T表面之间以使不需要的反射最小并且/或者用作滤波器。例如，透明的胶状物质可被使用。

本系统可包括与龋齿具有密切关系的专门标记和可增强或使能检测龋齿的专门反射比/透射比辐射特性。例如，与龋齿具有密切关系的蓝标记将反射对应于蓝的辐射波长。

组合的声波或超声波发生器或应力发生器可被实施以在牙齿T表面中引起应力或振荡或运动以使能干扰并揭示较弱结构。

牙齿具有大的形态学可变性，其引起光学响应上的高可变性。为此，一种可比的方法可被实施以使光学响应能被标准化。通过改变发射点的位置和发射的角度，可比较所记录的值。

液体(例如水)递送系统可被引入本发明以使能清洁和/或获得收集器CL或导体的观察端和牙齿T结构之间的光学介质。

本发明可在收集器之前包括穿孔部件，其使仅平行于该穿孔部件的轴的辐射能进入收集器。该穿孔部件可使能对辐射射线的来源的确定。例如，该穿孔部件可使能确定该辐射是来自咬合区还是齿龈区。

由于咬合龋齿几乎总被发现于牙齿表面的中部，可能有趣的是将来自所述中部区的辐射比较于周围区。这可通过使收集器由一束光纤构成而实现。该相干光束使能逐区域地分析到来的辐射。这种逐区域分析可通过使用多个半导体检测器或通过使用不透明图案来获得。

本发明可包括用来归档数据的装置。例如，本发明可被连接于计算机，其可保存数据以便于以后使用，从而例如跟随给定病人的龋齿的演变。

探头端(即，包含收集器和/或导体的面向牙齿T的工具的远端)可包括分度符号以便于定位。

本发明的系统亦可包括一些再校准和/或自测试功能。例如，如果光纤被使用，则有可能通过测试通过该纤维的基准光的强度来校验纤维是否过于磨损以至于不能被有效地使用并且应由此被更换。

还有，由于不同于龋齿的各种人造牙的谱响应是已知的，如釉质、牙齿的根表面、牙龈、血液、牙垢、牙齿填充物等的谱响应，因此龋齿可被直接检测或间接检测，这是因为检测可被进行以检测龋齿或检测其不存在(即与龋齿不同的人造牙的其它存在)。

所述系统可被设计成聚焦于牙齿表面上以确定其是不透明的或半透明的。在邻间龋齿的情况下，目标是量化矿化损失，而在咬合龋齿的情况下，目标是确定一个尺寸的龋齿的存在由此其需要干预。一束光纤可被用于量化不透明表面对半透明表面。

具有不对称光纤或具有不同退出方向(exit axes)的发射光线的探头端可构建确定半透明或不透明表面之间的差异的方式。可有截然不同的发射和收集探头，其中一个探头是可移动的，而另一个是被固定的。

亦可预期使用包含光纤的牙线而不是探头而作为将光纤带到邻间表面的方式。当调查邻间的牙齿表面时，包含许多光纤的带或条亦可被使用，即通过使所述条经过牙齿之间。

与咬合龋齿关联的问题在于试图通过尝试检查处于一个角度的牙齿釉质来定位龋齿。为克服该困难，探头可具有胶状尖，其穿过在牙齿上限定的槽或皱折由此减小这些皱折的光学效应。在邻间水平上，这种相同的尖可被使用，因为接触的相邻牙齿形成一种类型的槽。

本发明的系统可在牙齿修理外科过程中被使用，以例如确保所有腐烂都已被成功地去除。

探头端可具有指向认为存在腐烂的相同点的许多光纤。在咬合表面处，这对于确定反射源自牙齿的髓室(pulpar chamber)或源自较为咬合的部分可能是有用的。

基准可被取在给定病人的健全牙齿结构上以实现对被“定制”于该病人的本发明检测系统的校准，从而使之后进行的测量更能表示病人牙齿结构的状态，由此增强检测效率并便于诊断。

Claims (28)

1.一种用于检测牙齿结构上的龋齿的系统，包括：导体，用于将至少一个初始辐射指引到待评价的牙齿结构上；收集器，用于收集至少一个结果辐射，其已作为所述初始辐射的结果由牙齿反射和/或被透射通过牙齿，所述收集器适合于将所述结果辐射提供给检测设备，所述检测设备适合于比较所述至少一个结果辐射的至少一个强度与对应于龋齿的存在或不存在的至少一个预定值，从而使得能诊断牙齿结构上龋齿的存在或不存在，

所述系统还包括分离的第一和第二手持探头，其分别被连接于所述导体和所述收集器，

其中中间物质被提供用于插入在所述导体和所述收集器的至少一个的观察端和牙齿表面之间，以最小化不需要的反射和用作滤波器的至少一个；或者，在所述收集器的上游，穿孔组件被提供用于仅使平行于该穿孔组件的轴的辐射能够进入所述收集器。

2.权利要求1的系统，其中所述检测设备亦适合于比较所述至少一个结果辐射的至少一个波长与对应于龋齿的存在和不存在之一的至少一个另外的预定值。

3.权利要求1的系统，进一步被提供有一源，用于将所述至少一个初始辐射提供给所述导体。

4.权利要求1的系统，其中所述初始辐射的波长处于550nm和650nm之间。

5.权利要求4的系统，其中所述初始辐射的所述波长为600nm和640nm的至少一个附近。

6.权利要求1的系统，其中所述初始辐射的波长在550nm以下。

7.权利要求6的系统，其中所述初始辐射的所述波长在480nm左右。

8.权利要求1的系统，其中所述初始辐射的波长处于电磁波频谱中，从而使由龋齿反射的电磁辐射量比由健康牙齿结构反射的电磁辐射量大。

9.权利要求4的系统，其中所述初始辐射的波长处于红外，以允许区分龋齿与齿菌斑和牙垢。

10.权利要求6的系统，其中所述初始辐射的波长处于红外，以允许区分龋齿与齿菌斑和牙垢。

11.权利要求1的系统，进一步包括手持探头，其被连接于所述导体和所述收集器，用于将所述初始辐射指引到牙齿结构上。

12.权利要求1的系统，进一步包括用于窝洞预备的设备。

13.权利要求12的系统，其中所述用于窝洞预备的设备包括以下中的一个：旋转手柄；超声/声波设备，其被设计用于在填充之前准备牙齿；以及空气磨蚀系统。

14.权利要求11的系统，进一步包括用于在修复过程之前准备牙齿和牙齿区域的设备。

15.权利要求1的系统，其中所述检测设备适合于提供指示牙齿结构上龋齿的存在和不存在之一的信号。

16.权利要求1的系统，其中所述检测设备适合于提供指示牙齿结构上龋齿的存在和不存在之一的信息，从而使所述信息可由操作者来解释，该操作者然后能确定龋齿的存在或不存在。

17.权利要求1的系统，其中所述导体和所述收集器包括被包含在牙线中的光纤，用于评价邻间的牙齿表面。

18.权利要求1的系统，其中所述导体和所述收集器包括被包含在带中的多个光纤，用于评价邻间的牙齿表面。

19.权利要求11的系统，其中所述探头具有可变形尖，其适合于符合牙齿表面中的不规则性。

20.权利要求19的系统，其中所述可变形尖由胶状物质制成。

21.权利要求1的系统，其中所述第一和第二探头的一个在其使用中是可动的，而另一个在所述使用过程中保持固定。

22.权利要求1的系统，其中一数据存储设备被提供用于保持有关各个病人的数据并由此允许被跟随牙齿结构状况的演变。

23.权利要求1的系统，其中干燥设备被提供用于减少所述导体的观察尖和牙齿表面之间的污染物。

24.权利要求1的系统，其中所述中间物质包括透明的胶状物质。

25.权利要求1的系统，其中提供了特殊的标记，其与龋齿具有密切关系，且具有特殊的反射比/透射比辐射特性，用于增强或使能对龋齿的检测。

26.权利要求1的系统，其中所述收集器由一束光纤构成，用于使能对所述结果辐射的逐区域分析。

27.权利要求11的系统，其中所述探头的观察端包括分度符号以便于定位，所述观察端面向牙齿。

28.一种用于检测牙齿表面上的龋齿的系统，包括：导体，用于将至少一个初始辐射指引到待评价的牙齿结构上；收集器，用于收集至少一个结果辐射，其已作为所述初始辐射的结果由牙齿反射和/或被透射通过牙齿，所述收集器适合于将所述结果辐射提供给检测设备，所述检测设备适合于比较所述至少一个结果辐射的至少一个波长与对应于龋齿的存在或不存在的至少一个预定值，从而使得能诊断牙齿结构上龋齿的存在或不存在，

所述系统还包括分离的第一和第二手持探头，其分别被连接于所述导体和所述收集器，

其中中间物质被提供用于插入在所述导体和所述收集器的至少一个的观察端和牙齿表面之间，以最小化不需要的反射和用作滤波器的至少一个；或者，在所述收集器的上游，穿孔组件被提供用于仅使平行于该穿孔组件的轴的辐射能够进入所述收集器。

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