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WO2024209623A1 - 誤配線検出装置、誤配線検出方法、誤配線検出システム、およびプログラム - Google Patents

誤配線検出装置、誤配線検出方法、誤配線検出システム、およびプログラム Download PDF

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WO2024209623A1
WO2024209623A1 PCT/JP2023/014226 JP2023014226W WO2024209623A1 WO 2024209623 A1 WO2024209623 A1 WO 2024209623A1 JP 2023014226 W JP2023014226 W JP 2023014226W WO 2024209623 A1 WO2024209623 A1 WO 2024209623A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
fiber
path
suspected
wiring
fibers
Prior art date
Application number
PCT/JP2023/014226
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
和也 穴澤
武 井上
暢 間野
和昭 尾花
秀樹 西沢
Original Assignee
日本電信電話株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電信電話株式会社 filed Critical 日本電信電話株式会社
Priority to PCT/JP2023/014226 priority Critical patent/WO2024209623A1/ja
Publication of WO2024209623A1 publication Critical patent/WO2024209623A1/ja

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Definitions

  • This disclosure relates to a miswiring detection device, a miswiring detection method, a miswiring detection system, and a program.
  • Non-Patent Document 1 shows that power consumption can be reduced by replacing conventional switches that require electrical processing with optical switches.
  • Non-Patent Document 2 shows that it is possible to provide low-latency communications while maximizing throughput by directly connecting Top-of-Rack (ToR) switches with optical switches in response to fluctuations in traffic demand between ToR switches.
  • Non-Patent Document 3 shows a use case in which a switch fabric containing a mixture of transceivers of multiple generations can be built at low cost.
  • Non-Patent Documents 5 and 6 propose Link Layer Discovery Protocol (LLDP), tracing, or existing technologies (Non-Patent Documents 5 and 6), it is possible to detect miswiring and select a route that takes the miswiring location into account.
  • Non-Patent Document 6 proposes an algorithm that installs an OpenFlow-compatible SDN controller and quickly identifies the location of miswiring using topology information collected from it and topology information messages (TIMs) exchanged between agents on the server or switch.
  • TIMs topology information messages
  • optical switches process signals as light, information cannot be exchanged or processed between switches, and conventional technology cannot be applied.
  • This disclosure has been made in consideration of the above, and aims to detect wiring errors in a fiber switching network.
  • a miswiring detection device is a miswiring detection device that identifies miswiring locations in fibers connected between multiple switches, and includes a switch control unit that controls the internal connection state of each of the switches to establish a route, a test terminal control unit that controls a test terminal that measures the received power of test light that has passed through the route, a route calculation unit that calculates a route along which the test light passes through the switch and the fiber to reach the test terminal based on an assumed fiber wiring situation, and an inspection unit that inputs test light to the route, measures the received power of the test light received by the test terminal, and classifies the wiring status of the fiber on the route based on the received power, and the route calculation unit calculates a plurality of routes that cover the inspection of all fibers, and performs the inspection.
  • the unit measures the receiving power for each of the multiple routes, and if the receiving power meets a criterion, classifies the fiber on the route as a correct wiring location, and if the receiving power does not meet the criterion, classifies the fiber on the route as a suspected miswired location.
  • the route calculation unit calculates a suspected fiber route that passes through one of the suspected fibers and the fiber classified as the correct wiring location for each of the suspected fibers classified as a suspected miswired location.
  • the inspection unit measures the receiving power for each of the suspected fiber routes, and if the receiving power meets a criterion, classifies the suspected fiber as a correct wiring location, and if the receiving power does not meet the criterion, classifies the suspected fiber as a miswired location.
  • This disclosure makes it possible to detect wiring errors in a fiber switching network.
  • FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a faulty wiring detection device.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a fiber switching network.
  • FIG. 3 is a flowchart showing an example of the faulty wiring detection process.
  • FIG. 4 is a diagram showing an example of checking the connection of a test terminal.
  • FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a fiber path.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a fiber path.
  • FIG. 7 is a flow chart showing an example of a two-hop path test process.
  • FIG. 8 is a diagram showing an example of a two-hop path.
  • FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a process for determining a set of fiber paths to be tested.
  • FIG. 9 is a flowchart illustrating an example of a process for determining a set of fiber paths to be tested.
  • FIG. 10 is a flowchart showing an example of a fiber path inspection.
  • FIG. 11 is a flowchart showing an example of a process for identifying a faulty wiring location.
  • FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a hardware configuration of the faulty wiring detection device.
  • FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a miswiring detection device 1 according to this embodiment.
  • the miswiring detection device 1 shown in FIG. 1 includes a test terminal control unit 11, a switch control unit 12, an inspection unit 13, a path calculation unit 14, a path loss calculation unit 15, a topology information storage unit 16, and a retention unit 17.
  • the test terminal control unit 11 controls the test terminals connected to the FSN.
  • the FSN and test terminals will be described later.
  • the switch control unit 12 controls the internal connection state of each switch in the FSN to establish a test fiber path.
  • the test fiber path is the route through which the test light input from the test terminal passes and is received by the test terminal.
  • the inspection unit 13 measures the received power of the test light received by the test terminal when test light is input to the fiber path, and classifies the wiring state of the fiber on the fiber path (correct wiring or incorrect wiring) based on the received power. Specifically, the inspection unit 13 measures the received power for each of the multiple fiber paths determined by the route calculation unit 14, and classifies the fibers on the fiber path whose received power meets the criterion as correct wiring locations, and classifies the fibers on the fiber path whose received power does not meet the criterion as suspected incorrect wiring locations.
  • the inspection unit 13 After determining the suspected incorrect wiring locations, the inspection unit 13 measures the received power in a fiber path that includes only one fiber classified as a suspected incorrect wiring location, and if the received power meets the criterion, classifies the fiber as a correct wiring location, and if the received power does not meet the criterion, classifies the fiber as a miswired location.
  • the inspection unit 13 may determine a standard for evaluating the reception power using the path loss calculated by the path loss calculation unit 15. Specifically, the inspection unit 13 uses a standard that is equal to or greater than the value obtained by subtracting the minimum path loss from the power of the test light emitted by the test terminal and equal to or less than the value obtained by subtracting the maximum path loss from the power of the test light emitted by the test terminal.
  • the route calculation unit 14 calculates a fiber path along which test light from a test terminal passes through an FSN and returns to the test terminal, based on an assumed physical wiring situation (topology) provided by an operator. Specifically, the route calculation unit 14 calculates a set of fiber paths along which test light passes through switches with a specified number of hops, and obtains a set (subset) of fiber paths that covers the inspection of all fibers from the set of fiber paths. When obtaining the subset, the route calculation unit 14 obtains the time required to establish a fiber path for each fiber path by referring to the time required to control the switches on the fiber path, and obtains a subset that shortens the total time required to establish a fiber path.
  • the path loss calculation unit 15 calculates the maximum and minimum path loss of the fiber path based on the input power of the test light and the maximum and minimum insertion loss (loss) of each switch.
  • the topology information storage unit 16 stores the assumed physical wiring status provided by the operator.
  • the storage unit 17 stores information about each switch in the FSN, such as the time required for control required for switching and the maximum and minimum insertion loss values.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of an FSN to be detected for miswiring locations.
  • the FSN shown in the figure includes lower layer switches I1 , I2 , and I3 and upper layer switches J4 and J5 .
  • lower layer switch I when the switches are not individually distinguished, they will be referred to as lower layer switch I, switch I, upper layer switch J, and switch J.
  • switch J When the lower layer switch and the upper layer switch are not distinguished, they will be simply referred to as switches.
  • the lower layer switch I and the upper layer switch J are connected by v fibers f.
  • the fibers f are connected to the internal ports of the lower layer switch I and the upper layer switch J.
  • r is the total number of lower layer switches I
  • m is the total number of upper layer switches J.
  • the test terminal 50 is connected to an external port of the lower layer switch I.
  • the test terminal 50 inputs test light to a fiber path established in the FSN, receives the test light that has passed through the fiber path, and measures the reception power of the received test light.
  • the lower layer switch to which the test terminal 50 is connected is called switch I * .
  • the lower layer switch I1 is switch I * .
  • a set of fibers connecting switch I * and each upper layer switch J is called fiber f * .
  • fibers connecting switch I1 and switch J4 and switch I1 and switch J5 are included in fiber f * .
  • the test terminal 50 only needs to be able to transmit and receive optical signals.
  • the test terminal 50 may be connected to any lower layer switch I.
  • a plurality of test terminals 50 may be connected to the lower layer switch I.
  • a terminal other than the test terminal 50 may input test light to the fiber path.
  • miswiring detection device 1 The process flow of the miswiring detection device 1 will be described with reference to the flowchart in Figure 3. Hereinafter, the miswiring detection device 1 will be referred to as the device.
  • step S1 the device checks the wiring of the test terminal 50. Specifically, the device controls the switch I * to which the test terminal 50 is connected, and as shown in Fig. 4, directly connects the input/output ports to which the test terminal 50 is connected, and checks whether the test terminal 50 and the switch I * are correctly connected. If they are not correctly connected, the process is interrupted.
  • step S2 the device performs a test on the 2-hop path.
  • a path with n fibers to be inspected for wiring errors is called an n-hop path.
  • a 2-hop path is a fiber path consisting only of fibers f * connecting switch I * and each upper layer switch J.
  • step S3 the device calculates a set FH of fiber paths that does not include the fiber determined to be miswired in step S2 based on the upper limit H (H>2) of the number of fiber passes.
  • the upper limit H may be specified by the operator. If the upper limit H is large, the number of fibers that can be covered in one test increases, so the test time can be shortened, but if miswires are included, it becomes difficult to identify the miswired part, and the accuracy decreases. Note that one test is an test that controls the switch to establish the fiber path to be tested, and until the test terminal 50 emits and inputs the test light. Tests are performed on each of the multiple fiber paths.
  • step S4 the device calculates a set S of fiber paths to be tested with the minimum number of steps (in a short time) from the set FH of fiber paths obtained in step S3 so that all fibers (excluding fibers determined to be miswired in step S2) are included.
  • the set S is calculated so that the total time required to inspect all fiber paths F1 included in the set S is short.
  • the objective function and constraint conditions for calculating the set S are shown in the following equations.
  • w l is the total time required to establish the fiber path F l .
  • the total time w l required to establish the fiber path F l ⁇ FH can be expressed by the following equation.
  • I l is the set of lower layer switches that need to be configured to establish fiber path F l
  • J l is the set of upper layer switches that need to be configured to establish fiber path F l
  • c i l is the number of configurations (the number of times a signal passes) required to establish fiber path F l on switch i ⁇ I l ⁇ J l
  • T i is the time required for control required to switch switch i.
  • step S5 the device inspects each of the fiber paths F l included in the set S obtained in step S4.
  • the device controls the switch to establish the fiber path F l for each of the fiber paths F l included in the set S.
  • the test terminal 50 inputs test light into the fiber path F l, receives the test light from the fiber path F l , and measures the received power of the test light. If the received power is within a predetermined range, the fiber included in the inspected fiber path F l is classified into a set Q of correct wiring locations, and if it is outside the predetermined range, the fiber included in the inspected fiber path F l is classified into a set U of suspected miswiring locations where miswiring is suspected.
  • step S6 the device performs an inspection on the fiber path that includes only one fiber included in the set U of suspected miswiring locations, and identifies the miswiring location. If the power of the test light measured by the test terminal 50 is within a specified range, the fiber being inspected is classified into set Q of correct wiring locations, and if it is outside the specified range, the fiber being inspected is classified into set E of miswiring locations.
  • step S7 the device outputs the set Q of correct wiring locations and the set E of incorrect wiring locations as results. If fiber remains in the set U of suspected incorrect wiring locations (unspecified), the set U of suspected incorrect wiring locations is also output.
  • step S21 the device calculates all 2-hop paths (a set of fiber paths F 2 ).
  • An example of a 2-hop path is shown in Fig. 8.
  • a fiber path consisting of only fiber f * connecting the lower layer switch I 1 and each of the upper layer switches J 4 and J 5 is a 2-hop path.
  • the device performs the processes from step S22 to step S26 for all two-hop paths.
  • step S22 the device controls the switch to establish the fiber path F1 to be inspected.
  • step S23 the device controls the test terminal 50 to inspect the fiber path F 1 to be inspected. Specifically, the test terminal 50 inputs test light to the switch I * , receives the test light from the switch I * via the fiber path F 1 established in step S22, and measures the received power of the test light.
  • step S24 the device determines whether the reception power of the test light measured in step S23 is valid. For example, the device determines whether the reception power Pwr_l satisfies the following formula.
  • InPwr l is the input power of the test light emitted by the test terminal 50
  • L i max and L i min are the maximum and minimum insertion loss values of the switch i
  • L l max and L l min are the maximum and minimum losses that can occur by passing through the fiber path F l
  • c i l is the number of times the test light passes through the switch i, and is the number of times the switch i is controlled to establish the fiber path F l
  • L l max and L l min may be specification values or actual measured values.
  • the received power is too low, it is possible that there is incorrect wiring or that the fiber end face is dirty, and the fiber path cannot be used. If the received power is too high, it is possible that the actual route is not the expected route, but a shorter route, and there is a possibility of incorrect wiring where the switch that should be connected is not connected.
  • Whether the power of the test light is appropriate may be determined by determining whether the measurement result exceeds a threshold value that is set in advance. Alternatively, it may be determined that the power is appropriate if the test terminal 50 can receive the test light, and that it is inappropriate if the test terminal 50 cannot receive the test light.
  • step S25 the device adds the fibers contained in the fiber path F1 to the set Q of correct wiring locations.
  • step S26 the device adds the fibers included in the fiber path F1 to a set U of suspected miswiring locations.
  • step S27 the device classifies the fibers included in the set U of suspected miswiring locations, excluding the fibers included in the set Q of correct wiring locations, into a set E of miswiring locations.
  • the miswired fiber can be identified from among the fibers f * connecting the lower layer switch I * and the upper layer switch J.
  • step S41 the device initializes set S to an empty set.
  • step S42 the device selects a fiber path that requires the shortest total time to establish the fiber path from the set of fiber paths FH .
  • step S43 the device adds the fiber path selected in step S42 to set S.
  • the device repeats the processes of steps S42 and S43 until all fibers that make up the fiber paths included in set S are covered. Note that all of the above fibers do not include any fibers identified as miswired in the 2-hop path test.
  • the device performs the processes from step S51 to step S55 for the fiber paths included in set S.
  • step S51 the device controls the switch to establish a fiber path F1 to be inspected.
  • step S52 the device controls the testing terminal 50 to inspect the fiber path F1 to be inspected.
  • step S53 the device determines whether the received power of the test light measured in step S52 is valid. Whether the received power is valid can be determined in the same way as in the 2-hop path test.
  • the device adds the fibers contained in the fiber path F1 to the set Q of correct distribution locations in step S54.
  • step S55 the device adds the fibers included in the fiber path F1 to the set U of suspected miswiring locations.
  • step S61 the device obtains a set D of fibers by removing the fibers included in the set Q of correct wiring locations from the fibers included in the set U of suspected miswiring locations.
  • Set D is a set of suspect fibers that are individually identified as being miswiring locations or not.
  • the device performs steps S62 to S67 for each fiber included in set D.
  • the device finds a fiber path F l that includes a suspected fiber in set D. Specifically, the device finds, from the fiber path set FH , a fiber path F l that includes one suspected fiber in set D and is included in set Q of wiring locations where all other elements are correct. If there are multiple fiber paths F l that meet the above conditions, the one that requires the shortest total time w l to establish the fiber path F l is selected. If there is no fiber path F l that meets the above conditions, the suspected fiber is classified into set U of suspected miswiring locations.
  • step S63 the device controls the testing terminal 50 to inspect the fiber path F1 that is the inspection target.
  • step S64 the device determines whether the received power of the test light measured in step S52 is valid. Whether the received power is valid can be determined in the same way as in the two-hop path test.
  • step S65 the device adds the suspect fiber to the set Q of correct wiring locations.
  • step S66 the device adds the suspect fiber to set E of miswiring locations.
  • the fibers are classified into a set Q of correct wiring locations and a set E of incorrect wiring locations.
  • the faulty wiring detection device 1 of the present embodiment includes a test terminal control unit 11 that controls the test terminal 50, a switch control unit 12 that controls the internal connection state of each switch to establish a test fiber path, a route calculation unit 14 that calculates a fiber path through which the test light passes based on an assumed physical wiring situation, and an inspection unit 13 that measures the reception power of the test light that passes through the test fiber path and classifies the wiring state of the fiber on the fiber path based on the reception power.
  • the route calculation unit 14 calculates a set FH of fiber paths through which the test light passes through switches with a specified hop count H, and obtains a set S of fiber paths that covers the inspection of all fibers from the set FH of fiber paths.
  • the inspection unit 13 measures the reception power for each fiber path included in the set S, and classifies the fibers on the fiber path into a set Q of correct wiring locations or a set U of suspected faulty wiring locations.
  • the route calculation unit 14 calculates a fiber path that passes through one of the fibers classified into the set U of suspected faulty wiring locations and a fiber classified into the set Q of correct wiring locations.
  • the inspection unit 13 measures the reception power of the test light that has passed through the fiber path, and classifies the fiber into a set Q of correct wiring locations or a set E of incorrect wiring locations. This makes it possible to detect incorrect wiring locations in the FSN.
  • the miswiring detection device 1 of this embodiment calculates the time required to establish a fiber path by referring to the time required to control the switches on the route for each fiber path, and calculates a set S of fiber paths that shortens the total time required to establish the fiber paths. This reduces the time required to identify the location of the miswiring.
  • the miswiring detection device 1 of this embodiment evaluates the received power based on the insertion loss of the switch on the fiber path, so it can pinpoint the location of the miswiring with high accuracy.
  • the above-described miswiring detection device 1 can be, for example, a general-purpose computer system including a central processing unit (CPU) 901, memory 902, storage 903, communication device 904, input device 905, and output device 906, as shown in FIG. 12.
  • the miswiring detection device 1 is realized by the CPU 901 executing a predetermined program loaded onto the memory 902.
  • This program can be recorded on a non-transitory computer-readable recording medium, such as a magnetic disk, optical disk, or semiconductor memory, or can be distributed via a network.

Landscapes

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Abstract

誤配線検出装置１は、試験端末５０を制御する試験端末制御部１１と、スイッチを制御して試験用ファイバパスを確立するスイッチ制御部１２と、想定の物理配線状況に基づいて、試験光が通過するファイバパスを算出する経路計算部１４と、試験用ファイバパスを通過した試験光の受信パワーを測定し、受信パワーに基づいてファイバパス上のファイバの配線状態を分類する検査部１３を備える。経路計算部１４は、試験光が指定のホップ数Ｈのスイッチを通過するファイバパスの集合ＦＨを算出し、ファイバパスの集合ＦＨから全てのファイバの検査をカバーするファイバパスの集合Ｓを求める。検査部１３は、集合Ｓに含まれるファイバパスのそれぞれについて受信パワーを測定し、ファイバを正しい配線箇所の集合Ｑまたは誤配線被疑箇所の集合Ｕに分類する。経路計算部１４は、誤配線被疑箇所の集合Ｕに分類されたファイバの１つと正しい配線箇所の集合Ｑに分類されたファイバを通過するファイバパスを算出する。検査部１３は、ファイバパスを通過した試験光の受信パワーを測定し、ファイバを正しい配線箇所の集合Ｑまたは誤配線箇所の集合Ｅに分類する。

Description

誤配線検出装置、誤配線検出方法、誤配線検出システム、およびプログラム
　本開示は、誤配線検出装置、誤配線検出方法、誤配線検出システム、およびプログラムに関する。
　近年、データセンタ内で発生するトラヒックを低消費電力かつ低コストで収容するために、データセンタ内のスイッチファブリックに光スイッチを導入する事例が増えている。非特許文献１では、電気処理が必要な従来のスイッチを光スイッチに置き換えることで、消費電力を削減できることが示されている。非特許文献２では、Top-of-Rack(ToR)スイッチ間のトラヒック需要の変動に応じて、光スイッチによりToRスイッチ間を直結することでスループットを最大化しつつ、低遅延な通信を提供できることが示されている。非特許文献３では、複数世代のトランシーバが混在するスイッチファブリックを低コストで構築できるといったユースケースが示されている。
K. Chen et.al, "OSA: An optical switching architecture for data center networks with unprecedented flexibility," in IEEE/ACM Transactions on Networking, vol. 22, no. 2, pp. 498-511, 2013 W. M. Mellette, et.al, "Expanding across time to deliver bandwidth efficiency and low latency," in 17th USENIX Symposium on Networked Systems Design and Implementation(NSDI), pp. 1-18, 2020 L. Poutievski et al., "Jupiter evolving: Transforming Google’s datacenter network via optical circuit switches and software-defined networking," in Proc. ACM SIGCOMM Conf., Aug, pp. 66-85 2022 T. Mano, T. Inoue, K. Mizutani, and O. Akashi, "Redesigning the Nonblocking Clos Network to Increase its Capacity," in IEEE Transactions on Network and Service Management, 2022 K. Chen et.al, "DAC: Generic and automatic address configuration for data center networks," in IEEE/ACM Transactions on Networking, vol. 20, no. 1, pp. 84-99, 2011 C. Jian, et.al, "MTR: Fault tolerant routing in Clos data center network with miswiring links," in 2014 IEEE 20th International Workshop on Local & Metropolitan Area Networks (LANMAN), pp. 1-6, 2014
　従来のToRスイッチやアグリゲートスイッチの代わりに光スイッチを用いる場合でも、従来と同様、Clos網もしくはその改良版であるTF-Clos網（非特許文献４）によりFiber Switching Network(FSN)を構築することが考えられる。
　従来のEthernet Switching Networkでは、途中のスイッチで電気処理が可能なため、Link Layer Discovery Protocol(LLDP)、トレース、もしくは既存技術（非特許文献５，６）を用いることで、誤配線の検出、及び、誤配線箇所を考慮した経路選択を行うことができる。例えば非特許文献６では、OpenFlow対応のSDNコントローラを設置し、それから収集されるトポロジ情報と、サーバもしくはスイッチ上のエージェント間でやり取りされるtopology information message (TIM)により短時間で誤配線箇所を特定するアルゴリズムが提案されている。
　しかしながら、光スイッチでは信号を光のまま処理するので、スイッチ間での情報の交換・処理ができないため、従来技術を適用できない。
　本開示は、上記に鑑みてなされたものであり、ファイバスイッチングネットワークにおいて誤配線箇所を検出することを目的とする。
　本開示の一態様の誤配線検出装置は、複数のスイッチ間を接続したファイバの誤配線箇所を特定する誤配線検出装置であって、前記スイッチそれぞれの内部の接続状態を制御して経路を確立するスイッチ制御部と、前記経路を通過した試験光の受信パワーを測定する試験端末を制御する試験端末制御部と、想定のファイバ配線状況に基づいて、試験光が前記スイッチと前記ファイバを通過して前記試験端末に到達する経路を算出する経路計算部と、前記経路へ試験光を入力して前記試験端末が受信する前記試験光の受信パワーを測定し、当該受信パワーに基づいて前記経路上のファイバの配線状態を分類する検査部と、を備え、前記経路計算部は、全てのファイバの検査をカバーする複数の経路を算出し、前記検査部は、前記複数の経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、当該経路上のファイバを正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、当該経路上のファイバを誤配線被疑箇所に分類し、前記経路計算部は、前記誤配線被疑箇所に分類された被疑ファイバのそれぞれについて、前記被疑ファイバの１つと前記正しい配線箇所に分類されたファイバを通過する被疑ファイバ経路を算出し、前記検査部は、前記被疑ファイバ経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、前記被疑ファイバを前記正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、前記被疑ファイバを誤配線箇所に分類する。
　本開示によれば、ファイバスイッチングネットワークにおいて誤配線箇所を検出できる。
図１は、誤配線検出装置の構成の一例を示す図である。 図２は、ファイバスイッチングネットワークの一例を示す図である。 図３は、誤配線検出処理の一例を示すフローチャートである。 図４は、試験端末の接続を確認する一例を示す図である。 図５は、ファイバパスの一例を示す図である。 図６は、ファイバパスの一例を示す図である。 図７は、２－ホップパス試験の処理の一例を示すフローチャートである。 図８は、２－ホップパスの一例を示す図である。 図９は、試験を実施するファイバパスの集合を求める処理の一例を示すフローチャートである。 図１０は、ファイバパスの検査の一例を示すフローチャートである。 図１１は、誤配線箇所を特定する処理の一例を示すフローチャートである。 図１２は、誤配線検出装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
　以下、本開示の実施の形態について図面を用いて説明する。
　図１は、本実施形態の誤配線検出装置１の構成の一例を示す図である。図１に示す誤配線検出装置１は、試験端末制御部１１、スイッチ制御部１２、検査部１３、経路計算部１４、経路損失計算部１５、トポロジ情報格納部１６、および保持部１７を備える。
　試験端末制御部１１は、ＦＳＮに接続した試験端末を制御する。ＦＳＮと試験端末については後述する。
　スイッチ制御部１２は、ＦＳＮの備えるスイッチそれぞれの内部の接続状態を制御して試験用ファイバパスを確立する。試験用ファイバパスは、試験端末から入力した試験光が通過して試験端末で受信される経路である。
　検査部１３は、ファイバパスへ試験光を入力したときに試験端末が受信する試験光の受信パワーを測定し、受信パワーに基づいてファイバパス上のファイバの配線状態（正しい配線か誤配線か）を分類する。具体的には、検査部１３は、経路計算部１４の求めた複数のファイバパスのそれぞれについて受信パワーを測定し、受信パワーが基準を満たすファイバパス上のファイバを正しい配線箇所に分類し、受信パワーが基準を満たさないファイバパス上のファイバを誤配線被疑箇所に分類する。誤配線被疑箇所を求めた後、検査部１３は、誤配線被疑箇所に分類されたファイバを１つのみ含むファイバパスで受信パワーを測定し、受信パワーが基準を満たす場合は、そのファイバを正しい配線箇所に分類し、受信パワーが基準を満たさない場合は、そのファイバを誤配線箇所に分類する。
　検査部１３は、経路損失計算部１５の求めた経路損失を用いて、受信パワーを評価するための基準を決めてもよい。具体的には、検査部１３は、試験端末の出射する試験光のパワーから経路損失の最小値を引いた値以上で、試験端末の出射する試験光のパワーから経路損失の最大値を引いた値以下を基準として用いる。
　経路計算部１４は、オペレータにより与えられる想定の物理配線状況（トポロジ）に基づいて、試験端末からの試験光がＦＳＮを通過して試験端末に戻るファイバパスを算出する。具体的には、経路計算部１４は、試験光が指定のホップ数のスイッチを通過するファイバパスの集合を算出し、ファイバパスの集合から全ファイバの検査をカバーするファイバパスの集合（部分集合）を求める。部分集合を求めるとき、経路計算部１４は、ファイバパスのそれぞれについて、ファイバパス上のスイッチの制御に必要な時間を参照してファイバパスの確立に必要な時間を求め、ファイバパスの確立に必要な時間の合計が短くなるような部分集合を求める。
　経路損失計算部１５は、試験光の入力パワーおよび各スイッチの挿入損失（ロス）の最大値と最小値に基づいて、ファイバパスの経路損失の最大値と最小値を求める。
　トポロジ情報格納部１６は、オペレータにより与えられる想定の物理配線状況を格納する。
　保持部１７は、ＦＳＮの備える各スイッチの情報、例えば、切り替えに必要な制御にかかる時間や挿入損失の最大値と最小値を保持する。
　図２は、誤配線箇所を検出する対象のＦＳＮの一例を示す図である。同図に示すＦＳＮは、下位レイヤスイッチＩ１，Ｉ２，Ｉ３と上位レイヤスイッチＪ４，Ｊ５を備える。以下、スイッチを個別に区別しない場合は、下位レイヤスイッチＩ、スイッチＩ、上位レイヤスイッチＪ、スイッチＪと称する。下位レイヤスイッチと上位レイヤスイッチを区別しない場合は単にスイッチと称する。
　下位レイヤスイッチＩと上位レイヤスイッチＪとの間は、それぞれｖ本のファイバｆで接続される。ファイバｆは、下位レイヤスイッチＩと上位レイヤスイッチＪのインターナルポートに接続される。下位レイヤスイッチＩと上位レイヤスイッチＪを接続するファイバの集合をｆ＝｛ｆ１，ｆ２，．．．，ｆｎ｝とする。非特許文献４のＴＦ－Ｃｌｏｓでは、ファイバの総数ｎはｎ＝２ｖｒｍである。ただし、ｒは下位レイヤスイッチＩの総数、ｍは上位レイヤスイッチＪの総数である。
　試験端末５０は、下位レイヤスイッチＩのエクスターナルポートに接続される。試験端末５０は、試験光をＦＳＮに確立されたファイバパスへ入力し、ファイバパスを通過した試験光を受信して、受信した試験光の受信パワーを測定する。試験端末５０が接続された下位レイヤスイッチをスイッチＩ＊と称する。図２の例では、下位レイヤスイッチＩ１がスイッチＩ＊である。スイッチＩ＊と各上位レイヤスイッチＪとを接続するファイバの集合をファイバｆ＊と称する。図２の例では、スイッチＩ１とスイッチＪ４並びにスイッチＩ１とスイッチＪ５を接続するファイバがファイバｆ＊に含まれる。試験端末５０は、光信号の送受信ができればよい。試験端末５０は、いずれの下位レイヤスイッチＩに接続してもよい。複数の試験端末５０を下位レイヤスイッチＩに接続してもよい。試験端末５０以外の端末が試験光をファイバパスへ入力してもよい。
　図３のフローチャートを参照し、誤配線検出装置１の処理の流れについて説明する。以下では、誤配線検出装置１を装置と称する。
　ステップＳ１にて、装置は、試験端末５０の配線を確認する。具体的には、試験端末５０を接続するスイッチＩ＊を制御し、図４に示すように、試験端末５０を接続した入出力ポート間を直接接続して、試験端末５０とスイッチＩ＊とが正しく接続されているか否かを確認する。正しく接続されていない場合は処理を中断する。
　ステップＳ２にて、装置は、２－ホップパスの試験を実施する。ここで、誤配線を検査するファイバ数がnであるパスをｎ－ホップパスと呼ぶことにする。２－ホップパスは、スイッチＩ＊と各上位レイヤスイッチＪを接続するファイバｆ＊のみで構成されるファイバパスである。２－ホップパスの全てに対して試験を行うことで、スイッチＩ＊と上位レイヤスイッチＪとの間の誤配線箇所を特定しておく。全てのファイバｆ＊が誤配線の場合は処理を中断する。
　ステップＳ３にて、装置は、ファイバの通過回数の上限Ｈ（Ｈ＞２）に基づき、ステップＳ２で誤配線と判断されたファイバを含まないファイバパスの集合ＦＨを算出する。図５，６に、Ｆ４（Ｈ＝４）に含まれるファイバパスの例を示す。上限Ｈは、オペレータが指定してよい。上限Ｈが大きければ、１度の検査でカバーできるファイバの数が増えるので、試験時間を短縮することができるが、誤配線が含まれる場合、誤配線箇所の特定が難しくなり、精度は下がる。なお、１度の検査とは、スイッチを制御して試験するファイバパスを確立し、試験端末５０が試験光を出射して入射するまでの検査である。複数のファイバパスのそれぞれについて検査を行う。
　ステップＳ４にて、装置は、ステップＳ３で求めたファイバパスの集合ＦＨから、全てのファイバ（ステップＳ２で誤配線とされたファイバは除く）が含まれるように、最小手数（短時間）で試験を実施するファイバパスの集合Ｓを算出する。言い換えれば、集合Ｓに含まれる全てのファイバパスＦｌの検査を実行したときの総時間が短くなるように集合Ｓを算出する。集合Ｓを算出するときの目的関数と制約条件を次式に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
　ここで、ｗｌはファイバパスＦｌの確立に必要な総時間である。各スイッチを並列に制御する場合、ファイバパスＦｌ⊂ＦＨの確立に必要な総時間ｗｌは次式で表すことができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
　ここで、ＩｌはファイバパスＦｌの確立にコンフィグが必要な下位レイヤスイッチの集合、ＪｌはファイバパスＦｌの確立にコンフィグが必要な上位レイヤスイッチの集合、ｃｉ ｌはスイッチｉ∈Ｉｌ∪Ｊｌ上でファイバパスＦｌの確立に必要なコンフィグ数（信号が通る回数）、Ｔｉはスイッチｉの切り替えに必要な制御にかかる時間である。
　各スイッチを一つずつ制御する場合、Ｆｌの確立に必要な総時間ｗｌは次式で表すことができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
　ステップＳ５にて、装置は、ステップＳ４で求めた集合Ｓに含まれるファイバパスＦｌのそれぞれについて検査を実施する。検査では、集合Ｓに含まれるファイバパスＦｌのそれぞれについて、装置がスイッチを制御してファイバパスＦｌを確立する。試験端末５０は試験光をファイバパスＦｌに入力して試験光をファイバパスＦｌから受信し、試験光の受信パワーを測定する。受信パワーが所定範囲内であれば、検査したファイバパスＦｌに含まれるファイバを正しい配線箇所の集合Ｑに分類し、所定範囲外であれば、検査したファイバパスＦｌに含まれるファイバを誤配線が疑われる誤配線被疑箇所の集合Ｕに分類する。
　ステップＳ６にて、装置は、誤配線被疑箇所の集合Ｕに含まれるファイバを１つのみ含むファイバパスについて検査を実施して、誤配線箇所を特定する。試験端末５０が測定した試験光のパワーが所定範囲内であれば検査対象のファイバを正しい配線箇所の集合Ｑに分類し、所定範囲外であれば検査対象のファイバを誤配線箇所の集合Ｅに分類する。
　ステップＳ７にて、装置は、正しい配線箇所の集合Ｑと誤配線箇所の集合Ｅを結果として出力する。誤配線被疑箇所（未特定）の集合Ｕにファイバが残っていれば、誤配線被疑箇所の集合Ｕも出力する。
　図７のフローチャートを参照し、２－ホップパスの試験の一例について説明する。
　ステップＳ２１にて、装置は、全ての２－ホップパス（ファイバパスの集合Ｆ２）を算出する。図８に、２－ホップパスの一例を示す。図８の例では、下位レイヤスイッチＩ１と各上位レイヤスイッチＪ４，Ｊ５とを接続するファイバｆ＊のみで構成されるファイバパスが２－ホップパスである。
　装置は２－ホップパスの全てについてステップＳ２２からステップＳ２６の処理を実行する。
　ステップＳ２２にて、装置は、スイッチを制御して、検査対象のファイバパスＦｌを確立する。
　ステップＳ２３にて、装置は、試験端末５０を制御して、検査対象のファイバパスＦｌの検査を実施する。具体的には、試験端末５０は、試験光をスイッチＩ＊へ入力し、ステップＳ２２で確立したファイバパスＦｌを経由した試験光をスイッチＩ＊から受信して、試験光の受信パワーを測定する。
　ステップＳ２４にて、装置は、ステップＳ２３で測定した試験光の受信パワーが妥当であるか否か判定する。例えば、装置は、受信パワーＰｗｒｌが次式を満たすか否か判定する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
　ここで、ＩｎＰｗｒｌは試験端末５０が出射する試験光の入力パワーであり、Ｌｉ ｍａｘとＬｉ ｍｉｎはスイッチｉの挿入損失の最大値と最小値であり、Ｌｌ ｍａｘとＬｌ ｍｉｎは、ファイバパスＦｌを経由することにより発生しうる最大の損失と最小の損失である。ｃｉ ｌはスイッチｉを試験光が通過する回数であって、ファイバパスＦｌを確立するためにスイッチｉを制御する回数である。Ｌｌ ｍａｘとＬｌ ｍｉｎはスペック値でもよいし実測値でもよい。
　受信パワーが低すぎる場合は、誤配線が疑われる、もしくは、ファイバの端面が汚れているなどが考えられ、ファイバパスが使用不可である。受信パワーが高すぎる場合は、実際の経路が想定している経路ではなく、より短い経路であり、接続されるべきスイッチが接続されていない誤配線が疑われる。
　なお、試験光のパワーが妥当であるか否かは、予め閾値を与えておき、測定結果が閾値を上回っているか否かで判定してもよい。あるいは、試験端末５０が試験光を受信できた場合は妥当、受信できなかった場合は妥当でないと判定してもよい。
　受信パワーが妥当である場合、つまり上記式を満たす場合、ステップＳ２５にて、装置は、ファイバパスＦｌに含まれるファイバを正しい配線箇所の集合Ｑに追加する。
　受信パワーが妥当でない場合、ステップＳ２６にて、装置は、ファイバパスＦｌに含まれるファイバを誤配線被疑箇所の集合Ｕに追加する。
　全ての２－ホップパスについて検査した後、ステップＳ２７にて、装置は、誤配線被疑箇所の集合Ｕに含まれるファイバから正しい配線箇所の集合Ｑに含まれるファイバを除いたファイバを誤配線箇所の集合Ｅに分類する。
　以上の処理により、下位レイヤスイッチＩ＊と上位レイヤスイッチＪとを接続するファイバｆ＊のなかから誤配線のファイバが特定できる。
　図９のフローチャートを参照し、試験を実施するファイバパスの集合Ｓを求める処理の一例について説明する。最小手数で試験を実施するファイバパスの集合Ｓを算出する最小集合被覆問題はＮＰ困難であるため、本実施形態では、貪欲法により近似解を得ることとする。なお、集合Ｓを求めるために、いかなる近似アルゴリズム（ＬＰ－Ｒｏｕｎｄｉｎｇ、ＬＰ－双対法、ヒューリスティックなど）を用いてもよい。
　ステップＳ４１にて、装置は、集合Ｓを空集合に初期化する。
　ステップＳ４２にて、装置は、ファイバパスの集合ＦＨのなかからファイバパスの確立に必要な総時間が最も短いファイバパスを選択する。
　ステップＳ４３にて、装置は、集合ＳにステップＳ４２で選択したファイバパスを追加する。
　装置は、集合Ｓに含まれるファイバパスを構成するファイバが全てのファイバをカバーするまで、ステップＳ４２，Ｓ４３の処理を繰り返す。なお、上記の全てのファイバには、２－ホップパス試験で誤配線と特定されたファイバを含めない。
　図１０のフローチャートを参照し、ファイバパスの検査の一例について説明する。
　装置は集合Ｓに含まれるファイバパスについてステップＳ５１からステップＳ５５までの処理を実行する。
　ステップＳ５１にて、装置は、スイッチを制御して、検査対象のファイバパスＦｌを確立する。
　ステップＳ５２にて、装置は、試験端末５０を制御して、検査対象のファイバパスＦｌの検査を実施する。
　ステップＳ５３にて、装置は、ステップＳ５２で測定した試験光の受信パワーが妥当であるか否か判定する。受信パワーが妥当であるか否かは、２－ホップパス試験と同様に判定できる。
　受信パワーが妥当である場合、ステップＳ５４にて、装置は、ファイバパスＦｌに含まれるファイバを正しい配線箇所の集合Ｑに追加する。
　受信パワーが妥当でない場合、ステップＳ５５にて、装置は、ファイバパスＦｌに含まれるファイバを誤配線被疑箇所の集合Ｕに追加する。
　以上の処理により、全てのファイバは、正しい配線箇所の集合Ｑと誤配線被疑箇所の集合Ｕの集合のいずれかに分類される。
　図１１のフローチャートを参照し、誤配線箇所を特定する処理の一例について説明する。
　ステップＳ６１にて、装置は、誤配線被疑箇所の集合Ｕに含まれるファイバから正しい配線箇所の集合Ｑに含まれるファイバを除いたファイバの集合Ｄを求める。集合Ｄは、誤配線箇所であるか否かを個別に特定する被疑ファイバの集合である。
　装置は集合Ｄに含まれるファイバのそれぞれについてステップＳ６２からステップＳ６７までの処理を実行する。
　ステップＳ６２にて、装置は、集合Ｄの被疑ファイバを含むファイバパスＦｌを求める。具体的には、装置は、ファイバパスの集合ＦＨのなかから、集合Ｄの被疑ファイバを１つ含み、その他の要素が全て正しい配線箇所の集合Ｑに含まれるファイバパスＦｌを求める。上記の条件に合致するファイバパスＦｌが複数存在する場合は、ファイバパスＦｌの確立に必要な総時間ｗｌが最小のものを選択する。上記の条件に合致するファイバパスＦｌが存在しない場合は、被疑ファイバを誤配線被疑箇所の集合Ｕに分類する。
　ステップＳ６３にて、装置は、試験端末５０を制御して、検査対象のファイバパスＦｌの検査を実施する。
　ステップＳ６４にて、装置は、ステップＳ５２で測定した試験光の受信パワーが妥当であるか否か判定する。受信パワーが妥当であるか否かは、２－ホップパス試験と同様に判定できる。
　受信パワーが妥当である場合、ステップＳ６５にて、装置は、被疑ファイバを正しい配線箇所の集合Ｑに追加する。
　受信パワーが妥当でない場合、ステップＳ６６にて、装置は、被疑ファイバを誤配線箇所の集合Ｅに追加する。
　以上の処理により、ファイバが正しい配線箇所の集合Ｑと誤配線箇所の集合Ｅに分類される。
　以上説明したように、本実施形態の誤配線検出装置１は、試験端末５０を制御する試験端末制御部１１と、スイッチそれぞれの内部の接続状態を制御して試験用ファイバパスを確立するスイッチ制御部１２と、想定の物理配線状況に基づいて、試験光が通過するファイバパスを算出する経路計算部１４と、試験用ファイバパスを通過した試験光の受信パワーを測定し、受信パワーに基づいてファイバパス上のファイバの配線状態を分類する検査部１３を備える。経路計算部１４は、試験光が指定のホップ数Ｈのスイッチを通過するファイバパスの集合ＦＨを算出し、ファイバパスの集合ＦＨから全てのファイバの検査をカバーするファイバパスの集合Ｓを求める。検査部１３は、集合Ｓに含まれるファイバパスのそれぞれについて受信パワーを測定し、ファイバパス上のファイバを正しい配線箇所の集合Ｑまたは誤配線被疑箇所の集合Ｕに分類する。経路計算部１４は、誤配線被疑箇所の集合Ｕに分類されたファイバの１つと正しい配線箇所の集合Ｑに分類されたファイバを通過するファイバパスを算出する。検査部１３は、ファイバパスを通過した試験光の受信パワーを測定し、ファイバを正しい配線箇所の集合Ｑまたは誤配線箇所の集合Ｅに分類する。これにより、ＦＳＮにおいて誤配線箇所を検出できる。
　本実施形態の誤配線検出装置１は、ファイバパスのそれぞれについて経路上のスイッチの制御に必要な時間を参照してファイバパスの確立に必要な時間を求め、ファイバパスの確立に必要な時間の合計が短くなるようなファイバパスの集合Ｓを求める。これにより、誤配線箇所の特定に必要な時間を短縮できる。
　本実施形態の誤配線検出装置１は、ファイバパス上のスイッチの挿入損失に基づいて受信パワーを評価するので、精度よく誤配線箇所を特定できる。
　上記説明した誤配線検出装置１には、例えば、図１２に示すような、中央演算処理装置（ＣＰＵ）９０１と、メモリ９０２と、ストレージ９０３と、通信装置９０４と、入力装置９０５と、出力装置９０６とを備える汎用的なコンピュータシステムを用いることができる。このコンピュータシステムにおいて、ＣＰＵ９０１がメモリ９０２上にロードされた所定のプログラムを実行することにより、誤配線検出装置１が実現される。このプログラムは磁気ディスク、光ディスク、半導体メモリなどの、コンピュータが読み取り可能な非一時的な記録媒体に記録することも、ネットワークを介して配信することもできる。
　１　誤配線検出装置
　１１　試験端末制御部
　１２　スイッチ制御部
　１３　検査部
　１４　経路計算部
　１５　経路損失計算部
　１６　トポロジ情報格納部
　１７　保持部
　５０　試験端末

Claims (7)

  1. 　複数のスイッチ間を接続したファイバの誤配線箇所を特定する誤配線検出装置であって、
    　前記スイッチそれぞれの内部の接続状態を制御して経路を確立するスイッチ制御部と、
    　前記経路を通過した試験光の受信パワーを測定する試験端末を制御する試験端末制御部と、
    　想定のファイバ配線状況に基づいて、試験光が前記スイッチと前記ファイバを通過して前記試験端末に到達する経路を算出する経路計算部と、
    　前記経路へ試験光を入力して前記試験端末が受信する前記試験光の受信パワーを測定し、当該受信パワーに基づいて前記経路上のファイバの配線状態を分類する検査部と、を備え、
    　前記経路計算部は、全てのファイバの検査をカバーする複数の経路を算出し、
    　前記検査部は、前記複数の経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、当該経路上のファイバを正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、当該経路上のファイバを誤配線被疑箇所に分類し、
    　前記経路計算部は、前記誤配線被疑箇所に分類された被疑ファイバのそれぞれについて、前記被疑ファイバの１つと前記正しい配線箇所に分類されたファイバを通過する被疑ファイバ経路を算出し、
    　前記検査部は、前記被疑ファイバ経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、前記被疑ファイバを前記正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、前記被疑ファイバを誤配線箇所に分類する
    　誤配線検出装置。
  2. 　請求項１に記載の誤配線検出装置であって、
    　前記経路計算部は、前記試験光が指定のホップ数のスイッチを通過する経路を算出する
    　誤配線検出装置。
  3. 　請求項１に記載の誤配線検出装置であって、
    　前記経路計算部は、前記経路のそれぞれについて前記経路上のスイッチの制御に必要な時間を参照して前記経路の確立に必要な時間を求め、前記経路の確立に必要な時間の合計が短くなるような組み合わせの前記複数の経路を算出する
    　誤配線検出装置。
  4. 　請求項１に記載の誤配線検出装置であって、
    　前記検査部は、経路上のスイッチの挿入損失に基づく基準を用いてファイバを分類する
    　誤配線検出装置。
  5. 　複数のスイッチ間を接続したファイバの誤配線箇所を特定する誤配線検出方法であって、
    　コンピュータが、
    　前記スイッチそれぞれの内部の接続状態を制御して経路を確立するステップと、
    　前記経路を通過した試験光の受信パワーを測定する試験端末を制御するステップと、
    　想定のファイバ配線状況に基づいて、試験光が前記複数のスイッチと前記ファイバを通過して前記試験端末に到達する経路を算出するステップと、
    　前記経路へ試験光を入力して前記試験端末が受信する前記試験光の受信パワーを測定し、当該受信パワーに基づいて前記経路上のファイバの配線状態を分類するステップと、を有し、
    　前記経路を算出するステップでは、全てのファイバの検査をカバーする複数の経路を算出し、
    　前記分類するステップでは、前記複数の経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、当該経路上のファイバを正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、当該経路上のファイバを誤配線被疑箇所に分類し、
    　前記誤配線被疑箇所に分類された被疑ファイバのそれぞれについて、前記被疑ファイバの１つと前記正しい配線箇所に分類されたファイバを通過する被疑ファイバ経路を算出するステップと、
    　前記被疑ファイバ経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、前記被疑ファイバを前記正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、前記被疑ファイバを誤配線箇所に分類するステップと、を有する
    　誤配線検出方法。
  6. 　複数のスイッチ間を接続したファイバの誤配線箇所を特定する誤配線検出システムであって、
    　試験端末と誤配線検出装置を備え、
    　前記誤配線検出装置は、
    　前記スイッチそれぞれの内部の接続状態を制御して経路を確立するスイッチ制御部と、
    　前記経路を通過した試験光の受信パワーを測定する試験端末を制御する試験端末制御部と、
    　想定のファイバ配線状況に基づいて、試験光が前記スイッチと前記ファイバを通過して前記試験端末に到達する経路を算出する経路計算部と、
    　前記経路へ試験光を入力して前記試験端末が受信する前記試験光の受信パワーを測定し、当該受信パワーに基づいて前記経路上のファイバの配線状態を分類する検査部と、を備え、
    　前記経路計算部は、全てのファイバの検査をカバーする複数の経路を算出し、
    　前記検査部は、前記複数の経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、当該経路上のファイバを正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、当該経路上のファイバを誤配線被疑箇所に分類し、
    　前記経路計算部は、前記誤配線被疑箇所に分類された被疑ファイバのそれぞれについて、前記被疑ファイバの１つと前記正しい配線箇所に分類されたファイバを通過する被疑ファイバ経路を算出し、
    　前記検査部は、前記被疑ファイバ経路のそれぞれについて前記受信パワーを測定し、前記受信パワーが基準を満たす場合は、前記被疑ファイバを前記正しい配線箇所に分類し、前記受信パワーが基準を満たさない場合は、前記被疑ファイバを誤配線箇所に分類する
    　誤配線検出システム。
  7. 　請求項１ないし４のいずれかに記載の誤配線検出装置の各部としてコンピュータを動作させるプログラム。
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