WO2024150351A1 - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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- WO2024150351A1 WO2024150351A1 PCT/JP2023/000514 JP2023000514W WO2024150351A1 WO 2024150351 A1 WO2024150351 A1 WO 2024150351A1 JP 2023000514 W JP2023000514 W JP 2023000514W WO 2024150351 A1 WO2024150351 A1 WO 2024150351A1
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- image data
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
Definitions
- the present invention relates to an inspection device and an inspection method.
- Patent Document 1 discloses a configuration in which, after components are mounted on a board as a board-to-board operation, the board is imaged and, based on the acquired image data, it is determined whether the mounting state of the components (position, angle, etc.) is within an appropriate range, thereby inspecting the quality of the board.
- the causes of a board becoming defective after board-to-board processing can include not only the quality of the board-to-board processing performed on the defective area, but also the effects of the board-to-board processing on the area around the defective area and the effects of board transportation. Therefore, even if it is possible to simply detect that a board is defective, it is not easy to identify appropriate improvements that correspond to the cause.
- the purpose of this specification is to provide an inspection device and an inspection method that can assist in identifying the cause of defects by recognizing changes in the state of the inspection target when a specified substrate-related operation is performed after the inspection target component is mounted on the substrate.
- an inspection device that includes a storage unit that stores reference image data acquired by imaging an inspection area set to include a component mounted on a board by a first work machine as an inspection target, and inspection image data acquired by imaging the inspection area after a predetermined board-related operation is performed on the board outside the inspection area, and a recognition unit that recognizes a change in the state of the inspection target due to the board-related operation based on the reference image data and the inspection image data.
- This specification discloses an inspection method that includes a storage step of storing reference image data acquired by imaging an inspection area set to include a component mounted on a board by a first work machine as an inspection target, and inspection image data acquired by imaging the inspection area after a predetermined board-related operation is performed on the board outside the inspection area, and a recognition step of recognizing a change in the state of the inspection target due to the board-related operation based on the reference image data and the inspection image data.
- FIG. 1 is a schematic diagram showing a production system to which an inspection device is applied.
- FIG. 2 is a plan view showing a schematic diagram of the component mounting machine;
- FIG. 2 is a block diagram showing a component mounting machine.
- FIG. 2 is an explanatory diagram showing a first aspect of an acquisition pattern of each image data.
- FIG. 11 is an explanatory diagram showing a second aspect of the acquisition pattern of each image data.
- FIG. 13 is an explanatory diagram showing a third example of the acquisition pattern of each image data.
- 11A and 11B are diagrams showing a comparison between reference image data and inspection image data, with inspection objects and inspection areas noted thereon;
- FIG. 8 is an enlarged view showing range VIII of the reference image data and the inspection image data in FIG. 7 superimposed thereon.
- FIG. 10 is a flowchart showing steps related to an inspection process in the production process of a product substrate.
- FIG. 13 is a diagram showing an analysis result of an inspection performed by an inspection device.
- the inspection device inspects the quality of boards that have undergone a specified substrate-related operation during the production of product boards.
- an example is shown in which the inspection device is applied to a production system Sy that includes a component mounting machine 2 as a substrate-related operation machine.
- the production line Ln is equipped with a printer 1 as a number of substrate-related work machines, a number of component mounting machines 2, a reflow furnace 3, and an inspection machine 4.
- the printer 1 prints solder paste at the component mounting positions on the board 91 that has been brought in.
- Each of the multiple component mounting machines 2 mounts components on the board 91 transported from the upstream side of the production line Ln. The configuration of the component mounting machine 2 will be described later.
- the reflow furnace 3 heats the board 91 transported from the upstream side of the production line Ln to melt the solder on the board 91 and perform soldering.
- the inspection machine 4 inspects whether the appearance or function of the product boards produced by the production line Ln is normal.
- the component mounting machine 2 includes a board transport device 11.
- the board transport device 11 sequentially transports the board 91 in a transport direction and positions the board 91 at a predetermined position within the machine. After the mounting process of components on the board 91 is completed, the board transport device 11 takes the board 91 out of the machine.
- a transport operation which is a type of work for boards, is performed by the board transport device 11 of the component mounting machine 2 and other board transport devices arranged upstream or downstream of the component mounting machine 2 on the production line Ln.
- the component mounting machine 2 includes a component supplying device 12.
- the component supplying device 12 supplies components to be mounted on the board 91.
- the component supplying device 12 is equipped with a feeder 122 for each of a plurality of slots 121.
- a tape feeder that feeds and moves a carrier tape containing a large number of components to supply the components so that they can be picked is used as the feeder 122.
- a bulk feeder, a stick feeder, or the like may be used as the feeder 122.
- the component mounting machine 2 includes a component transfer device 13.
- the component transfer device 13 transfers the components supplied by the component supply device 12 to predetermined mounting positions on the board 91.
- the component transfer device 13 includes a head drive device 131, a movable stage 132, and a mounting head 133.
- the head drive device 131 moves the movable stage 132 in horizontal directions (X direction and Y direction) by a linear motion mechanism.
- the mounting head 133 is detachably fixed to the movable stage 132 by a clamp member (not shown), and is provided so as to be movable horizontally within the machine.
- the mounting head 133 supports multiple suction nozzles 134 so that they can rotate around a central axis (Q axis) and can be raised and lowered.
- the mounting head 133 is equipped with a lifting device (not shown) that raises and lowers the suction nozzles 134.
- the mounting head 133 controls the lifting device to move the suction nozzles 134 to a predetermined height (Z direction position) at a predetermined speed (or acceleration).
- the suction nozzles 134 are holding members that pick up and hold components supplied by the feeder 122.
- the suction nozzles 134 use the supplied negative pressure air to pick up the components supplied by the feeder 122.
- the mounting head 133 has an air supply circuit formed therein that connects the air supply source to the air passages formed inside each suction nozzle 134.
- the mounting head 133 also has a valve device provided in the air supply circuit that switches the communication state of each air passage.
- the above communication states include a state in which negative pressure air or positive pressure air is supplied to the suction nozzle 134, and a state in which the air passage is at atmospheric pressure.
- the air supply circuit of the mounting head 133 is provided with, for example, a regulator valve, which reduces the negative and positive pressure air to a specified pressure (closer to atmospheric pressure), enabling a stable air supply.
- the air supply circuit is also provided with an adjustment device, such as a regulator valve, which further reduces the negative and positive pressure air from the specified pressure.
- the component mounting machine 2 includes a component camera 14 and a board camera 15.
- the component camera 14 and the board camera 15 are digital imaging devices having imaging elements such as CMOS.
- the component camera 14 and the board camera 15 capture images based on a control signal and send image data acquired by the capture.
- the component camera 14 is configured to be able to capture an image of the component held by the suction nozzle 134 from below.
- the board camera 15 is mounted on the movable stage 132 so as to be movable horizontally integrally with the mounting head 133.
- the board camera 15 is configured to be able to image the board 91 from above, and is used to image the reference marks on the board 91.
- the board camera 15 can also image various devices within a predetermined range on the surface of the board 91, or within the movable range of the movable stage 132.
- the board camera 15 can image solder as a bonding material printed on the board 91, or components mounted on the board 91.
- Nozzle station 16 The nozzle station 16 is provided inside the component mounting machine 2.
- the nozzle station 16 detachably holds a plurality of suction nozzles 134. In a process of replacing the suction nozzle 134, the nozzle station 16 holds the suction nozzle 134 removed from the mounting head 133, and also removably holds another suction nozzle 134.
- the component mounting machine 2 is configured to automatically replace the suction nozzle 134 in accordance with the type of electronic component to be mounted during execution of the mounting process.
- the component mounting machine 2 includes a control device 20.
- the control device 20 is mainly composed of a CPU, various memories, and a control circuit.
- the control device 20 controls the operation of the component transfer device 13 based on the control program M1 and preset mounting conditions. This controls the position and angle of the suction nozzle 134 held by the mounting head 133.
- the height of the suction nozzle 134 and the pressure of the negative pressure air and positive pressure air supplied to the suction nozzle 134 are adjusted by the operation of the lifting device and valve device of the mounting head 133.
- the above mounting process includes a process of repeating a PP cycle (pick-and-place cycle), which includes a collection cycle and a mounting cycle, multiple times.
- the above “collection cycle” refers to a process of repeating a collection operation, in which the suction nozzle 134 picks up components supplied by the component supply device 12, multiple times.
- the above “mounting cycle” refers to a process of repeating a collection operation, in which the collected components are mounted at a predetermined mounting position (hereinafter, "target position Pt") on the board 91 at a predetermined mounting angle (hereinafter, “target angle At”) multiple times.
- the control program M1 (see FIG. 9) is optimized in advance and the execution order is preset so that a PP cycle consisting of multiple picking and mounting operations grouped together in consideration of the number of suction nozzles 134 supported by the mounting head 133 and the travel distance of the mounting head 133 can be efficiently executed.
- the above mounting operations are considered to perform mounting work, which is a type of substrate-related work.
- Inspection device 80 In a production line Ln consisting of a plurality of substrate-related operation machines including the component mounting machine 2 as described above, for example, a defective product board may be detected by an inspection machine 4 that inspects the appearance or function of the produced product board.
- the inspection machine 4 judges a product board to be defective when the actual mounting position or mounting angle of a specific component is not within an allowable range for the target position Pt or target angle. Possible causes of the defect include an accidental component holding error that occurs when mounting the specific component, or an error in image processing that recognizes the state of the component being held by the suction nozzle 134.
- causes of defects may include not only the quality of the work performed on the substrate at the defective portion as described above, but also the effects of the work performed on the substrate around the defective portion and the effects of substrate transportation.
- one possible cause is that when attaching another component around the defective portion, the suction nozzle 134 holding the other component may come into contact with the component already attached, or the positive pressure air supplied when the suction nozzle 134 is detached from the other component may affect the already attached component. Therefore, even if the inspection machine 4 can detect a defective product substrate, it is not necessarily possible to identify the cause, and as a result, it is not easy to identify appropriate improvements to address the cause.
- the production system Sy of this embodiment therefore employs a configuration that inspects the board 91 on which substrate-related work has been performed, and assists in identifying the cause of defects.
- the production line Ln is equipped with an inspection device 80 that is independent of the inspection machine 4 that constitutes the production line Ln.
- the inspection device 80 is incorporated into the host computer 70. The inspection device 80 inspects whether one of the multiple components mounted on the board 91, which has been set as an inspection target Bi, has gone from a proper state to a defective state due to the influence of substrate-related work performed after the component was mounted, during the production of the product boards on the production line Ln.
- Storage unit 81 3 the inspection device 80 includes a storage unit 81.
- the storage unit 81 stores a control program M1, nozzle data M2, component data M3, mounting condition data M4, transport condition data M5, and skip information M6.
- the nozzle data M2 indicates information associated with the type or identification information (ID) of the suction nozzle 134.
- ID the type or identification information
- the nozzle data M2 indicates the range of the suction nozzle 134 (the range of types and dimensions of components that can be picked up), the shape and outside dimensions (outer diameter) of the main body shaft, and the inner shape (corresponding to the opening shape) and opening dimensions (inner diameter) of the air passage.
- Component data M3 indicates information associated with the type of component.
- component data M3 indicates shape information (external shape and dimensions), mass, reference position, etc. of the component.
- the "reference position" of the component is set in advance as a position suitable for suction with which the central axis Q of the suction nozzle 134 should coincide when the suction nozzle 134 picks up the component; for example, if the suction surface is flat, it is the center of the component.
- the mounting condition data M4 indicates mounting conditions related to the mounting operation.
- the mounting condition data M4 is included in the component data M3 because each mounting information is associated with a type of component.
- the mounting condition data M4 includes the pressure of the positive air supplied when removing the component from the suction nozzle 134 during the mounting operation, and the movement amount and movement speed of the suction nozzle 134.
- the movement amount of the suction nozzle 134 corresponds to the amount by which the main shaft portion of the suction nozzle 134 is lowered from the initial height during the mounting operation.
- the movement speed of the suction nozzle 134 is specified as the maximum speed during descent, and in addition to or instead of this, a maximum acceleration may be specified.
- the transport condition data M5 indicates transport conditions related to the transport operation.
- the transport condition data M5 includes, for example, a transport speed set for each type of product board.
- the transport speed of the board 91 is specified as the maximum speed during transport, and in addition to or instead of this, a maximum acceleration may be specified.
- the transport speed may be set to decrease from the upstream side to the downstream side of the production line Ln, taking into account not only the type of product board, but also the mass of the mounted parts and changes over time in the tack force due to the bonding material.
- the skip information M6 is information that is generated or edited by the inspection device 80.
- the skip information M6 indicates whether or not to skip the work (such as mounting processing) that is scheduled to be performed on a board 91 that has been determined to be defective in the inspection process by the inspection device 80 after the inspection.
- the skip information M6 for example, the skip setting is recorded in association with the identification information (ID) of the defective board 91.
- the control device 20 of the component mounting machine 2 reads the code attached to the board 91 brought into the machine and obtains the identification information (ID), and then queries the host computer 70 as to whether or not to subject the board to mounting processing. Based on the skip information M6, the host computer 70 responds to the control device 20 as to whether to execute or skip the mounting process. This causes the control device 20 to not execute the mounting operation on the defective board, and to transport the board 91 out of the machine.
- ID identification information
- the memory unit 81 also stores reference image data Ds and inspection image data Di used in the inspection process.
- reference image data Ds refers to image data acquired by imaging an inspection area Ri set to include an inspection target Bi, which is a component mounted on a board 91 by a first work machine Wm1, which is one of the multiple board-related work machines that make up the production line Ln.
- the work of mounting a component that is the inspection target Bi by the first work machine Wm1 is also referred to as “target work” below.
- substrate-related operation outside the inspection area Ri in which the components of the inspection target Bi are mounted and which may affect the inspection target Bi will be referred to as “specific operation” below for convenience.
- Specific operation includes, as substrate-related operation performed within a predetermined range from the inspection area Ri, for example, a mounting operation in which the inspection target Bi is an adjacent component (a component mounted within a specified distance from the target position Pt) and a substrate transport operation at a predetermined speed or faster. The setting of the inspection target Bi and the inspection area Ri will be described later.
- the above-mentioned reference image data Ds and inspection image data Di are acquired by imaging using a camera provided on the substrate-related work machine, for example, the substrate camera 15 of the component mounting machine 2, and are sent to the host computer 70 and stored in the memory unit 81.
- the image data acquisition pattern is selected according to the purpose of the inspection process and the priority items in production (for example, production efficiency and accuracy).
- the substrate-related work machine (first work machine Wm1) that performs the target work performs the specific work and further acquires reference image data Ds and inspection image data Di.
- the first work machine Wm1 images the inspection area Ri after performing the target work and acquires reference image data Ds.
- the first work machine Wm1 images the inspection area Ri after performing the specific work and acquires inspection image data Di.
- each operation can be consolidated and completed by the first work machine Wm1.
- a substrate-related work machine (second work machine Wm2) that is located downstream of the substrate-related work machine (first work machine Wm1) that performs the target work performs a specific task on the production line Ln, and further acquires reference image data Ds and inspection image data Di.
- the second work machine Wm2 performs the specific task after capturing an image of the inspection area Ri to obtain reference image data Ds, and then captures an image of the inspection area Ri after the specific task is performed to obtain inspection image data Di.
- the mounting state immediately before and after the specific task is performed can be compared in the inspection process, and any influence other than that caused by the specific task can be eliminated.
- the third aspect of the image data acquisition pattern is that, for at least one of the substrate-related work machines (first work machine Wm1) performing the target work and the machine immediately preceding the second work machine Wm2 (the substrate-related work machine located one machine upstream of the second work machine Wm2 on the production line Ln), an image of the inspection area Ri is captured to acquire reference image data Ds after the inspection object Bi is attached by the first work machine Wm1.
- the second work machine Wm2 captures the inspection area Ri after the specific work is performed to obtain the inspection image data Di.
- the reference image data Ds can be acquired at an appropriate timing after the target work is performed, so that, for example, a substrate-related work machine with a relatively light load on the production line Ln can be in charge of the imaging process.
- the inspection device 80 includes a recognition unit 82.
- the recognition unit 82 recognizes a change in state of the inspection object Bi due to a substrate-related operation as a specific operation, based on the reference image data Ds and the inspection image data Di.
- the change in state recognized by the recognition unit 82 includes changes in the position and angle of the inspection object Bi.
- the recognition unit 82 calculates the amount of change Np in the mounting position (Pc1 ⁇ Pc2) of the test object Bi, and the amount of change Na in the mounting angle (Ac1 ⁇ Ac2). This allows the recognition unit 82 to obtain the amount of change Np in position and the amount of change Na in angle of the test object Bi before and after the performance of the specific task, rather than the amount of change Pt and the target angle At. This amount of change Np in position and the amount of change Na in angle indicate the effect of the specific task.
- the inspection image data Di is reacquired by imaging the inspection area Ri. Then, after performing a recognition process to recognize a change in the state of the inspection object Bi, the recognition unit 82 performs the recognition process again when a subsequent specific task, a predetermined task on a substrate, is performed.
- the reference image data Ds may be updated with the image data acquired by re-imaging the inspection area Ri. Specifically, the reference image data Ds may be updated by re-imaging to acquire the reference image data Ds, or the inspection image data Di used in the previous recognition process may be used as the reference image data Ds in the re-recognition process.
- the recognition unit 82 may also execute the above-mentioned re-recognition process when, for example, a predetermined period of time has passed since the previous recognition process was executed, in addition to being triggered by the execution of another specific task. This makes it possible to monitor whether the mounting position Pc and mounting angle Ac of the inspection object Bi are within the allowable range, taking into account the effects of vibrations applied to the board 91 and changes in the tack force of the bonding material, and to recognize in which process the position change amount Np or angle change amount Na has increased if they fall outside the allowable range.
- the inspection device 80 includes a judgment unit 83.
- the judgment unit 83 judges whether the mounting state of the inspection object Bi is good or bad based on the magnitude of the state change (e.g., the position change amount Np, the angle change amount Na) recognized by the recognition unit 82. Specifically, the judgment unit 83 judges that the mounting state of the inspection object Bi is bad when at least one of the position change amount Np and the angle change amount Na exceeds a preset threshold value.
- the judgment unit 83 may measure the degree to which the actual mounting position Pc1 and mounting angle Ac1 of the test object Bi in the reference image data Ds deviate from the target position Pt and target angle At, respectively, and judge the quality of the mounting condition based on this amount of deviation. Furthermore, the judgment unit 83 may determine and record the degree of the judgment result (good or bad) regardless of the results of the judgment based on the amount of change in state and the judgment based on the amount of deviation. The judgment unit 83 may also set the threshold value used in the judgment based on the amount of change in state to a smaller value as the amount of deviation increases.
- Error handling unit 84 3 the inspection device 80 includes an error handling unit 84.
- the error handling unit 84 handles an error when the determination unit 83 determines that the mounting state of the inspection object Bi is poor.
- the error handling includes, for example, notifying the operator of the determination result by the determination unit 83 by indicating the inspection object Bi or the inspection area Ri, or setting to skip a substrate-related operation scheduled to be performed on the substrate 91 on which the inspection object Bi is mounted.
- the error handling unit 84 when the determination unit 83 determines that the mounting state is defective, notifies the operator by displaying error information regarding the position and component type of the inspection target Bi on the board 91, as well as error information regarding the mounting operation of other components adjacent to the inspection target Bi, on the display device of the substrate-related work machine or host computer 70, or on a display terminal carried by the operator. At this time, the error handling unit 84 temporarily suspends the execution of substrate-related work on the defective board and waits until the operator inputs an instruction to resume, etc.
- the error handling unit 84 may associate a skip setting with the identification information (ID) of the defective board and record it in the skip information M6.
- the error handling unit 84 may associate the mounting position Pc2, mounting angle Ac2, position change amount Np, and angle change amount Na of the inspection target Bi after the specific task is performed as additional information with the identification information (ID) of the defective board and record it.
- the inspection device 80 includes an analysis unit 85.
- the analysis unit 85 recognizes the state change of the inspection target Bi mounted in the same inspection area Ri set for each of the multiple boards 91 by the recognition unit 82, and acquires the tendency of the state change based on the result of the recognition.
- the components that are the inspection target Bi are mounted on the same target position Pt on the multiple boards 91 that are different from each other. Even if the inspection target Bi is mounted under the same mounting conditions, the occurrence frequency of defective boards may vary.
- the analysis unit 85 determines how the amount of position change Np recognized by the recognition unit 82 as the magnitude of the state change of the inspection object is changing, for example, as shown in FIG. 11. As shown by the change line L1 in FIG. 11, the analysis unit 85 may recognize that the amount of position change Np as the state change amount has not exceeded the threshold value, but has been increasing over the most recent predetermined number of production runs. In this case, the analysis unit 85 determines that the time for maintenance is approaching, for example, because a component used in substrate-related work is approaching malfunction due to changes over time.
- the analysis unit 85 may recognize that, as shown by the transition line L2 in FIG. 11, the amount of position change Np as a state change amount increases and decreases repeatedly and exceeds the threshold value at irregular intervals, but there is no significant change in the average value for each predetermined section. In this case, the analysis unit 85 may determine that, as an example, a review of the mounting conditions, transport conditions, and type of material (e.g., suction nozzle 134) used in the mounting operation is necessary, for example, because a defect may occur accidentally when multiple factors affect the mounting operation in a combined manner.
- a review of the mounting conditions, transport conditions, and type of material e.g., suction nozzle 134
- the analysis unit 85 changes the work conditions for substrate-related work based on the acquired trend in state change, or notifies the worker of the trend in state change and to change the work conditions. For example, when the analysis unit 85 recognizes a trend in state change determined from the progression line L1, it notifies the worker that the time for maintenance is approaching. Furthermore, for example, when the component requiring maintenance is the suction nozzle 134 and a spare suction nozzle 134 is housed in the nozzle station 16, the analysis unit 85 may change the nozzle data M2 to replace it.
- the analysis unit 85 when the analysis unit 85 recognizes a state change trend calculated from the transition line L2, it changes the work conditions such as the mounting conditions, or notifies the worker. Examples of changes to the work conditions include reducing the pressure of the positive air supplied during the mounting operation in which the inspection target Bi is an adjacent component, changing the type of suction nozzle 134 or bonding material used, and changing the mounting order of the inspection target Bi and its surrounding components.
- the analysis unit 85 may perform analysis based on the change trend of the angle change amount Na, the change trend of the deviation between the target position Pt and the mounting position Pc1, and the change trend of the deviation between the target angle A and the mounting angle Ac1, in addition to the change trend of the position change amount Np.
- the inspection device 80 recognizes changes in the state of the inspection object Bi and performs inspection based on the reference image data Ds and the inspection image data Di acquired by imaging the inspection area Ri including the inspection object Bi.
- the above-mentioned inspection object Bi can be arbitrarily set by the operator, and multiple inspection objects Bi may be set on the same board 91.
- Inspection object Bi is set to a component, among multiple components mounted on board 91, that is likely to undergo a change in state due to the influence of a board-related operation (specific operation) performed after mounting on board 91.
- inspection object Bi is set based on, for example, at least one of the outer dimensions of component 92, the type of bonding material used to bond component 92 to board 91, and the bonding area between board 91 and component 92 through the bonding material.
- Inspection area Ri is set based on the outer dimensions of component 92 and the field of view of the camera used for imaging processing (board camera 15 in this embodiment).
- the inspection object Bi and the inspection area Ri are set in advance in the control program M1 used to control the work on the substrate, or in the component data M3 including the external shape information and mounting conditions of the inspection object Bi. Specifically, as shown in FIG. 9, in the component data M3, when " ⁇ " is set for whether or not inspection is required, the inspection object Bi is set. At this time, the inspection area Ri is set to an area larger than the inspection object Bi and smaller than the camera's field of view if the entire inspection object Bi can be captured in the camera's field of view in a single image capture.
- the inspection device 80 suppresses a decrease in productivity by performing an inspection process when a specific task corresponding to the inspection area Ri is performed.
- the inspection device 80 sets a specified range Rp that serves as a criterion for whether or not an operation corresponds to a specific task.
- the specified range Rp is a range within a specified distance Tp from the outer periphery of the inspection area Ri, as shown in FIG. 7.
- Substrate-related tasks that are at least partially included in this specified range Rp are considered to be the above-mentioned specific tasks.
- the predetermined range Rp may be set based on at least one of the outer dimensions of the holding member (suction nozzle 134) used to hold the component 92 during the mounting operation and the pressure of the positive air supplied when the holding member (suction nozzle 134) is detached from the component 92 after mounting.
- the inspection device 80 refers to various data and sets the predetermined range Rp (or the specified distance Tp) based on the outer dimensions and the pressure of the positive air in addition to the execution position of the mounting operation when there is a possibility that the suction nozzle 134 may interfere with the mounting operation around the inspection target Bi or that it may be affected by leaked positive air.
- the predetermined range Rp is a mounting condition related to the mounting operation, and may be set based on at least one of the movement amount and movement speed of the holding member (suction nozzle 134) used to hold component 92 during the mounting operation.
- the holding member suction nozzle 1344 used to hold component 92 during the mounting operation.
- vibrations may occur in the board 91.
- the inspection device 80 therefore refers to various data and sets a predetermined range Rp (or specified distance Tp) based on the movement amount and movement speed of the suction nozzle 134 when there is a possibility that the mounting operation around the inspection object Bi may cause vibrations to be applied to the board 91, thereby changing the mounting state of the inspection object Bi.
- a predetermined range Rp set as described above, for example, for one inspection object Bi, it may be determined that multiple specific tasks are to be performed depending on the mounting operation performed around it.
- Inspection process (inspection method) by the inspection device 80 The inspection process applied to the production process of the product substrate by the production line Ln will be described with reference to Fig. 10. Before or during the production process of the product substrate, the inspection device 80 pre-reads various data such as the control program M1, nozzle data M2, component data M3, mounting condition data M4, and transport condition data M5, and acquires the inspection object Bi and the inspection area Ri (S11).
- the inspection device 80 certifies the specific work performed for each of the multiple inspection objects Bi (S12). Specifically, the inspection device 80 certifies that the work performed on the substrate around the inspection area Ri is specific work when it is outside the inspection area Ri and within a predetermined range Rp, or when it is a transport operation of the substrate 91 at a predetermined speed or faster.
- the inspection device 80 sets the imaging timing for acquiring the reference image data Ds and the inspection image data Di (S13). Specifically, the inspection device 80 designates a substrate-related operation machine that performs imaging processing for the inspection area Ri on the production line Ln based on the mounting time of the inspection object Bi, the execution time of each specific operation, and a preset image data acquisition pattern, and sets the timing for performing the imaging processing on the substrate-related operation machine.
- the storage unit 81 stores the reference image data Ds and the inspection image data Di sent from the substrate-related processing machine (S14: storage step).
- the storage unit 81 stores the pair of reference image data Ds and the inspection image data Di in association with at least one of the inspection object Bi and the inspection area Ri.
- the recognition unit 82 executes a recognition process based on the reference image data Ds and the inspection image data Di (S15: recognition step). This recognizes the state change of the inspection object Bi during the different imaging timing periods.
- the recognition unit 82 stores the position change amount Np and the angle change amount Na, which are the magnitude of the recognized state change, in association with the inspection object Bi.
- the judgment unit 83 judges whether the wearing condition of the test object Bi is good or bad based on the result of the recognition process (S15) (S16: judgment step).
- the judgment unit 83 compares the position change amount Np with a preset position threshold value, and also compares the angle change amount Na with a threshold value for the angle, and judges that the wearing condition is proper if neither exceeds the threshold value (S16: Yes). On the other hand, if at least one exceeds the threshold value (S16: No), it judges that the wearing condition is poor (changed from proper to poor).
- the error handling unit 84 executes a predetermined error handling procedure (S17: error handling step). As a preset error handling procedure, the error handling unit 84 notifies the judgment result, temporarily stops the production process, or sets the subsequent work on the defective board to be skipped.
- the analysis unit 85 executes an analysis process to obtain a trend of state change based on the results of the recognition process when the inspection process is executed multiple times on multiple different boards 91 (S18: analysis step). For example, when the number of executions of the inspection process reaches a predetermined number, the analysis unit 85 may change the work conditions based on the analysis results or notify the worker.
- the inspection device 80 is configured to be incorporated in the host computer 70. However, at least a part of the components 81-85 constituting the inspection device 80 may be provided outside the host computer 70. For example, a part of the inspection device 80 may be incorporated in the control device 20 of the substrate-related operation machine or a dedicated external device. Accordingly, the various data M1-M6 are stored in a storage device accessible by the inspection device 80.
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Abstract
検査装置は、第一作業機により基板に装着された部品を検査対象として当該検査対象を含むように設定された検査領域を撮像して取得された基準画像データ、および基板のうち検査領域の外部に所定の対基板作業が実行された後に検査領域を撮像して取得した検査画像データを記憶する記憶部と、基準画像データおよび検査画像データに基づいて、対基板作業による検査対象の状態変化を認識する認識部と、を備える。
Description
本発明は、検査装置および検査方法に関するものである。
検査装置は、製品基板の生産において所定の対基板作業を実行された基板の良否を検査する。特許文献1には、対基板作業として基板に部品が装着された後に、基板を撮像して取得された画像データに基づいて、部品の装着状態(位置や角度など)が適正な範囲内にあるかを判定し、これにより基板の良否を検査する構成が開示されている。
しかしながら、対基板作業を実行された基板が不良となる原因には、不良部位に対する対基板作業の良否のみならず、不良部位の周辺に対する対基板作業の影響や基板搬送の影響が含まれ得る。そのため、単に基板が不良であることを検出できたとしても原因に対応した適切な改良点を特定することは容易でない。
本明細書は、検査対象の部品が基板に装着された後に所定の対基板作業が実行された場合に検査対象の状態変化を認識することにより、不良の原因の特定を支援することができる検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
本明細書は、第一作業機により基板に装着された部品を検査対象として当該検査対象を含むように設定された検査領域を撮像して取得された基準画像データ、および前記基板のうち前記検査領域の外部に所定の対基板作業が実行された後に前記検査領域を撮像して取得した検査画像データを記憶する記憶部と、前記基準画像データおよび前記検査画像データに基づいて、前記対基板作業による前記検査対象の状態変化を認識する認識部と、を備える検査装置を開示する。
本明細書は、第一作業機により基板に装着された部品を検査対象として当該検査対象を含むように設定された検査領域を撮像して取得された基準画像データ、および前記基板のうち前記検査領域の外部に所定の対基板作業が実行された後に前記検査領域を撮像して取得した検査画像データを記憶する記憶ステップと、前記基準画像データおよび前記検査画像データに基づいて、前記対基板作業による前記検査対象の状態変化を認識する認識ステップと、を備える検査方法を開示する。
本明細書では、出願当初の請求項6において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-5の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想や、出願当初の請求項7において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-6の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想も開示されている。また、本明細書では、出願当初の請求項8において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-7の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想や、出願当初の請求項10において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-9の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想も開示されている。
また、本明細書では、出願当初の請求項11において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-10の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想や、出願当初の請求項12において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-11の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想も開示されている。また、本明細書では、出願当初の請求項13において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-12の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想や、出願当初の請求項15において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-14の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想も開示されている。
また、本明細書では、出願当初の請求項11において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-10の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想や、出願当初の請求項12において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-11の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想も開示されている。また、本明細書では、出願当初の請求項13において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-12の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想や、出願当初の請求項15において「請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置」を「請求項1-14の何れか一項に記載の検査装置」に変更した技術的思想も開示されている。
このような構成によると、検査対象の部品が基板に装着された後に所定の対基板作業が実行された場合に検査対象の状態変化を認識するので、基板が不良と判定された場合に、不良の原因の特定を支援することができる。
検査装置は、製品基板の生産において所定の対基板作業を実行された基板の良否を検査する。本実施形態において、対基板作業機としての部品装着機2が構成する生産システムSyに検査装置が適用された態様を例示する。
1.生産ラインLnの構成
上記の部品装着機2は、装着処理を所定の対基板作業として実行する対基板作業機である。生産ラインLnは、図1に示すように、複数の対基板作業機を基板91の搬送方向に複数設置して構成される。複数の対基板作業機のそれぞれは、生産ラインLnを統括して制御するホストコンピュータ70に通信可能に接続される。
上記の部品装着機2は、装着処理を所定の対基板作業として実行する対基板作業機である。生産ラインLnは、図1に示すように、複数の対基板作業機を基板91の搬送方向に複数設置して構成される。複数の対基板作業機のそれぞれは、生産ラインLnを統括して制御するホストコンピュータ70に通信可能に接続される。
生産ラインLnは、複数の対基板作業機としての印刷機1、複数の部品装着機2、リフロー炉3、および検査機4を備える。印刷機1は、搬入された基板91における部品の装着位置にペースト状のはんだを印刷する。複数の部品装着機2のそれぞれは、生産ラインLnの上流側から搬送された基板91に部品を装着する。部品装着機2の構成については後述する。リフロー炉3は、生産ラインLnの上流側から搬送された基板91を加熱して、基板91上のはんだを溶融させてはんだ付けを行う。検査機4は、生産ラインLnにより生産された製品基板の外観または機能が正常であるか否かを検査する。
本実施形態において、製品基板の工場には、複数の生産ラインLn(Ln1,Ln2,・・)が構成されていてもよい。なお、複数の生産ラインLnのそれぞれは、例えば生産する製品基板の種類などに応じて、その構成を適宜追加、変更され得る。具体的には、複数の生産ラインLnには、搬送される基板91を一時的に保持するバッファ装置や基板供給装置や基板反転装置、各種検査装置、シールド装着装置、接着剤塗布装置、紫外線照射装置などの対基板作業機が適宜設置され得る。
2.部品装着機2の構成
2-1.基板搬送装置11
部品装着機2は、図2に示すように、基板搬送装置11を備える。基板搬送装置11は、基板91を搬送方向へと順次搬送するとともに、基板91を機内の所定位置に位置決めする。基板搬送装置11は、基板91に対する部品の装着処理が終了した後に、基板91を機外に搬出する。本明細書において、部品装着機2の基板搬送装置11、および生産ラインLnにおいて部品装着機2の上流側または下流側に配置された他の基板搬送装置により、対基板作業の一種である搬送作業がなされる。
2-1.基板搬送装置11
部品装着機2は、図2に示すように、基板搬送装置11を備える。基板搬送装置11は、基板91を搬送方向へと順次搬送するとともに、基板91を機内の所定位置に位置決めする。基板搬送装置11は、基板91に対する部品の装着処理が終了した後に、基板91を機外に搬出する。本明細書において、部品装着機2の基板搬送装置11、および生産ラインLnにおいて部品装着機2の上流側または下流側に配置された他の基板搬送装置により、対基板作業の一種である搬送作業がなされる。
2-2.部品供給装置12
部品装着機2は、部品供給装置12を備える。部品供給装置12は、基板91に装着される部品を供給する。部品供給装置12は、複数のスロット121にフィーダ122をそれぞれ装備される。フィーダ122には、例えば多数の部品が収納されたキャリアテープを送り移動させて、部品を採取可能に供給するテープフィーダが適用される。また、フィーダ122には、バルクフィーダやスティックフィーダなどが適用され得る。
部品装着機2は、部品供給装置12を備える。部品供給装置12は、基板91に装着される部品を供給する。部品供給装置12は、複数のスロット121にフィーダ122をそれぞれ装備される。フィーダ122には、例えば多数の部品が収納されたキャリアテープを送り移動させて、部品を採取可能に供給するテープフィーダが適用される。また、フィーダ122には、バルクフィーダやスティックフィーダなどが適用され得る。
2-3.部品移載装置13
部品装着機2は、部品移載装置13を備える。部品移載装置13は、部品供給装置12により供給された部品を基板91上の所定の装着位置に移載する。部品移載装置13は、ヘッド駆動装置131、移動台132、および装着ヘッド133を備える。ヘッド駆動装置131は、直動機構により移動台132を水平方向(X方向およびY方向)に移動させる。装着ヘッド133は、図示しないクランプ部材により移動台132に着脱可能に固定され、機内を水平方向に移動可能に設けられる。
部品装着機2は、部品移載装置13を備える。部品移載装置13は、部品供給装置12により供給された部品を基板91上の所定の装着位置に移載する。部品移載装置13は、ヘッド駆動装置131、移動台132、および装着ヘッド133を備える。ヘッド駆動装置131は、直動機構により移動台132を水平方向(X方向およびY方向)に移動させる。装着ヘッド133は、図示しないクランプ部材により移動台132に着脱可能に固定され、機内を水平方向に移動可能に設けられる。
装着ヘッド133は、中心軸(Q軸)回りに回転可能に且つ昇降可能に複数の吸着ノズル134を支持する。装着ヘッド133は、吸着ノズル134を昇降させる図略の昇降装置を備える。装着ヘッド133は、昇降装置を制御することにより、吸着ノズル134を所定の高さ(Z方向位置)に、所定の速度(または加速度)で移動させる。吸着ノズル134は、フィーダ122により供給される部品を採取して保持する保持部材である。吸着ノズル134は、供給される負圧エアにより、フィーダ122により供給される部品を吸着する。
装着ヘッド133には、内部にエア供給源とそれぞれの吸着ノズル134の内部に形成されたエア通路とを連通するエア供給回路が形成される。また、装着ヘッド133は、エア供給回路に設けられ、それぞれのエア通路の連通状態を切り換えるバルブ装置を備える。上記の連通状態には、吸着ノズル134に負圧エアまたは正圧エアが供給された状態、エア通路が大気圧にされた状態が含まれる。
装着ヘッド133のエア供給回路には、例えばレギュレータバルブが設けられ、負圧エアや正圧エアを規定圧力に減圧し(大気圧に近付ける)、安定したエア供給を可能としている。また、エア供給回路には、負圧エアや正圧エアを規定圧力からさらに減圧させるレギュレータバルブなどの調整装置が設けられている。また、吸着ノズル134は、エア通路を大気に開放されると、負圧であれば給気され、正圧であれば排気されて大気圧となる。
2-4.部品カメラ14、基板カメラ15
部品装着機2は、部品カメラ14、および基板カメラ15を備える。部品カメラ14、および基板カメラ15は、CMOSなどの撮像素子を有するデジタル式の撮像装置である。部品カメラ14、および基板カメラ15は、制御信号に基づいて撮像を行い、当該撮像により取得した画像データを送出する。部品カメラ14は、吸着ノズル134に保持された部品を下方から撮像可能に構成される。
部品装着機2は、部品カメラ14、および基板カメラ15を備える。部品カメラ14、および基板カメラ15は、CMOSなどの撮像素子を有するデジタル式の撮像装置である。部品カメラ14、および基板カメラ15は、制御信号に基づいて撮像を行い、当該撮像により取得した画像データを送出する。部品カメラ14は、吸着ノズル134に保持された部品を下方から撮像可能に構成される。
基板カメラ15は、装着ヘッド133と一体的に水平方向に移動可能に移動台132に設けられる。基板カメラ15は、基板91を上方から撮像可能に構成され、基板91の付された基準マークの撮像に用いられる。また、基板カメラ15は、基板91の基準マークを撮像対象とする他に、基板91の表面における所定範囲、さらには移動台132の可動範囲であれば種々の機器などを撮像対象にできる。例えば、基板カメラ15は、基板91に印刷された接合材としてのはんだや、基板91に装着された部品を撮像することができる。
2-5.ノズルステーション16
ノズルステーション16は、部品装着機2の機内に設けられる。ノズルステーション16は、複数の吸着ノズル134を着脱可能に保持する。ノズルステーション16は、吸着ノズル134の交換処理において、装着ヘッド133から取り外された吸着ノズル134を保持するとともに、別の吸着ノズル134を取り出し可能に保持する。これにより、部品装着機2は、装着処理の実行中に、装着対象の電子部品の種別に応じて吸着ノズル134を自動的に交換可能に構成される。
ノズルステーション16は、部品装着機2の機内に設けられる。ノズルステーション16は、複数の吸着ノズル134を着脱可能に保持する。ノズルステーション16は、吸着ノズル134の交換処理において、装着ヘッド133から取り外された吸着ノズル134を保持するとともに、別の吸着ノズル134を取り出し可能に保持する。これにより、部品装着機2は、装着処理の実行中に、装着対象の電子部品の種別に応じて吸着ノズル134を自動的に交換可能に構成される。
2-6.制御装置20
部品装着機2は、図1および図2に示すように、制御装置20を備える。制御装置20は、主として、CPUや各種メモリ、制御回路により構成される。制御装置20は、基板91に部品を装着する装着処理において、制御プログラムM1や予め設定されている装着条件などに基づいて、部品移載装置13の動作を制御する。これにより、装着ヘッド133に保持された吸着ノズル134の位置および角度が制御される。また、装着ヘッド133の昇降装置やバルブ装置の動作により、吸着ノズル134の高さや吸着ノズル134に供給される負圧エアおよび正圧エアの圧力が調整される。
部品装着機2は、図1および図2に示すように、制御装置20を備える。制御装置20は、主として、CPUや各種メモリ、制御回路により構成される。制御装置20は、基板91に部品を装着する装着処理において、制御プログラムM1や予め設定されている装着条件などに基づいて、部品移載装置13の動作を制御する。これにより、装着ヘッド133に保持された吸着ノズル134の位置および角度が制御される。また、装着ヘッド133の昇降装置やバルブ装置の動作により、吸着ノズル134の高さや吸着ノズル134に供給される負圧エアおよび正圧エアの圧力が調整される。
ここで、上記の装着処理には、採取サイクルと装着サイクルとが含まれるPPサイクル(ピックアンドプレースサイクル)を複数回に亘って繰り返す処理が含まれる。上記の「採取サイクル」とは、部品供給装置12により供給された部品を吸着ノズル134により採取する採取動作を、複数回に亘り繰り返す処理である。また、上記の「装着サイクル」とは、採取した部品を基板91における所定の装着位置(以下、「目標位置Pt」)に、所定の装着角度(以下、「目標角度At」)で装着する装着動作を、複数回に亘り繰り返す処理である。
制御プログラムM1(図9を参照)は、装着ヘッド133が支持する吸着ノズル134の数や、装着ヘッド133の移動距離などを考慮してグループ化された複数回の採取動作および装着動作により構成されるPPサイクルが効率的に実行されるように、予め最適化処理が施され、その実行順序が予め設定されている。本明細書において、上記の装着動作によって対基板作業の一種である装着作業がなされるものとする。
3.検査装置80
上記のような部品装着機2を含む複数の対基板作業機により構成される生産ラインLnにおいて、例えば、生産された製品基板の外観または機能の良否を検査する検査機4により不良の製品基板が検出されることがある。検査機4は、所定部品の実際の装着位置または装着角度が目標位置Ptまたは目標角度に対して許容範囲にない場合などに不良と判定する。このとき、不良となる原因には、上記の所定部品の装着動作を行う際に偶発的に発生した部品保持のミスや、吸着ノズル134による部品の保持状態を認識する画像処理のミスなどが想定される。
上記のような部品装着機2を含む複数の対基板作業機により構成される生産ラインLnにおいて、例えば、生産された製品基板の外観または機能の良否を検査する検査機4により不良の製品基板が検出されることがある。検査機4は、所定部品の実際の装着位置または装着角度が目標位置Ptまたは目標角度に対して許容範囲にない場合などに不良と判定する。このとき、不良となる原因には、上記の所定部品の装着動作を行う際に偶発的に発生した部品保持のミスや、吸着ノズル134による部品の保持状態を認識する画像処理のミスなどが想定される。
さらに、不良となる原因には、上記のような不良部位に対する対基板作業の良否のみならず、不良部位の周辺に対する対基板作業の影響や基板搬送の影響が含まれ得る。具体的には、不良部位の周辺に他の部品を装着する際に、他の部品を保持する吸着ノズル134が既に装着されている部品に接触したり、他の部品から吸着ノズル134が離脱する際に供給される正圧エアが既に装着されている部品に影響を及ぼしたりすることが一因として想定される。そのため、検査機4で不良の製品基板を検出できたとしてもその原因を特定できるとは限らず、結果として原因に対応した適切な改良点を特定することは容易でない。
そこで、本実施形態の生産システムSyは、対基板作業を実行された基板91を検査するとともに、不良の原因の特定を支援する構成を採用する。具体的には、生産ラインLnは、生産ラインLnを構成する検査機4とは独立した検査装置80を備える。本実施形態において、検査装置80は、ホストコンピュータ70に組み込まれているものとする。検査装置80は、生産ラインLnにおける製品基板の生産途中において、基板91に装着された複数の部品のうち検査対象Biに設定されたものが、当該部品の装着後に実行された対基板作業の影響により適正状態から不良状態になったことを検査する。
3-1.記憶部81
検査装置80は、図3に示すように、記憶部81を備える。記憶部81は、制御プログラムM1、ノズルデータM2、部品データM3、装着条件データM4、搬送条件データM5、およびスキップ情報M6を記憶する。ノズルデータM2は、吸着ノズル134の種類または識別情報(ID)に対応付けられた情報を示す。例えば、ノズルデータM2は、吸着ノズル134の対応範囲(吸着可能な部品の種類や寸法の範囲)、本体軸部の形状や外形寸法(外径)、およびエア通路の内形状(開口形状に相当)や開口寸法(内径)などを示す。
検査装置80は、図3に示すように、記憶部81を備える。記憶部81は、制御プログラムM1、ノズルデータM2、部品データM3、装着条件データM4、搬送条件データM5、およびスキップ情報M6を記憶する。ノズルデータM2は、吸着ノズル134の種類または識別情報(ID)に対応付けられた情報を示す。例えば、ノズルデータM2は、吸着ノズル134の対応範囲(吸着可能な部品の種類や寸法の範囲)、本体軸部の形状や外形寸法(外径)、およびエア通路の内形状(開口形状に相当)や開口寸法(内径)などを示す。
部品データM3は、部品の種類に対応付けられた情報を示す。例えば、部品データM3は、部品の形状情報(外形状や寸法)、質量、基準位置などを示す。上記の部品の「基準位置」とは、吸着ノズル134が部品を吸着する際に、部品の吸着面のうち吸着ノズル134の中心軸Qを一致させるべき吸着に適した位置として予め設定され、例えば吸着面が平坦であれば部品中心である。
装着条件データM4は、装着作業に関する装着条件を示す。本実施形態において、装着条件データM4は、それぞれの装着情報が部品の種類に対応付けられることから、部品データM3に含まれる。装着条件データM4には、装着動作において吸着ノズル134から部品を離脱させる際に供給される正圧エアの圧力、吸着ノズル134の移動量および移動速度が含まれる。吸着ノズル134の移動量とは、装着動作において吸着ノズル134の本体軸部を初期高さから下降させる量に相当する。吸着ノズル134の移動速度は、下降時の最大速度として規定され、これに加えてまたは替えて最大加速度が規定されてもよい。
搬送条件データM5は、搬送作業に関する搬送条件を示す。搬送条件データM5には、例えば製品基板の種類ごとに設定された搬送速度が含まれる。基板91の搬送速度は、搬送時の最大速度として規定され、これに加えてまたは替えて最大加速度が規定されてもよい。また、搬送速度は、製品基板の種類の他に、装着された部品の質量や接合材によるタック力の経時変化を考慮して、生産ラインLnの上流側から下流側に向かうほど小さくなるように設定されるものとしてもよい。
スキップ情報M6は、検査装置80により生成または編集される情報である。スキップ情報M6は、検査装置80による検査処理において不良と判定された基板91に対して、検査後に実行予定である対基板作業(装着処理など)をスキップするかを示す。スキップ情報M6には、例えば、不良の基板91の識別情報(ID)にスキップ設定が関連付けて記録される。
部品装着機2の制御装置20は、機内に搬入された基板91に付されたコードを読み取り識別情報(ID)を取得した後に、ホストコンピュータ70に対して装着処理の対象とするか否かを問い合わせる。ホストコンピュータ70は、スキップ情報M6に基づいて、装着処理を実行するかスキップするかを制御装置20に応答する。これにより、制御装置20は、不良基板に対する装着動作を実行せず、当該基板91を機外に搬出する。
また、記憶部81は、検査処理に用いられる基準画像データDsおよび検査画像データDiを記憶する。ここで、「基準画像データDs」とは、生産ラインLnを構成する複数の対基板作業機の一つである第一作業機Wm1により基板91に装着された部品を検査対象Biとして当該検査対象Biを含むように設定された検査領域Riを撮像して取得された画像データである。ここで、第一作業機Wm1により検査対象Biである部品を装着する作業を、以下では便宜的に「対象作業」とも称する。
また、「検査画像データDi」とは、基板91のうち検査領域Riの外部に所定の対基板作業(装着作業や基板91の搬送作業)が実行された後に検査領域Riを撮像して取得した画像データである。ここで、検査対象Biの部品が装着された検査領域Riの外部への対基板作業であって、検査対象Biに影響を及ぼし得る作業を、以下では便宜的に「特定作業」とも称する。特定作業は、検査領域Riから所定範囲に実行される対基板作業として、例えば検査対象Biを隣接部品(目標位置Ptから規定距離内に装着される部品)とする装着動作、所定速度以上の基板搬送動作などが含まれる。検査対象Biおよび検査領域Riの設定については後述する。
上記の基準画像データDsおよび検査画像データDiは、対基板作業機に設けられたカメラ、例えば部品装着機2の基板カメラ15の撮像により取得され、ホストコンピュータ70に送出されて記憶部81に記憶される。基準画像データDsおよび検査画像データDiの取得には、複数のパターンが想定される。画像データの取得パターンは、検査処理の目的や生産における優先項目(例えば、生産効率や精度)に応じて選択される。
画像データの取得パターンの第一態様は、図4に示すように、対象作業を実行する対基板作業機(第一作業機Wm1)が特定作業を実行し、さらに基準画像データDsおよび検査画像データDiを取得する。具体的には、第一作業機Wm1は、対象作業を実行した後に検査領域Riを撮像して基準画像データDsを取得する。さらに、第一作業機Wm1は、特定作業を実行後に検査領域Riを撮像して検査画像データDiを取得する。取得パターンの第一態様によると、各動作を第一作業機Wm1に集約して完結することができる。
画像データの取得パターンの第二態様は、図5に示すように、対象作業を実行する対基板作業機(第一作業機Wm1)よりも生産ラインLnの下流側に配置された対基板作業機(第二作業機Wm2)が特定作業を実行し、さらに基準画像データDsおよび検査画像データDiを取得する。
具体的には、第二作業機Wm2は、検査領域Riを撮像して基準画像データDsを取得した後に特定作業を実行し、特定作業の実行後に検査領域Riを撮像して検査画像データDiを取得する。取得パターンの第二態様によると、特定作業が実行される直前と直後の装着状態を検査処理において比較することができ、特定作業による影響以外の影響を排除することができる。
画像データの取得パターンの第三態様は、図6に示すように、対象作業を実行する対基板作業機(第一作業機Wm1)から第二作業機Wm2の直前機(生産ラインLnにおいて第二作業機Wm2より一つ上流側に配置された対基板作業機)までの少なくとも一つは、第一作業機Wm1による検査対象Biの装着の後に、検査領域Riを撮像して基準画像データDsを取得する。
そして、第二作業機Wm2は、特定作業の実行後に検査領域Riを撮像して検査画像データDiを取得する。取得パターンの第三態様によると、対象作業の実行後に適宜タイミングで基準画像データDsを取得できるので例えば生産ラインLnにおいて相対的に負荷が軽い対基板作業機に撮像処理を担当させることができる。
上記のような取得パターンにより取得された基準画像データDsおよび検査画像データDiは、基板91の識別情報(ID)、撮像時刻、検査領域Riの特定情報、および取得した対基板作業機の識別情報とともに検査装置80に送出されて、記憶部81に記憶される。
3-2.認識部82
検査装置80は、図3に示すように、認識部82を備える。認識部82は、基準画像データDsおよび検査画像データDiに基づいて、特定作業としての対基板作業による検査対象Biの状態変化を認識する。本実施形態において、認識部82により認識される状態変化には、検査対象Biの位置および角度の変化が含まれる。
検査装置80は、図3に示すように、認識部82を備える。認識部82は、基準画像データDsおよび検査画像データDiに基づいて、特定作業としての対基板作業による検査対象Biの状態変化を認識する。本実施形態において、認識部82により認識される状態変化には、検査対象Biの位置および角度の変化が含まれる。
具体的には、認識部82は、図8に示すように、基準画像データDsにおいて認識された検査対象Bi(破線で示す部品92)の実際の装着位置Pc1および装着角度Ac1を認識する。実際の装着位置Pc1および装着角度Ac1は、設計上の検査対象Bi(一点鎖線で示す部品92)の目標位置Ptおよび目標角度Atに対して所定のずれ量を含んでいることがある。次に、認識部82は、検査画像データDiにおいて認識された検査対象Bi(実線で示す部品92)の装着位置Pc2および装着角度Ac2を認識する。
続いて、認識部82は、検査対象Biの装着位置(Pc1→Pc2)の変化量Np、および装着角度(Ac1→Ac2)の変化量Naを算出する。これにより、認識部82は、目標位置Ptおよび目標角度Atに対してではなく、特定作業の実行前後における検査対象Biの位置変化量Npおよび角度変化量Naを取得することができる。この位置変化量Npおよび角度変化量Naは、特定作業による影響を示す。
なお、例えば検査対象Biに対して複数の隣接部品が存在するには、対象作業の実行後に複数回に亘って異なる特定作業が実行され得る。その場合に、特定作業が実行される度に、検査領域Riの撮像により検査画像データDiの再取得が行われる。そして、認識部82は、検査対象Biの状態変化を認識する認識処理を実行した後に、後の特定作業である所定の対基板作業が実行された場合に、再度の認識処理を実行する。
このとき、認識部82による再度の認識処理の実行前に、検査領域Riを再度撮像して取得された画像データにより基準画像データDsが更新されるようにしてもよい。具体的には、基準画像データDsを取得するために再度の撮像を行って更新してもよいし、前回の認識処理で使用した検査画像データDiを、再度の認識処理における基準画像データDsとすることにより更新してもよい。
また、認識部82は、上記のような再度の認識処理を、別の特定作業が実行されたことをトリガとする他に、例えば先の認識処理を実行してから所定期間が経過した場合に実行するようにしてもよい。これにより、基板91に加えられた振動や接合材のタック力の変化による影響を考慮して、検査対象Biの装着位置Pcおよび装着角度Acが許容範囲内にあるかを監視でき、また許容範囲外となった場合に、何れの工程において位置変化量Npまたは角度変化量Naが増加したのかを認識することができる。
3-3.判定部83
検査装置80は、図3に示すように、判定部83を備える。判定部83は、認識部82により認識された状態変化の大きさ(例えば、位置変化量Np、角度変化量Na)に基づいて、検査対象Biの装着状態の良否を判定する。具体的には、判定部83は、位置変化量Npおよび角度変化量Naの少なくとも一方が予め設定された閾値を超えた場合に、検査対象Biの装着状態が不良であると判定する。
検査装置80は、図3に示すように、判定部83を備える。判定部83は、認識部82により認識された状態変化の大きさ(例えば、位置変化量Np、角度変化量Na)に基づいて、検査対象Biの装着状態の良否を判定する。具体的には、判定部83は、位置変化量Npおよび角度変化量Naの少なくとも一方が予め設定された閾値を超えた場合に、検査対象Biの装着状態が不良であると判定する。
また、判定部83は、上記のような状態変化量に基づく判定に加えて、基準画像データDsにおける検査対象Biの実際の装着位置Pc1および装着角度Ac1が目標位置Ptおよび目標角度Atに対してそれぞれどの程度ずれているかを測定し、このずれ量に基づく装着状態の良否を判定してもよい。さらに、判定部83は、状態変化量に基づく判定、およびずれ量に基づく判定の結果に関わらず、判定結果(適正または不良)の度合いを割り出して記録してもよい。また、判定部83は、状態変化量に基づく判定に用いる閾値について、ずれ量が大きいほど閾値を小さく設定してもよい。
3-4.エラー対処部84
検査装置80は、図3に示すように、エラー対処部84を備える。エラー対処部84は、判定部83により検査対象Biの装着状態が不良であると判定された場合に、エラー対処を行う。上記のエラー対処には、例えば検査対象Biまたは検査領域Riを示して判定部83による判定結果を作業者に報知し、または検査対象Biが装着された基板91に対して実行予定である対基板作業をスキップするように設定することが含まれる。
検査装置80は、図3に示すように、エラー対処部84を備える。エラー対処部84は、判定部83により検査対象Biの装着状態が不良であると判定された場合に、エラー対処を行う。上記のエラー対処には、例えば検査対象Biまたは検査領域Riを示して判定部83による判定結果を作業者に報知し、または検査対象Biが装着された基板91に対して実行予定である対基板作業をスキップするように設定することが含まれる。
詳細には、エラー対処部84は、判定部83により装着状態が不良であると判定された場合に、基板91における検査対象Biの位置や部品種、また検査対象Biを隣接部品とする他の部品の装着動作に関するエラー情報を、対基板作業機やホストコンピュータ70の表示装置または作業者が所持する表示端末に表示して報知する。このとき、エラー対処部84は、不良基板に対する対基板作業の実行を一時停止し、作業者による再開等の指示が入力されるまで待機させる。
また、エラー対処部84は、例えば作業者によるエラー情報および不良基板の確認に時間を要するなどの理由により生産が停滞する場合には、不良基板の識別情報(ID)にスキップ設定を関連付けて、スキップ情報M6に記録してもよい。このとき、エラー対処部84は、不良基板の識別情報(ID)に、スキップ設定に加えて、特定作業の実行後の検査対象Biの装着位置Pc2や装着角度Ac2、位置変化量Np、および角度変化量Naを付加情報として関連付けて記録してもよい。
3-5.解析部85
検査装置80は、図3に示すように、解析部85を備える。解析部85は、複数の基板91ごとに設定された同一の検査領域Riに装着された検査対象Biの状態変化が認識部82により認識され、当該認識の結果に基づいて状態変化の傾向を取得する。ここで、例えば同種の製品基板を多量に生産する場合に、互いに異なる複数の基板91には検査対象Biである部品が同一の目標位置Ptにそれぞれ装着される。そして、同一の装着条件で検査対象Biが装着されるのにも関わらず、不良基板の発生頻度が変動することがある。
検査装置80は、図3に示すように、解析部85を備える。解析部85は、複数の基板91ごとに設定された同一の検査領域Riに装着された検査対象Biの状態変化が認識部82により認識され、当該認識の結果に基づいて状態変化の傾向を取得する。ここで、例えば同種の製品基板を多量に生産する場合に、互いに異なる複数の基板91には検査対象Biである部品が同一の目標位置Ptにそれぞれ装着される。そして、同一の装着条件で検査対象Biが装着されるのにも関わらず、不良基板の発生頻度が変動することがある。
解析部85は、例えば、図11に示すように、検査対象の状態変化の大きさとして認識部82により認識された位置変化量Npがどのように推移しているのかを割り出す。解析部85は、図11の推移線L1に示すように、状態変化量としての位置変化量Npが閾値を超えていないものの直近の所定回数に亘る生産において増加傾向にあることを認識することがある。この場合に、解析部85は、一例として、対基板作業に用いられている部材が経時変化により動作不良に近付いているなど、メンテナンス時期が迫っていると判断する。
また、解析部85は、図11の推移線L2に示すように、状態変化量としての位置変化量Npが増減を繰り返しつつ不定期に位置変化量Npが閾値を超えているものの、所定区間ごとの平均値に大きな変化がないことを認識することがある。この場合に、解析部85は、一例として、複数の要因が複合的に装着動作に影響したときに偶発的に不良を発生させるなど、装着条件や搬送条件、装着動作に使用する部材(例えば、吸着ノズル134)の種類の見直しが必要であると判断する。
そこで、本実施形態において、解析部85は、取得した状態変化の傾向に基づいて、対基板作業に関する作業条件を変更し、または作業条件を変更するように状態変化の傾向とともに作業者に報知する。例えば、解析部85は、推移線L1から割り出された状態変化傾向を認識した場合に、作業者に対してメンテナンス時期が迫っていることを通知する。また、解析部85は、例えばメンテナンスを要する部材が吸着ノズル134であり、予備の吸着ノズル134がノズルステーション16に収容されている場合には、これと交換するようにノズルデータM2を変更してもよい。
また、解析部85は、推移線L2から割り出された状態変化傾向を認識した場合には、装着条件などの作業条件を変更し、または作業者に通知する。上記の作業条件の変更には、例えば、検査対象Biを隣接部品とする装着動作において供給される正圧エアの圧力低減、使用する吸着ノズル134や接合材の種類の変更、および検査対象Biとその周辺の部品との装着順序の変更などが想定される。また、解析部85は、解析処理において、位置変化量Npの変化傾向の他に、角度変化量Naの変化傾向、目標位置Ptと装着位置Pc1とのずれ量の変化傾向、目標角度Aと装着角度Ac1とのずれ量の変化傾向に基づいて解析を行うようにしてもよい。
4.検査対象Biおよび検査領域Riの設定
検査装置80は、検査対象Biを含む検査領域Riを撮像して取得された基準画像データDsおよび検査画像データDiに基づいて、検査対象Biの状態変化を認識して検査を行うものである。ここで、上記の検査対象Biは、作業者が任意に設定することができ、同一の基板91に複数設定されることもある。
検査装置80は、検査対象Biを含む検査領域Riを撮像して取得された基準画像データDsおよび検査画像データDiに基づいて、検査対象Biの状態変化を認識して検査を行うものである。ここで、上記の検査対象Biは、作業者が任意に設定することができ、同一の基板91に複数設定されることもある。
検査対象Biは、基板91に装着される複数の部品のうち、基板91に装着された後に実行される対基板作業(特定作業)の影響を受けて、その状態変化が生じる可能性が高い部品に設定される。具体的には、検査対象Biは、例えば、部品92の外形寸法、部品92を基板91に接合する接合材の種類、および接合材が介在する基板91と部品92の接合面積の少なくとも一つに基づいて設定される。検査領域Riは、部品92の外形寸法、および撮像処理に用いられるカメラ(本実施形態において基板カメラ15)のカメラ視野に基づいて設定される。
なお、検査対象Biおよび検査領域Riは、対基板作業の制御に用いられる制御プログラムM1、または検査対象Biの外形情報および装着条件を含む部品データM3に予め設定されている。具体的には、部品データM3において、図9に示すように、検査要否に「○」が設定されている場合に、検査対象Biとされる。このとき、検査領域Riは、検査対象Biの全体を1回の撮像でカメラ視野に収められる場合には、検査対象Biよりも大きく且つカメラ視野よりも小さい領域に設定される。
上記のように設定された検査対象Biについて、例えば生産ラインLnおける生産過程において定期的に検査を行うようにすると処理負荷が高くなり、生産性に影響するおそれがある。そこで、検査装置80は、検査領域Riに対応する特定作業が実行された場合に検査処理を実行することにより生産性の低減を抑制する。検査装置80は、特定作業に該当するか否かの基準となる所定範囲Rpを設定する。ここで、所定範囲Rpは、図7に示すように、検査領域Riの外周から規定距離Tp内の範囲である。この所定範囲Rpに少なくとも一部が含まれる対基板作業は、上記の特定作業とみなされる。
具体的には、所定範囲Rpは、装着作業において部品92の保持に用いられる保持部材(吸着ノズル134)の外形寸法、および保持部材(吸着ノズル134)が装着後の部品92から離脱する際に供給される正圧エアの圧力の少なくとも一方に基づいて設定されてもよい。つまり、検査装置80は、各種データを参照し、検査対象Biの周辺における装着動作により吸着ノズル134が干渉する可能性、またはリークした正圧エアの影響が及ぶ可能性がある場合に、装着動作の実行位置に加えて、外形寸法や正圧エアの圧力に基づいて所定範囲Rp(または規定距離Tp)を設定する。
また、所定範囲Rpは、装着作業に関する装着条件であって、装着作業において部品92の保持に用いられる保持部材(吸着ノズル134)の移動量および移動速度の少なくとも一方に基づいて設定されてもよい。ここで、装着動作において吸着ノズル134が基板91に押し付けられ、また吸着ノズル134が保持する部品92が基板91に接触したときに所定速度以上であると、基板91に振動が発生し得る。
そこで、検査装置80は、各種データを参照し、検査対象Biの周辺における装着動作により基板91に振動が付与されて検査対象Biの装着状態が変化する可能性がある場合に、吸着ノズル134の移動量および移動速度に基づいて所定範囲Rp(または規定距離Tp)を設定する。上記のように設定される所定範囲Rpによれば、例えば1つの検査対象Biについて、その周辺で実行される装着動作によっては、複数の特定作業が実行されるものと認定されることがある。
5.検査装置80による検査処理(検査方法)
生産ラインLnによる製品基板の生産処理に適用される検査処理について、図10を参照して説明する。検査装置80は、製品基板の生産処理の実行前または実行中に、制御プログラムM1、ノズルデータM2、部品データM3、装着条件データM4、搬送条件データM5などの各種データを先読みして、検査対象Biおよび検査領域Riを取得する(S11)。
生産ラインLnによる製品基板の生産処理に適用される検査処理について、図10を参照して説明する。検査装置80は、製品基板の生産処理の実行前または実行中に、制御プログラムM1、ノズルデータM2、部品データM3、装着条件データM4、搬送条件データM5などの各種データを先読みして、検査対象Biおよび検査領域Riを取得する(S11)。
次に、検査装置80は、複数の検査対象Biごとに実行される特定作業の認定を行う(S12)。具体的には、検査装置80は、検査領域Riの周辺で実行される対基板作業が検査領域Riの外部であり所定範囲Rpの内部である場合、または所定速度以上の基板91の搬送動作である場合に、特定作業であると認定する。
続いて、検査装置80は、基準画像データDsおよび検査画像データDiを取得するための撮像タイミングを設定する(S13)。具体的には、検査装置80は、検査対象Biの装着時期、およびそれぞれの特定作業の実行時期と、予め設定された画像データの取得パターンに基づいて、生産ラインLnにおいて検査領域Riを対象とした撮像処理を実行する対基板作業機を指定し、当該対基板作業機において撮像処理を実行するタイミングを設定する。
生産処理の進行に伴って複数の撮像タイミングで検査領域Riが撮像されると、記憶部81は、対基板作業機から送出された基準画像データDsおよび検査画像データDiを記憶する(S14:記憶ステップ)。記憶部81は、検査対象Biおよび検査領域Riの少なくとも一方に関連付けて、一対の基準画像データDsおよび検査画像データDiを記憶する。
認識部82は、基準画像データDsおよび検査画像データDiに基づく認識処理を実行する(S15:認識ステップ)。これにより、異なる撮像タイミングの期間における検査対象Biの状態変化が認識される。認識部82は、検査対象Biに関連付けて、認識した状態変化の大きさである位置変化量Npおよび角度変化量Naを記憶させる。
続いて、判定部83は、認識処理(S15)の結果に基づいて、検査対象Biの装着状態の良否を判定する(S16:判定ステップ)。判定部83は、予め設定された位置に関する閾値と位置変化量Npを比較し、また角度に関する閾値と角度変化量Naを比較し、両方とも閾値を超えていない場合に(S16:Yes)、装着状態は適正であると判定する。一方で、少なくとも一方が閾値を超えている場合に(S16:No)、装着状態は不良である(適正から不良に変動した)と判定する。
良否判定の結果において装着状態が不良であると判定された場合に、エラー対処部84は、所定のエラー対処を実行する(S17:エラー対処ステップ)。エラー対処部84は、予め設定されたエラー対処として、判定結果の報知、生産処理の一時停止、または不良基板に対する以降の対基板作業に関するスキップ設定を行う。
最後に、解析部85は、複数回に亘り検査処理が異なる複数の基板91に対して実行された場合に、認識処理の結果に基づいて状態変化の傾向を取得する解析処理を実行する(S18:解析ステップ)。解析部85は、例えば検査処理の実行回数が所定回数に達した場合に、解析結果に基づく作業条件の変更や作業者への報知を行うようにしてもよい。
6.実施形態の変化態様
実施形態において、検査装置80は、ホストコンピュータ70に組み込まれる構成とした。これに対して、検査装置80を構成する各部81-85の少なくとも一部は、ホストコンピュータ70の外部に設けられてもよい。例えば、検査装置80の一部が対基板作業機の制御装置20や専用の外部装置に組み込まれる構成としてもよい。これに伴って、各種データM1-M6は、検査装置80がアクセス可能な記憶装置に記憶される。
実施形態において、検査装置80は、ホストコンピュータ70に組み込まれる構成とした。これに対して、検査装置80を構成する各部81-85の少なくとも一部は、ホストコンピュータ70の外部に設けられてもよい。例えば、検査装置80の一部が対基板作業機の制御装置20や専用の外部装置に組み込まれる構成としてもよい。これに伴って、各種データM1-M6は、検査装置80がアクセス可能な記憶装置に記憶される。
2:部品装着機(対基板作業機)、 11:基板搬送装置、 20:制御装置、 70:ホストコンピュータ、 80:検査装置、 81:記憶部、 82:認識部、 83:判定部、 84:エラー対処部、 85:解析部、 91:基板、 92:部品、 95:接合材、 M1:制御プログラム、 M2:ノズルデータ、 M3:部品データ、 M4:装着条件データ、 M5:搬送条件データ、 M6:スキップ情報、 Ds:基準画像データ、 Di:検査画像データ、 Wm1:第一作業機、 Wm2:第二作業機、 Sy:生産システム、 Ln,Ln1,Ln2:生産ライン、 Ri:検査領域、 Bi:検査対象、 Tp:規定距離、 Rp:所定範囲、 Pc1,Pc2:(検査対象の実際の)装着位置、 Ac1,Ac2:(検査対象の実際の)装着角度、 Pt:(検査対象の)目標位置、 At(検査対象の)目標角度、 Np:(検査対象の)装着位置の変化量、 Na:(検査対象の)装着角度の変化量
Claims (17)
- 第一作業機により基板に装着された部品を検査対象として当該検査対象を含むように設定された検査領域を撮像して取得された基準画像データ、および前記基板のうち前記検査領域の外部に所定の対基板作業が実行された後に前記検査領域を撮像して取得した検査画像データを記憶する記憶部と、
前記基準画像データおよび前記検査画像データに基づいて、前記対基板作業による前記検査対象の状態変化を認識する認識部と、
を備える検査装置。 - 前記第一作業機は、前記検査領域を撮像して前記基準画像データを取得した後に、前記対基板作業を実行し、前記対基板作業の実行後に前記検査領域を撮像して前記検査画像データを取得する、請求項1に記載の検査装置。
- 前記第一作業機とともに製品基板の生産ラインを構成し、前記生産ラインにおいて前記第一作業機よりも下流側に配置された第二作業機は、前記検査領域を撮像して前記基準画像データを取得した後に、前記対基板作業を実行し、前記対基板作業の実行後に前記検査領域を撮像して前記検査画像データを取得する、請求項1に記載の検査装置。
- 前記第一作業機とともに製品基板の生産ラインを構成し、前記生産ラインにおいて前記第一作業機よりも下流側に配置され前記対基板作業を実行する第二作業機は、前記対基板作業の実行後に前記検査領域を撮像して前記検査画像データを取得し、
前記生産ラインにおいて前記第二作業機より上流側に配置された対基板作業機は、前記第一作業機による前記検査対象の装着の後に、前記検査領域を撮像して前記基準画像データを取得する、請求項1に記載の検査装置。 - 前記対基板作業には、前記検査領域から所定範囲内に目標位置が設定された部品の装着作業が含まれ、
前記所定範囲は、前記装着作業において前記部品の保持に用いられる保持部材の外形寸法、および前記保持部材が装着後の前記部品から離脱する際に供給される正圧エアの圧力の少なくとも一方に基づいて設定される、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。 - 前記対基板作業には、前記検査領域から所定範囲内に目標位置が設定された部品の装着作業が含まれ、
前記所定範囲は、前記装着作業に関する装着条件であって、前記装着作業において前記部品の保持に用いられる保持部材の移動量および移動速度の少なくとも一方に基づいて設定される、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。 - 前記対基板作業には、前記基板を搬送する搬送作業が含まれ、
前記認識部は、前記搬送作業における前記基板の搬送速度が所定速度以上の場合に前記状態変化の認識処理を実行する、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。 - 前記認識部は、前記検査対象の状態変化を認識する認識処理を実行した後に、所定期間が経過した場合、または所定の前記対基板作業が実行された場合に、再度の前記認識処理を実行する、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。
- 前記認識部による再度の前記認識処理の実行前に、前記検査領域を再度撮像して取得された画像データにより前記基準画像データが更新される、請求項8に記載の検査装置。
- 前記検査対象は、前記部品の外形寸法、前記部品を前記基板に接合する接合材の種類、および前記接合材が介在する前記基板と前記部品の接合面積の少なくとも一つに基づいて設定される、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。
- 前記検査対象および前記検査領域は、前記対基板作業の制御に用いられる制御プログラム、または前記検査対象の外形情報および装着条件を含む部品データに予め設定されている、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。
- 前記認識部により認識される前記状態変化には、前記検査対象の位置および角度の変化が含まれる、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。
- 前記認識部により認識された前記状態変化の大きさに基づいて、前記検査対象の装着状態の良否を判定する判定部をさらに備える、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。
- 前記判定部により前記検査対象の装着状態が不良であると判定された場合に、前記検査対象または前記検査領域を示して前記判定部による判定結果を作業者に報知し、または前記検査対象が装着された前記基板に対して実行予定である対基板作業をスキップするように設定するエラー対処部をさらに備える、請求項13に記載の検査装置。
- 複数の前記基板ごとに設定された同一の前記検査領域に装着された前記検査対象の前記状態変化が前記認識部により認識され、当該認識の結果に基づいて前記状態変化の傾向を取得する解析部をさらに備える、請求項1-4の何れか一項に記載の検査装置。
- 前記解析部は、取得した前記状態変化の傾向に基づいて、前記対基板作業に関する作業条件を変更し、または前記作業条件を変更するように前記状態変化の傾向とともに作業者に報知する、請求項15に記載の検査装置。
- 第一作業機により基板に装着された部品を検査対象として当該検査対象を含むように設定された検査領域を撮像して取得された基準画像データ、および前記基板のうち前記検査領域の外部に所定の対基板作業が実行された後に前記検査領域を撮像して取得した検査画像データを記憶する記憶ステップと、
前記基準画像データおよび前記検査画像データに基づいて、前記対基板作業による前記検査対象の状態変化を認識する認識ステップと、
を備える検査方法。
Priority Applications (1)
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