[go: up one dir, main page]

WO2020116386A1 - ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物 - Google Patents

ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物 Download PDF

Info

Publication number
WO2020116386A1
WO2020116386A1 PCT/JP2019/047012 JP2019047012W WO2020116386A1 WO 2020116386 A1 WO2020116386 A1 WO 2020116386A1 JP 2019047012 W JP2019047012 W JP 2019047012W WO 2020116386 A1 WO2020116386 A1 WO 2020116386A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
compound
bisalkylaminodisilazane
silicon
represented
formula
Prior art date
Application number
PCT/JP2019/047012
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
晃徳 小林
有輝 稲荷森
達徳 山根
Original Assignee
住友精化株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2019177539A external-priority patent/JP2020096172A/ja
Application filed by 住友精化株式会社 filed Critical 住友精化株式会社
Publication of WO2020116386A1 publication Critical patent/WO2020116386A1/ja

Links

Images

Definitions

  • Patent Document 1 discloses a method of forming a uniform silicon oxide film at a low temperature of less than 400° C. by using bisdiethylaminosilane (BDEAS) which is an aminosilane compound as a silicon source in the atomic layer deposition method. Is proposed.
  • BDEAS bisdiethylaminosilane
  • an aminodisilazane compound having a disilazane structure (—Si—N—Si—) can lower the decomposition temperature due to the effect of an amino group and improve the adsorbability during film formation. It has been found that the film formation rate can be improved by the above method, and the number of Si atoms adsorbed on the substrate surface is increased by the effect of the disilazane structure, so that the film formation rate can be improved. Above all, they have found that by using a specific bisalkylaminodisilazane compound as a silicon precursor, it is possible to form a film with a lower film forming temperature and an improved film forming rate, and have completed the present invention.
  • Item 1 Formula (1) [In the formula (1), each of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 is independently an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. ] A bisalkylaminodisilazane compound represented by.
  • Item 8 A precursor of a silicon-containing film, comprising the bisalkylaminodisilazane compound according to any one of Items 1 to 7.
  • Item 9 The precursor according to Item 8, wherein the silicon-containing film is formed by chemical vapor deposition.
  • Item 13 The composition according to Item 12, wherein the chemical vapor deposition is atomic layer deposition.
  • Item 16 The following formula (1): [In the formula (1), each of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 is independently an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. ]
  • Item 8 A method for producing a silicon-containing film, which comprises using the bisalkylaminodisilazane compound according to any one of items 1 to 7.
  • Item 17 The method for producing a silicon-containing film according to Item 16, wherein the silicon-containing film is a silicon oxide film.
  • each of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 is independently an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
  • the following provides a 1,3-bisdialkylamino-2-alkyldisilazane compound (hereinafter, also simply referred to as a bisalkylaminodisilazane compound).
  • each of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 is independently an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
  • the method for producing a bisalkylaminodisilazane compound represented by H 2 NR 3 [In the formula (2), R 3 is as defined above. ]
  • reaction Since the reaction is exothermic and it is preferable to carry out the reaction at a low temperature in order to suppress the formation of polysilazane generated as a by-product, a good yield can be obtained. Therefore, for example, -50°C to 200°C, The reaction is preferably carried out in the range of -10 to 80°C. The reaction time is usually in the range of 0.5 to 24 hours.
  • step (d) the bisalkylaminodisilazane compound is isolated by performing distillation, for example, vacuum distillation.
  • distillation for example, vacuum distillation.
  • the amine and the organic solvent are easily removed, and the bisalkylaminodisilazane compound can be purified with a sufficiently high purity.
  • the method for producing a bisalkylaminodisilazane compound according to the second aspect of the present invention comprises a synthetic step of adding (a′) dichlorosilane and a secondary alkylamine to a solvent to synthesize a chlorodialkylaminosilane compound, (b′) ) A filtration step of removing by-product salts by filtration, a synthesis step of adding a primary alkylamine to the filtrate (c′) to synthesize a bisalkylaminodisilazane compound, and (d′) a bisalkylamino by distillation. A distillation step is included to isolate the disilazane compound.
  • the secondary alkylamine is first dissolved in an organic solvent and dichlorosilane is added thereto, or the dichlorosilane is dissolved in the organic solvent and then the secondary alkylamine is added thereto. Can be applied to this reaction.
  • the amount of the secondary alkylamine used is usually 0.05 to 20 times mol (for example, 0.05 to 10 times mol) relative to the starting material dichlorosilane, and preferably 0.5 to 20 times from the viewpoint of improving yield. It is 4.0 times mol (for example, 0.5 to 3 times mol).
  • reaction is an exothermic reaction and the formation of bisalkylaminosilane produced as a by-product is suppressed, it is preferable to carry out the reaction at a low temperature. However, since a good yield can be obtained, for example, -50°C to 200°C.
  • the reaction is carried out at a temperature of -30°C, preferably -30 to 100°C (eg -10 to 80°C).
  • the reaction time is usually in the range of 0.5 to 24 hours.
  • step (b') by-product salts are removed from the crude product in the reactor. It is desirable to carry out under a dry inert gas, for example under nitrogen or argon, in order to suppress the decomposition of aminochlorosilane.
  • the filtration temperature is not uniquely determined, but is applicable from 10° C. to the boiling point of the solvent used. It is desirable to carry out the heating in the range of 20°C to 65°C.
  • step (c') synthesis is performed by adding a primary alkylamine to the filtrate obtained in step (b').
  • the amount of the primary alkylamine used is usually 0.05 to 7.0 times mol, preferably 0.2 to 2.0 times from the viewpoint of improving the yield, with respect to 1 mol of the total amount of the intermediate (5). It is a mole.
  • the reaction is an exothermic reaction, it is preferable to carry out the reaction at a low temperature. However, in order to obtain a good yield, the reaction is carried out in the range of, for example, ⁇ 50° C. to 200° C., preferably ⁇ 10 to 80° C. Is done.
  • the reaction time is usually in the range of 0.5 to 24 hours.
  • step (d') the bisalkylaminodisilazane compound is isolated by performing distillation, for example, vacuum distillation.
  • distillation for example, vacuum distillation.
  • the amine and the organic solvent are easily removed, and the bisalkylaminodisilazane compound can be purified with a sufficiently high purity.
  • reaction system In order to avoid hydrolysis of dichlorosilane, chloroaminosilane, dichlorodisilazane, aminodisilazane, etc., it is desirable that the reaction system is all performed under anhydrous conditions, and the water content in all the starting materials used is based on the total mass of the starting materials.
  • the reaction is carried out in the range of 0 to 5000 mass ppm, preferably 0 to 400 mass ppm.
  • the bisalkylaminodisilazane composition may contain, for example, an inert gas or a low active gas as a carrier gas in addition to the bisalkylaminodisilazane compound.
  • the temperature of the substrate is, for example, 100 to 600°C, preferably 100 to 550°C.
  • one or more gases selected from nitrogen, ammonia, dinitrogen monoxide, nitric oxide, and nitrogen dioxide are used as a reaction gas when forming a silicon nitride film having a Si—N bond. be able to.
  • one or more gases selected from oxygen, ozone, and nitric oxide can be used.
  • Example 3 Synthesis of 1,3-bisdiethylamino-2-normalpropyldisilazane
  • 64 g (0.64 mol) of dichlorosilane and 707 g of hexane were added to a 2000 mL flask in which a thermometer, a cooling tube, and a motor stirrer were set, and acetone was used as a refrigerant, and the mixture was cooled to 0° C. by a cooler.
  • 63 g (1.06 mol) of normal propylamine was slowly added dropwise into the liquid over 2 hours with keeping the temperature at 0° C.
  • This 1,3-bisdiethylamino-2-normalpropyldisilazane solution was distilled under reduced pressure at an internal temperature of 40° C. to remove hexane from the 1,3-bisdiethylamino-2-normalpropyldisilazane solution to give crude 1,3 -Bisdiethylamino-2-normalpropyldisilazane solution was obtained, and further distilled under reduced pressure at an internal temperature of 120° C. and 2 Torr using a distillation column to give 1,3-bisdiethylamino-2-normalpropyldiyl as a final product. Silazane was obtained in high purity.
  • Example 4 Formation of silicon-containing film using 1,3-bisdiethylamino-2-ethyldisilazane
  • a silicon substrate was placed in a vacuum device and heated to 100 to 600°C.
  • the aminosilazane composition containing 1,3-bisdiethylamino-2-ethyldisilazane obtained in Example 1 and a carrier gas was injected at a pressure of 0.05 to 100 Torr and adsorbed on a heated silicon substrate.
  • the unadsorbed aminosilazane composition and by-products were then purged into the device.
  • the thickness of the formed layer was measured with an ellipsometer, and it was confirmed by infrared spectroscopy that it was a silicon oxide film.
  • Table 1 below shows specific vapor deposition methods, and Table 2 shows the amount of 1,3-bisdiethylamino-2-normalpropyldisilazane deposited.

Abstract

特定のビスアルキルアミノジシラザン化合物をシリコン前駆体として用いることで、シリコン含有膜の形成において膜質の低下、および分解温度の高温化を招くことなく、成膜速度を向上させることにより、シリコン含有膜の形成において、膜質の低下を招くことなく成膜温度の低温化と成膜速度向上を可能とする。

Description

ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物
　本発明の技術分野は、新規ビスアルキルアミノジシラザン化合物、および当該化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物に関する。
　半導体デバイスの製作において、シリコン含有薄膜は、様々な蒸着工程によりシリコン膜、シリコン酸化膜、シリコン炭窒化膜、およびシリコンオキシ窒化膜等の種々の形態の薄膜に製造されており、様々な分野で応用されている。中でもシリコン酸化膜およびシリコン窒化膜は、非常に優れた遮断特性および耐酸化性を有するため、装置の製作において絶縁膜、金属間誘電物質、シード層、スペーサー、ハードマスク、トレンチアイソレーション、拡散防止膜、エッチング停止層、および保護膜層として機能する。
　近年は素子の微細化、アスペクト比の増加、および素子材料の多様化に伴い、電気特性に優れた超微細薄膜を低温かつ高速で成膜する技術が要求されている。しかしながら、従来のシリコン前駆体を用いた成膜方法では成膜温度を６００℃以上にする必要があり、また、成膜速度が小さいため、膜質および生産性の低下が問題となっている。
　この問題を解決すべく、特許文献１では原子層堆積法で、シリコン源としてアミノシラン化合物であるビスジエチルアミノシラン（ＢＤＥＡＳ）を用いることにより、４００℃未満の低温で均一なシリコン酸化膜を形成する方法が提案されている。
特許第５３２９２１８号
　しかしながら、特許文献１に記載のビスジエチルアミノシランは４００℃未満の低温でシリコン酸化膜を形成可能であるが、成膜速度は小さく、生産性については不十分である。
　本発明は、このような事情の下で考え出されたものであって、シリコン含有膜の形成において、膜質の低下を招くことなく成膜温度の低温化と成膜速度向上を可能とするシリコン前駆体を提供することを主たる課題とする。
　本発明者らは、鋭意検討の結果、ジシラザン構造(－Ｓｉ－Ｎ－Ｓｉ－)を有するアミノジシラザン化合物はアミノ基の効果により、分解温度を低温化でき、成膜時の吸着性の向上による成膜速度の向上を可能とし、またジシラザン構造の効果により、基板表面に吸着するＳｉ原子数が増加し、成膜速度の向上が可能であることを見出した。中でも特定のビスアルキルアミノジシラザン化合物をシリコン前駆体として用いることで、成膜温度の低温化と成膜速度向上させた成膜ができることを見出し、本発明を完成させるに至った。
　すなわち、本発明は、以下に掲げる態様の発明を提供する。
項１　下式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
 ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表される、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
項２　Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５が互いに同一である、項１に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物。
項３　Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５が互いに同一であり、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５とＲ３とが異なる、項１に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物。
項４　Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５の合計の炭素数は５～２０である、項１～３のいずれか一項に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物。
項５　下式：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
 で表される１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンである、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
項６　下式：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
 で表される１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンである、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
項７　下式：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010
 で表される１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンである、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
項８　項１～７のいずれか一項に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物からなる、シリコン含有膜の前駆体。
項９　前記シリコン含有膜が化学気相成長により形成される、項８に記載の前駆体。
項１０　前記化学気相成長は原子層堆積である、項８または９に記載の前駆体。
項１１　項１～７のいずれか一項に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物を含む、シリコン含有膜形成用の組成物。
項１２　前記シリコン含有膜が化学気相成長により形成される、項１１に記載の組成物。
項１３　前記化学気相成長は、原子層堆積である項１２に記載の組成物。
項１４　１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物の製造方法であって、
　（ａ）ジクロロシランおよび第一級アルキルアミンを、溶媒に添加して１，３－ジクロロ－２－アルキルジシラザン化合物を合成する合成工程；
　（ｂ）副生塩を濾過により除去する濾過工程；
　（ｃ）ろ液に第二級アルキルアミンを添加して１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を合成する合成工程；および
　（ｄ）蒸留により１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を単離する蒸留工程
を含む、または
　（ａ’）ジクロロシランおよび第二級アルキルアミンを、溶媒に添加してクロロジアルキルアミノシラン化合物を合成する合成工程；
　（ｂ’）副生塩を濾過により除去する濾過工程；
　（ｃ’）ろ液に第一級アルキルアミンを添加して１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を合成する合成工程；および
　（ｄ’）蒸留により１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を単離する蒸留工程
を含む、製造方法。
項１５　前記１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物が下式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011
 ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表され、
　前記第一級アルキルアミンが下式（２）：
　　Ｈ２ＮＲ３
［式（２）中、Ｒ３は炭素数１～５のアルキル基である。］
で表され、
　前記第二級アルキルアミンが下式（３）
　　ＮＨＲ’２
［式（３）中、ＮＨＲ’２はＮＨＲ１Ｒ２またはＮＨＲ４Ｒ５であり、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表される、項１４に記載の製造方法。
項１６　下式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012
 ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表される項１～７のいずれか一項に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物を用いる、シリコン含有膜の製造方法。
項１７　シリコン含有膜は酸化シリコン膜である、項１６に記載のシリコン含有膜の製造方法。
　本発明によれば、アミノ基を有する特定のビスアルキルアミノジシラザン化合物をシリコン前駆体として用いることで、シリコン含有膜の形成において成膜温度が低下させることができる。さらに、１分子中に２つのＳｉ原子を有するジシラザン構造の効果により、成膜速度が向上する。従って、本発明の方法によれば、より低温で高速成膜が可能となるため、安価かつ高生産性で半導体デバイスを作製することができる。
本発明の製造方法により得られた１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンの１Ｈ－ＮＭＲチャート。 本発明の製造方法により得られた１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンの１Ｈ－ＮＭＲチャート。 本発明の製造方法により得られた１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンの１Ｈ－ＮＭＲチャート。
　本発明は、下式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013
 ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表される、１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物（以下、単にビスアルキルアミノジシラザン化合物とも記載する）を提供する。
　Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基であり、例えば炭素数１～４のアルキル基（メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ｎ－ブチル、ｓｅｃ－ブチル、イソブチルまたはｔ－ブチル）、好ましくは炭素数１～３のアルキル基（メチル、エチル、プロピルまたはイソプロピル）、より好ましくは炭素数１～２（メチルまたはエチル）である。Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して分岐鎖状または直鎖状であってよく、好ましくは直鎖状である。
　成膜性の観点から、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５は互いに同一であることが好ましい。Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５は互いに同一であるがＲ３とは異なっていてよく、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５が互いに同一であってもよい。Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５の合計の炭素数は、５～２０であってよく、好ましくは５～１５、より好ましくは５～１２（特に５～１０）である。
　以下に、本発明におけるビスアルキルアミノジシラザン化合物の製造方法、特に下式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000014
 ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表されるビスアルキルアミノジシラザン化合物の製造方法を説明する。
　本発明の第一の態様におけるビスアルキルアミノジシラザン化合物の製造方法は、（ａ）ジクロロシランおよび第一級アルキルアミンを溶媒に添加して１，３－ジクロロ－２－アルキルジシラザン化合物（以下、単にジクロロジシラザン化合物とも記載する）を合成する合成工程、（ｂ）副生塩を濾過により除去する濾過工程、（ｃ）ろ液に第二級アルキルアミンを添加してビスアルキルアミノジシラザン化合物を合成する合成工程、および（ｄ）蒸留によりビスアルキルアミノジシラザン化合物を単離する蒸留工程を含む。
　本発明の第一の態様における下式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000015
 ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表される、ビスアルキルアミノジシラザン化合物の製造方法は、まず、ジクロロシランに式（２）：
　　Ｈ２ＮＲ３
［式（２）中、Ｒ３は上記で定義したとおりである。］
で表される第一級アルキルアミンを反応させることによって、
下式（４）：
　　ＳｉＨ２Ｃｌ－ＮＲ３－ＳｉＨ２Ｃｌ
［式（４）中、Ｒ３は上記で定義したとおりである。］
で表される、ジクロロジシラザン化合物である中間体（４）を製造し、次いで、中間体（４）に式（３）
　　ＮＨＲ’２
［式（３）中、ＮＨＲ’２はＮＨＲ１Ｒ２またはＮＨＲ４Ｒ５であり、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは上記で定義したとおりである。］
で表される第二級アルキルアミンを反応させることを含む製造方法であってよい。
　ジクロロシランと第一級アルキルアミンの反応式の例を以下に示す。
　　　２ＳｉＨ２Ｃｌ２＋３ＮＨ２Ｒ３
　　→ＳｉＨ２Ｃｌ－ＮＲ３－ＳｉＨ２Ｃｌ＋２ＮＨ２Ｒ３・ＨＣｌ
中間体（４）と第二級アルキルアミンの反応式の例を以下に示す。
　　　ＳｉＨ２Ｃｌ－ＮＲ３－ＳｉＨ２Ｃｌ＋４ＮＨＲ’２
　　→ＳｉＨ２ＮＲ’２－ＮＲ３－ＳｉＨ２ＮＲ’２＋２ＮＨＲ’２・ＨＣｌ
　工程（ａ）では、最初に第一級アルキルアミンを有機溶媒に溶解させて、そこにジクロロシランを加えていく方法、あるいは、ジクロロシランを有機溶媒に溶かしておきそこに第一級アルキルアミンを加えていく方法のいずれでも本反応には適用可能である。
　第一級アルキルアミンの使用量は、原料であるジクロロシランに対して、通常０．０５～７．０倍モル（例えば０．０５～３．５倍モル）、収率向上の観点から好ましくは０．２～２．０倍モル（例えば０．４～１．８倍モル）である。
　反応は発熱反応であることと副生成物として生じるポリシラザンの生成抑制ため、反応温度は低温で行われることが好まれるが、良好な収率が得られることから、例えば－５０℃～２００℃、好ましくは－１０～８０℃の範囲で反応が行われる。反応時間は通常０．５～２４時間の範囲である。
　工程（ｂ）では、反応器内の粗生成物から副生塩を除去する。ジクロロジシラザンの安定性を良好に保つために乾燥した不活性ガス下で、例えば窒素またはアルゴン下で行うことが望ましい。濾過温度は一意的に決まるものではないが、－１０℃以上であってよく、例えば１０℃から使用溶媒の沸点まで適用可能である。好ましくは２０℃から６５℃の範囲で行うのが望ましい。
　工程（ｃ）では、工程（ｂ）で得られたろ液に対して第二級アルキルアミンを添加することによってビスアルキルアミノジシラザン化合物を合成する。
　第二級アルキルアミンの使用量は、中間体であるジクロロジシラザンの総量１モルに対して、通常０．１～４０倍モル、収率向上の観点から好ましくは１．５～６倍モルである。
　反応は発熱反応であるため、反応温度は低温で行われることが好まれるが、良好な収率が得られることから、例えば－５０℃～２００℃、好ましくは－１０～８０℃の範囲で反応が行われる。反応時間は通常０．５～２４時間の範囲である。
　工程（ｄ）では、蒸留、例えば減圧蒸留を行うことによってビスアルキルアミノジシラザン化合物が単離される。アミン、有機溶媒は容易に除去され、ビスアルキルアミノジシラザン化合物を十分に高い純度で精製することができる。
　本発明の第二の態様のビスアルキルアミノジシラザン化合物の製造方法は、（ａ’）ジクロロシランおよび第二級アルキルアミンを溶媒に添加してクロロジアルキルアミノシラン化合物を合成する合成工程、（ｂ’）副生塩を濾過により除去する濾過工程、（ｃ’）ろ液に第一級アルキルアミンを添加してビスアルキルアミノジシラザン化合物を合成する合成工程、および（ｄ’）蒸留によりビスアルキルアミノジシラザン化合物を単離する蒸留工程を含む。
　本発明の第二の態様における下式（１）：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000016
 ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
で表されるビスアルキルアミノジシラザン化合物の製造方法は、まず、ジクロロシランに式（３）：
　　ＮＨＲ’２
［式（３）中、ＮＨＲ’２はＮＨＲ１Ｒ２またはＮＨＲ４Ｒ５であり、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは上記で定義したとおりである。］
で表される第二級アルキルアミンを反応させることによって、下式（５）：
　　Ｃｌ－ＳｉＨ２－ＮＲ’２
［式（５）中、ＮＲ’２はＮＲ１Ｒ２またはＮＲ４Ｒ５であり、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは上記で定義したとおりである。］
で表される、クロロジアルキルアミノシラン化合物である中間体（５）を製造し、次いで、中間体（５）に式（２）
　　Ｈ２ＮＲ３
［式（２）中、Ｒ３は上記で定義したとおりである。］
で表される第一級アルキルアミンを反応させることを含む製造方法であってよい。
　ジクロロシランと第二級アルキルアミンの反応式の例を以下に示す。
　　　ＳｉＨ２Ｃｌ２＋２ＮＨＲ’２
　　→ＳｉＨ２Ｃｌ－ＮＲ’２＋ＮＨＲ’２・ＨＣｌ
　中間体（５）と第一級アルキルアミンの反応式の例を以下に示す。
　　　２ＳｉＨ２Ｃｌ－ＮＲ’２＋３ＮＨ２Ｒ３
　　→ＳｉＨ２ＮＲ’２－ＮＲ３－ＳｉＨ２ＮＲ’２＋２ＮＨ２Ｒ３・ＨＣｌ
　工程（ａ’）では、最初に第二級アルキルアミンを有機溶媒に溶解させて、そこにジクロロシランを加えていく方法、あるいは、ジクロロシランを有機溶媒に溶かしておきそこに第二級アルキルアミンを加えていく方法のいずれでも本反応には適用可能である。
　第二級アルキルアミンの使用量は、原料であるジクロロシランに対して、通常０．０５～２０倍モル（例えば０．０５～１０倍モル）、収率向上の観点から好ましくは０．５～４．０倍モル（例えば０．５～３倍モル）である。
　反応は発熱反応であることと副生成物として生じるビスアルキルアミノシランの生成抑制ため、反応温度は低温で行われることが好まれるが、良好な収率が得られることから、例えば－５０℃～２００℃、好ましくは－３０～１００℃（例えば－１０～８０℃）の範囲で反応が行われる。反応時間は通常０．５～２４時間の範囲である。
　工程（ｂ’）では、反応器内の粗生成物から副生塩を除去する。アミノクロロシランの分解を抑えるために乾燥した不活性ガス下で、例えば窒素またはアルゴン下で行うことが望ましい。濾過温度は一意的に決まるものではないが、１０℃から使用溶媒の沸点まで適用可能である。好ましくは２０℃から６５℃の範囲で行うのが望ましい。
　工程（ｃ’）では、工程（ｂ’）で得られたろ液に対して第一級アルキルアミンを添加することによって合成する。
　第一級アルキルアミンの使用量は、中間体（５）の総量１モルに対して、通常０．０５～７．０倍モル、収率向上の観点から好ましくは０．２～２．０倍モルである。
　反応は発熱反応であるため、反応温度は低温で行われることが好まれるが、良好な収率が得られることから、例えば－５０℃～２００℃、好ましくは－１０～８０℃の範囲で反応が行われる。反応時間は通常０．５～２４時間の範囲である。
　工程（ｄ’）では、蒸留、例えば減圧蒸留を行うことによってビスアルキルアミノジシラザン化合物が単離される。アミン、有機溶媒は容易に除去され、ビスアルキルアミノジシラザン化合物を十分に高い純度で精製することができる。
　本発明に用いることができる溶媒は、例えばヘキサン、シクロヘキサン、ヘプタン、ノナン、デカンなどの炭化水素類；ジクロロエタン、ジクロロメタン、クロロホルム等のハロゲン化炭化水素類；ベンゼン、トルエン、キシレン、クロロベンゼン、トリクロロベンゼン等の芳香族炭化水素類；およびこれらの混合物を用いることができる。これらの中でもヘキサン、シクロヘキサン、ヘプタン、ノナン、デカン等の炭化水素類が好ましく、とりわけヘキサンが好ましく用いられる。溶媒の使用量はジクロロシランに対して、通常０．１～５０倍質量である。
　ジクロロシラン、クロロアミノシラン、ジクロロジシラザン、アミノジシラザンなどの加水分解を回避するため、反応系は全て無水条件で行うことが望ましく、使用する全ての原料中の水分を全ての原料質量に対して０～５０００質量ｐｐｍ、好ましくは０～４００質量ｐｐｍの範囲にして反応を行う。また、反応装置は加熱乾燥および減圧、窒素やアルゴンなどの不活性ガス置換を行うことで乾燥されたものを用いることが望ましい。
　本発明におけるビスアルキルアミノジシラザン化合物をシリコン含有膜の中間体として用いて、基板上にシリコン含有膜を形成することができる。より詳しくは、本発明によるシリコン含有膜の形成方法は、
　　（ｅ）基板に、本発明におけるビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むビスアルキルアミノジシラザン組成物を接触させて、基板に前記ビスアルキルアミノジシラザン組成物を吸着させる工程；
　　（ｆ）未吸着のビスアルキルアミノジシラザン組成物および副生物をパージする工程；
　　（ｇ）前記ビスアルキルアミノジシラザン組成物が吸着した基板に反応ガスを注入することで、ビスアルキルアミノジシラザンが分解され原子層を形成する工程；および
　　（ｈ）未反応の反応ガスと副生物をパージする工程
を含む、原子層堆積法である。
　ビスアルキルアミノジシラザン組成物は、ビスアルキルアミノジシラザン化合物以外に、例えば、キャリアガスとして不活性ガスあるいは低活性ガスを含んでもよい。
　基板の温度は例えば１００～６００℃であり、好ましくは１００～５５０℃である。
　工程（ｅ）および工程（ｇ）でガス注入時の圧力は例えば０．０５～１００Ｔｏｒｒであり、好ましくは０．０５～５０Ｔｏｒｒである。
　工程（ｇ）では、反応ガスとして、Ｓｉ－Ｎ結合を有する窒化シリコン膜を形成する際は窒素、アンモニア、一酸化二窒素、一酸化窒素、二酸化窒素から選択される一つ以上のガスを用いることができる。Ｓｉ－Ｏ結合を有する酸化シリコン膜を形成する際は酸素、オゾン、一酸化窒素から選択される一つ以上のガスを用いることができる。
　シリコン含有膜の形成は窒素やアルゴンなどの不活性ガス置換を行った後に行うことが望ましい。すなわち、反応系内部を不活性ガス置換した後に、上記工程（ｅ）を行うことが好ましい。
　以下に本発明を実施例により詳細に説明する。
［実施例１：１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンの合成］
　窒素置換後、温度計、冷却管、モーター攪拌機をセットした２０００ｍＬのフラスコにジクロロシラン６４ｇ（０．６４モル）とヘキサン７２５ｇを添加し冷媒にアセトンを用いて投げ込みクーラーで－３０℃に冷却した。－３０℃で保温、攪拌しながらモノエチルアミンのテトラヒドロフラン（１０ｗ％）溶液４３０ｇ（０．９６モル）を液中に滴下漏斗を用いて２時間かけてゆっくり滴下し、導入したところ白煙が生じると共に白色の塩が生じた。モノエチルアミンのテトラヒドロフラン（１０ｗ％）溶液の滴下後、１６時間攪拌しながら保温した。その後、乾燥窒素雰囲気としたグローブボックス内で減圧濾過により副生物であるアミン塩酸塩が主である固形物を取り除き１，３－ジクロロ－２－エチルジシラザンを含むヘキサン溶液を得た。
　この１，３－ジクロロ－２－エチルジシラザン溶液を温度計、冷却管、モーター攪拌機がセットされ、乾燥窒素置換された２０００ｍＬフラスコに添加し、冷媒にアセトンを用いて投げ込みクーラーで０℃に冷却した。０℃で保温、攪拌しながらジエチルアミン９３ｇ（１．３モル）を２時間かけてゆっくり滴下した。その後、撹拌しながら室温まで昇温し、そのまま１６時間保温した。乾燥窒素雰囲気としたグローブボックス内で減圧濾過により副生するアミン塩酸塩が主である固形物を取り除き、１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンを含むヘキサン溶液を得た。
　この１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザン溶液を内温４０℃で減圧蒸留することで１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザン溶液からヘキサンを除去し、粗１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザン溶液を得て、さらに蒸留塔を用いて内温１００℃、５Ｔｏｒｒで減圧蒸留することで最終生成物である１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンを高純度で得た。
　蒸留後のGC分析により、９５．９面積％の純度で２７ｇ（収率２８％）のビスアルキルアミノジシラザン化合物が得られたことが確認された。得られたビスアルキルアミノジシラザン化合物は1H-NMRおよびGC-MSによって同定した。1H-NMRの帰属は以下の通りである。1H-NMRチャートは図１に示すとおりである。
σ (ppm)=1.02 ([CH 3-CH2]2-N-, 12H, t, J=7.0Hz), 1.09 (CH 3-CH2-N-, 3H, t, J=7.1Hz), 
2.88 ([CH3-CH 2]2-N-, 8H, q, J=7.0Hz), 2.94 (CH3-CH 2-N- 2H, q, J=7.1Hz), 4.52(-SiH 2 , 4H, s)
　上記1H-NMRおよびGC-MSの結果により、得られたビスアルキルアミノジシラザン化合物は、下式：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000017
 で表される１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンと同定した。
［実施例２：１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンの合成］
　窒素置換後、温度計、冷却管、モーター攪拌機をセットした２０００ｍＬのフラスコにジクロロシラン６０ｇ（０．６０モル）とヘキサン６６０ｇを添加し冷媒にアセトンを用いて投げ込みクーラーで－２０℃に冷却した。－２０℃で保温、攪拌しながらモノメチルアミン２７ｇ（０．８６モル）を液中に滴下漏斗を用いて４時間かけてゆっくり滴下し、導入したところ白煙が生じると共に白色の塩が生じた。モノメチルアミン添加後、１９時間攪拌しながら保温した。その後、乾燥窒素雰囲気としたグローブボックス内で減圧濾過により副生物であるアミン塩酸塩が主である固形物を取り除き１，３－ジクロロ－２－メチルジシラザンを含むヘキサン溶液を得た。
　この１，３－ジクロロ－２－メチルジシラザン溶液を温度計、冷却管、モーター攪拌機がセットされ、乾燥窒素置換された２０００ｍＬフラスコに添加し、冷媒にアセトンを用いて投げ込みクーラーで－２０℃に冷却した。－２０℃で保温、攪拌しながらジメチルアミン５３ｇ（１．２モル）を６時間かけてゆっくり添加した。その後、撹拌しながら室温まで昇温し、そのまま１８時間保温した。乾燥窒素雰囲気としたグローブボックス内で減圧濾過により副生するアミン塩酸塩が主である固形物を取り除き、１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンを含むヘキサン溶液を得た。
　この１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザン溶液を内温５０℃で減圧蒸留することで１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザン溶液からヘキサンを除去し、粗１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザン溶液を得て、さらに蒸留塔を用いて内温７０℃、１０Ｔｏｒｒで減圧蒸留することで最終生成物である１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンを高純度で得た。
　蒸留後のGC分析により、９７面積％の純度で９ｇ（収率１７％）のビスアルキルアミノジシラザン化合物が得られたことが確認された。得られたビスアルキルアミノジシラザン化合物は1H-NMRおよびGC-MSによって同定した。1H-NMRの帰属は以下の通りである。1H-NMRチャートは図２に示すとおりである。
σ(ppm)=2.53 (Si-[CH 3 ]N-Si, 3H, s), 2.55(CH 3 -N-Si 12H, s), 4.45(-SiH 2 , 4H, s)
　上記1H-NMRおよびGC-MSの結果により、得られたビスアルキルアミノジシラザン化合物は、下式：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000018
 で表される１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンと同定した。
［実施例３：１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンの合成］
　窒素置換後、温度計、冷却管、モーター攪拌機をセットした２０００ｍＬのフラスコにジクロロシラン６４ｇ（０．６４モル）とヘキサン７０７ｇを添加し冷媒にアセトンを用いて投げ込みクーラーで０℃に冷却した。０℃で保温、攪拌しながらノルマルプロピルアミン６３ｇ（１．０６モル）を液中に滴下漏斗を用いて２時間かけてゆっくり滴下し、導入したところ白煙が生じると共に白色の塩が生じた。ノルマルプロピルアミンの滴下後、１５時間攪拌しながら保温した。その後、乾燥窒素雰囲気としたグローブボックス内で減圧濾過により副生物であるアミン塩酸塩が主である固形物を取り除き１，３－ジクロロ－２－ノルマルプロピルジシラザンを含むヘキサン溶液を得た。
　この１，３－ジクロロ－２－ノルマルプロピルジシラザン溶液を温度計、冷却管、モーター攪拌機がセットされ、乾燥窒素置換された２０００ｍＬフラスコに添加し、冷媒にアセトンを用いて投げ込みクーラーで０℃に冷却した。０℃で保温、攪拌しながらジエチルアミン９２ｇ（１．３モル）を２時間かけてゆっくり滴下した。その後、撹拌しながら室温まで昇温し、そのまま１６時間保温した。乾燥窒素雰囲気としたグローブボックス内で減圧濾過により副生するアミン塩酸塩が主である固形物を取り除き、１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンを含むヘキサン溶液を得た。
　この１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザン溶液を内温４０℃で減圧蒸留することで１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザン溶液からヘキサンを除去し、粗１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザン溶液を得て、さらに蒸留塔を用いて内温１２０℃、２Ｔｏｒｒで減圧蒸留することで最終生成物である１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンを高純度で得た。
　蒸留後のGC分析により、９５．０面積％の純度で１６ｇ（収率１９％）のビスアルキルアミノジシラザン化合物が得られたことが確認された。得られたビスアルキルアミノジシラザン化合物は1H-NMRおよびGC-MSによって同定した。1H-NMRの帰属は以下の通りである。1H-NMRチャートは図３に示すとおりである。
σ (ppm)= 0.84(CH 3-CH2-CH2-N-, 3H, t, J=7.6Hz), 1.02 ([CH 3-CH2]2-N-, 12H, t, 
J=7.2Hz), 1.48 (CH3-CH 2 -CH2-N-, 2H, sext, J=7.6Hz), 2.81 (CH3-CH2-CH 2 -N-, 2H, ｔ, 
J=7.6Hz), 2.87 ([CH3-CH 2]2-N-, 8H, q, J=7.2Hz), 4.51(-SiH 2 , 4H, s)
　上記1H-NMRおよびGC-MSの結果により、得られたビスアルキルアミノジシラザン化合物は、下式：
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000019
 で表される１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンと同定した。
［実施例４：１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンを用いたシリコン含有膜の形成］
　真空装置内にシリコン基板を設置し、１００～６００℃に加熱した。実施例１で得られた１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンおよびキャリアガスを含むアミノシラザン組成物を０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力にて注入し、加熱したシリコン基板に吸着させた。次いで、装置内に未吸着のアミノシラザン組成物および副生物をパージした。
　その後、反応ガスとしてオゾンを０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力で注入し、基板上に堆積した１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザン由来の酸化シリコンの原子層を形成した。次いで、未反応のオゾンガスと副生物をパージした。
　上記のサイクルを３００回繰り返して、所望の膜厚の酸化シリコン膜を得た。
　形成した層の厚さはエリプソメータで測定し、赤外分光分析を用いて酸化シリコン膜であることを確認した。以下表１に具体的な蒸着方法を示し、表２に１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンの堆積量を示した。
［実施例５：１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンを用いたシリコン含有膜の形成］
　真空装置内にシリコン基板を設置し、１００～６００℃に加熱した。実施例２で得られた１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンおよびキャリアガスを含むアミノシラザン組成物を０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力にて注入し、加熱したシリコン基板に吸着させた。次いで、装置内に未吸着のアミノシラザン組成物および副生物をパージした。
　その後、反応ガスとしてオゾンを０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力で注入し、基板上に堆積した１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザン由来の酸化シリコンの原子層を形成した。次いで、未反応のオゾンガスと副生物をパージした。
　上記のサイクルを３００回繰り返して、所望の膜厚の酸化シリコン膜を得た。
　形成した層の厚さはエリプソメータで測定し、赤外分光分析を用いて酸化シリコン膜であることを確認した。以下表１に具体的な蒸着方法を示し、表２に１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンの堆積量を示した。
［実施例６：１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンを用いたシリコン含有膜の形成］
　真空装置内にシリコン基板を設置し、１００～６００℃に加熱した。実施例３で得られた１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンおよびキャリアガスを含むアミノシラザン組成物を０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力にて注入し、加熱したシリコン基板に吸着させた。次いで、装置内に未吸着のアミノシラザン組成物および副生物をパージした。
　その後、反応ガスとしてオゾンを０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力で注入し、基板上に堆積した１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザン由来の酸化シリコンの原子層を形成した。次いで、未反応のオゾンガスと副生物をパージした。
　上記のサイクルを３００回繰り返して、所望の膜厚の酸化シリコン膜を得た。
　形成した層の厚さはエリプソメータで測定し、赤外分光分析を用いて酸化シリコン膜であることを確認した。以下表１に具体的な蒸着方法を示し、表２に１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンの堆積量を示した。
［比較例１：ビスジエチルアミノシランを用いたシリコン含有膜の形成］
　真空装置内にシリコン基板を設置し、１００～６００℃に加熱した。ビスジエチルアミノシランおよびキャリアガスを含むアミノシラン組成物を０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力にて注入し、加熱したシリコン基板に吸着させた。次いで、装置内に未吸着のアミノシラン組成物および副生物をパージした。
　その後、反応ガスとしてオゾンを０．０５～１００Ｔｏｒｒの圧力で注入し、基板上に堆積したビスジエチルアミノシラン由来の酸化シリコンの原子層を形成した。次いで、未反応のオゾンガスと副生物をパージした。
　上記のサイクルを３００回繰り返して、所望の膜厚の酸化シリコン膜を得た。
　形成した層の厚さはエリプソメータで測定し、赤外分光分析を用いて酸化シリコン膜であることを確認した。以下表１に具体的な蒸着方法を示し、表２にビスジエチルアミノシランの堆積量を示した。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000020
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000021
　原子堆積法を用いれば、アスペクト比が高い構造が形成された半導体基板やナノワイヤーなどにも、極薄かつ原子欠陥がなく酸化シリコン膜などを形成することができる。本発明によるビスアルキルアミノジシラザン化合物は、低温かつ高速で成膜する原子堆積法に有用である。
［関連出願］
　本出願は、２０１８年１２月５日に日本国でされた特願２０１８－２２８３０５及び２０１９年９月２７日に日本国でされた特願２０１９－１７７５３９を基礎出願とするパリ条約第４条に基づく優先権を主張する。この基礎出願の内容は、参照することによって、本明細書に組み込まれる。

Claims (17)

  1. 下式（１）：
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
     ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
    で表される、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
  2. Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５が互いに同一である、請求項１に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物。
  3. Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５が互いに同一であり、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５とＲ３とが異なる、請求項１に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物。
  4. Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５の合計の炭素数は５～２０である、請求項１～３のいずれか一項に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物。
  5. 下式：
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
     で表される１，３－ビスジエチルアミノ－２－エチルジシラザンである、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
  6. 下式：
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
     で表される１，３－ビスジメチルアミノ－２－メチルジシラザンである、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
  7. 下式：
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
     で表される１，３－ビスジエチルアミノ－２－ノルマルプロピルジシラザンである、ビスアルキルアミノジシラザン化合物。
  8. 請求項１～７のいずれか一項に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物からなる、シリコン含有膜の前駆体。
  9. 前記シリコン含有膜が化学気相成長により形成される、請求項８に記載の前駆体。
  10. 前記化学気相成長は原子層堆積である、請求項９に記載の前駆体。
  11. 項１～７のいずれか一項に記載のビスアルキルアミノジシラザン化合物を含む、シリコン含有膜形成用の組成物。
  12. 前記シリコン含有膜が化学気相成長により形成される、請求項１１の組成物。
  13. 前記化学気相成長は、原子層堆積である請求項１２の組成物。
  14. １，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物の製造方法であって、
    　（ａ）ジクロロシランおよび第一級アルキルアミンを、溶媒に添加して１，３－ジクロロ－２－アルキルジシラザン化合物を合成する合成工程；
    　（ｂ）副生塩を濾過により除去する濾過工程；
    　（ｃ）ろ液に第二級アルキルアミンを添加して１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を合成する合成工程；および
    　（ｄ）蒸留により１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を単離する蒸留工程
    を含む、または
    　（ａ’）ジクロロシランおよび第二級アルキルアミンを、溶媒に添加してクロロジアルキルアミノシラン化合物を合成する合成工程；
    　（ｂ’）副生塩を濾過により除去する濾過工程；
    　（ｃ’）ろ液に第一級アルキルアミンを添加して１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を合成する合成工程；および
    　（ｄ’）蒸留により１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物を単離する蒸留工程
    を含む、製造方法。
  15. 前記１，３－ビスジアルキルアミノ－２－アルキルジシラザン化合物が下式（１）：
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
     ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
    で表され、
    　前記第一級アルキルアミンが下式（２）：
    　　Ｈ２ＮＲ３
    ［式（２）中、Ｒ３は炭素数１～５のアルキル基である。］
    で表され、
    　前記第二級アルキルアミンが下式（３）
    　　ＮＨＲ’２
    ［式（３）中、ＮＨＲ’２はＮＨＲ１Ｒ２またはＮＨＲ４Ｒ５であり、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
    で表される、請求項１４記載の製造方法。
  16. Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
     ［式（１）中、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４およびＲ５のそれぞれは独立して炭素数１～５のアルキル基である。］
    で表されるビスアルキルアミノジシラザン化合物を用いる、シリコン含有膜の製造方法。
  17. シリコン含有膜は酸化シリコン膜である、請求項１６記載のシリコン含有膜の製造方法。
PCT/JP2019/047012 2018-12-05 2019-12-02 ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物 WO2020116386A1 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018228305 2018-12-05
JP2018-228305 2018-12-05
JP2019177539A JP2020096172A (ja) 2018-12-05 2019-09-27 ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物
JP2019-177539 2019-09-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020116386A1 true WO2020116386A1 (ja) 2020-06-11

Family

ID=70975160

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2019/047012 WO2020116386A1 (ja) 2018-12-05 2019-12-02 ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物

Country Status (1)

Country Link
WO (1) WO2020116386A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023211027A1 (ko) * 2022-04-25 2023-11-02 엠케미칼 주식회사 실리콘 전구체 화합물 및 이의 제조방법, 실리콘 전구체 이용한 실리콘 함유 박막의 제조방법

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018182309A1 (en) * 2017-03-29 2018-10-04 Dnf Co., Ltd. Composition for depositing silicon-containing thin film containing bis(aminosilyl)alkylamine compound and method for manufacturing silicon-containing thin film using the same

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018182309A1 (en) * 2017-03-29 2018-10-04 Dnf Co., Ltd. Composition for depositing silicon-containing thin film containing bis(aminosilyl)alkylamine compound and method for manufacturing silicon-containing thin film using the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023211027A1 (ko) * 2022-04-25 2023-11-02 엠케미칼 주식회사 실리콘 전구체 화합물 및 이의 제조방법, 실리콘 전구체 이용한 실리콘 함유 박막의 제조방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101720017B1 (ko) 신규한 트리실릴아민 유도체, 이의 제조방법 및 이를 이용한 실리콘 함유 박막
JP6876145B2 (ja) ビス（アミノシリル）アルキルアミン化合物を含むシリコン含有薄膜蒸着用組成物、およびそれを用いたシリコン含有薄膜の製造方法
JP7246929B2 (ja) 金属トリアミン化合物、その製造方法およびこれを含む金属含有薄膜蒸着用組成物
JP6900503B2 (ja) シリルアミン化合物、それを含むシリコン含有薄膜蒸着用組成物、およびそれを用いたシリコン含有薄膜の製造方法
JP6651663B1 (ja) アミノシラン化合物、前記アミノシラン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物
WO2020116386A1 (ja) ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物
JP7265446B2 (ja) アミノシラン化合物、前記アミノシラン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物
TWI781566B (zh) 矽肼合前驅物化合物
JP2020096172A (ja) ビスアルキルアミノジシラザン化合物、前記ビスアルキルアミノジシラザン化合物を含むシリコン含有膜形成用の組成物
KR101380317B1 (ko) 실리콘 원자 및 금속 원자에 대한 친화성이 우수한 고리형 아미노실란 화합물, 이의 제조방법 및 이의 응용
KR101919755B1 (ko) 신규한 유기아미노 규소 화합물 및 이를 이용한 규소 함유 박막
WO2024080237A1 (ja) シリコン含有膜前駆体、シリコン含有膜形成用の組成物、硫黄含有シロキサンの製造方法、及びシリコン含有膜の製造方法
KR101770152B1 (ko) 붕소함유 화합물을 포함하는 조성물, 이를 이용하여 제조된 붕소함유 박막 및 이를 이용한 붕소함유 박막의 제조방법
US20230088079A1 (en) Silicon precursors
JP6144161B2 (ja) 窒化ケイ素膜原料、およびこの原料から得られた窒化ケイ素膜
JP2024132524A (ja) アミノシルセスキオキサン
KR101306812B1 (ko) 신규의 텅스텐 실릴아미드 화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법
WO2023190386A1 (ja) 硫黄含有シロキサン、前記硫黄含有シロキサンを含むシリコン含有膜形成用の組成物、硫黄含有シロキサンの製造方法、シリコン含有膜、及びシリコン含有膜の製造方法
JP2024544251A (ja) モリブデン化合物、その製造方法、およびそれを含む薄膜の製造方法
KR20230089234A (ko) 몰리브데넘 화합물, 이의 제조방법 및 이를 포함하는 박막 증착용 조성물
TW202506695A (zh) 新穎胺基烷氧基矽基胺化合物、其製備方法及其應用
KR20250038277A (ko) 신규한 알콕시아미노실릴아민 화합물, 이의 제조방법, 이를 포함하는 실리콘 함유 박막증착용 조성물 및 이를 이용하여 실리콘 함유 박막을 제조하는 방법
TW202306959A (zh) 有機金屬化合物、其合成方法、包含其的氣相沉積前驅物及薄膜的製造方法
KR20240156952A (ko) 실리콘 함유 박막 증착용 조성물 및 이를 이용하여 제조되는 실리콘 함유 박막
KR20240156980A (ko) 실리콘 함유 박막 증착용 조성물 및 이를 이용하여 제조되는 실리콘 함유 박막

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19893298

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 19893298

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1