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WO2019084874A1 - 触摸屏检测结构及其制作方法、带检测结构的触摸屏 - Google Patents

触摸屏检测结构及其制作方法、带检测结构的触摸屏 Download PDF

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Publication number
WO2019084874A1
WO2019084874A1 PCT/CN2017/109146 CN2017109146W WO2019084874A1 WO 2019084874 A1 WO2019084874 A1 WO 2019084874A1 CN 2017109146 W CN2017109146 W CN 2017109146W WO 2019084874 A1 WO2019084874 A1 WO 2019084874A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
wire
signal transmission
touch screen
transmission line
line
Prior art date
Application number
PCT/CN2017/109146
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
胡康军
Original Assignee
深圳市柔宇科技有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 深圳市柔宇科技有限公司 filed Critical 深圳市柔宇科技有限公司
Priority to PCT/CN2017/109146 priority Critical patent/WO2019084874A1/zh
Priority to CN201780096073.7A priority patent/CN111344656A/zh
Publication of WO2019084874A1 publication Critical patent/WO2019084874A1/zh

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04103Manufacturing, i.e. details related to manufacturing processes specially suited for touch sensitive devices

Definitions

  • the present invention relates to the field of touch screen technologies, and in particular, to a touch screen detection structure, a manufacturing method thereof, and a touch screen with a detection structure.
  • the front-end process of the touch screen can be divided into a large-scale process and a small-piece process according to different process processes.
  • the large-scale process is to create M*N-chip sensors on a large piece of glass or film.
  • the OGS process is based on multi-row and multi-line layout on glass, and then the Sensor is produced; GFF and GF usually adopt a large-scale process.
  • the small-size process is to cut the glass into a single mold, first perform secondary reinforcement, and then place the sensor in the mold, such as the TOL process.
  • the Sensor adopts multi-line multi-column typesetting.
  • the conventional sensor function detection test method is to press the sensor pin end (pin end, also called pad) and the sensor channel end through a test tool (such as a thimble). Open/open circuit detection.
  • the thimble is required to be in contact with all the pins for testing. Since the spacing between the pins is small, the test alignment is relatively difficult and the test efficiency is slow. In addition, direct contact with the pins may cause damage to the sensor wiring.
  • the technical problem to be solved by the present invention is to provide a touch screen detecting structure and a manufacturing method thereof, and a touch screen with a detecting structure, which improve detection efficiency.
  • the technical solution adopted by the present invention to solve the technical problem thereof is: providing a touch screen detecting structure, comprising at least one set of first testing components and at least one set of second testing components;
  • the first test component includes a first wire electrically connected to a first signal transmission line of the touch screen, and a first connection for connecting the test device on an end of the first wire away from the first signal transmission line Measurement a second test component including a second wire electrically connected to the second signal transmission line of the touch screen, and a second wire connected to the end of the second wire away from the second signal transmission line for connecting the test device a test portion; the first signal transmission line and the second signal transmission line are adjacent to each other, and the first wire and the second wire are insulated.
  • the present invention also provides a method for fabricating a touch screen detection structure, including the following steps:
  • the present invention also provides a touch screen with a detection structure, including a touch screen and the above-described detection structure.
  • the present invention connects the signal transmission line of the touch screen and the testing device in a lead-bonding manner to perform functional testing by connecting the wire and the test portion on the signal transmission line of the touch screen, thereby reducing the number of connection and testing of the touch screen pad (pin). , greatly improve the detection efficiency of the touch screen function, effectively avoiding damage to the touch screen line caused by the function detection.
  • FIG. 1 is a schematic structural view of a touch screen detecting structure according to a first embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a schematic structural diagram of a touch screen detecting structure according to a second embodiment of the present invention.
  • FIG 3 is a schematic structural view of a touch screen detecting structure according to a third embodiment of the present invention.
  • the touch screen detection structure of the first embodiment of the present invention is connected to a touch screen for connecting with a test device to perform function detection on the touch screen.
  • the detecting structure may include at least one set of the first test component 10 and at least one set of the second test component 20, and the first test component 10 and the second test component 20 are connected to the multimeter or other test tools, and the signal transmission lines adjacent to each other can be detected.
  • the impedance value between the electrode patterns generally requires an impedance of >200 ⁇ between adjacent signal transmission lines or electrode pattern channels, so it is possible to determine whether the touch screen is short-circuited by the magnitude of the impedance value.
  • a touch screen (the structure in the dotted line frame in FIG. 1) includes a conductive substrate (not labeled), an electrode pattern 3 disposed on at least one surface of the conductive substrate, and a first disposed on the conductive substrate and surrounding the connected electrode pattern
  • the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2 are connected to the electrode pattern 3, respectively.
  • the free ends of the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2 away from the conductive substrate respectively extend to one side of the conductive substrate, and are disposed parallel to each other and adjacent to each other.
  • the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2 are multiple, and the plurality of first signal transmission lines 1 and the plurality of second signal transmission lines 2 are alternately distributed.
  • a pad 101 (also referred to as a pin terminal) is formed at the end of each of the first signal transmission lines 1, and a pad 201 (also referred to as a pin terminal) is formed at the end of each of the second signal transmission lines 2.
  • the touch screen detection structure includes a set of first test components 10 and a set of second test components 20
  • the first test component 10 may include a first wire 11 and a first test portion 12 connected to the first wire 11.
  • the first wire 11 includes a plurality of first lead wires 111 and a first connecting wire 112 connecting the first lead wires 111 according to the number of the first signal transmission lines 1 connected to the first wires 11; the plurality of first lead wires 111 respectively A plurality of first signal transmission lines 1 are connected.
  • the first wire 11 is made of a conductive metal and can be made of the same material as the first signal transmission line 1, and can be formed in the same manner as the first signal transmission line 1 or the second signal transmission line 2 or separately.
  • the first test portion 12 may be integrally formed on the first wire 11, and its shape is not limited, and may be a shape such as a circle, an ellipse or a polygon.
  • the width of the first test portion 12 is greater than the width of the first lead line 111, and the width of the first lead line 111 is greater than or equal to the width of the first signal transmission line 1.
  • the width of the first test portion 12 is greater than The width of the first lead line 111 is five times.
  • the first test portion 12 has a certain size, for example, 0.5 mm to 5 m, to facilitate contact with the test device for testing.
  • the second test component 20 can include a second wire 21 and a second test portion 22 coupled to the second wire 21.
  • the second wire 21 includes a plurality of second bow I outgoing lines 211 and a second connecting line 212 connecting the second bow I outgoing lines 211 according to the number of the second signal transmission lines 2 connected by the second wires 21; the plurality of second bows I
  • the outgoing line 211 is connected to the plurality of second signal transmission lines 2, respectively.
  • the second wire 21 is made of a conductive metal and can be made of the same material as the second signal transmission line 2.
  • the second test portion 22 may be integrally formed on the second wire 21, and its shape is not limited, and may be a circular shape, an elliptical shape or a polygonal shape.
  • the width of the second test portion 22 is greater than the width of the second lead line 211, and the width of the second lead line 211 is greater than or equal to the width of the second signal transmission line 2.
  • the width of the second test portion 22 is greater than 5 times the width of the second lead line 211.
  • the second test portion 22 has a size, for example, 0.5 mm to 5 m, to facilitate testing in contact with the test device.
  • first lead wires 111 are arranged in parallel at intervals. Each of the first lead wires 111 is connected by a laterally extending first connecting line 112, and the first connecting line 112 is perpendicular to each of the first lead wires 111 and is connected to an end of each of the first lead wires 111 away from the conductive substrate.
  • second test component 20 a plurality of second lead wires 211 are arranged in parallel, and each of the second lead wires 211 is connected by a laterally extending second connecting wire 212.
  • the second connecting wire 212 is perpendicular to each second bow.
  • the I outgoing line 211 is connected to an end of each of the second lead lines 211 away from the conductive substrate.
  • the first connecting line 112 and the second connecting line 212 are at different positions and are parallel to each other. Of course, the first connection line 112 and the second connection line 212 may also overlap each other.
  • the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2 are adjacent to each other, that is, adjacent two One of the root signal transmission lines is the first signal transmission line 1, and the other is the second signal transmission line 2.
  • One of the first connecting line 1 12 and the second connecting line 212 is farther away from the conductive substrate than the other.
  • the first connecting line 112 is more than the second connecting line 212 . Keep away from the conductive substrate. Therefore, there is an intersection between the second connecting line 2 12 and the first lead line 111.
  • the touch screen detecting structure further includes an insulating layer 30 disposed between the first wire 11 and the second wire 21, the first wire 11 and the first wire Two wires 21 isolated
  • the first lead line 111 and the second lead line 211 are substantially on the same plane, but at the positions of the first lead line 111 and the second connecting line 212, there is a cross, or the second bow There is an intersection between the I outgoing line 211 and the first connecting line 112, in order to avoid contact between the first lead line 111 and the second connecting line 212, or between the second lead line 211 and the first connecting line 112.
  • the insulating layer 30 is disposed between the first lead line 211 and the second connecting line 212 so that the two are located in different planes to avoid contact; or the insulating layer 30 is disposed on the second lead line 211 and the first connection Between the lines 112, the two are placed in different planes to avoid contact.
  • the insulating layer 30 covers the second connecting line 212.
  • the first lead line 111 is away from the insulating layer 30 after passing through one end of the first signal transmission line 1 and passes through the first connecting line 112 and the first connecting line 112.
  • a test portion 12 is connected such that the insulating layer 30 is interposed between the second connecting line 212 and the first lead line 111.
  • the insulating layer 30 may be made of silicon nitride, silicon oxide, ink, photoresist or other insulating paste, and may be formed by screen printing, coating, or the like depending on the material.
  • the first test component 10 further includes a first connection portion 13 connected to the end pad 101 of the first signal transmission line 1, and the first wire 11 is connected to the first signal transmission line 1 through the first connection portion 13. .
  • the first connecting portion 13 is connected between the first signal transmission line 1 and the first wire 11, so that the first connecting portion 13 turns on the first signal transmission line 1 and the first wire 11.
  • the contact resistance between the first connection portion 13 and the end pad of the first signal transmission line 1 and the first wire 11 is less than 500 ⁇ .
  • the first connecting portion 13 may be formed on the electrode pattern of the touch screen, and the first connecting portion 13 may be made in the same process as the touch electrode of the touch screen (formed by the electrode pattern 3). .
  • the first connecting portion 13 may be made of a transparent conductive material, or may be made of the same material as the first wire 11 and formed in the same manner as the first wire 11.
  • the first signal transmission line 1 is made of a material different from that of the first connection portion 13 and the touch electrodes of the touch screen.
  • the second test component 20 further includes a second connection portion 23 connected to the end pad of the second signal transmission line 2, and the second wire 21 is connected to the second signal transmission line 2 through the second connection portion 23.
  • the second connecting portion 23 Connected between the second signal transmission line 2 and the second wire 21, so that the second connection portion 23 turns on the second signal transmission line 2 and the second wire 21.
  • the contact resistance between the second connection portion 23 and the end pad of the second signal transmission line 2 and the second wire 21 is less than 500 ⁇ .
  • the second connecting portion 23 may be formed on the electrode pattern of the touch screen, and the second connecting portion 23 may be made in the same process as the touch electrode of the touch screen (formed by the electrode pattern 3). .
  • the second connecting portion 23 may be made of a transparent conductive material, or may be made of the same material as the second wire 21 and formed in the same manner as the second wire 21.
  • the second signal transmission line 2 is made of a material different from the second connection portion 23 and the touch electrodes of the touch screen.
  • the shape and size of the first connecting portion 13 are substantially the same as the pad 101 of the first signal transmission line 1, and the shape and size of the second connecting portion 23 and the pad 201 of the second signal transmission line 2 Roughly the same.
  • the gap between the adjacent first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 is also substantially the same as the gap between the pad 101 and the pad 201.
  • the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 are alternately and parallelly distributed.
  • the touch screen detecting structure of the second embodiment of the present invention is connected to the touch screen for connecting with the testing device to perform function detection on the touch screen.
  • the detecting structure may include at least one set of the first test component 10 and at least one set of the second test component 20, and the first test component 10 and the second test component 20 are connected to the multimeter or other test tools, and the signal transmission lines adjacent to each other can be detected.
  • the impedance value between the electrode patterns generally requires an impedance of >200 ⁇ between adjacent signal transmission lines or electrode pattern channels, so it is possible to determine whether the touch screen is short-circuited by the magnitude of the impedance value.
  • the first test component 10 may include a first wire 11, a first test portion 12, and a first connection portion 13.
  • the second test component 20 can include a second wire 21, a second test portion 22, and a second connection portion 23.
  • the touch screen detecting structure further includes an insulating layer 30 disposed between the first wire 11 and the second wire 21 to insulate the first wire 11 and the second wire 21.
  • the first wire 11 includes a plurality of first lead wires 111 and a first connecting wire 112 connecting the first lead wires 111.
  • the second wire 21 includes a plurality of second bow I outgoing wires 211 and connects the second bows I The second connection line 212 of the outgoing line 211.
  • the first wire 111 connected by a first lead 111 and the first signal transmission line, and connected by a first connection line 112 and the first test section 12; a second lead wire 21 by a second signal transmission line 211 and the second 2 is connected and connected to the second test portion 22 via the second connecting line 212.
  • the specific arrangement of the first wire 11, the first test portion 12, the second wire 21, the second test portion 22, and the insulating layer 30 can be referred to the related description of the first embodiment, and details are not described herein again.
  • This embodiment differs from the first embodiment in that: the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 extend radially outward from the touch screen, and the length is greater than the first connecting portion in the first embodiment shown in FIG. 1. 13 and the length of the second connecting portion 23.
  • first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 are alternately distributed, and a gap between the adjacent first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 is self-connected to the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2
  • the other end to which the first wire 1 1 and the second wire 21 are connected is gradually increased.
  • the arrangement in which the gap between the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 is gradually increased increases the gap between the corresponding first lead line 111 and the second lead line 211, which is beneficial to the first lead line 111. And the formation of the second lead line 211.
  • the touch screen detecting structure of the third embodiment of the present invention is connected to the touch screen for connecting with the testing device to perform function detection on the touch screen.
  • the detecting structure may include at least one set of the first test component 10 and at least one set of the second test component 20, and the first test component 10 and the second test component 20 are connected to the multimeter or other test tools, and the signal transmission lines adjacent to each other can be detected.
  • the impedance value between the electrode patterns generally requires an impedance of >200 ⁇ between adjacent signal transmission lines or electrode pattern channels, so it is possible to determine whether the touch screen is short-circuited by the magnitude of the impedance value.
  • the first test component 10 may include a first wire 11, a first test portion 12, and a first connection portion 13.
  • the second test component 20 can include a second wire 21, a second test portion 22, and a second connection portion 23.
  • the touch screen detecting structure further includes an insulating layer 30 disposed between the first wire 11 and the second wire 21 to insulate the first wire 11 and the second wire 21.
  • the first wire 11 includes a plurality of first lead wires 111 and a first connecting wire 112 connecting the first lead wires 111.
  • the second wire 21 includes a plurality of second bow I outgoing wires 211 and connects the second bows I The second connection line 212 of the outgoing line 211.
  • the first wire 111 connected by a first lead 111 and the first signal transmission line, and connected by a first connection line 112 and the first test section 12; a second lead wire 21 by a second signal transmission line 211 and the second 2 is connected and connected to the second test portion 22 via the second connecting line 212.
  • the detection structure includes two sets of first test components 10 and two sets of second test components 20; a set of first test components 10 and a set of second test components 20 Intersect (mainly the first bow I outgoing line 111 of the first wire 11 and the second connecting line 212 of the second wire 21 overlap) Do not connect the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2.
  • first test component 10 and the second test component 20 may also be two or more sets, respectively.
  • Each set of first test components 10 may include a first wire 11, a first test portion 12, and a first connection portion 13
  • Each set of second test components 20 can include a second wire 21, a second test portion 22, and a second connection portion 2
  • the touch screen detecting structure further includes an insulating layer 30 disposed between the first wire 11 and the second wire 21 to insulate the first wire 11 and the second wire 21.
  • the insulating layer 30 may be multiple, respectively disposed between the overlapping first test component 10 and the second test component 20; the insulating layer 30 may also be An integral layer is located between the first test component 10 and the second test component 20 side by side.
  • first wire 11, the first test portion 12, the second wire 21, the second test portion 22, and the insulating layer 30 can be referred to the above-mentioned first embodiment or the second embodiment. This will not be repeated here.
  • the wires including the first wire 11 and the second wire 12
  • the test portion including the test portion
  • the touch screen (including the first test portion 12 and the second test portion 22) are all disposed on the conductive substrate of the touch screen in the edge region of the touch screen, and are disposed mainly outside the edge region.
  • the shape of the touch screen is cut, and the detection structure is removed by punching, laser cutting, and the like.
  • the touch screen detection structure of the present invention can be fabricated on the touch screen.
  • a method for fabricating a touch screen detecting structure of the present invention may include the following steps:
  • Sl a first signal transmission line 1 and a second signal transmission line 2 of the touch screen are fabricated, and a second wire 21 and a second test portion 22 connected to the second signal transmission line 2 are formed on the conductive substrate of the touch screen.
  • the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2 of the touch screen are multiple, and each of the first signal transmission line 1 and the second signal transmission line 2 are alternately distributed.
  • the first wire 11 includes a first lead wire 111 and a first wire 112.
  • the second wire 21 includes a second lead wire 211 and a second wire 212.
  • the first lead wires 111 are connected to the first lead wires 111; the second lead wires 212 are connected to the respective second lead wires 211.
  • First lead line 111 and the second lead line 211 are alternately distributed.
  • the plurality of first lead lines 111 are electrically connected to the plurality of first signal transmission lines 1, respectively, and the plurality of second lead lines 21 1 are electrically connected to the plurality of second signal transmission lines 2, respectively.
  • the first connecting line 112 is connected to the end of the plurality of first lead lines 11 1 away from the first signal transmission line 1, and the second connecting line 212 is connected to the ends of the plurality of second bow I outgoing lines 211 away from the second signal transmission line 2.
  • the first lead line 111 is connected to the first test portion 12 through the first connection line 112; the second lead line 211 is connected to the second test portion 22 via the second connection line 212.
  • the insulating layer 30 is interposed between the second connecting line 212 and the first lead line 111 to insulate the two.
  • the first connecting line 112 is located on a side of the second connecting line 212 away from the second lead line 2 11 .
  • the insulating layer 30 covers the second connecting line 212.
  • the first lead line 111 is connected to the first test portion 12 through the first connecting line 112 after the one end of the first lead line 111 is separated from the first signal transmission line 1. Between the second connecting line 212 and the first lead line 111.
  • the manufacturing method of the present invention further includes the following steps:
  • S4: ⁇ is formed on the electrode pattern 3 of the touch screen, and the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 are formed on the conductive substrate of the touch screen. That is, the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 are fabricated in the same process as the electrode pattern of the touch panel.
  • the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 may be made of the same transparent conductive material as the electrode pattern, or may be made of the same material as the first conductive line 11 and the second conductive line 21, and the first signal transmission line The materials of the two signal transmission lines 2 are different.
  • the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 are fabricated in the same process using the same material as the electrode pattern, because in the subsequent cutting process (eg, by die cutting, laser cutting, precision machining, etc.) If the same material as the first wire 11 and the second wire 21 is used, the cutting may cause the edges of the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 to be easily broken or ablated.
  • the first connecting portion 13 is connected between the first signal transmission line 1 and the first lead line 111, and turns on the first signal transmission line 1 and the first conductive line 11.
  • the second connecting portion 23 is connected between the second signal transmission line 2 and the second lead line 211, and turns on the second signal transmission line 2 and the second wiring 21.
  • first wire 11 and the first connecting portion 13 and the second connecting portion 23 is not sequentially limited. For example, in one embodiment, steps S1 through S4 are performed in sequence. In another embodiment, step S is performed first.
  • the manufacturing method of the present invention further includes the following steps: [0069] S4. The first wire 11, the second wire 21, the first connecting portion 13, and the second connecting portion 23 are removed.
  • the manner of removal may be performed by punching, laser cutting, precision machining and cutting.
  • the detecting structure of the present invention can be integrated with the touch screen, and is connected to the touch screen after the touch screen is made.
  • the detection structure can be removed to form a touch screen finished product.
  • the touch panel with a detecting structure of the present invention includes a touch screen and a detecting structure of any of the above first to third embodiments.

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Abstract

一种触摸屏检测结构及其制作方法、带检测结构的触摸屏,该触摸屏检测结构包括至少一组第一测试组件(10)和至少一组第二测试组件(20);第一测试组件(10)包括与触摸屏的第一信号传输线(1)电连接的第一导线(11)、连接在第一导线(11)上的第一测试部(12);第二测试组件(20)包括与触摸屏的第二信号传输线(2)电连接的第二导线(21)、连接在第二导线(21)上的第二测试部(22);第一导线(11)和第二导线(21)相绝缘。上述检测结构通过引线搭桥的方式连接触摸屏的信号传输线,减少连接及测试触摸屏焊盘的数量,极大程度提高触摸屏功能检测效率,有效避免功能检测对触摸屏线路造成损伤。

Description

触摸屏检测结构及其制作方法、 带检测结构的触摸屏 技术领域
[0001] 本发明涉及触摸屏技术领域, 尤其涉及一种触摸屏检测结构及其制作方法、 带 检测结构的触摸屏。
背景技术
[0002] 触摸屏前段制程根据制程工艺的不同可分为大片制程和小片制程。 大片制程是 在大片的玻璃或者薄膜上同吋制作出 M*N片 Sensor (传感器) 。 比如 OGS工艺是 在玻璃上按多行多列排版, 再制作 Sensor; GFF、 GF通常采用大片制程工艺。 小 片制程是将玻璃先切割成单模, 先进行二次强化, 再放在模具内制作 Sensor, 比 如 TOL工艺。
[0003] 在触摸屏制备过程中, 为保证产品前段功能良率, 并防止不良品后流造成工序 浪费和成本损失, 在大片制程中通常会进行 Sensor功能检测。
[0004] 大片制程中 Sensor采用多行多列排版, 常规的 Sensor功能检测测试方法是通过 测试工具 (如: 顶针) 压住传感器 Pin端 (针脚端, 也可称焊盘) 和传感器通道 端进行幵路 /断路检测。 该常规的测试方法中, 需用顶针与所有针脚接触进行测 试, 由于针脚之间间距较小, 测试对位相对困难, 测试效率慢。 另外, 直接与 针脚接触的方式有可能造成传感器线路损伤。
技术问题
[0005] 本发明要解决的技术问题在于, 提供一种提高检测效率的触摸屏检测结构及其 制作方法、 带检测结构的触摸屏。
问题的解决方案
技术解决方案
[0006] 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是: 提供一种触摸屏检测结构, 包括 至少一组第一测试组件和至少一组第二测试组件;
[0007] 所述第一测试组件包括与触摸屏的第一信号传输线电连接的第一导线、 连接在 所述第一导线远离所述第一信号传输线的一端上的用于连接测试装置的第一测 试部; 所述第二测试组件包括与触摸屏的第二信号传输线电连接的第二导线、 连接在所述第二导线远离所述第二信号传输线的一端上的用于连接测试装置的 第二测试部; 所述第一信号传输线和第二信号传输线相邻, 所述第一导线和第 二导线相绝缘。
[0008] 本发明还提供一种触摸屏检测结构的制作方法, 包括以下步骤:
[0009] Sl、 在触摸屏的第一信号传输线和第二信号传输线制作吋, 在所述触摸屏的导 电基板上制出与所述第二信号传输线电连接的第二导线和第二测试部;
[0010] S2、 在第二导线上形成绝缘层;
[0011] S3、 在所述触摸屏的导电基板上制出与所述第一信号传输线电连接的第一导线 和第一测试部; 所述第二导线与第一导线通过绝缘层相绝缘。
[0012] 本发明还提供一种带检测结构的触摸屏, 包括触摸屏以及上述的检测结构。
发明的有益效果
有益效果
[0013] 本发明通过在触摸屏的信号传输线上连接导线和测试部的方式, 以引线搭桥的 方式连接触摸屏的信号传输线和测试装置以进行功能测试, 减少连接及测试触 摸屏焊盘 (针脚) 的数量, 极大程度提高触摸屏功能检测效率, 有效避免功能 检测对触摸屏线路造成损伤。
对附图的简要说明
附图说明
[0014] 下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明, 附图中:
[0015] 图 1是本发明第一实施例的触摸屏检测结构的结构示意图;
[0016] 图 2是本发明第二实施例的触摸屏检测结构的结构示意图;
[0017] 图 3是本发明第三实施例的触摸屏检测结构的结构示意图。
本发明的实施方式
[0018] 为了对本发明的技术特征、 目的和效果有更加清楚的理解, 现对照附图详细说 明本发明的具体实施方式。 [0019] 如图 1所示, 本发明第一实施例的触摸屏检测结构, 连接在触摸屏上, 用于与 测试装置连接, 对触摸屏进行功能检测。 该检测结构可包括至少一组第一测试 组件 10和至少一组第二测试组件 20, 通过第一测试组件 10和第二测试组件 20连 接万用表或其他测试工具, 可以检测彼此相邻的信号传输线或电极图案之间的 阻抗值, 通常要求相邻信号传输线或电极图案通道之间的阻抗 >200ΜΩ, 因此通 过阻抗值大小可以判断触摸屏是否发生短路。
[0020] 通常, 触摸屏 (图 1中虚线框内结构) 包括导电基板 (未标示) 、 设置在导电 基板至少一个表面上的电极图案 3、 以及设置在导电基板上并围绕连接电极图案 的第一信号传输线 1和第二信号传输线 2; 第一信号传输线 1与第二信号传输线 2 相邻设置。 第一信号传输线 1和第二信号传输线 2分别连接电极图案 3。 第一信号 传输线 1和第二信号传输线 2远离导电基板的自由端分别延伸至导电基板一侧, 并相互平行且相邻设置。 其中, 第一信号传输线 1及第二信号传输线 2均为多根 , 多根第一信号传输线 1与多根第二信号传输线 2交替分布。 每一根第一信号传 输线 1的末端形成有焊盘 101 (也可称 pin端) , 每一根第二信号传输线 2的末端形 成有焊盘 201 (也可称 pin端) 。
[0021] 本实施例中, 触摸屏检测结构包括一组第一测试组件 10和一组第二测试组件 20
[0022] 第一测试组件 10可包括第一导线 11以及连接在第一导线 11上的第一测试部 12。
第一导线 11的一端与第一信号传输线 1电连接, 第一导线 11的相对另一端远离第 一信号传输线 1, 第一测试部 12连接在第一导线 11的该另一端上, 用于连接测试 装置。 根据第一导线 11连接的第一信号传输线 1的数量, 第一导线 11包括多根第 一引出线 111及连接各第一引出线 111的第一连接线 112; 多根第一引出线 111分 别连接多根第一信号传输线 1。
[0023] 第一导线 11采用导电金属制成, 可与第一信号传输线 1同样材料制成, 可以与 第一信号传输线 1、 第二信号传输线 2同吋形成或单独形成。
[0024] 第一测试部 12可一体形成在第一导线 11上, 其形状不限, 可为圆形、 椭圆或多 边形等形状。 第一测试部 12的宽度大于第一引出线 111的宽度, 第一引出线 111 的宽度大于或等于第一信号传输线 1的宽度。 优选地, 第一测试部 12的宽度大于 第一引出线 111的宽度的 5倍。 第一测试部 12具有一定的尺寸, 例如为 0.5mm-5m m, 以利于与测试装置接触进行测试。
[0025] 第二测试组件 20可包括第二导线 21以及连接在第二导线 21上的第二测试部 22。
第二导线 21的一端与第二信号传输线 2电连接, 第二导线 21的相对另一端远离第 二信号传输线 2, 第二测试部 22连接在第二导线 21的该另一端上, 用于连接测试 装置。 根据第二导线 21连接的第二信号传输线 2的数量, 第二导线 21包括多根第 二弓 I出线 211及连接各第二弓 I出线 211的第二连接线 212; 多根第二弓 I出线 211分 别连接多根第二信号传输线 2。
[0026] 第二导线 21采用导电金属制成, 可与第二信号传输线 2同样材料制成。
[0027] 第二测试部 22可一体形成在第二导线 21上, 其形状不限, 可为圆形、 椭圆或多 边形等形状。 第二测试部 22的宽度大于第二引出线 211的宽度, 第二引出线 211 的宽度大于或等于第二信号传输线 2的宽度。 优选地, 第二测试部 22的宽度大于 第二引出线 211的宽度的 5倍。 第二测试部 22具有一定的尺寸, 例如为 0.5mm-5m m, 以利于与测试装置接触进行测试。
[0028] 进一步地, 在第一测试组件 10中, 多根第一引出线 111相平行间隔排布。 各第 一引出线 111通过一横向延伸的第一连接线 112连接, 第一连接线 112垂直于各第 一引出线 111且与每根第一引出线 111远离导电基板的末端连接。 在第二测试组 件 20中, 多根第二引出线 211相平行间隔排布, 各第二引出线 211通过一横向延 伸的第二连接线 212连接, 第二连接线 212垂直于各第二弓 I出线 211且与每根第二 引出线 211远离导电基板的末端连接。 第一连接线 112与第二连接线 212处于不同 的位置且互相平行。 当然, 第一连接线 112与第二连接线 212也可相互重叠。
[0029] 在触摸屏上, 由于多根第一信号传输线 1和多根第二信号传输线 2通过间隙一一 交替设置, 使得第一信号传输线 1和第二信号传输线 2相邻, 即相邻的两根信号 传输线中, 一根为第一信号传输线 1, 另一根为第二信号传输线 2。 第一连接线 1 12和第二连接线 212两者之一相比另一者更远离导电基板, 如图 1所示, 本实施 例中, 第一连接线 112相比第二连接线 212更远离导电基板。 因此, 第二连接线 2 12与第一引出线 111之间会有交叉区域, 为避免两者相接触, 第一引出线 111和 第二连接线 212相绝缘。 [0030] 为使得第一导线 11和第二导线 21相绝缘, 触摸屏检测结构还包括绝缘层 30, 绝 缘层 30设置在第一导线 11和第二导线 21之间, 将第一导线 11和第二导线 21隔绝
[0031] 在触摸屏上, 第一引出线 111和第二引出线 211基本位于同一平面上, 但在第一 引出线 111和第二连接线 212的位置处两者会有交叉, 或者第二弓 I出线 211和第一 连接线 112的位置处两者会有交叉, 为避免第一引出线 111和第二连接线 212之间 、 或者第二引出线 211和第一连接线 112之间相接触, 将绝缘层 30设置在第一引 出线 211和第二连接线 212之间, 使该两者位于不同平面内, 避免相接触; 或者 将绝缘层 30设置在第二引出线 211和第一连接线 112之间, 使该两者位于不同平 面内, 避免相接触。
[0032] 如图 1所示, 本实施例中, 绝缘层 30覆盖第二连接线 212, 第一引出线 111远离 第一信号传输线 1的一端越过绝缘层 30之后通过第一连接线 112与第一测试部 12 连接, 使得绝缘层 30夹设于第二连接线 212与第一引出线 111之间。
[0033] 作为选择, 绝缘层 30可采用氮化硅、 氧化硅、 油墨、 光阻材料或其他的绝缘浆 料等制成, 根据材料可选择丝网印刷、 涂覆等方式形成。
[0034] 进一步地, 第一测试组件 10还包括连接在第一信号传输线 1末端焊盘 101上的第 一连接部 13, 第一导线 11通过第一连接部 13与第一信号传输线 1相接。 具体地, 第一连接部 13连接在第一信号传输线 1和第一导线 11之间, 从而第一连接部 13将 第一信号传输线 1和第一导线 11导通。
[0035] 第一连接部 13与第一信号传输线 1末端焊盘和第一导线 11之间的接触电阻均小 于 500Ω。
[0036] 第一连接部 13可以在触摸屏的电极图案形成吋同吋形成, 该第一连接部 13可以 采用与触摸屏的触控电极 (由电极图案 3形成) 相同的材料在同一制程中制成。 作为选择, 第一连接部 13可以采用透明导电材料制成, 也可以与第一导线 11采 用相同材料制成并与第一导线 11同吋制成。 在触摸屏中, 第一信号传输线 1采用 与第一连接部 13及触摸屏的触控电极不同的材料制成。
[0037] 第二测试组件 20还包括连接在第二信号传输线 2末端焊盘上的第二连接部 23, 第二导线 21通过第二连接部 23与第二信号传输线 2相接。 具体地, 第二连接部 23 连接在第二信号传输线 2和第二导线 21之间, 从而第二连接部 23将第二信号传输 线 2和第二导线 21导通。
[0038] 第二连接部 23与第二信号传输线 2末端焊盘和第二导线 21之间的接触电阻均小 于 500Ω。
[0039] 第二连接部 23可以在触摸屏的电极图案形成吋同吋形成, 该第二连接部 23可以 采用与触摸屏的触控电极 (由电极图案 3形成) 相同的材料在同一制程中制成。 作为选择, 第二连接部 23可以采用透明导电材料制成, 也可以与第二导线 21采 用相同材料制成并与第二导线 21同吋制成。 在触摸屏中, 第二信号传输线 2采用 与第二连接部 23及触摸屏的触控电极不同的材料制成。
[0040] 在本实施例中, 第一连接部 13的形状、 尺寸与第一信号传输线 1的焊盘 101大致 相同, 第二连接部 23的形状、 尺寸与第二信号传输线 2的焊盘 201大致相同。 相 邻的第一连接部 13和第二连接部 23之间的间隙与焊盘 101和焊盘 201之间的间隙 也大致相同。 第一连接部 13与第二连接部 23交替且平行分布。
[0041] 如图 2所示, 本发明第二实施例的触摸屏检测结构, 连接在触摸屏上, 用于与 测试装置连接, 对触摸屏进行功能检测。 该检测结构可包括至少一组第一测试 组件 10和至少一组第二测试组件 20, 通过第一测试组件 10和第二测试组件 20连 接万用表或其他测试工具, 可以检测彼此相邻的信号传输线或电极图案之间的 阻抗值, 通常要求相邻信号传输线或电极图案通道之间的阻抗 >200ΜΩ, 因此通 过阻抗值大小可以判断触摸屏是否发生短路。
[0042] 第一测试组件 10可包括第一导线 11、 第一测试部 12以及第一连接部 13。 第二测 试组件 20可包括第二导线 21、 第二测试部 22以及第二连接部 23。 触摸屏检测结 构还包括绝缘层 30, 绝缘层 30设置在第一导线 11和第二导线 21之间, 将第一导 线 11和第二导线 21隔绝。
[0043] 第一导线 11包括多根第一引出线 111及连接各第一引出线 111的第一连接线 112 ; 第二导线 21包括多根第二弓 I出线 211及连接各第二弓 I出线 211的第二连接线 212 。 第一导线 11通过第一引出线 111与第一信号传输线 1连接, 并通过第一连接线 1 12与第一测试部 12连接; 第二导线 21通过第二引出线 211与第二信号传输线 2连 接, 并通过第二连接线 212与第二测试部 22连接。 [0044] 第一导线 11、 第一测试部 12、 第二导线 21、 第二测试部 22以及绝缘层 30的具体 设置等均可参考上述第一实施例相关所述, 在此不再赘述。
[0045] 本实施例与上述第一实施例不同的是: 第一连接部 13和第二连接部 23相对触摸 屏向外侧呈放射状延伸, 长度大于图 1所示第一实施例中第一连接部 13和第二连 接部 23的长度。
[0046] 其中, 第一连接部 13和第二连接部 23交替分布, 相邻的第一连接部 13和第二连 接部 23之间的间隙自连接第一信号传输线 1和第二信号传输线 2到连接第一导线 1 1和第二导线 21的另一端逐渐增大。 第一连接部 13和第二连接部 23之间的间隙逐 渐增大的设置, 增大了对应连接的第一引出线 111和第二引出线 211之间的间隙 , 利于该第一引出线 111和第二引出线 211的形成。
[0047] 如图 3所示, 本发明第三实施例的触摸屏检测结构, 连接在触摸屏上, 用于与 测试装置连接, 对触摸屏进行功能检测。 该检测结构可包括至少一组第一测试 组件 10和至少一组第二测试组件 20, 通过第一测试组件 10和第二测试组件 20连 接万用表或其他测试工具, 可以检测彼此相邻的信号传输线或电极图案之间的 阻抗值, 通常要求相邻信号传输线或电极图案通道之间的阻抗 >200ΜΩ, 因此通 过阻抗值大小可以判断触摸屏是否发生短路。
[0048] 第一测试组件 10可包括第一导线 11、 第一测试部 12以及第一连接部 13。 第二测 试组件 20可包括第二导线 21、 第二测试部 22以及第二连接部 23。 触摸屏检测结 构还包括绝缘层 30, 绝缘层 30设置在第一导线 11和第二导线 21之间, 将第一导 线 11和第二导线 21隔绝。
[0049] 第一导线 11包括多根第一引出线 111及连接各第一引出线 111的第一连接线 112 ; 第二导线 21包括多根第二弓 I出线 211及连接各第二弓 I出线 211的第二连接线 212 。 第一导线 11通过第一引出线 111与第一信号传输线 1连接, 并通过第一连接线 1 12与第一测试部 12连接; 第二导线 21通过第二引出线 211与第二信号传输线 2连 接, 并通过第二连接线 212与第二测试部 22连接。
[0050] 本实施例与上述第一实施例不同的是: 检测结构包括两组第一测试组件 10以及 两组第二测试组件 20; —组第一测试组件 10和一组第二测试组件 20相交叠 (主 要是第一导线 11的第一弓 I出线 111和第二导线 21的第二连接线 212相交叠) 并分 别连接第一信号传输线 1和第二信号传输线 2。
[0051] 在其他实施例中, 第一测试组件 10和第二测试组件 20还可分别为两组以上。
[0052] 每一组第一测试组件 10均可包括第一导线 11、 第一测试部 12以及第一连接部 13
。 每一组第二测试组件 20均可包括第二导线 21、 第二测试部 22以及第二连接部 2
3。
[0053] 触摸屏检测结构还包括绝缘层 30, 绝缘层 30设置在第一导线 11和第二导线 21之 间, 将第一导线 11和第二导线 21隔绝。 对应多组第一测试组件 10和第二测试组 件 20, 绝缘层 30可为多个, 分别设置在交叠的第一测试组件 10和第二测试组件 2 0之间; 绝缘层 30也可为一个整体层, 位于并排的第一测试组件 10和第二测试组 件 20之间。
[0054] 第一导线 11、 第一测试部 12、 第二导线 21、 第二测试部 22以及绝缘层 30的具体 设置等均可参考上述第一实施例或第二实施例相关所述, 在此不再赘述。
[0055] 本发明的触摸屏检测结构中, 导线 (包括第一导线 11和第二导线 12) 和测试部
(包括第一测试部 12和第二测试部 22) 在触摸屏的导电基板上均避幵落在触摸 屏的边缘区域内, 主要设置在边缘区域外侧。 功能检测完成后, 在触摸屏的成 品进行外形切割吋将检测结构通过冲切、 激光切割掉等方式去除。
[0056] 本发明的触摸屏检测结构可在触摸屏制作吋同吋制出。
[0057] 参考图 1-3, 本发明的触摸屏检测结构的制作方法, 可包括以下步骤:
[0058] Sl、 在触摸屏的第一信号传输线 1和第二信号传输线 2制作吋, 在触摸屏的导电 基板上制出与第二信号传输线 2连接的第二导线 21和第二测试部 22。
[0059] S2、 在第二导线 21上形成绝缘层 30。
[0060] S3、 在触摸屏的导电基板上制出与第一信号传输线 1连接的第一导线 11和第一 测试部 12; 第二导线 21与第一导线 11通过绝缘层 30相绝缘。
[0061] 其中, 触摸屏的第一信号传输线 1和第二信号传输线 2均为多根, 各第一信号传 输线 1与第二信号传输线 2交替分布。 制出的第一导线 11和第二导线 21中, 第一 导线 11包括第一引出线 111及第一连接线 112, 第二导线 21包括第二引出线 211及 第二连接线 212。 第一引出线 111为多根, 第一连接线 112连接各第一引出线 111 ; 第二引出线 211为多根, 第二连接线 212连接各第二引出线 211。 各第一引出线 111与第二引出线 211交替分布。
[0062] 多根第一引出线 111与分别与多根第一信号传输线 1电连接, 多根第二引出线 21 1分别与多根第二信号传输线 2电连接。 第一连接线 112连接在多根第一引出线 11 1远离第一信号传输线 1的末端上, 第二连接线 212连接在多根第二弓 I出线 211远 离第二信号传输线 2的末端上。 第一引出线 111通过第一连接线 112与第一测试部 12连接; 第二引出线 211通过第二连接线 212与第二测试部 22连接。 绝缘层 30夹 设于第二连接线 212与第一引出线 111之间, 将两者绝缘。
[0063] 参考图 1所示的实施例中, 第一连接线 112位于第二连接线 212远离第二引出线 2 11的一侧。 绝缘层 30覆盖第二连接线 212, 第一引出线 111远离第一信号传输线 1 的一端越过绝缘层 30之后通过第一连接线 112与第一测试部 12连接, 从而绝缘层 30可夹设于第二连接线 212和第一引出线 111之间。
[0064] 本发明的制作方法还包括以下步骤:
[0065] S4、 在触摸屏的电极图案 3制作吋, 同吋在触摸屏的导电基板上制出第一连接 部 13和第二连接部 23。 也就是说, 第一连接部 13和第二连接部 23与触摸屏的电 极图案为同一制程中制作。 第一连接部 13、 第二连接部 23可以采用与电极图案 相同的透明导电材料制成, 也可以采用与第一导线 11和第二导线 21相同的材料 制作, 而与第一信号传输线 ^ 第二信号传输线 2的材料不同。 但优选地, 第一 连接部 13和第二连接部 23采用与电极图案相同的材料在同一制程中制作, 因为 在后续的切割过程中 (如通过冲切、 激光切割、 精密机械加工切割等方式), 如果 采用与第一导线 11和第二导线 21相同的材料, 切割会导致第一连接部 13和第二 连接部 23的边缘容易出现断裂或烧蚀的现象。
[0066] 第一连接部 13连接在第一信号传输线 1和第一引出线 111之间, 导通第一信号传 输线 1和第一导线 11。 第二连接部 23连接在第二信号传输线 2和第二引出线 211之 间, 导通第二信号传输线 2和第二导线 21。
[0067] 第一导线 11和第一连接部 13、 第二连接部 23的形成没有先后顺序限制。 例如, 在一个实施方式中, 步骤 S1至 S4依次进行。 在另一个实施方式中, 先进行步骤 S
4, 再依次进行步骤 S1至 S3。
[0068] 本发明的制作方法还包括以下步骤: [0069] S4、 去除第一导线 11、 第二导线 21、 第一连接部 13和第二连接部 23。
[0070] 该步骤中, 去除的方式可以采用冲切、 激光切割、 精密机械加工切割等方式。
[0071] 本发明的检测结构可与触摸屏组成一个整体, 在触摸屏制成后连接在触摸屏上
, 以便对触摸屏进行功能检测。 在功能检测完成后, 可将检测结构去除, 形成 触摸屏成品。
[0072] 本发明的带检测结构的触摸屏, 包括触摸屏以及上述第一至第三实施例中任一 种的检测结构。
[0073] 以上所述仅为本发明的实施例, 并非因此限制本发明的专利范围, 凡是利用本 发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换, 或直接或间接运用在 其他相关的技术领域, 均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims

权利要求书
一种触摸屏检测结构, 其特征在于, 包括至少一组第一测试组件 (10 ) 和至少一组第二测试组件 (20) ;
所述第一测试组件 (10) 包括与触摸屏的第一信号传输线 (1) 电连 接的第一导线 (11) 、 连接在所述第一导线 (11) 远离所述第一信号 传输线 (1) 的一端上的用于连接测试装置的第一测试部 (12) ; 所 述第二测试组件 (20) 包括与触摸屏的第二信号传输线 (2) 电连接 的第二导线 (21) 、 连接在所述第二导线 (21) 远离所述第二信号传 输线 (2) 的一端上的用于连接测试装置的第二测试部 (22) ; 所述 第一信号传输线 (1) 与第二信号传输线 (2) 相邻, 所述第一导线 ( 11) 和第二导线 (21) 相绝缘。
根据权利要求 1所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述第一信号 传输线 (1) 及第二信号传输线 (2) 均为多根, 各第一信号传输线 ( 1) 与第二信号传输线 (2) 交替分布。
根据权利要求 1所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述触摸屏检 测结构还包括设置在所述第一导线 (11) 和第二导线 (21) 之间的绝 缘层 (30) , 将所述第一导线 (11) 和第二导线 (21) 隔绝。
根据权利要求 3所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述第一导线 (11) 包括多根第一引出线 (111) 及连接各所述第一引出线 (111) 的第一连接线 (112) ; 第二导线 (21) 包括多根第二引出线 (211) 及连接各所述第二引出线 (211) 的第二连接线 (212) , 各第一引出 线 (ill) 与第二引出线 (211) 交替分布。
根据权利要求 4所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述绝缘层 (3 0) 覆盖所述第二连接线 (212) , 所述第一引出线 (111) 远离所述 第一信号传输线 (1) 的一端越过所述绝缘层 (30) 之后通过所述第 一连接线 (112) 与所述第一测试部 (12) 连接。
根据权利要求 5所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述绝缘层 (3 0) 夹设于所述第二连接线 (212) 与第一引出线 (111) 之间。 根据权利要求 4所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述第一测试 部 (12) 的宽度大于所述第一引出线 (111) 的宽度, 所述第二测试 部 (22) 的宽度大于所述第二引出线 (211) 的宽度。
根据权利要求 3所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述绝缘层 (3
0) 采用氮化硅、 氧化硅、 油墨或光阻材料制成。
根据权利要求 1-8任一项所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述 第一测试组件 (10) 还包括连接在所述第一信号传输线 (1) 末端焊 盘 (101) 上的第一连接部 (13) ; 所述第二测试组件 (20) 还包括 连接在所述第二信号传输线 (2) 末端焊盘 (201) 上的第二连接部 (
23) ;
所述第一导线 (11) 通过所述第一连接部 (13) 与所述第一信号传输 线 (1) 相接, 所述第二导线 (21) 通过所述第二连接部 (23) 与所 述第二信号传输线 (2) 相接。
根据权利要求 9所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述第一连接 部 (13) 和第二连接部 (23) 相对触摸屏向外侧呈放射状延伸, 相邻 的所述第一连接部 (13) 和第二连接部 (23) 之间的间隙自连接所述 第一信号传输线 (1) 和第二信号传输线 (2) 到连接所述第一导线 ( 11) 和第二导线 (21) 的另一端逐渐增大。
根据权利要求 9所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述第一连接 部 (13) 与所述第一信号传输线 (1) 末端焊盘 (101) 和所述第一导 线 (11) 之间的接触电阻均小于 500Ω; 所述第二连接部 (23) 与所 述第二信号传输线 (2) 末端焊盘 (201) 和所述第二导线 (21) 之间 的接触电阻均小于 500Ω。
根据权利要求 9所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述第一连接 部 (13) 采用与触摸屏的触控电极相同的材料在同一制程中制成。 根据权利要求 9所述的触摸屏检测结构, 其特征在于, 所述第一信号 传输线 (1) 采用与第一连接部 (13) 及触摸屏的触控电极不同的材 料制成。 一种触摸屏检测结构的制作方法, 其特征在于, 包括以下步骤:
51、 在触摸屏的第一信号传输线 (1) 和第二信号传输线 (2) 制作吋 , 在所述触摸屏的导电基板上制出与所述第二信号传输线 (2) 电连 接的第二导线 (21) 和第二测试部 (22) ;
52、 在第二导线 (21) 上形成绝缘层 (30) ;
53、 在所述触摸屏的导电基板上制出与所述第一信号传输线 (1) 电 连接的第一导线 (11) 和第一测试部 (12) ; 所述第二导线 (21) 与 第一导线 (11) 通过绝缘层 (30) 相绝缘。
根据权利要求 14所述的制作方法, 其特征在于, 所述第一信号传输线
( I) 及第二信号传输线 (2) 均为多根, 各第一信号传输线 (1) 与 第二信号传输线 (2) 交替分布。
根据权利要求 14所述的制作方法, 其特征在于, 所述第一导线 (11) 包括第一引出线 (111) 及连接所述第一引出线 (111) 的第一连接线 ( 112) , 所述第二导线 (21) 包括第二引出线 (211) 及连接所述第 一引出线 (211) 的第二连接线 (212) ; 所述第一引出线 (111) 与 第一信号传输线 (1) 电连接, 所述第二引出线 (211) 与第二信号传 输线 (2) 电连接, 所述绝缘层 (30) 夹设于所述第二连接线 (212) 与第一引出线 (111) 之间。
根据权利要求 14所述的制作方法, 其特征在于, 所述制作方法还包括 以下步骤:
54、 在触摸屏的电极图案 (3) 制作吋, 同吋在所述触摸屏的导电基 板上制出第一连接部 ( 13) 和第二连接部 (23) ;
所述第一连接部 (13) 连接在所述第一信号传输线 (1) 和第一导线
( I I) 之间, 所述第二连接部 (23) 连接在所述第二信号传输线 (2 ) 和第二导线 (21) 之间。
根据权利要求 17所述的制作方法, 其特征在于, 步骤 S4在步骤 S1之 前进行。
根据权利要求 17所述的制作方法, 其特征在于, 所述第一连接部 (13 ) 的材料与电极图案 (3) 的材料相同, 与所述第一信号传输线 (1) 的材料不同。
[权利要求 20] 根据权利要求 17所述的制作方法, 其特征在于, 在触摸屏检测完成后 , 还包括去除第一导线、 第一测试部、 第二导线及第二测试部的步骤
[权利要求 21] 一种带检测结构的触摸屏, 其特征在于, 包括触摸屏以及权利要求 1- 13任一项所述的检测结构。
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