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WO2015174166A1 - 増幅回路、アナログ/ディジタル変換回路および電圧/時間変換器 - Google Patents

増幅回路、アナログ/ディジタル変換回路および電圧/時間変換器 Download PDF

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Publication number
WO2015174166A1
WO2015174166A1 PCT/JP2015/060760 JP2015060760W WO2015174166A1 WO 2015174166 A1 WO2015174166 A1 WO 2015174166A1 JP 2015060760 W JP2015060760 W JP 2015060760W WO 2015174166 A1 WO2015174166 A1 WO 2015174166A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
terminal
voltage
signal
time
sampling
Prior art date
Application number
PCT/JP2015/060760
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
隼也 松野
雅則 古田
板倉 哲朗
Original Assignee
株式会社 東芝
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 東芝 filed Critical 株式会社 東芝
Publication of WO2015174166A1 publication Critical patent/WO2015174166A1/ja

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/38DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/44Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/50Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval

Definitions

  • Embodiment relates to an amplifier circuit.
  • amplifier circuits have typically been realized using operational amplifiers.
  • discrete-time amplifier circuits that employ a charge pump circuit and a comparator instead of an operational amplifier have been proposed.
  • the power consumption of this discrete-time amplifier circuit is smaller than that of an amplifier circuit using an operational amplifier.
  • a conventional discrete-time amplifier circuit may have a mismatch between the input and output voltages at the start of the amplification operation. Therefore, it is difficult to improve the accuracy (resolution) of the amplifier circuit.
  • another conventional discrete-time amplifier circuit since another conventional discrete-time amplifier circuit has a switch inserted between the input and output, the above mismatch may be improved. Non-linear distortion occurs. Therefore, it is difficult to improve the accuracy of the amplifier circuit.
  • An object of the embodiment is to provide an amplifier circuit or an analog / digital conversion circuit with low power consumption and high accuracy.
  • the amplifier circuit includes a voltage / time converter and a time / voltage converter.
  • the voltage / time converter generates a time signal by performing voltage / time conversion on the input signal.
  • the voltage / time converter includes a first sampling circuit, one or more second sampling circuits, a first bottom plate sampler, a first detector, and a first signal generator.
  • the first sampling circuit has a first terminal for receiving an input signal, a second terminal, and a third terminal, and includes a first sampling capacitor.
  • the one or more second sampling circuits each have a first terminal for receiving an input signal and a second terminal connected to the second terminal of the first sampling circuit, and have a second sampling capacity. Includes each.
  • the first bottom plate sampler has a first terminal connected in common to the second terminal of the first sampling circuit and the second terminal of the second sampling circuit.
  • the first detector has an input terminal connected in common to the second terminal of the first sampling circuit, the second terminal of the second sampling circuit, and the first terminal of the first bottom plate sampler;
  • a time signal is generated by detecting whether the voltage at the input terminal satisfies the first condition.
  • the time signal indicates the length of the first period in which the voltage at the input terminal of the first detector satisfies the first condition.
  • the first signal generator has a control terminal for receiving a time signal and an output terminal connected to the third terminal of the first sampling circuit, and generates the first electric signal depending on the time signal.
  • the first electrical signal is supplied to the first sampling circuit.
  • the time / voltage converter generates an output signal by time / voltage converting the time signal.
  • FIG. 1 is a block diagram illustrating an amplifier circuit according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a circuit diagram illustrating the voltage / time converter of FIG. 1.
  • the timing chart which illustrates the change of the various signals in each phase which divided the operation
  • FIG. 3 is a circuit diagram for explaining an operation of the voltage / time converter of FIG. 2 in a sample phase.
  • FIG. 2 is a circuit diagram illustrating the time / voltage converter of FIG. 1.
  • FIG. 5 is a block diagram illustrating an amplifier circuit according to a second embodiment.
  • the circuit diagram which illustrates the time amplifier contained in the amplification circuit concerning a 2nd embodiment.
  • the timing chart which illustrates the change of the various signals in each phase which divided operation of the time amplifier of FIG.
  • FIG. 12 is a circuit diagram showing a modification of the time amplifier of FIG. 11. Explanatory drawing of the pipeline process performed by the amplifier circuit which concerns on 2nd Embodiment.
  • the circuit diagram which illustrates the current source contained in the amplifier circuit concerning a 3rd embodiment.
  • the circuit diagram which illustrates the current source for fine adjustment of Drawing 15.
  • FIG. 9 is a circuit diagram illustrating a comparator included in an amplifier circuit according to a fourth embodiment.
  • FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a time amplifier included in an amplifier circuit according to a fifth embodiment.
  • FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a time amplifier included in an amplifier circuit according to a sixth embodiment.
  • FIG. 10 is a circuit diagram illustrating a time amplifier included in an amplifier circuit according to a seventh embodiment.
  • FIG. 21 is a circuit diagram illustrating the detector of FIG. 20.
  • FIG. 22 is a circuit diagram illustrating the switch of FIG. 21;
  • FIG. 10 is a block diagram illustrating an analog / digital conversion circuit according to an eighth embodiment.
  • FIG. 24 is a block diagram showing a modification of the analog / digital conversion circuit of FIG. FIG.
  • FIG. 10 is a block diagram illustrating a voltage / time converter according to a ninth embodiment.
  • the circuit diagram which illustrates the voltage / time converter concerning a 9th embodiment.
  • the timing chart which illustrates the change of the various signals in each phase which divided the operation of the voltage / time converter of FIG.
  • a circuit diagram which illustrates a voltage / time converter concerning a 10th embodiment.
  • each current source may generate a constant current signal for discharging the sampling capacitor instead of charging.
  • various circuits shown in the following description can be changed to a differential configuration. When changing to a differential configuration, each current source is replaced with a current source pair. The directions of the currents of the constant current signals generated by each current source pair may be the same or opposite.
  • the amplifier circuit according to the first embodiment includes a voltage / time converter 100 and a time / voltage converter 200. This amplifier circuit obtains an output voltage (V OUT ) by amplifying the input voltage (V IN ).
  • the voltage / time converter 100 generates a time signal by performing voltage / time conversion on the input signal.
  • the time signal indicates a time length that depends on the voltage (V IN ) of the input signal.
  • the time signal is, for example, a rectangular wave signal having a pulse width that changes in proportion to the input voltage (V IN ).
  • the voltage / time converter 100 outputs a time signal to the time / voltage converter 200.
  • the voltage / time converter 100 in FIG. 1 includes a first sampling circuit 110, a second sampling circuit 120, a bottom plate sampler 130, a detector 140, and a signal generator 150.
  • the first sampling circuit 110 has a first terminal, a second terminal, and a third terminal, and includes a sampling capacitor not shown in FIG.
  • the first terminal of the first sampling circuit 110 is commonly connected to the input terminal of the voltage / time converter 100 and the first terminal of the second sampling circuit 120.
  • the first terminal is applied the input voltage (V IN).
  • the second terminal of the first sampling circuit 110 is commonly connected to the second terminal of the second sampling circuit 120, the first terminal of the bottom plate sampler 130, and the input terminal of the detector 140.
  • the third terminal of the first sampling circuit 110 is connected to the output terminal of the signal generator 150.
  • the first sampling circuit 110 samples the input voltage (V IN ) by applying the input voltage (V IN ) to the first terminal of the sampling capacitor in a sample phase (SAMPLE) described later.
  • the voltage at the second terminal of the sampling capacitor is fixed by the bottom plate sampler 130.
  • the first sampling circuit 110 resets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor using a reset voltage described later.
  • the bottom plate sampler 130 does not provide a current path.
  • the voltage at the second terminal of the first sampling circuit 110 is determined by the input voltage (V IN ) sampled in the sample phase.
  • the first terminal of the sampling capacitor is supplied with an electrical signal (for example, a constant current signal) from the signal generator 150.
  • an electrical signal for example, a constant current signal
  • the signal generator 150 continues to generate an electrical signal for a first period in which the voltage at the input terminal of the detector 140 satisfies the first condition.
  • the sampling capacitor continues to be charged or discharged over the first period. As a result, the voltage at the input terminal of the detector 140 continues to increase or decrease, and finally satisfies the first condition.
  • the second sampling circuit 120 has a first terminal and a second terminal, and includes a sampling capacitor not shown in FIG.
  • the first terminal of the second sampling circuit 120 is connected in common to the input terminal of the voltage / time converter 100 and the first terminal of the first sampling circuit 110.
  • An input voltage (V IN ) is applied to the first terminal.
  • the second terminal of the second sampling circuit 120 is commonly connected to the second terminal of the first sampling circuit 110, the first terminal of the bottom plate sampler 130, and the input terminal of the detector 140.
  • the second sampling circuit 120 samples the input voltage (V IN ) by applying the input voltage (V IN ) to the first terminal of the sampling capacitor.
  • the voltage at the second terminal of the sampling capacitor is fixed by the bottom plate sampler 130.
  • the second sampling circuit 120 fixes the voltage of the first terminal of the sampling capacitor using an adjustment voltage described later.
  • the bottom plate sampler 130 does not provide a current path.
  • the voltage at the second terminal of the second sampling circuit 120 is determined by the input voltage (V IN ) sampled in the sample phase.
  • the second sampling circuit 120 continues to fix the voltage of the first terminal of the sampling capacitor in the conversion phase following the reset phase. As a result, the second sampling circuit 120 provides a current path for the electrical signal generated by the signal generator 150. As the electrical signal flows through the current path, the sampling capacitor is charged or discharged. Therefore, the voltage at the second terminal of the sampling capacitor continues to increase or decrease, and as a result, the voltage at the input terminal of the detector 140 finally satisfies the first condition.
  • the bottom plate sampler 130 has a first terminal.
  • the first terminal of the bottom plate sampler 130 is commonly connected to the second terminal of the first sampling circuit 110, the second terminal of the second sampling circuit 120, and the input terminal of the detector 140.
  • the bottom plate sampler 130 connects a voltage source (not shown in FIG. 1) that generates a predetermined intermediate voltage to the first terminal.
  • This voltage source fixes the voltage at the second terminal of the sampling capacitor included in the first sampling circuit 110 and the second terminal of the sampling capacitor included in the second sampling circuit 120.
  • the bottom plate sampler 130 does not connect the voltage source to the first terminal in the reset phase and the conversion phase. Furthermore, ideally, the bottom plate sampler 130 does not provide a current path in the reset phase and the conversion phase.
  • the detector 140 has an input terminal and an output terminal.
  • the input terminal of the detector 140 is connected in common to the second terminal of the first sampling circuit 110, the second terminal of the second sampling circuit 120, and the first terminal of the bottom plate sampler 130.
  • the output terminal of the detector 140 is connected to the control terminal of the signal generator 150 and the input terminal of the time / voltage converter 200.
  • the detector 140 detects whether or not the voltage at the input terminal satisfies the first condition. Then, the detector 140 generates a time signal indicating the time length of the first period in which the voltage at the input terminal satisfies the first condition.
  • the time signal may be a digital signal that is at a high level over a first period and is at a low level over another period.
  • the detector 140 outputs the time signal to the signal generator 150 and the time / voltage converter 200. The detector 140 stops operating in the sample phase and the reset phase.
  • the signal generator 150 has a control terminal and an output terminal.
  • the control terminal of the signal generator 150 is connected to the output terminal of the detector 140.
  • the output terminal of the signal generator 150 is connected to the third terminal of the first sampling circuit 110.
  • the signal generator 150 inputs a time signal from the detector 140.
  • the signal generator 150 generates an electrical signal depending on the time signal, and supplies the electrical signal to the first sampling circuit 110.
  • the time / voltage converter 200 receives a time signal from the voltage / time converter 100.
  • the time / voltage converter 200 generates an output signal by time / voltage converting the time signal.
  • the voltage (V OUT ) of the output signal depends on the time length indicated by the time signal. Note that the time / voltage converter 200 of FIG. 1 may be replaced with another known time / voltage converter.
  • the time / voltage converter 200 in FIG. 1 includes a signal generator 210, a third sampling circuit 220, and a bottom plate sampler 230.
  • the signal generator 210 has a control terminal and an output terminal.
  • the control terminal of the signal generator 210 is connected to the output terminal of the voltage / time converter 100.
  • the output terminal of the signal generator 210 is connected to the first terminal of the third sampling circuit.
  • the signal generator 210 receives a time signal from the voltage / time converter 100.
  • the signal generator 210 generates an electrical signal depending on the time signal, and supplies the electrical signal to the third sampling circuit 220.
  • the signal generator 210 may be the same as or similar to the signal generator 150.
  • the third sampling circuit 220 has a first terminal and a second terminal, and includes a sampling capacitor not shown in FIG.
  • the first terminal of the third sampling circuit 220 is connected to the output terminal of the signal generator 210.
  • the second terminal of the third sampling circuit 220 is connected to the first terminal of the bottom plate sampler 230 and the output terminal of the time / voltage converter 200.
  • 3rd sampling circuit 220 resets the 1st terminal of sampling capacity using the above-mentioned reset voltage in the reset phase (RESET) mentioned below, for example.
  • the voltage at the second terminal of the sampling capacitor is fixed by the bottom plate sampler 230.
  • the third sampling circuit 220 converts the voltage of the first terminal of the sampling capacitor to the first terminal of the sampling capacitor inside the first sampling circuit 110 in the reset phase of the voltage / time converter 100. Reset to approximately match the voltage.
  • the third sampling circuit 220 is configured such that the voltage at the second terminal of the sampling capacitor is approximately equal to the voltage at the second terminal of the sampling capacitor in the first sampling circuit 110 in the sample phase of the voltage / time converter 100. Fix to match.
  • the first terminal of the sampling capacitor is supplied with an electrical signal (for example, a constant current signal) from the signal generator 210.
  • an electrical signal for example, a constant current signal
  • the voltage at the second terminal of the sampling capacitor is continuously fixed by the bottom plate sampler 230.
  • the sample phase of the time / voltage converter 200 is aligned in time with the conversion phase of the voltage / time converter 100. That is, like the signal generator 150, the signal generator 210 continues to generate an electrical signal over the first period.
  • the sampling capacitor continues to be charged or discharged over the first period. Therefore, the voltage at the first terminal of the sampling capacitor continues to rise or fall.
  • the voltage at the first terminal of the sampling capacitor is fixed by, for example, a voltage source (not shown in FIG. 1) that generates the above-described intermediate voltage.
  • the bottom plate sampler 230 does not provide a current path.
  • the voltage at the second terminal of the third sampling circuit 220 ie, the output voltage (V OUT ) of the time / voltage converter 200
  • V OUT the output voltage of the time / voltage converter 200
  • the bottom plate sampler 230 has a first terminal.
  • the first terminal of the bottom plate sampler 230 is connected to the second terminal of the third sampling circuit 220 and the output terminal of the time / voltage converter 200.
  • the bottom plate sampler 230 may be the same as or similar to the bottom plate sampler 130.
  • the bottom plate sampler 230 connects a voltage source (not shown in FIG. 1) that generates the above-described intermediate voltage to the first terminal in the reset phase and the sample phase. This voltage source fixes the voltage at the second terminal of the sampling capacitor included in the third sampling circuit 220.
  • the bottom plate sampler 230 does not connect the voltage source to the first terminal in the hold phase. Furthermore, ideally, the bottom plate sampler 230 does not provide a current path in the hold phase.
  • the voltage / time converter 100 shown in FIG. 2 may be employed.
  • the voltage / time converter 100 of FIG. 2 includes a first sampling circuit 110, a second sampling circuit 120, a bottom plate sampler 130, a detector 140, and a signal generator 150.
  • the first sampling circuit 110 includes a switch 111, a sampling capacitor 112, a voltage source 113, and a switch 114.
  • the switch 111 is inserted between the first terminal of the first sampling circuit 110 and the first terminal of the sampling capacitor 112.
  • the switch 111 short-circuits or opens between the first terminal of the first sampling circuit 110 and the first terminal of the sampling capacitor 112 in accordance with the first switch control signal ( ⁇ 1). Specifically, the switch 111 short-circuits between the first terminal of the first sampling circuit 110 and the first terminal of the sampling capacitor 112 in the sample phase of the voltage / time converter 100.
  • the switch 111 opens between the first terminal of the first sampling circuit 110 and the first terminal of the sampling capacitor 112 in the reset phase and conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the sampling capacitor 112 has a first terminal and a second terminal.
  • the first terminal of the sampling capacitor 112 is connected in common to the third terminal of the first sampling circuit 110, the switch 111, and the switch 114.
  • the second terminal of the sampling capacitor 112 is connected to the second terminal of the first sampling circuit 110.
  • capacitance C 1 sampling capacitors 112.
  • the voltage source 113 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 113 is connected to the switch 114.
  • the negative terminal of the voltage source 113 is grounded.
  • the voltage source 113 generates a reset voltage (V RES ).
  • the switch 114 is inserted between the first terminal of the sampling capacitor 112 and the positive terminal of the voltage source 113.
  • the switch 114 short-circuits or opens between the first terminal of the sampling capacitor 112 and the positive terminal of the voltage source 113 in accordance with the second switch control signal ( ⁇ 2). Specifically, the switch 114 short-circuits between the first terminal of the sampling capacitor 112 and the positive terminal of the voltage source 113 in the reset phase of the voltage / time converter 100.
  • the switch 114 opens between the first terminal of the sampling capacitor 112 and the positive terminal of the voltage source 113 in the sample phase and conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the second sampling circuit 120 includes a switch 121, a sampling capacitor 122, a voltage source 123, and a switch 124.
  • the switch 121 is inserted between the first terminal of the second sampling circuit 120 and the first terminal of the sampling capacitor 122.
  • the switch 121 shorts or opens between the first terminal of the second sampling circuit 120 and the first terminal of the sampling capacitor 122 according to the first switch control signal ( ⁇ 1). Specifically, the switch 121 short-circuits between the first terminal of the second sampling circuit 120 and the first terminal of the sampling capacitor 122 in the sample phase of the voltage / time converter 100.
  • the switch 121 opens between the first terminal of the second sampling circuit 120 and the first terminal of the sampling capacitor 122 in the reset phase and conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the voltage source 123 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 123 is connected to the switch 124.
  • the negative terminal of the voltage source 123 is grounded.
  • the voltage source 123 generates an adjustment voltage (V DAC ). This voltage (V DAC ) may be controlled by a control signal not shown in FIG.
  • the switch 124 is inserted between the first terminal of the sampling capacitor 122 and the positive terminal of the voltage source 123.
  • the switch 124 short-circuits or opens between the first terminal of the sampling capacitor 122 and the positive terminal of the voltage source 123 in accordance with the third switch control signal ( ⁇ 3).
  • the switch 124 short-circuits between the first terminal of the sampling capacitor 122 and the positive terminal of the voltage source 123 in the reset phase and conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the switch 124 opens between the first terminal of the sampling capacitor 122 and the positive terminal of the voltage source 123 in the sample phase of the voltage / time converter 100.
  • the bottom plate sampler 130 includes a switch 131 and a voltage source 132.
  • the switch 131 is inserted between the first terminal of the bottom plate sampler 130 and the positive terminal of the voltage source 132.
  • the switch 131 short-circuits or opens between the first terminal of the bottom plate sampler 130 and the positive terminal of the voltage source 132 in accordance with the first switch control signal ( ⁇ 1).
  • the switch 131 short-circuits between the first terminal of the bottom plate sampler 130 and the positive terminal of the voltage source 132 in the sample phase of the voltage / time converter 100.
  • the switch 131 opens between the first terminal of the bottom plate sampler 130 and the positive terminal of the voltage source 132 in the reset phase and the conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the voltage source 132 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 132 is connected to the switch 131.
  • the negative terminal of the voltage source 132 is grounded.
  • the voltage source 132 generates an intermediate voltage (V CM ).
  • the intermediate voltage (V CM ) may be designed to match the common-mode voltage, for example, when the voltage / time converter 100 has a differential configuration.
  • Detector 140 includes a comparator 141 and a voltage source 142.
  • Comparator 141 includes a first input terminal, a second input terminal, and an output terminal.
  • the first input terminal of the comparator 141 is connected to the input terminal of the detector 140.
  • the second input terminal of the comparator 141 is connected to the positive terminal of the voltage source 142.
  • the output terminal of the comparator 141 is connected to the output terminal of the detector 140.
  • the comparator 141 compares the voltage of the first input terminal with the voltage of the second input terminal in the conversion phase of the voltage / time converter 100. The comparator 141 stops operating in the sample phase and reset phase of the voltage / time converter 100.
  • the comparator 141 outputs a time signal (high voltage (power supply voltage)). D OUT ) is output.
  • the comparator 141 if the voltage at the first input terminal is equal to or higher than the voltage at the second input terminal, the comparator 141 outputs a low level (ground voltage) time signal (D OUT ). Therefore, according to the example of FIG. 2, the first condition described above, the voltage of the input terminal of the detector 140 corresponds to a smaller possible, than the comparison reference voltage which will be described later (V RC).
  • the voltage source 142 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 142 is connected to the second input terminal of the comparator 141.
  • the negative terminal of the voltage source 142 is grounded.
  • the voltage source 142 generates a comparison reference voltage (V RC ).
  • the signal generator 150 includes a current source 151.
  • Current source 151 includes a first terminal, a second terminal, and a control terminal. The first terminal of the current source 151 is grounded. The second terminal of the current source 151 is connected to the output terminal of the signal generator 150. The control terminal of the current source 151 is connected to the control terminal of the signal generator 150.
  • the current source 151 receives the time signal (D OUT ) from the detector 140 via the control terminal. If the time signal (D OUT ) is at a high level, the current source 151 generates a constant current signal and supplies the constant current signal to the first sampling circuit 110 via the second terminal. On the other hand, if the time signal (D OUT) is at Low level, the current source 151 stops operating.
  • the operation of the voltage / time converter 100 is classified according to the sample phase, the reset phase, and the conversion phase.
  • Various switch control signals, time signals, and voltages at various nodes change as illustrated in FIG.
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at a high level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at a low level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at a low level.
  • the detector 140 does not operate. Therefore, in the sample phase, the voltage / time converter 100 of FIG. 2 can be rewritten as illustrated in FIG.
  • the voltage / time converter 100 in FIG. 2 applies the difference between the input voltage (V IN ) and the intermediate voltage (V CM ) of the voltage / time converter 100 to the sampling capacitor 112 and the sampling capacitor 122. Charge the voltage.
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at the low level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at the high level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at the high level.
  • the detector 140 does not operate. Therefore, in the reset phase, the voltage / time converter 100 of FIG. 2 can be rewritten as illustrated in FIG.
  • the voltage / time converter 100 of FIG. 2 resets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 112 using the reset voltage (V RES ), and the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 122. Is fixed using a voltage for adjustment (V DAC ).
  • V A_RES the voltage (V A_RES ) in the reset phase of a node having the same potential as the input terminal of the detector 140 (referred to as node A in the following description ) can be derived as follows.
  • the sampling capacitor 112 and the sampling capacitor 122 each store a charge of C 1 ⁇ (V IN ⁇ V CM ). According to the charge conservation law, the total amount of charges (2C 1 ⁇ (V IN ⁇ V CM )) stored in the sampling capacitor 112 and the sampling capacitor 122 in the sample phase does not change in the reset phase. Therefore, the following formula (1) is established.
  • V IN the input voltage
  • VINAC the alternating current component
  • V CM the intermediate voltage
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at the low level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at the low level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at the high level.
  • the detector 140 operates. Therefore, in the conversion phase, the voltage / time converter 100 of FIG. 2 can be rewritten as illustrated in FIG.
  • the voltage / time converter 100 of FIG. 2 disconnects the first terminal of the sampling capacitor 112 from the voltage source 113.
  • the comparator 141 detects whether or not the voltage at the node A (V A ) is less than the comparison reference voltage (V RC ), and is at a high level over a first period in which V A ⁇ V RC is satisfied.
  • a signal (D OUT ) is output. Note that the above-described reset voltage V RES , voltage V DAC and comparison reference voltage V RC are determined so that V A ⁇ V RC is established at the start of the conversion phase.
  • the current source 151 supplies a constant current signal to the first terminal of the sampling capacitor 112 over the first period.
  • This constant current signal flows through a current path formed by the sampling capacitor 112, the sampling capacitor 122, the switch 124 and the voltage source 123. Since the constant current signal charges the sampling capacitor 112 and the sampling capacitor 122, the voltage (V A ) of the node A increases with time, and finally (at the end of the first period), the comparison reference voltage V RC Matches.
  • V B a voltage of a node (referred to as node B in the following description) having the same potential as the first terminal of the sampling capacitor 112. ) Equals V RES at the start of the conversion phase. Therefore, the voltage V B_CNV of the node B at the end of the first period can be calculated using the following formula (3).
  • T DOUT represents the time length of the first period
  • I 151 represents the amount of current with constant current signals supplied by a current source 151.
  • the increment of the voltage of the node A (V A ) in the first period is equal to half of the increment of the voltage of the node B in the first period.
  • the voltage at node A (V A ) at the start of the conversion phase is equal to V A_RES . Therefore, the voltage V A_CNV of node A at the end the first period can be calculated using the following equation (4).
  • the time length (T DOUT ) of the first period can be derived using the following formula (5) and formula (6).
  • the time length (T DOUT ) of the first period is proportional to the sum of the AC component (V IDAC ) and the DC component of the input voltage (V IN ). That is, the time signal (D OUT ) indicates a time length (T DOUT ) that depends on the input voltage (V IN ).
  • Proportionality factor by appropriately designing the I 151 and C 1, can be set to a desired value.
  • the DC component can be set to a desired value by appropriately designing V RC , V RES and V DAC .
  • 120-N the proportionality coefficient and the DC component can be set more finely.
  • the adjustment voltage (V DAC ) generated by the voltage source included in each of the second sampling circuits 120-1,..., 120-N may be different.
  • a time / voltage converter 200 shown in FIG. 8 may be employed.
  • the time / voltage converter 200 in FIG. 8 includes a signal generator 210, a third sampling circuit 220, and a bottom plate sampler 230.
  • the signal generator 210 includes a current source 211.
  • the current source 211 includes a first terminal, a second terminal, and a control terminal. The first terminal of the current source 211 is grounded. The second terminal of the current source 211 is connected to the output terminal of the signal generator 210. The control terminal of the current source 211 is connected to the control terminal of the signal generator 210.
  • Current source 211 via the control terminal for inputting a time signal (D IN) from the voltage / time converter 100. If the time signal (D IN ) is at a high level, the current source 211 generates a constant current signal and supplies the constant current signal to the third sampling circuit 220 via the second terminal. On the other hand, if the time signal (D IN ) is at the low level, the current source 211 stops operating.
  • the third sampling circuit 220 includes a voltage source 221, a voltage source 222, a sampling capacitor 223, a switch 224, and a switch 225.
  • the voltage source 221 has a positive terminal and a negative terminal. The positive terminal of the voltage source 221 is connected to the switch 225. The negative terminal of the voltage source 221 is grounded.
  • the voltage source 221 generates an intermediate voltage (V CM ).
  • Voltage source 222 has a positive terminal and a negative terminal. The positive terminal of the voltage source 222 is connected to the switch 224. The negative terminal of the voltage source 222 is grounded. The voltage source 222 generates a reset voltage (V RES ).
  • the sampling capacitor 223 has a first terminal and a second terminal.
  • the first terminal of the sampling capacitor is connected in common to the first terminal of the third sampling circuit 220, the switch 224, and the switch 225.
  • the second terminal of the sampling capacitor 223 is connected to the second terminal of the third sampling circuit 220.
  • capacitance C 2 of the sampling capacitor 223.
  • the switch 224 is inserted between the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 222.
  • the switch 224 short-circuits or opens between the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 222 according to the second switch control signal ( ⁇ 2). Specifically, the switch 224 short-circuits between the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 222 in the reset phase of the time / voltage converter 200.
  • the switch 224 opens between the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 222 in the sample phase and hold phase of the time / voltage converter 200.
  • the switch 225 is inserted between the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 221.
  • the switch 225 short-circuits or opens between the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 221 according to the first switch control signal ( ⁇ 1). Specifically, the switch 225 short-circuits the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 221 in the hold phase of the time / voltage converter 200.
  • the switch 225 opens between the first terminal of the sampling capacitor 223 and the positive terminal of the voltage source 221 in the reset phase and sample phase of the time / voltage converter 200.
  • the bottom plate sampler 230 includes a voltage source 231 and a switch 232.
  • the voltage source 231 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 231 is connected to the switch 232.
  • the negative terminal of the voltage source 231 is grounded.
  • the voltage source 231 generates an intermediate voltage (V CM ).
  • the switch 232 is inserted between the first terminal of the bottom plate sampler 230 and the positive terminal of the voltage source 231.
  • the switch 232 short-circuits or opens between the first terminal of the bottom plate sampler 230 and the positive terminal of the voltage source 231 in accordance with the third switch control signal ( ⁇ 3).
  • the switch 232 short-circuits between the first terminal of the bottom plate sampler 230 and the positive terminal of the voltage source 231 in the reset phase and the sample phase of the time / voltage converter 200.
  • the switch 232 opens between the first terminal of the bottom plate sampler 230 and the positive terminal of the voltage source 231 in the hold phase of the time / voltage converter 200.
  • the operation of the time / voltage converter 200 is classified by the reset phase, the sample phase, and the hold phase.
  • Various switch control signals and time signals change as illustrated in FIG.
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at the low level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at the high level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at the high level.
  • the reset phase of the time / voltage converter 200 is aligned with the reset phase of the voltage / time converter 100 in time.
  • the time / voltage converter 200 in FIG. 8 resets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 223 using the reset voltage (V RES ), and the voltage of the second terminal of the sampling capacitor 223. Is fixed using an intermediate voltage (V CM ).
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at the low level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at the low level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at the high level.
  • the sample phase of the time / voltage converter 200 is aligned in time with the conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the time / voltage converter 200 in FIG. 8 disconnects the first terminal of the sampling capacitor 223 from the voltage source 222. Since the current source 211 inputs the high level time signal (D IN ) over the first period, the current source 211 supplies the constant current signal to the third sampling circuit 220 over the first period. . The constant current signal flows through a current path formed by the sampling capacitor 223, the switch 232, and the voltage source 231. Since the constant current signal charges the sampling capacitor 223, the voltage at the first terminal of the sampling capacitor 223 increases with time.
  • V C A voltage (V C ) of a node (referred to as node C in the following description) having the same potential as the first terminal of the sampling capacitor 223 is equal to V RES at the start of the sampling phase. Therefore, the voltage V C_SMP of the node C at the end of the first period can be calculated using the following formula (7).
  • T DIN indicates the length of the first period
  • I 211 indicates the amount of current that the constant current signal supplied from the current source 211 has.
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at a high level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at a low level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at a low level.
  • the hold phase of the time / voltage converter 200 is aligned in time with the sample phase of the voltage / time converter 100.
  • the time / voltage converter 200 in FIG. 8 fixes the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 223 using the intermediate voltage (V CM ) and connects the second terminal of the sampling capacitor 223 to the voltage source 231. Disconnect from.
  • the sampling capacitor 223 stores a charge of C 2 ⁇ (V C — SMP ⁇ V CM ). According to the charge conservation law, the total amount of charge stored in the sampling capacitor 223 in the sample phase does not change in the hold phase. Therefore, the following formula (8) is established for the output voltage (V OUT ) of the time / voltage converter 200.
  • Equation (8) can be rewritten as Equation (9) below.
  • equation (9) can be rewritten into the following equation (10).
  • Equation (10) can be rewritten as Equation (11) below.
  • the output voltage (V OUT ) is obtained by multiplying the AC component (V IDAC ) of the input voltage (V IN ) by ⁇ 2 and adding the adjustment voltage (V DAC ). Equal to the resulting voltage. Further, assuming that V DAC is equal to the DC component of the input voltage (V IN), more numerical example, -2 times a fixed while AC component to the DC component of the input voltage (V IN) (V INAC) Can be amplified.
  • the amplifier circuit according to the first embodiment resets the input-side sampling capacitor and the output-side sampling capacitor using the same reset voltage at the same time, and then amplifies the input voltage. Therefore, according to this amplifier circuit, the voltage mismatch between the input and output at the start of the amplification operation is alleviated.
  • the amplifier circuit does not include a switch for short-circuiting the input and output. Therefore, a decrease in isolation between input and output and non-linear distortion of the switch do not occur. Therefore, according to this amplifier circuit, it is possible to reduce power consumption and improve accuracy.
  • the time / voltage converter converts the time signal generated by the voltage / time converter into an output signal.
  • a time amplifier that obtains an amplified time signal by amplifying the time length indicated by the time signal between the voltage / time converter and the time / voltage converter. Is inserted.
  • the time / voltage converter converts the amplified time signal into an output signal.
  • a time amplifier 300 shown in FIG. 11 may be employed.
  • the time amplifier 300 receives a time signal (D IN ) from the voltage / time converter 100.
  • the time amplifier 300 obtains an amplified time signal (D OUT ) by amplifying the time length indicated by the time signal (D IN ).
  • the time amplifier 300 obtains an amplified time signal (D OUT ) as a rectangular wave signal, for example, by amplifying the pulse width of the time signal (D IN ) as a rectangular wave signal.
  • the time amplifier 300 outputs an amplification time signal (D OUT ) to the time / voltage converter 200.
  • the time amplifier 300 of FIG. 11 includes a signal generator 310, a fourth sampling circuit 320, a signal generator 330, a fifth sampling circuit 340, a bottom plate sampler 350, a detector 360, and a signal generator. 370.
  • the signal generator 310 has a control terminal and an output terminal.
  • the control terminal of the signal generator 310 is commonly connected to the input terminal of the time amplifier 300 and the control terminal of the signal generator 330.
  • the output terminal of the signal generator 310 is connected to the first terminal of the fourth sampling circuit 320.
  • the signal generator 310 receives a time signal from the voltage / time converter 100.
  • the signal generator 310 generates an electrical signal depending on the time signal, and supplies the electrical signal to the fourth sampling circuit 320.
  • the signal generator 310 of FIG. 11 includes a current source 311.
  • the current source 311 includes a first terminal, a second terminal, and a control terminal. The first terminal of the current source 311 is grounded.
  • the second terminal of the current source 311 is connected to the output terminal of the signal generator 310.
  • the control terminal of the current source 311 is connected to the control terminal of the signal generator 310.
  • the current source 311 receives the time signal (D IN ) from the voltage / time converter 100 via the control terminal. If the time signal (D IN ) is at a high level, the current source 311 generates a constant current signal and supplies the constant current signal to the fourth sampling circuit 320 via the second terminal. On the other hand, if the time signal (D IN ) is at the Low level, the current source 311 stops operating.
  • the fourth sampling circuit 320 has a first terminal, a second terminal, and a third terminal, and includes a sampling capacitor 322 described later.
  • the first terminal of the fourth sampling circuit 320 is connected to the output terminal of the signal generator 310 and inputs an electric signal over the first period described above.
  • the second terminal of the fourth sampling circuit 320 is connected in common to the second terminal of the fifth sampling circuit 340, the first terminal of the bottom plate sampler 350, and the input terminal of the detector 360.
  • the third terminal of the fourth sampling circuit 320 is connected to the output terminal of the signal generator 370.
  • the fourth sampling circuit 320 resets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 322 using the reset voltage (V RES ) in a pre-sample reset phase (RESET_SMP) described later.
  • V RES reset voltage
  • RESET_SMP pre-sample reset phase
  • the sample phase (SAMPLE) following the pre-sample reset phase is aligned with the conversion phase of the voltage / time converter 100 in time.
  • the first terminal of the sampling capacitor 322 is supplied with an electrical signal (eg, a constant current signal) from the signal generator 310.
  • the signal generator 310 continues to generate an electric signal over the first period described above.
  • the sampling capacitor 322 continues to be charged or discharged over the first period. Note that the voltage at the second terminal of the sampling capacitor 322 is continuously fixed by the bottom plate sampler 350. Therefore, the voltage at the first terminal of the sampling capacitor 322 continues to rise or fall.
  • the fourth sampling circuit 320 resets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 322 using the reset voltage (V RES ) in the pre-amplification reset phase (RESET_AMP) following the sample phase.
  • V RES reset voltage
  • RESET_AMP pre-amplification reset phase
  • an electric signal (for example, a constant current signal) is supplied from the signal generator 370 to the first terminal of the sampling capacitor 322.
  • the signal generator 370 continues to generate an electrical signal for a second period in which the voltage at the input terminal of the detector 360 satisfies the second condition.
  • the sampling capacitor 322 continues to be charged or discharged over the second period. As a result, the voltage at the input terminal of the detector 360 continues to increase or decrease, and finally satisfies the second condition.
  • the fourth sampling circuit 320 in FIG. 11 includes a voltage source 321, a sampling capacitor 322, and a switch 323.
  • the voltage source 321 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 321 is connected to the switch 323.
  • the negative terminal of the voltage source 321 is grounded.
  • the voltage source 321 generates a reset voltage (V RES ).
  • Sampling capacitor 322 has a first terminal and a second terminal.
  • the first terminal of the sampling capacitor 322 is connected in common to the first terminal and the third terminal of the fourth sampling circuit 320 and the switch 323.
  • the second terminal of the sampling capacitor 322 is connected to the second terminal of the fourth sampling circuit 320.
  • capacitance C 3 sampling capacitors 322.
  • the switch 323 is inserted between the first terminal of the sampling capacitor 322 and the positive terminal of the voltage source 321.
  • the switch 323 short-circuits or opens between the first terminal of the sampling capacitor 322 and the positive terminal of the voltage source 321 in accordance with the fourth switch control signal ( ⁇ 4).
  • the switch 323 short-circuits the first terminal of the sampling capacitor 322 and the positive terminal of the voltage source 321 in the pre-sample reset phase and the pre-amplification reset phase of the time amplifier 300.
  • the switch 323 opens between the first terminal of the sampling capacitor 322 and the positive terminal of the voltage source 321 in the sample phase and amplification phase of the time amplifier 300.
  • the signal generator 330 has a control terminal and an output terminal.
  • the control terminal of the signal generator 330 is connected to the input terminal of the time amplifier 300.
  • the output terminal of the signal generator 330 is connected to the first terminal of the fifth sampling circuit 340.
  • the signal generator 330 inputs a time signal from the voltage / time converter 100.
  • the signal generator 330 generates an electrical signal depending on the time signal, and supplies the electrical signal to the fifth sampling circuit 340.
  • the signal generator 330 may be the same as or similar to the signal generator 310.
  • the signal generator 330 in FIG. 11 includes a current source 331.
  • the current source 331 includes a first terminal, a second terminal, and a control terminal.
  • the first terminal of the current source 331 is grounded.
  • the second terminal of the current source 331 is connected to the output terminal of the signal generator 330.
  • the control terminal of the current source 331 is connected to the control terminal of the signal generator 330.
  • the current source 331 inputs the time signal (D IN ) from the voltage / time converter 100 via the control terminal. If the time signal (D IN ) is at the High level, the current source 331 generates a constant current signal and supplies the constant current signal to the fifth sampling circuit 340 via the second terminal. On the other hand, if the time signal (D IN ) is at the low level, the current source 331 stops operating.
  • the fifth sampling circuit 340 has a first terminal and a second terminal, and includes a sampling capacitor 342 described later.
  • the first terminal of the fifth sampling circuit 340 is connected to the output terminal of the signal generator 330 and inputs an electric signal over the first period described above.
  • the second terminal of the fifth sampling circuit 340 is connected to the second terminal of the fourth sampling circuit 320, the first terminal of the bottom plate sampler 350, and the input terminal of the detector 360.
  • the fifth sampling circuit 340 resets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 342 using the reset voltage (V RES ) in the pre-sample reset phase.
  • V RES reset voltage
  • the voltage at the second terminal of the sampling capacitor 342 is fixed by the bottom plate sampler 350.
  • the sample phase is aligned with the conversion phase of the voltage / time converter 100 in time. Therefore, in at least part of the sample phase, the first terminal of the sampling capacitor 342 is supplied with an electrical signal (eg, a constant current signal) from the signal generator 330. Specifically, the signal generator 330 continues to generate an electrical signal over the first period described above. The sampling capacitor 342 continues to be charged or discharged over the first period. In the sample phase, the voltage at the second terminal of the sampling capacitor 342 is continuously fixed by the bottom plate sampler 350. Therefore, the voltage at the first terminal of the sampling capacitor 342 continues to rise or fall.
  • an electrical signal eg, a constant current signal
  • the fifth sampling circuit 340 resets the voltage at the first terminal of the sampling capacitor 342 using the adjustment voltage (V DAC2 ) in the pre-amplification reset phase.
  • the bottom plate sampler 350 does not provide a current path.
  • the voltage at the second terminal of the fifth sampling circuit 340 is determined by the voltage at the first terminal of the sampling capacitor 342 at the end of the sample phase.
  • the fifth sampling circuit 340 continues to fix the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 342 in the amplification phase following the pre-amplification reset phase. As a result, the fifth sampling circuit 340 provides a current path for the electrical signal generated by the signal generator 370. As the electrical signal flows through the current path, the sampling capacitor 342 is charged or discharged. Therefore, the voltage at the second terminal of the sampling capacitor 342 continues to increase or decrease, and as a result, the voltage at the input terminal of the detector 360 finally satisfies the second condition.
  • the fifth sampling circuit 340 in FIG. 11 includes a voltage source 341, a sampling capacitor 342, a switch 343, a switch 344, and a voltage source 345.
  • the voltage source 341 has a positive terminal and a negative terminal. A positive terminal of the voltage source 341 is connected to the switch 344. The negative terminal of the voltage source 341 is grounded.
  • the voltage source 341 generates a reset voltage (V RES ).
  • Sampling capacitor 342 has a first terminal and a second terminal.
  • the first terminal of the sampling capacitor 342 is connected in common to the first terminal of the fifth sampling circuit 340, the switch 343, and the switch 344.
  • the second terminal of the sampling capacitor 342 is connected to the second terminal of the fifth sampling circuit 340.
  • capacitance C 3 sampling capacitors 342.
  • the switch 343 is inserted between the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 345.
  • the switch 343 short-circuits or opens between the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 345 in accordance with the third switch control signal ( ⁇ 3).
  • the switch 343 short-circuits the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 345 in the pre-amplification reset phase and the amplification phase of the time amplifier 300.
  • the switch 343 opens between the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 345 in the pre-sample reset phase and the sample phase of the time amplifier 300.
  • the switch 344 is inserted between the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 341.
  • the switch 344 short-circuits or opens between the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 341 in accordance with the second switch control signal ( ⁇ 2). Specifically, the switch 344 short-circuits the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 341 in the pre-sample reset phase of the time amplifier 300.
  • the switch 344 opens between the first terminal of the sampling capacitor 342 and the positive terminal of the voltage source 341 in the sample phase, pre-amplification reset phase, and amplification phase of the time amplifier 300.
  • Voltage source 345 has a positive terminal and a negative terminal. A positive terminal of the voltage source 345 is connected to the switch 343. The negative terminal of the voltage source 345 is grounded. The voltage source 345 generates a voltage for adjustment (V DAC2 ). This voltage (V DAC2 ) may be controlled by a control signal not shown in FIG.
  • the bottom plate sampler 350 has a first terminal.
  • the first terminal of the bottom plate sampler 350 is connected to the second terminal of the fourth sampling circuit 320 and the second terminal of the fifth sampling circuit 340.
  • the bottom plate sampler 350 fixes the voltage of the second terminal of the sampling capacitor 322 and the second terminal of the sampling capacitor 342 using the intermediate voltage (V CM ) in the pre-sample reset phase and the sample phase.
  • the bottom plate sampler 350 does not fix the voltages of the second terminal of the sampling capacitor 322 and the second terminal of the sampling capacitor 342 in the pre-amplification reset phase and the amplification phase. Furthermore, ideally, the bottom plate sampler 350 does not provide a current path in the pre-amplification reset phase and the amplification phase.
  • the bottom plate sampler 350 in FIG. 11 includes a voltage source 351 and a switch 352.
  • the voltage source 351 has a positive terminal and a negative terminal. A positive terminal of the voltage source 351 is connected to the switch 352. The negative terminal of the voltage source 351 is grounded.
  • the voltage source 351 generates an intermediate voltage (V CM ).
  • the switch 352 is inserted between the first terminal of the bottom plate sampler 350 and the positive terminal of the voltage source 351.
  • the switch 352 shorts or opens between the first terminal of the bottom plate sampler 350 and the positive terminal of the voltage source 351 in accordance with the first switch control signal ( ⁇ 1). Specifically, the switch 352 short-circuits the first terminal of the bottom plate sampler 350 and the positive terminal of the voltage source 351 in the pre-sample reset phase and the sample phase.
  • the switch 352 opens between the first terminal of the bottom plate sampler 350 and the positive terminal of the voltage source 351 in the pre-amplification reset phase and the amplification phase.
  • the detector 360 has an input terminal and an output terminal.
  • the input terminal of the detector 360 is commonly connected to the second terminal of the fourth sampling circuit 320, the second terminal of the fifth sampling circuit 340, and the first terminal of the bottom plate sampler 350.
  • the output terminal of the detector 360 is connected to the control terminal of the signal generator 370 and the input terminal of the time / voltage converter 200.
  • the detector 360 detects whether or not the voltage at the input terminal satisfies the second condition. Then, the detector 360 generates an amplification time signal indicating the length of the second period in which the voltage at the input terminal satisfies the second condition. Note that the second period is longer than the first period.
  • the time signal may be a digital signal that is at a high level over the second period and at a low level over the other period.
  • the detector 360 outputs the amplified time signal to the signal generator 370 and the time / voltage converter 200. The detector 360 stops operating in the pre-sample reset phase, the sample phase, and the pre-amplification reset phase.
  • the detector 360 in FIG. 11 includes a voltage source 361 and a comparator 362.
  • the voltage source 361 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 361 is connected to the second input terminal of the comparator 362.
  • the negative terminal of the voltage source 361 is grounded.
  • the voltage source 361 generates a comparison reference voltage (V RC ).
  • the comparator 362 includes a first input terminal, a second input terminal, and an output terminal.
  • the first input terminal of the comparator 362 is connected to the input terminal of the detector 360.
  • the second input terminal of the comparator 362 is connected to the positive terminal of the voltage source 361.
  • the output terminal of the comparator 362 is connected to the output terminal of the detector 360.
  • the comparator 362 operates in the amplification phase, and compares the voltage at the first input terminal with the voltage at the second input terminal.
  • the comparator 362 stops operating in the pre-sample reset phase, the sample phase, and the reset phase.
  • the comparator 362 outputs a high level (power supply voltage) amplification time signal (D OUT ).
  • the comparator 362 outputs a low level (ground voltage) amplification time signal (D OUT ). Therefore, according to the example of FIG. 11, the above-mentioned second condition corresponds to the voltage of the input terminal of the detector 360 being smaller than the comparison reference voltage (V RC ).
  • the signal generator 370 has a control terminal and an output terminal.
  • the control terminal of the signal generator 370 is connected to the output terminal of the detector 360.
  • the output terminal of the signal generator 370 is connected to the third terminal of the fourth sampling circuit 320.
  • the signal generator 370 inputs a time signal from the detector 360.
  • the signal generator 370 generates an electrical signal depending on the time signal, and supplies the electrical signal to the fourth sampling circuit 320.
  • the signal generator 370 of FIG. 11 includes a current source 371.
  • the current source 371 includes a first terminal, a second terminal, and a control terminal. The first terminal of the current source 371 is grounded.
  • the second terminal of the current source 371 is connected to the output terminal of the signal generator 370.
  • the control terminal of the current source 371 is connected to the control terminal of the signal generator 370.
  • the current source 371 receives the time signal (D OUT ) from the detector 360 via the control terminal. If the time signal (D OUT ) is at a high level, the current source 371 generates a constant current signal and supplies the constant current signal to the fourth sampling circuit 320 via the second terminal. On the other hand, if the time signal (D OUT ) is at a low level, the current source 371 stops operating.
  • the operation of the time amplifier 300 is classified by the pre-sample reset phase, the sample phase, the pre-amplification reset phase, and the amplification phase.
  • Various switch control signals, time signals, and amplification time signals change as illustrated in FIG.
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at a high level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at a high level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at a low level.
  • the fourth switch control signal ( ⁇ 4) is at a high level.
  • the pre-sample reset phase of the time amplifier 300 is aligned in time with the reset phase of the voltage / time converter 100.
  • the time amplifier 300 in FIG. 11 resets the voltage at the first terminal of the sampling capacitor 322 and the voltage at the first terminal of the sampling capacitor 342 using the reset voltage (V RES ).
  • the voltage at the second terminal of the sampling capacitor 322 and the voltage at the second terminal of the sampling capacitor 342 are respectively fixed using an intermediate voltage (V CM ).
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at the high level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at the low level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at the low level
  • the switch control signal ( ⁇ 4) 4 is at the low level.
  • the sample phase of the time amplifier 300 is aligned in time with the conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the time amplifier 300 of FIG. 11 disconnects the first terminal of the sampling capacitor 322 from the voltage source 321 and disconnects the first terminal of the sampling capacitor 342 from the voltage source 341. Since the current source 311 and the current source 331 receive the high level time signal (D IN ) for the first period, the constant current signal is input to the fourth sampling circuit for the first period. 320 and the fifth sampling circuit 340, respectively.
  • the constant current signal generated by the current source 311 passes through a current path formed by the sampling capacitor 322, the switch 352, and the voltage source 351.
  • the constant current signal generated by the current source 331 passes through a current path formed by the sampling capacitor 342, the switch 352, and the voltage source 351. Since these constant current signals charge the sampling capacitor 322 and the sampling capacitor 342, respectively, the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 322 and the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 342 increase with time.
  • V E The voltage (V E ) of a node having the same potential as the first terminal of the sampling capacitor 322 (referred to as node E in the following description) is equal to V RES at the start of the sampling phase. Therefore, the voltage V E_SMP of the node E at the end of the first period can be calculated using the following formula (12).
  • I 311 indicates the amount of current that the constant current signal supplied from the current source 311 has.
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at the low level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at the low level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at the high level.
  • the fourth switch control signal ( ⁇ 4) is at a high level.
  • the pre-amplification reset phase of the time amplifier 300 is aligned in time with the reset phase of the time / voltage converter 200.
  • the time amplifier 300 in FIG. 11 resets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 322 using the reset voltage (V RES ), and sets the voltage of the first terminal of the sampling capacitor 342 to It is fixed using the adjustment voltage (V DAC2 ).
  • V D_RESA the voltage in the pre-amplification reset phase of a node having the same potential as the input terminal of the detector 360 (referred to as node D in the following description ) can be derived as follows.
  • the sampling capacitor 322 and the sampling capacitor 342 store the charge of C 3 ⁇ (V E_SMP ⁇ V CM ), respectively.
  • the total amount of charges stored in the sampling capacitor 322 and the sampling capacitor 342 in the sample phase (2C 3 ⁇ (V E_SMP ⁇ V CM )) does not change in the pre-amplification reset phase. Therefore, the following formula (13) is established.
  • the first switch control signal ( ⁇ 1) is at the low level
  • the second switch control signal ( ⁇ 2) is at the low level
  • the third switch control signal ( ⁇ 3) is at the high level
  • the switch control signal ( ⁇ 4) 4 is at the low level.
  • the amplification phase of the time amplifier 300 is aligned in time with the sample phase of the time / voltage converter 200.
  • the time amplifier 300 in FIG. 11 disconnects the first terminal of the sampling capacitor 322 from the voltage source 321.
  • the comparator 362 the node voltage (V D) detects whether or not lower than the comparison reference voltage (V RC) of D, V D ⁇ time High level over a second period V RC is established A signal (D OUT ) is output.
  • V RES reset voltage
  • V DAC2 comparison reference voltage
  • V RC comparison reference voltage
  • the constant current signal passes through a current path formed by the sampling capacitor 322, the sampling capacitor 342, the switch 344, and the voltage source 341. Since the constant current signal charges the sampling capacitor 322 and the sampling capacitor 342, the voltage (V D ) of the node D increases with time, and finally (at the end of the second period), the comparison reference voltage V RC Matches.
  • the sampling capacitor 322 and the sampling capacitor 342 are connected in series, and the voltage (V E ) of the node E at the start of the amplification phase is equal to V RES . Therefore, the voltage V E_AMP of the node E at the end of the second period can be calculated using the following formula (14).
  • Equation (14) TDOUT indicates the length of the second period, and I 371 indicates the amount of current that the constant current signal supplied from the current source 371 has. Then, in consideration of the voltage division by the sampling capacitor 322 and the sampling capacitor 342, the increment of the voltage of the node D (V D ) in the second period corresponds to half of the increment of the voltage of the node E in the second period. . Further, the voltage (V D ) of the node D at the start of the amplification phase is equal to V D_RESA . Therefore, the voltage V D_AMP of the node D at the end of the second period can be calculated using the following formula (15).
  • the length (T DOUT ) of the second period can be derived using the following formula (16) and formula (17).
  • the length of the second period (T DOUT ) is equal to the sum of the time length proportional to the length of the first period (T DIN ) and a certain time length. .
  • the proportionality coefficient can be set to a desired value by appropriately designing I 311 and I 371 .
  • the fixed time length can be set to a desired value by appropriately designing C 3 , I 371 , V RC , V CM , V DAC 2 and V RES .
  • M sets of signal generators 330-1 (M is an arbitrary integer equal to or greater than 2) that are the same as or similar to the signal generator 330 and the fifth sampling circuit 340 of FIG. 11 and By providing the fifth sampling circuit 340-1,..., The signal generator 330-M and the fifth sampling circuit 340-M, it is possible to set the proportionality coefficient and the fixed time length more finely. Note that the adjustment voltage (V DAC2 ) generated by the voltage source included in each of the fifth sampling circuits 340-1,..., And the fifth sampling circuit 340-M may be different.
  • the time / voltage converter 200 converts the amplified time signal into an output voltage.
  • the output voltage (V OUT ) is substituted for the right side of the formula (17) as TDIN of the formula (8), and further, the right side T of the formula (17) is calculated. It can be derived by substituting the right side of the above equation (6) as DIN .
  • Equation (19) can be rewritten as Equation (20) below.
  • the output voltage (V OUT ) is equal to the voltage obtained by multiplying the AC component (V IDAC ) of the input voltage (V IN ) by ⁇ 4 and adding the DC component.
  • equation (20) can be rewritten into the following equation (21).
  • the provision of the time amplifier 300 further amplifies the AC component (V INAC ) of the input voltage (V IN ) by a factor of two.
  • K time amplifiers 300-1,..., 300-K that are the same as or similar to the time amplifier 300 of FIG. 11 (K is an arbitrary integer greater than or equal to 2) are provided.
  • K is an arbitrary integer greater than or equal to 2
  • the pre-sample reset phase and the sample phase of each time amplifier are the reset phase and conversion phase of the immediately preceding voltage / time converter or the pre-amplification reset phase and amplification of the immediately preceding time amplifier. Aligned to phases in time. Then, the pre-amplification phase and the amplification phase of each time amplifier are temporally transferred to the pre-sample reset phase and sample phase of the time amplifier arranged immediately after or the reset phase and sample phase of the time / voltage converter arranged immediately after. Aligned.
  • one or more time amplifiers are inserted between the voltage / time converter and the time / voltage converter described in the first embodiment. To do. Therefore, according to this amplifier circuit, a desired gain can be achieved by inserting an appropriate number of time amplifiers.
  • the current source in FIG. 15 includes a transistor 405, a transistor 406, a transistor 407, and a fine adjustment current source 410.
  • transistors 405, 406, and 407 are illustrated as MOS (Metal Oxide Semiconductor) transistors, but may be replaced with other types of transistors.
  • the current source in FIG. 15 outputs a constant current signal through the current output terminal 401 over a period in which the time signal or amplification time signal input through the control terminal 404 turns off the transistor 407 as a switch.
  • the constant current signal has a current amount (I OUT ) determined by the element size of the transistor 405 and the voltage (V BIAS1 ) of the first bias terminal 402.
  • Transistor 405 has a source terminal connected to the power supply, a gate terminal connected to first bias terminal 402, and a drain terminal connected to the source terminal of transistor 406. As described above, the element size of the transistor 405 determines the amount of current (I OUT ) that the constant current signal output through the current output terminal 401 has.
  • the transistor 406 has a source terminal connected to the drain terminal of the transistor 405, a gate terminal connected to the second bias terminal 403, and a drain terminal connected to the current output terminal 401.
  • the transistor 406 is cascode-connected to the transistor 405 and has a role of increasing an output resistance value.
  • the transistor 407 has a source terminal connected to the power supply, a gate terminal connected to the control terminal 404, and a drain terminal connected to the second bias terminal 403.
  • the transistor 407 functions as a switch. Specifically, the transistor 407 is connected between the power supply and the gate terminal of the transistor 406 over a period in which the time signal or the amplification time signal (D IN / D OUT ) input through the control terminal 404 is at a low level. Short circuit. As a result, since the transistor 406 is turned off, the current source in FIG. 15 does not output a constant current signal.
  • the transistor 407 opens between the power supply and the gate terminal of the transistor 406 over a period in which the time signal or the amplification time signal (D IN / D OUT ) input through the control terminal 404 is at a high level. .
  • the transistor 406 is turned on, so that the current source in FIG. 15 outputs a constant current signal.
  • the fine adjustment current source 410 finely adjusts the current amount of the constant current signal by adding or subtracting a small amount of current to or from the drain current of the transistor 405. By providing the fine adjustment current source 410, it is possible to compensate for fluctuations in the drain current that may occur due to an element mismatch or the like.
  • the amount of current output from the fine adjustment current source 410 is controlled by an (X + 1) -bit digital control signal D CNT [X: 0]. X is an integer of 0 or more.
  • the fine adjustment current source 410 illustrated in FIG. 16 may be employed.
  • the fine adjustment current source of FIG. 16 includes (X + 1) sub current sources 411.
  • Each sub-current source 411 includes an inverter 412, a transistor 413, a transistor 414, and a transistor 415.
  • transistors 413, 414 and 415 are illustrated as MOS transistors, but may be replaced with other types of transistors.
  • the inverter 412 inputs a predetermined 1-bit digital signal out of the (X + 1) -bit digital control signal D CNT [X: 0].
  • the inverter 412 logically inverts the input 1-bit digital signal and outputs it to the gate terminal of the transistor 415.
  • Transistor 413 has a source terminal connected to the power supply, a gate terminal connected to the source terminal of transistor 414 and the drain terminal of transistor 415, and a drain terminal connected to the current output terminal.
  • Each sub current source 411 outputs a constant current signal via the current output terminal over a period in which the transistor 413 is ON. This constant current signal is determined by the element size of the transistor 413 and the voltage (V BIAS1 ) of the bias terminal.
  • the transistor 414 has a drain terminal connected to the bias terminal, a gate terminal connected to the input terminal of the inverter 412, and a source terminal connected to the gate terminal of the transistor 413.
  • the transistor 414 functions as a switch. Specifically, the bias terminal and the gate terminal of the transistor 413 are short-circuited over a period in which the 1-bit digital signal input to the inverter 412 is at a low level. As a result, the transistor 413 is turned on. On the other hand, between the bias terminal and the gate terminal of the transistor 413 is opened over a period in which the 1-bit digital signal input to the inverter 412 is at a high level. As a result, the transistor 413 is turned off.
  • the transistor 415 has a source terminal connected to the power supply, a gate terminal connected to the output terminal of the inverter 412, and a drain terminal connected to the gate terminal of the transistor 413.
  • the transistor 415 functions as a switch. Specifically, the power supply and the gate terminal of the transistor 413 are short-circuited over a period in which the 1-bit digital signal output from the inverter 412 is at a low level. As a result, the transistor 413 is turned off. On the other hand, between the bias terminal and the gate terminal of the transistor 413 is opened over a period in which the 1-bit digital signal output from the inverter 412 is at a high level. As a result, the transistor 413 is turned on.
  • L inverters 502-1,..., 502-L include a differential single-phase amplifier circuit 501 and L (L is an arbitrary integer equal to or greater than 1) inverters 502-1,..., 502-L.
  • L inverters 502-1,..., 502-L are depicted as CMOS (Complementary MOS) inverters, but may be replaced with other types of inverters.
  • CMOS Complementary MOS
  • the differential single-phase amplifier circuit 501 amplifies the differential voltage between the voltage (V INP ) of the first input terminal and the voltage (V INM ) of the second input terminal and sends the single-phase signal to the inverter 502-1. Is output.
  • L inverters 502-1,..., 502-L are connected in cascade.
  • the inverter 502-1 receives a single-phase signal from the differential single-phase amplifier circuit 501, amplifies and logically inverts the single-phase signal, and outputs the amplified signal to the inverter 502-2.
  • the inverters 502-2,..., 502- (L-1) amplify and logically invert the input signals from the inverters 502-1,.
  • Inverter 502-L amplifies and logically inverts the input signal from 502- (L-1) and outputs the result through the output terminal of the comparator.
  • L inverters 502-1,..., 502-L are provided to amplify the single-phase signal output from the differential single-phase amplifier circuit 501 to the power supply voltage level or the ground voltage level. Therefore, when the differential single-phase amplifier circuit 501 has a sufficient gain, the L inverters 502-1,..., 502-L can be omitted.
  • time amplifier 600 illustrated in FIG. 18 may be employed instead of the time amplifier 300 illustrated in FIG.
  • the time amplifier 600 includes a signal generator 610, a fourth sampling circuit 320, a signal generator 630, a fifth sampling circuit 340, a bottom plate sampler 650, a detector 360, and a signal generator 370.
  • the fourth sampling circuit 320, the fifth sampling circuit 340, the detector 360, and the signal generator 370 are the same as the fourth sampling circuit 320, the fifth sampling circuit 340, the detector 360, and the signal shown in FIG. It may be the same as or similar to generator 370.
  • the signal generator 610 has an output terminal. The output terminal of the signal generator 610 is connected to the first terminal of the fourth sampling circuit 320. The signal generator 610 generates an electrical signal and supplies the electrical signal to the fourth sampling circuit 320.
  • the signal generator 610 in FIG. 18 includes a current source 611.
  • the current source 611 includes a first terminal and a second terminal. The first terminal of the current source 611 is grounded. The second terminal of the current source 611 is connected to the output terminal of the signal generator 610.
  • the current source 611 generates a constant current signal and supplies the constant current signal to the fourth sampling circuit 320 via the second terminal.
  • the signal generator 630 has an output terminal.
  • the output terminal of the signal generator 630 is connected to the first terminal of the fifth sampling circuit 340.
  • the signal generator 630 generates an electrical signal and supplies the electrical signal to the fifth sampling circuit 340.
  • the signal generator 630 may be the same as or similar to the signal generator 610.
  • the signal generator 630 in FIG. 18 includes a current source 631.
  • Current source 631 includes a first terminal and a second terminal. The first terminal of the current source 631 is grounded. The second terminal of the current source 631 is connected to the output terminal of the signal generator 630.
  • the current source 631 generates a constant current signal and supplies the constant current signal to the fifth sampling circuit 340 via the second terminal.
  • the bottom plate sampler 650 has a first terminal.
  • the first terminal of the bottom plate sampler 650 is commonly connected to the second terminal of the fourth sampling circuit 320, the second terminal of the fifth sampling circuit 340, and the input terminal of the detector 360.
  • the bottom plate sampler 650 uses the intermediate voltage (V CM ) over the first period of the sample phase to calculate the voltage of the second terminal of the sampling capacitor 322 and the second terminal of the sampling capacitor 342. Fix it.
  • the bottom plate sampler 650 includes the second terminal of the sampling capacitor 322 and the second of the sampling capacitor 342 in the pre-sample reset phase, the period other than the first period of the sample phase, the pre-amplification reset phase, and the amplification phase. Do not fix the terminal voltage. Further, ideally, the bottom plate sampler 650 does not provide a current path in the pre-sample reset phase, the period other than the first period of the sample phase, the pre-amplification reset phase, and the amplification phase.
  • the bottom plate sampler 650 in FIG. 18 includes a voltage source 651 and a switch 652.
  • the voltage source 651 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 651 is connected to the switch 652.
  • the negative terminal of the voltage source 651 is grounded.
  • the voltage source 651 generates an intermediate voltage (V CM ).
  • the switch 652 is inserted between the first terminal of the bottom plate sampler 650 and the positive terminal of the voltage source 651.
  • the switch 652 short-circuits or opens between the first terminal of the bottom plate sampler 650 and the positive terminal of the voltage source 651 in accordance with the time signal (D IN ).
  • the switch 652 short-circuits between the first terminal of the bottom plate sampler 650 and the positive terminal of the voltage source 651 in the first period of the sample phase.
  • the switch 652 is provided between the first terminal of the bottom plate sampler 650 and the positive terminal of the voltage source 651 in the pre-sample reset phase, the period excluding the first period of the sample phase, the pre-amplification reset phase, and the amplification phase. Is released.
  • the time amplifier included in the amplifier circuit according to the fifth embodiment controls the switch included in the bottom plate sampler instead of the signal generator using the time amplifier. Therefore, according to this time amplifier, the effect of charge injection can be reduced while realizing the same or similar operation as the time amplifier described in the third embodiment.
  • time / voltage converter is not limited to the time amplifier, and can be similarly modified.
  • the switch 232 included in the bottom plate sampler 230 may be controlled instead of the signal generator 210 using the time signal (D IN ). According to such a modification, the influence of charge injection on the time / voltage converter can be reduced.
  • the time amplifier 700 illustrated in FIG. 19 may be employed instead of the time amplifier 300 illustrated in FIG. 11 or the time amplifier 600 illustrated in FIG.
  • a low level amplification time signal is sent to the signal generator 370 at the timing when the voltage (V D ) of the input terminal of the detector 360 becomes equal to or higher than the comparison reference voltage (V RC ). Will be entered.
  • V D voltage
  • V RC comparison reference voltage
  • the voltage (V D ) or comparison reference voltage (V RC ) of the input terminal of the detector 360 fluctuates due to the influence of noise, V D ⁇ V RC again, and the high level amplification time signal is erroneously set. There is a risk of output.
  • the time amplifier 700 includes a signal generator 310, a fourth sampling circuit 320, a signal generator 330, a fifth sampling circuit 340, a bottom plate sampler 350, a detector 360, a signal generator 370, Delay element 780.
  • the signal generator 310, the fourth sampling circuit 320, the signal generator 330, the fifth sampling circuit 340, the bottom plate sampler 350, the detector 360, and the signal generator 370 are the same as the signal generator 310 shown in FIG.
  • Fourth sampling circuit 320, signal generator 330, fifth sampling circuit 340, bottom plate sampler 350, detector 360 and signal generator 370 may be the same or similar.
  • Delay element 780 is inserted between detector 360 and signal generator 370.
  • the delay element 780 delays the amplification time signal from the detector 360 to obtain a delay time signal.
  • the delay element 780 outputs the delay time signal to the signal generator 370.
  • the signal generator 370 operates according to the delay time signal instead of the amplification time signal. Therefore, not the timing when the voltage (V D ) of the input terminal of the detector 360 becomes equal to or higher than the comparison reference voltage (V RC ) but a predetermined time delay from the timing, and a low level delay time signal is sent to the signal generator 370. Will be entered. During this delay time, the signal generator 370 does not stop operating, so the voltage (V D ) at the input terminal of the detector 360 continues to rise.
  • the signal generator 370 stops operating, the voltage (V D ) at the input terminal is sufficiently larger than the comparison reference voltage (V RC ). Accordingly, even if the voltage (V D ) or the comparison reference voltage (V RC ) at the input terminal slightly varies due to the influence of noise, the amplification time signal remains stable at the low level.
  • the delay element is inserted between the detector and the signal generator. Therefore, according to this time amplifier, it is possible to improve noise tolerance while realizing the same or similar operation as the time amplifier described in the third embodiment.
  • a delay element may be inserted between the detector 140 and the signal generator 150 in the voltage / time converter 100 of FIG. According to such a modification, the noise resistance of the voltage / time amplifier can be increased.
  • Each of the detectors described in the above embodiments includes a comparator.
  • the comparator of FIG. 17 includes a differential single-phase amplifier circuit 501.
  • the differential single-phase amplifier circuit 501 constantly consumes a bias current. Therefore, the amplifier circuit according to the seventh embodiment reduces power consumption by modifying the detector.
  • the comparator is replaced by an inverter that logically inverts the input voltage with reference to the threshold voltage.
  • the threshold voltage of a normal inverter is not necessarily an appropriate value because it depends on the characteristics of a transistor included in the inverter, the power supply voltage, and the like. Therefore, preferably, an inverter having a function of adjusting the threshold value is used.
  • the time amplifier 800 illustrated in FIG. 20 instead of the time amplifier 300 illustrated in FIG. 11, the time amplifier 600 illustrated in FIG. 18, or the time amplifier 700 illustrated in FIG. May be adopted.
  • the time amplifier 800 includes a signal generator 310, a fourth sampling circuit 320, a signal generator 330, a fifth sampling circuit 340, a bottom plate sampler 350, a detector 860, and a signal generator 370.
  • the signal generator 310, the fourth sampling circuit 320, the signal generator 330, the fifth sampling circuit 340, the bottom plate sampler 350, and the signal generator 370 are the same as the signal generator 310 shown in FIG.
  • the sampling circuit 320, the signal generator 330, the fifth sampling circuit 340, the bottom plate sampler 350, and the signal generator 370 may be the same or similar.
  • the detector 860 of FIG. 21 includes a variable threshold inverter 861 and L inverters 502-1 to 502-L (L is an arbitrary integer equal to or greater than 1).
  • the L inverters 502-1,..., 502-L may be the same as or similar to the L inverters 502-1,.
  • any transistor is depicted as a MOS transistor, but may be replaced with another type of transistor.
  • the variable threshold inverter 861 and the L inverters 502-1,..., 502-L are depicted as CMOS inverters, but may be replaced with other types of inverters.
  • Threshold voltage of the variable threshold inverter 861 (X + 1) bit digital control signal D CNT1: controlled by [X 0].
  • X is an integer of 0 or more.
  • Variable threshold inverter 861 logically inverts the voltage at the input terminal of detector 860 with reference to the threshold voltage, and outputs the result to inverter 502-1.
  • variable threshold inverter 861 includes a plurality of NMOS transistors, a plurality of switches 862, a plurality of PMOS transistors, a plurality of switches 863, and a switch 864.
  • the source terminals of the plurality of NMOS transistors are commonly connected to each other. Furthermore, the drain terminals of the plurality of NMOS transistors are also commonly connected to each other. Each gate terminal of the plurality of NMOS transistors is connected to the corresponding switch 862.
  • Each of the plurality of switches 862 short-circuits or opens between the gate terminal of the corresponding NMOS transistor and the input terminal of the variable threshold inverter 861.
  • Each of ON / OFF states of the plurality of switches 862, (X + 1) bit digital control signal D CNT1: is individually controlled by [X 0].
  • each of the plurality of switches 862 has an input terminal 871, an output terminal 872, and a control terminal 873, and includes a CMOS switch 874, an inverter 875, and an NMOS transistor 876.
  • any of the transistors is depicted as a MOS transistor, but may be replaced with another type of transistor.
  • CMOS switch 874 includes a digital control signal D CNT1 inputted through the control terminal 873, in accordance with an inverted signal of the digital control signal D CNT1 inputted from the inverter 875, between the input terminal 871 and output terminal 872 Short circuit or open. Specifically, if the digital control signal DCNT1 is at a high level, the CMOS switch 874 shorts between the input terminal 871 and the output terminal 872. On the other hand, if the digital control signal DCNT1 is at the low level, the CMOS switch 874 opens between the input terminal 871 and the output terminal 872.
  • Inverter 875 has an input terminal and an output terminal. Inverter 875 inputs the digital control signal D CNT1 through the control terminal 873. The inverter 875 obtains an inverted signal by logically inverting the digital control signal DCNT1 . Inverter 875 outputs the inverted signal to CMOS switch 874 and the gate terminal of NMOS transistor 876.
  • NMOS transistor 876 has a gate terminal connected to the output terminal of inverter 875, a drain terminal connected to output terminal 872, and a source terminal connected to ground.
  • the NMOS transistor 876 receives the inverted signal of the digital control signal DCNT1 from the inverter 875 through the gate terminal. If the inverted signal is at a high level (that is, the digital control signal DCNT1 is at a low level), the NMOS transistor 876 shorts between the output terminal 872 and the ground. On the other hand, if the inverted signal is at the low level (that is, the digital control signal DCNT1 is at the high level), the NMOS transistor 876 opens between the output terminal 872 and the ground.
  • the source terminals of the plurality of PMOS transistors are commonly connected to each other. Further, the drain terminals of the plurality of PMOS transistors are commonly connected to each other. Each gate terminal of the plurality of PMOS transistors is connected to the corresponding switch 863.
  • Each of the plurality of switches 863 short-circuits or opens between the gate terminal of the corresponding PMOS transistor and the input terminal of the variable threshold inverter 861.
  • the ON / OFF state of each of the plurality of switches 863 is individually controlled by an (X + 1) -bit digital control signal D CNT1 [X: 0].
  • Each of the plurality of switches 863 may be similar to the switch 862 shown in FIG. 22, for example. However, each of the plurality of switches 863, if the digital control signal D CNT1 is at Low level, it is necessary to short-circuit the power supply output terminal instead of ground.
  • the switch 864 shorts or opens the input / output of the variable threshold inverter 861. ON / OFF of the switch 864 is controlled by a digital control signal D CNT1 [X: 0] of (X + 1) bits.
  • the switch 864 may be implemented using a CMOS switch.
  • the threshold voltage of the variable threshold inverter 861 can be controlled through the digital control signal D CNT1 [X: 0].
  • the threshold voltage of the variable threshold inverter 861 is the voltage at the input terminal of the variable threshold inverter 861 after the switch 864 is further turned on while the plurality of switches 862 and the plurality of switches 863 are kept in a desired ON / OFF state. Can be measured by observing.
  • the threshold voltage of the CMOS inverter it is also possible to adjust the threshold voltage of the CMOS inverter using a known technique (for example, auto-zero technique).
  • a known technique for example, auto-zero technique
  • the variable threshold value inverter 861 delay caused by the capacitance and the switch can be avoided, so that high speed operation can be realized.
  • an inverter having an appropriate threshold voltage for example, comparable to the comparison reference voltage (V RC )
  • V RC comparison reference voltage
  • the amplifier circuit according to the seventh embodiment employs a detector in which the comparator is replaced with an inverter. Therefore, according to this amplifier circuit, power consumption in the detector can be reduced.
  • the time amplifier not only the time amplifier but also a voltage / time converter can be similarly modified.
  • the detector 140 may be replaced with the detector 860 illustrated in FIG. According to such a modification, the power consumption in the detector of the voltage / time amplifier can be reduced.
  • the analog / digital conversion circuit includes a first analog / digital conversion unit 900, a second analog / digital conversion unit 910, and a time / voltage converter 200.
  • the analog / digital conversion circuit in FIG. 23 corresponds to a three-stage pipeline ADC, but the number of stages can be increased or decreased. When the number of stages is increased, a circuit that is the same as or similar to the second analog / digital conversion unit 910 may be added. When the number of stages is decreased, the second analog / digital conversion unit 910 may be removed. Further, the present embodiment is not limited to the pipeline ADC, and can be applied to other types of ADCs such as ⁇ ADC.
  • the first analog / digital conversion unit 900 generates a first digital signal by performing analog / digital conversion on a part of the input analog signal.
  • First analog / digital converter 900 outputs the first digital signal to encoder 930. Further, the first analog / digital converter 900 obtains the first time signal by substantially voltage / time converting the remainder of the input analog signal (hereinafter referred to as the first residual signal). .
  • the first analog / digital conversion unit 900 outputs the first time signal to the second analog / digital conversion unit 910.
  • the first analog / digital conversion unit 900 includes a voltage / time converter 100, a sub ADC 901, and a sub DAC 902.
  • the sub ADC 901 obtains a first digital signal by subjecting a part of the input analog signal to analog / digital conversion.
  • the sub ADC 901 outputs the first digital signal to the sub DAC 902 and the encoder 930.
  • the sub DAC 902 inputs the first digital signal from the sub ADC 901.
  • the sub DAC 902 obtains a first analog signal by performing digital / analog conversion on the first digital signal.
  • the sub DAC 902 outputs the first analog signal to the voltage / time converter 100.
  • the voltage / time converter 100 performs voltage / time conversion on the input analog signal. However, the voltage / time converter 100 receives the first analog signal from the sub DAC 902 and controls the adjustment voltage V DAC described above using the first analog signal. Therefore, the voltage / time converter 100 substantially converts the first residual signal corresponding to the difference between the input analog signal and the first analog signal into a first time signal by voltage / time conversion. Get. The voltage / time converter 100 outputs the first time signal to the second analog / digital converter 910.
  • the second analog / digital conversion unit 910 receives the first time signal from the first analog / digital conversion unit 900.
  • the second analog / digital conversion unit 910 restores the first residual signal by performing time / voltage conversion on the first time signal.
  • the second analog / digital conversion unit 910 obtains a second digital signal by performing analog / digital conversion on a part of the first residual signal.
  • Second analog / digital conversion section 910 outputs the second digital signal to encoder 930.
  • the second analog / digital conversion unit 910 substantially converts the remaining part of the first residual signal (hereinafter referred to as the second residual signal) to a voltage / time conversion by a second time. Get a signal.
  • the second analog / digital conversion unit 910 outputs the second time signal to the time / voltage converter 200.
  • the second analog / digital conversion unit 910 includes a time amplifier 300, a time / voltage converter 911, a sub ADC 912, and a sub DAC 913.
  • the time / voltage converter 911 receives the first time signal from the first analog / digital converter 900.
  • the time / voltage converter 911 restores the first residual signal by performing time / voltage conversion on the first time signal.
  • the time / voltage converter 911 outputs the first residual signal to the sub ADC 912.
  • the time / voltage converter 911 may be the same as or similar to the time / voltage converter 200 described above.
  • the sub ADC 912 obtains a second digital signal by performing analog / digital conversion on a part of the first residual signal.
  • the sub ADC 912 outputs the second digital signal to the sub DAC 913 and the encoder 930.
  • the sub DAC 913 inputs the second digital signal from the sub ADC 912.
  • the sub DAC 913 obtains the second analog signal by performing digital / analog conversion on the second digital signal.
  • the sub DAC 913 outputs the second analog signal to the time amplifier 300.
  • the time amplifier 300 receives the first time signal from the first analog / digital conversion unit 900.
  • the time amplifier 300 amplifies the first time signal.
  • the time the amplifier 300 receives the second analog signal from the sub DAC913, controls the adjustment voltage V DAC2 described above by using the second analog signal. Therefore, the time amplifier 300 substantially converts the second residual signal corresponding to the difference between the first residual signal and the second analog signal by voltage / time conversion, thereby generating the second time signal. Get.
  • the time amplifier 300 outputs the second time signal to the time / voltage converter 200.
  • the time / voltage converter 200 receives the second time signal from the second analog / digital converter 910.
  • the time / voltage converter 200 restores the aforementioned second residual signal by time / voltage converting the second time signal.
  • the time / voltage converter 200 outputs the second residual signal to the backend ADC 920.
  • the back-end ADC 920 obtains a third digital signal by performing analog / digital conversion on the second residual signal.
  • the back end ADC 920 outputs the third digital signal to the encoder 930.
  • the encoder 930 receives the first digital signal from the first analog / digital conversion unit 900, receives the second digital signal from the second analog / digital conversion unit 910, and receives the third digital signal from the back-end ADC 920. Input the signal.
  • the encoder 930 obtains an output digital signal as binary data by converting the first digital signal, the second digital signal, and the third digital signal.
  • the analog / digital conversion circuit of FIG. 23 may be modified as illustrated in FIG.
  • the analog / digital conversion circuit of FIG. 24 includes a first analog / digital conversion unit 900, a second analog / digital conversion unit 1010, a time / digital converter (TDC) 1020, and an encoder 930.
  • the first analog / digital conversion unit 900 and the encoder 930 may be the same as or similar to the first analog / digital conversion unit 900 and the encoder 930 shown in FIG.
  • the second analog / digital conversion unit 1010 receives the first time signal from the first analog / digital conversion unit 900.
  • the second analog / digital conversion unit 1010 obtains the above-described second digital signal by performing time / digital conversion on the first time signal.
  • Second analog / digital converter 1010 outputs the second digital signal to encoder 930.
  • the second analog / digital conversion unit 1010 substantially converts the remaining part of the first residual signal (hereinafter referred to as the second residual signal) to a voltage / time conversion for a second time. Get a signal.
  • Second analog / digital converter 1010 outputs the second time signal to time / voltage converter 200.
  • the second analog / digital conversion unit 1010 includes a time amplifier 300, a TDC 1011, and a sub DAC 1012.
  • the TDC 1011 receives the first time signal from the first analog / digital conversion unit 900.
  • the TDC 1011 obtains a second digital signal by performing time / digital conversion on the first time signal.
  • TDC 1011 outputs the second digital signal to sub DAC 1012 and encoder 930.
  • the sub DAC 1012 receives the second digital signal from the TDC 1011.
  • the sub DAC 1012 obtains the second analog signal by performing digital / analog conversion on the second digital signal.
  • the sub DAC 1013 outputs the second analog signal to the time amplifier 300.
  • the time amplifier 300 receives the first time signal from the first analog / digital conversion unit 900.
  • the time amplifier 300 amplifies the first time signal.
  • the time the amplifier 300 receives the second analog signal from the sub DAC1012, controls the adjustment voltage V DAC2 described above by using the second analog signal. Therefore, the time amplifier 300 substantially converts the second residual signal corresponding to the difference between the first residual signal and the second analog signal by voltage / time conversion, thereby generating the second time signal. Get.
  • the time amplifier 300 outputs the second time signal to the time / voltage converter 200.
  • the TDC 1020 receives the second time signal from the second analog / digital conversion unit 910.
  • the TDC 1020 obtains the aforementioned third digital signal by time / digital conversion of the second time signal.
  • the TDC 1020 outputs the third digital signal to the encoder 930.
  • the analog / digital conversion circuit in FIG. 24 consumes less power than the analog / digital conversion circuit in FIG.
  • the analog / digital conversion circuit according to the eighth embodiment includes the voltage / time converter described in the first embodiment and the time amplifier described in the second embodiment. Including. Therefore, this analog / digital conversion circuit can operate with low power consumption and high accuracy.
  • the voltage / time converter according to the ninth embodiment converts a part of an input analog signal into a digital signal. Therefore, this voltage / time converter can also be called an analog / digital converter. Further, the voltage / time converter obtains a time signal by performing voltage / time conversion on the rest of the input analog signal.
  • FIG. 25 shows a specific example of the voltage / time converter according to this embodiment.
  • the voltage / time converter 1100 in FIG. 25 includes a first sampling circuit 110, N second sampling circuits 120-1,..., 120-N, a bottom plate sampler 130, and a detector 140. , A signal generator 150, a detector 1160, and a SAR (Successive Application Register) logic 1170.
  • the first sampling circuit 110, the N second sampling circuits 120-1,..., 120-N, the bottom plate sampler 130, the detector 140, and the signal generator 150 are the first sampling circuit of FIG. 110, N second sampling circuits 120-1,..., 120-N, bottom plate sampler 130, detector 140 and signal generator 150 may be the same or similar.
  • the detector 1160 has an input terminal and an output terminal.
  • the input terminals of the detector 1160 are the second terminal of the first sampling circuit 110, the second terminals of the N second sampling circuits 120-1,..., 120-N, and the bottom plate sampler 130. Commonly connected to the first terminal and the input terminal of the detector 140.
  • the output terminal of the detector 1160 is connected to the input terminal of the SAR logic 1170.
  • the detector 1160 In the reset phase of the voltage / time converter 1100 in FIG. 25, the detector 1160 periodically compares the voltage at its input terminal with the comparison reference voltage. The detector 1160 periodically outputs a digital signal indicating the comparison result to the SAR logic 1170. In the sample phase and conversion phase of voltage / time converter 1100, detector 1160 stops operating.
  • the detector 1160 includes a voltage source 1161 and a comparator 1162.
  • the voltage source 1161 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 1161 is connected to the second input terminal of the comparator 1162.
  • the negative terminal of the voltage source 1161 is grounded.
  • Voltage source 1161 generates a comparison reference voltage (V RC2).
  • the comparison reference voltage (V RC2 ) may be the same as the intermediate voltage (V CM ).
  • the comparator 1162 includes a first input terminal, a second input terminal, and an output terminal.
  • the first input terminal of the comparator 1162 is connected to the input terminal of the detector 1160.
  • the second input terminal of the comparator 1162 is connected to the positive terminal of the voltage source 1161.
  • the output terminal of the comparator 1162 is connected to the output terminal of the detector 1160.
  • the comparator 1162 operates in synchronization with the clock signal (CLK).
  • CLK clock signal
  • the comparator 1162 detects the rising edge (or falling edge) of the clock signal (CLK)
  • the comparator 1162 compares the voltage of the first input terminal with the voltage of the second input terminal.
  • the clock signal may be a pulse signal having a fixed period supplied to the comparator 1162 during the reset phase of the voltage / time converter 1100. Note that the comparator 1162 stops operating in the sample phase and the conversion phase of the voltage / time converter 100.
  • the comparator 1162 outputs a digital signal at a high level (power supply voltage). On the other hand, if the voltage at the first input terminal is equal to or higher than the voltage at the second input terminal, the comparator 1162 outputs a digital signal at a low level (ground voltage).
  • the SAR logic 1170 has an input terminal, a digital output terminal, and a control output terminal.
  • the input terminal of the SAR logic 1170 is connected to the output terminal of the detector 1160.
  • the control output terminal of the SAR logic 1170 is connected to N second sampling circuits 120-1,..., 120-N.
  • control output terminal of the SAR logic 1170 is connected to the switch 124-1 included in the N second sampling circuits 120-1,. Yes.
  • control output terminal of the SAR logic 1170 has other elements (for example, the voltage source 123-) to control the adjustment voltage in the N second sampling circuits 120-1 to 120 -N. 1) or the like.
  • the SAR logic 1170 In the reset phase of the voltage / time converter 1100 of FIG. 25, the SAR logic 1170 periodically inputs a digital signal indicating a comparison result from the detector 1160. The SAR logic 1170 periodically generates a control signal for controlling the adjustment voltage in the N second sampling circuits 120-1,..., 120-N according to the digital signal, and outputs the control signal. Output via the terminal. Further, the SAR logic 1170 accumulates the digital signal input during the reset phase of the voltage / time converter 1100, thereby obtaining an output digital signal (ADC OUT ) at the end of the reset phase. The SAR logic 1170 outputs an output digital signal (ADC OUT ) via a digital output terminal.
  • the voltage / time converter according to the tenth embodiment converts a part of the input analog signal into a digital signal, and the rest of the input analog signal is converted into the voltage as in the first embodiment.
  • Time signal is obtained by time / time conversion. Therefore, by incorporating this voltage / time converter in the first stage of the pipeline ADC, for example, the power consumption can be reduced and the accuracy can be improved.
  • the voltage / time converter according to the tenth embodiment converts a part of an input analog signal into a digital signal. Therefore, this voltage / time converter can also be called an analog / digital converter. Further, the voltage / time converter obtains a time signal by performing voltage / time conversion on the rest of the input analog signal.
  • FIG. 28 A specific example of the voltage / time converter according to the present embodiment is shown in FIG. 28 includes a first sampling circuit 110, N second sampling circuits 120-1,..., 120-N, a bottom plate sampler 130, a detector 1240, and the like. , Signal generator 150 and SAR logic 1170.
  • the first sampling circuit 110, the N second sampling circuits 120-1,..., 120-N, the bottom plate sampler 130, the signal generator 150, and the SAR logic 1170 are the first sampling circuit of FIG. 110, N second sampling circuits 120-1,..., 120-N, bottom plate sampler 130, signal generator 150, and SAR logic 1170 may be the same or similar.
  • the detector 1240 has an input terminal and an output terminal.
  • the input terminals of the detector 1240 are the second terminal of the first sampling circuit 110, the second terminals of the N second sampling circuits 120-1, ..., 120-N, and the bottom plate sampler 130. Commonly connected to the first terminal.
  • the output terminal of the detector 1240 is commonly connected to the control terminal of the signal generator 150, the input terminal of the SAR logic 1170, and the input terminal of the time / voltage converter 200.
  • the detector 1240 operates in the same manner as the above-described detector 140 in the conversion phase of the voltage / time converter of FIG.
  • the detector 1240 operates in the same manner as the above-described detector 1160 in the reset phase of the voltage / time converter of FIG.
  • the detector 1240 detects whether or not the voltage at the input terminal satisfies the first condition. Then, the detector 1240 generates a time signal indicating the length of the first period in which the voltage at the input terminal satisfies the first condition. The detector 1240 outputs the time signal to the signal generator 150 and the time / voltage converter 200.
  • the detector 1240 In the reset phase, the detector 1240 periodically compares the voltage at its input terminal with the comparison reference voltage. The detector 1240 periodically outputs a digital signal indicating the comparison result to the SAR logic 1170. In the sample phase, the detector 1240 stops operating.
  • Detector 1240 includes a comparator 1241 and a voltage source 1242.
  • Comparator 1241 includes a first input terminal, a second input terminal, and an output terminal. The first input terminal of the comparator 1241 is connected to the input terminal of the detector 1240. The second input terminal of the comparator 1241 is connected to the positive terminal of the voltage source 1242. The output terminal of the comparator 1241 is connected to the output terminal of the detector 1240.
  • the comparator 1241 compares the voltage at the first input terminal with the voltage at the second input terminal in the conversion phase. Specifically, if the voltage at the first input terminal is smaller than the voltage at the second input terminal, the comparator 1241 outputs a high level (power supply voltage) time signal (D OUT ). On the other hand, if the voltage at the first input terminal is equal to or higher than the voltage at the second input terminal, the comparator 1241 outputs a low level (ground voltage) time signal (D OUT ).
  • the comparator 1241 operates in synchronization with the clock signal (CLK) in the reset phase.
  • the comparator 1241 detects the rising edge (or falling edge) of the clock signal (CLK)
  • the comparator 1241 compares the voltage of the first input terminal with the voltage of the second input terminal. Specifically, if the voltage at the first input terminal is smaller than the voltage at the second input terminal, the comparator 1241 outputs a digital signal having a high level (power supply voltage). On the other hand, if the voltage at the first input terminal is equal to or higher than the voltage at the second input terminal, the comparator 1241 outputs a digital signal at a low level (ground voltage). Note that the comparator 1241 stops operating in the sample phase.
  • Voltage source 1242 has a positive terminal and a negative terminal.
  • the positive terminal of the voltage source 1242 is connected to the second input terminal of the comparator 1241.
  • the negative terminal of the voltage source 1242 is grounded.
  • the voltage source 1242 generates a comparison reference voltage (V RC ).
  • the voltage / time converter according to the tenth embodiment integrates two detectors included in the voltage / time converter according to the ninth embodiment. Therefore, according to this voltage / time converter, the circuit area and the power consumption can be reduced as compared with the voltage / time converter according to the ninth embodiment.

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Abstract

 実施形態によれば、増幅回路は、電圧/時間変換器と時間/電圧変換器とを含む。電圧/時間変換器は、第1のサンプリング回路と、第2のサンプリング回路と、検出器と、信号生成器とを含む。検出器は、第1のサンプリング回路の第2の端子および第2のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、入力端子の電圧が条件を満足するか否かを検出することによって時間信号を生成する。時間信号は、検出器の入力端子の電圧が条件を満足する期間の長さを示す。信号生成器は、時間信号を受け取る制御端子と、第1のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、時間信号に依存して電気信号を生成し、電気信号を第1のサンプリング回路へと供給する。

Description

増幅回路、アナログ/ディジタル変換回路および電圧/時間変換器
 実施形態は、増幅回路に関する。
 従来、増幅回路は、典型的にはオペアンプを用いて実現されてきた。近年、オペアンプに代えてチャージポンプ回路および比較器を採用した離散時間型の増幅回路が提案されている。この離散時間型の増幅回路の消費電力は、オペアンプを用いた増幅回路に比べて小さい。
 しかしながら、従来のとある離散時間型の増幅回路は、増幅動作の開始時点で入出力間の電圧にミスマッチが生じていることがある。故に、この増幅回路の精度(分解能)を向上させることは困難である。他方、従来の別の離散時間型の増幅回路は、入出力間にスイッチを挿入しているので、上記ミスマッチは改善する可能性があるものの、代わりに入出力間のアイソレーションの低下および当該スイッチの非線形歪が生じる。故に、この増幅回路の精度を向上させることも困難である。
米国特許出願公開第2013/201047号明細書
Junhua Shen and Peter R. Kinget, "Current-Charge-Pump Residue Amplification for Ultra-Low-Power Pipelined ADCs", IEEE TCAS-II, July 2011
 実施形態は、低消費電力かつ高精度な増幅回路またはアナログ/ディジタル変換回路を提供することを目的とする。
 実施形態によれば、増幅回路は、電圧/時間変換器と時間/電圧変換器とを含む。電圧/時間変換器は、入力信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する。電圧/時間変換器は、第1のサンプリング回路と、1つ以上の第2のサンプリング回路と、第1のボトムプレートサンプラと、第1の検出器と、第1の信号生成器とを含む。第1のサンプリング回路は、入力信号を受け取る第1の端子と、第2の端子と、第3の端子とを持ち、第1のサンプリング容量を含む。1つ以上の第2のサンプリング回路は、入力信号を受け取る第1の端子と、第1のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とをそれぞれ持ち、第2のサンプリング容量をそれぞれ含む。第1のボトムプレートサンプラは、第1のサンプリング回路の第2の端子および第2のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ。第1の検出器は、第1のサンプリング回路の第2の端子、第2のサンプリング回路の第2の端子および第1のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出することによって時間信号を生成する。時間信号は、第1の検出器の入力端子の電圧が第1の条件を満足する第1の期間の長さを示す。第1の信号生成器は、時間信号を受け取る制御端子と、第1のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、時間信号に依存して第1の電気信号を生成し、第1の電気信号を第1のサンプリング回路へと供給する。時間/電圧変換器は、時間信号を時間/電圧変換することによって出力信号を生成する。
第1の実施形態に係る増幅回路を例示するブロック図。 図1の電圧/時間変換器を例示する回路図。 図2の電圧/時間変換器の動作を区分した各フェーズにおける種々の信号の変化を例示するタイミングチャート。 サンプルフェーズにおける図2の電圧/時間変換器の動作を説明するための回路図。 リセットフェーズにおける図2の電圧/時間変換器の動作を説明するための回路図。 変換フェーズにおける図2の電圧/時間変換器の動作を説明するための回路図。 図2の電圧/時間変換器の変形例を示す回路図。 図1の時間/電圧変換器を例示する回路図。 図8の時間/電圧変換器の動作を区分した各フェーズにおける種々の信号の変化を例示するタイミングチャート。 第2の実施形態に係る増幅回路を例示するブロック図。 第2の実施形態に係る増幅回路に含まれる時間増幅器を例示する回路図。 図11の時間増幅器の動作を区分した各フェーズにおける種々の信号の変化を例示するタイミングチャート。 図11の時間増幅器の変形例を示す回路図。 第2の実施形態に係る増幅回路によって行われるパイプライン処理の説明図。 第3の実施形態に係る増幅回路に含まれる電流源を例示する回路図。 図15の微調整用電流源を例示する回路図。 第4の実施形態に係る増幅回路に含まれる比較器を例示する回路図。 第5の実施形態に係る増幅回路に含まれる時間増幅器を例示する回路図。 第6の実施形態に係る増幅回路に含まれる時間増幅器を例示する回路図。 第7の実施形態に係る増幅回路に含まれる時間増幅器を例示する回路図。 図20の検出器を例示する回路図。 図21のスイッチを例示する回路図。 第8の実施形態に係るアナログ/ディジタル変換回路を例示するブロック図。 図23のアナログ/ディジタル変換回路の変形例を示すブロック図。 第9の実施形態に係る電圧/時間変換器を例示するブロック図。 第9の実施形態に係る電圧/時間変換器を例示する回路図。 図26の電圧/時間変換器の動作を区分した各フェーズにおける種々の信号の変化を例示するタイミングチャート。 第10の実施形態に係る電圧/時間変換器を例示する回路図。
 以下、図面を参照しながら実施形態の説明が述べられる。尚、以降、説明済みの要素と同一または類似の要素には同一または類似の符号が付され、重複する説明は基本的に省略される。
 以降、説明の具体化のために様々な電流源が示されているが、これらの電流源が生成する定電流信号が持つ電流の向きは適宜変更されてもよい。具体的には、各電流源は、サンプリング容量を充電ではなく放電するための定電流信号を生成してもよい。また、以降の説明において示される様々な回路は、差動構成に変更可能である。差動構成に変更する場合に、各電流源は電流源ペアに置き換えられることになる。そして、各電流源ペアが生成する定電流信号が持つ電流の向きは互いに同一であってもよいし反対であってもよい。
 (第1の実施形態) 
 図1に例示されるように、第1の実施形態に係る増幅回路は、電圧/時間変換器100および時間/電圧変換器200を含む。この増幅回路は、入力電圧(VIN)を増幅することによって出力電圧(VOUT)を得る。
 電圧/時間変換器100は、入力信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する。時間信号は、入力信号の電圧(VIN)に依存する時間長を示す。時間信号は、例えば、入力電圧(VIN)に比例して変化するパルス幅を備える矩形波信号である。電圧/時間変換器100は、時間信号を時間/電圧変換器200へと出力する。
 図1の電圧/時間変換器100は、第1のサンプリング回路110と、第2のサンプリング回路120と、ボトムプレートサンプラ130と、検出器140と、信号生成器150とを含む。
 第1のサンプリング回路110は、第1の端子、第2の端子および第3の端子を持ち、図1には示されないサンプリング容量を含む。第1のサンプリング回路110の第1の端子は、電圧/時間変換器100の入力端子および第2のサンプリング回路120の第1の端子に共通に接続される。第1の端子は、入力電圧(VIN)を印加される。第1のサンプリング回路110の第2の端子は、第2のサンプリング回路120の第2の端子、ボトムプレートサンプラ130の第1の端子および検出器140の入力端子に共通に接続される。第1のサンプリング回路110の第3の端子は、信号生成器150の出力端子に接続される。
 第1のサンプリング回路110は、後述されるサンプルフェーズ(SAMPLE)において、入力電圧(VIN)をサンプリング容量の第1の端子に印加することによって当該入力電圧(VIN)をサンプリングする。他方、サンプリング容量の第2の端子の電圧はボトムプレートサンプラ130によって固定される。
 第1のサンプリング回路110は、サンプルフェーズに続くリセットフェーズ(RESET)において、サンプリング容量の第1の端子の電圧を後述されるリセット電圧を用いてリセットする。他方、後述されるように、ボトムプレートサンプラ130は電流経路を提供しない。結果的に、第1のサンプリング回路110の第2の端子の電圧は、サンプルフェーズにおいてサンプリングされた入力電圧(VIN)によって決まる。
 リセットフェーズに続く変換フェーズ(CONVERT)の少なくとも一部において、サンプリング容量の第1の端子は、信号生成器150から電気信号(例えば、定電流信号)を供給される。後述されるように、信号生成器150は、検出器140の入力端子の電圧が第1の条件を満足する第1の期間に亘って電気信号を生成し続ける。そして、サンプリング容量は、第1の期間に亘って充電または放電され続ける。結果的に、検出器140の入力端子の電圧は、上昇または降下し続け、最終的に上記第1の条件を満足する。
 第2のサンプリング回路120は、第1の端子および第2の端子を持ち、図1には示されないサンプリング容量を含む。第2のサンプリング回路120の第1の端子は、電圧/時間変換器100の入力端子および第1のサンプリング回路110の第1の端子に共通に接続される。第1の端子は、入力電圧(VIN)を印加される。第2のサンプリング回路120の第2の端子は、第1のサンプリング回路110の第2の端子、ボトムプレートサンプラ130の第1の端子および検出器140の入力端子に共通に接続される。
 第2のサンプリング回路120は、サンプルフェーズにおいて、入力電圧(VIN)をサンプリング容量の第1の端子に印加することによって当該入力電圧(VIN)をサンプリングする。他方、サンプリング容量の第2の端子の電圧は、ボトムプレートサンプラ130によって固定される。
 第2のサンプリング回路120は、リセットフェーズにおいて、サンプリング容量の第1の端子の電圧を後述される調整用電圧を用いて固定する。他方、ボトムプレートサンプラ130は電流経路を提供しない。結果的に、第2のサンプリング回路120の第2の端子の電圧は、サンプルフェーズにおいてサンプリングされた入力電圧(VIN)によって決まる。
 第2のサンプリング回路120は、リセットフェーズに引き続き変換フェーズにおいても、サンプリング容量の第1の端子の電圧を固定し続ける。結果的に、第2のサンプリング回路120は、信号生成器150によって生成された電気信号のための電流経路を提供する。この電気信号が上記電流経路を通じて流れることによって、サンプリング容量は充電または放電される。故に、サンプリング容量の第2の端子の電圧は上昇または降下し続け、結果的に検出器140の入力端子の電圧は最終的に上記第1の条件を満足する。
 ボトムプレートサンプラ130は、第1の端子を持つ。ボトムプレートサンプラ130の第1の端子は、第1のサンプリング回路110の第2の端子、第2のサンプリング回路120の第2の端子および検出器140の入力端子に共通に接続される。
 ボトムプレートサンプラ130は、サンプルフェーズにおいて、所定の中間電圧を発生する電圧源(図1には示されない)を第1の端子に接続する。この電圧源は、第1のサンプリング回路110に含まれるサンプリング容量の第2の端子および第2のサンプリング回路120に含まれるサンプリング容量の第2の端子の電圧を固定する。
 ボトムプレートサンプラ130は、リセットフェーズおよび変換フェーズにおいて上記電圧源を第1の端子に接続しない。さらに、理想的には、ボトムプレートサンプラ130は、リセットフェーズおよび変換フェーズにおいて電流経路を提供しない。
 検出器140は、入力端子および出力端子を持つ。検出器140の入力端子は、第1のサンプリング回路110の第2の端子、第2のサンプリング回路120の第2の端子およびボトムプレートサンプラ130の第1の端子に共通に接続される。検出器140の出力端子は、信号生成器150の制御端子および時間/電圧変換器200の入力端子に接続される。
 変換フェーズにおいて、検出器140は、その入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出する。そして、検出器140は、その入力端子の電圧が第1の条件を満足する第1の期間の時間長を示す時間信号を生成する。例えば、時間信号は、第1の期間に亘ってHighレベルであって他の期間に亘ってLowレベルであるディジタル信号であってもよい。検出器140は、時間信号を信号生成器150および時間/電圧変換器200へと出力する。なお、検出器140は、サンプルフェーズおよびリセットフェーズにおいて動作を停止する。
 信号生成器150は、制御端子および出力端子を持つ。信号生成器150の制御端子は、検出器140の出力端子に接続される。信号生成器150の出力端子は、第1のサンプリング回路110の第3の端子に接続される。
 信号生成器150は、検出器140から時間信号を入力する。信号生成器150は、時間信号に依存して電気信号を生成し、当該電気信号を第1のサンプリング回路110へと供給する。
 時間/電圧変換器200は、電圧/時間変換器100から時間信号を入力する。時間/電圧変換器200は、時間信号を時間/電圧変換することによって出力信号を生成する。出力信号の電圧(VOUT)は、時間信号の示す時間長に依存する。なお、図1の時間/電圧変換器200は、別の公知の時間/電圧変換器に置き換えられてもよい。
 図1の時間/電圧変換器200は、信号生成器210と、第3のサンプリング回路220と、ボトムプレートサンプラ230とを含む。
 信号生成器210は、制御端子および出力端子を持つ。信号生成器210の制御端子は、電圧/時間変換器100の出力端子に接続される。信号生成器210の出力端子は、第3のサンプリング回路の第1の端子に接続される。
 信号生成器210は、電圧/時間変換器100から時間信号を入力する。信号生成器210は、時間信号に依存して電気信号を生成し、当該電気信号を第3のサンプリング回路220へと供給する。信号生成器210は、信号生成器150と同一または類似であってよい。
 第3のサンプリング回路220は、第1の端子および第2の端子を持ち、図1には示されないサンプリング容量を含む。第3のサンプリング回路220の第1の端子は、信号生成器210の出力端子に接続される。第3のサンプリング回路220の第2の端子は、ボトムプレートサンプラ230の第1の端子および時間/電圧変換器200の出力端子に接続される。
 第3のサンプリング回路220は、後述されるリセットフェーズ(RESET)において、サンプリング容量の第1の端子を例えば前述のリセット電圧を用いてリセットする。他方、サンプリング容量の第2の端子の電圧は、ボトムプレートサンプラ230によって固定される。具体的には、第3のサンプリング回路220は、サンプリング容量の第1の端子の電圧を、電圧/時間変換器100のリセットフェーズにおける第1のサンプリング回路110内部のサンプリング容量の第1の端子の電圧と略一致するようにリセットする。さらに、第3のサンプリング回路220は、サンプリング容量の第2の端子の電圧を、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズにおける第1のサンプリング回路110内部のサンプリング容量の第2の端子の電圧と略一致するように固定する。
 リセットフェーズに続くサンプルフェーズ(SAMPLE)の少なくとも一部において、サンプリング容量の第1の端子は、信号生成器210から電気信号(例えば、定電流信号)を供給される。他方、サンプルフェーズにおいて、サンプリング容量の第2の端子の電圧は、引き続きボトムプレートサンプラ230によって固定される。時間/電圧変換器200のサンプルフェーズは、電圧/時間変換器100の変換フェーズと時間的に揃えられる。すなわち、信号生成器210は、信号生成器150と同様に、上記第1の期間に亘って電気信号を生成し続ける。そして、サンプリング容量は、第1の期間に亘って充電または放電され続ける。故に、サンプリング容量の第1の端子の電圧は、上昇または降下し続ける。
 サンプルフェーズに続くホールドフェーズ(HOLD)において、サンプリング容量の第1の端子の電圧は例えば前述の中間電圧を発生する電圧源(図1には示されない)によって固定される。他方、後述されるように、ボトムプレートサンプラ230は電流経路を提供しない。結果的に、第3のサンプリング回路220の第2の端子の電圧(すなわち、時間/電圧変換器200の出力電圧(VOUT))は、上記サンプルフェーズの終了時におけるサンプリング容量の第1の端子の電圧に依存する値にホールドされる。
 ボトムプレートサンプラ230は、第1の端子を持つ。ボトムプレートサンプラ230の第1の端子は、第3のサンプリング回路220の第2の端子および時間/電圧変換器200の出力端子に接続される。ボトムプレートサンプラ230は、ボトムプレートサンプラ130と同一または類似であってよい。
 ボトムプレートサンプラ230は、リセットフェーズおよびサンプルフェーズにおいて、前述の中間電圧を発生する電圧源(図1には示されない)を第1の端子に接続する。この電圧源は、第3のサンプリング回路220に含まれるサンプリング容量の第2の端子の電圧を固定する。
 ボトムプレートサンプラ230は、ホールドフェーズにおいて上記電圧源を第1の端子に接続しない。さらに、理想的には、ボトムプレートサンプラ230は、ホールドフェーズにおいて電流経路を提供しない。
 本実施形態において、例えば図2に示される電圧/時間変換器100が採用されてもよい。図2の電圧/時間変換器100は、第1のサンプリング回路110と、第2のサンプリング回路120と、ボトムプレートサンプラ130と、検出器140と、信号生成器150とを含む。
 第1のサンプリング回路110は、スイッチ111と、サンプリング容量112と、電圧源113と、スイッチ114とを含む。
 スイッチ111は、第1のサンプリング回路110の第1の端子とサンプリング容量112の第1の端子との間に挿入される。スイッチ111は、第1のスイッチ制御信号(φ1)に従って、第1のサンプリング回路110の第1の端子とサンプリング容量112の第1の端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ111は、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズにおいて第1のサンプリング回路110の第1の端子とサンプリング容量112の第1の端子との間を短絡する。他方、スイッチ111は、電圧/時間変換器100のリセットフェーズおよび変換フェーズにおいて第1のサンプリング回路110の第1の端子とサンプリング容量112の第1の端子との間を開放する。
 サンプリング容量112は、第1の端子および第2の端子を持つ。サンプリング容量112の第1の端子は、第1のサンプリング回路110の第3の端子と、スイッチ111と、スイッチ114とに共通に接続される。サンプリング容量112の第2の端子は、第1のサンプリング回路110の第2の端子に接続される。サンプリング容量112のキャパシタンス=Cとする。
 電圧源113は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源113の正極端子は、スイッチ114に接続される。電圧源113の負極端子は接地される。電圧源113は、リセット電圧(VRES)を発生する。
 スイッチ114は、サンプリング容量112の第1の端子と電圧源113の正極端子との間に挿入される。スイッチ114は、第2のスイッチ制御信号(φ2)に従って、サンプリング容量112の第1の端子と電圧源113の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ114は、電圧/時間変換器100のリセットフェーズにおいてサンプリング容量112の第1の端子と電圧源113の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ114は、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズおよび変換フェーズにおいてサンプリング容量112の第1の端子と電圧源113の正極端子との間を開放する。
 第2のサンプリング回路120は、スイッチ121と、サンプリング容量122と、電圧源123と、スイッチ124とを含む。
 スイッチ121は、第2のサンプリング回路120の第1の端子とサンプリング容量122の第1の端子との間に挿入される。スイッチ121は、第1のスイッチ制御信号(φ1)に従って、第2のサンプリング回路120の第1の端子とサンプリング容量122の第1の端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ121は、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズにおいて第2のサンプリング回路120の第1の端子とサンプリング容量122の第1の端子との間を短絡する。他方、スイッチ121は、電圧/時間変換器100のリセットフェーズおよび変換フェーズにおいて第2のサンプリング回路120の第1の端子とサンプリング容量122の第1の端子との間を開放する。
 サンプリング容量122は、第1の端子および第2の端子を持つ。サンプリング容量の第1の端子は、スイッチ121と、スイッチ124とに共通に接続される。サンプリング容量122の第2の端子は、第2のサンプリング回路120の第2の端子に接続される。サンプリング容量122のキャパシタンス=Cとする。
 電圧源123は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源123の正極端子は、スイッチ124に接続される。電圧源123の負極端子は接地される。電圧源123は、調整用電圧(VDAC)を発生する。この電圧(VDAC)は、図1に示されない制御信号によって制御されてもよい。
 スイッチ124は、サンプリング容量122の第1の端子と電圧源123の正極端子との間に挿入される。スイッチ124は、第3のスイッチ制御信号(φ3)に従って、サンプリング容量122の第1の端子と電圧源123の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ124は、電圧/時間変換器100のリセットフェーズおよび変換フェーズにおいてサンプリング容量122の第1の端子と電圧源123の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ124は、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズにおいてサンプリング容量122の第1の端子と電圧源123の正極端子との間を開放する。
 ボトムプレートサンプラ130は、スイッチ131と、電圧源132とを含む。 
 スイッチ131は、ボトムプレートサンプラ130の第1の端子と電圧源132の正極端子との間に挿入される。スイッチ131は、第1のスイッチ制御信号(φ1)に従って、ボトムプレートサンプラ130の第1の端子と電圧源132の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ131は、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズにおいてボトムプレートサンプラ130の第1の端子と電圧源132の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ131は、電圧/時間変換器100のリセットフェーズおよび変換フェーズにおいてボトムプレートサンプラ130の第1の端子と電圧源132の正極端子との間を開放する。
 電圧源132は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源132の正極端子は、スイッチ131に接続される。電圧源132の負極端子は接地される。電圧源132は、中間電圧(VCM)を発生する。中間電圧(VCM)は、例えば電圧/時間変換器100が差動構成である場合には、同相電圧に一致するように設計されてもよい。
 検出器140は、比較器141と、電圧源142とを含む。 
 比較器141は、第1の入力端子、第2の入力端子および出力端子を含む。比較器141の第1の入力端子は、検出器140の入力端子に接続される。比較器141の第2の入力端子は、電圧源142の正極端子に接続される。比較器141の出力端子は、検出器140の出力端子に接続される。
 比較器141は、電圧/時間変換器100の変換フェーズにおいて、第1の入力端子の電圧を第2の入力端子の電圧と比較する。比較器141は、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズおよびリセットフェーズにおいて動作を停止する。
 具体的には、電圧/時間変換器100の変換フェーズにおいて、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧よりも小さければ、比較器141はHighレベル(電源電圧)の時間信号(DOUT)を出力する。他方、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧以上であれば、比較器141はLowレベル(グラウンド電圧)の時間信号(DOUT)を出力する。故に、図2の例によれば、前述の第1の条件とは、検出器140の入力端子の電圧が後述される比較基準電圧(VRC)よりも小さいこと、に相当する。
 電圧源142は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源142の正極端子は、比較器141の第2の入力端子に接続される。電圧源142の負極端子は接地される。電圧源142は、比較基準電圧(VRC)を発生する。
 信号生成器150は電流源151を含む。 
 電流源151は、第1の端子、第2の端子および制御端子を含む。電流源151の第1の端子は接地される。電流源151の第2の端子は、信号生成器150の出力端子に接続される。電流源151の制御端子は、信号生成器150の制御端子に接続される。
 電流源151は、制御端子を介して検出器140からの時間信号(DOUT)を入力する。時間信号(DOUT)がHighレベルであるならば、電流源151は定電流信号を発生し、当該定電流信号を第2の端子を介して第1のサンプリング回路110へと供給する。他方、時間信号(DOUT)がLowレベルであるならば、電流源151は動作を停止する。
 前述のように、電圧/時間変換器100の動作は、サンプルフェーズ、リセットフェーズおよび変換フェーズによって区分される。そして、種々のスイッチ制御信号、時間信号および種々のノードにおける電圧は図3に例示されるように変化する。
 サンプルフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はHighレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はLowレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はLowレベルである。さらに、サンプルフェーズにおいて、検出器140は動作しない。従って、サンプルフェーズにおいて、図2の電圧/時間変換器100は、図4に例示されるように書き換え可能である。
 すなわち、サンプルフェーズにおいて、図2の電圧/時間変換器100は、サンプリング容量112およびサンプリング容量122に、当該電圧/時間変換器100の入力電圧(VIN)と中間電圧(VCM)との差電圧を充電する。
 リセットフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はLowレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はHighレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はHighレベルである。さらに、リセットフェーズにおいて、検出器140は動作しない。従って、リセットフェーズにおいて、図2の電圧/時間変換器100は、図5に例示されるように書き換え可能である。
 すなわち、リセットフェーズにおいて、図2の電圧/時間変換器100は、サンプリング容量112の第1の端子の電圧をリセット電圧(VRES)を用いてリセットし、サンプリング容量122の第1の端子の電圧を調整用電圧(VDAC)を用いて固定する。
 ここで、検出器140の入力端子と同電位のノード(以降の説明においてノードAと称される)のリセットフェーズにおける電圧(VA_RES)は、以下のように導出することができる。
 サンプルフェーズの終了時に、サンプリング容量112およびサンプリング容量122は、C・(VIN-VCM)の電荷をそれぞれ蓄えている。電荷保存則によれば、サンプルフェーズにおいてサンプリング容量112およびサンプリング容量122に蓄えられた電荷の総量(2C・(VIN-VCM))は、リセットフェーズにおいて変化しない。故に、下記数式(1)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 ここで、入力電圧(VIN)が直流成分および交流成分からなり、交流成分をVINACとし、直流成分に一致するように中間電圧(VCM)を設計すると、下記数式(2)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 変換フェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はLowレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はLowレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はHighレベルである。さらに、変換フェーズにおいて、検出器140は動作する。従って、変換フェーズにおいて、図2の電圧/時間変換器100は、図6に例示されるように書き換え可能である。
 すなわち、変換フェーズにおいて、図2の電圧/時間変換器100は、サンプリング容量112の第1の端子を電圧源113から切断する。比較器141は、ノードAの電圧(V)が比較基準電圧(VRC)未満であるか否かを検出し、V<VRCが成立する第1の期間に亘ってHighレベルの時間信号(DOUT)を出力する。なお、前述のリセット電圧VRES、電圧VDACおよび比較基準電圧VRCは、変換フェーズの開始時にV<VRCが成立するように定められるものとする。電流源151は、第1の期間に亘って、サンプリング容量112の第1の端子に定電流信号を供給する。この定電流信号は、サンプリング容量112、サンプリング容量122、スイッチ124および電圧源123によって形成される電流経路を通じて流れる。この定電流信号がサンプリング容量112およびサンプリング容量122を充電するので、ノードAの電圧(V)は、時間と共に上昇し、最終的(第1の期間の終了時)には比較基準電圧VRCに一致する。
 電流源151から見てサンプリング容量112およびサンプリング容量122は直列接続されており、サンプリング容量112の第1の端子と同電位のノード(以降の説明においてノードBと称される)の電圧(V)は、変換フェーズの開始時にはVRESに等しい。従って、第1の期間終了時におけるノードBの電圧VB_CNVは、下記数式(3)を用いて計算できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
 数式(3)において、TDOUTは第1の期間の時間長を示し、I151は電流源151によって供給される定電流信号が持つ電流量を示す。
 そして、サンプリング容量112およびサンプリング容量122による分圧を考慮すると、第1の期間におけるノードAの電圧(V)の増分は、当該第1の期間におけるノードBの電圧の増分の半分に一致する。また、変換フェーズの開始時におけるノードAの電圧(V)はVA_RESに等しい。従って、第1の期間終了時におけるノードAの電圧VA_CNVは、下記数式(4)を用いて計算できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
 前述のように、第1の期間の終了時に、ノードAの電圧(V)は比較基準電圧VRCに一致する。故に、下記数式(5)および数式(6)を用いて、第1の期間の時間長(TDOUT)を導出することができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
 数式(6)から理解されるように、第1の期間の時間長(TDOUT)は、入力電圧(VIN)の交流成分(VINAC)と、直流成分との和に比例する。すなわち、時間信号(DOUT)は、入力電圧(VIN)に依存する時間長(TDOUT)を示す。
 比例係数は、I151およびCを適切に設計することにより、所望の値に設定することができる。直流成分は、VRC、VRESおよびVDACを適切に設計することにより、所望の値に設定することができる。
 さらに、図7に例示されるように、図2の第2のサンプリング回路120と同一または類似のN個(Nは2以上の任意の整数)の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nを設けることによって、比例係数および直流成分をさらに細かく設定することも可能である。なお、第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nの各々に含まれる電圧源が発生する調整用電圧(VDAC)は、それぞれ異なってもよい。
 本実施形態において、例えば図8に示される時間/電圧変換器200が採用されてもよい。図8の時間/電圧変換器200は、信号生成器210と、第3のサンプリング回路220と、ボトムプレートサンプラ230とを含む。
 信号生成器210は、電流源211を含む。 
 電流源211は、第1の端子、第2の端子および制御端子を含む。電流源211の第1の端子は接地される。電流源211の第2の端子は、信号生成器210の出力端子に接続される。電流源211の制御端子は、信号生成器210の制御端子に接続される。
 電流源211は、制御端子を介して電圧/時間変換器100からの時間信号(DIN)を入力する。時間信号(DIN)がHighレベルであるならば、電流源211は定電流信号を発生し、当該定電流信号を第2の端子を介して第3のサンプリング回路220へと供給する。他方、時間信号(DIN)がLowレベルであるならば、電流源211は動作を停止する。
 第3のサンプリング回路220は、電圧源221と、電圧源222と、サンプリング容量223と、スイッチ224と、スイッチ225とを含む。 
 電圧源221は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源221の正極端子は、スイッチ225に接続される。電圧源221の負極端子は接地される。電圧源221は、中間電圧(VCM)を発生する。
 電圧源222は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源222の正極端子は、スイッチ224に接続される。電圧源222の負極端子は接地される。電圧源222は、リセット電圧(VRES)を発生する。
 サンプリング容量223は、第1の端子および第2の端子を持つ。サンプリング容量の第1の端子は、第3のサンプリング回路220の第1の端子と、スイッチ224と、スイッチ225とに共通に接続される。サンプリング容量223の第2の端子は、第3のサンプリング回路220の第2の端子に接続される。サンプリング容量223のキャパシタンス=Cとする。Cは、典型的にはCの定数倍に一致するように設計される。この定数は、例えば図1の増幅回路の利得(増幅率)の逆数であってもよい。例えば、利得が2倍であれば、C=C/2程度に設定すればよい。
 スイッチ224は、サンプリング容量223の第1の端子と電圧源222の正極端子との間に挿入される。スイッチ224は、第2のスイッチ制御信号(φ2)に従って、サンプリング容量223の第1の端子と電圧源222の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ224は、時間/電圧変換器200のリセットフェーズにおいてサンプリング容量223の第1の端子と電圧源222の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ224は、時間/電圧変換器200のサンプルフェーズおよびホールドフェーズにおいてサンプリング容量223の第1の端子と電圧源222の正極端子との間を開放する。
 スイッチ225は、サンプリング容量223の第1の端子と電圧源221の正極端子との間に挿入される。スイッチ225は、第1のスイッチ制御信号(φ1)に従って、サンプリング容量223の第1の端子と電圧源221の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ225は、時間/電圧変換器200のホールドフェーズにおいてサンプリング容量223の第1の端子と電圧源221の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ225は、時間/電圧変換器200のリセットフェーズおよびサンプルフェーズにおいてサンプリング容量223の第1の端子と電圧源221の正極端子との間を開放する。
 ボトムプレートサンプラ230は、電圧源231と、スイッチ232とを含む。 
 電圧源231は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源231の正極端子は、スイッチ232に接続される。電圧源231の負極端子は接地される。電圧源231は、中間電圧(VCM)を発生する。
 スイッチ232は、ボトムプレートサンプラ230の第1の端子と電圧源231の正極端子との間に挿入される。スイッチ232は、第3のスイッチ制御信号(φ3)に従って、ボトムプレートサンプラ230の第1の端子と電圧源231の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ232は、時間/電圧変換器200のリセットフェーズおよびサンプルフェーズにおいてボトムプレートサンプラ230の第1の端子と電圧源231の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ232は、時間/電圧変換器200のホールドフェーズにおいてボトムプレートサンプラ230の第1の端子と電圧源231の正極端子との間を開放する。
 前述のように、時間/電圧変換器200の動作は、リセットフェーズ、サンプルフェーズおよびホールドフェーズによって区分される。そして、種々のスイッチ制御信号および時間信号は図9に例示されるように変化する。
 リセットフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はLowレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はHighレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はHighレベルである。時間/電圧変換器200のリセットフェーズは、電圧/時間変換器100のリセットフェーズと時間的に揃えられる。
 すなわち、リセットフェーズにおいて、図8の時間/電圧変換器200は、サンプリング容量223の第1の端子の電圧をリセット電圧(VRES)を用いてリセットし、サンプリング容量223の第2の端子の電圧を中間電圧(VCM)を用いて固定する。
 サンプルフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はLowレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はLowレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はHighレベルである。時間/電圧変換器200のサンプルフェーズは、電圧/時間変換器100の変換フェーズと時間的に揃えられる。
 すなわち、サンプルフェーズにおいて、図8の時間/電圧変換器200は、サンプリング容量223の第1の端子を電圧源222から切断する。電流源211は、前述の第1の期間に亘ってHighレベルの時間信号(DIN)を入力するので、当該第1の期間に亘って定電流信号を第3のサンプリング回路220へと供給する。この定電流信号は、サンプリング容量223、スイッチ232および電圧源231によって形成される電流経路を通じて流れる。この定電流信号がサンプリング容量223を充電するので、サンプリング容量223の第1の端子の電圧は時間と共に上昇する。
 サンプリング容量223の第1の端子と同電位のノード(以降の説明においてノードCと称される)の電圧(V)は、サンプルフェーズの開始時にはVRESに等しい。従って、第1の期間終了時におけるノードCの電圧VC_SMPは、下記数式(7)を用いて計算できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
 数式(7)において、TDINは第1の期間の長さを示し、I211は電流源211によって供給される定電流信号が持つ電流量を示す。
 ホールドフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はHighレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はLowレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はLowレベルである。時間/電圧変換器200のホールドフェーズは、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズと時間的に揃えられる。
 ホールドフェーズにおいて、図8の時間/電圧変換器200は、サンプリング容量223の第1の端子の電圧を中間電圧(VCM)を用いて固定し、サンプリング容量223の第2の端子を電圧源231から切断する。
 サンプルフェーズの終了時に、サンプリング容量223は、C・(VC_SMP-VCM)の電荷を蓄えている。電荷保存則によれば、サンプルフェーズにおいてサンプリング容量223に蓄えられた電荷の総量は、ホールドフェーズにおいて変化しない。故に、時間/電圧変換器200の出力電圧(VOUT)に関して下記数式(8)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
 数式(8)のTDINが、数式(6)に示されるTDOUTに一致すると仮定すれば、数式(8)は下記数式(9)に書き換え可能である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
 さらに、C=C/2と仮定し、I211=I151と仮定すれば、数式(9)は下記数式(10)に書き換え可能である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
 さらに、VCM=VRCと仮定すると、数式(10)は下記数式(11)に書き換え可能である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
 数式(11)から理解されるように、出力電圧(VOUT)は、入力電圧(VIN)の交流成分(VINAC)を-2倍し、調整用電圧(VDAC)を加算することによって得られる電圧に等しい。さらに、VDACが入力電圧(VIN)の直流成分に等しいと仮定すれば、以上の数値例によって、入力電圧(VIN)の直流成分を固定したまま交流成分(VINAC)を-2倍に増幅することができる。
 以上説明したように、第1の実施形態に係る増幅回路は、入力側のサンプリング容量および出力側のサンプリング容量を同時期に同一のリセット電圧を用いてリセットし、それから入力電圧を増幅する。故に、この増幅回路によれば、増幅動作の開始時における入出力間の電圧のミスマッチは緩和される。また、この増幅回路は、入出力間を短絡するスイッチを備えていない。故に、入出力間のアイソレーションの低下および当該スイッチの非線形歪は生じない。従って、この増幅回路によれば、消費電力を低減し、かつ、精度を向上させることができる。
 (第2の実施形態) 
 前述の第1の実施形態において、時間/電圧変換器は、電圧/時間変換器によって生成された時間信号を出力信号へと変換する。第2の実施形態において、例えば図10に示されるように、電圧/時間変換器と時間/電圧変換器との間に上記時間信号が示す時間長を増幅することによって増幅時間信号を得る時間増幅器が挿入される。そして、本実施形態において、時間/電圧変換器は、増幅時間信号を出力信号へと変換する。なお、時間増幅器が挿入されることにより、時間/電圧変換器の動作タイミングは第1の実施形態に比べて一定時間(例えば、半周期)遅延することになる。
 本実施形態において、例えば図11に示される時間増幅器300が採用されてもよい。時間増幅器300は、電圧/時間変換器100から時間信号(DIN)を入力する。時間増幅器300は、時間信号(DIN)が示す時間長を増幅することによって増幅時間信号(DOUT)を得る。時間増幅器300は、例えば矩形波信号としての時間信号(DIN)が持つパルス幅を増幅することによって矩形波信号としての増幅時間信号(DOUT)を得る。時間増幅器300は、増幅時間信号(DOUT)を時間/電圧変換器200へと出力する。
 図11の時間増幅器300は、信号生成器310と、第4のサンプリング回路320と、信号生成器330と、第5のサンプリング回路340と、ボトムプレートサンプラ350と、検出器360と、信号生成器370とを含む。
 信号生成器310は、制御端子および出力端子を持つ。信号生成器310の制御端子は、時間増幅器300の入力端子および信号生成器330の制御端子に共通に接続される。信号生成器310の出力端子は、第4のサンプリング回路320の第1の端子に接続される。
 信号生成器310は、電圧/時間変換器100から時間信号を入力する。信号生成器310は、時間信号に依存して電気信号を生成し、当該電気信号を第4のサンプリング回路320へと供給する。
 具体的には、図11の信号生成器310は電流源311を含む。 
 電流源311は、第1の端子、第2の端子および制御端子を含む。電流源311の第1の端子は接地される。電流源311の第2の端子は、信号生成器310の出力端子に接続される。電流源311の制御端子は、信号生成器310の制御端子に接続される。
 電流源311は、制御端子を介して電圧/時間変換器100からの時間信号(DIN)を入力する。時間信号(DIN)がHighレベルであるならば、電流源311は定電流信号を発生し、当該定電流信号を第2の端子を介して第4のサンプリング回路320へと供給する。他方、時間信号(DIN)がLowレベルであるならば、電流源311は動作を停止する。
 第4のサンプリング回路320は、第1の端子、第2の端子および第3の端子を持ち、後述されるサンプリング容量322を含む。第4のサンプリング回路320の第1の端子は、信号生成器310の出力端子に接続され、前述の第1の期間に亘って電気信号を入力する。第4のサンプリング回路320の第2の端子は、第5のサンプリング回路340の第2の端子、ボトムプレートサンプラ350の第1の端子および検出器360の入力端子に共通に接続される。第4のサンプリング回路320の第3の端子は、信号生成器370の出力端子に接続される。
 第4のサンプリング回路320は、後述されるサンプル前リセットフェーズ(RESET_SMP)において、サンプリング容量322の第1の端子の電圧をリセット電圧(VRES)を用いてリセットする。他方、サンプリング容量322の第2の端子の電圧はボトムプレートサンプラ350によって固定される。
 サンプル前リセットフェーズに続くサンプルフェーズ(SAMPLE)は、電圧/時間変換器100の変換フェーズと時間的に揃えられる。故に、サンプルフェーズの少なくとも一部において、サンプリング容量322の第1の端子は、信号生成器310から電気信号(例えば、定電流信号)を供給される。具体的には、信号生成器310は、前述の第1の期間に亘って電気信号を生成し続ける。そして、第1の期間に亘ってサンプリング容量322は充電または放電され続ける。なお、サンプリング容量322の第2の端子の電圧は、ボトムプレートサンプラ350によって引き続き固定される。故に、サンプリング容量322の第1の端子の電圧は上昇または降下し続ける。
 第4のサンプリング回路320は、サンプルフェーズに続く増幅前リセットフェーズ(RESET_AMP)において、サンプリング容量322の第1の端子の電圧をリセット電圧(VRES)を用いてリセットする。他方、後述されるように、ボトムプレートサンプラ350は電流経路を提供しない。結果的に、第4のサンプリング回路320の第2の端子の電圧は、サンプルフェーズの終了時におけるサンプリング容量322の第1の端子の電圧によって決まる。
 増幅前リセットフェーズに続く増幅フェーズ(AMPLIFY)の少なくとも一部において、サンプリング容量322の第1の端子は、信号生成器370から電気信号(例えば、定電流信号)を供給される。後述されるように、信号生成器370は、検出器360の入力端子の電圧が第2の条件を満足する第2の期間に亘って電気信号を生成し続ける。そして、第2の期間に亘ってサンプリング容量322は充電または放電され続ける。結果的に、検出器360の入力端子の電圧は、上昇または降下し続け、最終的に上記第2の条件を満足する。
 具体的には、図11の第4のサンプリング回路320は、電圧源321と、サンプリング容量322と、スイッチ323を含む。
 電圧源321は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源321の正極端子は、スイッチ323に接続される。電圧源321の負極端子は接地される。電圧源321は、リセット電圧(VRES)を発生する。
 サンプリング容量322は、第1の端子および第2の端子を持つ。サンプリング容量322の第1の端子は、第4のサンプリング回路320の第1の端子および第3の端子と、スイッチ323とに共通に接続される。サンプリング容量322の第2の端子は、第4のサンプリング回路320の第2の端子に接続される。サンプリング容量322のキャパシタンス=Cとする。
 スイッチ323は、サンプリング容量322の第1の端子と電圧源321の正極端子との間に挿入される。スイッチ323は、第4のスイッチ制御信号(φ4)に従って、サンプリング容量322の第1の端子と電圧源321の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ323は、時間増幅器300のサンプル前リセットフェーズおよび増幅前リセットフェーズにおいてサンプリング容量322の第1の端子と電圧源321の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ323は、時間増幅器300のサンプルフェーズおよび増幅フェーズにおいてサンプリング容量322の第1の端子と電圧源321の正極端子との間を開放する。
 信号生成器330は、制御端子および出力端子を持つ。信号生成器330の制御端子は、時間増幅器300の入力端子に接続される。信号生成器330の出力端子は、第5のサンプリング回路340の第1の端子に接続される。
 信号生成器330は、電圧/時間変換器100から時間信号を入力する。信号生成器330は、時間信号に依存して電気信号を生成し、当該電気信号を第5のサンプリング回路340へと供給する。信号生成器330は、信号生成器310と同一または類似であってよい。
 具体的には、図11の信号生成器330は電流源331を含む。 
 電流源331は、第1の端子、第2の端子および制御端子を含む。電流源331の第1の端子は接地される。電流源331の第2の端子は、信号生成器330の出力端子に接続される。電流源331の制御端子は、信号生成器330の制御端子に接続される。
 電流源331は、制御端子を介して電圧/時間変換器100からの時間信号(DIN)を入力する。時間信号(DIN)がHighレベルであるならば、電流源331は定電流信号を発生し、当該定電流信号を第2の端子を介して第5のサンプリング回路340へと供給する。他方、時間信号(DIN)がLowレベルであるならば、電流源331は動作を停止する。
 第5のサンプリング回路340は、第1の端子および第2の端子を持ち、後述されるサンプリング容量342を含む。第5のサンプリング回路340の第1の端子は、信号生成器330の出力端子に接続され、前述の第1の期間に亘って電気信号を入力する。第5のサンプリング回路340の第2の端子は、第4のサンプリング回路320の第2の端子、ボトムプレートサンプラ350の第1の端子および検出器360の入力端子に接続される。
 第5のサンプリング回路340は、サンプル前リセットフェーズにおいて、サンプリング容量342の第1の端子の電圧をリセット電圧(VRES)を用いてリセットする。他方、サンプリング容量342の第2の端子の電圧はボトムプレートサンプラ350によって固定される。
 前述のように、サンプルフェーズは、電圧/時間変換器100の変換フェーズと時間的に揃えられる。故に、サンプルフェーズの少なくとも一部において、サンプリング容量342の第1の端子は、信号生成器330から電気信号(例えば、定電流信号)を供給される。具体的には、信号生成器330は、前述の第1の期間に亘って電気信号を生成し続ける。そして、第1の期間に亘ってサンプリング容量342は充電または放電され続ける。なお、サンプルフェーズにおいて、サンプリング容量342の第2の端子の電圧はボトムプレートサンプラ350によって引き続き固定される。故に、サンプリング容量342の第1の端子の電圧は上昇または降下し続ける。
 第5のサンプリング回路340は、増幅前リセットフェーズにおいて、サンプリング容量342の第1の端子の電圧を調整用電圧(VDAC2)を用いてリセットする。他方、ボトムプレートサンプラ350は電流経路を提供しない。結果的に、第5のサンプリング回路340の第2の端子の電圧は、サンプルフェーズの終了時におけるサンプリング容量342の第1の端子の電圧によって決まる。
 第5のサンプリング回路340は、増幅前リセットフェーズに続き増幅フェーズにおいても、サンプリング容量342の第1の端子の電圧を固定し続ける。結果的に、第5のサンプリング回路340は、信号生成器370によって生成された電気信号のための電流経路を提供する。この電気信号が上記電流経路を通じて流れることによって、サンプリング容量342は充電または放電される。故に、サンプリング容量342の第2の端子の電圧は上昇または降下し続け、結果的に検出器360の入力端子の電圧は最終的に上記第2の条件を満足する。
 具体的には、図11の第5のサンプリング回路340は、電圧源341と、サンプリング容量342と、スイッチ343と、スイッチ344と、電圧源345とを含む。 
 電圧源341は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源341の正極端子は、スイッチ344に接続される。電圧源341の負極端子は接地される。電圧源341は、リセット電圧(VRES)を発生する。
 サンプリング容量342は、第1の端子および第2の端子を持つ。サンプリング容量342の第1の端子は、第5のサンプリング回路340の第1の端子と、スイッチ343と、スイッチ344とに共通に接続される。サンプリング容量342の第2の端子は、第5のサンプリング回路340の第2の端子に接続される。サンプリング容量342のキャパシタンス=Cとする。
 スイッチ343は、サンプリング容量342の第1の端子と電圧源345の正極端子との間に挿入される。スイッチ343は、第3のスイッチ制御信号(φ3)に従って、サンプリング容量342の第1の端子と電圧源345の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ343は、時間増幅器300の増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいてサンプリング容量342の第1の端子と電圧源345の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ343は、時間増幅器300のサンプル前リセットフェーズおよびサンプルフェーズにおいてサンプリング容量342の第1の端子と電圧源345の正極端子との間を開放する。
 スイッチ344は、サンプリング容量342の第1の端子と電圧源341の正極端子との間に挿入される。スイッチ344は、第2のスイッチ制御信号(φ2)に従って、サンプリング容量342の第1の端子と電圧源341の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ344は、時間増幅器300のサンプル前リセットフェーズにおいてサンプリング容量342の第1の端子と電圧源341の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ344は、時間増幅器300のサンプルフェーズ、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいてサンプリング容量342の第1の端子と電圧源341の正極端子との間を開放する。
 電圧源345は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源345の正極端子は、スイッチ343に接続される。電圧源345の負極端子は接地される。電圧源345は、調整用電圧(VDAC2)を発生する。この電圧(VDAC2)は、図11に示されない制御信号によって制御されてもよい。
 ボトムプレートサンプラ350は、第1の端子を持つ。ボトムプレートサンプラ350の第1の端子は、第4のサンプリング回路320の第2の端子および第5のサンプリング回路340の第2の端子に接続される。
 ボトムプレートサンプラ350は、サンプル前リセットフェーズおよびサンプルフェーズにおいて、中間電圧(VCM)を用いて、サンプリング容量322の第2の端子およびサンプリング容量342の第2の端子の電圧を固定する。
 ボトムプレートサンプラ350は、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいて、サンプリング容量322の第2の端子およびサンプリング容量342の第2の端子の電圧を固定しない。さらに、理想的には、ボトムプレートサンプラ350は、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいて電流経路を提供しない。
 具体的には、図11のボトムプレートサンプラ350は、電圧源351と、スイッチ352とを含む。 
 電圧源351は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源351の正極端子は、スイッチ352に接続される。電圧源351の負極端子は接地される。電圧源351は、中間電圧(VCM)を発生する。
 スイッチ352は、ボトムプレートサンプラ350の第1の端子と電圧源351の正極端子との間に挿入される。スイッチ352は、第1のスイッチ制御信号(φ1)に従って、ボトムプレートサンプラ350の第1の端子と電圧源351の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ352は、サンプル前リセットフェーズおよびサンプルフェーズにおいてボトムプレートサンプラ350の第1の端子と電圧源351の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ352は、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいてボトムプレートサンプラ350の第1の端子と電圧源351の正極端子との間を開放する。
 検出器360は、入力端子および出力端子を持つ。検出器360の入力端子は、第4のサンプリング回路320の第2の端子、第5のサンプリング回路340の第2の端子およびボトムプレートサンプラ350の第1の端子に共通に接続される。検出器360の出力端子は、信号生成器370の制御端子および時間/電圧変換器200の入力端子に接続される。
 増幅フェーズにおいて、検出器360は、その入力端子の電圧が第2の条件を満足するか否かを検出する。そして、検出器360は、その入力端子の電圧が第2の条件を満足する第2の期間の長さを示す増幅時間信号を生成する。なお、第2の期間は、第1の期間に比べて長い。例えば、時間信号は、第2の期間に亘ってHighレベルであって他の期間に亘ってLowレベルであるディジタル信号であってもよい。検出器360は、増幅時間信号を信号生成器370および時間/電圧変換器200へと出力する。なお、検出器360は、サンプル前リセットフェーズ、サンプルフェーズおよび増幅前リセットフェーズにおいて動作を停止する。
 具体的には、図11の検出器360は、電圧源361と、比較器362とを含む。 
 電圧源361は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源361の正極端子は、比較器362の第2の入力端子に接続される。電圧源361の負極端子は接地される。電圧源361は、比較基準電圧(VRC)を発生する。
 比較器362は、第1の入力端子、第2の入力端子および出力端子を含む。比較器362の第1の入力端子は、検出器360の入力端子に接続される。比較器362の第2の入力端子は、電圧源361の正極端子に接続される。比較器362の出力端子は、検出器360の出力端子に接続される。
 比較器362は、増幅フェーズにおいて動作し、第1の入力端子の電圧を第2の入力端子の電圧と比較する。比較器362は、サンプル前リセットフェーズ、サンプルフェーズおよびリセットフェーズにおいて動作を停止する。
 具体的には、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧よりも小さければ、比較器362はHighレベル(電源電圧)の増幅時間信号(DOUT)を出力する。他方、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧以上であれば、比較器362はLowレベル(グラウンド電圧)の増幅時間信号(DOUT)を出力する。故に、図11の例によれば、前述の第2の条件とは、検出器360の入力端子の電圧が比較基準電圧(VRC)よりも小さいこと、に相当する。
 信号生成器370は、制御端子および出力端子を持つ。信号生成器370の制御端子は、検出器360の出力端子に接続される。信号生成器370の出力端子は、第4のサンプリング回路320の第3の端子に接続される。
 信号生成器370は、検出器360から時間信号を入力する。信号生成器370は、時間信号に依存して電気信号を生成し、当該電気信号を第4のサンプリング回路320へと供給する。
 具体的には、図11の信号生成器370は電流源371を含む。 
 電流源371は、第1の端子、第2の端子および制御端子を含む。電流源371の第1の端子は接地される。電流源371の第2の端子は、信号生成器370の出力端子に接続される。電流源371の制御端子は、信号生成器370の制御端子に接続される。
 電流源371は、制御端子を介して検出器360からの時間信号(DOUT)を入力する。時間信号(DOUT)がHighレベルであるならば、電流源371は定電流信号を発生し、当該定電流信号を第2の端子を介して第4のサンプリング回路320へと供給する。他方、時間信号(DOUT)がLowレベルであるならば、電流源371は動作を停止する。
 前述のように、時間増幅器300の動作は、サンプル前リセットフェーズ、サンプルフェーズ、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズによって区分される。そして、種々のスイッチ制御信号、時間信号および増幅時間信号は図12に例示されるように変化する。
 サンプル前リセットフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はHighレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はHighレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はLowレベルであり、第4のスイッチ制御信号(φ4)はHighレベルである。時間増幅器300のサンプル前リセットフェーズは、電圧/時間変換器100のリセットフェーズと時間的に揃えられる。
 すなわち、サンプル前リセットフェーズにおいて、図11の時間増幅器300は、サンプリング容量322の第1の端子の電圧およびサンプリング容量342の第1の端子の電圧をリセット電圧(VRES)を用いてそれぞれリセットし、サンプリング容量322の第2の端子の電圧およびサンプリング容量342の第2の端子の電圧を中間電圧(VCM)を用いてそれぞれ固定する。
 サンプルフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はHighレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はLowレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はLowレベルであり、第4のスイッチ制御信号(φ4)はLowレベルである。時間増幅器300のサンプルフェーズは、電圧/時間変換器100の変換フェーズと時間的に揃えられる。
 すなわち、サンプルフェーズにおいて、図11の時間増幅器300は、サンプリング容量322の第1の端子を電圧源321から切断し、サンプリング容量342の第1の端子を電圧源341から切断する。電流源311および電流源331は、前述の第1の期間に亘ってHighレベルの時間信号(DIN)をそれぞれ入力するので、当該第1の期間に亘って定電流信号を第4のサンプリング回路320および第5のサンプリング回路340へとそれぞれ供給する。電流源311によって生成された定電流信号は、サンプリング容量322、スイッチ352および電圧源351によって形成される電流経路を通る。電流源331によって生成された定電流信号は、サンプリング容量342、スイッチ352および電圧源351によって形成される電流経路を通る。これらの定電流信号がサンプリング容量322およびサンプリング容量342をそれぞれ充電するので、サンプリング容量322の第1の端子の電圧およびサンプリング容量342の第1の端子の電圧は時間と共にそれぞれ上昇する。
 サンプリング容量322の第1の端子と同電位のノード(以降の説明においてノードEと称される)の電圧(V)はサンプルフェーズの開始時にはVRESに等しい。従って、第1の期間終了時におけるノードEの電圧VE_SMPは、下記数式(12)を用いて計算できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
 数式(12)において、I311は電流源311によって供給される定電流信号が持つ電流量を示す。 
 増幅前リセットフェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はLowレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はLowレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はHighレベルであり、第4のスイッチ制御信号(φ4)はHighレベルである。時間増幅器300の増幅前リセットフェーズは、時間/電圧変換器200のリセットフェーズと時間的に揃えられる。
 すなわち、増幅前リセットフェーズにおいて、図11の時間増幅器300は、サンプリング容量322の第1の端子の電圧をリセット電圧(VRES)を用いてリセットし、サンプリング容量342の第1の端子の電圧を調整用電圧(VDAC2)を用いて固定する。
 ここで、検出器360の入力端子と同電位のノード(以降の説明においてノードDと称される)の増幅前リセットフェーズにおける電圧(VD_RESA)は、以下のように導出することができる。
 サンプルフェーズの終了時に、サンプリング容量322およびサンプリング容量342は、C・(VE_SMP-VCM)の電荷をそれぞれ蓄えている。電荷保存則によれば、サンプルフェーズにおいてサンプリング容量322およびサンプリング容量342に蓄えられた電荷の総量(2C・(VE_SMP-VCM))は、増幅前リセットフェーズにおいて変化しない。故に、下記数式(13)が成立する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000013
 増幅フェーズにおいて、第1のスイッチ制御信号(φ1)はLowレベルであり、第2のスイッチ制御信号(φ2)はLowレベルであり、第3のスイッチ制御信号(φ3)はHighレベルであり、第4のスイッチ制御信号(φ4)はLowレベルである。時間増幅器300の増幅フェーズは、時間/電圧変換器200のサンプルフェーズと時間的に揃えられる。
 すなわち、増幅フェーズにおいて、図11の時間増幅器300は、サンプリング容量322の第1の端子を電圧源321から切断する。比較器362は、ノードDの電圧(V)が比較基準電圧(VRC)未満であるか否かを検出し、V<VRCが成立する第2の期間に亘ってHighレベルの時間信号(DOUT)を出力する。なお、前述のリセット電圧VRES、電圧VDAC2および比較基準電圧VRCは、増幅フェーズの開始時にV<VRCが成立するように定められるものとする。電流源371は、第2の期間に亘って、サンプリング容量322の第1の端子に定電流信号を供給する。この定電流信号は、サンプリング容量322、サンプリング容量342、スイッチ344および電圧源341によって形成される電流経路を通る。この定電流信号がサンプリング容量322およびサンプリング容量342を充電するので、ノードDの電圧(V)は、時間と共に上昇し、最終的(第2の期間の終了時)には比較基準電圧VRCに一致する。
 電流源371から見てサンプリング容量322およびサンプリング容量342は直列接続されており、増幅フェーズの開始時におけるノードEの電圧(V)はVRESに等しい。従って、第2の期間終了時におけるノードEの電圧VE_AMPは、下記数式(14)を用いて計算できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000014
 数式(14)において、TDOUTは第2の期間の長さを示し、I371は電流源371によって供給される定電流信号が持つ電流量を示す。 
 そして、サンプリング容量322およびサンプリング容量342による分圧を考慮すると、第2の期間におけるノードDの電圧(V)の増分は、当該第2の期間におけるノードEの電圧の増分の半分に一致する。また、増幅フェーズの開始時におけるノードDの電圧(V)はVD_RESAに等しい。従って、第2の期間終了時におけるノードDの電圧VD_AMPは、下記数式(15)を用いて計算できる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000015
 前述のように、第2の期間の終了時に、ノードDの電圧(V)は比較基準電圧VRCに一致する。故に、下記数式(16)および数式(17)を用いて、第2の期間の長さ(TDOUT)を導出することができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000016
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000017
 数式(17)から理解されるように、第2の期間の長さ(TDOUT)は、第1の期間の長さ(TDIN)に比例する時間長と、一定時間長との和に等しい。
 比例係数は、I311およびI371を適切に設計することにより、所望の値に設定することができる。固定の時間長は、C、I371、VRC、VCM、VDAC2およびVRESを適切に設計することにより、所望の値に設定することができる。
 さらに、図13に例示されるように、図11の信号生成器330および第5のサンプリング回路340と同一または類似のM組(Mは2以上の任意の整数)の信号生成器330-1および第5のサンプリング回路340-1,・・・,信号生成器330-Mおよび第5のサンプリング回路340-Mを設けることによって、比例係数および一定時間長をさらに細かく設定することも可能である。なお、第5のサンプリング回路340-1,・・・,第5のサンプリング回路340-Mの各々に含まれる電圧源が発生する調整用電圧(VDAC2)は、それぞれ異なってもよい。
 本実施形態において、時間/電圧変換器200は、増幅時間信号を出力電圧へと変換する。この出力電圧(VOUT)は、下記数式(18)に示されるように、上記数式(8)のTDINとして上記数式(17)の右辺を代入し、さらに当該数式(17)の右辺のTDINとして上記数式(6)の右辺を代入することによって導出可能である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000018
 さらに、C=2C=Cとし仮定し、I151=I211=I311/2=I371と仮定すれば、数式(18)は下記数式(19)に書き換え可能である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000019
 さらに、VCM=VRCと仮定すると、数式(19)は下記数式(20)に書き換え可能である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000020
 数式(20)から理解されるように、出力電圧(VOUT)は、入力電圧(VIN)の交流成分(VINAC)を-4倍し、直流成分を加算することによって得られる電圧に等しい。さらに、VCM=VDAC=VDAC2と仮定すると、数式(20)は下記数式(21)に書き換え可能である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000021
 数式(21)を上記数式(11)と比べると、時間増幅器300を設けることによって、入力電圧(VIN)の交流成分(VINAC)はさらに2倍に増幅されている。
 なお、図10に例示されるように、図11の時間増幅器300と同一または類似のK個(Kは2以上の任意の整数)の時間増幅器300-1,・・・,300-Kを設けることによって、本実施形態に係る増幅回路の利得を細かく調整できる。電圧/時間変換器100、K個の時間増幅器300-1,・・・,300-Kおよび時間/電圧変換器200は、パイプライン処理を行う。具体的には、K=3の場合に、電圧/時間変換器100、3個の時間増幅器300-1,300-2および300-3、ならびに、時間/電圧変換器200は、図14に例示されるように動作する。
 より一般化すれば、各時間増幅器のサンプル前リセットフェーズおよびサンプルフェーズは、直前に配置された電圧/時間変換器のリセットフェーズおよび変換フェーズまたは直前に配置された時間増幅器の増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズに時間的に揃えられる。そして、各時間増幅器の増幅前フェーズおよび増幅フェーズは、直後に配置された時間増幅器のサンプル前リセットフェーズおよびサンプルフェーズまたは直後に配置された時間/電圧変換器のリセットフェーズおよびサンプルフェーズに時間的に揃えられる。
 以上説明したように、第2の実施形態に係る増幅回路は、前述の第1の実施形態において説明された電圧/時間変換器と時間/電圧変換器との間に1以上の時間増幅器を挿入する。従って、この増幅回路によれば、適切な数の時間増幅器を挿入することによって、所望の利得を達成することができる。
 (第3の実施形態) 
 前述の電流源151、電流源211、電流源311、電流源331および電流源371として、例えば図15に示される電流源を採用することができる。
 図15の電流源は、電流出力端子401と、第1のバイアス端子402と、第2のバイアス端子403と、制御端子404とを持つ。図15の電流源は、トランジスタ405と、トランジスタ406と、トランジスタ407と、微調整用電流源410とを含む。なお、図15において、トランジスタ405、406および407は、MOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタとして描かれているが他の種別のトランジスタに置き換えられてもよい。
 図15の電流源は、制御端子404を介して入力される時間信号または増幅時間信号がスイッチとしてのトランジスタ407をOFFとしている期間に亘って、電流出力端子401を介して定電流信号を出力する。例えば、この定電流信号は、トランジスタ405の素子サイズと、第1のバイアス端子402の電圧(VBIAS1)とによって決まる電流量(IOUT)を持つ。
 トランジスタ405は、電源に接続されるソース端子と、第1のバイアス端子402に接続されるゲート端子と、トランジスタ406のソース端子に接続されるドレイン端子とを持つ。前述のように、トランジスタ405の素子サイズは、電流出力端子401を介して出力される定電流信号が持つ電流量(IOUT)を決定づける。
 トランジスタ406は、トランジスタ405のドレイン端子に接続されるソース端子と、第2のバイアス端子403に接続されるゲート端子と、電流出力端子401に接続されるドレイン端子とを持つ。トランジスタ406は、トランジスタ405にカスコード接続されており、出力抵抗値を増加させる役割がある。
 トランジスタ407は、電源に接続されるソース端子と、制御端子404に接続されるゲート端子と、第2のバイアス端子403に接続されるドレイン端子とを持つ。トランジスタ407は、スイッチとして機能する。具体的には、制御端子404を介して入力される時間信号または増幅時間信号(DIN/DOUT)がLowレベルである期間に亘って、トランジスタ407は電源とトランジスタ406のゲート端子との間を短絡する。この結果、トランジスタ406はOFFとなるため、図15の電流源は定電流信号を出力しない。他方、制御端子404を介して入力される時間信号または増幅時間信号(DIN/DOUT)がHighレベルである期間に亘って、トランジスタ407は電源とトランジスタ406のゲート端子との間を開放する。この結果、トランジスタ406はONとなるため、図15の電流源は定電流信号を出力する。
 微調整用電流源410は、トランジスタ405のドレイン電流に対して少量の電流を加算または減算することによって、上記定電流信号が持つ電流量を微調整する。微調整用電流源410を設けることによって、素子ミスマッチなどの影響で生じる可能性がある上記ドレイン電流の変動を補償することができる。微調整用電流源410によって出力される電流量は、(X+1)ビットのディジタル制御信号DCNT[X:0]によって制御される。Xは0以上の整数である。
 具体的には、本実施形態において、図16に例示される微調整用電流源410が採用されてもよい。図16の微調整用電流源は、(X+1)個のサブ電流源411を含む。各サブ電流源411は、インバータ412と、トランジスタ413と、トランジスタ414と、トランジスタ415とを含む。なお、図16において、トランジスタ413、414および415は、MOSトランジスタとして描かれているが他の種別のトランジスタに置き換えられてもよい。
 インバータ412は、(X+1)ビットのディジタル制御信号DCNT[X:0]うち所定の1ビットディジタル信号を入力する。インバータ412は、入力した1ビットディジタル信号を論理反転し、トランジスタ415のゲート端子へと出力する。
 トランジスタ413は、電源に接続されるソース端子と、トランジスタ414のソース端子およびトランジスタ415のドレイン端子に接続されるゲート端子と、電流出力端子に接続されるドレイン端子とを持つ。各サブ電流源411は、トランジスタ413がONである期間に亘って、電流出力端子を介して定電流信号を出力する。この定電流信号は、トランジスタ413の素子サイズと、バイアス端子の電圧(VBIAS1)とによって決まる。
 トランジスタ414は、バイアス端子に接続されるドレイン端子と、インバータ412の入力端子に接続されるゲート端子と、トランジスタ413のゲート端子に接続されるソース端子とを持つ。トランジスタ414は、スイッチとして機能する。具体的には、インバータ412に入力される1ビットディジタル信号がLowレベルである期間に亘って、バイアス端子とトランジスタ413のゲート端子との間を短絡する。この結果、トランジスタ413はONとなる。他方、インバータ412に入力される1ビットディジタル信号がHighレベルである期間に亘って、バイアス端子とトランジスタ413のゲート端子との間を開放する。この結果、トランジスタ413はOFFとなる。
 トランジスタ415は、電源に接続されるソース端子と、インバータ412の出力端子に接続されるゲート端子と、トランジスタ413のゲート端子に接続されるドレイン端子とを持つ。トランジスタ415は、スイッチとして機能する。具体的には、インバータ412から出力される1ビットディジタル信号がLowレベルである期間に亘って、電源とトランジスタ413のゲート端子との間を短絡する。この結果、トランジスタ413はOFFとなる。他方、インバータ412から出力される1ビットディジタル信号がHighレベルである期間に亘って、バイアス端子とトランジスタ413のゲート端子との間を開放する。この結果、トランジスタ413はONとなる。
 (第4の実施形態) 
 前述の比較器141および比較器362として、例えば図17に示される比較器を採用することができる。
 図17の比較器は、差動単相増幅回路501と、L個(Lは1以上の任意の整数)のインバータ502-1,・・・,502-Lとを含む。なお、図17において、いずれのトランジスタも、MOSトランジスタとして描かれているが他の種別のトランジスタに置き換えられてもよい。また、図17において、L個のインバータ502-1,・・・,502-Lは、CMOS(Complementary MOS)インバータとして描かれているが他の種別のインバータに置き換えられてもよい。
 差動単相増幅回路501は、第1の入力端子の電圧(VINP)と第2の入力端子の電圧(VINM)との差動電圧を増幅して単相信号をインバータ502-1へと出力する。
 L個のインバータ502-1,・・・,502-Lは縦続接続されている。インバータ502-1は、差動単相増幅回路501から単相信号を入力し、当該単相信号を増幅及び論理反転してインバータ502-2へと出力する。インバータ502-2,・・・,502-(L-1)は、直前に配置されたインバータ502-1,・・・,502-(L-2)からの入力信号を増幅および論理反転して直後に配置されたインバータ502-3,・・・,502-Lへと出力する。インバータ502-Lは、502-(L-1)からの入力信号を増幅および論理反転して比較器の出力端子を介して出力する。
 なお、L個のインバータ502-1,・・・,502-Lは、差動単相増幅回路501から出力される単相信号を電源電圧レベルまたはグラウンド電圧レベルまで増幅するために設けられる。故に、差動単相増幅回路501が十分な利得を持つ場合には、L個のインバータ502-1,・・・,502-Lを省略することもできる。
 (第5の実施形態) 
 前述の各実施形態において、図11に示される時間増幅器300に代えて図18に例示される時間増幅器600が採用されてもよい。
 時間増幅器600は、信号生成器610と、第4のサンプリング回路320と、信号生成器630と、第5のサンプリング回路340と、ボトムプレートサンプラ650と、検出器360と、信号生成器370とを含む。なお、第4のサンプリング回路320、第5のサンプリング回路340、検出器360および信号生成器370は、図11に示される第4のサンプリング回路320、第5のサンプリング回路340、検出器360および信号生成器370と同一または類似であってよい。
 信号生成器610は、出力端子を持つ。信号生成器610の出力端子は、第4のサンプリング回路320の第1の端子に接続される。信号生成器610は、電気信号を生成し、当該電気信号を第4のサンプリング回路320へと供給する。
 具体的には、図18の信号生成器610は電流源611を含む。電流源611は、第1の端子および第2の端子を含む。電流源611の第1の端子は接地される。電流源611の第2の端子は、信号生成器610の出力端子に接続される。電流源611は、定電流信号を発生し、当該定電流信号を第2の端子を介して第4のサンプリング回路320へと供給する。
 信号生成器630は、出力端子を持つ。信号生成器630の出力端子は、第5のサンプリング回路340の第1の端子に接続される。信号生成器630は、電気信号を生成し、当該電気信号を第5のサンプリング回路340へと供給する。信号生成器630は、信号生成器610と同一または類似であってよい。
 具体的には、図18の信号生成器630は電流源631を含む。電流源631は、第1の端子および第2の端子を含む。電流源631の第1の端子は接地される。電流源631の第2の端子は、信号生成器630の出力端子に接続される。電流源631は、定電流信号を発生し、当該定電流信号を第2の端子を介して第5のサンプリング回路340へと供給する。
 ボトムプレートサンプラ650は、第1の端子を持つ。ボトムプレートサンプラ650の第1の端子は、第4のサンプリング回路320の第2の端子、第5のサンプリング回路340の第2の端子および検出器360の入力端子に共通に接続される。
 ボトムプレートサンプラ650は、サンプルフェーズのうち前述の第1の期間に亘って、中間電圧(VCM)を用いて、サンプリング容量322の第2の端子およびサンプリング容量342の第2の端子の電圧を固定する。
 ボトムプレートサンプラ650は、サンプル前リセットフェーズ、サンプルフェーズのうち前述の第1の期間を除く期間、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいて、サンプリング容量322の第2の端子およびサンプリング容量342の第2の端子の電圧を固定しない。さらに、理想的には、ボトムプレートサンプラ650は、サンプル前リセットフェーズ、サンプルフェーズのうち第1の期間を除く期間、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいて電流経路を提供しない。
 具体的には、図18のボトムプレートサンプラ650は、電圧源651と、スイッチ652とを含む。
 電圧源651は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源651の正極端子は、スイッチ652に接続される。電圧源651の負極端子は接地される。電圧源651は、中間電圧(VCM)を発生する。
 スイッチ652は、ボトムプレートサンプラ650の第1の端子と電圧源651の正極端子との間に挿入される。スイッチ652は、時間信号(DIN)に従って、ボトムプレートサンプラ650の第1の端子と電圧源651の正極端子との間を短絡または開放する。具体的には、スイッチ652は、サンプルフェーズのうち第1の期間においてボトムプレートサンプラ650の第1の端子と電圧源651の正極端子との間を短絡する。他方、スイッチ652は、サンプル前リセットフェーズ、サンプルフェーズのうち第1の期間を除く期間、増幅前リセットフェーズおよび増幅フェーズにおいてボトムプレートサンプラ650の第1の端子と電圧源651の正極端子との間を開放する。
 以上説明したように、第5の実施形態に係る増幅回路に含まれる時間増幅器は、時間増幅器を用いて信号生成器の代わりにボトムプレートサンプラに含まれるスイッチを制御する。従って、この時間増幅器によれば、第3の実施形態において説明された時間増幅器と同一または類似の動作を実現しながらチャージインジェクションの影響を緩和することができる。
 なお、時間増幅器に限らず時間/電圧変換器を同様に変形することも可能である。具体的には、図8の時間/電圧変換器200に関して、時間信号(DIN)を用いて信号生成器210の代わりにボトムプレートサンプラ230に含まれるスイッチ232を制御すればよい。係る変形によれば、時間/電圧変換器へのチャージインジェクションの影響を緩和することができる。
 (第6の実施形態) 
 前述の各実施形態において、図11に示される時間増幅器300または図18に示される時間増幅器600に代えて図19に例示される時間増幅器700が採用されてもよい。
 前述の時間増幅器300および時間増幅器600では、検出器360の入力端子の電圧(V)が比較基準電圧(VRC)以上となったタイミングで、Lowレベルの増幅時間信号が信号生成器370に入力されることになる。ところが、実用上、雑音の影響により検出器360の入力端子の電圧(V)または比較基準電圧(VRC)が変動し、再びV<VRCとなり、Highレベルの増幅時間信号が誤って出力されるおそれがある。
 時間増幅器700は、信号生成器310と、第4のサンプリング回路320と、信号生成器330と、第5のサンプリング回路340と、ボトムプレートサンプラ350と、検出器360と、信号生成器370と、遅延素子780とを含む。なお、信号生成器310、第4のサンプリング回路320、信号生成器330、第5のサンプリング回路340、ボトムプレートサンプラ350、検出器360および信号生成器370は、図11に示される信号生成器310、第4のサンプリング回路320、信号生成器330、第5のサンプリング回路340、ボトムプレートサンプラ350、検出器360および信号生成器370と同一または類似であってよい。
 遅延素子780は、検出器360と信号生成器370との間に挿入される。遅延素子780は、検出器360からの増幅時間信号を遅延させて遅延時間信号を得る。遅延素子780は、遅延時間信号を信号生成器370へと出力する。そして、信号生成器370は、増幅時間信号の代わりに遅延時間信号に従って動作する。故に、検出器360の入力端子の電圧(V)が比較基準電圧(VRC)以上となったタイミングではなく当該タイミングから所定時間遅延して、Lowレベルの遅延時間信号が信号生成器370に入力されることになる。この遅延時間中に、信号生成器370は動作を停止しないので検出器360の入力端子の電圧(V)は上昇し続ける。すなわち、信号生成器370が動作を停止した時点では、入力端子の電圧(V)は比較基準電圧(VRC)に比べて十分に大きくなる。従って、雑音の影響により入力端子の電圧(V)または比較基準電圧(VRC)が多少変動したとしても、増幅時間信号はLowレベルのまま安定する。
 以上説明したように、第6の実施形態に係る増幅回路に含まれる時間増幅器は、検出器と信号生成器との間に遅延素子が挿入される。従って、この時間増幅器によれば、第3の実施形態において説明された時間増幅器と同一または類似の動作を実現しながら雑音耐性を高めることができる。
 なお、時間増幅器に限らず電圧/時間変換器を同様に変形することも可能である。具体的には、図2の電圧/時間変換器100に関して、検出器140と信号生成器150との間に遅延素子を挿入すればよい。係る変形によれば、電圧/時間増幅器の雑音耐性を高めることができる。
 (第7の実施形態) 
 前述の各実施形態において説明された検出器は、いずれも比較器を含む。そして、例えば図17の比較器は、差動単相増幅回路501を含む。差動単相増幅回路501は、定常的にバイアス電流を消費する。そこで、第7の実施形態に係る増幅回路は、検出器を変形することによって消費電力を削減する。具体的には、閾値電圧を基準に入力電圧を論理反転するインバータによって比較器を置き換える。但し、通常のインバータの閾値電圧は、当該インバータに含まれるトランジスタの特性、電源電圧などに依存するので必ずしも適切な値とはならない。従って、好ましくは、閾値を調整する機能を持つインバータを用いることになる。
 具体的には、前述の各実施形態において、図11に示される時間増幅器300、図18に示される時間増幅器600または図19に示される時間増幅器700に代えて図20に例示される時間増幅器800が採用されてもよい。
 時間増幅器800は、信号生成器310と、第4のサンプリング回路320と、信号生成器330と、第5のサンプリング回路340と、ボトムプレートサンプラ350と、検出器860と、信号生成器370とを含む。なお、信号生成器310、第4のサンプリング回路320、信号生成器330、第5のサンプリング回路340、ボトムプレートサンプラ350および信号生成器370は、図11に示される信号生成器310、第4のサンプリング回路320、信号生成器330、第5のサンプリング回路340、ボトムプレートサンプラ350および信号生成器370と同一または類似であってよい。
 検出器860の具体例が図21に示される。図21の検出器860は、可変閾値インバータ861と、L個(Lは1以上の任意の整数)のインバータ502-1,・・・,502-Lとを含む。L個のインバータ502-1,・・・,502-Lは、図17に示されるL個のインバータ502-1,・・・,502-Lと同一または類似であってよい。
 なお、図21において、いずれのトランジスタも、MOSトランジスタとして描かれているが他の種別のトランジスタに置き換えられてもよい。また、図21において、可変閾値インバータ861およびL個のインバータ502-1,・・・,502-Lは、CMOSインバータとして描かれているが他の種別のインバータに置き換えられてもよい。
 可変閾値インバータ861の閾値電圧は、(X+1)ビットのディジタル制御信号DCNT1[X:0]によって制御される。Xは0以上の整数である。可変閾値インバータ861は、検出器860の入力端子の電圧を閾値電圧を基準に論理反転して、インバータ502-1へと出力する。
 具体的には、可変閾値インバータ861は、複数のNMOSトランジスタと、複数のスイッチ862と、複数のPMOSトランジスタと、複数のスイッチ863と、スイッチ864とを含む。
 複数のNMOSトランジスタは、ソース端子が互いに共通接続されている。さらに、複数のNMOSトランジスタは、ドレイン端子も互いに共通接続されている。複数のNMOSトランジスタの各々のゲート端子は、対応するスイッチ862に接続される。
 複数のスイッチ862の各々は、対応するNMOSトランジスタのゲート端子と可変閾値インバータ861の入力端子との間を短絡または開放する。複数のスイッチ862の各々のON/OFF状態は、(X+1)ビットのディジタル制御信号DCNT1[X:0]によって個別に制御される。
 複数のスイッチ862の各々の具体例が図22に示される。図22のスイッチ862は、入力端子871、出力端子872および制御端子873を持ち、CMOSスイッチ874と、インバータ875と、NMOSトランジスタ876とを含む。なお、図22において、いずれのトランジスタも、MOSトランジスタとして描かれているが他の種別のトランジスタに置き換えられてもよい。
 CMOSスイッチ874は、制御端子873を介して入力されるディジタル制御信号DCNT1と、インバータ875から入力される当該ディジタル制御信号DCNT1の反転信号とに従って、入力端子871と出力端子872との間を短絡または開放する。具体的には、ディジタル制御信号DCNT1がHighレベルであるならば、CMOSスイッチ874は入力端子871と出力端子872との間を短絡する。他方、ディジタル制御信号DCNT1がLowレベルであるならば、CMOSスイッチ874は入力端子871と出力端子872との間を開放する。
 インバータ875は、入力端子および出力端子を持つ。インバータ875は、制御端子873を介してディジタル制御信号DCNT1を入力する。インバータ875は、ディジタル制御信号DCNT1を論理反転することによって、反転信号を得る。インバータ875は、反転信号をCMOSスイッチ874およびNMOSトランジスタ876のゲート端子へと出力する。
 NMOSトランジスタ876は、インバータ875の出力端子に接続されるゲート端子と、出力端子872に接続されるドレイン端子と、グラウンドに接続されるソース端子とを持つ。NMOSトランジスタ876は、ゲート端子を介してインバータ875からディジタル制御信号DCNT1の反転信号を入力する。反転信号がHighレベルである(すなわち、ディジタル制御信号DCNT1がLowレベルである)ならば、NMOSトランジスタ876は、出力端子872とグラウンドとの間を短絡する。他方、反転信号がLowレベルである(すなわち、ディジタル制御信号DCNT1がHighレベルである)ならば、NMOSトランジスタ876は、出力端子872とグラウンドとの間を開放する。
 複数のPMOSトランジスタは、ソース端子が互いに共通接続されている。さらに、複数のPMOSトランジスタは、ドレイン端子も互いに共通接続されている。複数のPMOSトランジスタの各々のゲート端子は、対応するスイッチ863に接続される。
 複数のスイッチ863の各々は、対応するPMOSトランジスタのゲート端子と可変閾値インバータ861の入力端子との間を短絡または開放する。複数のスイッチ863の各々のON/OFF状態は、(X+1)ビットのディジタル制御信号DCNT1[X:0]によって個別に制御される。複数のスイッチ863の各々は、例えば図22に示されるスイッチ862と類似であってもよい。但し、複数のスイッチ863の各々は、ディジタル制御信号DCNT1がLowレベルであるならば、出力端子をグラウンドの代わりに電源と短絡する必要がある。
 スイッチ864は、可変閾値インバータ861の入出力を短絡または開放する。スイッチ864のON/OFFは、(X+1)ビットのディジタル制御信号DCNT1[X:0]によって制御される。スイッチ864は、CMOSスイッチを用いて実装されてよい。
 複数のスイッチ862および複数のスイッチ863のON/OFF状態が変化すると、CMOSインバータとしての可変閾値インバータ861におけるNMOSトランジスタおよびPMOSトランジスタのサイズ比が実質的に変化する。すなわち、ディジタル制御信号DCNT1[X:0]を通じて、可変閾値インバータ861の閾値電圧を制御することができる。なお、可変閾値インバータ861の閾値電圧は、複数のスイッチ862および複数のスイッチ863を所望のON/OFF状態にしたままでスイッチ864をさらにONにしてから、当該可変閾値インバータ861の入力端子の電圧を観測することによって測定可能である。
 なお、公知の技術(例えば、オートゼロ技術)を用いてCMOSインバータの閾値電圧を調整することも可能である。しかしながら、オートゼロ技術によれば、入力端子に直列に容量を接続する必要がある。他方、可変閾値インバータ861によれば、容量およびスイッチに起因する遅延を回避できるので、高速動作を実現可能である。但し、適切な(例えば、比較基準電圧(VRC)と同程度の)閾値電圧を持つインバータを利用可能であるならば、閾値電圧の制御はそもそも不要である。すなわち、可変閾値インバータ861は、適切な閾値を持つ通常のインバータに置き換えられてもよい。
 以上説明したように、第7の実施形態に係る増幅回路は、比較器をインバータに置き換えた検出器を採用する。従って、この増幅回路によれば、検出器における消費電力を削減することができる。
 また、時間増幅器に限らず電圧/時間変換器を同様に変形することも可能である。具体的には、図2の電圧/時間変換器100に関して、検出器140を図21に例示される検出器860と置き換えればよい。係る変形によれば、電圧/時間増幅器の検出器における消費電力を削減することができる。
 (第8の実施形態) 
 図23に示されるように、第8の実施形態に係るアナログ/ディジタル変換回路は、第1のアナログ/ディジタル変換部900と、第2のアナログ/ディジタル変換部910と、時間/電圧変換器200と、バックエンドアナログ/ディジタル変換器(ADC)920と、エンコーダ930とを含む。
 なお、図23のアナログ/ディジタル変換回路は、3段のパイプラインADCに相当するが、その段数は増加させることも減少させることも可能である。段数を増加させる場合には、第2のアナログ/ディジタル変換部910と同一または類似の回路を増設すればよい。段数を減少させる場合には、第2のアナログ/ディジタル変換部910を取り除けばよい。また、本実施形態は、パイプラインADCに限られず例えばΔΣADCなどの他の種別のADCに適用することも可能である。
 第1のアナログ/ディジタル変換部900は、入力アナログ信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって第1のディジタル信号を生成する。第1のアナログ/ディジタル変換部900は、第1のディジタル信号をエンコーダ930へと出力する。さらに、第1のアナログ/ディジタル変換部900は、入力アナログ信号の残部(以降、第1の残差信号と称される)を実質的に電圧/時間変換することによって第1の時間信号を得る。第1のアナログ/ディジタル変換部900は、第1の時間信号を第2のアナログ/ディジタル変換部910へと出力する。
 具体的には、第1のアナログ/ディジタル変換部900は、電圧/時間変換器100と、サブADC901と、サブDAC902とを含む。
 サブADC901は、入力アナログ信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって第1のディジタル信号を得る。サブADC901は、第1のディジタル信号をサブDAC902およびエンコーダ930へと出力する。
 サブDAC902は、サブADC901から第1のディジタル信号を入力する。サブDAC902は、第1のディジタル信号をディジタル/アナログ変換することによって第1のアナログ信号を得る。サブDAC902は、第1のアナログ信号を電圧/時間変換器100へと出力する。
 電圧/時間変換器100は、入力アナログ信号を電圧/時間変換する。但し、電圧/時間変換器100は、サブDAC902から第1のアナログ信号を入力し、当該第1のアナログ信号を用いて前述の調整用電圧VDACを制御する。故に、電圧/時間変換器100は、実質的には、入力アナログ信号と上記第1のアナログ信号との差分に相当する第1の残差信号を電圧/時間変換することによって第1の時間信号を得る。電圧/時間変換器100は、第1の時間信号を第2のアナログ/ディジタル変換部910へと出力する。
 第2のアナログ/ディジタル変換部910は、第1のアナログ/ディジタル変換部900から第1の時間信号を入力する。第2のアナログ/ディジタル変換部910は、第1の時間信号を時間/電圧変換することによって前述の第1の残差信号を復元する。そして、第2のアナログ/ディジタル変換部910は、第1の残差信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって第2のディジタル信号を得る。第2のアナログ/ディジタル変換部910は、第2のディジタル信号をエンコーダ930へと出力する。さらに、第2のアナログ/ディジタル変換部910は、第1の残差信号の残部(以降、第2の残差信号と称される)を実質的に電圧/時間変換することによって第2の時間信号を得る。第2のアナログ/ディジタル変換部910は、第2の時間信号を時間/電圧変換器200へと出力する。
 具体的には、第2のアナログ/ディジタル変換部910は、時間増幅器300と、時間/電圧変換器911と、サブADC912と、サブDAC913とを含む。 
 時間/電圧変換器911は、第1のアナログ/ディジタル変換部900から第1の時間信号を入力する。時間/電圧変換器911は、第1の時間信号を時間/電圧変換することによって第1の残差信号を復元する。時間/電圧変換器911は、第1の残差信号をサブADC912へと出力する。時間/電圧変換器911は、前述の時間/電圧変換器200と同一または類似であってもよい。
 サブADC912は、第1の残差信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって第2のディジタル信号を得る。サブADC912は、第2のディジタル信号をサブDAC913およびエンコーダ930へと出力する。
 サブDAC913は、サブADC912から第2のディジタル信号を入力する。サブDAC913は、第2のディジタル信号をディジタル/アナログ変換することによって第2のアナログ信号を得る。サブDAC913は、第2のアナログ信号を時間増幅器300へと出力する。
 時間増幅器300は、第1のアナログ/ディジタル変換部900から第1の時間信号を入力する。時間増幅器300は、第1の時間信号を増幅する。但し、時間増幅器300は、サブDAC913から第2のアナログ信号を入力し、当該第2のアナログ信号を用いて前述の調整用電圧VDAC2を制御する。故に、時間増幅器300は、実質的には、第1の残差信号と上記第2のアナログ信号との差分に相当する第2の残差信号を電圧/時間変換することによって第2の時間信号を得る。時間増幅器300は、第2の時間信号を時間/電圧変換器200へと出力する。
 時間/電圧変換器200は、第2のアナログ/ディジタル変換部910から第2の時間信号を入力する。時間/電圧変換器200は、第2の時間信号を時間/電圧変換することによって前述の第2の残差信号を復元する。時間/電圧変換器200は、第2の残差信号をバックエンドADC920へと出力する。
 バックエンドADC920は、第2の残差信号をアナログ/ディジタル変換することによって第3のディジタル信号を得る。バックエンドADC920は、第3のディジタル信号をエンコーダ930へと出力する。
 エンコーダ930は、第1のアナログ/ディジタル変換部900から第1のディジタル信号を入力し、第2のアナログ/ディジタル変換部910から第2のディジタル信号を入力し、バックエンドADC920から第3のディジタル信号を入力する。エンコーダ930は、第1のディジタル信号、第2のディジタル信号および第3のディジタル信号を変換することによってバイナリデータとしての出力ディジタル信号を得る。
 なお、図23のアナログ/ディジタル変換回路は、図24に例示されるように変形されてもよい。図24のアナログ/ディジタル変換回路は、第1のアナログ/ディジタル変換部900と、第2のアナログ/ディジタル変換部1010と、時間/ディジタル変換器(TDC)1020と、エンコーダ930とを含む。第1のアナログ/ディジタル変換部900とおよびエンコーダ930は、図23に示される第1のアナログ/ディジタル変換部900とおよびエンコーダ930と同一または類似であってよい。
 第2のアナログ/ディジタル変換部1010は、第1のアナログ/ディジタル変換部900から第1の時間信号を入力する。第2のアナログ/ディジタル変換部1010は、第1の時間信号を時間/ディジタル変換することによって前述の第2のディジタル信号を得る。第2のアナログ/ディジタル変換部1010は、第2のディジタル信号をエンコーダ930へと出力する。さらに、第2のアナログ/ディジタル変換部1010は、第1の残差信号の残部(以降、第2の残差信号と称される)を実質的に電圧/時間変換することによって第2の時間信号を得る。第2のアナログ/ディジタル変換部1010は、第2の時間信号を時間/電圧変換器200へと出力する。
 第2のアナログ/ディジタル変換部1010は、時間増幅器300と、TDC1011と、サブDAC1012とを含む。 
 TDC1011は、第1のアナログ/ディジタル変換部900から第1の時間信号を入力する。TDC1011は、第1の時間信号を時間/ディジタル変換することによって第2のディジタル信号を得る。TDC1011は、第2のディジタル信号をサブDAC1012およびエンコーダ930へと出力する。
 サブDAC1012は、TDC1011から第2のディジタル信号を入力する。サブDAC1012は、第2のディジタル信号をディジタル/アナログ変換することによって第2のアナログ信号を得る。サブDAC1013は、第2のアナログ信号を時間増幅器300へと出力する。
 時間増幅器300は、第1のアナログ/ディジタル変換部900から第1の時間信号を入力する。時間増幅器300は、第1の時間信号を増幅する。但し、時間増幅器300は、サブDAC1012から第2のアナログ信号を入力し、当該第2のアナログ信号を用いて前述の調整用電圧VDAC2を制御する。故に、時間増幅器300は、実質的には、第1の残差信号と上記第2のアナログ信号との差分に相当する第2の残差信号を電圧/時間変換することによって第2の時間信号を得る。時間増幅器300は、第2の時間信号を時間/電圧変換器200へと出力する。
 TDC1020は、第2のアナログ/ディジタル変換部910から第2の時間信号を入力する。TDC1020は、第2の時間信号を時間/ディジタル変換することによって前述の第3のディジタル信号を得る。TDC1020は、第3のディジタル信号をエンコーダ930へと出力する。
 図24のアナログ/ディジタル変換回路は、図23のアナログ/ディジタル変換回路に比べて消費電力が低い。
 以上説明したように第8の実施形態に係るアナログ/ディジタル変換回路は、前述の第1の実施形態において説明された電圧/時間変換器および前述の第2の実施形態において説明された時間増幅器を含む。故に、このアナログ/ディジタル変換回路によれば、低消費電力かつ高精度に動作することができる。
 (第9の実施形態) 
 第9の実施形態に係る電圧/時間変換器は、入力アナログ信号の一部をディジタル信号へと変換する。従って、この電圧/時間変換器は、アナログ/ディジタル変換器と呼ぶこともできる。さらに、この電圧/時間変換器は、入力アナログ信号の残部を電圧/時間変換することによって時間信号を得る。
 本実施形態に係る電圧/時間変換器の具体例が図25に示される。図25の電圧/時間変換器1100は、第1のサンプリング回路110と、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nと、ボトムプレートサンプラ130と、検出器140と、信号生成器150と、検出器1160と、SAR(Successive Approximation Register)ロジック1170とを備える。第1のサンプリング回路110、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-N、ボトムプレートサンプラ130、検出器140および信号生成器150は、図7の第1のサンプリング回路110、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-N、ボトムプレートサンプラ130、検出器140および信号生成器150と同一または類似であってもよい。
 検出器1160は、入力端子および出力端子を持つ。検出器1160の入力端子は、第1のサンプリング回路110の第2の端子、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nの第2の端子、ボトムプレートサンプラ130の第1の端子および検出器140の入力端子に共通に接続される。検出器1160の出力端子は、SARロジック1170の入力端子に接続される。
 図25の電圧/時間変換器1100のリセットフェーズにおいて、検出器1160はその入力端子の電圧を比較基準電圧と周期的に比較する。検出器1160は、比較結果を示すディジタル信号をSARロジック1170へと周期的に出力する。電圧/時間変換器1100のサンプルフェーズおよび変換フェーズにおいて、検出器1160は動作を停止する。
 より詳細には、図26に示されるように、検出器1160は、電圧源1161と、比較器1162とを含む。
 電圧源1161は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源1161の正極端子は、比較器1162の第2の入力端子に接続される。電圧源1161の負極端子は接地される。電圧源1161は、比較基準電圧(VRC2)を発生する。比較基準電圧(VRC2)は、中間電圧(VCM)と同一であってもよい。
 比較器1162は、第1の入力端子、第2の入力端子および出力端子を含む。比較器1162の第1の入力端子は、検出器1160の入力端子に接続される。比較器1162の第2の入力端子は、電圧源1161の正極端子に接続される。比較器1162の出力端子は、検出器1160の出力端子に接続される。
 比較器1162は、クロック信号(CLK)に同期して動作する。比較器1162は、クロック信号(CLK)の立ち上がりエッジ(または立ち下がりエッジ)を検出すると、第1の入力端子の電圧を第2の入力端子の電圧と比較する。なお、図27に示されるように、クロック信号は電圧/時間変換器1100のリセットフェーズの間に比較器1162に供給される一定周期のパルス信号であってよい。なお、比較器1162は、電圧/時間変換器100のサンプルフェーズおよび変換フェーズにおいて動作を停止する。
 具体的には、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧よりも小さければ、比較器1162はHighレベル(電源電圧)のディジタル信号を出力する。他方、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧以上であれば、比較器1162はLowレベル(グラウンド電圧)のディジタル信号を出力する。
 SARロジック1170は、入力端子、ディジタル出力端子および制御出力端子を持つ。SARロジック1170の入力端子は、検出器1160の出力端子に接続される。SARロジック1170の制御出力端子は、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nに接続される。
 なお、図26の例によれば、SARロジック1170の制御出力端子は、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nに含まれるスイッチ124-1などに接続されている。しかしながら、SARロジック1170の制御出力端子は、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nにおける調整用電圧を制御するために、他の要素(例えば、電圧源123-1など)に接続されてもよい。
 図25の電圧/時間変換器1100のリセットフェーズにおいて、SARロジック1170は、検出器1160から比較結果を示すディジタル信号を周期的に入力する。SARロジック1170は、このディジタル信号に応じてN個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nにおける調整用電圧を制御するための制御信号を周期的に生成し、制御出力端子を介して出力する。さらに、SARロジック1170は、電圧/時間変換器1100のリセットフェーズの間に入力されたディジタル信号を蓄積することによって、当該リセットフェーズの終了時に出力ディジタル信号(ADCOUT)を得る。SARロジック1170は、出力ディジタル信号(ADCOUT)をディジタル出力端子を介して出力する。
 以上説明したように、第10の実施形態に係る電圧/時間変換器は、入力アナログ信号の一部をディジタル信号へと変換し、当該入力アナログ信号の残部を第1の実施形態と同様に電圧/時間変換することによって時間信号を得る。従って、この電圧/時間変換器を例えばパイプラインADCの初段に組み込むことによって、消費電力を低減し、かつ、精度を向上させることができる。
 (第10の実施形態) 
 第10の実施形態に係る電圧/時間変換器は、入力アナログ信号の一部をディジタル信号へと変換する。従って、この電圧/時間変換器は、アナログ/ディジタル変換器と呼ぶこともできる。さらに、この電圧/時間変換器は、入力アナログ信号の残部を電圧/時間変換することによって時間信号を得る。
 本実施形態に係る電圧/時間変換器の具体例が図28に示される。図28の電圧/時間変換器1200は、第1のサンプリング回路110と、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nと、ボトムプレートサンプラ130と、検出器1240と、信号生成器150と、SARロジック1170とを備える。第1のサンプリング回路110、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-N、ボトムプレートサンプラ130、信号生成器150およびSARロジック1170は、図25の第1のサンプリング回路110、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-N、ボトムプレートサンプラ130、信号生成器150およびSARロジック1170と同一または類似であってもよい。
 検出器1240は、入力端子および出力端子を持つ。検出器1240の入力端子は、第1のサンプリング回路110の第2の端子、N個の第2のサンプリング回路120-1,・・・,120-Nの第2の端子およびボトムプレートサンプラ130の第1の端子に共通に接続される。検出器1240の出力端子は、信号生成器150の制御端子、SARロジック1170の入力端子および時間/電圧変換器200の入力端子に共通に接続される。
 検出器1240は、図28の電圧/時間変換器の変換フェーズにおいて、前述の検出器140と同様に動作する。検出器1240は、図28の電圧/時間変換器のリセットフェーズにおいて、前述の検出器1160と同様に動作する。
 変換フェーズにおいて、検出器1240は、その入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出する。そして、検出器1240は、その入力端子の電圧が第1の条件を満足する第1の期間の長さを示す時間信号を生成する。検出器1240は、時間信号を信号生成器150および時間/電圧変換器200へと出力する。
 リセットフェーズにおいて、検出器1240はその入力端子の電圧を比較基準電圧と周期的に比較する。検出器1240は、比較結果を示すディジタル信号をSARロジック1170へと周期的に出力する。なお、サンプルフェーズにおいて、検出器1240は動作を停止する。
 検出器1240は、比較器1241と電圧源1242とを含む。 
 比較器1241は、第1の入力端子、第2の入力端子および出力端子を含む。比較器1241の第1の入力端子は、検出器1240の入力端子に接続される。比較器1241の第2の入力端子は、電圧源1242の正極端子に接続される。比較器1241の出力端子は、検出器1240の出力端子に接続される。
 比較器1241は、変換フェーズにおいて、第1の入力端子の電圧を第2の入力端子の電圧と比較する。具体的には、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧よりも小さければ、比較器1241はHighレベル(電源電圧)の時間信号(DOUT)を出力する。他方、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧以上であれば、比較器1241はLowレベル(グラウンド電圧)の時間信号(DOUT)を出力する。
 比較器1241は、リセットフェーズにおいて、クロック信号(CLK)に同期して動作する。比較器1241は、クロック信号(CLK)の立ち上がりエッジ(または立ち下がりエッジ)を検出すると、第1の入力端子の電圧を第2の入力端子の電圧と比較する。具体的には、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧よりも小さければ、比較器1241はHighレベル(電源電圧)のディジタル信号を出力する。他方、第1の入力端子の電圧が第2の入力端子の電圧以上であれば、比較器1241はLowレベル(グラウンド電圧)のディジタル信号を出力する。なお、比較器1241は、サンプルフェーズにおいて動作を停止する。
 電圧源1242は、正極端子および負極端子を持つ。電圧源1242の正極端子は、比較器1241の第2の入力端子に接続される。電圧源1242の負極端子は接地される。電圧源1242は、比較基準電圧(VRC)を発生する。
 以上説明したように、第10の実施形態に係る電圧/時間変換器は、第9の実施形態に係る電圧/時間変換器に含まれる2つの検出器を統合している。従って、この電圧/時間変換器によれば、第9の実施形態に係る電圧/時間変換器に比べて回路面積および消費電力を削減することができる。
 本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

Claims (17)

  1.  入力信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する電圧/時間変換器と、
     前記時間信号を時間/電圧変換することによって出力信号を生成する時間/電圧変換器と
     を具備し、
     前記電圧/時間変換器は、
      前記入力信号を受け取る第1の端子と、第2の端子と、第3の端子とを持ち、第1のサンプリング容量を含む第1のサンプリング回路と、
      前記入力信号を受け取る第1の端子と、前記第1のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とをそれぞれ持ち、第2のサンプリング容量をそれぞれ含む1つ以上の第2のサンプリング回路と、
      前記第1のサンプリング回路の第2の端子および前記第2のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第1のボトムプレートサンプラと、
      前記第1のサンプリング回路の第2の端子、前記第2のサンプリング回路の第2の端子および前記第1のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、当該入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出することによって前記時間信号を生成する第1の検出器と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第1のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第1の電気信号を生成し、当該第1の電気信号を前記第1のサンプリング回路へと供給する第1の信号生成器と
     を具備し、
     前記時間信号は、前記第1の検出器の入力端子の電圧が前記第1の条件を満足する第1の期間の長さを示す、
     増幅回路。
  2.  前記時間/電圧変換器は、
      第1の端子と、前記時間/電圧変換器の出力端子に接続される第2の端子とを持ち、第3のサンプリング容量を含む第3のサンプリング回路と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第3のサンプリング回路の第1の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第2の電気信号を生成し、当該第2の電気信号を当該第3のサンプリング回路へと供給する第2の信号生成器と、
      前記時間/電圧変換器の出力端子および前記第3のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第2のボトムプレートサンプラと
     を具備する、
     請求項1記載の増幅回路。
  3.  前記電圧/時間変換器の動作は、サンプルフェーズ、リセットフェーズおよび変換フェーズに区分され、
     前記サンプルフェーズにおいて、前記第1のサンプリング容量の第1の端子は前記第1のサンプリング回路の第1の端子に接続され、前記第1のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第1のボトムプレートサンプラによって固定され、前記第2のサンプリング容量の第1の端子は前記第2のサンプリング回路の第1の端子に接続され、前記第2のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第1のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記リセットフェーズにおいて、前記第1のサンプリング容量の第1の端子の電圧はリセット電圧を用いてリセットされ、前記第2のサンプリング容量の第1の端子の電圧は第1の調整用電圧を用いて固定され、
     前記変換フェーズにおいて、前記第2のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記第1の調整用電圧を用いて固定され、前記第1の検出器は前記時間信号を生成し、前記第1の信号生成器は当該時間信号を受け取って前記第1の期間に亘って前記第1の電気信号を生成し、前記第1のサンプリング容量の第1の端子は当該第1の電気信号を受け取る、
     請求項1記載の増幅回路。
  4.  前記1つ以上の第2のサンプリング回路の総数は2以上である、請求項1記載の増幅回路。
  5.  前記時間/電圧変換器の動作は、リセットフェーズ、サンプルフェーズおよびホールドフェーズに区分され、
     前記リセットフェーズにおいて、前記第3のサンプリング容量の第1の端子の電圧はリセット電圧を用いてリセットされ、前記第3のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第2のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記サンプルフェーズにおいて、前記第2の信号生成器は前記時間信号を受け取って前記第1の期間に亘って前記第2の電気信号を生成し、前記第3のサンプリング容量の第1の端子は前記第2の電気信号を受け取り、前記第3のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第2のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記ホールドフェーズにおいて、前記第3のサンプリング容量の第1の端子の電圧は中間電圧を用いて固定される、
     請求項2記載の増幅回路。
  6.  入力信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する電圧/時間変換器と、
     前記時間信号を増幅することによって増幅時間信号を生成する時間増幅器と、
     前記増幅時間信号を時間/電圧変換することによって出力信号を生成する時間/電圧変換器と
     を具備し、
     前記電圧/時間変換器は、
      前記入力信号を受け取る第1の端子と、第2の端子と、第3の端子とを持ち、第1のサンプリング容量を含む第1のサンプリング回路と、
      前記入力信号を受け取る第1の端子と、前記第1のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とを持ち、第2のサンプリング容量を含む第2のサンプリング回路と、
      前記第1のサンプリング回路の第2の端子および前記第2のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第1のボトムプレートサンプラと、
      前記第1のサンプリング回路の第2の端子、前記第2のサンプリング回路の第2の端子および前記第1のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、当該入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出することによって前記時間信号を生成する第1の検出器と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第1のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第1の電気信号を生成し、当該第1の電気信号を当該第1のサンプリング回路へと供給する第1の信号生成器と
     を具備し、
     前記時間信号は、前記第1の検出器の入力端子の電圧が前記第1の条件を満足する第1の期間の長さを示す、
     増幅回路。
  7.  前記時間増幅器は、
      第1の端子と第2の端子と第3の端子とを持ち、第4のサンプリング容量を含む第4のサンプリング回路と、
      第1の端子と、前記第4のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とをそれぞれ持ち、第5のサンプリング容量をそれぞれ含む1つ以上の第5のサンプリング回路と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第4のサンプリング回路の第1の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第3の電気信号を生成し、当該第3の電気信号を当該第4のサンプリング回路へと供給する第3の信号生成器と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記1つ以上の第5のサンプリング回路のいずれかの第1の端子に接続される出力端子とをそれぞれ持ち、前記時間信号に依存して第4の電気信号をそれぞれ生成し、当該第4の電気信号を当該第5のサンプリング回路へとそれぞれ供給する1つ以上の第4の信号生成器と、
      前記第4のサンプリング回路の第2の端子および前記第5のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第3のボトムプレートサンプラと、
      前記第4のサンプリング回路の第2の端子、前記第5のサンプリング回路の第2の端子および前記第3のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、当該入力端子の電圧が第2の条件を満足するか否かを検出することによって前記増幅時間信号を生成する第2の検出器と、
      前記増幅時間信号を受け取る制御端子と、前記第4のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記増幅時間信号に依存して第5の電気信号を生成し、当該第5の電気信号を当該第4のサンプリング回路へと供給する第5の信号生成器と
     を具備し、
     前記増幅時間信号は、前記第2の検出器の入力端子の電圧が前記第2の条件を満足する第2の期間の長さを示す、
     請求項6記載の増幅回路。
  8.  前記時間増幅器の動作は、第1のリセットフェーズ、サンプルフェーズ、第2のリセットフェーズおよび増幅フェーズに区分され、
     前記第1のリセットフェーズにおいて、前記第4のサンプリング容量の第1の端子の電圧はリセット電圧を用いてリセットされ、前記第4のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第3のボトムプレートサンプラによって固定され、前記第5のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記リセット電圧を用いてリセットされ、前記第5のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第3のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記サンプルフェーズにおいて、前記第3の信号生成器は前記時間信号を受け取って前記第1の期間に亘って前記第3の電気信号を生成し、前記第4のサンプリング容量の第1の端子は前記第3の電気信号を受け取り、前記第4のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第3のボトムプレートサンプラによって固定され、前記第4の信号生成器は前記時間信号を受け取って前記第1の期間に亘って前記第4の電気信号を生成し、前記第5のサンプリング容量の第1の端子は前記第4の電気信号を受け取り、前記第5のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第3のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記第2のリセットフェーズにおいて、前記第4のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記リセット電圧を用いてリセットされ、前記第5のサンプリング容量の第1の端子の電圧は第2の調整用電圧を用いて固定され、
     前記増幅フェーズにおいて、前記第5のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記第2の調整用電圧を用いて固定され、前記第2の検出器は前記増幅時間信号を生成し、前記第5の信号生成器は当該増幅時間信号を受け取って前記第2の期間に亘って前記第5の電気信号を生成し、前記第4のサンプリング容量の第1の端子は前記第5の電気信号を受け取る、
     請求項7記載の増幅回路。
  9.  前記1つ以上の第5のサンプリング回路の総数は2以上である、請求項7記載の増幅回路。
  10.  前記時間増幅器は、
      第1の端子と第2の端子と第3の端子とを持ち、第4のサンプリング容量を含む第4のサンプリング回路と、
      第1の端子と、前記第4のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とを持ち、第5のサンプリング容量を含む第5のサンプリング回路と、
      前記第4のサンプリング回路の第1の端子に接続される出力端子を持ち、第3の電気信号を生成し、当該第3の電気信号を当該第4のサンプリング回路へと供給する第3の信号生成器と、
      前記第5のサンプリング回路の第1の端子に接続される出力端子を持ち、第4の電気信号を生成し、当該第4の電気信号を当該第5のサンプリング回路へと供給する第4の信号生成器と、
      前記第4のサンプリング回路の第2の端子および前記第5のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第3のボトムプレートサンプラと、
      前記第4のサンプリング回路の第2の端子、前記第5のサンプリング回路の第2の端子および前記第3のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、当該入力端子の電圧が第2の条件を満足するか否かを検出することによって前記増幅時間信号を生成する第2の検出器と、
      前記増幅時間信号を受け取る制御端子と、前記第4のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記増幅時間信号に依存して第5の電気信号を生成し、当該第5の電気信号を当該第4のサンプリング回路へと供給する第5の信号生成器と
     を具備し、
     前記増幅時間信号は、前記第2の検出器の入力端子の電圧が第2の条件を満足する第2の期間の長さを示し、
     前記時間増幅器の動作は、第1のリセットフェーズ、サンプルフェーズ、第2のリセットフェーズおよび増幅フェーズに区分され、
     前記第1のリセットフェーズにおいて、前記第4のサンプリング容量の第1の端子の電圧はリセット電圧を用いてリセットされ、前記第5のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記リセット電圧を用いてリセットされ、
     前記サンプルフェーズのうち前記第1の期間に亘って、前記第4のサンプリング容量の第1の端子は前記第3の電気信号を受け取り、前記第4のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第3のボトムプレートサンプラによって固定され、前記第5のサンプリング容量の第1の端子は前記第4の電気信号を受け取り、前記第5のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第3のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記第2のリセットフェーズにおいて、前記第4のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記リセット電圧を用いてリセットされ、前記第5のサンプリング容量の第1の端子の電圧は第2の調整用電圧を用いて固定され、
     前記増幅フェーズにおいて、前記第5のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記第2の調整用電圧を用いて固定され、前記第2の検出器は前記増幅時間信号を生成し、前記第5の信号生成器は当該増幅時間信号を受け取って前記第2の期間に亘って前記第5の電気信号を生成し、前記第4のサンプリング容量の第1の端子は前記第5の電気信号を受け取る、
     請求項6記載の増幅回路。
  11.  前記時間増幅器は、
      第1の端子と第2の端子と第3の端子とを持ち、第4のサンプリング容量を含む第4のサンプリング回路と、
      第1の端子と、前記第4のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とを持ち、第5のサンプリング容量を含む第5のサンプリング回路と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第4のサンプリング回路の第1の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第3の電気信号を生成し、当該第3の電気信号を当該第4のサンプリング回路へと供給する第3の信号生成器と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第5のサンプリング回路の第1の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第4の電気信号を生成し、当該第4の電気信号を当該第5のサンプリング回路へと供給する第4の信号生成器と、
      前記第4のサンプリング回路の第2の端子および前記第5のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第3のボトムプレートサンプラと、
      前記第4のサンプリング回路の第2の端子、前記第5のサンプリング回路の第2の端子および前記第3のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、当該入力端子の電圧が第2の条件を満足するか否かを検出することによって前記増幅時間信号を生成する第2の検出器と、
      前記増幅時間信号を遅延させて遅延時間信号を得る遅延素子と、
      前記遅延時間信号を受け取る制御端子と、前記第4のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記遅延時間信号に依存して第5の電気信号を生成し、当該第5の電気信号を当該第4のサンプリング回路へと供給する第5の信号生成器と
     を具備し、
     前記増幅時間信号は、前記第2の検出器の入力端子の電圧が第2の条件を満足する第2の期間の長さを示す、
     請求項6記載の増幅回路。
  12.  前記第2の検出器は、当該第2の検出器の入力端子の電圧を、閾値電圧を基準に論理反転するCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)インバータを含む、請求項7記載の増幅回路。
  13.  入力アナログ信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって第1のディジタル信号を生成し、当該入力アナログ信号の残部に相当する残差信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する第1のアナログ/ディジタル変換部と、
     前記第1のディジタル信号を出力ディジタル信号へと変換するエンコーダと
     を具備し、
     前記第1のアナログ/ディジタル変換部は、前記残差信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する電圧/時間変換器を具備し、
     前記電圧/時間変換器は、
      前記入力アナログ信号を受け取る第1の端子と、第2の端子と、第3の端子とを持ち、第1のサンプリング容量を含む第1のサンプリング回路と、
      前記入力アナログ信号を受け取る第1の端子と、前記第1のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とを持ち、第2のサンプリング容量を含む第2のサンプリング回路と、
      前記第1のサンプリング回路の第2の端子および前記第2のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第1のボトムプレートサンプラと、
      前記第1のサンプリング回路の第2の端子、前記第2のサンプリング回路の第2の端子および前記第1のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、当該入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出することによって前記時間信号を生成する第1の検出器と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第1のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第1の電気信号を生成し、当該第1の電気信号を前記第1のサンプリング回路へと供給する第1の信号生成器と
     を具備し、
     前記時間信号は、前記第1の検出器の入力端子の電圧が前記第1の条件を満足する第1の期間の長さを示す、
     アナログ/ディジタル変換回路。
  14.  前記時間信号を時間/電圧変換することによって前記残差信号を復元し、当該残差信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって第2のディジタル信号を生成する第2のアナログ/ディジタル変換部をさらに具備し、
     前記エンコーダは、前記第1のディジタル信号および前記第2のディジタル信号を前記出力ディジタル信号へと変換し、
     前記第2のアナログ/ディジタル変換部は、
      前記時間信号を時間/電圧変換することによって前記残差信号を復元する電圧/時間変換器と、
      前記残差信号をアナログ/ディジタル変換することによって前記第2のディジタル信号を生成するアナログ/ディジタル変換器と
     を具備し、
     前記電圧/時間変換器は、
      第1の端子と、前記時間/電圧変換器の出力端子に接続される第2の端子とを持ち、第3のサンプリング容量を含む第3のサンプリング回路と、
      前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第3のサンプリング回路の第1の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第2の電気信号を生成し、当該第2の電気信号を当該第3のサンプリング回路へと供給する第2の信号生成器と、
      前記時間/電圧変換器の出力端子および前記第3のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第2のボトムプレートサンプラと
     を具備する、
     請求項13記載のアナログ/ディジタル変換回路。
  15.  前記時間信号を時間/ディジタル変換することによって第2のディジタル信号を生成する第2のアナログ/ディジタル変換部をさらに具備し、
     前記エンコーダは、前記第1のディジタル信号および前記第2のディジタル信号を前記出力ディジタル信号へと変換する、
     請求項13記載のアナログ/ディジタル変換回路。
  16.  入力アナログ信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって出力ディジタル信号を生成し、当該入力アナログ信号の残部に相当する残差信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する電圧/時間変換器であって、
     前記電圧/時間変換器は、
     入力アナログ信号を受け取る第1の端子と、第2の端子と、第3の端子とを持ち、第1のサンプリング容量を含む第1のサンプリング回路と、
     前記入力アナログ信号を受け取る第1の端子と、前記第1のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とを持ち、第2のサンプリング容量を含む第2のサンプリング回路と、
     前記第1のサンプリング回路の第2の端子および前記第2のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第1のボトムプレートサンプラと、
     前記第1のサンプリング回路の第2の端子、前記第2のサンプリング回路の第2の端子および前記第1のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、当該入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出することによって前記時間信号を生成する第1の検出器と、
     前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第1のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第1の電気信号を生成し、当該第1の電気信号を前記第1のサンプリング回路へと供給する第1の信号生成器と、
     前記第1のサンプリング回路の第2の端子、前記第2のサンプリング回路の第2の端子、前記第1のボトムプレートサンプラの第1の端子および前記第1の検出器の入力端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、クロック信号に同期して前記入力端子の電圧と比較基準電圧との比較結果を示すディジタル信号を周期的に生成する第2の検出器と、
     前記第2の検出器の出力端子に接続される入力端子と、制御出力端子と、ディジタル出力端子とを持ち、前記比較結果を示すディジタル信号に基づいて制御信号を周期的に生成し、当該比較結果を示すディジタル信号を蓄積することによって前記出力ディジタル信号を得るSAR(Successive Approximation Register)ロジックと
     を具備し、
     前記時間信号は、前記第1の検出器の入力端子の電圧が前記第1の条件を満足する第1の期間の長さを示し、
     前記電圧/時間変換器の動作は、サンプルフェーズ、リセットフェーズおよび変換フェーズに区分され、
     前記サンプルフェーズにおいて、前記第1のサンプリング容量の第1の端子は前記第1のサンプリング回路の第1の端子に接続され、前記第1のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第1のボトムプレートサンプラによって固定され、前記第2のサンプリング容量の第1の端子は前記第2のサンプリング回路の第1の端子に接続され、前記第2のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第1のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記リセットフェーズにおいて、前記第1のサンプリング容量の第1の端子の電圧はリセット電圧を用いてリセットされ、前記クロック信号が前記第2の検出器に供給され、前記第2の検出器は前記比較結果を示すディジタル信号を周期的に生成し、前記SARロジックは当該比較結果を示すディジタル信号を受け取って前記制御信号を周期的に生成し、前記第2のサンプリング容量の第1の端子の電圧は当該制御信号によって制御される第1の調整用電圧を用いて固定され、
     前記変換フェーズにおいて、前記第2のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記第1の調整用電圧を用いて固定され、前記第1の検出器は前記時間信号を生成し、前記第1の信号生成器は当該時間信号を受け取って前記第1の期間に亘って前記第1の電気信号を生成し、前記第1のサンプリング容量の第1の端子は当該第1の電気信号を受け取る、
     電圧/時間変換器。
  17.  入力アナログ信号の一部をアナログ/ディジタル変換することによって出力ディジタル信号を生成し、当該入力アナログ信号の残部に相当する残差信号を電圧/時間変換することによって時間信号を生成する電圧/時間変換器であって、
     前記電圧/時間変換器の動作は、サンプルフェーズ、リセットフェーズおよび変換フェーズに区分され、
     前記電圧/時間変換器は、
     入力アナログ信号を受け取る第1の端子と、第2の端子と、第3の端子とを持ち、第1のサンプリング容量を含む第1のサンプリング回路と、
     前記入力アナログ信号を受け取る第1の端子と、前記第1のサンプリング回路の第2の端子に接続される第2の端子とを持ち、第2のサンプリング容量を含む第2のサンプリング回路と、
     前記第1のサンプリング回路の第2の端子および前記第2のサンプリング回路の第2の端子に共通に接続される第1の端子を持つ第1のボトムプレートサンプラと、
     前記第1のサンプリング回路の第2の端子、前記第2のサンプリング回路の第2の端子および前記第1のボトムプレートサンプラの第1の端子に共通に接続される入力端子と、出力端子とを持ち、前記リセットフェーズにおいてクロック信号に同期して当該入力端子の電圧と比較基準電圧との比較結果を示すディジタル信号を周期的に生成し、前記変換フェーズにおいて当該入力端子の電圧が第1の条件を満足するか否かを検出することによって前記時間信号を生成する第1の検出器と、
     前記時間信号を受け取る制御端子と、前記第1のサンプリング回路の第3の端子に接続される出力端子とを持ち、前記時間信号に依存して第1の電気信号を生成し、当該第1の電気信号を前記第1のサンプリング回路へと供給する第1の信号生成器と、
     前記第1の検出器の出力端子に接続される入力端子と、制御出力端子と、ディジタル出力端子とを持ち、前記比較結果を示すディジタル信号に基づいて制御信号を周期的に生成し、当該比較結果を示すディジタル信号を蓄積することによって前記出力ディジタル信号を得るSAR(Successive Approximation Register)ロジックと
     を具備し、
     前記時間信号は、前記第1の検出器の入力端子の電圧が前記第1の条件を満足する第1の期間の長さを示し、
     前記サンプルフェーズにおいて、前記第1のサンプリング容量の第1の端子は前記第1のサンプリング回路の第1の端子に接続され、前記第1のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第1のボトムプレートサンプラによって固定され、前記第2のサンプリング容量の第1の端子は前記第2のサンプリング回路の第1の端子に接続され、前記第2のサンプリング容量の第2の端子の電圧は前記第1のボトムプレートサンプラによって固定され、
     前記リセットフェーズにおいて、前記第1のサンプリング容量の第1の端子の電圧はリセット電圧を用いてリセットされ、前記クロック信号が前記第1の検出器に供給され、前記第1の検出器は前記比較結果を示すディジタル信号を周期的に生成し、前記SARロジックは当該比較結果を示すディジタル信号を受け取って前記制御信号を周期的に生成し、前記第2のサンプリング容量の第1の端子の電圧は当該制御信号によって制御される第1の調整用電圧を用いて固定され、
     前記変換フェーズにおいて、前記第2のサンプリング容量の第1の端子の電圧は前記第1の調整用電圧を用いて固定され、前記第1の検出器は前記時間信号を生成し、前記第1の信号生成器は当該時間信号を受け取って前記第1の期間に亘って前記第1の電気信号を生成し、前記第1のサンプリング容量の第1の端子は当該第1の電気信号を受け取る、
     電圧/時間変換器。
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