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WO2013121839A1 - 薄膜太陽電池およびその製造方法 - Google Patents

薄膜太陽電池およびその製造方法 Download PDF

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WO2013121839A1
WO2013121839A1 PCT/JP2013/051290 JP2013051290W WO2013121839A1 WO 2013121839 A1 WO2013121839 A1 WO 2013121839A1 JP 2013051290 W JP2013051290 W JP 2013051290W WO 2013121839 A1 WO2013121839 A1 WO 2013121839A1
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WO
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electrode layer
solar cell
orthogonal
thin film
layer
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Application number
PCT/JP2013/051290
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English (en)
French (fr)
Inventor
哲史 小山
智之 久米
Original Assignee
本田技研工業株式会社
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Publication date
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Priority to US14/378,244 priority patent/US20150020868A1/en
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    • H10F19/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one photovoltaic cell covered by group H10F10/00, e.g. photovoltaic modules
    • H10F19/90—Structures for connecting between photovoltaic cells, e.g. interconnections or insulating spacers
    • H10F19/902—Structures for connecting between photovoltaic cells, e.g. interconnections or insulating spacers for series or parallel connection of photovoltaic cells
    • H10F19/908—Structures for connecting between photovoltaic cells, e.g. interconnections or insulating spacers for series or parallel connection of photovoltaic cells for back-contact photovoltaic cells
    • H—ELECTRICITY
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    • H10F19/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one photovoltaic cell covered by group H10F10/00, e.g. photovoltaic modules
    • H10F19/30—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one photovoltaic cell covered by group H10F10/00, e.g. photovoltaic modules comprising thin-film photovoltaic cells
    • H10F19/31—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one photovoltaic cell covered by group H10F10/00, e.g. photovoltaic modules comprising thin-film photovoltaic cells having multiple laterally adjacent thin-film photovoltaic cells deposited on the same substrate
    • H10F19/33—Patterning processes to connect the photovoltaic cells, e.g. laser cutting of conductive or active layers
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H—ELECTRICITY
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    • H10F77/20—Electrodes
    • H10F77/206—Electrodes for devices having potential barriers
    • H10F77/211—Electrodes for devices having potential barriers for photovoltaic cells
    • H10F77/219—Arrangements for electrodes of back-contact photovoltaic cells
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Definitions

  • the present invention relates to a method of manufacturing a thin film solar cell such as a chalcopyrite thin film solar cell having a light absorbing layer of a chalcopyrite-based compound, and more particularly to a technology for improving the solar cell output of the thin film solar cell.
  • Solar cells are roughly classified into types such as single crystal solar cells such as silicon, polycrystalline solar cells, thin film solar cells, etc. Of these, thin film solar cells are compared with other solar cells of the same output. Commercialization development is promoted from the advantage that the amount of raw materials used is small and the manufacturing process is simple and energy is low.
  • a chalcopyrite-type thin film solar cell which is a type of thin film solar cell, is a p-type light absorbing CIGS layer composed of a chalcopyrite-based compound (for example, Cu (In 1-x Ga x ) Se 2 , hereinafter abbreviated as CIGS) It has as a layer and consists of a substrate, a back electrode layer, a p-type light absorption layer, an n-type buffer layer, and a transparent electrode layer as a basic structure, and it emits electricity from light and back electrode It can be taken out.
  • CIGS Cu (In 1-x Ga x ) Se 2
  • FIG. 1 A plan view showing a light receiving surface of a general chalcopyrite thin film solar cell provided with such a CIGS layer as a light absorbing layer is shown in FIG. 1, and a sectional view taken along line AA in FIG. 1 is shown in FIG.
  • a back electrode layer 11 (11a to 11d) functioning as a positive electrode is formed on a substrate 10 by sputtering or the like.
  • the light absorbing layer 12 (12a to 12d) containing Cu-In-Ga-Se hereinafter, both the p-type light absorbing layer and the n-type buffer layer are simply referred to as a light absorbing layer).
  • the transparent electrode layer 13 (13a to 13d) made of ZnO, ZnAlO or the like is formed.
  • cell a 11a, 12a and 13a
  • cell b 11b, 12b and 13b
  • cell c 11c, 12c and 13c
  • cell d 11d, 12d and 13d
  • FIGS. 3A to 3B The lamination process of a thin film solar cell in which a plurality of cells are connected in series in order to obtain such a desired voltage is shown in FIGS.
  • the back electrode layer 11 functioning as a positive electrode is formed on the glass substrate 10 by sputtering or the like
  • the back electrode layer 11 is a metal needle or the like Is divided into a plurality of areas 11a and 11b by cutting means such as physical scribing.
  • FIG. 3D a light absorbing layer precursor made of Cu--In--Ga is formed on the back surface electrode layer 11, and then a process of diffusing Se in the light absorbing layer precursor is performed, and CIGS is formed.
  • FIG. 3 (d) A state in which the light absorption layer 12 composed of the p-type light absorption layer and the buffer layer is laminated is shown in FIG. 3 (d). Subsequently, in FIG. 3 (e), the light absorption layer 12 is divided into a plurality of regions 12a and 12b by the cutting means. Finally, in FIG. 3 (f), the transparent electrode layer 13 is formed on the light absorption layer 12, and in FIG. 3 (g), the transparent electrode layer 13 and the light absorption layer 12 are cut by the cutting means. A known thin film solar cell is obtained in which the layer 13 is divided into a plurality of regions 13a and 13b and a plurality of cells are connected in series.
  • the divided back electrode layer 11a is used as a positive electrode
  • the divided transparent electrode layer 13a is used as a negative electrode.
  • a unit cell holding the light absorption layer 12a divided between them, and the divided back electrode layer 11b with the divided back electrode layer 11b as the negative electrode, and the light absorption layer 12b divided between them with the divided back electrode layer 11b as the positive electrode A unit cell is formed, and the L-shaped lower end portion of the transparent electrode layer 13a is connected to the back electrode layer 11b of the adjacent unit cell, whereby a structure in which these unit cells are connected in series is obtained. Furthermore, similarly, a thin film solar cell in which a desired number of single cells are connected in series can be formed.
  • a cover glass is laminated on a substrate on which a solar cell element is formed via a sealing material, and the back sheet of the substrate is covered with a back sheet.
  • Patent Document 1 discloses a so-called laminated glass structure in which the back sheet is omitted and a sealing material is disposed at the peripheral portions of the substrate glass and the cover glass.
  • the back electrode layer 11 made of metal such as molybdenum is strongly fixed to the glass substrate 10, and in order to remove the back electrode layer 11 to expose the substrate 10, it was necessary to perform laser irradiation with high output. .
  • the end 32 of the light absorption layer 12 in FIG. 4B is thermally modified to increase the conductivity, and the back electrode layer 11 and the transparent electrode layer 13 are obtained. There is a possibility that a leak current may be generated between them to lower the shunt resistance or cause a short circuit in the worst case.
  • the first region 40 is made high as a technique for suppressing the phenomenon that the end portion of the light absorption layer is reformed by heat and adversely affects the solar cell element as described above.
  • a technique is conceivable in which the laser is removed by an output, and before and after that, the second region 41 is removed by scribing to expose the back electrode layer 11. According to this technique, since the light absorption layer 12 remaining as a solar cell element and the region 40 removed by the high-power laser are not in direct contact with each other, the adverse effect of heat on the light absorption layer 12 is suppressed. .
  • An object of the present invention is to provide a manufacturing method that can be realized by a processing step, and a solar cell manufactured by the method.
  • the present invention is a thin film solar cell formed by laminating a back electrode layer, a light absorption layer, and a transparent electrode layer on a substrate, dividing the cell into a plurality of cells by scribing grooves, and connecting the cells in series.
  • An orthogonal groove is formed inside the end of the side orthogonal to the scribed groove of the solar cell, wherein the orthogonal groove is formed by removing the upper part from the back surface electrode at right angles to the scribed groove.
  • the present invention is the method for manufacturing a thin film solar cell, wherein the step of forming a back electrode layer on the upper surface of a substrate, the step of cutting the back electrode layer and dividing it into a plurality of back electrode layers; Forming a light absorbing layer and a transparent electrode layer on a plurality of back electrodes; cutting the light absorbing layer and the transparent electrode layer to form a scribe groove; and dividing the solar cell element; The step of forming a new end face by laser-irradiating the solar cell element at the end of the side orthogonal to and removing the irradiated back electrode layer, light absorption layer and transparent electrode layer, and inside the new end face, And F. forming an orthogonal groove formed by removing the upper portion from the back surface electrode layer perpendicularly to the scribed groove.
  • the present invention is the method for manufacturing a thin film solar cell, comprising the steps of: forming a back electrode layer on the upper surface of a substrate; cutting the back electrode layer and dividing it into a plurality of back electrode layers; Forming a light absorbing layer and a transparent electrode layer on a plurality of back electrodes; cutting the light absorbing layer and the transparent electrode layer to form a scribe groove; and dividing the solar cell element; A step of mechanically forming an orthogonal groove formed by removing an upper portion from the back surface electrode layer of the solar cell element at an end of the orthogonal side, orthogonal to the scribed groove, and a substrate end of the side orthogonal to the scribed groove Irradiating the laser to a portion separated from the orthogonal groove of the solar cell element remaining in the portion by a predetermined distance or more, and removing the irradiated back electrode layer, the light absorption layer and the transparent electrode layer; There is.
  • the peripheral portion of the thin film solar cell in which the back electrode layer and the transparent electrode layer were short-circuited due to the heat of the laser was removed by a predetermined width while the region including the affected portion was removed.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1 showing a basic structure of a thin film solar cell. It is a schematic cross section which shows the manufacturing process of a thin film solar cell.
  • the peripheral part process process of the conventional thin film solar cell is shown, (a) is a top view, (b) is a BB sectional view or CC sectional view in (a).
  • the peripheral part process process of the conventional thin film solar cell is shown, (a) is a top view, (b) is a DD sectional view in an (a) line, or an EE sectional view.
  • the peripheral part process process of the thin film solar cell of this invention is shown, (a) is a top view, (b) is the FF sectional view taken on the line in (a). It is a graph which shows FF (Fill Factor) of an example and a comparative example. It is a graph which shows Rsh (shunt resistance) of an example and a comparative example. It is a graph which shows Pmax (maximum output) of an example and a comparative example.
  • a back electrode layer 11 made of metal Mo or the like that functions as a positive electrode is a metal Mo target or the like. It forms into a film by sputtering method etc. using.
  • the back electrode layer has a scribing blade at its tip or is cut by a cutting means that cuts with a laser, and as shown in FIG. 3C, it is divided into back electrode layers 11a and 11b divided into a plurality by separation grooves. It is divided.
  • the light absorption layer precursor comprising a Cu-In-Ga is deposited, followed by heat treatment in hydrogen selenide (H 2 Se) Atmosphere As a result, a process of diffusing Se in the light absorption layer precursor is performed to form a p-type light absorption layer made of CIGS.
  • a buffer layer made of, for example, CdS, ZnS, or InS is formed on the light absorption layer by a chemical deposition method (Chemical Bath Deposition method, CBD method).
  • CBD method Chemical Bath Deposition method
  • the light absorption layer 12 is divided into a plurality of regions 12a and 12b by the cutting means. Further, in FIG. 3F, a transparent electrode layer 13 made of ZnO, ZnAlO or the like is formed on the light absorption layer 12.
  • the transparent electrode layer 13 and the light absorption layer 12 are cut together by the cutting means, the transparent electrode layer 13 is divided into a plurality of regions 13a and 13b, and a plurality of cells are connected in series. A thin film solar cell is obtained.
  • the obtained thin film solar cell and a cover glass (not shown) are laminated to form a glass structure, and a space for filling the sealing material around the solar cell element is provided. enter.
  • the back electrode layer 11, the light absorption layer 12, and the transparent electrode layer 13 are removed from the substrate 10 in the region 42.
  • a high power laser with an output of 15 W has to be irradiated. Due to the irradiation of such a high power laser, at the end 34, the Cu / In ratio of the light absorbing layer is increased or the light absorbing layer 12 is reformed, the conductivity is improved, and the shunt resistance is reduced or A short circuit had happened.
  • the present invention is characterized in that orthogonal grooves 20 orthogonal to a plurality of scribe grooves for dividing the unit cell are provided at a position separated from the end portion 34 by the thermal relaxation distance 43.
  • the modified electrically conductive end 34 present between the back electrode layer 11 and the transparent electrode layer 13 is electrically separated from the right side of the orthogonal groove 20, ie, the solar cell element Therefore, it is possible to solve the problem of the adverse effect that a reduction in shunt resistance or a short circuit has on the entire solar cell element.
  • the orthogonal groove 20 may be formed by mechanically scribing a linear groove with a cutting means such as a needle, so it is not necessary to remove all the portions corresponding to the thermal relaxation distance 43 as in the prior art. Efficiency is improving. Further, as shown in FIG. 6B, in the orthogonal groove 20, the back surface electrode layer 11 may not necessarily be completely removed, and if at least a large part of the light absorption layer 12 is removed, the orthogonal groove is The left and right portions of 20 can be isolated. Therefore, in addition to mechanical cutting means, it is also possible to use chemical methods such as low power laser and chemical etching.
  • the thermal relaxation distance 43 in the present invention is about 10 ⁇ m to 1 mm, preferably several hundred ⁇ m.
  • the thermal relaxation distance 43 is appropriately set by the output of the high power laser when removing the region 42.
  • the width 44 of the orthogonal groove 20 in the present invention is not particularly limited as long as the regions on both sides are insulated by at least the orthogonal groove 20, and selection of cutting means such as laser, needle or etching selected to form the orthogonal groove Depends on Usually, the width of the orthogonal groove is several ⁇ m to several tens of ⁇ m.
  • the orthogonal groove 20 is formed by a mechanical method such as a needle, a low output laser, or chemical etching, so that the light absorption layer facing this groove does not have an adverse effect of giving conductivity. Further, removing the entire end vicinity region with a needle takes time and costs are increased, but in the present invention, since only one orthogonal groove is cut, there is no such a possibility.
  • the short circuit portion of the solar cell end portion is the whole solar cell by separating the portion where the back electrode layer of the solar cell peripheral portion and the transparent electrode layer are shorted by the orthogonal groove. Prevent impact.
  • Example 1 A thin film solar cell in which a back electrode layer with a thickness of 0.4 ⁇ m, a light absorption layer with a thickness of 1.4 ⁇ m, and a transparent electrode layer with a thickness of 0.6 ⁇ m are sequentially formed on a glass substrate by the above-described manufacturing method did.
  • the removal area 42 of the solar cell peripheral part shown in FIG. 6 was 6.4 mm and was removed with a laser of 15 W output.
  • Orthogonal grooves were formed at each end of the solar cell at the thermal relaxation distance, and the thin film solar cell of Example 1 was obtained.
  • the thermal relaxation distance 43 was 100 ⁇ m
  • the width 44 of the orthogonal groove 20 was 40 ⁇ m, so that 60 ⁇ m was left outside the orthogonal groove.
  • Comparative Example 1 A thin film solar cell of Comparative Example 1 shown in FIG. 4 was manufactured in the same manner as Example 1 except that the orthogonal grooves were not formed.
  • Comparative Example 2 From the end of the thin film solar cell of Comparative Example 1, 100 ⁇ m equal to the thermal relaxation distance of Example 1 was completely removed by a needle, and a thin film solar cell of Comparative Example 2 shown in FIG. 5 was manufactured.
  • the maximum output Pmax is a maximum generated power value (W) under predetermined conditions (incident energy, temperature, air permeation amount AM) of the thin film solar cell.
  • the shunt resistance R sh is the resistance value ( ⁇ ) of the solar cell element, and depends on the leakage current due to the modification of the light absorption layer.
  • FF is the ratio of P 0 to P max P max / P 0 where P 0 is the ideal maximum output which is the product of open circuit voltage V 0 and short circuit current I 0 in the VI characteristic curve of the solar cell. The larger, the better.
  • Example 1 in which the portion is separated As shown in the graphs of FIGS. 7 to 9, Example 1 in which the portion is separated and Comparative Example 2 in which the portion is removed from Comparative Example 1 in which the solar cell element end portion is affected by the heat of the laser. In each case, it was found that each performance was improved.
  • Example 1 in comparison of Example 1 and Comparative Example 2, although both are equivalent in various performances, in the removal process of the end region in Comparative Example 2 and the formation process of the orthogonal groove in Example 1, The processing time was shorter. That is, according to the present invention, it was shown that a thin film solar cell having performance equivalent to that of Comparative Example 2 can be manufactured more efficiently.
  • Thin film solar cell 10 ... board, 11 ... back electrode layer, 11a to 11d: divided back electrode layers, 12 ... light absorption layer, 12a to 12d ... divided light absorbing layer, 13 ... Transparent electrode layer, 13a to 13d: divided transparent electrode layers, 20 ... orthogonal groove, 30 to 34 ... end, 40 to 42 ... removal area, 43 ... thermal relaxation distance, 44: Width of orthogonal grooves.

Landscapes

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Abstract

　薄膜太陽電池の周縁部のレーザの熱によって裏面電極層と透明電極層が短絡した領域を、従来よりも容易な加工工程で太陽電池素子から切り離す。基板上に、裏面電極層、光吸収層、透明電極層が積層してなり、スクライブ溝により複数の単電池に分割され、単電池が直列に接続してなる薄膜太陽電池であって、太陽電池のスクライブ溝と直交する辺の端部の内側に、スクライブ溝と直交し裏面電極より上部を除去した直交溝が形成されている薄膜太陽電池。また、この薄膜太陽電池の製造方法は、スクライブ溝とは直交する辺の端部の太陽電池素子にレーザ照射し、照射された裏面電極層、光吸収層および透明電極層を除去して新たな端面を形成する工程と、新たな端面の内側に、裏面電極層より上部を除去してなる直交溝を、スクライブ溝に直交して機械的に形成する工程と、を有する。

Description

薄膜太陽電池およびその製造方法
　本願発明は、光吸収層がカルコパイライト系化合物からなるカルコパイライト型薄膜太陽電池などの薄膜太陽電池の製造方法に係り、特に、薄膜太陽電池の太陽電池出力を向上させる技術に関する。
　太陽電池は、シリコンなどの単結晶型太陽電池、多結晶型太陽電池、薄膜太陽電池などの種類に大別され、これらのうち薄膜型のものは、同出力の他の太陽電池と比較して原料の使用量が少なく、また、製造プロセスが簡易かつ低エネルギーで済むという利点から、商品化開発が進められている。
　薄膜型太陽電池の一種であるカルコパイライト型薄膜太陽電池は、カルコパイライト系化合物（例えばＣｕ（Ｉｎ１－ｘＧａｘ）Ｓｅ２、以下ＣＩＧＳと略称する）からなるＣＩＧＳ層をｐ型の光吸収層として有し、基本的な構造として、基板、裏面電極層、ｐ型光吸収層、ｎ型バッファ層、透明電極層からなり、光を照射することによって裏面電極層と透明電極層から電気を取り出すことができる。
　このようなＣＩＧＳ層を光吸収層として備えた一般的なカルコパイライト型薄膜太陽電池の受光面を示す平面図を図１に、図１のＡ－Ａ線断面図を図２に示す。この電池は、基板上１０に、スパッタリング等により、正極として機能する裏面電極層１１（１１ａ～１１ｄ）が形成されている。裏面電極層１１上には、Ｃｕ－Ｉｎ－Ｇａ－Ｓｅを含む光吸収層１２（１２ａ～１２ｄ）（以下、ｐ型光吸収層、ｎ型バッファ層の両者を併せて単に光吸収層と称する場合がある）が形成され、その上にＺｎＯやＺｎＡｌＯ等からなる透明電極層１３（１３ａ～１３ｄ）が形成されている。図２に示すように、単電池ａ（１１ａ、１２ａおよび１３ａ）、単電池ｂ（１１ｂ、１２ｂおよび１３ｂ）、単電池ｃ（１１ｃ、１２ｃおよび１３ｃ）および単電池ｄ（１１ｄ、１２ｄおよび１３ｄ）は、隣接する裏面電極層と透明電極層が接続されることによって、直列に接続されている。
　このような所望の電圧を得るために単電池が複数直列接続された薄膜太陽電池の積層工程を図３（ａ）～（ｇ）に示す。まず、図３（ａ）～（ｂ）において、ガラス基板上１０に、正極として機能する裏面電極層１１がスパッタリング等により形成され、図３（ｃ）において、裏面電極層１１が、金属針等による物理的なスクライブ等の切削手段により複数の領域１１ａおよび１１ｂに分割される。次に、図３（ｄ）において、裏面電極層１１上には、Ｃｕ－Ｉｎ－Ｇａからなる光吸収層プリカーサを成膜し、続いて光吸収層プリカーサにＳｅを拡散させる処理を行いＣＩＧＳからなるｐ型光吸収層が形成される。さらに、光吸収層の上にバッファ層が形成される。これらｐ型光吸収層およびバッファ層から構成される光吸収層１２が積層された状態が図３（ｄ）に示されている。続いて、図３（ｅ）において、切削手段により光吸収層１２が複数の領域１２ａおよび１２ｂに分割される。最後に、図３（ｆ）において、光吸収層１２上に、透明電極層１３が形成され、図３（ｇ）において、切削手段により透明電極層１３および光吸収層１２を切削し、透明電極層１３が複数の領域１３ａおよび１３ｂに分割され、単電池が複数直列接続された、公知の薄膜太陽電池が得られる。
　このような製造方法によれば、積層工程と分割工程を繰り返すことにより、図３（ｇ）に示すように、分割された裏面電極層１１ａを正極とし、分割された透明電極層１３ａを負極として、その間に分割された光吸収層１２ａを保持した単電池および、分割された裏面電極層１１ｂを正極とし、分割された透明電極層１３ｂを負極として、その間に分割された光吸収層１２ｂを保持した単電池が形成され、透明電極層１３ａのＬ字状下端部が隣接する単電池の裏面電極層１１ｂに接続される形で、これら単電池が直列接続された構造が得られる。さらに、同様にして、所望の数の単電池が直列に接続された薄膜太陽電池を形成することができる。
　従来、このような太陽電池をモジュールに封入した構造として、太陽電池素子が形成された基板に封止材を介してカバーガラスを積層し、基板のカバーガラスとは反対の面をバックシートで覆ったものが知られている。
　一方、前記バックシートを省略し、基板ガラスとカバーガラスの周縁部にシール材を配した所謂合わせガラス構造が特許文献１に開示されている。
　ところが、合わせガラス構造では、ガラス基板端部にシール部を形成するスペースが必要となるため、図４（ａ）および（ｂ）に示すように、太陽電池素子の周縁部の領域４０を除去して、基板１０を露出させなければならない。
　ところが、モリブデン等の金属で構成された裏面電極層１１はガラス基板１０に強く固着しており、これを除去して基板１０を露出させるためには、出力の高いレーザ照射を行う必要があった。
　しかしながら、そのような高出力のレーザを使用した場合、図４（ｂ）の光吸収層１２の端部３２が熱によって改質されて導電性が増大し、裏面電極層１１と透明電極層１３との間にリーク電流が発生してシャント抵抗を低下させたり、最悪の場合には短絡させたりする虞があった。
　このように光吸収層の端部が熱によって改質され太陽電池素子へ悪影響を与える現象を抑制する技術として、図５（ａ）および（ｂ）に示すように、第１の領域４０を高出力のレーザによって除去し、さらに、その前後に、第２の領域４１をスクライブによって除去して裏面電極層１１を露出させる技術が考えられる。この技術によれば、太陽電池素子として残存する光吸収層１２と、高出力のレーザで除去される領域４０が直接的に接していないので、光吸収層１２への熱の悪影響が抑制される。
特開２００９－１８８３５７号公報
　しかしながら、この方法では、領域４０に加えて、ある程度の幅を有する領域４１をも除去する必要があることから、その分、加工に時間を要し、製造効率が低下するという問題があった。
　本願発明は、上記状況に鑑みてなされたものであり、薄膜太陽電池の周縁部のレーザの熱によって裏面電極層と透明電極層が短絡した領域を太陽電池素子から切り離すに際し、従来よりも容易な加工工程で実現することができる製造方法、およびその方法により製造した太陽電池を提供することを目的としている。
　本発明は、基板上に、裏面電極層、光吸収層、透明電極層が積層してなり、スクライブ溝により複数の単電池に分割され、単電池が直列に接続してなる薄膜太陽電池であって、太陽電池のスクライブ溝と直交する辺の端部の内側に、スクライブ溝と直交し裏面電極より上部を除去した直交溝が形成されていることを特徴としている。
　また、本発明は、前記薄膜太陽電池の製造方法であって、基板上の上面に裏面電極層を成膜する工程と、裏面電極層を切削して複数の裏面電極層に分割する工程と、複数の裏面電極上に光吸収層および透明電極層を成膜する工程と、光吸収層および透明電極層を切削してスクライブ溝を形成し、太陽電池素子の分割を行う工程と、スクライブ溝とは直交する辺の端部の太陽電池素子にレーザ照射し、照射された裏面電極層、光吸収層および透明電極層を除去して新たな端面を形成する工程と、新たな端面の内側に、裏面電極層より上部を除去してなる直交溝を、スクライブ溝に直交して機械的に形成する工程と、を有することを特徴としている。
　さらに、本発明は、前記薄膜太陽電池の製造方法であって、基板上の上面に裏面電極層を成膜する工程と、裏面電極層を切削して複数の裏面電極層に分割する工程と、複数の裏面電極上に光吸収層および透明電極層を成膜する工程と、光吸収層および透明電極層を切削してスクライブ溝を形成し、太陽電池素子の分割を行う工程と、スクライブ溝とは直交する辺の端部の太陽電池素子の裏面電極層より上部を除去してなる直交溝を、スクライブ溝に直交して機械的に形成する工程と、スクライブ溝とは直交する辺の基板端部に残る太陽電池素子の直交溝から所定距離以上離間した部分に対してレーザを照射し、照射された裏面電極層、光吸収層および透明電極層を除去する工程と、を有することを特徴としている。
　本発明においては、レーザ照射により改質された新たな端面から、光吸収層が改質の影響を受けていない熱緩和距離だけ離れた箇所に直交溝を形成することを好ましい態様としている。
　従来は、レーザの熱の影響により裏面電極層と透明電極層が短絡した薄膜太陽電池の周縁部を、当該影響を受けた部分を含む領域を所定の幅で除去していたのに対し、本発明によれば、線状の直交溝を形成するだけで影響を受けた部分を太陽電池素子から電気的に切り離すことができるため、加工が容易であり、これにより薄膜太陽電池の製造効率が向上するという効果を奏する。
薄膜太陽電池の基本構造を示す平面図である。 薄膜太陽電池の基本構造を示し、図１におけるＡ－Ａ線断面図である。 薄膜太陽電池の製造工程を示す模式断面図である。 従来の薄膜太陽電池の周縁部処理工程を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）におけるＢ－Ｂ線断面図あるいはＣ－Ｃ線断面図である。 従来の薄膜太陽電池の周縁部処理工程を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）におけるＤ－Ｄ線断面図あるいはＥ－Ｅ線断面図である。 本発明の薄膜太陽電池の周縁部処理工程を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）におけるＦ－Ｆ線断面図である。 実施例と比較例のＦＦ（Ｆｉｌｌ　Ｆａｃｔｏｒ）を示すグラフである。 実施例と比較例のＲｓｈ（シャント抵抗）を示すグラフである。 実施例と比較例のＰｍａｘ（最大出力）を示すグラフである。
　以下、本発明の実施形態について、図を参照しながら更に詳細に説明する。
　本発明のカルコパイライト型薄膜太陽電池の製造方法を説明する。すなわち、まず、図３（ａ）～（ｂ）に示すように、ソーダライムガラス（ＳＬＧ）等からなる基板上１０に、正極として機能する金属Ｍｏ等からなる裏面電極層１１が金属Ｍｏターゲット等を用いてスパッタリング法等により成膜される。
　裏面電極層は、先端にスクライブ刃を有するか、あるいはレーザにより切削を行う切削手段によって切削され、図３（ｃ）に示すように、分離溝によって複数に分割された裏面電極層１１ａおよび１１ｂに分割される。次に、図３（ｄ）に示すように、裏面電極層１１上に、Ｃｕ－Ｉｎ－Ｇａからなる光吸収層プリカーサが成膜され、続いてセレン化水素（Ｈ２Ｓｅ）雰囲気中熱処理することにより光吸収層プリカーサにＳｅを拡散させる処理を行いＣＩＧＳからなるｐ型光吸収層が形成される。さらに、光吸収層の上に化学析出法（Ｃｈｅｍｉｃａｌ　Ｂａｔｈ　Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ法、ＣＢＤ法）によって例えばＣｄＳやＺｎＳ、ＩｎＳからなるバッファ層が形成される。これらｐ型光吸収層およびバッファ層から構成される光吸収層１２が積層された状態が図３（ｄ）に示されている。
　次に、図３（ｅ）において、切削手段により光吸収層１２が複数の領域１２ａおよび１２ｂに分割される。また、図３（ｆ）において、光吸収層１２上に、ＺｎＯやＺｎＡｌＯ等からなる透明電極層１３が形成される。
　最後に、図３（ｇ）において、切削手段により透明電極層１３および光吸収層１２を共に切削し、透明電極層１３が複数の領域１３ａおよび１３ｂに分割され、単電池が複数直列接続された薄膜太陽電池が得られる。
　続いて、得られた薄膜太陽電池と、図示省略したカバーガラスとを合わせガラス構造とし、太陽電池素子の周囲にシール材を充填するスペースを設けるために、太陽電池素子の周縁部の除去工程に入る。この工程では、図６に示すように、領域４２において基板１０から裏面電極層１１、光吸収層１２および透明電極層１３を除去する。
　裏面電極層１１は、基板１０に対して強固に固着しているため、この除去工程においては、スクライブのような機械的な切削手段によって領域４２のような広範囲に亘る除去を行うことは困難である。
　そのため、この領域４２を除去するためには、例えば出力１５Ｗの高出力レーザを照射しなければならない。このような高出力レーザの照射のため、端部３４では、光吸収層のＣｕ／Ｉｎ比が増大するなどして光吸収層１２が改質され、導電性が向上し、シャント抵抗の低下あるいは短絡が起こってしまっていた。
　本発明においては、端部３４から熱緩和距離４３だけ離れた箇所に、単電池を分割する複数のスクライブ溝に直交する直交溝２０が設けられていることを特徴としている。この直交溝２０によれば、裏面電極層１１と透明電極層１３との間に存在する改質され導電性を有する端部３４が、直交溝２０の右側すなわち太陽電池素子から電気的に切り離されているから、シャント抵抗の低下や短絡が太陽電池素子全体に及ぼす悪影響の問題を解決することができる。
　直交溝２０は、ニードル等の切削手段で機械的に線状の溝をスクライブして形成すればよいので、従来のように、熱緩和距離４３に相当する部分全てを除去する必要がなく、加工効率が向上している。また、図６（ｂ）に示すように、直交溝２０においては、必ずしも裏面電極層１１を完全に除去しなくてもよく、少なくとも光吸収層１２の大部分が除去されていれば、直交溝２０の左部分と右部分を絶縁することができる。そのため、機械的な切削手段の他にも、低出力のレーザや、ケミカルエッチングといった化学的な手法を用いることもできる。
　本発明における熱緩和距離４３は、１０μｍ～１ｍｍ程度であり、好ましくは数百μｍである。この熱緩和距離４３は、領域４２を除去する際の高出力レーザの出力により、適宜設定される。
　本発明における直交溝２０の幅４４は、少なくとも直交溝２０によってその両側の領域が絶縁されていれば特に限定されず、直交溝を形成するために選択するレーザやニードルやエッチングといった切削手段の選定に依存する。通常、直交溝の幅は、数μｍ～数十μｍである。
　直交溝２０は、ニードル等の機械的な方法や、低出力のレーザ、ケミカルエッチングで形成するため、この溝に面する光吸収層には、導電性を与えるといった悪影響が出ない。また、端部近傍領域全体をニードルで除去すると時間が掛かりコストが上昇するが、本発明では直交溝を１本切るだけなので、そのような虞がない。
　以上説明したように、本発明によれば、太陽電池周縁部の裏面電極層と透明電極層とが短絡した部分を直交溝で分離することにより、太陽電池端部の短絡部分が太陽電池全体に影響することを防止する。
　以下、実施例および比較例によって本発明をより詳細に説明する。
［実施例１］
　上述した製造方法により、ガラス基板上に、厚さ０．４μｍの裏面電極層、厚さ１．４μｍの光吸収層、および厚さ０．６μｍの透明電極層を順次形成した薄膜太陽電池を製造した。図６に示す太陽電池周縁部の除去領域４２は、６．４ｍｍとして、これを出力１５Ｗのレーザで除去した。熱緩和距離において直交溝を太陽電池の両端に１本ずつ形成し、実施例１の薄膜太陽電池とした。なお、熱緩和距離４３は１００μｍ、直交溝２０の幅４４は４０μｍとして、直交溝の外側に６０μｍ残存させた状態とした。
［比較例１］
　直交溝を形成しなかった以外は実施例１と同様にして、図４に示す比較例１の薄膜太陽電池を製造した。
［比較例２］
　比較例１の薄膜太陽電池の端部から、実施例１の熱緩和距離と等しい１００μｍをニードルにより全て除去し、図５に示す比較例２の薄膜太陽電池を製造した。
　実施例１および比較例１、２の薄膜太陽電池について、ＦＦ（Ｆｉｌｌ　Ｆａｃｔｏｒ）、シャント抵抗Ｒｓｈ、最大出力Ｐｍａｘを測定した。これらの結果を図７～９のグラフに示す。 
　なお、最大出力Ｐｍａｘは、薄膜太陽電池の所定条件（入射エネルギー、温度、空気透過量ＡＭ）における最大発電電力値（Ｗ）である。シャント抵抗Ｒｓｈは、太陽電池素子の抵抗値（Ω）であり、光吸収層の改質による漏れ電流に依存する。また、ＦＦは、太陽電池のＶ－Ｉ特性曲線における開放電圧Ｖ０と短絡電流Ｉ０の積である理想最大出力をＰ０とした場合の、Ｐ０とＰｍａｘの比Ｐｍａｘ／Ｐ０であり、大きいほど好ましい。
　図７～９のグラフに示すように、太陽電池素子端部がレーザの熱の影響を受けた比較例１に対して、当該部分を分離させた実施例１および当該部分を除去した比較例２は、いずれも各性能が向上していることが分かった。
　また、実施例１と比較例２の比較では、諸性能面では両者は同等であるが、比較例２における端部領域の除去工程と実施例１における直交溝の形成工程では、実施例１の方が加工時間が短かった。すなわち、本発明によれば、比較例２と同等の性能を有する薄膜太陽電池を、より効率よく製造できることが示された。
　高発電効率を有するカルコパイライト型薄膜太陽電池の製造に有望である。
１…薄膜太陽電池、
１０…基板、
１１…裏面電極層、
１１ａ～１１ｄ…分割された裏面電極層、
１２…光吸収層、
１２ａ～１２ｄ…分割された光吸収層、
１３…透明電極層、
１３ａ～１３ｄ…分割された透明電極層、
２０…直交溝、
３０～３４…端部、
４０～４２…除去領域、
４３…熱緩和距離、
４４…直交溝の幅。
 

Claims (4)

  1. 　基板上に、裏面電極層、光吸収層、透明電極層が積層してなり、スクライブ溝により複数の単電池に分割され、前記単電池が直列に接続してなる薄膜太陽電池であって、 
    　前記太陽電池のスクライブ溝と直交する辺の端部の内側に、前記スクライブ溝と直交し前記裏面電極より上部を除去した直交溝が形成されていることを特徴とする薄膜太陽電池。
  2. 　請求項１に記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、
    　基板上の上面に裏面電極層を成膜する工程と、
    　前記裏面電極層を切削して複数の裏面電極層に分割する工程と、
    　前記複数の裏面電極上に光吸収層および透明電極層を成膜する工程と、
    　前記光吸収層および前記透明電極層を切削してスクライブ溝を形成し、太陽電池素子の分割を行う工程と、
    　前記スクライブ溝とは直交する辺の端部の太陽電池素子にレーザ照射し、照射された裏面電極層、光吸収層および透明電極層を除去して新たな端面を形成する工程と、
    　前記新たな端面の内側に、前記裏面電極層より上部を除去してなる直交溝を、前記スクライブ溝に直交して機械的に形成する工程と、を有することを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
  3. 　請求項１に記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、
    　基板上の上面に裏面電極層を成膜する工程と、
    　前記裏面電極層を切削して複数の裏面電極層に分割する工程と、
    　前記複数の裏面電極上に光吸収層および透明電極層を成膜する工程と、
    　前記光吸収層および前記透明電極層を切削してスクライブ溝を形成し、太陽電池素子の分割を行う工程と、
    　前記スクライブ溝とは直交する辺の端部の太陽電池素子の前記裏面電極層より上部を除去してなる直交溝を、前記スクライブ溝に直交して機械的に形成する工程と、
    　前記スクライブ溝とは直交する辺の基板端部に残る太陽電池素子の前記直交溝から所定距離以上離間した部分に対してレーザを照射し、照射された裏面電極層、光吸収層および透明電極層を除去する工程と、を有することを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
  4. 　前記レーザ照射により改質された前記新たな端面から、前記光吸収層が改質の影響を受けていない熱緩和距離だけ離れた箇所に前記直交溝を形成することを特徴とする請求項２または３に記載の薄膜太陽電池の製造方法。
     
     
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104332530A (zh) * 2014-11-05 2015-02-04 四川钟顺太阳能开发有限公司 一种降低切割后太阳电池效率损失的方法以及该方法生产的太阳电池

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015121141B4 (de) * 2015-12-04 2020-06-04 Solibro Hi-Tech Gmbh Dünnschichtsolarmodul
CN109256432A (zh) * 2018-10-18 2019-01-22 广东汉能薄膜太阳能有限公司 一种薄膜电池及其制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006253417A (ja) * 2005-03-10 2006-09-21 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 太陽電池パネル及び太陽電池パネルの製造方法
JP2007035695A (ja) * 2005-07-22 2007-02-08 Kaneka Corp 集積型薄膜太陽電池モジュール
JP2011138969A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 薄膜太陽電池モジュールの検査方法及び薄膜太陽電池モジュールの製造方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101168811B1 (ko) * 2008-05-15 2012-07-25 가부시키가이샤 아루박 박막 태양전지 모듈의 제조 방법 및 박막 태양전지 모듈
JP4773543B2 (ja) * 2009-04-17 2011-09-14 昭和シェル石油株式会社 エッジスペースを備えた太陽電池モジュール
JP5490808B2 (ja) * 2009-09-04 2014-05-14 株式会社アルバック 太陽電池モジュールの製造方法及び太陽電池モジュールの製造装置
US20110262712A1 (en) * 2010-04-22 2011-10-27 Primestar Solar, Inc. Method for increasing the working surface area of a photovoltaic (pv) module and associated substrates
WO2013090573A1 (en) * 2011-12-13 2013-06-20 First Solar, Inc. Mitigating photovoltaic module stress damage through cell isolation

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006253417A (ja) * 2005-03-10 2006-09-21 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 太陽電池パネル及び太陽電池パネルの製造方法
JP2007035695A (ja) * 2005-07-22 2007-02-08 Kaneka Corp 集積型薄膜太陽電池モジュール
JP2011138969A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 薄膜太陽電池モジュールの検査方法及び薄膜太陽電池モジュールの製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104332530A (zh) * 2014-11-05 2015-02-04 四川钟顺太阳能开发有限公司 一种降低切割后太阳电池效率损失的方法以及该方法生产的太阳电池

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