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WO2011158976A1 - Device for supplying an epoxy moulding compound - Google Patents

Device for supplying an epoxy moulding compound Download PDF

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Publication number
WO2011158976A1
WO2011158976A1 PCT/KR2010/003834 KR2010003834W WO2011158976A1 WO 2011158976 A1 WO2011158976 A1 WO 2011158976A1 KR 2010003834 W KR2010003834 W KR 2010003834W WO 2011158976 A1 WO2011158976 A1 WO 2011158976A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
epoxy molding
molding compound
trench
emc
trench member
Prior art date
Application number
PCT/KR2010/003834
Other languages
French (fr)
Korean (ko)
Inventor
김선오
Original Assignee
세크론 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세크론 주식회사 filed Critical 세크론 주식회사
Priority to PCT/KR2010/003834 priority Critical patent/WO2011158976A1/en
Publication of WO2011158976A1 publication Critical patent/WO2011158976A1/en

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C31/00Handling, e.g. feeding of the material to be shaped, storage of plastics material before moulding; Automation, i.e. automated handling lines in plastics processing plants, e.g. using manipulators or robots
    • B29C31/02Dispensing from vessels, e.g. hoppers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C31/00Handling, e.g. feeding of the material to be shaped, storage of plastics material before moulding; Automation, i.e. automated handling lines in plastics processing plants, e.g. using manipulators or robots
    • B29C31/04Feeding of the material to be moulded, e.g. into a mould cavity
    • B29C31/042Feeding of the material to be moulded, e.g. into a mould cavity using dispensing heads, e.g. extruders, placed over or apart from the moulds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Definitions

  • the present invention relates to an apparatus for supplying an epoxy molding compound (EMC). More particularly, the present invention relates to an apparatus for supplying a powdered epoxy molding compound into a mold by using a tray for packaging semiconductor chips mounted on a substrate in the manufacture of a semiconductor device.
  • EMC epoxy molding compound
  • a molding process may be performed to package semiconductor chips mounted on a substrate using an epoxy resin.
  • the molding process may be performed by a molding apparatus including a mold that provides a space for molding the semiconductor chips.
  • the mold may include an upper mold and a lower mold, and a substrate in which the semiconductor chips are mounted and an epoxy molding compound in powder form may be supplied to the mold by a loader. have. At this time, the EMC powder may be carried by the tray.
  • the device for supplying the EMC feeds the EMC powder to the tray, which can be transported into the mold by the loader.
  • the EMC supply device includes a storage container for storing the EMC in a powder state, a storage container for storing the EMC powder supplied from the storage container, and an induction furnace for extending the EMC powder to the tray and extending from the storage container. It may include a trench member to perform a function and a vibration generator for vibrating the trench member to move the EMC powder through the trench member.
  • Embodiments of the present invention have another object to provide an EMC supply device that can reduce the dust generated during the supply of the EMC powder.
  • an EMC supply apparatus for supplying an epoxy molding compound to a container for receiving an epoxy molding compound in a powder state, and a tray extending from the container and carrying the epoxy molding compound.
  • a trench member which functions as a delivery passage, and is connected with the vessel and moves the epoxy molding compound from the vessel toward the end of the trench member and the epoxy molding compound is dropped from the end of the trench member towards the tray
  • a vibration generator configured to vibrate the trench member, and a disturbance blocker disposed under the vibration generator to reduce direct transmission of external disturbances to the trench member.
  • the disturbance blocker is disposed between the upper plate supporting the vibration generator, the lower plate disposed below the upper plate, and the upper plate and the lower plate to absorb the disturbance. Attenuation member may be included.
  • the damping member may comprise a plurality of springs.
  • the EMC supply device is connected to the disturbance blocker on the side of the disturbance blocker for measuring the weight of the epoxy molding compound contained in the container and the vibration frequency and amplitude by the vibration generator It may further include a weight sensor.
  • the disturbance blocking unit may be connected to the weight sensor by a cantilever beam extending in the horizontal direction from the weight sensor and a bracket connecting the end plate and the lower plate of the cantilever beam.
  • the lower plate may be disposed lower than the upper surface of the weight sensor.
  • the EMC supply device may further include a reinforcing member bonded to the trench member to extend along the trench member and to increase the rigidity of the trench member.
  • the EMC supply device may further include a gate member disposed in the trench member to adjust the amount of the epoxy molding compound carried along the inside of the trench.
  • the gate member may have sides configured to be parallel to the inner surfaces of the trench member.
  • the trench member may have a width reduced downward.
  • the EMC supply apparatus may further include a chute disposed between the end of the trench member and the tray to guide the epoxy molding compound dropped from the end of the trench member to the tray. have.
  • the EMC supply device is disposed adjacent to the chute, and the dust generated in the space adjacent to the end of the chute while supplying the epoxy molding compound to the tray through the chute. It may further include an epoxy molding compound remover having a plurality of vacuum holes for removal.
  • the epoxy molding compound remover may include an upper and lower suction chambers, and the lower end of the chute may be disposed in the suction chamber while supplying the epoxy molding compound.
  • the plurality of vacuum holes may be disposed on sidewalls of the suction chamber.
  • the epoxy molding compound removal unit is connected to the suction chamber, has sidewalls and bottom panels constituting an open top and a closed bottom, to remove the epoxy molding compound contained in the container.
  • a second suction chamber having a plurality of second vacuum holes for sucking the epoxy molding compound dropped through the trench member into the second suction chamber, and the suction to adjust positions of the suction chamber and the second suction chamber.
  • the apparatus may further include a driver for moving the chamber and the second suction chamber.
  • the trench member may extend in a horizontal direction or a direction inclined downward.
  • the EMC supply device is the EMC powder by the disturbance because the disturbance can be sufficiently blocked by the disturbance blocker while supplying the EMC powder to the EMC tray for transporting the EMC powder This irregular drop can be prevented.
  • a weight sensor for measuring the weight and vibration frequency and amplitude of the EMC powder is disposed on the side of the disturbance blocker to reduce the dropping distance of the EMC powder, thereby reducing the scattering of the EMC powder.
  • the EMC powder scattered during the supply of the EMC powder to the tray can be removed by an EMC remover disposed adjacent to the bottom of the chute.
  • the EMC supply device can load the EMC powder uniformly in the tray, and can sufficiently reduce the contamination of the molding equipment by the EMC powder.
  • FIG. 1 is a schematic front view illustrating an EMC supply apparatus according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic side view for explaining the EMC supply apparatus shown in FIG. 1.
  • FIG 3 is a schematic view for explaining a method of loading an EMC powder in an EMC tray.
  • FIGS. 4 and 5 are schematic diagrams for describing the EMC powder carried through the trench member and the gate member shown in FIGS. 1 and 2.
  • 6 and 7 are schematic diagrams for describing the EMC remover illustrated in FIG. 3.
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for describing the first and second suction chambers shown in FIG. 3.
  • FIG. 9 is a schematic diagram illustrating another example of the trench member illustrated in FIG. 1.
  • 10 and 11 are schematic configuration diagrams for explaining another example of a method of mounting the container and the trench member shown in FIG. 1 to the vibration generator.
  • the element When an element is described as being disposed or connected on another element or layer, the element may be placed or connected directly on the other element, and other elements or layers may be placed therebetween. It may be. Alternatively, where one element is described as being directly disposed or connected on another element, there may be no other element between them. Terms such as first, second, third, etc. may be used to describe various items such as various elements, compositions, regions, layers and / or parts, but the items are not limited by these terms. Will not.
  • Embodiments of the invention are described with reference to cross-sectional illustrations that are schematic illustrations of ideal embodiments of the invention. Accordingly, changes from the shapes of the illustrations, such as changes in manufacturing methods and / or tolerances, are those that can be expected. Accordingly, embodiments of the invention are not to be described as limited to the particular shapes of the areas described as the illustrations, but include deviations in the shapes, and the areas described in the figures are entirely schematic and their shapes. Are not intended to describe the precise shape of the region nor are they intended to limit the scope of the invention.
  • FIG. 1 is a schematic front view for explaining an EMC supply device according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a schematic side view for explaining the EMC supply device shown in FIG. 3 is a schematic view for explaining a method of loading an EMC powder in an EMC tray.
  • an EMC supply apparatus 100 molds semiconductor chips mounted on a substrate such as a printed circuit board (PCB) in manufacturing a semiconductor device. It can be used to supply the powdered EMC 2 into a mold (not shown).
  • PCB printed circuit board
  • the EMC powder 2 may be supplied into the mold by the tray 10.
  • the tray 10 may be supported by a separate tray transfer device 12, for example, a Cartesian robot at the bottom of the EMC supply device 100, and the EMC powder. (2) can be moved by the tray transfer device 12 in the horizontal direction to load.
  • the tray 10 loaded with the EMC powder 2 may be transported into the mold by a conveying device such as a load elevator (not shown) and a loader (not shown).
  • the tray 10 may be transported to the load elevator by the tray transfer device 12, and may be transported into the mold by the loader after being lifted by the load elevator. After supplying the EMC powder 2 into the mold, the tray 10 may be taken out of the mold by the loader and lowered by an unload elevator (not shown). Although not shown, a cleaning device (not shown) for removing residual EMC powder 2 inside the tray may be disposed below the tray transport device 12, and the tray 10 may be disposed in the unload elevator. By the cleaning device. The tray 10 cleaned by the cleaning device may be lifted by the load elevator, and under the EMC supply device 100 for loading of the EMC powder 2 by the tray transport device 12. Can be placed in.
  • the tray 10 may include sidewalls defining a space for loading the EMC powder 2 and lower shutters slidably disposed in a horizontal direction under the sidewalls.
  • the lower shutters may be opened and closed in a slide manner to supply the EMC powder 2 into the mold.
  • the EMC supply apparatus 100 may be used to supply the EMC powder 2 to the tray 10 from a storage container 20 for storing the EMC powder 2.
  • An opening for supplying the EMC powder 2 may be formed in the lower panel of the storage container 20, and may be formed by a screw 22 extending in a horizontal direction through the lower space of the storage container 20. EMC powder 2 may fall through the opening in the vertical direction.
  • the screw 22 may extend to the outside through one sidewall of the storage container 20, and may be connected to a rotation driver 24 for rotating the screw 22. That is, a predetermined amount of the EMC powder 2 may be delivered to the EMC supply device 100 by the rotation of the rotation driver 24.
  • the operation of the rotary driver 24 may be controlled by a controller (not shown) for controlling the EMC supply. That is, in order to accurately supply the required amount of EMC powder 2 to the semiconductor device to be molded, the controller may control the operation of the rotation driver 24 according to the volume information of the semiconductor device.
  • the EMC supply device 100 may be disposed below the storage container 20.
  • the EMC supply device 100 is disposed below the storage container 20 and contains a container 102 for receiving the EMC powder 2 falling from the storage container 20, and the container ( It may include a trench member 104 extending in one direction from the 102, a vibration generator 110 for moving the EMC powder 2 by vibrating the trench member 104, and the like.
  • the container 102 may be disposed below the opening of the storage container 20 to receive the EMC powder 2, and may be open at the top to receive the EMC powder 2. have.
  • the container 102 may have an interior space that gradually decreases from the top to the bottom.
  • both sidewalls of the container 102 may be adjacent to each other at the bottom, and the rear sidewall may also be inclined inwardly of the container 102 like the sidewalls.
  • the front sidewall connected to the trench member 104 may extend in the vertical direction.
  • the trench member 104 may have a trough shape and may extend in a horizontal direction from the front sidewall of the container 102.
  • the trench member 104 may have a trench used as a passage for carrying the EMC powder 2.
  • the trench may have a shape that gradually narrows downward, that is, a width gradually narrowing downward to reduce the width of the falling EMC powder 2 while the EMC powder 2 falls.
  • the trench member 104 may have a trench having a 'V' shape, and the container 102 may have an opening connected to the trench.
  • the trench member 104 may have a 'V' shape or a 'U' shape with a flat bottom.
  • FIGS. 4 and 5 are schematic diagrams for describing the EMC powder carried through the trench member and the gate member shown in FIGS. 1 and 2.
  • the gate member 106 may be disposed in the trench member 104.
  • the gate member 106 may be provided to adjust a transfer amount of the EMC powder 2 transferred by vibration along the inside of the trench member 104.
  • the gate member 106 may have sides configured to be parallel to the inner surfaces of the trench member 104.
  • the gate member 106 may have an inverted triangle structure, and inner surfaces of the trench member 104 and the The EMC powder 2 may be transferred through an 'V' shaped opening formed between the gate members 106. That is, the transfer amount of the EMC powder 2 may be adjusted by the width between the inner surfaces of the trench member 104 and the side surfaces of the gate member 106.
  • the transfer amount of the EMC powder 2 can be kept constant by the gate member 106, the EMC powder 2 can be uniformly supplied to the tray 10, and unwanted shock or vibration It is possible to prevent the large amount of EMC powder 2 from being dropped at once by the frequency change. As a result, dust generation due to abnormal drop of the EMC powder 2 can be reduced.
  • the gate member 106 may be configured to adjust the height in the vertical direction. That is, the degree of opening between the trench member 104 and the gate member 106 may be adjusted by providing a separate driving part for adjusting the height of the gate member 106, and thus the EMC powder 2 The feed rate or feed amount of the can be adjusted.
  • the vibration generator 110 is disposed below the vessel 102 and the EMC powder 2 is removed from the trench 102 in the trench member 104 within the trench member 104.
  • the container 102 and the trench member 104 may be vibrated to move toward an end of the 104.
  • the vibration generator 110 may include a piezoelectric element or a rotating body connected to a motor, and may vibrate the container 102 and the trench member 104 at a frequency of about 100 to 400 Hz. Can be.
  • the container 102 and the trench member 104 may be connected to the vibration generator 110 through separate support panels 112 and reinforcing members 114.
  • the support panel 112 may have a flat plate shape and may be disposed on the vibration generator 110.
  • the reinforcing member 114 may extend along the trench member 104 from the bottom of the container 102, and may have sides of the container 102 and the trench member 104 and the support panel 112. It may have a shape bent to correspond to the upper surface.
  • a pair of reinforcement members 114 may be attached on the lower sides of the container 102 and the trench member 104, and with the pair of reinforcement members 114.
  • the support panel 112 may be coupled to each other by bolts 116.
  • the pair of reinforcing members 114 may be bonded to the container 102 and the trench member 104 using an adhesive, soldering, welding, or the like.
  • the reinforcing member 114 may be used to prevent secondary vibration of the trench member 104 by the excitation of the vibration generator 110. That is, by increasing the rigidity of the trench member 104, the secondary vibration of the trench member 104 itself, which may be generated by the vibration transmitted from the vibration generator 110, may be attenuated or reduced.
  • the trench member 104 may be vibrated at a frequency substantially the same as the frequency of the vibration generator 110.
  • the EMC powder supply device 100 may include a disturbance blocker 120 for preventing external disturbance, ie, disturbance, from being directly applied to the container 102 and the trench member 104.
  • the disturbance blocking unit 120 may be disposed below the vibration generator 110, and the disturbance is directly applied to the container 102 and the trench member 104 through the vibration generator 110. Can be used to prevent. That is, external disturbances, for example, vibrations or shocks, are directly transmitted to the container 102 and the trench member 104, thereby sufficiently preventing the EMC powder 2 from falling off irregularly.
  • the vibration generated by the vibration generator 110 may be prevented from being directly transmitted to the molding facility including the EMC powder supply device 100.
  • the disturbance blocker 120 is the upper plate 122 for supporting the vibration generator 110 and the lower plate 124 and the upper portion disposed below the upper plate 122 It may include a damping member 126 disposed between the plate 122 and the lower plate 124 to absorb the disturbance and the vibration.
  • the damping member 126 may include a plurality of coil springs.
  • a pneumatic or hydraulic shock absorber may be additionally disposed between the upper plate 122 and the lower plate 124.
  • a plurality of elastic blocks may be disposed between the upper plate 122 and the lower plate 124 in place of the coil springs.
  • the elastic blocks may be formed of rubber or sponge.
  • the EMC supply device 100 may include a weight sensor 130 for measuring the weight of the EMC powder (2) supplied into the container (102).
  • the load cell may be used as the weight sensor 130. That is, the weight of the EMC powder 2 introduced into the container 102 may be sensed by the weight sensor 130, and the injected EMC powder 2 may be in the trench by vibration by the vibration generator 110. The weight loss of the EMC powder 2 can be monitored in the course of being fed to the lower EMC tray 10 via the end of the member 104.
  • the controller may control the amount of the EMC powder 2 supplied to the EMC tray 10 by using data on the weight change of the EMC powder 2 transmitted from the weight sensor 130.
  • the weight sensor 130 may measure the vibration frequency and amplitude by the vibration generator 110 and may transmit a signal relating to the vibration frequency and amplitude to the controller.
  • the container 102, the vibration generator 110, and the disturbance blocker 120 may be arranged in a vertical direction, and the weight sensor 130 may be connected to the lower plate 124 of the disturbance blocker.
  • the weight sensor 130 when the weight sensor 130 is disposed below the lower plate 124, the height of the EMC supply apparatus 100 may be greatly increased. Accordingly, the trench member 104 and the tray 10 may be increased. The height between) can be increased. As a result, the amount of dust generation may be increased by increasing the distance that the EMC powder 2 falls from the end of the trench member 104.
  • the weight sensor 130 in order to reduce the falling distance of the EMC powder (2), the weight sensor 130 may be disposed on the side of the disturbance blocking unit 120, the weight sensor 130 And the lower plate 124 includes a cantilever 132 extending in the horizontal direction from the weight sensor 130, and a connection bracket 134 extending downward between the cantilever 132 and the lower plate 124. Can be connected to one another.
  • the lower plate 124 of the disturbance blocking unit 120 since the lower plate 124 of the disturbance blocking unit 120 is positioned lower than the upper surface of the weight sensor 130, the drop distance of the EMC powder 2 may be reduced, thereby reducing the EMC powder ( The amount of dust generated by falling of 2) can be reduced.
  • the weight sensor 130 may be disposed on the base panel 136.
  • an EMC supply device 100 is disposed between an end of the trench member 104 and the tray 10 to be discharged from the trench member 104.
  • a chute 140 for guiding (2) to the tray 10 may be further included.
  • the chute 140 may extend in the vertical direction and have an internal passage for guiding the EMC powder 2. As a result, the EMC powder 2 can be prevented from scattering laterally while the EMC powder 2 is dropped.
  • the lower end of the chute 140 may be positioned above the tray 10, and the tray 10 may be moved to the tray transfer device 12 while the EMC powder 2 is supplied through the chute 140. It can be moved in the horizontal direction by. In particular, the tray 10 may be moved in a zigzag form by the tray transfer device 12, and thus the EMC powder 2 may be uniformly loaded in the tray 10.
  • FIG. 6 and 7 are schematic diagrams for describing the EMC remover illustrated in FIG. 3, and FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for describing the first and second suction chambers illustrated in FIG. 3.
  • the EMC removal unit 150 may be arranged to remove and to remove residual EMC powder 2.
  • the EMC removal unit 150 may include a first suction chamber 152 having upper and lower openings, and a second suction chamber 156 connected to the first suction chamber 152 and having an open upper and closed lower portions. It may include.
  • the first and second suction chambers 152 and 156 may be integrally formed and may have one common side wall.
  • Sidewalls constituting the first suction chamber 152 may include a plurality of first vacuum holes 154 for sucking the scattered EMC powder 2, and the second suction chamber 156 may be provided. Side walls and a bottom panel constituting the plurality of second vacuum holes 158 for removing the residual EMC powder 2 may be provided.
  • the first and second vacuum holes 154 and 158 may be connected to the vacuum module 160 through the first and second vacuum lines 162 and 164.
  • the first and second vacuum lines 162 and 164 may be connected to the third vacuum line 166, and the third vacuum line 166 may be connected to the vacuum module 160.
  • the sucked EMC powder 2 may be removed through filters 168 installed in the first and second vacuum lines 162 and 164.
  • first vacuum channels 153 may be provided in the sidewalls of the first suction chamber 152
  • second vacuum channels 157 may be provided in the sidewalls and the bottom panel of the second suction chamber 156. ) May be provided.
  • the first and second vacuum channels 153 and 157 may be connected to the first and second vacuum lines 162 and 164, respectively.
  • the chute 140 may be configured to be movable in the vertical direction by the vertical drive unit 170
  • the EMC removal unit 150 is a horizontal direction by the horizontal drive unit 174 It can be configured to be movable.
  • the vertical drive unit 172 and the horizontal drive unit 174 is a cam and motor, ball screw and motor, hydraulic or pneumatic cylinder, linear motor, Or the like.
  • the lower end of the chute 140 may be disposed in the first suction chamber 152 while supplying the EMC powder 2. That is, the EMC powder 2 may be supplied to the tray 10 through the lower end of the chute 140, and dust generated in a space adjacent to the lower end of the chute 140, that is, the chute 140. EMC powder 2 scattered from the lower end of the first suction chamber 152 may be removed through the first vacuum holes 154.
  • the second suction chamber 156 may be used to remove the EMC powder 2 introduced into the container 102 and the EMC powder 2 remaining in the trench member 104.
  • the chute 140 may be lifted by the vertical driver 172, and then the first and second suction chambers 152 and 156 may have a second suction under the raised chute 140.
  • the chamber 156 may be horizontally moved by the horizontal driver 174 to be positioned.
  • the chute 140 is lowered by the vertical drive unit 172 so that the lower end of the chute 140 is positioned inside the second suction chamber 156 and then EMC is inserted into the second suction chamber 156.
  • the powder 2 may be dropped, and the dropped EMC powder 2 may be removed through the second vacuum holes 158 of the second suction chamber 156.
  • EMC dust which may be generated during the supply of the EMC powder 2 or during the disposal of the EMC powder 2, is discharged from the first and second vacuums of the first and second suction chambers 152, 156. Since it can be sufficiently removed through the holes (154, 158), contamination of the molding facility by the EMC dust can be sufficiently reduced.
  • the controller may be connected to the vibration generator 110 and the weight sensor 130.
  • the controller may control an operation of the vibration generator 110 according to volume information of semiconductor chips to be molded.
  • the volume information may be calculated using information of semiconductor chips transmitted from a vision inspection unit (not shown).
  • the vision inspection unit may acquire a 3D image of the semiconductor chips while the substrate on which the semiconductor chips are mounted is loaded into a molding facility, and obtain information including the thickness and size of the semiconductor chips from the image.
  • the information obtained as described above may be transmitted to the controller, and the controller may process the information to obtain volume information of the semiconductor chips.
  • the controller may calculate the amount of the EMC powder 2 required to mold the semiconductor chips using volume information of the semiconductor chips, and the calculated amount of the EMC powder 2 may be transferred to the tray 10.
  • the operation of the vibration generator 110 can be controlled to load on.
  • control unit of the vibration generator 110 by using the information about the weight change of the EMC powder (2) transmitted from the weight sensor 130 and the vibration frequency and amplitude provided by the vibration generator 110. Feedback control can be performed.
  • FIG. 9 is a schematic diagram illustrating another example of the trench member illustrated in FIG. 1.
  • the trench member 204 is tilted downward to reduce the fall distance of the EMC powder 2, ie to reduce the vertical distance between the end of the trench member 204 and the tray 10. It can extend in the direction of the picture.
  • the weight sensor 230 and the base panel 236 may be disposed below the disturbance blocking unit 120. That is, the weight sensor 230 may be disposed on the base panel 236, and the disturbance blocking unit 120 may be disposed on the weight sensor 230.
  • the base panel 236 and the weight sensor 230 may be disposed under the disturbance blocking unit 120 to reduce the size of the EMC supply device 100.
  • 10 and 11 are schematic configuration diagrams for explaining another example of a method of mounting the container and the trench member shown in FIG. 1 to the vibration generator.
  • a position at which the container 102 and the trench member 104 are mounted may be adjusted in a horizontal direction.
  • the support panel 212 disposed on the vibration generator 110 may have holes 212A extending in parallel with an extending direction of the trench member 104, and the container 102 and the trench
  • the member 104 is mounted on the vibration generator 110 by bolts 216A passing through the reinforcing members 114 and the holes 212A and nuts 216B coupled to the bolts 216A. It can be mounted on.
  • the length of the trench member 104 protruding from the support panel 212 can be adjusted, thereby adjusting the trench member 104.
  • the natural frequency of can be adjusted.
  • the excitation frequency of the vibration generator 110 and the natural frequency of the trench member 104 the frequency characteristic and amplitude of the trench member 104 can be efficiently controlled, and thus the EMC The feeding process of the powder can be controlled more precisely.
  • the EMC supply apparatus can be used to mold the semiconductor chips mounted on the substrate. Since the disturbance can be sufficiently blocked by the disturbance blocker while supplying the EMC powder to the EMC tray for transporting the EMC powder, the EMC supply device can be prevented from dropping irregularly by the disturbance.
  • a weight sensor for measuring the weight and vibration frequency and amplitude of the EMC powder is disposed on the side of the disturbance blocker to reduce the dropping distance of the EMC powder, thereby reducing the scattering of the EMC powder.
  • the EMC powder scattered during the supply of the EMC powder to the tray can be removed by an EMC remover disposed adjacent to the bottom of the chute.
  • the EMC supply device can load the EMC powder uniformly in the tray, and can sufficiently reduce the contamination of the molding equipment by the EMC powder.

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Abstract

In a facility for moulding semiconductor chips, an epoxy-moulding-compound supply device for loading a tray with an epoxy moulding compound may comprise: a container for receiving the epoxy moulding compound in the form of a powder; a trench member which extends in one direction from the container and functions as a delivery route for supplying the epoxy moulding compound to the tray for transporting the epoxy moulding compound; a vibration generator which is connected to the container and causes the container and the trench member to vibrate so as to move the epoxy moulding compound from the container towards the end of the trench member such that the epoxy moulding compound drops from the end of the trench member towards the tray; and an external disturbance blocking part disposed underneath the vibration generator in order to reduce the direct transmission of external disturbances to the trench member.

Description

에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하기 위한 장치Apparatus for feeding epoxy molding compound
본 발명은 에폭시 몰딩 컴파운드(epoxy molding compound; EMC)를 공급하기 위한 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 반도체 장치의 제조에서 기판에 실장된 반도체 칩들을 패키징하기 위하여 트레이를 이용하여 금형 내부로 분말 상태의 에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하기 위한 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for supplying an epoxy molding compound (EMC). More particularly, the present invention relates to an apparatus for supplying a powdered epoxy molding compound into a mold by using a tray for packaging semiconductor chips mounted on a substrate in the manufacture of a semiconductor device.
일반적으로, 반도체 장치의 제조에서 몰딩 공정은 기판 상에 실장된 반도체 칩들은 에폭시 수지를 이용하여 패키징하기 위하여 수행될 수 있다. 상기 몰딩 공정은 상기 반도체 칩들을 몰딩하기 위한 공간을 제공하는 금형을 포함하는 몰딩 장치에 의해 수행될 수 있다.In general, in the manufacture of a semiconductor device, a molding process may be performed to package semiconductor chips mounted on a substrate using an epoxy resin. The molding process may be performed by a molding apparatus including a mold that provides a space for molding the semiconductor chips.
상기 금형은 상형 및 하형을 포함할 수 있으며, 로더에 의해 상기 금형 내부로 상기 반도체 칩들이 실장된 기판 및 분말 상태의 에폭시 몰딩 컴파운드(Epoxy molding compound; 이하, ‘EMC’라 한다)가 공급될 수 있다. 이때, 상기 EMC 분말은 트레이에 의해 운반될 수 있다.The mold may include an upper mold and a lower mold, and a substrate in which the semiconductor chips are mounted and an epoxy molding compound in powder form may be supplied to the mold by a loader. have. At this time, the EMC powder may be carried by the tray.
상기 EMC를 공급하기 위한 장치는 상기 트레이로 EMC 분말을 공급하며, 상기 트레이는 상기 로더에 의해 상기 금형 내부로 운반될 수 있다.The device for supplying the EMC feeds the EMC powder to the tray, which can be transported into the mold by the loader.
상기 EMC 공급 장치는 분말 상태의 EMC를 저장하는 저장 용기와 상기 저장 용기로부터 공급되는 상기 EMC 분말을 수납하기 위한 수납 용기와 상기 수납 용기로부터 연장하며 상기 EMC 분말을 상기 트레이로 운반하기 위한 유도로의 기능을 수행하는 트렌치 부재와 상기 트렌치 부재를 통해 상기 EMC 분말이 이동되도록 상기 트렌치 부재를 진동시키는 진동 발생기 등을 포함할 수 있다.The EMC supply device includes a storage container for storing the EMC in a powder state, a storage container for storing the EMC powder supplied from the storage container, and an induction furnace for extending the EMC powder to the tray and extending from the storage container. It may include a trench member to perform a function and a vibration generator for vibrating the trench member to move the EMC powder through the trench member.
상기와 같은 종래의 EMC 공급 장치를 사용하는 경우, 외부로부터의 교란, 예를 들면 충격 또는 진동 등이 상기 진동 발생기를 통해 상기 트렌치 부재로 직접 전달될 수 있으며, 이와 반대로, 상기 진동 발생기에 의한 진동이 몰딩 설비 전체에 직접 전달될 수 있다. 결과적으로, 상기 트렌치 부재로부터 낙하되는 EMC 분말은 상기 외란에 의해 균일하게 상기 트레이에 공급되지 않을 수 있으며, 또한 상기 진동 발생기에 의한 진동이 상기 몰딩 설비 내의 다른 요소들을 손상시킬 수 있다. 또한, 상기 외란에 의해 상기 EMC 분말이 불규칙적으로 낙하되는 경우 상기 EMC 분말로부터 다량의 분진이 발생될 수 있으며, 이에 따라 상기 몰딩 설비 내부가 상기 분진에 의해 오염될 수 있다.In the case of using the conventional EMC supply device as described above, disturbances from the outside, for example, shock or vibration, may be directly transmitted to the trench member through the vibration generator, and conversely, vibration by the vibration generator It can be delivered directly throughout this molding installation. As a result, EMC powder falling from the trench member may not be uniformly supplied to the tray by the disturbance, and vibration by the vibration generator may damage other elements in the molding facility. In addition, when the EMC powder falls irregularly due to the disturbance, a large amount of dust may be generated from the EMC powder, and thus the inside of the molding facility may be contaminated by the dust.
본 발명의 실시예들은 외부의 교란이 EMC 분말을 공급하기 위한 트렌치 부재에 직접 전달되는 것을 방지할 수 있는 EMC 공급 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.It is an object of the present invention to provide an EMC supply apparatus capable of preventing external disturbances from being directly transmitted to a trench member for supplying an EMC powder.
본 발명의 실시예들은 EMC 분말의 공급 도중에 발생되는 분진을 감소시킬 수 있는 EMC 공급 장치를 제공하는데 다른 목적이 있다.Embodiments of the present invention have another object to provide an EMC supply device that can reduce the dust generated during the supply of the EMC powder.
본 발명의 실시예들에 따르면, EMC 공급 장치는 분말 상태의 에폭시 몰딩 컴파운드를 수용하기 위한 용기와, 상기 용기로부터 길게 연장하며 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 운반하기 위한 트레이로 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하기 위한 전달 통로로서 기능하는 트렌치 부재와, 상기 용기와 연결되며 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 상기 용기로부터 상기 트렌치 부재의 단부를 향하여 이동시키며 상기 에폭시 몰딩 컴파운드가 상기 트렌치 부재의 단부로부터 상기 트레이를 향하여 투하되도록 상기 용기와 상기 트렌치 부재를 진동시키는 진동 발생기와, 상기 트렌치 부재로 외부의 교란이 직접 전달되는 것을 감소시키기 위하여 상기 진동 발생기 하부에 배치된 외란 차단부를 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, an EMC supply apparatus is provided for supplying an epoxy molding compound to a container for receiving an epoxy molding compound in a powder state, and a tray extending from the container and carrying the epoxy molding compound. A trench member which functions as a delivery passage, and is connected with the vessel and moves the epoxy molding compound from the vessel toward the end of the trench member and the epoxy molding compound is dropped from the end of the trench member towards the tray And a vibration generator configured to vibrate the trench member, and a disturbance blocker disposed under the vibration generator to reduce direct transmission of external disturbances to the trench member.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 외란 차단부는 상기 진동 발생기를 지지하는 상부 플레이트와, 상기 상부 플레이트 아래에 배치되는 하부 플레이트와, 상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 배치되어 상기 외란을 흡수하기 위한 감쇠 부재를 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the disturbance blocker is disposed between the upper plate supporting the vibration generator, the lower plate disposed below the upper plate, and the upper plate and the lower plate to absorb the disturbance. Attenuation member may be included.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 감쇠 부재는 다수의 스프링들을 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the damping member may comprise a plurality of springs.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 EMC 공급 장치는 상기 외란 차단부의 측방에서 상기 외란 차단부와 연결되며 상기 용기 내에 수용된 에폭시 몰딩 컴파운드의 중량과 상기 진동 발생기에 의한 진동 주파수와 진폭을 측정하기 위한 중량 센서를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the EMC supply device is connected to the disturbance blocker on the side of the disturbance blocker for measuring the weight of the epoxy molding compound contained in the container and the vibration frequency and amplitude by the vibration generator It may further include a weight sensor.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 외란 차단부는 상기 중량 센서로부터 수평 방향으로 연장하는 외팔보와, 상기 외팔보의 단부와 상기 하부 플레이트를 연결하는 브래킷에 의해 상기 중량 센서와 연결될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the disturbance blocking unit may be connected to the weight sensor by a cantilever beam extending in the horizontal direction from the weight sensor and a bracket connecting the end plate and the lower plate of the cantilever beam.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 하부 플레이트는 상기 중량 센서의 상부면보다 낮게 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the lower plate may be disposed lower than the upper surface of the weight sensor.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 EMC 공급 장치는 상기 트렌치 부재에 접합되어 상기 트렌치 부재를 따라 연장하며 상기 트렌치 부재의 강성을 증가시키기 위한 보강 부재를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the EMC supply device may further include a reinforcing member bonded to the trench member to extend along the trench member and to increase the rigidity of the trench member.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 EMC 공급 장치는 상기 트렌치 내부를 따라 운반되는 상기 에폭시 몰딩 컴파운드의 양을 조절하기 위하여 상기 트렌치 부재 내에 배치되는 게이트 부재를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the EMC supply device may further include a gate member disposed in the trench member to adjust the amount of the epoxy molding compound carried along the inside of the trench.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 게이트 부재는 상기 트렌치 부재의 내측면들과 평행하게 구성되는 측면들을 가질 수 있다.According to embodiments of the present invention, the gate member may have sides configured to be parallel to the inner surfaces of the trench member.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 트렌치 부재는 하방으로 감소되는 폭을 가질 수 있다.According to embodiments of the present invention, the trench member may have a width reduced downward.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 EMC 공급 장치는 상기 트렌치 부재의 단부와 상기 트레이 사이에 배치되어 상기 트렌치 부재의 단부로부터 투하되는 에폭시 몰딩 컴파운드를 상기 트레이로 안내하기 위한 슈트를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, the EMC supply apparatus may further include a chute disposed between the end of the trench member and the tray to guide the epoxy molding compound dropped from the end of the trench member to the tray. have.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 EMC 공급 장치는 상기 슈트와 인접하게 배치되며, 상기 슈트를 통해 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 상기 트레이에 공급하는 동안 상기 슈트의 단부와 인접하는 공간에서 발생되는 분진을 제거하기 위한 다수의 진공홀들을 갖는 에폭시 몰딩 컴파운드 제거부를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the EMC supply device is disposed adjacent to the chute, and the dust generated in the space adjacent to the end of the chute while supplying the epoxy molding compound to the tray through the chute. It may further include an epoxy molding compound remover having a plurality of vacuum holes for removal.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 에폭시 몰딩 컴파운드 제거부는 상부와 하부가 개방된 흡입 챔버를 포함할 수 있으며, 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하는 동안 상기 슈트의 하단부는 상기 흡입 챔버 내에 배치될 수 있고, 상기 다수의 진공홀들은 상기 흡입 챔버의 측벽들에 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the epoxy molding compound remover may include an upper and lower suction chambers, and the lower end of the chute may be disposed in the suction chamber while supplying the epoxy molding compound. The plurality of vacuum holes may be disposed on sidewalls of the suction chamber.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 에폭시 몰딩 컴파운드 제거부는 상기 흡입 챔버와 연결되고, 개방된 상부 및 닫힌 하부를 구성하는 측벽들 및 바닥 패널을 가지며, 상기 용기에 수용된 에폭시 몰딩 컴파운드를 제거하기 위하여 상기 트렌치 부재를 통해 상기 제2 흡입 챔버로 투하되는 에폭시 몰딩 컴파운드를 흡입하기 위한 다수의 제2 진공홀들을 갖는 제2 흡입 챔버와, 상기 흡입 챔버 및 제2 흡입 챔버의 위치를 조절하기 위하여 상기 흡입 챔버 및 제2 흡입 챔버를 이동시키는 구동부를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the epoxy molding compound removal unit is connected to the suction chamber, has sidewalls and bottom panels constituting an open top and a closed bottom, to remove the epoxy molding compound contained in the container. A second suction chamber having a plurality of second vacuum holes for sucking the epoxy molding compound dropped through the trench member into the second suction chamber, and the suction to adjust positions of the suction chamber and the second suction chamber. The apparatus may further include a driver for moving the chamber and the second suction chamber.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 트렌치 부재는 수평 방향 또는 하방으로 경사진 방향으로 연장할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the trench member may extend in a horizontal direction or a direction inclined downward.
상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, EMC 공급 장치는 EMC 분말을 운반하기 위한 EMC 트레이로 EMC 분말을 공급하는 동안 외란 차단부에 의해 외란이 충분히 차단될 수 있으므로 상기 외란에 의해 EMC 분말이 불규칙적으로 투하되는 것이 방지될 수 있다. According to the embodiments of the present invention as described above, the EMC supply device is the EMC powder by the disturbance because the disturbance can be sufficiently blocked by the disturbance blocker while supplying the EMC powder to the EMC tray for transporting the EMC powder This irregular drop can be prevented.
또한, EMC 분말의 중량 및 진동 주파수 및 진폭을 측정하기 위한 중량 센서가 상기 외란 차단부의 측방에 배치됨으로써 상기 EMC 분말의 투하 거리를 감소시킬 수 있으며, 이에 따라 상기 EMC 분말의 비산을 감소시킬 수 있다. 특히, 상기 EMC 분말을 상기 트레이에 공급하는 동안 비산된 EMC 분말은 슈트의 하단부와 인접하도록 배치된 EMC 제거부에 의해 제거될 수 있다.In addition, a weight sensor for measuring the weight and vibration frequency and amplitude of the EMC powder is disposed on the side of the disturbance blocker to reduce the dropping distance of the EMC powder, thereby reducing the scattering of the EMC powder. . In particular, the EMC powder scattered during the supply of the EMC powder to the tray can be removed by an EMC remover disposed adjacent to the bottom of the chute.
추가적으로, EMC 분말을 운반하기 위한 EMC 트레이로 EMC 분말을 공급하기 위한 트렌치 부재 내에 게이트 부재를 배치함으로써 상기 외란에 의해 다량의 EMC 분말이 비정상적으로 투하되는 것을 방지할 수 있다.In addition, by placing the gate member in the trench member for supplying the EMC powder to the EMC tray for transporting the EMC powder, it is possible to prevent abnormal drop of a large amount of the EMC powder by the disturbance.
결과적으로, 상기 EMC 공급 장치는 EMC 분말을 균일하게 상기 트레이에 적재할 수 있으며, EMC 분말에 의한 몰딩 설비의 오염을 충분히 감소시킬 수 있다.As a result, the EMC supply device can load the EMC powder uniformly in the tray, and can sufficiently reduce the contamination of the molding equipment by the EMC powder.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 EMC 공급 장치를 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.1 is a schematic front view illustrating an EMC supply apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 EMC 공급 장치를 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 2 is a schematic side view for explaining the EMC supply apparatus shown in FIG. 1.
도 3은 EMC 트레이에 EMC 분말을 적재하는 방법을 설명하기 위한 개략도이다.3 is a schematic view for explaining a method of loading an EMC powder in an EMC tray.
도 4 및 도 5는 도 1 및 도 2에 도시된 트렌치 부재와 게이트 부재를 통해 운반되는 EMC 분말을 설명하기 위한 개략도들이다.4 and 5 are schematic diagrams for describing the EMC powder carried through the trench member and the gate member shown in FIGS. 1 and 2.
도 6 및 도 7은 도 3에 도시된 EMC 제거부를 설명하기 위한 개략도들이다.6 and 7 are schematic diagrams for describing the EMC remover illustrated in FIG. 3.
도 8은 도 3에 도시된 제1 및 제2 흡입 챔버들을 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for describing the first and second suction chambers shown in FIG. 3.
도 9는 도 1에 도시된 트렌치 부재의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.FIG. 9 is a schematic diagram illustrating another example of the trench member illustrated in FIG. 1.
도 10 및 도 11은 도 1에 도시된 용기와 트렌치 부재를 진동 발생기에 장착하는 방법의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 구성도들이다.10 and 11 are schematic configuration diagrams for explaining another example of a method of mounting the container and the trench member shown in FIG. 1 to the vibration generator.
이하, 본 발명은 본 발명의 실시예들을 보여주는 첨부 도면들을 참조하여 더욱 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.The invention is now described in more detail with reference to the accompanying drawings showing embodiments of the invention. However, the present invention should not be construed as limited to the embodiments described below and may be embodied in various other forms. The following examples are provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, rather than to allow the invention to be fully completed.
하나의 요소가 다른 하나의 요소 또는 층 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로서 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접적으로 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들 또는 층들이 이들 사이에 게재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접적으로 배치되거나 연결되는 것으로서 설명되는 경우, 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다.When an element is described as being disposed or connected on another element or layer, the element may be placed or connected directly on the other element, and other elements or layers may be placed therebetween. It may be. Alternatively, where one element is described as being directly disposed or connected on another element, there may be no other element between them. Terms such as first, second, third, etc. may be used to describe various items such as various elements, compositions, regions, layers and / or parts, but the items are not limited by these terms. Will not.
하기에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. Also, unless stated otherwise, all terms including technical and scientific terms have the same meaning as would be understood by one of ordinary skill in the art having ordinary skill in the art. Such terms, such as those defined in conventional dictionaries, will be construed as having meanings consistent with their meanings in the context of the related art and description of the invention, and ideally or excessively intuitional unless otherwise specified. It will not be interpreted.
본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들인 단면 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화들은 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차들을 포함하는 것이며, 도면들에 설명된 영역들은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상들은 영역의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.Embodiments of the invention are described with reference to cross-sectional illustrations that are schematic illustrations of ideal embodiments of the invention. Accordingly, changes from the shapes of the illustrations, such as changes in manufacturing methods and / or tolerances, are those that can be expected. Accordingly, embodiments of the invention are not to be described as limited to the particular shapes of the areas described as the illustrations, but include deviations in the shapes, and the areas described in the figures are entirely schematic and their shapes. Are not intended to describe the precise shape of the region nor are they intended to limit the scope of the invention.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 EMC 공급 장치를 설명하기 위한 개략적인 정면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 EMC 공급 장치를 설명하기 위한 개략적인 측면도이다. 도 3은 EMC 트레이에 EMC 분말을 적재하는 방법을 설명하기 위한 개략도이다.FIG. 1 is a schematic front view for explaining an EMC supply device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic side view for explaining the EMC supply device shown in FIG. 3 is a schematic view for explaining a method of loading an EMC powder in an EMC tray.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 EMC 공급 장치(100)는 반도체 장치의 제조에서 인쇄회로기판(printed circuit board; PCB)과 같은 기판 상에 실장된 반도체 칩들을 몰딩하기 위한 금형(미도시) 내부로 분말 상태의 EMC(2)를 공급하기 위하여 사용될 수 있다.1 and 2, an EMC supply apparatus 100 according to an embodiment of the present invention molds semiconductor chips mounted on a substrate such as a printed circuit board (PCB) in manufacturing a semiconductor device. It can be used to supply the powdered EMC 2 into a mold (not shown).
상기 EMC 분말(2)은 트레이(10)에 의해 상기 금형 내부로 공급될 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 트레이(10)는 상기 EMC 공급 장치(100)의 하부에서 별도의 트레이 이송 장치(12), 예를 들면, 직교 좌표 로봇에 의해 지지될 수 있으며, 상기 EMC 분말(2)을 적재하기 위하여 수평 방향으로 상기 트레이 이송 장치(12)에 의해 이동될 수 있다. 상기 EMC 분말(2)이 적재된 상기 트레이(10)는 로드 엘리베이터(미도시) 및 로더(미도시)와 같은 운반 장치에 의해 상기 금형 내부로 운반될 수 있다.The EMC powder 2 may be supplied into the mold by the tray 10. As shown in FIG. 3, the tray 10 may be supported by a separate tray transfer device 12, for example, a Cartesian robot at the bottom of the EMC supply device 100, and the EMC powder. (2) can be moved by the tray transfer device 12 in the horizontal direction to load. The tray 10 loaded with the EMC powder 2 may be transported into the mold by a conveying device such as a load elevator (not shown) and a loader (not shown).
특히, 상기 트레이(10)는 상기 트레이 이송 장치(12)에 의해 상기 로드 엘리베이터로 운반될 수 있으며, 상기 로드 엘리베이터에 의해 상승된 후 상기 로더에 의해 상기 금형 내부로 운반될 수 있다. 상기 EMC 분말(2)을 상기 금형 내부에 공급한 후, 상기 트레이(10)는 상기 로더에 의해 상기 금형으로부터 반출될 수 있으며, 언로드 엘리베이터(미도시)에 의해 하강될 수 있다. 도시되지는 않았으나, 상기 트레이 이송 장치(12)의 하부에는 트레이 내부의 잔류 EMC 분말(2)을 제거하기 위한 세정 장치(미도시)가 배치될 수 있으며, 상기 트레이(10)는 상기 언로드 엘리베이터에 의해 상기 세정 장치로 운반될 수 있다. 상기 세정 장치에 의해 세정된 트레이(10)는 상기 로드 엘리베이터에 의해 상승될 수 있으며, 상기 트레이 이송 장치(12)에 의해 상기 EMC 분말(2)의 적재를 위해 상기 EMC 공급 장치(100)의 아래에 배치될 수 있다.In particular, the tray 10 may be transported to the load elevator by the tray transfer device 12, and may be transported into the mold by the loader after being lifted by the load elevator. After supplying the EMC powder 2 into the mold, the tray 10 may be taken out of the mold by the loader and lowered by an unload elevator (not shown). Although not shown, a cleaning device (not shown) for removing residual EMC powder 2 inside the tray may be disposed below the tray transport device 12, and the tray 10 may be disposed in the unload elevator. By the cleaning device. The tray 10 cleaned by the cleaning device may be lifted by the load elevator, and under the EMC supply device 100 for loading of the EMC powder 2 by the tray transport device 12. Can be placed in.
상세히 도시되지는 않았으나, 상기 트레이(10)는 상기 EMC 분말(2)을 적재하기 위한 공간을 한정하는 측벽들과 상기 측벽들의 하부에서 수평 방향으로 슬라이드 가능하도록 배치된 하부 셔터들을 포함할 수 있다. 상기 하부 셔터들은 상기 EMC 분말(2)을 상기 금형 내에 공급하기 위하여 슬라이드 방식으로 개폐될 수 있다.Although not shown in detail, the tray 10 may include sidewalls defining a space for loading the EMC powder 2 and lower shutters slidably disposed in a horizontal direction under the sidewalls. The lower shutters may be opened and closed in a slide manner to supply the EMC powder 2 into the mold.
도 3에 도시된 바와 같이, 상기 EMC 공급 장치(100)는 EMC 분말(2)을 저장하기 위한 저장 용기(20)로부터 상기 EMC 분말(2)을 상기 트레이(10)로 공급하기 위하여 사용될 수 있다. 상기 저장 용기(20)의 하부 패널에는 상기 EMC 분말(2)을 공급하기 위한 개구가 형성될 수 있으며, 상기 저장 용기(20)의 하부 공간을 통해 수평 방향으로 연장하는 스크루(22)에 의해 상기 EMC 분말(2)이 상기 개구를 통해 수직 방향으로 낙하될 수 있다. 상기 스크루(22)는 상기 저장 용기(20)의 일 측벽을 통해 외부로 연장될 수 있으며, 상기 스크루(22)를 회전시키기 위한 회전 구동부(24)와 연결될 수 있다. 즉, 상기 회전 구동부(24)의 회전에 의해 기 설정된 양의 EMC 분말(2)이 상기 EMC 공급 장치(100)로 전달될 수 있다.As shown in FIG. 3, the EMC supply apparatus 100 may be used to supply the EMC powder 2 to the tray 10 from a storage container 20 for storing the EMC powder 2. . An opening for supplying the EMC powder 2 may be formed in the lower panel of the storage container 20, and may be formed by a screw 22 extending in a horizontal direction through the lower space of the storage container 20. EMC powder 2 may fall through the opening in the vertical direction. The screw 22 may extend to the outside through one sidewall of the storage container 20, and may be connected to a rotation driver 24 for rotating the screw 22. That is, a predetermined amount of the EMC powder 2 may be delivered to the EMC supply device 100 by the rotation of the rotation driver 24.
상기 회전 구동부(24)의 동작은 EMC 공급을 제어하기 위한 제어부(미도시)에 의해 제어될 수 있다. 즉, 몰딩하고자 하는 반도체 장치에 필요한 양의 EMC 분말(2)을 정확하게 공급하기 위하여 상기 제어부는 상기 반도체 장치의 체적 정보에 따라 상기 회전 구동부(24)의 동작을 제어할 수 있다.The operation of the rotary driver 24 may be controlled by a controller (not shown) for controlling the EMC supply. That is, in order to accurately supply the required amount of EMC powder 2 to the semiconductor device to be molded, the controller may control the operation of the rotation driver 24 according to the volume information of the semiconductor device.
상기 EMC 공급 장치(100)는 상기 저장 용기(20)의 아래에 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 EMC 공급 장치(100)는 상기 저장 용기(20)의 아래에 배치되며 상기 저장 용기(20)로부터 낙하되는 EMC 분말(2)을 수용하기 위한 용기(102)와, 상기 용기(102)로부터 일 방향으로 길게 연장하는 트렌치 부재(104)와, 상기 트렌치 부재(104)를 진동시켜 상기 EMC 분말(2)을 이동시키기 위한 진동 발생기(110), 등을 포함할 수 있다.The EMC supply device 100 may be disposed below the storage container 20. For example, the EMC supply device 100 is disposed below the storage container 20 and contains a container 102 for receiving the EMC powder 2 falling from the storage container 20, and the container ( It may include a trench member 104 extending in one direction from the 102, a vibration generator 110 for moving the EMC powder 2 by vibrating the trench member 104, and the like.
구체적으로, 상기 용기(102)는 상기 EMC 분말(2)을 수용하기 위하여 상기 저장 용기(20)의 개구 아래에 배치될 수 있으며, 상기 EMC 분말(2)을 수용하기 위하여 상부가 개방되어 있을 수 있다. 상기 용기(102)는 상부로부터 하부를 향하여 점차 감소되는 내부 공간을 가질 수 있다. 특히, 도시된 바와 같이 상기 용기(102)의 양쪽 측벽들은 하부에서 서로 인접할 수 있으며, 후방 측벽도 상기 양쪽 측벽들과 같이 상기 용기(102)의 내측으로 경사지게 배치될 수 있다. 다만, 상기 트렌치 부재(104)와 연결되는 전방 측벽은 수직 방향으로 연장할 수 있다.Specifically, the container 102 may be disposed below the opening of the storage container 20 to receive the EMC powder 2, and may be open at the top to receive the EMC powder 2. have. The container 102 may have an interior space that gradually decreases from the top to the bottom. In particular, as shown, both sidewalls of the container 102 may be adjacent to each other at the bottom, and the rear sidewall may also be inclined inwardly of the container 102 like the sidewalls. However, the front sidewall connected to the trench member 104 may extend in the vertical direction.
상기 트렌치 부재(104)는 트로프(trough) 형상을 가질 수 있으며, 상기 용기(102)의 전방 측벽으로부터 수평 방향으로 연장할 수 있다.The trench member 104 may have a trough shape and may extend in a horizontal direction from the front sidewall of the container 102.
상기 트렌치 부재(104)는 상기 EMC 분말(2)을 운반하기 위한 통로로서 사용되는 트렌치를 가질 수 있다. 상기 트렌치는 상기 EMC 분말(2)이 낙하하는 동안 상기 낙하되는 EMC 분말(2)의 폭을 감소시키기 위하여 하방으로 갈수록 점차 좁아지는 형태, 즉 하방으로 점차 좁아지는 폭을 가질 수 있다. 예를 들면, 상기 트렌치 부재(104)는 ‘V’자 형태의 트렌치를 가질 수 있으며, 상기 용기(102)는 상기 트렌치와 연결되는 개구를 가질 수 있다.The trench member 104 may have a trench used as a passage for carrying the EMC powder 2. The trench may have a shape that gradually narrows downward, that is, a width gradually narrowing downward to reduce the width of the falling EMC powder 2 while the EMC powder 2 falls. For example, the trench member 104 may have a trench having a 'V' shape, and the container 102 may have an opening connected to the trench.
본 발명의 다른 실시예들에 따르면, 상기 트렌치 부재(104)는 평탄한 바닥을 갖는 ‘V’자 형태 또는 ‘U’자 형태를 가질 수도 있다.According to other embodiments of the present invention, the trench member 104 may have a 'V' shape or a 'U' shape with a flat bottom.
또한, 상기와 같이 트렌치 부재(104)의 하부 폭을 감소시킴으로써 상기 트렌치 부재(104)의 내부와 단부에서 고착되는 EMC 분말(2)을 감소시킬 수 있다.In addition, by reducing the lower width of the trench member 104 as described above, it is possible to reduce the EMC powder (2) adhered to the inside and the end of the trench member 104.
도 4 및 도 5는 도 1 및 도 2에 도시된 트렌치 부재와 게이트 부재를 통해 운반되는 EMC 분말을 설명하기 위한 개략도들이다.4 and 5 are schematic diagrams for describing the EMC powder carried through the trench member and the gate member shown in FIGS. 1 and 2.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 트렌치 부재(104) 내부에는 게이트 부재(106)가 배치될 수 있다. 상기 게이트 부재(106)는 상기 트렌치 부재(104) 내부를 따라 진동에 의해 이송되는 EMC 분말(2)의 이송량을 조절하기 위하여 구비될 수 있다. 예를 들면, 상기 게이트 부재(106)는 상기 트렌치 부재(104)의 내측면들과 평행하게 구성되는 측면들을 가질 수 있다. 특히, 상기 트렌치 부재(104)가 ‘V’자 형태의 내부 구조를 갖는 경우, 상기 게이트 부재(106)는 역삼각 형태의 구조를 가질 수 있으며, 상기 트렌치 부재(104)의 내측면들과 상기 게이트 부재(106) 사이에서 형성되는 ‘V’자 형태의 개구를 통해 상기 EMC 분말(2)이 이송될 수 있다. 즉, 상기 EMC 분말(2)의 이송량은 상기 트렌치 부재(104)의 내측면들과 상기 게이트 부재(106)의 측면들 사이의 폭에 의해 조절될 수 있다.According to the exemplary embodiment of the present invention, as shown in FIGS. 4 and 5, the gate member 106 may be disposed in the trench member 104. The gate member 106 may be provided to adjust a transfer amount of the EMC powder 2 transferred by vibration along the inside of the trench member 104. For example, the gate member 106 may have sides configured to be parallel to the inner surfaces of the trench member 104. In particular, when the trench member 104 has an internal structure having a 'V' shape, the gate member 106 may have an inverted triangle structure, and inner surfaces of the trench member 104 and the The EMC powder 2 may be transferred through an 'V' shaped opening formed between the gate members 106. That is, the transfer amount of the EMC powder 2 may be adjusted by the width between the inner surfaces of the trench member 104 and the side surfaces of the gate member 106.
상술한 바와 같이 EMC 분말(2)의 이송량이 상기 게이트 부재(106)에 의해 일정하게 유지될 수 있으므로 상기 트레이(10)로 상기 EMC 분말(2)을 균일하게 공급할 수 있으며, 원치않는 충격 또는 진동 주파수 변화에 의해 한꺼번에 다량의 EMC 분말(2)이 투하되는 것을 방지할 수 있다. 결과적으로, 비정상적인 EMC 분말(2)의 투하로 인한 분진 발생을 감소시킬 수 있다.As described above, since the transfer amount of the EMC powder 2 can be kept constant by the gate member 106, the EMC powder 2 can be uniformly supplied to the tray 10, and unwanted shock or vibration It is possible to prevent the large amount of EMC powder 2 from being dropped at once by the frequency change. As a result, dust generation due to abnormal drop of the EMC powder 2 can be reduced.
한편, 도시되지는 않았으나, 상기 게이트 부재(106)는 수직 방향으로 높이를 조절할 수 있도록 구성될 수 있다. 즉, 상기 게이트 부재(106)의 높이를 조절하기 위한 별도의 구동부를 구비함으로써 상기 트렌치 부재(104)와 상기 게이트 부재(106) 사이의 개방 정도가 조절될 수 있으며, 이에 따라 상기 EMC 분말(2)의 공급 속도 또는 공급량이 조절될 수 있다.Although not shown, the gate member 106 may be configured to adjust the height in the vertical direction. That is, the degree of opening between the trench member 104 and the gate member 106 may be adjusted by providing a separate driving part for adjusting the height of the gate member 106, and thus the EMC powder 2 The feed rate or feed amount of the can be adjusted.
다시 도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 진동 발생기(110)는 상기 용기(102) 하부에 배치되며 상기 EMC 분말(2)이 상기 트렌치 부재(104) 내에서 상기 용기(102)로부터 상기 트렌치 부재(104)의 단부를 향하여 이동되도록 상기 용기(102) 및 상기 트렌치 부재(104)를 진동시킬 수 있다. 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 진동 발생기(110)는 압전 소자 또는 모터와 연결된 회전체 등을 포함할 수 있으며, 약 100 내지 400Hz 정도의 주파수로 상기 용기(102) 및 트렌치 부재(104)를 진동시킬 수 있다.Referring again to FIGS. 1 and 2, the vibration generator 110 is disposed below the vessel 102 and the EMC powder 2 is removed from the trench 102 in the trench member 104 within the trench member 104. The container 102 and the trench member 104 may be vibrated to move toward an end of the 104. Although not shown in detail, the vibration generator 110 may include a piezoelectric element or a rotating body connected to a motor, and may vibrate the container 102 and the trench member 104 at a frequency of about 100 to 400 Hz. Can be.
상기 용기(102)와 상기 트렌치 부재(104)는 별도의 서포트 패널(112)과 보강 부재(114)를 통해 상기 진동 발생기(110)와 연결될 수 있다. 상기 서포트 패널(112)은 평평한 플레이트 형태를 가질 수 있으며, 상기 진동 발생기(110) 상에 배치될 수 있다. 상기 보강 부재(114)는 상기 용기(102)의 하부로부터 상기 트렌치 부재(104)를 따라 연장할 수 있으며, 상기 용기(102)와 트렌치 부재(104)의 측면들 및 상기 서포트 패널(112)의 상부 표면과 대응하도록 절곡된 형태를 가질 수 있다. 예를 들면, 도시된 바와 같이 한 쌍의 보강 부재(114)가 상기 용기(102)와 트렌치 부재(104)의 하부 측면들 상에 부착될 수 있으며, 상기 한 쌍의 보강 부재들(114)과 상기 서포트 패널(112)은 볼트들(116)에 의해 서로 결합될 수 있다. 또한, 상기 한 쌍의 보강 부재들(114)은 상기 용기(102)와 트렌치 부재(104)에 접착제 또는 납땜, 용접 등의 방법을 이용하여 접합될 수 있다.The container 102 and the trench member 104 may be connected to the vibration generator 110 through separate support panels 112 and reinforcing members 114. The support panel 112 may have a flat plate shape and may be disposed on the vibration generator 110. The reinforcing member 114 may extend along the trench member 104 from the bottom of the container 102, and may have sides of the container 102 and the trench member 104 and the support panel 112. It may have a shape bent to correspond to the upper surface. For example, as shown, a pair of reinforcement members 114 may be attached on the lower sides of the container 102 and the trench member 104, and with the pair of reinforcement members 114. The support panel 112 may be coupled to each other by bolts 116. In addition, the pair of reinforcing members 114 may be bonded to the container 102 and the trench member 104 using an adhesive, soldering, welding, or the like.
상기 보강 부재(114)는 상기 진동 발생기(110)의 가진에 의한 상기 트렌치 부재(104)의 이차 진동을 방지하기 위하여 사용될 수 있다. 즉, 상기 트렌치 부재(104)의 강성을 증가시킴으로써 상기 진동 발생기(110)로부터 전달되는 진동에 의해 발생될 수 있는 상기 트렌치 부재(104) 자체의 이차 진동을 감쇠 또는 저감시킬 수 있으며, 이에 따라 상기 트렌치 부재(104)가 상기 진동 발생기(110)의 주파수와 실질적으로 동일한 주파수로 진동될 수 있다.The reinforcing member 114 may be used to prevent secondary vibration of the trench member 104 by the excitation of the vibration generator 110. That is, by increasing the rigidity of the trench member 104, the secondary vibration of the trench member 104 itself, which may be generated by the vibration transmitted from the vibration generator 110, may be attenuated or reduced. The trench member 104 may be vibrated at a frequency substantially the same as the frequency of the vibration generator 110.
상기 EMC 분말 공급 장치(100)는 상기 용기(102) 및 상기 트렌치 부재(104)로 외부의 교란, 즉 외란이 직접적으로 인가되는 것을 방지하기 위한 외란 차단부(120)를 포함할 수 있다. 상기 외란 차단부(120)는 상기 진동 발생기(110)의 하부에 배치될 수 있으며, 상기 외란이 상기 진동 발생기(110)를 통해 상기 용기(102)와 상기 트렌치 부재(104)로 직접 인가되는 것을 방지하기 위하여 사용될 수 있다. 즉, 외부의 교란, 예를 들면 진동 또는 충격이 직접 상기 용기(102)와 트렌치 부재(104)에 전달됨으로써 상기 EMC 분말(2)이 불규칙적으로 낙하되는 것이 충분히 방지될 수 있다. 또한, 상기 진동 발생기(110)에 의한 진동이 상기 EMC 분말 공급 장치(100)를 포함하는 몰딩 설비에 직접 전달되는 것이 방지될 수 있다.The EMC powder supply device 100 may include a disturbance blocker 120 for preventing external disturbance, ie, disturbance, from being directly applied to the container 102 and the trench member 104. The disturbance blocking unit 120 may be disposed below the vibration generator 110, and the disturbance is directly applied to the container 102 and the trench member 104 through the vibration generator 110. Can be used to prevent. That is, external disturbances, for example, vibrations or shocks, are directly transmitted to the container 102 and the trench member 104, thereby sufficiently preventing the EMC powder 2 from falling off irregularly. In addition, the vibration generated by the vibration generator 110 may be prevented from being directly transmitted to the molding facility including the EMC powder supply device 100.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 외란 차단부(120)는 상기 진동 발생기(110)를 지지하는 상부 플레이트(122)와 상기 상부 플레이트(122) 아래에 배치되는 하부 플레이트(124) 및 상기 상부 플레이트(122)와 하부 플레이트(124) 사이에 배치되어 상기 외란 및 상기 진동을 흡수하기 위한 감쇠 부재(126)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 감쇠 부재(126)는 다수의 코일 스프링들을 포함할 수 있다. 또한, 도시되지는 않았으나 상기 상부 플레이트(122)와 하부 플레이트(124) 사이에는 공압 또는 유압 쇽 업저버(shock absorber)가 추가적으로 배치될 수도 있다.According to one embodiment of the invention, the disturbance blocker 120 is the upper plate 122 for supporting the vibration generator 110 and the lower plate 124 and the upper portion disposed below the upper plate 122 It may include a damping member 126 disposed between the plate 122 and the lower plate 124 to absorb the disturbance and the vibration. For example, the damping member 126 may include a plurality of coil springs. In addition, although not shown, a pneumatic or hydraulic shock absorber may be additionally disposed between the upper plate 122 and the lower plate 124.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 도시되지는 않았으나 상기 상부 플레이트(122)와 하부 플레이트(124) 사이에는 상기 코일 스프링들을 대신하여 다수의 탄성 블록들(미도시)이 배치될 수도 있다. 상기 탄성 블록들은 고무 또는 스펀지로 형성될 수 있다.According to another embodiment of the present invention, although not shown, a plurality of elastic blocks (not shown) may be disposed between the upper plate 122 and the lower plate 124 in place of the coil springs. The elastic blocks may be formed of rubber or sponge.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 EMC 공급 장치(100)는 상기 용기(102) 내부로 공급된 EMC 분말(2)의 중량을 측정하기 위한 중량 센서(130)를 포함할 수 있다. 상기 중량 센서(130)로는 로드 셀이 사용될 수 있다. 즉, 상기 용기(102)로 투입된 EMC 분말(2)의 중량은 상기 중량 센서(130)에 의해 감지될 수 있으며, 상기 투입된 EMC 분말(2)이 진동 발생기(110)에 의한 진동에 의해 상기 트렌치 부재(104)의 단부를 경유하여 하부의 EMC 트레이(10)로 공급되는 과정에서 EMC 분말(2)의 중량 감소가 모니터링될 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the EMC supply device 100 may include a weight sensor 130 for measuring the weight of the EMC powder (2) supplied into the container (102). The load cell may be used as the weight sensor 130. That is, the weight of the EMC powder 2 introduced into the container 102 may be sensed by the weight sensor 130, and the injected EMC powder 2 may be in the trench by vibration by the vibration generator 110. The weight loss of the EMC powder 2 can be monitored in the course of being fed to the lower EMC tray 10 via the end of the member 104.
상기 제어부는 상기 중량 센서(130)로부터 전송된 EMC 분말(2)의 중량 변화에 대한 데이터를 이용하여 상기 EMC 트레이(10)로 공급되는 EMC 분말(2)의 양을 제어할 수 있다. 또한, 상기 중량 센서(130)는 상기 진동 발생기(110)에 의한 진동 주파수 및 진폭을 측정할 수 있으며 상기 진동 주파수 및 진폭에 관한 신호를 상기 제어부로 전송할 수 있다.The controller may control the amount of the EMC powder 2 supplied to the EMC tray 10 by using data on the weight change of the EMC powder 2 transmitted from the weight sensor 130. In addition, the weight sensor 130 may measure the vibration frequency and amplitude by the vibration generator 110 and may transmit a signal relating to the vibration frequency and amplitude to the controller.
한편, 상술한 바와 같이 용기(102), 진동 발생기(110) 및 외란 차단부(120)는 수직 방향으로 배열되며 상기 중량 센서(130)는 상기 외란 차단부의 하부 플레이트(124)에 연결될 수 있다. 여기서, 상기 중량 센서(130)가 상기 하부 플레이트(124) 아래에 배치될 경우 전체적으로 상기 EMC 공급 장치(100)의 높이가 크게 증가될 수 있으며, 이에 따라 상기 트렌치 부재(104)와 상기 트레이(10) 사이의 높이가 증가될 수 있다. 결과적으로, 상기 EMC 분말(2)이 상기 트렌치 부재(104)의 단부로부터 낙하되는 거리가 증가됨으로써 분진 발생량이 증가될 수 있다.Meanwhile, as described above, the container 102, the vibration generator 110, and the disturbance blocker 120 may be arranged in a vertical direction, and the weight sensor 130 may be connected to the lower plate 124 of the disturbance blocker. In this case, when the weight sensor 130 is disposed below the lower plate 124, the height of the EMC supply apparatus 100 may be greatly increased. Accordingly, the trench member 104 and the tray 10 may be increased. The height between) can be increased. As a result, the amount of dust generation may be increased by increasing the distance that the EMC powder 2 falls from the end of the trench member 104.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 EMC 분말(2)의 낙하 거리를 감소시키기 위하여 상기 중량 센서(130)는 상기 외란 차단부(120)의 측방에 배치될 수 있으며, 상기 중량 센서(130)와 상기 하부 플레이트(124)는 상기 중량 센서(130)로부터 수평 방향으로 연장하는 외팔보(132)와, 상기 외팔보(132)와 상기 하부 플레이트(124) 사이에서 하방으로 연장하는 연결 브래킷(134)을 통해 서로 연결될 수 있다. 결과적으로, 상기 중량 센서(130)의 상부 표면보다 상기 외란 차단부(120)의 하부 플레이트(124)가 낮게 위치됨으로써 상기 EMC 분말(2)의 낙하 거리가 감소될 수 있으며, 이에 따라 EMC 분말(2)의 낙하에 의한 분진 발생량이 감소될 수 있다. 한편, 상기 중량 센서(130)는 베이스 패널(136) 상에 배치될 수 있다.According to one embodiment of the present invention, in order to reduce the falling distance of the EMC powder (2), the weight sensor 130 may be disposed on the side of the disturbance blocking unit 120, the weight sensor 130 And the lower plate 124 includes a cantilever 132 extending in the horizontal direction from the weight sensor 130, and a connection bracket 134 extending downward between the cantilever 132 and the lower plate 124. Can be connected to one another. As a result, since the lower plate 124 of the disturbance blocking unit 120 is positioned lower than the upper surface of the weight sensor 130, the drop distance of the EMC powder 2 may be reduced, thereby reducing the EMC powder ( The amount of dust generated by falling of 2) can be reduced. The weight sensor 130 may be disposed on the base panel 136.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 EMC 공급 장치(100)는 상기 트렌치 부재(104)의 단부와 상기 트레이(10) 사이에 배치되어 상기 트렌치 부재(104)로부터 투하되는 EMC 분말(2)을 상기 트레이(10)로 안내하기 위한 슈트(140, chute)를 더 포함할 수 있다. 상기 슈트(140)는 수직 방향으로 연장하며 상기 EMC 분말(2)을 안내하기 위한 내부 통로를 가질 수 있다. 결과적으로, 상기 EMC 분말(2)이 투하되는 동안 상기 EMC 분말(2)이 측방으로 비산되는 것을 방지할 수 있다.Referring to FIG. 3, an EMC supply device 100 according to an embodiment of the present invention is disposed between an end of the trench member 104 and the tray 10 to be discharged from the trench member 104. A chute 140 for guiding (2) to the tray 10 may be further included. The chute 140 may extend in the vertical direction and have an internal passage for guiding the EMC powder 2. As a result, the EMC powder 2 can be prevented from scattering laterally while the EMC powder 2 is dropped.
상기 슈트(140)의 하단부는 상기 트레이(10)의 상부에 위치될 수 있으며, 상기 슈트(140)를 통해 EMC 분말(2)이 공급되는 동안 상기 트레이(10)는 상기 트레이 이송 장치(12)에 의해 수평 방향으로 이동될 수 있다. 특히, 상기 트레이(10)는 상기 트레이 이송 장치(12)에 의해 지그 재그 형태로 이동될 수 있으며, 이에 따라 상기 트레이(10) 내부에는 상기 EMC 분말(2)이 균일하게 적재될 수 있다.The lower end of the chute 140 may be positioned above the tray 10, and the tray 10 may be moved to the tray transfer device 12 while the EMC powder 2 is supplied through the chute 140. It can be moved in the horizontal direction by. In particular, the tray 10 may be moved in a zigzag form by the tray transfer device 12, and thus the EMC powder 2 may be uniformly loaded in the tray 10.
도 6 및 도 7은 도 3에 도시된 EMC 제거부를 설명하기 위한 개략도들이며, 도 8은 도 3에 도시된 제1 및 제2 흡입 챔버들을 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.6 and 7 are schematic diagrams for describing the EMC remover illustrated in FIG. 3, and FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for describing the first and second suction chambers illustrated in FIG. 3.
도 3, 도 6 내지 도 8을 참조하면, 상기 트레이 이송 장치(12)에 의해 지지된 트레이(10)의 상부에는 EMC 분말(2)의 공급 도중에 비산되는 EMC 분말(2)을 진공을 이용하여 제거할 수 있도록 그리고 잔여 EMC 분말(2)을 제거할 수 있도록 EMC 제거부(150)가 배치될 수 있다. 상기 EMC 제거부(150)는 상부 및 하부가 개방된 제1 흡입 챔버(152)와, 상기 제1 흡입 챔버(152)와 연결되며 개방된 상부 및 닫힌 하부를 갖는 제2 흡입 챔버(156)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 및 제2 흡입 챔버들(152, 156)은 일체형으로 구성될 수 있으며 하나의 공통 측벽을 가질 수 있다.3, 6 to 8, the upper part of the tray 10 supported by the tray conveying apparatus 12 by using a vacuum the EMC powder (2) scattered during the supply of the EMC powder (2) The EMC removal unit 150 may be arranged to remove and to remove residual EMC powder 2. The EMC removal unit 150 may include a first suction chamber 152 having upper and lower openings, and a second suction chamber 156 connected to the first suction chamber 152 and having an open upper and closed lower portions. It may include. For example, the first and second suction chambers 152 and 156 may be integrally formed and may have one common side wall.
상기 제1 흡입 챔버(152)를 구성하는 측벽들에는 상기 비산된 EMC 분말(2)을 흡입하기 위한 다수의 제1 진공홀들(154)이 구비될 수 있으며, 상기 제2 흡입 챔버(156)를 구성하는 측벽들 및 바닥 패널에는 상기 잔여 EMC 분말(2)을 제거하기 위한 다수의 제2 진공홀들(158)이 구비될 수 있다.Sidewalls constituting the first suction chamber 152 may include a plurality of first vacuum holes 154 for sucking the scattered EMC powder 2, and the second suction chamber 156 may be provided. Side walls and a bottom panel constituting the plurality of second vacuum holes 158 for removing the residual EMC powder 2 may be provided.
상기 제1 및 제2 진공홀들(154, 158)은 제1 및 제2 진공 라인들(162, 164)을 통해 진공 모듈(160)과 연결될 수 있다. 특히, 상기 제1 및 제2 진공 라인들(162, 164)은 제3 진공 라인(166)과 연결될 수 있으며, 상기 제3 진공 라인(166)이 상기 진공 모듈(160)과 연결될 수 있다. 상기 흡입된 EMC 분말(2)은 상기 제1 및 제2 진공 라인들(162, 164)에 설치된 필터들(168)을 통해 제거될 수 있다.The first and second vacuum holes 154 and 158 may be connected to the vacuum module 160 through the first and second vacuum lines 162 and 164. In particular, the first and second vacuum lines 162 and 164 may be connected to the third vacuum line 166, and the third vacuum line 166 may be connected to the vacuum module 160. The sucked EMC powder 2 may be removed through filters 168 installed in the first and second vacuum lines 162 and 164.
한편, 상기 제1 흡입 챔버(152)의 측벽들의 내부에는 제1 진공 채널(153)이 구비될 수 있으며, 상기 제2 흡입 챔버(156)의 측벽들 및 바닥 패널 내부에는 제2 진공 채널(157)이 구비될 수 있다. 상기 제1 및 제2 진공 채널들(153, 157)은 각각 상기 제1 및 제2 진공 라인들(162, 164)에 연결될 수 있다.Meanwhile, first vacuum channels 153 may be provided in the sidewalls of the first suction chamber 152, and second vacuum channels 157 may be provided in the sidewalls and the bottom panel of the second suction chamber 156. ) May be provided. The first and second vacuum channels 153 and 157 may be connected to the first and second vacuum lines 162 and 164, respectively.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 슈트(140)는 수직 구동부(170)에 의해 수직 방향으로 이동 가능하게 구성될 수 있으며, 상기 EMC 제거부(150)는 수평 구동부(174)에 의해 수평 방향으로 이동 가능하게 구성될 수 있다. 상기 수직 구동부(172) 및 수평 구동부(174)에 대하여 상세하게 도시하지는 않았으나, 상기 수직 구동부(172) 및 수평 구동부(174)는 캠과 모터, 볼 스크루와 모터, 유압 또는 공압 실린더, 리니어 모터, 등을 이용하여 구성될 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the chute 140 may be configured to be movable in the vertical direction by the vertical drive unit 170, the EMC removal unit 150 is a horizontal direction by the horizontal drive unit 174 It can be configured to be movable. Although not shown in detail with respect to the vertical drive unit 172 and the horizontal drive unit 174, the vertical drive unit 172 and the horizontal drive unit 174 is a cam and motor, ball screw and motor, hydraulic or pneumatic cylinder, linear motor, Or the like.
상기 슈트(140)의 하단부는 상기 EMC 분말(2)을 공급하는 동안에는 상기 제1 흡입 챔버(152) 내에 배치될 수 있다. 즉, 상기 슈트(140)의 하단부를 통해 EMC 분말(2)이 상기 트레이(10)로 공급될 수 있으며, 상기 슈트(140)의 하단부와 인접하는 공간에서 발생되는 분진, 즉 상기 슈트(140)의 하단부로부터 비산되는 EMC 분말(2)은 상기 제1 흡입 챔버(152)의 제1 진공홀들(154)을 통해 제거될 수 있다.The lower end of the chute 140 may be disposed in the first suction chamber 152 while supplying the EMC powder 2. That is, the EMC powder 2 may be supplied to the tray 10 through the lower end of the chute 140, and dust generated in a space adjacent to the lower end of the chute 140, that is, the chute 140. EMC powder 2 scattered from the lower end of the first suction chamber 152 may be removed through the first vacuum holes 154.
상기 제2 흡입 챔버(156)는 상기 용기(102) 내에 투입된 EMC 분말(2) 및 상기 트렌치 부재(104) 내부에 잔류하는 EMC 분말(2)을 제거하기 위하여 사용될 수 있다. 이 경우, 상기 슈트(140)는 상기 수직 구동부(172)에 의해 상승될 수 있으며, 이어서 상기 제1 및 제2 흡입 챔버들(152, 156)은 상기 상승된 슈트(140) 아래에 제2 흡입 챔버(156)가 위치될 수 있도록 상기 수평 구동부(174)에 의해 수평 이동될 수 있다. 이어서, 상기 슈트(140)의 하단부가 상기 제2 흡입 챔버(156) 내부에 위치되도록 상기 슈트(140)가 상기 수직 구동부(172)에 의해 하강된 후 상기 제2 흡입 챔버(156) 내부로 EMC 분말(2)이 투하될 수 있으며, 상기 투하된 EMC 분말(2)은 상기 제2 흡입 챔버(156)의 제2 진공홀들(158)을 통해 제거될 수 있다.The second suction chamber 156 may be used to remove the EMC powder 2 introduced into the container 102 and the EMC powder 2 remaining in the trench member 104. In this case, the chute 140 may be lifted by the vertical driver 172, and then the first and second suction chambers 152 and 156 may have a second suction under the raised chute 140. The chamber 156 may be horizontally moved by the horizontal driver 174 to be positioned. Subsequently, the chute 140 is lowered by the vertical drive unit 172 so that the lower end of the chute 140 is positioned inside the second suction chamber 156 and then EMC is inserted into the second suction chamber 156. The powder 2 may be dropped, and the dropped EMC powder 2 may be removed through the second vacuum holes 158 of the second suction chamber 156.
상술한 바와 같이, EMC 분말(2)의 공급 도중 또는 EMC 분말(2)의 폐기 도중에 발생될 수 있는 EMC 분진은 상기 제1 및 제2 흡입 챔버들(152, 156)의 제1 및 제2 진공홀들(154, 158)을 통해 충분히 제거될 수 있으므로 상기 EMC 분진에 의한 몰딩 설비의 오염이 충분히 감소될 수 있다.As described above, EMC dust, which may be generated during the supply of the EMC powder 2 or during the disposal of the EMC powder 2, is discharged from the first and second vacuums of the first and second suction chambers 152, 156. Since it can be sufficiently removed through the holes (154, 158), contamination of the molding facility by the EMC dust can be sufficiently reduced.
한편, 상기 제어부는 상기 진동 발생기(110) 및 상기 중량 센서(130)와 연결될 수 있다. 상기 제어부는 몰딩될 반도체 칩들의 체적 정보에 따라 상기 진동 발생기(110)의 동작을 제어할 수 있다.The controller may be connected to the vibration generator 110 and the weight sensor 130. The controller may control an operation of the vibration generator 110 according to volume information of semiconductor chips to be molded.
상기 체적 정보는 비전 검사부(미도시)로부터 전송되는 반도체 칩들의 정보를 이용하여 산출될 수 있다. 상기 비전 검사부는 상기 반도체 칩들이 실장된 기판이 몰딩 설비 내부로 반입되는 동안 상기 반도체 칩들의 3차원 이미지를 획득하고 상기 이미지로부터 반도체 칩들의 두께, 크기 등을 포함하는 정보를 획득할 수 있다. 상기와 같이 획득된 정보는 상기 제어부로 전송될 수 있으며, 상기 제어부는 상기 정보를 가공하여 상기 반도체 칩들의 체적 정보를 획득할 수 있다. 또한, 상기 제어부는 상기 반도체 칩들의 체적 정보를 이용하여 상기 반도체 칩들을 몰딩하는데 필요한 EMC 분말(2)의 양을 산출할 수 있으며, 상기 산출된 만큼의 EMC 분말(2)을 상기 트레이(10)에 적재하기 위하여 상기 진동 발생기(110)의 동작을 제어할 수 있다.The volume information may be calculated using information of semiconductor chips transmitted from a vision inspection unit (not shown). The vision inspection unit may acquire a 3D image of the semiconductor chips while the substrate on which the semiconductor chips are mounted is loaded into a molding facility, and obtain information including the thickness and size of the semiconductor chips from the image. The information obtained as described above may be transmitted to the controller, and the controller may process the information to obtain volume information of the semiconductor chips. In addition, the controller may calculate the amount of the EMC powder 2 required to mold the semiconductor chips using volume information of the semiconductor chips, and the calculated amount of the EMC powder 2 may be transferred to the tray 10. The operation of the vibration generator 110 can be controlled to load on.
특히, 상기 제어부는 상기 중량 센서(130)로부터 전송되는 EMC 분말(2)의 중량 변화 및 상기 진동 발생기(110)에 의해 제공되는 진동 주파수 및 진폭에 관한 정보를 이용하여 상기 진동 발생기(110)의 동작을 피드백 제어할 수 있다.In particular, the control unit of the vibration generator 110 by using the information about the weight change of the EMC powder (2) transmitted from the weight sensor 130 and the vibration frequency and amplitude provided by the vibration generator 110. Feedback control can be performed.
도 9는 도 1에 도시된 트렌치 부재의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.FIG. 9 is a schematic diagram illustrating another example of the trench member illustrated in FIG. 1.
도 9를 참조하면, 트렌치 부재(204)는 EMC 분말(2)의 낙하 거리를 감소시키기 위하여 즉 상기 트렌치 부재(204)의 단부와 상기 트레이(10) 사이의 수직 거리를 감소시키기 위하여 하방으로 경사진 방향으로 연장할 수 있다. 이 경우, 도시된 바와 같이 중량 센서(230)와 베이스 패널(236)이 외란 차단부(120) 아래에 배치될 수 있다. 즉, 상기 베이스 패널(236) 상에 중량 센서(230)가 배치될 수 있으며, 상기 중량 센서(230) 상에 외란 차단부(120)가 배치될 수 있다. 특히, 상기 베이스 패널(236)과 중량 센서(230)가 상기 외란 차단부(120) 아래에 배치됨으로써 상기 EMC 공급 장치(100)의 크기를 감소시킬 수 있다.Referring to FIG. 9, the trench member 204 is tilted downward to reduce the fall distance of the EMC powder 2, ie to reduce the vertical distance between the end of the trench member 204 and the tray 10. It can extend in the direction of the picture. In this case, as illustrated, the weight sensor 230 and the base panel 236 may be disposed below the disturbance blocking unit 120. That is, the weight sensor 230 may be disposed on the base panel 236, and the disturbance blocking unit 120 may be disposed on the weight sensor 230. In particular, the base panel 236 and the weight sensor 230 may be disposed under the disturbance blocking unit 120 to reduce the size of the EMC supply device 100.
도 10 및 도 11은 도 1에 도시된 용기와 트렌치 부재를 진동 발생기에 장착하는 방법의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 구성도들이다.10 and 11 are schematic configuration diagrams for explaining another example of a method of mounting the container and the trench member shown in FIG. 1 to the vibration generator.
도 10 및 도 11을 참조하면, 상기 용기(102)와 트렌치 부재(104)가 장착되는 위치는 수평 방향으로 조절될 수 있다. 예를 들면, 상기 진동 발생기(110) 상에 배치되는 서포트 패널(212)은 상기 트렌치 부재(104)의 연장 방향과 평행하게 연장하는 홀들(212A)을 가질 수 있으며, 상기 용기(102)와 트렌치 부재(104)는 상기 보강 부재들(114)과 상기 홀들(212A)을 통과하는 볼트들(216A) 및 상기 볼트들(216A)에 결합되는 너트들(216B)에 의해 상기 진동 발생기(110) 상에 장착될 수 있다.10 and 11, a position at which the container 102 and the trench member 104 are mounted may be adjusted in a horizontal direction. For example, the support panel 212 disposed on the vibration generator 110 may have holes 212A extending in parallel with an extending direction of the trench member 104, and the container 102 and the trench The member 104 is mounted on the vibration generator 110 by bolts 216A passing through the reinforcing members 114 and the holes 212A and nuts 216B coupled to the bolts 216A. It can be mounted on.
상기와 같이 상기 용기(110)와 트렌치 부재(104)의 장착 위치를 조절함으로써 상기 서포트 패널(212)로부터 돌출된 상기 트렌치 부재(104)의 길이를 조절할 수 있으며, 이에 의해 상기 트렌치 부재(104)의 고유 진동수가 조절될 수 있다. 결과적으로, 상기 진동 발생기(110)의 가진 주파수와 상기 트렌치 부재(104)의 고유 진동수를 적절하게 제어함으로써 상기 트렌치 부재(104)의 주파수 특성 및 진폭이 효율적으로 제어될 수 있으며, 이에 따라 상기 EMC 분말의 공급 프로세스가 보다 정밀하게 제어될 수 있다.By adjusting the mounting position of the container 110 and the trench member 104 as described above, the length of the trench member 104 protruding from the support panel 212 can be adjusted, thereby adjusting the trench member 104. The natural frequency of can be adjusted. As a result, by appropriately controlling the excitation frequency of the vibration generator 110 and the natural frequency of the trench member 104, the frequency characteristic and amplitude of the trench member 104 can be efficiently controlled, and thus the EMC The feeding process of the powder can be controlled more precisely.
상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따른 EMC 공급 장치는 기판 상에 실장된 반도체 칩들을 몰딩하기 위하여 사용될 수 있다. 상기 EMC 공급 장치는 EMC 분말을 운반하기 위한 EMC 트레이로 EMC 분말을 공급하는 동안 외란 차단부에 의해 외란이 충분히 차단될 수 있으므로 상기 외란에 의해 EMC 분말이 불규칙적으로 투하되는 것이 방지될 수 있다.The EMC supply apparatus according to the embodiments of the present invention as described above can be used to mold the semiconductor chips mounted on the substrate. Since the disturbance can be sufficiently blocked by the disturbance blocker while supplying the EMC powder to the EMC tray for transporting the EMC powder, the EMC supply device can be prevented from dropping irregularly by the disturbance.
또한, EMC 분말의 중량 및 진동 주파수 및 진폭을 측정하기 위한 중량 센서가 상기 외란 차단부의 측방에 배치됨으로써 상기 EMC 분말의 투하 거리를 감소시킬 수 있으며, 이에 따라 상기 EMC 분말의 비산을 감소시킬 수 있다. 특히, 상기 EMC 분말을 상기 트레이에 공급하는 동안 비산된 EMC 분말은 슈트의 하단부와 인접하도록 배치된 EMC 제거부에 의해 제거될 수 있다.In addition, a weight sensor for measuring the weight and vibration frequency and amplitude of the EMC powder is disposed on the side of the disturbance blocker to reduce the dropping distance of the EMC powder, thereby reducing the scattering of the EMC powder. . In particular, the EMC powder scattered during the supply of the EMC powder to the tray can be removed by an EMC remover disposed adjacent to the bottom of the chute.
추가적으로, EMC 분말을 운반하기 위한 EMC 트레이로 EMC 분말을 공급하기 위한 트렌치 부재 내에 게이트 부재를 배치함으로써 상기 외란에 의해 다량의 EMC 분말이 비정상적으로 투하되는 것을 방지할 수 있다.In addition, by placing the gate member in the trench member for supplying the EMC powder to the EMC tray for transporting the EMC powder, it is possible to prevent abnormal drop of a large amount of the EMC powder by the disturbance.
결과적으로, 상기 EMC 공급 장치는 EMC 분말을 균일하게 상기 트레이에 적재할 수 있으며, EMC 분말에 의한 몰딩 설비의 오염을 충분히 감소시킬 수 있다.As a result, the EMC supply device can load the EMC powder uniformly in the tray, and can sufficiently reduce the contamination of the molding equipment by the EMC powder.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed within the scope of the invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.

Claims (15)

  1. 분말 상태의 에폭시 몰딩 컴파운드를 수용하기 위한 용기;A container for containing the epoxy molding compound in powder state;
    상기 용기로부터 길게 연장하며 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 운반하기 위한 트레이로 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하기 위한 전달 통로로서 기능하는 트렌치 부재;A trench member extending from the vessel and serving as a delivery passage for feeding the epoxy molding compound to a tray for transporting the epoxy molding compound;
    상기 용기와 연결되며 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 상기 용기로부터 상기 트렌치 부재의 단부를 향하여 이동시키며 상기 에폭시 몰딩 컴파운드가 상기 트렌치 부재의 단부로부터 상기 트레이를 향하여 투하되도록 상기 용기와 상기 트렌치 부재를 진동시키는 진동 발생기; 및A vibration generator connected to the vessel and moving the epoxy molding compound from the vessel toward the end of the trench member and vibrating the vessel and the trench member such that the epoxy molding compound is dropped from the end of the trench member toward the tray. ; And
    상기 트렌치 부재로 외부의 교란이 직접 전달되는 것을 감소시키기 위하여 상기 진동 발생기 하부에 배치된 외란 차단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.Epoxy molding compound supply device, characterized in that it comprises a disturbance blocker disposed below the vibration generator to reduce the direct transmission of external disturbance to the trench member.
  2. 제1항에 있어서, 상기 외란 차단부가,The method of claim 1, wherein the disturbance blocking unit,
    상기 진동 발생기를 지지하는 상부 플레이트;An upper plate supporting the vibration generator;
    상기 상부 플레이트 아래에 배치되는 하부 플레이트; 및A lower plate disposed below the upper plate; And
    상기 상부 플레이트와 하부 플레이트 사이에 배치되어 상기 외란을 흡수하기 위한 감쇠 부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.And an attenuating member disposed between the upper plate and the lower plate to absorb the disturbance.
  3. 제2항에 있어서, 상기 감쇠 부재는 다수의 스프링들을 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.3. The epoxy molding compound supply apparatus of claim 2, wherein the damping member comprises a plurality of springs.
  4. 제2항에 있어서, 상기 외란 차단부의 측방에서 상기 외란 차단부와 연결되며 상기 용기 내에 수용된 에폭시 몰딩 컴파운드의 중량과 상기 진동 발생기에 의한 진동 주파수와 진폭을 측정하기 위한 중량 센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.The apparatus of claim 2, further comprising a weight sensor connected to the disturbance blocker on the side of the disturbance blocker and measuring a weight of the epoxy molding compound contained in the container and a vibration frequency and amplitude of the vibration generator. Epoxy molding compound supply apparatus.
  5. 제4항에 있어서, 상기 외란 차단부는 상기 중량 센서로부터 수평 방향으로 연장하는 외팔보와, 상기 외팔보의 단부와 상기 하부 플레이트를 연결하는 브래킷에 의해 상기 중량 센서와 연결되는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.5. The epoxy molding compound supply of claim 4, wherein the disturbance blocking unit is connected to the weight sensor by a cantilever beam extending in the horizontal direction from the weight sensor and a bracket connecting the end of the cantilever beam to the lower plate. 6. Device.
  6. 제5항에 있어서, 상기 하부 플레이트는 상기 중량 센서의 상부면보다 낮게 배치되는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.6. The epoxy molding compound supply apparatus according to claim 5, wherein the lower plate is disposed lower than an upper surface of the weight sensor.
  7. 제1항에 있어서, 상기 트렌치 부재에 접합되어 상기 트렌치 부재를 따라 연장하며 상기 트렌치 부재의 강성을 증가시키기 위한 보강 부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.2. The apparatus of claim 1, further comprising a reinforcing member bonded to the trench member to extend along the trench member and to increase the rigidity of the trench member.
  8. 제1항에 있어서, 상기 트렌치 내부를 따라 운반되는 상기 에폭시 몰딩 컴파운드의 양을 조절하기 위하여 상기 트렌치 부재 내에 배치되는 게이트 부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.The apparatus of claim 1, further comprising a gate member disposed within the trench member to adjust the amount of epoxy molding compound carried along the interior of the trench.
  9. 제8항에 있어서, 상기 게이트 부재는 상기 트렌치 부재의 내측면들과 평행하게 구성되는 측면들을 갖는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.9. The epoxy molding compound supply apparatus according to claim 8, wherein the gate member has sides configured to be parallel to the inner surfaces of the trench member.
  10. 제8항에 있어서, 상기 트렌치 부재는 하방으로 감소되는 폭을 갖는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.9. The epoxy molding compound supply apparatus as claimed in claim 8, wherein the trench member has a width which is reduced downward.
  11. 제1항에 있어서, 상기 트렌치 부재의 단부와 상기 트레이 사이에 배치되어 상기 트렌치 부재의 단부로부터 투하되는 에폭시 몰딩 컴파운드를 상기 트레이로 안내하기 위한 슈트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.The epoxy molding compound supply apparatus according to claim 1, further comprising a chute disposed between the end of the trench member and the tray to guide the epoxy molding compound dropped from the end of the trench member to the tray. .
  12. 제11항에 있어서, 상기 슈트와 인접하게 배치되며, 상기 슈트를 통해 상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 상기 트레이에 공급하는 동안 상기 슈트의 단부와 인접하는 공간에서 발생되는 분진을 제거하기 위한 다수의 진공홀들을 갖는 에폭시 몰딩 컴파운드 제거부를 더 포함하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.12. The apparatus of claim 11, wherein the plurality of vacuum holes are disposed adjacent to the chute to remove dust generated in a space adjacent to the end of the chute while supplying the epoxy molding compound through the chute to the tray. Epoxy molding compound supply device further comprising an epoxy molding compound removal having.
  13. 제12항에 있어서, 상기 에폭시 몰딩 컴파운드 제거부는 상부와 하부가 개방된 흡입 챔버를 포함하고,13. The method of claim 12, wherein the epoxy molding compound removal portion comprises a suction chamber open top and bottom,
    상기 에폭시 몰딩 컴파운드를 공급하는 동안 상기 슈트의 하단부는 상기 흡입 챔버 내에 배치되며, 상기 다수의 진공홀들은 상기 흡입 챔버의 측벽들에 배치되는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.Wherein the lower end of the chute is disposed in the suction chamber while the epoxy molding compound is supplied, and the plurality of vacuum holes are disposed on sidewalls of the suction chamber.
  14. 제13항에 있어서, 상기 에폭시 몰딩 컴파운드 제거부는,The method of claim 13, wherein the epoxy molding compound removal portion,
    상기 흡입 챔버와 연결되고, 개방된 상부 및 닫힌 하부를 구성하는 측벽들 및 바닥 패널을 가지며, 상기 용기에 수용된 에폭시 몰딩 컴파운드를 제거하기 위하여 상기 트렌치 부재를 통해 상기 제2 흡입 챔버로 투하되는 에폭시 몰딩 컴파운드를 흡입하기 위한 다수의 제2 진공홀들을 갖는 제2 흡입 챔버; 및 An epoxy molding connected to the suction chamber and having sidewalls and bottom panels constituting an open top and a closed bottom, the epoxy molding being dropped into the second suction chamber through the trench member to remove the epoxy molding compound contained in the container; A second suction chamber having a plurality of second vacuum holes for sucking the compound; And
    상기 흡입 챔버 및 제2 흡입 챔버의 위치를 조절하기 위하여 상기 흡입 챔버 및 제2 흡입 챔버를 이동시키는 구동부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.Epoxy molding compound supply device further comprises a drive for moving the suction chamber and the second suction chamber to adjust the position of the suction chamber and the second suction chamber.
  15. 제1항에 있어서, 상기 트렌치 부재는 수평 방향 또는 하방으로 경사진 방향으로 연장하는 것을 특징으로 하는 에폭시 몰딩 컴파운드 공급 장치.The epoxy molding compound supply apparatus according to claim 1, wherein the trench member extends in a horizontal direction or a downwardly inclined direction.
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