WO2007043532A1 - 電流検出回路およびそれを用いた受光装置ならびに電子機器 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a current detection circuit that detects a current flowing through a light receiving device.
- light incident from the outside is measured, and signal processing corresponding to the measured amount of received light is performed.
- Examples of this include illuminance sensors and infrared remote control light receiving devices.
- Phototransistors, photodiodes, and CCDs (Charge Coupled Devices) are widely used as light receiving devices that receive light.
- Phototransistors and photodiodes output a current corresponding to the amount of received light. Therefore, the light receiving device performs signal processing by amplifying the current flowing through these light receiving devices or converting the voltage.
- Patent Document 1 discloses a configuration of a light receiving circuit using an operational amplifier.
- Patent Document 1 Japanese Patent Laid-Open No. 2005-216984
- the present invention has been made in view of the prominent problem, and one of its purposes is to provide a current detection circuit capable of stably detecting a photocurrent while maintaining a bias state of a light receiving device.
- One embodiment of the present invention is a current detection circuit that detects a current flowing through a light receiving device.
- This current detection circuit includes a first transistor provided on the current path of the light receiving device, one end of the first transistor, a first resistor provided between terminals having a fixed potential, and a current along with the first transistor.
- a mirror circuit is provided between the second transistor that outputs the current detection circuit by multiplying the current flowing through the first transistor by a predetermined factor, one end of the second transistor, and a terminal at which the potential is fixed.
- a second resistor is provided between the second transistor that outputs the current detection circuit by multiplying the current flowing through the first transistor by a predetermined factor, one end of the second transistor, and a terminal at which the potential is fixed.
- the potential at the connection point between the light receiving device and the first transistor is maintained at a substantially constant value regardless of the magnitude of the photocurrent flowing through the light receiving device.
- the photocurrent can be detected stably.
- the current detection circuit may further include an adjustment resistor connected in parallel with the second resistor.
- the impedance on the emitter side or source side of the second transistor of the current mirror circuit can be adjusted according to the type, characteristics, or variation of the light receiving device connected to this current detection circuit. Stable photocurrent detection is possible.
- the size of the second transistor may be set larger than the size of the first transistor, and the resistance value of the second resistor may be set larger than the resistance value of the first resistor.
- the output current can be set lower than the input current of the current mirror circuit, the current consumption of the circuit can be reduced, or the capacitance value of the capacitor used for current-voltage conversion can be reduced.
- a current flowing through the second transistor may be charged into a capacitor, converted into a voltage, and output.
- the photocurrent can be integrated and converted into a voltage, and the amount of light incident on the light receiving device can be detected.
- the first and second transistors, the first and second resistors may be integrated on one semiconductor substrate, and the adjusting resistor may be connected to the outside of the semiconductor substrate.
- the circuit characteristics must be adjusted at the manufacturing stage or inspection stage of the set using the current detection circuit. Therefore, it is possible to improve the yield with respect to circuit characteristics and variations in phototransistors.
- This light receiving device includes a light receiving device and the above-described current detection circuit that detects a photocurrent flowing through the light receiving device.
- the light receiving device may be a phototransistor or a photodiode! /.
- the electronic apparatus includes a light emitting device and a light receiving device that detects light reflected by an external object from light emitted from the light emitting device.
- the light emitting device may stop light emission when the amount of reflected light detected by the light receiving device reaches a predetermined value.
- the current detection circuit according to the present invention enables stable light detection.
- FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an electronic device according to an embodiment.
- FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of the light receiving device of FIG. 1.
- FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of a light emission control unit in FIG. 1.
- FIG. 4 is a time chart showing the operating state of the electronic device of FIG.
- FIG. 5 is a diagram showing current characteristics of a first transistor that is a neuropolar transistor.
- FIG. 6 is a time chart showing the operating state of the current detection circuit and the electronic device when the amount of light received by the phototransistor is small.
- member A and member B are connected means that member A and member B are physically directly connected, or member A and member B. Including the case where B is indirectly connected through another member that does not affect the electrical connection state or is indispensable.
- FIG. 1 is a diagram showing a configuration of electronic device 300 according to the present embodiment.
- Electronic device 300 according to the present embodiment is a mobile phone terminal with a camera, for example, and includes a flash.
- the electronic device 300 includes a light receiving device that detects light that is reflected and returned after emitting light from the flash, and stops light emission when a predetermined amount of light is detected.
- the electronic device 300 includes a battery 310, a DCZDC converter 320, a light emitting device 330, a light emission control unit 340, a light emission control transistor 350, and a light receiving device 200.
- the battery 310 is a Li-ion battery or the like, and outputs a battery voltage Vbat of about 3V to 4V.
- the DCZDC converter 320 boosts the battery voltage Vbat to about 300 V in order to drive the light emitting device 330.
- the drive voltage Vdrv generated by the DCZDC converter 320 is supplied to the light emitting device 330.
- the light emitting device 330 is, for example, a xenon tube lamp, and is increased to about 300V.
- the pressed drive voltage Vdrv is applied to one end.
- a light emission control transistor 350 is connected to the other end of the light emitting device 330.
- a high-pressure IGBT Insulated Gate Bipolar Transistor
- the light emission control signal SIG 1 output from the light emission control unit 340 is input to the gate of the light emission control transistor 350.
- the light emission control unit 340 receives a control signal CNT that becomes high level in synchronization with the shutter timing. As described later, the light emission control unit 340 switches the light emission control signal SIG1 to the noise level based on the control signal CNT. When the light emission control signal SIG1 becomes high level, the light emission control transistor 350 is turned on after the delay time has elapsed, and the light emitting device 330 emits light. The delay time is determined by the characteristics of the xenon tube lamp.
- the light emission control unit 340 generates the first control signal CNT1 to the third control signal CNT3 based on the control signal CNT and outputs them to the light receiving device 200.
- the light receiving device 200 transitions to a standby state for light reception by the first control signal CNT1 to the third control signal CNT3 output from the light emission control unit 340. Thereafter, the light receiving device 200 detects the light emitted from the light emitting device 330 and reflected back to the external object to be photographed, and outputs the detected voltage Vdet.
- the light emission control unit 340 sets the light emission control signal SIG1 to low level and causes the light emitting device 330 to emit light. Stop.
- FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of light receiving device 200 according to the present embodiment.
- the light receiving device 200 includes a current detection circuit 100, a phototransistor 210, a charging capacitor Cchg, and an adjustment resistor Radj.
- the current detection circuit 100 is an IC integrated on a single semiconductor substrate.
- the current detection circuit 100 is a functional IC 302 along with the light emission control unit 340 of FIG. 1 and the control circuit of the DCZDC converter 320. It is integrated.
- the phototransistor 210 is provided as a light receiving device, and a photocurrent Ip corresponding to incident light flows.
- the emitter of the phototransistor 210 is grounded, and the collector is connected to the detection terminal 102 of the current detection circuit 100.
- the current detection circuit 100 detects the photocurrent Ip flowing through the phototransistor 210 connected to the detection terminal 102.
- the current detection circuit 100 includes a first transistor Ql, a second transistor Q2, a first bias resistor Rbiasl, a second bias resistor Rbias2, a bias switch SW1, a bypass switch SW2, a first resistor R10, and a second resistor R12. Further, outside the current detection circuit 100, an adjustment resistor Radj is connected between the resistance connection terminal 106 and the resistance connection terminal 108, and a charging capacitor Cchg is connected to the capacitance connection terminal 104.
- the first transistor Q1 is a PNP-type bipolar transistor (hereinafter simply referred to as a PNP transistor), and is provided on the current path of the phototransistor 210 that is a light receiving device.
- a first resistor R10 is connected between the emitter of the first transistor Q1 and the power supply line to which the power supply voltage Vdd is applied.
- the base collector of the first transistor Q1 is connected.
- the second transistor Q2 is a PNP transistor, and the first transistor Q1 and the base are connected in common.
- a second resistor R12 is provided between the emitter of the second transistor Q2 and the power supply line.
- the adjusting resistor Radj is connected in parallel with the second resistor R12.
- the second transistor Q2 forms a current mirror circuit together with the first transistor Ql, the first resistor R10, the second resistor R12, and the adjusting resistor Radj.
- the second transistor Q2 outputs a second current Iq2 obtained by multiplying the first current Iql flowing through the first transistor Q1 by a predetermined coefficient.
- the size ratio between the first transistor Q1 and the second transistor Q2 is set to about 4: 1.
- a path from the collector of the first transistor Q 1 to the ground via the detection terminal 102 and the phototransistor 210 is defined as a main current path 10.
- a second bias resistor Rbias2 is provided between the first transistor Q1 and the detection terminal 102 in the main current path 10.
- the resistance value of the second bias resistor Rbias2 is set sufficiently high, for example, in the range of several ⁇ to several tens of ⁇ . In this embodiment, as an example, it is set to 10 ⁇ .
- the main current path 10 further includes a bypass switch SW2 that bypasses the second bias resistor Rbias2.
- the bypass switch SW2 is controlled to be turned on / off by the first control signal CNT1 output from the light emission control unit 340.
- the bias current path 12 is provided in parallel with the main current path 10.
- the bias current path 12 is a first bias resistor Rbias connected in series between the collector of the first transistor Q1 and the ground. 1 and bias switch SW1 are included.
- the resistance value of the first bias resistor Rbiasl is set to about 1Z10, for example, which is sufficiently lower than the second bias resistor Rbias2.
- the resistance value of the second bias resistor Rbias2 is 1 M ⁇ , for example.
- the bias switch SW1 is controlled to be turned on / off by a third control signal CNT3 generated by the light emission control unit 340.
- the bias current path 12 is turned on and current flows.
- the current flowing in the bias current path 12 is referred to as a bias current Ibias.
- the collector of the second transistor Q2 is connected to the capacitor connection terminal 104 via the mask switch SW3.
- the current detection circuit 100 charges the charging capacitor Cchg with the second current Iq2 flowing through the second transistor Q2, and converts it into a voltage.
- On / off of the mask switch SW3 is controlled by a second control signal CNT2 generated in the light emission control unit 340.
- the mask switch SW3 is turned off when the second control signal CNT2 is high and turned on when it is low. When the mask switch SW3 is turned off, the path of the second current Iq2 is cut off, and charging of the charging capacitor Cchg stops.
- a discharge switch SW4 is provided between the capacitor connection terminal 104 and the ground.
- the discharging switch SW4 is an NMOS transistor and is connected in parallel with the charging capacitor Cchg.
- the drain is connected to the capacitor connection terminal 104, the source is grounded, and the second control signal CNT2 generated by the light emission control unit 340 is input to the gate.
- the discharge switch SW4 is turned on when the second control signal CNT2 is high and turned off when it is low.
- the discharge switch SW4 is turned on, the capacitor connection terminal 104 is grounded, and the charge stored in the charging capacitor Cchg is discharged.
- the discharge switch SW4 is turned on for a predetermined time ⁇ 1 by the second control signal CNT2.
- the on / off of the discharge switch SW4 and the mask switch SW3 is controlled by the same second control signal CNT2.
- the current detection circuit 100 outputs the voltage appearing at the capacitor connection terminal 104 to the light emission control unit 340 as the detection voltage Vdet.
- FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of light emission control unit 340 according to the present embodiment.
- the light emission control unit 340 includes the comparator 20, D A latch circuit 22, a one-shot circuit 24, a first inverter 26, a NAND gate 28, a driver circuit 30, a second inverter 32, and a delay circuit 34 are included.
- the light emission control unit 340 generates the first control signal CNT1 to the third control signal CNT3 based on the control signal CNT whose signal level changes prior to the start of light reception of the phototransistor 210 input to the control terminal 342. Output to the current detection circuit 100. Further, the light emission control unit 340 generates the light emission control signal SIG 1 based on the control signal CNT and the detection voltage Vdet output from the current detection circuit 100, and controls light emission and light emission stop of the light emitting device 330.
- the control signal CNT input to the control terminal 342 is output to the current detection circuit 100 as the first control signal CNT1 as it is.
- the second control signal CNT2 is generated by delaying the control signal CNT by the resistors R20 and R22, the transistor Ql, the first inverter 26, the second inverter 32, and the delay circuit 34.
- the transistor Q1 is an NPN-type bipolar transistor, and is emitter-grounded.
- a resistor R22 is provided between the collector and the power supply line.
- a resistor R20 is connected between the base of the transistor Q1 and the control terminal 342.
- the resistors R20 and R22 and the transistor Q1 logically invert the control signal CNT and output it.
- the first inverter 26 logically inverts the inverted control signal CNT again.
- the output signal SIG10 of the first inverter 26 is input to the second inverter 32.
- the second inverter 32 logically inverts the output signal SIG10 of the first inverter 26 and outputs it to the delay circuit 34.
- the delay circuit 34 delays the output signal of the second inverter 32 by a predetermined time ⁇ 1.
- the signal output from the delay circuit 34 is output to the current detection circuit 100 as the second control signal CNT2.
- the delay time ⁇ 1 by the delay circuit 34 is set to about 5 s.
- a control signal CNT whose signal level changes prior to the start of light reception by the phototransistor 210 is input to the one-shot circuit 24.
- the one-shot circuit 24 outputs the third control signal CNT3 that becomes high level for a predetermined time ⁇ 2 when the control signal CNT becomes high level.
- the one-shot circuit 24 is a latch circuit that latches the control signal CNT for a predetermined time ⁇ 2.
- the third control signal CNT3 is output to the bias switch SW1 and controls its on / off.
- the predetermined time ⁇ 2 is set to, for example, about 10 s longer than the delay time ⁇ 1.
- the light emission control unit 340 configured as described above generates the first control signal CNT1 to the third control signal CNT3 and outputs them to the current detection circuit 100.
- This block includes a comparator 20, a D latch circuit 22, a NAND gate 28, and a driver circuit 30.
- the comparator 20 compares the detection voltage Vdet output from the current detection circuit 100 with a predetermined threshold voltage Vth. When Vdet> Vth, the comparator 20 is high level, and Vdet is low when Vth. Outputs signal SIG12.
- the comparison signal SIG12 output from the comparator 20 is input to the clock terminal of the D latch circuit 22.
- the data terminal of the D latch circuit 22 is connected to the power supply line and is fixed at a high level.
- the control signal CNT is input to the reset terminal of the D latch circuit 22.
- the D latch circuit 22 functions as a latch circuit that is set by the positive edge of the comparison signal SIG12 and reset by the negative edge of the control signal CNT.
- the inverted output signal SIG14 of the D latch circuit 22 is output to the NAND gate 28.
- the NAND gate 28 outputs a negative logical product of the output signal SIG10 of the first inverter 26 and the inverted output signal SIG14 of the D latch circuit 22.
- the driver circuit 30 outputs a light emission control signal SIG1 that becomes high level while the output signal of the NAND gate 28 is low level.
- FIG. 4 is a time chart showing operating states of the current detection circuit 100 and the electronic device 300 according to the present embodiment.
- the power supply voltage Vdd has risen, and the current detection circuit 100 is in a standby state.
- a very small photocurrent Ip (dark current) flows through the phototransistor 210.
- This photocurrent Ip flows through the first transistor Q1 as the first current Iql.
- the first transistor Q1 is connected between the collector and emitter because the base and collector are connected.
- the voltage Vce is equal to the base-emitter voltage Vbe.
- the control signal CNT force S becomes a high level, and the light emitting device 330 is instructed to emit light.
- the first control signal CNT1 goes high.
- the third control signal CNT3 output from the one-shot circuit 24 is at a high level for a predetermined time ⁇ 2 from time T1.
- the current Iql flowing through the first transistor Q1 is the sum (Ip + Ibias) of the photocurrent Ip and the bias current Ibias.
- the resistance value of the first bias resistor Rbiasl is set sufficiently lower than the resistance value of the second bias resistor Rbias2
- the first current Iql flowing through the first transistor Q1 increases.
- the collector emitter voltage Vce of the first transistor Q1 becomes larger than that before the time TO, and the potential Vptr of the detection terminal 102 decreases.
- the bypass switch SW2 is turned on and the bias current Ibias is caused to flow through the bias current path 12, whereby the first current Iql is increased.
- An increase in the first current Iql means an increase in the collector current Ice of the first transistor Q1.
- FIG. 5 is a diagram showing a current characteristic of the first transistor Q1 that is a bipolar transistor.
- the voltage Vptr of 102 fluctuates.
- the noise state of the phototransistor 210 changes and the photocurrent Ip may change.
- the characteristics of the current mirror circuit including the first transistor Q1 and the second transistor Q2 may deteriorate.
- the bias switch SW1 is turned on at time T0 prior to the start of light reception to increase the first current Iql.
- the first transistor Q1 is biased in the constant current region, the change amount of the collector-emitter voltage Vce with respect to the change amount of the collector current Ice is reduced, and the voltage Vptr of the detection terminal 102 can be kept constant. If the voltage Vptr at the detection terminal 102 is kept constant, the characteristics of the phototransistor 210 can be kept constant, and the characteristics of the current mirror circuit including the first transistor Ql and the second transistor Q2 must be kept good. Can do.
- the second control signal CNT2 is latched from the time TO when the control signal CNT transitions to the low level high level to the time T1 after the lapse of the predetermined time ⁇ 1, and maintains the high level. While the second control signal CNT2 is at the high level, the discharge switch SW4 is turned on, so that the charge stored in the charging capacitor Cchg is discharged and initialized. Further, since the mask switch SW3 is turned off while the second control signal CNT2 is at the high level, the path of the second current Iq2 is interrupted. As a result, before time T1, even if light enters the light emitting device 330 and the photocurrent Ip flows, the charging capacitor Cchg is not charged, and the detection voltage Vdet is fixed to the ground potential. In addition, since the circuit current is cut off, the power consumption can be reduced.
- the light emission control signal SIG1 becomes a high level, and the light emitting device 330 becomes ready to emit light.
- the light-emitting device 330 according to the present embodiment emits light with a delay of time ⁇ after the light-emission control signal SIG1 becomes negative. Therefore, it is necessary to set the predetermined time ⁇ T1 to be shorter than time.
- the mask switch SW3 is turned on, the discharge switch SW4 is turned off, and the current detection circuit 100 enters a standby state.
- the light emitting device 330 emits light at time T2 after a lapse of time from time TO when the light emission control signal SIG1 becomes high level.
- the light emitting device 330 emits light, the reflected light enters the phototransistor 210 and a photocurrent Ip flows.
- the bias current path 12 since the bias current path 12 is off, the first current Iql flowing through the first transistor Q1 is equal to the photocurrent Ip.
- the potential Vptr of the detection terminal 102 hardly fluctuates.
- the charging capacitor Cchg is charged by the second current Iq2 output from the second transistor Q2, and the detection voltage Vdet gradually increases.
- the detection voltage Vdet reaches a predetermined threshold voltage Vth at time T3
- the comparison signal SIG12 that is the output of the comparator 20 becomes high level
- the inverted output signal SIG14 of the D latch circuit 22 becomes low level.
- the light emission control signal SIG1 output from the driver circuit 30 becomes a low level
- the light emission control transistor 350 is turned off, and the light emission of the light emitting device 330 is stopped.
- a current mirror circuit is connected to replicate the photocurrent.
- the collector voltage of the first transistor Q1 does not fluctuate so much, so the collector voltage Vptr of the phototransistor 210 can be kept constant, and stable photodetection is possible.
- the collector voltage of the phototransistor 210 becomes a substantially constant value, so that the dynamic range can be widened.
- the current detection circuit 100 by turning on the bias switch SW1 prior to the start of light emission of the light emitting device 330, that is, the start of light reception by the phototransistor 210, the current mirror circuit The first transistor Q1 that constitutes can be biased to a constant current region. Further, as a result, the collector voltage of the phototransistor 210, that is, the potential Vptr of the detection terminal 102 can be maintained at a substantially constant value regardless of the value of the photocurrent Ip, and stable light detection can be performed.
- the second current Iq2 that is the output current of the current mirror circuit can be reduced.
- the current consumption of the circuit can be reduced, and the capacitance value of the charging capacitor Cchg can be reduced.
- the characteristics of the current detection circuit 100 can be adjusted according to the characteristics and variations of the phototransistor 210 connected to the detection terminal 102. This makes it possible to detect a stable current and improve the yield against variations in the phototransistor.
- the current switch circuit 1 is turned on before the light emission of the light emitting device 330, that is, the light reception by the phototransistor 210 is started, so that the current mirror circuit is configured.
- the first transistor Q1 can be biased to a constant current region.
- the collector voltage of the phototransistor 210 that is, the potential Vptr of the detection terminal 102 can be maintained at a substantially constant value regardless of the value of the photocurrent Ip, and stable light detection can be performed.
- the impedance of the main current path 10 can be increased during the period before the start of light reception, and the current consumption of the circuit can be reduced.
- FIG. 6 is a time chart showing the operating states of the current detection circuit 100 and the electronic device 300 when the amount of light received by the phototransistor 210 is small.
- the waveform before the start of light reception by the phototransistor 210 is the same as that in FIG.
- the light emitting device 330 emits light at time ⁇ 2 after time ⁇ has elapsed from time TO when the control signal CNT becomes high level.
- the intensity of the reflected light becomes weak, so the amount of received light becomes small.
- the photocurrent Ip becomes smaller than in the case of FIG. 4, and the rising speed of the detection voltage Vdet becomes slow.
- the first current Iql flowing through the first transistor Q1 is the sum of the photocurrent Ip and the bias current Ibias! /.
- the third control signal CNT3 becomes low level at time T3 after the lapse of the predetermined time ⁇ 2.
- the bias switch SW1 is turned off and the bias current path 12 is turned off.
- the noise switch SW1 is turned off, the bias current Ibias does not flow, so the first current Iql flowing through the first transistor Q1 is It becomes equal to the photocurrent Ip.
- the charging current for the charging capacitor Chg decreases, and the rising speed of the detection voltage Vdet decreases.
- the detection voltage Vdet reaches the value voltage Vth at time T5
- the light emission control signal SIG1 becomes low level, and the light emission of the light emitting device 330 stops.
- the phototransistor 210 starts receiving light and the force is also a predetermined time (in this embodiment,
- the light receiving device 200 and the light emission control unit 340 according to the present embodiment have a predetermined time (
- the first current Iql is set equal to the photocurrent Ip, thereby accurately detecting the amount of light received by the phototransistor 210 and turning off the light emitting device 330. It is possible to suitably control the time until.
- the provision of the discharge switch SW4 and the mask switch SW3 has the following effects.
- the phototransistor 210 When a power supply voltage is applied to the current detection circuit 100, the phototransistor 210 is biased, so that a dark current flows or a photocurrent Ip flows due to light that should not be received by an external force, The charging capacitor Cchg may be charged. Therefore, by turning on the discharge switch SW4 for a predetermined period prior to the start of light reception by the phototransistor 210, the charging capacitor Cchg is prevented from being charged by an unnecessary current and is stored in the charging capacitor Cchg. The charge can be discharged and the detection voltage Vdet can be set to the initial value. Furthermore, before the phototransistor 210 starts light reception, the charging capacitor Cchg is charged by the second current Iq2 by turning off the mask switch SW3. Can be prevented, and the current consumption of the circuit can be reduced.
- the light emission control signal SIG1 becomes high when the detection voltage Vdet fluctuates near the threshold voltage Vth.
- the light emitting device 330 can be prevented from repeating the light emission state and the light emission stop state.
- the present invention is not limited to this.
- the size of the phototransistor 210 is very small and the photocurrent Ip is small, or when the capacitance value of the charging capacitor Cchg is small, the size of the second transistor Q2 is made larger than the size of the first transistor Q1, Current amplification may be performed.
- the force constituted by the first bias resistor Rbia si and the bias switch SW1 in which the noise current path 12 is connected in series is not limited to this, and a constant current source that generates a predetermined current is used. Also good. In this case, the bias state of the first transistor Q1 can be changed by turning on and off the constant current source.
- a force photodiode using a phototransistor 210 as a light receiving device may be used instead.
- elements composed of MOSFETs and bipolar transistors can be replaced with each other. These selections may be determined according to the semiconductor manufacturing process, cost, and use required for the circuit.
- a circuit configuration in which the power supply voltage and ground potential are inverted and the PNP transistor and NPN transistor or the PMOS transistor and NMOS transistor are replaced is also effective.
- the current detection circuit 100 is an electronic device 300 using the light receiving device 200.
- the electronic device 300 is not limited to the above-described mobile phone terminal. It can be widely used for devices that detect light using diodes and phototransistors!
- the present invention can be used for a photodetection circuit.
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Abstract
受光デバイスに流れる電流を正確に検出可能な電流検出回路が提供される。 第1トランジスタQ1は、フォトトランジスタ210の電流経路上に設けられる。第1抵抗R10は、第1トランジスタQ1の一端と、電源ライン間に設けられる。第2トランジスタQ2は、第1トランジスタQ1とともにカレントミラー回路を構成し、第1トランジスタQ1に流れる電流を所定係数倍し、一端の電位が固定された充電キャパシタCchgを充電する。第2抵抗R12は、第2トランジスタQ2の一端と、電源ライン間に設けられる。
Description
明 細 書
電流検出回路およびそれを用いた受光装置ならびに電子機器
技術分野
[0001] 本発明は、受光デバイスに流れる電流を検出する電流検出回路に関する。
背景技術
[0002] さまざまな電子機器にぉ 、て、外部から入射する光を測定し、測定した受光量に応 じた信号処理を行っている。このような例としては、照度センサ、赤外線リモコンの受 光装置などが挙げられる。光を受光する受光デバイスとしては、フォトトランジスタゃフ オトダイオード、 CCD (Charge Coupled Device)などが広く用いられている。
[0003] フォトトランジスタやフォトダイオードは、受光量に応じた電流を出力する。したがつ て、受光装置は、これらの受光デバイスに流れる電流を増幅し、あるいは電圧変換す るなどして信号処理を行っている。たとえば、特許文献 1には、演算増幅器を用いた 受光回路の構成が開示されている。
[0004] 特許文献 1:特開 2005— 216984号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0005] 特許文献 1に記載されるように、従来の受光装置においては、フォトダイオードゃフ オトトランジスタなどの受光デバイスに対して直列に抵抗を接続し、抵抗に発生する 電圧に対して信号処理を行うものが一般的であった。ところが、この回路構成では、 受光デバイスに流れる光電流が変化すると、抵抗の電圧降下が変化することになる。 その結果、受光デバイスと電流検出回路の接続点、すなわちフォトダイオードのカソ ードや、フォトトランジスタのコレクタの電位が変動することになり、受光デバイスのバ ィァス状態が変化し、同一の光量が入射していても、発生する光電流の電流値が変 動してしまう。
[0006] さらに、光電流が増加し、抵抗の電圧降下が大きくなると、フォトトランジスタのコレク タエミッタ間電圧が小さくなつていくため、フォトトランジスタが動作しなくなってしまう ため、ダイナミックレンジに制約を受ける場合があった。
[0007] 本発明は力かる課題に鑑みてなされたものであり、その目的のひとつは、受光デバ イスのバイアス状態を保ち、安定した光電流の検出が可能な電流検出回路の提供に ある。
課題を解決するための手段
[0008] 本発明のある態様は、受光デバイスに流れる電流を検出する電流検出回路である 。この電流検出回路は、受光デバイスの電流経路上に設けられた第 1トランジスタと、 第 1トランジスタの一端と、電位の固定された端子間に設けられた第 1抵抗と、第 1トラ ンジスタとともにカレントミラー回路を構成し、第 1トランジスタに流れる電流を所定係 数倍して本電流検出回路の出力とする第 2トランジスタと、第 2トランジスタの一端と、 電位の固定された端子間に設けられた第 2抵抗と、を備える。
[0009] この態様〖こよると、受光デバイスと第 1トランジスタの接続点の電位は、受光デバイ スに流れる光電流の大きさにかかわらずほぼ一定値に保たれるため、受光デバイス のバイアス状態を保つことができ、光電流を安定に検出することができる。
[0010] 電流検出回路は、第 2抵抗と並列に接続された調節抵抗をさらに備えてもよい。こ の場合、本電流検出回路に接続される受光デバイスの種類、特性、あるいはばらつ きに応じて、カレントミラー回路の第 2トランジスタのェミッタ側もしくはソース側のイン ピーダンスを調節することができ、安定した光電流の検出が可能となる。
[0011] 第 2トランジスタのサイズを第 1トランジスタのサイズより大きく設定し、第 2抵抗の抵 抗値を、第 1抵抗の抵抗値より大きく設定してもよい。この場合、カレントミラー回路の 入力電流に対して、出力電流を低く設定することができるため、回路の消費電流を低 減し、あるいは電流電圧変換に使用するキャパシタの容量値を小さくすることができ る。
[0012] 第 2トランジスタに流れる電流を容量に充電し、電圧に変換して出力してもよい。力 レントミラー回路の出力電流によって、容量に充電することによって、光電流を積分し て電圧変換することができ、受光デバイスに入射した光量を検出することができる。
[0013] 第 1、第 2トランジスタ、第 1、第 2抵抗をひとつの半導体基板上に一体集積化すると ともに、調節抵抗を半導体基板の外部に接続してもよい。この場合、本電流検出回 路を用いたセットの製造段階、あるいは検査段階において、回路特性を調節すること
ができ、回路特性およびフォトトランジスタのばらつきに対する歩留まりの向上を図る ことができる。
[0014] 本発明の別の態様は、受光装置である。この受光装置は、受光デバイスと、受光デ バイスに流れる光電流を検出する上述の電流検出回路と、を備える。受光デバイス は、フォトトランジスタあるいはフォトダイオードであってもよ!/、。
[0015] 本発明のさらに別の態様は、電子機器である。この電子機器は、発光デバイスと、 発光デバイス力 発せられた光が、外部の物体により反射した光を検出する受光装 置と、を備える。発光デバイスは、受光装置により検出した反射光の光量が所定値に 達すると、発光を停止してもよい。
[0016] なお、以上の構成要素の任意の組合せや本発明の構成要素や表現を、方法、装 置、システムなどの間で相互に置換したものもまた、本発明の態様として有効である。 発明の効果
[0017] 本発明に係る電流検出回路によれば、安定した光検出が可能となる。
図面の簡単な説明
[0018] [図 1]実施の形態に係る電子機器の構成を示す回路図である。
[図 2]図 1の受光装置の構成を示す回路図である。
[図 3]図 1の発光制御部の構成を示す回路図である。
[図 4]図 1の電子機器の動作状態を示すタイムチャートである。
[図 5]ノイポーラトランジスタである第 1トランジスタの電流特性を示す図である。
[図 6]フォトトランジスタによる受光量が小さいときの電流検出回路および電子機器の 動作状態を示すタイムチャートである。
符号の説明
[0019] 10 主電流経路、 12 バイアス電流経路、 20 コンパレータ、 22 Dラッチ回 路、 24 ワンショット回路、 26 第 1インバータ、 28 NANDゲート、 30 ドライ バ回路、 32 第 2インバータ、 34 遅延回路、 C20 キャパシタ、 100 電流検 出回路、 102 検出端子、 104 容量接続端子、 106 抵抗接続端子、 108 抵抗接続端子、 200 受光装置、 210 フォトトランジスタ、 300 電子機器、 3 02 機能 IC、 310 電池、 320 DCZDCコンバータ、 330 発光デバイス、 3
40 発光制御部、 350 発光制御トランジスタ、 R10 第 1抵抗、 R12 第 2抵抗 、 Q1 第 1トランジスタ、 Q2 第 2トランジスタ、 Rbiasl 第 1バイアス抵抗、 Rbi as2 第 2バイアス抵抗、 SW1 ノ ィァススィッチ、 SW2 バイパススィッチ、 SW 3 マスク用スィッチ、 SW4 放電用スィッチ、 Radj 調節抵抗、 Cchg 充電キヤ パシタ、 CNT1 第 1制御信号、 CNT2 第 2制御信号、 CNT3 第 3制御信号 発明を実施するための最良の形態
[0020] 以下、本発明を好適な実施の形態をもとに図面を参照しながら説明する。各図面に 示される同一または同等の構成要素、部材、処理には、同一の符号を付するものとし 、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は、発明を限定するものではなく 例示であって、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは、必ずし も発明の本質的なものであるとは限らない。
[0021] また、本明細書にぉ ヽて、「部材 Aと部材 Bが接続される」とは、部材 Aと部材 Bが物 理的に直接的に接続される場合や、部材 Aと部材 Bが、電気的な接続状態に影響を 及ぼさな 、かあるいは及ぼしても本質的でな 、他の部材を介して間接的に接続され る場合も含む。
[0022] 図 1は、本実施の形態に係る電子機器 300の構成を示す図である。本実施の形態 に係る電子機器 300は、たとえば、カメラ付き携帯電話端末であり、フラッシュを備え ている。電子機器 300は、フラッシュを発光した後、反射して戻ってきた光を検出する 受光装置を備えており、所定の光量を検出すると、フラッシュの発光を停止するもの である。
[0023] 電子機器 300は、電池 310、 DCZDCコンバータ 320、発光デバイス 330、発光制 御部 340、発光制御トランジスタ 350、受光装置 200を備える。
電池 310は、 Liイオン電池などであり、 3V〜4V程度の電池電圧 Vbatを出力する。 DCZDCコンバータ 320は、発光デバイス 330を駆動するために、電池電圧 Vbatを 300V程度まで昇圧する。 DCZDCコンバータ 320により生成される駆動電圧 Vdrv は、発光デバイス 330へと供給される。
[0024] 発光デバイス 330は、たとえばキセノンチューブランプであって、 300V程度まで昇
圧された駆動電圧 Vdrvがその一端に印加されて ヽる。発光デバイス 330の他端に は、発光制御トランジスタ 350が接続される。発光制御トランジスタ 350としては、高 而圧の IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor)などが用いられる。発光制 御トランジスタ 350のゲートには、発光制御部 340から出力される発光制御信号 SIG 1が入力される。
[0025] 発光制御部 340には、ユーザがフラッシュをオンにすると、シャッターのタイミングと 同期してハイレベルとなる制御信号 CNTが入力されて 、る。発光制御部 340は後述 のように、制御信号 CNTにもとづいて発光制御信号 SIG1をノヽィレベルに切り換える 。発光制御信号 SIG1がハイレベルとなると、遅延時間て経過後に発光制御トランジ スタ 350がオンし、発光デバイス 330が発光する。遅延時間ては、キセノンチューブ ランプの特性で決まる。
[0026] また、発光制御部 340は、制御信号 CNTにもとづき、第 1制御信号 CNT1〜第 3制 御信号 CNT3を生成し、受光装置 200へと出力する。受光装置 200は、発光制御部 340から出力される第 1制御信号 CNT1〜第 3制御信号 CNT3によって、受光のた めのスタンバイ状態へと遷移する。その後、受光装置 200は、発光デバイス 330から 発光され、外部の撮影対象物に反射して戻ってきた光を検出し、検出電圧 Vdetとし て出力する。発光制御部 340は、検出電圧 Vdetが所定のしきい値電圧 Vthを超える と、すなわち検出した反射光が、所定の光量に達すると、発光制御信号 SIG1をロー レベルとして、発光デバイス 330の発光を停止する。
[0027] 次に、本実施の形態に係る受光装置 200の構成について詳細に説明する。図 2は 、本実施の形態に係る受光装置 200の構成を示す回路図である。受光装置 200は、 電流検出回路 100、フォトトランジスタ 210、充電キャパシタ Cchg、調節抵抗 Radjを 含む。電流検出回路 100はひとつの半導体基板上に一体集積ィ匕された ICであり、 本実施の形態においては、図 1の発光制御部 340や、 DCZDCコンバータ 320の制 御回路などとともに、機能 IC302として一体集積化されている。
[0028] フォトトランジスタ 210は、受光デバイスとして設けられており、入射した光に応じた 光電流 Ipが流れる。フォトトランジスタ 210のェミッタは接地され、コレクタは電流検出 回路 100の検出端子 102に接続される。
[0029] 電流検出回路 100は、検出端子 102に接続されるフォトトランジスタ 210に流れる 光電流 Ipを検出する。電流検出回路 100は、第 1トランジスタ Ql、第 2トランジスタ Q 2、第 1バイアス抵抗 Rbiasl、第 2バイアス抵抗 Rbias2、バイアススィッチ SW1、バイ パススィッチ SW2、第 1抵抗 R10、第 2抵抗 R12を含む。また、電流検出回路 100の 外部には、抵抗接続端子 106、抵抗接続端子 108間に調節抵抗 Radjが、容量接続 端子 104に充電キャパシタ Cchgが接続される。
[0030] 第 1トランジスタ Q1は、 PNP型バイポーラトランジスタ(以下、単に PNPトランジスタ という)であって、受光デバイスであるフォトトランジスタ 210の電流経路上に設けられ る。第 1トランジスタ Q1のェミッタと電源電圧 Vddが印加される電源ライン間には、第 1抵抗 R10が接続される。また、第 1トランジスタ Q1のベースコレクタ間は結線されて いる。
[0031] 第 2トランジスタ Q2は、 PNPトランジスタであって、第 1トランジスタ Q1とベースが共 通接続される。第 2トランジスタ Q2のェミッタと電源ライン間には、第 2抵抗 R12が設 けられる。さら〖こ、第 2抵抗 R12と並列に、調節抵抗 Radjが接続される。第 2トランジ スタ Q2は、第 1トランジスタ Ql、第 1抵抗 R10、第 2抵抗 R12、調節抵抗 Radjとともに カレントミラー回路を構成する。第 2トランジスタ Q2は、第 1トランジスタ Q1に流れる第 1電流 Iqlを所定係数倍した第 2電流 Iq2を出力する。たとえば、第 1トランジスタ Q1と 第 2トランジスタ Q2のサイズ比は、 4 : 1程度に設定する。
[0032] 第 1トランジスタ Q1のコレクタから、検出端子 102、フォトトランジスタ 210を介して接 地に至る経路を、主電流経路 10とする。主電流経路 10の第 1トランジスタ Q1および 検出端子 102間には、第 2バイアス抵抗 Rbias2が設けられる。第 2バイアス抵抗 Rbi as2の抵抗値は、十分に高く設定し、たとえば数 Μ Ω〜数十 Μ Ωの範囲で設定する 。本実施の形態では、一例として 10Μ Ωに設定される。主電流経路 10は、第 2バイ ァス抵抗 Rbias2をバイパスするバイパススィッチ SW2をさらに備える。バイパススイツ チ SW2は、発光制御部 340から出力される第 1制御信号 CNT1によってオンオフが 制御される。
[0033] バイアス電流経路 12は、主電流経路 10と並列に設けられる。バイアス電流経路 12 は、第 1トランジスタ Q1のコレクタと接地間に直列接続された第 1バイアス抵抗 Rbias
1およびバイアススィッチ SW1を含む。第 1バイアス抵抗 Rbiaslの抵抗値は、第 2バ ィァス抵抗 Rbias2に対して十分に低ぐたとえば 1Z10程度に設定しておく。第 2バ ィァス抵抗 Rbias2の抵抗値は、たとえば 1M Ωである。
[0034] バイアススィッチ SW1は、発光制御部 340により生成される第 3制御信号 CNT3に よってオンオフが制御される。バイアススィッチ SW1がオンすると、バイアス電流経路 12がオンし、電流が流れる。以下、バイアス電流経路 12に流れる電流をバイアス電 流 Ibiasと ヽう。
[0035] 第 2トランジスタ Q2のコレクタは、マスク用スィッチ SW3を介して容量接続端子 104 と接続される。電流検出回路 100は、第 2トランジスタ Q2に流れる第 2電流 Iq2を充電 キャパシタ Cchgに充電し、電圧に変換する。マスク用スィッチ SW3のオンオフは、発 光制御部 340において生成される第 2制御信号 CNT2によって制御される。マスク用 スィッチ SW3は、第 2制御信号 CNT2がハイレベルのときオフ、ローレベルのときォ ンする。マスク用スィッチ SW3がオフすると、第 2電流 Iq2の経路が遮断されるため、 充電キャパシタ Cchgの充電は停止する。
[0036] 容量接続端子 104と接地間には、放電用スィッチ SW4が設けられる。放電用スイツ チ SW4は、 NMOSトランジスタであって、充電キャパシタ Cchgと並列に接続される。 放電用スィッチ SW4は、ドレインが容量接続端子 104に接続され、ソースが接地され 、ゲートには、発光制御部 340によって生成される第 2制御信号 CNT2が入力される 。放電用スィッチ SW4は、第 2制御信号 CNT2がハイレベルのときオン、ローレベル のときオフする。放電用スィッチ SW4がオンすると、容量接続端子 104が接地され、 充電キャパシタ Cchgに蓄えられた電荷が放電する。後述のように、放電用スィッチ S W4は、フォトトランジスタ 210の受光開始に先立ち、第 2制御信号 CNT2により、所 定時間 ΔΤ1だけオンする。放電用スィッチ SW4およびマスク用スィッチ SW3のオン オフは、同一の第 2制御信号 CNT2により制御される。
[0037] 本実施の形態に係る電流検出回路 100は、容量接続端子 104に現れる電圧を、検 出電圧 Vdetとして発光制御部 340へと出力する。
[0038] 次に、発光制御部 340の構成について説明する。図 3は、本実施の形態に係る発 光制御部 340の構成を示す回路図である。発光制御部 340は、コンパレータ 20、 D
ラッチ回路 22、ワンショット回路 24、第 1インバータ 26、 NANDゲート 28、ドライバ回 路 30、第 2インバータ 32、遅延回路 34を含む。
[0039] 発光制御部 340は、制御端子 342に入力されたフォトトランジスタ 210の受光開始 に先立って信号レベルが変化する制御信号 CNTにもとづき、第 1制御信号 CNT1 〜第 3制御信号 CNT3を生成し、電流検出回路 100へと出力する。また、発光制御 部 340は、制御信号 CNTおよび電流検出回路 100から出力される検出電圧 Vdetに もとづ 、て発光制御信号 SIG 1を生成し、発光デバイス 330の発光および発光停止 を制御する。
[0040] はじめに、発光制御部 340において、第 1制御信号 CNT1〜第 3制御信号 CNT3 を生成するブロックについて説明する。
制御端子 342に入力された制御信号 CNTは、そのまま第 1制御信号 CNT1として 電流検出回路 100へと出力される。
[0041] 第 2制御信号 CNT2は、抵抗 R20、 R22、トランジスタ Ql、第 1インバータ 26、第 2 インバータ 32、遅延回路 34によって、制御信号 CNTを遅延させることにより生成さ れる。トランジスタ Q1は、 NPN型バイポーラトランジスタであって、ェミッタ接地されて おり、コレクタと電源ライン間には、抵抗 R22が設けられる。トランジスタ Q1のベースと 制御端子 342間には、抵抗 R20が接続されている。
[0042] 抵抗 R20、 R22、トランジスタ Q1は、制御信号 CNTを論理反転して出力する。第 1 インバータ 26は、反転された制御信号 CNTを再度論理反転する。
[0043] 第 1インバータ 26の出力信号 SIG10は、第 2インバータ 32に入力される。第 2イン バータ 32は、第 1インバータ 26の出力信号 SIG10を論理反転し、遅延回路 34へと 出力する。遅延回路 34は、第 2インバータ 32の出力信号を、所定時間 ΔΤ1だけ遅 延する。遅延回路 34から出力される信号は、第 2制御信号 CNT2として電流検出回 路 100へと出力される。たとえば、遅延回路 34による遅延時間 ΔΤ1は、 5 s程度に 設定する。
[0044] フォトトランジスタ 210の受光開始に先立って信号レベルが変化する制御信号 CN Tは、ワンショット回路 24に入力される。ワンショット回路 24は、制御信号 CNTがハイ レベルとなって力 所定時間 ΔΤ2の期間、ハイレベルとなる第 3制御信号 CNT3を
生成する。すなわち、ワンショット回路 24は、制御信号 CNTを所定時間 ΔΤ2の期間 ラッチするラッチ回路である。第 3制御信号 CNT3は、バイアススィッチ SW1へと出力 され、そのオンオフを制御する。所定時間 ΔΤ2は、遅延時間 ΔΤ1より長ぐたとえば 10 s程度に設定する。
[0045] 以上のように構成される発光制御部 340は、第 1制御信号 CNT1〜第 3制御信号 C NT3を生成し、電流検出回路 100へと出力する。
[0046] 次に、発光制御部 340において、発光デバイス 330の発光を制御するための発光 制御信号 SIG1を生成するブロックについて説明する。このブロックは、コンパレータ 20、 Dラッチ回路 22、 NANDゲート 28、ドライバ回路 30を含む。
[0047] コンパレータ 20は、電流検出回路 100から出力される検出電圧 Vdetと、所定のし きい値電圧 Vthを比較し、 Vdet >Vthのときハイレベル、 Vdetく Vthのときローレべ ルとなる比較信号 SIG12を出力する。
[0048] コンパレータ 20から出力される比較信号 SIG12は、 Dラッチ回路 22のクロック端子 に入力される。 Dラッチ回路 22のデータ端子は電源ラインに接続されており、ハイレ ベルに固定されている。 Dラッチ回路 22のリセット端子には、制御信号 CNTが入力さ れている。 Dラッチ回路 22は、比較信号 SIG12のポジエッジによってセットされ、制 御信号 CNTのネガエッジによりリセットされるラッチ回路として機能する。 Dラッチ回 路 22の反転出力信号 SIG14は、 NANDゲート 28へと出力される。
[0049] NANDゲート 28は、第 1インバータ 26の出力信号 SIG10と、 Dラッチ回路 22の反 転出力信号 SIG14の否定論理積を出力する。ドライバ回路 30は、 NANDゲート 28 の出力信号がローレベルの期間、ハイレベルとなる発光制御信号 SIG1を出力する。
[0050] 以上のように構成された図 2の電流検出回路 100および図 3の発光制御部 340の 動作について説明する。図 4は、本実施の形態に係る電流検出回路 100および電子 機器 300の動作状態を示すタイムチャートである。
[0051] 時刻 TO以前において、電源電圧 Vddが立ち上がっており、電流検出回路 100は 待機状態となっている。この間、フォトトランジスタ 210には非常に小さな光電流 Ip (暗 電流)が流れている。この光電流 Ipは、第 1トランジスタ Q1に第 1電流 Iqlとして流れ る。第 1トランジスタ Q1は、ベースコレクタ間が接続されているため、コレクタェミッタ間
電圧 Vceは、ベースェミッタ間電圧 Vbeに等しくなる。検出端子 102の電位 Vptrは、 電源電圧 Vddから、第 1トランジスタ Q 1のコレクタェミッタ間電圧 Vce ( =ベースェミツ タ間電圧 Vbe)および第 1抵抗 R10での電圧降下 Δ Vrだけ低い電圧 (Vdd— Vce— AVr)が現れる。フォトトランジスタ 210に流れる光電流 Ipは小さいため、第 1トランジ スタ Q1のコレクタェミッタ間電圧 Vceは小さい。
[0052] 時刻 TOに、制御信号 CNT力 Sハイレベルとなり、発光デバイス 330の発光が指示さ れる。上述したように、制御信号 CNTがハイレベルとなると同時に、第 1制御信号 CN T1がハイレベルとなる。また、ワンショット回路 24から出力される第 3制御信号 CNT3 は、時刻 T1から所定時間 ΔΤ2の間、ハイレベルとなる。
[0053] 時刻 TOに、第 1制御信号 CNT1がハイレベルとなると、バイパススィッチ SW2がォ ンし、第 2バイアス抵抗 Rbias2がバイパスされる。また、第 3制御信号 CNT3がハイレ ベルとなると、バイアススィッチ SW1がオンし、バイアス電流経路 12にバイアス電流 I biasが流れる。
[0054] このとき、第 1トランジスタ Q1に流れる電流 Iqlは、光電流 Ipと、バイアス電流 Ibias の和(Ip+Ibias)となる。上述のように、第 1バイアス抵抗 Rbiaslの抵抗値は、第 2バ ィァス抵抗 Rbias2の抵抗値に対して十分に低く設定されるため、第 1トランジスタ Q1 に流れる第 1電流 Iqlは増加する。その結果、第 1トランジスタ Q1のコレクタェミッタ間 電圧 Vceは、時刻 TO以前の期間に比べて大きくなり、検出端子 102の電位 Vptrは 低下する。
[0055] 発光デバイス 330の受光開始に先立った時刻 TOに、バイパススィッチ SW2をオン して、バイアス電流経路 12にバイアス電流 Ibiasを流すことにより、第 1電流 Iqlが増 加する。第 1電流 Iqlが増加することは、第 1トランジスタ Q1のコレクタ電流 Iceが増加 することを意味する。
[0056] 図 5は、バイポーラトランジスタである第 1トランジスタ Q1の電流特性を示す図である 。同図の縦軸はコレクタ電流 Ice ( = Iql)を、横軸はコレクタェミッタ間電圧 Vce ( =ベ ースェミッタ間電圧 Vbe)を示す。図 5に示すように、コレクタ電流 Ice ( = Iql)が小さ いときには、コレクタ電流 Iceの変動に対するコレクタェミッタ間電圧 Vceの変動幅が 大きぐコレクタ電流 Iceが大きくなると、その変動幅は小さくなる。
[0057] したがって、時刻 TO以前のように、第 1電流 Iql (コレクタ電流 Ice)が小さいときには 、第 1電流 Iqlがわずかに変化しただけで、第 1トランジスタ Q1のコレクタ電圧、ひい ては検出端子 102の電圧 Vptrが変動してしまう。検出端子 102の電圧 Vptrが変動 すると、フォトトランジスタ 210のノィァス状態が変化してしまい、光電流 Ipが変動する おそれがある。また、検出端子 102の電圧が変動することにより、第 1トランジスタ Q1 、第 2トランジスタ Q2を含むカレントミラー回路の特性が悪ィ匕する場合がある。
[0058] そこで、本実施の形態に係る電流検出回路 100では、受光開始に先立った時刻 T 0に、バイアススィッチ SW1をオンして、第 1電流 Iqlを増加させる。その結果、第 1ト ランジスタ Q1が定電流領域でバイアスされ、コレクタ電流 Iceの変化量に対するコレ クタエミッタ間電圧 Vceの変化量が小さくなり、検出端子 102の電圧 Vptrを一定に保 つことができる。検出端子 102の電圧 Vptrが一定に保たれると、フォトトランジスタ 21 0の特性を一定に保つことができるとともに、第 1トランジスタ Ql、第 2トランジスタ Q2 を含むカレントミラー回路の特性を良好に保つことができる。
[0059] また、第 2制御信号 CNT2は、制御信号 CNTがローレべルカ ハイレベルに遷移 しする時刻 TOから、所定時間 ΔΤ1経過後の時刻 T1までのラッチされ、ハイレベルを 維持する。第 2制御信号 CNT2がハイレベルの期間、放電用スィッチ SW4はオンす るため、充電キャパシタ Cchgに蓄えられた電荷が放電されて初期化される。さらに、 第 2制御信号 CNT2がハイレベルの間、マスク用スィッチ SW3はオフするため、第 2 電流 Iq2の経路が遮断される。その結果、時刻 T1以前においては、発光デバイス 33 0に光が入射し、光電流 Ipが流れても、充電キャパシタ Cchgは充電されず、検出電 圧 Vdetは接地電位に固定される。また、回路電流が遮断されるため、低消費電力化 を図ることができる。
[0060] 時刻 TOには、発光制御信号 SIG1がハイレベルとなり、発光デバイス 330が発光可 能状態となる。本実施の形態に係る発光デバイス 330は、発光制御信号 SIG1がノ、 ィレベルとなつてから、時間 τだけ遅れて発光する。したがって、上述の所定時間 Δ T1は、時間てよりも短くなるように設定する必要がある。
[0061] 時刻 T1に、第 2制御信号 CNT2がローレベルとなると、マスク用スィッチ SW3がォ ン、放電用スィッチ SW4がオフし、電流検出回路 100がスタンバイ状態となる。
[0062] 発光制御信号 SIG1がハイレベルとなる時刻 TOから時間て経過後の時刻 T2に、 発光デバイス 330が発光する。発光デバイス 330が発光すると、反射光がフォトトラン ジスタ 210に入射し、光電流 Ipが流れる。時刻 T2において、バイアス電流経路 12は オフしているため、第 1トランジスタ Q1に流れる第 1電流 Iqlは、光電流 Ipに等しい。 上述のように、第 1トランジスタ Q1は定電流領域にノィァスされているため、光電流 I pが流れはじめても、検出端子 102の電位 Vptrはほとんど変動しない。
[0063] 時刻 T2以降、充電キャパシタ Cchgは、第 2トランジスタ Q2から出力される第 2電流 Iq2によって充電され、検出電圧 Vdetは徐々に上昇する。時刻 T3に、検出電圧 Vd etが、所定のしきい値電圧 Vthに達すると、コンパレータ 20の出力である比較信号 S IG12はハイレベルとなり、 Dラッチ回路 22の反転出力信号 SIG14は、ローレベルと なる。その結果、ドライバ回路 30から出力される発光制御信号 SIG1はローレベルと なり、発光制御トランジスタ 350がオフして、発光デバイス 330の発光が停止する。
[0064] その後、時刻 TOから所定時間 ΔΤ2経過後の時刻 T4に、第 3制御信号 CNT3が口 一レベルとなり、バイアススィッチ SW1がオフする。
[0065] 本実施の形態に係る電流検出回路 100によれば、フォトトランジスタ 210と直列に、 抵抗を接続する代わりに、カレントミラー回路を接続して、光電流を複製している。そ の結果、光電流が変化しても、第 1トランジスタ Q1のコレクタ電圧は、それほど大きく 変動しないため、フォトトランジスタ 210のコレクタ電圧 Vptrを一定に保つことができ、 安定な光検出が可能となる。さらに、光電流 Ipが増加しても、フォトトランジスタ 210の コレクタ電圧はほぼ一定値となるため、ダイナミックレンジを広くとることができる。
[0066] さらに、本実施の形態に係る電流検出回路 100によれば、発光デバイス 330の発 光開始、すなわちフォトトランジスタ 210による受光開始に先立ち、バイアススィッチ S W1をオンすることにより、カレントミラー回路を構成する第 1トランジスタ Q1を定電流 領域にバイアスすることができる。さらに、その結果、フォトトランジスタ 210のコレクタ 電圧、すなわち検出端子 102の電位 Vptrを、光電流 Ipの値によらずにほぼ一定値 に保つことができ、安定な光検出を行うことができる。
[0067] また、第 2トランジスタ Q2のサイズを第 1トランジスタ Q1のサイズよりも小さく設定す ることによって、カレントミラー回路の出力電流である第 2電流 Iq2を小さくすることが
でき、回路の消費電流を低減し、また充電キャパシタ Cchgの容量値を小さくすること ができる。
[0068] さらに、第 2抵抗 R12と並列に調節抵抗 Radjを設けることによって、検出端子 102 に接続されるフォトトランジスタ 210の特性、ばらつきなどに応じて、電流検出回路 10 0の特性を調節することができ、安定な電流検出を可能とするとともに、フォトトランジ スタのばらつきに対する歩留まりの向上を図ることができる。
[0069] また、本実施の形態に係る電流検出回路 100によれば、発光デバイス 330の発光 開始、すなわちフォトトランジスタ 210による受光開始に先立ち、ノィァススィッチ SW 1をオンすることにより、カレントミラー回路を構成する第 1トランジスタ Q1を定電流領 域にバイアスすることができる。さらに、その結果、フォトトランジスタ 210のコレクタ電 圧、すなわち検出端子 102の電位 Vptrを、光電流 Ipの値によらずにほぼ一定値に 保つことができ、安定な光検出を行うことができる。
[0070] さらに、第 2バイアス抵抗 Rbias2を設けることにより、受光開始前の期間において、 主電流経路 10のインピーダンスを高くすることができ、回路の消費電流を低減するこ とがでさる。
[0071] 図 6は、フォトトランジスタ 210による受光量が小さいときの電流検出回路 100およ び電子機器 300の動作状態を示すタイムチャートである。
[0072] フォトトランジスタ 210による受光開始前、すなわち時刻 TOから時刻 T2の波形は、 図 4と同様である。制御信号 CNTがハイレベルとなる時刻 TOから、時間 τ経過後の 時刻 Τ2に、発光デバイス 330が発光する。発光デバイス 330から反射体までの距離 が遠いときには、反射光の強度が弱くなるため、受光量が小さくなる。その結果、光 電流 Ipが図 4の場合と比べて小さくなり、検出電圧 Vdetの上昇速度が遅くなる。時刻 T2から時刻 T4までの期間、第 1トランジスタ Q1に流れる第 1電流 Iqlは、光電流 Ipと バイアス電流 Ibiasの和電流となって!/、る。
[0073] 時刻 TO力も所定時間 Δ Τ2経過後の時刻 T3に第 3制御信号 CNT3がローレベル となる。第 3制御信号 CNT3がローレベルとなると、バイアススィッチ SW1がオフし、 バイアス電流経路 12がオフする。時刻 T4以降、ノィァススィッチ SW1がオフすると、 バイアス電流 Ibiasが流れなくなるため、第 1トランジスタ Q1に流れる第 1電流 Iqlは、
光電流 Ipに等しくなる。その結果、充電キャパシタ Chgに対する充電電流が減少し、 検出電圧 Vdetの上昇速度が低下する。
[0074] その後、時刻 T5に、検出電圧 Vdetがしき 、値電圧 Vthに達すると、発光制御信号 SIG1はローレベルとなり、発光デバイス 330の発光が停止する。
[0075] フォトトランジスタ 210が受光を開始して力も所定時間(本実施の形態においては、
Δ Τ2- てに相当する)経過するということは、検出電圧 Vdetの上昇速度が遅いこと を意味し、ひいては光電流 Ipが小さいことを意味する。光電流 Ipがノィァス電流 Ibia sと同程度、あるいはそれよりも低い場合に、第 1電流 Iql ( = Ip + Ibias)にもとづき、 充電キャパシタ Cchgを充電すると、受光量を正確に積分することができなくなつてし まつ。
[0076] そこで、本実施の形態に係る受光装置 200および発光制御部 340は、所定時間(
Δ Τ2- τ )経過後にバイアススィッチ SW1をオフすることにより、第 1電流 Iqlを、光 電流 Ipと等しく設定することにより、フォトトランジスタ 210による受光量を正確に検出 し、発光デバイス 330をオフするまでの時間を好適に制御することができる。
[0077] なお、時刻 T4においては、第 1トランジスタ Q1には光電流 Ipが流れているため、バ ィァス電流 Ibiasをオフしても、第 1トランジスタ Q 1のバイアス状態が非定電流領域ま で下がることはなぐ検出端子 102の電位 Vptrが大幅に変動することもない。
[0078] さらに、本実施の形態に係る受光装置 200および発光制御部 340によれば、放電 用スィッチ SW4およびマスク用スィッチ SW3を設けることにより、以下の効果を有す る。
[0079] 電流検出回路 100に電源電圧を与えると、フォトトランジスタ 210がバイアスされる ため、暗電流が流れたり、あるいは外部力 入射する本来受光すべきでない光によつ て光電流 Ipが流れ、充電キャパシタ Cchgが充電されるおそれがある。そこで、フォト トランジスタ 210の受光開始に先立ち、所定の期間、放電用スィッチ SW4をオンする ことにより、不要な電流によって充電キャパシタ Cchgが充電されるのを防止するととも に、充電キャパシタ Cchgに蓄えられた電荷を放電し、検出電圧 Vdetを初期値に設 定することができる。さら〖こ、フォトトランジスタ 210の受光開始に先立ち、マスク用スィ ツチ SW3をオフしておくことにより、第 2電流 Iq2によって充電キャパシタ Cchgが充電
されるのを防止することができるとともに、回路の消費電流を低減することができる。
[0080] さらに、コンパレータ 20から出力される比較信号 SIG12を、 Dラッチ回路 22を用い てラッチすることにより、検出電圧 Vdetがしきい値電圧 Vth付近で変動した場合に、 発光制御信号 SIG1がハイレベルとローレベルを繰り返し、発光デバイス 330が発光 状態と、発光停止状態を繰り返すのを防止することができる。
[0081] 上記実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せに いろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当 業者に理解されるところである。
[0082] 実施の形態において、第 2トランジスタ Q2のサイズを第 1トランジスタ Q1のサイズよ り小さく設定する場合について説明したがこれには限定されない。フォトトランジスタ 2 10のサイズが非常に小さく光電流 Ipが小さ 、場合や、充電キャパシタ Cchgの容量 値が小さな場合には、第 2トランジスタ Q2のサイズを第 1トランジスタ Q1のサイズより 大きくすることによって、電流増幅を行ってもよい。この場合、第 2抵抗 R12の抵抗値 を、第 1抵抗 R10の抵抗値よりも低く設定することが望ましい。
[0083] 実施の形態において、ノィァス電流経路 12を直列接続した第 1バイアス抵抗 Rbia siおよびバイアススィッチ SW1によって構成した力 これには限定されず、所定の電 流を生成する定電流源を用いてもよい。この場合、定電流源をオンオフすることにより 、第 1トランジスタ Q1のバイアス状態を変化させることができる。
[0084] 実施の形態では、受光デバイスとしてフォトトランジスタ 210を用いた力 フォトダイ オードを代わりに用いてもょ 、。
[0085] 実施の形態にぉ 、て MOSFET、バイポーラトランジスタで構成された素子は、相 互に置換することが可能である。これらの選択は、半導体製造プロセスやコスト、回路 に求められる使用に応じて決定すればよい。さらに、電源電圧と接地電位を天地反 転し、 PNPトランジスタと NPNトランジスタ、あるいは PMOSトランジスタと NMOSトラ ンジスタを置換した回路構成も有効である。
[0086] 実施の形態においては、受光装置 200および発光制御部 340がー体集積化され る場合について説明した力 一部がディスクリート部品で構成されていてもよい。どの 部分を集積化するかは、コストや占有面積、用途などに応じて決めればよい。
[0087] 本実施の形態に係る電流検出回路 100ある ヽは受光装置 200を用 ヽた電子機器 300としては、上述の携帯電話端末に限定されるものではなぐ照度センサや赤外線 通信機器など、フォトダイオードやフォトトランジスタを用いて光を検出する機器に広く 用!/、ることができる。
[0088] 実施の形態にもとづき、本発明を説明したが、実施の形態は、本発明の原理、応用 を示しているにすぎず、実施の形態には、請求の範囲に規定された本発明の思想を 離脱しない範囲において、多くの変形例や配置の変更が可能である。
産業上の利用可能性
[0089] 本発明は、光検出回路に利用することができる。
Claims
[1] 受光デバイスに流れる電流を検出する電流検出回路であって、
前記受光デバイスの電流経路上に設けられた第 1トランジスタと、
前記第 1トランジスタの一端と、電位の固定された端子間に設けられた第 1抵抗と、 前記第 1トランジスタとともにカレントミラー回路を構成し、前記第 1トランジスタに流 れる電流を所定係数倍して本電流検出回路の出力とする第 2トランジスタと、 前記第 2トランジスタの一端と、電位の固定された端子間に設けられた第 2抵抗と、 を備えることを特徴とする電流検出回路。
[2] 前記第 2抵抗と並列に接続された調節抵抗をさらに備えることを特徴とする請求項
1に記載の電流検出回路。
[3] 前記第 2トランジスタのサイズを前記第 1トランジスタのサイズより大きく設定し、 前記第 2抵抗の抵抗値を、前記第 1抵抗の抵抗値より大きく設定したことを特徴とす る請求項 1または 2に記載の電流検出回路。
[4] 前記第 2トランジスタに流れる電流を容量に充電し、電圧に変換して出力することを 特徴とする請求項 1または 2に記載の電流検出回路。
[5] 前記第 1、第 2トランジスタ、前記第 1、第 2抵抗がひとつの半導体基板上に一体集 積化され、前記調節抵抗が前記半導体基板の外部に接続されたことを特徴とする請 求項 1または 2に記載の電流検出回路。
[6] 受光デバイスと、
前記受光デバイスに流れる光電流を検出する請求項 1または 2に記載の電流検出 回路と、
を備えることを特徴とする受光装置。
[7] 前記受光デバイスはフォトトランジスタであることを特徴とする請求項 6に記載の受 光装置。
[8] 前記受光デバイスはフォトダイオードであることを特徴とする請求項 6に記載の受光 装置。
[9] 発光デバイスと、
前記発光デバイス力 発せられた光が、外部の物体により反射した光を検出する請
求項 6に記載の受光装置と、
を備えることを特徴とする電子機器。
[10] 前記発光デバイスは、前記受光装置により検出した反射光の光量が所定値に達す ると、発光を停止することを特徴とする請求項 9に記載の電子機器。
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