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WO2005085750A1 - Optischer messkopf - Google Patents

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Info

Publication number
WO2005085750A1
WO2005085750A1 PCT/EP2005/002245 EP2005002245W WO2005085750A1 WO 2005085750 A1 WO2005085750 A1 WO 2005085750A1 EP 2005002245 W EP2005002245 W EP 2005002245W WO 2005085750 A1 WO2005085750 A1 WO 2005085750A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
measuring head
light
lens
head according
optical
Prior art date
Application number
PCT/EP2005/002245
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Peter Lehmann
Peter Lücke
Jürgen Mohr
Carlos Javier Moran-Iglesias
Wolfgang Osten
Aiko Ruprecht
Sven Schönfelder
Original Assignee
Carl Mahr Holding Gmbh
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Mahr Holding Gmbh filed Critical Carl Mahr Holding Gmbh
Priority to JP2007501217A priority Critical patent/JP2007526468A/ja
Publication of WO2005085750A1 publication Critical patent/WO2005085750A1/de
Priority to US11/514,538 priority patent/US7486394B2/en

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2210/00Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/50Using chromatic effects to achieve wavelength-dependent depth resolution

Definitions

  • Optical sensors do not have this nighttime effect. Your measuring speed is ultimately! determined by the number of available photons. With them is a force-free scanning of measuring objects. possible. In principle, fast acquisition of SD geometries is also possible.
  • optical sensors rely on the light reflected by the measurement object, which can result in numerous interference effects. For example, diffraction effects occur at edges. The surface roughness can cause speckle formation. Also, angles of inclination between the surface normal at the contact point of the measurement object and the optical axis of the sensor can only be tolerated to a limited extent.
  • an optical line sensor is known for measuring bores of workpieces from DE 102 56 273 AI, with which the wall of bores can be optically detected over an entire line.
  • a first family of exemplary embodiments is based on a hemispherical or spherical segment-shaped lens, which has a mirrored surface or bears on a surface which is provided with a mirror, and thus enables both the deflection of light and the pre-focusing of the light.
  • a further focusing element is arranged in the light path. This is formed, for example, by a diffractive element in the form of a zone plate, zone lens, diffractive lens or diffractive lens. It becomes diffractive, i.e. diffraction optical lens, preferred. This has a high chromatic aberration, which is desired here.
  • the second focusing element continues to focus the light beam. A high numerical aperture is thereby achieved.
  • the measuring head preferably works with non-monochromatic light, for example colored or white light, with a spectrum which is continuous over at least a certain frequency range.
  • Such light can originate, for example, from an incandescent lamp, a high-pressure discharge lamp or from other light sources. Due to the high chromatic aberration of at least one of the two focusing elements, a high effective depth of field of the objective is achieved despite the high numerical aperture.
  • the focal points of the different wavelengths contained in the light are arranged along the optical axis.
  • the sensor therefore only detects light at the wavelength at the focal point of the object surface through the lens.
  • the aperture formed by the end face of the fiber core dazzles the remaining wavelengths.
  • the measuring head is preferably designed as a confocal microscope.
  • the light received is subjected to a spectral analysis.
  • the detected light color is a measure of the distance of the detected surface point from the lens.
  • Lenses of the construction described in this way can easily be turned into a lens due to their small dimensions. Put the sensor together. This enables linear sections of a workpiece surface to be measured in a simple, short measurement process. The resulting measuring head is slim, so that even difficult-to-access workpiece sections can be measured easily.
  • FIG. 1 shows a measuring device with a measuring head according to the invention when measuring a workpiece in a schematic illustration
  • FIG. 2 to 4 measuring heads with hemispherical lens in a schematic basic illustration
  • FIG. 8 shows an optical line sensor consisting of several point sensors according to one of FIGS. 2 to 4,
  • FIGS. 9 and 10 show further embodiments of the optical point sensors in a schematic representation
  • the measuring head 4 is connected via an optical cable, which contains at least one optical fiber 6, to a measuring unit 7, to which a light source 8 and a light receiver 9 belong.
  • the light source 8 contains a broadband, almost point-shaped illuminant 11, e.g. a suitable incandescent lens, and a reflector 12 which throws the light onto a converging lens 13.
  • An essentially parallel light beam 14 is thus generated, which ultimately serves to illuminate point 5.
  • the light bundle 14 first passes through a semi-transparent mirror 15 and is then inserted into the optical fiber 6 by means of a further converging lens 16
  • the light receiver 9 contains a lens arrangement 18 which substantially reduces the diameter of the light bundle 17, so that a light beam 19 which is essentially linear remains. This is deflected by a prism 21 according to its light color (wavelength) and falls on a multicellular photodetector 22 or another location-sensitive sensor. The point at which the deflected light beam 19 'strikes denotes the wavelength of the light.
  • the receiving fiber can also be coupled directly to a suitable spectrometer, in which the spectral splitting e.g. by means of an optical grating.
  • FIG. 2 illustrates a first embodiment of the measuring head 4 in a schematic representation.
  • the measuring head 4 contains a hemispherical lens 23 which is hit by the light emerging divergently from the optical fiber 6.
  • the hemispherical lens 23 has a mirrored, preferably planar surface 24 (or is in contact with a mirror), which is preferably arranged at an angle of 45 ° to the longitudinal direction of the optical fiber 6. This applies at least to measuring heads 4 with light emerging laterally at right angles. If other exit directions are desired, the surface 24 of the lens 23 can be arranged at a correspondingly different angle.
  • A n sin ⁇ , where ⁇ is the half opening angle of the lens 27 formed from the lens 23 together with surface 24 and zone lens 26 and n is the refractive index of the medium between the lens and its
  • the high numerical aperture allows workpiece surfaces to be measured even if they are not necessarily at right angles to the optical axis 29 of the objective 27.
  • the measuring head 4 has a high chromatic aberration. This is essentially caused by the zone lens 26, which is deliberately designed to achieve a high chromatic
  • the measuring device 1 described so far operates as follows:
  • the workpiece surface lies at a point on the optical axis 29 which corresponds to the focal point of a specific wavelength of light.
  • the reflected light is picked up by the lens 27 again. Due to the almost point-shaped end face of the optical fiber, only the light of the focal point is picked up from the reflected, recorded light and passed to the light receiver 9.
  • the light receiver 9 carries out a spectral analysis.
  • the photodetector 22 generates an output signal on an output line 31, which characterizes the received light wavelength. From this, the distance between the lens 27 or between the measuring head 4 and the workpiece surface can be concluded.
  • FIG. 3 A modified embodiment of the objective 27 according to the invention is illustrated in FIG. 3. As in the exemplary embodiment described above, the light path is shown in dashed lines. However, the zone lens 26 is in front of the lens 23, i.e. arranged between the lens 23 and the light exit and entrance of the optical fiber 6. Again there is an objective 27 with a large numerical one
  • the zone lens 26 can in turn be formed on a plastic carrier which projects with an extension 32 into the light path.
  • FIG. 4 illustrates, it is also possible to combine the lens 23 and the zone lens 26 with one another.
  • the hemispherical or spherical segment-shaped lens 23 is provided on its reflecting surface 24, which is preferably designed as a flat surface, with a zone structure 26a, which causes a high chromatic aberration.
  • the lens 23 provides a lens with a short focal length and a high numerical aperture.
  • All the exemplary embodiments described above have in common that they use the spherical segment-shaped or hemispherical lens 23 as an essential element.
  • Such lenses can be manufactured with high precision with rational manufacturing processes with extremely small dimensions, which enables miniaturization of the measuring head 4 described.
  • FIGS. 5 to 7 illustrate other, also miniaturization-friendly, embodiments of the Measuring head 4.
  • a GRIN lens 33 is arranged on the carrier 25.
  • the GRIN lens is a lens of cylindrical basic shape, in which the refractive index changes radially outwards from the central optical axis, so that a focusing effect is achieved.
  • the optical fiber 6 throws the light onto a flat end face of the GRIN lens 33.
  • a mirror 34 is arranged on the opposite side, which laterally throws the pre-bundled light through the carrier 25 to the outside.
  • the diffractive structure is formed on the carrier 25 in the form of the zone lens 26, as a result of which a large opening angle 2 ⁇ is achieved in the immediate vicinity of the workpiece surface. This is preferably greater than 35 °, ie NA> 0.3.
  • a prism 35 can also be provided, which has a mirrored base surface 36.
  • the sides which are preferably at right angles to one another, form the light inlet and outlet.
  • a zone lens 26 is again provided at the light outlet in order to achieve the large opening angle 2 ⁇ .
  • a free air gap or alternatively a light-guiding solid element such as a glass body, glass rod, plastic body, plastic rod or the like, can be provided between the GRIN lens 33 and the light exit of the optical fiber 6.
  • an air gap or alternatively a light-conducting solid element such as a glass body, glass rod, plastic body, plastic rod or the like, can be provided between the GRIN lens 33 and the prism 35.
  • the subsequently arranged diffractive reflector 36 produces on the one hand the desired high chromatic aberration and on the other hand at the same time the lateral deflection of the light and the short focal length of the objective 27, which is documented in the large aperture angle 2 ⁇ .
  • Both the GRIN lens 33 and the diffractive reflector 36 are miniaturization-friendly components, so that the objective 27 can be made extremely small.
  • the invention applies the confocal-chromatic measuring principle to a distance sensor in such a way that, with a minimal measuring head diameter, an angular deflection of the light used for the measurement is combined with a large numerical aperture and a longitudinal resolution in the submicrometer range is achieved.
  • a special feature of the solution according to the invention is that the light emerging divergingly from an axially arranged fiber is collimated and focused in at least two successive steps, after the partial collimation, after the complete collimation or after the complete collimation including a pre-focusing there is an angular deflection in the desired measuring direction, the final focusing either being subordinate to the angular deflection or being related together with the angular deflection.
  • the distance measurement is based on the wavelength splitting of the focal point along the optical axis and the spectral analysis se of the light coupled back into the fiber.
  • the desired spectral splitting can be achieved by a combination of achromatic elements or elements with positive longitudinal chromatic aberration and elements with negative longitudinal chromatic aberration.
  • Such elements are, for example, refractive lenses and diffractive lenses.
  • the required optical elements can be made entirely or partially micro-optically.
  • the last focusing is preferably carried out by means of a diffractive element inscribed in a carrier substrate. This element can be formed from a polymer and can have holding structures for the optical fiber and / or the optical elements (lenses and mirrors).
  • Several point-measuring sensors can also be combined to form a linear sensor.
  • the collimation, the pre-focusing and the angular deflection are preferably carried out by an inclined hemispherical lens 23 with a mirrored flat surface 24, which is arranged in front of a focusing diffractive element 26.
  • a GRIN lens or another refractive lens can be used for collimation and pre-focusing in front of a plane mirror.
  • the plane mirror serves to deflect the angle. It is followed by a focusing diffractive element.
  • the diffractive element can be integrated in the mirror.
  • a precollimation is first carried out by a diffractive element 26, which has a mirrored lens in front of an inclined hemispherical lens
  • Flat surface is arranged, which is used for collimation, pre-focusing, angle deflection and focusing. It is also possible to first collimate and, if necessary, pre-focus by means of a GRIN lens or another refractive lens, the subsequent angular deflection being realized by means of a prism in which the surface facing the object or the reflecting plane surface is provided with a diffractive structure for focusing.
  • the optical fiber 6 is held at some distance from the lens 23.
  • a holding block 42 which is placed on the carrier 25, serves this purpose. For example, it is positively held by holding structures 43, 44 which are formed on or on the carrier 25.
  • the combination of a GRIN lens 33 with a downstream mirror 34 is provided instead of the lens 23.
  • the GRIN lens 33 can be attached directly to the carrier 25.
  • the carrier 25 can also have a holding structure that supports the mirror 34.
  • the carrier 25 is preferably formed from a plastic or quartz glass or a similar material. A 0.3 mm thick quartz glass substrate is preferred, on which the necessary diffractive structures for forming the zone lens 26 and holding structures can be formed.
  • the practical implementation of the point sensor according to FIG. 10 is illustrated in perspective in FIG.
  • the GRIN lens 33 is mounted between holding structures 45 arranged on both sides of its lateral surface, which are molded onto the carrier 25 or fastened to it. Between the holding structures
  • a mirror element 47 is held which faces the GRIN lens 33 with an inclined surface. It can be spaced from the GRIN lens 33 or overlap it somewhat and thus fix it in place.
  • the flat surface facing the GRIN lens is mirrored and thus forms the mirror 34, as can be seen in FIG. 10.
  • a measuring head 4 has the combination of a zone lens 26, which is preferably designed as a diffractive lens, with a hemispherical lens 23 or a GRIN lens 33.
  • This is a miniaturizable concept that leads to very slim measuring heads 4 with a high numerical aperture and, as a result, its best resolution.
  • Such measuring heads are insensitive to angular errors with regard to the orientation of the measuring head against the surface to be measured or inclined surface against the optical axis of the measuring head.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Der erfindungsgemässe Messkopf zur Vermessung von Gegenständen ist über einen Lichtleiter mit einer Weisslichtquelle verbunden. Er besteht aus einem Objektiv mit weniger als 5 mm Durchmesser, das einen Spiegel, der das vom Lichtleiter gelieferte Licht in eine Richtung quer zum Lichtleiter ablenkt, ein erstes fokussierendes Element, vorzugsweise in Form einer Halbkugellinse oder einer GRIN Linse, und ein zweites Element mit chromatischer Aberration, das im Lichtweg hinter dem Spiegel angeordnet ist, umfasst. Ein Lichtempfänger nimmt das von dem Gegenstand reflektierte Licht auf und analysiert seine spektrale Zusammensetzung. Das Konzept erlaubt eine Miniaturisierung und sehr schlanke Messköpfe mit hoher umerischer Apertur und damit bestem Auflösungsvermögen. Derartige Messköpfe sind unempfindlich gegen Winkelfehler hinsichtlich ihrer Ausrichtung zu den zu vermessenden Flächen.

Description

Optischer Messkopf
Die Erfindung betrifft einen optischen Messkopf, der insbesondere zur Oberflachenmessung an schwer zugänglichen Stellen eingerichtet ist .
In der Oberflächenmesstechnik spielen taktile Sensoren nach wie vor eine große Rolle. Jedoch ist die Messgeschwindigkeit begrenzt. Außerdem muss auf das Messobjekt eine Messkraft ausgeübt werden, was bei empfindlichen Oberflä- chen, dünnen Folien und dergleichen, zu Schwierigkeiten füh- ren kann. Bei beengten Verhältnissen kann cΞie auszuübende Messkraft außerdem das Tastelement verformen, wodurch bei ungünstigen Tastergeometrien, z.B. bei der Messung in sehr tiefen Bohrungen, Messunsicherheiten entstehen.
Optische Sensoren weisen diese Nachte-Lle nicht auf. Ihre Messgeschwindigkeit ist aber letztlich! durch die Anzahl der zur Verfügung stehenden Photonen bestimmt . Mit ihnen ist eine kräftefreie Abtastung von Messobjekte . möglich. Es ist damit prinzipiell auch die schnelle Erfassuing von SD-Geometrien möglich. Jedoch beruhen optische Sensoren auf dem vom Messobjekt reflektierten Licht, wodurch zahlreiche Störeffekte auftreten können. Beispielsweise entstehen an Kanten Beugungseffekte. Die Oberflächenrauheit kann eine störende Speckle-Bildung hervorrufen. Auch können Neigungswinkel zwischen der Oberflächennormalen im Antastpunkt des Messobjekts und der optischen Achse des Sensors nur begrenzt toleriert werden . Beispielsweise ist zur Vermessung von Bohrungen von Werkstücken aus der DE 102 56 273 AI ein optischer Liniensensor bekannt, mit dem die Wandung von Bohirungen auf einer ganzen Linie optisch erfasst werden kann. Dazu weist der Liniensensor ein Interferometer auf, an das eine optische Platte angeschlossen ist. Diese wirkt als Doppelprisma. Das an einer Kante eingestrahlte Licht tritt an einer um 90° versetzten Kante aus und wird somit im Wesentlichen senkrecht zur Wandungsoberfläche geleitet . Dieser Sensor stellt einen Spezialsensor dar, der insbesondere zur Abtastung von in einer Richtu-ng geraden Flächen, wie beispielsweise Zylinderwandungen, geeignet ist. Des Weiteren ist aus der DE 101 61 486 ein konfokaler Liniensensor bekannt, der ein Objektiv mit mehreren, dem Werkstück zugewandten Lichtaustrittsfenstern in Form von Fresnellinsen aufweist. Diese Linsen sind an Umlenkprismen ausgebildet, an die eingangsseitig Lichtleitfasern angeschlossen sind. Zwischen der jeweiligen Lichtleitfaser und dem Prismeneingang ist ein fokussierendes, optisches Element angeordnet. Das Prisma bewirkt eine 90° -Lichtumlenkung. Innerhalb des Prismas wird ein paralleler Strahlengang vor- ausgesetzt. Dieser Sensor erfordert, dass die zu vermessende Werkstückoberfläche rechtwinklig zu den optischen Achsen der ausgangsseitigen Fresnellinsen ausgerichtet ist. Dies erschwert das Vermessen unbekannter Oberflächengeometrien. Davon ausgehend ist es Aufgabe der Erfindung, einen Messkopf zu schaffen, der sowohl zur Vermessung von zylindrischen Bohrungen als auch zur Vermessung von schwach kegeligen Bohrungen oder sonstigen schwer zugänglichen Stellen von Werkstücken einsetzbar ist.
Der erfindungsgemäße Messkopf zeichnet sich durch ein Objektiv mit großer numerischer Apertur aus. Außerdem enthält es einen Spiegel, der das Licht seitlich zu der Längsachse einer Licht zu- und abführenden Lichtleitfaser ein- und austreten lässt . Zu dem Objektiv gehören zwei fokussie- rende optische Elemente, die insgesamt eine numerische Apertur > 0,1 aufweisen. Diese große numerische Apertur gestattet nicht nur die Erzielung einer großen optischen Auflösung bei der Vermessung der Werkstückoberfläche. Sie macht die Messung darüber hinaus unempfindlich gegenüber Fehlausrichtungen der Werkstückoberfläche in Bezug auf die optische Achse des Objektivs. Kleinere Winkelfehler können toleriert werden, so dass der Messkopf auch die Vermessung von -Kegel- flächen oder sonstigen Oberflächenkonturen gestattet.
Es haben sich zwei Bauformen des erfindungsgemäßen Messkopfs als besonders vorteilhaft herausgestellt. Eine erste Familie von Ausführungsbeispielen beruht auf einer halbkugelförmigen oder kugelabschnittsförmigen Linse, die eine verspiegelte Fläche aufweist oder an einer verspdLegel- ten Fläche anliegt und somit sowohl die Lichtumlenkung als auch eine Vorfokussierung des Lichts ermöglicht. Zusätzlich ist in dem Lichtweg ein weiteres fokussierendes Element angeordnet. Dieses ist beispielsweise durch ein diffrakfcives Element in Form einer Zonenplatte, Zonenlinse, diffral-ctive Linse oder beugungsoptische Linse gebildet. Es wird eine diffraktive, d.h. beugungsoptische Linse, bevorzugt. Diese weist eine hohe chromatische Aberration auf, die hier gewünscht ist .
Eine zweite Familie von Ausführungsformen beruht auf der Vorfokussierung des aus einer Lichtleitfaser kommenden Lichts mittels einer G IN-Linse (Gradienten-Index-Linse) , an die sich ein Umlenkspiegel und ein zweites fokussiereπides, optisches Element, beispielsweise ein diffraktives Element, anschließt, z.B. eine Zonenplatte, Zonenlinse, diffrakztive Linse oder beugungsoptische Linse. Dieses Element kann, auch in den Spiegel integriert sein, so dass dieser dann ei_nen beugungsoptischen, fokussierenden Spiegel bildet. Die Verwendung einer GRIN-Linse ist im Hinblick auf eine mikr~oopti- sche Realisierung des Objektivs besonders vorteilhaft. Die GRIN-Linse ist durch einen durchsichtigen Zylinder gebildet, dessen Planflächen die Lichtein- und -austrittstlachen-, bilden. Das Linsenmaterial weist einen sich in Abhängigk it, vom Radius ändernden Brechungsindex auf, wodurch die gewün sehten fokussierenden Eigenschaften erzielt werden. Die Herstellung von GRIN-Linsen ist auch in sehr kleinen Dimensionen mit Linsendurchmessern kleiner als 1 mm mit hoher Präzision möglich.
Beiden genannten Familien ist gemeinsam, dass das erste fokussierende Element eine Vorfokussierung des Lichts zu einem konvergenten Lichtbündel vornimmt. Das zweite fokus- sierende Element fokussiert das Lichtbündel weiter. Es wird dadurch eine hohe numerische Apertur erreicht.
Der Messkopf arbeitet vorzugsweise mit nicht monochromatischem Licht, beispielsweise farbigem oder weißem Licht, mit einem wenigstens über einen gewissen Frequenzbereich kontinuierlichem Spektrum. Solches Licht kann beispielsweise von einer Glühlampe, einer Hochdruckentladungslampe oder auch von anderen Lichtquellen stammen. Durch die hohe chromatische Aberration wenigstens einer der beiden fokussierenden Elemente wird trotz der hohen numerischen Apertur eine hohe effektive Tiefenschärfe des Objektivs erreicht. Entlang der optischen Achse sind die Fokuspunkte der unterschiedlichen, im Licht enthaltenen Wellenlängen angeordnet. Der Sensor erfasst durch das Objektiv deshalb Licht nur der Wellenlänge, in dessen Brennpunkt sich die Objektoberfläche befin- det. Die durch die Faserkern-Stirnfläche gebildete Blende blendet . die übrigen Wellenlängen aus. Der Messkopf ist vorzugsweise als konfokales Mikroskop ausgebildet. Das aufgenommene Licht wird einer spektralen Analyse unterworfen. Die erfasste Lichtfarbe ist ein Maß für den Abstand des erfass- ten Oberflächenpunkts von dem Objektiv.
Objektive des so beschriebenen Aufbaus lassen sich wegen ihrer geringen Abmessungen ohne Weiteres zu einem Li- niensensor zusammensetzen. Damit können linienhafte Abschnitte einer Werkstückoberfläche in einem einfachen kurzen Messvorgang vermessen werden. Der sich ergebende Messkopf ist schlank, so dass auch schwer zugängliche Werkstückab- schnitte leicht vermessen werden können.
Weitere Einzelheiten vorteilhafter Ausführungsbeispiele der Erfindung sind Gegenstand der Zeichnung, der Figurenbeschreibung oder von Ansprüchen.
In der Zeichnung sind Ausführungsbeispiele der Erfindung veranschaulicht. Es zeigen:
Figur 1 eine Messeinrichtung mit einem erfindungs- gemäßen Messkopf bei der Vermessung eines Werkstücks in schematisierter Darstellung,
Figur 2 bis 4 Messköpfe mit Halbkugellinse in schematisierter Prinzipdarstellung,
Figur 5 bis 7 Messköpfe mit GRIN-Linse in schematisierter Darstellung,
Figur 8 einen optischen Liniensensor bestehend aus mehreren Punktsensoren gemäß einer der Figuren 2 bis 4,
Figur 9 und 10 weitere Ausführungsformen der optischen Punktsensoren in schematisierter Darstellung,
Figur 11 den Punktsensor nach Figur 9 in perspektivi scher Darstellung, Figur 12 den Punktsensor nach Figur 9 und 11 in Seitenansicht und
Figur 13 den Punktsensor nach Figur 10 in perspektivi- scher Ansicht.
In Figur 1 ist eine Messeinrichtung 1 veranschaulicht, mit der die Oberfläche eines Werkstücks 2, insbesondere auch an sehr schwer zugänglichen Stellen, wie beispielsweise innerhalb einer Bohrung 3 zu vermessen ist. Dazu dient ein schlanker Messkopf 4, der in die Bohrung 3 eingeführt werden kann. Der Messkopf 4 beruht auf einem optischen Messprinzip und tastet die Oberfläche der Bohrung 3 optisch an einer punktförmigen Stelle 5 an. Der Messkopf 4 wird über eine nicht weiter veranschaulichte Positioniereinrichtung bewegt . Dazu ist er beispielsweise Teil einer Koordinatenmessmaschi- ne .
Der Messkopf 4 ist über ein Lichtleitkabel, das wenigstens eine Lichtleitfaser 6 enthält, an eine Messeinheit 7 angeschlossen, zu der eine Lichtquelle 8 und ein Lichtempfänger 9 gehören.
Die Lichtquelle 8 enthält ein breitbandiges, nahezu punktfδrmiges Leuchtmittel 11, z.B. eine geeignete Glühla - pe, sowie einen Reflektor 12, der das Licht auf eine Sammellinse 13 wirft. Es wird somit ein im Wesentlichen paralleles Lichtbündel 14 erzeugt, das letztendlich zur Beleuchtung der Stelle 5 dient. Dazu passiert das Lichtbündel 14 zunächst einen halbdurchlässigen Spiegel 15 und wird dann mittels einer weiteren Sammellinse 16 in die Lichtleitfaser 6 des
Lichtleitkabels eingekoppelt. Es lässt sich als Lichtquelle auch eine auf einem Halbleiter basierende Lichtquelle, z.B. eine Superluminiszenzdiode verwenden, bei der eine Lichtleitfaser direkt an die Licht emittierende Fläche des Halb- leitermaterials gekoppelt ist. Der halbdurchlässige Spiegel 15 kann durch einen Y-Koppler ersetzt werden. Von dem Messkopf 4 aufgenommenes Licht wird über die Lichtleitfaser 6 und die Sammellinse 16 zurück auf den halbdurchlässigen Spiegel 15 geleitet. Dieser koppelt das Licht als Lichtbündel 17 aus und leitet es zu dem Lichtempfänger 9.
Der Lichtempfänger 9 enthält eine Linsenanordnung 18, die den Durchmesser des Lichtbündels 17 wesentlich vermindert, so dass ein im Grunde linienhafter Lichtstrahl 19 ver- bleibt. Dieser wird durch ein Prisma 21 entsprechend seiner Lichtfarbe (Wellenlänge) abgelenkt und fällt auf einen vielzelligen Photodetektor 22 oder einen sonstigen ortsempfindlichen Sensor. Die Stelle, an der der abgelenkte Lichtstrahl 19' auftrifft, kennzeichnet die Wellenlänge des Lichts. Die Empfangsfaser kann auch direkt an ein geeignetes Spektro- meter gekoppelt werden, bei dem die spektrale Aufspaltung z.B. mittels eines optischen Gitters erfolgt.
Figur 2 veranschaulicht eine erste Ausführungsform des Messkopfs 4 in schematischer Darstellung. Der Messkopf 4 enthält eine halbkugelförmige Linse 23, die von dem divergent aus der Lichtleitfaser 6 austretenden Licht getroffen wird. Die halbkugelförmige Linse 23 weist eine verspiegelte, vorzugsweise plan ausgebildete Fläche 24 auf (oder liegt an einem Spiegel an) , die vorzugsweise unter einem Winkel von 45° zu der Längsrichtung der Lichtleitfaser 6 angeordnet ist. Dies gilt zumindest für Messkδpfe 4 mit rechtwinklig seitlich austretendem Licht. Sind andere Austrittsrichtungen gewünscht, kann die Fläche 24 der Linse 23 in einem entspre- chend anderen Winkel angeordnet sein.
Die Linse 23 ist durch nicht weiter veranschaulichte Befestigungsmittel an einem Träger 25 befestigt und gehal- ten. Der Träger 25 kann beispielsweise aus einem durchsichtigen Kunststoffmaterial ausgebildet sein. Die Stelle, an der das von der Linse 23 reflektierte und vorfokussierte Licht den Träger 25 durchstrahlt, kann in diesen eine Zonen- linse 26 eingearbeitet sein. Diese ist vorzugsweise als beugungsoptisches (diffraktives) Element ausgebildet. Der verwendete Kunststoff weist vorzugsweise eine hohe Brechzahl auf. Die Linse 23 mit ihrer verspiegelten Fläche 24 bildet zusammen mit der Zonenlinse 26 ein Objektiv, das quer zu dem Träger 25 sowie zu der Lichtleitfaser 6 nur eine äußerst geringe Abmessung auf eist. Darüber hinaus weist es insgesamt eine sehr hohe numerische Apertur von >0,1, vorzugsweise >0,3 auf. Es können Werte von 0,5 und mehr erreicht werden. Die numerische Apertur A berechnet sich zu:
A = n sin σ, wobei σ der halbe Öffnungswinkel des aus der Linse 23 nebst Fläche 24 und Zonenlinse 26 gebildeten Objektivs 27 und n die Brechzahl des Mediums zwischen dem Objektiv und seinem
Brennpunkt 28 ist.
Die hohe numerische Apertur gestattet die Vermessung von Werkstückoberflächen auch dann, wenn diese nicht unbe- dingt rechtwinklig zu der optischen Achse 29 des Objektivs 27 ausgerichtet sind.
Der Messkopf 4 weist eine hohe chromatische Aberration auf. Diese wird im Wesentlichen durch die Zonenlinse 26 ver- ursacht, die bewusst zur Erzielung einer hohen chromatischen
Aberration gestaltet ist. Die Brennweite nimmt mit zunehmender Licht ellenlänge ab (negative longitudinale chromatische Aberration) . Es können jedoch auch brechungsoptische Elemen- te (refraktive Linsen) verwendet werden, die eine positive longitudinale chromatische Aberration aufweisen (die Brennweite nimmt mit der Lichtwellenlänge zu) . Die insoweit beschriebene Messeinrichtung 1 arbeitet wie folgt :
Der Messkopf 4 wird zunächst so vor der Werkstückoberfläche positioniert, dass wenigstens einer seiner verschie- den farbigen, entlang der Achse 29 angeordneten Brennpunkte an der Stelle 5 der Werkstückoberfläche liegt. Genau genommen, liegen unendlich viele Brennpunkte entlang eines Abschnitts der optischen Achse 29 verteilt, wobei sich benachbarte Brennpunkte farblich nur infinitesimal unterscheiden. Die Lichtquelle 8 koppelt nun über die Lichtleitfaser 6
Licht in den Messkopf 4 ein, um die Stelle 5 zu beleuchten. Dabei liegt die Werkstückoberfläche an einer Stelle der optischen Achse 29, die dem Brennpunkt einer bestimmten Lichtwellenlänge entspricht. Das reflektierte Licht wird von dem Objektiv 27 wieder aufgenommen. Durch die nahezu punktformi- ge Stirnfläche der Lichtleitfaser wird aus dem reflektierten, aufgenommenen Licht nur das Licht des Brennpunkts aufgenommen und zu dem Lichtempfänger 9 geleitet. Der Lichtempfänger 9 nimmt eine spektrale Analyse vor. Der Photode- tektor 22 erzeugt an einer Ausgangsleitung 31 ein Ausgangssignal, das die empfangene Lichtwellenlänge kennzeichnet. Aus dieser kann auf den Abstand zwischen dem Objektiv 27 bzw. zwischen den Messkopf 4 und der Werkstückoberfläche geschlossen werden.
Die Möglichkeit der Erzielung einer hohen numerischen Apertur ergibt sich bei dem Objektiv 27 nach Figur 2 durch die Verwendung der halbkugelförmigen Linse 23 in Verbindung mit der Zonenlinse 26.
Eine abgewandelte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Objektivs 27 ist in Figur 3 veranschaulicht. Wie bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel ist der Licht- weg gestrichelt eingetragen. Jedoch ist die Zonenlinse 26 vor der Linse 23, d.h. zwischen der Linse 23 und dem Lichtaus- und -eintritt der Lichtleitfaser 6 angeordnet. Es er- gibt sich wiederum ein Objektiv 27 mit großer numerischer
Apertur, d.h. großem Öffnungswinkel 2σ des Objektivs 27. Die Zonenlinse 26 kann wiederum an einem Kunststoffträger ausgebildet sein, der mit einem Fortsatz 32 in den Lichtweg ragt. Wie Figur 4 veranschaulicht, ist es auch möglich, die Linse 23 und die Zonenlinse 26 miteinander zu vereinigen. Die halbkugelförmige oder auch kugelabschnittsförmige Linse 23 ist dazu an ihrer spiegelnden Fläche 24, die vorzugsweise als Planfläche ausgebildet ist, mit einer Zonenstruktur 26a versehen, die eine hohe chromatische Aberration verursacht. Die Linse 23 liefert ein Objektiv mit kurzer Brennweite und hoher numerischer Apertur.
Allen vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen ist gemeinsam, dass sie als wesentliches Element die kugelabschnittsförmige oder halbkugelförmige Linse 23 nutzen. Solche Linsen lassen sich mit rationellen Fertigungsverfahren mit äußerst kleinen Abmessungen in hoher Präzision fertigen, was eine Miniaturisierung des beschriebenen Messkopfs 4 ermöglicht.
Die Figuren 5 bis 7 veranschaulichen andere, ebenfalls miniaturisierungsfreundlich gestaltete Ausführungsformen des Messkopfs 4. Es wird zunächst auf Figur 5 verwiesen. Bei dieser ist auf dem Träger 25 eine GRIN-Linse 33 angeordnet. Die GRIN-Linse ist eine Linse zylindrischer Grundform, bei der sich der BrechungsIndex ausgehend von der zentralen op- tischen Achse radial nach außen hin verändert, so dass ein Fokussierungseffekt erreicht wird. Die Lichtleitfaser 6 wirft das Licht auf eine plane Stirnfläche der GRIN-Linse 33. Dieser folgend ist an der gegenüber liegenden Seite ein Spiegel 34 angeordnet, der das vorgebündelte Licht seitlich durch den Träger 25 nach außen wirft. An dem Träger 25 ist die diffraktive Struktur in Form der Zonenlinse 26 ausgebildet, wodurch in unmittelbarer Nähe der Werkstückoberfläche ein großer Öffnungswinkel 2σ erzielt wird. Dieser ist vorzugsweise größer als 35°, d.h. NA > 0,3.
Wie Figur 6 veranschaulicht, kann an Stelle des Spiegels 34 auch ein Prisma 35 vorgesehen werden, das eine verspiegelte Basisfläche 36 aufweist. Die vorzugsweise rechtwinklig zueinander stehenden Seiten bilden den Lichtein- und -auslass. Es ist wiederum am Lichtauslass eine Zonenlinse 26 vorgesehen, um den großen Öffnungswinkel 2σ zu erzielen. Zwischen der GRIN-Linse 33 und dem Lichtaustritt der Lichtleitfaser 6 kann eine freie Luftstrecke oder alternativ ein lichtleitendes festes Element, wie z.B. ein Glaskörper, Glasstab, Kunststoffkörper, Kunststoffstab oder dergleichen vorgesehen sein. Desgleichen kann zwischen der GRIN-Linse 33 und dem Prisma 35 eine Luftspalt oder alternativ ein lichtleitendes festes Element, wie z.B. ein Glaskörper, Glasstab, Kunststoffkörper, Kunststoffstab oder dergleichen vorgesehen sein. Die GRIN-Linse 33 kann auch direkt an das Prisma 35 angesetzt oder in dieses eingearbeitet bzw. Teil desselben sein. Anstelle der GRIN-Linse 33 kann das den Lichtaustritt festlegende Ende der Lichtleitfaser 6 auch selbst als opti- sches Element z.B. als Sammellinse ausgebildet sein. Im einfachsten Falle kann dazu z.B. das Ende der Lichtleitfaser 6 kugelförmig aufgeschmolzen werden. Figur 7 veranschaulicht eine weitere Ausführungsform der Erfindung, bei der die GRIN-Linse 33 mit einem diffrak- tivem Reflektor 36 kombiniert ist. Im Lichtweg ist im An- schluss an die Lichtleitfaser 6 die GRIN-Linse 33 angeordnet. Der nachfolgend angeordnete diffraktive Reflektor 36 erzeugt einerseits die gewünschte hohe chromatische Aberration und andererseits zugleich die seitliche Ablenkung des Lichts und die kurze Brennweite des Objektivs 27, die sich in dem großen Öffnungswinkel 2σ dokumentiert. Sowohl die GRIN-Linse 33 als auch der diffraktive Reflektor 36 sind miniaturisierungsfreundliche Bauelemente, so dass das Objektiv 27 äußerst klein aufgebaut werden kann.
Figur 8 veranschaulicht ein Beispiel für einen Liniensensor 37, der durch eine Folge von Punktsensoren gebildet ist. Die Punktsensoren können nach einem der vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiele ausgebildet sein. In dem in Figur 8 veranschaulichten Beispiel dient der Sensor gemäß Figur 2 als Grundlage. Das Lichtleitkabel enthält hier mehrere Lichtleitfasern und zwar eine für jeden Messpunkt. Ent- sprechend ist auch jede Faser an einen eigenen, nicht weiter veranschaulichten Lichtempfänger entsprechend dem Lichtempfänger 9 nach Figur 1 angeschlossen. Jeder Lichtleitfaser ist jeweils eine Halbkugellinse 23 (23a bis 23j) zugeordnet, wobei die geometrischen Verhältnisse entsprechend Figur 2 eingerichtet sind. Unterhalb der schräg angeordneten Linsen
23a bis 23j sind in dem Träger 25 die Zonenlinsen 26 angeordnet, die in Figur 8 durch die Linsen 23a bis 23j verdeckt sind. Die Linsen 23a bis 23j leiten somit das Licht senk- recht zur Zeichenebene nach unten, so dass die optischen Achsen der so gebildeten Einzelobjektive parallel und im Abstand zueinander senkrecht in die Zeichenebene hineingehen.
Ein solcher Liniensensor 37 kann in dem Messkopf 4 gemäß Figur 1 angeordnet werden, um dann einen größeren li- nienhaften Abschnitt der Wandung der Bohrung 3 zu erfassen. Aufgrund der geringen Abmessungen der Einzelsensoren bzw. Einzelobjektive können diese sehr dicht aneinander heranrücken und es kann ein Messkopf 4 geschaffen werden, der einen Durchmesser von beispielsweise kaum mehr als 2 mm aufweist. Es ist somit die Untersuchung von Werkstücken und die Vermessung derselben auch unter sehr beengten Bedingungen mög- lieh.
Die Erfindung wendet bei einem Abstandssensor das konfokal-chromatische Messprinzip so an, dass bei minimalem Messkopfdurchmesser eine Winkelumlenkung des zur Messung verwendeten Lichts mit einer großen numerischen Apertur kombiniert und eine Longitudinalauflösung im Submikrometerbe- reich erreicht wird. Eine Besonderheit der erfindungsgemäßen Lösung liegt darin, dass das aus einer axial angeordneten Faser divergent austretende Licht in mindestens zwei aufein- ander folgenden Schritten kollimiert und fokussiert wird, wobei nach der Teilkollimation, nach der vollständigen Kol- limation oder nach der vollständigen Kollimation einschließlich einer Vorfokussierung eine Winkelumlenkung in die gewünschte Messrichtung erfolgt, wobei die endgültige Fokus- sierung entweder der Winkelumlenkung nachgeordnet ist oder zusammen mit der Winkelumlenkung bezogen wird. Die Abstands- messung beruht auf der Wellenlängenaufspaltung des Fokuspunkts entlang der optischen Achse und der spektralen Analy- se des in die Faser zurück gekoppelten Lichts. Die gewünschte spektrale Aufspaltung kann durch eine Kombination von achromatischen Elementen oder Elementen mit positiver longi- tudinaler chromatischen Aberration sowie Elementen mit nega- tiver longitudinaler chromatischer Aberration erreicht werden. Solche Elemente sind beispielsweise refraktive Linsen und diffraktive Linsen. Die erforderlichen optischen Elemente können ganz oder teilweise mikrooptisch ausgeführt werden. Die letzte Fokussierung erfolgt vorzugsweise mittels eines in einem Trägersubstrat eingeschriebenen diffraktiven Elements. Dieses Element kann aus einem Polymer ausgebildet sein und Haltestrukturen für die Lichtleitfaser und/oder die optischen Elemente (Linsen und Spiegel)- aufweisen. Es können auch mehrere punktförmig messende Sensoren zu einem linien- förmig messenden Sensor kombiniert werden.
Vorzugsweise erfolgt die Kollimation, die Vorfokussie- rung und die Winkelumlenkung durch eine schräg gestellte Halbkugellinse 23 mit verspiegelter Planfläche 24, die vor einem fokussierenden diffraktivem Element 26 angeordnet ist.
Alternativ und ebenfalls miniaturisierungsfähig kann eine GRIN-Linse oder eine andere refraktive Linse zur Kollimation und Vorfokussierung vor einem Planspiegel angewendet werden. Der Planspiegel dient der Winkelumlenkung. Ihm ist ein fo- kussierendes diffraktives Element nachgeordnet. Alternativ kann das diffraktive Element in den Spiegel integriert sein.
Es kann auch vorgesehen werden, zuerst eine Vorkollima- tion durch ein diffraktives Element 26 vorzunehmen, das vor einer schräg gestellten Halbkugellinse mit verspiegelter
Planfläche angeordnet ist, die zur Kollimation, Vorfokussierung, Winkelumlenkung und Fokussierung dient. Weiter ist es möglich, zuerst eine Kollimation und ggf. Vorfokussierung durch eine GRIN-Linse oder eine andere refraktive Linse vorzunehmen, wobei die nachfolgende Winkelumlenkung mittels eines Prismas realisiert wird, bei dem zur Fokussierung die dem Objekt zugewandte Fläche oder die spiegelnde Planfläche mit einer diffraktiven Struktur versehen wird.
Die Figuren 9 und 10 zeigen derzeit bevorzugte Ausführungsformen einer Realisierung des erfindungsgemäßen Sensors. Bei der Ausführungsform gemäß Figur 9 ist die Linse 23 an ihrer Fläche 24 verspiegelt. Sie ist knapp oberhalb des Trägers 25 gehalten oder mit diesem verbunden. An dem Träger 25 ist eine Zonenlinse 26, beispielsweise in Form eines diffraktiven Elements, ausgebildet. Die Linse 23 wirkt als re- fraktives Element. Die praktische Ausführungsform dieses Punktsensors ist in den Figuren 11 und 12 veranschaulicht. Der Träger 25 ist beispielsweise aus Quarzglas ausgebildet. Die Linse 23 ist zwischen zwei Halteelementen 38, 39 lagerichtig gehalten. Das Halteelement 38 ist etwa Y-förmig ausgebildet und mit dem Träger 25 verbunden. Beispielsweise ist es mit diesem verklebt. Das Halteelement 39 weist eine an der Fläche 24 anliegende Planfläche . auf und bestimmt somit die Ausrichtung der Linse 23. Diese schwebt über dem Träger 25 oder berührt diesen in einem Punkt. Das Halteelement 39 sitzt auf einem Haltestück 41, das beispielsweise mit dem Träger 25 verklebt oder sonstwie verbunden ist.
In einigem Abstand zu der Linse 23 ist die Lichtleitfaser 6 gehalten. Dazu dient ein Halteblock 42, der auf den Träger 25 aufgesetzt ist. Beispielsweise ist er durch Halte- Strukturen 43, 44 formschlüssig gehalten, die an oder auf dem Träger 25 ausgebildet sind. Bei der Ausführungsform nach Figur 10 ist anstelle der Linse 23 die Kombination einer GRIN-Linse 33 mit einem nach- geordneten Spiegel 34 vorgesehen. Die GRIN-Linse 33 kann direkt an dem Träger 25 befestigt sein. Der Träger 25 kann außerdem eine Haltestruktur aufweisen, die den Spiegel 34 trägt. Vorzugsweise ist der Träger 25 aus einem Kunststoff oder Quarzglas oder einem ähnlichen Material ausgebildet. Bevorzugt wird ein 0,3 mm dickes Quarzglassubstrat, an dem die nötigen diffraktiven Strukturen zur Ausbildung der Zo- nenlinse 26 und Haltestrukturen ausgebildet werden können.
Die praktische Ausführung des Punktsensors nach Figur 10 ist in Figur 13 perspektivisch veranschaulicht. Die GRIN-Linse 33 ist zwischen beidseits ihrer Mantelfläche angeordneten Haltestrukturen 45 gelagert, die an den Träger 25 angeformt oder an diesem befestigt sind. Zwischen den Haltestrukturen
45, die die GRIN-Linse 33 halten, und einer Haltestruktur
46, die an den Träger 25 angeformt, aus diesem ausgearbeitet oder sonstwie mit diesem verbunden ist, ist ein Spiegelelement 47 gehalten, das der GRIN-Linse 33 eine Schrägfläche zuwendet. Es kann von der GRIN-Linse 33 beabstandet sein oder diese etwas übergreifen und somit am Ort fixieren. Die der GRIN-Linse zugewandte Planfläche ist verspiegelt und bildet somit den Spiegel 34, wie er aus Figur 10 ersichtlich ist .
Die Lichtleitfaser 6 ist in dem Halteblock 42 wie bei den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen gehalten. Insoweit wird auf die vorstehende Beschreibung verwiesen. Bei den Ausführungsbeispielen gemäß Figur 11 bis 13 handelt es sich um prozesssicher und technologisch sehr einfach herzustellende PunktSensoren, die eine hohe Erfassungsgenauigkeit ermöglichen. Es kann auch zuerst eine Kollimation und ggf. eine Vor- fokussierung durch eine GRIN-Linse oder eine andere diffraktive Linse vorgenommen werden, wobei die nachfolgende Winkelumlenkung mittels eines schräg gestellten Spiegels reali- siert wird, bei dem zur Fokussierung die spiegelnde Planfläche mit einer diffraktiven Struktur versehen ist. Die Kollimation kann auch durch eine erste Grenzfläche einer schräg gestellten Halbkugellinse erfolgen, wobei die Winkelumlenkung durch die spiegelnde Planfläche in die eine diffraktive Struktur eingeschrieben ist und die endgültige Fokussierung durch die zweite Grenzfläche der schräg gestellten Halbkugellinse erreicht wird.
Ein erfindungsgemäßer Messkopf 4 weist die Kombination einer Zonenlinse 26, die vorzugsweise als diffraktive Linse ausgebildet ist, mit einer Halbkugellinse 23 oder einer GRIN-Linse 33 auf. Dies ist ein miniaturisierungsfähiges Konzept, das zu sehr schlanken Messköpfen 4 mit hoher numerischer Apertur und in Folge dessen bestem Auflösungsver- mögen führt. Derartige Messköpfe sind unempfindlich gegen Winkelfehler hinsichtlich der Ausrichtung des Messkopfs gegen die zu messende Fläche oder Schrägstellung der Fläche gegen die optische Achse des Messkopfs.

Claims

Patentansprüche :
1. Messkopf (4) zur optischen Vermessung von Gegenständen (2) , mit einer Lichtquelle (8) , die Licht mit unterschiedlichen spektralen Anteilen aufweist, mit einem Lichtempfänger (9) , der von dem Gegenstand (2) reflektiertes Licht aufnimmt und hinsichtlich seiner spektralen Zusammensetzung analysiert, mit wenigstens einem Lichtleiter (6) , der die Lichtquelle (8) mit wenigstens einem Objektiv (4) verbindet, dessen Durchmesser geringer als 5 mm ist, wobei zu dem Objektiv: a. ein Spiegel (24), der das von dem Lichtleiter (6) gelieferte Licht in eine Richtung quer zu dem Lichtleiter (6) ablenkt, b. wenigstens ein erstes fokussierendes Element (23, 33) , das von der Lichtquelle (8) aus gesehen vor dem Spiegel (24) angeordnet ist, c. ein zweites Element (26, 36) mit chromatischer Aberration gehören, das in dem Lichtweg des Objektives mit dem ersten Element hintereinander und hinter dem Spiegel (24) angeordnet oder in diesen integriert ist, wobei das Objektiv (4) insgesamt eine numerische Apertur (NA) größer gleich 0,1 aufweist.
2. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens zwei der drei Elemente (24, 23, 26, 36) des Objektivs gemäß der Punkte a, b, c des Anspruchs 1 zu einer Funktionseinheit kombiniert sind.
3. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Messkopf ein mikrooptischer Messkopf in Hybridausführung ist, bei dem wenigstens ein optisches Element (24, 23, 26, 36) in einem Träger (25) ausgebildet ist, an dem Haltestrukturen zur Befestigung wenigstens eines der übrigen optischen Elemente ausgebildet sind.
4. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Element (26, 36) ein fokussierendes diffraktives Element ist.
5. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Element (26, 36) eine fokussierende Zonenlinse ist.
6. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das erste fokussierende Element (23, 33) ein refrakti- ves Element ist.
7. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das erste fokussierende Element (23, 33) eine Sammel- linse ist.
8. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das erste fokussierende Element (23, 33) eine GRIN-Linse ist.
9. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das erste fokussierende Element (23, 33) eine Halbkugellinse ist .
10. Messkopf nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Spiegel (24) durch eine an der Halbkugellinse ausgebildete Fläche (24) gebildet ist.
11. Messkopf nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Fläche (24) eine Planfläche ist.
12. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Objektiv (4) eine numerische Apertur von größer als 0,3 aufweist.
13. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Objektiv (4) eine numerische Apertur von 0,5 oder größer aufweist .
14. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Messkopf (4) auf einem Träger (25) aufgebaut ist, der den Lichtleiter (6) und die optischen Elemente (23, 33, 26, 26) relativ zueinander starr hält.
15. Messkopf nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger (25) aus einem durchsichtigen Material ausgebildet ist, an dem das zweite optische Element (26, 36) ausgebildet ist.
16. . Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Messkopf (4) als Teil eines konfokalen Mikroskops ausgebildet ist.
17. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere Lichtleiter (6) und mehrere angeschlossene Objektive (4) vorgesehen sind.
18. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der GRIN-Linse (33) und dem Lichtaustritt der Lichtleitfaser (6) eine freie Luftstrecke oder alternativ ein lichtleitendes festes Element, wie z.B. ein Glaskörper, Glasstab, Kunststoffkδrper, Kunststoffstab oder dergleichen vorgesehen ist.
19. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der GRIN-Linse (33) und dem Prisma (35) ein Luftspalt oder alternativ ein lichtleitendes festes Element, wie z.B. ein Glaskörper, Glasstab, Kunststoff- körper, Kunststoffstab oder dergleichen vorgesehen ist.
20. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die GRIN-Linse (33) direkt an das Prisma (35) angesetzt oder in dieses eingearbeitet bzw. Teil desselben ist.
21. Messkopf nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das den Lichtaustritt festlegende Ende der Lichtleitfaser (6) selbst als optisches Element z.B. als Sammellinse ausgebildet ist.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007084903A3 (en) * 2006-01-19 2008-06-26 Gen Hospital Corp Apparatus for obtaining information for a structure using spectrally-encoded endoscopy techniques and method for producing one or more optical arrangements
EP1754018B1 (de) * 2004-06-08 2018-07-11 Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zum prüfen von oberflächen im inneren von löchern

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005052743B4 (de) * 2005-11-04 2021-08-19 Precitec Optronik Gmbh Messsystem zur Vermessung von Grenz- oder Oberflächen von Werkstücken
DE102006017400B4 (de) * 2006-04-13 2010-01-07 Precitec Optronik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur berührungslosen Vermessung wenigstens einer gekrümmten Fläche
US20100123209A1 (en) * 2008-11-19 2010-05-20 Jacques Duparre Apparatus and Method of Manufacture for Movable Lens on Transparent Substrate
DE102009025815A1 (de) * 2009-05-15 2010-11-25 Degudent Gmbh Messanordnung sowie Verfahren zum dreidimensionalen Messen eines Objektes
US8194251B2 (en) * 2010-08-26 2012-06-05 Mitutoyo Corporation Method for operating a dual beam chromatic point sensor system for simultaneously measuring two surface regions
GB2489722B (en) 2011-04-06 2017-01-18 Precitec Optronik Gmbh Apparatus and method for determining a depth of a region having a high aspect ratio that protrudes into a surface of a semiconductor wafer
DE102011051146B3 (de) 2011-06-17 2012-10-04 Precitec Optronik Gmbh Prüfverfahren zum Prüfen einer Verbindungsschicht zwischen waferförmigen Proben
US8736817B2 (en) 2012-05-25 2014-05-27 Mitutoyo Corporation Interchangeable chromatic range sensor probe for a coordinate measuring machine
US8817240B2 (en) 2012-05-25 2014-08-26 Mitutoyo Corporation Interchangeable optics configuration for a chromatic range sensor optical pen
DE102012111008B4 (de) * 2012-11-15 2014-05-22 Precitec Optronik Gmbh Optisches Messverfahren und optische Messvorrichtung zum Erfassen einer Oberflächentopographie
DE102013006875B4 (de) * 2013-04-20 2021-02-11 Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh Verfahren zur Vermessung der Oberfläche einer insbesondere durch Hochdruckwasserstrahlen, Sand- bzw. Partikelstrahlen, Rillieren oder Flammspritzen aufgerauten Innenfläche einer Zylinderbohrung
DE102013008582B4 (de) 2013-05-08 2015-04-30 Technische Universität Ilmenau Verfahren und Vorrichtung zur chromatisch-konfokalen Mehrpunktmessung sowie deren Verwendung
US9500471B2 (en) 2013-06-17 2016-11-22 Precitec Optronik Gmbh Optical measuring device and method for acquiring in situ a stage height between a support and an edge region of an object
US9068822B2 (en) 2013-07-03 2015-06-30 Mitutoyo Corporation Chromatic range sensor probe detachment sensor
DE102013113265B4 (de) 2013-11-29 2019-03-07 Grintech Gmbh Vorrichtung zur berührungslosen optischen Abstandsmessung
US10234265B2 (en) 2016-12-12 2019-03-19 Precitec Optronik Gmbh Distance measuring device and method for measuring distances
DE102017126310A1 (de) 2017-11-09 2019-05-09 Precitec Optronik Gmbh Abstandsmessvorrichtung
US11169026B2 (en) 2018-11-30 2021-11-09 Munro Design & Technologies, Llc Optical measurement systems and methods thereof
DE102018130901A1 (de) 2018-12-04 2020-06-04 Precitec Optronik Gmbh Optische Messeinrichtung
DE102021112120A1 (de) 2021-05-10 2022-11-10 Carl Mahr Holding Gmbh Faseroptische Punktsonde und Distanzmesssystem mit einer faseroptischen Punktsonde

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5785651A (en) * 1995-06-07 1998-07-28 Keravision, Inc. Distance measuring confocal microscope
GB2355310A (en) * 1999-09-28 2001-04-18 Ocular Sciences Ltd White light interferometer
US6564087B1 (en) * 1991-04-29 2003-05-13 Massachusetts Institute Of Technology Fiber optic needle probes for optical coherence tomography imaging
DE10161486A1 (de) * 2001-12-14 2003-07-03 Carl Mahr Holding Gmbh Konfokaler Liniensensor
FR2848664A1 (fr) * 2002-12-11 2004-06-18 Micro Module Detecteur de position, forme et reflectivite d'une surface

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4932490A (de) * 1972-07-24 1974-03-25
JPS584481Y2 (ja) * 1973-06-23 1983-01-26 オリンパス光学工業株式会社 ナイシキヨウシヤヘンカンコウガクケイ
JPS6442611A (en) * 1987-08-10 1989-02-14 Fujitsu Ltd Structure for optical coupling of optical fiber and photodetecting element
JPH04265814A (ja) * 1991-02-20 1992-09-22 Nissin Electric Co Ltd 変位測定装置
JPH04295708A (ja) * 1991-03-25 1992-10-20 Topcon Corp 非接触式形状測定装置
JPH064611U (ja) * 1992-06-25 1994-01-21 株式会社キーエンス 光学式距離測定装置
JPH0829161A (ja) * 1994-07-15 1996-02-02 Keyence Corp 光方向変換装置およびそれを用いた光電スイッチ
JPH08271209A (ja) * 1995-03-30 1996-10-18 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 光導波路型変位センサおよびそれに用いる半球状レンズ
JPH109827A (ja) * 1996-06-24 1998-01-16 Omron Corp 高さ判別装置および方法
DE19713362A1 (de) * 1997-03-29 1998-10-01 Zeiss Carl Jena Gmbh Konfokale mikroskopische Anordnung
JP4021975B2 (ja) * 1997-08-28 2007-12-12 オリンパス株式会社 光走査プローブ装置
GB0000954D0 (en) * 2000-01-18 2000-03-08 Renishaw Plc Spectroscopic probe
US9295391B1 (en) * 2000-11-10 2016-03-29 The General Hospital Corporation Spectrally encoded miniature endoscopic imaging probe
IT1320124B1 (it) * 2000-12-20 2003-11-18 Faro Spa Dispositivo perfezionato per gli interventi odontoiatrici.
US6891984B2 (en) * 2002-07-25 2005-05-10 Lightlab Imaging, Llc Scanning miniature optical probes with optical distortion correction and rotational control
US7154083B2 (en) * 2003-02-24 2006-12-26 Pentax Corporation Confocal probe
JP4338412B2 (ja) * 2003-02-24 2009-10-07 Hoya株式会社 共焦点プローブおよび共焦点顕微鏡

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6564087B1 (en) * 1991-04-29 2003-05-13 Massachusetts Institute Of Technology Fiber optic needle probes for optical coherence tomography imaging
US5785651A (en) * 1995-06-07 1998-07-28 Keravision, Inc. Distance measuring confocal microscope
GB2355310A (en) * 1999-09-28 2001-04-18 Ocular Sciences Ltd White light interferometer
DE10161486A1 (de) * 2001-12-14 2003-07-03 Carl Mahr Holding Gmbh Konfokaler Liniensensor
FR2848664A1 (fr) * 2002-12-11 2004-06-18 Micro Module Detecteur de position, forme et reflectivite d'une surface

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1754018B1 (de) * 2004-06-08 2018-07-11 Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zum prüfen von oberflächen im inneren von löchern
WO2007084903A3 (en) * 2006-01-19 2008-06-26 Gen Hospital Corp Apparatus for obtaining information for a structure using spectrally-encoded endoscopy techniques and method for producing one or more optical arrangements

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