[go: up one dir, main page]

UA24441U - Device for bimorph piezoelectric elements control - Google Patents

Device for bimorph piezoelectric elements control Download PDF

Info

Publication number
UA24441U
UA24441U UAU200703364U UAU200703364U UA24441U UA 24441 U UA24441 U UA 24441U UA U200703364 U UAU200703364 U UA U200703364U UA U200703364 U UAU200703364 U UA U200703364U UA 24441 U UA24441 U UA 24441U
Authority
UA
Ukraine
Prior art keywords
generator
bimorphic
measuring circuit
controlling
piezoelectric elements
Prior art date
Application number
UAU200703364U
Other languages
Ukrainian (uk)
Inventor
Valerii Mykhailovych Sharapov
Andrii Mykolaiovych Hurzhii
Zhanna Vasylivna Sotula
Original Assignee
Valerii Mykhailovych Sharapov
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Valerii Mykhailovych Sharapov filed Critical Valerii Mykhailovych Sharapov
Priority to UAU200703364U priority Critical patent/UA24441U/en
Publication of UA24441U publication Critical patent/UA24441U/en

Links

Landscapes

  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
  • General Electrical Machinery Utilizing Piezoelectricity, Electrostriction Or Magnetostriction (AREA)

Abstract

The device for bimorph piezoelectric elements control includes an electric oscillation generator, a measuring circuit and a measuring device. The electric oscillation generator is made as a generator of electric meander-shaped voltage. The measuring circuit made as U-type high-cut filter, as one of capacitor of which is used bimorph controlled piezoelectric element.

Description

Опис винаходуDescription of the invention

Корисна модель відноситься до приладобудування і призначена для контролю якісних характеристик 2 біморфних п'єзоелементів.The useful model refers to instrument engineering and is designed to control the quality characteristics of 2 bimorphic piezo elements.

Відомий пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів |див. патент Мо1405813, бюл. Мо24, 1986, СССРІ, що містить п'єзотрансформатор, до одної системи електродів якого підключено генератор електричних коливань, а до другої - вимірювальний пристрій, а загальний електрод п'єзотрансформатора підключено до біморфного п'єзолемента, що контролюється. 70 Недоліком його є порівняно складна процедура контролю якісних характеристик біморфних п'єзоелементів.A well-known device for controlling bimorphic piezo elements | see patent Mo1405813, bull. Mo24, 1986, USSR, containing a piezotransformer, to one system of electrodes of which a generator of electrical oscillations is connected, and to the other - a measuring device, and the common electrode of the piezotransformer is connected to a bimorphic piezo element that is being monitored. 70 Its disadvantage is a relatively complex procedure for controlling the quality characteristics of bimorphic piezo elements.

Відомий пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів |див. патент України по заявці Мо200609747 від 11.09.2006), що містить генератор електричних коливань, вимірювальне коло та вимірювальний пристрій, причому в якості вимірювального кола використовується послідовний коливний контур з автотрансформаторним зв'язком, на виході якого знаходиться биморфний п'єзоелемент, що контролюється. 12 Зазначений пристрій найбільш близький по технічній сутності і обраний в якості прототипу.A well-known device for controlling bimorphic piezo elements | see patent of Ukraine according to the application Mo200609747 dated 11.09.2006), which contains a generator of electrical oscillations, a measuring circuit and a measuring device, and as a measuring circuit, a sequential oscillating circuit with an autotransformer connection is used, at the output of which there is a controlled bimorphic piezo element. 12 The specified device is the closest in terms of technical essence and was chosen as a prototype.

Недоліком його є порівняно складна процедура контролю якісних характеристик біморфних п'єзоелементів, а також присутність моточних пристроїв, що збільшує складність пристрою.Its disadvantage is a relatively complex procedure for controlling the quality characteristics of bimorphic piezo elements, as well as the presence of winding devices, which increases the complexity of the device.

В основу корисної моделі поставлена задача вдосконалення пристрою для контролю біморфних п'єзоелементів шляхом введення генератору електричної напруги у вигляді меандру, та вимірювального контура в формі П-образного КС фільтру нижніх частот, в якому у якості однієї з ємностей використовується биморфний п'єзоелемент, що контролюється.The useful model is based on the task of improving the device for controlling bimorphic piezo elements by introducing an electric voltage generator in the form of a meander, and a measuring circuit in the form of a U-shaped low-pass filter, in which a bimorphic piezo element is used as one of the capacitors, which is controlled

Пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів, що заявляється, містить генератор електричних коливань, вимірювальний контур та вимірювальний пристрій.The claimed device for controlling bimorphic piezo elements includes a generator of electrical oscillations, a measuring circuit and a measuring device.

Пропонований пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів відрізняється від прототипу тим, що генератор електричної напруги виконаний в вигляді генератора електричної напруги в формі меандру, а з вимірювальний контур виконаний в формі П-образного КС фільтру нижніх частот, в якому у якості однієї з ємностей використано біморфний п'єзоелемент, що контролюється.The proposed device for controlling bimorphic piezo elements differs from the prototype in that the electric voltage generator is made in the form of a meander-shaped electric voltage generator, and the measuring circuit is made in the form of a U-shaped low-pass filter, in which one of the capacitors is used controllable bimorph piezo element.

Вказані ознаки є необхідними і достатніми для досягнення технічного результату.The indicated signs are necessary and sufficient to achieve a technical result.

Технічним результатом корисної моделі, що заявляється, є спрощення процедури контролю якісних -- характеристик біморфних п'єзоелементів. «ІThe technical result of the proposed useful model is the simplification of the procedure for controlling the quality characteristics of bimorphic piezo elements. "AND

Корисна модель пояснюється кресленням, де: на Фіг.1 показана схема пропонованого пристрою; З на Фіг.2 показана перехідна характеристика пропонованого пристрою, яка відповідає розриву в колі «Її біморфного п'єзоелемента; 3о на Фіг.3 показана перехідна характеристика пропонованого пристрою, яка відповідає відсутності полярізації сч в біморфному п'єзоелементі; на Фіг4 показана перехідна характеристика пропонованого пристрою, яка відповідає придатному до використання п'єзоелементу. «The useful model is explained by the drawing, where: Fig. 1 shows the scheme of the proposed device; Fig. 2 shows the transient characteristic of the proposed device, which corresponds to a break in the circle of "Her bimorphic piezo element; 3o, Fig. 3 shows the transient characteristic of the proposed device, which corresponds to the absence of polarization in the bimorphic piezo element; Figure 4 shows the transient characteristic of the proposed device, which corresponds to a usable piezo element. "

Пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів містить генератор 1 напруги в формі меандру, П-образний З вс фільтр нижніх частот, що складається з ємності 2, опору З та біморфного п'єзоелементу 4, що контролюється с ; вимірювального пристрою 5. з» Пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів працює наступним чином.The device for controlling bimorphic piezo elements contains a voltage generator 1 in the form of a meander, a U-shaped low-pass filter consisting of a capacitor 2, resistance Z and a bimorphic piezo element 4, which is controlled by c; measuring device 5. z» The device for monitoring bimorphic piezo elements works as follows.

При підключенні до П-образного КС фільтру нижніх частот 2-4 генератора 1 електричної напруги в формі меандра, в п'єзоелементі З, що контролюється, виникають вигинові коливання, причому форма коливань залежить від дефектів в біморфному п'єзоелементі 4, що контролюється. Криві, які зображені на Фіг.2, З де відповідають дефектам, що виникають в п'єзоелементі, крива, яка зображена на Фіг.4 відповідає п'єзоелементу, «їз» придатному до використання.When connecting to the U-shaped CS low-pass filter 2-4 of the generator 1 of electric voltage in the form of a meander, bending oscillations occur in the monitored piezo element 3, and the form of oscillations depends on the defects in the bimorphic piezo element 4, which is monitored. The curves shown in Fig. 2, Z correspond to defects occurring in the piezo element, the curve shown in Fig. 4 corresponds to a piezo element that is "ready" for use.

Як показали досліди, пристрій, що заявляється, дозволяє спростити процедуру контролю якісних е характеристик біморфних п'єзоелементів. «їз» 20 Приклад практичного використання.As experiments have shown, the claimed device makes it possible to simplify the procedure for controlling the qualitative characteristics of bimorphic piezo elements. "iz" 20 An example of practical use.

Був виготовлений пристрій, який складається із генератора електричної напруги в формі меандру ГЗ3-106, ть П-образного КС фільтру нижніх частот, що складається з ємності (16 нФ), опоріву (140ом) та біморфного п'єзоелементу ЗП-19, що контролюється, який підключено до вимірювального пристрою. Функції вимірювального пристрою виконує осцилограф С1-55. 29 Результати вимірювань перехідних характеристик пристрою для контроля біморфних п'єзоелементів показані с на Фіг.2-4.A device was manufactured, which consists of an electrical voltage generator in the form of a ГЗ3-106 meander, and a U-shaped low-pass filter, consisting of a capacitance (16 nF), a resistance (140 ohms) and a bimorphic piezo element ZP-19, which is controlled , which is connected to the measuring device. The C1-55 oscilloscope performs the functions of the measuring device. 29 The results of measurements of the transient characteristics of the device for monitoring bimorphic piezo elements are shown in Fig. 2-4.

Як показали досліди, введення в пристрій генератору електричної напруги в вигляді меандру, та вимірювального кола, зробленого у вигляді П-образного КС фільтру нижніх частот, де в якості однієї з ємностей використовують биморфний п'єзоелемент, що контролюється дозволяє спростити процедуру контролю якісних бо характеристик біморфних п'єзоелементів по формь! коливань, що виникають (Фіг.2-4).As experiments have shown, the introduction into the device of an electric voltage generator in the form of a meander, and a measuring circuit made in the form of a U-shaped CS low-pass filter, where a controlled bimorph piezo element is used as one of the capacitors, makes it possible to simplify the procedure for controlling the quality characteristics bimorphic piezo elements by shape! arising oscillations (Fig. 2-4).

Claims (1)

Формула винаходу б5 Пристрій для контролю біморфних п'єзоелементів, що містить генератор електричних коливань,Formula of the invention b5 Device for controlling bimorphic piezo elements, containing a generator of electrical oscillations, вимірювальний контур та вимірювальний пристрій, який відрізняється тим, що генератор електричних коливань виконано у вигляді генератора електричної напруги у формі меандра, а вимірювальний контур виконано у формі П-подібного КС-фільтра нижніх частот, в якому як одну з ємностей використано біморфний контрольований п'езоелемент. з о «- « « « с -measuring circuit and measuring device, which differs in that the generator of electric oscillations is made in the form of an electric voltage generator in the form of a meander, and the measuring circuit is made in the form of a U-shaped low-pass filter, in which a bimorph controlled p' is used as one of the capacitors external element with o «- « « « s - сwith І.Й и? іме) щ» щ» щ» - с 60 б5I.Y and? име) ш» ш» ш» - p 60 b5
UAU200703364U 2007-03-28 2007-03-28 Device for bimorph piezoelectric elements control UA24441U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
UAU200703364U UA24441U (en) 2007-03-28 2007-03-28 Device for bimorph piezoelectric elements control

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
UAU200703364U UA24441U (en) 2007-03-28 2007-03-28 Device for bimorph piezoelectric elements control

Publications (1)

Publication Number Publication Date
UA24441U true UA24441U (en) 2007-06-25

Family

ID=38440048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
UAU200703364U UA24441U (en) 2007-03-28 2007-03-28 Device for bimorph piezoelectric elements control

Country Status (1)

Country Link
UA (1) UA24441U (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4888418B2 (en) Variable capacitance element and control method thereof, electronic device, and communication mobile device
JP2019520709A (en) EAP actuator and driving method
EP1835554A3 (en) Piezoelectric ceramic device and method of manufacturing the same
UA20943U (en) Device for testing a bimorph piezoelectric element
Gröttrup et al. Piezotronic‐based magnetoelectric sensor: Fabrication and response
JP2015061264A5 (en) OSCILLATOR CIRCUIT, OSCILLATOR, ELECTRONIC DEVICE, MOBILE BODY, AND METHOD FOR MANUFACTURING OSCILLATION CIRCUIT
CN101572506A (en) Cantilever beam oscillating ferroelectric generator
UA20940U (en) Device for testing a bimorph piezoelectric element
UA24441U (en) Device for bimorph piezoelectric elements control
UA24806U (en) Device for bimorph piezoelectric elements control
CN109888086A (en) A kind of piezoelectric transformer based on shear vibration and preparation method thereof
UA24437U (en) Device for bimorph piezoelectric elements control
UA26434U (en) Device for bimorph piezoelectric elements control
UA24797U (en) Device for bimorph piezoelectric elements control
UA26431U (en) Device for bimorph piezoelectric element control
CN206164475U (en) LC resonance bleeder circuit trapper frequency -selecting circuit and LC sinusoidal oscillation ware waveform generator
UA20944U (en) Device for testing a bimorph piezoelectric element
UA28332U (en) Device for bimorph piezoelectric element control
JP5886725B2 (en) Voltage applying apparatus and voltage applying method
UA20941U (en) Device for testing a bimorph piezoelectric element
JP2016212222A5 (en)
UA20945U (en) Device for testing a bimorph piezoelectric element
Chang et al. Leakage and fatigue characteristics of polyvinylidene fluoride film
KR101060524B1 (en) Support for voltage detection
UA17437U (en) Device for testing bimorph piezoelectric elements