TWM624579U - 一種產品測試系統和產品測試主機 - Google Patents

Abstract

一種產品測試主機，可搭配各種控制儀器和量測儀器形成一產品測試系統，執行一系列的測試流程。產品測試主機提供了一種參數設定檔，利用電壓為基準作量測項目，產生多個不同工作參數的排列組合。在量測顯示面板模組時，在每個量測項目中帶入可選擇的光學量測。測試流程啟動後，可進行多次反覆量測，以取代傳統反覆設定及執行的手動作業。測試獲得的數據，利用資料儲存媒介自動完成，以避免記錄錯誤的情況以及大幅減少使用者量測記錄的時間。對顯示面板模組量測的項目包含多種項目，而每個項目可選擇性地開啟或關閉。

Description

一種產品測試系統和產品測試主機

本申請是關於一種產品測試儀器，尤其是有關於可根據參數設定檔對顯示面板模組進行批量測試的一種產品測試系統。

在傳統的顯示面板模組廠中，廠商需要以電壓為基準，手動地對待測裝置進行多次設定及測試，操作費時費力。而且，測試後需要手動製作EXCEL 以紀錄量測結果，容易產生人為錯誤。此外，因為顯示面板模組中需要量測的項目非常多樣，收集測試數據的過程需要使用多種量測儀器，增加了手動操作的困難度及錯誤率。

有鑑於此，一種改良的測試系統和測試方法是有待開發的。

本申請的實施例提出一種產品測試主機，可搭配各種控制儀器和量測儀器形成一產品測試系統，執行一系列的測試流程。產品測試主機提供了一種參數設定檔，利用電壓為基準作量測項目，產生多個不同工作參數的排列組合。在量測顯示面板模組時，在每個量測項目中帶入可選擇的光學量測。測試流程啟動後，可進行多次反覆量測，以取代傳統反覆設定及執行的手動作業。測試獲得的數據，利用資料儲存媒介自動完成，以避免記錄錯誤的情況以及大幅減少使用者量測記錄的時間。對顯示面板模組量測的項目包含多種項目，而每個項目可選擇性地開啟或關閉。

本申請的實施例包含一種產品測試系統，用於測試一待測裝置。該產品測試系統中包含一儲存裝置，一處理器，一控制單元，以及一量測單元。

該儲存裝置用於儲存一參數設定檔，其中該參數設定檔包含多個不同工作參數的排列組合。該處理器連接該儲存裝置，用於根據該參數設定檔對該待測裝置執行一測試程序。該控制單元，連接該處理器，用於根據該參數設定檔控制該待測裝置，使該待測裝置產生一操作結果。該量測單元，連接該處理器，用於接收該待測裝置產生的該操作結果。

在測試該待測裝置後，該處理器將該操作結果儲存至該儲存裝置中。在本實施例中，該待測裝置是一顯示面板模組，而該操作結果包含一光學特徵和一電氣特徵。

在進一步的實施例中，該儲存裝置中可儲存對應不同型號的待測裝置的多個參數設定檔。當該產品測試系統連接該待測裝置時，首先偵測該待測裝置的型號，再選擇使用對應該型號的參數設定檔。所述偵測的步驟可以是由所述產品測試系統根據程式設定而自動進行。

在進一步的實施例中，該參數設定檔中包含用於該待測裝置的多個工作參數，及每個工作參數的數值範圍。當該處理器執行該測試程序時，該控制單元根據該參數設定檔對該待測裝置反覆進行多次參數設定。每次對該待測裝置進行參數設定時，該等工作參數的數值組合不同。

在進一步的實施例中，該參數設定檔包含每個工作參數的調整量。每次對該待測裝置進行參數設定時，該等工作參數其中之一工作參數的數值，在對應的數值範圍內，增加或減少對應的調整量。

在進一步的實施例中，每次對該待測裝置進行工作參數設定後，該量測單元可透過一或多個腳位連接該待測裝置，測量該待測裝置產生的該操作結果。該處理器將該操作結果，與對應的該等工作參數的數值組合，儲存至該儲存裝置中。

在進一步的實施例中，該控制單元中可包含一電源控制模組，用於根據該等工作參數產生一或多種電源調整訊號，使該待測裝置調整以下任一項或多項：該待測裝置中的時序控制器的驅動電壓或電流、該待測裝置中的背光模組的驅動電壓或電流、該待測裝置中的行驅動器的驅動電壓或電流、以及該待測裝置中的列驅動器的驅動電壓或電流。舉例來說，待測裝置中的電源控制模組可進一步分為兩類：外部電源架構及內部電源架構。在外部電源架構中，所述電源控制模組從待測裝置的外部調整面板的各種電壓設定，如電壓VGH、VGL、VCC 、IOVCC， 或 GVDD 等。在內部電源架構中，電源控制模組可透過待測裝置中的暫存器來調整上述各種電壓設定。更進一步地說，本申請所述的電源控制模組，可以同時結合外部和內部兩種電源架構而對待測裝置進行調整。

在進一步的實施例中，該控制單元中可包含一樣式產生器，用於根據該等工作參數其中之一產生一樣式圖形，供該待測裝置顯示後產生該光學特徵。

在進一步的實施例中，該等工作參數可包含一環境溫度參數。該控制單元中可包含一環境溫度控制器，用於根據該環境溫度參數改變該待測裝置周邊的環境溫度。

在進一步的實施例中，該量測單元中可包含一光學特徵量測模組，包含一光學探頭連接至該待測裝置，用於偵測該光學特徵。該光學特徵可以是一或多個畫素的亮度或顏色。

在進一步的實施例中，該量測單元中可包含一電氣特徵量測模組，耦接至該待測裝置中的一或多個腳位，用於偵測該電氣特徵。相對的，該電氣特徵可以是該待測裝置中該一或多個腳位的電壓或電流變化。

本申請另外提出產品測試主機的實施例。前述產品測試系統中的產品測試主機、控制單元、和量測單元可以分開提供，視情況組合運用。舉例來說，產品測試主機中除了包含前述的儲存裝置和處理器，還包含一接口模組。該接口模組可用於連接該控制單元，和該量測單元。藉此，該控制單元和該量測單元中的各種控制功能或量測功能可以視需要而置換或升級，使整個產品測試系統能適應各種不同型號的待測產品。

綜上所述，本申請提出的實施方案，可大幅減少人力重複工作的狀況，以及量測的時間。此外，還可避免人為疏失所造成量測錯誤，進而增加量測記錄上的便利性。多重量測選項的開放能讓測試的彈性大幅增加，以能匹配多種設備面板量測。整體來說，本申請提出的產品測試系統，改良了現有光學檢測方式及其系統架構功能，提升了工程師工作效率，並改善了數據蒐集記錄的正確性。

下面將結合本申請實施例中的圖式，對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本申請一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本申請中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本申請保護的範圍。

本申請的實施例提出一種產品測試主機，可搭配各種控制儀器和量測儀器形成一產品測試系統，執行一系列的測試流程。產品測試主機提供了一種參數設定檔，利用電壓為基準作量測項目，產生多個不同工作參數的排列組合。在量測顯示面板模組時，在每個量測項目中帶入可選擇的光學量測。測試流程啟動後，可進行多次反覆量測，以取代傳統反覆設定及執行的手動作業。測試獲得的數據，利用資料儲存媒介自動完成，以避免記錄錯誤的情況以及大幅減少使用者量測記錄的時間。對顯示面板模組量測的項目包含多種項目，而每個項目可選擇性地開啟或關閉。

圖1是本申請實施例的產品測試系統100的架構圖。圖中的產品測試系統100可用於測試一待測裝置140。該產品測試系統100主要可分為產品測試主機110，控制單元120，以及量測單元130三個部份。該產品測試主機110中包含儲存裝置116及處理器114。在本實施例中，該待測裝置140是一顯示面板模組，而該操作結果包含一光學特徵#Co和一電氣特徵#Ce。

該儲存裝置116可以是，但不限定於硬碟，快閃記憶體或雲端儲存裝置，用於儲存一參數設定檔(未圖示)。一個待測裝置140中通常包含許多元件，而每個元件都有各別的操作變因，例如驅動電壓或電流。這些操作變因如果改變，會產生不同的測試結果。本實施例提出了參數設定檔的概念，可彈性且詳盡的描述這些操作變因。所述參數設定檔中可事先定義多種不同工作參數，分別用於控制該待測裝置140中的各種操作變因。這些工作參數可彈性地根據待測裝置140的型號或測試需求而啟用或關閉。進一步地說，該儲存裝置116中可儲存對應不同型號的待測裝置140的多個參數設定檔。當該產品測試系統100連接該待測裝置140時，可先偵測該待測裝置140的型號，再選擇使用對應該型號的參數設定檔。所述偵測的步驟可以是由所述產品測試系統100根據程式設定而自動進行。

該處理器114連接該儲存裝置116，用於根據該參數設定檔對該待測裝置140執行一測試程序。測試程序可以是一種程式或腳本，事先存在儲存裝置116中。處理器114可以將測試程序的程式或腳本加載至記憶體112中再執行。換句話說，設備廠商可以透過更新測試程序的程式或腳本，來改良檢測流程。

為了控制該待測裝置140中的各種操作變因，本實施例的產品測試系統中包含一控制單元120，連接該產品測試主機110。該控制單元120可透過各種方式連接該待測裝置140。以圖2為例，待測裝置140中通常包含基本的接口模組202，可用於雙向傳遞信息，例如接收輸入訊號#Si，及發送輸出訊號#So。接口模組202可以是數位視訊介面(Digital Vision Interface; DVI), 高畫質多媒體介面(High Definition Multimedia Interface; HDMI)或顯示埠(Display Port; DP)。待測裝置140中也可以包含專用於測試的偵錯模組230，提供各種腳位或接頭供該控制單元120連接。偵錯模組230使用的界面可以是序列介面(RS232)、序列周邊介面(Serial Peripheral Interface; SPI)或是通用序列匯流排(Universal Serial Bus; USB)。

當處理器114執行測試程序時，將該參數設定檔中各種參數傳送至該控制單元120，使該控制單元120透過上述連接方式調整該待測裝置140中的各種操作變因。

該待測裝置140中的各種操作變因被調整之後，會產生對應的操作結果。量測單元130可透過各種方式連接該待測裝置140，接收該待測裝置140產生的操作結果。

在測試該待測裝置140後，該處理器114將該操作結果儲存至該儲存裝置116中。

該參數設定檔中除了包含用於該待測裝置140的多個工作參數，還可以定義每個工作參數的數值範圍。當該處理器114執行該測試程序時，實際上該控制單元120是對該待測裝置140反覆進行多次參數設定，而每次參數設定只改變該等工作參數的其中之一。換句話說，每次參數設定會產生不同的工作參數數值組合。參數設定檔中可包含每個工作參數的調整量。每次對該待測裝置140進行參數設定時，該等工作參數其中之一工作參數的數值，會在不超出所定義的數值範圍的前提下，增加或減少對應的調整量。

舉例來說，參數設定檔可定義待測裝置140中一元件的驅動電壓的範圍為0.8V到1.2V，調整量為0.1V。當處理器114執行測試程序時，會產生一個遞迴排程，依照所述範圍和調整量，規劃出0.8V, 0.9V, 1.0V, 1.1V及1.2V五種電壓，分別為該待測裝置140進行測試。更進一步地說，如果該待測裝置140中有多個元件，而該參數設定檔為該些元件的工作參數分別定義了對應的數值範圍和調整量，則總測試次數會隨著所有數值的排列組合而指數增加。如果是傳統的人工測試，是很難完成的。但是本申請的實施例所提出的產品測試系統，可以輕易的完成這些工作。

每次對該待測裝置140進行工作參數設定後，由量測單元130測量該待測裝置140產生的操作結果，並將量測到的操作結果量化為數位數值，傳送至產品測試主機110中。該處理器114將該操作結果的數位數值，與對應的該等工作參數的數值組合，儲存至該儲存裝置116中。

在進一步的實施例中，該控制單元120中可包含一電源控制模組122。產品測試主機110可傳送電源控制參數#Cv給該電源控制模組122，使該電源控制模組122產生一或多種電源調整訊號#Va給該待測裝置140。該待測裝置140可根據電源調整訊號#Va的內容調整其內部各種元件的驅動電壓或電流。以圖2舉例來說，該電源調整訊號#Va可控制的項目可包含該待測裝置140中的時序控制器210、背光模組226、行驅動器222、及列驅動器224的驅動電壓或電流。

該電源控制模組122可進一步分為兩類：外部電源架構及內部電源架構。在外部電源架構中，所述電源控制模組122從待測裝置140的外部調整該待測裝置140的各種電壓設定，如電壓VGH、VGL、VCC 、IOVCC， 或 GVDD 等。在內部電源架構中，電源控制模組122可透過待測裝置140中的暫存器來調整上述各種電壓設定。更進一步地說，本申請所述的電源控制模組122，可以同時結合外部和內部兩種電源架構而對待測裝置140進行調整。

該控制單元120中可進一步包含一樣式產生器124，用於根據該產品測試主機110提供的樣式參數#Cp產生一樣式圖形#P，做為該待測裝置140的影像輸入訊號。該待測裝置140會將該樣式圖形#P顯示在畫素陣列220上，以供量測單元130量測該待測裝置140產生的光學特徵#Co。

在進一步的實施例中，該等工作參數可包含一環境溫度參數#Ct。該控制單元120中可包含一環境溫度控制器126，用於根據該環境溫度參數#Ct改變該待測裝置140周邊的環境溫度。舉例來說，該環境溫度控制器126本身可以是一個封閉容器，使待測裝置140放置在其中。藉此，本實施例的產品測試系統100可以測試待測裝置140在各種不同溫度條件下的表現。再搭配前述電源控制模組122和樣式產生器124，可有效測試各種可能的情境，發現產品潛在問題。

在進一步的實施例中，該量測單元130中可包含一光學特徵量測模組132，包含一光學探頭134連接至該待測裝置140，用於偵測該待測裝置140表現出來的光學特徵#Co。舉例來說，該光學探頭134可量測該待測裝置140中的畫素陣列220中每個畫素表現出來的亮度、顏色、閃爍頻率。該光學特徵量測模組132將該光學特徵#Co量化為數位光學數據#Do後，傳送至產品測試主機110。該處理器114可進一步執行一分析程式，從該數位光學數據#Do中分析該待測裝置140的表現是否正常，並偵測潛在的故障或問題。舉例來說，該處理器114可分析該待測裝置140顯示的畫面亮度、畫面均勻度、雜點數量、樣式圖形誤差、色偏，以及閃爍穩定度。進一步的說，處理器114可對照控制單元120對該待測裝置140設定的參數數值，來判斷該待測裝置140的最佳工作參數範圍。

在進一步的實施例中，該量測單元130中可包含一電氣特徵量測模組136，透過一或多組腳位138耦接至該待測裝置140中的一或多個腳位，用於偵測該待測裝置140在工作中所表現出來的各種電氣特徵#Ce。舉例來說，該電氣特徵#Ce可以是該待測裝置140中一或多個腳位上的電壓或電流變化。該量測單元130獲取這些電氣特徵#Ce後，將其量化為數位型式的數位電氣數據#De，再傳送至產品測試主機110中，供處理器114進行分析與儲存。

圖2是本申請實施例的顯示面板模組200的架構圖。該顯示面板模組200可包括接口模組202，時序控制器210，記憶體204電源模組206，行驅動器222，列驅動器224，畫素陣列220，及背光模組226。接口模組202是可雙向溝通的界面，例如DVI，HDMI或DP。一般來說，顯示面板模組200中，沒有配置記憶體204，而影像訊號是直接輸出至畫素陣列220。有些顯示面板模組200包含記憶體204，而影像訊號可由接口模組202輸入，並緩存在記憶體204中。本實施例的產品測試系統100可以根據產品所具有的特徵決定測試方案。

時序控制器210串連了該記憶體204，行驅動器222，列驅動器224，畫素陣列220，及背光模組226，並控制了影像訊號的整個顯示過程。電源模組206為顯示面板模組200中的所有元件提供驅動電力，將外部輸入的電源分別轉換為適合內部每一元件運作的電壓範圍。畫素陣列220在行驅動器222，列驅動器224，及背光模組226的共同驅動下，表現出可被光學探頭134觀測的光學特徵#Co。當圖2的顯示面板模組200應用於圖1所述的待測裝置140時，電源控制模組122和樣式產生器124可透過該接口模組202輸入對應的工作參數。至於電氣特徵量測模組136的腳位138，可串接至該顯示面板模組200中各元件預留的腳位上(未圖示)，以量測電壓或電流。在另一種實施方式中，該顯示面板模組200中也可以配置一個偵錯模組230，做為與產品測試系統100溝通的介面。該偵錯模組230對該顯示面板模組200內部的各元件也可配置專屬的溝通線路，例如積體匯流排電路(Inter-Integrated Circuit; I2C)，接收外部輸入的偵錯命令#Di。舉例來說，偵錯模組230可將控制單元120傳來的工作參數提供給對應的時序控制器210、記憶體204、電源模組206、及背光模組226等。相對的，偵錯模組230也可收集各元件在工作時表現出來的電氣特徵#Ce，例如特定腳位的電壓與電流，再對外輸出至該電氣特徵量測模組136。該偵錯模組230與產品測試系統100溝通的方式，可以共用接口模組202，也可以是獨立配置的專用接口，例如RS232，SPI或USB。由於現有的顯示面板模組200已存在各種成熟的設計，圖2的架構僅提出部份必要元件進行說明，實際詳細運作的方式並不限定於此。

本申請的實施例利用電壓的設定為一基準，依此基準加入在測試時可能量測的各種項目選擇。舉例來說，在電壓量測的同時，也可彈性加入光學量測的步驟，或任何其他特徵的量測機制。量測結果的紀錄機制，可和傳統的記錄功能做整體合併。記錄的方式可提供多種選擇方案，供使用者決定。現有資料可從儲存裝置116中匯出，並依需求轉換為不同的紀錄格式，以方便查閱紀錄。本申請實施例的產品測試系統100中的儲存裝置116，有助於有效的管理與快速調閱，也可解決多人同時編輯資料內容造成的同步問題。

圖3是本申請實施例的測試方法流程圖。在步驟301中，開啟產品測試系統100。在步驟303中，由產品測試系統100連接一待測裝置140，包括將控制單元120和量測單元130上的各種接口或腳位串接到待測裝置140中的對應位置。在步驟305中，從產品測試主機110中的儲存裝置116中讀出一參數設定檔，依序使用該參數設定檔中的多組工作參數設定來設定待測裝置140。在步驟307中，待測裝置140被設定後，開始執行工作。舉例來說，該待測裝置140中的多個元件可被依序設定成特定的電壓，並加載各種不同的樣式圖形#P，在不同的環境溫度下運作。在步驟309中，由產品測試系統100中的量測單元130量測該待測裝置140在工作時表現出來的光學特徵#Co和電氣特徵#Ce。在步驟311中，該量測單元130將收集到的光學特徵#Co和電氣特徵#Ce轉換為數位形式的數位光學數據#Do和數位電氣數據#De，傳送到產品測試主機110中。該處理器114可分析這些數位光學數據#Do和數位電氣數據#De，並將其與相關聯的工作參數數值一併儲存至儲存裝置116中。由於一個參數設定檔中可能包含多組工作參數，因此需要排列組合測試多次。在步驟313中，判斷是否完成所有的工作參數排列組合。如果未完成，則調整其中一個工作參數的值之後，再重複步驟305。在進一步的實施例中，管理者可以選擇開啟或關閉一或多個工作參數的設定與量測步驟、改變工作參數的數值範圍、或改變每次調整工作參數的調整量。

在參數設定檔的架構之下，測試產品的工作變得相當有彈性且自動化。產品測試系統100可在產品輸送帶上運行，測試大量產品。在步驟315中，產品測試系統100可判斷是否還有其他待測裝置在輸送帶上等待。如果有，則重複進行步驟303。如果沒有，則在步驟317中宣告完成產品測試。

由於本申請的產品測試系統100可完成大量的測試並收集大量的數據，因此可以建立一個大數據分析庫，將各種工作參數和相對應的測試結果進行關聯統計。搭配深度學習算法，可以有效預測待測裝置140的最佳工作範圍，做為出廠預設值。另一方面，也可以協助有效發現工作異常的不良品，或是將測試結果提供給研發單位做為產品改良的參考。

綜上所述，本申請可提供一種測試程式。啟動後，先選定光學電氣量測為其中之選項，再於細部設定介面點選光學電氣量測選項。利用以起始值、最終值以及測試的組合為多組參數來作為基準，並選擇每一基準須檢測的光學量測流程來得到一完整架構。依每組參數設定為出發點，將參數電壓設定後進行一次完整光學量測。儲存資料的方式可於最先前的彈跳視窗設定。資料儲存媒介以動態欄位做儲存，可利用另外一查詢系統來呈現完整資料，並將其資料作完整匯出。

本實施例所提的量測是以光學特徵與電氣特徵為主。電氣特徵的量測可依設定的電壓基準做模組電壓設定，並量測設定後其真正的電壓電流。在量測過程需連接不同儀器，例如光學特徵量測模組132和電氣特徵量測模組136。例照需求也可以搭配其他儀器，例如溫度感測器，或重量感測器。這些量測模組和產品測試主機110之間可透過接口模組118連接。該接口模組118可以是USB或其他雙向數據傳輸介面。

本申請的特色在於，將光學特徵的量測與電氣特徵的量測整合。工作參數的設定可以一個範圍中設定多次不同的值，也可以是單一值。例如，從起始值10V至最終值15V並以每0.2V上升測試，將產生多組測試電壓。

在進一步的實施例中，控制單元120可透過USB 微控制器將產品測試主機110中相關電壓設定暫存器的內容寫至待測裝置140中，達到即時調整電壓的效果。若待測裝置140使用的是外部電源，則電源控制模組122也可配置為傳送一控制命令至該外部電源以設定所需要的電壓或電流。

在一實施例中，儲存裝置116可以是在本地端或伺服器端。本地端的資料可採用excel格式。伺服器端可採用資料庫來管理數據。例如MySql或MsSql。

本申請提出參數設定檔的概念，使整體量測的流程設計具有再利用性。設定一次之後，將來可直接重複使用，不需要二次設定的動作。參數設定檔也可以隨時更新調整，再儲存起來供下次使用。

在進一步的實施例中，產品測試主機110中可提供一種報表產生器，將設定的工作參數和對應的量測結果製成圖表。可讓使用者能清楚看到各電壓變化及比對不同位置電壓點的差異，增加資料可視性以及便利性。

雖然本實施例的該待測裝置140是以顯示面板模組200為例進行，但可以理解的是經過調整後，本申請的實施例也適用於其他電子產品的製造測試流程。所述操作結果除了光學特徵和電氣特徵之外，也可以是其他物理特徵，例如溫度變化、外形變化、重量變化。

綜上所述，本申請提出的實施方案，可大幅減少使用者重工的狀況，以及量測的時間。此外，還可避免人為疏失所造成量測記錄有誤的情形，進而增加量測記錄上的便利性。多重量測選項的開放能讓測試的彈性大幅增加，以能匹配多種設備面板量測。整體來說，本申請提出的產品測試系統100，改良了現有光學檢測方式及其系統架構功能，提升了工程師工作效率，並改善了數據蒐集記錄的正確性。

需要說明的是，在本文中，術語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者裝置不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括爲這種過程、方法、物品或者裝置所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，並不排除在包括該要素的過程、方法、物品或者裝置中還存在另外的相同要素。

上面結合圖式對本申請的實施例進行了描述，但是本申請並不局限於上述的具體實施方式，上述的具體實施方式僅僅是示意性的，而不是限制性的，本領域的普通技術人員在本申請的啓示下，在不脫離本申請宗旨和權利要求所保護的範圍情況下，還可做出很多形式，均屬本申請的保護之內。

100:產品測試系統 110:產品測試主機 112:記憶體 114:處理器 116:儲存裝置 118:接口模組 120:控制單元 122:電源控制模組 124:樣式產生器 126:環境溫度控制器 130:量測單元 132:光學特徵量測模組 134:光學探頭 136:電氣特徵量測模組 138:腳位 140:待測裝置 301-317:步驟 #Cv:電源控制參數 #Cp:樣式參數 #Va:電源調整訊號 #P:樣式圖形 #Ct:環境溫度參數 #Co:光學特徵 #Ce:電氣特徵 #Do:數位光學數據 #De:數位電氣數據 200:顯示面板模組 210:時序控制器 202:接口模組 204:記憶體 206:電源模組 220:畫素陣列 222:行驅動器 224:列驅動器 226:背光模組 230:偵錯模組 #So:輸出訊號 #Si:輸入訊號 #Di:偵錯命令

此處所說明的圖式用來提供對本申請的進一步理解，構成本申請的一部分，本申請的示意性實施例及其說明用於解釋本申請，並不構成對本申請的不當限定。在圖式中： 圖1是本申請實施例的產品測試系統100的架構圖。 圖2是本申請實施例的顯示面板模組200的架構圖。 圖3是本申請實施例的測試方法流程圖。

100:產品測試系統

110:產品測試主機

112:記憶體

114:處理器

116:儲存裝置

118:接口模組

120:控制單元

122:電源控制模組

124:樣式產生器

126:環境溫度控制器

130:量測單元

132:光學特徵量測模組

134:光學探頭

136:電氣特徵量測模組

138:腳位

140:待測裝置

#Cv:電源控制參數

#Cp:樣式參數

#Va:電源調整訊號

#P:樣式圖形

#Ct:環境溫度參數

#Co:光學特徵

#Ce:電氣特徵

#Do:數位光學數據

#De:數位電氣數據

Claims (20)

1. 一種產品測試系統，用於測試一待測裝置，包含： 一儲存裝置，用於儲存一參數設定檔，其中該參數設定檔包含多個不同工作參數的排列組合； 一處理器，連接該儲存裝置，用於根據該參數設定檔對該待測裝置執行一測試程序； 一控制單元，連接該處理器，用於根據該參數設定檔控制該待測裝置，使該待測裝置產生一操作結果； 一量測單元，連接該處理器，用於接收該待測裝置產生的該操作結果；其中： 該處理器將該操作結果儲存至該儲存裝置中； 該待測裝置是一顯示面板模組；以及 該操作結果包含一光學特徵和一電氣特徵。
2. 如請求項1所述的產品測試系統，其中： 該儲存裝置儲存對應不同型號的待測裝置的多個參數設定檔；以及 該產品測試系統連接該待測裝置，偵測該待測裝置的型號，以根據該待測裝置的型號選擇使用對應的參數設定檔。
3. 如請求項2所述的產品測試系統，其中： 該參數設定檔包含用於該待測裝置的多個工作參數，及每個工作參數的數值範圍； 當該處理器執行該測試程序時，該控制單元根據該參數設定檔對該待測裝置反覆進行多次參數設定；以及 每次對該待測裝置進行參數設定時，該等工作參數的數值組合不同。
4. 如請求項3所述的產品測試系統，其中： 該參數設定檔進一步包含每個工作參數的調整量；以及 每次對該待測裝置進行參數設定時，該等工作參數其中之一工作參數的數值，在對應的數值範圍內，增加或減少對應的調整量。
5. 如請求項3所述的產品測試系統，其中： 每次對該待測裝置進行工作參數設定後，該量測單元透過一或多個腳位連接該待測裝置，以測量該待測裝置產生的該操作結果；以及 該處理器將該操作結果，與對應的該等工作參數的數值組合，儲存至該儲存裝置中。
6. 如請求項3所述的產品測試系統，其中該控制單元包含一電源控制模組，用於根據該等工作參數產生一或多種電源調整訊號，使該待測裝置調整下列至少其中之一：該待測裝置中的時序控制器的驅動電壓或電流、該待測裝置中的背光模組的驅動電壓或電流、該待測裝置中的行驅動器的驅動電壓或電流、以及該待測裝置中的列驅動器的驅動電壓或電流。
7. 如請求項3所述的產品測試系統，其中該控制單元包含一樣式產生器，用於根據該等工作參數其中之一產生一樣式圖形，供該待測裝置顯示後產生該光學特徵。
8. 如請求項3所述的產品測試系統，其中： 該等工作參數包含一環境溫度參數；以及 該控制單元包含一環境溫度控制器，用於根據該環境溫度參數改變該待測裝置周邊的環境溫度。
9. 如請求項1所述的產品測試系統，其中： 該量測單元包含一光學特徵量測模組，包含一光學探頭連接至該待測裝置，用於偵測該光學特徵；以及 該光學特徵包含一或多個畫素的亮度或顏色。
10. 如請求項1所述的產品測試系統，其中： 該量測單元包含一電氣特徵量測模組，耦接至該待測裝置中的一或多個腳位，用於偵測該電氣特徵；以及 該電氣特徵包含該待測裝置中該一或多個腳位的電壓或電流變化。
11. 一種產品測試主機，用於透過一控制單元和一量測單元測量一顯示面板模組，包含： 一儲存裝置，用於儲存一參數設定檔； 一處理器，連接該儲存裝置，用於根據該參數設定檔對該顯示面板模組執行一測試程序； 一接口模組，連接該處理器，該控制單元，和該量測單元；其中： 該控制單元根據該參數設定檔控制該顯示面板模組，使該顯示面板模組產生一操作結果； 該量測單元採集該顯示面板模組產生的該操作結果； 該處理器從該量測單元接收將該操作結果，以儲存至該儲存裝置中；以及 該操作結果包含一光學特徵和一電氣特徵。
12. 如請求項11所述的產品測試主機，其中： 該儲存裝置儲存對應不同型號的顯示面板模組的多個參數設定檔；以及 當該產品測試主機連接該顯示面板模組，偵測該顯示面板模組的型號，以根據該顯示面板模組的型號選擇使用對應的參數設定檔。
13. 如請求項12所述的產品測試主機，其中： 該參數設定檔包含用於該顯示面板模組的多個工作參數，及每個工作參數的數值範圍； 當該處理器執行該測試程序時，該控制單元根據該參數設定檔對該顯示面板模組反覆進行多次參數設定；以及 每次對該顯示面板模組進行參數設定時，該等工作參數的數值組合不同。
14. 如請求項13所述的產品測試主機，其中： 該參數設定檔進一步包含每個工作參數的調整量；以及 每次對該顯示面板模組進行參數設定時，該等工作參數其中之一工作參數的數值，在對應的數值範圍內，增加或減少對應的調整量。
15. 如請求項13所述的產品測試主機，其中： 每次對該顯示面板模組進行工作參數設定後，該量測單元透過一或多個腳位連接該顯示面板模組，以測量該顯示面板模組產生的該操作結果； 該處理器將該操作結果，與對應的該等工作參數的數值組合，儲存至該儲存裝置中。
16. 如請求項13所述的產品測試主機，其中該控制單元包含一電源控制模組，用於根據該等工作參數產生一或多種電源調整訊號，使該顯示面板模組調整下列至少其中之一：該顯示面板模組中的時序控制器的驅動電壓或電流、該顯示面板模組中的記憶體的驅動電壓或電流、該顯示面板模組中的背光模組的驅動電壓或電流、該顯示面板模組中的行驅動器的驅動電壓或電流、以及該顯示面板模組中的列驅動器的驅動電壓或電流。
17. 如請求項13所述的產品測試主機，其中該控制單元包含一樣式產生器，用於根據該等工作參數其中之一產生一樣式圖形，供該顯示面板模組顯示。
18. 如請求項13所述的產品測試主機，其中： 該等工作參數包含一環境溫度參數；以及 該控制單元包含一環境溫度控制器，用於根據該環境溫度參數改變該顯示面板模組周邊的環境溫度。
19. 如請求項11所述的產品測試主機，其中： 該量測單元包含一光學特徵量測模組，包含一光學探頭連接至該顯示面板模組，用於偵測該光學特徵；以及 該光學特徵包含一或多個畫素的亮度或顏色。
20. 如請求項11所述的產品測試主機，其中： 該量測單元包含一電氣特徵量測模組，耦接至該顯示面板模組中的一或多個腳位，用於偵測該電氣特徵；以及 該電氣特徵包含該顯示面板模組中該一或多個腳位的電壓或電流變化。

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