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TWM345227U - An optical fringe projection measuring system that can measure the surface roughness and the profile of sheet materials at the same time - Google Patents

An optical fringe projection measuring system that can measure the surface roughness and the profile of sheet materials at the same time Download PDF

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Publication number
TWM345227U
TWM345227U TW097204287U TW97204287U TWM345227U TW M345227 U TWM345227 U TW M345227U TW 097204287 U TW097204287 U TW 097204287U TW 97204287 U TW97204287 U TW 97204287U TW M345227 U TWM345227 U TW M345227U
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
image
light
angle
structured light
measured
Prior art date
Application number
TW097204287U
Other languages
English (en)
Inventor
Fang-Jung Shiou
Shin-Ju Chen
Chia-Hao Hsu
Chun-Ting Chen
Original Assignee
United Ship Design & Amp Dev Ct
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by United Ship Design & Amp Dev Ct filed Critical United Ship Design & Amp Dev Ct
Priority to TW097204287U priority Critical patent/TWM345227U/zh
Publication of TWM345227U publication Critical patent/TWM345227U/zh

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

M345227 八、新型說明: 【新型所屬之技術領域】 測原理所發展出的光學式光帶投影量啦統,_當的校正後可 以用來量财頓賴絲膠CFRP)卫叙轉或雜面的表面 本創作係以-具有等間距明暗對比’或_具有正弦相位分佈 之結構光為主動光源’搭配高解析度CCD攝影機、可調整角度之 工件夾治具、成像幕、-部個人電腦與控制量難式,以三=量
粗糙度與三維輪廓。 【先前技術】 光學量測技術是非接觸式量_主要方法,原理即利用不同 視覺角度的比對’以得到待測物的輪廓’而其應賴式又可以分 為被動式量測與主動式量測兩類。 被動式量測需使用兩組攝影機,經由不同視角取得相同場 景’再配合影像處_技巧,產生被#測物㈣何翻,再經由 計算而制其真實財。_量職目朗,但此綠的量測精 度有限,所以工業上較少用這種量測方法。 主動式的量測方法,常用者為雷射掃推法*结構光法。 作方式為:將點/線雷射光或者一已知_的結構光源,以一個已 知的角度投射在被難的表面,此統相秘體表面高度變化 而產生變形’將此變形_案,經㈣單的三角幾何計算,即可 將此變型量轉化為曲面的高度變化。 6 M345227 主動式的量測方法,其取像的方法以及影像的鑑別度,會大 大影響買測的精度。如果被測物的表面反射度過高,則攝影機取 得的反射影像’其差異就會減低。所以過去的研究中,多應用於 置測光平複材元件、霧化處理過的金屬工件等反射度較低的物 品,缺少針對高亮度工件的量測實例。 【新型内容】 • 針對汽車、遊艇這類高反射度表面塗裝,以及使用鋼琴烤漆 的電子產品,過去多半使用目視檢視塗裝品質,而人的視覺評斷 車乂為主觀’且不同檢視者間的差異度大,所以難以做為產品製程 β又计/、口口貝笞理的標準。而本創作中所開發的光學量測系統,即 可用來量測此類產品的表面塗裝品質。 絕大多數社喊光學制方法,是個CCD攝影機,以適 曰的角度’直接對試#表面的反射影像做攝影。但如果直接使用 _ 攝减對_物取像,當_物的表面反射度較高時,即便量測 #間的表面輪廓與粗糙度不同,攝影機所能取得的反射影像差 ”乃:、、、:不鬲這日$就需要使用特殊濾鏡取像,以渡除部份光源 而心加衫像差異度。本創作的特殊之處,就在於利用成像幕取像: 被測物的影像反射至成像幕後,再由攝影機取像 ’如此,即可在 不使赠鏡的情形下,也可以取得差異度大的反射影像,以利後 續計算。 7 M345227 【實施方式】 茶考第-圖·本創作巾,以―具有等間距明暗對比,或一具 有正弦相位分佈之結構光投能7G為主動絲,經固定於z轴移 動機。50上並移動到適當高度,而後將欲檢測物品置於可調整角 又之件夾/口具30上,並使用χγ二軸移動機台2〇將檢測物品 移動至最佳投影位置。當結構光源投射在欲檢測物品的表面上 時,由絲面的高低起伏與㈣造度變化,會使得投影的光源圖案 ® 產生變形,而此光源圖案會反射到一置於適當位置的成像幕6〇 上。此時,可利用裝設了適當鏡組的高解析度CCD攝影機4〇,對 成像幕上的反射條紋光帶加以取像,並傳輸至個人電腦8〇。最後, 將所擷取得的反射條紋光帶影像91,利用電腦程式,依據校驗結 果,計算出被測物的粗糖度與表面輪廓。 用以量測表面粗糙度的方法為反射光能量法,可參考第二 圖:以其中一條紋光為例,當表面較精細時,反射光大部份集中 • 於主反射方向,而隨著粗糙度值之增加,散射光能量會因而增加。 再參考第三圖:較粗糙工件其反射光能量能致使檢測作用之範圍 h大於較光滑者L,因此我們可設定適當的閥值,由ccd攝影機 所感應到的反射光能量寬度來判定工件粗糙度值的趨勢,亦即可 藉由校驗不同粗糙度與CCD攝影機所量測得到其對應的的線寬 結果,即可推算待測件之表面粗糙度。當工件表面愈粗糙反射呈 像線會愈寬且光強度變弱,因此,可進行粗糙度光學量測系統的 校驗’可參考第四圖:利用接觸式粗糙度儀先量測不同試片之粗 8 M345227 ι度再找出其與反射線線見之間的對應關係。 "用以調表面輪靡的方法為三角量測校驗法,以其中一條紋 光為例、於圖巾X為待測物巾心、與成像幕麟P角 為軸心平行於y轴之旋㈣度、0角為如平行於X軸之旋轉角 度、h為工件之高度變化,驗量測平面制時,可考慮β角、 ㈣〇’當Μ為〇時,△㈣,當㈣為〇時觸。藉由分 析^後顧的變化,經由校驗,即可計算工件之高度變化卜當 =牛=存在麵高低差,則反射於雜幕之結構光,將會產生 變形之程度和輪廓高低差有關,_擷取的影像找出其 =先線條k的變化’再與利用接觸式輪輕測系統所得之輪 化置之_轉換係數,據以量_之麵 【圖式簡單說明】 第一圖本創作之代表圖。 第二圖主反射光隨表面粗糙度變化擴散散射示意圖。 第三圖粗糙度與反射光能量分佈關係。 第四圖粗糙度與平均線寬校驗結果示意圖。 紅圖三角量測校驗法進行形狀輪私度量測計算示意圖 第六圖形狀輪廓高度校驗結果示意圖。 · 9 M345227 【主要元件符號說明】 ίο 光學量測系統機台 20 XY二軸移動機台 30 可調整角度之工件夾治具 40 高解析度CCD攝影機 50 Z軸移動機台 60 成像幕 70 結構光投射器 80 個人電腦 90 於成像幕之反射條级光帶 91 反射條紋光帶經由CCD攝影機擷取至個人電腦之影像

Claims (1)

  1. M345227 九、申請專利範圍: 1· -種可同日❿貞彳板材粗糙度及平面度之光帶投影量啦統,係 包括·一個結構光投射11、高解析度CCD攝影機與Z軸移動機 台、可调整工件位置的χγ =軸移賴台、可調整角度之工件 爽治具、成像幕、可以固定以上設備的光學量測系統機台、_ 部個人電腦與控制量測軟體;其中,由結構光投射器所發射之 絲’投射至待測件之表面,經由反射喊像於成像幕上,再 _ 纟❺解析度CCD攝影谢頡取成像幕上的影像,傳輸至個人電腦 後依據昼測系統之校驗結果,經軟體計算分析,即可量測待 測面之表面輪廓與粗糙度,此特徵在於: 糊成像幕轉,即可在不使_齡鱗高反射率的待測面 表面取像,並取得差異度大的反射影像,以利後續計算。 2·如申明專利範圍帛1項之一種可同時量測板材粗經度及平面度 之光帶投影量測系統,其中結構光投射器,所投出之光源圖形, I T為料㈣㈣暗對比之結縣,也可為具有正弦相位分佈 之結構光。 3·如申請專利範圍第1項之一種可同時量測板材粗糙度及平面度 之光帶投影量測系統,其中可調整角度之工件夾治具,經調整 角度後可使結構光投射器所投射之光源,以〇到9〇度之間的角 度入射至被測物表面,並以〇到90度之間的角度將被測面的反 射影像投影至成像幕。 4·如申凊專利範圍第1項之一種可同時量測板材粗链度及平面度 11 M345227 之光帶投影量測系統,其中高解析度CCD攝影機,可以適當的 角度,對成像幕取像,並將所得影像傳輸至個人電腦。 12
TW097204287U 2008-03-12 2008-03-12 An optical fringe projection measuring system that can measure the surface roughness and the profile of sheet materials at the same time TWM345227U (en)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102954772A (zh) * 2011-12-13 2013-03-06 中国科学院对地观测与数字地球科学中心 一种基于线激光器的海冰表面粗糙度测量方法
TWI391623B (zh) * 2008-12-17 2013-04-01 Ship & Ocean Ind R & D Ct 量測裝置及量測方法
CN104515773A (zh) * 2013-09-03 2015-04-15 库利克和索夫工业公司 用于利用结构光测量半导体器件元件的物理特性的系统和方法
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI391623B (zh) * 2008-12-17 2013-04-01 Ship & Ocean Ind R & D Ct 量測裝置及量測方法
CN102954772A (zh) * 2011-12-13 2013-03-06 中国科学院对地观测与数字地球科学中心 一种基于线激光器的海冰表面粗糙度测量方法
CN104515773A (zh) * 2013-09-03 2015-04-15 库利克和索夫工业公司 用于利用结构光测量半导体器件元件的物理特性的系统和方法
TWI561810B (en) * 2013-09-03 2016-12-11 Kulicke & Soffa Ind Inc Systems and methods for measuring physical characteristics of semiconductor device elements using structured light
US9810641B2 (en) 2013-09-03 2017-11-07 Kulicke & Soffa Industries, Inc. Systems and methods for measuring physical characteristics of semiconductor device elements using structured light
US10352877B2 (en) 2013-09-03 2019-07-16 Kulicke And Soffa Industries, Inc Systems and methods for measuring physical characteristics of semiconductor device elements using structured light
CN106403850A (zh) * 2016-08-30 2017-02-15 苏州博众精工科技有限公司 一种平面度检测方法

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