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TWI627404B - 重金屬感測器 - Google Patents

重金屬感測器 Download PDF

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Publication number
TWI627404B
TWI627404B TW106106252A TW106106252A TWI627404B TW I627404 B TWI627404 B TW I627404B TW 106106252 A TW106106252 A TW 106106252A TW 106106252 A TW106106252 A TW 106106252A TW I627404 B TWI627404 B TW I627404B
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TW
Taiwan
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heavy metal
dielectric layer
channel layer
electrodes
metal gate
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Application number
TW106106252A
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English (en)
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TW201831892A (zh
Inventor
游信強
陳啟鈞
吳源盛
Original Assignee
國立勤益科技大學
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Publication date
Application filed by 國立勤益科技大學 filed Critical 國立勤益科技大學
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Publication of TWI627404B publication Critical patent/TWI627404B/zh
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Abstract

一種重金屬感測器,其包含依序生成於一基板上之一金屬閘極、一介電層、一通道層以及二電極,其中該金屬閘極之局部表面包含一感應區以及一元件區;該介電層、該通道層以及二該電極形成於該金屬閘極之該元件區上;以及兩個該電極則間隔形成於該通道層表面;本發明所提出之快速檢測溶液中的重金屬濃度之方法與元件,解決現有技術問題,達到透過簡單元件而可完成定性檢測重金屬濃度之技術效果。

Description

重金屬感測器
一種感測器,尤其是關於一種可快速感測液體中重金屬含量比例高低的感測器。
台灣的工業發展極為興盛,但是在發展工業的同時,也會產生出含有重金屬的工業廢水,例如印刷電路板製造工廠,在蝕刻、微蝕、電鍍銅的製程的當中,就會產生含有銅金屬離子的清潔廢水。這些工業所產生含有金屬離子的廢水,如果沒有做妥善的處理,就直接排放到河川或溝渠當中,就會汙染地球上的水源,水源一旦被汙染,大家就沒有乾淨的水源可以飲用,也會影響到地球上所生存的動物和植物,受重金屬汙染的水源,也會破壞自然界中的生態,而一些農作物,也會因為吸收含有重金屬汙染的水源,直接危害到人類的生存環境。因此,水中金屬離子檢測,是一件重要的議題。
目前檢測水中金屬離子的方法,大多採用石墨爐式原子光波吸收法,此方法需要將待測液體,進行乾燥、灰化、原子化溫度等步驟,最後藉由測量氣態原子在特定波長光線的吸光度,求出各元素的濃度。此方法需要耗費龐大的採樣時間和檢測工作時間,檢驗過程需要在實驗室裡面,利用專有設備進行檢測,得由專業人員耗費較長的時間進行實驗,不僅得耗費大量時間與檢測成本,而且也無法即時性的檢測金屬離子,往往含有金屬離子的自來水,已經被大家飲用一段時間之後,檢驗報告才出來,但這些含有金屬離子的水,例 如汞、鉛、鎘、銅離子等,都已經被喝進我們的身體裡面,對人體難免會造成健康上的危害。
為了提升大家在飲水上的安全,解決現有技術無法快速檢測水中重金屬含量的技術問題,本發明提供出一種重金屬感測器,其可即時性的檢測金屬離子的元件,其包含依序生成於一基板上之一金屬閘極、一介電層、一通道層以及二電極,其中:該金屬閘極之局部表面包含一感應區以及一元件區;該介電層、該通道層以及二該電極形成於該金屬閘極之該元件區上;兩個該電極則間隔形成於該通道層表面。
其中,該介質層之材質為氮化矽。
其中,該通道層為氧化鋅,鍍製製程係利用溶膠凝膠(sol-gel)形成氧化鋅。
其中,該感應區容置一待測重金屬水溶液。
其中,該電極之厚度約300nm。
其中,該金屬閘極之厚度為300nm。
其中,該介質層厚度為300nm。
藉由上述說明可知,本發明具有以下優點:1.本發明所提之重金屬感測器,結構簡單、製造容易,具有大量製造的優勢與可能性,極具產業利用效果。2.本發明提出以氧化鋅薄膜電晶體,檢測水中是否含有金屬離子,只要將待測溶液滴在電晶體的感測區域,即可透過電訊號的改變判斷溶液中是否含有金屬離子,因此能快速且即時性的檢測。3.本發明之元件製程可使用的溶膠-凝膠法,相較於其他製程,有大面積及低溫製造的優點,在製造元件的成本上,就能大幅降低,符合低成本且一次性使用的拋棄式檢測元件。
10‧‧‧基板
20‧‧‧金屬閘極
20A‧‧‧感應區
30‧‧‧介電層
40‧‧‧通道層
50‧‧‧電極
圖1為本發明較佳實施例的示意圖。
圖2為本發明較佳實施例的步驟流程示意圖。
圖3為本發明較佳實施例之使用狀態示意圖。
圖4為本發明較佳實施例之使用狀態示意圖。
圖5為本發明較佳實施例之量測結果圖。
請參考圖1~2,其為本發明之重金屬感測器的較佳實施例,該感測器係一薄膜電晶體,其包含依序生成於一基板10上之一金屬閘極20、一介電層30、一通道層40,以及二電極50,其製造方法與步驟如下:
STEP1. 於該基板10上鍍製一金屬閘極20,其厚度不限定,較佳介於100nm~500nm,本實施例之該金屬閘極20之厚度為300nm。
STEP2. 於該金屬閘極20之局部表面包含一感應區20A以及一元件區,於該感應區形成一掀除層,該掀除層可以是光阻或者為可撕離之膠帶。
STEP3. 於該金屬閘極20表面形成一介質層30,本實施例之該介質層20係以物理/化學氣相沈積方式鍍製於該金屬閘極20層上,其為非導電,可為氮化物或氧化物,例如氮化矽(SixNy)等,本實施例之該介質層30為氮化矽(SixNy),且厚度為300nm左右,其以電漿輔助化學氣象沈積鍍製於該金屬閘極層20之上。進一步地,於生成該介質層30後,可利用一表面處理製程,本實施例利用氧電漿處理該介質層30之表面。
STEP4. 鍍製一通道層40於該介質層30上,本實施例之該通道層40為氧化鋅,鍍製製程係利用溶膠凝膠(sol-gel)形成厚度約為15nm的氧化鋅於該氮化矽表面。
STEP5. 鍍製二電極50於該通道層40表面,該電極50係相間隔設置於該通道層40表面。本實施例之該電極50之厚度約300nm,係以物理氣相沈積方式形成於該通道層40表面。
STEP 6. 移除該掀除層,使該感應區之金屬閘極20裸露於大氣。
請參考圖3、4,量測時,將含有重金屬離子的水溶液滴於該感應區之金屬閘極20表面,並以一量測設備之第一電極、第二電極分別連接該電極50,並於該金屬閘極20之感應區滴上一重金屬水溶液,該量測設備之第三電極接觸該重金屬水溶液而間接與該金屬閘極20電性連接。
本實施例之該量測設備為網路分析儀,其透過該第一電極、第二電極、第三電極分別施加適當的電壓與電流,同時量測該第一電極、第二電極、第三電極所反饋的電訊號,製作成為如圖5所示的I-V圖。由圖5顯示,前述之層構造之各層厚度所量測之I-V圖示意。結果顯示可知,當該重金屬水溶液中的重金屬濃度越高則其一臨界起始閘極電壓(gate voltage)越低,如下表一所示。如此,使用者可以透過所量測的I-V圖,看出該重金屬水溶液之中的金屬離子濃度,達到快速篩選的技術功效。
藉由上述說明可知,本發明所提出之快速檢測溶液中的重金屬濃度之方法與元件,解決現有技術問題,達到透過簡單元件而可完成定性檢測重金屬濃度之技術效果。
1.本發明所提之重金屬感測器,結構簡單、製造容易,具有大量製造的優勢與可能性,極具產業利用效果。.
2.本發明提出以氧化鋅薄膜電晶體,檢測水中是否含有金屬離子,只要將待測溶液滴在電晶體的感測區域,即可透過電訊號的改變判斷溶液中是否含有金屬離子,因此能快速且即時性的檢測。
3.本發明之元件製程可使用的溶膠-凝膠法,相較於其他製程,有大面積及低溫製造的優點,在製造元件的成本上,就能大幅降低,符合低成本且一次性使用的拋棄式檢測元件。

Claims (7)

  1. 一種重金屬感測器,其包含依序生成於一基板上之一金屬閘極、一介電層、一通道層以及二電極,其中:該金屬閘極之局部表面包含一感應區以及一元件區;該介電層、該通道層以及二該電極形成於該金屬閘極之該元件區上;以及兩個該電極則間隔形成於該通道層表面。
  2. 如申請專利範圍第1項之重金屬感測器,該介質層之材質為氮化矽。
  3. 如申請專利範圍第1項之重金屬感測器,該通道層為氧化鋅,鍍製製程係利用溶膠凝膠(sol-gel)形成氧化鋅。
  4. 如申請專利範圍第1項之重金屬感測器,該感應區容置一待測重金屬水溶液。
  5. 如申請專利範圍第1或2或3或4項之重金屬感測器,該電極之厚度約300nm。
  6. 如申請專利範圍第1或2或3或4項之重金屬感測器,該金屬閘極之厚度為300nm。
  7. 如申請專利範圍第1或2或3或4項之重金屬感測器,該介質層厚度為300nm。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201124719A (en) * 2010-01-11 2011-07-16 Nat Chip Implementation Ct Nat Applied Res Lab Hydrogen ion sensitive field effect transistor and manufacturing method thereof
US20130001525A1 (en) * 2011-06-30 2013-01-03 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Thin film transistor and press sensing device using the same
US20140234981A1 (en) * 2011-09-30 2014-08-21 Stc.Unm Double gate ion sensitive field effect transistor

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