TWI612821B

TWI612821B - 自動化麥克風測試系統

Info

Publication number: TWI612821B
Application number: TW105119507A
Authority: TW
Inventors: 何易璋
Original assignee: 宏相科技股份有限公司
Priority date: 2016-06-22
Filing date: 2016-06-22
Publication date: 2018-01-21
Also published as: TW201801545A

Abstract

一種自動化麥克風測試系統，包含：一控制系統；一隔音箱，內設有一固定治具和一揚聲器模組，該揚聲器模組耦接於該控制系統；一第一拖盤，用以承載一第一待測物，該第一拖盤可分離地固定在一交換平台的一第一端部上；以及一傳送機構，可將該第一拖盤送入該隔音箱中，並置放在該固定治具上，該第一待測物與該控制系統電性連接，該揚聲器模組發出一第一測試訊號，該第一待測物接收該第一測試訊號後，並傳回一第一回傳訊號至該控制系統分析。

Description

自動化麥克風測試系統

本發明是有關於一種自動化測試系統，特別是有關於一種自動化麥克風測試系統。

採用微機電系統技術(MEMS)的麥克風，由於具有可大幅縮減麥克風元件尺寸、性能穩定、高規格頻響、可自動化生產、容易整合其它功能，並可延伸出陣列式(Array)麥克風之應用等優勢，因而受到重視。尤其隨著智慧型手持裝置、筆記型電腦、可攜式導航裝置(PND)、穿戴式電子、車載和家庭自動化設備具有語音辨識等裝置廣獲青睞，在相關產品中內建微機電系統麥克風更是趨勢。

然而探用MEMS的麥克風之測試須兼顧類比和數位測試功能，而傳統ATE(automatic test equipment)雖具有高速數位設計優勢，但面臨擴充類比資料擷取、轉換與分析設備的需求時，必須將聲學部分切割到另外的測試站進行才可達到，由於需要橫跨多領域才能完成，因此開發門檻相當高。另外目前麥克風測試方法僅能將大量的待測麥克風送至造價高昂之實驗室進行檢測，不論是委託實驗室進行測試或廠商自行設置實驗室，兩者價格均十分高昂，且由於每次僅能針對單一待測麥克風進行測試，使得校正檢測極為費工費時，不利於麥克風之量產效率。MEMS麥克風具多項超越傳統麥克風的功能優勢，包括：指向性麥克風、雜訊抑制、語音聲控等，連帶著造成MEMS麥克風的測試也不再是單純的電性測試就可以滿足，必須加入聲學特性的測試，這使得傳統半導體產業的ATE(automatic test equipment)測試機台已不敷使用，為了縮短生產時間、降低生產成本、提升產量，所以開發MEMS麥克風專用的自動化測試設備已刻不容緩。

過高的成本會降低產品毛利，勢必提高成品價格，導致產品銷售不易，因此如何提供一個低成本、縮短生產時間、提升產量與易實施的MEMS麥克風專用的自動化測試系統為本發明之目的。

本發明目的提供一種自動化麥克風測試系統，包含：一控制系統；一隔音箱，內設有一固定治具和一揚聲器模組，該揚聲器模組耦接於該控制系統；一第一拖盤，用以承載一第一待測物，該第一拖盤可分離地固定在一交換平台的一第一端部上；以及一傳送機構，可將該第一拖盤送入該隔音箱中，並置放在該固定治具上，該第一待測物與該控制系統電性連接，該揚聲器模組發出一第一測試訊號，該第一待測物接收該第一測試訊號後，並傳回一第一回傳訊號至該控制系統分析。

本發明之自動化麥克風測試系統，還包括有一待測位置，在測試前，該傳送機構將位在該待測位置上的該第一拖盤送入該隔音箱中，並置放在該固定治具上。

本發明之自動化麥克風測試系統，更包括一第二拖盤，用以承載一第二待測物，該第二拖盤可分離地固定在該交換平台的一第二端部上，在該第一待測物測試後，該傳送機構將該第一拖盤送回至該待測位置，該交換平台可以將第二拖盤移動至該待測位置。

本發明之自動化麥克風測試系統，其中該傳送機構可以使該第一拖盤及該第二施盤在該待測位置和該固定治具間移動。

本發明之自動化麥克風測試系統，其中該交換平台旋轉地將該第一拖盤或該第二拖盤移動至該待測位置。

本發明之自動化麥克風測試系統，其中該傳送機構包括一滑台機構，該傳滑台機構使該第一拖盤及該第二施盤在該待測位置和該固定治具間直線移動。

本發明之自動化麥克風測試系統，該第一待測物設置有至少一個待測麥克風。

本發明之自動化麥克風測試系統，其中該第一待測物包括有一第一樣品麥克風和第一標準麥克風，該揚聲器模組包括一標準測試音源和一測試音源，該控制系統還包括一麥克風校正模組，該麥克風校正模組可以預存有該樣品麥克風於該標準測試音源在不同頻率下之標準靈敏度，該樣品麥克風置於該第一待測物之一第一位置，該測試音源於該第一待測物之該第一位置輸出一測試訊號時，測量該樣品麥克風於該第一位置之一第一位置靈敏度，並依據該標準靈敏度及該第一位置靈敏度，而將該測試音源輸出該測試訊號時的一音壓校正為該標準測試音源之音壓。

1‧‧‧自動化麥克風測試系統

11‧‧‧控制系統

111‧‧‧麥克風校正模組

12‧‧‧隔音箱

121‧‧‧固定治具

122‧‧‧揚聲器模組

1221‧‧‧標準音源

1222‧‧‧標準測試音源

1223‧‧‧測試音源

13‧‧‧傳送機構

131‧‧‧滑台機構

14‧‧‧交換平台

141‧‧‧第一端部

142‧‧‧第二端部

143‧‧‧第一拖盤

144‧‧‧第二拖盤

145‧‧‧第一待測物

1451‧‧‧第一標準麥克風

1452‧‧‧第一樣品麥克風

146‧‧‧第二待測物

15‧‧‧待測位置

圖1至圖3使用本發明之自動化麥克風測試系統之結構示意圖。

圖4至圖8使用本發明之自動化麥克風測試系統示意圖。

以下將透過實施例來解釋本發明內容，然而，關於實施例中之說明僅為闡釋本發明之技術內容及其目的功效，而非用以直接限制本發明。須說明者，以下實施例以及圖示中，與本發明非直接相關之元件已省略而未繪示；且圖示中各元件之尺寸及相對位置關係僅用以示意瞭解，非用以限制實施比例及尺寸大小。

本發明實施例的自動化麥克風測試系統1，請參照圖1至圖3所示，包括有控制系統11、隔音箱12、傳送機構13、交換平台14。隔音箱12內設有固定治具121和揚聲器模組122，該揚聲器模組122耦接該控制系統11(如圖5和圖6所示)。交換平台14具有第一端部141和第二端部142，第一端部141上可承載第一拖盤143，第一拖盤143用以置放第一待測物145，第二端部142可承載第二拖盤144，第二拖盤144用以置放第二待測物146。傳送機構13在不同時間可將第一拖盤143和第二拖盤144傳送至固定治具121上。揚聲器模組122與第一待測物145和第二待測物146間隔一段預設距離，當揚聲器模組122發出一第一測試訊號，第一待測物145和第二待測物146接收該第一測試訊號後，傳送一第一回傳訊號至控制系統11，控制系統11可分析第一待測物145和第二待測物146訊號接收的情形。

第一拖盤143和第二拖盤144可分離地固定在第一端部141和第二端部142上。第一待測物145和第二待測物146可分離地固定在第一拖盤143和第二拖盤144上。先將第一待測物145放置在第一拖盤143上，第一拖盤143放置在第一端部141上，傳送機構13將第一拖盤143傳送至固定治具121後，隔音箱12關閉以隔絕外部噪音，揚聲器模組122發出第一測試訊號對第一待測物145進行測試，並傳送一第一回傳訊號至控制系統11，控制系統11可分析第一待測物145訊號接收的情形。當第一待測物145在隔音箱12內做測量時，系統可以同時進行第二待測物146和第二拖盤144在第二端部142的裝載作業。

在本實施例中，交換平台14在第一端部141和第二端部142間具有一軸心，連接一旋轉機構，該旋轉機構可以帶動交換平台14以軸心施轉，第一端部141和第二端部142可以透過交換平台14的旋轉而互換位置。當第一待測物145測試完成後，傳送機構13將第一拖盤143送回第一端部141，當第二待測物146和第二拖盤144在第二端部142的裝載作業也完成後，交換平台14旋轉地將第一端部141和第二端部142互換位置。傳送機構13進行第二待測物146和第二拖盤144傳送至固定治具121上的作業，而第一待測物145、第一拖盤143和第一端部141進行卸載的作業，以此流程不斷更替。

本實施例所述自動化麥克風測試系統1可以具有複數個拖盤以及待測物，其一待測物在測試時，另一待測物進行裝載的作業，其的目的是為增加測試系統的效率，縮短系統的等待時間，而本實施例以第一和第二來闡釋本實施例，但可得推知本發明並不以兩個為限，只要能達到一待測物在測試，其它的待測物在裝載或卸載，即為本發明之技術內容及其目的功效所欲保護之範圍。拖盤和待測物的數量亦僅為示例，可依實際需求設計不同數量的拖盤和待測物。另外本發明實施例以軸心施轉的方式達到端部位置互換，僅為闡釋本發明之技術內容及其目的功效，熟悉該技術領域具有通常技藝者，透過參酌本發明之技術內容及其目的功效，可以思及達到相同目的的其它機構方式以增加測試系統的效率，都是本發明所欲保護的範圍。

傳送機構13將該第一拖盤143送入該隔音箱12中，並置放在固定治具121上，第一待測物145會與控制系統11電性連接，其電性連接的方式可以包括，第一待測物145和控制系統11直接電性連接，第一待測物145透過第一拖盤143和控制系統11電性連接，以及第一待測物145透過第一拖盤143與固定治具 121和控制系統11電性連接等，不論是用上述何種方式電性連接，只要達到揚聲器模組122發出第一測試訊號，第一待測物145接收該第一測試訊號，並傳送一第一回傳訊號至控制系統11分析即可。第二待測物146在隔音箱12內的量測和第一待測物145的量測方式皆相同，以下僅對第一待測物145做說明。

在本實施例中，自動化麥克風測試系統1具有一待測位置15，傳送機構13將位在待測位置15上的拖盤送入該隔音箱12中，並置放在該固定治具121上。第一拖盤143和第二拖盤144可以分別透過交換平台14移動至待測位置15。其中傳送機構13包括一滑台機構131，滑台機構131使第一拖盤143及第二施盤144在待測位置15和固定治具121間直線移動。

隔音箱12在測試時可以關閉以隔絕外部噪音，開啟或關閉的方式可以使用轉軸件，開啟或關閉的方式可以為手動或是透過控制系統來作業，可以在內壁附著有吸音材質等。隔音箱12的外部置有吸震腳墊，用來減低外部的震動情形，避免測試產生誤差。隔音箱12提供一標準測試環境。揚聲器模組121也可以包括標準音源1221、標準測試音源1222、測試音源1223，標準測試音源1222及測試音源1223可為一人工嘴、全音域喇叭或發聲喇叭等任一種。

如圖4至圖8所示，本發明自動化麥克風測試系統1還可以包含：第一標準麥克風1451和第一樣品麥克風1452。該第一待測物145包括可以設置單一第一樣品麥克風1452或是複數個第一樣品麥克風1452的位置。控制系統11還包括一麥克風校正模組111，麥克風校正模組111可以對接到的第一回傳訊號作分析外，也可以存有第一樣品麥克風1452於標準測試音源1222在不同頻率下之標準靈敏度，並進行音壓的校正作業。第一樣品麥克風1452置於該第一待測物145之第一位置31，第一待測物145之一測試音源1223於第一位置31輸出一測試訊號時，測量該第一樣品麥克風1452於第一位置31之一第一位置靈敏度，並依據該標準靈敏度及該第一位置靈敏度，而將測試音源1223輸出第一測試訊號時的一音壓校正為該標準測試音源1222之音壓。

以第一待測物145包括可以設置複數個第一樣品麥克風1452的位置為例，該第一待測物145具有複數個設置位置31~37，該些設置位置31~37可以設置第一樣品麥克風1452，本實施例之設置位置共有七個，亦即最中間之第一位置31及位於兩側邊之第二位置32、第三位置33、第四位置34、第五位置35、第六位置36、第七位置37。

本實施例之自動化麥克風測試系統1的步驟包括：標準音源1221可發出固定頻率及固定音壓，例如，發出音壓為94dBSPL，頻率為1000Hz的訊號，利用一第一標準麥克風1451量測此標準音源1221，以得到第一標準麥克風1451的一參考靈敏度。接著，使用此第一標準麥克風1451之參考靈敏度校正標準測試音源1222之音壓；詳言之，標準測試音源1222之音壓提供一聲音訊號時，第一標準麥克風1451接收後，會提供一非標準之靈敏度，此時調整標準測試音源1222之輸出音壓，以第一標準麥克風1451之參考靈敏度為依據，藉此校正標準測試音源1222。接著標準測試音源1222提供不同頻率之聲音訊號，並測量一第一樣品麥克風1452接收不同頻率之聲音訊號後，所得對應於不同頻率之數個標準靈敏度，此處之第一樣品麥克風1452亦即俗稱之標準樣品(golden sample)。在本實施例中，標準音源1221和第一標準麥克風1451設置在自動化麥克風測試系統1外，然而，可以理解的，標準音源1221和第一標準麥克風1451也可以設置在自動化麥克風測試系統1內。

再將第一樣品麥克風1452設置於第一待測物145之第一位置31，使自動化麥克風測試系統1之測試音源1223輸出一第一測試訊號，接著測量第一樣品麥克風1452於第一位置31接收此第一測試訊號之一第一位置靈敏度，此時設置於第一位置31之第一樣品麥克風1452可接收到此第一測試訊號所傳送之一音壓，再以第一位置靈敏度及標準靈敏度為準據，而將測試音源1223之輸出音壓校正為標準測試音源1222之標準音壓。其中，第一測試訊號具有一第一頻率，而此處之標準靈敏度亦即標準測試音源1222提供第一頻率之聲音訊號時，第一樣品麥克風1452接收所得之標準靈敏度。將第一樣品麥克風1452設置於一第二位置32，再使用於前一步驟校正後之測試音源1223輸出第一測試訊號，測量第一樣品麥克風1452接收到此第一測試訊號後，所產生與第二位置32相關之一第二位置靈敏度。比較該標準靈敏度與該第二位置靈敏度以得該第一測試訊號之一第二位置補償值。

再將第一樣品麥克風1452設置於一第三位置33，再使用校正後之測試音源1223輸出第一測試訊號，測量第一樣品麥克風1452接收到此第一測試訊號後，所產生與第三位置33相關之一第三位置靈敏度；比較該標準靈敏度與該第三位置靈敏度以得該第一測試訊號之一第三位置補償值。將第一樣品麥克風1452設置於一第四位置34，再使用於步驟103校正後之測試音源1223輸出第一測試訊號，測量第一樣品麥克風1452接收到此第一測試訊號後，所產生與第四位置34相關之一第四位置靈敏度；比較該標準靈敏度與該第四位置靈敏度以得該第一測試訊號之一第四位置補償值。將第一樣品麥克風1452設置於一第五位置35，再使用校正後之測試音源1223輸出第一測試訊號，測量第一樣品麥克風1452接收到此第一測試訊號後，所產生與第五位置35相關之一第五位置靈敏度；比較該標準靈敏度與該第五位置靈敏度以得該第一測試訊號之一第五位置補償值。將第一樣品麥克風1452設置於一第六位置36，再使用校正後之測試音源1223輸出第一測試訊號，測量第一樣品麥克風1452接收到此第一測試訊號後，所產生與第六位置36相關之一第六位置靈敏度；比較該標準靈敏度與該第六位置靈敏度以得該第一測試訊號之一第六位置補償值。將第一樣品麥克風1452設置於一第七位置37，再使用於校正後之測試音源1223輸出第一測試訊號，測量樣品麥克風接收到此第一測試訊號後，所產生與第七位置37相關之一第七位置靈敏度；比較該標準靈敏度與該第七位置靈敏度以得該第一測試訊號之一第七位置補償值。

將第一樣品麥克風1452設置於第一位置，再使用校正後之測試音源1223輸出一第二測試訊號，測量第一樣品麥克風1452接收到此第二測試訊號後，於第一位置31所產生與第二測試訊號相關之第一位置靈敏度。其中，第二測試訊號具有一第二頻率，且第二頻率不同於第一頻率。須說明的是，此處之第一位置靈敏度係與第二測試訊號相關，有別於第一測試訊號相關的第一位置靈敏度。將麥克風測試系統之測試音源1223於第一位置31輸出第二測試訊號時的一音壓校正為該標準測試音源1222之音壓。使用校正後之測試音源1223輸出第二測試訊號，測量第一樣品麥克風1452於第二位置32之第二位置靈敏度。須說明的是，此處之第二位置靈敏度係與第二測試訊號相關，有別於步驟105之與第一測試訊號相關的第二位置靈敏度。比較標準靈敏度與第二位置靈敏度以得一第二測試訊號之一第二位置補償值。說明的是，此處之第二位置補償值係與第二測試訊號相關，有別於第一測試訊號相關的第二位置補償值。

需說明的是，上述步驟僅為測試具有第二頻率之第二測試訊號於第二位置之補償值，但由於待測麥克風須在特定頻率範圍及所有測試位置均校正完成，故尚需將樣品麥克風以其他頻率之訊號於所有位置進行校正測試，因此屬本技術領域者可輕易推及者，故本文不另贅述。

本發明另一實施方式提供接收不同頻率訊號時，待測麥克風於校正測試中所需調整之差值，將第一樣品麥克風1452設置於第一位置31，再使用校正後之測試音源1223輸出一第二測試訊號，測量第一樣品麥克風1452接收到此第二測試訊號後，於第一位置31所產生與第二測試訊號相關之第一位置靈敏度。其中，第二測試訊號具有一第二頻率，且第二頻率不同於第一頻率。須說明的是，此處之第一位置靈敏度係與第二測試訊號相關，有別於與第一測試訊號相關的第一位置靈敏度。比較該標準靈敏度與該第一位置靈敏度以得該第二測試訊號之一第一位置補償值。使用前述測試音源1223輸出之第二測試訊號，測量第一樣品麥克風1452於第二位置32之第二位置靈敏度。須說明的是，此處之第二位置靈敏度係與第二測試訊號相關，有別於步驟105之與第一測試訊號相關的第二位置靈敏度。比較標準靈敏度與第二位置靈敏度以得一第二測試訊號之一第二位置補償值。說明的是，此處之第二位置補償值係與第二測試訊號相關，有別於步驟107之與第一測試訊號相關的第二位置補償值。

同樣地，上述步驟僅為測試具有第二頻率之第二測試訊號於第二位置之補償值，但由於待測麥克風須在特定頻率範圍及所有測試位置均校正完成，故尚需將樣品麥克風以其他頻率之訊號於所有位置進行校正測試，因此屬本技術領域者可輕易推及者，故本文不另贅述。兩種方式之主要差異在於第一位置輸出第二測試訊號時的不同操作，前者係直接校正音壓，後者則利用補償值進行校正。

此外，本發明之麥克風校正方法亦可在第一位置31至第七位置37均設置第一樣品麥克風1452，亦即設置七個第一樣品麥克風1452，藉以取得對應於不同位置之第一樣品麥克風1452的標準靈敏度，再藉以同時測試得到各位置靈敏度補償值。

本發明再一實施例可將另外六個第一樣品麥克風1452亦同時設置於第二位置32至第七位置37，再使用校正後之測試音源1223輸出第一測試訊號，測量該等第一樣品麥克風1452接收到此第一測試訊號後，所產生與第二位置32至第七位置37相關之一第二位置靈敏度、一第三位置靈敏度、一第四位置靈敏度、一第五位置靈敏度、一第六位置靈敏度、一第七位置靈敏度；其中，第一位置31至第七位置37均不相同。

比較該標準靈敏度與該第二位置靈敏度至該第七位置靈敏度以分別得到該第一測試訊號之一第二位置補償值、一第三位置補償值、一第四位置補償值、一第五位置補償值、一第六位置補償值、一第七位置補償值。

以下分別為提供接收不同頻率訊號時，待測麥克風於校正測試中所需調整之差值的兩種流程方法。

將第一樣品麥克風1452設置於第一位置，使用校正後之測試音源1223輸出一第二測試訊號，測量樣品麥克風接收到此第二測試訊號後，於第一位置31所產生與第二測試訊號相關之第一位置靈敏度。將麥克風測試系統之測試音源1223於第一位置31輸出第二測試訊號時的一音壓校正為標準測試音源1222之音壓。將另外六個第一樣品麥克風1452亦同時設置於第二位置32至第七位置37，使用校正後之測試音源1223輸出第二測試訊號，同時測量該些第一樣品麥克風1452接收到此第二測試訊號後，所產生與第二位置32至第七位置37相關之一第二位置靈敏度、一第三位置靈敏度、一第四位置靈敏度、一第五位置靈敏度、一第六位置靈敏度、一第七位置靈敏度。比較該標準靈敏度與該第二位置靈敏度至該第七位置靈敏度以分別得到該第二測試訊號之一第二位置補償值、一第三位置補償值、一第四位置補償值、一第五位置補償值、一第六位置補償值、一第七位置補償值。

而另一態樣，將第一樣品麥克風1452設置於第一位置，使用校正後之測試音源1223輸出一第二測試訊號，測量樣品麥克風接收到此第二測試訊號後，於第一位置31所產生與第二測試訊號相關之第一位置靈敏度。比較標準靈敏度與第一位置靈敏度，以得到與第二測試訊號相關之第一位置補償值。將另外六個第一樣品麥克風1452亦同時設置於第二位置32至第七位置37，使用校正後之測試音源1223輸出第二測試訊號，同時測量該些第一樣品麥克風1452接收到此第二測試訊號後，所產生與第二位置32至第七位置37相關之一第二位置靈敏度、一第三位置靈敏度、一第四位置靈敏度、一第五位置靈敏度、一第六位置靈敏度、一第七位置靈敏度。比較該標準靈敏度與該第二位置靈敏度至該第七位置靈敏度，並參考該第二測試訊號之第一位置補償值，以分別得到該第二測試訊號之一第二位置補償值、一第三位置補償值、一第四位置補償值、一第五位置補償值、一第六位置補償值、一第七位置補償值。

執行完上述麥克風校正方法之步驟後，便可將所欲測試之待測麥克風設置於上述七個位置，並依據前述步驟所得不同頻率訊號之各個位置補償值，藉以校正測試設置於不同位置之待測麥克風，提升校正測試效率，進而降低校正測試成本。須說明的是，上述之七個位置僅為例示，熟知本項領域技術者可輕易推及其他數量之測試位置的測試方法及元件配置。

雖然本發明已以一較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

1 自動化麥克風測試系統 11 控制系統 12 隔音箱 13 傳送機構 14 交換平台

Claims

一種自動化麥克風測試系統，包含：一控制系統；一隔音箱，內設有一固定治具和一揚聲器模組，該揚聲器模組耦接於該控制系統；一第一拖盤，用以承載一第一待測物，該第一拖盤可分離地固定在一交換平台的一第一端部上，一第二拖盤，用以承載一第二待測物，該第二拖盤可分離地固定在該交換平台的一第二端部上；以及一傳送機構，在測試前，可將位於待測位置上的該第一拖盤送入該隔音箱中，並置放在該固定治具上，該第一待測物與該控制系統電性連接，該揚聲器模組發出一第一測試訊號，該第一待測物接收該第一測試訊號後，並傳回一第一回傳訊號至該控制系統分析，在該第一待測物測試後，該傳送機構將該第一拖盤送回至該待測位置，該交換平台可以將第二拖盤移動至該待測位置。
如申請專利範圍第1項所述之自動化麥克風測試系統，其中該傳送機構可以使該第一拖盤及該第二施盤在該待測位置和該固定治具間移動。
如申請專利範圍第1項所述之自動化麥克風測試系統，其中該交換平台旋轉地將該第一拖盤或該第二拖盤移動至該待測位置。
如申請專利範圍第2項所述之自動化麥克風測試系統，其中該傳送機構包括一滑台機構，該滑台機構使該第一拖盤及該第二施盤在該待測位置和該固定治具間直線移動。
如申請專利範圍第1項所述之自動化麥克風測試系統，該第一待測物設置有至少一個待測麥克風。
如申請專利範圍第1項所述之自動化麥克風測試系統，其中該第一待測物包括有一第一樣品麥克風和第一標準麥克風，該揚聲器模組包括一標準測試音源和一測試音源，該控制系統還包括一麥克風校正模組，該麥克風校正模組可以預存有該樣品麥克風於該標準測試音源在不同頻率下之標準靈敏度，該樣品麥克風置於該第一待測物之一第一位置，該測試音源於該第一待測物之該第一位置輸出一測試訊號時，測量該樣品麥克風於該第一位置之一第一位置靈敏度，並依據該標準靈敏度及該第一位置靈敏度，而將該測試音源輸出該測試訊號時的一音壓校正為該標準測試音源之音壓。