TWI515615B

TWI515615B - 觸控裝置及其觸控感測方法

Info

Publication number: TWI515615B
Application number: TW102115471A
Authority: TW
Inventors: 貢振邦
Original assignee: 財團法人工業技術研究院
Priority date: 2013-04-30
Filing date: 2013-04-30
Publication date: 2016-01-01
Also published as: US20140320447A1; US9727179B2; TW201441884A

Description

觸控裝置及其觸控感測方法

本揭露是有關於一種觸控裝置及其觸控感測方法，且特別是有關於一種具有軟性觸控面板的觸控裝置及其觸控感測方法。

在消費性電子產品的應用中，觸控式面板(touch panel)已廣泛使用在可攜式電子產品中，例如智慧型手機、筆記型電腦或平板電腦等。目前，觸控面板包括電阻式、電容式、超音波式以及紅外線感測式等觸控面板，其中電容式觸控面板又可分為投射電容式觸控面板及表面電容式觸控面板等。

對於使用者而言，一些電子產品(例如電子書等)具有可撓曲、彎折之特性，可方便收納或攜帶。因此，觸控裝置已逐漸成為可撓曲之電子產品的關鍵零組件之一。觸控裝置的基板亦具有可撓曲的特性，因此在運送、使用或收納的情況下可能會維持在撓曲狀態。然而，當基板在撓曲的狀態下，薄膜材料可能會因應力或溫度的影響而造成材料結構或堆疊結構的改變，進而導致感測元件發生電性變異(例如導體電阻或層疊電容的變化)。對觸控裝置來說，這些變異將會導致觸控感測機制發生誤判等不正常的狀況，進而降低感測之靈敏度與精確度。

本揭露提出一種觸控面板的觸控感測方法，包括：定義至少一個感測迴路至少其中之一同時為至少一個參考感測迴路，其中所述感測迴路以陣列排列配置於觸控面板中，並且用以感測觸控事件；在電性偵測期間內，提供驅動訊號至參考感測迴路，以從參考感測迴路讀取參考訊號；在觸控感測期間內，提供驅動訊號至所述感測迴路，以從所述感測迴路讀取多個感測訊號；以及依據參考訊號與所述多個感測訊號，偵測觸控事件的觸控位置。

本揭露提出一種觸控裝置，包括觸控面板以及偵測單元。觸控面板包括至少一個感測迴路，其中所述感測迴路用以感測觸控事件，並且所述感測迴路至少其中之一同時被定義為至少一個參考感測迴路。偵測單元耦接觸控面板，用以偵測觸控事件的觸控位置。其中，當觸控裝置位於電性偵測期間內時，偵測單元提供驅動訊號至參考感測迴路，以從參考感測迴路讀取參考訊號，以及當觸控裝置位於觸控感測期間內時，偵測單元提供驅動訊號至所述感測迴路，以從所述感測迴路讀取至少一個感測訊號。其中，偵測單元依據參考訊號與所述感測訊號，偵測觸控事件的觸控位置。

為讓本揭露能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

100‧‧‧觸控裝置

110‧‧‧觸控面板

122‧‧‧控制器

124‧‧‧驅動訊號產生器

126‧‧‧訊號處理器

120‧‧‧偵測單元

DS1~DSn‧‧‧感測訊號

AMP1、AMP2‧‧‧放大器

CU‧‧‧計算單元

DCS1~DCSn‧‧‧校正感測訊號

DT‧‧‧觸控資訊

DP‧‧‧電性偵測期間

DR‧‧‧參考訊號

E1、E2‧‧‧電極

GL‧‧‧間隔層

FR、FR1、FR2‧‧‧摺疊區

G1、G2‧‧‧運算增益值

MU‧‧‧儲存單元

NFR1、NFR2‧‧‧非摺疊區

RU‧‧‧參考感測迴路

RUC、RUC1、RUC2‧‧‧參考感測通道

S_d‧‧‧驅動訊號

SU‧‧‧切換單元

TU11~TUmn、TUpq、TUsr‧‧‧感測迴路

TP‧‧‧觸控感測期間

t1、t2‧‧‧時間

S400~S430、S432~S438、S610~S630、S710~S740、S810~S830‧‧‧步驟

圖1A為本揭露一實施例之觸控裝置的示意圖。

圖1B與1C為本揭露不同實施例之觸控裝置的操作示意圖。

圖2為本揭露一實施例之訊號處理器的示意圖。

圖3A~3C為本揭露不同實施例之觸控面板的示意圖。

圖4為本揭露一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。

圖5為本揭露一實施例之依據參考訊號與感測訊號偵測觸控事件的觸控位置的步驟流程圖。

圖6A為本揭露另一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。

圖6B為依照圖6A實施例之觸控裝置的操作時序示意圖。

圖7為本揭露又一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。

圖8為本揭露再一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。

本揭露提出一種觸控裝置及其觸控感測方法，其中所述之觸控感測方法可在特定的操作時序下讀取特定感測迴路的感測訊號以作為參考訊號，並且依據參考訊號與感測訊號來偵測觸控位置，藉以補償觸控面板因為撓曲應力或溫度變化等影響所造成的電性變異，進而提高觸控裝置的觸控感測的精確度。為了使本揭露之內容更容易明瞭，以下特舉實施例作為本揭露據以實施的範例。另外，凡可能之處，在圖式及實施方式中使用相同標號的元件/構件/步驟代表相同或類似部分。

圖1A為本揭露一實施例之觸控裝置的示意圖。請參照圖1，觸控裝置100包括觸控面板110以及偵測單元120。在本實施例中，觸控面板110可為投射式電容觸控面板或者電阻式觸控面板，並且可為製作於軟性基板上的軟性觸控面板。此外，本實施例之觸控面板110及偵測單元120還可配置於顯示裝置(display apparatus)(未繪示)中以構成觸控顯示裝置。亦即，觸控顯示裝置可由觸控裝置100與顯示裝置結合所構成。觸控面板110包括至少一個感測迴路，在本實施例是以多個陣列排列的感測迴路TU11~TUmn為例(m、n為正整數)，其中感測迴路TU11~TUmn是用以感測使用者是否觸碰觸控面板110(即是否發生觸控事件)。偵測單元120耦接觸控面板110，並且用以在發生觸控事件時，偵測觸控位置，藉以使觸控裝置100依據偵測單元120所偵測到的觸控位置而執行相應的操作或令顯示裝置顯示相應的畫面。

在本實施例中，設計者可預先地從觸控面板110的變異區中選取感測迴路TU11~TUmn至少其中之一(例如感測迴路TUpq，其中p、q為正整數，且1≦p≦m，1≦q≦n)，並將所選取的感測迴路同時定義為參考感測迴路RU，其中所述變異區為觸控面板110中易於發生阻抗變化的區域(例如摺疊區)。因此，觸控裝置100可從參考感測迴路RU讀取對應於變異區之阻抗變化的參考訊號DR，以利用讀取到的參考訊號DR來調整偵測單元120的電路參數，並且校正感測訊號的準位，藉以補償觸控面板110受到撓曲應力(bending stress)或溫度影響時所產生的電性變異。

圖1B與1C為本揭露不同實施例之觸控裝置的操作示意圖。其中，圖1B繪示觸控面板110為互容式觸控面板或電阻式觸控面板的實施例，圖1C繪示觸控面板110為自容式觸控面板的實施例。此外，在圖1B與1C中，為便於說明，故以感測迴路TU11的觸控感測操作為例，本領域具有通常知識者應可自此推知各個感測迴路TU11~TUmn的觸控感測操作。

請先同時參照圖1A與1B，在本實施例中，觸控面板110的感測迴路TU11包括電極E1與E2以及間隔層GL，偵測單元120包括控制器122、驅動訊號產生器124以及訊號處理器126。具體而言，觸控面板110在本實施例中可例如為互容式觸控面板或者電阻式觸控面板。其中，當觸控面板110為互容式觸控面板時，各個感測迴路TU11~TUmn是由電性獨立的電極E1與E2透過絕緣材料所形成之間隔層GL耦合所構成。在此，於另一實施例中，各個感測迴路TU11~TUmn亦可由兩組電極串透過絕緣材料所形成之間隔層GL耦合所構成，其中每組電極串可包括多個相互電性連接之電極，本揭露不以此為限。

此外，當觸控面板110為電阻式觸控面板時，各個感測迴路TU11~TUmn則是由電性獨立的電極E1與E2透過電阻材料所形成之間隔層GL耦合所構成。

在偵測單元120中，驅動訊號產生器124可用以產生驅動訊號S_d。訊號處理器126可依據所接收到的感測訊號DS1及參考感測訊號DR而產生對應的觸控資訊DT。控制器122則可用以控制驅動訊號產生器124與訊號處理器126的操作。

更具體地說，當觸控裝置100位於觸控感測期間內時，驅動訊號產生器124會將驅動訊號S_d輸出至感測迴路TU11的電極E1，使得感測迴路TU11的電極E2反應於驅動訊號S_d而產生感測訊號DS1。因此，訊號處理器126可經由對應於電極E2的感測通道(sensing channel)而讀取感測迴路TU11的感測訊號DS1。另一方面，當觸控裝置100位於電性偵測期間內時，偵測單元120可提供驅動訊號S_d至參考感測迴路RU，其中參考感測迴路RU具有與感測迴路TU11相同的架構。因此，參考感測迴路RU可依據上述感測迴路TU11的驅動方式，反應於驅動訊號S_d而產生參考訊號DR，使得訊號處理器126經由對應的感測通道讀取參考訊號DR。

由於當感測迴路TU11發生觸控事件時，其會反應於使用者的觸碰而產生阻抗的改變(例如電極E1與E2之間的互電容改變，或者電極E1與E2之間的電阻改變)，進而使感測迴路TU11對應地產生具有不同準位(相較於未被觸碰的狀況下而言)的感測訊號DS1。因此，訊號處理器126可依據所讀取的參考訊號DR與感測訊號DS1的準位變化來判斷感測迴路TU11是否被觸碰，藉以產生對應於觸控位置的觸控資訊DT。

更進一步地說，當觸控面板110受到撓曲應力或溫度變化的影響時，由於參考感測迴路RU會與感測迴路TU11~TUmn具有大致相同的阻抗變化量，故參考訊號DR會與感測訊號DS1~DSn具有大致相同的準位偏移，因此偵測單元120可藉由參考訊號DR來抵銷感測訊號DS1~DSn因為阻抗變化所產生的準位偏移，藉以準確地偵測觸控事件的觸控位置。此外，偵測單元120還可依據讀取到的參考訊號DR來調整提供至觸控面板110的驅動訊號S_d，以使參考訊號DR的準位可達到一預定範圍。

詳細而言，在一範例實施例中，控制器122可依據讀取到的參考訊號DR來設定用以控制訊號處理器126的至少一個訊號處理參數，並且將其儲存於記憶單元(未繪示)中。因此，訊號處理器126即可依據儲存於記憶單元中之訊號處理參數來更新原先的設定值，並據以調整所接收的感測訊號DS1~DSn的準位以抵銷感測訊號DS1~DSn因為阻抗變化所產生的準位偏移，並且依據調整後的感測訊號DS1~DSn來產生觸控資訊DT。

再者，控制器122可依據讀取到的參考訊號DR來設定用以控制驅動訊號產生器124的至少一個驅動控制參數，並且將其儲存於記憶單元中。因此，驅動訊號產生器124即可依據儲存於記憶單元中之驅動控制參數來更新原先的設定值，並且據以調整所提供的驅動訊號S_d，以使參考訊號DR的準位達到預定範圍。

請再參照圖1A與1C，本實施例與前述圖1B實施例的差異在於，本實施例的觸控面板110例如為自容式觸控面板，其感測迴路TU11是由獨立的電極E1所構成。其中，電極E1可反應於所接收的驅動訊號S_d而產生感測訊號DS1，並且將感測訊號DS1輸出至訊號處理器126。在此，於另一實施例中，各個感測迴路TU11~TUmn亦可由多個相互電性連接之電極所組成的電極串所構成，本揭露不以此為限。

在本實施例中，當感測迴路TU11發生觸控事件時，電極E1會反應於使用者的觸碰而產生自電容(電極E1對地的電容)的電容值變化，並且對應地產生具有不同準位的感測訊號DS1，以使訊號處理器126可依據所讀取的參考訊號DR與感測訊號DS1的準位變化來判斷感測迴路TU11是否被觸碰。除此之外，本實施例之觸控裝置的驅動方式與電路架構與前述圖1B實施例大致相同，故相同或相似之處於此不再重複贅述。

為了更清楚地說明本揭露之實施例，偵測單元120可藉由如圖2所示之架構來實現利用參考訊號DR與感測訊號DS1~DSn而偵測觸控事件的觸控位置的功能。請同時參照圖1與圖2，偵測單元120可包括放大器AMP1與AMP2、切換單元SU、儲存單元MU以及計算單元CU。在本實施例的偵測單元120的架構下，放大器AMP1會依據運算增益值G1來調整感測訊號DS1~DSn與參考訊號DR的準位，並且將調整後的感測訊號DS1~DSn與參考訊號DR輸出至切換單元SU。切換單元SU會在電性偵測期間將所接收到的參考訊號DR暫存於儲存單元MU中，並且當觸控裝置100的操作時序進入觸控感測期間時，將所接收到的感測訊號DS1~DSn輸出至計算單元CU。計算單元CU會計算暫存的參考訊號DR與感測訊號DS1~DSn的差值，以獲得多個校正感測訊號DCS1~DCSn，接著放大器AMP2會在依據運算增益值G2而調整校正感測訊號DCS1~DCSn的準位後，輸出關聯於觸控位置的觸控資訊DT。

在本實施例中，由於運算增益值G1與G2等通訊處理參數可動態地依據參考訊號DR的變動而調整，並且校正參考訊號DCS1~DCSn是藉由計算參考訊號DR與感測訊號DS1~DSn的差值而獲得，因此觸控面板110的撓曲或溫度變化所造成之感測迴路TU11~TUmn的阻抗變化皆可動態地被抵銷。換言之，在本實施例中，無論是撓曲或是溫度所造成之導電層的電阻變化，或堆疊結構變化所造成的阻抗變化(如電阻或電容變化)，皆不會反應在觸控資訊DT中。因此，觸控感測的辨識率可有效地被提升，並且可避免因撓曲所產生之電性變化所造成的誤動作。偵測單元120所產生之觸控資訊DT僅與觸控媒介(如手指)的觸碰強度有關。

在此，所述之偵測單元120的架構僅為一範例，任何可根據參考訊號DR與感測訊號DS1~DSn來抵銷觸控面板110的阻抗變化的電路架構皆可應用於本實施例之觸控裝置100中，本揭露不以此為限。

在一實施例中，設計者可根據設計需求而利用類比或數位的訊號處理方式來實現圖2所示之偵測單元120的架構，本揭露不以此為限。另外，設計者可根據其需求而在偵測單元120的架構中加入時間軸濾波器以進行背景雜訊的消除，進而提高觸控位置偵測的正確性。

在本實施例中被定義為參考感測迴路RU的感測迴路TUpq於觸控感測期間內仍可視為與其他感測迴路TU11~TUmn相同的感測迴路。換言之，在觸控感測期間內，觸控面板110上的每一感測迴路TU11~TUmn皆會被用以感測觸控事件的發生。

此外，由於參考感測迴路RU是選自感測迴路TU11~TUmn中之任一或多個來實現，因此觸控面板110並不需要設置額外的感測元件來作為參考感測迴路。換言之，本實施例之觸控裝置100可利用一般觸控面板的架構即可實現，因此可有效地提高觸控裝置100的設計相容性。

圖3A~3C為本揭露不同實施例之觸控面板的示意圖。在本實施例中，設計者可根據觸控面板110的摺疊區配置組態而定義感測迴路TU11~TUmn至少其中之一為參考感測迴路。首先，以圖3A為例，圖3A為具有摺疊區FR的觸控面板110的示意圖，其中摺疊區FR沿著Y軸方向設置。在圖3A中，由感測迴路 TUp1~TUpn所形成的感測通道被定義為參考感測通道RUC，其中參考感測通道RUC中部分的感測迴路位於摺疊區FR外(如TUp1~TUpq-1與TUpq+1~TUpn)，且另一部分的感測迴路位於摺疊區FR內(如TUpq)。在本實施例中，設計者可根據其設計需求來定義參考感測通道RUC中部分或全部的感測迴路TUp1~TUpn為參考感測迴路，使得偵測單元(如120)可在電性偵測期間內，藉由讀取參考感測通道RUC中的參考感測迴路的感測訊號以作為參考訊號。

舉例來說，在一範例實施例中，設計者可定義參考感測通道RUC中分別位於非摺疊區NFR1與NFR2以及摺疊區FR的一個感測迴路(例如TUp1、TUpq及TUpn)為參考感測迴路。當觸控事件發生在非摺疊區NFR1時，偵測單元以從非摺疊區NFR1的參考感測迴路TUp1所讀取的感測訊號作為參考訊號，當觸控事件發生在摺疊區FR時，偵測單元以從摺疊區FR的參考感測迴路TUpq所讀取的感測訊號作為參考訊號，以及當觸控事件發生在非摺疊區NFR2時，偵測單元以從非摺疊區NFR2的參考感測迴路TUpn所讀取的感測訊號作為參考訊號。在另一範例實施例中，設計者可定義參考感測通道RUC中全部的感測迴路TUp1~TUpn為參考感測迴路，使得偵測單元可在電性偵測期間內讀取參考感測通道RUC中的各個感測迴路TUp1~TUpn的感測訊號以作為參考訊號。在又一範例實施例中，設計者亦可僅定義位於摺疊區中的感測迴路TUpq為參考感測迴路，以使偵測單元在電性偵測期間內讀取感測迴路TUpq的感測訊號以作為參考訊號。

由上述範例實施例可知，只要是偵測單元能夠依據從參考感測迴路所讀取到的參考訊號來抵銷撓曲應力或溫度變化等現象對感測訊號所造成的影響，本揭露並不限定參考感測迴路(或參考感測通道)的選取方式。

另一方面，當摺疊區FR在觸控面板110上以不同方向設置時(如X軸方向)，參考感測通道RUC的選取亦可適應性地有所調整。換言之，設計者可根據設計需求而定義觸控面板110上之感測迴路的至少其中一行或至少其中一列為參考感測迴路(參考感測通道)，本揭露不以此為限。

圖3B與3C為具有兩個摺疊區FR1與FR2的觸控面板110的示意圖，其中摺疊區FR1與FR2分別沿著Y軸方向與X軸方向設置。在圖3B中，由感測迴路TUp1~TUpn與TU1r~TUmr所形成的感測通道分別被定義為參考感測通道RUC1與RUC2。其中，參考感測通道RUC1中部分的感測迴路位於摺疊區FR1外(如TUp1~TUpq-1與TUpq+1~TUpn)，且另一部分的感測迴路位於摺疊區FR1內(如TUpq)。相似地，參考感測通道RUC2中部分的感測迴路位於摺疊區FR2外(如TU1r~TUs-1r與TUs+1r~TUmr，其中r、s為正整數，且1≦r≦n，1≦s≦m)，且另一部分的感測迴路位於摺疊區FR2內(如TUsr)。在本實施例中，設計者可根據其設計需求來定義參考感測通道RUC1與RUC2中部分或全部的感測迴路TUp1~TUpn與TU1r~TUmr為參考感測迴路，使得偵測單元(如120)可在電性偵測期間內，藉由讀取參考感測通道RUC1與RUC2中的參考感測迴路的感測訊號以作為參考訊號。基於此架構下，無論使用者沿著摺疊區FR1或FR2彎折觸控面板110，偵測單元都可利用對應的參考訊號來抵銷感測訊號因為阻抗變化所產生的準位偏移，藉以準確地偵測觸控事件的觸控位置。

在圖3C中，感測迴路TUp1~TUpn被定義為參考感測通道RUC。其中，參考感測通道RUC中的各個感測迴路TUp1~TUpn皆位於摺疊區FR2內。更具體地說，圖3C實施例與圖3B實施例不同之處在於圖3C實施例是將位於摺疊區FR2內的感測迴路TUp1~TUpn所形成的感測通道定義為參考感測通道RUC，並且至少選取參考感測通道RUC中的感測迴路TUpq作為參考感測迴路。由於無論觸控面板110沿著摺疊區FR1或FR2彎折的狀況下，感測迴路TUpq都會反應於撓曲應力而產生阻抗變化，因此在本實施例的架構下，偵測單元可僅就從參考感測通道RUC中的參考感測迴路所讀取到的參考訊號來補償感測訊號，而不需要對應於摺疊區的位置而定義另一條感測通道以作為參考感測通道。

從上述圖3A至3C實施例可知，摺疊區FR、FR1、FR2即為所述之易於發生阻抗變化的變異區，而設計者可依據其設計需求而在電性偵測期間內將經過變異區的感測迴路的至少其中之一定義為參考感測迴路(如TUpq、TUsr、TUp1~TUpn)。

圖4至圖8實施例分別為本揭露不同實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。其中，所述之觸控面板(如110) 具有多個感測迴路(如TU11~TUmn)，並且所述感測迴路是用以感測使用者的觸碰(即感測是否發生觸控事件)。此外，執行圖4至圖8的觸控感測方法的觸控感測裝置架構可參照圖1所繪示。

圖4為本揭露一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。請參照圖4，首先，定義至少一個感測迴路至少其中之一同時為至少一個參考感測迴路(如RU)(步驟S400)。接著，在電性偵測期間內提供驅動訊號至參考感測迴路，以從參考感測迴路讀取參考訊號(步驟S410)，並且在觸控感測期間內提供驅動訊號至感測迴路，以從感測迴路讀取感測訊號(步驟S420)。在讀取到參考訊號與感測訊號之後，觸控裝置(如100)可依據參考訊號與感測訊號來偵測觸控事件的觸控位置(步驟S430)。

更詳細地說，依據參考訊號與感測訊號來偵測觸控事件的觸控位置的步驟可藉由圖5所示之步驟流程來實現，其中，圖5為本揭露一實施例之依據參考訊號與感測訊號偵測觸控事件的觸控位置的步驟流程圖。請參照圖5，首先，依據參考訊號設定驅動控制參數(如驅動訊號產生器的設定參數)與通訊處理參數(如運算增益值G1與G2)(步驟S432)，並且將驅動控制參數與通訊處理參數儲存於記憶單元中(步驟S434)。接著，分別依據儲存於記憶單元中之驅動控制參數與通訊處理參數調整驅動訊號與感測訊號(步驟S436)，並且利用調整後的驅動訊號來驅動觸控面板並且利用調整後的感測訊號來產生關聯於觸控位置的觸控資訊(步驟S438)。

由於上述圖1至圖3C實施例已經充分地教示了有關於電性偵測期間與觸控感測期間內的觸控感測機制，故於此不再贅述。在本揭露中，觸控裝置可根據不同的時機來實施觸控感測方法，包括(一)在每一次形變後(包括折疊後以及展開後)更新參考訊號，並且依據更新後的參考訊號來校正感測訊號；(二)在每一次啟動並顯示畫面之前更新參考訊號，以依據更新後的參考訊號來校正感測訊號；以及(三)在每一個新畫面程序啟動前更新參考訊號，並且依據更新後的參考訊號來校正感測訊號。在後述實施例中，將針對關於進入電性偵測期間與觸控感測期間的操作時序做進一步地說明。

圖6A為本揭露另一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。圖6B為依照圖6A實施例之觸控裝置的操作時序示意圖。在本實施例中，所述之觸控感測方法主要是透過偵測觸控面板(如110)是否產生形變以作為判斷是否進入電性偵測期間的依據。請參照圖6A，在定義參考感測迴路之後(步驟S400)，觸控裝置(如100)會執行偵測觸控面板(如110)是否產生形變的步驟(步驟S610)，並且當偵測到觸控面板產生形變時，於形變後進入電性偵測期間(步驟S620)。舉例來說，如圖6B所示，當觸控裝置偵測到觸控面板在時間t1從展開狀態下被摺疊並且在時間t2被摺疊至一摺疊狀態時，觸控裝置會在時間t2之後進入電性偵測期間DP，並且執行步驟S410以獲得參考訊號。相似地，當觸控裝置偵測到觸控面板在時間t1從折疊狀態下被展開並且在時間t2被展開至展開狀態時，觸控裝置同樣會在時間t2之後進入電性偵測期間DP，並且執行步驟S410以獲得參考訊號。

在電性偵測期間DP結束後，觸控裝置則會接續地進入觸控感測期間TP(步驟S630)，並且執行步驟S420以獲得感測訊號。因此，觸控裝置可根據參考訊號與感測訊號來偵測觸控事件的觸控位置(步驟S430)。另一方面，當觸控裝置偵測到觸控面板未產生形變時，則直接進入觸控感測期間，以依據先前暫存的參考訊號與目前的感測訊號來偵測觸控事件的觸控位置。換言之，在本實施例中，觸控裝置會在每一次摺疊/展開後更新參考訊號，並且依據更新後的參考訊號來校正感測訊號。

圖7為本揭露又一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。本實施例之觸控感測方法主要是用於觸控顯示裝置，其中觸控顯示裝置是由上述觸控裝置(如100)結合顯示裝置(未繪示)所構成。在本實施例中，所述觸控感測方法會在觸控顯示裝置啟動並顯示畫面之前，先行進入電性偵測期間，以從參考感測迴路讀取參考訊號。請參照圖7，在定義參考感測迴路(步驟S400)，並且啟動觸控顯示裝置(步驟S710)後，觸控顯示裝置會在顯示裝置顯示畫面之前，先行進入電性偵測期間(步驟S720)，並且執行步驟S410以獲得參考訊號。在電性偵測期間DP結束後，觸控顯示裝置會接續地進入觸控感測期間TP(步驟S730)，並且控制顯示裝置開始顯示畫面(步驟S740)。換言之，在本實施例中，觸控顯示裝置會在每一次啟動並顯示畫面之前更新參考訊號，以依據更新後的參考訊號來校正感測訊號。

圖8為本揭露再一實施例之觸控面板的觸控感測方法的步驟流程圖。本實施例的觸控感測方法同樣是用於如上所述之觸控顯示裝置。在本實施例中，所述之觸控感測方法主要是在觸控顯示裝置啟動後，依據顯示畫面的狀態來作為進入電性偵測期間的依據。請參照圖8，在定義參考感測迴路(步驟S400)，並且啟動觸控顯示裝置(步驟S810)後，顯示裝置會經由顯示驅動電路(未繪示)的控制而依據同步時脈訊號顯示畫面。其中，觸控顯示裝置會在第一畫面程序轉換為第二畫面程序之間進入電性偵測期間(步驟S820)，以在顯示畫面轉換時(例如兩顯示圖框之間的轉換，或者是螢幕保護程式與一般顯示畫面之間的轉換)進行步驟S410以更新參考訊號。另一方面，當觸控顯示裝置判斷顯示裝置的畫面未從第一畫面程序轉換為第二畫面程序時，則重複執行步驟S840。

在步驟S410中，觸控顯示裝置可選擇配合同步時脈訊號的時序而提供驅動訊號至參考感測迴路，或者依據一預設時序提供驅動訊號至參考感測迴路，藉以獲得對應的參考訊號，本揭露不以此為限。

在電性偵測期間DP結束後，觸控顯示裝置則會接續地進入觸控感測期間TP(步驟S830)，並且執行步驟S420以獲得感測訊號。因此，觸控顯示裝置可根據參考訊號與感測訊號來偵測觸控事件的觸控位置(步驟S430)。換言之，在本實施例中，觸控顯示裝置可在每一個新畫面程序啟動前更新參考訊號，並且依據更新後的參考訊號來校正感測訊號。

綜上所述，本揭露提出一種觸控裝置及其觸控感測方法，其中所述之觸控感測方法可在電性偵測期間內讀取特定感測迴路的感測訊號以作為參考訊號，以依據參考訊號與感測訊號來偵測觸控位置，藉以補償觸控面板因為撓曲應力或溫度變化等影響所造成的電性變異，進而提高觸控裝置的觸控感測的精確度。

雖然本揭露實施例已揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本揭露的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

S400~S430‧‧‧步驟

Claims

一種觸控面板的觸控感測方法，包括：定義至少一感測迴路至少其中之一同時為至少一參考感測迴路，其中該至少一感測迴路配置於該觸控面板中，並且用以感測一觸控事件；在一電性偵測期間內，提供一驅動訊號至該至少一參考感測迴路，以從該至少一參考感測迴路讀取至少一參考訊號；在一觸控感測期間內，提供該驅動訊號至該至少一感測迴路，以從該至少一感測迴路讀取至少一感測訊號；以及依據該至少一參考訊號與該至少一感測訊號，偵測該觸控事件的一觸控位置。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控面板為自容式觸控面板，各該感測迴路是由一電極或電性連接之電極串所構成。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控面板為互容式觸控面板，各該感測迴路是由兩電性獨立的電極或電性連接之電極串透過絕緣材料耦合所構成。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控面板為電阻式觸控面板，各該感測迴路由電性獨立的兩電極透過電阻材料耦合所構成。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控面板具有至少一變異區，經過該至少一變異區之感測迴路至少其中之一在一電性偵測期間內被定義為該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，更包括以下步驟：偵測該觸控面板是否產生形變；當偵測到該觸控面板產生形變時，於形變後進入該電性偵測期間；以及在該電性偵測期間內，提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控面板配置於一顯示裝置中以構成一觸控顯示裝置，該觸控感測方法更包括以下步驟：啟動該觸控顯示裝置；以及進入該電性偵測期間。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控面板配置於一顯示裝置中以構成一觸控顯示裝置，該觸控感測方法更包括以下步驟：啟動該觸控顯示裝置；以及在該觸控顯示裝置的顯示畫面從一第一畫面程序轉換為一第二畫面程序之間，進入該電性偵測期間。
如申請專利範圍第8項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該顯示裝置依據一同步時脈訊號顯示畫面，在該電性偵測期間內，提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路的步驟包括：配合該同步時脈訊號的時序提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第8項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中在該電性偵測期間內，提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路的步驟包括：依據一預設時序提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控感測方法更包括：依據該至少一參考訊號設定至少一驅動控制參數；以及將該至少一驅動控制參數儲存於一記憶單元中。
如申請專利範圍第11項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控感測方法更包括：依據儲存於該記憶單元中之該至少一驅動控制參數調整該驅動訊號，以使該至少一參考訊號的準位達到一預定範圍。
如申請專利範圍第1項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控感測方法更包括：依據該至少一參考訊號設定至少一訊號處理參數；以及將該至少一訊號處理參數儲存於記憶單元中。
如申請專利範圍第13項所述的觸控面板的觸控感測方法，其中該觸控感測方法更包括：依據儲存於該記憶單元中之該至少一訊號處理參數調整該感測訊號；以及依據調整後的感測訊號產生關聯於該觸控位置的一觸控資訊。
一種觸控裝置，包括：一觸控面板，包括至少一感測迴路，其中該至少一感測迴路用以感測一觸控事件，並且該至少一感測迴路至少其中之一被同時定義為至少一參考感測迴路；以及一偵測單元，耦接該觸控面板，用以偵測該觸控事件的一觸控位置，其中，當該觸控裝置位於一電性偵測期間內時，該偵測單元提供一驅動訊號至該至少一參考感測迴路，以從該至少一參考感測迴路讀取至少一參考訊號，以及當該觸控裝置位於一觸控感測期間內時，該偵測單元提供該驅動訊號至該至少一感測迴路，以從該至少一感測迴路讀取至少一感測訊號，其中，該偵測單元依據該至少一參考訊號與該至少一感測訊號，偵測該觸控事件的該觸控位置。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，其中該觸控面板為自容式觸控面板，各該感測迴路是由一電極或電性連接之電極串所構成。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，其中該觸控面板為互容式觸控面板，各該感測迴路是由兩電性獨立的電極或電性連接之電極串透過絕緣材料耦合所構成。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，其中該觸控面板為電阻式觸控面板，各該感測迴路由電性獨立的兩電極透過電阻材料耦合所構成。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，其中該觸控面板具有至少一變異區，經過該至少一變異區之感測迴路至少其中之一在一電性偵測期間內被定義為該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，其中該偵測單元偵測該觸控面板是否產生形變，並且當該偵測單元偵測到該觸控面板產生形變時，該觸控裝置於形變回復後進入該電性偵測期間；以及在該電性偵測期間內，提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，其中該觸控裝置與一顯示裝置結合構成一觸控顯示裝置，當該觸控顯示裝置被啟動時，該觸控顯示裝置進入該電性偵測期間。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，其中該觸控裝置與一顯示裝置結合構成一觸控顯示裝置，當該觸控顯示裝置被啟動後，該觸控顯示裝置在其顯示畫面從一第一畫面程序轉換為一第二畫面程序之間，進入該電性偵測期間。
如申請專利範圍第22項所述的觸控裝置，其中該顯示裝置依據一同步時脈訊號顯示畫面，該偵測單元配合該同步時脈訊號的時序而提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第22項所述的觸控裝置，其中該偵測單元依據一預設時序提供該驅動訊號至該至少一參考感測迴路。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，於電性偵測期間，其中該偵測單元依據該至少一參考訊號設定至少一驅動控制參數，並且將該至少一驅動控制參數儲存於一記憶單元中。
如申請專利範圍第25項所述的觸控裝置，其中該偵測單元依據儲存於該記憶單元中之該至少一驅動控制參數調整該驅動訊號，以使該至少一參考訊號的準位達到一預定範圍。
如申請專利範圍第15項所述的觸控裝置，於觸控感測期間，其中該偵測單元依據該至少一參考訊號設定至少一訊號處理參數，並且將該至少一訊號處理參數儲存於一記憶單元中。
如申請專利範圍第27項所述的觸控裝置，於觸控感測期間，其中該偵測單元依據儲存於該記憶單元中之該至少一訊號處理參數調整該感測訊號，並且依據調整後的感測訊號產生關聯於該觸控位置的一觸控資訊。