TWI406166B - 觸控面板及其多點觸碰偵測方法以及觸控顯示裝置 - Google Patents

Description

觸控面板及其多點觸碰偵測方法以及觸控顯示裝置

本發明是有關於一種觸控裝置及其偵測方法，且特別是有關於一種觸控面板及其多點觸碰偵測方法。

近年來，隨著資訊技術、無線行動通訊和資訊家電的快速發展與應用，為了達到更便利、體積更輕巧化以及更人性化的目的，許多資訊產品已由傳統之鍵盤或滑鼠等輸入裝置，轉變為使用觸控面板(Touch Panel)作為輸入裝置。

圖1繪示習知之一種觸控面板，其中為了清楚說明，圖1僅繪示觸控面板之感測串列的結構，而省略了其他可能存在的膜層或是元件。如圖1所示，習知的觸控面板100包括多個第一感測串列120以及多個第二感測串列140。更詳細而言，第一感測串列120沿Y方向延伸，其中每一第一感測串列120是由多個第一感測墊122與第一連接線124串接而成。第二感測串列140沿X方向延伸，其中每一第二感測串列140是由多個第二感測墊142與第二連接線144串接而成。第一感測墊122與第二感測墊142可構成一感測陣列，以達成面的感測。

當使用者以手指接觸觸控面板100時，觸控面板100的第一感測串列120與第二感測串列140會在手指所接觸的位置上產生一電容的改變。此電容上的改變會轉換為一 控制訊號傳送至控制電路板上，並經運算處理而得出結果後，再輸出一適當的指令以操作電子裝置。

如圖1所示，圖中一併繪示出當使用者觸碰位置A以及位置B情況下波峰位置示意圖。請參照圖1，以X及Y兩軸為例，觸控面板在偵測碰觸位置時，會分別掃描對應X軸及Y軸之第一感測串列120與第二感測串列140，由於觸控面板上對應第一感測串列120與第二感測串列140各自有一個掃描線上的感測器因受碰觸而產生電容耦合現象，經由將對應不同軸向之波峰位置進行交會，即可定位出碰觸位置。

如圖1所示，使用者觸碰位置A以及位置B情況下，被觸碰的位置A以及被觸碰的位置B會在X軸及Y軸各自產生兩個波峰位置(例如：X1、X2、Y1及Y2)，將兩個軸向的波峰位置進行交會則會產生4個交會點(例如：A、B、A’及B’)，其中非屬真正碰觸位置的兩交會點(例如：A’及B’)稱之為錯誤感測點(Ghost point)。在此情況下，觸控面板會偵測出非真正的碰觸位置，進而造成操作錯誤。

本發明提供一種觸控面板，藉由一訊號偵測層輔助判斷感測陣列上的觸碰訊號，以提升觸控面板的定位精確度。

本發明提供一種觸控面板的多點觸碰偵測方法，其可以消除多指碰觸時的錯誤感測點。

本發明提供一種觸控顯示裝置，藉由一訊號偵測層輔助判斷感測陣列上的觸碰訊號，以提升觸控顯示裝置中觸控面板的定位精確度。

本發明提出一種觸控面板，其包括一基板、一感測陣列層以及一訊號偵測層。其中，感測陣列層配置於基板上，感測陣列層具有陣列排列的多個感測墊，感測墊包括多個沿著第一方向延伸的第一感測墊以及多個沿著第二方向延伸的第二感測墊，其中第一方向與第二方向相交。訊號偵測層位於感測陣列層與基板之間，訊號偵測層具有多個彼此獨立的訊號偵測區塊，每一訊號偵測區塊對應多個感測墊，並偵測因觸碰而造成的電場變化。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板，更包括多個訊號偵測線，其中每一訊號偵測線分別電性連接每一訊號偵測區塊。

在本發明之一實施例中，上述之感測陣列層更包括多個第一橋接線以及多個第二橋接線，其中每一第一橋接線串接兩相鄰的第一感測墊，以構成一第一感測串列，而多個第二橋接線，每一第二橋接線串接兩相鄰的第二感測墊，以構成一第二感測串列。

在本發明之一實施例中，上述之第一感測墊、第二感測墊與第二橋接線為單層透明導電層所構成，而第二橋接線為另一導電層所構成。

在本發明之一實施例中，上述之第一感測墊、第二感測墊與第一橋接線為同一導電層所構成，而第二橋接線為另一導電層所構成。

在本發明之一實施例中，上述之每一訊號偵測區塊實質上呈塊狀，且每一訊號偵測區塊之邊緣與對應之感測墊的邊緣實質上對齊。

在本發明之一實施例中，上述之每一訊號偵測區塊實質上呈條狀，訊號偵測區塊彼此平行且沿著第三方向延伸，其中第三方向不同於第一方向與第二方向，且每一訊號偵測區塊之邊緣與對應之感測墊的邊緣實質上對齊。

在本發明之一實施例中，上述之每一訊號偵測區塊包括多個訊號偵測墊，每一訊號偵測墊對應感測墊的其中之一，每一訊號偵測墊具有一開口，開口的尺寸實質上等於每一感測墊的尺寸，且訊號偵測墊實質上與感測墊之間的間隙重疊。

在本發明之一實施例中，上述之每一訊號偵測區塊包括多個訊號偵測墊，每一訊號偵測墊對應感測墊的其中之一，每一訊號偵測墊為整面式，且每一訊號偵測墊的尺寸實質上等於每一感測墊的尺寸。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板更包括一控制器，電性連接訊號偵測線，訊號偵測區塊將所偵測之因觸碰而造成的電場變化輸出至控制器，以將判斷觸碰事件的有無。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板更包括一介電層，位於感測陣列層與訊號偵測層之間。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板更包括一顯示面板，基板位於顯示面板上，以使得訊號偵測層位於顯 示面板與感測陣列層之間。

本發明另提出一種觸控面板的多點觸碰偵測方法，其適於偵測上述之觸控面板。此觸控面板的多點觸碰偵測方法包括下列步驟。依據感測陣列層上之感測墊的電容值變化，以定位觸碰位置。訊號偵測層之訊號偵測區塊依據因觸碰而造成之對應的電場變化，以判斷碰觸事件的有無。比對感測陣列層所定位之觸碰位置與訊號偵測層的判斷。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板的多點觸碰偵測方法更包括依據比對結果將錯誤感測位置遮蔽。

在本發明之一實施例中，上述之觸控面板的多點觸碰偵測方法更包括依據比對結果將真實感測位置取出。

本發明另提出一種觸控顯示裝置，觸控顯示裝置包括觸控面板以及顯示面板。其中觸控面板包括一基板、一感測陣列層以及一訊號偵測層。感測陣列層配置於基板上，感測陣列層具有陣列排列的多個感測墊，感測墊包括多個沿著第一方向延伸的第一感測墊以及多個沿著第二方向延伸的第二感測墊，其中第一方向與第二方向相交。訊號偵測層位於感測陣列層與基板之間，訊號偵測層具有多個彼此獨立的訊號偵測區塊，每一訊號偵測區塊對應多個感測墊，並偵測因觸碰而造成的電場變化。顯示面板相對於觸控面板而設置，其中訊號偵測層位於顯示面板與感測陣列層之間。

基於上述，本發明之觸控面板及其多點觸碰偵測方法以及觸控顯示裝置藉由具有訊號偵測區塊的訊號偵測層來進一步偵測因觸碰而造成的電場變化，以判斷出真正的觸 控位置。藉此，可消除觸控面板多指碰觸時所產生的錯誤感測點，以正確計算真正的碰觸位置，提升定位精確度。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

本發明提出一種觸控面板及其多點觸控的偵測方法，其主要是在觸控面板的感測陣列層上配置一訊號偵測層，並將訊號偵測層區分為多個訊號偵測區塊，利用每一訊號偵測區塊上來偵測因觸碰而造成的電場變化，經由比對訊號偵測層所偵測的訊號以及感測陣列層上所感測之觸控點，以判斷出真正觸控點的位置，如此一來，可大幅地提升觸控面板的判斷精度，避免出現錯誤感測點的問題。以下將列舉些許實施例搭配圖式詳細說明本發明之觸控面板及其多點觸控的偵測方法。

圖2A與圖2B分別為本發明之一實施例中的一種觸控面板的立體示意圖以及剖面示意圖。請參照圖2A與圖2B，觸控面板200包括一基板210、一感測陣列層220以及一訊號偵測層230。其中，感測陣列層220配置於基板210上，感測陣列層220具有陣列排列的多個感測墊222，以達成面的感測。感測墊222包括多個沿著第一方向D1延伸的第一感測墊222A以及多個沿著第二方向D2延伸的第二感測墊222B，其中第一方向D1與第二方向D2相交，在本實施例中，第一方向D1例如是行方向，而第二方向 D2例如是列方向，第一方向D1與第二方向D2在本實施例中為正交，當然，第一方向D1與第二方向D2之間的夾角亦可以不為90度，端視產品需求而定。特別的是，在感測陣列層220與基板210之間增設訊號偵測層230，其中訊號偵測層230具有多個彼此獨立的訊號偵測區塊232，每一訊號偵測區塊232對應感測陣列層220中的多個感測墊222，並感應因觸碰而造成的電場變化。以下將針對觸控面板200的相關構件進行說明。

具體而言，感測陣列層220更包括多個第一橋接線224A，每一第一橋接線224A串接兩相鄰的第一感測墊222A，以構成一沿著行方向延伸的第一感測串列226A。另一方面，感測陣列層220更包括多個第二橋接線224B，每一第二橋接線224B串接兩相鄰的第二感測墊222B，以構成一沿著列延伸的第二感測串列226B。並且，如圖2A之放大圖所示，第一橋接線224A與第二橋接線224B相互交錯，且在本實施例中，第一感測墊222A、第二感測墊222B以及第二橋接線224B是由單層透明導電層所構成，而第一橋接線224A則是利用另一導電層來跨越第二橋接線224B，並且由於第一橋接線224A與第二橋接線224B之間設置一絕緣層(未繪示)，因此即使第一橋接線224A與第二橋接線224B相互交錯，亦可使第一感測串列226A與第二感測串列226B彼此電性絕緣。當然，熟知此技術領域的人員亦可以將第一感測墊222A、第二感測墊222B、第一橋接線224A以及第二橋接線224B的構成膜層稍作變 化，例如第一感測墊222A、第二感測墊222B以及第一橋接線224A亦可以由單層透明導電層所構成，而第二橋接線224B則是利用另一導電層來跨越第一橋接線224A，或者是，以有別第一感測墊222A與第二感測墊222B的二不同導電層來分別形成第一橋接線224A與第二橋接線224B，值得一提的是，第一感測墊222A與第二感測墊222B可同為一種導電材質或不同導電材質。本發明並不限定第一感測墊222A、第二感測墊222B、第一橋接線224A以及第二橋接線224B的相對位置與構成。如此一來，第一感測墊222A與第二感測墊222B即可構成一面的感測陣列，且第一感測墊222A與第二感測墊222B為共平面，因而構成感測陣列層220，藉以將使用者的觸碰位置所產生的電容改變傳遞至控制器上。

請繼續參照圖2A與圖2B，觸控面板200更包括多個訊號偵測線240以及控制器250，其中每一訊號偵測線240分別電性連接每一訊號偵測區塊232，且控制器250電性連接訊號偵測線240。值得一提的是，為清楚說明，圖中僅示意性地標示出每一訊號偵測線240分別與每一訊號偵測區塊232的相對電性連接關係，訊號偵測線240實際的拉線位置可視需求而隱藏於各訊號偵測區塊232之中或適當位置，而不限定訊號偵測線240必須同圖2A中所示的佈局型態。此外，在本實施例中，可於感測陣列層220與訊號偵測層230之間設置一介電層280，以使得感測陣列層220與訊號偵測層230之間彼此為電性絕緣。在實際的 運作機制上，當使用者觸碰感測陣列層220而使觸碰處的感測墊222產生電容變化量時，訊號偵測層230中對應真正觸碰處的訊號偵測區塊232可以感應到觸碰處所造成的電場變化。接著，感測陣列層220與訊號偵測層230分別將此電場變化的訊號以及感測訊號傳遞至控制器250，控制器250經由比對訊號偵測層230所輸出的電場變化訊號以及感測陣列層220所輸出的感測訊號之後，以將判斷觸碰事件的有無。

舉例來說，圖2C為本發明圖2A之上視圖，其中為清楚說明，一併於圖2C中標示出訊號偵測區塊劃分型態。請參照圖2C，當使用者同時觸碰位置A以及位置B時，訊號偵測層230中對應真正觸碰處的訊號偵測區塊232可以感應到觸碰位置A以及位置B處所產生的電場變化，因此，即使感測陣列層220所感測出的觸碰位置可能有位置A、位置B以及位置A’與位置B’，訊號偵測層230所偵測到的電場變化訊號(如訊號偵測區塊232a與訊號偵測區塊232b)可以作為感測陣列層220之感測訊號的二次確認(double check)，如此一來，由於位置A’以及位置B’並未被碰觸，因此位置A’以及位置B’下方的訊號偵測層230並不會感應到電場變化。質言之，訊號偵測層230所偵測到的訊號可以輔助判斷真正觸控點的位置，進而解決習知觸控面板200在多點觸控時所產生錯誤感測點(Ghost point)的問題。

當然，在實際的應用層面中，觸控面板通常可搭配一 顯示面板而構成一觸控顯示裝置。圖2D為本發明一實施例之一種觸控顯示裝置的剖面示意圖。請參照圖2D，觸控面板200的基板210係位於顯示面板260上而構成一觸控顯示裝置300，其中訊號偵測層230位於顯示面板260與感測陣列層220之間。在一些特殊的應用層面上，顯示面板260可以進一步與觸控面板200電性連接，換言之，在本實施例之觸控顯示裝置300中，顯示面板260可依據觸控面板200中觸控點的定位位置來進行顯示，因此，將本實施例之觸控面板200與顯示面板260一同搭配而構成觸控顯示裝置300時，由於本實施例之觸控顯示裝置300中的觸控面板200可以解決習知觸控面板100在多點觸控時所產生錯誤感測點(Ghost point)的問題，因此顯示面板260可以正確地顯示使用者所欲操作的畫面，避免誤動作的情形發生。

為清楚說明本發明之觸控面板，下文再將以圖2A所繪示之觸控面板200為例，詳細說明訊號偵測層230的構成型態。

圖3為圖2A之觸控面板中的訊號偵測層的上視示意圖。請參照圖2A與圖3，本實施例中，每一訊號偵測區塊232實質上呈塊狀，每一訊號偵測區塊232之邊緣與對應之感測墊222的邊緣實質上對齊。詳言之，請同時參照圖2A與圖3，在本實施例中，係將感測陣列層220劃分為多個感測墊群組222G，且每一感測墊群組222G是由聚集在一起的感測墊222所構成，對應每一感測墊群組222G下 方的訊號偵測層230則被規劃成一訊號偵測區塊232。每一訊號偵測區塊232包括多個訊號偵測墊270，且每一訊號偵測墊270大致上對應感測墊222的其中之一。舉例而言，圖2A與圖3中所繪示之訊號偵測區塊232a的範圍是對應於感測墊群組222Ga中的範圍，訊號偵測區塊232a實質上呈塊狀，且訊號偵測區塊232a邊緣大致上與感測墊群組222Ga中最外圍之感測墊222的形狀相同。

更進一步而言，請繼續參照圖2A與圖3，在本實施例中，每一訊號偵測墊270具有一開口H，開口H的尺寸實質上等於每一感測墊222的尺寸，且訊號偵測墊270實質上與感測墊222之間的間隙重疊。如圖2A與圖3所示，每一訊號偵測墊270之開口H的對角線長例如為D，而每一感測墊222之的對角線長例如為d，在本實施例中D實質上等於d。換言之，每一訊號偵測墊270的尺寸實質上略大於每一感測墊222，以使得訊號偵測墊270的開口H恰好暴露出其所對應的感測墊222，換言之，感測墊222是對應地設置於開口H的正上方，以使得在基板210的投影上，而感測墊222恰與開口H的區域重合。如此一來，訊號偵測墊270的形狀在基板210的投影方向上係對應位置於相鄰感測墊222之間的間隙處，因此可以補償光線穿透感測陣列層220與訊號偵測層230時產生色差的問題，有助於繪示於圖2A之電容式觸控面板200提供較佳的視覺效果。此外，由於訊號偵測墊270具在基板210的投影上具有部分鏤空區域，因此可以進一步改善觸控面板200 的整體透光度。

此外，圖3的作動方式如前述，不再贅述。

並且，以下將針對本發明之訊號偵測層列舉幾種變化型態進行說明。

圖4為本發明之一實施例中一種訊號偵測層的上視示意圖。請參照圖4，本實施例之訊號偵測層330與圖3所示之訊號偵測層230類似，其形狀同樣是實質上呈塊狀。惟，在本實施例中，每一訊號偵測墊270為整面式並無鏤空區域，且在本實施例中，每一訊號偵測墊270的尺寸實質上等於每一感測墊222的尺寸。當本實施例之訊號偵測層330與其他顯示面板260搭配而構成如圖2D之堆疊結構的觸控顯示裝置300時，整面式的訊號偵測墊270所構成的整面式訊號偵測層330可以作為訊號屏蔽層，有助於屏蔽來自於顯示面板260(繪示於圖2D)上的訊號對於觸控面板200的干擾，因此可以增加觸控面板200的靈敏度。

值得一提的是，設計者可依據基板使用空間、控制器之控制接腳數量、判斷精細度、產品規格等需求來設計訊號偵測層330上之訊號偵測區塊232的劃分數量及形狀。本發明並不用以限定訊號偵測層330上之訊號偵測區塊232的形狀與數量，當然，本領域的技術人員在參照該些實施方式之後，可在不脫離本發明的精神範圍內調整相關的元件形狀設計以及配置，以符合實際狀況與需求。

以下在介紹本發明之一實施例的幾種訊號偵測層的設計型態。

圖5為本發明之一實施例中一種訊號偵測層的上視示意圖。請參照圖5，在本實施例之訊號偵測層430中，每一訊號偵測區塊232實質上呈條狀。詳言之，訊號偵測區塊232彼此平行且沿著第三方向D3延伸，其中第三方向D3不同於第一方向D1與第二方向D2，在本實施例中，第三方向D3例如為沿著第一象限與第三象限的方向排列。每一訊號偵測區塊232之邊緣與繪示於圖2A中之感測陣列層220上的感測墊222的邊緣實質上對齊。請參照圖2與圖5，換言之，在本實施例中，感測陣列層220依據條狀訊號偵測區塊232的被劃分為多個沿著第三方向D3延伸的感測墊群組222G，在本實施例中，感測墊群組222G呈條狀。

更詳細而言，同前述，請同時參照圖2與圖5，在本實施例中，每一訊號偵測墊270具有一開口H，開口H的尺寸D實質上等於每一感測墊222的尺寸d，且訊號偵測墊270實質上與感測墊222之間的間隙重疊。換言之，每一訊號偵測墊270的尺寸實質上略大於每一感測墊222，以使得訊號偵測墊270的開口H恰好暴露出其所對應的感測墊222，換言之，感測墊222是對應地設置於開口H的正上方，以使得在基板210的投影上，而感測墊222恰與開口H的區域重合。如此一來，訊號偵測墊270在基板210的投影上係對應位置於相鄰感測墊222之間的間隙處，因此可以補償光線穿透感測陣列層220與訊號偵測層430時產生色差的問題，有助於電容式觸控面板200提供較佳的 視覺效果。此外，由於訊號偵測墊270具在基板的投影上具有部分鏤空區域，因此可以進一步改善觸控面板200的整體透光度。

圖6為本發明之一實施例中一種訊號偵測層的上視示意圖。請參照圖6，本實施例之訊號偵測層530與圖5所示之訊號偵測層430類似，其形狀同樣是實質上呈條狀。惟，在本實施例中，每一訊號偵測墊270為整面式並無鏤空區域，且在本實施例中，每一訊號偵測墊270的尺寸實質上等於每一感測墊222的尺寸。請參照圖6與圖2A，當本實施例之訊號偵測層530與其他顯示面板260(繪示於圖2D)搭配時，整面式的訊號偵測墊270可以作為訊號屏蔽層，有助於屏蔽來自於顯示面板260上的訊號對於觸控面板200的干擾，因此可以增加觸控面板200的靈敏度。

以下將以圖2A所示之觸控面板200為例，在此更提出一種觸控面板200的多點觸碰偵測方法，請同時參照圖2A與圖7，下文將一併說明。

圖7為本發明之幾種觸控面板的多點觸碰偵測方法的流程示意圖。請參照圖7，其中步驟S1為以感測陣列層定位觸碰位置，而步驟S2為以訊號偵測層之訊號偵測區塊判斷碰觸事件的有無，步驟S1與步驟S2為獨立事件，在執行上，可先執行步驟S1後再執行步驟S2，或可先執行步驟S2後再執行步驟S1，或者，步驟S1與步驟S2可同步執行。具體而言，在程序開始S0後，先執行步驟S1，依據感測陣列層220上之感測墊222的電容值變化，以定 位觸碰位置。接著，執行步驟S2，訊號偵測層230之訊號偵測區塊232依據因觸碰而造成的電場變化，以判斷碰觸事件的有無。之後，執行步驟S3，比對感測陣列層220所定位之觸碰位置與訊號偵測層230的判斷。更具體來說，觸控面板200的多點觸碰偵測方法還可以進一步包括執行步驟S4A，依據比對結果將錯誤感測位置遮蔽。或者，觸控面板200的多點觸碰偵測方法還可以進一步包括執行步驟S4B，依據比對結果將真實感測位置取出。值得一提的是，上述的步驟S1與步驟S2的執行順序亦可以對調。

當然，觸控面板200的多點觸碰偵測方法也可以如圖7左方流程圖所示。其與圖7右方流程圖類似，惟，上述的步驟S1與步驟S2亦可以同步執行，換言之，感測陣列層與訊號偵測層之訊號亦可以同步輸出至控制器250上，本發明並不限定步驟S1、與步驟S2的執行順序。

綜上所述，本發明之觸控面板及其多點觸碰偵測方法以及觸控顯示裝置藉由具有訊號偵測區塊的訊號偵測層來進一步感應因觸碰而造成的電場變化，以判斷出真正的觸控位置。藉此，可消除觸控面板多指碰觸時所產生的錯誤感測點，以正確計算真正的碰觸位置，提升定位精確度。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100、200‧‧‧觸控面板

120、226A‧‧‧第一感測串列

124、224A‧‧‧第一橋接線

140、226B‧‧‧第二感測串列

142、222B‧‧‧第二感測墊

144、224B‧‧‧第二橋接線

210‧‧‧基板

220‧‧‧感測陣列層

222‧‧‧感測墊

222A‧‧‧第一感測墊

222B‧‧‧第二感測墊

222G、222Ga‧‧‧感測墊群組

230、330、430、530‧‧‧訊號偵測層

232、232a、232b‧‧‧訊號偵測區塊

240‧‧‧訊號偵測線

250‧‧‧控制器

260‧‧‧顯示面板

270‧‧‧訊號偵測墊

300‧‧‧觸控顯示裝置

D1‧‧‧第一方向

D2‧‧‧第二方向

D3‧‧‧第三方向

H‧‧‧開口

S1、S2、S3、S4A、S4B‧‧‧執行步驟

圖1繪示習知之一種觸控面板。

圖2A與圖2B分別為本發明之一實施例中的一種觸控面板的立體示意圖以及剖面示意圖。

圖2C為圖2A之觸控面板的上視圖。

圖2D為本發明一實施例之一種觸控顯示裝置的剖面示意圖。

圖3為圖2A之觸控面板中的訊號偵測層的上視示意圖。

圖4為本發明之一實施例中一種訊號偵測層的上視示意圖。

圖5為本發明之一實施例中一種訊號偵測層的上視示意圖。

圖6為本發明之一實施例中一種訊號偵測層的上視示意圖。

圖7分別為本發明之一種觸控面板的多點觸碰偵測方法的流程示意圖。

200‧‧‧觸控面板

210‧‧‧基板

220‧‧‧感測陣列層

222‧‧‧感測墊

222A‧‧‧第一感測墊

222B‧‧‧第二感測墊

224A‧‧‧第一橋接線

224B‧‧‧第二橋接線

226A‧‧‧第一感測串列

226B‧‧‧第二感測串列

222G、222Ga‧‧‧感測墊群組

230‧‧‧訊號偵測層

232、232a‧‧‧訊號偵測區塊

240‧‧‧訊號偵測線

250‧‧‧控制器

270‧‧‧訊號偵測墊

D1‧‧‧第一方向

D2‧‧‧第二方向

H‧‧‧開口

Claims (16)

1. 一種觸控面板，包括：一基板；一感測陣列層，配置於該基板上，該感測陣列層具有陣列排列的多個感測墊，該些感測墊包括：彼此電性連接的多個第一感測墊，沿著第一方向排列；彼此電性連接的多個第二感測墊，沿著第二方向排列，其中該第一方向與該第二方向相交，且該些第二感測墊與該些第一感測墊彼此電性絕緣：以及一訊號偵測層，位於該感測陣列層與該基板之間，該訊號偵測層具有多個彼此獨立的訊號偵測區塊，每一訊號偵測區塊對應多個感測墊，並偵測因觸碰而造成的電場變化。
2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，更包括多個訊號偵測線，其中每一訊號偵測線分別電性連接每一訊號偵測區塊。
3. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該感測陣列層更包括：多個第一橋接線，每一第一橋接線串接兩相鄰的第一感測墊，以構成一第一感測串列；以及多個第二橋接線，每一第二橋接線串接兩相鄰的第二感測墊，以構成一第二感測串列。
4. 如申請專利範圍第3項所述之觸控面板，其中該些 第一感測墊、該些第二感測墊與該些第二橋接線為同一導電層所構成，而該些第一橋接線為另一導電層所構成。
5. 如申請專利範圍第3項所述之觸控面板，其中該些第一感測墊、該些第二感測墊與該些第一橋接線為同一導電層所構成，而該些第二橋接線為另一導電層所構成。
6. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該每一訊號偵測區塊實質上呈塊狀，且每一訊號偵測區塊之邊緣與對應之該些感測墊的邊緣實質上對齊。
7. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該每一訊號偵測區塊實質上呈條狀，該些訊號偵測區塊彼此平行且沿著第三方向延伸，其中第三方向不同於第一方向與第二方向，且每一訊號偵測區塊之邊緣與對應之該些感測墊的邊緣實質上對齊。
8. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該每一訊號偵測區塊包括多個訊號偵測墊，每一訊號偵測墊對應該些感測墊的其中之一，每一訊號偵測墊具有一開口，該開口的尺寸實質上等於每一感測墊的尺寸，且該些訊號偵測墊實質上與該些感測墊之間的間隙重疊。
9. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，其中該每一訊號偵測區塊包括多個訊號偵測墊，每一訊號偵測墊對應該些感測墊的其中之一，每一訊號偵測墊為整面式，且每一訊號偵測墊的尺寸實質上等於每一感測墊的尺寸。
10. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，更包括一控制器，電性連接該些訊號偵測線，該些訊號偵測區塊 將所偵測之因觸碰而造成的電場變化輸出至該控制器，以將判斷觸碰事件的有無。
11. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，更包括一介電層，位於該感測陣列層與該訊號偵測層之間。
12. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，更包括一顯示面板，該基板位於該顯示面板上，以使得該訊號偵測層位於該顯示面板與該感測陣列層之間。
13. 一種觸控面板的多點觸碰偵測方法，其適於偵測如申請專利範圍第1項所述之觸控面板，包括：依據該感測陣列層上之該些感測墊的電容值變化，以定位觸碰位置；該訊號偵測層之該些訊號偵測區塊依據因觸碰而造成的電場變化，以判斷碰觸事件的有無；以及比對該感測陣列層所定位之觸碰位置與該訊號偵測層的判斷。
14. 如申請專利範圍第13項所述之觸控面板的多點觸碰偵測方法，更包括依據比對結果將錯誤感測位置遮蔽。
15. 如申請專利範圍第13項所述之觸控面板的多點觸碰偵測方法，更包括依據比對結果將真實感測位置取出。
16. 一種觸控顯示裝置，包括：一觸控面板，包括：一基板；一感測陣列層，配置於該基板上，該感測陣列層具有陣列排列的多個感測墊，該些感測墊包括： 彼此電性連接的多個第一感測墊，沿著第一方向延伸；彼此電性連接的多個第二感測墊，沿著第二方向延伸，其中該第一方向與該第二方向相交，且該些第二感測墊與該些第一感測墊彼此電性絕緣；以及一訊號偵測層，位於該感測陣列層與該基板之間，該訊號偵測層具有多個彼此獨立的訊號偵測區塊，每一訊號偵測區塊對應多個感測墊，並偵測因觸碰而造成的電場變化；以及一顯示面板，相對於該觸控面板而設置，其中該訊號偵測層位於該顯示面板與該感測陣列層之間。