TARIFNAME BIR SIVI NUMUNEDE BIR ANALITIN TESPIT EDILMESINE YÖNELIK TESPIT APARATI TEKNIK ALAN Mevcut bulus bir sivi numunede analitin tespit edilmesine yönelik bir aparat ve buna yönelik bir yöntem ile ilgilidir. ÖNCEKI TEKNIK Asagidaki önceki teknik bilgileri, okuyucularin önceki teknikten ziyade mevcut bulusu daha iyi anlamasina yardimci olmak için saglanmistir. Günümüzde yasa disi madde bagimliligi yayginlasan ve gittikçe kötülesen bir sosyal sorun haline gelmistir. 2003 yilinda, ABD Saglik ve Sosyal Hizmetler Bakanligi tarafindan yürütülen bir anket sonucunda, yaklasik 19.5 milyon Amerikan vatandasinin veya 12 yasini geçmis kisilerin %8.2,sinin yasadisi maddeler aldigi ortaya çikmistir. Bakanligi anketi yapmadan bir ay önce yasadisi madde kullanimini ifade etmektedir. Esrarin %6,2 (14.6 milyon) ile en yaygin kullanilan yasadisi madde oldugu tespit 1 milyon kisi halüsinoj en kullanmaktadir ve 1 19.000 kisinin ise eroin kullandigi tahmin edilmektedir. Bu sosyal sorunu takip edip madde bagimliligina karsi savasmak için, örnegin ise alim, egitim, spor ve kolluk kuvvetleri vb. gibi çesitli sektörlerde uyusturucu testleri standart bir test prosedürü haline gelmistir. Bu çabanin yayginlastirilmasi için uyusturucu testi endüstrisi kurulmustur. Bu endüstri çok çesitli uyusturucu testi ürünü saglamistir. Numune analizi için idrar numunesi toplama kaplari klasik bir test ürünüdür. Bu araçlar kullanicilar için karmasik, zor veya kirli olabilmektedir veya yakin zamanda yasadisi madde kullanimi gizlenmek istendiginde numunenin manipüle edilmesi problemine yol açabilmektedir. Buna ek olarak idrar numuneleri örnegin yol kenari veya halka açik yerlerde bazi durumlarda toplanmayabilmektedir. Birçok diger numune toplama ve test araci, toplama aracindan numunelerin çikarilmasinda yetersiz kalmakta, örnegin numunenin sizmasi yüzünden çevresel kirlenme veya test sonuçlarinin toplanan numunenin az veya çok olmasindan etkilenmesi veya tespitinin bir dizi islem adimi sebepli karmasik hale gelmesi gibi birçok problemi beraberinde getirmektedir. Bu araçlarin bir çogunun tasarimi ve imalati karmasik olup, pahali malzemeler gerektirmektedir. Dolayisiyla numunelerin daha iyi yöntemler ve aparatlar ile toplanmasi ve test edilmesi gerekmektedir. KISA AÇIKLAMA Önceki teknikte mevcut olan sorunlarin çözülmesi için, mevcut bulus, bir sivi numunede analitin tespit edilmesine yönelik bir tespit aparati ve buna yönelik bir tespit yöntemi saglamaktadir. Bu aparat ve tespit yöntemi sayesinde isleme yöntemini daha iyi bir performansla gerçeklestirmek ve daha güvenilir test sonuçlari elde etmek üzere bir dizi sorunun önüne geçilmektedir. Mevcut bulusun bir amaci, test elemanini destekleyen bir taban katmani içeren bir tespit aparatinin saglanmasidir, burada taban katmani bir test elemanini barindirmak için bir oluk ve bir sivi numunenin toplanmasi için bir numune haznesi içermektedir. Bazi tercih edilen modlarda, bir test elemani olukta saglanmaktadir ve test elemaninin bir numune uygulama alaninin bir kismi bir numune haznesinde bulunmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, aparat ilaveten test elemanini barindirmak üzere kullanilabilen kismen sizdirmaz hale getirilmis bir kanal olusturmak üzere taban katmani üzerindeki olugu kaplayan bir kaplama katmani içermektedir; opsiyonel olarak kaplama katmani olugu sizdirmaz hale getirecek sekilde kaplamaktadir. Opsiyonel olarak kanal bir test elemani ihtiva etmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, sizdirmaz kanallarin bir kismi, akiskan numuneyi toplamak üzere bir numune haznesi olusturmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, numune haznesi olukta bulunan bir açiklik içermektedir, opsiyonel olarak olugun bir kismi açikligi olusturacak sekilde sizdirmaz hale getirilmemistir ve açiklik numune haznesi açikligini olusturmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, taban katmani düz bir yapidadir, üzerinde test elemanlarini barindirmak üzere bir dizi oluk saglanmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, taban katmani sert bir taban katmanidir ve kaplama katmani esnek bir kaplama katmanidir. Opsiyonel olarak taban katmani belirli bir kalinliga sahiptir ve kaplama katmaninin kalinligi taban katmaninin kalinligindan daha Bazi tercih edilen modlarda, taban katmani seffaftir, kaplama katmani ise opaktir, ve açiklik seffaf bir taban katmani üzerinde bulunmaktadir; opsiyonel olarak taban katmani opaktir ve kaplama katmani ise seffaftir, ve açiklik kaplama katmani üzerinde bulunmaktadir; veya yukaridaki araçlarin her ikisinde de bir karsilik gelen açiklik hem taban katmani hem de kaplama katmani üzerinde numune haznesinin açikligi olarak olusturulmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, test elemani bir test alani ve bir numune uygulama alani içermektedir, burada test alani numune uygulama alaninin mansap tarafindadir. Bazi tercih edilen modlarda taban katmani, kart olugunun kismen sizdirmaz bir kanal olusturmasini saglayacak sekilde esnek bir kaplama katmani ile kaplanmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, açiklik taban katmani üzerinde bulunmaktadir ve bu açiklik akiskan numunesinin numune haznesi içine akmasina izin vermek için kullanilmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, açiklik kaplama katmani üzerinde bulunmaktadir ve akiskan numunesinin numune haznesi içine akmasina izin vermek için kullanilmaktadir. Numune haznesine giren akiskan numune, test elemani üzerindeki numune uygulama alaninin bir kismi ile temas etmektedir, böylelikle akiskan numunenin test alanindan test alanina akmasina izin vermekte, böylelikle numunede analitin tespit edilmesini tamamlamaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, test elemaninin numune uygulama alaninin bir kismi numune haznesinde bulunmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda sizdirmazlik elemani, sivi sizdirmazlik veya gaz sizdirmazlik elemanidir. Bazi tercih edilen modlarda, bir test elemanini barindiran bir kart olugunda, kart olugunun akiskan numunenin numune haznesine akmasina yönelik açiklik haricinde kalan bölümü, bir kaplama katmani ile kaplanmakta ve bir kanal olusturacak sekilde sizdirmaz hale getirilmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, taban katmani tek sefer kaliplama, özellikle tek sefer enjeksiyonla kaliplama araciligiyla olusturulan sert bir yapidir. Kaplama katmani bir ucunda bir açiklik ve bir ucunda bir sizdirmaz kanal olusturmak üzere kart olugunu sizdirmaz hale getirmek için taban katmani üzerinde kaplanabilen esnek veya sert bir malzemedir ve test seridinin bir bölümü kanalda bulunmaktadir. Tercihen test seridinin etiketli alani ve tespit alani sizdirmaz kanalda bulunmaktadir, burada açiklik sert bir taban katmani üzerindedir. Bazi tercih edilen modlarda, açiklik, kart olugunu olusturan ve numune uygulama alaninin bir bölümüne karsilik gelen taban katmani üzerinde olusturulmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akisi azaltan, sinirlandiran veya ortadan kaldiran bir yapi kart olugu üzerinde, özellikle de kart olugunun alt yüzeyi veya kart olugunun yan duvari üzerinde bulunmaktadir, böylelikle sivi, test seridi ile kart olugu arasinda olusan bosluk boyunca akmak yerine büyük ölçüde test elemani üzerine akmaktadir. Bu bahsedilen bosluk kapiler bosluktur. Söz konusu "azaltma" sivinin bir kisminin kapiler bosluktan akmamasini saglamak, söz konusu "sinirlandirma" sivinin kapiler bosluktan minimum seviyede akmasini saglamak, ve söz konusu "ortadan kaldirma" sivinin kapiler bosluktan hiç akmamasini saglamak, örnegin bunu %100 oraninda, %5 oraninda, %90 oraninda, %89 oraninda durdurmak anlamina gelmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, sivinin bir kisminin test seridi ile yan duvar araciligiyla olusturulmus kapiler bosluk boyunca akmasini engellemek için kart olugunun yan duvari üzerine bir çikintili geçme yapisi dahil edilmektedir. Örnegin, kapiler akisin azaltilmasi, sinirlandirilmasi veya ortadan kaldirilmasi için kart olugunun alt kismi veya yan duvari üzerindeki yapilar, örnegin bu geçme yapilari kapiler akisi engelleyebilmektedir ve ek olarak test seridi ile kart olugunun yan duvari arasindaki boslugun, kapiler akisin boyutundan daha fazla olmasini saglayabilmekte, böylelikle sivinin kapiler akisinin test seridi ve kart olugunun yan duvari boyunca akip sizdirmaz kart olugu kanali içine girmesini ve bir "tasma" fenomeninin ortaya çikmasini engellemektedir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akisi azaltan bir yapi, bir test elemaninin bir etiketli alaninin memba tarafinda veya test elemaninin mansap tarafinda veya bir numune haznesinin memba tarafinda bulunmaktadir; tercihen kapiler akisi azaltan bir yapi, bir test elemaninin bir etiketli alaninin memba tarafinda bulunmaktadir veya kapiler akisi azaltan bir yapi, bir test elemaninin bir etiketli alanina karsilik gelecek sekilde ayarlanmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akis, bir test seridi ile bir kart akis arasinda olusturulan kapiler alandir veya bir test seridi ile bir kart olugunun alt kismi arasinda olusturulan kapiler bosluktur. Elbette ki bu geçmeli yapilar test seridinin sabitlenmesi islevi görmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, kart olugu bir basinç bosaltma yapisi veya bir tahliye yapisi içermektedir, siVi test seridinin kapiler akisi ile bir sizdirmaZ kait oluk kanalina girdiginde siZdirmaZ kart olugu kanalindaki basinç aitmaktadir. Basinç kanaldaki bir yapi vasitasiyla bosaltilmadiginda, kapiler akis artik devam edememektedir ve test seridi çalismamakta ve bir "çalismama" fenomeni olusmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, basinç bosaltma veya tahliyesine yönelik yapi bir oluk yapisidir. Tercih edilen bir modda, oluk bir "/[`" veya bir ok sekli olusturmaktadir. Tercihen oluk üst ucunun yönü, test elemani üzerindeki numunenin akis yönü ile tutarlidir. Bazi tercih edilen modlarda, basinç bosaltma veya tahliyesine yönelik oluk yapisi, test elemaninin etiketli alanin memba tarafinda veya numune haznesinin memba veya test alaninin mansap tarafinda bulunmaktadir; tercihen basinç bosaltma veya tahliyesine yönelik oluk yapisi, test elemaninin etiketli alaninin memba tarafinda bulunmaktadir veya basinç bosaltma veya tahliyesine yönelik oluk yapisi, test elemaninin etiketli alanina karsilik gelecek sekilde düzenlenmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, basinç bosaltma veya tahliyesine yönelik yapi, kait olugunun alt kisminda bulunmaktadir, burada yapinin bir ucu kait olugunun iç kismi ile iletisim kurmaktadir ve diger uç gaZi gidermeyi kolaylastirmak için dis kismi ile iletisim kurmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, oluk yapisinin bir ucu kait olugunun iç kismi ile iletisim kurmaktadir ve diger uç gaZi gidermeyi kolaylastirmak için dis kismi ile (örnegin bir açiklik vasitasiyla iletisim kurmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, basinç bosaltma veya tahliyesine yönelik yapi, kart olugunun alt kisminda bulunmaktadir, burada yapinin bir ucu kart olugunun iç kismi ile iletisim kurmaktadir ve diger uç gaZi gidermeyi kolaylastirmak için açiklik ile iletisim kurmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, numune haznesi, bir test elemaninin bir numune uygulama alanini destekleyen bir destek yapisi içermektedir, böylelikle bir test seridinin tüm alanlari bir düZlemde bulunmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, numune uygulama alaninin desteklenmesine yönelik destek yapisi numune haznesinde bulunmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, numune haznesi bir alt kismi, kaplama katmaninin bir bölümü ve taban katmaninin bir bölümünden olusmaktadir veya bunlar tarafindan olusturulmaktadir. Opsiyonel olarak numune haznesi bir alt kismi, bir açiklik, bir kaplama katmaninin bir bölümünü ve bir olugun bir bölümünü içermektedir. Bazi tercih edilen modlarda, numune haznesi girintili yan duvarlara sahiptir. Bazi tercih edilen modlarda, bir test elemani olukta saglanmaktadir ve test elemaninin bir numune uygulama alaninin bir kismi bir numune haznesinde bulunmaktadir. Tercihen, aparat ilaveten kismen sizdirmaz hale getirilmis birinci sizdirmaz kanal ve bir ikinci sizdirmaz kanal olusturmak üzere taban katmani üzerindeki olugu kaplayan bir kaplama katmani içermektedir, birinci ve ikinci sizdirmaz kanallar test elemaninin bir kismini barindirmaktadir ve ikinci sizdirmaz kanal numune haznesini olusturmaktadir. Tercihen taban katmani bir arka taraf ve bir ön taraf içermektedir, oluk taban katmaninin arka tarafi veya ön tarafi üzerinde bulunmaktadir, ve bir kaplama elemani taban katmaninin ön tarafini veya arka tarafini kaplamaktadir. Tercihen tespit aparati ilaveten sivinin açikliktan numune haznesi içine girmesine izin vermek için numune haznesi ile iletisim halinde bulunan bir açiklik içermektedir. Bazi tercih edilen modlarda, numune haznesi bir veya daha fazla sivi kanali içermektedir. Sivi kanallari, test seridinin numune uygulama alani ile iletisim halindedir. Tercihen sivi kanali bir açikligin memba tarafina yerlestirilmektedir. Tercihen sivi kanal bir toplama haznesi üzerine yerlestirilmektedir. Tercihen sivi kanali bir toplama haznesinin alt kismina yerlestirilmektedir. Tercihen sivi kanali test seridinin bir bölümünü görünür hale getirmektedir. Tercihen sivi kanali test seridinin bir uç bölümünü görünür hale getirmektedir. Tercihen sivi kanalinin boyutu, numune haznesinde depolanmis sivi numunenin yüzey gerilimi sebebiyle sivi kanali araciligiyla numune haznesinden disari akmasini engellemektedir. Tercihen sivi kanalinin boyutu, numune haznesindeki sivi numune, test seridi kanalin bir bölümünü isgal ettiginde yüzey gerilimi yüzünden test seridi tarafindan isgal edilmemis sivi kanali vasitasiyla numune haznesinden disari akacak sekilde ayarlanmaktadir. Mevcut bulus, bir sivi numunede analitin tespit edilmesine yönelik bir yöntem saglamaktadir, yöntem sunlari içermektedir: önceki yapilandirmalardan herhangi birine göre bir aparatin saglanmasi, bir numune haznesinin bir ucunun sivi numune içine batirilmasi ve bir süre tutulmasi, ardindan çikarilmasi ve test elemani üzerinde test sonuçlarinin okunmasi. Alternatif olarak, mevcut bulus bir sivi numunede analitin tespit edilmesine yönelik bir yöntem saglamaktadir, yöntem sunlari içermektedir: önceki yapilandirmalardan herhangi birine göre bir aparatin saglanmasi, tüm tespit aparatinin sivi numune içine batirilmasi ve bir süre tutulmasi, ardindan çikarilmasi ve test elemani üzerinde sonuçlarin okunmasi. Bazi tercih edilen modlarda "bir süre tutulmasi" ifadesi 1 saniye ila 1 saat arasini ifade edebilmektedir. Tercihen 1 saniye, 3 saniye, 5 saniye, 20 saniye, 30 saniye, 40 saniye, dakika, 1 saat tutulmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, batirma kismen veya tamamen batirma seklindedir. Bazi modlar tespit aparatinin herhangi bir sekilde veya herhangi bir süre boyunca serbest bir sekilde sivi numune içine sokulmasi, yerlestirilmesi veya batirilmasini içermektedir. Burada "herhangi bir süre" 1 saniye ile 1 saat arasinda olabilir, örnegin 1 saniye, 3 SEKILLERIN KISA AÇIKLAMASI SEKIL l mevcut bulusa göre bir tespit aparatinin bir sematik yapisal diyagramini göstermektedir, burada SEKIL 1A bir taban katmani üzerinde bir kart olugunun bir sematik diyagramini göstermektedir, burada sol taraftaki birlesik bir tespit aparatinin bir sematik diyagramiyken, ortadaki bir kart olugunu barindiran bir taban katmaninin bir yapisal diyagramidir, ve sag taraftaki bir kaplama katmaninin bir yapisal diyagramidir. SEKIL lB özel bir yapilandirmada bir test elemaninin sematik bir yapisal diyagramidir. SEKIL lC özel bir yapilandirmada bir kart olugunda bulunan bir test elemaninin bir üstten görünümünün sematik bir yapisal diyagramidir. SEKIL 2 mevcut bulusun bir yapilandirmasina göre bir test elemaninin üç boyutlu yapisal bir diyagramidir. SEKIL 3 mevcut bulusun bir yapilandirmasina göre bir taban katmaninin (arka yüzeyinin) bir sematik yapisal görünümüdür. SEKIL 4 SEKIL 3,teki taban katmaninin bir kisminin büyütülmüs üç boyutlu yapisal bir diyagramidir. SEKIL 5 bir yapilandirmaya göre bir taban katmani yapisinin bir kart olugunun bir kismi yapisinin büyütülmüs bir sematik görünümüdür. SEKIL 6 bir yapilandirmaya göre (numune haznesi konumu) bir taban katmani yapisinin (fiziksel ürün) bir kart olugunun büyütülmüs bir kismi sematik diyagramidir. SEKIL 7 arka tarafin kaplanmasinin ardindan (kaplama katmani arka taraftir) bir taban katmaninin üç boyutlu bir yapisal diyagramidir. SEKIL 8 mevcut bulusun bir yapilandirmasina göre bir taban katmaninin arkasinin kaplanmasinin ardindan bir kaplama katmaninin enine kesitsel yapisal bir diyagramidir. SEKIL 9 bir taban katmaninin ön kisminin bir fiziksel yapisal görünümüdür. SEKIL 10 bir taban katmani üzerine yerlestirilen bir test elemaninin üç boyutlu yapisal bir görünümüdür. SEKIL ll mevcut bulusun bir yapilandirmasina göre bir kaplamanin izole bir yapisinin bir sematik diyagramidir. SEKIL llA bir kaplama gövdesinin üç boyutlu yapisal bir görünümüdür; SEKIL llB bir iç yapinin bir sematik diyagramidir. Sekil 11C bir kaplama gövdesinin bir enine kesit yapisal diyagramidir. SEKIL 12 mevcut bulusun bir yapilandirmasina göre bir taban katmaninin (bir kart olugu içerip bir test seridi içermemektedir) bir üç boyutlu yapisal görünümüdür. SEKIL 13 SEKIL 12,de gösterilen bir taban katmaninin bir önden görünümüdür. SEKIL 14 SEKIL 12,de gösterilen bir taban katmaninin bir üç boyutlu görünümüdür, burada, kart olugu içinde bir test seridi saglanmaktadir ve bir kaplama katmani test seridini kaplamaktadir. SEKIL 15 SEKIL 14 ,te gösterilen tespit aparatinin bir taban katmaninin bir sematik önden görünümüdür (kart olugu içinde test). SEKIL 16 SEKIL 15,te gösterildigi üzere tespit aparatinin kullaniminin sematik bir görünümüdür. SEKIL 17A Elli? :Fb Eâmm/EJZIXSIÜEIIIEP !391111 îîîgêâEÜIM-îââlîü &WWE 0 VE] 17B %?âlêßûâfzêbûâîßéâmâg VE] 0 VE] 17C EMU îîîîü1$4î$lglzlîûüîlzlîââm %_ên VE] 0 AYRINTILI AÇIKLAMA Mevcut bulustaki yapilar veya kullanilan teknik terimler asagida daha ayrintili açiklanmaktadir. Bu açiklamalar bu bulusun yöntemlerinin örnekler araciligiyla nasil elde edilecegini göstermektedir ve mevcut bulusun koruma kapsamini sinirlandirma amaci tasimamaktadir. Tespit Tespit kimyasal maddeler, organik bilesikler, inorganik bilesikler, metabolik ürünler, ilaçlar veya ilaç metabolitleri, organik dokular veya organik dokularin metabolitleri, nükleik asitler, proteinler veya polimerler dahil ancak bunlarla sinirli olmamak üzere bir maddenin veya malzemenin mevcut olup olmadigini tahlil etmek veya test etmek anlamina gelmektedir. Ek olarak tespit bir madde veya malzemenin miktarini test etme anlamina gelmektedir. Ayrica tahlil ayni zamanda bagisiklik tespit, kimyasal tespit, enzim tespit vb. anlamina da gelmektedir. Mansap ve memba tarafi Mansap ve memba tarafi, sivinin akis yönüne göre bölünmektedir ve genellikle akis memba tarafindan mansap tarafina dogru akmaktadir. Mansap tarafi siviyi memba tarafindan almaktadir ve ayrica sivi mansap tarafindan memba tarafi boyunca akabilmektedir. Burada genellikle bu bölgeleri sivinin akis yönüne göre bölmekteyiz. Örnegin sivinin akmasini desteklemek üzere kapiler kuvvet kullanan bazi malzemelerde, sivi yer çekimi yönünün tersine akabilmektedir, bu noktada memba ve mansap taraflar halen sivinin akis yönüne göre bölünmektedir. Gaz akisi veya sivi akisi Gazi akisi veya sivi akisi sivinin veya gazin bir yerden digerine akabildigi anlamina gelmektedir. Akis prosesi bir kilavuzlama rolü oynayacak sekilde bazi fiziksel yapilardan geçebilmektedir. "Bazi fiziksel yapilardan geçme" ifadesi burada bu fiziksel yapilarin yüzeyinden veya bunlarin iç alanindan geçerek baska bir yere pasif veya aktif sekilde akmak anlamina gelmektedir, burada pasiflik genellikle örnegin kapiler eylemin akisi gibi harici kuvvetler nedeniyle gerçeklesmektedir. Akis burada gaz veya sivinin kendi etkisiyle (yerçekimi veya basinç) akisi veya pasif akis anlamina gelebilmektedir. Test elemani Çesitli test elemanlari mevcut bulus için bir araya getirilebilmekte ve uygulanabilmektedir. Test elemani fiziksel kosullari gösteren ilaçlar veya ilgili metabolitler gibi numunelerdeki analiti tespit etmek için bagisiklik tahlili veya kimyasal test gibi çesitli sekillerde analiz edilebilen bir test seridi içermektedir. Test elemani Sekil lC ve Sekil 2,de gösterildigi gibi bir test seridi oldugunda su emici veya su emici olmayan malzemelerden üretilebilmektedir. Bir test seridi siViyi iletmek için çesitli malzemeler kullanabilmektedir ve bir malzeme baska bir malzemenin üzerine konulabilmektedir. Örnegin, nitroselüloz üzerine bir filtre kagidi konulabilmektedir. Ya da test seridinde, en az bir malzeme içeren bir bölge, en az farkli bir malzeme içeren diger bölgenin arkasinda bulunmaktadir. Bu tür bir durumda siVi bölgeler arasinda dolasmakta ve bu bölgeler birbiri üzerine konulabilmekte veya konulmamasi seçilebilmektedir. Test seridi üzerindeki malzemeler, test seridinin sürdürülebilir gücünü artirmak için örnegin plastik bir astar tutucuya 27 veya sert bir yüzeye sabitlenebilmektedir. Su emici bir malzemeden olusan test seridi, kapiler eylem nedeniyle test seridi üzerinde akabilmektedir. Farkli alanlardaki malzemeler ayni veya farkli olabilmektedir ve ayni veya farkli malzemelerden olusan bu alanlar arasinda siVi akisi korunmaktadir, bu sekilde numune çözeltisi test seridi boyunca akabilmektedir. Bazi tespit edilen nesnelerin bir sinyal üretme sistemi araciligiyla tespit edildigi bazi yapilandirmalarda (örnegin en az bir enzim özellikle tespit edilen nesneye tepki vermektedir), sinyal üreten en az bir madde, yukarida açiklandigi üzere özellikle test seridinin malzemeleri üzerinde emildigi gibi, test seridinin analit tespit alani üzerinde de emilebilmektedir. Buna ek olarak test seridinin numune ekleme alaninda, reaktif alaninda ve analit tespit alaninda veya tüm test seridi boyunca sinyal üreten maddeler, test seridinin bir veya daha fazla malzemesi üzerinde önceden ön isleme tabi tutulabilmektedir, bu durum uygulama alaninin yüzeyine sinyal üreten maddelerin çözeltisinin eklenmesi veya test seridinin bir veya daha fazla malzemesinin sinyal çözeltisine batirilmasi ve ardindan test seridinin kurutulmasi araciligiyla elde edilebilmektedir. Dahasi yukaridaki yöntem, test seridinin numune ekleme alaninda, reaktif alaninda ve analit tespit alaninda veya tüm test seridi boyunca sinyal üreten maddeleri test seridinin bir veya daha fazla malzemesi üzerinde önceden ön isleme tabi tutmak için kullanabilmektedir. Ayrica, test seridinin numune ekleme alaninda, reaktif alaninda ve tespit alaninda bulunan sinyal maddesi, etiketleme reaktifi olarak test seridi malzemelerinin bir veya daha fazla yüzeyine eklenebilmektedir. Test seridinin 20 alanlari su sekilde düzenlenebilir: eksiksiz ve gerekli bir test seridi, bir numune uygulama alani 23 ve bir test alani 22 içerebilmektedir. Genel olarak, siVi önce numune ekleme alanina temas etmekte ve ardindan kapiler eylem altinda test alanina 22 akmaktadir. Kesin olarak test seridi ayrica gereksinimlere göre su alanlari içerebilmektedir: bir numune ekleme alani veya uygulama alani 23, veya en az bir reaktif alani ve bir test sonucu alani 24 veya en az bir kontrol alani 25 veya en az bir manipülasyon tespit alani ve bir siVi emme alani 21 içeren bir test alani 22. Tespit alaninin bir kontrol alani içermesi durumunda, tercih edilen kontrol alani test sonucu alaninin analit tespit alaninin arkasinda bulunmaktadir. Tüm bu alanlar veya bunlarin kombinasyonlari, bir malzeme içeren tek bir test seridi üzerinde olabilmektedir. Ayrica, bu alanlar farkli malzemelerden üretilmektedir ve siVinin iletim yönüne göre birbirine baglanmaktadir. Örnegin, siVi farkli alanlar arasinda dogrudan veya dolayli olarak iletilebilmektedir. Bu yapilandirmada, farkli alanlar uçtan uca baglanabilmektedir veya siVi iletim yönü boyunca karsilikli olarak üst üste konulabilmektedir veya baglanti ortami malzemeleri (filtre kagidi, cam elyaf veya nitroselüloz gibi su emici malzemeler tercih edilmektedir) gibi diger malzemeler araciligiyla baglanabilmektedir. Baglanti malzemelerinin kullanilmasi sayesinde; siVi, her bir alani uçtan uca baglayan malzemeler, her bir alani uçtan uca baglayan ancak siVinin akmadigi malzemeler veya her bir alanin karsilikli olarak (uçtan uca üst üste gelme dahil ancak bununla sinirli olmamak üzere) üst üste geldigi ancak siVinin akmadigi malzemeler üzerinde akabilmektedir. Mevcut bulusun belirli bir yapilandirmasinda, test elemanlari veya test seritlerinin herhangi bir formu, taban katmaninin 104, 30 bir kart oluguna veya oluguna 100 veya taban katmani üzerindeki kart olugunun kaplama elemani tarafindan kaplanmasiyla olusan kanala yerlestirilebilmektedir. Olusturulan kanal yalnizca test seridini barindirmayi amaçlamaktadir ve akiskan numunelerinin iletilmesinde kullanilmasi veya dahil edilmesi amaçlanmamistir. Bu nedenle, test edilecek akiskan numunelerinin test seridinin kendi kapiler eylemi sayesinde test seridi üzerinde akmasi beklenmektedir. Bununla birlikte, maliyet ve farkli analitlerin test edilmesi göz önünde bulunduruldugunda, genellikle çok sayida kart olugunun her birine bir test seridi yerlestirilmektedir. Örnegin, 10 farkli analiti test etmek için 10 test seridi kullanilabilmektedir. Olusturulan kart oluklari kart olugunun analit ile fiziksel temasi oldugundan test seridindeki test sonuçlarini etkilemektedir. Bu tür bir fiziksel temas, test seridindeki siVinin performansini etkileyecek, dolayisiyla testin dogrulugunu ve verimliligini de etkileyecektir. Test seridinin tespit aparatinda nasil düzenlenecegine ve yukaridaki teknik sorunlarin üstesinden nasil etkili bir sekilde gelinebilecegine dair ayrintili açiklamalar asagida bulus dahilinde saglanmistir. Numuneler Bulusa göre saglanan tespit aparati, biyolojik sivilar (örnegin sivi veya klinik numuneler) dahil olmak üzere numuneleri tespit etmek için kullanilabilmektedir. Sivi numune veya akiskan numune, diski, biyolojik dokular ve gida numuneleri dahil olmak üzere kati veya yari kati numunelerden gelebilmektedir ve bu kati veya yari kati numuneler, enzimoliz ile kati numunelerin uygun bir çözelti (su, fosfat çözeltisi veya diger tampon çözeltiler gibi) içinde karistirilmasi, ezilmesi, islatarak yumusatilmasi, inkübasyonu, çözündürülmesi veya sindirilmesi gibi herhangi bir uygun yöntem kullanilarak sivi numunelere dönüstürülebilmektedir. "Biyolojik numuneler" hayvanlardan, bitkilerden ve gidalardan alinan idrar, tükürük, kan ve bunlarin bilesenleri, omurilik sivilari, vajinal salgi, sperm, diski, ter, salgi, dokular, organlar, tümörler, doku ve organ kültürleri, hücre kültürleri ve insan veya hayvanlardan alinan besiyerleri gibi numuneleri içermektedir. Tercih edilen biyolojik numune idrardir; gida numuneleri islenmis gida maddelerini, nihai ürünleri, et, peynir, likör, süt ve içme suyunu içermektedir; ve bitki numuneleri herhangi bir bitkiden, bitki dokularindan, bitki hücre kesitlerinden ve besiyerlerinden alinan numuneleri içermektedir. "Çevresel numuneler" çevreden gelmektedir (örnegin sivi numuneler göl veya diger su kaynaklari, kanalizasyon numuneleri, toprak numuneleri, yer alti suyu, deniz suyu ve pis su numuneleri) ve ayrica atik su veya diger kanalizasyon sularini içerebilmektedir. Mevcut bulus ve uygun bir test elemani kullanilarak herhangi bir analit tespit edilmektedir. Tercihen, mevcut bulus tükürük ve idrardaki ilaç mikro moleküllerini tespit etmek için kullanilmaktadir. Analit Mevcut bulusa iliskin analitin kullanilabilecegi örnekler arasinda ilaçlar (madde bagimliligi gibi) dahil olmak üzere bazi hapten maddeleri yer almaktadir. "Madde bagimliligi" (DOA) fiziksel ve zihinsel zararlara yol açacak ve ilaç kullanan kisilerin ilaca muhtaç olmasina, uyusturucu bagimlisi olmasina ve/veya ölmesine yol açacak sekilde tibbi olmayan amaçlarla (genellikle sinirleri felç etmek için) ilaç kullanmak anlamina gelmektedir. Madde bagimliligina örnek olarak kokain, amfetamin AMP (örnegin Black Beauty, beyaz amfetamin tabletleri, dekstroamfetamin, dekstroamfetamin tabletleri, Beans), metilamfetamin MET (crank, met, kristal, speed), barbitürat BAR (örnegin Valium, Roche Pharmaceuticals, Nutley, NeW Jersey), yatistiricilar (örnegin uyku ilaçlari), liserj ik asit dietilamid (LSD), inhibitörler (downer, goofball, barb, blue devil, yellow jacket, metakualon), trisiklik antidepresanlar (TCA, baska bir ifadeyle imipramin, amitriptilin ve doksepin), metilen dioksimetam-fetamin MDMA, fensiklidin (PCP), tetrahidrokanabinol (THC, ot, doping, has, marihuana vb.), opiatlar (baska bir ifadeyle morfin MOP veya afyon, kokain COC, eroin, OXY), anti- anksiyete ilaçlari ve sedatif hipnotikler, anti-anksiyete ilaçlari esas olarak anksiyeteyi, gerginligi, korkuyu gidermek ve duygulari stabilize etmek için kullanilan, hipnoz ve yatistirma islevine sahip ilaçlardir, bunlara BZO (benzodiazepinler), atipik BZ, kaynasmis dinitroj en NB23C, benzodiazepinler, BZ reseptörlerinin ligandi, açik döngü BZ, difenilmetan türevleri, piperazin karboksilat, piperidin karboksilat, kinazolinonlar, tiyazinler ve tiyazol türevleri, diger heterosiklik, imidazol sedatifler/agri kesiciler (örnegin OXY, MTD), propandiol türevleri-karbamatlar, alifatik bilesikler, antrasen türevleri vb. dahildir. Mevcut bulusa göre saglanan tespit aparati trisiklik antidepresanlar (imipramin veya analoglari) ve asetaminofen gibi tibbi amaçla asiri dozda alinmasi kolay ilaçlari tespit etmek için de kullanilabilmektedir. Bu ilaçlar insan vücudu tarafindan emildikten sonra farkli mikro moleküler maddelere ayrisacak ve bu mikro moleküler maddeler kanda, idrarda, tükürükte, terde ve diger vücut sivilarinda veya vücut sivilarinin bazilarinda bulunacaktir. Tespit aparati Mevcut bulusa göre saglanan tespit aparati, herhangi bir teknik prensip, yani kalitatif ve kantitatif tespit kullanilarak bir numunedeki (örnegin sivi numune) bir analitin mevcut olup olmadigini veya miktarini tespit etmek için kullanilabilmektedir. Tespit aparati, numunedeki analitin mevcut olup olmadigini veya miktarini tespit eden bir test elemani ve ayrica test elemanini barindiran bir cihaz içermektedir. Mevcut bulusa göre tespit aparati bir taban katmani içermektedir ve taban katmani bir test elemanini barindirmak üzere bir oluk ve olugu kaplamak ve sizdirmaz hale getirmek için kullanilan bir kaplama elemani içermektedir. Bu sekilde, kaplama elemani, numunelerin test edilmesini gerçeklestirmek için oluktaki test elemanini kaplayabilmekte veya sizdirmaz hale getirebilmektedir. Tercihen, tespit aparati ayrica, test elemaninin numune uygulama alaninin bir kisminin numune haznesinde bulundugu bir numune haznesi içermektedir. Tercihen, numune haznesi kismi bir oluk ve bir kaplama katmanindan olusmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, taban katmani sivi numunenin numune haznesine girmesini saglayan bir açikliga sahiptir. Bazi tercih edilen modlarda, kaplama katmani sivi numunenin numune haznesine girmesini saglayan bir açikliga sahiptir. Mevcut bulusa göre tespit aparati, bir numunedeki analitin tespit edilmesini tamamlamak için diger cihazlar ile de bir araya getirilebilmektedir. Bu tür cihazlar bir tespit sonucu okuma cihazi, tespit sonuçlarini okumak, sonuç verilerini depolamak veya verileri iletmek için bir tarama cihazi vb. olabilmektedir. Elbette ki mevut bulusa göre tespit aparati, ayrica bazi konteynerlere örnegin akiskan numunenin toplanmasina yönelik birden çok hazne ihtiva eden bir kaba yerlestirilebilmektedir. Mevcut bulusa göre tespit aparati bir kabin bir haznesine yerlestirilmektedir. Kap bir akiskan numuneyi topladiktan sonra akiskan numune tahlili tamamlamak için tespit aparati üzerindeki test seridi ile temas kuracaktir. Taban katmani. kaplama elemani. test elemani Mevcut bulusa göre tespit aparati bir taban katmani içermektedir ve taban katmani bir veya daha fazla kart olugu içermektedir. Örnegin Sekil 1A,daki orta diyagramda Sekil 1 kart oluguna (oluklarina) sahip bir tespit aparati göstermektedir. Taban katmani 104 bir kart olugu 100 içermektedir. Taban katmani 104 belirli bir kalinliga sahiptir ve taban katmaninda belirli bir derinlige sahip bir oluk ( kart olugu, açiklik kanali olarak da bilinmektedir) açilabilmektedir. Kart olugunun 100 genisligi, test elemaninin barindirilmasina yönelik genislige esdegerdir veya test seridinin genisliginden daha büyüktür, örnegin test seridi 20 için kart olugu derinligi test seridinin kalinligina esdegerdir veya bundan daha büyüktür. Genel olarak, maliyetten tasarruf etmek ve tespit aparatini küçültmek için, kart olugunun genisligi test seridinin genisliginden biraz daha büyüktür, kart olugunun derinligi test seridinin kalinligindan biraz daha büyüktür ve bazi durumlarda kart olugunun genisligi test seridinin genisligine esit veya bundan biraz daha azdir, kart olugunun derinligi ise test seridinin kalinligindan biraz daha az veya buna esittir. Kart olugunun taban katmani üzerinde bulunmasindan (Sekil 1A'daki orta diyagram) kaynakli olarak, yalnizca taban katmaninin bir kaplama katmani 101 tarafindan kaplanmasi tüm kart olugunu sizdirmaz hale getirebilmekte ve kart olugu sizdirmaz bir kanal olusturmaktadir, bu sekilde olusturulan kanal test elemanini barindirabilmektedir (Sekil 1A, daki sag diyagram), veya örnegin, sizdirmaz bir kanal, bir test elemaninin bir tespit alanini ve etiketli bir alanini barindirabilmektedir. Elbette, opsiyonel olarak, sizdirmaz bir kanal bir su emme alanini, bir etiketli alani ve bir test sonucu alanini ve bir test elemaninin bir test sonucu kontrol alanini barindirabilmektedir (Sekil 1C). Genel olarak, öncelikle bir kart olugu içeren bir taban katmani saglanmaktadir. Taban katmaninin bir tarafinda, test seridine esit uzunlukta bir kart olugu açilmaktadir ve kart olugu tamamen görünür hale gelmektedir ve ardindan test seridi 20 kart oluguna yerlestirilmektedir ve test seridinin arka tarafi asagiya dogru (destek yapisina 27 sahip olan taraf) ve ön tarafi yukariya dogru (tespit alaninin veya filtre kagidinin görülebildigi taraf) hareket etmektedir. Bir birinci kaplama alani 810 ve bir ikinci kaplama alani 102 ve birinci alan ile ikinci alan arasinda bir açiklik 103 içeren bir kaplama elemani 101 saglanmaktadir. Nihai olarak, kaplama elemani taban katmanini kaplamaktadir, böylelikle birinci kaplama alani 810 test elemaninin test alanini ve ikinci kaplama alani numune uygulama alaninin bir kismini kaplamaktadir ve açikligin 103 numune uygulama alaninin bir kismini görünür kilmasina olanak tanimaktadir. Örnegin, aslinda kaplama elemaninin 101 bir kismi olan Sekil 1A'daki konumda 102, kaplama elemaninin 810 bir kismi kart olugunu kapatmakta olup, test seridi elemaninin bir kismini barindirmak için bir ucunda sizdirmaz bir kanal olusturmaktadir. Kaplama elemani 101 üzerindeki açiklik103 test elemaninin numune emme alaninin 23 bir kismini görünür kilmak üzere kullanilmaktadir. Böylece, kart olugunun bir ucu, taban katmani üzerindeki kart olugunun bir bölümü ve kaplama elemaninin ikinci kaplama alani 102 araciligiyla bir numune haznesi olusturmaktadir. Numune haznesi numunelerin toplanmasi için kullanilmaktadir. Numune haznesinin yüksekligi, kaplama elemaninin 102 bir bölümünün uzunluguna baglidir. Hacim kart olugunun derinligine ve kaplama elemaninin 102 yüksekligine baglidir. Dolayisiyla numunenin hacmi istendigi gibi ayarlanabilmekte ve kaplama elemaninin 102 yüksekligi ve kart olugunun derinligi ile degistirilmektedir. Genel olarak test seridinin boyutunun ve kart olugunun boyutunun belirlenmesinin ardindan, numune haznesinin hacmi de belirlenmektedir ve böylelikle numune hacminin sabitlenmesinde bir rol oynamaktadir. Buna ek olarak kaplama elemaninin birinci kaplama alani 810 ve kart olugunun bir kismi bir sizdirmaz kanal olusturmaktadir, böylelikle test sonucu alani ve test elemaninin etiketli alani sizdirmaz kanalda bulunmaktadir. Kaplama elemani açikligina 103 bagli olarak, tüm sizdirmaz kart olugunun iki sizdirmaz kanala bölündügü, kaplama elemanlarinin 810 bir kismi tarafindan kaplanan kart oluklari tarafindan olusturulan sizdirmaz kanalin (bir uçta sizdirmaz, diger uçta sizdirmaz olmayan birinci sizdirmaz kanal), test seridi elemanlarinin bir kismini, örnegin test sonucu alani ve test elemaninin etiketli alanini barindirmak için kullanildigi, ve sizdirmaz kanala birinci sizdirmaz kanal adi verildigi; ve diger sizdirmaz kanalin (kaplama elemani 102 tarafindan kismen kaplanan kart olugu tarafindan olusturulan sizdirmaz kanal) numune haznesini olusturdugu söylenebilmektedir. Iki sizdirmaz kanal ortak bir açiklik 103 araciligiyla disariyla iletisim kurarken, açiklik 103 akiskan numunenin numune haznesine girmesine olanak tanimak için kullanilmaktadir. Bu durum, hizli ve kolay test için akiskan numunelerinin toplanmasini ve daha serbest bir sekilde test yapilmasini kolaylastirmaktadir. Test, çok fazla uzmanlik bilgi ve becerisi gerektirmeden tamamlanabilmekte, böylece testi kolay ve kullanici dostu hale getirmektedir. SEKIL 1B bir test elemaninin belirli bir biçimini göstermektedir. Bir test seridi 20, bir numune uygulama alani 23 ve bir test alani 22 içermektedir. Mümkün oldugu takdirde, test seridi ayrica bir etiketli alan 26 ve bir numune emme alani 21 içerebilmektedir, örnegin, test alani 22 bir nitroselüloz membran ve numune uygulama alani bir cam elyaftir. Test alani bir test sonucu alani 24 ve bir test sonucu kontrol alani 25 içerebilmektedir. Etiketli alan 26, numune uygulama alaninin 23 mansap tarafinda ve tespit alani 22 etiketli alanin mansap tarafindadir. Tespit alani bir test sonucu alani 24 ve bir test sonucu kontrol alani içermektedir. Numune emme alani, test sonucu kontrol alaninin mansap tarafindadir. Mevcut bulusa göre tespit aparatinin monte edilmesi durumunda, öncelikle taban katmani 104 üzerinde bir kart olugu 100 olusturulmaktadir. Kart olugu tek seferlik enj eksiyonla kaliplama ile olusturulabilmektedir, daha sonra test seridi 20 kart oluguna 100 yerlestirilmektedir, böylece test seridinin siVi emme alaninin 21 bir ucu kart olugunun üst kisminda bulunmaktadir ve numune uygulama alani 23 kaplama elemani açikliginin yakininda, açikligin 103 konumuna karsilik gelmektedir. Nihai olarak, taban katmani bir kaplama elemani 101 ile kaplanmaktadir ve kaplama elemani üzerinde bir açiklik 103 açilmaktadir, böylelikle test elemaninin numune uygulama alaninin 23 bir kismi açiklik 103 boyunca disaridan görünür hale gelmektedir. Buna ek olarak, numune uygulama alanindaki 23 test elemaninin uç kismi numune haznesinin içindedir (Sekil 1A, da sol taraftaki entegre bir test cihazidir 10, orta tarafta bir kart olugunu barindiran bir taban katmani görülmektedir ve sag taraftaki ise bir kaplama elemanidir). Tam bir test cihazinin üstten görünümü Sekil 1C'de gösterilmektedir, burada kismi test elemaninin numune uygulama alaninin yalnizca bir kismi disaridan görünmektedir ve numune uygulama alaninin bir kismi numune haznesindedir. Burada, taban katmani seffaf veya seffaf olmayan bir yapida olabilirken, kaplama katmani kismen seffaf olabilmektedir. Örnegin test elemanina karsilik gelen test sonucu alani ve/Veya test sonucu kontrol alani tespit alaninin sonucunu okumak için seffafken, diger kisimlar seffaf olmayabilmektedir. Test gerektiginde, test cihazi (Sekil 1A,daki sol diyagramda veya Sekil 1C,deki diyagramda gösterilmistir) siVi numune içine, örnegin idrar içine sokulmaktadir ve siVi numune açiklik 103 araciligiyla kart olugundaki numune haznesine girmektedir. Yerlestirme derinligi, numune haznesini olusturan kaplama elemaninin 102 tamamini veya kaplama elemaninin 102 bir bölümünün üzerindeki herhangi bir yüksekligi ve hatta test cihazinin tamamini siVi numunenin içine daldirabilmektedir. Bu durum siVinin açikliktan 103 numune haznesine kolayca girmesini saglamaktadir. Sivi numuneye yerlestirildiginde, test cihazi hemen çikarilabilmekte veya bir süre sonra çikarilip yatay olarak yerlestirilebilmektedir. Test cihazi siVi numunenin içinde de birakilabilmektedir, bu sekilde siVi numune, numune haznesine girerken siVi numune uygulama alanina temas etmektedir ve siVi numune uygulama alanindan 23 test seridi boyunca etiketli alana 26 akmakta ve daha sonra mansap tarafindan test alanina akmaktadir, son olarak emme alani 21 tarafindan emilmektedir (SEKIL 1C,de ok ile gösterilmistir). Numunelerin de numune haznesinde toplanmasi veya tutulmasi sayesinde, bunlar test seridinin emilmesi ve testin tamamlanmasi için yeterlidir, böylece önceki teknikteki siVi eksikliginin dezavantaj larinin üstesinden gelinmis olur. Yetersiz numuneler testin tamamlanamamasina neden olabilmektedir; siVi yetersizse test elemani üzerinde akamamaktadir, örnegin sadece test sonucu alaninin 24 memba tarafinda akarken sürekli akamamaktadir veya test sonucu alanina 24 dogru akarken çok az siVi olmasi nedeniyle alani islatamamaktadir. Mevcut bulusa göre cihaz, testi yapan kisilerin veya operatörlerin kullanmasini kolay, rahat ve serbest hale getirmektedir. Örnegin, tüm test cihazi, siVinin etiketli alan ve tespit alani dahil olmak üzere sizdirmaz kanala girmesine olanak tanimayan bir siVi numuneye de daldirilabilmektedir (burada birinci sizdirmaz kanal olarak adlandirilmaktadir, bir ucu sizdirmazdir ve diger ucu kaplama elemani üzerindeki açiklik 103 boyunca sizdirmaz degildir). Bu uçtaki kanalin sizdirmaz olmasindan ve diger ucun açikliktan 103 akan sivi tarafindan sizdirmaz hale getirilecek olmasindan kaynakli olarak, gazin bir kismi kanal içinde sizdirmaz hale getirilmektedir. Bu sekilde, sivi test seridi üzerindeki kapilarite etkisine bagli olarak neredeyse tamamen test seridi boyunca memba tarafindan mansap tarafina dogru, kanala ek sivi girmeden akabilmektedir, bu sayede birinci sizdirmaz kanala çok fazla test sivisinin girmesi önlenmekte ve dolayisiyla test sonucunun yanlis olmasina neden olabilecek "tasma" adi verilen fenomen ortaya çikmaktadir. Bu durum test etmeyi kolay ve uygun bir hale getirmektedir, böylelikle bir operatör (örnegin bir doktor veya laboratuvar denetmeni) tespit aparatini dogrudan sivi numune içine atabilmekte ve reaksiyon tamamlanana veya test sonucu hazir olana kadar beklemekte ve test sonuçlarini okumak üzere tespit aparatini çikarabilmektedir. Buna ek olarak, yeterli numune elde etmek için geleneksel benzer bir tespit aparatinin yeterli bir süre boyunca sivi numunenin içine yerlestirilmesi gerekmektedir. Mevcut bulusta, kart olugunun bir ucunda ve test seridinin numune emme alanina yakin ucunda, siviya yerlestirilebilen ve hizlica çikarilabilen bir numune haznesi bulunmaktadir. Yeterli olan numunenin, numune haznesine girmesi sayesinde test verimliligi daha iyi hale getirilmektedir; özellikle sinirli bir süre içinde çok sayida numunenin tespit edilmesi gerektiginde, bu aparat önemli avantajlara sahiptir. Mevcut bulusa göre tespit aparati, ortadaki açiklik vasitasiyla disari ile iletisim halinde olan iki adet sizdirmaz kanala sahiptir. Daha uzun sizdirmaz kanal test seridinin etiketli alanini, test alanini ve test sonucu kontrol alanini ve hatta numune emme alanini barindirirken, daha kisa sizdirmaz kanal numune uygulama alaninin bir kismini barindirmaktadir ve açiklik numune uygulama alaninin bir kismini görünür hale getirmektedir, numune uygulama alaninin bir ucunun idrar gibi sivi bir numuneye daldirilmasi durumunda numune daldirma sirasinda açilarak ayirma için daha kisa olan (numune haznesi olusturan) ikinci sizdirmaz kanala girdiginden yalnizca birkaç saniye yeterlidir, bu sayede sivi numunenin daha sonra çikarilmasinin ardindan sivi numune saglamaya devam edebilmektedir. Sivi numune, sivi numuneye daldirildigi anda test seridinin kapiler akis açikligina dayanarak test seridinin memba tarafindan mansap tarafina dogru dogru akmaktadir, hizli bir sekilde çikarildigindaysa numune haznesinde sakli olan sivi, testi tamamlamak için sivi akisini saglamaya devam edebilmektedir. Böylece çalisma verimliligi önemli ölçüde daha iyi hale getirilmektedir. Bulusa benzer geleneksel kart tipi tespit aparatinda ise test seridinin numune uygulama alanini sivi numuneye daldirmak daha fazla zaman alacagindan numune haznesi bulunmamaktadir, dolayisiyla test verimliligi yüksek degildir. Diger bazi modlarda, kaplama elemaninin 810 bir kismi kart olugunun bir kismini kapladigindan, test elemaninin kart oluguna yerlestirilmesi durumunda, kart olugunun bir kismi (kart olugunun 810 numarali eleman tarafindan kaplanan kismi) bir uçtan sizdirmaz hale getirilmektedir; tespit aparati sivi numunenin içine yerlestirildiginde ise, numune kismi kaplama elemani 810 tarafindan kaplanan kart olugu tarafindan olusturulan kanala girmemektedir. Kanalin bir ucunun sizdirmaz hale getirilmis olmasi nedeniyle, içeri giren sivi, kart olugunun kanalindaki gazin bir kismini sizdirmaz hale getirmektedir, böylelikle tespit aparati sivi numuneye ne kadar uzun süre ve sivi içinde ne kadar derine sokulursa sokulsun, sivi test alanini ve etiketli alani su altinda birakmayacak ve böylece test dogrulugu saglanacaktir. Daha çok tercih edilen bir modda, test elemani üzerindeki etiketli alan ve test alani, kaplama elemaninin 810 bir bölümü tarafindan kaplanmakta ve sizdirmaz hale getirilmektedir. Daha tercihen, açiklik 103 etiketli alanin altinda bulunmaktadir ve numune uygulama alaninin 23 bir kismini muhafaza etmektedir. Daha tercihen, numune uygulama alaninin bir kismi numune haznesindedir (Sekil lC). Geleneksel kart tipi tespit aparatlarinin aksine, bu sekilde olusturulan tespit aparati, operatörün sivi numuneye temas etmek için yeterli zamani olup olmadigindan endise ederek kart tipi tespit aparatinin sivi seviyesine dogru sekilde yerlestirilip yerlestirilmedigini veya aparatin sivi içinde sürekli dikey olarak kalip kalmadigini olarak kontrol etmesini gerekli olmaktan çikarmaktadir. Mevcut bulusa göre kart tipi tespit aparati da sivi numunenin içine istenildigi zaman yerlestirilebilmektedir. Mevcut bulusa göre tüm tespit aparatinin sivi numuneye tamamen daldirilmasi durumunda dahi, sivi tespit fonksiyonlarina sahip reaktif alana giremeyeceginden test sonucu etkilenmeyecektir. Numune uygulama alaninin lokasyonunda yeterli sivi numunenin saglanmasiyla, test için gerekli sivi miktarini garanti edebilmektedir. Bu durum asagida özel yapilandirmalar araciligiyla daha ayrintili açiklanacaktir. Yukaridaki açiklama mevcut bulusa göre aparatin örnek olarak tek bir test seridi kullanilarak nasil uygulanacagini göstermektedir. Elbette ki taban katmani birden çok benzer kart olugu içerebilmektedir. Kaplama elemani, çok sayida açiklik olusturmak üzere birden fazla kart olugu yapisini kaplayabilmektedir ve sizdirmaz hale getirebilmektedir. Her bir açiklik bir numune haznesine karsilik gelmektedir ve her bir numune haznesi nispeten bagimsizdir, böylelikle ayni sivi numunede farkli analitler tespit edilebilmektedir. Mevcut bulusa göre taban katmani plastik, alüminyum alasimi, vb. gibi sert bir yapida olabilmektedir. Kaplama katmani esnek veya sert olabilmektedir. Opsiyonel olarak, taban katmani ve kaplama katmaninin her ikisi de serttir ve taban katmani ve kaplama katmani birbirine baglidir; veya taban katmani esnektir ve kaplama katmani ise serttir. Bazi tercih edilen modlarda, taban katmani genellikle bir kalinliga sahiptir ve üzerinde olusturulan oluk, olugu kaplamak ve sizdirmaz hale getirmek üzere ince bir film tabakasi ile kaplanan uygun bir derinlige ve genislige sahiptir. Bazi tercih edilen modlarda, taban katmani belirli bir kalinliga sahiptir, kaplama katmani da belirli bir kalinliga sahiptir, taban katmani üzerinde bir kart olugu saglanmistir ve kaplama katmani üzerinde de bir kart olugu saglanmistir. Taban katmaninin ve kaplama katmaninin yüz yüze baglanmasi durumunda, ilgili oluklar bir kanal olusturacak sekilde karsilik gelmektedir. Bir test elemani kanal içine yerlestirilmistir. Bir açiklik ya taban katmaninda ya da kaplama katmaninda saglanmaktadir ve açiklik olugun ortasinda ve test seridinin numune uygulama alanina yakin bir uçta bulunmaktadir. Bu sekilde bir numune haznesi olusturulmaktadir ve numune haznesi bazi numuneleri barindirabilmektedir. Örnegin, açiklik 112 taban katmaninda yer almamaktadir, ancak açiklik 112 (Sekil lC) kaplama elemani üzerinde saglanmistir ve açiklik numune haznesiyle iletisim halindedir veya açiklik 112 taban katmani üzerinde saglanmistir ancak kaplama elemani üzerinde saglanmamistir (Sekil 8); veya açiklik 112 hem taban katmani hem de kaplama elemani üzerinde ayni konumda saglanmaktadir ve iki açiklik numune haznesiyle iletisim halindedir. Tercih edilen bazi modlarda, taban katmani, taban katmani üzerinde çoklu kart oluklarina sahip olacak sekilde seittir veya kaplama katmani seffaf ve esnektir veya kismen seffaftir ve özellikle test alanina karsilik gelen kisim seffaftir. Tercih edilen diger modlarda, taban katmani seffaf degildir ve kaplama katmani seffaftir; alternatif olarak, taban katmani seffaftir ve kaplama katmani seffaf degildir. Test elemaninin ön kisminin taban katmanina dönük oldugu durumda, taban katmani tamamen seffaf veya kismen seffaf olabilmekte veya taban katmani test elemani üzerindeki test alanina ve/Veya etiketli alana karsilik gelecek sekilde seffaf olabilmektedir (Sekil 3). Opsiyonel olarak, test elemaninin ön kisminin kaplama katmanina dönük oldugu durumda, kaplama katmani tamamen seffaf veya kismen seffaf olabilmekte veya test alanina ve/Veya test elemani üzerindeki etiketli alana karsilik gelen kaplama katmani seffaf olabilmektedir (Sekil lC), ayni zamanda taban katmani ise seffaf veya opak olabilmektedir. Taban katmani üzerinde bir kart olugu olusturulmasina yönelik yöntem, tek seferlik enjeksiyonla kaliplama veya lazerle delinme araciligiyla tamamlanabilmektedir. Sert taban katmani, örnegin, burada isitildiginda akiskan hale gelen ve yeterince so gudugunda cam bir madde olacak sekilde katilasan sicakta eriyen plastik bir polimeri ifade eden "termoplastik" bir malzemeden üretilebilmektedir. Bu termoplastik malzeme yüksek moleküler agirlikli bir polimer olabilmektedir ve zincirleri arasindaki baglantilar zayif bir Van der Waals kuvvetine, daha güçlü dipol-dipol etkilesimlerine ve hidrojen bagina veya aromatik halka paketlemesine dayandirilmaktadir. Kaplama elemanlari, plastik filmler, çift tarafli bantlar, polimerler vb. gibi malzemelerden üretilen polimer sekilli esnek kaplama elemanlari olabilmektedir. Eleman, sert taban katmanindaki kart olugunu sizdirmaz hale getirmek için sert bir taban katmanini kaplayabilmektedir. Bu yukaridaki taban katmani malzemesi ile olusturulan bir ince katmanli malzemeden veya olusturulan bir ince katmanli esnek malzemeden üretilebilmektedir. Buradaki "kati" ve "esnek" kavramlari mutlak anlamlariyla degil göreceli olarak yorumlanmalidir. Bazi diger yapilandirmalarda, Sekil 3,te gösterildigi üzere, mevcut bulusa göre tespit aparati bir taban katmani 30 içermektedir ve taban katmanini olusturan malzeme plastik olabilmektedir ve tek seferde enjeksiyonla kaliplanarak olusturulmaktadir. Bir veya daha fazla kart olugu 100, taban katmani 30 üzerine yerlestirilmektedir ve kart olugu belirli bir derinlige ve genislige sahiptir, kart olugunun genisligi test elemaninin genisligi ile aynidir veya test seridinin genisligine esittir veya bundan biraz daha büyüktür. Kart olugunun uzunlugu test seridinin uzunluguna esit veya bundan biraz daha uzundur (Sekil 3 taban katmaninin arka tarafini göstermektedir). Tercihen, kart olugunun bir ucu ve taban katmanina 130 yakin bir ucu bir sabitleme yapisi, örnegin sirasiyla kart olugunu olusturan karsit yan duvarlar 1002 ve 1003 üzerine yerlestirilmis bir çift çikintili geçmeli yapi 108 ve 1081 ile donatilmistir (Sekil 4). Çikinti, test elemanini kart olugunda nispeten sabit bir konumda tutmaktadir. Taban katmaninin 132 yakinindaki bir uçta bir açiklik 112 bulunmaktadir, bir açiklik 112 her bir kart olugunda saglanmaktadir, ancak açiklik kart olugunun 132 alt ucuna yerlestirilmemistir, ancak belirli bir konum 902 korunmaktadir (Sekil 7). Ön kisimda korunan bölüm 902 ve kart olugu üzerine sonradan kaplanan kaplama elemani bir numune haznesi olusturmaktadir (Sekil 8), böylece, bir çok kart olugunun taban katmani üzerinde olusturulmasi durumunda, her bir kart olugunun bir ucunda 132 bir numune haznesi olusturulmaktadir, böylece her bir numune haznesinde bir test seridi bulunmaktadir veya numune uygulama alaninin bir kismi her bir numune haznesinde barindirilmaktadir ve her bir test seridi farkli analitleri test etmek için kullanilabilmektedir. Her bir numune haznesi, kart olugunun yan duvari dolayisiyla nispeten bagimsiz bir alan olusturmaktadir. Bu numune hazneleri birbirinden bagimsizdir ve sivi alisverisi gerçeklestirmemektedir Bu sekilde, ayni tür sivi numune çoklu numune haznelerinden çikmaktadir. Ancak test elemanlarinin farkli analitler için ayarlanmis olmasindan kaynakli olarak, farkli analitler tespit edilebilmektedir. Bu sekilde, bir sivi numune çesitli farkli analitleri ayni anda test etmek için kullanilabilmektedir, buna ek olarak, her bir numune haznesi nispeten bagimsiz oldugundan, farkli test maddelerine sahip test seritleri arasinda karsilikli etkilesimin önüne geçilmektedir. Buna ek olarak, test maddesine sahip test seridi (test alani, etiketli alan) kanal içinde, tipik olarak daha uzun uzunlamasina kanal içinde sizdirmaz hale getirilmektedir ve farkli test seritleri arasindaki karsilikli etkiyi engellemek için kart olugunun diger ucunda numune uygulama alaninin yalnizca bir kismini barindirabilecek daha kisa bir sizdirmaz kanal (numune haznesi) olusturulmaktadir. Elbette ki, opsiyonel olarak, her bir kart olugu açiklik 112 konumunda bagimsiz olarak mevcut olmayabilmektedir, ancak açiklikta bölme 1120 bulunmamaktadir, burada uygulanabilir olan bir alan bölme olmaksizin olusturulmaktadir (bölme yapisi Sekil 4,te gösterildigi sekildedir). Elbette ki opsiyonel olarak bir numune haznesi genellikle bir test seridine karsilik gelmektedir. Elbette ki kart olugunun numune haznesini olusturan yan duvarlari da çikarilabilmektedir. Bu sekilde çoklu test seritleri daha büyük bir numune haznesini paylasmaktadir. Buna ek olarak kart olugu kapiler akisi azaltan, engelleyen veya sinirlayan bir yapi içermektedir. Bu sekilde tasarlanan kart olugunda, genel olarak kapiler boslugun meydana geldigi iki konum bulunmaktadir; bunlardan biri test seridinin yan tarafi ile kart olugunun yan duvari arasinda kapiler bosluk olusturabilecek ve dolayisiyla kapiler akisa neden olabilecek mesafedir. Bu tür bir kapiler akis sonuçta ortaya çikan kapiler akis, sivinin test seridinin kendisinin kapiler etkisine bagli olarak akan sividan daha önce mansap tarafa akmasina neden oldugundan, böylelikle daha önce akan sivi test seridini çözeceginden veya islatacagindan ve anormal sivi numuneleri veya ekstra sivi numuneleri olarak adlandirilan anormal testlere neden olacagindan istenmeyen bir durumdur. Anormal kapiler akisin sadece sivi numunelerin akisi olmasi ve test seridinin kendi kapilaritesine bagli olan normal sivinin, etiketleme reaktifleri, sivi numunelerin islenmesine yönelik reaktifler vb. gibi test seridi üzerindeki reaktifleri çözebilmesi nedeniyle, tespit dogrulugu ve hassasiyeti bu durumdan etkilenmeyecektir. Genel olarak, test seridi tarafindan daha fazla normal sivinin emilmesine izin vermek ve anormal sivinin sizdirmaz kanala girisini en aza indirmek için bu gereklidir, böylelikle sonuç daha dogru hale gelecektir; ancak anormal sivinin girisi kontrol edilmediginde, test seridi üzerindeki kapiler eylem etkilenecek, bu da yanlis test sonuçlarina yol aç acaktir. bitisik kart olugunun yan duvari üzerinde saglanmaktadir. Yapi, testi ve diger islevsel araçlari sabitleme rolü üstlenebilmektedir. Bu yapi kapiler akisi azaltabilmekte, engelleyebilmekte veya sinirlayabilmektedir. Örnegin, yapi yan duvardan çikinti yapabilmektedir ve test elemaninin genisligi kart olugunun genisligine esit veya buna yakin oldugunda, test elemanini kart oluguna yerlestirmekte ve çikinti yapan geçmeli test seridini sikistirarak test seridinin yanindan kart olugunun yan duvarina bir mesafe kalmasini saglamaktadir. Mesafe, kapiler olusturmaya yönelik boyuttan daha büyüktür, bu sebeple kapiler bir akis olusturamamaktadir. Bu sekilde geçmeli yapi kapilaritenin azaltilmasi veya sinirlandirilmasinda bir rol oynamaktadir. Buna ek olarak, her ne kadar test seridi ile kart olugunun yan duvari arasinda bir kapiler bosluk olmasi mümkün olsa da, geçmeli yapi test seridi ile siki bir sikisma ve temas halindedir; ve geçmeli yapinin memba tarafindan gelen sivi geçmeli yapida bloke edilmektedir, böylelikle sivi kapiler bosluktan geçen sivinin etiketli alan veya tespit alani gibi test seridinden gelen sividan daha önce mansap tarafina ulasmasini önlemek için kapiler bosluk boyunca mansap tarafinda akmaya devam edememektedir. Genellikle, böyle bir çikintili kait yapisinin konumu tercihen etiketli alanin memba tarafinda veya numune uygulama alaninin mansap tarafinda veya tespit alaninin memba tarafinda veya etiketli alana karsilik gelecek sekilde yerlestirilmektedir. Tercihen, kapiler akisi azaltan, engelleyen veya sinirlayan bu tür bir yapi genellikle birinci sizdirmaz kanal içine yerlestirilmektedir. Kapiler akisi azaltan, engelleyen veya sinirlayan bu yapinin, etiketli alanin memba tarafina yerlestirildiginde baska bir avantaji daha bulunmaktadir: bazi durumlarda bu yapi, daha fazla sivinin birinci sizdirmaz kanala girmesine izin vermeyecek, böylelikle birinci sizdirmaz kanal, birinci sizdirmaz kanalda kapali gazin bir kismini olusturmak üzere içeri giren sivi tarafindan kesinlikle sizdirmaz hale getirilecek, dolayisiyla test elemaninin bagimsiz bir sekilde test edilmesi saglanacaktir. Sivinin açikliktan birinci sizdirmaz kanala girmesi durumunda, mikroskobik olarak bu kademeli bir süreçtir ve her zaman sivinin açiklik araciligiyla birinci sizdirmaz kanala girerken artik kanala girmeyecegi beklenmektedir ve etiketli alanin memba tarafindaki geçmeli yapi, sivinin kanala girmesini engellemek için bir bariyer islevi görmektedir, böylelikle sivinin sizdirmazlik performansini saglamaktadir. Bu sekilde, mevcut bulusa göre aparatin sivi numuneye daldirilmasi veya hatta anormal sivinin birinci sizdirmaz kanala girmesine neden olabilecek sekilde sivi numuneye serbestçe firlatilmasi durumunda dahi sivinin birinci sizdirmaz kanala girmesinden endiselenmeye gerek kalmamaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akisi azaltan yapi, örnegin geçmeli yapi, test elemaninin etiketli alaninin memba tarafinda veya test alaninin mansap tarafinda veya numune haznesinin memba tarafinda bulunmaktadir; tercihen, kapiler akisi azaltan yapinin olugu test elemaninin etiketli alaninin memba tarafinda bulunmaktadir veya kapiler akisi azaltan yapi test elemaninin etiketli alanina karsilik gelecek sekilde yerlestirilmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akis, bir test seridi ile bir kart akis arasinda olusturulan kapiler alandir veya bir test seridi ile bir kart olugunun alt kismi arasinda olusturulan kapiler bosluktur. Ilaveten, benzer bir geçmeli yapi, yukarida açiklandigi üzere bir veya daha fazla islevsel olarak benzer yapiya sahip oldugu sürece baska bir yapida da olabilmektedir. Örnegin, geçmeli yapi esasen kart olugunun yan duvarinin yüzeyinden yukariya dogru, yan duvar düzleminden daha yüksege çikinti yapmaktadir, böylelikle kart olugu geçmeli yapida daralmaktadir. Geçmeli yapi iki yan duvarin yüzeyleri üzerinde simetrik olarak dagitilabilmektedir, elbette ki simetrik olarak dagitilmasi zorunlu degildir. Buna ek olarak, kapiler akisi azaltan, engelleyen veya sinirlayan bir dizi yapi da bulunabilmektedir ve bu yapilar, tek bir geçmeli yapi veya simetrik degil rastgele dagilmis çok sayida geçmeli yapi olarak kart olugunun herhangi bir yerine dagitilabilmektedir. Elbette ki, bu tür bir yapi, test seridinin kart olugundaki sabitligini artirmayan, ancak test seridinin yan tarafi ile kart olugunun yan duvari arasindaki mesafeyi artiran kart olugunun yan duvarinda bir girintiye sahip olabilmektedir ve bu mesafe kapiler eylem mesafesinden daha büyüktür. Girinti, test seridinin etiketli alaninin memba tarafinda, açikligin mansap tarafinda veya birinci sizdirmaz kanalin sizdirmaz olmayan uç girisinin mansap tarafinda bulunabilmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, örnegin Sekil 4,te gösterildigi üzere bir kart olugu ilaveten kapiler akisi azaltan, engelleyen veya sinirlandiran ek bir yapi içermektedir. Yapi test seridi ile kart olugunun alt kismi 1001 arasinda olusturulan kapiler yapi (kapiler akisi üretebilen bir baska konum) boyunca sivi numunenin akisini en aza indirmektedir, böylelikle yalnizca test seridi boyunca sivi numune akisini en fazla haline çikarmaktadir. Test seridinin kart oluguna yerlestirilmesi durumunda, genellikle test seridinin ön tarafi (test alaninin ve etiketli alanin görsel olarak gözlemlenebildigi taraf) kart olugunun alt yüzeyi 1001 ile dogrudan temas halindedir, böylelikle bir kapiler bosluk yapisi gibi bir bosluk yapisi kart olugunun alt yüzeyi 1001 ile test seridi arasinda olusturulacaktir. Tespit aparatinin yukarida açiklandigi sekilde sivi numuneye yerlestirilmesi (daldirilmasi) durumunda, sivi numunelerin bir kismi numune uygulama alaninin bir bölümü tarafindan emilmekte, bir kismi numune haznesine girmekte ve bir kismi da kart olugunun alt kismi 1001 ile test seridinin ön tarafi arasinda kapiler bosluk olusturarak yukari dogru akabilmekte, böylelikle sivi numunenin etiketli alani veya test alanini daha erken islatmasina neden olurken, test seridinden gelen sivinin etiketli alana ve test alanina ulasmasi gecikebilmekte, dolayisiyla yanlis test sonuçlarina yol açilabilmektedir. Bu ciddi ölçüde oldugunda test seridinin çalismamasina neden olmaktadir. Bu tür problemlerin önüne geçilmesi amaciyla, bulusa göre kart olugu ilaveten kapiler akisi azaltan bir yapi içermektedir. Yapi, test seridinin disindaki sivinin kapiler akisini azaltabilmekte veya önleyebilmektedir. Yani, kapiler yapi sivinin test seridinin kapiler kuvveti araciligiyla test elemani üzerinde akmasina olanak tanimaktadir ve test seridi ile kart olugu arasinda olusan kapiler boslugun akisini azaltmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, örnegin Sekil 4,te gösterildigi üzere, test seridinin ilerisindeki kapiler akisi azaltan yapi kart olugunun alt kisminda 1001 bulunmaktadir; bu yapi bir veya daha olugunun alt kismi tarafindan olusturulan kapiler bosluk boyunca akmaya devam etmesini engellemek için sivi numunelerin bir kismini emebilmektedir. Bir veya daha fazla yapi Sekil 4,te gösterildigi gibidir. Oluklar bir "Y" sekli veya haç veya harf sekli veya yuvarlak, dikdörtgen, kare, elmas, oval vb. gibi diger sekiller olusturabilmektedir. Elbette ki oluk, kapiler akisi azaltan yapilardan yalnizca biridir ve delik, kavite, iz veya kanal gibi baska yapilar da söz konusudur. Bu yapilar sivi numuneleri emebilmektedir veya sivi numunelerin genis bir yüzey alani boyunca sürekli akisini engelleyebilmektedir; örnegin, kapiler akisi azaltan bir yapi ile karsilastiginda sivi emilecek veya engellenecek, ileriye veya mansap tarafina hiç akamayacak veya büyük ölçüde akamayacaktir. Bu kapiler akisi azaltan yapilar tüm kart olugunun alt yüzeyine 1001 üzerine dagilabilmektedir veya bazi konumlarda kisitlanabilmektedir. Tercihen, kapiler akisi azaltan bu yapilar kart olugunun bir konumunda bulunmaktadir. Bazi modlarda, kapiler akisi azaltan bu yapilar test seridi etiketli alanin 26 memba tarafinda bulunmaktadir. Sivinin kart olugunun alt kismi ile test seridi arasinda olusturulan kapiler bosluktan geçerek yukari dogru akmasi durumunda, sivi, kapiler akisi azaltan yapilarin mevcut olmasi nedeniyle bu konumda durdurulacak veya azaltilacak, dolayisiyla sivi numuneler etiketli alani önceden islatamayacaktir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akisi azaltan yapi, etiketli alanda karsilik gelen bir konumda bulunmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akisi azaltan yapi açikligin 112 mansap tarafinda ve etiketli alanin memba tarafinda bulunmaktadir. Alternatif olarak, kapiler akisi azaltan yapi, açikligin yakinindaki kart olugunun alt kisminda 1001 bulunmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, kapiler akisi azaltan yapisal baglanti ayni zamanda test seridini emniyete alan baska bir çift yapi 1018, 1008 ihtiva edebilmektedir, böylelikle kart olugu test seridinin kart olugunda emniyete alinmasini saglayan farkli konumlarda sabit bir yapiya sahiptir /Sekil 4). Sekil 4 ve Sekil 3 ,te gösterildigi üzere kart olugu 100 bir alt kisma 1001 ve karsilik gelen iki kenar tarafindan olusturulan yan duvarlara 1002 ve 1003 sahiptir. Iki kenar kart olugunun derinligini tanimlarken, alt kisim 1001 kart olugunun genisligini tanimlamaktadir. Kart olugunun taban katmani üzerinde olusturulmasi durumunda, taban katmani belirli bir kalinliga sahiptir, böylelikle olugun belirli bir derinligi, belirli bir kalinliga sahip test elemanini yerlestirmek üzere taban katmani üzerinde kolay ve uygun bir sekilde olusturulabilmektedir. Esasen, bir kart olugu olusturmak üzere kullanilan taban katmani iki tarafa sahiptir: kart olugunu açmak için bir taraf (taban katmaninin arka tarafi olarak adlandirilabilmektedir) ve kart olugunun alt kismi 1001 olarak gösterilen diger taraf (taban katmaninin ön tarafi olarak da adlandirilabilmektedir). Alt yüzey 1001 olarak, kart olugunun kalinligi 1 mm ila 8 mm olabilmektedir, örnegin 1007 sayisiyla isaretlenen kalinlik için örnegin 1 mm, 2 mm, 4 mm, 5 mm veya 8 mm, vb. olmak üzere 1 mm ila 8 mm araliginda olabilmektedir, Taban katmaninin kalinligi farkli gereksinimlere göre istenildigi gibi seçilebilmektedir. Burada, kart olugunun alt kismi 1001 tamamlanmis degildir, aksine belli bir mesafede içi bos bir yapiya sahiptir. Yani, içi bos kisim açikligi 1 12 olusturur, ancak kart olugunun tüm alt kisminin 1001 içi bos degildir. Içi bos kisim ortada bulunmaktadir ve iki parça ayrilmaktadir; bir parça test seridinin tespit alanini desteklemek veya kapiler akisi azaltan bir yapi olusturmak üzere kullanilirken, diger parça numune haznesinin bir parçasini olusturmak üzere kullanilmaktadir. Olusturulan içi bos açiklik 112 herhangi bir uzunlukta, herhangi bir alanda, herhangi bir sekilde, örnegin dikdörtgen, kare, daire, elmas seklinde olabilmektedir, genellikle açiklik siVi numuneyi numune haznesine almak amaciyla kullanilmaktadir, buna ek olarak açiklik test seridinin bir kismini görünür kilmak için, örnegin numune uygulama alaninin bir kismini görünür kilmak için kullanilmaktadir. Buna ek olarak, test seridini daha iyi sabitlemek için, test seridi kart oluguna dengeli bir sekilde yerlestirilmektedir. Hafif dis bükey bir alan, geçmeli yapilarin 1008, 1018 karsilik gelen kart olugunun alt kisminda saglanmaktadir, örnegin sekilde gösterildigi Iki alan alandan 1132 1 mm, 2 mm veya baska oranlarda daha yüksektir. Taban katmaninin arka kismi Sekil 3,te, ön kismi Sekil 8,de gösterilmistir. Test elemaninin 20 kart oluguna yerlestirilmesi durumunda, test elemaninin 20 (Sekil 2) su emme alaninin 21 bir ucu taban katmaninin 130 3'üncü kismina yakinken, numune uygulama alanina 23 sahip uç, taban katmaninin 132 bir ucuna yakindir ve emici malzemeye sahip numune uygulama alani ön tarafa dönüktür, cam elyafi veya diger liIli malzeme gibi numune emme alaninin bir emici malzemesi (Sekil 1C veya Sekil 10, veya Sekil 2) açikliktan 112 görülebilmektedir. Test seridinin yerlestirilmesinin ardindan, taban katmaninin arka kismi esnek bir kaplama katmani 900 (Sekil 8) ile kaplanarak tüm kart olugu 100 sizdirmaz hale getirilmektedir. Böylelikle, taban katmaninin arkasindaki tüm kart olugu kaplama katmani tarafindan kaplanmaktadir (Sekil 7). Bu asamada, her bir kart olugunda 132 taban katmaninin her bir ucunun yakininda bir numune haznesi (ikinci sizdirmaz kanal) olusturulmaktadir. Test elemaninin numune uygulama alaninin 23 bir bölümü (Sekil 10) numune uygulama alaninin bir kismi açiklikta 112 görünür hale gelecek sekilde numune haznesinde bulunmaktadir, ve örnegin etiketli alan, test alani ve emme alani gibi geri kalan parçalar kaplama katmani ile kaplanmaktadir ve taban katmaninin 130 diger ucuna yakin kart oluguna karsi sizdirmaz hale getirilmektedir (ön taraf Sekil 9,da gösterilmektedir), bu birinci sizdirmaz kanal olarak adlandirilmaktadir, bunlarin her ikisi de girislere sahiptir, ek olarak iki kanal açiklik 112 tarafindan kismen bölünmektedir ve ayrica disariyla iletisim halindedir. Taban katmaninin seffaf bir plastik olmasi durumunda, test alani ve etiketli alan taban katmaninin ön kismi boyunca görülebilmektedir. Elbette ki, test seridinin yönü yukaridaki örneklerin tam tersi de olabilmektedir, böylelikle test seridinin arka kismi (destek leVhasina 27 sahip taraf) dogrudan kart olugunun alt kismina 1001 dayanmaktadir ve numune emme alaninin, tespit alaninin veya emme alaninin ya da etiketli alanin bir tarafi kaplama elemanina dönük olarak yerlestirilecek sekilde korunmaktadir. Bu sekilde, kaplama elemani 900, tüm kart olugunu kapatacak sekilde taban katmaninin arka kismini kaplamaktadir, ancak kaplama elemani seffaftir, taban katmaninin açikligindan 112, emici malzemeye sahip ön taraf yerine test elemaninin numune uygulama alaninin bulundugu destek yüzeyinin 27 arka kismi görülmektedir. Test sirasinda, seffaf kaplama elemani araciligiyla test elemani üzerindeki tespit alaninin test sonuçlari görülebilmektedir. Bu asamada, kaplama elemani bir açiklik 112 saglamamaktadir, ancak taban katmani üzerinde yalnizca bir açiklik 112 bulunmaktadir. Elbette ki açiklik 112, kaplama elemani ve taban katmani üzerinde es zamanli olarak olusturulabilmektedir. Açikligin sekli ve boyutu ayni veya farkli olabilmektedir, böylelikle numune haznesi ile iletisim kuracak iki açiklik olusturulmaktadir. Sivi numunedeki analitin tespit edilmesi gerektiginde, taban katmani, test seridi ve kaplama elemanindan olusan test cihazi siVi numuneye yerlestirilmektedir, bunun açikliga 112 sahip bir ucu siVi numuneye yerlestirilmekte ve ardindan çikarilmaktadir ve siVi numunelerin numune uygulama alanindan etiketli alana kadar reaktif seridi boyunca akmasina izin verilmektedir, ardindan bu test alanina akmaktadir, buradan test sonucu alanindan ve test sonucu kontrol alanindan geçtikten sonra son olarak testi tamamlamak için emme alanina ulasmaktadir. Numune haznesinde yeterli miktarda numunenin tutulmasindan kaynakli olarak, test seridi üzerinde yeterli miktarda sivi akisi saglanabilmektedir ve geleneksel teknikteki yetersiz sivi numunelerine yönelik dezavantaj lardan kaçinilmaktadir. Buna ek olarak bu tür cihazlarin uygun maliyetlerle imal edilmesi basittir. Taban katmani tek seferde tamamlanabilmektedir ve test seritleri halihazirda mevcut olan seritlerdir, ayrica bir kaplama elemani kaplanarak proses tamamlanmaktadir. Üretim adimlari basit ve hizlidir. Buna ek olarak yukarida bahsedildigi üzere tespit aparati dogrudan test edilecek sekilde tamamen sivi numune içine daldirilabilmektedir. Hangi yerlestirme araçlarinin kullanildigindan, sivi numune içine ne kadar uzun süre daldirildigindan bagimsiz olarak sivi dogru sonuçlari verecek sekilde test seridi üzerinde normal sekilde akabilmektedir. Geleneksel benzer tespit aparatlarinin aksine, bu durum operatörler için birçok sinirlamayi ortadan kaldirmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, tespit aparati ayrica bir tahliye, yük kaldirma veya basinç düsürme yapisi içermektedir; yapinin bir ucu sizdirmaz kanal ile gaz iletisimindeyken, diger ucu dis atmosfer ile akiskan iletisimi halindedir. Yapi, sizdirmaz kanaldaki gazin bir kismini tahliye etmek için kullanilmaktadir, özellikle sivi sizdirmaz kanala girdiginde, gazin bir kismi sivi tarafindan kanalda sizdirmaz hale getirildiginden, getirmek ve maliyeti düsürmek amaciyla, kart olugunun genisligi ve kalinligi test seridinden biraz daha büyüktür, bu sayede test seridi kart olugunda oldugunda, test seridi kart olugu tarafindan çevrelenmektedir, yani test seridi kart olugu ve kaplama katmani tarafindan sikistirilan kanaldir. Sivinin kanal girisine girmesi halinde (örnegin, sizdirmaz kanal girisi ile numune haznesi açikligi ayni oldugunda), sivi kanal girisini kolayca sizdirmaz hale getirmektedir. Yapi, yeterli sivi numuneleri saglamak için sivinin sizdirmaz kanala girmesine izin vererek gazin ortadan kaldirilmasina olanak taniyacak sekilde tasarlanmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, örnegin Sekil 4,te gösterildigi üzere tahliye yapisi kart olugunun alt kisminda 1001 bulunmaktadir. Bir 4,te gösterildigi gibidir. Oluklar bir "Y" sekli veya haç veya harf sekli veya yuvarlak, dikdörtgen, kare, elmas, oval vb. gibi diger sekiller olusturabilmektedir. Elbette ki oluk, tahliye veya yük azaltma yapilarinin yalnizca bir türüdür ve delik, kavite, iz veya kanal gibi baska yapilar da söz konusudur. Sivinin sizdirmaz kanala girmesiyle birlikte bu oluklarin bir ucu sizdirmaz kanaldaki gaz ile iletisim halindeyken diger ucu dis atmosferdeki gaz ile iletisim halindedir, böylelikle fazla gaz uzaklastirilabilmekte ve sizdirmaz kanala daha fazla sivi girebilmektedir. Oluk yapisinin sivi ile sizdirmazligi saglandiktan sonra, sizdirmaz kanalin iç ve dis ortami bir dengeye kavusacak ve sivi artik kanala girmeyecektir. Bazi tercih edilen modlarda, dis atmosferdeki gaz ile iletisim halinde olan olugun bir ucu açikliga 112 baglanmaktadir ve kanaldaki gaz açiklik araciligiyla uzaklastirilmaktadir. Bu tahliye yapilari kart olugunun tüm alt yüzeyine 1001 dagitilabilmektedir veya bazi konumlarla sinirlandirilabilmektedir. Tercihen, bu tahliye yapilari kart olugunun herhangi bir yerinde bulunmaktadir. Bazi modlarda, bu tahliye yapilari test seridi etiketli alanin 26 memba tarafinda bulunmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, tahliye yapisi etiketli alanin ilgili konumunda bulunmaktadir. Tahliye yapisi, kanaldaki geri kalan kismin ortam atmosferine bosaltilmasini saglayan bir veya daha fazla oluktur bir "Y" sekli veya haç veya harf sekli veya yuvarlak, dikdörtgen, kare, elmas, oval vb. gibi diger sekiller olusturabilmektedir. Burada, tahliye olugu yapisi ve yukarida açiklandigi sekilde kapiler akisi azaltan oluk ayni yapida olabilmektedir. Bu yapi, biri kapiler eylemi azaltmak, digeri ise basinci tahliye etmek ve azaltmak olmak üzere çift isleve sahiptir. Elbette ki iki yapi ilgili islevleri bakimindan farkli olabilmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, numune haznesi taban katmaninin bir ucunda ve test seridinin numune uygulama alaninin yakininda bulunmaktadir. Sekiller 3, 5 ve 6,da gösterildigi üzere numune haznesi kaplama elemani 900 tarafindan çevrelenen taban katmani üzerinde kart olugunun 902 bir kismi ile olusturulmaktadir. Taban katmaninin belirli bir kalinliga sahip olmasindan kaynakli olarak, taban katmani üzerindeki kart olugu bir derinlige sahiptir, kart olugunun taban katmanina 132 yakin bir ucunun derinligi kart olugunun alt kisminin 107 yüksekligi ile belirlenmektedir. Yapi alani 107 numune haznesinin alt alanini olustururken, kaplama elemani ve açiklik tarafindan yalitilmis kart olugunun alt kismindaki bir baska alan 110 ve kart olugunun iki kismi kenari 125, 127 numune haznesinin yan duvarini, böylelikle bulusa göre numune haznesini olusturmaktadir. Numune haznesi bazi test elemanlarinin numune uygulama alanlarini barindirmaktadir. Bazi tercih edilen modlarda, bir çikintili yapi 111 numune haznesine yakin alt alanda 107 kart olugunun alt kismindan 802 yukari dogru saglanmaktadir. Çikintili yapi, test seridinin kaplama elemanina 102 yakin numune uygulama alaninin t test seridini sabitlemesine yönelik bir rol oynamasina olanak tanimaktadir. Buna ek olarak bazi alanlar daha fazla siVi numunenin barindirilmasi için ayrilmaktadir. Test seridi belirli bir kalinliga sahiptir, çikintili yapinin 111 yüksekligi kart olugunun derinliginden biraz daha kisadir ve yükseklik farki test seridinin kalinligina esittir. Test seridinin numune uygulama alaninin genellikle elastik cam elyaftan üretilmis olmasi nedeniyle, çikintili yapi 111, test seridinin numune uygulama alaninin arkasindaki destek leVhasini kaplama elemanina yaklastiracak sekilde bastirabilmektedir. Buna ek olarak, test seridi belirli bir kalinliga sahiptir ve kart olugunun derinligi, genellikle 2 ila 5 mm olmak üzere belirli bir aralikta test seridinin kalinligindan biraz daha büyüktür. Test seridinin bir ucunun numune haznesine yerlestirilmesi durumunda, bu numune haznesinin hacminin çogunu isgal etmektedir. Bu sekilde, numune haznesinin test seridini tamamen islatmak için daha fazla siVi numune barindirmasina olanak tanimak zorlasmaktadir, dolayisiyla bir taraftan çikintili bir yapi 111 yumusak numune uygulama alani malzemesini sikistirmak üzere saglanabilirken diger taraftan örnegin bir egim 115 ile kart olugunun alt kisminin kalinligi azaltilabilmektedir. Egim, kart olugunun alt kisminin kalinligini azaltmaktadir, böylelikle numune haznesinin hacmi artirilmaktadir. Buna ek olarak, test seridinin numune haznesindeki kart olugunun alt kismina çok yakin olacak sekilde ( egimli konum) yerlestirilmesi durumunda, bir kapiler bosluk olusacaktir, böylelikle sivi numune, numune haznesine kolayca giremeyecektir; dahasi, kapiler boslugun karmasik yapisina bagli olarak, bir kart olugundaki numune haznesinin hacmi de farkli olacak, dolayisiyla testin hatali ve belirsiz olmasi ihtimali de artacaktir. Bu nedenle, açikliga 112 yakin bir konumda, numune haznesinin yan duvari (örnegin, kart olugunun alt kismi 1001) incelmektedir ve sivi numunenin numune haznesine girmesine olanak taniyacak sekilde kart olugu ile test seridi arasindaki mesafe artirilmaktadir. Ayni zamanda, bu test seridinin islanmasini tamamlamak üzere yeterli sivi numune saglamak için numune haznesinin hacmini arttirmaktadir. Elbette ki, numune haznesi hacmini arttirmak amaciyla, numune haznesini çevreleyen yan duvar (taban katmani kalinliginin alani 110 ve kart olugunu olusturan iki karsit kenar 125, 127) inceltilebilmektedir veya bu yan duvarlar üzerinde girintili çikintili delikler saglanmaktadir. Her ne kadar bu yöntemler uygulanabilse de, kart olugunun alt kisminin 110 alaninin daha ince olmasinin saglanmasi daha çok tercih edilmektedir. Yukaridaki numune yapisi sayesinde, kart tipi tespit aparati daha kompakt hale gelmektedir, ancak bu durum mevcut bulusun sagladigi daha üstün performansi etkilememektedir. Yani maliyet azalirken performans daha üstün hale gelmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, bir kaplama gövdesi bileseni saglanabilmektedir. Tespit aparatinin sivi numune içine yerlestirilmesi durumunda, tespit aparatinin çikarilmasi, numune temas alanini kirlenmeden korumak için açikligin 112 bir ucunun kaplama gövdesi bileseninin 10 kavitesine 12 yerlestirilmesine olanak taninmasi saglanmaktadir. Kaplama gövdesinin derinligini sinirlamak amaciyla, simetrik sinirlayici yapilar 30, 31 kaplama gövdesi yerlestirme derinligini sinirlamak üzere taban katmani üzerine yerlestirilebilmektedir (Sekil 11A-B). Kaplamanin taban katmani üzerindeki saglamligini artirmak amaciyla, iki çikintili sabitleme seridi 13, 14 kaplamanin içinde saglanmaktadir. Taban katmaninin bir ucunun kaplama gövdesine yerlestirilmesi durumunda, sabitleme seritleri 13, 14 kaplama gövdesi ile taban katmani arasindaki yapisma kuvvetini arttirmaktadir, böylelikle kaplama gövdesi kolayca düsmemektedir ve dolayisiyla taban katmaninin bir ucundaki açikliktan 112 dis ortamin kirlenmesine neden olacak sivi numune sizintisinin önüne geçilmektedir. Kaplama gövdesinin alt kisminda, tespit aparati açikliginin bir ucunu 112 kaplama gövdesi bilesenine 10 girmek üzere yönlendirmek ve operatörlerin numunelere temas etmesini engellemek için kullanilan uzatilmis bir bölüm 11 mevcuttur. Kaplama gövdesi uzanti bölümünün 11 kenari ayrica alt yüzeyden daha yüksek (uzanti yüzeyinin bulundugu düZlemden daha yüksek) bir kaplama kenarina 15 sahiptir, böylelikle tespit aparatinin içinde bulunan sivinin, tespit aparatinin sivi numuneden çikarilmasi durumunda sizmasi önlenebilmekte ve böylece dis ortamin kirlenmesinin önüne geçilebilmektedir. Bazi tercih edilen modlarda, sabitleme seritleri 13, 14 uzanti bölümünün karsisinda düzenlenmektedir, böylelikle taban katmani kaplama gövdesine tek yönlü bir konumdan yerlestirilmektedir. Daha çok tercih edilen baska bir modda, daha aZ sivi numunenin bulunmasi halinde, numune haznesine sahip tespit aparatinin ucunun sivi numuneye sokulmasiyla sivi numune açikliktan 112 numune haznesine neredeyse hiç girememekte, böylece test elemani islanamamaktadir. Bu asamada, tespit aparatinin operatörlerin islerini zorlastiracak sekilde egimli olmasi gerekmektedir. Bu tür bir tespit aparatinin iyilestirilmesi için numune haznesi veya aksesuar üzerinde baZi sivi kanallari saglanmistir, böylelikle sivi test seridinin numune uygulama alani ile akiskan iletisim halinde bulunmaktadir. Tercihen, bu sivi kanallari açikliktan 112 daha alçak bir konumda düzenlenmektedir. Bu, baZi sivi seviyeleri açikliktan 112 daha alçak olsa dahi, sivi numunelerinin bu sivi kanallari araciligiyla test seritlerinin numune uygulama alanlarina akiskan bir sekilde baglanmasina olanak tanimaktadir. Örnegin Sekiller 12 ila 16,da mevcut bulusun daha çok tercih edilen bir baska yapilandirmasi gösterilmektedir. Sivi kanali 1046, test seridinin numune uygulama haznesinin altina yerlestirilmektedir, bu sekilde açikliga 112 sahip uç sivi numuneye yerlestirildiginde numune uygulama alaninin uç bölümü 1047 sivi numune ile temas ettirilmektedir. Elbette ki, opsiyonel olarak, bu sivi kanallari test seridinin numune uygulama alanini görünür kilmayabilmektedir, aksine sivi kanali açilmaktadir ve test seridi kanal alanini isgal etmemektedir. Bu sekilde, sivinin kanaldan numune haznesine geçerek test seridinin numune uygulama alanina temas etmesine olanak taninmaktadir. Bazi modlarda, sivi kanali 1046 dikdörtgen seklindedir ve kanalin boyutu test seridinin boyutuna göre uyarlanmistir, böylelikle test seridinin uç bölümü, örnegin 1 ila 2 mm, 2 ila 3 mm kadar görünür olmaktadir. Bu sekilde, açikligin 112 ve sivi kanalinin 1046 ayari, sivi numune miktarina dair özel bir sinirlama olmaksizin daha fazla kosula uygun hale getirilebilmektedir. Elbette ki, test seridinin uç bölümü 1047 görünür kilinmayabilmekte, aksine sivi kanalinin içinde bulunabilmektedir. Sivi kanalinin 1046 boyutu genel olarak test seridinin boyutuna uyarlanmaktadir. Örnegin bu test seridinin boyutundan biraz daha büyüktür. Sivi kanalinin boyutu ile test seridinin uç bölümünün boyutu arasindaki bosluk sivi numunelerin yüzey gerilimi yüzünden dogal olarak damlamasini engelleyecektir. Daha fazla sivinin olmasi durumunda, örnegin, tespit aparati sivi numuneye yerlestirildiginde sivi seviyesi A konumundadir, sivi numune açikliktan 112 numune haznesine girebilmektedir ve sivi numune test seridinin numune uygulama alanina temas etmek üzere sivi kanalindan 1046 geçebilmektedir. Bu durum, sivi numune yerlestirildikten sonra dahi, öncelikle sivinin sivi numune ile yeterince temas edebilmesini ve ardindan test seridindeki sürekli akis için yeterli sivi numune saglamak üzere sivi numunenin numune haznesinde kalmasini saglayacak sekilde aparatin kisa bir süre içinde çikarilacagi anlamina gelmektedir. Numune haznesi üzerinde saglanan sivi kanali avantajlara sahiptir. Genel olarak numune haznesi küçük bir hacme sahiptir ve test seridi numune haznesi içine sokulmaktadir. Sivi numunenin açikliktan 112 toplama haznesine geçmesi halinde, bulusta açiklandigi üzere toplama haznesinin duvar kalinliginin azaltilmasina ek olarak sivi numunelerin barindirilmasi için daha fazla alan saglanmis olur. Ancak esasen numune haznesinin alani halen sinirlidir ve sivi halen numune haznesini hizlica ve kolaylikla dolduramamaktadir. Her ne kadar numune haznesinin boyutu ayarlanabiliyor olsa da test seridinin boyutu her zaman ayni degildir. Bu bir sorun yaratacaktir: her bir numune haznesi belirli bir süre içinde farkli sivi numuneleri toplamaktadir, böylece her bir test seridine saglanan sivi numunenin hacmi test sonuçlarini etkileyecek sekilde ayni degildir. Ancak sivi kanalinin 1046 numune haznesi üzerine yerlestirilmesi durumunda, sivi seviyesi açikliktan 112 daha yüksek oldugu zaman sivi, (ikinci sizdirmaz hazne tarafindan olusturulan) numune haznesini hizli bir sekilde doldurabilmektedir. Numune haznesindeki havanin sivi kanali araciligiyla ortadan kaldirilabilmesinden kaynakli olarak, numune haznesinin sivi ile doldurulma süresi ve etkinligi hizlanmaktadir, yani numune haznesinin doldurulmasi sadece 1 ila 3 saniye sürmektedir. Bu asamada sivi kanali 1046, sivi numunenin toplama haznesini hizla doldurmasini mümkün kilacak sekilde numune haznesindeki havayi ortadan kaldirabilmektedir; buna ek olarak sivi numunenin test seridinin numune uygulama alani 23 ile temas etmek üzere sivi haznesinden geçmesine olanak taniyabilmektedir. Kanal boyutunun ayarlanmasi için gereklilikler sunlardir: sivi numuneler numune haznesine dolduruldugunda veya depolandiginda, numune haznesindeki sivi numuneler, tespit aparati sivi numunelerden ayrildiktan sonra sivi kanalindan disari akmayacaktir. Sivi bir yüzey gerilimine sahiptir ve kanal boyutu numune haznesinde bulunan maksimum sivi hacmini hesaba katmalidir. Sivi kanalinin boyutu, numune haznesindeki sivinin yüzey gerilimi dolayisiyla sivi kanalindan 1046 disari akmamasini mümkün kilacak sekilde ayarlanmaktadir. Bu sekilde, bu tür bir tespit aparati farkli numune testlerini gerçeklestirebilmektedir, buna ek olarak, tespit aparatinin farkli uygulamalarini iyilestirmektedir, özellikle sivi numune çok iyi oldugunda, ayar özellikle etkili olmaktadir. Daha az sivi numunenin örnegin B sivi seviyesi konumunda olmasi durumunda, her ne kadar sivi numuneleri toplama haznesine açikliktan 112 girmeyecek olsa da, bunlar tamamlamak üzere test seridinin numune uygulama alani 23 ile temas etmek üzere sivi kanalindan 1046 geçebilmektedir. Genellikle sivi numuneleri numune haznesine açikliktan 112 girmektedir. Toplama haznesinde saklanan sivi sivi kanalinin boyutu sebebiyle sivi kanalindan 1046 kolayca akmamaktadir, böylelikle tüm testi tamamlamak üzere sonraki sivinin toplama haznesinden test seridine sürekli akisini temin etmektedir. Burada sivi kanalinin sekli Sekil 12,de gösterildigi üzere bir dikdörtgen veya bir daire, bir elmas sekli, bir kare, bir elips ve bu sekillerin bir kombinasyonu olabilmektedir. Sekil 12,de gösterildigi üzere toplama haznesinin alt kismina yerlestirilen sivi kanalina ek olarak, daha fazla sivi kanali da diger yerlere yerlestirilebilmektedir. Ayarlama için prensip su sekildedir: Sivi kanalina benzer bazi yapilar, test seridinin numune uygulama alaninin 23 sivi ile temas etme olasiligini artirmak (sivi az oldugunda sivi seviyesi açikliktan 112 daha düsüktür) ve islemi kolaylastirmak için açikliktan 112 daha alçak konumlara yerlestirilmektedir. Buna ek olarak, daha az sivi oldugunda bazi dezavantajlarin üstesinden gelinebilmektedir. Bu konumlar, örnegin numune haznesinin duvarinda bir kanal açilmasi veya her bir numune haznesinde bir veya daha fazla sivi kanali açilmasi seklinde, açikligin altindaki herhangi bir konum olabilmektedir. Tasarlanan bu ek sivi kanallarinin zorunlu olmadigi, ancak mevcut bulusun tercih edilen bir yapilandirmasi oldugu dikkate alinmalidir. Diger yapilandirmalarda, Sekil 17A ila 17E,de gösterildigi üzere, bulus üzerinde birden çok olugun veya yarigin düzenlendigi bir taban katmani 70 saglamaktadir ve oluklar taban katmaninin 70 ön paneli üzerinde düzenlenmektedir. Taban katmani iki uca sahiptir, bir uç 701 olugun 707 alt kismi olarak islev görürken diger uç 702 olugun açik kismi olarak islev görmektedir. Oluk, uç 715, izgara 712, alt kismin 711 yüzeyi ile çevrelenmektedir ve oluk, izgaranin 712 yüksekligi ile belirlenen belirli bir derinlige sahiptir. Olugun 707 diger ucunun 702 yakininda bir açiklik 708 açilmistir. Alt kismin 711 bir bölümü, sivi numunenin girmesine olanak taniyacak sekilde açiklik 708 olusturmak üzere eksik birakilmistir. Bazi yapilandirmalarda, açiklik 708 tüm olugu iki parçaya veya iki segmente ayirmaktadir, birinci parça oluk açikligin 708 birinci ucunun 717 ucu ile olugun ucu 715 arasindaki parçadir ve ikinci parça oluk olugun ucu 719 ile açikligin 708 alt ucu 71 8 arasindaki parç adir. Bazi yapilandirmalarda olugun ikinci parçasinin derinligi, birinci parçanin derinliginden daha derindir. Örnegin, olugun ikinci parçasinin alt yüzeyi 709, olugun 707 birinci parçasinin alt yüzeyinden 711 daha alçaktir veya izgaranin 712 yüzeyinden 716 alt kismin yüzeyine kadar olan mesafe, izgaranin 712 yüzeyinden 716 birinci parçanin alt yüzeyine 711 kadar olan mesafeden daha uzundur. Birinci parçanin izgara yüzeyi, ikinci parçanin izgara yüzeyi ile ayni seviyededir. Tasarima göre, taban bir kaplama katmani 60 ile kaplanmistir. Kaplama katmaninin arka kismi bir baglayici yapistirma katmanidir, kaplama katmaninin sekli taban katmaninin 70 sekline eslesmektedir ve kaplama katmaninin 60 bir ucu 601 taban katmaninin 70 bir ucunun 701 yüzeyi üzerine kaplanmaktadir. Kaplama katmaninin 60 diger ucu 602, taban sekilde Sekil 17D,de gösterilen diyagram olusturulmaktadir. Taban plakasi üzerindeki oluk, test seridi oluk içine yerlestirildiginde test seridinin 20 ön kismi ile temas halinde olan alt yüzeye 711 sahipken, test seridinin arka kismi 28 kaplama katmaninin 60 arka kismi ile temas halindedir ve açiklik 708 oluk üzerinde bulunmakta, numune haznesinin 714 girisi olarak isleV görmektedir. Numune haznesi 714, numune haznesinin 714 içi ve numune haznesinin 714 disi ile akiskan iletisiminde bir akiskan kanalina 713 sahiptir ve test seridinin 20 numune pedinin 23 bir parçasi numune haznesinde 714 bulunmaktadir. Dolayisiyla, numune pedinin parçasinin arka kismi, kaplama katmaninin 60 arka kismi ile temas halindedir, burada kaplama katmaninin 60 yüzeyinde yapistirici katmani bulunmaktadir. Bu nedenle, test seridinin 20 numune pedinin 23 arka kismi yapistirma katmani ile kaplama katmanina 60 sabitlenmektedir. Buna ek olarak, olugun birinci parçasinin alt yüzeyinin 711 konumunun, olugun ikinci parçasinin alt yüzeyinden 709 daha yüksek olmasindan kaynakli olarak, test pedinin numune alici pedi 23 ile ikinci parçanin alt yüzeyi 709 arasinda bir bosluk bulunmaktadir, yani bosluk sivi kanalidir 713 ve numune haznesi olarak da degerlendirilebilmektedir, test gerektiginde, açikliga 708 sahip uç sivi numuneye sokulmakta ve açiklik 708 ayni zamanda sivi numuneye sokulmakta ve sivi numune açiklik 708 araciligiyla numune haznesine 714 akmaktadir. Sivi numune sivi kanalini 713 dolduracak ve numune haznesindeki 714 hava (sivi kanali 713) ortadan kaldirilacaktir. Sivi kanalinin nispeten küçük olmasi nedeniyle sivi, sivi numunenin yüzey geriliminin etkisi dolayisiyla sivi kanalinda tutulmaktadir ve kart sivi numuneden hizli bir sekilde ayrildiginda sivi numune akiskan kanalinda 713 tutulmaktadir. Akiskan kanalinda 713 tutulan sivi, test seridindeki 20 testin emilmesi ve tamamlanmasi için test seridi tarafindan emilmeye devam edebilmektedir. Bulusa göre test cihazi, basit üretim ve düsük maliyet avantaj larina sahiptir ve ayrica bulusun teknik etkisinin elde edilmesini saglamaktadir. Örnegin, sadece açikligin 708 ucunun 1 ila 2 saniye boyunca sivi numune içine sokulmasi ve teste devam edilmesi için çikarilmasi durumunda, numune haznesinde 714 veya sivi kanalinda 713 testi tamamlamak için numune pedi 23 tarafindan emilmeye devam edecek yeterli miktarda sivi numune bulunmaktadir. Bir tespit aparatina yönelik montai yöntemi Mevcut bulus basit ve uygun maliyetli sekilde bir tespit aparatinin imal edilmesine yönelik bir yöntem saglamaktadir. Bazi modlarda Sekil3 ,te gösterildigi üzere belirli bir derinlik ve genislige sahip bir kart olugu içeren tek kullanimlik bir enjeksiyonla kaliplanmis taban katmani saglanmaktadir. Kart olugunun genisligi, test seridinin genisligine esit veya bundan biraz daha büyük olabilen, barindirilan test elemaninin genisligine esdegerdir; kart olugunun uzunlugu, test seridinin uzunluguna esdeger veya bundan biraz daha uzundur (Sekil 3 taban katmaninin arkadan görünümünü gösterirken Sekil 8 taban katmaninin önden görünümünü göstermektedir). Tercihen, kart olugunun bir ucu ve taban katmanina 130 yakin bir ucu bir sabitleme yapisi, örnegin bir çift taban katmanina 132 yakin uçta saglanmaktadir ve her bir kart olugu için bir açiklik 112 saglanmaktadir. Ancak açiklik, kart olugunun alt ucunda 132 saglanmamaktadir, ancak daha önce açiklanan içi bos açiklik 112 gibi belirli bir konum 102 ayrilmaktadir (Sekil 5). Bir numune uygulama alani, bir etiketli alan, bir test alani ve bir su emme alani içeren bir test elemani saglanmaktadir. Numune uygulama alani, etiketli alanin memba tarafinda bulunmaktadir. Test alani, etiketli alanin mansap tarafinda bulunmaktadir. Test alani bir test sonucu alani ve bir test sonucu kontrol alani içermektedir (Sekil 1B ve Sekil 2). Test seridi, numune uygulama alaninin bir ucu kart olugunun açikligina 112 karsilik gelecek ve emici alanin bir ucu taban katmaninin 130 ucuna yakin olacak sekilde kart oluguna yerlestirilmektedir; buna ek olarak, numune uygulama alaninin bir bölümü numune haznesinin içinde yer almakta ve numune haznesinin içindeki çikintili yapiya 111 dayanmaktadir. Buna ek olarak, reaktif seridinin etiketli alani, kapiler akisi azaltan yapilarin memba tarafinda bulunurken, test seridinin destek leVhasina 27 sahip tarafini kart olugundan görünür kilacak sekilde birakmaktadir. Test yüzeyini destek levhasi 27 ile yapistirirken tüm kart olugunu sizdirmaz hale getirmek için taban katmaninin arka kismini kaplayan esnek bir kaplama katmani saglanmaktadir; ayni zamanda, çift tarafli bant, baglayici filmler Vb. gibi kaplama elemanlari ve kart olugunun ön tarafinin bir bölümü 902 bir numune haznesi olusturmakta, açiklik 112 araciligiyla numune uygulama alaninin bir bölümünü görünür hale getirmekte ve etiketli alan ve test alani kaplama katmani tarafindan kart olugunda ( birinci sizdirmaz kanal) sizdirmaz hale getirilmektedir. Elbette ki taban katmani birden çok benzer kart olugu yapisi içerebilmektedir. Kaplama elemani, taban katmaninin arka kisminin boyutuna uyarlanmaktadir ve (birden çok benzer birinci ve ikinci sizdirmaz kanal olusturan) birden fazla kart olugunu sizdirmaz hale getirmek için yalnizca bir kaplama elemani gerekmektedir. Böylelikle, her bir kart olugunda bir numune haznesi olusturmak üzere, farkli analitlerin test edilmesine yönelik olarak her bir kart oluguna test elemanlari yerlestirilmektedir. Ayni numune için birçok farkli analit es zamanli olarak tespit edilebilmektedir. Tespit yöntemi Baska bir yönde mevcut bulus bir sivi numunede analitin tespit edilmesine yönelik bir yöntem saglamaktadir, yöntem sunlari içermektedir: yukaridaki modlardan herhangi birine göre tespit aparatinin bir sivi numuneye sokulmasi ve istendigi zaman sivi numuneye batirilmasi, ardindan seffaf bir taban katmaninin veya bir kaplama elemaninin ön kismindan test alanindaki test sonuçlarinin çikarilmasi ve okunmasi. Bu sonuçlar çiplak gözle veya bir makine tarafindan okunabilmektedir, örnegin opto- elektronik prensibine göre tasarlanan makine tarafindan kantitatif okuma veya bir tarayici araciligiyla test sonuçlarini kaydetmek için tarama yapilabilmektedir. Yerlestirme isleminden, istendiginde sivi numuneye batirmaya kadar geçen süre 1 saniye, 15 saniye olabilmektedir. Çikarildiktan sonra tahlil veya test bir test seridi vasitasiyla gerçeklestirilebilmektedir. Burada yerlestirme denildiginde öncelikle ucun sivi numunelere sahip numune haznesine temas ettirilmesi, sonra çikarilmasi veya önce ucun numunelere sahip numune haznesine temas ettirilmesi ve sonrasinda tüm tespit aparatinin sivi numuneye daldirilmasina olanak taniyacak sekilde sürekli yerlestirilmeye devam edilmesi anlasilmaktadir. Sekiller 2 ila 8,den hareketle, mevcut bulusa göre bir tespit aparati bir plastik sert taban katmani yapisi ile donatilmaktadir. Ayni yapiya sahip sekiz kart olugu, Sekil 2,de gösterildigi üzere sert taban katmani üzerinde saglanmaktadir. Her bir test seridi, idrarda sirasiyla amfetamin, kokain, metamfetamin, opiatlar, THC ve fensiklidin gibi analitleri tespit etmek için kullanilabilmektedir. Altin partikülleri etiketleme malzemesi olarak kullanarak, bu analitler rekabetçi yöntemlerle tespit edilmektedir. Test seridinin ön tarafi, açiklik 112 yönünde bir kart oluguna monte edilmektedir ve test seridinin numune uygulama alanindaki cam elyafi benzeri emici malzeme açikliktan 112 görülebilmektedir ve ardindan taban katmani ile ayni boyutta olan seffaf yapistiricilar taban katmaninin arka kismina kaplanmaktadir, böylelikle bir tespit aparati olusturulmaktadir. Elli negatif numune, amfetaminler, kokain, metamfetamin, opiatlar, THC ve fenilsiklohekzan dahil olmak üzere madde bagimliligi karisimlari ile karistirilmaktadir, buna ek olarak 50 negatif numune saglanmaktadir. Test sirasinda, tespit aparati (tespit karti) bu idrar numunelerine yerlestirilmektedir ve saniye, 1 dakika, 2 dakika, 3 dakika, 5 dakika boyunca idrara daldirilmaktadir veya tüm tespit aparati, tespit aparati tarafindan tespit edilmek için 1 ila 15 dakikadan daha uzun süre siVida bekletilmek üzere siVi numunenin içine serbestçe firlatilmaktadir. Sin olarak siVi akisi etkili sonuçlar elde edilecek sekilde dogru bir sekilde tamamlanmaktadir, yani aparat daha rahat ve kullanici dostu iken sonuçlarin dogrulugu garanti altina alinmaktadir. Örnek 1,e kiyasla Sekiller 12 ila16,da gösterildigi üzere bir tespit aparati saglanmaktadir, burada siVi kanali 1046 her bir numune haznesinin alt kismindadir. Test seridinin boyutu 2 mm kalinliginda ve 6 mm genisligindedir. Numune haznesinin hacmi (test seridi olmadan) 2 mladir. Sivi kanalinin uzunlugu ve genisligi sirasiyla mm cinsindendir. Elli negatif numune, amfetaminler, kokain, metamfetamin, opiatlar, THC ve fenilsiklohekzan dahil olmak üzere madde bagimliligi karisimlari ile karistirilmaktadir, buna ek olarak 50 negatif numune saglanmaktadir. Test sirasinda, tespit aparati (tespit karti) bu idrar numunelerine yerlestirilmektedir ve boyunca idrara daldirilmaktadir veya tüm tespit aparati, tespit aparati tarafindan tespit edilmek için 15 dakikadan daha uzun süre sivida bekletilmek üzere sivi numunenin içine serbestçe firlatilmaktadir. Sin olarak sivi akisi etkili sonuçlar elde edilecek sekilde dogru bir sekilde tamamlanmaktadir, yani aparat daha rahat ve kullanici dostu iken sonuçlarin dogrulugu garanti altina alinmaktadir. Burada gösterilen ve açiklanan bulus, burada özellikle açiklanan elemanlarin ve sinirlamalarin herhangi biri olmadan da uygulanabilmektedir. Burada kullanilan terimler ve ifadeler, sinirlandirmadan Ziyade örneklendirme için kullanilmaktadir ve bu terimler ve ifadelerin kullanimiyla burada açiklanan özelliklerin ve bölümlerin baska esdegerlerini hariç tutmamaktadir, çesitli modifikasyonlarin mevcut bulusun koruma kapsami içerisinde uygulanabilir oldugu anlasilmalidir. Dolayisiyla her ne kadar bulus özellikle çesitli yapilandirmalar ile açiklanmis olsa ve burada açiklanan kavramlarin alternatif özellikleri, modifikasyonlari ve varyasyonlari teknikte uzman kisilerce yapilabilmektedir ve bu modifikasyonlar ve varyasyonlar ekteki istemler ile tanimlanan mevcut bulusun koruma kapsami içinde degerlendirilecektir. Burada listelenen ve mevcut makalelerin, patentlerin, patent basvurularinin ve diger tüm belgeler ve elektronik bilgilerin içerikleri, her bir yayin özellikle ve ayri ayri atifta bulunulmus olarak bütünüyle referans alinmis sekilde mevcut açiklamaya dahil edilmistir. Basvuru sahibi bu tür herhangi bir makale, patent, patent basvurusu veya baska bir belgede yer alan tüm materyal ve bilgileri bu basvuruya dahil etme hakkini sakli tutar. TR TR DESCRIPTION OF AN APPARATUS FOR THE DETECTION OF AN ANALYSIS IN A LIQUID SAMPLE TECHNICAL FIELD The present invention relates to an apparatus and method for the detection of an analyte in a liquid sample. PREVIOUS TECHNIQUE The following prior technical information is provided to help readers better understand the present invention rather than the prior technical information. Illicit substance abuse has become a widespread and worsening social problem today. In 2003, a survey conducted by the U.S. Department of Health and Human Services revealed that approximately 19.5 million American citizens, or 8.2% of those over the age of 12, were taking illicit substances. This refers to illicit substance use within one month of the Department conducting the survey. Cannabis has been identified as the most commonly used illicit substance, accounting for 6.2% (14.6 million), while 1 million people use hallucinogens and an estimated 19,000 use heroin. To address this social problem and combat substance abuse, drug testing has become a standard testing procedure across various sectors, such as education, sports, and law enforcement. To expand this effort, the drug testing industry has been established, providing a wide variety of drug testing products. Urine sample collection containers for sample analysis are a classic testing product. These containers can be complex, difficult, or dirty for users, or they can lead to problems with sample manipulation when recent illicit substance use is to be concealed. Additionally, urine samples may not be collected in some cases, for example, at roadsides or in public places. Many other sample collection and testing devices are inadequate for extracting samples from the collection device, leading to numerous problems such as environmental contamination due to sample leakage, the test results being affected by the amount of sample collected (too little or too much), or the detection process becoming complex due to a series of steps. Many of these devices are complex to design and manufacture, requiring expensive materials. Therefore, better methods and apparatus are needed for sample collection and testing. BRIEF DESCRIPTION: To solve the problems present in previous techniques, the present invention provides a detection apparatus and a detection method for the identification of analytes in liquid samples. This apparatus and detection method overcome a number of problems, allowing for better processing performance and more reliable test results. One aim of the present invention is to provide a fixation apparatus containing a substrate supporting the test element, where the substrate includes a groove to house the test element and a sample reservoir for collecting the liquid sample. In some preferred modes, the test element is provided in the groove, and part of the sample application area of the test element is located in a sample reservoir. In some preferred modes, the apparatus additionally includes a coating layer covering the groove on the substrate to form a partially sealed channel that can be used to house the test element; optionally, the coating layer seals the groove. Optionally, the channel contains a test element. In some preferred modes, part of the sealed channels forms a sample reservoir for collecting the fluid sample. In some preferred modes, the sample chamber includes an opening in the groove; optionally, a portion of the groove is not sealed to create the opening, and this opening forms the sample chamber opening. In some preferred modes, the substrate is a flat structure with a series of grooves to accommodate the test elements. In some preferred modes, the substrate is a rigid substrate and the coating layer is a flexible coating layer. Optionally, the substrate has a specific thickness and the thickness of the coating layer is greater than the thickness of the substrate. In some preferred modes, the substrate is transparent and the coating layer is opaque, and the opening is located on a transparent substrate; optionally, the substrate is opaque and the coating layer is transparent, and the opening is located on the coating layer. Alternatively, in both of the above configurations, a corresponding opening is created on both the base layer and the cladding layer as the opening for the sample chamber. In some preferred configurations, the test element includes a test area and a sample application area, where the test area is downstream from the sample application area. In some preferred configurations, the base layer is covered with a flexible cladding layer to allow the card groove to form a partially leak-proof channel. In some preferred configurations, the opening is located on the base layer and is used to allow the fluid sample to flow into the sample chamber. In some preferred configurations, the opening is located on the cladding layer and is used to allow the fluid sample to flow into the sample chamber. The fluid sample entering the sample chamber contacts a portion of the sample application area on the test element, thus allowing the fluid sample to flow from one test area to another, thereby completing the detection of the analyte in the sample. In some preferred modes, a portion of the test element's sample application area is located within the sample chamber. In some preferred modes, the sealing element is either a liquid-tight or gas-tight element. In some preferred modes, in a card groove containing a test element, the portion of the card groove, excluding the opening for the fluid sample to flow into the sample chamber, is coated with a layer and sealed to form a channel. In some preferred modes, the base layer is a rigid structure formed by single-mould molding, specifically single-mould injection molding. The coating layer is a flexible or rigid material that can be coated onto the substrate to seal the card groove, creating an opening at one end and a leak-proof channel at the other, with a portion of the test strip located within the channel. Preferably, the labeled area and the detection area of the test strip are located within the leak-proof channel, where the opening is on a rigid substrate. In some preferred modes, the opening is created on the substrate that forms the card groove and corresponds to a portion of the sample application area. In some preferred modes, a structure that reduces, restricts, or eliminates capillary flow is located on the card groove, particularly on the bottom surface or side wall of the card groove, so that the liquid flows largely onto the test element instead of flowing through the gap created between the test strip and the card groove. This gap is the capillary void. The "reduction" mechanism means preventing a portion of the fluid from flowing through the capillary gap, the "limiting" mechanism means minimizing the flow of fluid through the capillary gap, and the "elimination" mechanism means preventing any fluid from flowing through the capillary gap, for example, stopping it at 100%, 5%, 90%, or 89%. In some preferred modes, a protruding interlocking structure is included on the side wall of the card groove to prevent some of the fluid from flowing through the capillary gap created by the test strip and the side wall. For example, structures on the bottom or side wall of the card slot can reduce, restrict, or eliminate capillary flow; such as these interlocking structures can obstruct capillary flow and, in addition, ensure that the gap between the test strip and the side wall of the card slot is larger than the size of the capillary flow, thus preventing the capillary flow of the liquid from flowing along the test strip and the side wall of the card slot and entering the leak-proof card slot channel, and preventing a "overflow" phenomenon. In some preferred modes, a structure that reduces capillary flow is located on the upstream side of a labeled area of a test element, or on the downstream side of the test element, or on the upstream side of a sample chamber; Ideally, a capillary flow reducing structure is located upstream of a labeled area of a test element, or a capillary flow reducing structure is adjusted to correspond to a labeled area of a test element. In some preferred modes, the capillary flow is the capillary space created between a test strip and a card flow, or the capillary gap created between a test strip and the bottom of a card slot. Of course, these interlocking structures serve the function of fixing the test strip. In some preferred modes, the card slot includes a pressure relief structure or a discharge structure, where the pressure in the leak-proof card slot channel is reduced when the liquid enters the leak-proof card slot channel via the capillary flow of the test strip. When pressure is not relieved through a structure in the channel, capillary flow can no longer continue, and the test strip ceases to function, resulting in a "non-functioning" phenomenon. In some preferred modes, the structure for pressure relief or discharge is a trough. In one preferred mode, the trough forms a "/[`" or an arrow shape. Preferably, the orientation of the top end of the trough is consistent with the flow direction of the sample over the test element. In some preferred modes, the trough structure for pressure relief or discharge is located upstream of the labeled area of the test element or upstream of the sample chamber or downstream of the test area; Ideally, the pressure relief or venting channel is located upstream of the test element's labeled area, or the pressure relief or venting channel is arranged to correspond to the test element's labeled area. In some preferred modes, the pressure relief or venting channel is located at the bottom of the paper channel, where one end of the channel contacts the inside of the paper channel and the other end contacts the outside to facilitate gas removal. In some preferred modes, one end of the groove structure communicates with the interior of the card groove, and the other end communicates with the exterior (e.g., via an opening) to facilitate gas removal. In some preferred modes, the structure for pressure relief or venting is located at the bottom of the card groove, where one end of the structure communicates with the interior of the card groove and the other end communicates with an opening to facilitate gas removal. In some preferred modes, the sample chamber includes a support structure that supports a sample application area of a test element, so that all areas of a test strip are in one plane. In some preferred modes, the support structure for supporting the sample application area is located in the sample chamber. In some preferred modes, the sample chamber has a lower section, a section of the coating layer, and a section of the base layer. It consists of, or is formed by, a section of the sample chamber. Optionally, the sample chamber includes a bottom section, an opening, a section of a coating layer, and a section of a groove. In some preferred modes, the sample chamber has recessed side walls. In some preferred modes, a test element is provided in the groove, and a portion of the sample application area of the test element is located in a sample chamber. Preferably, the apparatus additionally includes a coating layer covering the groove on the base layer to form a partially sealed first sealing channel and a second sealing channel, the first and second sealing channels containing a portion of the test element, and the second sealing channel forming the sample chamber. Preferably, the base layer includes a back and a front, the groove is located on the back or front of the base layer, and a coating element is located on the front or back of the base layer. It covers one side. Preferably, the fixing apparatus additionally includes an opening in contact with the sample chamber to allow liquid to enter the sample chamber through the opening. In some preferred modes, the sample chamber contains one or more liquid channels. The liquid channels are in contact with the sample application area of the test strip. Preferably, the liquid channel is located upstream of an opening. Preferably, the liquid channel is located on a collection chamber. Preferably, the liquid channel is located at the bottom of a collection chamber. Preferably, the liquid channel makes a section of the test strip visible. Preferably, the liquid channel makes one end section of the test strip visible. Preferably, the size of the liquid channel prevents the liquid sample stored in the sample chamber from flowing out of the sample chamber through the liquid channel due to surface tension. Preferably, the size of the liquid channel in the sample chamber... The liquid sample is adjusted so that when the test strip occupies a portion of the channel, the liquid flows out of the sample chamber through the liquid channel not occupied by the test strip due to surface tension. The present invention provides a method for detecting the analyte in a liquid sample, the method includes: providing an apparatus according to any of the previous configurations, immersing one end of a sample chamber into the liquid sample and holding it for a period of time, then removing it and reading the test results on the test element. Alternatively, the present invention provides a method for detecting the analyte in a liquid sample, the method includes: providing an apparatus according to any of the previous configurations, immersing the entire detection apparatus into the liquid sample and holding it for a period of time, then removing it and reading the results on the test element. In some preferred modes... The phrase "holding for a period of time" can refer to a duration between 1 second and 1 hour. Preferably, holding times are 1 second, 3 seconds, 5 seconds, 20 seconds, 30 seconds, 40 seconds, minutes, and 1 hour. In some preferred modes, immersion is partial or complete. Some modes involve the free insertion, placement, or submersion of the fixing apparatus into the liquid sample in any way or for any duration. Here, "any duration" can be between 1 second and 1 hour, for example, 1 second. [3 BRIEF DESCRIPTIONS OF FIGURES] FIGURE 1 shows a schematic structural diagram of a fixing apparatus according to the current invention, where FIGURE 1A shows a schematic diagram of a card groove on a substrate, where the left side is a schematic diagram of a combined fixing apparatus, while the middle side is a card groove. Figure 1B is a schematic structural diagram of a test element in a specific configuration. Figure 1C is a schematic structural diagram of a top view of a test element in a card groove in a specific configuration. Figure 2 is a three-dimensional structural diagram of a test element according to a configuration of the present invention. Figure 3 is a schematic structural view of a base layer (back surface) according to a configuration of the present invention. Figure 4 is an enlarged three-dimensional structural diagram of a portion of the base layer in Figure 3. Figure 5 is an enlarged schematic view of a portion of a card groove structure according to a configuration of a base layer. Figure 6 is a Figure 7 is a schematic diagram of an enlarged portion of a card groove of a base layer structure (physical product) according to the configuration (sample chamber location). Figure 8 is a cross-sectional structural diagram of a coating layer after coating the back of a base layer according to a configuration of the present invention. Figure 9 is a physical structural view of the front part of a base layer. Figure 10 is a three-dimensional structural view of a test element placed on a base layer. Figure 11 is a schematic diagram of an isolated structure of a coating according to a configuration of the present invention. Figure 12A is a three-dimensional structural view of a coating body; Figure 13B is a schematic diagram of an internal structure. Figure 11C is a cross-sectional structural diagram of a cladding body. Figure 12 is a three-dimensional structural view of a substrate layer (containing a card groove but not a test strip) according to a configuration of the present invention. Figure 13 is a front view of a substrate layer shown in Figure 12. Figure 14 is a three-dimensional view of a substrate layer shown in Figure 12, where a test strip is provided within the card groove and a cladding layer covers the test strip. Figure 15 is a schematic front view of a substrate layer of the fixing apparatus shown in Figure 14 (test within the card groove). Figure 16 is a schematic view of the operation of the fixing apparatus as shown in Figure 15. Figure 17A îîîgêâEÜIM-îââlîü &WWE 0 VE] 17B %?âlêßûâfzêbûâîßéâmâg VE] 0 VE] 17C EMU îîîîü1$4î$lglzlîûüîlzlîââm %_ên VE] 0 DETAILED DESCRIPTION The structures or technical terms used in the present invention are explained in more detail below. These explanations show how the methods of this invention can be obtained by means of examples and are not intended to limit the scope of protection of the present invention. Detection Detection is the identification of a substance or material, including but not limited to chemical substances, organic compounds, inorganic compounds, metabolic products, drugs or drug metabolites, organic tissues or metabolites of organic tissues, nucleic acids, proteins or polymers. It means to analyze or test whether a material is present or not. Additionally, detection means testing the quantity of a substance or material. Analysis also refers to immunity detection, chemical detection, enzyme detection, etc. Upstream and downstream sides: The upstream and downstream sides are divided according to the direction of fluid flow, and generally the flow is from the upstream side to the downstream side. The downstream side receives fluid from the upstream side, and the fluid can also flow downstream along the upstream side. Here, we generally divide these regions according to the direction of fluid flow. For example, in some materials that use capillary force to support fluid flow, the fluid can flow against the direction of gravity; in this case, the upstream and downstream sides are still divided according to the direction of fluid flow. Gas flow or fluid flow: Gas flow or fluid flow. Flow refers to the ability of a liquid or gas to flow from one place to another. The flow process can pass through certain physical structures that act as a guide. The phrase "passing through certain physical structures" here means flowing passively or actively to another place by passing over the surface or through the interior of these physical structures, where passivity is usually due to external forces, such as capillary action. Flow here can mean the flow of gas or liquid under its own influence (gravity or pressure) or passive flow. Test element Various test elements can be combined and applied for the present invention. The test element includes a test strip that can be analyzed in various ways, such as immunoassays or chemical tests to detect the analyte in samples such as drugs or related metabolites, indicating physical conditions. The test element is a test strip as shown in Figure 1C and Figure 2. When manufactured, they can be made from water-absorbent or non-water-absorbent materials. A test strip can use various materials to transmit the liquid, and one material can be placed on top of another. For example, a filter paper can be placed on nitrocellulose. Or, in the test strip, a region containing at least one material is located behind another region containing at least one different material. In such a case, the liquid circulates between the regions, and these regions can be placed on top of each other or not placed on top of each other. The materials on the test strip can be fixed to a hard surface, for example, a plastic liner holder 27, to increase the sustainable strength of the test strip. A test strip made of a water-absorbent material can flow along the test strip due to capillary action. The materials in different areas can be the same or different, and liquid flow is maintained between these areas of the same or different materials, so that the sample solution can flow along the test strip. Some detection In some configurations where the detected objects are identified via a signal generation system (e.g., at least one enzyme specifically responds to the detected object), at least one signal-generating substance can be absorbed not only on the materials of the test strip, as described above, but also on the analyte detection area of the test strip. In addition, signal-generating substances can be pre-treated on one or more materials of the test strip in the sample addition area, reactive area, and analyte detection area, or throughout the entire test strip. This can be achieved by adding a solution of the signal-generating substance to the surface of the application area or by immersing one or more materials of the test strip in the signal solution and then drying the test strip. Furthermore, the above method can be used to pre-treat one or more materials of the test strip in the sample addition area, reactive area, and analyte detection area, or throughout the entire test strip. Additionally, the sample addition area of the test strip... The signaling agent, located in the sample application area, reactive area, and detection area, can be added to one or more surfaces of the test strip materials as a labeling reagent. The 20 areas of the test strip can be arranged as follows: a complete and necessary test strip may include a sample application area 23 and a test area 22. In general, the liquid first contacts the sample application area and then flows into the test area 22 under capillary action. Specifically, the test strip may also include the following areas according to requirements: a sample application area or application area 23, or at least one reagent area and a test result area 24, or at least one control area 25, or at least one manipulation detection area and a liquid absorption area 21 in a test area 22. If the detection area includes a control area, the preferred control area is located behind the analyte detection area of the test result area. All these areas, or combinations thereof, form a test strip. The materials can be present on a single test strip. Furthermore, these areas are made of different materials and are connected to each other according to the direction of liquid transmission. For example, the liquid can be transmitted directly or indirectly between different areas. In this configuration, different areas can be connected end-to-end, or they can be stacked on top of each other along the direction of liquid transmission, or they can be connected via other materials such as bonding media materials (water-absorbing materials such as filter paper, glass fiber, or nitrocellulose are preferred). Thanks to the use of bonding materials, the liquid can flow over materials that connect each area end-to-end, materials that connect each area end-to-end but where the liquid does not flow, or materials where each area overlaps (including but not limited to end-to-end overlapping) but where the liquid does not flow. In a specific configuration of the present invention, the test The test strips, in any form, can be placed in a card groove or channel formed by the base layer being coated by a coating element on the card groove. The channel formed is intended solely to house the test strip and is not intended to be used for or involved in the transmission of fluid samples. Therefore, the fluid samples to be tested are expected to flow over the test strip due to the capillary action of the test strip itself. However, considering the cost and the testing of different analytes, it is generally the case that a test strip is placed in each of the numerous card grooves. For example, 10 test strips may be used to test 10 different analytes. The card grooves formed affect the test results on the test strip because there is physical contact between the card groove and the analyte. This type of physical contact affects the test. This will affect the performance of the liquid in the test strip, and therefore the accuracy and efficiency of the test. Detailed explanations of how the test strip should be arranged in the fixing apparatus and how the above technical problems can be effectively overcome are provided below within the invention. Samples The fixing apparatus provided according to the invention can be used to fix samples, including biological liquids (e.g., liquid or clinical samples). Liquid samples or fluid samples can come from solid or semi-solid samples, including stool, biological tissues, and food samples, and these solid or semi-solid samples can be converted into liquid samples by any suitable method such as enzymolysis, mixing of solid samples in a suitable solution (such as water, phosphate solution, or other buffer solutions), crushing, softening by wetting, incubation, dissolution, or digestion. It is convertible. "Biological samples" include samples such as urine, saliva, blood and their components, cerebrospinal fluids, vaginal secretions, sperm, feces, sweat, secretions, tissues, organs, tumors, tissue and organ cultures, cell cultures, and culture media taken from humans or animals, taken from animals, plants, and foods. The preferred biological sample is urine; food samples include processed foods, finished products, meat, cheese, liquor, milk, and drinking water; and plant samples include samples taken from any plant, plant tissues, plant cell sections, and culture media. "Environmental samples" come from the environment (e.g., liquid samples from lakes or other water sources, sewage samples, soil samples, groundwater, seawater, and wastewater samples) and may also include wastewater or other sewage water. Any analyte is detected using the available evidence and a suitable test element. Preferably, available The analyte is used to detect drug micromolecules in saliva and urine. Examples of applications for the analyte related to the present discovery include drugs (such as substance abuse) and some hapten substances. "Substance abuse" (DOA) means using drugs for non-medical purposes (typically to paralyze nerves) in a way that causes physical and mental harm and leads to dependence on the drug, drug addiction, and/or death. Examples of substance abuse include cocaine, amphetamine AMP (e.g., Black Beauty, white amphetamine tablets, dextroamphetamine, dextroamphetamine tablets, Beans), methylamphetamine MET (crank, met, crystal, speed), barbiturate BAR (e.g., Valium, Roche Pharmaceuticals, Nutley, New Jersey), sedatives (e.g., sleeping pills), Lysergic acid diethylamide (LSD), inhibitors (downer, goofball, barb, blue devil, yellow jacket, methaqualone), tricyclic antidepressants (TCA, also known as imipramine, amitriptyline, and doxepin), methylenedioxymetam-fetamine MDMA, phencyclidine (PCP), tetrahydrocannabinol (THC, weed, doping, hash, marijuana, etc.), opiates (also known as morphine MOP or opium, cocaine COC, heroin, OXY), anti-anxiety drugs, and sedative hypnotics are drugs primarily used to relieve anxiety, tension, and fear, and to stabilize emotions, possessing hypnotic and sedative functions. These include benzodiazepines (BZO), atypical BZ, fused dinitrogen NB23C, benzodiazepines, and BZ receptor inhibitors. This includes ligands, open-loop BZs, diphenylmethane derivatives, piperazine carboxylate, piperidine carboxylate, quinazolinones, thiazines and thiazole derivatives, other heterocyclic, imidazole sedatives/analgesics (e.g., OXY, MTD), propanediol derivatives-carbamates, aliphatic compounds, anthracene derivatives, etc. The detection apparatus provided according to the present invention can also be used to detect drugs that are easily taken in overdose for medical purposes, such as tricyclic antidepressants (imipramine or its analogs) and acetaminophen. After being absorbed by the human body, these drugs will break down into different micromolecular substances, and these micromolecular substances will be found in blood, urine, saliva, sweat, and other body fluids or some body fluids. The detection apparatus provided according to the present invention can detect any A technical principle, namely qualitative and quantitative determination, can be used to determine the presence or quantity of an analyte in a sample (e.g., a liquid sample). The detection apparatus consists of a test element that detects the presence or quantity of the analyte in the sample, and a device that houses the test element. According to the present invention, the detection apparatus includes a substrate, and the substrate includes a groove to house the test element and a coating element used to coat and seal the groove. In this way, the coating element can coat or seal the test element in the groove to carry out the testing of the samples. Preferably, the detection apparatus also includes a sample chamber in which part of the sample application area of the test element is located. Preferably, the sample chamber consists of a groove and a coating layer. In some preferred modes, the substrate layer has an opening that allows the liquid sample to enter the sample chamber. In some preferred modes, the coating layer has an opening that allows the liquid sample to enter the sample chamber. According to the present invention, the fixation apparatus can also be combined with other devices to complete the detection of the analyte in a sample. Such devices may be a detection result reader, a scanning device for reading detection results, storing result data, or transmitting data, etc. Of course, according to the present invention, the fixation apparatus can also be placed in some containers, for example, a container containing multiple chambers for collecting the fluid sample. According to the present invention, the fixation apparatus is placed in one chamber of a container. After the container collects a fluid sample, the fluid sample will come into contact with the test strip on the fixation apparatus to complete the analysis. Substrate layer. Coating element. Test element: According to the current design, the fixing apparatus includes a base layer, and the base layer contains one or more card slots. For example, the middle diagram in Figure 1A shows a fixing apparatus with card slot(s) as in Figure 1. The base layer 104 contains one card slot 100. The base layer 104 has a specific thickness, and a slot (card slot, also known as an opening channel) of a specific depth can be made in the base layer. The width of the card slot 100 is equivalent to or greater than the width of the test element, e.g., for test strip 20, the card slot depth is equivalent to or greater than the thickness of the test strip. Generally, to save costs and reduce the size of the detection apparatus, the width of the card groove is slightly larger than the width of the test strip, the depth of the card groove is slightly larger than the thickness of the test strip, and in some cases, the width of the card groove is equal to or slightly less than the width of the test strip, while the depth of the card groove is slightly less than or equal to the thickness of the test strip. Due to the card groove being located on the base layer (middle diagram in Figure 1A), coating the base layer with a coating layer 101 alone can seal the entire card groove, creating a sealed channel that can accommodate the test element (right diagram in Figure 1A), or, for example, a sealed channel can accommodate a detection area and a labeled area of a test element. Optionally, a leakproof channel can contain a water absorption area, a labeled area, a test result area, and a test element test result control area (Figure 1C). In general, a base layer containing a card groove is provided first. On one side of the base layer, a card groove of equal length to the test strip is opened, making the card groove fully visible, and then the test strip 20 is placed in the card groove, with the back side of the test strip moving downwards (the side with the support structure 27) and the front side moving upwards (the side where the detection area or filter paper is visible). A primary coating area 810 and a secondary coating area 102 and a coating element 101 containing an opening 103 between the primary and secondary areas are provided. Ultimately, the coating element covers the base layer, so that the first coating area covers the test area of the 810 test element and the second coating area covers part of the sample application area, allowing the opening to make part of the 103 sample application area visible. For example, in location 102 in Figure 1A, which is actually part of the coating element 101, part of the coating element 810 covers the card groove and forms a watertight channel at one end to accommodate part of the test strip element. The opening on the coating element 101 is used to make part of the sample absorption area of the 23 test element visible. Thus, one end of the card groove forms a sample reservoir through a section of the card groove on the base layer and the second coating area of the coating element 102. The sample chamber is used for collecting samples. The height of the sample chamber depends on the length of a section of the coating element. The volume depends on the depth of the card groove and the height of the coating element. Therefore, the sample volume can be adjusted as desired and is changed by the height of the coating element and the depth of the card groove. In general, after determining the size of the test strip and the size of the card groove, the volume of the sample chamber is also determined, thus playing a role in fixing the sample volume. In addition, the first coating area of the coating element and a part of the card groove form a leak-proof channel, so that the test result area and the labeled area of the test element are located in the leak-proof channel. Depending on the opening of the coating element 103, it can be said that the entire leakproof card groove is divided into two leakproof channels, the leakproof channel formed by the card grooves covered by a part of the coating element 810 (the first leakproof channel, leakproof at one end and not leakproof at the other), is used to house a part of the test strip elements, e.g., the test result area and the labeled area of the test element, and this leakproof channel is called the first leakproof channel; and the other leakproof channel (the leakproof channel formed by the card groove partially covered by coating element 102) forms the sample reservoir. Two leak-proof channels communicate with the outside through a common opening 103, while opening 103 is used to allow the fluid sample to enter the sample chamber. This facilitates the collection of fluid samples for quick and easy testing and allows for more flexible testing. The test can be completed without requiring much specialized knowledge and skills, making it easy and user-friendly. FIGURE 1B shows a specific configuration of a test element. It includes a test strip 20, a sample application area 23, and a test area 22. Where possible, the test strip may also include a labeled area 26 and a sample absorption area 21, for example, test area 22 is a nitrocellulose membrane and the sample application area is a glass fiber. The test area may include a test result area 24 and a test result control area 25. Labeled area 26 is located downstream of sample application area 23, and fixation area 22 is located downstream of the labeled area. The fixation area includes a test result area 24 and a test result control area. The sample absorption area is downstream of the test result control area. According to the current design, if the fixation apparatus is assembled, a card groove 100 is first created on the base layer 104. The card groove can be created by one-time injection molding, then test strip 20 is placed in the card groove 100, so that one end of the test strip's liquid absorption area 21 is located at the top of the card groove and near the opening of the coating element in sample application area 23, corresponding to the position of the opening 103. Ultimately, the substrate is coated with a coating element 101, and an opening 103 is made in the coating element, so that a portion of the sample application area 23 of the test element becomes visible from the outside through the opening 103. In addition, the end portion of the test element 23 in the sample application area is inside the sample chamber (Figure 1A shows an integrated test device 10 on the left, a substrate containing a card groove in the middle, and a coating element on the right). A top view of the complete test device is shown in Figure 1C, where only a portion of the sample application area of the partial test element is visible from the outside and a portion of the sample application area is inside the sample chamber. Here, the substrate can be transparent or opaque, while the coating layer can be partially transparent. For example, the test result area corresponding to the test element and/or the test result control area may be transparent for reading the result of the detection area, while other parts may not be transparent. When testing is required, the test device (shown in the left diagram in Figure 1A or in the diagram in Figure 1C) is immersed in the liquid sample, e.g., urine, and the liquid sample enters the sample chamber in the card slot through opening 103. The immersion depth can immerse the entire coating element 102 forming the sample chamber, or any height above a portion of the coating element 102, or even the entire test device, into the liquid sample. This allows the liquid to easily enter the sample chamber through opening 103. When placed in the liquid sample, the test device can be removed immediately or, after some time, removed and placed horizontally. The test device can also be left inside the liquid sample; in this way, the liquid sample contacts the application area as it enters the sample chamber, and flows from the application area along the 23 test strips to the labeled area 26, and then downstream to the test area, finally being absorbed by the absorption area 21 (indicated by the arrow in FIGURE 1C). Thanks to the collection or retention of samples in the sample chamber, these are sufficient for the absorption of the test strip and the completion of the test, thus overcoming the disadvantages of the liquid deficiency in the previous technique. Insufficient samples can prevent the test from being completed; If the liquid is insufficient, it cannot flow over the test element; for example, it may not flow continuously only upstream of the test result area, or it may not wet the area due to insufficient liquid flow towards the test result area. According to the current invention, the device makes it easy, comfortable, and free for the testers or operators to use. For example, the entire test device can be immersed in a liquid sample that does not allow the liquid to enter the leak-proof channel, including the labeled area and the detection area (hereinafter referred to as the first leak-proof channel, one end of which is leak-proof and the other end is not leak-proof along the opening on the coating element). Due to the airtightness of the channel at one end and the fact that the other end will be made airtight by the liquid flowing through the opening, a portion of the gas is sealed within the channel. In this way, the liquid can flow almost completely downstream from the upstream to the downstream side of the test strip due to the capillary effect on the test strip, without additional liquid entering the channel. This prevents too much test liquid from entering the first airtight channel, thus avoiding the phenomenon called "overflow," which can lead to inaccurate test results. This makes testing easier and more convenient, allowing an operator (e.g., a doctor or laboratory supervisor) to directly insert the detection apparatus into the liquid sample, wait until the reaction is complete or the test result is ready, and then remove the apparatus to read the test results. In addition, obtaining sufficient sample requires a conventional fixation apparatus to be immersed in the liquid sample for a sufficient period of time. In the present invention, a sample reservoir is located at one end of the card groove and at the end of the test strip near the sample absorption area, which can be placed in the liquid and quickly removed. Test efficiency is improved by allowing sufficient sample to enter the sample reservoir; this apparatus offers significant advantages, especially when a large number of samples need to be fixed within a limited time. According to the present invention, the fixation apparatus has two leak-proof channels that communicate with the outside through a central opening. The longer, airtight channel contains the labeled area of the test strip, the test area, the test result control area, and even the sample suction area, while the shorter airtight channel contains only a portion of the sample application area, and the opening makes a portion of the sample application area visible. If one end of the sample application area is immersed in a liquid sample such as urine, the sample enters the shorter, second airtight channel (forming the sample reservoir) during immersion, requiring only a few seconds for separation, thus allowing the system to continue supplying liquid samples after the liquid sample is subsequently removed. The liquid sample flows from the upstream to the downstream side of the test strip upon immersion in the liquid sample, relying on the capillary flow opening of the test strip. When quickly removed, the liquid stored in the sample reservoir continues to provide liquid flow to complete the test. This significantly improves the efficiency of the work. In contrast, traditional card-type detection devices, which are similar to this invention, do not have a sample reservoir because immersing the sample application area of the test strip in the liquid sample takes more time, and therefore the test efficiency is not high. In some other modes, since a portion of the coating element 810 covers a portion of the card groove, when the test element is placed in the card groove, a portion of the card groove (the portion of the card groove covered by element 810) is sealed at one end; when the fixing apparatus is placed in the liquid sample, the sample portion does not enter the channel formed by the card groove covered by coating element 810. Because one end of the channel is sealed, the incoming liquid seals a portion of the gas in the card groove channel, so that no matter how long and how deep the fixing apparatus is inserted into the liquid sample, the liquid will not leave the test area and the labeled area submerged, thus ensuring test accuracy. In a more preferred mode, the labeled area on the test element and the test area are covered and sealed by a section of the coating element. More preferably, the opening is located below the labeled area and retains a portion of the sample application area. Even more preferably, a portion of the sample application area is in the sample reservoir (Figure 1C). Unlike conventional card-type fixing devices, this type of fixing device eliminates the need for the operator to worry about whether the card-type fixing device is correctly positioned in the liquid level or whether it remains continuously vertical in the liquid, by ensuring sufficient time for contact with the liquid sample. According to the current invention, the card-type fixing device can also be placed inside the liquid sample at any time. According to the current invention, even if the entire detection apparatus is completely submerged in the liquid sample, the test result will not be affected because the liquid cannot enter the reactive area with detection functions. Ensuring sufficient liquid sample at the location of the sample application area guarantees the required amount of liquid for the test. This will be explained in more detail below through specific configurations. The above explanation shows how the apparatus can be applied using a single test strip as an example, according to the current invention. Of course, the substrate can contain multiple similar card grooves. The coating element can coat and seal multiple card groove structures to create numerous openings. Each opening corresponds to a sample chamber, and each sample chamber is relatively independent, allowing for the detection of different analytes in the same liquid sample. According to the current invention, the substrate can be made of plastic, aluminum alloy, etc. The base layer can be rigid. The cladding layer can be flexible or rigid. Optionally, both the base layer and the cladding layer are rigid and bonded together; or the base layer is flexible and the cladding layer is rigid. In some preferred modes, the base layer usually has a certain thickness, and the groove formed on it has a suitable depth and width, covered with a thin film layer to coat and seal the groove. In some preferred modes, the base layer has a certain thickness, the cladding layer also has a certain thickness, a card groove is provided on the base layer, and a card groove is also provided on the cladding layer. If the base layer and the cladding layer are bonded face-to-face, the respective grooves correspond to form a channel. A test element is placed inside the channel. An opening is provided either in the base layer or the coating layer, and the opening is located in the middle of the groove and at one end near the sample application area of the test strip. This creates a sample reservoir that can hold several samples. For example, opening 112 is not located in the base layer, but opening 112 (Figure 1C) is provided on the coating element and is in contact with the sample reservoir; or opening 112 is provided on the base layer but not on the coating element (Figure 8); or opening 112 is provided in the same location on both the base layer and the coating element, and both openings are in contact with the sample reservoir. In some preferred modes, the base layer is defined such that it has multiple card grooves on the base layer, or the coating layer is transparent and flexible, or partially transparent, and specifically transparent in the area corresponding to the test area. In other preferred modes, the base layer is not transparent and the coating layer is transparent; alternatively, the base layer is transparent and the coating layer is not transparent. When the front of the test element is facing the base layer, the base layer may be completely transparent or partially transparent, or the base layer may be transparent in such a way as to correspond to the test area and/or labeled area on the test element (Figure 3). Optionally, with the front of the test specimen facing the coating layer, the coating layer can be completely transparent or partially transparent, or the coating layer corresponding to the test area and/or the labeled area on the test specimen can be transparent (Figure 1C), while the substrate layer can be transparent or opaque. The method for creating a groove in the substrate layer can be completed by one-time injection molding or laser perforation. The rigid substrate layer can be made from a "thermoplastic" material, for example, which here refers to a hot-melt plastic polymer that becomes fluid when heated and solidifies into a glassy substance when sufficiently cooled. This thermoplastic material can be a high molecular weight polymer, and the connections between its chains are based on weak Van der Waals forces, stronger dipole-dipole interactions, and hydrogen bonding or aromatic ring packing. Coating elements can be polymer-shaped flexible coating elements produced from materials such as plastic films, double-sided tapes, polymers, etc. The element can coat a rigid base layer to seal the groove in the rigid base layer. This can be produced from a thin-layer material formed from the above-mentioned base layer material or from a thin-layer flexible material formed from it. The concepts of "rigid" and "flexible" here should be interpreted relatively, not absolutely. In some other configurations, as shown in Figure 3, the fixing apparatus according to the present invention includes a substrate 30, and the material forming the substrate can be plastic and is formed by injection molding in a single step. One or more card slots 100 are placed on the substrate 30, and the card slot has a specific depth and width; the width of the card slot is the same as the width of the test element or equal to or slightly greater than the width of the test strip. The length of the card slot is equal to or slightly longer than the length of the test strip (Figure 3 shows the back of the substrate). Ideally, one end of the card slot and one end near the base layer 130 are fitted with a fixing structure, e.g., a pair of protruding interlocking structures 108 and 1081 placed on the opposing side walls 1002 and 1003 respectively forming the card slot (Figure 4). The protrusion holds the test element in a relatively fixed position in the card slot. An opening 112 is located at one end near the base layer 132, an opening 112 is provided in each card slot, but the opening is not placed at the lower end of the card slot 132, but a specific position 902 is maintained (Figure 7). The protected section at the front and the coating element subsequently applied to the card groove form a sample chamber (Figure 8), so that, in the case of multiple card grooves formed on the base layer, a sample chamber is formed at one end of each card groove, so that each sample chamber contains a test strip or a part of the sample application area is contained in each sample chamber, and each test strip can be used to test different analytes. Each sample chamber forms a relatively independent area due to the side wall of the card groove. These sample chambers are independent of each other and do not exchange liquid. In this way, the same type of liquid sample comes out of multiple sample chambers. However, different analytes can be detected due to the test elements being adjusted for different analytes. In this way, a liquid sample can be used to test various different analytes simultaneously, and since each sample chamber is relatively independent, interaction between test strips containing different test substances is prevented. In addition, the test strip containing the test substance (test area, labeled area) is sealed within the channel, typically a longer longitudinal channel, and a shorter sealed channel (sample chamber) is created at the other end of the card groove, which can contain only a portion of the sample application area, to prevent interaction between different test strips. Of course, optionally, each card slot may not be independently available at position 112, but where there is no partition at position 1120, an area is created without a partition (the partition structure is shown in Figure 4). Of course, optionally, a sample chamber usually corresponds to a test strip. Of course, the side walls forming the sample chamber of the card slot can also be removed. In this way, multiple test strips share a larger sample chamber. In addition, the card slot contains a structure that reduces, hinders, or restricts capillary flow. In a card slot designed in this way, there are generally two locations where a capillary gap occurs; one of these is the distance between the side of the test strip and the side wall of the card slot that can create a capillary gap and thus cause capillary flow. This type of capillary flow is undesirable because the resulting capillary flow causes the liquid to flow downstream before the liquid flowing through the test strip itself due to the capillary action, thus dissolving or wetting the test strip and resulting in abnormal tests, referred to as abnormal liquid samples or extra liquid samples. If the abnormal capillary flow is only the flow of liquid samples and the normal liquid, dependent on the capillarity of the test strip itself, can dissolve reagents on the test strip, such as labeling reagents, reagents for processing liquid samples, etc., then the detection accuracy and sensitivity will not be affected by this. Generally, this is necessary to allow more normal liquid to be absorbed by the test strip and to minimize the entry of abnormal liquid into the sealed channel, thus making the result more accurate. However, if the entry of abnormal fluid is not controlled, capillary action on the test strip will be affected, leading to erroneous test results. The structure is provided on the side wall of the adjacent card slot. The structure can assume the role of securing the test and other functional devices. This structure can reduce, obstruct, or limit capillary flow. For example, the structure can protrude from the side wall, and when the width of the test element is equal to or close to the width of the card slot, it places the test element in the card slot and compresses the protruding interlocking test strip, leaving a distance from the side of the test strip to the side wall of the card slot. This distance is larger than the size required to create capillary action, therefore no capillary flow can be created. This interlocking structure plays a role in reducing or limiting capillarity. In addition, although a capillary gap may exist between the test strip and the side wall of the card groove, the interlocking structure is in tight compression and contact with the test strip; and the liquid coming from the upstream side of the interlocking structure is blocked within the interlocking structure, thus preventing the liquid from passing through the capillary gap and reaching the downstream side before the liquid from the test strip, such as the labeled area or the detection area. Typically, the position of such an interlocking card structure is preferably located upstream of the labeled area, downstream of the sample application area, or upstream of the detection area, or corresponding to the labeled area. Ideally, such a structure that reduces, obstructs, or restricts capillary flow is usually placed inside the primary leak-proof channel. This structure, which reduces, obstructs, or restricts capillary flow, offers another advantage when placed upstream of the labeled area: in some cases, this structure will prevent further liquid from entering the primary leak-proof channel, thus ensuring that the primary leak-proof channel is completely sealed by the liquid entering to form part of the enclosed gas in the primary leak-proof channel, thereby allowing the test element to be tested independently. If liquid enters the primary leak-proof channel through the opening, this is microscopically a gradual process, and it is always expected that the liquid will no longer enter the channel once it has entered through the opening. The interlocking structure on the upstream side of the labeled area acts as a barrier to prevent liquid from entering the channel, thus ensuring the leak-proof performance. In this way, according to the current design, there is no need to worry about the liquid entering the primary sealing channel, even if the apparatus is immersed in the liquid sample or even freely thrown into the liquid sample in a way that could cause abnormal liquid to enter the primary sealing channel. In some preferred modes, the capillary flow reducing structure, e.g., the interlocking structure, is located upstream of the labeled area of the test element or downstream of the test area or upstream of the sample chamber; preferably, the groove of the capillary flow reducing structure is located upstream of the labeled area of the test element or the capillary flow reducing structure is positioned to correspond to the labeled area of the test element. In some preferred modes, capillary flow is the capillary space created between a test strip and a card flow, or the capillary gap created between a test strip and the bottom of a card slot. Additionally, a similar interlocking structure can exist in another structure as long as it has one or more functionally similar structures as described above. For example, the interlocking structure essentially protrudes upwards from the surface of the sidewall of the card slot, higher than the sidewall plane, thus narrowing the card slot in the interlocking structure. The interlocking structure can be distributed symmetrically on the surfaces of the two sidewalls, although symmetrical distribution is not necessarily required. In addition, a number of structures that reduce, obstruct, or restrict capillary flow may be present, and these structures can be distributed anywhere in the card slot as a single interlocking structure or as multiple interlocking structures randomly distributed rather than symmetrically. Of course, such a structure may have an indentation in the side wall of the card slot that does not increase the stability of the test strip in the card slot, but increases the distance between the side of the test strip and the side wall of the card slot, and this distance is greater than the capillary action distance. The indentation may be located on the upstream side of the labeled area of the test strip, on the downstream side of the opening, or on the downstream side of the non-sealed end inlet of the first sealed channel. In some preferred modes, for example as shown in Figure 4, a card slot additionally contains an additional structure that reduces, obstructs, or restricts capillary flow. The structure minimizes the flow of the liquid sample along the capillary structure (another location capable of generating capillary flow) created between the test strip and the bottom of the card slot 1001, thus maximizing the flow of the liquid sample only along the test strip. When the test strip is placed in the card slot, the front of the test strip (the side where the test area and the labeled area can be visually observed) is usually in direct contact with the bottom surface of the card slot 1001, thus creating a void structure, such as a capillary void structure, between the bottom surface of the card slot 1001 and the test strip. When the fixation apparatus is placed (immersed) in the liquid sample as described above, some of the liquid sample is absorbed by a part of the sample application area, some enters the sample chamber, and some flows upwards by creating a capillary gap between the lower part of the card slot 1001 and the front of the test strip. This causes the liquid sample to wet the labeled area or test area earlier, while the liquid from the test strip may not reach the labeled area and test area, thus leading to erroneous test results. When this is severe, it causes the test strip to malfunction. To prevent such problems, the card slot, according to the invention, additionally includes a structure that reduces capillary flow. The structure can reduce or prevent the capillary flow of the liquid outside the test strip. That is, the capillary structure allows the liquid to flow over the test element via the capillary force of the test strip, reducing the flow in the capillary gap formed between the test strip and the card groove. In some preferred modes, for example as shown in Figure 4, the structure that reduces capillary flow beyond the test strip is located at the bottom of the card groove; this structure can absorb some of the liquid samples to prevent them from continuing to flow through the capillary gap formed by one or more of the grooves at the bottom. One or more structures are as shown in Figure 4. The grooves can be a "Y" shape, or a cross or letter shape, or round, rectangular, square, diamond, oval, etc. Other shapes can be formed, such as those mentioned above. Of course, the groove is only one of the structures that reduce capillary flow, and there are other structures such as holes, cavities, tracks, or channels. These structures can absorb liquid samples or prevent the continuous flow of liquid samples over a large surface area; for example, when encountering a structure that reduces capillary flow, the liquid will be absorbed or obstructed, unable to flow forward or downstream, or largely unable to flow. These capillary flow-reducing structures can be distributed over the entire bottom surface of the card groove, or they can be restricted to certain locations. Preferably, these capillary flow-reducing structures are located at one location in the card groove. In some modes, these capillary flow-reducing structures are located upstream of the test strip labeled area. If the liquid flows upwards through the capillary gap created between the bottom of the card groove and the test strip, the liquid will be stopped or reduced at this point due to the presence of capillary flow-reducing structures, thus preventing liquid samples from pre-wetting the labeled area. In some preferred modes, the capillary flow-reducing structure is located at a corresponding position within the labeled area. In other preferred modes, the capillary flow-reducing structure is located downstream of the opening and upstream of the labeled area. Alternatively, the capillary flow-reducing structure is located at the bottom of the card groove near the opening. In some preferred modes, the structural connection that reduces capillary flow may also include another pair of structures 1018, 1008 that secure the test strip, thus ensuring that the card slot has a fixed structure in different positions that secures the test strip in the card slot (Figure 4). As shown in Figures 4 and 3, the card slot 100 has a bottom part 1001 and side walls 1002 and 1003 formed by the two corresponding edges. While the two edges define the depth of the card slot, the bottom part 1001 defines the width of the card slot. When a card groove is created on a base layer, the base layer has a specific thickness, so that a specific depth of groove can be easily and conveniently created on the base layer to accommodate a test element of a specific thickness. Essentially, the base layer used to create a card groove has two sides: one side for opening the card groove (which can be called the back side of the base layer) and the other side, designated as 1001, which is the bottom of the card groove (which can also be called the front side of the base layer). With the bottom surface designated as 1001, the thickness of the card groove can be from 1 mm to 8 mm, for example, 1 mm, 2 mm, 4 mm, 5 mm, or 8 mm for a thickness designated as 1007, etc. The thickness of the base layer can range from 1 mm to 8 mm, and can be selected as needed according to different requirements. Here, the bottom part of the card groove is not completed; instead, it has a hollow structure at a certain distance. That is, the hollow part forms an opening, but the entire bottom part of the card groove is not hollow. The hollow part is located in the middle and is divided into two parts; one part is used to support the detection area of the test strip or to create a structure that reduces capillary flow, while the other part is used to form a part of the sample chamber. The created hollow opening (112) can be of any length, any area, and any shape, e.g., rectangular, square, circular, diamond-shaped. Generally, the opening is used to draw the liquid sample into the sample chamber. Additionally, the opening is used to make part of the test strip visible, e.g., to make part of the sample application area visible. Furthermore, to better secure the test strip, it is placed evenly in the card groove. A slightly convex area is provided at the bottom of the card groove corresponding to the interlocking structures (1008, 1018), e.g., as shown in the figure. Two areas (1132) are 1 mm, 2 mm, or other ratios higher than the area shown in the figure. The back of the base layer is shown in Figure 3, and the front in Figure 8. When the test strip is placed in the 20 card slot, one end of the water absorption area of the test strip (Figure 2) is close to the 3rd part of the base layer, while the end with the sample application area is close to one end of the base layer, and the sample application area with the absorbent material is facing forward, and an absorbent material of the sample absorption area such as glass fiber or other fibrous material (Figure 1C or Figure 10, or Figure 2) is visible through the opening. After the test strip is placed, the back of the base layer is covered with a flexible coating layer (Figure 8), making the entire card slot leakproof. Thus, the entire card groove behind the base layer is covered by the coating layer (Figure 7). At this stage, a sample chamber (second sealing channel) is formed near each end of the 132 base layers in each card groove. A portion of the sample application area of the test element (Figure 10) is located in the sample chamber, with a portion of the sample application area visible in the 112 opening, and the remaining parts, such as the labeled area, test area, and absorption area, are covered with the coating layer and sealed against the card groove near the other end of the base layer (front shown in Figure 9), which is called the first sealing channel, both of which have inlets, in addition the two channels are partially divided by the opening 112 and are also in contact with the outside. If the base layer is a transparent plastic, the test area and labeled area are visible along the front of the base layer. Of course, the orientation of the test strip can also be the exact opposite of the examples above, so that the back of the test strip (the side with the support plate 27) rests directly against the bottom of the card groove 1001, and the sample absorption area, detection area, or labeled area is protected by being positioned with one side facing the coating element. In this way, the coating element 900 covers the back of the base layer, covering the entire card groove, but the coating element is transparent, and through the opening in the base layer 112, the back of the support surface 27 where the sample application area of the test element is located is visible instead of the front side with the absorbent material 112. During the test, the test results of the detection area on the test element can be seen through the transparent coating element. At this stage, the coating element does not provide an opening, but there is only one opening on the substrate. Of course, the opening can be created simultaneously on the coating element and the substrate. The shape and size of the opening can be the same or different, thus creating two openings that will communicate with the sample container. When the analyte needs to be detected in a liquid sample, a testing device consisting of a substrate, test strip, and coating element is placed in the liquid sample. One end of the device, with an opening of 112°, is placed in the liquid sample and then removed, allowing the liquid samples to flow along the reagent strip from the sample application area to the labeled area, then to the test area, and from there, after passing through the test result area and the test result control area, finally reaches the absorption area to complete the test. Sufficient liquid flow is ensured on the test strip due to the retention of a sufficient amount of sample in the sample chamber, avoiding the disadvantages associated with insufficient liquid samples in traditional techniques. In addition, such devices are simple to manufacture at reasonable costs. The substrate can be completed in a single step, and the test strips are pre-existing strips; the process is completed by applying a coating element. The production steps are simple and fast. In addition, as mentioned above, the fixing apparatus can be completely submerged directly into the liquid sample to be tested. Regardless of the placement devices used or the length of immersion in the liquid sample, the liquid can flow normally on the test strip, yielding accurate results. Unlike conventional similar fixing apparatuses, this eliminates many limitations for operators. In some preferred modes, the fixing apparatus also includes a discharge, load-lifting, or pressure-reducing structure; one end of the structure is in contact with the gas via a sealed channel, while the other end is in fluid contact with the outside atmosphere. The structure is used to evacuate some of the gas in the sealed channel, especially when liquid enters the sealed channel. Since some of the gas is sealed by the liquid in the channel, the width and thickness of the card groove are slightly larger than the test strip to facilitate this and reduce costs. This ensures that when the test strip is in the card groove, it is surrounded by the card groove, meaning the channel is compressed by the card groove and the coating layer. If liquid enters the channel inlet (for example, when the sealed channel inlet and the sample chamber opening are the same), the liquid easily seals the channel inlet. The structure is designed to allow liquid to enter the sealed channel to provide sufficient liquid samples, thus enabling the removal of gas. In some preferred modes, for example as shown in Figure 4, the drainage structure is located at the bottom of the channel. The channels can form a "Y" shape, or a cross or letter shape, or other shapes such as round, rectangular, square, diamond, oval, etc. Of course, the channel is only one type of drainage or load relief structure, and other structures such as holes, cavities, tracks, or channels are also possible. As liquid enters the leak-proof channel, one end of these channels is in contact with the gas in the leak-proof channel while the other end is in contact with the gas in the outside atmosphere, thus removing excess gas and allowing more liquid to enter the leak-proof channel. Once the channel structure is sealed with liquid, the inner and outer environments of the leak-proof channel will reach equilibrium, and liquid will no longer enter the channel. In some preferred modes, one end of the channel, which is in contact with the gas in the outside atmosphere, is connected to an opening, and the gas in the channel is removed through the opening. These discharge structures can be distributed across the entire bottom surface of the card channel or limited to certain locations. Preferably, these discharge structures are located anywhere in the card channel. In some modes, these discharge structures are located upstream of the test strip labeled area. In some preferred modes, the discharge structure is located at the relevant location of the labeled area. The discharge structure is one or more channels that allow the remaining portion in the channel to be discharged into the ambient atmosphere. It can form a "Y" shape, or a cross or letter shape, or other shapes such as round, rectangular, square, diamond, oval, etc. Here, the discharge chute structure and the chute that reduces capillary flow as described above can be of the same design. This structure has a dual function: one to reduce capillary action, and the other to relieve and reduce pressure. Of course, the two structures can differ in their respective functions. In some preferred modes, the sample chamber is located at one end of the substrate and near the sample application area of the test strip. As shown in Figures 3, 5, and 6, the sample chamber is formed by a portion of the card chute 902 on the substrate surrounded by the coating element 900. Due to the substrate having a certain thickness, the card chute on the substrate has a depth; the depth of one end of the card chute near the substrate 132 is determined by the height of the bottom part of the card chute 107. The structural area 107 forms the lower area of the sample chamber, while another area 110 at the bottom of the card groove, insulated by the coating element and the opening, and the two sides of the card groove 125, 127 form the side wall of the sample chamber, thus forming the sample chamber according to the design. The sample chamber contains the sample application areas of some test elements. In some preferred modes, a protruding structure 111 is provided in the lower area near the sample chamber, extending upwards from the bottom of the card groove 107. The protruding structure allows the test strip to play a role in securing the test strip to the sample application area near the coating element 102. In addition, some areas are reserved for accommodating more liquid samples. The test strip has a specific thickness, the height of the protruding structure 111 is slightly shorter than the depth of the card groove, and the height difference is equal to the thickness of the test strip. Because the sample application area of the test strip is usually made of elastic glass fiber, the protruding structure 111 is able to press the backing plate behind the sample application area of the test strip closer to the coating element. In addition, the test strip has a specific thickness, and the depth of the card groove is slightly larger than the thickness of the test strip, usually within a specific range of 2 to 5 mm. If one end of the test strip is placed in the sample chamber, it occupies most of the volume of the sample chamber. In this way, it becomes difficult to allow the sample reservoir to hold more liquid sample to completely wet the test strip; therefore, while a protruding structure can be provided on the one hand to compress the soft sample application area material, on the other hand, for example, a slope 115 can reduce the thickness of the bottom of the card groove. The slope reduces the thickness of the bottom of the card groove, thus increasing the volume of the sample reservoir. In addition, if the test strip is placed very close to the bottom of the card groove in the sample reservoir (slanted position), a capillary gap will be created, thus preventing the liquid sample from easily entering the sample reservoir; Furthermore, due to the complex structure of the capillary space, the volume of the sample chamber in a card slot will vary, thus increasing the likelihood of an inaccurate and uncertain test. Therefore, near the opening (e.g., the bottom of the card slot), the side wall of the sample chamber (e.g., 1001) is thinned, and the distance between the card slot and the test strip is increased to allow the liquid sample to enter the sample chamber. At the same time, the volume of the sample chamber is increased to provide sufficient liquid sample to complete the wetting of the test strip. Of course, to increase the sample chamber volume, the side walls surrounding the sample chamber (the base layer thickness area 110 and the two opposing edges forming the card groove 125, 127) can be thinned, or perforated holes can be provided on these side walls. Although these methods are applicable, it is more preferable to ensure that the lower part of the card groove, area 110, is thinner. Thanks to the above sample structure, the card-type fixing apparatus becomes more compact, but this does not affect the superior performance provided by the current invention. In other words, performance becomes superior while the cost is reduced. In some preferred modes, a coating body component can be provided. When the fixing apparatus is placed in the liquid sample, removal of the fixing apparatus allows one end of the opening to be placed into the cavity of the coating body component 10 to protect the sample contact area from contamination. To limit the depth of the coating body, symmetrical limiting structures 30, 31 can be placed on the substrate to limit the coating body placement depth (Figure 11A-B). To increase the stability of the coating on the substrate, two protruding fixing strips 13, 14 are provided inside the coating. When one end of the base layer is placed into the coating body, the fixing strips 13, 14 increase the adhesion force between the coating body and the base layer, thus preventing the coating body from easily falling off and consequently preventing leakage of liquid sample from the opening at one end of the base layer, which could lead to environmental contamination. The lower part of the coating body has an extended section 11 used to guide one end of the fixing apparatus opening into the coating body component 10 and to prevent operators from touching the samples. The edge of the coating body extension section 11 also has a coating edge 15 that is higher than the lower surface (higher than the plane on which the extension surface is located), thus preventing leakage of the liquid inside the fixing apparatus if the fixing apparatus is removed from the liquid sample and thus preventing environmental contamination. In some preferred modes, the fixing strips are arranged opposite the extension section 13, 14, so that the base layer is placed into the coating body from a unidirectional position. In another more preferred mode, when less liquid sample is present, the liquid sample can barely enter the sample chamber through the opening 112 by inserting the tip of the fixing apparatus with the sample chamber into the liquid sample, thus preventing the test element from getting wet. At this stage, the fixing apparatus needs to be angled in a way that makes the operator's job difficult. To improve this type of fixing apparatus, some liquid channels are provided on the sample chamber or accessory, so that the liquid is in fluid contact with the sample application area of the test strip. Preferably, these liquid channels are arranged at a position lower than the opening 112. This allows liquid samples to be fluidly attached to the sample application areas of the test strips via these liquid channels, even when some liquid levels are lower than the opening (112). For example, Figures 12 to 16 show another preferred configuration of the present invention. Liquid channel 1046 is placed below the sample application chamber of the test strip, so that when the end with the opening (112) is placed in the liquid sample, the end section of the sample application area (1047) is in contact with the liquid sample. Of course, optionally, these liquid channels may not make the sample application area of the test strip visible; instead, the liquid channel is opened and the test strip does not occupy the channel area. In this way, the liquid is allowed to pass from the channel into the sample chamber, making contact with the sample application area of the test strip. In some modes, the liquid channel is rectangular, and its size is adapted to the size of the test strip, so that the tip of the test strip is visible, for example, 1 to 2 mm, 2 to 3 mm. In this way, the opening (112) and the liquid channel (1046) can be adjusted to suit more conditions without any specific limitation on the amount of liquid sample. Of course, the tip of the test strip (1047) may not be visible, but may instead be located inside the liquid channel. The size of the liquid channel (1046) is generally adapted to the size of the test strip. For example, it is slightly larger than the size of the test strip. The gap between the size of the liquid channel and the size of the end section of the test strip will prevent the liquid samples from naturally dripping due to surface tension. If there is more liquid, for example, when the fixing apparatus is placed in the liquid sample and the liquid level is at position A, the liquid sample can enter the sample chamber through the opening (112) and pass through the liquid channel (1046) to contact the sample application area of the test strip. This means that even after the liquid sample is placed, the apparatus will be removed within a short time to ensure that the liquid sample remains in the sample chamber to allow sufficient contact with the liquid sample and then to provide enough liquid sample for continuous flow in the test strip. The liquid channel provided above the sample chamber has advantages. Generally, the sample chamber has a small volume, and the test strip is inserted into it. If the liquid sample passes through the opening into the collection chamber, as described in the invention, more space is provided for holding the liquid samples, in addition to reducing the wall thickness of the collection chamber. However, the sample chamber's space is still essentially limited, and the liquid still cannot fill the sample chamber quickly and easily. Although the size of the sample chamber is adjustable, the size of the test strip is not always the same. This will create a problem: each sample chamber collects different liquid samples within a certain time period, so the volume of liquid sample supplied to each test strip is not the same, affecting the test results. However, when the liquid channel 1046 is positioned over the sample chamber, the liquid can quickly fill the sample chamber (created by the second sealed chamber) when the liquid level is higher than the opening (112). Because the air in the sample chamber can be removed via the liquid channel, the filling time and efficiency of the sample chamber are accelerated, meaning the sample chamber is filled in only 1 to 3 seconds. At this stage, the liquid channel 1046 can remove the air in the sample chamber, enabling the liquid sample to quickly fill the collection chamber; in addition, it allows the liquid sample to pass through the liquid chamber to contact the sample application area 23 of the test strip. The requirements for adjusting the channel size are as follows: when liquid samples are filled or stored in the sample chamber, the liquid samples in the sample chamber will not flow out of the liquid channel after the fixing apparatus is separated from the liquid samples. Liquid has a surface tension, and the channel size must take into account the maximum volume of liquid present in the sample chamber. The size of the liquid channel is adjusted in such a way as to prevent the liquid in the sample chamber from flowing out of the liquid channel due to surface tension. In this way, such a fixing apparatus can perform different sample tests, and in addition, it improves the different applications of the fixing apparatus, especially when the liquid sample is very fine, the adjustment is particularly effective. In the case of a smaller amount of liquid sample, for example at liquid level B, although the liquid samples will not enter the collection chamber through opening 112, they can pass through the liquid channel 1046 to contact the sample application area 23 of the test strip to complete the test. Usually, liquid samples enter the sample chamber through opening 112. The liquid stored in the collection chamber does not easily flow through the liquid channel 1046 due to the size of the liquid channel, thus ensuring a continuous flow of subsequent liquid from the collection chamber to the test strip to complete the entire test. Here, the shape of the liquid channel can be a rectangle or a circle, a diamond shape, a square, an ellipse, or a combination of these shapes, as shown in Figure 12. As shown in Figure 12, in addition to the liquid channel located at the bottom of the collection chamber, more liquid channels can be placed elsewhere. The principle for adjustment is as follows: Some structures similar to the liquid channel are placed at positions lower than the opening to increase the probability of the sample application area of the test strip coming into contact with the liquid (when the liquid is low, the liquid level is lower than the opening) and to facilitate the process. In addition, some disadvantages can be overcome when there is less liquid. These positions can be any position below the opening, for example, by opening a channel in the wall of the sample chamber or by opening one or more liquid channels in each sample chamber. It should be noted that these additional fluid channels are not mandatory, but are a preferred configuration of the current invention. In other configurations, as shown in Figures 17A to 17E, the invention provides a base layer 70 on which multiple grooves or slits are arranged, and the grooves are arranged on the front panel of the base layer 70. The base layer has two ends, one end 701 functioning as the lower part of groove 707, while the other end 702 functions as the open part of groove 702. The groove is surrounded by the surface of the lower part 711, the grid 712, and the groove has a specific depth determined by the height of the grid 712. An opening 708 is made near the other end 702 of groove 707. A section of the lower part, 711, is left incomplete to create an opening 708 that allows the liquid sample to enter. In some configurations, opening 708 divides the entire groove into two parts or segments; the first part is the section between the first end of the groove 708 and the end of the groove 715, and the second part is the section between the end of the groove 719 and the lower end of the groove 708. In some configurations, the depth of the second part of the groove is deeper than the depth of the first part. For example, the bottom surface of the second part of the gutter (709) is lower than the bottom surface of the first part of the gutter (707), or the distance from the surface of the grid (712) to the bottom surface (716) is longer than the distance from the surface of the grid (712) to the bottom surface of the first part (711). The grid surface of the first part is level with the grid surface of the second part. According to the design, the base is covered with a coating layer (60). The back of the coating layer is a bonding adhesive layer, the shape of the coating layer matches the shape of the base layer (70), and one end of the coating layer (60) is placed on the surface of the base layer (701). The other end of the coating layer (60) is placed on the base layer (602), forming the diagram shown in Figure 17D. The groove on the base plate has a lower surface 711 that is in contact with the front 20 portion of the test strip when the test strip is placed in the groove, while the back 28 portion of the test strip is in contact with the back 60 portion of the coating layer, and the opening 708 is located on the groove and functions as the inlet of the sample chamber 714. The sample chamber 714 has a fluid channel 713 for fluid contact between the inside and outside of the sample chamber 714, and a part of the sample pad 20 is located in the sample chamber 714. Therefore, the back portion of the sample pad is in contact with the back 60 portion of the coating layer, where the adhesive layer is located on the surface of the coating layer 60. Therefore, the back portion of the 20 sample pads of the test strip is fixed to the coating layer with an adhesive layer. In addition, due to the fact that the lower surface of the first part of the groove is higher than the lower surface of the second part of the groove, there is a gap between the sampler pad 23 of the test pad and the lower surface of the second part, i.e., the gap is a liquid channel 713 and can also be considered as a sample reservoir. When testing is required, the tip with the opening 708 is inserted into the liquid sample, and the liquid sample flows into the sample reservoir 714 through the opening 708. The liquid sample will fill the liquid channel 713, and the air in the sample chamber 714 (liquid channel 713) will be removed. Due to the relatively small size of the liquid channel, the liquid is retained in the liquid channel due to the effect of the surface tension of the liquid sample, and when the card is quickly separated from the liquid sample, the liquid sample is retained in the fluid channel 713. The liquid retained in the fluid channel 713 can continue to be absorbed by the test strip for the absorption and completion of 20 tests on the test strip. According to the invention, the test device has the advantages of simple production and low cost, and also ensures the realization of the technical effect of the invention. For example, if only the tip of the 708 opening is inserted into the liquid sample for 1 to 2 seconds and then removed to continue the test, there is sufficient liquid sample in the sample chamber 714 or in the liquid channel 713 to continue to be absorbed by the sample pad 23 to complete the test. Assembly method for a fixation apparatus: The present invention provides a simple and cost-effective method for the manufacture of a fixation apparatus. In some models, a single-use injection-molded base layer is provided, containing a card groove of a specific depth and width, as shown in Figure 3. The width of the card groove is equivalent to the width of the contained test element, which may be equal to or slightly greater than the width of the test strip; The length of the card groove is equal to or slightly longer than the length of the test strip (Figure 3 shows the rear view of the substrate, while Figure 8 shows the front view of the substrate). Preferably, a fixing structure is provided at one end of the card groove and one end near the substrate, e.g., at the end near a pair of substrates, and an opening is provided for each card groove. However, the opening is not provided at the bottom end of the card groove, but is reserved at a specific location, such as the hollow opening described earlier (Figure 5). A test element is provided that includes a sample application area, a labeled area, a test area, and a water absorption area. The sample application area is located upstream of the labeled area. The test area is located downstream of the labeled area. The test area comprises a test result area and a test result control area (Figure 1B and Figure 2). The test strip is placed in the card groove such that one end of the sample application area corresponds to the opening of the card groove 112 and one end of the absorbent area is close to the end of the base layer 130; in addition, a portion of the sample application area is located inside the sample chamber and rests against the protruding structure 111 inside the sample chamber. Furthermore, the labeled area of the reactive strip is located upstream of the capillary flow reducing structures, while leaving the side of the test strip with the support plate 27 visible through the card groove. A flexible coating layer covering the back of the base layer is provided to seal the entire card groove when bonding the test surface to the support plate 27; Simultaneously, coating elements such as double-sided tape, binding films, etc., and a portion of the front of the card slot form a sample reservoir (902), making a portion of the sample application area visible through the opening (112), and the labeled area and test area are sealed in the card slot (first sealing channel) by the coating layer. Of course, the base layer can contain multiple similar card slot structures. The coating element is adapted to the dimensions of the back of the base layer, and only one coating element is required to seal multiple card slots (forming multiple similar first and second sealing channels). Thus, test elements are placed in each card slot to test different analytes, creating a sample reservoir in each card slot. Many different analytes can be detected simultaneously for the same sample. Detection Method: Another existing invention provides a method for detecting the analyte in a liquid sample. The method involves: inserting the detection apparatus into the liquid sample according to any of the above modes and immersing it in the liquid sample when required, then extracting and reading the test results from the front of a transparent substrate or coating element. These results can be read with the naked eye or by a machine, for example, quantitative reading by a machine designed according to opto-electronic principles, or scanning to record the test results via a scanner. The time from insertion to immersion in the liquid sample when required can be 1 second or 15 seconds. After extraction, the assay or test can be performed using a test strip. Here, placement refers to either first bringing the tip into contact with the sample chamber containing the liquid sample, then removing it, or first bringing the tip into contact with the sample chamber and then continuously placing it in a way that allows the entire detection apparatus to be immersed in the liquid sample. Based on Figures 2 to 8, the detection apparatus in the current design is equipped with a rigid plastic base layer structure. Eight card slots with the same structure are provided on the rigid base layer, as shown in Figure 2. Each test strip can be used to detect analytes such as amphetamine, cocaine, methamphetamine, opiates, THC, and phencyclidine in urine, respectively. Using gold particles as labeling material, these analytes are detected using competitive methods. The front of the test strip is mounted in a card slot at opening 112, and the glass fiber-like absorbent material in the sample application area of the test strip is visible through opening 112. Then, transparent adhesives the same size as the base layer are coated onto the back of the base layer, thus creating a detection apparatus. Fifty negative samples are mixed with substance abuse mixtures including amphetamines, cocaine, methamphetamine, opiates, THC, and phenylcyclohexane, in addition to providing 50 negative samples. During the test, the fixation apparatus (fixation card) is placed in these urine samples and immersed in the urine for seconds, 1 minute, 2 minutes, 3 minutes, 5 minutes, or the entire fixation apparatus is freely dropped into the liquid sample to be held in the liquid for 1 to 15 minutes or longer to be fixed by the fixation apparatus. The liquid flow is precisely completed in such a way as to obtain effective results, meaning that the accuracy of the results is guaranteed while the apparatus is more comfortable and user-friendly. As shown in Figures 12 to 16, a fixation apparatus is provided in comparison to Sample 1, where the liquid channel 1046 is at the bottom of each sample chamber. The test strip measures 2 mm thick and 6 mm wide. The volume of the sample reservoir (without the test strip) is 2 ml. The length and width of the liquid channel are in millimeters, respectively. Fifty negative samples are mixed with substance abuse mixtures including amphetamines, cocaine, methamphetamine, opiates, THC, and phenylcyclohexane, in addition to a further 50 negative samples provided. During the test, the detection apparatus (detection card) is placed in these urine samples and submerged in the urine, or the entire detection apparatus is freely thrown into the liquid sample to be detected by the detection apparatus for more than 15 minutes. The liquid flow is precisely completed to obtain effective results, meaning the apparatus is more convenient and user-friendly while guaranteeing the accuracy of the results. The invention shown and described herein can be implemented even without any of the elements and limitations specifically described herein. The terms and expressions used herein are for illustrative purposes only, rather than for restrictive purposes, and their use does not exclude other equivalents of the features and components described herein; it should be understood that various modifications are applicable within the scope of protection of the present invention. Therefore, even though the invention is described with various configurations, and alternative features, modifications, and variations of the concepts described herein can be made by experts in the field, these modifications and variations will be evaluated within the scope of protection of the present invention as defined by the claims in the annex. The contents of all articles, patents, patent applications, and other documents and electronic information listed and available herein are included in this disclosure, with each publication specifically and individually referenced. The applicant reserves the right to include in this application all material and information contained in any such article, patent, patent application, or other document.