SU913203A1 - Method of determination of material electrophysical parameters - Google Patents
Method of determination of material electrophysical parameters Download PDFInfo
- Publication number
- SU913203A1 SU913203A1 SU762435876A SU2435876A SU913203A1 SU 913203 A1 SU913203 A1 SU 913203A1 SU 762435876 A SU762435876 A SU 762435876A SU 2435876 A SU2435876 A SU 2435876A SU 913203 A1 SU913203 A1 SU 913203A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- frequency
- oscillator
- determination
- electrophysical parameters
- circuit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
Изобретение относится к электрофизическим исследованиям веществ.The invention relates to electrophysical studies of substances.
Известны автогенераторные способы измерений электро-физических характеристик вещества, где исследуемое вещество помещается в емкостной преобра- 5 зователь, подключенный к контуру автогенератора СП .Known measurement methods Autogenerating electro-physical characteristics of the substance, wherein the test substance is placed in a capacitive transformation zovatel 5 connected to the oscillator circuit SP.
Недостатком этих автогенераторных способов исследования вещества является зависимость частоты автогенератора как от диэлектрической проницаемости контролируемого вещества, так и от его сквозной проводимости.The disadvantage of these autogenerator methods for studying a substance is the dependence of the frequency of the autogenerator both on the dielectric constant of the substance being monitored and on its through conductivity.
Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ 15 позволяющий исключить взаимное влияние реактивных и резистивных параметров контролируемого вещества на результаты измерений. В этом способе определяют электро-физические параметры материалов путем регистрации изменения частоты автогенератора при подключении к его колебательному контуру емкостно2The closest technical solution to the proposed method 15 is to eliminate the mutual influence of reactive and resistive parameters of the controlled substance on the measurement results. In this method, the electro-physical parameters of materials are determined by recording the change in the frequency of the oscillator when connected to its oscillatory circuit capacitance2
го преобразователя с исследуемым веществомГ21.transducer with test substance G21.
Однако этот способ храйке трудоемок, что препятствует его практическому првменению.However, this method of hrayka is laborious, which prevents its practical application.
Целью изобретения является повышение точности и сокращение времени замеров.The aim of the invention is to improve the accuracy and reduce the measurement time.
Поставленная цель достигается тем, * что в способе определения электро-физических параметров материалов путем регистрации изменения частоты автогенератора при подключении к его колебательному контуру емкостного преобразователя с исследуемым веществом изменяют выходное сопротивление автогенератора до тех пор, пока его частота не достигнет экстремального значения, после чего производят отсчет контролируемого параметра, например, емкости первичного преобразователя.This goal is achieved by the fact that in the method of determining the electro-physical parameters of materials by registering a change in the frequency of the oscillator when connected to its oscillatory circuit, a capacitive transducer with the test substance changes the output resistance of the oscillator until its frequency reaches an extreme value, and then produces the count of the monitored parameter, for example, the capacity of the primary converter.
Поскольку в момент достижения экстремального значения частоты ’ автогенератора имеет место равенство абсолютного значения выходной проводимости емкост—Since at the time of reaching the extreme value of the frequency ’of the autogenerator, the absolute value of the output conductivity of the capacitance—
33
913203913203
4four
ного преобразователя и сквозной проводимости емкостного преобразователя, то тем самым исключается влияние последней на результаты измерений, поскольку яри этом обобщенная проводимость (сквоэ- $ ная) измерительной системы имеет минимальное значение и практически не воздействует на режим работы колебательного контура.Thus, the influence of the latter on the measurement results is eliminated, since here the generalized conductivity (skvoe) of the measuring system has a minimum value and practically does not affect the operating mode of the oscillating circuit.
На чертеже приведена схема реал»- ю зации способа. В схеме в качестве возбудителя резонансных колебаний в контуре Ь , с , В используется обращенный туннельный диод Д, связанный с источником питания Е, через включатель В, ре- 1$ пулируюигай транзистор Т и фоторезистив-’ Ную часть оптрона О. База транзистора ,Т связана с вьрсодом оптрона О через инверс- : ный пороговый интегрирующий усилитель У с высоким входным сопротивлением, 20 образуя с этим усилителем систему стабилизации напряжения смещения на туннельном, диоде Д. Частотомер Р служит для ко&троля резонансной частоты, а конденсатор ' переменной емкости С предназ- 25. начея для установки резонансной частоты контура к , с , В на заданное значение при измерениях в моночастотном режиме, что важно в случае частотной зависимости диэлектрических параметров контроля- 30 руемого вещества. Резистор Р служит для регулирования Тока через светодиодную часть оптрона О.The drawing shows the scheme of the implementation of the method. In the circuit, as the causative agent of resonant oscillations in the circuit L, C, B, the inverted tunnel diode D connected to the power source E is used through a switch B, a re- $ 1 poured transistor T and a photoresistive part of the optocoupler O. The base of the transistor, T associated with the optocoupler diode O through an inverted threshold integrating amplifier Y with a high input resistance, 20 forming with this amplifier a system for stabilizing the bias voltage on the tunnel diode D. The frequency meter P serves to control the resonance frequency, and the capacitor 'changes second capacitance C prednaz- 25. nacheya for setting the resonance frequency of the circuit to, with, in a predetermined value when measuring monofrequency mode, which is important in the case of the frequency dependence of the dielectric parameters kontrolya- 30 Rui substance. Resistor P is used to control the current through the LED part of the optocoupler O.
После введения контролируемого вещества в емкостной датчик β и возбуждения в контуре Ь , С. , В колебаний путем подачи на туннельный диод Д напряження смещения от элемента Е контролируют частоту этих колебаний частотомером Гиб процессе измерений изменяют при помощи регулирования· величины резистора V} ток в светодиодной цепиAfter introducing the monitored substance into the capacitive sensor β and excitation in the circuit b, C., V oscillations by applying to the tunneling diode D the bias voltage from element E control the frequency of these oscillations with a frequency meter. By changing the measurement process, adjust the current in the LED chains
оптрона О в сторону уменьшения до тех пор, пока показания частотомера начнут уменьшаться, и' в этот) момент берут отсчет. Так как в Момент отсчета резонансная частота контура к , С , Т) не зависит от величины сквозной .проводимости контролируемого материала, а контролируемый параметр материалов получают в результате однократного измерения, то тем самым достигается повышение точности и сокращение времени замеров.optocoupler O downward until the reading of the frequency counter begins to decrease, and 'at this) moment they take a countdown. Since, at the moment of reference, the resonant frequency of the circuit k, C, T) does not depend on the value of the end-to-end conductivity of the material being monitored, and the monitored parameter of the materials is obtained as a result of a single measurement, this will increase the accuracy and shorten the measurement time.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762435876A SU913203A1 (en) | 1976-12-30 | 1976-12-30 | Method of determination of material electrophysical parameters |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762435876A SU913203A1 (en) | 1976-12-30 | 1976-12-30 | Method of determination of material electrophysical parameters |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU913203A1 true SU913203A1 (en) | 1982-03-15 |
Family
ID=20688968
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762435876A SU913203A1 (en) | 1976-12-30 | 1976-12-30 | Method of determination of material electrophysical parameters |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU913203A1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5826633A (en) * | 1996-04-26 | 1998-10-27 | Inhale Therapeutic Systems | Powder filling systems, apparatus and methods |
US6182712B1 (en) | 1997-07-21 | 2001-02-06 | Inhale Therapeutic Systems | Power filling apparatus and methods for their use |
US7552655B2 (en) | 1999-12-17 | 2009-06-30 | Novartis Pharma Ag | Systems and methods for non-destructive mass sensing |
-
1976
- 1976-12-30 SU SU762435876A patent/SU913203A1/en active
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5826633A (en) * | 1996-04-26 | 1998-10-27 | Inhale Therapeutic Systems | Powder filling systems, apparatus and methods |
US6267155B1 (en) | 1996-04-26 | 2001-07-31 | Inhale Therapeutic Systems Inc. | Powder filling systems, apparatus and methods |
US6581650B2 (en) | 1996-04-26 | 2003-06-24 | Nektar Therapeutics | Powder filling systems, apparatus and methods |
US7624771B2 (en) | 1996-04-26 | 2009-12-01 | Novartis Pharma Ag | Powder filling systems, apparatus and methods |
US7669617B2 (en) | 1996-04-26 | 2010-03-02 | Novartis Pharma Ag | Powder filling systems, apparatus and methods |
US6182712B1 (en) | 1997-07-21 | 2001-02-06 | Inhale Therapeutic Systems | Power filling apparatus and methods for their use |
USRE42942E1 (en) | 1997-07-21 | 2011-11-22 | Novartis Ag | Powder filling apparatus and methods for their use |
US7552655B2 (en) | 1999-12-17 | 2009-06-30 | Novartis Pharma Ag | Systems and methods for non-destructive mass sensing |
US8061222B2 (en) | 1999-12-17 | 2011-11-22 | Novartis Ag | Systems and methods for non-destructive mass sensing |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU913203A1 (en) | Method of determination of material electrophysical parameters | |
GB1590794A (en) | Viscosimeter and/or densitometer | |
US4618835A (en) | Proximity sensor oscillator utilizing controlled charge | |
SU847099A1 (en) | Piezo-resonance vacuum meter | |
SU437918A1 (en) | Microbalances | |
SU696362A1 (en) | Device for measuring dielectric parameters of materials | |
SU146543A1 (en) | High-frequency phase-sensitive moisture meter for homogeneous molding sands | |
SU851296A1 (en) | Device for measuring magnetic susceptibility | |
SU428262A1 (en) | MEASURING AUTOGENERATOR | |
SU855941A1 (en) | Device for determining extremum point of temperature-frequency characteristic of quartz resonators | |
SU410273A1 (en) | ||
SU502344A1 (en) | Device for measuring the time constant of the collector circuit of the transistor | |
SU682838A1 (en) | Apparatus for measuring shf power | |
SU998874A1 (en) | Device for measuring temperature and mechanical forces | |
SU734582A1 (en) | Dielectric characteristics measuring device | |
SU1718078A1 (en) | Method and device for complex determination of thermophysical characteristics | |
SU135679A1 (en) | Device for measuring the consistency of substances, such as sludge | |
SU777478A1 (en) | Temperature measuring device | |
SU462146A1 (en) | Device for measuring active resistance of quartz resonators | |
SU384055A1 (en) | VISKOSYMETR | |
SU1741044A1 (en) | Concentration capacitance meter | |
SU913204A1 (en) | Method of measuring substance physical chemical parameters | |
SU398892A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE ACTIVE RESISTANCE OF QUARTZ RESONATORS | |
SU734548A1 (en) | Capacitive moisture-content meter | |
SU434329A1 (en) | METHOD FOR LINEARIZATION OF DIFFERENTIAL FREQUENCY SENSORS CHARACTERISTICS |