Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Иркутский политехнический институтfiledCriticalИркутский политехнический институт
Priority to SU792846720ApriorityCriticalpatent/SU834489A1/en
Application grantedgrantedCritical
Publication of SU834489A1publicationCriticalpatent/SU834489A1/en
(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ЖИДКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ(54) METHOD FOR MEASURING THE DIELECTRIC PERMITTIVITY OF LIQUID DIELECTRICS
Claims (1)
Формула изобретенияClaimСпособ измерения диэлектрической проницаемости жидких диэлектриков, заключающийся в помещении исследуемого диэлектрика между электродами конденсатора, к которым приложено переменное напряжение, отличающ и й с я тем, что, с целью повышения точности измэрения при высоких напряжениях, переменное напряжение подают на электролюминесцентный конденсатор без диэлектрика и фиксируют уровень яркости фотоприемником, устанавливают напряжение до того же . уровня яркости при помещении диэлектрика и искомый параметр определяют ’ по отношению напряжений.A method of measuring the dielectric constant of liquid dielectrics, which consists in placing the investigated dielectric between the electrodes of the capacitor to which an alternating voltage is applied, characterized in that, in order to increase the accuracy of measurement at high voltages, the alternating voltage is applied to an electroluminescent capacitor without a dielectric and fixed the brightness level of the photodetector, set the voltage to the same. the brightness level when placing the dielectric and the desired parameter are determined ’by the ratio of voltages.