[go: up one dir, main page]

SU813330A1 - Probe - Google Patents

Probe Download PDF

Info

Publication number
SU813330A1
SU813330A1 SU772509321A SU2509321A SU813330A1 SU 813330 A1 SU813330 A1 SU 813330A1 SU 772509321 A SU772509321 A SU 772509321A SU 2509321 A SU2509321 A SU 2509321A SU 813330 A1 SU813330 A1 SU 813330A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
probe
base
holders
spring
probe holders
Prior art date
Application number
SU772509321A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Леонид Моисеевич Савченко
Николай Самуилович Мороз
Василий Моисеевич Савченко
Original Assignee
Завод "Калибр" Минского Производст-Венного Объединения Имени B.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Завод "Калибр" Минского Производст-Венного Объединения Имени B.И.Ленина filed Critical Завод "Калибр" Минского Производст-Венного Объединения Имени B.И.Ленина
Priority to SU772509321A priority Critical patent/SU813330A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU813330A1 publication Critical patent/SU813330A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

Изобретение относитс  к радиоизме рительной технике, в частности дл  контрол  работоспособности полупроводниковых активных элементов, впа нных в печатные платы. Известны зондовые устройства,пред назначенные дл  измерений в электротехнике и радиоэлектронике, которые невозможно достаточно эффективно использовать дл  быстрого исследовани  полупроводниковых элементов на печат ных платах. Наиболее близким по технической .сущности к предлагаемому  вл етс  зондовое устройство, содержащее диэлектрический корпус, в основании ко торого закреплены зондодержатели с подпружиненными зондами l. Недостатком этого устройства  вл  етс  то, что оно не обеспечивает воз можность проведени  испытаний полупроводниковых элементов, имеющих раз ные рассто ни  меж,ду выводами. Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей. Поставленна  цель достигаетс  тем что в зондовом устройстве, содержащем диэлектрический корпус, в основа НИИ которого закреплены зондодержате ли с подпружиненными зор1дами, зондодержатели соединены с основанием с возможностью радиальных перемещений. На фиг. 1 изображено зондовое устройство , общий вид, на фиг. 2 - крепление зондодержател , на фиг. 3 вид А на фиг. 1. Устройство содержит кожух 1, зондодержатели 2, каждый из которых посредством оси 3, опоры 4 и винта 5 шарнирно св зан -с диэлектрическим корпусом 6. Каждый зондодержатель 2 представл ет собой трубчатый корпус, выполненный из медного сплава, в котором расположены тпружины 7 и игольчатый зонд 8, выполненные из упругого медного сплава, например из бронзы. Игольчатый подпружиненный зонд 8 выходит из конусной части зондодержател  наружу. В корпусах зондодержателей 2 имеютс  пазы, через которые выведены наружу, жесткосоединенные с зондами 8, рычаги 9, с помощью которых осуществл етс  ручное управление зондодержател ми в радиальных плоскост х и.зондами вдоль осей зондодержателей при точной установке зондов на контактные площадки печатных плдт. Корпус каждого зондодержател  2 имеэт покрытие из изол ционного материала дл  предохранени  от короткого заThe invention relates to radio-sensing technology, in particular for monitoring the operability of semiconductor active elements embedded into printed circuit boards. Probe devices designed for measurements in electrical engineering and radio electronics, which cannot be used effectively enough for the rapid investigation of semiconductor elements on printed circuit boards, are known. The closest in technical terms to the present invention is a probe device containing a dielectric body, at the base of which probe holders with spring-loaded probes l are fixed. A disadvantage of this device is that it does not provide the possibility of testing semiconductor elements with different distances between the two terminals. The purpose of the invention is to expand the functionality. The goal is achieved by the fact that in the probe device containing a dielectric body, in the basis of the scientific research institute of which the probe holders with spring-loaded hinges are fixed, the probe holders are connected to the base with the possibility of radial displacements. FIG. 1 shows a probe device, a general view, in FIG. 2 shows the mount of the probe holder; FIG. 3 view A in FIG. 1. The device comprises a casing 1, probe holders 2, each of which is via an axis 3, a support 4 and a screw 5 pivotally connected with a dielectric body 6. Each probe holder 2 is a tubular body made of a copper alloy in which the spring 7 is located and needle probe 8, made of elastic copper alloy, for example of bronze. Needle spring-loaded probe 8 extends from the conical part of the probe holder to the outside. In the housings of probe holders 2 there are grooves through which are rigidly connected to the probes 8, levers 9, with the help of which the probe holders are manually controlled in radial planes and probes along the axes of the probe holders with accurate installation of the probes on the contact areas of printed plates. The housing of each probe holder 2 is coated with an insulating material to protect against short

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Зондовое устройство, преимущественно для контроля полупроводниковых элементов на печатных платах, содержащее диэлектрический корпус, в основании которого закреплены зондодержатели с подпружиненными зондами, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, зондодержатели соединены с основанием с возможностью радиальных перемещений.A probe device, mainly for monitoring semiconductor elements on printed circuit boards, containing a dielectric housing, at the base of which are mounted probe holders with spring-loaded probes, characterized in that, in order to expand the functionality, the probe holders are connected to the base with the possibility of radial movements. Источники.информации, принятые во внимание при экспертизеSources of information taken into account during the examination 1. Авторское свидетельство СССР № 481546, кл. G 01 R 31/02, 1973 (прототип).1. USSR copyright certificate No. 481546, cl. G 01 R 31/02, 1973 (prototype). ВНИИПИ Заказ 767/57VNIIIPI Order 767/57 Тираж 732 ПодписноеCirculation 732 Subscription Филиал ППП Патент,Branch of PPP Patent, г.Ужгород,ул.Проектная,4Uzhhorod, Project 4,
SU772509321A 1977-07-18 1977-07-18 Probe SU813330A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772509321A SU813330A1 (en) 1977-07-18 1977-07-18 Probe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772509321A SU813330A1 (en) 1977-07-18 1977-07-18 Probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU813330A1 true SU813330A1 (en) 1981-03-15

Family

ID=20718706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772509321A SU813330A1 (en) 1977-07-18 1977-07-18 Probe

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU813330A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4323276A1 (en) * 1993-07-12 1995-01-19 Mania Gmbh Solid material adapter

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4323276A1 (en) * 1993-07-12 1995-01-19 Mania Gmbh Solid material adapter
US5977786A (en) * 1993-07-12 1999-11-02 Mania Gmbh & Co. Adapter including solid body

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3911361A (en) Coaxial array space transformer
ES2021640B3 (en) DEVICE FOR ELECTRONIC CONTROL OF CONDUCTOR BOARDS WITH CONTACT POINTS IN A MODULE (1/20 TO 1/10 INCHES) EXTREMELY THIN
KR20050074568A (en) Probe station with low noise charateristics
GB2014315A (en) Determining Probe Contact
JPH0127101Y2 (en)
GB1483781A (en) Ionization smoke detector and alarm system
SU813330A1 (en) Probe
ATE35463T1 (en) CONTACTING DEVICE.
SE8405803D0 (en) COMPONENT CENTERING / HEATING DEVICE
SU578662A1 (en) Arrangement for testing integrated circuits
SU883372A1 (en) Device for determining the orientation of an instrument in a well
JPH0146829B2 (en)
SU815978A1 (en) Contact device
SU783658A1 (en) Apparatus for electrochemical measurements
SU437165A1 (en) Current collector for strain gauge measurements of rotating parts
JP2618926B2 (en) Electrical property measurement system
JP3770051B2 (en) Test head
SU1641345A1 (en) Device for acupuncture points detection
SU1499535A1 (en) Connecting device
SU1176887A1 (en) Electrode for electropuncture
CA2073078A1 (en) Semiconductor device testing apparatus
SU989626A1 (en) Contact device
RU2032377C1 (en) Spacer for flat electrode
SU1023491A2 (en) Assembly for connecting metal-shelled cable to telemetric probe housing
RU2024876C1 (en) Device for electrical measurements