[go: up one dir, main page]

SU715927A1 - Interference resolvometer - Google Patents

Interference resolvometer Download PDF

Info

Publication number
SU715927A1
SU715927A1 SU772556309A SU2556309A SU715927A1 SU 715927 A1 SU715927 A1 SU 715927A1 SU 772556309 A SU772556309 A SU 772556309A SU 2556309 A SU2556309 A SU 2556309A SU 715927 A1 SU715927 A1 SU 715927A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mirror
photographic plate
photographic
involute
interference
Prior art date
Application number
SU772556309A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Анатолий Савельевич Литвиненко
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2539
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2539 filed Critical Предприятие П/Я В-2539
Priority to SU772556309A priority Critical patent/SU715927A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU715927A1 publication Critical patent/SU715927A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

I I

Изобретение относитс  к интерференционным средствам измерений и может быть использовано в фотометрии дл  определени  разрешающей способности фотоматериалов. .The invention relates to interference measurement tools and can be used in photometry to determine the resolution of photographic materials. .

Известны интерференционные резольвометры, основанные на записи интерференционных полей, полученных при разных углах ориентировани  системы зеркало-пластинка с исследуемым фотоматериалом относительно облучающего их света , про влении фотопластинки и наблюдении с помощью микроскопа интерференционных полос , по которым суд т о разрешающей способности фотоматериала tilНаиболее близким техническим решением к предлагаемому изобретению  вл етс  интерференционный резольвометр, содержащий отклон ющее зеркало 2.Interference resolvometers are known, based on recording interference fields obtained at different angles of orientation of the mirror-plate system with the photographic material under investigation with respect to the light irradiating them, displaying the photographic plate and observing the interference bands using a microscope to judge the resolution of the photographic material til The invention is an interference resolver containing a deflecting mirror 2.

Недостатком указанного резольвометра  вл етс  сложность конструкции и низка  точность измерений, обусловленные сложностью конструкции системь ориентации и вли нием условий окружающей среды за врем  последовательной записи большого числа интерференционных картинThe disadvantage of this resolver is the complexity of the design and the low accuracy of the measurements, due to the complexity of the design, the system orientation and the influence of environmental conditions during the sequential recording of a large number of interference patterns.

Целью изобретени   вл етс  упрощение конструкции и повышение точности измерений.The aim of the invention is to simplify the design and improve the measurement accuracy.

Цель достигаетс  тем, что в интерференционном резольвометрё, содержащем отклон ющее зеркало, зеркало выполнено в виде цилиндрической криволинейной поверхности с мен ющейс  кривизной, например в виде звольвентно поверхности.На чертеже представлена схема предлагаемого устройства.The goal is achieved by the fact that in an interference resolvometer containing a deflecting mirror, the mirror is made in the form of a cylindrical curvilinear surface with varying curvature, for example, in the form of a sound-like surface. The drawing shows a diagram of the proposed device.

На пути луча источника 1 установлена телескопическа  снсхема 2 и зеркало 3. Испытуема  фотопластш1ка 4 установлена в держателе фотоматериала 5.On the path of the beam of source 1, a telescopic lens 2 and a mirror 3 are installed. Test photoplate 4 installed in the holder of photographic material 5.

Устройство работает следующим образом.The device works as follows.

Claims (2)

Луч света от источника 1 расщир етс  с помощью телескопической системы 2 и попадает одновременно на зеркало 3 и фотопластинку 4, закрепленную в держателе фотоматериала 5. На фотографическую пластинку 4 попадает как пр мой луч с телескопической системы 2, так и луч, отраженнь1Й от зеркала 3. В плоскости фотопластинки зти лучи интерферируют. Инj-ерференционна  картинка фиксируетс  на 3 эмульсионном слое фотопластинки 4. Так как зеркало 3 выполнено в виде криволинейной вдлиндрической поверхности с мен ющейс  кривизной , то лучи, попадающие на зеркало, будут :отражатьс , а значит и попадать на фотопластин ку под разными углами в зависимости от изме нений кривизны. Это дает возможность за одну экспозицию, не мен   угла поворота системы зеркало-фотослой относительно облучающего йх света, записывать интерференционные голосы, частота которых в nnocKocfH фотопластинки непрерьшно Мен етс . с помощью микроскопа по про вленной фотопластинке легко определить параметры фотоматериалов. 6 качестве криволинейного зеркала удобно выбрать эвольве тный цилиндр, кривизна которого в каждой точке мен етс  в зависимости от угла развернутости эвольвенты. Кроме того, эвольвентные цилиндры  вл ютс  наиболее распространенными криволинейными поверх ност ми. Таким.образом, предлагаемый инТерференционньй резольвометр обладает более простой конструкцией, за счет того, что не требует 7 поворотного механизма, мен ющего его положение системы зеркало-фотослой относительно облучающего их света. Кроме того, запись информации на фотопластинку производитс  за одну экспозицию, что позвол ет увеличить точность и ускорить процесс измерений. Формула изобретени  . Интерференционный резольвометр, содержащий отклон ющее зеркало, отличающийс  тем, что, с целью упрощени  конструкции и повыщенй  точности измерений, зеркало выполнено в виде цилиндрической криволинейной поверхности с измен ющейс  кривизной, например , в виде эвольвентной поверхности. / -1 Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР № 212751, кл. G 03 С .5/02, 13.01.67. The light beam from source 1 is expanded using a telescopic system 2 and simultaneously hits mirror 3 and photographic plate 4 fixed in the holder of photographic material 5. On the photographic plate 4 both the direct beam from the telescopic system 2 and the reflection of mirror 3 These rays interfere in the plane of the photographic plate. The inertial picture is fixed on the 3rd emulsion layer of the photographic plate 4. Since mirror 3 is made in the form of a curvilinear curved surface with a varying curvature, the rays that fall on the mirror will be reflected, and therefore fall on the photoplate at different angles depending on from changes in curvature. This makes it possible, in one exposure, not to change the angle of rotation of the mirror-layer system relative to the light irradiating light, to record interference voices, whose frequency in the nnocCocfH photographic plate continuously varies. Using a microscope, it is easy to determine the parameters of photographic materials using an developed photographic plate. 6, as a curved mirror, it is convenient to choose an involute cylinder, the curvature of which at each point varies depending on the angle of evolu- tion of the involute. In addition, involute cylinders are the most common curvilinear surfaces. Thus, the proposed interferometer resolvometer has a simpler design, due to the fact that it does not require a turning mechanism 7 that changes its position of the mirror-layer system relative to the light that irradiates them. In addition, the recording of information on a photographic plate is made in one exposure, which allows to increase the accuracy and speed up the measurement process. Claims. An interference resolvometer containing a deflecting mirror, characterized in that, in order to simplify the design and improve measurement accuracy, the mirror is made in the form of a cylindrical curvilinear surface with varying curvature, for example, in the form of an involute surface. / -1 Sources of information taken into consideration during the examination 1. USSR author's certificate No. 212751, cl. G 03 S.5 / 02, 13.01.67. 2.Авторское свидетельство СССР N 207018, кл. G 03 С 5/02, 04.02.67.2. Authors certificate of the USSR N 207018, cl. G 03 C 5/02, 04.02.67.
SU772556309A 1977-12-19 1977-12-19 Interference resolvometer SU715927A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772556309A SU715927A1 (en) 1977-12-19 1977-12-19 Interference resolvometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772556309A SU715927A1 (en) 1977-12-19 1977-12-19 Interference resolvometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU715927A1 true SU715927A1 (en) 1980-02-15

Family

ID=20738580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772556309A SU715927A1 (en) 1977-12-19 1977-12-19 Interference resolvometer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU715927A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Thompson Iv image formation with partially coherent light
US3726595A (en) Method for optical detection and/or measurement of movement of a diffraction grating
ATE98017T1 (en) INTERFEROMETRIC METHOD FOR TESTING ASPHERIC WAVEFRONTS-GENERATING OPTICAL ELEMENTS.
US4813782A (en) Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head
US2703033A (en) Optical arrangement for analysis of refractive index
SU715927A1 (en) Interference resolvometer
US3232165A (en) Interferometer having plural slit source
JPS55154402A (en) Shape measuring apparatus
SU570794A1 (en) Spectrometer
RU2042920C1 (en) Device for determination of profile of object surface
SU729439A1 (en) Method of measuring cylindrical-surface curvature radius
SU609079A1 (en) Method of investigating the density of solid body surface layer
SU624157A1 (en) Method of determining velocity of propagation of surface acoustic waves
SU766225A1 (en) Method for measuring surface roughness
SU134038A1 (en) Photoelectric sensor for turning angle markers
SU1411576A1 (en) Method of measuring radius of curvature of object spherical surfaces
SU1693371A1 (en) Interference method of thickness determination of transparent flat-parallel object
SU1128111A1 (en) Interferention device for checking surface relief
SU1397718A1 (en) Interferometer for measuring linear quantities and index of refraction
SU1755125A1 (en) Device for measuring index of refraction
SU838321A1 (en) Method of holographic checking of three-dimensional phase object with double exposure
SU84115A1 (en) Small deformation indicator
SU1053005A1 (en) Optical doppler meter of gas or liquid flow velocity
SU584179A1 (en) Linear dimension measuring device
SU450077A1 (en) Device for controlling the shape of a parabolic surface