SU712755A1

SU712755A1 - Impedance flaw detector locator

Info

Publication number: SU712755A1
Application number: SU782582104A
Authority: SU
Inventors: Василий Иванович Мироненко
Original assignee: Mironenko Vasilij
Priority date: 1978-02-20
Filing date: 1978-02-20
Publication date: 1980-01-30

Description

Изобретение относится к области ультразвуковой дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества слоистых изделий.The invention relates to the field of ultrasonic inspection and can be used for quality control of layered products.

Известно устройство для контроля качества склейки изделий, содержащее излучающий пьезоэлемент, размещенный на одной стороне звуковода, и приемный пьезоэлемент с наконечником, размещенный на другой стороне звуковода [11Недостатком известного устройства является то, что при контроле им возникают сильные помехи, что снижает чувствительность устройства. Величина помех возрастает с увеличением скорости контроля, поэтому его нельзя использовать в автоматизированном контроле.A device for monitoring the quality of gluing products containing a radiating piezoelectric element located on one side of the sound guide and a receiving piezoelectric element with a tip placed on the other side of the sound guide [11. A disadvantage of the known device is that when it is monitored, strong interference occurs, which reduces the sensitivity of the device. The amount of interference increases with increasing control speed, so it cannot be used in automated control.

Наиболее близким к изобретению является искатель импедансного дефектоскопа, содержащий звуковод с излучающим пьезоэлементом и два приемных пьезоэлемента с наконечниками, электрически соединенные встречно-параллельно ‘[2].Closest to the invention is an impedance flaw detector finder, comprising a sound guide with a radiating piezoelectric element and two receiving piezoelectric elements with tips, electrically connected counter-parallel ‘[2].

Недостатком известного искателя является малая чувствительность при контроле многослойных изделий с небольшим импедансом.A disadvantage of the known searcher is the low sensitivity in the control of multilayer products with a small impedance.

Цель изобретения — повышение чувствительности искателя.The purpose of the invention is to increase the sensitivity of the searcher.

Поставленная задача достигается тем, что он снабжен отражателем, размещенным с одной стороны излучающего пьезоэлемента, а приемные пьезоэлементы установлены на противоположной стороне звуковода с 5 возможностью перемещения в плоскости измерения. А расстояние между осями приемных пьезоэлементов выбирается кратным расстоянию между микронеровностями контролируемой поверхности.The task is achieved in that it is equipped with a reflector placed on one side of the radiating piezoelectric element, and the receiving piezoelectric elements are installed on the opposite side of the sound guide with 5 possible movement in the measurement plane. And the distance between the axes of the receiving piezoelectric elements is selected as a multiple of the distance between the microroughnesses of the controlled surface.

На фиг. 1 схематически изображен предлагаемый искатель; на фиг. 2 показано расположение приемных пьезоэлементов относительно. микронсровностей контролируемой поверхности.In FIG. 1 schematically shows the proposed seeker; in FIG. 2 shows the location of the receiving piezoelectric elements relatively. microroughness of the controlled surface.

Искатель импедансного дефектоскопа содержит звуковод 1 с излучающим пьезоэлементом 2, два приемных пьезоэлемента 3, 4 с наконечниками 5, 6, электрически соединенные встречно-параллельно, размещенные с одной стороны звуковода с возможностью перемещения в плоскости измерения, и отражатель 7, размещенный с противоположной стороны излучающего пьезоэлемента.The impedance flaw detector finder contains a sound guide 1 with a radiating piezoelectric element 2, two receiving piezoelectric elements 3, 4 with tips 5, 6, electrically connected in opposite parallel, placed on one side of the sound guide with the possibility of movement in the measurement plane, and a reflector 7 placed on the opposite side of the radiating piezoelectric element.

Искатель работает следующим образом. Излучающий пьезоэлемент возбуждает в звуководе 1 продольные колебания, которые передаются через наконечники 5, 6 в контролируемое изделие.The crawler works as follows. The radiating piezoelectric element in the sound guide 1 excites longitudinal vibrations, which are transmitted through the tips 5, 6 to the controlled product.

Искателем сканируют по поверхности из712755 делия. При отсутствии дефектов силы реакции изделия генерируют в приемных пьезоэлементах 3, 4 одинаковые по величине и противоположные по знаку заряды, в результате чего результирующее напряже- 5 ние, снимаемое с них, равно нулю.The finder scans the surface of 712,755 divisions. In the absence of defects, reaction forces of the product generate charges of the same magnitude and opposite in sign in the receiving piezoelectric elements 3, 4, as a result of which the resulting voltage 5 removed from them is zero.

Когда один из наконечников проходит над дефектом, в соответствующем приемном пьезоэлементе генерируется меньший заряд, а результирующее напряжение, от- 10 личное от нуля, фиксируется дефектоскопом (на чертеже не показано). При этом будет установлена граница дефекта. В случае, если оба наконечника находятся над дефектом, результирующее напряжение, 15 снимаемое с пьезоэлементов, равно нулю, с возникновением отличного от нуля напряжения устанавливается вторая граница дефекта.When one of the tips passes over the defect, a smaller charge is generated in the corresponding receiving piezoelectric element, and the resulting voltage, which is 10 different from zero, is fixed by a flaw detector (not shown in the drawing). In this case, the defect boundary will be established. If both tips are above the defect, the resulting voltage 15 removed from the piezoelectric elements is zero, with the occurrence of a non-zero voltage, the second boundary of the defect is established.

Благодаря тому, что расстояние между 20 наконечниками 5, 6 устанавливается кратным расстоянию между микронеровностями контролируемой поверхности (см. фиг. 2), изменения величины заряда на приемных пьезоэлементах 3, 4, вызванные вли- 25 янием этих микронеровностей на обоих приемных пьезоэлементах, приблизительно одинаковы по величине и при сложении взаимно компенсируют друг друга.Due to the fact that the distance between the 20 tips 5, 6 is set as a multiple of the distance between the microroughnesses of the controlled surface (see Fig. 2), the changes in the charge on the receiving piezoelectric elements 3, 4, caused by the influence of these 25 microroughnesses on both receiving piezoelectric elements, are approximately the same in magnitude and in addition mutually cancel each other out.

Предлагаемый искатель импедансного 39 дефектоскопа обеспечивает повышение чувствительности дефектоскопа за счет того, что он измеряет разность импедансов в двух разных точках, а также вследствие одинакового износа наконечников прием- 35 пых пьезоэлементов, что исключает разбаланс искателя в процессе контроля и возникновение мешающих сигналов.The proposed impedance 39 detector of the flaw detector provides increased sensitivity of the flaw detector due to the fact that it measures the difference in impedances at two different points, as well as due to the same wear of the tips of the adopted piezoelectric elements, which eliminates the imbalance of the detector in the control process and the occurrence of interfering signals.

Предлагаемый искатель позволяет повысить скорость сканирования при контроле изделий, так как он исключает влияние фрикционных шумов. Это открывает возможность использования его в механизированных установках для контроля слоистых изделий.The proposed finder allows you to increase the scanning speed during product inspection, as it eliminates the influence of frictional noise. This opens up the possibility of using it in mechanized installations for controlling laminated products.

Claims

Claim

1. Seeker impedance flaw detector containing a sound guide with a radiating piezo element and two receiving piezo elements with tips electrically connected counter-parallel, characterized in that, in order to increase the sensitivity, it is equipped with a reflector placed on one side of the radiating piezo element, and receiving piezo elements are installed on opposite side of the sound guide with the ability to move in the plane of measurement.

2. Seeker on π. 1, characterized in that the distance between the axes of the receiving piezoelectric elements is chosen to be a multiple of the distance between the irregularities of the control elements. rolling surface.